JP2001031929A - 接続構造体 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 二つの電子部品を異方性導電接着剤で接続し
た接続構造体に対し、異方性導電接着剤のはみ出しを防
止すると共に、接続部の低い導通抵抗と十分な接着強度
を付与する。 【解決手段】 第1基板1上の第1電極2と、第2基板
3上の第2電極4とを異方性導電接着剤層5を介して電
気的に接続された接続構造体は、第1電極の電極高さを
A1、電極幅をB1、電極間スペース幅をC1とし、第2
電極の電極高さをA2、電極幅をB2、電極間スペース幅
をC2とし(但し、B+C=B1+C1=B2+C2)、接
続前の導電性接着剤層の層厚をXとした時に、以下の関
係式(1) 【数1】0.5×{(A1C1+A2C2)/(B+C)}≦X≦2×{(A1C1+A2
C2)/(B+C)} (1) を満足する。
た接続構造体に対し、異方性導電接着剤のはみ出しを防
止すると共に、接続部の低い導通抵抗と十分な接着強度
を付与する。 【解決手段】 第1基板1上の第1電極2と、第2基板
3上の第2電極4とを異方性導電接着剤層5を介して電
気的に接続された接続構造体は、第1電極の電極高さを
A1、電極幅をB1、電極間スペース幅をC1とし、第2
電極の電極高さをA2、電極幅をB2、電極間スペース幅
をC2とし(但し、B+C=B1+C1=B2+C2)、接
続前の導電性接着剤層の層厚をXとした時に、以下の関
係式(1) 【数1】0.5×{(A1C1+A2C2)/(B+C)}≦X≦2×{(A1C1+A2
C2)/(B+C)} (1) を満足する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、二つの電子部品と
の間、例えば液晶パネルとフィルムコネクタとの間に形
成される接続構造体に関する。
の間、例えば液晶パネルとフィルムコネクタとの間に形
成される接続構造体に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶パネルの接続端子とマザーボード上
の接続端子とを電気的に接続するために、図4(同図
(a)一部切り欠け上面図、同図(b)Y−Y断面図)
に示すようなフィルムコネクタが使用されている。この
フィルムコネクタは、ポリエステルなどの可撓性樹脂フ
ィルム基材41上に銅箔をパターニングした導体層42
が形成され、その導体層42上にカバーフィルム43が
積層された構造を有する。ここで、カバーフィルム43
は、可撓性樹脂フィルム基材41の両端部において導体
層42を被覆しないように配設されている。そして、カ
バーフィルム43で被覆されていない導体層42上に
は、異方性導電接着剤層44a及び44bが同じ層厚で
それぞれ設けられている。
の接続端子とを電気的に接続するために、図4(同図
(a)一部切り欠け上面図、同図(b)Y−Y断面図)
に示すようなフィルムコネクタが使用されている。この
フィルムコネクタは、ポリエステルなどの可撓性樹脂フ
ィルム基材41上に銅箔をパターニングした導体層42
が形成され、その導体層42上にカバーフィルム43が
積層された構造を有する。ここで、カバーフィルム43
は、可撓性樹脂フィルム基材41の両端部において導体
層42を被覆しないように配設されている。そして、カ
バーフィルム43で被覆されていない導体層42上に
は、異方性導電接着剤層44a及び44bが同じ層厚で
それぞれ設けられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、液晶パネル
の接続端子の導体層の高さは通常1μm以下であるが、
マザーボードの接続端子の導体層の高さは10〜50μ
mもある。このため、図4に示したような両端部に同じ
層厚の異方性導電接着剤層を有するフィルムコネクタで
液晶パネルの接続端子とマザーボード上の接続端子とを
接続する場合、液晶パネル側の接続部ではショートの原
因となる異方性導電接着剤のはみ出しが多いという問題
がある。また、マザーボード側の接続部では、導通抵抗
値も相対的に高くなり、しかも接着強度が不十分になる
という問題がある。
の接続端子の導体層の高さは通常1μm以下であるが、
マザーボードの接続端子の導体層の高さは10〜50μ
mもある。このため、図4に示したような両端部に同じ
層厚の異方性導電接着剤層を有するフィルムコネクタで
液晶パネルの接続端子とマザーボード上の接続端子とを
接続する場合、液晶パネル側の接続部ではショートの原
因となる異方性導電接着剤のはみ出しが多いという問題
がある。また、マザーボード側の接続部では、導通抵抗
