DE69804752T2

DE69804752T2 - Optisches Plattengerät

Info

Publication number: DE69804752T2
Application number: DE69804752T
Authority: DE
Inventors: Masaru Nomura
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1997-12-15
Filing date: 1998-12-11
Publication date: 2002-11-21
Anticipated expiration: 2018-12-12
Also published as: TW407268B; CA2255390C; CN1220444A; US6298024B1; EP0926662A2; CA2255390A1; KR100284536B1; DE69804752D1; KR19990063074A; EP0926662A3; JPH11176070A; EP0926662B1; CN1174383C

Description

GEBIET DER ERFINDUNG

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Einrichtung für optische Platten in Übereinstimmung mit dem Oberbegriff der nebengeordneten Ansprüche 1 und 2, wobei diese Einrichtung für optische Platten leicht die Typen der Platten in einer kurzen Zeit identifizieren kann. Eine Einrichtung für optische Platten dieses Typs ist aus der US-A-5,684,773 bekannt.

HINTERGRUND DER ERFINDUNG

Die japanische offengelegte Veröffentlichung (Tokukaihei) Nr. 3-207056 offenbart ein Verfahren zum Identifizieren der Typen von Platten für eine Einrichtung für optische Platten, die verschiedene Typen von optischen Platten verwendet. In diesem Verfahren werden spezifische Informationssignale (Typenidentifikationssignale), die auf die jeweiligen optischen Platten vorher aufgezeichnet sind, ausgelesen, um so verschiedene Typen von optischen Platten zu identifizieren, und genauer gesagt eine CD für eine Musikverwendung (Kompaktdisk) und eine CD-ROM für eine Computerverwendung zu unterscheiden.
Da gemäß des Verfahrens, das in der japanischen Veröffentlichung Nr. 3-207056 offenbart ist, eine auf einer Platte aufgezeichnete Information tatsächlich ausgelesen wird, um die Platte zu identifizieren, ist es möglich, die Platte genau zu identifizieren. Um jedoch den Typ einer Platte zu identifizieren, ist es notwendig, die Drehgeschwindigkeit der Platte so zu steuern, dass sie ein vorgegebener Wert ist, und den Fokusservo und den Nachführungsservo zu steuern, wenn die Information aus der Platte gelesen wird. Danach wird durch Auslesen von Information, die als "TOC" (Inhaltstabelle) bezeichnet wird, die in dem innersten Umfangsabschnitt der Platte aufgezeichnet ist, der Typ der Platte zunächst identifiziert. Dann wird der Betrieb eines Verarbeitungssystems in Übereinstimmung mit dem Ergebnis des Identifizierungsprozesses umgeschaltet. Dieses Verfahren verursacht deshalb einen Anstieg in einer sogenannten "Startzeit", das heißt der Zeit, die von einer Identifikation des Typs der Platte bis zum Abschluss eines Umschaltens des Betriebs der Einrichtung, einschließlich eines Umschaltens des Verarbeitungssystems, was nach dem Identifizierungsprozess ausgeführt wird, benötigt wird.
Somit sind in einer Einrichtung für optische Platten, die verschiedene Typen von optischen Platten verwendet, selbst dann, wenn die grundlegenden physikalischen Eigenschaften von Platten, wie die Signalfrequenz und die Aufzeichnungsdichte der aufgezeichneten Information oder die Drehgeschwindigkeit und die lineare Geschwindigkeit, etc. der Platten im wesentlichen die gleichen wie die CD für die Musikverwendung und die CD-ROM für die Computerverwendung sind, eine lange Zeit und eine Anzahl von Prozessen benötigt, um die Einrichtung für optische Platten zu starten.
In einer Einrichtung für optische Platten, die verschiedene Typen von Platten (zum Beispiel CD und DVD (digitale Videoplatte) verwendet, die sich voneinander in ihren physikalischen Eigenschaften, insbesondere in der Aufzeichnungsdichte und in dem Spurabstand, zu einem größeren Grad als der Grad der Unterschiede zwischen der CD für die Musikverwendung und die CD-ROM für die Computerverwendung unterscheiden, ist es oft erforderlich, den Prozess zum Umschalten eines optischen Systems eines optischen Aufnehmers auszuführen, um bessere Signalwiederherstellungscharakteristiken in einigen Fällen zu erhalten. Eine Möglichkeit kann vorhanden sein, dass ein Unterschied in der linearen Geschwindigkeit, d. h. der Drehgeschwindigkeit der Platte, zwischen den Platten mit unterschiedlichen physikalischen Eigenschaften vorhanden ist. In einem derartigen Fall ist es erforderlich, die Drehgeschwindigkeit der Platte zu vergrößern oder zu verkleinern. Natürlich können die voranstehend erwähnten Prozesse nach Identifizieren des Typs der Platte ausgeführt werden. Infolgedessen wird eine lange Zeit benötigt, um die Einrichtung für optische Platten zu starten.
Wie voranstehend beschrieben, wird mit dem Stand der Technik, der in der voranstehend erwähnten Veröffentlichung bezüglich einer Einrichtung für optische Platten zur Wiedergabe von Information, die auf verschiedenen Typen von optischen Platten aufgezeichnet ist, offenbart ist, eine lange Zeit benötigt, um den Typ einer Platte zu identifizieren und ein zusätzlicher zeitaufwendiger Prozess muss in Übereinstimmung mit dem Ergebnis des Identifizierungsprozesses ausgeführt werden. Somit weist diese Technik ein Problem dahingehend auf, dass die Startzeit der Einrichtung für optische Platten länger wird.
Die Einrichtung für optische Platten, die aus der US-A-5,684,773 bekannt ist und die dem Oberbegriff der nebengeordneten Ansprüche 1 und 2 entspricht, umfasst eine Plattenunterscheidungsschaltung zum Unterscheiden der Art von optischen Platten auf Grundlage von Amplitudenpegeln der zugeführten Lesesignale, TOC Daten und anderen. Jedoch offenbart das Dokument nicht eine Unterscheidung der Art der Platte auf Grundlage einer Änderung in einer Amplitude eines Auslesesignals. Wenn eine Amplitude des RF-Signals von der Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung der bekannten Einrichtung für optische Platten verwendet wird, wird ferner eine Amplitude von modulierten Daten, die minimale Inversionsintervalle von 3T aufweisen, erfasst und je höher die Aufzeichnungsdichte ist (DVD weist eine höhere Aufzeichnungsdichte als CD-Platten auf), desto kleiner ist die Amplitude.
Die EP-A-0 881 638, die ein Stand der Technik gemäß Art. 54(3) EPC ist, offenbart eine Unterscheidungsvorrichtung für optische Platten, die ein 3-Strahl-System zum Beurteilen des Typs der optischen Platte und einen Vergleich zwischen einer Amplitude eines Nachführungsfehlersignals und einer Referenzamplitude oder einen Vergleich zwischen einer Phasendifferenz zwischen dem Erfassungswert von Substrahlen verwendet. Die Substrahlen werden von einem optischen Aufnehmer für eine Nachführungsservosteuerung erzeugt.
Eine Aufzeichnungsvorrichtung für optische Platten, die in der EP-A-0 453 995 offenbart ist, ist so konstruiert, dass sie erfasst, ob ein RF-Signal in einer aufzeichnungsfähigen Platte vorhanden oder abwesend ist, und automatisch auf Grundlage der Erfassung bestimmt, ob die optische Platte eine nicht aufgezeichnete oder eine voraufgezeichnete Platte ist, um eine Aufzeichnungsinformation auf einer voraufgezeichneten optischen Platte zu sperren. Eine Spitzenhalte- und Bodenhalteeinrichtung ist vorgesehen und erhält die reproduzierten RF-Signale von einer Matrixschaltung. Die Spitzenhalteschaltung hält einen Spitzenwert der reproduzierten RF-Signale und die Bodenhalteschaltung hält einen Bodenwert bzw. unteren Wert des reproduzierten RF-Signals. Eine Entscheidungseinrichtung entscheidet auf Grundlage des Spitzenwerts von der Spitzenhalteeinrichtung und dem Bodenwert der Bodenhalteeinrichtung, ob die optische Platte eine nicht aufgezeichnete Platte ist oder nicht. Jedoch offenbart dieses Dokument weder, dass die Spitzenhaltung und Bodenhaltung zum Unterscheiden von Platten mit unterschiedlichen Informationsspurdichten in einer radialen Richtung verwendet werden, noch dass der Plattentyp auf Grundlage einer Änderung in einer Amplitude eines RF-Signals identifiziert wird.
Die EP-A-0 526 250 offenbart ein Verfahren und eine Vorrichtung, die zum Abspielen einer teilweise aufgezeichneten aufzeichnungsfähigen Kompaktdisk (R-CD) ausgelegt sind, wobei eine Aufnehmereinrichtung an verschiedene Positionen über der Platte bewegt wird, während die Platte in Ruhe ist, um zu bestimmen, ob Indexinformation oder Aufzeichnungsgeschichteninformation in einem Indexgebiet oder in einem Aufzeichnungsgeschichtengebiet aufgezeichnet sind. Ferner wird in der bekannten Vorrichtung zum Bestimmen eines nicht aufgezeichneten Gebiets eines EFM-Signals (RF-Signals) das Signal von einer Spitzenhalteschaltung erfasst.
Dieser Spitzenhalteprozess kann jedoch nicht auf die Unterscheidung von unterschiedlichen Platten angewendet werden. Die EP-A-0 526 250 offenbart nämlich ein Unterscheiden eines aufgezeichneten Gebiets und eines nicht aufgezeichneten Gebiets einer R-CD. Das heißt, dieses Dokument ist darauf gerichtet zu unterscheiden, ob eine Aufzeichnung in einer R-CD vorhanden ist oder nicht, und nicht zum Unterscheiden von Typen von Platten, die unterschiedliche Informationsdichten aufweisen. Selbst wenn die bekannte Vorrichtung die Versetzung eines optischen Strahls in einer relativen radialen Richtung in Bezug auf Informationsspuren verwendet, verwendet die Vorrichtung Änderungen in der Amplitude für die Unterscheidung nicht. Im Hinblick auf die obigen Ausführungen ist die Aufgabe der EP-A-0 526 250 von der vorliegenden Aufgabe unterschiedlich.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Einrichtung für optische Platten bereitzustellen, die Information von verschiedenen Typen von optischen Platten reproduzieren kann, deren physikalische Eigenschaften, insbesondere Informationsaufzeichnungsdichten und Spurabstände, zu einem gewissen Grad unterschiedlich zueinander sind, wobei die Typen der optischen Platten in einer kurzen Zeit identifiziert werden und die Startzeit verkürzt wird.
Um die obige Aufgabe zu lösen, stellt die vorliegende Erfindung eine Einrichtung für optische Platten zum Wiedergeben bzw. Reproduzieren von Information, die auf einer Informationsspur einer optischen Platte aufgezeichnet ist, als ein Auslesesignal unter Verwendung eines Aufnehmers zum Anbringen eines Lichtstrahls an einer Informationsaufzeichnungsseite der optischen Platte und Empfangen von Licht, das von der Informationsaufzeichnungsseite reflektiert wird, bereit, wobei die Einrichtung für optische Platten umfasst: eine Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung zum Erzeugen eines Amplitudenanzeigesignals zum Unterscheiden des Typs von optischen Platten, die unterschiedliche Informationsspurdichten in einer radialen Richtung der Platten aufweisen, auf Grundlage eines Amplitudenpegels des Auslesesignals, dadurch gekennzeichnet, dass die Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung zum Erzeugen des Amplitudenanzeigesignals das Auslesesignal verwendet, das die Größe eines von der Informationsspur reflektierten Lichtstrahls darstellt und sich in seiner Amplitude ändert, wenn der Lichtstrahl relativ zu der Informationsspur in einer radialen Richtung der optischen Platte versetzt wird, wobei sich das Amplitudenanzeigesignal in Übereinstimmung mit der Amplitudenänderung des Auslesesignals ändert, und die Einrichtung für optische Platten ferner eine Identifizierungseinrichtung zum Identifizieren eines Typs der optischen Platte auf Grundlage der unterschiedlichen Dichten von Informationsspuren in einer radialen Richtung der optischen Platten durch Vergleichen einer Differenz zwischen einem maximalen Wert und einem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals mit einem vorgegebenen Wert umfasst.
In der Einrichtung für optische Platten ist die Amplitude des Auslesesignals, die von dem Aufnehmer in Übereinstimmung mit der Menge des reflektierten Lichts ausgegeben wird, der Unterschied zwischen dem Spitzenwert und dem Boden des Auslesesignals. Die Amplitude des Auslesesignals nimmt zu, wenn der Lichtstrahl unmittelbar über der Informationsspur positioniert wird. Zwischenzeitlich nimmt die Amplitude des Auslesesignals ab, wenn der Lichtstrahl von der Mitte der Informationsspur in einer radialen Richtung der optischen Platte versetzt wird, weil der Kontrast der Menge des reflektierten Lichts kleiner wird.
Die Amplitude des Auslesesignals wird mit einer Abnahme in dem Verhältnis des Gebiets der Informationsspur, die mit dem Lichtstrahl bestrahlt wird, zu dem Gesamtgebiet, dass mit dem Lichtstrahl bestrahlt wird, kleiner. Andererseits wird die Amplitude des Auslesesignals mit einer Abnahme in dem Verhältnis des Gebiets der Informationsspur, das mit dem Lichtstrahl bestrahlt wird, zu dem Gesamtgebiet, das mit dem Lichtstrahl bestrahlt wird, größer. Wenn der Lichtstrahl relativ zu der Informationsspur in einer radialen Richtung der optischen Platte bewegt wird, nimmt deshalb die Amplitude des Auslesesignals zu der Zeit, wenn der Lichtstrahl unmittelbar über der Informationsspur positioniert ist, zu und nimmt zu der Zeit, wenn der Lichtstrahl zwischen zwei benachbarten Informationsspuren positioniert ist, ab. Somit tritt die Vergrößerung und Verkleinerung der Amplitude wiederholt auf.
Wenn somit die Dichte der Informationsspuren der optischen Platte in einer radialen Richtung der optischen Platte gering ist, ist das Verhältnis des Gebiets der Informationsspur, die mit dem Lichtstrahl bestrahlt wird, zu dem Gesamtgebiet, das mit dem Lichtstrahl bestrahlt wird, zu der Zeit, wenn der Lichtstrahl zwischen zwei benachbarten Informationsspuren positioniert ist, relativ klein. Infolgedessen ist eine Amplitude des Auslesesignals von diesem Gebiet sehr klein. Demzufolge ändert sich die Amplitude stark, wenn der Lichtstrahl relativ zu der Informationsspur in einer radialen Richtung der optischen Platte bewegt wird. Demzufolge treten die Änderungen in der Amplitude des Auslesesignals deutlich auf und Veränderungen in dem Amplitudenanzeigesignal, die die Änderungen in der Amplitude darstellen, werden deutlicher.
Wenn die Dichte der Informationsspuren der optischen Platten in einer radialen Richtung der optischen Platte hoch ist, selbst wenn der Lichtstrahl zwischen zwei benachbarten Informationsspuren positioniert ist, ist das Verhältnis der Informationsspur, die mit dem Lichtstrahl bestrahlt wird, zu dem Gesamtgebiet, das mit dem Lichtstrahl bestrahlt wird, nicht so klein wie das Verhältnis in dem voranstehend erwähnten Fall. Deshalb ist die Amplitude des Auslesesignals von diesem Gebiet nicht zu klein. Demzufolge werden die Änderungen in der Amplitude des Auslesesignals, wenn der Lichtstrahl relativ zu der Informationsspur in einer radialen Richtung der optischen Platte bewegt wird, nicht so groß. Infolgedessen sind die Veränderungen in dem Amplitudenanzeigesignal, die von dem Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitt ausgegeben werden, nicht so deutlich wie die Veränderungen, die beobachtet werden, wenn die Dichte der Informationsspuren gering ist.
Somit ist es durch Vergleichen des Unterschieds zwischen dem maximalen Wert und dem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals mit einem vorgegebenen Wert durch den Identifizierungsabschnitt möglich, die Typen einer Vielzahl von optischen Platten mit unterschiedlichen Informationsspurdichten in einer radialen Richtung der optischen Platten zu identifizieren.
Ferner wird die obige Aufgabe durch eine Einrichtung für optische Platten zum Wiedergeben bzw. Reproduzieren von Information, die auf einer Informationsspur einer optischen Platte aufgezeichnet ist, als ein Auslesesignal unter Verwendung eines Aufnehmers zum Anbringen eines Lichtstrahls an einer Informationsaufzeichnungsseite der optischen Platte und Empfangen von Licht, das von der Informationsaufzeichnungsseite reflektiert wird, gelöst, wobei die Einrichtung für optische Platten umfasst: eine Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung zum Erzeugen eines Amplitudenanzeigesignals zum Unterscheiden der Typen der optischen Platten, die unterschiedliche Informationsspuren in einer radialen Richtung der Platten aufweisen, auf Grundlage eines Amplitudenpegels des Auslesesignals, dadurch gekennzeichnet, dass die Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung zum Erzeugen des Amplitudenanzeigesignals das Auslesesignal verwendet, das die Größe eines von der Informationsspur reflektierten Lichtstrahls darstellt und sich in seiner Amplitude ändert, wenn der Lichtstrahl relativ zu der Informationsspur in einer radialen Richtung der optischen Platte versetzt wird, wobei sich das Amplitudenanzeigesignal in Übereinstimmung mit der Amplitudenänderung des Auslesesignals verändert und die Einrichtung für optische Platten ferner eine Identifizierungseinrichtung zum Identifizieren der Typen der optischen Platten auf Grundlage der unterschiedlichen Dichten von Informationsspuren in einer radialen Richtung der optischen Platten durch Vergleichen eines Verhältnisses zwischen einem maximalen Wert und einem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals mit einem vorgegebenen Wert umfasst.
In dieser Einrichtung für optische Platten ist es, anders als bei der voranstehend erwähnten Einrichtung für optische Platten, möglich, die Einflüsse der Veränderungen in der Größe des Lichtstrahls und in der Reflektivität der optischen Platte zu begrenzen, da der Identifizierungsabschnitt den Typ der optischen Platte auf Grundlage des Verhältnisses zwischen dem maximalen Wert und dem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals erfasst. Das voranstehend erwähnte Verhältnis umfasst keine Elemente, die sich auf die Empfindlichkeit und die Charakteristik des optischen Aufnehmers, die Größe des Lichtstrahls oder die Reflektivität und den Modulationsgrad der optischen Platte beziehen. Da das voranstehend erwähnte Verhältnis nur ein Element enthält, das sich auf die Dichte der Informationsspuren in einer radialen Richtung der optischen Platte bezieht, ist es möglich, die Typen von optischen Platten, die unterschiedliche Spurabstände aufweisen, genau zu identifizieren.
Jede der voranstehend erwähnten Einrichtungen für optische Platten kann die Typen von optischen Platten, die unterschiedliche Informationsaufzeichnungsdichten aufweisen, an einer frühen Stufe identifizieren, wodurch die Startzeit der Einrichtungen für optische Platten unter Verwendung von verschiedenen Typen von optischen Platten signifikant verkürzt wird.
Für ein vollständigeres Verständnis der Art und der Vorteile der Erfindung wird auf die folgende ausführliche Beschreibung in Zusammenhang mit den beiliegenden Zeichnungen Bezug genommen.

KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

In den Zeichnungen zeigen:

Fig. 1 ein Blockdiagramm einer Einrichtung für optische Platten gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 ein Schaltbild, das den ausführlichen Aufbau eines Amplitudenanzeigesignal- Erzeugungsabschnitts zeigt, der in Fig. 1 gezeigt ist;
Fig. 3 ein Schaltbild, das den ausführlichen Aufbau eines Plattentyp- Identifizierungsabschnitts zeigt, der in Fig. 1 gezeigt ist;
Fig. 4(a) eine Draufsicht, die einen Zustand zeigt, in dem ein Lichtstrahl relativ zu einer Informationsspur bewegt wird;
Fig. 4(b) eine Ansicht, die Änderungen in einem Auslesesignal in Bezug auf die Zeit während einer Bewegung des Lichtstrahls erläutert;
Fig. 5(a) Ansichten, die die Theorie der vorliegenden Erfindung zum Identifizieren einer bis 5(c) optischen Platte, die eine geringe Informationsspurdichte aufweist, erläutern;
Fig. 6(a) Ansichten, die die Theorie der vorliegenden Erfindung zum Identifizieren einer bis 6(c) optischen Platte, die eine hohe Informationsspurdichte aufweist, erläutern;
Fig. 7 eine Ansicht, die den Aufbau eines Hochpassfilters zum Sperren der Gleichstromkomponente eines Auslesesignals zeigt;
Fig. 8(a) Ansichten, die eine Ausgangswellenform erläutern, wenn das Auslesesignal und 8(b) dem in Fig. 7 gezeigten Hochpassfilter eingegeben wird;
Fig. 9 eine Ansicht, die einen anderen Aufbau des Plattentyp- Identifizierungsabschnitts zeigt;
Fig. 10(a) die Wellenfort des Auslesesignals; und
Fig. 10(b) die Wellenform eines Amplitudenanzeigesignals;
Fig. 11 ein Blockdiagramm, das einen noch anderen Aufbau des Plattentyp- Identifizierungsabschnitts zeigt;
Fig. 12(a) eine perspektivische Ansicht, die einen Zustand zeigt, in dem der Lichtstrahl über die Informationsspur bewegt wird;
Fig. 12(b) eine Wellenformdarstellung, die den Zusammenhang zwischen der Umhüllenden des Auslesesignals zu dieser Zeit und dem Mittelwert davon zeigt; und
Fig. 12(c) eine Wellenformdarstellung, die das Amplitudenanzeigesignal zu der Zeit zeigt;
Fig. 13 ein Schaltbild, das einen anderen Aufbau des Auslesesignal- Erzeugungsabschnitts zeigt;
Fig. 14(a) Wellenformdarstellungen, die das Auslesesignal und das und 14(b) Amplitudenanzeigesignal zu der Zeit zeigen, wenn der Lichtstrahl über die Informationsspur bewegt wird;
Fig. 15 ein Diagramm, das einen noch anderen Aufbau des Amplitudenanzeigesignal- Erzeugungsabschnitts zeigt;
Fig. 16 ein Schaltbild, das einen noch anderen Aufbau des Auslesesignal- Verarbeitungsabschnitts und des Amplitudenanzeigesignal- Erzeugungsabschnitts zeigt;
Fig. 17(a) eine perspektivische Ansicht, die einen Zustand zeigt, in dem der Lichtstrahl über die Informationsspur bewegt wird; und
Fig. 17(b) Wellenformdarstellungen, die das Auslesesignal bzw. AGC Steuersignal zu der und 17(c) Zeit zeigen;
Fig. 18 ein Blockdiagramm, das den Aufbau einer Einrichtung für optische Platten gemäß der sechsten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 19(a) eine perspektivische Ansicht, die einen Zustand zeigt, in dem eine Linse in einer radialen Richtung einer optischen Platte bewegt wird; und
Fig. 19(b) eine Wellenformdarstellung, die Änderungen in dem Auslesesignal zeigt, wenn die Linse bewegt wird;
Fig. 20(a) eine perspektivische Ansicht, die einen Zustand zeigt, in dem eine Linse in einer radialen Richtung einer optischen Platte bewegt wird; und
Fig. 20(b) eine Wellenformdarstellung, die Änderungen in dem Auslesesignal zeigt, wenn die Linse bewegt wird;
Fig. 21(a) eine perspektivische Ansicht, die einen Zustand zeigt, in dem eine Linse in einer radialen Richtung einer optischen Platte bewegt wird; und
Fig. 21 (b) eine Wellenformdarstellung, die Änderungen in dem Auslesesignal zeigt, wenn die Linse bewegt wird.

BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN

[Ausführungsform 1]

Die folgende Beschreibung wird (1) den Aufbau, (2) die Theorie, und (3) den Betrieb einer Einrichtung für optische Platten gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung erläutern.

(1) Aufbau

Fig. 1 ist ein Blockdiagramm, das eine Einrichtung für optische Platten gemäß einer Ausführungsform 1 der vorliegenden Erfindung zeigt. In Fig. 1 sind spiralförmige oder konzentrische Informationsspuren 3, auf denen Information in der Form von Ketten von Pits (Aufzeichnungsflecken bzw. -gräben) aufgezeichnet wird, auf einer Informationsaufzeichnungsseite 2 der optischen Platte 1 gebildet, so dass das Intervall zwischen benachbarten Informationsspuren 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1 gleichförmig ist. Ein optischer Aufnehmer 4 bringt einen Lichtstrahl 6, der von einer Linse 5 fokussiert wird, auf die Informationsspur 3 an und erzeugt ein Auslesesignal RF (ein Signal, das die Größe eines von der optischen Platte 1 reflektierten Lichts anzeigt) auf Grundlage des von der Informationsspur 3 reflektierten Lichts und erzeugt auch ein Fokussierungsfehlersignal FES und ein Nachführungsfehlersignal TES als Servofehlersignale, die für eine Positionssteuerung (Servosteuerung) der fokussierten Position des Lichtstrahls 6 relativ zu der Informationsspur 3 verwendet werden. Diese FES und TES werden an einen Servosteuerabschnitt 7 geführt und steuern die Position der Linse 5. Somit werden die FES und TES verwendet, um die fokussierte Position des Lichtstrahls 6 so zu steuern, dass sie einer Zielinformationsspur 3 folgt. Ein Auslesesignal- Verarbeitungsabschnitt 8 führt eine automatische Verstärkungssteuerung (AGC) aus, um die Amplitude des Auslesesignals RF auf einen vorgegebenen Wert einzustellen, und erzeugt die aufgezeichnete Information durch Demodulieren des Aufzeichnungssignals RF etc. vor und nach einer Ausführung einer AGC. Ein Spindelmotor 9 dreht die optische Platte 1.
Ein Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitt 10 verwendet das Auslesesignal RF, das die Größe des von der Informationsspur 3 reflektierten Lichtstrahls 6 darstellt, um so ein Amplitudenanzeigesignal RFAMP zu erzeugen, das der Amplitude des Auslesesignals RF entspricht. Ein Beispiel des Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitts 10 wird später mit näheren Einzelheiten unter Bezugnahme auf Fig. 2 erläutert.
Ein Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 identifiziert den Typ einer optischen Platte 1 auf Grundlage des Amplitudenanzeigesignals RFAMP und gibt ein Identifikationsergebnissignal DTYPE aus. Ein Beispiel des Aufbaus des Plattentyp-Identifizierungsabschnitts 11 wird später mit näheren Einzelheiten unter Bezugnahme auf Fig. 3 erläutert. Der Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitt 10 und der Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 dienen als eine Identifizierungseinrichtung.
Eine Steuereinrichtung (Controller) 12 ist von einem Mikrocomputer gebildet, empfängt das Identifikationsergebnissignal DTYPE von dem Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11, steuert den Servosteuerungsabschnitt 7, den Auslesesignal-Steuerabschnitt 8 (oder den optischen Aufnehmer 4) etc. in Übereinstimmung mit den Anforderungen und führt eine Steuerung bezüglich Umschaltung der Schaltungscharakteristiken (oder einer Umschaltung eines optischen Systems innerhalb des optischen Aufnehmers 4) und der gesamten Betriebsvorgänge der Einrichtung aus, um so eine bessere Signalwiedergabe und bessere Signalsteuerungscharakteristiken zu erreichen.
Unter Bezugnahme auf Fig. 2 wird die folgende Beschreibung ein Beispiel des Aufbaus des Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitts 10 mit näheren Einzelheiten erläutern. Ein Detektor 20 für eine obere Umhüllende und ein Detektor 21 für eine untere Umhüllende, die eine Umhüllende-Erfassungseinrichtung bilden, sind durch Pufferverstärker 201, 211, Dioden 202, 212, Kondensatoren 203, 213 bzw. Widerstände 204, 214 gebildet. In der Theorie erfassen der Detektor 20 für die obere Umhüllende und der Detektor 21 für die untere Umhüllende, nach einer Pufferverstärkung eines Eingangssignals durch die Pufferverstärker 201 und 211, die positive Spitze durch die Diode 202 und den Kondensator 203 und erfassen die negative Spitze durch die Diode 212 bzw. den Kondensator 213. Durch geeignetes Einstellen einer Zeitkonstanten, die durch das Produkt des Kondensators 203 (Kapazität) und des Widerstands 204 (Widerstandswert) bestimmt wird, und einer Zeitkonstanten, die von dem Produkt des Kondensators 213 und des Widerstands 214 bestimmt wird, ist es ferner möglich, die jeweiligen Umhüllenden auf der oberen (positiven) Seite und der unteren (negativen) Seite des eingegebenen Auslesesignals RF zu erfassen. Ein Subtrahierer 22 berechnet die Amplitude des Auslesesignals RF (genauer gesagt die Amplitude der Umhüllenden) durch Subtrahieren eines Ausgangs des Detektors 21 für die untere Umhüllende von einem Ausgang des Detektors 20 für die obere Umhüllende und gibt das Ergebnis als ein Amplitudenanzeigesignal RFAMP aus. Die Verstärkung des Subtrahierers 22 kann 1 oder irgendein anderer beliebiger Wert sein.
Abgesehen davon ist in dem Detektor 20 für die obere Umhüllende einer der Verbindungsanschlüsse jeweils des Kondensators 203 und des Widerstands 204, der nicht mit der Diode 202 verbunden ist, mit einem negativen elektrischen Potential V- verbunden. Andererseits ist in dem Detektor 21 für die untere Umhüllende einer der Anschlüsse jeweils des Kondensators 213 und des Widerstands 214, der nicht mit der Diode 212 verbunden ist, mit einem positiven elektrischen Potential V+ verbunden. Derartige Verbindungen werden durchgeführt, weil es erforderlich ist, einen Anschluss des Kondensators durch eine Spannung, die höher oder niedriger als die erwartete maximale Spannung und minimale Spannung ist, auf ein Signal vorzupolen, das einer Umhüllenden-Erfassung in Übereinstimmung der Theorie des Umhüllenden- Erfassungsbetriebs ausgesetzt wird.
Jedoch ist es nicht erforderlich, immer positive und negative elektrische Potentiale für eine Erfassung von Umhüllenden zu erstellen. Wenn zum Beispiel beurteilt wird, dass das Auslesesignal RF nicht eine negative Spannung sein soll (zum Beispiel bei einer Einrichtung für optische Platten, die eine einzelne positive Energieversorgung verwendet), ist der Spannungsbereich des Signals von 0 Volt bis zu der positiven Energieversorgungsspannung. Deshalb wird bevorzugt, dass die Spannung, die den Kondensator des Umhüllenden-Detektors vorpolt, auf 0 Volt (das elektrische Massepotential) in dem Detektor für die obere Umhüllende eingestellt wird, und auf die Energieversorgungsspannung in dem Detektor für die untere Umhüllende eingestellt wird.
Bezugnehmend nun auf Fig. 3 wird die folgende Beschreibung ein Beispiel des Aufbaus des Plattentyp-Identifzierungsabschnitts 11 mit näheren Einzelheiten erläutert. Ein Spitzendetektor 30 und ein Bodendetektor 31 sind von Pufferverstärkern 301, 311, Dioden 302, 312 bzw. Kondensatoren 303, 313 gebildet. Der Spitzendetektor 30 und der Bodendetektor 31 erfassen die maximale Spannung (obere Umhüllende) Vpeak bzw. die minimale Spannung (untere Umhüllende) Vbottom mit den Dioden 302, 312 und den Kondensatoren 303, 313 nach einer Pufferverstärkung des eingegebenen Amplitudenanzeigesignals RFAMP durch die Pufferverstärker 301 bzw. 311. Ein Subtrahierer 33 berechnet die Differenz Vamp zwischen dem Maximum Vpeak und dem Minimum Vbottom des Amplitudenanzeigesignals RFAMP durch Subtrahieren des Ausgangs des Detektors 31 für die untere Umhüllende von dem Ausgang des Detektors 30 für die obere Umhüllende. Ein Vergleicher 33 als Differenzvergleichseinrichtung vergleicht die Spannung einer Vergleichsspannungsquelle 34 mit der Differenz Vamp zwischen dem maximalen Wert und dem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals RFAMP, das von dem Subtrahierer 32 erhalten wird, und gibt das Vergleichsergebnis als das Identifikationsergebnissignal DTYPE aus.
Abgesehen davon kann die Spannung der Vergleichspannungsquelle 34 von der Steuereinrichtung 12 etc. verändert werden. Für den Fall, dass sich die Größe bzw. Menge des Lichtstrahls 6, der auf die optische Platte 1 von dem optischen Aufnehmer 4 angebracht wird, ändert, verändern sich das Auslesesignal RF und wiederum das Amplitudenanzeigesignal RFAMP, das die Amplitude des Auslesesignals RF darstellt. Um deshalb den Typ einer optischen Platte genau zu identifizieren, wird bevorzugt, dass die Spannung der Vergleichspannungsquelle 34 veränderbar ist, wie voranstehend erwähnt. Es erübrigt sich zu erwähnen, dass dann, wenn keine Notwendigkeit zum Verändern der Spannung der Vergleichspannungsquelle 34 wegen einer kleinen Veränderung vorhanden ist, die Spannung der Vergleichspannungsquelle auf einen festen Wert eingestellt werden kann.
Ähnlich wie die Kondensatoren 203, 213 in dem Detektor 20 für die obere Umhüllende und dem Detektor 21 für die untere Umhüllende des Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitts 10, der in Fig. 2 erläutert wurde, wird eine Vorspannung an einen Anschluss jeweils der Kondensatoren 303, 313 in dem Spitzendetektor 30 und dem Bodendetektor 31 des Plattentyp-Identifizierungsabschnitts 11 angelegt. Da jedoch das Amplitudenanzeigesignal RFAMP, das dem Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 eingegeben werden soll, ein Signal ist, das das Ergebnis einer Subtraktion der unteren Umhüllenden von der oberen Umhüllenden durch den Subtrahierer 22 in dem Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitt 10 darstellt, kann das Amplitudenanzeigesignal RFAMP niemals eine negative Spannung sein. Deshalb kann die Vorspannung, die an die Kondensatoren 303, 313 angelegt werden soll, 0 Volt (ein elektrisches Massepotential) von dem Kondensator 303 in dem Spitzendetektor 30 sein und kann eine positive Versorgungsspannung (+Vcc) von dem Kondensator 313 in dem Bodendetektor 31 sein.

