DEP0054041DA

DEP0054041DA - Optical system with built-in light meter.

Info

Publication number: DEP0054041DA
Authority: DE
Inventors: Karl Dr. Weiss
Original assignee: Jos. Schneider & Co. Optische Werke, Bad Kreuznach
Publication date: 1950-08-03

Description

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JOS. SCHNEIDER & CO., OPTISCHE WERKE · KREUZ^*^JOS. SCHNEIDER & CO., OPTICAL WORKS · CROSS ^ * ^ Kaisentrafia SSKaisentrafia SS

I.A. ν t ά O <j Optisches System mit eingebautem Belichtungsmesser. IA ν t ά O <j Optical system with built-in light meter.

Die im Handel befindlichen Belichtungsmesser bedienen sich grundsätzlich. - von einigen wenigen visuellen Photometern abgesehen - eines Photoeleinentes und eines Drehspulenelementes und messen die "Helligkeit" des Objektes. Um nicht den ganzen Ramwinkel zu erfassen, sondern nur die helligkeit des interessierenden Objektes, hat man dohrblenden oder auch Hilfsoptiken eingeführt. An einigen Ausf'UhrungsbeIspeien sind Photoelement und Anzeigegerät direkt in die phot ο graphische Kamera eingebaut worden, wobei die Photozelle unter Umständen in das optische System eingeschwenkt werden könnte. Das dürfte z.Zt. vom physikalischen Standpunkt aus die techntech einwandfreie sie Lösung darstellen, weil man hier nur die zur Erzeugung des latenten Bildes dieriende Helligkeit misst.The light meters on the market generally use themselves. - apart from a few visual photometers - a photo element and a rotating coil element and measure the "brightness" of the object. In order not to capture the entire ram angle, but only the brightness of the object of interest, dohrblende or auxiliary optics have been introduced. On some execution examples are photo element and Display device built into the photographic camera The photocell could possibly be swiveled into the optical system. That should currently from the physical point of view the techntech flawless you solution because here one only measures the brightness that is used to generate the latent image.

Die vorliegende Erfindung knüpft an diesen Stand der Technik an, erstrebt aber eine Vervollständigung dahingehend, dass Pho t oe leite nt, Messgerät und optisches System als eine Einheit ausgebildet werden. Für aie Verbindung des optischen Systems mit der nicht mehr schwenkbaren, sondern letzt fest eingebauten Photozelle gibt es zwei ⁱⁱre-§4l·, h&tuitiu. *w*4uui _td>\. 4«, $uu*ifat*<l &* The present invention builds on this prior art, but aims to complete it in such a way that the photo guide, the measuring device and the optical system are designed as one unit. For aie connection of the optical system with the not swivel but last permanently installed photocell there are two ⁱⁱ re-§4l · h tuitiu. * w * 4uui _t d> \. 4 «, $ uu * ifat * <l & *

1.) Die Photozelle wird so schmal ausgebildet, z.h. in Stäbchenform, dass sie zwar den gesamten Durchmesser des optischen Systems überstreicht, von dem wirksamen Querscinitt aber nur so wenig wegnimmt, dass der Verlust an Helligkeit durch die Absorption aes Photoelementes in tragbaren Grenzen bleiot. Unter diesen Umständen kanu das Photoelement auch während der Verwendung des optischen Systems im Linsensystem verbleiben, ohne die effektive Lichtstärke wesentlich herabzusetzen.1.) The photocell is made so narrow, e.g. in Rod shape that although it covers the entire diameter of the optical system, but of the effective cross section takes away so little that the loss of brightness due to the absorption of a photo element remains within acceptable limits. Under under these circumstances, the photo element can remain in the lens system even during the use of the optical system without the reduce the effective light intensity significantly.

Dieser lieg war vor wenigen Janren nocn nicnt möglich, weil man einen zusätzlichen Licntverlust nicht nätte in Kauf nehmen können. Bereits an jedem übergang des Lichtes von Luft nach ulas oder Glas nach Luft entstehen durch Reflexion etwa 5 % Licntverluste. In einem, optischen System mit nur fünf einzelstehenden Linien ge nt also beim Licitdurchtritt nahezu die Hälfte des einfallenden Lichtes verloren. Bei diesem Tatbestand sind keine zusätzlichen Licizverauste tragbar.This lying was not possible a few years ago because one an additional loss of light could not be accepted. Already at every transition of light from air to ulas or glass after air, about 5% light losses occur through reflection. In one, optical system with only five individual positions Lines can therefore lose almost half of the incident light when the license passes through. In this case there are none additional Licizverauste portable.