値も相対的に高くなり、しかも接着強度が不十分になる
という問題がある。
【0004】このような問題は、二つの電子部品を異方
性導電接着剤で接続する場合に形成される接続構造体に
常に生じうる問題である。
性導電接着剤で接続する場合に形成される接続構造体に
常に生じうる問題である。
【0005】本発明は、以上の従来の技術の課題を解決
しようとするものであり、二つの電子部品を異方性導電
接着剤で接続した接続構造体に対し、異方性導電接着剤
のはみ出しを防止すると共に、接続部の低い導通抵抗と
十分な接着強度とを付与することを目的とする。
しようとするものであり、二つの電子部品を異方性導電
接着剤で接続した接続構造体に対し、異方性導電接着剤
のはみ出しを防止すると共に、接続部の低い導通抵抗と
十分な接着強度とを付与することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者は、二つの電子
部品の接続すべきそれぞれの接続端子の導体層の高さ、
導体層の幅、導体層間スペース幅及び異方性導電接着剤
層の層厚の各ファクター同士の間に、上述の目的を達成
するための最適な関係式が存在することを見出し、本発
明を完成させるに到った。
部品の接続すべきそれぞれの接続端子の導体層の高さ、
導体層の幅、導体層間スペース幅及び異方性導電接着剤
層の層厚の各ファクター同士の間に、上述の目的を達成
するための最適な関係式が存在することを見出し、本発
明を完成させるに到った。
【0007】即ち、本発明は、第1基板上の第1電極
と、第2基板上の第2電極とを異方性導電接着剤層を介
して電気的に接続された接続構造体において、第1電極
の電極高さをA1、電極幅をB1、電極間スペース幅をC
1とし、第2電極の電極高さをA2、電極幅をB2、電極
間スペース幅をC2とし(但し、B+C=B1+C1=B2
+C2)、接続前の導電性接着剤層の層厚をXとした時
に、以下の関係式(1)
と、第2基板上の第2電極とを異方性導電接着剤層を介
して電気的に接続された接続構造体において、第1電極
の電極高さをA1、電極幅をB1、電極間スペース幅をC
1とし、第2電極の電極高さをA2、電極幅をB2、電極
間スペース幅をC2とし(但し、B+C=B1+C1=B2
+C2)、接続前の導電性接着剤層の層厚をXとした時
に、以下の関係式(1)
【0008】
【数3】 0.5×{(A1C1+A2C2)/(B+C)}≦X≦2×{(A1C1+A2C2)/(B+C)} (1) を満足することを特徴とする接続構造体を提供する。
【0009】また、本発明は、第1基板上の第1電極
と、第2基板上の第2電極とを異方性導電接着剤層を介
して電気的に接続する接続方法において、第1電極の電
極高さをA1、電極幅をB1、電極間スペース幅をC1と
し、第2電極の電極高さをA2、電極幅をB2、電極間ス
ペース幅をC2とし(但し、B+C=B1+C1=B2+C
2)、接続前の導電性接着剤層の層厚をXとした時に、
以下の関係式(1)
と、第2基板上の第2電極とを異方性導電接着剤層を介
して電気的に接続する接続方法において、第1電極の電
極高さをA1、電極幅をB1、電極間スペース幅をC1と
し、第2電極の電極高さをA2、電極幅をB2、電極間ス
ペース幅をC2とし(但し、B+C=B1+C1=B2+C
2)、接続前の導電性接着剤層の層厚をXとした時に、
以下の関係式(1)
【0010】
【数4】 0.5×{(A1C1+A2C2)/(B+C)}≦X≦2×{(A1C1+A2C2)/(B+C)} (1) を満足するように接続することを特徴とする接続方法を
提供する。
提供する。
【0011】更に、本発明は、可撓性樹脂フィルム基材
上に導体層が形成され、その導体層上に、可撓性樹脂フ
ィルム基材の両端部において導体層を被覆しないように
カバーフィルムが積層され、カバーフィルムで被覆され
ていない導体層上に異方性導電接着剤層がそれぞれ設け
られているフィルムコネクタにおいて、異方性導電接着
剤層の層厚と、可撓性樹脂フィルム基材の両端部それぞ
れにおける導体層高さ、導体層幅及び導体層間スペース
幅とが、フィルムコネクタで接続すべき被接合体の電極
高さ、電極幅及び電極間スペース幅とに対して、本発明
の接続方法が適用できるように構成されていることを特
徴とするフィルムコネクタを提供する。
上に導体層が形成され、その導体層上に、可撓性樹脂フ
ィルム基材の両端部において導体層を被覆しないように
カバーフィルムが積層され、カバーフィルムで被覆され
ていない導体層上に異方性導電接着剤層がそれぞれ設け
られているフィルムコネクタにおいて、異方性導電接着
剤層の層厚と、可撓性樹脂フィルム基材の両端部それぞ
