JP2000286344A - カレントミラー回路及び該回路を用いた発光素子の駆動回路 - Google Patents
カレントミラー回路及び該回路を用いた発光素子の駆動回路Info
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Abstract
流すPNP型のカレントミラーについて、レイアウト面
積即ちコストの増大をおさえ、精度の高いカレントミラ
ーを提供することを課題とする。 【解決手段】 エミッタがそれぞれ電源に接続され、ベ
ースを共通接続された第1及び第2のトランジスタのう
ち、前記第1のトランジスタのコレクタを入力とし、前
記第2のトランジスタのコレクタを出力とし、第3のト
ランジスタのエミッタは上記共通接続されたベースに接
続され、コレクタは接地電位、ベースが上記第1のトラ
ンジスタのコレクタに接続された、ベース電流補償トラ
ンジスタ付きのカレントミラー回路において、前記第1
及び前記第2のトランジスタに縦形PNPトランジスタ
を用い、前記ベース電流補償用の前記第3のトランジス
タをその動作電流領域に置いて前記縦形PNPトランジ
スタより電流増幅率の高い横形PNPトランジスタを用
いることを特徴とする。
Description
を折り返すカレントミラー回路、及び該カレントミラー
回路を用いた半導体レーザーのような発光素子の駆動回
路に関する。
トランジスタを含むカレントミラー回路を用いた半導体
レーザーの駆動回路の動作の説明をする。図6に示す様
に、半導体レーザーの駆動回路は、駆動電流を供給する
電流源回路101と電流源回路101の出力電流を半導
体レーザーに流すか否かのスイッチングを行い、発光を
制御するスイッチング回路102からなる。
ー、104は集積回路の電流消費を軽減するための負荷
抵抗で、通常電流源回路101とスイッチング回路10
2は同一半導体基板上に集積化される。
6は半導体レーザーの光量を制御する制御電圧(v1)
を供給する端子で、オペアンプ107の非反転入力端子
に接続される。オペアンプ107の出力はNPNトラン
ジスタ108のベースに接続され、そのエミッタはオペ
アンプ107の反転入力端子及びもう一端を接地電位に
接続された抵抗109(抵抗値r1)の他端に接続され
る。NPNトランジスタ108のコレクタは、電流補償
トランジスタを含む第1のカレントミラー回路100の
入力に接続される。
の横形PNPトランジスタから構成される。トランジス
タ110と111はベースが共通接続され、各エミッタ
はそれぞれ電源Vccに接続される。トランジスタ11
0と111の共通ベースはトランジスタ112のエミッ
タに接続され、トランジスタ112のコレクタは接地電
位に接続され、そのベースはトランジスタ110のコレ
クタに接続される。トランジスタ110のコレクタがカ
レントミラーの入力となり、トランジスタ111のコレ
クタが出力となる。ここで、カレントミラーにI1の電
流が入力した場合、トランジスタ110,111,11
2のコレクタ電流をそれぞれIC110,IC111,
IC112、ベース電流をIB110,IB111,I
B112とすると、トランジスタ110と111はベー
ス・エミッタ間の電圧Vbeが同一であるので、 Iin=Ic110+Ib112 Ic112=Ib110+Ib111 =(Ic110+Ic111)/(Hfe+1) =約2*Ic110/Hfe Ib112=Ic112/Hfe であるから Iin=(1+2/Hfe2)Ic110 従って、カレントミラーの出力電流をIoutとすると Iout=Ic111 =Ic110 =Iin/(1+2/Hfe2) …… となり、誤差はおよそ2/Hfe2で、ほぼ入力電流に
近い電流が出力電流となる。
115からなる第2のカレントミラー回路125に入力
し、前記第1のカレントミラー回路100と同様にして
出力電流がトランジスタ115のコレクタから出力され
る。ただし、トランジスタ114のエミッタサイズはト
ランジスタ115のn倍(n>1)のサイズになってい
るので、出力電流は入力電流が約n倍されて出てくる。
回路102の中のNPNトランジスタ116,117か
