JPH0935284A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JPH0935284A JPH0935284A JP7180427A JP18042795A JPH0935284A JP H0935284 A JPH0935284 A JP H0935284A JP 7180427 A JP7180427 A JP 7180427A JP 18042795 A JP18042795 A JP 18042795A JP H0935284 A JPH0935284 A JP H0935284A
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- track
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
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- G11B11/10597—Adaptations for transducing various formats on the same or different carriers
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
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- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
- G11B11/10541—Heads for reproducing
- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
- G11B11/10545—Heads for reproducing using optical beam of radiation interacting directly with the magnetisation on the record carrier
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相変化型
光ディスクとを駆動することができる光ディスク装置の
提供。 【解決手段】 トラック２１ａを有する記録媒体２１上
に光ビームを照射する際、その反射光から、前記光ビー
ムを制御するためのフォーカスエラー信号とトラックエ
ラー信号とを検出する光ディスク装置。前記反射光を、
トラックエラー信号及びフォーカスエラー信号を作成す
るための複数の光ビームに分割し、その複数の光ビーム
を互いに異なる方向へ偏向させる光学素子２６と、その
複数の光ビームのそれぞれを検出する光検出系２７〜３
０と、光検出系２７〜３０の出力からフォーカスエラー
信号を演算して出力し、トラック２１ａの構造に応じ
て、光検出系２７〜３０の出力からトラックエラー信号
を演算し選択的に出力する演算手段とを備える構成であ
る。
光ディスクとを駆動することができる光ディスク装置の
提供。 【解決手段】 トラック２１ａを有する記録媒体２１上
に光ビームを照射する際、その反射光から、前記光ビー
ムを制御するためのフォーカスエラー信号とトラックエ
ラー信号とを検出する光ディスク装置。前記反射光を、
トラックエラー信号及びフォーカスエラー信号を作成す
るための複数の光ビームに分割し、その複数の光ビーム
を互いに異なる方向へ偏向させる光学素子２６と、その
複数の光ビームのそれぞれを検出する光検出系２７〜３
０と、光検出系２７〜３０の出力からフォーカスエラー
信号を演算して出力し、トラック２１ａの構造に応じ
て、光検出系２７〜３０の出力からトラックエラー信号
を演算し選択的に出力する演算手段とを備える構成であ
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置に
係わり、特に、情報信号を光学的に記録媒体に記録／記
録媒体から再生する、又は記録媒体上の情報信号を光学
的に再生する光ディスク装置の改良に関するものであ
る。
係わり、特に、情報信号を光学的に記録媒体に記録／記
録媒体から再生する、又は記録媒体上の情報信号を光学
的に再生する光ディスク装置の改良に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】コンピュータの発達と共に、使用するプ
ログラム及びデータの量が増加し、それを保存するため
の大容量のファイル装置が必要とされている。省スペー
ス、大容量のファイル装置の開発が進められている中
で、光ディスク装置は、大容量であることから、また、
媒体の可換性から今後の発展が期待されている。
ログラム及びデータの量が増加し、それを保存するため
の大容量のファイル装置が必要とされている。省スペー
ス、大容量のファイル装置の開発が進められている中
で、光ディスク装置は、大容量であることから、また、
媒体の可換性から今後の発展が期待されている。
【０００３】光ディスクには様々な種類がある。この
内、ＣＤ−ＲＯＭは、読出し専用の光ディスクであり、
ソフトウエアの配付に利用されるようになって来てい
る。そのため、最近では、ＣＤ−ＲＯＭ駆動装置も標準
装備でパーソナルコンピュータに内蔵されるようになっ
て来ている。また、光磁気ディスク（ＭＯ；Magneto Op
tical disk）及び相変化型光ディスクは消去／書込み可
能な光ディスクであり、ユーザが自ら作成したデータの
保存及びバックアップのための大容量ファイルとして、
急速に普及しつつある。
内、ＣＤ−ＲＯＭは、読出し専用の光ディスクであり、
ソフトウエアの配付に利用されるようになって来てい
る。そのため、最近では、ＣＤ−ＲＯＭ駆動装置も標準
装備でパーソナルコンピュータに内蔵されるようになっ
て来ている。また、光磁気ディスク（ＭＯ；Magneto Op
tical disk）及び相変化型光ディスクは消去／書込み可
能な光ディスクであり、ユーザが自ら作成したデータの
保存及びバックアップのための大容量ファイルとして、
急速に普及しつつある。
【０００４】現在は、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及
び相変化型光ディスクとは、それぞれ専用の駆動装置を
用意しなければ駆動できないが、１台の駆動装置で両方
の媒体を駆動できれば、コストの面でも使い易さの面で
も非常に改善される。尚、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディス
ク及び相変化型光ディスクとを、１台の駆動装置で駆動
できるディスク装置が、特開平４−８５７６０号公報及
び特開平５−１５９４０９号公報で提案されているが、
特開平４−８５７６０号公報は、主に演算処理回路によ
り実現を目指したものであり、特開平５−１５９４０９
号公報は、トラックエラー信号検出にスリービーム法及
びプッシュプル法を用い、フォーカスエラー信号検出に
フーコー法を用いたものである。
び相変化型光ディスクとは、それぞれ専用の駆動装置を
用意しなければ駆動できないが、１台の駆動装置で両方
の媒体を駆動できれば、コストの面でも使い易さの面で
も非常に改善される。尚、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディス
ク及び相変化型光ディスクとを、１台の駆動装置で駆動
できるディスク装置が、特開平４−８５７６０号公報及
び特開平５−１５９４０９号公報で提案されているが、
特開平４−８５７６０号公報は、主に演算処理回路によ
り実現を目指したものであり、特開平５−１５９４０９
号公報は、トラックエラー信号検出にスリービーム法及
びプッシュプル法を用い、フォーカスエラー信号検出に
フーコー法を用いたものである。
【０００５】また、光ディスク装置全般については、コ
ストダウン及び小型化のために、装置の心臓部である光
学系をよりコンパクトにする必要があるが、そのため
に、光ビームの偏向／分離にホログラム光学素子を使用
することが多くなっている。ただし、ホログラム光学素
子を使用する際に注意しなければならないことは、所定
の方向へ光ビームを偏向させたときに、必ず不要な方向
