DE69524176T2

DE69524176T2 - Optisches Informationsaufzeichnungs-/-wiedergabegerät

Info

Publication number: DE69524176T2
Application number: DE69524176T
Authority: DE
Inventors: Koichiro Nishikawa
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1994-09-27
Filing date: 1995-09-27
Publication date: 2002-06-20
Anticipated expiration: 2015-09-28
Also published as: EP0704841A1; EP0704841B1; DE69524176D1; JPH0896387A; US5671199A

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein optisches Informationsaufzeichnungs-/-wiedergabegerät zum Aufzeichnen und Wiedergeben von Informationen auf und von einem optischen Informationsaufzeichnungsträger oder nur zur Informationswiedergabe, und insbesondere ein Verfahren zum Feststellen eines Spurfehlersignals. Das optische Informationsaufzeichnungs-/-wiedergabegerät der vorliegenden Erfindung kann eingesetzt werden zur Aufzeichnung und Wiedergabe von Informationen oder zur Wiedergabe von Informationen sowohl für optische Informationsaufzeichnungsträger mit Spurführungsrillen als auch für optische Informationsaufzeichnungsträger ohne Spurführungsrillen.
Mit Platten, die keine Spurführungsrille, sondern eine Pitserie haben, wie beispielsweise CD (Kompaktdisk) ist ein herkömmliches Verfahren zur Feststellung eines Spurfehlersignals eines optischen Kopfes in einem optischen Plattengerät eines unter Verwendung dreier Strahlen, das beispielsweise im Buch "Introduction to Video Discs and DAD" beschrieben ist (erste Ausgabe 1. November 1982), veröffentlicht von Kabushiki Kaisha Corona Sha. Fig. 1 zeigt Flecken auf einer Platte, und Fehlerfeststellsensoren und ein Schaltungssystem, wie es in diesem Buch beschrieben ist.
In Fig. 1 sind ein Hauptfleck SP1 sowie zwei Nebenflecken SP2 und SP3 zu gleichen Intervallen auf der optischen Platte mit einer Pitserie gebildet. Der Spurabstand zwischen Pitserien ist P. Eine radiale Trennung zwischen dem Hauptfleck SP1 und dem Nebenfleck SP2 oder SP3 ist Q. Die Flecken SP4, SP5 und SP6 auf den Sensoren S1, S2, S3 entsprechen den jeweiligen Flecken SP1, SP2 bzw. SP3 auf der optischen Platte.
Ein Spurfehlersignal TEO wird gewonnen als ein Ausgangssignal aus einem Differentialverstärker von S2 und S3 (das sogenannte Dreistrahlverfahren). Wenn die Trennung geändert wird in X (um) zwischen der Mitte des Hauptflecks SP1 und der Mitte des Nebenflecks SP2 (oder des Nebenflecks SP3) in radialer Richtung der Platte (senkrecht zur Spurrichtung), kann ein Ausgangssignal von S2 und ein Ausgangssignal von S3 folgendermaßen angenähert werden mit elementaren Funktionen, unter der Annahme, daß Durchschnittsausgangssignale dieser einander gleich 1 sind.
Ausgangssignal von S2 = 1 + cos (kX - kQ)
Ausgangssignal von S3 = 1 + cos (kX + kQ), k = 2 /P
Indem die Differenz zwischen den obigen Ausgangssignalen somit als ein Spurfehlersignal TEO verwendet wird, ist die Amplitude proportional zu sin (kQ). Da der Spurabstand P = 1,6 um für CD ist, kann der Absolutwert der Amplitude dargestellt werden, wie durch 3Beam_1.6 (durchgehende Linie) in Fig. 2 dargestellt.
Somit ist das herkömmliche Beispiel eingerichtet, die Signalamplitude des Spurfehlersignals TEO zu maximieren, indem die Trennung Q zwischen der Mitte des Flecks und einer Spur ungefähr Q = 0,4 um für Q = P/4 gemacht wird.
Bei Platten mit Spurführungsrillen, wie magnetooptische Platten, ist ein Beispiel des Feststellverfahrens unter Verwendung dreier Strahlen in der japanischen Patentveröffentlichung Nr. 4-34212 beschrieben. Fig. 3 zeigt Flecken auf einer Platte, und Fehlerfeststellsensoren und ein Schaltungssystem, wie es in der Veröffentlichung beschrieben ist.