(2) Theorie

In Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung wird die Theorie zum Unterscheiden von optischen Platten, die unterschiedliche Informationsspurdichten in einer radialen Richtung der Platten aufweisen, auf Grundlage der Auslesesignale RF nachstehend unter Bezugnahme auf die Fig. 4 bis 6 erläutert.
Die Fig. 4(a) zeigt einen Zustand, bei dem der Lichtstrahl 6 auf einer einzelnen Informationsspur 3 entlang seiner longitudinalen (tangentialen) Richtung bewegt wird. Fig. 4(b) ist eine Darstellung, die Änderungen in dem Auslesesignal RF bezüglich der Zeit während einer Bewegung des Lichtstrahls 6 darstellt. Wenn der Lichtstrahl 6 auf einem Graben 31 positioniert ist, der die Informationsspur 3 bildet (zum Beispiel auf dem A Gebiet in Fig. 4(b)) nimmt die Größe eines Lichts, das von der optischen Platte 1 reflektiert wird, ab, weil der Lichtstrahl 6 von dem Graben 31 gebeugt wird, und somit sinkt der Pegel des Auslesesignals RF ab. Wenn andererseits der Lichtstrahl 6 zwischen zwei Gräben 31 positioniert wird (zum Beispiel in dem B Gebiet in Fig. 4(b)), nimmt die Größe des Lichts, das von der optische Platte 1 reflektiert wird, zu, weil eine Beugung des Lichtstrahls 6 schwierig ist, und deshalb wird der Pegel des Auslesesignals RF höher. Insbesondere dann, wenn das Intervall zwischen zwei Gräben 31 länger als ein Wert ist, der ungefähr der gleiche wie der Durchmesser des Lichtstrahls 6 ist, ist die Größe von reflektiertem Licht nahezu ein Wert, der erhalten wird, wenn der Lichtstrahl 6 von einer fast flachen Oberfläche reflektiert wird.
Die Amplitude des Auslesesignals RF, die der Menge des reflektierten Lichts entspricht, ist die Differenz zwischen dem hohen Pegel und dem niedrigen Pegel. Wie in Fig. 4(b) dargestellt, nimmt die Amplitude ab, wenn der Lichtstrahl 6 auf der Mitte der Informationsspur 3 positioniert ist. Wenn der Lichtstrahl 6 andererseits von der Mitte der Informationsspur 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1 versetzt ist, d. h. wenn das Verhältnis eines Gebiets der Informationsspur 3, das mit dem Lichtstrahl 6 bestrahlt wird, zu dem Gesamtgebiet, das mit dem Lichtstrahl 6 bestrahlt wird, abnimmt, nimmt der Kontrast in der Menge des reflektierten Lichts, die sich in Abhängigkeit davon verändert, ob der Lichtstrahl 6 von dem Graben 31 gebeugt wird oder nicht, ab, was zu einer Abnahme in der Amplitude des Auslesesignals RF führt.
Die Fig. 5(a) bis 5(c) und die Fig. 6(a) bis 6(c) sind vergrößerte Erläuterungsansichten, die andere Zustände darstellen, in denen der Lichtstrahl 6 auf die optische Platte 1 angebracht wird. Die Fig. 5(b) und 6(b) zeigen Änderungen in dem Auslesesignal RF (die beobachtet werden, wenn der Lichtstrahl 6 die Informationsspur 3 kreuzt) in Übereinstimmung mit der Position des Lichtstrahls 6 relativ zu der Informationsspur 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1. Die Fig. 5(c) und 6(c) zeigen Änderungen in dem Amplitudenanzeigesignal RFAMP in Übereinstimmung mit der Position des Lichtstrahls 6 relativ zu der Informationsspur 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1. Die Fig. 5(a) und 6(a) sind Darstellungen, die die relative Positionsbeziehung zwischen dem Lichtstrahl 6 und der optischen Platte 1 zeigen. Die Fig. 5(a) bis 5(c) zeigen deren Beziehung, wenn die Dichte der Informationsspuren 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1 gering ist. Die Fig. 6(a) bis 6(c) zeigen deren Beziehung, wenn die Dichte hoch ist.
Wie voranstehend unter Bezugnahme auf Fig. 4(a) und 4(b) erläutert, wird die Amplitude des Auslesesignals RF mit einer Abnahme in dem Verhältnis eines Gebiets der Informationsspur 3, das mit dem Lichtstrahl 6 bestrahlt wird, zu dem Gesamtgebiet, das mit dem Lichtstrahl 6 bestrahlt wird, kleiner, wird aber mit einer Erhöhung in dem Verhältnis höher. Für den Fall, wenn der Lichtstrahl 6 relativ zu der Informationsspur 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1 bewegt wird, nimmt demzufolge die Amplitude des Auslesesignals RF zu der Zeit, wenn der Lichtstrahl 6 unmittelbar über der Informationsspur 3 positioniert ist, zu, während die Amplitude des Auslesesignals RF zu der Zeit, wenn der Lichtstrahl 6 zwischen zwei benachbarten Informationsspuren 3 positioniert ist, abnimmt. Somit tritt eine Erhöhung und Verkleinerung in der Amplitude wiederholt auf.
In dem Zustand, der in Fig. 5(a) gezeigt ist, bei dem die Dichte der Informationsspuren 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1 gering ist, ist deshalb das Verhältnis eines Gebiets der Informationsspur 3, die mit dem Lichtstrahl 6 bestrahlt wird, zu dem Gesamtgebiet, das mit dem Lichtstrahl 6 bestrahlt wird, sehr gering, wenn der Lichtstrahl 6 zwischen zwei benachbarten Informationsspuren 3 positioniert ist. Somit ist die Amplitude des Auslesesignals RF extrem gering, wenn der Lichtstrahl 6 an einer derartigen Position angeordnet ist. Demzufolge wird die Änderung in der Amplitude des Auslesesignals RF, wenn der Lichtstrahl 6 relativ zu der Informationsspur 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1 bewegt wird, größer. Infolgedessen erscheint eine Erhöhung und Verkleinerung in der Amplitude des Auslesesignals RF deutlich und Veränderungen in dem Amplitudenanzeigesignal, die die Erhöhung und Verkleinerung der Amplitude des Auslesesignals RF darstellen, werden ebenfalls deutlich aufgezeigt.
Andererseits ist in dem Zustand, der in Fig. 6(a) gezeigt ist, bei dem die Dichte der Informationsspuren 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte hoch ist, sogar dann, wenn der Lichtstrahl 6 zwischen zwei benachbarten Informationsspuren 3 positioniert ist, das Verhältnis eines Gebiets der Informationsspur 3, das mit dem Lichtstrahl 6 bestrahlt wird, zu dem Gesamtgebiet, das von dem Lichtstrahl 6 bestrahlt wird, nicht so klein wie dasjenige, das in Fig. 5(a) gezeigt ist. Somit nimmt die Amplitude des Auslesesignals RF nicht so stark ab, wenn der Lichtstrahl 6 an einer derartigen Position angeordnet ist. Deshalb ist die Änderung in der Amplitude, wenn der Lichtstrahl 6 relativ zu der Informationsspur 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1 bewegt wird, nicht so groß. Infolgedessen neigen Veränderungen in dem Amplitudenanzeigesignal RFAMP im Vergleich mit denjenigen, die in Fig. 5(c) gezeigt sind, dazu, weniger deutlich zu sein.
Somit ist es möglich, verschiedene Typen von optischen Platten, deren Informationsspurdichten sich in der radialen Richtung der Platte voneinander unterscheiden, durch Beobachten ihrer Amplitudenanzeigesignale RFAMP zu unterscheiden.
Für den Fall, dass der Lichtstrahl 6 zwischen zwei Informationsspuren 3 positioniert ist, wird abgesehen davon der Lichtstrahl 6 zu einem gewissen Ausmaß von den Gräben auf den Informationsspuren 3 auf der rechten und linken Seite des Lichtstrahls 6 gebeugt. Jedoch gibt es eine Möglichkeit, dass keine Gräben in beiden Informationsspuren 3 auf den rechten und linken Seiten des Lichtstrahls 6 existieren und ein Moment, bei dem der Lichtstrahl kaum gebeugt werden kann, existiert in Abhängigkeit von den Inhalten der aufgezeichneten Information. In diesem Fall ist die Menge des Lichtstrahls 6, genauso wie bei dem voranstehend erwähnten Fall, bei dem der Lichtstrahl 6 zwischen zwei Gräben positioniert ist, die die Informationsspur 3 bilden, wie in Fig. 4(a), äquivalent zu der Menge des Lichtstrahls 6, der auf einen fast flachen Abschnitt der optischen Platte 1 angewendet wird, und die Menge des reflektierten Lichts ist groß. Somit ist der maximale Wert im wesentlichen unabhängig davon, ob der Lichtstrahl 6 auf der Informationsspur 3 oder zwischen den Informationsspuren 3 positioniert ist, im wesentlichen gleichförmig. Der maximale Pegel des Auslesesignals RF wird in der voranstehend beschriebenen Weise bestimmt.
Insbesondere in einer optischen Platte mit einer einzelnen Energieversorgung, wegen eines internen Schaltungsaufbaus einer integrierten Schaltung, ist es nebenbei gesagt oft wünschenswert, dass die DC (Gleichstrom)-Komponente durch eine AC Kopplung des Auslesesignals RF vorübergehend abgeschnitten oder gesperrt wird, um so ein AC Signal um eine neue DC Spannung herum zu erzeugen. Durch Führen des Auslesesignals RF durch ein Hochpassfilter 40, das durch einen Kondensator 401 und einen Widerstand 402 gebildet wird, die in Fig. 7 gezeigt sind, wird der Ausgang, ein Signal RF', dass sich um eine Referenzspannung Vref unabhängig von der DC Komponente des ursprünglichen Signals RF herum verändert. Wenn das Auslesesignal RF, das erzeugt wird, wenn der Lichtstrahl 6 die Informationsspur 3 kreuzt, einem derartigen Hochpassfilter 40 eingegeben wird, kann das Signal RF', das von dem Hochpassfilter 40 ausgegeben wird, eine Wellenform aufweisen, die eine Pulsierung oder Verschiebungen in dem Pegel des ursprünglichen RF aufzeigt, wie in Fig. 8(b) gezeigt. In dem Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitt 10 dieser Ausführungsform, der obere und untere Umhüllenden erfasst und ein Amplitudenanzeigesignal auf Grundlage der Differenz zwischen den erfassten Werten erzeugt, ist es andererseits möglich, ein Signal zu erzeugen, dass die Amplitude des Auslesesignals RF (oder RF') genau anzeigt, ohne von einer derartigen Pulsierung oder von Verschiebungen beeinflusst zu werden. Somit kann das Auslesesignal RF, das dem Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitt 10 eingegeben werden soll, ein Signal, das eine DC Komponente beibehält, oder ein Signal nach einer AC Kopplung sein, wodurch eine hohe Flexibilität bei der Auslegung der Schaltung sichergestellt wird. Für Vergleichszwecke ist ein Auslesesignal RF, das eine DC Komponente beibehält, in Fig. 8(a) gezeigt.