らなる差動回路の共通エミッタに接続される。NPNト
ランジスタ116,117のベースにはプリドライバー
118の相補的な出力119,120が入力し、スイッ
チングを行う。NPNトランジスタ116のコレクタは
もう一方が電源Vccに接統された抵抗のもう一端に接
続され、NPNトランジスタ117のコレクタは、アノ
ードが電源に接続された半導体レーザーのカソードに接
続される。プリドライバー118の入力(in1)がハ
イ、入力(/in1)がロウの時、プリドライバー11
8の相補的な出力119がハイ、120がロウとなり、
トランジスタ116はオン、117がオフし、トランジ
スタ114のコレクタ電流はトランジスタ116を通
し、抵抗104に流れるため、半導体レーザーは消灯す
る。
1)がロウ,入力(/in1)がハイの時、出力119
がロウ、出力120がハイとなりトランジスタ116は
オフ、トランジスタ117がオンし、トランジスタ11
4のコレクタ電流はトランジスタ117を通し、半導体
レーザー103に流れるため、半導体レーザー103は
発光する。
れる電流と、トランジスタ114のコレクタ電流、即ち
電流源回路101の入力電圧v1とトランジスタ108
のエミッタに接続した抵抗r1,2つのカレントミラー
100,125のミラー比によって決まる。ミラー比、
抵抗r1は一度決めてしまえば、一定のため、光量は電
流源回路の入力電圧V1で制御することができる。
ムプリンターの様な電子写真プロセスを用いた画像形成
装置に用いるような半導体レーザーの場合、光出力とし
て数mWのパワーが必要であり、駆動電流は数10mA
から100mA程度の大きな電流が必要となっている。
おいては、NPNトランジスタの特性を最大限引き出す
ようプロセスが最適化され、PNPトランジスタについ
ては、NPNトランジスタの構造を利用して作れるPN
Pトランジスタを便宜的に用いている場合が多い。代表
的なものが横形(ラテラル)PNP(以下、LPNPと
記す)である。LPNPは工程の増加無しに実現できる
メリットがあるが、NPNトランジスタと比べて、同一
サイズで流せる電流が少ないことや、電流増幅率が低電
流領域では大きいものの、電流が増加するにつれて急速
に減少する、動作速度の上限が低いといった欠点があ
る。
スタの要求に対して、製造工程を追加して、縦形のPN
Pトランジスタ(以下、VPNPと記す)を実現する場
合があるが、NPNトランジスタほど構造を最適化でき
ないため電流増幅率を大きくできない、といった欠点が
ある。
を考えてみると、発光素子の駆動電流を100mA,N
PNトランジスタで形成される第2のカレントミラー1
25のミラー比を10とすると、PNPトランジスタ1
11や110には10mAのコレクタ電流を流す必要が
生じる。図6に示したように通常のLPNPを用いる場
合、基本サイズのセルで流せるコレクタ電流は数10μ
Aから100μA程度であるので、100倍サイズ〜数
100倍サイズの巨大なLPNPが複数、必要となり、
レイアウト面積が増大し、集積回路のチップサイズが増
大し、コストアップにつながるという問題点があった。
のセルあたり数100μA〜数mAの電流を流せるの
で、レイアウト面積はLPNPほどの大きさを必要とし
ないが、電流増幅率が数10から100以下である場合
が多く、式から明らかなように電流増幅率Hfeの低
下とともに、Hfeの2乗でカレントミラーの精度が低
下し、電流源回路に入力電圧V1によって半導体レーザ
ーの光量を制御する場合の誤差が大きくなるという問題
があった。
0.3%程度の誤差となる。電流増幅率は温度によって
変化するので、周囲温度の変化やチップの発熱による温
度変動を考慮すると、この誤差はさらに大きくなる。
体レーザーの駆動回路のように大電流を流すPNP型の
カレントミラーについて、レイアウト面積即ちコストの
増大をおさえ、精度の高いカレントミラーを提供するこ
とにある。さらには、前記カレントミラーを用いること
により、発光光量の制御の精度の高い発光素子の駆動回
路を提供することにある。
め、カレントミラーを構成するPNPトランジスタを縦
形PNPトランジスタを用い、電流補償用PNPトラン