In Fig. 3 sind ein Hauptfleck SP1 und 2 Nebenflecken SP2 und SP3 zu gleichen Intervallen auf einer optischen Platte gebildet, die abwechselnde Aufzeichnungslandezonen LD und Führungsrillen GR hat. Der Spurabstand zwischen Rillen GR oder zwischen Landezonen LD beträgt P. Eine radiale Plattentrennung zwischen der Mitte des Hauptflecks SP1 und der Mitte des Nebenflecks SP2 oder SP3 ist Q. Die Flecken SP4, SP5, SP6 auf den Sensoren S1, S2, S3 entsprechen den Flecken SP1, SP2 bzw. SP3 auf der optischen Platte. Die Sensoren S1, S2, S3 haben jeweils ihre Trennung gemäß der Spurrichtung auf der optischen Platte und sind jeweils aus zwei Segmenten zusammengesetzt. Ausgangssignale aus den Segmenten eines jeden Sensors werden durch ein Differentialverstärker geleitet, um ein Spurfehlersignal TE1, TE2, TE3 zu gewinnen. Des weiteren wird ein Endspurfehlersignal TE gewonnen durch variable Regelverstärker G1, G2. Dann wird der Verstärker G1 auf ein Intensitätsverhältnis von SP4 und SP5 eingestellt, und der Verstärker G2 auf ein Intensitätsverhältnis von SP5 und SP6, wodurch ein Spurfehlersignal TE4 ohne eine Gleichstromkomponente gewonnen wird. Diese kann folgendermaßen ausgedrückt werden durch elementare Funktionsannäherung. Wenn die Trennung geändert wird auf X (um) zwischen der Mitte des Hauptflecks SP1 und der Mitte des Nebenflecks SP2 (oder Nebenfleck SP3) in Radialrichtung der Platte, können die Spurfehlersignale TE1, TE2, TE3 folgendermaßen ausgedrückt werden, unter der Annahme, daß die Amplitude für den Hauptfleck 1 ist und die Gleichstromkomponente zu dieser Zeit ist:
TE1 = sin(kX) +
TE2 = {sin(kX - kQ) + }/G1
TE3 = {sin(kX + kQ) + }/G1/G2, k = 2 /P
Hier wird das Endspurfehlersignal folgendermaßen gewonnen.
TE4 = TE1 - G1(TE2 + G2 · TE3)
Dann wird die Amplitude des Spurfehlersignals TE4 proportional zu (1 - cos(kQ)).
Dieses herkömmliche Beispiel ist eingerichtet, die Signalamplitude des Spurfehlersignals TE4 um Q = P/2 zu maximieren. Fig. 2 zeigt auch die Fälle von P = 1.6 um, 1,39 um und 1,10 um, wie DPP_1.6 (strichpunktierte Linie), DPP_-1.39 (Punktlinie) und DPP_1.1 (dünne durchgehende Linie). (Dieses Verfahren wird auch Differentialgegentaktverfahren genannt, was nachstehend mit DPP bezeichnet ist.)
Wenn eine Platte mit Rillen beispielsweise mit einem Maßabstand von 1,6 um eingerichtet ist, wird die Wiedergabe unter Verwendung des Systems von Fig. 1 als Q = 0,4 um eingestellt, die Amplitude von TE0 wird gering, etwa 0,5 als relativer Wert, wie aus Fig. 2 ersichtlich. Wenn im Gegensatz dazu eine Platte ohne Rillen beispielsweise mit einem Maßabstand von 1,6 um eingerichtet ist, und die Wiedergabe unter Verwendung des Systems von Fig. 3 erfolgt, wird die Amplitude von TE4 etwa die Hälfte des Maximalwertes, wie aus Fig. 2 ersichtlich.
Es gibt aber die folgenden Probleme.
Das System von Fig. 1 ist grundsätzlich eingerichtet zur Feststellung einer Änderung der Lichtmenge oder des reflektierten Lichtes eines jeden Flecks, während das System von Fig. 3 grundsätzlich eingerichtet ist, ein Differentialausgangssignal TE1, TE2, TE3 (sozusagen ein Gegentaktsignal) von zwei Segmenten für jeden Fleck nachzuweisen. Vereinfacht gesagt, sind die Verhaltensweisen der Lichtmengenänderung und des Gegentaktsignals gegenüber der Tiefe der Rille oder dem Maßabstand φ, wie beispielsweise in APPLIED OPTICS/1. Juli 1978/Band 17, Nr. 13 "Simplified diffraction theory of the video disk" beschrieben ist. Dies ist in Fig. 4 dargestellt.
Zunächst werden CDs betrachtet, deren Pittiefe etwa 0,11 um beträgt. Es wird nämlich angenommen, daß die Wellenlänge 785 nm ist und der Brechungsindex vom Substrat n = etwa 1,55 ist, φ wird fast gleich 0,44 (wobei eine Halbwellenlänge ist). Folglich wird die Lichtmengenänderung größer als 90% vom Maximum (wenn die Tiefe der Pits /4n beträgt) von der Lichtmengenänderung im Dreistrahlverfahren. Nimmt man ein Gegentaktsignal jedoch auf, wird es etwa 40% des Maximalwertes vom Spurfehlersignal nach dem Gegentaktverfahren. Wenn das Spurfolgen ausgeführt wird auf der Grundlage des Gegentaktsignals mit einer Platte, die aus Pitserien besteht, wie eine CD, würde das System folglich zur Instabilität neigen bei den Folgeoperationen.
Unter Berücksichtigung der magnetooptischen Platte wird andererseits die Tiefe der Rille ungefähr gleich 0,25 . Folglich wird das Gegentaktsignal ein Wert nahe gleich dem Maximalwert (wenn die Tiefe der Rille /8n beträgt) vom Spurfehlersignal nach dem Gegentaktverfahren. Hinsichtlich der Lichtmengenänderung wird dies im Gegensatz dazu etwa 50% des Maximalwertes der Lichtmengenänderung nach dem Dreistrahlverfahren. Wenn das Dreistrahlverfahren verwendet wird für die Spurfolge mit der magnetooptischen Platte, würde das System folglich instabil bei der Nachfolgeoperation.