(3) Betrieb

Bezugnehmend nun auf Fig. 1 wird die folgende Beschreibung dem Betrieb einer Einrichtung für optische Platten diese Ausführungsform erläutern.
Die Steuereinrichtung 12 gibt Befehle, so dass der Spindelmotor 9 zur Drehung bei einer spezifizierten Drehgeschwindigkeit gestartet wird, der optische Aufnehmer 4 den Lichtstrahl 6 emittiert und der Servosteuerabschnitt 7 eine Fokusservosteuerung startet, um den Brennpunkt des fokussierten Lichtstrahls 6 zu steuern, um auf der Informationsaufzeichnungsseite der optischen Platte 1 zu sein.
Da die Drehachse der optischen Platte 1 und die Mitte der konzentrischen oder spiralförmigen Informationsspuren 3 gewöhnlicher Weise nicht miteinander übereinstimmen, sogar dann, wenn der optische Aufnehmer 4 die Position des Lichtstrahls 6 nicht bewegt, durchkreuzt der Lichtstrahl 6 die Informationsspuren 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1 mit einer Drehung der optischen Platte 1. Infolgedessen, wie unter Bezugnahme auf die Fig. 4 bis 6 erläutert, wird die Amplitude des Auslesesignals RF erhöht und verkleinert und das Amplitudenanzeigesignal RFAMP als der Ausgang des Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitts 10, der in Fig. 2 gezeigt ist, verändert sich in Übereinstimmung mit der Erhöhung und Verkleinerung in der Amplitude des Auslesesignals RF.
Der Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 (siehe Fig. 3) beobachtet das Amplitudenanzeigesignal RFAMP. Wie unter Bezugnahme auf die Fig. 5(a), (b), (c) und den Fig. 6(a), (b), (c) erläutert, ist die Veränderung in dem Amplitudenanzeigesignal RFAMP groß, wenn der Spurabstand groß ist, d. h. wenn die Dichte der Informationsspuren 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1 gering ist, und die Differenz zwischen dem maximalen Wert und dem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals RFAMP ist groß. Deshalb wird die Differenz zwischen dem maximalen Wert und dem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals RFAMP berechnet (Vamp, gezeigt in Fig. 3). Wenn die Differenz einen vorgegebenen Pegel überschreitet (die Spannung der Vergleichspannungsquelle 34, die in Fig. 3 gezeigt ist), wird beurteilt, dass die optische Platte einen großen Spurabstand aufweist, d. h. eine geringe Dichte von Informationsspuren in der radialen Richtung. Wenn die Differenz zwischen dem maximalen Wert und dem minimalen Wert nicht größer als der vorgegebene Pegel ist, wird demgegenüber beurteilt, dass die optische Platte einen geringen Spurabstand aufweist, d. h. eine hohe Dichte von Informationsspuren in der radialen Richtung. Dann wird ein Identifikationsergebnissignal DTYPE an die Steuereinrichtung 12 gesendet. Die Zeit, die für eine Identifikation benötigt wird, ist ungefähr eine Zeit, die der Lichtstrahl 6 zum Durchqueren von mehreren Informationsspuren 3 benötigt, und ist insbesondere eine sehr kurze Zeit im Bereich von mehreren ms bis mehreren 10 ms.
Die Spannung der Vergleichspannungsquelle 34, die in Fig. 3 gezeigt ist, wird in Übereinstimmung mit den Typen von zu identifizierenden Platten bestimmt. Durch Einstellen der Spannung auf mehrere Pegel ist es möglich, wenigstens drei Typen von Platten zu identifizieren. Ferner wird die Spannung der Vergleichspannungsquelle 34 in Übereinstimmung mit Änderungen in Bedingungen, wie der Menge des Lichts des Lichtstrahls 6 wie voranstehend erwähnt, variabel gemacht.
Wenn der identifizierte Wert der Drehgeschwindigkeit, der beim Starten des Spindelmotors 9 gegeben wird, ungeeignet ist, gibt die Steuereinrichtung 12 einen neuen Befehl aus, um die Drehgeschwindigkeit in Übereinstimmung mit dem Identifikationsergebnissignal DTYPE zu steuern. Um eine verbesserte Signalwiedergabe und verbesserte Servosteuercharakteristiken zu erreichen, wenn erforderlich, weist die Steuereinrichtung 12 den Servosteuerabschnitt 7, den Auslesesignal-Verarbeitungsabschnitt 8, den optischen Aufnehmer 4 etc. ferner an, die Schaltungscharakteristiken und das optische System innerhalb des optischen Aufnehmers 4 umzuschalten. Wenn die Charakteristiken des Servosteuerabschnitts 7 umgeschaltet werden, dann unterbricht die Steuereinrichtung 12 alternativ die Fokusservosteuerung vorübergehend und führt eine Steuerung aus, um die Fokusservosteuerung nach Umschalten der Charakteristiken des Servosteuerabschnitts 7, wenn erforderlich, wiederaufzunehmen. Danach steuert die Steuereinrichtung 12 den Servosteuerabschnitt 7, um eine Nachführungsservosteuerung für eine Wiedergabe der Information zu starten.
Die Identifikation der Typen von optischen Platten oder von sämtlichen oder fast sämtlichen Betriebsvorgängen zum Umschalten der Charakteristiken der jeweiligen Abschnitte der Einrichtung in Übereinstimmung mit der Identifikation kann gleichzeitig innerhalb einer Zeit (gewöhnlicher Weise im Bereich von ungefähr mehreren 100 Millisekunden bis ungefähr mehreren Sekunden), die die optische Platte 1 benötigt, um eine stetige Drehgeschwindigkeit zu erreichen, d. h. eine Drehgeschwindigkeit, die benötigt wird, um aufgezeichnete Information normal wiederzugeben, nach Senden des Startdrehungsbefehls an den Spindelmotor 9 ausgeführt werden. Es ist besonders wichtig, dass die Identifikation des Typs der optischen Platte 1 gestartet werden kann, wenn die Fokusservosteuerung gestartet wird. Es ist nämlich möglich, die Identifikation des Typs der optischen Platte 1 sogar dann zu starten, wenn der Spindelmotor 9 und die optische Platte 1 eine vorgegebene Drehgeschwindigkeit nicht erreichen und eine Nachführungsservosteuerung nicht ausgeführt wird. Für die Identifikation, wie voranstehend beschrieben, wird nur eine kurze Zeit benötigt, die ungefähr eine Zeit ist, die benö tigt wird, damit mehrere nicht identifizierte Informationsspuren 3 relativ zu dem Lichtstrahl 6 versetzt werden.
Demzufolge ist es möglich, die Notwendigkeit einer Umschaltung der Einstellungen und Charakteristiken der jeweiligen Abschnitte der Einrichtung und die Notwendigkeit zum Ändern der Drehgeschwindigkeit des Spindelmotors 9 bei einer frühen Stufe zu bestimmen und dann können die entsprechenden Betriebsvorgänge ausgeführt werden. Infolgedessen kann die gesamte Zeit, die zum Starten der Einrichtung für optische Platten benötigt wird, im Vergleich mit einer herkömmlichen Einrichtung verkürzt werden.
Wenn der voranstehend erwähnte Betrieb in Übereinstimmung mit dem herkömmlichen Verfahren ausgeführt werden soll, das in der japanischen offengelegten Veröffentlichung (Tokukaihei) Nr. 3-207056 offenbart ist, ist es erforderlich, die Drehgeschwindigkeit der optischen Platte 1 zu steuern, um ein vorgegebener Wert zu sein, eine Fokusservosteuerung und eine Nachführungsservosteuerung auszuführen und den Lichtstrahl 6 an eine Informationsspur zu bewegen, auf der eine spezifische Information aufgezeichnet ist, um so die auf einer spezifischen Position der optischen Platte 1 aufgezeichnete Information auszulesen. In diesem Verfahren kann der Typ der optischen Platte 1 schließlich zu der Zeit identifiziert werden, zu der die spezifische Information ausgelesen worden ist. Zu dieser Zeit werden die Charakteristiken und Betriebsvorgänge der jeweiligen Abschnitte umgeschaltet und ein neuer Drehgeschwindigkeitsbefehl wird an den Spindelmotor 9 gegeben. Da eine normale Wiedergabe von Information gestartet wird, nachdem die optische Platte 1 die neu identifizierte Drehgeschwindigkeit erreicht, wird die gesamte Startzeit der Einrichtung für optische Platten stark erhöht.

[Ausführungsform 2]

Die zweite Ausführungsform der vorliegenden Erfindung unterscheidet sich von der ersten Ausführungsform in dem Aufbau und dem Betrieb des Plattentyp-Identifizierungsabschnitts 11. Hier werden nur die Unterschiede zwischen den ersten und zweiten Ausführungsformen erläutert und Erläuterungen für die gleichen Aufbauten und Betriebsvorgänge werden weggelassen.
Fig. 9 zeigt den Aufbau des Plattentyp-Identifizierungsabschnitts 11 der zweiten Ausführungsform. Der Spitzendetektor 30 und der Bodendetektor 31 sind jeweils die gleichen wie bei der in Fig. 3 gezeigten ersten Ausführungsform im Hinblick auf ihren inneren Aufbau und die Fähigkeit, den maximalen Wert Vpeak und den minimalen Wert Vbottom des eingegebenen Amplitudenanzeigesignals RFAMP zu erfassen.
Ein Teiler 35 gibt das Ergebnis einer Teilung von Vpeak durch Vbottom, d. h. das Verhältnis Vquot zwischen Vpeak und Vbottom, aus.
Der Vergleicher 33 (die Verhältnisvergleichseinrichtung) vergleicht die Spannung der Vergleichspannungsquelle 34 und das Verhältnis Vquot zwischen dem maximalen Wert und dem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals RFAMP, das von dem Teiler 35 gegeben wird, und gibt das Identifikationsergebnissignal DTYPE aus, das anzeigt, ob das Verhältnis Vquot größer oder kleiner als die Spannung ist.
Um einen Einfluss auf die Plattentyp-Identifikation als Folge der Änderung in der Größe des Lichtstrahls 6, der auf die optische Platte 1 von dem optischen Aufnehmer 4 angebracht wird, und der Änderung in dem Reflektionsvermögen der optischen Platte 1 zu unterdrücken, berechnet der Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 der zweiten Ausführungsform das Verhältnis zwischen dem maximalen Wert Vpeak und dem minimalen Wert Vbottom des Amplitudenanzeigesignals RFAMP durch Teilen von Vpeak durch Vbottom.
Da der maximale Wert Vpeak und der minimale Wert Vbottom des Amplitudenanzeigesignals RFAMP die Amplitude des Auslesesignals RF anzeigt, wenn der Lichtstrahl 6 auf der Informationsspur 3 und zwischen zwei benachbarten Informationsspuren 3 positioniert ist, können sie wie folgt geschrieben werden:
Vpeak = k·p·r·m ...(1),
Vbottom = k·p·r·m·d ...(2),
wobei k eine Konstante ist, die die Empfindlichkeit und die Verstärkung jeweils des optischen Systems des optischen Aufnehmers 4 und des Schaltungssystems zum Erzeugen des Auslesesignals RF enthält,
p die Größe des Lichtstrahls 6, der auf die optische Platte 1 von dem optischen Aufnehmer 4 angebracht wird, ist,
r das Reflektionsvermögen (0< r ≤ 1) an dem flachen Abschnitt der optischen Platte 1 ist,
m der Modulationsfaktor des Auslesesignals RF ist, wenn der Lichtstrahl 6 auf der Informationsspur 3 positioniert ist (das Verhältnis der Amplitude des Auslesesignals RF zu der Größe eines Lichts an dem flachen Abschnitt: 0 < m ≤ 1), und
d das Verhältnis zwischen einem Modulationsfaktor des Auslesesignals RF, wenn der Lichtstrahl 6 zwischen zwei benachbarten Informationsspuren 3 positioniert ist, und einem Modulationsfaktor des Auslesesignals RF, wenn der Lichtstrahl 6 auf der Informationsspur 3 positioniert ist (0 < d < 1), ist.
Die Beziehungen zwischen den Gleichungen (1), (2) und den Signalen RF, RFAMP sind in den Fig. 10(a) und 10(b) gezeigt. Um die Erläutetung zu vereinfachen, werden in den Gleichungen (1), (2) und in den Fig. 10(a) und 10(b) die Verstärkung der Pufferverstärker 301, 311 indem Spitzendetektor 30 und dem Bodendetektor 31 des Plattentyp- Identifizierungsabschnitts 11, der in Fig. 9 gezeigt ist, auf 1 eingestellt.
Hierbei wird das Verhältnis Vquot, das das Ergebnis einer Teilung von Vpeak durch Vbottom darstellt, folgendermaßen gegeben:
Vquot = (1/d) ...(3).
Die Gleichung (3) enthält keinerlei Term, der sich auf die Empfindlichkeit und die Charakteristiken des optischen Aufnehmers 4, die Größe des Lichtstrahls 6 oder das Reflektionsvermögen und den Modulationsfaktor der optischen Platte 1 bezieht. Die Gleichung (3) enthält nur einen Term d. Wie in der ersten Ausführungsform unter Bezugnahme auf die Fig. 4(a), (b) bis 6(a), (b), (c) erläutert, kann man sagen, dass es möglich ist, nur die Information, die sich auf den Spurabstand bezieht, durch eine Teilung zu extrahieren, da sich dieser Term auf den Spurabstand der optischen Platte 1, d. h. die Dichte der Informationsspuren 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1, bezieht. Demzufolge ist es in der zweiten Ausführungsform möglich, genauer optische Platten mit unterschiedlichen Spurabständen zu unterscheiden. Um in der ersten Ausführungsform optische Platten mit unterschiedlichen Spurabständen zu unterscheiden, wird Vamp, die die Differenz zwischen Vpeak und Vbottom darstellt, berechnet, anstelle dass Vpeak durch Vbottom geteilt wird. Da jedoch, wie mit der Gleichung (4) nachstehend gezeigt, Vamp die voranstehend erwähnten verschiedenen Terme außer d enthält, wird Vamp stark beeinflusst, wenn sich diese charakteristischen Terme verändern. Es ist deshalb schwierig, die Typen der optischen Platten zu identifizieren.
Vamp = Vpeak - Vbottom = k·p·r·m - k·p·r·m·d = k·p·rm·(1-d) ...(4)
In dem Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 der ersten Ausführungsform wird die Spannung der Vergleichsspannungsquelle 34 vorzugsweise variabel gemacht, um so die Veränderungen in den charakteristischen Termen zu erfüllen.
Jedoch extrahiert der Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 der zweiten Ausführungsform nur den Term, der sich auf den Spurabstand der Informationsspuren 3 auf der optischen Platte 1 in Theorie bezieht, und wird von den Veränderungen in den anderen verschiedenen Termen nicht beeinflusst. Somit kann die Spannung der Vergleichsspannungsquelle 34 auf einen festen Wert gesetzt werden. Sogar dann, wenn die Spannung variabel ist, ergibt sich natürlich kein Problem, weil die Genauigkeit und Präzision einer Identifikation beispielsweise dadurch verbessert werden kann, dass eine Feineinstellung der Spannung durchgeführt wird. Abgesehen davon wird diese Spannung in Übereinstimmung mit dem Typ einer zu identifizierenden optischen Platte bestimmt. Wenn die Spannung auf eine Vielzahl von Werten gesetzt wird, ist es möglich, mehr als zwei Typen von optischen Platten zu identifizieren.
Alternativ ist es möglich, Vquot' durch Teilen von Tbottom durch Vpeak zu erhalten, wie mit Gleichung (5) ausgedrückt, anstelle dass Vpeak durch Vbottom geteilt wird.
Vquot' = d ...(5)
Jedoch erscheint die Differenz zwischen Vquot' und Vquot in der Differenz in der Empfindlichkeit beim Identifizieren der Typen von optischen Platten. Um die Differenz zu bestätigen, wenn Vquot, gegeben mit der Gleichung (3), und Vquot' der Gleichung (5) jeweils nach d differenziert werden, wird die Änderungsrate bezüglich einer Änderung von D mit der Gleichung (6) oder (7) gegeben.
∂ (Vquot)/∂d = -(1/d_) ...(6)
∂ (Vquot')/∂d = 1 ...(7)
Wenn hierbei (0 < d < 1) berücksichtigt wird, ist der absolute Wert in der Gleichung (6) größer als der absolute Wert in der Gleichung (7). Mit anderen Worten, wenn der Spurabstand der Informationsspuren 3 sich geringfügig verändert, zeigt Vquot eine größere Änderung als Vquot'. Wenn das Verhältnis zwischen dem maximalen Wert Vpeak und dem minimalen Wert Vbottom des Amplitudenanzeigesignals RFAMP berechnet wird, wird deshalb bevorzugt, Vpeak durch Vbottom zu teilen, weil eine Teilung Vpeak durch Vbottom eine höhere Empfindlichkeit bei der Identifikation erreicht und optische Platten mit unterschiedlichen Spurabständen genauer unterscheidet als eine Teilung Vbottom durch Vpeak.