へも光ビームが発生してしまうことである。不要な方向
へも光ビームが発生すると、光の利用効率が落ちて、光
検出器からの出力電流が減少し、装置の信頼性が低下す
る問題が生じる。
ストダウン及び小型化のために、装置の心臓部である光
学系をよりコンパクトにする必要があるが、そのため
に、光ビームの偏向／分離にホログラム光学素子を使用
することが多くなっている。ただし、ホログラム光学素
子を使用する際に注意しなければならないことは、所定
の方向へ光ビームを偏向させたときに、必ず不要な方向
へも光ビームが発生してしまうことである。不要な方向
へも光ビームが発生すると、光の利用効率が落ちて、光
検出器からの出力電流が減少し、装置の信頼性が低下す
る問題が生じる。
【０００６】従来例１．図１は、従来の光ディスク装置
の光学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。こ
の光ディスク装置では、トラックエラー信号検出にはス
リービーム法を用い、フォーカスエラー信号検出には非
点収差法を用いている。この光ディスク装置の光学系
は、この光学系の光軸上に置かれたＬＤ（半導体レー
ザ）１から水平方向へ出射された光ビームが、光軸と光
学面とが垂直になるように光軸上に設置された回折格子
２に入射され、０次光と２つの１次光とに分けられて出
射される。これらの０次光と２つの１次光とは、光軸上
に設けられたビームスプリッタ３をそのまま透過し、立
ち上げミラー４ａで上方へ９０°偏向される。９０°偏
向された０次光と２つの１次光とは、光軸と光学面とが
垂直になるように光軸上に設置された対物レンズ４によ
り、対物レンズ４の上方で水平回転するディスク５のト
ラック５ａ上にそれぞれ集光される。
の光学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。こ
の光ディスク装置では、トラックエラー信号検出にはス
リービーム法を用い、フォーカスエラー信号検出には非
点収差法を用いている。この光ディスク装置の光学系
は、この光学系の光軸上に置かれたＬＤ（半導体レー
ザ）１から水平方向へ出射された光ビームが、光軸と光
学面とが垂直になるように光軸上に設置された回折格子
２に入射され、０次光と２つの１次光とに分けられて出
射される。これらの０次光と２つの１次光とは、光軸上
に設けられたビームスプリッタ３をそのまま透過し、立
ち上げミラー４ａで上方へ９０°偏向される。９０°偏
向された０次光と２つの１次光とは、光軸と光学面とが
垂直になるように光軸上に設置された対物レンズ４によ
り、対物レンズ４の上方で水平回転するディスク５のト
ラック５ａ上にそれぞれ集光される。
【０００７】ディスク５の表面には、情報信号読出しの
ためのメインスポットと、トラックエラー信号検出用の
２つのサイドスポットとが形成される。メインスポット
及び２つのサイドスポットは、ディスク５の半径方向に
１／４トラックずつ互いに離れるように形成される。デ
ィスク５によって反射されたメインスポット及び２つの
サイドスポットの各光ビームは、対物レンズ４を上述の
集光時とは逆方向へ透過し、立ち上げミラー４ａで側方
へ９０°偏向され、ビームスプリッタ３へ戻って来る。
ビームスプリッタ３内では、各光ビームは、反射されて
側方へ９０°偏向され、信号検出系へ入射される。
ためのメインスポットと、トラックエラー信号検出用の
２つのサイドスポットとが形成される。メインスポット
及び２つのサイドスポットは、ディスク５の半径方向に
１／４トラックずつ互いに離れるように形成される。デ
ィスク５によって反射されたメインスポット及び２つの
サイドスポットの各光ビームは、対物レンズ４を上述の
集光時とは逆方向へ透過し、立ち上げミラー４ａで側方
へ９０°偏向され、ビームスプリッタ３へ戻って来る。
ビームスプリッタ３内では、各光ビームは、反射されて
側方へ９０°偏向され、信号検出系へ入射される。
【０００８】信号検出系は、その光軸と各光学面とが垂
直になるように、サーボレンズ６と円筒軸が水平方向で
あるシリンドリカル（円筒）レンズ７とが光軸上にこの
順で設けられており、この２つのレンズの各光ビームの
焦点位置付近には光検出系８が設けられている。光検出
系８は、メインスポットビームの焦点位置付近には、非
点収差法によるフォーカスエラー信号検出のための４分
割光検出器８ｂが設けられ、サイドスポットビームの焦
点位置付近には、スリービーム法によるトラックエラー
信号検出のための光検出器８ａ，８ｃが設けられてい
る。
直になるように、サーボレンズ６と円筒軸が水平方向で
あるシリンドリカル（円筒）レンズ７とが光軸上にこの
順で設けられており、この２つのレンズの各光ビームの
焦点位置付近には光検出系８が設けられている。光検出
系８は、メインスポットビームの焦点位置付近には、非
点収差法によるフォーカスエラー信号検出のための４分
割光検出器８ｂが設けられ、サイドスポットビームの焦
点位置付近には、スリービーム法によるトラックエラー
信号検出のための光検出器８ａ，８ｃが設けられてい
る。
【０００９】尚、対物レンズ４は、ディスク５の面振れ
方向及び半径方向の２軸に、それぞれ独立に移動可能な
支持機構（図示せず）により支持されている。これらの
支持機構には、上述の２軸方向へ力を発生させる磁気回
路が付加されており、これらの磁気回路のコイルに、光
検出系８から得られるフォーカスエラー信号及びトラッ
クエラー信号に基づく制御電流を与えることにより、フ
ォーカスサーボ及びトラックサーボを可能にしている。
方向及び半径方向の２軸に、それぞれ独立に移動可能な
支持機構（図示せず）により支持されている。これらの
支持機構には、上述の２軸方向へ力を発生させる磁気回
路が付加されており、これらの磁気回路のコイルに、光
検出系８から得られるフォーカスエラー信号及びトラッ
クエラー信号に基づく制御電流を与えることにより、フ
ォーカスサーボ及びトラックサーボを可能にしている。
【００１０】このような構成の光ディスク装置の光学系
の動作を以下に説明する。ＬＤ１から出射された光ビー
ムは、回折格子２に入射され、０次光と２つの１次光と
に分けられて出射される。これらの０次光と２つの１次
光とは、ビームスプリッタ３をそのまま透過し、立ち上
げミラー４ａで上方へ９０°偏向される。９０°偏向さ
れた０次光と２つの１次光とは、対物レンズ４により、
ディスク５のトラック５ａ上にそれぞれ集光される。
の動作を以下に説明する。ＬＤ１から出射された光ビー
ムは、回折格子２に入射され、０次光と２つの１次光と
に分けられて出射される。これらの０次光と２つの１次
光とは、ビームスプリッタ３をそのまま透過し、立ち上
げミラー４ａで上方へ９０°偏向される。９０°偏向さ
れた０次光と２つの１次光とは、対物レンズ４により、
ディスク５のトラック５ａ上にそれぞれ集光される。
【００１１】つまり、ディスク５の表面には、情報信号
読出しのためのメインスポットとトラックエラー信号検
出用の２つのサイドスポットとが、ディスク５の半径方
向に１／４トラックずつ互いに離れるように形成され
る。ディスク５によって反射されたメインスポット及び
２つのサイドスポットの各光ビームは、対物レンズ４を
上述の集光時とは逆方向へ透過し、立ち上げミラー４ａ
で側方へ９０°偏向され、ビームスプリッタ３へ戻って
来る。ビームスプリッタ３内では、各光ビームは、反射
されて側方へ９０°偏向され、信号検出系へ入射され
る。
読出しのためのメインスポットとトラックエラー信号検
出用の２つのサイドスポットとが、ディスク５の半径方
向に１／４トラックずつ互いに離れるように形成され
る。ディスク５によって反射されたメインスポット及び
２つのサイドスポットの各光ビームは、対物レンズ４を
上述の集光時とは逆方向へ透過し、立ち上げミラー４ａ
で側方へ９０°偏向され、ビームスプリッタ３へ戻って
来る。ビームスプリッタ３内では、各光ビームは、反射
されて側方へ９０°偏向され、信号検出系へ入射され
る。
【００１２】信号検出系では、各光ビームは、サーボレ
ンズ６とシリンドリカルレンズ７とでそれぞれ収束さ
れ、メインスポットビームは４分割光検出器８ｂへ入射
され、非点収差法によりフォーカスエラー信号が検出さ
れる。サイドスポットビームはそれぞれ光検出器８ａ，