Wie zuvor beschrieben, sind die herkömmlichen Beispiele eingerichtet, entweder einen der Fälle zu erfüllen mit und ohne Rillen, welche ein Problem aufgeben, das mit dem Versuch der Wiedergabe oder der Aufzeichnung und Wiedergabe von Informationen mit unterschiedlichen Plattenarten das System nicht in der Lage war, eine hinreichende Amplitude des Spurfehlersignals zu erzeugen, was zu einer Instabilität in der Nachfolgeoperation führt.
Das Dokument EP-A-0 216 341 offenbart ein Spurführungssystem zum Feststellen von Spurfehlern in der Position des Lichtflecks auf einem optischen Aufzeichnungsträger. Ein Hauptlichtfleck und zwei Zusatzlichtflecken sind auf den Träger gerichtet, und Licht aus den Lichtflecken, wird nachgewiesen, daß der Träger reflektiert hat. Der Spurfehler wird bestimmt durch Messen des Lichts aus dem Hauptlichtstrahl, der auf einem Detektor mit vier Segmenten nachgewiesen wird. Dieser Stand der Technik ist im Oberbegriff der Patentansprüche 1 und 6 berücksichtigt.
Das Dokument DE-A-35 33 647 offenbart ein optisches Aufzeichnungs-/-wiedergabegerät zum Aufzeichnen und Wiedergeben von Informationen auf ersten und zweiten Platten unterschiedlicher Durchmesser. Unterschiede im Spurmaßabstand zwischen den beiden Platten werden überwunden durch Bewegen des optischen Kopfes in Richtung senkrecht zum Radius der Platten.
Die vorliegende Erfindung ist unter Berücksichtigung der obigen Probleme bei der herkömmlichen Technologie entstanden, und es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein optisches Informationswiedergabegerät oder ein optisches Informationsaufzeichnungs-/-wiedergabegerät zu schaffen, das in der Lage ist, die Spurfolgeoperation stabil auszuführen, ungeachtet der An- oder Abwesenheit von Rillen.
Nach einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Nachweisgerät vorgesehen, das ein Spurfehlersignal nachweist, mit: einem Lichtfleckerzeugungsmittel, das auf einem optischen Aufzeichnungsträger einen Lichthauptfleck, einen ersten Lichtnebenfleck und einen zweiten Lichtnebenfleck erzeugt, wobei der erste Lichtnebenfleck und der zweite Lichtnebenfleck zu gleichen Intervallen auf jeder Seite des Lichthauptfleckes liegen; einem Lichtempfangsmittel, das von den Flecken reflektiertes Licht empfängt, wobei das Lichtempfangsmittel über jeweilige Lichtempfangselemente für reflektiertes Licht aus den jeweiligen Lichtflecken verfügt; und mit einem Nachweismittel, das ein Spurfehlersignal unter Verwendung von Ausgangssignalen aus den Lichtempfangselementen feststellt; dadurch gekennzeichnet, daß das Separieren in Richtung senkrecht zur Spurrichtung zwischen der Mitte des Hauptflecks und der Mitte des ersten Nebenflecks und zwischen der Mitte des Hauptflecks und der Mitte des zweiten Nebenflecks zwischen 0,48 um und 0,60 um eingestellt ist; und daß das Nachweismittel ist ausgestattet mit: einem ersten Nachweismittel, das ein Spurfehlersignal unter Verwendung eines Ausgangssignals aus dem Lichtempfangselement gemäß dem Lichthauptfleck oder unter Verwendung von Ausgangssignalen aus den Lichtempfangselementen gemäß dem Hauptfleck, dem ersten Nebenfleck und dem zweiten Nebenfleck feststellt, wenn es eine Spurführungsrille auf dem optischen Informationsaufzeichnungsträger gibt; und mit einem zweiten Nachweismittel, das ein Spurfehlersignal unter Verwendung von Ausgangssignalen aus den Lichtempfangselementen gemäß dem ersten Nebenfleck und dem zweiten Nebenfleck feststellt, wenn es keine Spurführungsrille auf dem optischen Informationsaufzeichnungsträger gibt.
Diese Erfindung stellt ein Gerät bereit zum Ausführen der Aufzeichnung von Informationen und der Wiedergabe von Informationen aus einem optischen Informationsaufzeichnungsträger, wobei das Gerät über ein Nachweisgerät zur Feststellung eines Spurfehlersignals nach einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung ausgerüstet ist.