れにおける導体層高さ、導体層幅及び導体層間スペース
幅とが、フィルムコネクタで接続すべき被接合体の電極
高さ、電極幅及び電極間スペース幅とに対して、本発明
の接続方法が適用できるように構成されていることを特
徴とするフィルムコネクタを提供する。
【0012】
【発明の実施の形態】まず、本発明の接続構造体につい
て説明する。
て説明する。
【0013】本発明の接続構造体は、図1に示すよう
に、第1基板1上の第1電極2と、第2基板3上の第2
電極4とを異方性導電接着剤層5を介して電気的に接続
された接続構造体である。この接続構造体は、その接続
直前の状態である図2に示すように、第1電極の電極高
さをA1、電極幅をB1、電極間スペース幅をC1とし、
第2電極の電極高さをA2、電極幅をB2、電極間スペー
ス幅をC2とし(但し、B+C=B1+C1=B2+
C2)、接続前の導電性接着剤層5の層厚をXとした時
に、以下の関係式(1)
に、第1基板1上の第1電極2と、第2基板3上の第2
電極4とを異方性導電接着剤層5を介して電気的に接続
された接続構造体である。この接続構造体は、その接続
直前の状態である図2に示すように、第1電極の電極高
さをA1、電極幅をB1、電極間スペース幅をC1とし、
第2電極の電極高さをA2、電極幅をB2、電極間スペー
ス幅をC2とし(但し、B+C=B1+C1=B2+
C2)、接続前の導電性接着剤層5の層厚をXとした時
に、以下の関係式(1)
【0014】
【数5】 0.5×{(A1C1+A2C2)/(B+C)}≦X≦2×{(A1C1+A2C2)/(B+C)} (1) を満足することが必要である。ここで、関係式(1)の
各変数の意味は以下の通りである。
各変数の意味は以下の通りである。
【0015】(B+C): 一組の電極と電極間スペー
スとからなる単位接続部の幅 A1C1: 単位接続部の第1基板側の電極間スペース断
面積(単位接続部の第1基板側における異方性導電接着
剤層が押し込まれる空間の断面積) A2C2: 単位接続部の第2基板側の電極間スペース断
面積(単位接続部の第2基板側における異方性導電接着
剤層が押し込まれうる空間の断面積) (A1C1+A2C2): 単位接続部の電極間スペース合
計断面積(単位接続部における異方性導電接着剤層が押
し込まれうる空間の合計断面積) (A1C1+A2C2)/(B+C): 単位接続部の幅方
向における対向する基板間の平均距離 従って、関係式(1)は、単位接続部における異方性導
電接着剤層の層厚が、単位接続部の幅方向における対向
する基板間の平均距離の半分から2倍の範囲内でなけれ
ばならないことを意味している。即ち、異方性導電接着
剤層の層厚Xが単位接続部の幅方向における対向する基
板間の平均距離の半分{0.5×(A1C1+A2C2)/
(B+C)}を下回ると、基板間に異方性導電接着剤が
十分に行き渡らないので、接続部の導通抵抗値が上昇
し、接続強度も低下する。反対に、異方性導電接着剤層
の厚みXが単位接続部の幅方向における対向する基板間
の平均距離の2倍{2×(A1C1+A2C2)/(B+
C)}を上回ると、対向する電極間及び電極間スペース
に十分な量の異方性導電接着剤が供給できるので、接続
部の導通抵抗値が減少し接着強度も向上するが、異方性
導電接着剤層のすべてを電極間スペースに収容できない
ので、接続部から異方性導電接着剤のはみ出しが生ず
る。
スとからなる単位接続部の幅 A1C1: 単位接続部の第1基板側の電極間スペース断
面積(単位接続部の第1基板側における異方性導電接着
剤層が押し込まれる空間の断面積) A2C2: 単位接続部の第2基板側の電極間スペース断
面積(単位接続部の第2基板側における異方性導電接着
剤層が押し込まれうる空間の断面積) (A1C1+A2C2): 単位接続部の電極間スペース合
計断面積(単位接続部における異方性導電接着剤層が押
し込まれうる空間の合計断面積) (A1C1+A2C2)/(B+C): 単位接続部の幅方
向における対向する基板間の平均距離 従って、関係式(1)は、単位接続部における異方性導
電接着剤層の層厚が、単位接続部の幅方向における対向
する基板間の平均距離の半分から2倍の範囲内でなけれ
ばならないことを意味している。即ち、異方性導電接着
剤層の層厚Xが単位接続部の幅方向における対向する基
板間の平均距離の半分{0.5×(A1C1+A2C2)/
(B+C)}を下回ると、基板間に異方性導電接着剤が
十分に行き渡らないので、接続部の導通抵抗値が上昇
し、接続強度も低下する。反対に、異方性導電接着剤層
の厚みXが単位接続部の幅方向における対向する基板間
