DE746265C - Messmarken-system - Google Patents

Description

Die bisher .bekannten Meßimarken bestehen aus einer Anordnung-, bed der entweder zwei Striche zur Deckung gebracht wenden oder ein Strich :in die Mitte zwischen zwei Striche gerückt wind. Diese Anordnung ist, wenn man die Einstellung mit unbeiwäffnetemAuge vornimmt, nicht sehr genau, so 'daß zum Einstellen Mikroskope benutzt werden müssen.

Beim Gegenstand der Erfindung wirken zwei 'zeiichentragende Meßplatten zusammen, und die Erfindung liegt darin, daß die eine Meßplatte mit einer großen Anzahl gleichmäßig verteilter Zeichen verseihen ist, von denen jedoch in gewissen Abständen je eines dieser Zeichen fehlt, während die andere Meßplatte gerade diese fehlenden Zeichen in den oben erwähnten, bestimmten Abständen trägt.

Es zeigt sich nun überraschenderweise, daß das Auge für eine solche Anordnung sehr empfindlich ist, so daß mit Leichtigkeit eine EdnsteHgenauigkeit von ι μ und darüber mit unbewaffnetem Auge zu erreichen ist.. Die Emstellgenauigkeit hängt dabei weitgehend von der Dichte der Linien oder Zeichenfolg'e ab. Je feiner die Zeichen sind, um so> genauer ist die Einsitelknöglichkeiit, je gröber, um so ungenauer.

Selbstverständlich können statt der Linien auch andere geeignete Zeichen genommen wenden, z. B. Kreise ader dergleichen. Jn diesem FaIJe trägt die eine Platte Kreisgruppen mit immer steigendem Radius, und zwar zentrisch zueinander angeordnet, jedoch mit Lücken an bestimmten Stellen, etwa so, daß der fünfte oder zehnte Kreis fehlt, während die andere Platte gerade diese fehlenden Kreise trägt.

Die Einrichtung wird empfindlicher, wenn nach einem weiteren Vorschlage der Erfindung die Dicke der Zeichen (Striche, Kreise oder Linien) genau so groß ist wie der Abstand zwischen zwei solchen Zeichen.

Die Einstellmöglichkeit wird selbstverständlich genauer, -wenn ein Mikroskop benutzt wind. Das Mikroskop imiuß jedoch, passend zu der Feinheit der Zeichen, so ausgewählt sein, daß es ein genügend großes Gesichtsfeld hat, so 'daß nicht nur einzelne Linien, sondern eine ganze Schar solcher Linien zu überblicken ist. ψ Eine weitere Verbesserung erfährt das« ίο System, wenn zur Betrachtung ein möglichst diffuses Licht gewählt wird, welches dieKom*i l>ination beider Platten gleichmäßig ausleuchtet.

Die Anwendung eines Mikroskops und die Verwendung von diffusem Licht bilden indessen keinen Teil der Erfindung.

Anwendung¹ findet dieses Meßmarken-System überall da, wo eine genaue Einstellmöglichkeit verlangt wird, also insbesondere bei optischen Feinmeßgeräten.

Claims (2)

1. Patentansprüche:

   i. Meßmarken-System mit zwei zusammenwirkenden zeichentr-agenden Meßplatten, dadurch gekennzeichnet, daß die eine

   IP Meßplatte mit eimer großen Anzahl gleichmäßig verteilter Zeichen versehen ist, von denen jedoch in gewissen Abständen je eines 'dieser Zeichen fehlt, während die andere Meßplatte gerade diese fehlenden Zeichen in den oben erwähnten bestimmten Abständen trägt.

   ,:..
2. 2. M-elknarken-System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Strich-,dicke der Zeichen so gewählt wird, daß sie dem Abstand zwischen zwei Zeichen entspricht.

   Zur Abgrenzung des Anmeldungsgegenstan des vom Stand der Technik sind im Erteilungsverfahren in Betracht gezogen worden:

   deutsche Patentschriften ... Xr. 366 290, 632 237, 687 303, 691 466:

   französische Patentschrift ..Xr. 850202;

   Zeitschrift f. Instrumentenkunde 49. Jahrg., 1929, Xr. 9, S. 471;

   Jor dan-Ejggert, Handbuch der Vermessungskunde, Stuttgart 1933, 2. Bd., S. 44-45, Abb. 5, 6, γ, Ii u. i2.