Nach einem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zum Nachweis eines Spurfehlersignals vorgesehen, mit den Verfahrensschritten: Erzeugen eines Lichthauptflecks, eines ersten Lichtnebenflecks und eines zweiten Lichtnebenflecks auf einem optischen Informationsaufzeichnungsträger, wobei der erste Lichtnebenfleck (SP2) und der zweite Lichtnebenfleck zu gleichen Intervallen auf beiden Seiten des Lichthauptflecks erzeugt werden; und Empfangen von reflektiertem Licht der Flecken unter Verwendung jeweiliger Lichtempfangselemente für von den jeweiligen Flecken reflektierten Lichts; und Nachweisen eines Spurfehlersignals unter Verwendung der Ausgangssignale aus den Lichtempfangselementen; dadurch gekennzeichnet, daß: die Trennung in der Richtung senkrecht in der Spurrichtung zwischen der Mitte des Hauptflecks und der Mitte des ersten Nebenflecks und der Trennung in Richtung senkrecht zur Spurrichtung zwischen der Mitte des Hauptflecks und der Mitte auf dem zweiten Nebenfleck zwischen 0,48 um und 0,60 um eingestellt ist; wobei die Verfahrensschritte zum Nachweisen umfassen: Nachweisen eines Spurfehlersignals unter Verwendung eines Ausgangssignals aus dem Lichtempfangselement gemäß dem Lichthauptfleck oder unter Verwendung von Ausgangssignalen aus jedem der Lichtempfangselemente gemäß dem Hauptfleck, dem ersten Nebenfleck und dem zweiten Nebenfleck, wenn es eine Spurführungsrille auf dem optischen Informationsaufzeichnungsträger gibt; und Nachweisen eines Spurfehlersignals unter Verwendung eines Ausgangssignals aus dem Lichtempfangselement gemäß dem ersten Nebenfleck und einem Ausgangssignal aus dem Lichtempfangselement gemäß dem zweiten Nebenfleck, wenn es keine Spurführungsrille auf dem optischen Informationsaufzeichnungsträger gibt.
Die Erfindung schafft auch ein Verfahren zum Ausführen wenigstens einer der Funktionen der Informationsaufzeichnung und der Wiedergabefunktion von einem optischen Aufzeichnungsträger, das ein Verfahren nach dem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung zum Nachweis eines Spurfehlersignals enthält.
Die vorliegende Erfindung umfaßt eine solche Operation, daß die Lichtempfangselemente zur Spurfeststellung für Träger mit Spurführungsrillen (Gräben) sich von jenen für Träger ohne Spurführungsrillen unterscheiden, wobei die Trennung zwischen Lichtflecken auf der optischen Platte, zugehörig zum Spurmaßabstand, geändert wird abhängig von den Eigenschaften des Spurfehlersignals, das von den Lichtempfangselementen nachgewiesen wurde, um ein Spurfehlersignal mit einem maximalen Pegel zu erzeugen und die Spursteuerung oder Spurservosteuerung damit auszuführen.
Da das optische Informationsaufzeichnungs-/-wiedergabegerät so eingerichtet ist, daß mit einem Träger mit Spurführungsrillen das Spurfehlersignal gewonnen wird aus dem Lichtempfangsabschnitt für den Hauptfleck mit vier Lichtempfangselementen und dem Lichtempfangsabschnitt für die Nebenflecken mit zwei Lichtempfangselementen, die symmetrisch in Spurrichtung angeordnet sind, und daß mit dem Träger ohne Spurführungsrillen das Spurfehlersignal gewonnen wird aus einem Lichtempfangsabschnitt der Nebenflecken mit zwei Lichtempfangselementen, die symmetrisch zum Hauptfleck in Spurrichtung angeordnet sind, wobei die Anordnung des Änderns der Flecktrennung zum Anpassen sowohl der Medien die Spurfehlersignale ermöglicht, mit maximalem Pegel gewonnen zu werden als ein optisches Informationsaufzeichnungs-/- wiedergabegerät zum Aufzeichnen und Wiedergeben oder zur Wiedergabe zur Informationen mit zwei Arten von Trägern.
Fig. 1 ist eine Darstellung, die den Zustand von Flecken auf einer optischen Platte ohne Rillen zeigt, und eine Feststellschaltung zum Nachweis eines Spurfehlers in einem herkömmlichen Falle;
Fig. 2 ist ein Graph, der die Beziehung zwischen Flecktrennung auf der optischen Platte und der gewonnenen relativen Spurfehleramplitude zeigt;
Fig. 3 ist eine Darstellung, die den Zustand von Flecken auf einer optischen Platte mit Rillen zeigt und eine Feststellschaltung zum Nachweis eines Spurfehlers;
Fig. 4 ist ein Graph, der die Beziehung zwischen der Tiefe eines Pit oder einer Rille und die relative Amplitude der Lichtmengenänderung oder des gewonnenen Gegentaktsignals zeigt;
Fig. 5 ist eine strukturelle Darstellung eines optischen Systems, das in einem Gerät verwendet wird, das zu einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung gehört;