[Ausführungsform 3]

Die dritte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung unterscheidet sich von der zweiten Ausführungsform in dem Aufbau des Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11. Hier werden nur die Unterschiede erläutert und Erläuterungen für die gleichen Aufbauten wie in den ersten und zweiten Ausführungsformen werden weggelassen.
Der Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 der zweiten Ausführungsform unterscheidet optische Platten 1, deren Spurabstand der Informationsspuren 2 sich voneinander unterscheiden, indem das Amplitudenanzeigesignals RFAMP hauptsächlich in analogen Schaltungen, wie dem Spitzendetektor, dem Bodendetektor und dem Teiler, verarbeitet wird. Demgegenüber führt der Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 der dritten Ausführungsform einen ähnlichen Betrieb aus, indem das Amplitudenanzeigesignals RFAMP durch einen A/D-Wandler in einen digitalen Datenwert umgewandelt wird und der digitale Datenwert bzw. die digitalen Daten in einem Mikrocomputer digital verarbeitet werden. Diese Verarbeitung kann mit einem Programmausgeführt werden, das auf einem Aufzeichnungsmedium wie einer optischen Platte aufgezeichnet ist.
Fig. 11 zeigt den Aufbau des Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 der dritten Ausführungsform. Ein A/D-Wandler 36 wandelt das eingegebene Amplitudenanzeigesignals RFAMP in digitale Daten um. Ein Mikrocomputer 37 liest die digitalen Daten des RFAMP-Ausgangs von dem A/D-Wandler 36, führt eine Verarbeitung auf Grundlage von Software, die nachstehend noch beschrieben wird, zum Identifizieren des Typs der optischen Platte aus, und gibt das Identifikationsergebnissignal DTYPE aus.
Der Mikrocomputer 37 führt eine Verarbeitung auf Grundlage einer Software wie folgt aus.
(1) Holen der digitalen Daten des Amplitudenanzeigesignals RFAMP aus dem A/D-Wandler 36 für eine Periode zwischen mehreren ms und mehreren zehn ms und Extrahieren des maximalen Werts und des minimalen Werts davon;
(2) Teilen des maximalen Werts der geholten digitalen Daten durch den minimalen Wert; und
(3) Vergleichen des Teilungsergebnisses mit einem vorgegebenen Referenzwert und Ausgeben des Identifikationsergebnissignal DTYPE, das anzeigt, ob das Teilungsergebnis größer oder kleiner als der Referenzwert ist.
In dem Verarbeitungsschritt (1) werden die digitalen Daten aus dem A/D-Wandler 36 in einer Periode zwischen mehreren ms und mehreren zehn ms ausgelesen. In dieser Periode überquert der Lichtstrahl 6 gewöhnlicherweise wenigstens mehrere Informationsspuren 3 auf der optischen Platte 1. Wenn der maximale Wert und der minimale Wert der digitalen Daten in dieser Periode extrahiert werden, ist es deshalb möglich, das Ergebnis zu erhalten, welches äquivalent zu dem Ergebnis ist, das durch Erfassen des maximalen Werts und des minimalen Werts von RFAMP von dem Spitzendetektor 30 und dem Bodendetektor 31 in der zweiten Ausführungsform erhalten wird.
Als nächste wird im Schritt (2) eine Teilung wie diejenige, die von dem Teiler 35 ausgeführt wird, ausgeführt. Schließlich werden im Schritt (3) das Ergebnis des Schritts (2) und die Spannung der Vergleichsspannungsquelle 34 in der gleichen Weise wie im Vergleicher 33 verglichen. Wenn deshalb die Operationen des Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 der zweiten und dritten Ausführungsformen von außen gesehen werden, besteht kein Unterschied zwischen diesen. Somit kann die dritte Ausführungsform die Vorteile des Plattentyp- Identifizierungsabschnitt 11 der zweiten Ausführungsform besitzen.
Da in Übereinstimmung mit dem Aufbau der dritten Ausführungsform der Plattentyp- Identifizierungsabschnitt sämtliche Verarbeitungsschritte auf Grundlage von Software ausführen kann, nachdem das Amplitudenanzeigesignals RFAMP in digitale Daten von dem A/D- Wandler 36 umgewandelt ist, wird keine analoge Schaltung benötigt. Demzufolge weist der Aufbau der dritten Ausführungsform neue Vorteile im Hinblick auf die Stabilität des Betriebs und der Integration der Schaltungen auf. Insbesondere dann, wenn ein Mikrocomputer für die Steuereinrichtung 12 zum Steuern der gesamten Einrichtung verwendet wird, wie in Fig. 1 der ersten Ausführungsform gezeigt, kann der Mikrocomputer 37 des Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 und der A/D-Wandler 36 mit dem Mikrocomputer für die Steuereinrichtung 12 integriert werden. In diesem Fall ist es möglich, weitere Vorteile im Hinblick auf die Kosten, die Schaltungsgröße auf den Platinen etc. zu erzeugen.

[Ausführungsform 4]

Die vierte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung illustriert ein modifiziertes Beispiel des Aufbaus des Amplitudenanzeigesignals RFAMP, der in Fig. 2 der ersten Ausführungsform gezeigt ist. Hier werden nur die Unterschiede zwischen dieser Ausführungsform und den ersten bis dritten Ausführungsformen erläutert und Erläuterungen für die gleichen Aufbauten werden weggelassen.
Der Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitt 10, der in Fig. 2 gezeigt ist, erfasst sowohl die obere Umhüllende als auch die untere Umhüllende eines Auslesesignals RF und erzeugt ein Amplitudenanzeigesignal RFAMP auf Grundlage der Differenz dazwischen. Jedoch ist es möglich, ein Signal zu erzeugen, das die Amplitude des Auslesesignals RF anzeigt, indem der Mittelwert des Auslesesignals RF berechnet wird. Die vierte Ausführungsform verwendet diesen Ansatz, wie nachstehend mit näheren Einzelheiten beschrieben.
Zunächst wird das Auslesesignal RF (welches die ursprüngliche DC-Komponente ohne eine AC-Kopplung beibehält) beschrieben, wenn der Lichtstrahl 6 über die Informationsspur 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1 bewegt wurde. Bezugnehmend auf die Fig. 5 und 6 zeigt die obere Umhüllende nicht eine starke Änderung unabhängig davon, ob der Lichtstrahl 6 auf der Informationsspur 3 oder zwischen den Informationsspuren 3 positioniert ist, und zwar wegen der folgenden Ursache. Wie unter Bezugnahme auf die Fig. 4-6 erläutert, gibt es in jedem der Fälle einen Moment, bei dem Gräben, die die Informationsspur 3 bilden, kaum mit dem Lichtstrahl 6 bestrahlt werden und die Menge bzw. Größe des reflektierten Lichts im wesentlichen gleich zu der Menge bzw. Größe des Lichts, das reflektiert wird, wenn der Lichtstrahl 6 auf einen fast flachen Abschnitt der optischen Platte 1 angewendet wird, wird. Da sich andererseits der Beugungsgrad des Lichtstrahls 6 durch den Graben in Abhängigkeit davon verändert, ob der Lichtstrahl 6 auf der Informationsspur 3 oder zwischen den Informationsspuren 3 positioniert ist, verändert sich die untere Umhüllende in Übereinstimmung mit einer Erhöhung und Verkleinerung in der Größe des reflektierten Lichts.
Als nächstes wird die folgende Beschreibung den Mittelwert des Auslösesignals RF unter Bezugnahme auf die Fig. 12(a) bis 12(c), die Änderungen in dem Auslesesignal RF zeigen, wenn der Lichtstrahl 6 über die Informationsspuren 3 in einer radialen Richtung der optischen Platte 1 bewegt wurde, zeigen. Fig. 12(a) ist eine Darstellung, die die relative Positionsbeziehung zwischen dem Lichtstrahl 6 und der Informationsspur 3 darstellt. Fig. 12(b) ist eine Ansicht, die den Mittelwert des Auslesesignals RF darstellt. Fig. 12(c) ist eine Ansicht, die das Amplitudenanzeigesignal RFAMP erläutert, wenn das Auslesesignal RF durch die Differenz zwischen den maximalen und minimalen Werten und durch den Durchschnitt davon dargestellt wird.
Wie mit der gestrichelten Linie in Fig. 12(b) dargestellt, stellt der Mittelwert den Zwischenwert zwischen der oberen Umhüllenden und der unteren Umhüllenden dar, d. h. einen Pegel, der durch Teilen der oberen Umhüllenden und unteren Umhüllenden durch 2 gegeben ist.
In Fig. 12(b) werden die oberen Umhüllenden und unteren Umhüllenden des Auslesesignals RF mit RFp bzw. RFb bezeichnet. Eine Tiefstellung "1" wird hinzugefügt, wenn der Lichtstrahl 6 auf der Informationsspur 3 positioniert ist, während eine Tiefstellung "2" hinzugefügt wird, wenn der Lichtstrahl 6 zwischen den Informationsspuren 3 positioniert ist. Wenn hierbei die Ergebnisse einer Berechnung eines Amplitudenanzeigesignals auf Grundlage der Differenz zwischen den oberen Umhüllenden und unteren Umhüllenden oder dem Mittelwert des Auslesesignals RF voneinander dadurch unterschieden werden, dass eine Tiefstellung "1" oder "2" an RFAMP(dif) und RFAMP(avg) in Übereinstimmung mit der Position des Lichtstrahls hinzugefügt wird, können die jeweiligen Amplitudenanzeigesignale durch die Gleichungen (8) bis (11) nachstehend gegeben werden.
Wenn der Lichtstrahl 6 auf der Informationsspur 3 positioniert wird, gilt:
RFAMP(dif)&sub1; = RFp&sub1; - RFb&sub1; (8), und
RFAMP(avg)&sub1; = (RFp&sub1; + RFb&sub1;)/2 (9).
Wenn der Lichtstrahl 6 zwischen den Informationsspuren 3 positioniert ist, gilt:
RFAMP(dif)&sub2; = RFp&sub2; - RFb&sub2; (10) und
RFAMP(avg)&sub2; = (RFp&sub2; + RFb&sub2;)/2 (11).
Abgesehen davon wird der p-p Wert der Amplitude des Amplitudenanzeigesignals durch die nachstehenden Gleichungen (12 und (13) gegeben.
Der p-p- Wert der Amplitude (der Änderung) des Amplitudenanzeigesignals wird folgendermaßen gegeben:
RFAMP(dif)p-p = RFAMP(dif)&sub1; - RFAMP(dif)&sub2; = RFp&sub1; - RFb&sub1;) - (RFp&sub2; - RFb&sub2;) ...(12) oder
RFAMP(avg)p-p = RFAMP(avg)&sub1; - RFAMP(avg)&sub2; = (RFp&sub1; + RFb&sub1; - RFp&sub2; - RFb&sub2;)/2 ...(13).
Da hierbei der Pegel der oberen Umhüllenden unabhängig davon, ob der Lichtstrahl 6 auf der Informationsspur 3 oder zwischen den Informationsspuren 3 positioniert ist, fast gleichförmig ist, wenn RFp&sub1; = FPp&sub2; ist, gilt:
RFAMP(dif)p-p = RFb&sub2; - RFb&sub1; ...(14),
und
RFAMP(avg)p-p = (RFb&sub1; - RFb&sub2;)/2 ...(15).
Aus den Gleichungen (14) und (15) lässt sich ersehen, dass im Vergleich mit dem Amplitudenanzeigesignal RFAMP (dif), das aus der Differenz zwischen den oberen Umhüllenden und unteren Umhüllenden des Auslesesignals RF erhalten wird, das Amplitudenanzeigesignals RFAMP (avg), das durch den Mittelwert des Auslesesignals RF erhalten wird, eine Hälfte der Amplitude zeigt und seine Polarität umgedreht ist (siehe Fig. 12(c)). Dies bedeutet, dass der Pegel des Amplitudenanzeigesignals, wenn der Lichtstrahl zwischen den Informationsspuren 3 positioniert wird, in einer umgekehrten Beziehung zu dem Pegel des Amplitudenanzeigesignals ist, wenn der Lichtstrahl 6 auf der Informationsspur 3 positioniert ist, und die Amplitude in dem ersten Fall die Hälfte der Amplitude in dem letzteren Fall ist. Wenn diese Faktoren berücksichtigt werden, ist es möglich, die Typen von optischen Platten mit unterschiedlichen Spurabständen auf Grundlage des Amplitudenanzeigesignals, das aus dem Mittelwert des Auslesesignals RF erhalten wird, zu unterscheiden.
Fig. 13 zeigt den Aufbau des Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitts 10 der vierten Ausführungsform. Um den Mittelwert zu erhalten, wird ein Tiefpassfilter 41 (Mittelwert- Erfassungseinrichtung) durch einen Widerstand 410 und einen Kondensator 411 gebildet. Die Grenzfrequenz des Tiefpassfilters 41, die durch die Zeitkonstanten des Widerstands 410 und des Kondensators 411 bestimmt wird, ist so ausgeführt, dass sie höher als die Wiederholungsfrequenz der Informationsspuren 3 ist, die erwartet wird, wenn der Lichtstrahl 6 über die Informationsspuren 3 bewegt wird, aber niedriger als die Signalfrequenz des Auslesesignals. Für den Fall, wenn die optische Platte 1 mit einer stetigen Drehgeschwindigkeit gedreht wird, beträgt die Signalfrequenz von RF gewöhnlicherweise zwischen mehreren hundert kHz und mehreren MHz. Wenn jedoch die Fokusservosteuerung gestartet wird, um den Typ der optischen Platte 1 zu identifizieren, wenn die Drehung des Spindelmotors 9 zum Zweck einer Verkürzung der Startzeit gedreht wird, dann wird die Drehgeschwindigkeit viel kleiner als der stetige Wert. Da es gewöhnlicherweise ausreichend ist, die Drehgeschwindigkeit so abzuschätzen, dass sie um ungefähr ein Zehntel des stetigen Werts abgesenkt ist, kann die Signalfrequenz des Auslesesignals beim Starten der Drehung des Spindelmotors 9 zwischen mehreren zehn kHz und mehreren hundert kHz abgeschätzt werden. Da im Gegensatz dazu die abgeschätzte Wiederholungsfrequenz der Informationsspuren 3, wenn der Lichtstrahl 6 über die Informationsspuren 3 bewegt wird, gewöhnlicherweise zwischen mehreren hundert Hz und ungefähr mehreren kHz ist, ist es geeignet, die Grenzfrequenz des Tiefpassfilters 41 zwischen ungefähr mehreren hundert kHz und ungefähr mehreren zehn kHz einzustellen.
Da der Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitt der vierten Ausführungsform durch ein einfaches Tiefpassfilter 41 gebildet werden kann, ist es möglich, den Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitt bei geringen Kosten zu konstruieren.
Um die optischen Platten mit unterschiedlichen Spurabständen aus dem Amplitudenanzeigesignal zu unterscheiden, das auf Grundlage des Mittelwerts des Auslesesignals RF erzeugt wird, kann die Differenz zwischen dem Spitzenwert und dem Bodenwert (unteren Wert) des Amplitudenanzeigesignals wie in dem Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 der ersten Ausführungsform erhalten werden, oder das Ergebnis einer Teilung (ein Verhältnis) zwischen dem Spitzenwert und dem Bodenwert kann wie in der zweiten Ausführungsform oder der dritten Ausführungsform erhalten werden.
Die Fig. 14(a) und 14(b) zeigen Änderungen in dem Auslesesignal RF und Änderungen in dem Amplitudenanzeigesignal RFAMP, die jeweils aus dem Mittelwert des Auslesesignals RF erhalten werden, wenn der Lichtstrahl 6 über die Informationsspuren 3 der radialen Richtung der optischen Platte 1 bewegt wurde. In diesen Figuren werden die Definitionen der Buchstaben, die in den Gleichungen (1) und (2) der zweiten Ausführungsform verwendet werden, für eine Anzeige des Pegels und der Amplitude des Signals verwendet.
Bezugnehmend auf die Fig. 14(a) und 14(b) wird Vamp, der die Differenz zwischen dem Spitzenwert Vpeak und dem Bodenwert Vbottom des Amplitudenanzeigesignals RFAMP darstellt, folgendermaßen gegeben:
Vamp = Vpeak - Vbottom = k·p_r{1 - (m·d/2)} - k·p·r{1 - (m·/2)} = k·p_r·m·{1-d}/2 ...(16)
Andererseits wird das Verhältnis Vquot zwischen dem Spitzenwert Vpeak und dem Bodenwert Vbottom des Amplitudenanzeigesignals RFAMP, das durch Teilen von Vpeak durch Vbottom erhalten wird, folgendermaßen geschrieben:
Vquot = Vpeak/Vbottom = [k·p_r{1 - (m·d/2)}]/[k·p·r{1 - (m/2)}] = {1 - (m·d/2)}/{1 - m2)} = (2 - m·d)/(2 - m) ...(17)
Da die Gleichung (16) sämtliche Terme bezüglich der Empfindlichkeit und der Charakteristik des optischen Aufnehmers 4, der Größe des Lichtstrahls 6, und der Reflektivität und des Modulationsfaktors der optischen Platte 1 etc. enthält, lässt sich durch Vergleichen der Gleichung (16) und (17) ersehen, dass der mit der Gleichung (16) gegebene Vamp einfacher von Änderungen in diesen Termen beeinflusst wird als der mit Gleichung (17) gegebene Vquot, der nur die Terme m und d umfasst, die sich auf den Modulationsfaktor der optischen Platte 1 beziehen. Somit wird bevorzugt, den Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 der zweiten Ausführungsform oder der dritten Ausführungsform, der den Spitzenwert VP des Amplitudenanzeigesignals RFAMP durch den Bodenwert Vbottom teilt, zu kombinieren.