ジスタとしてその動作電流領域において、縦形PNPト
ランジスタより電流増幅率の大きな横形PNPトランジ
スタを用いることを特徴とする。
する縦形PNPトランジスタは大電流を比較的小さなト
ランジスタサイズで駆動するように作用する。電流補償
用横形PNPトランジスタは、カレントミラーを構成す
る縦形PNPトランジスタのベース電流を高い電流増幅
率を用いて、精度良く補償するよう作用する。
補償用の横形PNPトランジスタのベース幅を他の回路
のベース幅より狭くすることを特徴とする。
は、横形PNPトランジスタの電流増幅率を増大させ、
カレントミラーを構成する縦形PNPトランジスタのベ
ース電流を高い電流増幅率を用いて、より精度良く補償
するよう作用する。
補償用の横形PNPトランジスタのベース幅を他の回路
のベース幅より狭くし、コレクタと接地電位の間に電圧
降下を起こす素子を挿入することを特徴とする。
は、横形PNPトランジスタの電流増幅率を増大させ、
カレントミラーを構成する縦形PNPトランジスタのベ
ース電流を高い電流増幅率を用いて、より精度良く補償
するよう作用し、コレクタと接地電位の間に電圧降下を
起こす素子を挿入することは、ベース幅の減少に伴う横
形PNPのコレクターエミッタ間の耐圧の低下に対し
て、コレクターエミッタ間にかかる電圧を低下させ、リ
ーク電流の発生を抑えるよう作用する。さらに、ベース
幅の縮小はベース抵抗を減少させ、同一サイズのトラン
ジスタの電流容量を増大させ、小さな面積で大きな電流
を流せるよう作用する。
を参照しつつ詳細に説明する。
実施形態を示す。従来例の図6と同一の部分は、同じ番
号を付けて重複する説明を省略する。
いたカレントミラー1の構成である。VPNPトランジ
スタ2のコレクタはカレントミラー1の入力、即ちNP
Nトランジスタ108のコレクタに接続される。エミッ
タは電源Vccに、ベースはエミッタを電源に接続され
たVPNP3のベースに共通接続され、トランジスタ
2,3はカレントミラー1を構成する。VPNP2,3
の共通ベースにはLPNP4のエミッタが接続され、L
PNP4のコレクタは接地電位に、ベースはVPNPト
ランジスタ1のコレクタに接続される。
回路1の出力となり、次段のNPN113のコレクタに
接続される。2種類のPNPトランジスタの特性とし
て、図2に示すように、VPNPの基本トランジスタの
電流容量(流せるコレクタ電流の目安)が、1mAで、
この時のHfeが40,LPNPの基本トランジスタの
電流容量が50μAで、この時のHfeが200である
というプロセスを仮定して、本実施形態の動作を説明す
る。
ログ回路で使われる最小の単位のトランジスタを示す。
図2はVPNPとLPNPを比較して、VPNPは電流
は流せるものの電流増幅率Hfeが低い。また、LPN
Pは低電流側のHfeは高いが大電流を流せないとい
う、両者のコレクタ電流と電流増幅率の関係を例示して
いる。
をスイッチングさせ、発光素子103を駆動する場合、
NPNのカレントミラー25のミラー比を10とする
と、PNPのカレントミラー1には10mA流す必要が
ある。従ってVPNP2,3のサイズは基本トランジス
タ10倍のサイズとすればよい。この時、VPNPのH
feは40であるとして、VPNP2,3のベース電流
の合計は500μAである。この電流がLPNP4に流
れることになる。従って、LPNP4は基本トランジス
タの5倍サイズとすれば良く、LPNP4のベース電流
は2.5μAである。この時の本カレントミラー1の誤
差は、2.5μA/10mA=0,025%となる。
基本トランジスタの面積は、VPNPの基本トランジス
タ面積の2倍程度になるので、VPNPの基本トランジ
スタの面積をSで表すと、本実施形態の素子の占有面積
は、30Sとなる。これに対して、従来のLPNPのみ
を用いた場合、VPNP2及び3に対応したトランジス
タのサイズは、それぞれ100倍サイズとなる。VPN
P2と3のベース電流の和は100μAであり、トラン
ジスタLPNP4相当の素子は、1倍サイズで良い。従
って、面積は402Sとなり、カレントミラー1の誤差
は0・5μA、即ち0,005%となる。従って、本実