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Durch lie moderne Entspiegelungstechnik jedoch können die Verluste aurch deflexion weitgehendst beseitigt werden. Der dadurch erzielte Lichtgewinn erlaubt AbsorpttonsOerluste durch das Photoelement.Thanks to modern anti-reflective technology, however, the Deflection losses are largely eliminated. The resulting light gain allows absorptton losses through the photo element.

2.) Das PAo toe leiten t wira direkt auf einer Linsenfläche hinter der blende aufgebracht, etwa aurch Aufdampfen von Trägerlehtrode, Sperrschicht, tialbleiterschicht und De ekele Iktrode, wobei sämtliche Schielten so zu bemessen sind, dass nur geringe Abaorptionsverluste auftreten. Bei der Deckelelektrode ist aies ohnehin der Fall, weil man sie gitterartig ausbilden kann. Für die irägerleKtrode gilt dasselbe, jedocn kann man diese auch fldchenmässig ausbilden, weil ihre Dicke nur so gross zu sein braucht, als zur Erreichung einer gewissen Querleitfähigaeit notwendig ist. Die Sperrschicht ist wegen ihren geringen Dicke in diesem Zusammenhang ohne Belang; durchsichtige halbleiter schichten sind bekannt. Auch dieser zweite tteg stellt somit eine Lösung im dahmen des technisch Öli uar.2.) We conduct the PAotoe directly on a lens surface applied behind the panel, for example by vapor deposition of Carrier electrode, barrier layer, tialbleiterschicht and De ekele Iktrode, whereby all switches are to be dimensioned in such a way that only low absorption losses occur. With the cover electrode this is the case anyway, because it can be formed in a grid-like manner. The same applies to the irägerleKtrode, but you can also develop these in terms of area, because their thickness only needs to be as great as to achieve a certain thickness Querleithaftigaeit is necessary. The barrier is due their small thickness is irrelevant in this context; transparent semiconductor layers are known. Also this one second tteg thus provides a solution in the context of the technical Oil uar.

ine Verbindung des Anzeigegerätes far die helligkeit mit dem optiscaen System einerseits und die Anstrebung höherer Messgenauigkeiten andererseits erfordern Hilfsmittel, die üon de;a Disher üülichen abzeichen. Die Verwendung moderner Farbfilmemulsion mit ihrem verhältnismässig engen Belichtungsspiel raum stellt Anforderungen, die von dem bisher im dandel befindlichen Belichtungsmessern nicht erreicht werden können, weil diese alle als Indikator für den Photostrom Strommesser Oerwenclett. ^ie Proportionalität zwischen Belichtungsstärke und Photostroih Let aber aur für den Kurzschlusstrom erfällt. Bei Anwendung eines ktrornmesaers tritt wegen dessen endlichen Widerstandes eine unkontrollierbare Abweicnung mn aer Proport tonalitit ein.A connection of the display device for the brightness with the optiscaen system on the one hand and striving for higher Measurement accuracy, on the other hand, requires tools that can de; a other common badge. The use of modern color film emulsion with its relatively narrow exposure play Raum has requirements that the light meters that have been in the market up to now could not be achieved, because these all serve as an indicator of the photocurrent ammeter Oerwenclett. ^ ie proportionality between exposure levels and Photostroih Let but only apply to the short-circuit current. When using a ktrornmesaers occurs because of its finite Resistance an uncontrollable deviation mn aer Proportion tonality a.

bei der Ausf'iirung des Belichtungsmessers nacn. der vorliegenden Erfingun§ wird alä Indikator ein hochempfindlicher Spannungsmesser Lm Nebenschluss verwendet, uer ^eoenschlusä wird so geregelt, dass beim Messinstrument immer nur bestimmte Ausschläge beobachtet werden. Dazu eignet sich ganz vorzüglich das Aapillarelektrometer, das in Ländlicher Form um dasin the execution of the exposure meter according to In the present invention, a highly sensitive voltmeter Lm shunt is used as an indicator, which is closed regulated in such a way that the measuring instrument only ever has certain Rashes are observed. The aapillary electrometer, which is in rural form around the

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optische System herum ausgebildet ist, während die Mebenschlussregulierung des Messinstrumentes mit aer Blende gekuppelt ist. Eine gefederte Taste schaltet das Messinstrument nur für den Augenblick der Messung ein.optical system is formed around, while the joint control of the measuring instrument is coupled with aer diaphragm. A spring-loaded button switches the measuring instrument only for the moment of measurement. In der beiliegenden Zeichnung sind drei Ausführung8formen der Erfindung dargestellt.In the accompanying drawing there are three versions of the invention shown.

