JP2000349217A - 電子部品、この電子部品を実装した電子機器およびその製造方法 - Google Patents
電子部品、この電子部品を実装した電子機器およびその製造方法Info
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- H01F2027/297—Terminals; Tapping arrangements for signal inductances with pin-like terminal to be inserted in hole of printed path
Abstract
(57)【要約】
【課題】 地球環境に優しく電子部品の外部端子とプリ
ント配線板の回路パターンとの接合の信頼性を向上した
電子部品、この電子部品を実装した電子機器およびその
製造方法を提供することを目的とするものである。 【解決手段】 最外層にSn−Cu合金層を有するリー
ド線4を備えた第1の電子部品3および最外層にSn−
Cu合金層を有する外部端子7を備えた第2の電子部品
6を、プリント配線板1の所望の回路パターン2に、S
n−Cu共晶合金層8により電気的に接続するものであ
る。
ント配線板の回路パターンとの接合の信頼性を向上した
電子部品、この電子部品を実装した電子機器およびその
製造方法を提供することを目的とするものである。 【解決手段】 最外層にSn−Cu合金層を有するリー
ド線4を備えた第1の電子部品3および最外層にSn−
Cu合金層を有する外部端子7を備えた第2の電子部品
6を、プリント配線板1の所望の回路パターン2に、S
n−Cu共晶合金層8により電気的に接続するものであ
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品、この電
子部品を実装した電子機器およびその製造方法に関する
ものである。
子部品を実装した電子機器およびその製造方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】近年、テレビジョン受像器やビデオテー
プレコーダ等の各種電子機器から鉛等の有害物質を排除
して地球環境保全をはかる動きが活発化している。この
ような状況における昨今、従来から電子機器の組立等に
広く使用されてきたSn−Pb系の共晶はんだに代わっ
て、Sn−Bi、Sn−Ag、Sn−Zn、Sn−Cu
系の鉛を含有しないはんだの実用化が積極的に研究・開
発されてきている。これらの鉛を含有しないはんだの中
で、特にフロー浸漬タイプとして、Sn−Cu系の共晶
合金が経済性や、接合部の機械的・電気的特性の向上が
期待できるものとして注目されている。
プレコーダ等の各種電子機器から鉛等の有害物質を排除
して地球環境保全をはかる動きが活発化している。この
ような状況における昨今、従来から電子機器の組立等に
広く使用されてきたSn−Pb系の共晶はんだに代わっ
て、Sn−Bi、Sn−Ag、Sn−Zn、Sn−Cu
系の鉛を含有しないはんだの実用化が積極的に研究・開
発されてきている。これらの鉛を含有しないはんだの中
で、特にフロー浸漬タイプとして、Sn−Cu系の共晶
合金が経済性や、接合部の機械的・電気的特性の向上が
期待できるものとして注目されている。
【0003】また、Sn−Cu系の共晶合金を使用した
フロー浸漬法によるはんだ付けではプリント配線板に搭
載される電子部品の外部端子の表層にSn−Pbめっき
およびSnめっきをしたものが使用されているが、この
電子部品の鉛フリー化への対応として、Sn−BiやS
n−Agめっきを施した電子部品も検討されてきてい
る。
フロー浸漬法によるはんだ付けではプリント配線板に搭
載される電子部品の外部端子の表層にSn−Pbめっき
およびSnめっきをしたものが使用されているが、この
電子部品の鉛フリー化への対応として、Sn−BiやS
n−Agめっきを施した電子部品も検討されてきてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、溶融し
たSn−Cu共晶合金中にPb、Bi、AgおよびZn
等の異種金属が混入したものを長期間蓄積すると、プリ
ント配線板の銅箔等からなる回路パターンとSn−Cu
合金層との界面でリフトオフとよばれる剥離現象が発生
し、電気機器の信頼性が劣るという課題を有していた。
また、Sn以外の異種金属を含有しないSnめっき品
は、その使用方法によってはウイスカの発生を起こし、
場合によっては回路短絡をする恐れがあるという課題を
有していた。
たSn−Cu共晶合金中にPb、Bi、AgおよびZn
等の異種金属が混入したものを長期間蓄積すると、プリ