８ｃへ入射され、スリービーム法によりトラックエラー
信号が検出される。情報信号は、４分割光検出器８ｂの
出力の和から求められる。スリービーム法は、トラック
を中心として互いに反対位置にある２つのサイドスポッ
トの、トラックに対するずれによるそれぞれの反射光量
の差を取り、トラックエラー信号とする。
ンズ６とシリンドリカルレンズ７とでそれぞれ収束さ
れ、メインスポットビームは４分割光検出器８ｂへ入射
され、非点収差法によりフォーカスエラー信号が検出さ
れる。サイドスポットビームはそれぞれ光検出器８ａ，
８ｃへ入射され、スリービーム法によりトラックエラー
信号が検出される。情報信号は、４分割光検出器８ｂの
出力の和から求められる。スリービーム法は、トラック
を中心として互いに反対位置にある２つのサイドスポッ
トの、トラックに対するずれによるそれぞれの反射光量
の差を取り、トラックエラー信号とする。
【００１３】非点収差法を以下に説明する。ディスク５
からの反射光ビームに、シリンドリカルレンズ７によ
り、２箇所で互いに垂直関係にある線分状に結像する非
点収差を与えると、前記２箇所の結像点の中間領域での
非点光ビームは楕円形スポットになる。ここで、ディス
ク５上に光スポットが正確にフォーカスされた状態のと
きに、前記２箇所の結像点の中間領域での、非点光ビー
ムの楕円形スポットの長軸と短軸とが反転する（楕円形
が真円になる）位置に４分割光検出器を設けると、その
４検出部の対角の和の差は、ディスク５と対物レンズ４
との遠近を表し、フォーカスエラー信号とすることがで
きる。つまり、ディスク５上に光スポットが正確にフォ
ーカスされた状態のときは、４検出部の対角の和の差は
０になる。
からの反射光ビームに、シリンドリカルレンズ７によ
り、２箇所で互いに垂直関係にある線分状に結像する非
点収差を与えると、前記２箇所の結像点の中間領域での
非点光ビームは楕円形スポットになる。ここで、ディス
ク５上に光スポットが正確にフォーカスされた状態のと
きに、前記２箇所の結像点の中間領域での、非点光ビー
ムの楕円形スポットの長軸と短軸とが反転する（楕円形
が真円になる）位置に４分割光検出器を設けると、その
４検出部の対角の和の差は、ディスク５と対物レンズ４
との遠近を表し、フォーカスエラー信号とすることがで
きる。つまり、ディスク５上に光スポットが正確にフォ
ーカスされた状態のときは、４検出部の対角の和の差は
０になる。
【００１４】従来例２．図２は、従来の光ディスク装置
の光学系の１例の構成を示す斜視図であり、特開昭５７
−３７７４５号公報に開示された例である。この光ディ
スク装置では、トラックエラー信号検出にはプッシュプ
ル法を用い、フォーカスエラー信号検出には臨界角法を
用いている。
の光学系の１例の構成を示す斜視図であり、特開昭５７
−３７７４５号公報に開示された例である。この光ディ
スク装置では、トラックエラー信号検出にはプッシュプ
ル法を用い、フォーカスエラー信号検出には臨界角法を
用いている。
【００１５】この光ディスク装置の光学系は、この光学
系の光軸上に置かれたＬＤ（半導体レーザ）１から水平
方向へ出射された光ビームが、光軸と光学面とが垂直に
なるように光軸上に設置されたコリメートレンズ９に入
射され、平行光になって出射される。この平行光は、光
軸上に設けられた整形プリズム１０で真円状に整えら
れ、整形プリズム１０に接して光軸上に設けられたビー
ムスプリッタ３をそのまま透過する。ビームスプリッタ
３を透過した光ビームは、立ち上げミラー４ａで上方へ
９０°偏向される。９０°偏向された光ビームは、光軸
と光学面とが垂直になるように光軸上に設置された対物
レンズ４により、対物レンズ４の上方で水平回転するデ
ィスク５のトラック５ａ上に集光され反射される。
系の光軸上に置かれたＬＤ（半導体レーザ）１から水平
方向へ出射された光ビームが、光軸と光学面とが垂直に
なるように光軸上に設置されたコリメートレンズ９に入
射され、平行光になって出射される。この平行光は、光
軸上に設けられた整形プリズム１０で真円状に整えら
れ、整形プリズム１０に接して光軸上に設けられたビー
ムスプリッタ３をそのまま透過する。ビームスプリッタ
３を透過した光ビームは、立ち上げミラー４ａで上方へ
９０°偏向される。９０°偏向された光ビームは、光軸
と光学面とが垂直になるように光軸上に設置された対物
レンズ４により、対物レンズ４の上方で水平回転するデ
ィスク５のトラック５ａ上に集光され反射される。
【００１６】ディスク５によって反射された光ビーム
は、対物レンズ４を上述の集光時とは逆方向へ透過し、
立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、ビームス
プリッタ３へ戻って来る。ビームスプリッタ３内では、
光ビームは、反射されて側方へ９０°偏向され、信号検
出系へ入射される。
は、対物レンズ４を上述の集光時とは逆方向へ透過し、
立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、ビームス
プリッタ３へ戻って来る。ビームスプリッタ３内では、
光ビームは、反射されて側方へ９０°偏向され、信号検
出系へ入射される。
【００１７】信号検出系へ入射された光ビームは、その
光軸上に設けられた別のビームスプリッタ１１により、
一部が反射されて側方へ９０°偏向され、残りはそのま
ま透過する。透過した光ビームは、ＭＯ信号検出系に入
射され、ＭＯ信号検出系の光軸上に設けられたウォラス
トンプリズム１４で、２つの直線偏光に偏光分離され
る。２つの直線偏光は、２分割の光検出器１５へそれぞ
れ入射される。ビームスプリッタ１１により９０°偏向
された光ビームは、サーボエラー信号検出系に入射さ
れ、サーボエラー信号検出系の光軸上に設けられた臨界
角プリズム１２で反射されて、４分割の光検出器１３へ
入射される。その他の構成は、上述で説明した従来例１
の光ディスク装置と同様であるので、説明を省略する。
光軸上に設けられた別のビームスプリッタ１１により、
一部が反射されて側方へ９０°偏向され、残りはそのま
ま透過する。透過した光ビームは、ＭＯ信号検出系に入
射され、ＭＯ信号検出系の光軸上に設けられたウォラス
トンプリズム１４で、２つの直線偏光に偏光分離され
る。２つの直線偏光は、２分割の光検出器１５へそれぞ
れ入射される。ビームスプリッタ１１により９０°偏向
された光ビームは、サーボエラー信号検出系に入射さ
れ、サーボエラー信号検出系の光軸上に設けられた臨界
角プリズム１２で反射されて、４分割の光検出器１３へ
入射される。その他の構成は、上述で説明した従来例１
の光ディスク装置と同様であるので、説明を省略する。
【００１８】このような構成の光ディスク装置の光学系
の動作を以下に説明する。ＬＤ１から出射された光ビー
ムが、コリメートレンズ９に入射され、平行光になって
出射される。この平行光は、整形プリズム１０で真円状
に整えられ、ビームスプリッタ３をそのまま透過する。
ビームスプリッタ３を透過した光ビームは、立ち上げミ
ラー４ａで上方へ９０°偏向される。９０°偏向された
光ビームは、対物レンズ４によりディスク５のトラック
５ａ上に集光され反射される。
の動作を以下に説明する。ＬＤ１から出射された光ビー
ムが、コリメートレンズ９に入射され、平行光になって
出射される。この平行光は、整形プリズム１０で真円状
に整えられ、ビームスプリッタ３をそのまま透過する。
ビームスプリッタ３を透過した光ビームは、立ち上げミ
ラー４ａで上方へ９０°偏向される。９０°偏向された
光ビームは、対物レンズ４によりディスク５のトラック
５ａ上に集光され反射される。
【００１９】ディスク５によって反射された光ビーム
は、対物レンズ４を上述の集光時とは逆方向へ透過し、
立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、ビームス
プリッタ３へ戻って来る。ビームスプリッタ３内では、
光ビームは、反射されて側方へ９０°偏向され、信号検
出系へ入射される。
は、対物レンズ４を上述の集光時とは逆方向へ透過し、
立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、ビームス
プリッタ３へ戻って来る。ビームスプリッタ３内では、