の平均距離の2倍{2×(A1C1+A2C2)/(B+
C)}を上回ると、対向する電極間及び電極間スペース
に十分な量の異方性導電接着剤が供給できるので、接続
部の導通抵抗値が減少し接着強度も向上するが、異方性
導電接着剤層のすべてを電極間スペースに収容できない
ので、接続部から異方性導電接着剤のはみ出しが生ず
る。
【0016】また、関係式(1)は、以下の関係式
(2)に変換することができる。
(2)に変換することができる。
【0017】
【数6】 0.5×(A1C1+A2C2)≦X(B+C)≦2×(A1C1+A2C2) (2) この関係式(2)において{X(B+C)}は、単位接
続部内の異方性導電接着剤層の断面積を意味する。即
ち、関係式(2)は、関係式(1)の内容を異方性導電
接着剤層の断面積というファクターから見直したものに
相当する。この関係式(2)によれば、単位接続部にお
ける異方性導電接着剤層の断面積は、単位接続部内にお
ける異方性導電接着剤が押し込まれうる空間の合計断面
積の半分から2倍の範囲内でなければならないことも容
易に了解できる。
続部内の異方性導電接着剤層の断面積を意味する。即
ち、関係式(2)は、関係式(1)の内容を異方性導電
接着剤層の断面積というファクターから見直したものに
相当する。この関係式(2)によれば、単位接続部にお
ける異方性導電接着剤層の断面積は、単位接続部内にお
ける異方性導電接着剤が押し込まれうる空間の合計断面
積の半分から2倍の範囲内でなければならないことも容
易に了解できる。
【0018】本発明の接続構造体は、第1基板上1の第
1電極と、第2基板3上の第2電極とを異方性導電接着
剤層5を介し、通常のヒートボンダーを使用して熱圧着
処理することにより電気的に接続する接続方法により作
製することができる。但し、第1電極の電極高さを
A1、電極幅をB1、電極間スペース幅をC1とし、第2
電極の電極高さをA2、電極幅をB2、電極間スペース幅
をC2とし(但し、B+C=B1+C1=B2+C2)、接
続前の導電性接着剤層の層厚をXとした時に、上述の関
係式(1)を満足するように接続する必要がある。
1電極と、第2基板3上の第2電極とを異方性導電接着
剤層5を介し、通常のヒートボンダーを使用して熱圧着
処理することにより電気的に接続する接続方法により作
製することができる。但し、第1電極の電極高さを
A1、電極幅をB1、電極間スペース幅をC1とし、第2
電極の電極高さをA2、電極幅をB2、電極間スペース幅
をC2とし(但し、B+C=B1+C1=B2+C2)、接
続前の導電性接着剤層の層厚をXとした時に、上述の関
係式(1)を満足するように接続する必要がある。
【0019】なお、異方性導電接着剤層は、第1基板上
にペースト状あるいは液状の公知の異方性導電接着剤を
スクリーン印刷により成膜したり、あるいは公知の異方
性導電接着フィルムを貼り付けることにより製造するこ
とができる。
にペースト状あるいは液状の公知の異方性導電接着剤を
スクリーン印刷により成膜したり、あるいは公知の異方
性導電接着フィルムを貼り付けることにより製造するこ
とができる。
【0020】本発明の接続構造体及び接続方法におい
て、それらの構成要素である第1基板、第1電極、第2
基板、第2電極、及び異方性導電接着剤層の個々の材質
やサイズ、形状については、関係式(1)を満足するよ
うに公知の材料の中から適宜選択することができる。
て、それらの構成要素である第1基板、第1電極、第2
基板、第2電極、及び異方性導電接着剤層の個々の材質
やサイズ、形状については、関係式(1)を満足するよ
うに公知の材料の中から適宜選択することができる。
【0021】本発明の接続方法を好ましく適用できる例
として、例えば、液晶パネルの接続端子とマザーボード
上の接続端子とを電気的に接続するために用いられてい
るフィルムコネクタと称される電子部品が挙げられる
(図3(一部切り欠け上面図(同図(a)、Y−Y断面
図(同図(b)))。
として、例えば、液晶パネルの接続端子とマザーボード
上の接続端子とを電気的に接続するために用いられてい
るフィルムコネクタと称される電子部品が挙げられる
(図3(一部切り欠け上面図(同図(a)、Y−Y断面
図(同図(b)))。
【0022】このようなフィルムコネクタは、ポリエス
テルなどの可撓性樹脂フィルム基材31上に銅箔等をパ
ターニングした導体層32が形成され、その導体層32
上にカバーフィルム33が積層された構造を有する。こ
こで、カバーフィルム33は、可撓性樹脂フィルム基材
31の両端部において導体層32を被覆しないように配
設されている。そして、カバーフィルム33で被覆され
ていない導体層32上には、異方性導電接着剤層34a