Fig. 6 ist eine konzeptionelle Darstellung, die Zustände von Flecken auf optischen Platten im ersten Ausführungsbeispiel nach der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 7 ist eine konzeptionelle Zeichnung, die Lichtempfangselemente in einem optischen Kopf in jedem Ausführungsbeispiel nach der vorliegenden Erfindung zeigt, sowie Flecke auf den Lichtempfangselementen;
Fig. 8 ist ein Schaltbild, das eine Schaltung zum Nachweis eines Spurfehlers bei einer Platte mit Rillen im Gerät nach einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt; und
Fig. 9 ist ein Schaltbild, das eine Schaltung zum Nachweis eines Spurfehlers bei einer Platte ohne Rillen im Gerät gemäß einem Ausführungsbeispiel nach der vorliegenden Erfindung zeigt.
Spezielle Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung sind nachstehend anhand der Zeichnung lediglich als Beispiel beschrieben.
Fig. 5 zeigt einen schematischen Aufbau eines optischen Kopfes, der in einem optischen Informationsaufzeichnungs-/- wiedergabegerät nach der vorliegenden Erfindung zeigt. In der Darstellung wird ein Lichtstrahl, den ein Halbleiterlaser 1 emittiert, von einer Kollimatorlinse 2 parallel gerichtet, und dann wird das parallel gerichtete Licht in drei Strahlen von einem Beugungsgitter 3 aufgespalten. Diese Strahlen werden teilweise von einem Strahlaufspalter 5 reflektiert, und die reflektierten Strahlen werden über einen Spiegel 7 zum Sammeln durch ein Objektiv 8 und zur Fokussierung nahe einer Spur 10 auf eine optische Platte 9 geführt. Licht, das vom Strahlaufspalter 5 gesendet wird, wird geändert in ein elektrisches Signal durch einen Lichtmengenüberwachungssensor 6. Von der optischen Platte 9 reflektiertes Licht wird erneut vom Objektiv 8 gesammelt, um durch den Strahlaufspalter 5 in ein Wollaston-Prisma 11 zu gelangen. Das Wollaston-Prisma 11 spaltet das reflektierte Licht in eine Vielzahl von Strahlen auf. Die solchermaßen aufgespaltenen Strahlen werden durch eine wulstförmige Linse 12 zum Erzeugen eines Astigmatismus auf einen Sensor 13 geführt, der zum Nachweis von HF-Signalen dient und zum Nachweis von Servosignalen.
Im vorliegenden Ausführungsbeispiel sind die Flecken auf der optischen Platte 9 in der in Fig. 6 gezeigten Weise angeordnet in dem Fall mit und ohne Spurführungsrillen. Insbesondere sind der Nebenfleck SP2 und der Nebenfleck SP3 nahe auf dieselbe Pitserie oder Rille gelegt (oder Landezone) als der Hauptfleck SP1, und die Trennung Q in radialer Richtung der Platte zwischen der Mitte des Nebenflecks SP2 oder des Nebenflecks SP3 und der Mitte des Hauptflecks SP1 wird auf etwa 0,53 um gebracht. Der Hauptfleck SP1 wird verwendet zur Aufzeichnung und Wiedergabe von Informationen oder zum Wiedergeben von Informationen.
Das Einstellen wird bewirkt durch Rotation 4 um die optische Achse des Beugungsgitters 3 in Fig. 5. Die Flecktrennung Q kann nämlich auf etwa 0,53 um eingestellt werden oder im Bereich von 0,48 bis 0,60 um durch Erhöhen des Winkels der Drehung vom Beugungsgitter 3.
Der obige eingestellte Wert von 0,53 um wurde folgendermaßen bestimmt.
In der vorherigen Fig. 2 stellt die durchgehende Linie eine Beziehung zwischen der Trennung X (um) in radialer Richtung der Platte zwischen der Mitte des Hauptfleckes SP1 und der Mitte des Nebenfleckes SF2 (oder des Nebenfleckes SP3) dar, und die Amplitude (relativer Wert) des Spurfehlersignals, das gewonnen wurde, als das Dreistrahlenverfahren auf die optische Platte mit dem Spurmaßabstand von 1,6 um angewandt wurde. Des weiteren stellt die strichpunktierte Linie eine Beziehung zwischen der Trennung X (um) in radialer Richtung der Platte zwischen der Mitte des Hauptflecks SP1 und der Mitte des Nebenflecks SP2 (oder des Nebenflecks SP3) dar, und der Amplitude (relativer Wert) des Spurfehlersignals, das gewonnen wird, wenn DPP bei der optischen Platte mit dem Spurmaßabstand von 1,6 um angewandt wurde, und die gepunktete Linie eine Beziehung zwischen der Trennung X (um) in radialer Richtung der Platte zwischen der Mitte des Hauptflecks SP1 und der Mitte des Nebenflecks SP2 (oder des Nebenflecks SP3) und der Amplitude (relativer Wert) vom Spurfehlersignal, das gewonnen wurde, als DPP bezüglich einer optischen Platte mit dem Spurmaßabstand von 1,39 um angewandt wurde. Der Spurmaßabstand 1,39 um wurde gewählt als der minimale Spurmaßabstand der magnetooptischen Platten, die handelsüblich sind. Ein Kreuzungspunkt zwischen der durchgehenden Linie und der strichpunktierten Linie ist etwa 0,56 um dann, während ein Kreuzungspunkt zwischen der durchgehenden Linie und der gepunkteten Linie 0,53 um ist. Fig. 2 zeigt auch des weiteren einen Fall des Spurmaßabstandes 1,10 um (dünne durchgehende Linie), die in der nächsten Generation zu erwarten ist, und in diesem Falle kann die Trennung Q auf einen weiter verringerten Wert eingestellt werden.