ント配線板の銅箔等からなる回路パターンとSn−Cu
合金層との界面でリフトオフとよばれる剥離現象が発生
し、電気機器の信頼性が劣るという課題を有していた。
また、Sn以外の異種金属を含有しないSnめっき品
は、その使用方法によってはウイスカの発生を起こし、
場合によっては回路短絡をする恐れがあるという課題を
有していた。
【0005】本発明は上記従来の課題を解決するもの
で、地球環境に優しく電子部品の外部端子とプリント配
線板の回路パターンとの接合の信頼性を向上した電子部
品、この電子部品を実装した電子機器およびその製造方
法を提供することを目的とするものである。
で、地球環境に優しく電子部品の外部端子とプリント配
線板の回路パターンとの接合の信頼性を向上した電子部
品、この電子部品を実装した電子機器およびその製造方
法を提供することを目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、電子部品から導出された外部接続端子の表
面にSn−Cu合金層を設けられたものである。
に本発明は、電子部品から導出された外部接続端子の表
面にSn−Cu合金層を設けられたものである。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、電子部品本体と、この電子部品から導出された外部
接続端子と、この外部接続端子の表面に設けられたSn
−Cu合金層とからなるもので、信頼性が向上するとい
う作用を有するものである。
は、電子部品本体と、この電子部品から導出された外部
接続端子と、この外部接続端子の表面に設けられたSn
−Cu合金層とからなるもので、信頼性が向上するとい
う作用を有するものである。
【0008】また、請求項2に記載の発明は、請求項1
記載のSn−Cu合金層は、Cuを0.5〜3%含有し
てなるもので、Sn単独使用に対するウイスカの発生を
抑制しかつ長期に保存できるという作用を有するもので
ある。
記載のSn−Cu合金層は、Cuを0.5〜3%含有し
てなるもので、Sn単独使用に対するウイスカの発生を
抑制しかつ長期に保存できるという作用を有するもので
ある。
【0009】また、請求項3に記載の発明は、所望の回
路パターンを有するプリント配線板と、このプリント配
線板に搭載された表面にSn−Cu合金層を有する外部
接続端子を備えた電子部品と、この電子部品の外部接続
端子と前記プリント配線板の回路パターンとを鉛を含有
しないSn−Cu共晶合金により電気的に接合してなる
もので、Sn−Cu合金層内にSn、Cu以外の異種金
属が混入しないため、電気的接合の信頼性が優れるとい
う作用を有するものである。
路パターンを有するプリント配線板と、このプリント配
線板に搭載された表面にSn−Cu合金層を有する外部
接続端子を備えた電子部品と、この電子部品の外部接続
端子と前記プリント配線板の回路パターンとを鉛を含有
しないSn−Cu共晶合金により電気的に接合してなる
もので、Sn−Cu合金層内にSn、Cu以外の異種金
属が混入しないため、電気的接合の信頼性が優れるとい
う作用を有するものである。
【0010】また、請求項4に記載の発明は、電子部品
の外部接続端子の表層にめっきによりSn−Cu合金層
を形成し、このプリント配線板を溶融した鉛を含有しな
いSn−Cu共晶合金によるフロー浸漬法により前記電
子部品の外部接続端子と前記プリント配線板の回路パタ
ーンとを電気的に接合してなるもので、電子部品の信頼
性の向上するという作用を有するものである。
の外部接続端子の表層にめっきによりSn−Cu合金層
を形成し、このプリント配線板を溶融した鉛を含有しな
いSn−Cu共晶合金によるフロー浸漬法により前記電
子部品の外部接続端子と前記プリント配線板の回路パタ
ーンとを電気的に接合してなるもので、電子部品の信頼
性の向上するという作用を有するものである。
【0011】以下、本発明の一実施の形態における電子
機器について、図面を参照しながら説明する。
機器について、図面を参照しながら説明する。
【0012】図1は本発明の一実施の形態における電子
機器の断面図である。
機器の断面図である。
【0013】図において、1はプリント配線板で、紙フ
ェノール、ガラスエポキシ等からなるものである。この
プリント配線板1には、銅箔を所望のパターンにエッチ
ングして形成した回路パターン2を有するとともに、抵
抗器、コンデンサ、コイル等からなる第1の電子部品3
の外部端子であるリード線4を挿入する貫通孔5を備え
ている。
ェノール、ガラスエポキシ等からなるものである。この
プリント配線板1には、銅箔を所望のパターンにエッチ