及び34bがそれぞれ設けられている。このフィルムコ
ネクタにおいては、異方性導電接着剤層の厚みXa,X
bと、可撓性樹脂フィルム基材31の両端部のそれぞれ
における導体層の高さha,hb、導体層幅Wa,Wb
及び導体層間スペース幅Sa,Sbとが、フィルムコネ
クタで接続すべき被接合体の電極の高さ、電極幅及び電
極間スペース幅とに対して、関係式(1)が満足するよ
うに選択される。
テルなどの可撓性樹脂フィルム基材31上に銅箔等をパ
ターニングした導体層32が形成され、その導体層32
上にカバーフィルム33が積層された構造を有する。こ
こで、カバーフィルム33は、可撓性樹脂フィルム基材
31の両端部において導体層32を被覆しないように配
設されている。そして、カバーフィルム33で被覆され
ていない導体層32上には、異方性導電接着剤層34a
及び34bがそれぞれ設けられている。このフィルムコ
ネクタにおいては、異方性導電接着剤層の厚みXa,X
bと、可撓性樹脂フィルム基材31の両端部のそれぞれ
における導体層の高さha,hb、導体層幅Wa,Wb
及び導体層間スペース幅Sa,Sbとが、フィルムコネ
クタで接続すべき被接合体の電極の高さ、電極幅及び電
極間スペース幅とに対して、関係式(1)が満足するよ
うに選択される。
【0023】従って、このフィルムコネクタの両端部に
おける異方性導電接着剤層の厚みは、両側の被接合体の
種類が互いに異なる場合には両端部における異方性導電
接着剤層の厚みXa及びXbは、互いに異なる場合が多
い。特に、フィルムコネクタで液晶パネルとマザーボー
ドとを接続する場合には、一方の異方性導電接着剤層の
厚みが他方の異方性導電接着剤層の厚みの1.5倍以上
となる場合が多い。
おける異方性導電接着剤層の厚みは、両側の被接合体の
種類が互いに異なる場合には両端部における異方性導電
接着剤層の厚みXa及びXbは、互いに異なる場合が多
い。特に、フィルムコネクタで液晶パネルとマザーボー
ドとを接続する場合には、一方の異方性導電接着剤層の
厚みが他方の異方性導電接着剤層の厚みの1.5倍以上
となる場合が多い。
【0024】
【実施例】以下、本発明を具体的に説明する。
【0025】実施例1〜2,比較例1〜2 図2に示すように、第1基板1であるフレキシブルプリ
ント基板(A1=8μm、B1=150μm、C1=15
0μm)と第2基板3であるリジット基板(A2=35
μm、B2=150μm、C2=150μm)とを、表1
に示した厚さのエポキシ系異方性導電接着剤層5(CP
7131、ソニーケミカル社製)を介して熱圧着し、接
続構造体を得た。ここで、{(A1C1+A2C2)/(B
+C)}の数値は、21.5である。
ント基板(A1=8μm、B1=150μm、C1=15
0μm)と第2基板3であるリジット基板(A2=35
μm、B2=150μm、C2=150μm)とを、表1
に示した厚さのエポキシ系異方性導電接着剤層5(CP
7131、ソニーケミカル社製)を介して熱圧着し、接
続構造体を得た。ここで、{(A1C1+A2C2)/(B
+C)}の数値は、21.5である。
【0026】得られた接続構造体の接続部の「導通抵
抗」と「接着強度」と異方性導電接着剤のはみ出しに由
来する「ショートの有無」について、以下に説明するよ
うに評価した。得られた結果を表1に示す。
抗」と「接着強度」と異方性導電接着剤のはみ出しに由
来する「ショートの有無」について、以下に説明するよ
うに評価した。得られた結果を表1に示す。
【0027】(導通抵抗)接続構造体の導通抵抗を、接
続直後(初期抵抗値)とエージング後(60℃、95%
RH、500hr)にそれぞれ測定した。エージング後
の導通抵抗値が接続直後の導通抵抗値の3倍未満である
場合を「○」と評価し、3倍以上である場合を「×」と
評価した。
続直後(初期抵抗値)とエージング後(60℃、95%
RH、500hr)にそれぞれ測定した。エージング後
の導通抵抗値が接続直後の導通抵抗値の3倍未満である
場合を「○」と評価し、3倍以上である場合を「×」と
評価した。
【0028】(接着強度)接続構造体の接続直後の接続
構造体の接続部(0.2cm×1cm)を剥離装置(テ
ンシロン RTC1210、オリエンテック社製)で9
0度方向に剥離し、剥離が開始するのに要した力(gf
/cm)を接着強度とした。接着強度が400gf/c
m以上の場合を「○」と評価し、400gf/cm未満
である場合を「×」と評価した。
構造体の接続部(0.2cm×1cm)を剥離装置(テ
ンシロン RTC1210、オリエンテック社製)で9
0度方向に剥離し、剥離が開始するのに要した力(gf