光ビームは、反射されて側方へ９０°偏向され、信号検
出系へ入射される。
【００２０】信号検出系へ入射された光ビームは、ビー
ムスプリッタ１１により一部が反射されて側方へ９０°
偏向され、残りはそのまま透過する。透過した光ビーム
は、ＭＯ信号検出系に入射され、ウォラストンプリズム
１４で互いに直交する２つの直線偏光に偏光分離され
る。この２つの直線偏光は、２分割の光検出器１５でそ
れぞれ検出され、その差から情報信号が得られる。ビー
ムスプリッタ１１により９０°偏向された光ビームは、
サーボエラー信号検出系に入射され、サーボエラー信号
検出系の光軸上に設けられた臨界角プリズム１２で反射
されて、４分割の光検出器１３へ入射される。このと
き、ディスク５上に光スポットが正確にフォーカスされ
ていれば、光ビームは、臨界角プリズム１２の反射面で
全反射され、光検出器１３へ入射される。
ムスプリッタ１１により一部が反射されて側方へ９０°
偏向され、残りはそのまま透過する。透過した光ビーム
は、ＭＯ信号検出系に入射され、ウォラストンプリズム
１４で互いに直交する２つの直線偏光に偏光分離され
る。この２つの直線偏光は、２分割の光検出器１５でそ
れぞれ検出され、その差から情報信号が得られる。ビー
ムスプリッタ１１により９０°偏向された光ビームは、
サーボエラー信号検出系に入射され、サーボエラー信号
検出系の光軸上に設けられた臨界角プリズム１２で反射
されて、４分割の光検出器１３へ入射される。このと
き、ディスク５上に光スポットが正確にフォーカスされ
ていれば、光ビームは、臨界角プリズム１２の反射面で
全反射され、光検出器１３へ入射される。
【００２１】ディスク５が対物レンズ４の焦点位置より
遠ければ、臨界角プリズム１２の反射面に入射される光
ビームは、光軸を対称に入射角が臨界角より大きい光ビ
ームと小さい光ビームとに分かれ、小さい光ビームは全
反射するが、大きい光ビームは一部が透過する。ディス
ク５が対物レンズ４の焦点位置より近ければ、光軸を対
称に入射角が臨界角より大きい光ビームは全反射する
が、小さい光ビームは一部が透過する。その結果、光検
出器１３上の光ビームは、ディスク５が対物レンズ４の
焦点位置より遠いか近いかで、明暗が反転するので、４
分割の光検出器１３の左右２つずつの検出部の出力の和
の差を取ることによって、フォーカスエラー信号を得る
ことができる（臨界角法）。
遠ければ、臨界角プリズム１２の反射面に入射される光
ビームは、光軸を対称に入射角が臨界角より大きい光ビ
ームと小さい光ビームとに分かれ、小さい光ビームは全
反射するが、大きい光ビームは一部が透過する。ディス
ク５が対物レンズ４の焦点位置より近ければ、光軸を対
称に入射角が臨界角より大きい光ビームは全反射する
が、小さい光ビームは一部が透過する。その結果、光検
出器１３上の光ビームは、ディスク５が対物レンズ４の
焦点位置より遠いか近いかで、明暗が反転するので、４
分割の光検出器１３の左右２つずつの検出部の出力の和
の差を取ることによって、フォーカスエラー信号を得る
ことができる（臨界角法）。
【００２２】ディスク５上で光スポットの位置がトラッ
クの位置からずれると、光検出器１３上の光スポット
も、図５（ａ），（ｃ）のように、上下方向にずれる。
一方、ディスク５上で光スポットの位置とトラックの位
置とが合致していると、光検出器１３上の光スポット
も、図５（ｂ）のように、何れへもずれない。そのた
め、４分割の光検出器１３の上下２つずつの検出部の出
力の和の差を取ることによって、トラックエラー信号を
得ることができる（プッシュプル法）。
クの位置からずれると、光検出器１３上の光スポット
も、図５（ａ），（ｃ）のように、上下方向にずれる。
一方、ディスク５上で光スポットの位置とトラックの位
置とが合致していると、光検出器１３上の光スポット
も、図５（ｂ）のように、何れへもずれない。そのた
め、４分割の光検出器１３の上下２つずつの検出部の出
力の和の差を取ることによって、トラックエラー信号を
得ることができる（プッシュプル法）。
【００２３】従来例３．図３は、従来の光ディスク装置
の光学系の１例の構成を示す斜視図である。この光ディ
スク装置では、トラックエラー信号検出にはプッシュプ
ル法を用い、フォーカスエラー信号検出にはフーコー法
を用いている。
の光学系の１例の構成を示す斜視図である。この光ディ
スク装置では、トラックエラー信号検出にはプッシュプ
ル法を用い、フォーカスエラー信号検出にはフーコー法
を用いている。
【００２４】この光ディスク装置の光学系では、信号検
出系へ入射された反射光の光ビームは、その光軸上に設
けられたビームスプリッタ１１により、一部が反射され
て側方へ９０°偏向され、残りはそのまま透過する。９
０°偏向された光ビームは、ＭＯ信号検出系に入射さ
れ、ＭＯ信号検出系の光軸上に設けられたウォラストン
プリズム１４で、２つの直線偏光に偏光分離される。２
つの直線偏光は、２分割の光検出器１５へそれぞれ入射
される。
出系へ入射された反射光の光ビームは、その光軸上に設
けられたビームスプリッタ１１により、一部が反射され
て側方へ９０°偏向され、残りはそのまま透過する。９
０°偏向された光ビームは、ＭＯ信号検出系に入射さ
れ、ＭＯ信号検出系の光軸上に設けられたウォラストン
プリズム１４で、２つの直線偏光に偏光分離される。２
つの直線偏光は、２分割の光検出器１５へそれぞれ入射
される。
【００２５】ビームスプリッタ１１を透過した光ビーム
は、サーボエラー信号検出系に入射され、サーボレンズ
６で収束される。収束された光ビームは、光軸上に設け
られたハーフミラー４ｂで、一部が側方へ９０°偏向さ
れ、残りは直進する。９０°偏向された光ビームは、ト
ラックエラー信号検出用の２分割の光検出器１３ａへ入
射される。直進した光ビームは、光軸と光学面とが垂直
になるように光軸上に設置されたウエッジプリズム１４
ａにより、左右に分割され、それぞれニアフィールドの
状態で、フォーカスエラー信号検出用の４分割の光検出
器１３ｂへ入射される。その他の構成は、上述で説明し
た従来例２の光ディスク装置と同様であるので、説明を
省略する。
は、サーボエラー信号検出系に入射され、サーボレンズ
６で収束される。収束された光ビームは、光軸上に設け
られたハーフミラー４ｂで、一部が側方へ９０°偏向さ
れ、残りは直進する。９０°偏向された光ビームは、ト
ラックエラー信号検出用の２分割の光検出器１３ａへ入
射される。直進した光ビームは、光軸と光学面とが垂直
になるように光軸上に設置されたウエッジプリズム１４
ａにより、左右に分割され、それぞれニアフィールドの
状態で、フォーカスエラー信号検出用の４分割の光検出
器１３ｂへ入射される。その他の構成は、上述で説明し
た従来例２の光ディスク装置と同様であるので、説明を
省略する。
【００２６】このような構成の光ディスク装置の光学系
の動作を以下に説明する。信号検出系へ入射された反射
光の光ビームは、ビームスプリッタ１１により、一部が
反射されて側方へ９０°偏向され、残りはそのまま透過
する。９０°偏向された光ビームは、ＭＯ信号検出系に
入射され、ウォラストンプリズム１４で互いに直交する
２つの直線偏光に偏光分離される。この２つの直線偏光
は、２分割の光検出器１５でそれぞれ検出され、その差
から情報信号が得られる。
の動作を以下に説明する。信号検出系へ入射された反射
光の光ビームは、ビームスプリッタ１１により、一部が
反射されて側方へ９０°偏向され、残りはそのまま透過
する。９０°偏向された光ビームは、ＭＯ信号検出系に
入射され、ウォラストンプリズム１４で互いに直交する
２つの直線偏光に偏光分離される。この２つの直線偏光
は、２分割の光検出器１５でそれぞれ検出され、その差
から情報信号が得られる。
【００２７】ビームスプリッタ１１を透過した光ビーム
は、サーボエラー信号検出系に入射され、サーボレンズ
６で収束される。収束された光ビームは、光軸上に設け
られたハーフミラー４ｂで、一部が側方へ９０°偏向さ
れ、残りは直進する。９０°偏向された光ビームは、２
分割の光検出器１３ａへ入射される。光検出器１３ａ
は、上述の従来例２の光ディスク装置で説明したプッシ
ュプル法によりトラックエラー信号を得る。ハーフミラ
ー４ｂを直進した光ビームは、ウエッジプリズム１４ａ