施形態では精度がやや悪化するが、誤差は充分小さい値
であり、面積を約1/13にを縮小でき、大きなコスト
ダウンにつながるという効果がある。
P2及び3に対応したトランジスタのサイズは、本実施
形態とおなじく各10S、ベース電流補償用のトランジ
スタ4に対応したトランジスタのサイズは、VPNPの
場合1Sで済むので、面積的は21Sとなる。また、上
記トランジスタ4として、VPNPを用いた場合のカレ
ントミラーの誤差は12.5μA、即ち0,125%と
なる。従って、本実施形態では、全てVPNPトランジ
スタを用いた場合に比較して、30%程度面積が増える
ものの、カレントミラーの誤差を1/5にできる。
る駆動電流を設定した際の消費電流の差によるチップ温
度に、違いや周囲温度の違いに伴うHfeの変動に起因
した、発光素子の駆動電流の変動を抑えることができ
る。
1種類のトランジスタのみを用いてPNPのカレントミ
ラーを構成していた場合に比較し、素子面積(レイアウ
ト面積)の増加を抑えて、精度の高いカレントミラーを
得ることが出来る。さらには、大きな電流のカレントミ
ラーが必要な発光素子の駆動回路において、駆動電流の
制御を低コストで実現できる。
は電源、LPNP4のエミッタはVPNP2,3のベー
スに接続されているが、図3に示すようにVPNPのエ
ミッタと電源の聞に抵抗5,6を挿入し、素子の特性ば
らつきに対してミラー精度向上を図ったり、カレントミ
ラー比を抵抗5,6の値で設定したりしてもよい。即
ち、VPNPのカレントミラー1のミラー比が1以外で
も同様の効果があることは言うまでもない。また、LP
NP4のエミッタとVPNP2,3のベース間に過電流
防止の為の抵抗7を挿入したりしても本発明の効果にか
わりはない。
実施形態を示す。図4(a)に、通常の横形(ラテラ
ル)のLPNPの構造の一つのトランジスタを模式的に
示す。図において、13はp型の半導体基板、11はn
型のエピタキシャル層でベースを構成する。14,15
はp型の素子分離層、12はn型の埋込み層、10はベ
ース領域のコンタクトを取るための濃いn型の拡散層、
8と9は濃いp型の拡散層で8がエミッタ、9がコレク
タを形成する。また、16はエミッタ端子、17はコレ
クタ端子、18はベース端子である。
領域を平面的にはドーナツ状に囲む様に形成される。ま
た、エミッタ8とコレクタ9のp型拡散層の間隔WB1
がLPNPトランジスタのベース幅となる。ベース幅が
小さいほど電流増幅率Hfeは大きくなるが、コレクタ
ーエミッタ間の耐圧が低下したり、アーリ電圧が低下す
るので、通常のLPNPはあまりWb1を小さく出来な
い。
の断面図を示す。VPNPの場合、ベース幅を変える為
には拡散層の深さを変えなければならず、マスクや工程
の増加無しにベース幅の異なるトランジスタを混在させ
ることは難しいが、LPNPの場合、マスク上のデータ
の変更のみで自由にベース幅を変えられる為、これを利
用して、図4(a)と比較して、LPNPのベース幅を
小さくしている。
補償用のLPNPトランジスタ4のベース幅を他の回路
に用いられるLPNPトランジスタより小さくし、電流
増幅率Hfeの大きなLPNPを使用することを特徴と
する。このことにより、標準のLPNPトランジスタよ
りHfeが大きいし、PNPを電流補償用に使用するこ
とにより、レーザーの駆動電流の設定精度を向上させる
ことが出来る。さらに、ベース抵抗の減少により、同一
サイズでより大きい電流を流せるようになるため、LP
NPのトランジスタサイズを小さく出来る。
タのコレクタ−エミッタ間にはおおむね“電源電圧一2
Vbe(厳密には、図1のVPNP2のベース−エミッ
タ間電圧とLPNP4のベース−エミッタ間電圧の
和)”の電圧がかかる為、ベース幅の下限は、使用する
電源電圧仕様にたいして、上記電圧がコレクタ−エミッ
タ間にかかっても、耐圧が保たれる条件によって規定さ
れる。その他の回路で使用される標準のLPNPでは電
源電圧がコレクタ−エミッタ間にかかっても耐圧が保た
れるようベース幅が設定されている為、電流補償用のL
PNPトランジスタ4では2Vbe分ベース幅を小さく