ングして形成した回路パターン2を有するとともに、抵
抗器、コンデンサ、コイル等からなる第1の電子部品3
の外部端子であるリード線4を挿入する貫通孔5を備え
ている。
【0014】この第1の電子部品3のリード線4は、鉄
や銅等からなる金属線にニッケルや銅等からなるめっき
金属層を介して表層にSn−Cu合金層を備えたもので
ある。また、6は抵抗器、コンデンサ、コイル等からな
るリードレスの表面実装型の第2の電子部品で、外部端
子7は銀とガラスの焼結体の表面にニッケル等のバリア
金属層を介して最外層にSn−Cu合金層を備えたもの
である。
や銅等からなる金属線にニッケルや銅等からなるめっき
金属層を介して表層にSn−Cu合金層を備えたもので
ある。また、6は抵抗器、コンデンサ、コイル等からな
るリードレスの表面実装型の第2の電子部品で、外部端
子7は銀とガラスの焼結体の表面にニッケル等のバリア
金属層を介して最外層にSn−Cu合金層を備えたもの
である。
【0015】これら第1の電子部品3のリード線4およ
び第2の電子部品の外部端子7の最外層のSn−Cu合
金層は、Cuを0.5〜3%含有してなるものである。
(表1)に「Cu含有率とウイスカ発生およびはんだ濡
れ性」を示す。表中の「ウイスカ発生」の判定は、合金
めっきを180度に折曲げ、60℃で95%、1000
時間放置し、折曲部の表面を観察し、50μm以上Sn
の針状突起が発生した場合判定を「×」とし、それ以外
を「○」とした。「はんだ濡れ性」の判定は、合金めっ
きを60℃で95%、168時間放置し、Sn−Cuは
んだ槽でゼロクロスタイムを測定し、3秒以上を「×」
とし、それ以外を「○」とした。
び第2の電子部品の外部端子7の最外層のSn−Cu合
金層は、Cuを0.5〜3%含有してなるものである。
(表1)に「Cu含有率とウイスカ発生およびはんだ濡
れ性」を示す。表中の「ウイスカ発生」の判定は、合金
めっきを180度に折曲げ、60℃で95%、1000
時間放置し、折曲部の表面を観察し、50μm以上Sn
の針状突起が発生した場合判定を「×」とし、それ以外
を「○」とした。「はんだ濡れ性」の判定は、合金めっ
きを60℃で95%、168時間放置し、Sn−Cuは
んだ槽でゼロクロスタイムを測定し、3秒以上を「×」
とし、それ以外を「○」とした。
【0016】
【表1】
【0017】(表1)から明らかなように、第1の電子
部品3のリード線4および第2の電子部品の外部端子7
の最外層のSn−Cu合金層は、Cuを0.5〜3%含
有すると良いものである。
部品3のリード線4および第2の電子部品の外部端子7
の最外層のSn−Cu合金層は、Cuを0.5〜3%含
有すると良いものである。
【0018】また、第1の電子部品3のリード線4およ
び第2の電子部品の外部端子7は、プリント配線板1の
回路パターン2に、約250℃の溶融したSn−Cu共
晶合金のフロー浸漬法によるSn−Cu共晶合金層8に
より電気的に接続するものである。
び第2の電子部品の外部端子7は、プリント配線板1の
回路パターン2に、約250℃の溶融したSn−Cu共
晶合金のフロー浸漬法によるSn−Cu共晶合金層8に
より電気的に接続するものである。
【0019】以上のように構成された電子機器につい
て、以下にその製造方法を説明する。
て、以下にその製造方法を説明する。
【0020】まず、貫通孔5を有するプリント配線板1
に銅箔を所望のパターンにエッチングして形成した回路
パターン2を形成する。
に銅箔を所望のパターンにエッチングして形成した回路
パターン2を形成する。
【0021】次に、貫通孔5に第1の電子部品3のSn
−Cu合金層を備えたリード線4を挿入するとともに、
所望の位置にSn−Cu合金層を備えた外部端子7を有
する第2の電子部品6を必要により接着剤等を用いて固
定する。
−Cu合金層を備えたリード線4を挿入するとともに、
所望の位置にSn−Cu合金層を備えた外部端子7を有
する第2の電子部品6を必要により接着剤等を用いて固
定する。
【0022】最後に、プリント配線板1を溶融した鉛を
含有しないSn−Cu共晶合金によるフロー浸漬法によ
り第1電子部品3のリード線4および第2の電子部品6
の外部端子7とプリント配線板1の回路パターン2と
を、Sn−Cu共晶合金層8により電気的に接合するも
のである。この場合、第1の電子部品3のリード線4お
よび第2の電子部品6の外部端子7は最外層をSn−C
u合金層により被覆しているため、Sn−Cu共晶合金
層8との界面には異種金属が存在しないので安定した接
続が得られる。
含有しないSn−Cu共晶合金によるフロー浸漬法によ
り第1電子部品3のリード線4および第2の電子部品6