により、左右に分割され、４分割の光検出器１３ｂの上
部２つの検出部の分割線上と下部２つの検出部の分割線
上とに分けて入射される。このとき、ディスク５上に光
スポットが正確にフォーカスされていれば、左右に分割
された光ビームは、光検出器１３ｂ上で、図４（ｂ）の
ように、上部２つの検出部の分割線上と下部２つの検出
部の分割線上とにニアフィールド状態のスポットを形成
する。
は、サーボエラー信号検出系に入射され、サーボレンズ
６で収束される。収束された光ビームは、光軸上に設け
られたハーフミラー４ｂで、一部が側方へ９０°偏向さ
れ、残りは直進する。９０°偏向された光ビームは、２
分割の光検出器１３ａへ入射される。光検出器１３ａ
は、上述の従来例２の光ディスク装置で説明したプッシ
ュプル法によりトラックエラー信号を得る。ハーフミラ
ー４ｂを直進した光ビームは、ウエッジプリズム１４ａ
により、左右に分割され、４分割の光検出器１３ｂの上
部２つの検出部の分割線上と下部２つの検出部の分割線
上とに分けて入射される。このとき、ディスク５上に光
スポットが正確にフォーカスされていれば、左右に分割
された光ビームは、光検出器１３ｂ上で、図４（ｂ）の
ように、上部２つの検出部の分割線上と下部２つの検出
部の分割線上とにニアフィールド状態のスポットを形成
する。
【００２８】ディスク５が対物レンズ４の焦点位置より
近ければ、左右に分割された光ビームは、トラック５ａ
上のスポットをトラック方向へ４分割したそれぞれの位
置に対応する光検出器１３ｂの各検出部ａ〜ｄの内、外
側（前後端）の検出部ａと検出部ｃとにファーフィール
ドのスポットを形成する（図４（ａ））。ディスク５が
対物レンズ４の焦点位置より遠ければ、左右に分割され
た光ビームは、内側（中間部）の検出部ｂと検出部ｄと
にファーフィールド状態のスポットを形成する（図４
（ｃ））。従って、光検出器１３ｂ上の光ビームは、デ
ィスク５が対物レンズ４の焦点位置より遠いか近いか
で、明暗が反転するので、４分割の光検出器１３ｂの対
角の検出部の出力の和の差を取ることによって、フォー
カスエラー信号を得ることができる（フーコー法）。そ
の他の動作は、上述で説明した従来例２の光ディスク装
置と同様であるので、説明を省略する。
近ければ、左右に分割された光ビームは、トラック５ａ
上のスポットをトラック方向へ４分割したそれぞれの位
置に対応する光検出器１３ｂの各検出部ａ〜ｄの内、外
側（前後端）の検出部ａと検出部ｃとにファーフィール
ドのスポットを形成する（図４（ａ））。ディスク５が
対物レンズ４の焦点位置より遠ければ、左右に分割され
た光ビームは、内側（中間部）の検出部ｂと検出部ｄと
にファーフィールド状態のスポットを形成する（図４
（ｃ））。従って、光検出器１３ｂ上の光ビームは、デ
ィスク５が対物レンズ４の焦点位置より遠いか近いか
で、明暗が反転するので、４分割の光検出器１３ｂの対
角の検出部の出力の和の差を取ることによって、フォー
カスエラー信号を得ることができる（フーコー法）。そ
の他の動作は、上述で説明した従来例２の光ディスク装
置と同様であるので、説明を省略する。
【００２９】従来例４．図６は、従来の光ディスク装置
の光学系の１例の構成を示す斜視図であり、Optical Da
ta Storage Topical Meeting 1992,Technical Digest 3
2/MC2 〜MC2/35の第３図に示されている例である。この
光学系は、この光学系の光軸上に置かれたＬＤ（半導体
レーザ）５１から水平方向へ出射された光ビームが、光
軸上に置かれたミラー５２で上方へ９０°偏向される。
９０°偏向された光ビームは、光軸と光学面とが垂直に
なるように光軸上に設置されたホログラム光学素子５３
へ入射され、０次光、±１次光及びその他の高次光に回
折分離される。この内、０次光の光ビームは対物レンズ
系（図示せず）により、上方で水平回転するディスク
（図示せず）上に集光される。尚、０次光以外の光ビー
ムは、対物レンズ系で全て蹴られるように設計されてい
る。
の光学系の１例の構成を示す斜視図であり、Optical Da
ta Storage Topical Meeting 1992,Technical Digest 3
2/MC2 〜MC2/35の第３図に示されている例である。この
光学系は、この光学系の光軸上に置かれたＬＤ（半導体
レーザ）５１から水平方向へ出射された光ビームが、光
軸上に置かれたミラー５２で上方へ９０°偏向される。
９０°偏向された光ビームは、光軸と光学面とが垂直に
なるように光軸上に設置されたホログラム光学素子５３
へ入射され、０次光、±１次光及びその他の高次光に回
折分離される。この内、０次光の光ビームは対物レンズ
系（図示せず）により、上方で水平回転するディスク
（図示せず）上に集光される。尚、０次光以外の光ビー
ムは、対物レンズ系で全て蹴られるように設計されてい
る。
【００３０】ディスクによって反射された光ビームは、
対物レンズ系を上述の集光時とは逆方向へ透過し、ホロ
グラム光学素子５３に上述とは逆方向に入射される。ホ
ログラム光学素子５３に入射された光ビームは、ホログ
ラム光学素子５３の４分割された各領域５３１〜５３４
により回折されて分割され、光検出系５４の光検出器５
４ａ〜５４ｄを含む各光検出器へそれぞれ入射する。こ
の場合、光検出系５４の各光検出器へそれぞれ入射され
る反射光の光ビームは、＋１次（回折）光及び−１次
（回折）光の両方である。
対物レンズ系を上述の集光時とは逆方向へ透過し、ホロ
グラム光学素子５３に上述とは逆方向に入射される。ホ
ログラム光学素子５３に入射された光ビームは、ホログ
ラム光学素子５３の４分割された各領域５３１〜５３４
により回折されて分割され、光検出系５４の光検出器５
４ａ〜５４ｄを含む各光検出器へそれぞれ入射する。こ
の場合、光検出系５４の各光検出器へそれぞれ入射され
る反射光の光ビームは、＋１次（回折）光及び−１次
（回折）光の両方である。
【００３１】ホログラム光学素子５３の各領域５３１〜
５３４は、領域５３１，５３２がトラックエラー信号作
成用光ビームを出力し、領域５３３，５３４がフォーカ
スエラー信号作成用光ビームを出力するようになってい
る。この光ディスク装置のフォーカス信号及びトラック
エラー信号は、光検出系５４の各光検出器で検出された
＋１次光及び−１次光に基づいて作成されるようになっ
ている。
５３４は、領域５３１，５３２がトラックエラー信号作
成用光ビームを出力し、領域５３３，５３４がフォーカ
スエラー信号作成用光ビームを出力するようになってい
る。この光ディスク装置のフォーカス信号及びトラック
エラー信号は、光検出系５４の各光検出器で検出された
＋１次光及び−１次光に基づいて作成されるようになっ
ている。
【００３２】
【発明が解決しようとする課題】ＣＤ−ＲＯＭと光磁気
ディスク及び相変化型光ディスクとは、それぞれ専用の
駆動装置を用意しなければ駆動できない。従来例１のよ
うに、トラックエラー信号検出にスリービーム法を用い
ると、スリービームを作成するための回折格子２が必要
であり、部品点数が多くなる。光ビームをメインスポッ
トとサイドスポットとに分割するため、情報の読み取り
に使用される光量が少なくなる。光量が少なくなると、
書換可能なディスクの記録／消去が充分に行えなくな
る。また、フォーカスエラー信号検出のための非点収差
法は、４分割光検出部８ｂの各出力の対角の和の差を取
るので、２つの対角方向で異なる光の強度分布を有する
場合にフォーカスオフセットが生じるが、光ディスク
は、複屈折の影響があるプラスチック基板を多く使用し
ており、ディスクからの反射光は２つの対角方向で異な
る光の強度分布を有することが多い。
ディスク及び相変化型光ディスクとは、それぞれ専用の
駆動装置を用意しなければ駆動できない。従来例１のよ
うに、トラックエラー信号検出にスリービーム法を用い
ると、スリービームを作成するための回折格子２が必要
であり、部品点数が多くなる。光ビームをメインスポッ
トとサイドスポットとに分割するため、情報の読み取り
に使用される光量が少なくなる。光量が少なくなると、
書換可能なディスクの記録／消去が充分に行えなくな
る。また、フォーカスエラー信号検出のための非点収差
法は、４分割光検出部８ｂの各出力の対角の和の差を取