出来る。
きのカレントミラーの出力電流の式は、式を書き換え
て、 Iout=Iin/(1+2/Hfe(VPNP)*Hfe(LPNP)) =Iin(1−2/Hfe(VPNP)*Hfe(LPNP))… のようになるため、カレントミラーの誤差、 2/Hfe(VPNP)*Hfe(LPNP) … はカレントミラーを構成するVPNPのHfeと電流補
償用のLPNPのHfeの積に依存する。このため、ベ
ース幅の縮小により電流補償用のLPNPのHfeが増
加した分、誤差は減少する。仮に20%電流補償用の
LPNPトランジスタのHfeが増加すれば、誤差は2
0%低減される。
償用のLPNPのベース幅を他の回路のLPNPのベー
ス幅より縮小することによって、Hfeを増大させ、よ
り精度の高いカレントミラーを小さい面積で実現するこ
とが出来る。さらには、大きな電流のカレントミラーが
必要な発光素子の駆動回路において、駆動電流の制御を
高精度、低コストで実現できる。
実施形態を示す。本実施形態では電流補償用のLPNP
のコレクタ−エミッタ間にかかる電圧を、実施形態2に
比較して、さらに小さくすることにより、ベース幅WB
2の重なる縮小を図り、より小さい面積で高精度のカレ
ントミラーを提供することを特徴とする。
タ間の電圧を実施形態2に比較して、さらに小さくする
為、図5(a)では電流補償用のLPNP4のコレクタ
と接地電位の間に抵抗19を挿入してある。図5(b)
では電流補償用のLPNP4のコレクタと接地電位の間
に複数のダイオード20,21を挿入してある。ここに
例示したように、電流補償用のLPNPのコレクタを接
地電位間に電圧降下を発生させるような素子を挿入する
ことにより、電流補償用のLPNPのコレクターエミッ
タ間の電圧を飽和しない程度に抑え、その分低い耐圧で
良くなりベース幅を縮小できる。コレクタ−エミッタ間
の電圧が低下すると、Hfeが下がるため、ベース幅の
縮小がそのまま全てのHfeの増大につながるわけでは
ないが、ベース抵抗の減少により、流せる電流が増大す
るため、よりLPNPのサイズを小さく抑えることがで
き、少ない面積で高精度のカレントミラーが実現でき
る。
て、抵抗とダイオードの例を示したが、電圧降下を起こ
す素子ならツェナーダイオードや、ベースとコレクタと
を短絡したトランジスタ、MOSトランジスタ等でも良
いことは言うまでもない。また、これらを複数組み合わ
せても良い。
償用のLPNPのコレクタと接地電位間に電圧降下を発
生させる素子を挿入し、上記LPNPのコレクターエミ
ッタ間の電圧を飽和しない程度に抑え、よりベース幅を
他の回路のLPNPのベース幅より縮小することによっ
て、同一面積あたりめ駆動可能電流を増大させ、精度の
高いカレントミラーを小さい面積で実現することが出来
る。さらには、大きな電流のカレントミラーが必要な発
光素子の駆動回路において、駆動電流の制御を、低コス
トで実現できる。
1の発明によれば、カレントミラーを構成するPNPト
ランジスタとして、縦形PNPトランジスタを用い、電
流補償用PNPトランジスタとして、その動作電流領域
において縦形PNPトランジスタより電流増幅率の大き
な横形PNPトランジスタを用いているため、従来のL
PNPトランジスタを用いたカレントミラー回路に比較
して、わずかなカレントミラー精度の低下で、面積を大
幅に縮小したカレントミラーが得られ、大電流をカレン
トミラーにより安定な定電流とする必要のある発光素子
の駆動回路のコストダウンにつながる。
比較して、VPNPを用いたカレントミラーを用いたこ
とにより、わずかな面積の増加で精度を大幅に向上で
き、より正確なカレントミラー回路が得られる。さらに
発光素子の制御をより正確に行う事ができる。
ス電流補償用の横形PNPトランジスタのベース幅を他
の回路のベース幅より狭くする事により、LPNPの電
流増幅率を増加させるとともに、電流容量を大きくし、
より小さい占有面積で正確に大電流のカレントミラーを
行うPNPのカレントミラー回路が得られる。さらに、
発光素子の駆動回路の精度を向上できるとともに、コス
トダウンが可能となる。
ントミラーの電流補償用LPNP電流容量を大きくし、
