DEP0054041DA - Optisches System mit eingebautem Belichtungsmesser. - Google Patents

Description

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JOS. SCHNEIDER & CO., OPTISCHE WERKE · KREUZ^*^ Kaisentrafia SS

I.A. ν t ά O <j Optisches System mit eingebautem Belichtungsmesser.

Die im Handel befindlichen Belichtungsmesser bedienen sich grundsätzlich. - von einigen wenigen visuellen Photometern abgesehen - eines Photoeleinentes und eines Drehspulenelementes und messen die "Helligkeit" des Objektes. Um nicht den ganzen Ramwinkel zu erfassen, sondern nur die helligkeit des interessierenden Objektes, hat man dohrblenden oder auch Hilfsoptiken eingeführt. An einigen Ausf'UhrungsbeIspeien sind Photoelement und Anzeigegerät direkt in die phot ο graphische Kamera eingebaut worden, wobei die Photozelle unter Umständen in das optische System eingeschwenkt werden könnte. Das dürfte z.Zt. vom physikalischen Standpunkt aus die techntech einwandfreie sie Lösung darstellen, weil man hier nur die zur Erzeugung des latenten Bildes dieriende Helligkeit misst.

Die vorliegende Erfindung knüpft an diesen Stand der Technik an, erstrebt aber eine Vervollständigung dahingehend, dass Pho t oe leite nt, Messgerät und optisches System als eine Einheit ausgebildet werden. Für aie Verbindung des optischen Systems mit der nicht mehr schwenkbaren, sondern letzt fest eingebauten Photozelle gibt es zwei ⁱⁱre-§4l·, h&tuitiu. *w*4uui _td>\. 4«, $uu*ifat*<l &*

1.) Die Photozelle wird so schmal ausgebildet, z.h. in Stäbchenform, dass sie zwar den gesamten Durchmesser des optischen Systems überstreicht, von dem wirksamen Querscinitt aber nur so wenig wegnimmt, dass der Verlust an Helligkeit durch die Absorption aes Photoelementes in tragbaren Grenzen bleiot. Unter diesen Umständen kanu das Photoelement auch während der Verwendung des optischen Systems im Linsensystem verbleiben, ohne die effektive Lichtstärke wesentlich herabzusetzen.

Dieser lieg war vor wenigen Janren nocn nicnt möglich, weil man einen zusätzlichen Licntverlust nicht nätte in Kauf nehmen können. Bereits an jedem übergang des Lichtes von Luft nach ulas oder Glas nach Luft entstehen durch Reflexion etwa 5 % Licntverluste. In einem, optischen System mit nur fünf einzelstehenden Linien ge nt also beim Licitdurchtritt nahezu die Hälfte des einfallenden Lichtes verloren. Bei diesem Tatbestand sind keine zusätzlichen Licizverauste tragbar.

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Durch lie moderne Entspiegelungstechnik jedoch können die Verluste aurch deflexion weitgehendst beseitigt werden. Der dadurch erzielte Lichtgewinn erlaubt AbsorpttonsOerluste durch das Photoelement.

2.) Das PAo toe leiten t wira direkt auf einer Linsenfläche hinter der blende aufgebracht, etwa aurch Aufdampfen von Trägerlehtrode, Sperrschicht, tialbleiterschicht und De ekele Iktrode, wobei sämtliche Schielten so zu bemessen sind, dass nur geringe Abaorptionsverluste auftreten. Bei der Deckelelektrode ist aies ohnehin der Fall, weil man sie gitterartig ausbilden kann. Für die irägerleKtrode gilt dasselbe, jedocn kann man diese auch fldchenmässig ausbilden, weil ihre Dicke nur so gross zu sein braucht, als zur Erreichung einer gewissen Querleitfähigaeit notwendig ist. Die Sperrschicht ist wegen ihren geringen Dicke in diesem Zusammenhang ohne Belang; durchsichtige halbleiter schichten sind bekannt. Auch dieser zweite tteg stellt somit eine Lösung im dahmen des technisch Öli uar.