[Ausführungsform 5]

Die fünfte Ausführungsform modifiziert den Aufbau des Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitts 10 weiter. Fig. 15 ist ein Blockdiagramm einer Einrichtung für optische Platten der fünften Ausführungsform. Hinsichtlich der Komponenten, die in der ersten bis dritten Ausführungsform erläutert wurden, werden die gleichen Bezugszeichen wie diejenigen, die in den vorangehenden Ausführungsformen verwendet werden, verwendet und Erläuterungen davon werden hier weggelassen.
Die fünfte Ausführungsform wird erläutert, indem angenommen wird, dass der Plattentyp- Identifizierungsabschnitt 11, der in Fig. 15 gezeigt ist, den in Fig. 11 der dritten Ausführungsform erläuterten Aufbau aufweist. Jedoch kann dieser Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 irgendwelche der Aufbauten aufweisen, die in den ersten bis dritten Ausführungsformen beschrieben sind.
Wie nachstehend beschrieben, bestehen die einzigen Unterschiede zwischen Fig. 15 und anderen Ausführungsformen darin, dass ein Steuersignal VAGC neu an den Amplitudensignalanzeigeabschnitt 10 von dem Auslesesignal-Verarbeitungsabschnitt 8 angelegt wird und ein Antwortumschaltsteuersignal TCNG neu an den Auslesesignal-Verarbeitungsabschnitt 8 von der Steuereinrichtung 8 angelegt wird
Wie in der ersten Ausführungsform unter Bezugnahme auf Fig. 1 erläutert, führt der Auslesesignal-Verarbeitungsabschnitt 8 eine automatische Verstärkungssteuerung AGC zum Einstellen der Amplitude des Auslesesignals RF auf einen vorgegebenen Wert und eine Wiedergabe der aufgezeichneten Information durch Demodulieren des Auslesesignals RF aus.
Überdies ist bekannt, dass die automatische Verstärkungssteuerung (AGC) das eingegebene Auslesesignals RF durch Einführen einer kleinen Verstärkung, wenn die Amplitude des RF groß ist, verstärkt oder das eingegebene Auslesesignals RF durch Einführen einer großen Verstärkung, wenn die Amplitude davon kleiner ist, verstärkt und das Ergebnissignal an die nachfolgende Verarbeitungsschaltung ausgibt. Kurz zusammengefasst, die automatische Verstärkungssteuerung erfasst die Amplitude des RF und verwendet ein Signal entsprechend zu der Amplitude für die interne Verstärkungssteuerung. Wenn dieses Signal beobachtet wird, wenn der Lichtstrahl sich gerade über die Informationsspuren bewegt, sollte sich deshalb das Signal in Übereinstimmung mit den Änderungen in der Amplitude des RF während der Bewegung des Lichtstrahls über die Informationsspuren verändern. Deshalb sollten die Typen von optischen Platten mit unterschiedlichen Spurabständen voneinander auf Grundlage des Ausmaßes der Änderungen in der Amplitude unterschieden werden.
Das heißt, in Fig. 15 ist das Signal, das an den Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitt 10 angelegt wird, nicht das Auslesesignal RF, sondern es ist das Signal zum Steuern der Verstärkung in dem Auslesesignal-Verarbeitungsabschnitt 8, d. h. das AGC-Steuersignal VAGC.
Fig. 16 zeigt die Aufbauten des Auslesesignal-Verarbeitungsabschnitt 8 und des Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitts 10. In Fig. 16 sind jedoch nur die Abschnitte des Auslesesignal-Verarbeitungsabschnitts 8, die zum Erläutern der Beziehung mit dem Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitts 10 erforderlich sind, dargestellt. In dem Auslesesignal- Verarbeitungsabschnitt 8 ist ein AGC-Abschnitt 80 zum Ausführen einer AGC-Steuerung für das eingegebene Auslesesignal RF durch einen AGC-Steuersignal-Erzeugungsabschnitt 801 und einen Verstärker 802 mit einer variablen Verstärkung zum Verändern des Verstärkungsgrads des Eingangssignals RF in Übereinstimmung mit dem Wert des AGC-Steuersignals gebildet. Der AGC-Steuersignal-Erzeugungsabschnitt 801 erzeugt ein AGC-Steuersignal VAGC mit einem hohen Pegel, wenn die Amplitude des eingegebenen Auslesesignals RF groß ist, oder erzeugt ein AGC-Steuersignal VAGC mit einem niedrigen Pegel, wenn die Amplitude des eingegebenen Auslesesignals RF klein ist. Ferner führt der Verstärker 802 mit der variablen Verstärkung einen kleinen Verstärkungsgewinn ein, wenn der Pegel von VAGC hoch ist, oder einen hohen Verstärkungsgewinn, wenn der Pegel von VAGC niedrig ist.
Ferner erhält der AGC-Steuersignal-Erzeugungsabschnitt 801 das Antwortumschaltsteuersignal TCNG von der Steuereinrichtung 12, wie nachstehend noch beschrieben wird.
Zudem umfasst der Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitts 10 nur einen Verstärker 50 und verstärkt das AGC-Steuersignal VAGC von dem Auslesesignal-Verarbeitungsabschnitt 8 durch Verwenden des Verstärkers 50 und gibt das Ergebnissignal als das Amplitudenanzeigesignal RFAMP aus. Der Verstärker 50 führt irgendeine Verstärkung ein. Als ein extremes Beispiel, wenn die Verstärkung auf 1 gesetzt ist, ist es möglich, den Verstärker 50 zu entfernen und das VAGC-Signal als das RFAMP-Signal zu verwenden.
Fig. 17(c) zeigt Änderungen in dem AGC-Steuersignal VAGC, das von dem Auslesesignal- Verarbeitungsabschnitt der fünften Ausführungsform ausgegeben wird, wenn der Lichtstrahl über die Informationsspuren 3 bewegt wird. Fig. 17(a) zeigt die relative Positionsbeziehung zwischen dem Lichtstrahl 6 und der Informationsspur 3. Die Fig. 17(b) zeigt Änderungen in dem AGC-Steuersignal VAGC.
Wie in der obigen Erläuterung des AGC-Abschnitts 8 beschrieben, vergrößert und verkleinert sich das VAGC-Signal in Übereinstimmung mit den Änderungen in der Amplitude des RF- Signals. Wenn das VAGC in Übereinstimmung mit einer Notwendigkeit verstärkt wird und als das Amplitudenanzeigesignal RFAMP verwendet wird, ist es deshalb möglich, optische Platten mit unterschiedlichen Spurabständen durch die Anwendung der Einrichtungen und des Verfahrens, das in den ersten bis vierten Ausführungsformen erläutert wurde, zu unterscheiden.
Im allgemeinen absorbiert die AGC-Verarbeitung die Änderungen in der Amplitude des Auslesesignals als Folge der Drehung der optischen Platte, stellt die Amplitude des Auslessignals RF auf eine konstante Amplitude ein und liefert dann das Auslesesignal RF an die nachfolgende Schaltung. Deshalb wird die Antwortgeschwindigkeit der AGC-Verarbeitung gewöhnlicherweise auf einen Wert gesetzt, der ungefähr etliche Faktoren der Drehfrequenz der optischen Platte beträgt, so dass die AGC-Verarbeitung nicht auf Kratzer oder dergleichen. auf der optischen Platte anspricht bzw. reagiert. Mit einer derartigen niedrigen Antwortgeschwindigkeit folgt die VAGC jedoch nicht den Änderungen in der Amplitude des RF- Signals, die auftreten, wenn der Lichtstrahl 6 die Informationsspuren 3 überquert. Deshalb wird das Antwortumschaltsteuersignal TCNG von der Steuereinrichtung 12 auf den AGC- Steuersignal-Erzeugungsabschnitt 801 dieser Ausführungsform so angewendet, dass die Antwortgeschwindigkeit auf eine schnellere Antwortgeschwindigkeit während einer Periode umgeschaltet wird, in der der Lichtstrahl 6 die Informationsspuren 3 überquert, um den Typ der optischen Platte zu identifizieren.
Es gibt eine Möglichkeit dahingehend, dass der Pegel des Auslesesignals RF und der Pegel des AGC-Steuersignals VAGC eine umgekehrte Beziehung aufweisen, und zwar in Abhängigkeit von dem Typ des AGC-Abschnitts 80. Jedoch bedeutet dies für die vorliegende Erfindung keinerlei Probleme, weil sie den Typ einer optischen Platte nur auf Grundlage des Unterschieds zwischen dem Spitzenwert und dem Bodenwert des Amplitudenanzeigesignals RFAMP oder dem Verhältnis zwischen dem Spitzenwert und dem Bodenwert davon identifiziert.
In Übereinstimmung mit dem Aufbau der fünften Ausführungsform wird das AGC- Steuersignal als das Amplitudenanzeigesignal des Auslesesignals RF in der automatischen Verstärkungssteuerungs-(AGC)-Funktion verwendet, die gewöhnlicherweise in dem Auslesesignal-Verarbeitungsabschnitt 8 zum Verarbeiten des Auslesesignals RF in der Einrichtung für optische Platten vorgesehen ist. Demzufolge wird der Aufbau des Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungsabschnitts 10 vereinfacht, wodurch weitere Vorteile im Hinblick auf die Kosten und die Anbringung der Schaltungen erzeugt werden.
Wie in dieser Ausführungsform erläutert, muss das Amplitudenanzeigesignal der vorliegenden Erfindung ein Signal sein, welches sich in Übereinstimmung mit einer Änderung der Amplitude des Auslesesignals verändert, insbesondere ein Signal, welches sich in Übereinstimmung mit einer Änderung der Gesamtmenge des reflektierten Lichts, das von dem optischen Aufnehmer empfangen wird, verändert. Das Amplitudenanzeigesignal der vorliegenden Erfindung ist nämlich nicht notwendigerweise auf das Signal beschränkt, das in den voranstehend erwähnten Ausführungsformen erläutert wurde (das Signal, das durch Erfassen der Amplitude des Auslesesignals erzeugt wird, d. h. das AGC-Steuersignal).