るので、２つの対角方向で異なる光の強度分布を有する
場合にフォーカスオフセットが生じるが、光ディスク
は、複屈折の影響があるプラスチック基板を多く使用し
ており、ディスクからの反射光は２つの対角方向で異な
る光の強度分布を有することが多い。
【００３３】ＣＤ−ＲＯＭのようにピット列で情報が書
き込まれている場合、ピットがあるときの反射とピット
が無いときの反射との差で情報信号を検出するので、そ
の反射光量の差が大きいことが望ましい。ところが、反
射光量の差が大きくなる条件と、従来例２，３でトラッ
クエラー信号検出に用いられているプッシュプル法の信
号の振幅が大きくなる条件とは相反する。つまり、反射
光量の差が大きくなるピットの深さλ／４では、プッシ
ュプル信号は得られない。そのため、従来例２，３の光
ディスク装置が駆動できるのは、ピットの深さがλ／４
以外のＲＯＭディスクか、プッシュプル信号が得られる
ように、予め、連続的なグルーブが形成されているディ
スクである。
き込まれている場合、ピットがあるときの反射とピット
が無いときの反射との差で情報信号を検出するので、そ
の反射光量の差が大きいことが望ましい。ところが、反
射光量の差が大きくなる条件と、従来例２，３でトラッ
クエラー信号検出に用いられているプッシュプル法の信
号の振幅が大きくなる条件とは相反する。つまり、反射
光量の差が大きくなるピットの深さλ／４では、プッシ
ュプル信号は得られない。そのため、従来例２，３の光
ディスク装置が駆動できるのは、ピットの深さがλ／４
以外のＲＯＭディスクか、プッシュプル信号が得られる
ように、予め、連続的なグルーブが形成されているディ
スクである。
【００３４】従来例２でフォーカスエラー信号検出に用
いられている臨界角法は、臨界角プリズムの設置に高い
精度が要求され、プリズムの反射面の傾斜が付いている
方向での光量分布の影響を受ける。また、光検出器１３
での光ビームのスポットが大きいため、光検出器１３の
受光面積が大きくなり、光検出器１３のコストも高くな
る。また、光検出器１３の受光面積が大きいと、接合容
量が大きくなり雑音成分が増加して望ましくない。ま
た、従来例１のように、同一の光検出器８ｂでサーボ信
号と再生信号（情報信号）とを生成しようとすると、サ
ーボ信号に再生信号の成分がノイズとして入り込むこと
を防止するため、再生信号とサーボ信号との周波数の違
いを利用して、再生信号の成分を分離するための回路又
はフィルタを付加しなければならない。
いられている臨界角法は、臨界角プリズムの設置に高い
精度が要求され、プリズムの反射面の傾斜が付いている
方向での光量分布の影響を受ける。また、光検出器１３
での光ビームのスポットが大きいため、光検出器１３の
受光面積が大きくなり、光検出器１３のコストも高くな
る。また、光検出器１３の受光面積が大きいと、接合容
量が大きくなり雑音成分が増加して望ましくない。ま
た、従来例１のように、同一の光検出器８ｂでサーボ信
号と再生信号（情報信号）とを生成しようとすると、サ
ーボ信号に再生信号の成分がノイズとして入り込むこと
を防止するため、再生信号とサーボ信号との周波数の違
いを利用して、再生信号の成分を分離するための回路又
はフィルタを付加しなければならない。
【００３５】従来例４のように、ホログラム光学素子５
３を４分割し、トラックエラー信号作成用とフォーカス
エラー信号作成用とにそれぞれ２領域宛使用すると、各
領域から出射される光ビームの光量は、元の反射光の１
／４になる。さらに、例えば、領域５３３から出射され
た＋１次光は光検出器５４ｅに入射するが、このとき、
必ず−１次光が、丁度＋１次光と回折格子に関して対称
の方向へ出射される。そのため、光検出器５４ｅの受光
光量は、領域５３３から出射された光量の１／２にな
る。実際は、±２次以上の光もあるので、光検出器５４
ｅに到達する光量は１／２になる。従って、光検出器５
４ｅに到達する光量は、ホログラム光学素子５３へ入射
された全光量からみると、（１／４）×（１／２）＝１
／８以下になり、ノイズ及び迷光（Stray Light ）等の
影響を受け易くなる。
３を４分割し、トラックエラー信号作成用とフォーカス
エラー信号作成用とにそれぞれ２領域宛使用すると、各
領域から出射される光ビームの光量は、元の反射光の１
／４になる。さらに、例えば、領域５３３から出射され
た＋１次光は光検出器５４ｅに入射するが、このとき、
必ず−１次光が、丁度＋１次光と回折格子に関して対称
の方向へ出射される。そのため、光検出器５４ｅの受光
光量は、領域５３３から出射された光量の１／２にな
る。実際は、±２次以上の光もあるので、光検出器５４
ｅに到達する光量は１／２になる。従って、光検出器５
４ｅに到達する光量は、ホログラム光学素子５３へ入射
された全光量からみると、（１／４）×（１／２）＝１
／８以下になり、ノイズ及び迷光（Stray Light ）等の
影響を受け易くなる。
【００３６】以上を以下に要約する。ＣＤ−ＲＯＭと光
磁気ディスク及び相変化型光ディスクとは、それぞれ専
用の駆動装置を用意しなければ駆動できない。トラック
エラー信号検出にスリービーム法を用いると、部品点数
が多くなる。情報の読み取りに使用される光量が少なく
なる。書換可能なディスクの記録／消去が充分に行えな
くなる。フォーカスエラー信号検出に非点収差法を用い
ると、プラスチック基板を使用したディスクでは、フォ
ーカスオフセットが生じる。
磁気ディスク及び相変化型光ディスクとは、それぞれ専
用の駆動装置を用意しなければ駆動できない。トラック
エラー信号検出にスリービーム法を用いると、部品点数
が多くなる。情報の読み取りに使用される光量が少なく
なる。書換可能なディスクの記録／消去が充分に行えな
くなる。フォーカスエラー信号検出に非点収差法を用い
ると、プラスチック基板を使用したディスクでは、フォ
ーカスオフセットが生じる。
【００３７】トラックエラー信号検出にプッシュプル法
が使用できるのは、予め、連続的なグルーブが形成され
ているディスクである。フォーカスエラー信号検出に臨
界角法を用いるのは、望ましくない。同一の光検出器で
サーボ信号と再生信号（情報信号）とを生成する場合
は、再生信号の成分を分離する回路又はフィルタを付加
しなければならない。ホログラム光学素子を４分割して
使用すると、ノイズ及び迷光（Stray Light）等の影響
を受け易くなる。
が使用できるのは、予め、連続的なグルーブが形成され
ているディスクである。フォーカスエラー信号検出に臨
界角法を用いるのは、望ましくない。同一の光検出器で
サーボ信号と再生信号（情報信号）とを生成する場合
は、再生信号の成分を分離する回路又はフィルタを付加
しなければならない。ホログラム光学素子を４分割して
使用すると、ノイズ及び迷光（Stray Light）等の影響
を受け易くなる。
【００３８】本発明は、上述のような事情に鑑みてなさ
れたものであり、スリービーム法、非点収差法及び臨界
角法を用いずに、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相
変化型光ディスクとを駆動することができる光ディスク
装置を提供することを目的とする。また、同一の光検出
器でサーボ信号と再生信号（情報信号）とを生成しない
光ディスク装置を提供することを目的とする。また、ホ
ログラム光学素子を使用しても、ノイズ及び迷光等の影
響を受け難い光ディスク装置を提供することを目的とす
る。
れたものであり、スリービーム法、非点収差法及び臨界
角法を用いずに、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相
変化型光ディスクとを駆動することができる光ディスク
装置を提供することを目的とする。また、同一の光検出
器でサーボ信号と再生信号（情報信号）とを生成しない
光ディスク装置を提供することを目的とする。また、ホ
ログラム光学素子を使用しても、ノイズ及び迷光等の影
響を受け難い光ディスク装置を提供することを目的とす
る。
【００３９】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光ディスク
装置は、トラックを有する記録媒体上に光ビームを照射
する際、その反射光から、前記光ビームを制御するため