の外部端子7とプリント配線板1の回路パターン2と
を、Sn−Cu共晶合金層8により電気的に接合するも
のである。この場合、第1の電子部品3のリード線4お
よび第2の電子部品6の外部端子7は最外層をSn−C
u合金層により被覆しているため、Sn−Cu共晶合金
層8との界面には異種金属が存在しないので安定した接
続が得られる。
【0023】
【発明の効果】以上のように本発明は、電子部品の外部
接続端子の表面にSn−Cu合金層を備えるため、溶融
したSn−Cu共晶合金によるフロー浸漬法によりプリ
ント配線板の回路パターンに接合する際に、Sn−Cu
共晶合金中に異種金属が溶出することがなく、接合界面
に異種金属が介在しないので、安定した接続状態が得ら
れ信頼性が向上するという効果を奏するものである。
接続端子の表面にSn−Cu合金層を備えるため、溶融
したSn−Cu共晶合金によるフロー浸漬法によりプリ
ント配線板の回路パターンに接合する際に、Sn−Cu
共晶合金中に異種金属が溶出することがなく、接合界面
に異種金属が介在しないので、安定した接続状態が得ら
れ信頼性が向上するという効果を奏するものである。
【図1】本発明の一実施の形態における電子機器の断面
図
図
1 プリント配線板 2 回路パターン 3 第1の電子部品 4 リード線 5 貫通孔 6 第2の電子部品 7 外部端子 8 Sn−Cu共晶合金層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 潮 憲樹 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 栗林 孝志 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 山添 敏博 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 柿木 良昭 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5E319 AA02 AA03 AB01 AB05 AC01 AC02 BB01 CC23 GG20 5F067 AA13 AB02 DC12
Claims (4)
- 【請求項1】 電子部品本体と、この電子部品から導出
された外部接続端子と、この外部接続端子の表面に設け
られたSn−Cu合金層とからなる電子部品。 - 【請求項2】 Sn−Cu合金層は、Cuを0.5〜3
%含有してなる請求項1記載の電子部品。 - 【請求項3】 所望の回路パターンを有するプリント配
線板と、このプリント配線板に搭載された表面にSn−
Cu合金層を有する外部接続端子を備えた電子部品と、
この電子部品の外部接続端子と前記プリント配線板の回
路パターンとを鉛を含有しないSn−Cu系の共晶合金
により電気的に接合してなる電子機器。 - 【請求項4】 電子部品の外部接続端子の表層にめっき
によりSn−Cu合金層を形成し、このSn−Cu合金
層を有する電子部品をプリント配線板に搭載し、このプ
リント配線板を溶融した鉛を含有しないSn−Cu共晶
合金によるフロー浸漬法により前記電子部品の外部接続
端子と前記プリント配線板の回路パターンとを電気的に
接合してなる電子機器の製造方法。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11161904A JP2000349217A (ja) | 1999-06-09 | 1999-06-09 | 電子部品、この電子部品を実装した電子機器およびその製造方法 |
CNB008010633A CN1259678C (zh) | 1999-06-09 | 2000-06-07 | 电子部件、安装该电子部件的电子装置及其制造方法 |
KR10-2001-7001743A KR100404563B1 (ko) | 1999-06-09 | 2000-06-07 | 전자부품, 이 전자부품을 실장한 전자 기기 및 그 제조방법 |
PCT/JP2000/003682 WO2000075940A1 (fr) | 1999-06-09 | 2000-06-07 | Composant electronique, appareil dans lequel est monte ce composant et procede de fabrication de cet appareil |
IDW20010324A ID27853A (id) | 1999-06-09 | 2000-06-07 | Komponen elektronik dan peralatan elektronik dimana komponen elektronik terpasang dan metode pembuatannya |