Aus Fig. 2 ist ersichtlich, daß bei den Platten die jeweiligen Spurmaßabstände für DPP hinreichende Amplituden des Spurfehlersignals gewonnen werden können in jedem Verfahren, des Dreistrahlverfahrens und DPP, durch Einstellen der Trennung X nahe dem Kreuzungspunkt mit der durchgehenden Linie.
Das vorliegende Ausführungsbeispiel verwendete 0,53 um unter der Berücksichtigung zusätzlich zu Obigem, daß die Spurmaßabstände, die gegenwärtig dominieren, und in naher Zukunft, 1,6 um und 1,39 um waren, und daß eine höhere Genauigkeit des Spurservo ein Absinken des Spurmaßabstands erfordern würde. Dieser Einstellwert kann jedoch im Bereich von 0,48 bis 0,60 um ausgewählt werden, der 70 oder mehr % des Maximalwertes vom Spurfehlersignal sichern kann, das gewonnen wird bei jedem Verfahren nach dem Dreistrahlverfahren und nach DPP, selbst wenn die nächste Generation mitberücksichtigt wird, womit ein befriedigendes Spurfehlersignal gewonnen wird.
Aus Obigem kann ein gewünschter Einstellwert im Bereich von 0,48 bis 0,60 um ausgewählt werden, und für die laufende Spurtrennung wird dieser Wert vorzugsweise mit 0,53 um gewählt.
Als nächstes erläutert ist der Nachweis des Spurfehlersignals.
Fig. 7 zeigt die Sensoren vom vorliegenden Ausführungsbeispiel und die Flecken auf den Sensoren. Flecken gemäß dem Hauptfleck SP1 sind in Fig. 7 drei Flecken SP4, SP7, SP8, die durch das Wollaston-Prisma 11 getrennt sind. Fleck SP7 und Fleck SP8 haben wechselweise orthogonale Richtungen der Polarisation, und Fleck SP7 ist ein Fleck, in dem zwei Richtungen der Polarisation gemischt sind. Andere Signale als das Spurfehlersignal werden folgendermaßen gewonnen.
Brennweitenfehlersignal im Astigmatismusverfahren
= (A1 + A3) - (A2 + A4)
magnetooptisches Signal = D - E
Pit-Signal = D, E, D + E, A1 + A2 + A3 + A4, oder eine beliebige Kombination der vorangehenden vier Signale.
Das Spurfehlersignal wird aus einer Kombination vom Fleck SP5 und vom Fleck SP6 gemäß dem Nebenfleck SP2 und dem Nebenfleck SP3 mit Fleck SP4 gemäß dem Hauptfleck SP1 gewonnen. Der Fleck SP5 und der Fleck SP6 sind dieselben in Hinsicht auf die Polarisationsrichtung, wie der Fleck SP4.
Bei einer optischen Platte mit Rillen wird das Spurfehlersignal gewonnen aus einem Schaltungssystem, das in Fig. 8 gezeigt ist. Dieses zu beschreiben im Vergleich mit dem herkömmlichen Beispiel werden Signale gemäß TE1, TE2, TE3 in der vorangehenden Fig. 3 folgendermaßen angegeben.
TE1 = (A1 + A4) - (A2 + A3)
TE2 = B2 - B1
TE3 = C2 - C1
Dann wird die Verstärkungsanpassung, ein Endspurfehlersignal TE4 gewonnen. Alternativ kann TE1 als Endspurfehlersignal verwendet werden.
Bei einer optischen Platte ohne Rillen wird das Spurfehlersignal aus einem Schaltungssystem gewonnen, das in Fig. 9 gezeigt ist. Das Spurfehlersignal wird nämlich folgendermaßen gewonnen.
TE0 = (C1 + C2) - (B1 + B2)
Wie zuvor beschrieben, kann die Trennung Q ausgewählt werden in einem Bereich von 0,48 bis 0,60 um, und zur laufenden Spurtrennung sind 0,53 um vorzuziehen, um das Spurfehlersignal mit hohem Pegel zu erhalten.
Im ersten zuvor beschriebenen Ausführungsbeispiel erfolgt die Bestimmung, ob die optische Platte Rillen hat oder nicht, unter Verwendung von Ausgangssignalen aus dem Lichtempfangselement, das dem Hauptfleck SP1 zugeordnet ist. Reflexionsvermögen von Aufzeichnungsträgern ohne Rillen, wie Cds, sind nämlich hoch, etwa 80%, während jene der Aufzeichnungsträger mit Rillen, wie magnetooptische Platten, gering sind, etwa 20%. Die Bestimmung, ob ein Aufzeichnungsträger Rillen hat oder nicht, erfolgt somit durch Nachweis einer solchen Differenz zwischen den Reflexionsvermögen aus der Differenz zwischen den reflektierten Lichtmengen.