より小さい占有面積で正確に大電流のカレントミラーを
行うPNPのカレントミラー回路が得られる。さらに、
発光素子の駆動回路の精度を向上できるとともにコスト
ダウンが可能となる。
回路を含んだ発光素子の駆動回路の回路図である。
タ電流の関係を現す図である。
ラーの回路図である。
ンジスタの断面図である。
の回路図である。
回路である。
層 11 LPNPのベース領域の一部を構成するNエピタ
キシャル層 12 LPNPのベース領域の一部を構成するN+埋め
こみ層 13 P型の基板 14 素子分離を行うP+拡散層 15 素子分離を行うP+埋込み層 16 エミッタの電位を取り出す配線 17 コレクタの電位を取り出す配線 18 ベースの電位を取りだす配線 19 抵抗 20,21 ダイオード 105 電源 106 発光光量制御電圧(v1) 107 オペアンプ 108,113〜116 NPNトランジスタ 118 プリドライバー 119,120 プリドライバーの相補的な出力
Claims (7)
- 【請求項1】 エミッタがそれぞれ電源に接続され、べ
ースを共通接続された第1及び第2のトランジスタのう
ち、前記第1のトランジスタのコレクタを入力とし、前
記第2のトランジスタのコレクタを出力とし、第3のト
ランジスタのエミッタは上記共通接続されたべースに接
続され、コレクタは接地電位、ベースが上記第1のトラ
ンジスタのコレクタに接続された、ベース電流補償トラ
ンジスタ付きのカレントミラー回路において、 前記第1及び前記第2のトランジスタに縦形PNPトラ
ンジスタを用い、前記ベース電流補償用の前記第3のト
ランジスタをその動作電流領域に置いて前記縦形PNP
トランジスタより電流増幅率の高い横形PNPトランジ
スタを用いることを特徴とするカレントミラー回路。 - 【請求項2】 上記第1と第2の縦形PNPトランジス
タの、少なくとも一方のエミッタと電源の間に、抵抗を
挿入したことを特徴とする請求項1記載のカレントミラ
ー回路。 - 【請求項3】 前記第1及び前記第2のトランジスタの
ベース電流を補償する前記第3の横形PNPトランジス
タのエミッタと前記カレントミラーを構成する前記第1
と前記第2の縦形PNPトランジスタの共通ベースとの
間に抵抗を挿入したことを特徴とする請求項1記載のカ
レントミラー回路。 - 【請求項4】 前記ベース電流補償用の前記横形PNP
トランジスタのベース幅を、他の通常の回路で用いられ
る前記横形PNPトランジスタのベース幅より小さくし
たことを特徴とする請求項1又は,2,3記載のカレン
トミラー回路。 - 【請求項5】 前記ベース電流補償用の前記横形PNP
トランジスタのベース幅を、他の通常の回路で用いられ
る前記横形PNPトランジスタのベース幅より小さく
し、前記横形PNPトランジスタのコレクタ端子と接地
電位の間に電圧降下を発生させる素子をひとつ以上挿入
したことを特徴とする請求項1又は,2,3記載のカレ
ントミラー回路。 - 【請求項6】 発光素子の駆動回路において、前記発光
素子に流れる電流を制御する電流源回路に請求項1乃至
5の何れかに記載したカレントミラー回路を用いたこと
を特徴とする発光素子の駆動回路。 - 【請求項7】 エミッタがそれぞれ電源に接続され、ベ
ースを共通接続された第1及び第2のトランジスタのう
ち、前記第1のトランジスタのコレクタに接続された第
4のNPNトランジスタのベースを入力とし、前記第2
のトランジスタのコレクタを第2のカレントミラー回路
の接続して出力とし、ベース電流補償用の第3のトラン
ジスタのエミッタは上記共通接続されたベースに接続さ
れ、コレクタは接地電位、ベースが前記第1のトランジ
スタのコレクタに接続されたベース電流補償トランジス
タ付きの第1のカレントミラー回路と、 前記第2のトランジスタのコレクタに第5のトランジス
タのコレクタと第7のトランジスタのベースを接続し、
前記第5のトランジスタのベースと第6のトランジスタ
のベースとを共通接続し、前記第5のトランジスタのエ
ミッタと第6のトランジスタのエミッタを接地電位に接
続し、前記第7のトランジスタのコレクタを電源に、エ
ミッタを前記第5のトランジスタのベースに接続した前