EP00937171A EP1103995A4 (en) | 1999-06-09 | 2000-06-07 | ELECTRONIC COMPONENT, APPARATUS IN WHICH THIS COMPONENT IS MOUNTED AND METHOD FOR MANUFACTURING THE APPARATUS |
TW089111151A TW541549B (en) | 1999-06-09 | 2000-06-08 | Electronic parts, electronic machines having said electronic parts installed therein, and method of making same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11161904A JP2000349217A (ja) | 1999-06-09 | 1999-06-09 | 電子部品、この電子部品を実装した電子機器およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000349217A true JP2000349217A (ja) | 2000-12-15 |
Family
ID=15744240
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11161904A Pending JP2000349217A (ja) | 1999-06-09 | 1999-06-09 | 電子部品、この電子部品を実装した電子機器およびその製造方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1103995A4 (ja) |
JP (1) | JP2000349217A (ja) |
KR (1) | KR100404563B1 (ja) |
CN (1) | CN1259678C (ja) |
ID (1) | ID27853A (ja) |
TW (1) | TW541549B (ja) |
WO (1) | WO2000075940A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104540334A (zh) * | 2014-12-20 | 2015-04-22 | 东莞立德精密工业有限公司 | 插件电容的smt制程组装方法 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7397074B2 (en) | 2005-01-12 | 2008-07-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | RF field heated diodes for providing thermally assisted switching to magnetic memory elements |
US20130168146A1 (en) * | 2011-12-28 | 2013-07-04 | Jin-San Kim | Metal terminal block adapted for surface mounting and method of mounting the same |
CN103366923A (zh) * | 2012-04-01 | 2013-10-23 | 厦门天迈节能照明有限公司 | 定位短直脚磁环插件 |
US9642276B2 (en) * | 2014-12-01 | 2017-05-02 | Tesla, Inc. | Welding and soldering of transistor leads |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS61196564A (ja) * | 1985-02-25 | 1986-08-30 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | フイルムキヤリヤ集積回路とその製造方法 |
JPH0745666A (ja) * | 1993-08-03 | 1995-02-14 | Fujitsu Ltd | 電子部品の実装方法 |
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