のフォーカスエラー信号とトラックエラー信号とを検出
する光ディスク装置において、前記反射光を、トラック
エラー信号及びフォーカスエラー信号を作成するための
複数の光ビームに分割し、該複数の光ビームを互いに異
なる方向へ偏向させる光学素子と、前記複数の光ビーム
のそれぞれを検出する光検出器と、該光検出器の出力か
らフォーカスエラー信号を演算して出力し、前記トラッ
クの構造に応じて、前記光検出器の出力からトラックエ
ラー信号を選択的に演算して出力する演算手段とを備え
ている。
装置は、トラックを有する記録媒体上に光ビームを照射
する際、その反射光から、前記光ビームを制御するため
のフォーカスエラー信号とトラックエラー信号とを検出
する光ディスク装置において、前記反射光を、トラック
エラー信号及びフォーカスエラー信号を作成するための
複数の光ビームに分割し、該複数の光ビームを互いに異
なる方向へ偏向させる光学素子と、前記複数の光ビーム
のそれぞれを検出する光検出器と、該光検出器の出力か
らフォーカスエラー信号を演算して出力し、前記トラッ
クの構造に応じて、前記光検出器の出力からトラックエ
ラー信号を選択的に演算して出力する演算手段とを備え
ている。
【００４０】具体的には、例えば、フォーカスエラー信
号は、記録媒体のトラックの構造に係わらず、フーコー
法により得るようになっている。トラックエラー信号
は、記録媒体のトラックがＣＤ−ＲＯＭのように、ピッ
ト列のみを有する場合、ヘテロダイン法により得、記録
媒体のトラックが光磁気ディスクのように、連続グルー
ブを有する場合、プッシュプル法により得るようになっ
ている。
号は、記録媒体のトラックの構造に係わらず、フーコー
法により得るようになっている。トラックエラー信号
は、記録媒体のトラックがＣＤ−ＲＯＭのように、ピッ
ト列のみを有する場合、ヘテロダイン法により得、記録
媒体のトラックが光磁気ディスクのように、連続グルー
ブを有する場合、プッシュプル法により得るようになっ
ている。
【００４１】フーコー法を以下に説明する。記録媒体に
よって反射された光ビームを２分割し、それぞれを４分
割の光検出器（又は２分割の光検出器２つ）の検出部の
同一方向の分割線上に入射させる。このとき、記録媒体
上に光スポットが正確にフォーカスされていれば、２分
割された光ビームは、それぞれ４分割の光検出器上で、
図４（ｂ）に示すように、分割線上にニアフィールド状
態のスポットを形成する。
よって反射された光ビームを２分割し、それぞれを４分
割の光検出器（又は２分割の光検出器２つ）の検出部の
同一方向の分割線上に入射させる。このとき、記録媒体
上に光スポットが正確にフォーカスされていれば、２分
割された光ビームは、それぞれ４分割の光検出器上で、
図４（ｂ）に示すように、分割線上にニアフィールド状
態のスポットを形成する。
【００４２】記録媒体が対物レンズの焦点位置より近け
れば、２分割された光ビームは、トラック上のスポット
を同一方向へ４分割したそれぞれの位置に対応する４分
割の光検出器の各検出部の内、外側２つの検出部にそれ
ぞれファーフィールドのスポットを形成する（図４
（ａ））。記録媒体が対物レンズの焦点位置より遠けれ
ば、２分割された光ビームは、内側２つの検出部にそれ
ぞれファーフィールド状態のスポットを形成する（図４
（ｃ））。従って、４分割の光検出器上の光ビームは、
記録媒体が対物レンズの焦点位置より遠いか近いかで、
明暗が反転するので、４分割の光検出器の対角の検出部
（外側２つ及び内側２つの検出部）の出力の和の差を取
ることによって、フォーカスエラー信号を得ることがで
きる。
れば、２分割された光ビームは、トラック上のスポット
を同一方向へ４分割したそれぞれの位置に対応する４分
割の光検出器の各検出部の内、外側２つの検出部にそれ
ぞれファーフィールドのスポットを形成する（図４
（ａ））。記録媒体が対物レンズの焦点位置より遠けれ
ば、２分割された光ビームは、内側２つの検出部にそれ
ぞれファーフィールド状態のスポットを形成する（図４
（ｃ））。従って、４分割の光検出器上の光ビームは、
記録媒体が対物レンズの焦点位置より遠いか近いかで、
明暗が反転するので、４分割の光検出器の対角の検出部
（外側２つ及び内側２つの検出部）の出力の和の差を取
ることによって、フォーカスエラー信号を得ることがで
きる。
【００４３】プッシュプル法を以下に説明する。記録媒
体上で光スポットの位置がトラックの位置からずれる
と、光検出器上の光スポットも、図５（ａ），（ｃ）の
ように、トラックと垂直方向の対応する方向へずれる。
一方、記録媒体上で光スポットの位置とトラックの位置
とが合致していると、光検出器上の光スポットも、図５
（ｂ）のように、何れへもずれない。従って、２分割の
光検出器の分割線をトラックの中心線に対応させれば、
２つの検出部の出力の差を取ることによって、トラック
エラー信号を得ることができる。
体上で光スポットの位置がトラックの位置からずれる
と、光検出器上の光スポットも、図５（ａ），（ｃ）の
ように、トラックと垂直方向の対応する方向へずれる。
一方、記録媒体上で光スポットの位置とトラックの位置
とが合致していると、光検出器上の光スポットも、図５
（ｂ）のように、何れへもずれない。従って、２分割の
光検出器の分割線をトラックの中心線に対応させれば、
２つの検出部の出力の差を取ることによって、トラック
エラー信号を得ることができる。
【００４４】ヘテロダイン法を以下に説明する。記録媒
体によって反射された光ビームを、ファーフィールド状
態で４分割光検出器により検出すると、４検出部の出力
和のＲＦ信号と、対角和の差のＨＴＤ信号とは図１１に
示すようになる。光スポットがトラック上にあるとき、
ＨＴＤ信号は０である（ｂ）。光スポットがトラック上
から外れているとき、ＨＴＤ信号の位相は、光スポット
が外れている方向に従って、ＲＦ信号に対して９０°の
進み又は遅れが生じる（ａ），（ｃ）。この位相差をヘ
テロダイン検波で検出して、トラックエラー信号を得る
ことができる。
体によって反射された光ビームを、ファーフィールド状
態で４分割光検出器により検出すると、４検出部の出力
和のＲＦ信号と、対角和の差のＨＴＤ信号とは図１１に
示すようになる。光スポットがトラック上にあるとき、
ＨＴＤ信号は０である（ｂ）。光スポットがトラック上
から外れているとき、ＨＴＤ信号の位相は、光スポット
が外れている方向に従って、ＲＦ信号に対して９０°の
進み又は遅れが生じる（ａ），（ｃ）。この位相差をヘ
テロダイン検波で検出して、トラックエラー信号を得る
ことができる。
【００４５】ヘテロダイン検波は、図１２において、光
スポットとトラック（ピットの並び）との位置関係
（ａ）によって得られるＲＦ信号（ｂ）の負レベルから
正レベルへの転換時及び正レベルから負レベルへの転換
時のサンプリングパルスＳ３及びＳ４（ｄ）により、Ｈ
ＴＤ信号（ヘテロダイン信号）（ｃ）をそれぞれサンプ
リングし、それぞれの保持信号Ｓ５（ｅ）とＳ６（ｆ）
との差を取ることにより、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位
相差を検出する。トラックエラー信号は、保持信号Ｓ５
（ｅ）とＳ６（ｆ）との差で得ることができる。
スポットとトラック（ピットの並び）との位置関係
（ａ）によって得られるＲＦ信号（ｂ）の負レベルから
正レベルへの転換時及び正レベルから負レベルへの転換
時のサンプリングパルスＳ３及びＳ４（ｄ）により、Ｈ
ＴＤ信号（ヘテロダイン信号）（ｃ）をそれぞれサンプ
リングし、それぞれの保持信号Ｓ５（ｅ）とＳ６（ｆ）
との差を取ることにより、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位
相差を検出する。トラックエラー信号は、保持信号Ｓ５
（ｅ）とＳ６（ｆ）との差で得ることができる。
【００４６】以下に、個々の発明についてその手段を説
明する。本発明の第１発明に係る光ディスク装置では、
光学素子が、記録媒体からの反射光を、トラックエラー
信号及びフォーカスエラー信号を作成するための複数の
光ビームに分割し、これらの光ビームを互いに異なる方
向へ偏向させる。光検出系は、これらの光ビームのそれ
ぞれを検出する。演算手段は、光検出系の各出力からフ