ine Verbindung des Anzeigegerätes far die helligkeit mit dem optiscaen System einerseits und die Anstrebung höherer Messgenauigkeiten andererseits erfordern Hilfsmittel, die üon de;a Disher üülichen abzeichen. Die Verwendung moderner Farbfilmemulsion mit ihrem verhältnismässig engen Belichtungsspiel raum stellt Anforderungen, die von dem bisher im dandel befindlichen Belichtungsmessern nicht erreicht werden können, weil diese alle als Indikator für den Photostrom Strommesser Oerwenclett. ^ie Proportionalität zwischen Belichtungsstärke und Photostroih Let aber aur für den Kurzschlusstrom erfällt. Bei Anwendung eines ktrornmesaers tritt wegen dessen endlichen Widerstandes eine unkontrollierbare Abweicnung mn aer Proport tonalitit ein.

bei der Ausf'iirung des Belichtungsmessers nacn. der vorliegenden Erfingun§ wird alä Indikator ein hochempfindlicher Spannungsmesser Lm Nebenschluss verwendet, uer ^eoenschlusä wird so geregelt, dass beim Messinstrument immer nur bestimmte Ausschläge beobachtet werden. Dazu eignet sich ganz vorzüglich das Aapillarelektrometer, das in Ländlicher Form um das

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optische System herum ausgebildet ist, während die Mebenschlussregulierung des Messinstrumentes mit aer Blende gekuppelt ist. Eine gefederte Taste schaltet das Messinstrument nur für den Augenblick der Messung ein. In der beiliegenden Zeichnung sind drei Ausführung8formen der Erfindung dargestellt.

Abb. 1 zeiyt ein pnotographioche Objektiv, bei welchem das Photoelement in Gestalt eines Stäbchen ausgeführt ist und sich in der Blendenebene befindet. Die drei Linsen des Objektives sind mit a, b und c, und die Blende ist mit d bezeichnet. Das st'ibchenfb'rmtge Photoelement e ist mit aen Anschlussleitungen f versehen.

Bei der ^usfäh rungs form nach

Abo. 2 ist das Piotoelement flächenfö'rmig ausgeführt und uniaUtelbar auf einer der Linsenflachen aufgetragen. Es sitzt auf ier Linse c hinter der Blende d und ist mit e bezeichnet.

Abb. 3 zeigt perspektivisch ein photoijrapilbcn.e Objektiv bei dem ein Aapillarelektrometer f vorgesehen ist, das ringförmig gebogen und um die iussere Fassung aes Objektivs herum angeordnet ibt. uie ^ebeaschlussregulierung des Messinstrumentes kann mit der Blende gehupelt werden.

Das lapi 11 arelektrometer kam, auca andere gestaltung haben und an anderen Stelle der Objektivfassung befestigt sein.

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Claims (7)

1. JOS. SCHNEIDER & CO., OPTISCHE WERKE · KREUZNACH

   / RHLD. 1

   BLATT *

   EMPfANSER TAO

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   l.rV U I ti· U «J *

   Patent- bezic. Schutzansprüähe.

   1») Optisches System mit Belichtungsmesser, bei dem das Fhotoelenient Ίtnter der Llende im Linsensystem fest oder schwenkbar angebracht ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Photoelement Stäbchenform 'tat.
2. 2.) Optiscnes System mit Belichtungsmesser, bei dem das Photoelement hinter der Blende fest angebracht ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Photoelement unmittelbar auf einer Linsenoberfläche befestigt oder erzeugt ist.
3. 3.JOptisches System uit Belichtungsmesser nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass als Indikator für die Beleucf tungssstärke ein Kapillarelektrometer verwendet wird.
4. 4.) Optisches System mit ael ichtungamesser nach Anspruch 1-3, dadurch yekennzeichnet, dass das Kapillarelektrometer der äusseren Form des Systems angepasst ist.
5. 5.) Optisches System mit Belichtungsmesser nach Anspruch 3-4, dadurch ge kenneze ic inet, dass das üapillarelektrometer tlüer einen Nebenschluss an das Photoelement angeschlossen ist.
6. 6* ) Optisches System mit Belichtungsmesser nach Anspruch 3-5, dadurch gekennzeichnet, dass der nebenschluss mit der Blende gekuppelt Ist,
7. 7.) Optisches System mit belichtungsmesser nach Anspruch 1-6, dadurch gekennzeichnet, dass das kapilla^lektrometer mittels einer gefederten Taste nur im Augenblick aer Messing eingeschalt et ist.

   SOS. SU'UiSiIULA & CO. OPTISi, HW WERKE ppa.