Claims

1. Nachweisgerät, das ein Spurfehlersignal nachweist, mit:

einem Lichtfleckerzeugungsmittel (1, 2, 3), das auf einem optischen Aufzeichnungsträger (9) einen Lichthauptfleck (SP1), einen ersten Lichtnebenfleck (SP2) und einen zweiten Lichtnebenfleck (SP3) erzeugt,

wobei der erste Lichtnebenfleck (SP2) und der zweite Lichtnebenfleck (SP3) zu gleichen Intervallen auf jeder Seite des Lichthauptfleckes (SP1) liegen;

einem Lichtempfangsmittel, das von den Flecken (SP1, SP2, SP3) reflektiertes Licht empfängt, wobei das Lichtempfangsmittel über jeweilige Lichtempfangselemente für reflektiertes Licht aus den jeweiligen Lichtflecken verfügt; und mit

einem Nachweismittel, das ein Spurfehlersignal unter Verwendung von Ausgangssignalen aus den Lichtempfangselementen feststellt;

dadurch gekennzeichnet, daß

das Separieren (Q) in Richtung senkrecht zur Spurrichtung zwischen der Mitte des Hauptflecks (SP1) und der Mitte des ersten Nebenflecks (SP2) und zwischen der Mitte des Hauptflecks (SP1) und der Mitte des zweiten Nebenflecks (SP3) zwischen 0,48 um und 0,60 um eingestellt ist; und daß

das Nachweismittel ist ausgestattet mit:

einem ersten Nachweismittel, das ein Spurfehlersignal (TE4) unter Verwendung eines Ausgangssignals (TE1) aus dem Lichtempfangselement gemäß dem Lichthauptfleck (SP1) oder unter Verwendung von Ausgangssignalen (TE1, TE2, TE3) aus den Lichtempfangselementen gemäß dem Hauptfleck (SP1), dem ersten Nebenfleck (SP2) und dem zweiten Nebenfleck (SP3) feststellt, wenn es eine Spurführungsrille auf dem optischen Informationsaufzeichnungsträger gibt; und mit

einem zweiten Nachweismittel, das ein Spurfehlersignal (TEO) unter Verwendung von Ausgangssignalen aus den Lichtempfangselementen gemäß dem ersten Nebenfleck (SP2) und dem zweiten Nebenfleck (SP3) feststellt, wenn es keine Spurführungsrille auf dem optischen Informationsaufzeichnungsträger (9) gibt.