/cm)を接着強度とした。接着強度が400gf/c
m以上の場合を「○」と評価し、400gf/cm未満
である場合を「×」と評価した。
【0029】(ショートの有無)接続構造体を60℃、
95%RHの雰囲気内に500hr放置し、ショートが
発生しない場合を「○」と評価し、発生した場合を
「×」と評価した。
95%RHの雰囲気内に500hr放置し、ショートが
発生しない場合を「○」と評価し、発生した場合を
「×」と評価した。
【0030】
【表1】 異方性導電接着剤層 の厚さ(μm) 導通抵抗 接着強度 ショート 実施例1 12 ○ ○ ○ 実施例2 43 ○ ○ ○ 比較例1 10 × × ○ 比較例2 45 ○ ○ ×
【0031】表1から明らかなように、関係式(1)を
満足する実施例1及び実施例2の接続構造体は、いずれ
の評価項目についても良好な結果が得られた。
満足する実施例1及び実施例2の接続構造体は、いずれ
の評価項目についても良好な結果が得られた。
【0032】一方、異方性導電接着剤層の厚みが関係式
(1)の下限を下回った比較例1の接続構造体は、評価
項目「導通抵抗」と「接着強度」の点で問題があった。
また、異方性導電接着剤層の厚みが関係式(1)の上限
を上回った比較例2の接続構造体は、評価項目「ショー
トの有無」の点で問題があった。
(1)の下限を下回った比較例1の接続構造体は、評価
項目「導通抵抗」と「接着強度」の点で問題があった。
また、異方性導電接着剤層の厚みが関係式(1)の上限
を上回った比較例2の接続構造体は、評価項目「ショー
トの有無」の点で問題があった。
【0033】実施例3〜4,比較例3〜4 図2に示すように、第1基板1であるガラス基板(A1
=1μm、B1=50μm、C1=40μm)と第2基板
3であるフレキシブルプリント基板(A2=25μm、
B2=45μm、C2=45μm)とを、表2に示した厚
さのエポキシ系異方性導電接着剤層5(CP7131、
ソニーケミカル社製)を介して熱圧着し、接続構造体を
得た。ここで、{(A1C1+A2C2)/(B+C)}の
数値は、12.9である。
=1μm、B1=50μm、C1=40μm)と第2基板
3であるフレキシブルプリント基板(A2=25μm、
B2=45μm、C2=45μm)とを、表2に示した厚
さのエポキシ系異方性導電接着剤層5(CP7131、
ソニーケミカル社製)を介して熱圧着し、接続構造体を
得た。ここで、{(A1C1+A2C2)/(B+C)}の
数値は、12.9である。
【0034】得られた接続構造体の接続部の「導通抵
抗」と「接着強度」と異方性導電接着剤のはみ出しに由
来する「ショートの有無」について、実施例1と同様に
評価した。得られた結果を表2に示す。
抗」と「接着強度」と異方性導電接着剤のはみ出しに由
来する「ショートの有無」について、実施例1と同様に
評価した。得られた結果を表2に示す。
【0035】
【表2】 異方性導電接着剤層 の厚さ(μm) 導通抵抗 接着強度 ショート 実施例3 7 ○ ○ ○ 実施例4 25 ○ ○ ○ 比較例3 5 × × ○ 比較例4 27 ○ ○ ×
【0036】表2から明らかなように、{(A1C1+A
2C2)/(B+C)}の数値が実施例1の場合と異なっ
ていても、関係式(1)を満足している実施例3及び4
の接続構造体は、いずれの評価項目についても良好な結
果が得られた。
2C2)/(B+C)}の数値が実施例1の場合と異なっ
ていても、関係式(1)を満足している実施例3及び4
の接続構造体は、いずれの評価項目についても良好な結
果が得られた。
【0037】一方、異方性導電接着剤層の厚みが関係式
(1)の下限を下回った比較例3の接続構造体は、評価
項目「導通抵抗」と「接着強度」の点で問題があった。
また、異方性導電接着剤層の厚みが関係式(1)の上限
を上回った比較例4の接続構造体は、評価項目「ショー
トの有無」の点で問題があった。
(1)の下限を下回った比較例3の接続構造体は、評価
項目「導通抵抗」と「接着強度」の点で問題があった。
また、異方性導電接着剤層の厚みが関係式(1)の上限
を上回った比較例4の接続構造体は、評価項目「ショー
トの有無」の点で問題があった。
【0038】実施例5,比較例5〜6 25μm厚のポリイミド基板上にパターニングされた1
2μm厚の銅箔が積層され、両端の端子部を除きその銅
箔上にカバーコート層が積層されている、図3に示すよ
うなフィルムコネクタ(FC)を使用することにより、
FCの片側と液晶ディスプレイパネル(LCDP)及び
FCの他端子とマザーボード(MB)とを接続した。こ
のとき、FCの両端の接続部は、それぞれ図2に示す接
続構造体とした。