記第2のカレントミラー回路と、前記第6のトランジス
タのコレクタにスイッチ回路を介してアノードを電源に
接続されたレーザを接続した発光素子の駆動回路におい
て、 前記第1及び前記第2のトランジスタに縦形PNPトラ
ンジスタを用い、前記ベース電流補償用の前記第3のト
ランジスタをその動作電流領域に置いて前記縦形PNP
トランジスタより電流増幅率の高い横形PNPトランジ
スタを用い、前記第6のトランジスタのエミッタ領域を
前記第5のトランジスタのエミッタ領域のn倍(n>
1)としたことを特徴とする発光素子の駆動回路。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11092298A JP2000286344A (ja) | 1999-03-31 | 1999-03-31 | カレントミラー回路及び該回路を用いた発光素子の駆動回路 |
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JP11092298A JP2000286344A (ja) | 1999-03-31 | 1999-03-31 | カレントミラー回路及び該回路を用いた発光素子の駆動回路 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2000286344A true JP2000286344A (ja) | 2000-10-13 |
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ID=14050516
Family Applications (1)
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JP11092298A Pending JP2000286344A (ja) | 1999-03-31 | 1999-03-31 | カレントミラー回路及び該回路を用いた発光素子の駆動回路 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2000286344A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007149940A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Nec Electronics Corp | 電流スイッチ回路 |
WO2009011019A1 (ja) * | 2007-07-13 | 2009-01-22 | Mitsubishi Electric Corporation | 光送信器 |
JP2011066244A (ja) * | 2009-09-17 | 2011-03-31 | Seiko Instruments Inc | 静電気保護用半導体装置 |
-
1999
- 1999-03-31 JP JP11092298A patent/JP2000286344A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007149940A (ja) * | 2005-11-28 | 2007-06-14 | Nec Electronics Corp | 電流スイッチ回路 |
WO2009011019A1 (ja) * | 2007-07-13 | 2009-01-22 | Mitsubishi Electric Corporation | 光送信器 |
US8242709B2 (en) | 2007-07-13 | 2012-08-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Optical transmitter |
JP2011066244A (ja) * | 2009-09-17 | 2011-03-31 | Seiko Instruments Inc | 静電気保護用半導体装置 |
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