[Ausführungsform 6]

Bezugnehmend auf die Fig. 18-21 wird die folgende Beschreibung die sechste Ausführungsform erläutern.
Wie in der ersten Ausführungsform unter Bezugnahme auf Fig. 1 erläutert, stimmt die Drehachse der optischen Platte 1 und die Mitte der konzentrischen oder spiralförmigen Informationsspuren 3 gewöhnlicherweise nicht miteinander überein. Selbst wenn die Position des Lichtstrahls 6 fest ist, wird deshalb der Lichtstrahl 6 relativ zu der Informationsspur 3 mit einer Drehung der optischen Platte 1 versetzt und überquert die Informationsspur 3. Demzufolge verändert sich die Amplitude des Auslesesignals RF und das Amplitudenanzeigesignal RFAMP. Diese Phänomene werden tatsächlich in fast allen Fällen beobachtet und die jeweiligen Einrichtungen, die in den voranstehend erwähnten Ausführungsformen beschrieben wurden, arbeiten so, um die Aufgabe der vorliegenden Erfindung in Übereinstimmung mit der Tatsache zu erreichen.
Nebenbei erwähnt passiert es oft, obwohl dies sehr selten ist, dass die Abweichung zwischen der Drehachse der optischen Platte 1 und der Mitte der konzentrischen oder spiralförmigen Informationsspuren 3 (d. h. eine sogenannte Exzentrizität der optischen Platte 1) als Folge der Anbringungsbedingung der optischen Platte 1 an dem Spindelmotor 9 sehr klein ist und eine relativ lange Zeit benötigt wird, dass der Lichtstrahl 6 die Informationsspuren 3 durchquert, selbst wenn sich die optische Platte 3 dreht (z. B. kann es einen Fall geben, bei dem der Lichtstrahl 6 eine Zeit zwischen mehreren zehn ms und mehreren hundert ms benötigt, und zwar in Abhängigkeit von der Drehgeschwindigkeit der optischen Platte). In diesem Fall benötigt die Amplitude des Auslesesignals RF und des Amplitudenanzeigesignal RFAMP eine lange Zeit, um ihre Änderungen aufzuzeigen. Demzufolge ist es erforderlich, das RFAMP- Signal über eine lange Zeit zu beobachten, um den Typ der optischen Platte 1 zu identifizieren. Somit gibt es eine Möglichkeit dahingehend, dass die Startzeit der Einrichtung für optische Platten zunimmt.
Alternativ gibt es eine Möglichkeit, dass die Linse 5 zum Fokussieren des Lichtstrahls 6 als Folge einer Störung, eine Vibrierung der Einrichtung etc. vibriert und die relative Geschwindigkeit des Lichtstrahls 6 und der Informationsspur 3 zufällig, in Abhängigkeit von der Vibrierrichtung und der Geschwindigkeit, fast Null wird. In diesem Fall, wegen der gleichen Ursache, wie voranstehend erwähnt, gibt es eine Möglichkeit, dass die Startzeit der Einrichtung für optische Platten zunimmt.
Da in der sechsten Ausführungsform die Linse 4 in eine radiale Richtung der optischen Platte 1 bewegt wird, wenn der Typ der optischen Platte 1 identifiziert wird, sogar dann, wenn die Exzentrizität der optischen Platte 2 extrem klein ist oder sogar dann, wenn die Linse 5 als Folge einer Störung vibriert, wird der Lichtstrahl 6 angeordnet, um mit Sicherheit die Informationsspur 3 zu überqueren.
Fig. 18 zeigt ein Blockdiagramm der Einrichtung für optische Platten dieser Ausführungsform. Das Blockdiagramm ist grundlegend das gleiche wie dasjenige der in Fig. 1 gezeigten ersten Ausführungsform. Abgesehen davon, obwohl der Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 irgendwelche der voranstehend erwähnten Konstruktionen aufweisen kann, wird in der sechsten Ausführungsform angenommen, dass der Plattentyp-Identifizierungsabschnitt 11 den Aufbau aufweist, der in der dritten Ausführungsform erläutert wird, die in Fig. 11 gezeigt ist.
Der wesentliche Unterschied zwischen dem Aufbau der Fig. 18 und anderen Ausführungsformen besteht darin, dass ein Linsenbewegungssignal LMOVE dem Servosteuerabschnitt 7 von der Steuereinrichtung 12 eingegeben wird. Die nachfolgende Beschreibung wird eine Einrichtung für optische Platen mit dem Aufbau, der in Fig. 18 gezeigt ist, erläutern. Jedoch werden die Erläuterungen für die gleichen Aufbauten wie diejenigen der ersten bis fünften Ausführungsformen hier weggelassen.
Wenn in dieser Einrichtung für optische Platten der Typ der optischen Platte 1 identifiziert wird, gibt die Steuereinrichtung 12 das Signal LMOVE aus und der Servosteuerabschnitt 7 bewegt die Linse 5 in eine radiale Richtung der optischen Platte 1 in Übereinstimmung mit dem LMOVE-Signal (Identifikations-Bewegungseinrichtung). Selbst wenn die Exzentrizität der optischen Platte 1 sehr klein ist oder selbst dann, wenn die Linse 5 als Folge einer Störung vibriert, wird deshalb der Lichtstrahl 6 schnell und mit Sicherheit über die Informationsspuren 3 bewegt. Demzufolge verändert sich die Amplitude des Auslesesignals RF und Amplitudenanzeigesignals RFAMP sehr schnell. Es ist somit möglich, den Typ der optischen Platte 1 in einer kurzen Zeit zu identifizieren und eine unnötige Erhöhung in der Startzeit der Einrichtung für optische Platten zu verhindern.
Es ist nicht notwendig, dass die Steuereinrichtung 12 ein gleichförmiges Signal LMOVE ausgibt. Zum Beispiel kann die Steuereinrichtung 12 den Pegel des Signals LMOVE allmählich erhöhen, während das Spurverfolgungsfehlersignal TES oder das Amplitudenanzeigesignal RFAMP beobachtet wird, und dann kann der Servosteuerabschnitt 7 den Betrag erhöhen, um den die Linse 5 in Übereinstimmung mit der Erhöhung in dem Pegel des LMOVE-Signals bewegt wird, so dass eine Ausgabe des Signals LMOVE; d. h. eine Bewegung der Linse 5, zu der Zeit gestoppt wird, wenn der Lichtstrahl 6 eine minimale Anzahl der Informationsspuren 3, die zum Identifizieren des Typs der optischen Platte 1 benötigt werden, durchquert. In diesem Fall wird die Bewegung der Linse 5 auf einen derartigen Betrag begrenzt, dass der Lichtstrahl 6 über die minimale Anzahl der Informationsspuren 3 bewegt wird, um den Typ der optischen Platte 1 zu identifizieren. Deshalb wird die Versetzung der Linse 5 von der ursprünglichen Mittenposition auf einen kleinen Wert begrenzt und die Nachführungsservosteuerung (Ziehen des Servos) wird sanft gestartet nach dem Identifizierungsprozess, wodurch ein weiterer Vorteil erreicht wird.
Als nächstes wird ein Fall beschrieben, bei dem die Linse 5 nicht nur in eine Richtung entlang einer radialen Richtung der optischen Platte 1, sondern auch in beide Richtungen, bewegt wird.
Fig. 19(b) zeigt Änderungen in dem Auslesesignal RF, die durch die Bewegung des Lichtstrahls 6 über die Informationsspuren 3 verursacht werden, wenn die Linse 5 in eine radialen Richtung der optischen Platte 1 bewegt wird. Fig. 19(a) zeigt die Beziehung zwischen den relativen Positionen des Lichtstrahls 6 und der Informationsspur 3. Ferner zeigt Fig. 19(b) Änderungen in dem Auslesesignal RF, entsprechend zur Fig. 19(a).
In Fig. 19(a) sei angenommen, dass die Linse 5 in einer radialen Richtung (eine der Richtungen a und b) der optischen Platte 1 bewegt wird, z. B. in der Richtung a, die in Fig. 19(a) gezeigt ist. Wenn in diesem Fall die Exzentrizität der optischen Platte 1 sehr klein ist, sogar dann, wenn die Linse 5 in einer der Richtungen a und b bewegt wird, wird die relative Geschwindigkeit des Lichtstrahls 6 an der Informationsspur 3 erhöht. Da der Lichtstrahl 6 mit Sicherheit die Informationsspuren 3 überquert, ist es somit möglich, den Typ der optischen Platte 1 unter Verwendung der Technik der vorliegenden Erfindung, die in den voranstehend erwähnten Ausführungsformen beschrieben wurde, schnell zu identifizieren.
Wenn jedoch die Exzentrizität der optischen Platte 1 groß ist, wenn sich die optische Platte 1 dreht, dann bewegen sich die Informationsspuren 3 in beide Richtungen a und b bezüglich des Lichtstrahls 6. Es sei angenommen, dass dann, wenn die Linse 5 in Richtung a bewegt wird, die Informationsspur 3 in der gleichen Richtung bewegt wird und die relative Geschwindigkeit des Lichtstrahls 6 und der Informationsspur 3 ziemlich verkleinert wird. Infolgedessen wird eine längere Zeit benötigt, dass der Lichtstrahl 6 die Informationsspuren 3 überquert, und eine längere Zeit zum Identifizieren des Typs der optischen Platte 1.
Wenn jedoch das Signal LMOVE als ein Signal, das sich in die positive und negative Richtung verändert, an den Servosteuerabschnitt 7 angelegt wird und die Linse 5 sowohl in die Richtung a als auch b bewegt wird, sogar dann, wenn die Exzentrizität der optischen Platte 1 groß ist, ist eine der Richtungen eine Richtung zum Erhöhen der relativen, Geschwindigkeit des Lichtstrahls 6 und der Informationsspur 3. Somit ist es möglich, den Lichtstrahl 6 zum Überqueren der Informationsspuren 3 mit größerer Sicherheit als eine Bewegung der Linse 5 in nur einer der Richtungen zu bewegen, und zwar unabhängig von dem Ausmaß bzw-. Grad der Exzentrizität der optischen Platte 1. Demzufolge ist es möglich, den Typ der optischen Platte 1 mit Sicherheit und schnell zu identifizieren, wodurch ein weiterer Vorteil hervorgebracht wird.
Ferner wird erwogen, die Linse 5 entlang einer radialen Richtung der optischen Platte 1 in beide Richtungen zu bewegen, und zwar über einer gleichförmigen Zeit mit einer gleichförmigen Amplitude. Insbesondere wir bevorzugt, das Signal LMOVE mit der Verwendung eines Signals zu steuern, welches sich in die positiven und negativen Richtungen verändert, um den gleichen Spitzen-zu-Spitzen-Wert und das gleiche Zeitintervall bereitzustellen. Da in diesem Fall, wie in Fig. 20 (a) die Linse, nachdem das Signal LMOVE ausgegeben wird, an die ursprüngliche Position zurückkehrt, d. h. den neutralen Nullpunkt, gibt es einen weiteren Vorteil dahingehend, dass die Nachführungs-Servosteuerung nach Identifizieren des Typs der optischen Platte 1 sanft gestartet wird. Abgesehen davon zeigt Fig. 20(a) die relative Positionsbeziehung zwischen dem Lichtstrahl 6 und der Informationsspur 3 und Fig. 20(b) zeigt Änderungen in dem Auslesesignal RF.
Sogar dann, wenn die Linse 5 einfach nach Bewegen der Linse 5 in einer der Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte 1 angehalten wird, können ferner die gleichen Effekte wie diejenigen, die erhalten werden, wenn die Linse 5 in beide Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte 1 bewegt wird, erhalten werden, und zwar unabhängig von dem mechanischen Aufbau zum Haltern der Linse 5. Die Effekte werden mit näheren Einzelheiten nachstehend erläutert.
Fig. 21 (a) zeigt die relative Positionsbeziehung zwischen dem Lichtstrahl 6 und der Informationsspur 3. Fig. 21 (b) zeigt Änderungen in dem Auslesesignal RF. Wie in den Fig. 21 (a) und 21 (b) dargestellt, haltert der Linsenhalterungsmechanismus des optischen Aufnehmers 4 die Linse 5 an dem neutralen Nullpunkt in einer Nachführungsrichtung (einer radialen Richtung der optischen Platte 1) mit Federn 501. Wenn bei diesem Aufbau die Linse 5 einmal in die Richtung a von dem Signal LMOVE bewegt wird und dann angehalten wird, kehrt die Linse 5 an den ursprünglichen neutralen Nullpunkt durch die Rückführungskraft der Federn 501 (Rückführungseinrichtung) zurück. Die Bewegungsrichtung des Lichtstrahls 6 bezüglich der Informationsspur 3 wird bei dem Prozess einer Bewegung der Linse 5 in der Richtung a und bei dem Prozess einer Bewegung der Linse 5 zurück an den Nullpunkt umgeschaltet. Da bei diesem Aufbau der Lichtstrahl 6 mit Sicherheit die Informationsspuren 3 überquert, ist es möglich, den Typ der optischen Platte 1 schnell zu identifizieren und das Signal zum Bewegen der Linse 5 zu vereinfachen.
(i) Eine Einrichtung für optische Platten der vorliegenden Erfindung ist eine Einrichtung für optische Platten zum Reproduzieren von Information, die auf einer Informationsspur einer optischen Platte aufgezeichnet ist, indem ein optischer Aufnehmer zum Anbringen eines Lichtstrahls auf der Informationsaufzeichnungsseite der optischen Platte 1 verwendet wird, und zum Empfangen von Licht, das von der Informationsaufzeichnungsseite reflektiert Wird, und umfasst eine Identifizierungseinrichtung zum Identifizieren des Typs der optischen Platte auf Grundlage einer Änderung in der Amplitude eines Signals, das sich in Übereinstimmung mit der Gesamtgröße des reflektierten Lichts verändert, das von dem optischen Aufnehmer empfangen wird, wenn der Lichtstrahl relativ zu der Informationsspur in einer radialen Richtung der optischen Platte versetzt wird.
(ii) Eine andere Einrichtung für optische Platten der vorliegenden Erfindung ist eine Einrichtung für optische Platten zur Wiedergabe von Information, die auf einer Informationsspur einer optischen Platte aufgezeichnet ist, als ein Auslesesignal durch Verwenden eines optischen Aufnehmers zum Anbringen eines Lichtstrahls an der Informationsaufzeichnungsseite der optischen Platte und zum Empfangen von Licht, das von der Informationsaufzeichnungsseite reflektiert wird, und umfasst eine Identifizierungseinrichtung zum Identifizieren des Typs der optischen Platte auf Grundlage eines Amplitudenanzeigesignals, welches sich in Übereinstimmung mit einer Änderung in der Amplitude des Auslesesignals verändert, wenn der Lichtstrahl relativ zu der Informationsspur in einer radialen Richtung der optischen Platte versetzt wird.
Mit der Einrichtung für optische Platten (i) oder (ii) ist es möglich, die Typen von optischen Platten, die unterschiedliche Informationsaufzeichnungsdichten aufweisen, an einer frühen Stufe zu identifizieren und die Startzeit der Einrichtung für optische Platten unter Verwendung dieser verschiedenen Typen von optischen Platten stark zu verkürzen.
(iii) Eine Einrichtung für optische Platten auf Grundlage der Einrichtung (ii) für optische Platten, wobei die Identifizierungseinrichtung eine Amplitudenanzeigesignal- Erzeugungseinrichtung zum Erzeugen des Amplitudenanzeigesignals und eine Differenzvergleichseinrichtung zum Vergleichen der Differenz zwischen dem maximalen Wert und dem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals mit einem vorgegebenen Wert umfasst, wird bereitgestellt. Mit diesem Aufbau ist es möglich, die Typen von optischen Platten leicht zu identifizieren.
(iv) Eine Einrichtung für optische Platten auf Grundlage der Einrichtung (ii) für optische Platten wird bereitgestellt, wobei die Identifizierungseinrichtung einer Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinichtung zum Erzeugen des Amplitudenanzeigesignals und eine Verhältnisvergleichseinrichtung zum Vergleichen des Verhältnisses zwischen dem maximalen Wert und dem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals mit einem vorgegebenen Wert umfasst. Da bei diesem Aufbau der Typ einer optischen Platte auf Grundlage des Verhältnisses zwischen dem maximalen Wert und dem minimalen Wert eines Signals (Amplitudenanzeigesignals) zum Identifizieren des Typs einer optischen Plane identifiziert wird, ist es möglich, den Typ der optischen Platte genauer zu identifizieren, indem die Einflüsse der Reflektivität der optischen Platte, der Empfindlichkeit des optischen Aufnehmers, der Veränderung in der Größe des Lichtstrahls, der auf die optische Platte angebracht wird, etc. verringert werden.
(v) Eine Einrichtung für optische Platten auf Grundlage der Einrichtung (iv) für optische Platten wird bereitgestellt, wobei das Verhältnis durch Teilen des maximalen Werts des Amplitudenanzeigesignals durch dessen minimalen Wert erhalten wird. Da bei diesem Aufbau der Typ einer optischen Platte auf Grundlage des Verhältnisses identifiziert wird, das durch Teilen des maximalen Werts des Amplitudenanzeigesignals durch den minimalen Wert berechnet wird, ist es möglich, Veränderungen in dem Spurabstand mit höherer Empfindlichkeit zu erfassen und den Typ der optischen Platte genauer zu identifzieren.
(vi) Eine Einrichtung für optische Platten auf Grundlage irgendeiner der Einrichtungen (ii)- (v) für optische Platten wird bereitgestellt, wobei die Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung eine Umhüllende-Erfassungseinrichtung zum Erfassen einer Umhüllenden des Auslesesignals umfasst und ein Amplitudenanzeigesignal auf Grundlage dieser Umhüllenden erzeugt. Da bei diesem Aufbau ein Signal (Amplitudenanzeigesignal) zum Identifizieren des Typs einer optischen Platte ein Signal ist, welches auf Grundlage der Umhüllenden des Auslesesignals erzeugt wird, selbst wenn ein Signal nach einer AC-Kopplung ohne Beibehalten der Gleichstromkomponente des Auslesesignals verwendet wird, ist es möglich, das Amplitudenanzeigesignal genau zu erzeugen, wodurch die Flexibilität beim Auslegen der Verarbeitungsschaltung des Auslesesignals erhöht wird.
(vii) Eine Einrichtung für optische Platten auf Grundlage irgendeiner der Einrichtungen (ii) (v) für optische Platten wird bereitgestellt, wobei die Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung eine Mittelwert-Erfassungseinrichtung zum Erfassen eines Mittelwerts des Auslesesignals umfasst und das Amplitudenanzeigesignal auf Grundlage des Mittelwerts erzeugt. Da bei diesem Aufbau ein Signal (das Amplitudenanzeigesignal) zum Identifizieren des Typs einer optischen Platte ein Signal ist, welches auf Grundlage des Mittelwerts des Auslesesignals erzeugt wird, ist es möglich, die Schaltung zum Erzeugen des Amplitudenanzeigesignal zu vereinfachen.
(viii) Eine Einrichtung für optische Platten auf Grundlage irgendeiner der Einrichtungen (i)- (vii) für optische Platten wird bereitgestellt, wobei die Identifizierungseinrichtung den Typ einer optischen Platte identifiziert, während der Lichtstrahl an einer Position angehalten wird. Wenn bei diesem Aufbau der Typ der optischen Platte identifiziert wird, ist die Position des Lichtstrahls fest und die Versetzung der relativen Position des Lichtstrahlsund der Informationsspur als Folge der Exzentrizität der optischen Platte wird verwendet. Es ist somit möglich, den Typ der optischen Platte ohne Ausführen eines speziellen Versetzungsbetriebs zu identifizieren und den Aufbau zu vereinfachen.
(ix) Eine Einrichtung für optische Platten auf Grundlage irgendeiner der Einrichtungen (i)- (vii) für optische Platten wird bereitgestellt, wobei die Identifizierungseinrichtung eine Identifizierungs-Bewegungseinrichtung zum Bewegen des Lichtstrahls, um so die Informationsspur der optischen Platte und den Lichtstrahl relativ zu versetzen, umfasst. Da bei diesem Aufbau der Lichtstrahl so bewegt wird, dass die Informationsspur und der Lichtstrahl relativ zueinander beim Identifizieren einer optischen Platte versetzt werden, selbst wenn eine optische Platte mit einer extrem kleinen Exzentrizität geladen ist, überquert der Lichtstrahl mit Sicherheit die Informationsspuren, wodurch der Typ der optischen Platte innerhalb einer kurzen Zeit identifiziert wird.
(x) Eine Einrichtung für optische Platten auf Grundlage der Einrichtung (ix) für optische Platten wird bereitgestellt, wobei die Identifizierungs-Bewegungseinrichtung den Betrag, um den der Lichtstrahl bewegt wird, allmählich erhöht. Da bei diesem Aufbau der Betrag, um den der Lichtstrahl bewegt wird, in Übereinstimmung mit einer Notwendigkeit beim Identifizieren des Typs der optischen Platte allmählich erhöht wird, ist es möglich, die Spurverfolgungsservosteuerung bzw. Nachführungsservosteuerung sanft nach einer Identifkation des Typs der optischen Platte zu starten.
(xi) Eine Einrichtung für optische Platten auf Grundlage der Einrichtung (ix) für optische Platten wird bereitgestellt, wobei die Identifizierungs-Bewegungseinrichtung den Lichtstrahl entlang einer radialen Richtung der optischen Platte in beide Richtungen bewegt. Da bei diesem Aufbau der Lichtstrahl in beide Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte bewegt wird, wenn der Typ der optischen Platte identifiziert wird, überquert der Lichtstrahl mit Sicherheit die Informationsspuren unabhängig von dem Grad der Exzentrizität der optischen Platte, wodurch der Typ der optischen Platte innerhalb einer kurzen Zeit identifiziert wird.
(xii) Eine Einrichtung für optische Platten auf Grundlage der Einrichtung (xi) für optische Platten wird bereitgestellt, wobei die Identifizierungs-Bewegungseinrichtung den Lichtstrahl in beide Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte für eine gleichförmige Zeit mit einer gleichförmigen Amplitude bewegt. Da bei diesem Aufbau der Lichtstrahl in beide Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte für eine gleichförmige Zeit mit einer gleichförmigen Amplitude beim Identifizieren des Typs der optischen Platte bewegt wird, kehrt der Lichtstrahl an die ursprüngliche neutrale Position nach Identifizieren des Typs der optischen Platte zurück. Infolgedessen kann die Spurverfolgungs-Servosteuerung sanft gestartet werden.
(xiii) Eine Einrichtung für optische Platten auf Grundlage der Einrichtung (xi) für optische Platten wird bereitgestellt, wobei der optische Aufnehmer eine Rückführungseinrichtung zum Zurückführen der Position des Lichtstrahls an die neutrale Position nach einer Bewegung umfasst und der Lichtstrahl in beide Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte durch Bewegen des Lichtstrahls in eine der Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte durch die Identifikations-Bewegungseinrichtung und dann durch Rückführen des Lichtstrahls durch die Rückführungseinrichtung bewegt wird. Da bei diesem Aufbau ein Aufbau, der den Lichtstrahl an die neutrale Position zurückführen kann, für den optischen Aufnehmer verwendet wird, wird der Lichtstrahl relativ zu der Informationsspur in beiden Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte bewegt, indem der Lichtstrahl in einer der Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte einfach bewegt wird und dann die Bewegung des Lichtstrahls beim Identifizieren des Typs der optischen Platte angehalten wird, wodurch das Signal zum Bewegen des Lichtstrahls vereinfacht wird.