2μm厚の銅箔が積層され、両端の端子部を除きその銅
箔上にカバーコート層が積層されている、図3に示すよ
うなフィルムコネクタ(FC)を使用することにより、
FCの片側と液晶ディスプレイパネル(LCDP)及び
FCの他端子とマザーボード(MB)とを接続した。こ
のとき、FCの両端の接続部は、それぞれ図2に示す接
続構造体とした。
【0039】LCDP側の接続構造体においては、第1
基板であるFCの片側端子部(A1=12μm、B1=1
00μm、C1=100μm)と第2基板であるLCD
P端子部(A2=1μm、B2=100μm、C2=10
0μm)とを、表3に示した厚さ(t1)のエポキシ系
異方性導電接着剤層(CP7131、ソニーケミカル社
製)を介して熱圧着した。ここで、{(A1C1+A
2C2)/(B+C)}の数値は、6.5である。
基板であるFCの片側端子部(A1=12μm、B1=1
00μm、C1=100μm)と第2基板であるLCD
P端子部(A2=1μm、B2=100μm、C2=10
0μm)とを、表3に示した厚さ(t1)のエポキシ系
異方性導電接着剤層(CP7131、ソニーケミカル社
製)を介して熱圧着した。ここで、{(A1C1+A
2C2)/(B+C)}の数値は、6.5である。
【0040】また、MB側の接続構造体においては、第
1基板であるFCの他端端子部(A1=12μm、B1=
150μm、C1=150μm)と第2基板であるMB
端子部(A2=35μm、B2=150μm、C2=15
0μm)とを、表3に示した厚さ(t2)のエポキシ系
異方性導電接着剤層(CP7131、ソニーケミカル社
製)を介して熱圧着した。ここで、{(A1C1+A
2C2)/(B+C)}の数値は、23.5である。
1基板であるFCの他端端子部(A1=12μm、B1=
150μm、C1=150μm)と第2基板であるMB
端子部(A2=35μm、B2=150μm、C2=15
0μm)とを、表3に示した厚さ(t2)のエポキシ系
異方性導電接着剤層(CP7131、ソニーケミカル社
製)を介して熱圧着した。ここで、{(A1C1+A
2C2)/(B+C)}の数値は、23.5である。
【0041】得られた接続構造体の接続部の「導通抵
抗」と「接着強度」と異方性導電接着剤のはみ出しに由
来する「ショートの有無」について、実施例1と同様に
評価した。得られた結果を表3に示す。
抗」と「接着強度」と異方性導電接着剤のはみ出しに由
来する「ショートの有無」について、実施例1と同様に
評価した。得られた結果を表3に示す。
【0042】
【表3】 異方性導電接着剤層 の厚さ(μm) 導通抵抗 接着強度 ショート t1 t2 t2/t1 実施例5 12 25 2.08 ○ ○ ○ 比較例5 10 10 1.0 ×(MB側) ×(MB側) ○ 比較例6 25 35 1.4 ○ ○ ×(LCDP側)
【0043】表3から明らかなように、実施例5の接続
構造体の場合、LCDP側の{(A1C1+A2C2)/
(B+C)}の数値(6.5)に対する異方性導電接着
剤層の厚さ(t1=12)、及びMB側の{(A1C1+
A2C2)/(B+C)}の数値(23.5)に対する異
方性導電接着剤層の厚さ(t2=25)が関係式(1)
を満足しているので、いずれの評価項目についても良好
な結果が得られた。このとき、t2/t1の数値は2を超え
る数値であった。
構造体の場合、LCDP側の{(A1C1+A2C2)/
(B+C)}の数値(6.5)に対する異方性導電接着
剤層の厚さ(t1=12)、及びMB側の{(A1C1+
A2C2)/(B+C)}の数値(23.5)に対する異
方性導電接着剤層の厚さ(t2=25)が関係式(1)
を満足しているので、いずれの評価項目についても良好
な結果が得られた。このとき、t2/t1の数値は2を超え
る数値であった。
【0044】一方、MB側の{(A1C1+A2C2)/
(B+C)}の数値(23.5)に対する異方性導電接
着剤層の厚さ(t2=10)が関係式(1)の範囲を下
回った比較例5の接続構造体は、評価項目「導通抵抗」
と「接着強度」の点で問題があった。また、LCDP側
の{(A1C1+A2C2)/(B+C)}の数値(6.
5)に対する異方性導電接着剤層の厚さ(t2=25)
が関係式(1)の範囲を上回った比較例6の接続構造体
は、評価項目「ショート」の点で問題があった。
(B+C)}の数値(23.5)に対する異方性導電接
着剤層の厚さ(t2=10)が関係式(1)の範囲を下
回った比較例5の接続構造体は、評価項目「導通抵抗」
と「接着強度」の点で問題があった。また、LCDP側
の{(A1C1+A2C2)/(B+C)}の数値(6.