2. Gerät nach Anspruch 1, bei dem jedes der Lichtempfangselemente ein erstes Segment und ein zweites Segment hat, die durch eine Teilung im wesentlichen senkrecht zur Spurrichtung getrennt sind.

3. Gerät nach Anspruch 2, bei dem das erste Nachweismittel eingerichtet ist, das Spurfehlersignal aus der Differenz zwischen den Ausgangssignalen von ersten und zweiten Segmenten festzustellen.

4. Gerät nach wenigstens einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem das zweite Nachweismittel eingerichtet ist, das Spurfehlersignal (TE0) aus der Differenz zwischen den Ausgangssignalen aus den jeweiligen Lichtempfangselementen gemäß dem ersten Nebenfleck (SP2) und dem zweiten Nebenfleck (SP3) festzustellen.

5. Gerät zum Ausführen wenigstens einer der Funktionen des Aufzeichnens von Informationen auf und Wiedergeben von Informationen aus einem optischen Informationsaufzeichnungsträger, wobei das Gerät ein Nachweisgerät zum Nachweis eines Spurfehlersignals gemäß wenigstens einem der vorstehenden Ansprüche enthält.

6. Verfahren zum Nachweis eines Spurfehlersignals, mit den Verfahrensschritten:

Erzeugen eines Lichthauptflecks (SP1), eines ersten Lichtnebenflecks (SP2) und eines zweiten Lichtnebenflecks (SP3) auf einem optischen Informationsaufzeichnungsträger (9),

wobei der erste Lichtnebenfleck (SP2) und der zweite Lichtnebenfleck (SP3) zu gleichen Intervallen auf beiden Seiten des Lichthauptflecks (SP1) erzeugt werden; und

Empfangen von reflektiertem Licht der Flecken (SP1, SP2, SP3) unter Verwendung jeweiliger Lichtempfangselemente für von den jeweiligen Flecken reflektierten Lichts; und

Nachweisen eines Spurfehlersignals unter Verwendung der Ausgangssignale aus den Lichtempfangselementen;

dadurch gekennzeichnet, daß:

die Trennung (Q) in der Richtung senkrecht in der Spurrichtung zwischen der Mitte des Hauptflecks (SP1) und der Mitte des ersten Nebenflecks (SP2) und der Trennung in Richtung senkrecht zur Spurrichtung zwischen der Mitte des Hauptflecks (SP1) und der Mitte auf dem zweiten Nebenfleck (SP3) zwischen 0,48 um und 0,60 um eingestellt ist;

wobei die Verfahrensschritte zum Nachweisen umfassen:

Nachweisen eines Spurfehlersignals (TE4) unter Verwendung eines Ausgangssignals (TE1) aus dem Lichtempfangselement gemäß dem Lichthauptfleck (SP1) oder unter Verwendung von Ausgangssignalen (TE1, TE2, TE3) aus jedem der Lichtempfangselemente gemäß dem Hauptfleck (SP1), dem ersten Nebenfleck (SP2) und dem zweiten Nebenfleck (SP3), wenn es eine Spurführungsrille auf dem optischen Informationsaufzeichnungsträger gibt; und

Nachweisen eines Spurfehlersignals (TE0) unter Verwendung eines Ausgangssignals aus dem Lichtempfangselement gemäß dem ersten Nebenfleck (SP2) und einem Ausgangssignal aus dem Lichtempfangselement gemäß dem zweiten Nebenfleck (SP3), wenn es keine Spurführungsrille auf dem optischen Informationsaufzeichnungsträger (9) gibt.

7. Verfahren nach Anspruch 6, bei dem jedes der Lichtempfangselemente ein erstes Segment und ein zweites Segment hat, die durch Teilen im wesentlich senkrecht zur Spurrichtung getrennt sind.

8. Verfahren nach Anspruch 7, bei dem das Nachweisen des Spurfehlersignals aus der Differenz zwischen den Ausgangssignalen vom ersten und zweiten Segment erfolgt, wenn es eine Spurführungsrille auf dem optischen Informationsaufzeichnungsträger gibt.

9. Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 6 bis 8, bei dem das Nachweisen des Spurfehlersignals (TE0) aus der Differenz zwischen dem Ausgangssignal aus den Lichtempfangselementen gemäß dem ersten Nebenfleck (SP2) und dem zweiten Nebenfleck (SP3) erfolgt, wenn es keine Spurführungsrille auf dem optischen Aufzeichnungsträger gibt.

10. Verfahren zum Ausführen wenigstens einer der Funktionen des Aufzeichnens von Informationen auf und Wiedergeben von Informationen aus einem optischen Informationsaufzeichnungsträger nach einem Verfahren gemäß wenigstens einem der Ansprüche 6 bis 9 zum Nachweis eines Spurfehlersignals.