Abb. 1 zeiyt ein pnotographioche Objektiv, bei welchem das Photoelement in Gestalt eines Stäbchen ausgeführt ist und sich in der Blendenebene befindet. Die drei Linsen des Objektives sind mit a, b und c, und die Blende ist mit d bezeichnet. Das st'ibchenfb'rmtge Photoelement e ist mit aen Anschlussleitungen f versehen.Fig. 1 shows a photographic lens in which the Photo element is designed in the form of a rod and is located in the diaphragm plane. The three lenses of the objective are labeled a, b and c, and the aperture is labeled d. The rod-shaped photo element is equipped with connecting lines f provided.

Bei der ^usfäh rungs form nachIn the embodiment after

Abo. 2 ist das Piotoelement flächenfö'rmig ausgeführt undSubscription. 2, the Piotoelement is designed flat and uniaUtelbar auf einer der Linsenflachen aufgetragen. EsApplied uniquely to one of the lens surfaces. It sitzt auf ier Linse c hinter der Blende d und ist mit esits on ier lens c behind the diaphragm d and is marked with e bezeichnet.designated.

Abb. 3 zeigt perspektivisch ein photoijrapilbcn.e Objektiv bei dem ein Aapillarelektrometer f vorgesehen ist, das ringförmig gebogen und um die iussere Fassung aes Objektivs herum angeordnet ibt. uie ^ebeaschlussregulierung des Messinstrumentes kann mit der Blende gehupelt werden.Fig. 3 shows a photoijrapilbcn.e lens in perspective in which an aapillary electrometer f is provided, which is bent in a ring and around the outer mount of a lens arranged around ibt. The final regulation of the measuring instrument can be honed with the cover.

Das lapi 11 arelektrometer kam, auca andere gestaltung haben und an anderen Stelle der Objektivfassung befestigt sein.The lapi 11 arelectrometer came with a different design and be attached to another point of the lens mount.

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Claims

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Patent- bezic. Schutzansprüähe.Patent bezic. Protection claims.

1») Optisches System mit Belichtungsmesser, bei dem das Fhotoelenient Ίtnter der Llende im Linsensystem fest oder schwenkbar angebracht ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Photoelement Stäbchenform 'tat.1 ») Optical system with light meter, in which the photo element is fixed or pivoted under the lens system in the lens system, characterized in that the photo element is rod-shaped.

2.) Optiscnes System mit Belichtungsmesser, bei dem das Photoelement hinter der Blende fest angebracht ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Photoelement unmittelbar auf einer Linsenoberfläche befestigt oder erzeugt ist.2.) Optiscnes system with light meter, in which the photo element is firmly attached behind the aperture, characterized in that the photo element is directly on a Lens surface is attached or created.

3.JOptisches System uit Belichtungsmesser nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass als Indikator für die Beleucf tungssstärke ein Kapillarelektrometer verwendet wird.3.JOptisches System uit light meter according to claim 1 or 2, characterized in that as an indicator for the Beleucf a capillary electrometer is used.

4.) Optisches System mit ael ichtungamesser nach Anspruch 1-3, dadurch yekennzeichnet, dass das Kapillarelektrometer der äusseren Form des Systems angepasst ist.4.) Optical system with ael ichtungamesser according to claims 1-3, characterized in that the capillary electrometer the outer shape of the system is adapted.

5.) Optisches System mit Belichtungsmesser nach Anspruch 3-4, dadurch ge kenneze ic inet, dass das üapillarelektrometer tlüer einen Nebenschluss an das Photoelement angeschlossen ist.5.) Optical system with exposure meter according to claim 3-4, in that way, i know that the capillary electrometer tlüer a shunt connected to the photo element is.

6* ) Optisches System mit Belichtungsmesser nach Anspruch 3-5, dadurch gekennzeichnet, dass der nebenschluss mit der Blende gekuppelt Ist,6 *) Optical system with exposure meter according to claims 3-5, characterized in that the shunt is coupled to the panel,

7.) Optisches System mit belichtungsmesser nach Anspruch 1-6, dadurch gekennzeichnet, dass das kapilla^lektrometer mittels einer gefederten Taste nur im Augenblick aer Messing eingeschalt et ist.7.) Optical system with exposure meter according to claims 1-6, characterized in that the capillary electrometer by means of a spring-loaded button only at the moment aer Brass is switched on.

SOS. SU'UiSiIULA & CO. OPTISi, HW WERKE ppa.SOS. SU'UiSiIULA & CO. OPTISi, HW WERKE ppa.