5)に対する異方性導電接着剤層の厚さ(t2=25)
が関係式(1)の範囲を上回った比較例6の接続構造体
は、評価項目「ショート」の点で問題があった。
【0045】
【発明の効果】本発明によれば、二つの電子部品を異方
性導電接着剤で接続した接続構造体に対し、異方性導電
接着剤のはみ出しを防止すると共に、接続部の低い導通
抵抗と十分な接着強度とを付与できる。
性導電接着剤で接続した接続構造体に対し、異方性導電
接着剤のはみ出しを防止すると共に、接続部の低い導通
抵抗と十分な接着強度とを付与できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の接続構造体の概略断面図である。
【図2】接続直前の本発明の接続構造体の概略断面図で
ある。
ある。
【図3】本発明のフィルムコネクタの一部切り欠け上面
図(同図(a))及びY−Y断面図(同図(b))であ
る。
図(同図(a))及びY−Y断面図(同図(b))であ
る。
【図4】従来のフィルムコネクタの一部切り欠け上面図
(同図(a))及びY−Y断面図(同図(b))であ
る。
(同図(a))及びY−Y断面図(同図(b))であ
る。
1…第1基板、2…第1電極、3…第2基板、4…第2
電極、5…異方性導電接着剤層、A1…第1電極高さ、
B1…第1電極幅、C1…第1電極間スペース幅、A2…
第2電極高さ、B2…第2電極幅、C2…第2電極間スペ
ース幅、X…接続前の導電性接着剤層厚
電極、5…異方性導電接着剤層、A1…第1電極高さ、
B1…第1電極幅、C1…第1電極間スペース幅、A2…
第2電極高さ、B2…第2電極幅、C2…第2電極間スペ
ース幅、X…接続前の導電性接着剤層厚
Claims (5)
- 【請求項1】 第1基板上の第1電極と、第2基板上の
第2電極とを異方性導電接着剤層を介して電気的に接続
された接続構造体において、第1電極の電極高さを
A1、電極幅をB1、電極間スペース幅をC1とし、第2
電極の電極高さをA2、電極幅をB2、電極間スペース幅
をC2とし(但し、B+C=B1+C1=B2+C2)、接
続前の導電性接着剤層の層厚をXとした時に、以下の関
係式(1) 【数1】 0.5×{(A1C1+A2C2)/(B+C)}≦X≦2×{(A1C1+A2C2)/(B+C)} (1) を満足することを特徴とする接続構造体。 - 【請求項2】 第1基板上の第1電極と、第2基板上の
第2電極とを異方性導電接着剤層を介して電気的に接続
する接続方法において、第1電極の電極高さをA1、電
極幅をB1、電極間スペース幅をC1とし、第2電極の電
極高さをA2、電極幅をB2、電極間スペース幅をC2と
し(但し、B+C=B1+C1=B2+C2)、接続前の導
電性接着剤層の層厚をXとした時に、以下の関係式
(1) 【数2】 0.5×{(A1C1+A2C2)/(B+C)}≦X≦2×{(A1C1+A2C2)/(B+C)} (1) を満足するように接続することを特徴とする接続方法。 - 【請求項3】 可撓性樹脂フィルム基材上に導体層が形
成され、その導体層上に、可撓性樹脂フィルム基材の両
端部において導体層を被覆しないようにカバーフィルム
が積層され、カバーフィルムで被覆されていない導体層
上に異方性導電接着剤層がそれぞれ設けられているフィ
ルムコネクタにおいて、異方性導電接着剤層の層厚と、
可撓性樹脂フィルム基材の両端部それぞれにおける導体
層高さ、導体層幅及び導体層間スペース幅とが、フィル
ムコネクタで接続すべき被接続体の電極高さ、電極幅及
び電極間スペース幅とに対して、請求項2の接続方法が
適用できるように構成されていることを特徴とするフィ
ルムコネクタ。 - 【請求項4】 可撓性樹脂フィルム基材の両端部におけ
る異方性導電接着剤層の厚みが互いに異なる請求項3記
載のフィルムコネクタ。 - 【請求項5】 一方の異方性導電接着剤層の厚みが他方
の異方性導電接着剤層の厚みの1.5倍以上である請求
項4記載のフィルムコネクタ。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11206581A JP2001031929A (ja) | 1999-07-21 | 1999-07-21 | 接続構造体 |
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KR10-2000-0041552A KR100491565B1 (ko) | 1999-07-21 | 2000-07-20 | 접속구조체 |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11206581A JP2001031929A (ja) | 1999-07-21 | 1999-07-21 | 接続構造体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2001031929A (ja) |
KR (1) | KR100491565B1 (ja) |
TW (1) | TWI265190B (ja) |
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JP2003049152A (ja) * | 2001-08-02 | 2003-02-21 | Hitachi Chem Co Ltd | 回路接続用接着剤及びそれを用いた接続方法、接続構造体 |
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WO2023106239A1 (ja) * | 2021-12-10 | 2023-06-15 | ソニーグループ株式会社 | 接着構造、電子機器および接着方法 |
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US8518304B1 (en) | 2003-03-31 | 2013-08-27 | The Research Foundation Of State University Of New York | Nano-structure enhancements for anisotropic conductive material and thermal interposers |
JP2006140052A (ja) * | 2004-11-12 | 2006-06-01 | Three M Innovative Properties Co | 熱硬化性接着フィルム付きコネクタ及びそれを用いた接続方法 |
KR101332436B1 (ko) * | 2010-12-06 | 2013-11-22 | 제일모직주식회사 | 이방 전도성 필름 |
KR101336246B1 (ko) | 2012-04-23 | 2013-12-03 | 삼성전자주식회사 | 초음파 트랜스듀서, 초음파 프로브, 및 초음파 진단장치 |
CN111491441B (zh) * | 2020-04-23 | 2021-10-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 电路板结构和显示设备 |
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