Claims

1. Einrichtung für optische Platten zum Wiedergeben von Information, die auf einer Informationsspur (3) einer optischen Platte (1) aufgezeichnet ist, als ein Auslesesignal (RF) unter Verwendung eines Aufnehmers (4) zum Anbringen eines Lichtstrahls (6) an einer Informationsaufzeichnungsseite (2) der optischen Platte (1) und Empfangen von Licht, das von der Informationsaufzeichnungsseite (2) reflektiert wird, wobei

die Einrichtung für optische Platten umfasst:

eine Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung (10) zum Erzeugen eines Amplitudenanzeigesignals (RFAMP) zum Unterscheiden des Typs von optischen Platten (1), die unterschiedlichen Informationsspurdichten in einer radialen Richtung der Platten aufweisen, auf Grundlage eines Amplitudenpegels des Auslesesignals (RF), dadurch gekennzeichnet, dass

die Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung (10) zum Erzeugen des Amplitudenanzeigesignals das Auslesesignal (RF) verwendet, das die Größe eines von der Informationsspur (3) reflektierten Lichtstrahls darstellt und sich in seiner Amplitude ändert, wenn der Lichtstrahl (6) relativ zu der Informationsspur (3) in einer radialen Richtung der optischen Platte versetzt wird,

wobei sich das Amplitudenanzeigesignal (RFAMP) in Übereinstimmung mit der Amplitudenänderung des Auslesesignals (RF) ändert, und

die Einrichtung für optische Platten ferner eine Identifizierungseinrichtung (11) zum Identifizieren eines Typs der optischen Platte (1) auf Grundlage der unterschiedlichen Dichten der Informationsspuren (3) in einer radialen Richtung der optischen Platten (1) durch Vergleichen einer Differenz zwischen einem maximalen Wert und einem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals (RFAMP) mit einem vorgegebenen Wert umfasst.

2. Einrichtung für optische Platten zum Wiedergeben von Information, die auf einer Informationsspur (3) einer optischen Platte (1) aufgezeichnet ist, als ein Auslesesignal (RF) unter Verwendung eines Aufnehmers (4) zum Anbringen eines Lichtstrahls (3) an einer Informationsaufzeichnungsseite (2) der optischen Platte (1) und Empfangen von Licht, das von der Informationsaufzeichnungsseite (2) reflektiert wird, wobei die Einrichtung für optische Platten umfasst:

eine Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung (10) zum Erzeugen eines Amplitudenanzeigesignals (RFAMP) zum Unterscheiden des Typs von optischen Platten (1), die unterschiedliche Informationsspurdichten in einer radialen Richtung der Platten aufweisen, auf Grundlage eines Amplitudenpegels des Auslesesignals (RF),

dadurch gekennzeichnet, dass

wobei sich das Amplitudenanzeigesignal (RFAMP) in Abhängigkeit von der Amplitudenänderung des Auslesesignals (RF) verändert; und

die Einrichtung für optische Platten ferner eine Identifizierungseinrichtung (11) zum Identifizieren eines Typs der optischen Platte (1) auf Grundlage der unterschiedlichen Dichten von Informationsspuren (3) in einer radialen Richtung der optischen Platten (1) durch Vergleichen eines Verhältnisses zwischen einem maximalen Wert und einem minimalen Wert des Amplitudenanzeigesignals (RFAMP) mit einem vorgegebenen Wert umfasst.

3. Einrichtung für optische Platten nach Anspruch 2, wobei die Identifizierungseinrichtung (11) eine Teilereinrichtung (35) zum Berechnen des Verhältnisses durch Teilen des maximalen Werts des Amplitudenanzeigesignals (RFAMP) durch den minimalen Wert umfasst.

4. Einrichtung für optische Platten nach Anspruch 2, wobei die Identifizierungseinrichtung (11) umfasst:

einen A/D Wandler (36) zum Umwandeln des Amplitudenanzeigesignals (RFAMP) in einen digitalen Datenwert; und

einen Mikrocomputer (37) zum Extrahieren eines maximalen Werts und eines minimalen Werts aus dem Digitaldatenausgang von dem A/D Wandler (36), Berechnen des Verhältnisses durch Teilen des maximalen Werts durch den minimalen Wert, und Vergleichen des Verhältnisses mit einem vorgegebenen Wert.

5. Einrichtung für optische Platten nach einem der Ansprüche 1-4,

wobei die Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung (10) eine Umhüllende- Erfassungseinrichtung (20, 21) zum Erfassen von Umhüllenden des Auslesesignals (RF) umfasst und das Amplitudenanzeigesignal (RFAMP) auf Grundlage der Umhüllenden erzeugt.

6. Einrichtung für optische Platten nach irgendeinem der Ansprüche 1 bis 4,

wobei die Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung (10) eine Mittelwert- Erfassungseinrichtung (41) zum Erfassen eines Mittelwerts des Auslesesignals (RF) umfasst und das Amplitudenanzeigesignal (RFAMP) auf Grundlage des Mittelwerts erzeugt.

7. Einrichtung für optische Platten nach irgendeinem der Ansprüche 1 bis 6,

wobei die Identifizierungseinrichtung (11) den Typ der optischen Platte (1) in einem Zustand identifiziert, bei dem der Lichtstrahl (6) an einer Position gestoppt wird, ohne in eine radiale Richtung der optischen Platte (1) bewegt zu werden.

8. Einrichtung für optische Platten nach irgendeinem der Ansprüche 1 bis 6,

wobei die Identifizierungseinrichtung (11) eine Identifikations-Bewegungseinrichtung (7) zum Bewegen des Lichtstrahls (6) so, dass die Informationsspur (3) und der Lichtstrahl (6) relativ in einer radialen Richtung der optischen Platte (1) versetzt werden, umfasst.

9. Einrichtung für optische Platten nach Anspruch 8,

wobei die Identifikations-Bewegungseinrichtung (7) einen Betrag, um den der Lichtstrahl (6) bewegt wird, allmählich vergrößert.

10. Einrichtung für optische Platten nach Anspruch 8,

wobei die Identifikations-Bewegungseinrichtung (7) den Lichtstrahl (6) in beide Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte (1) bewegt.

11. Einrichtung für optische Planen nach Anspruch 10,

wobei die Identifikations-Bewegungseinrichtung (7) den Lichtstrahl (6) in beide Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte (1) über eine gleichförmige Zeit mit einer gleichförmigen Amplitude bewegt.

12. Einrichtung für optische Platten nach Anspruch 10,

wobei die Identifikations-Bewegungseinrichtung (7) den Lichtstrahl (6) in einer der Richtungen entlang einer radialen Richtung der optischen Platte (1) bewegt, und

der Aufnehmer (4) eine Rückführungseinrichtung (501) umfasst, um den Lichtstrahl (6) an eine neutrale Position zurückzuführen, nachdem er bewegt worden ist.

13. Einrichtung für optische Platten nach Anspruch 1 oder 2, ferner umfassend eine Steuersignal-Erzeugungseinrichtung (801) für eine automatische Verstärkung zum Erzeugen eines Steuersignals für eine automatische Verstärkung (VAGC), das eine Verstärkung eines Verstärkers (802) mit variabler Verstärkung steuert, um die Amplitude des Auslesesignals (RF) auf eine gleichförmige Amplitude einzustellen, indem eine Änderung in der Amplitude des Auslesesignals (RF) als Folge einer Drehung der optischen Platte (1) absorbiert wird,

wobei die Amplitudenanzeigesignal-Erzeugungseinrichtung (10) einen Verstärker (50) zum Verstärken des Steuersignals (VAGC) für die automatische Verstärkung umfasst.

14. Einrichtung für optische Platten nach Anspruch 13, ferner umfassend eine Reaktionssteuereinrichtung (12) zum Steuern einer Reaktionsgeschwindigkeit der Steuersignal- Erzeugungseinrichtung (801) für die automatische Verstärkung, so dass sie höher als eine normale Geschwindigkeit ist, wenn der Typ der optischen Platte (1) identifiziert wird.