ォーカスエラー信号を演算して出力すると共に、トラッ
クの構造に応じて、光検出系の各出力からトラックエラ
ー信号を演算し選択的に出力する。
明する。本発明の第１発明に係る光ディスク装置では、
光学素子が、記録媒体からの反射光を、トラックエラー
信号及びフォーカスエラー信号を作成するための複数の
光ビームに分割し、これらの光ビームを互いに異なる方
向へ偏向させる。光検出系は、これらの光ビームのそれ
ぞれを検出する。演算手段は、光検出系の各出力からフ
ォーカスエラー信号を演算して出力すると共に、トラッ
クの構造に応じて、光検出系の各出力からトラックエラ
ー信号を演算し選択的に出力する。
【００４７】第２発明に係る光ディスク装置では、光学
素子が、記録媒体からの反射光を、トラックエラー信号
及びフォーカスエラー信号を作成するための複数の光ビ
ームに分割し、これらの光ビームを互いに異なる方向へ
偏向させる。光検出系は、これらの光ビームのそれぞれ
を検出する。演算手段は、光検出系の出力からフーコー
法によるフォーカスエラー信号を演算して出力すると共
に、判別手段がトラックは連続グルーブを有すると判別
したときは、光検出系の出力から演算したプッシュプル
法によるトラックエラー信号を出力し、判別手段がトラ
ックはピット列のみを有すると判別したときは、光検出
系の出力から演算したヘテロダイン法によるトラックエ
ラー信号を出力する。
素子が、記録媒体からの反射光を、トラックエラー信号
及びフォーカスエラー信号を作成するための複数の光ビ
ームに分割し、これらの光ビームを互いに異なる方向へ
偏向させる。光検出系は、これらの光ビームのそれぞれ
を検出する。演算手段は、光検出系の出力からフーコー
法によるフォーカスエラー信号を演算して出力すると共
に、判別手段がトラックは連続グルーブを有すると判別
したときは、光検出系の出力から演算したプッシュプル
法によるトラックエラー信号を出力し、判別手段がトラ
ックはピット列のみを有すると判別したときは、光検出
系の出力から演算したヘテロダイン法によるトラックエ
ラー信号を出力する。
【００４８】第３発明に係る光ディスク装置では、光学
素子が、記録媒体からの反射光を、記録媒体のトラック
の中心線の両側に位置する２つのトラックエラー信号作
成用の光ビーム及び２つのフォーカスエラー信号作成用
の光ビームに分割し、分割した光ビームを互いに異なる
方向へ偏向させる。光検出系は、２つのトラックエラー
信号作成用の光ビームのそれぞれのファーフィールドに
配置された二分割光検出器と、２つのフォーカスエラー
信号作成用の光ビームのそれぞれの焦点に配置された二
分割光検出器とを含むので、フォーカスエラー信号検出
にフーコー法を、トラックエラー信号検出にプッシュプ
ル法又はヘテロダイン法をそれぞれ用いることができ
る。
素子が、記録媒体からの反射光を、記録媒体のトラック
の中心線の両側に位置する２つのトラックエラー信号作
成用の光ビーム及び２つのフォーカスエラー信号作成用
の光ビームに分割し、分割した光ビームを互いに異なる
方向へ偏向させる。光検出系は、２つのトラックエラー
信号作成用の光ビームのそれぞれのファーフィールドに
配置された二分割光検出器と、２つのフォーカスエラー
信号作成用の光ビームのそれぞれの焦点に配置された二
分割光検出器とを含むので、フォーカスエラー信号検出
にフーコー法を、トラックエラー信号検出にプッシュプ
ル法又はヘテロダイン法をそれぞれ用いることができ
る。
【００４９】第４発明に係る光ディスク装置では、光学
素子は、フォーカスエラー信号作成用の光ビームの焦点
迄の光軸方向の距離とトラックエラー信号作成用の光ビ
ームの焦点迄の光軸方向の距離とを相違させるので、こ
れらの光ビームのそれぞれを検出する光検出系を同一平
面上に並べることができる。
素子は、フォーカスエラー信号作成用の光ビームの焦点
迄の光軸方向の距離とトラックエラー信号作成用の光ビ
ームの焦点迄の光軸方向の距離とを相違させるので、こ
れらの光ビームのそれぞれを検出する光検出系を同一平
面上に並べることができる。
【００５０】第５発明に係る光ディスク装置では、演算
手段は、２つのフォーカスエラー信号作成用の光ビーム
の焦点に配置された二分割光検出器の各検出部の出力
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることからフォーカスエラー信
号を演算して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラ
ックが連続グルーブを有する場合は、ファーフィールド
に配置された二分割光検出器毎の、検出部の出力の和の
差を取ることからトラックエラー信号を演算して（プッ
シュプル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列
のみを有する場合は、二分割光検出器の検出部の出力
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることによってなる信号と二分
割光検出器全ての出力の和を取ることによってなる信号
との位相のずれからトラックエラー信号を演算して（ヘ
テロダイン法）出力する。
手段は、２つのフォーカスエラー信号作成用の光ビーム
の焦点に配置された二分割光検出器の各検出部の出力
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることからフォーカスエラー信
号を演算して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラ
ックが連続グルーブを有する場合は、ファーフィールド
に配置された二分割光検出器毎の、検出部の出力の和の
差を取ることからトラックエラー信号を演算して（プッ
シュプル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列
のみを有する場合は、二分割光検出器の検出部の出力
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることによってなる信号と二分
割光検出器全ての出力の和を取ることによってなる信号
との位相のずれからトラックエラー信号を演算して（ヘ
テロダイン法）出力する。
【００５１】第６発明に係る光ディスク装置では、光学
素子は、記録媒体からの反射光のファーフィールド中に
設けられ、この反射光を４つの光ビームに分割し、分割
した光ビームを互いに異なる方向へ偏向させ、光検出系
は、４つの光ビームのそれぞれの焦点に配置された二分
割光検出器を含むので、フォーカスエラー信号検出にフ
ーコー法を、トラックエラー信号検出にプッシュプル法
又はヘテロダイン法をそれぞれ用いることができる。第
７発明に係る光ディスク装置では、二分割光検出器は、
それぞれの分割線の方向が同一であるので、光検出系の
位置調整が簡単である。
素子は、記録媒体からの反射光のファーフィールド中に
設けられ、この反射光を４つの光ビームに分割し、分割
した光ビームを互いに異なる方向へ偏向させ、光検出系
は、４つの光ビームのそれぞれの焦点に配置された二分
割光検出器を含むので、フォーカスエラー信号検出にフ
ーコー法を、トラックエラー信号検出にプッシュプル法
又はヘテロダイン法をそれぞれ用いることができる。第
７発明に係る光ディスク装置では、二分割光検出器は、
それぞれの分割線の方向が同一であるので、光検出系の
位置調整が簡単である。
【００５２】第８発明に係る光ディスク装置では、演算
手段は、二分割光検出器の各検出部の出力の差の２つ又
は４つの和を取ることからフォーカスエラー信号を演算
して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが連
続グルーブを有する場合は、前記トラックの中心線の同
じ側に位置する光ビームの二分割光検出器の出力の和の
差を取ることからトラックエラー信号を演算して（プッ
シュプル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列
のみを有する場合は、二分割光検出器の各検出部の出力
の和の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配
置における対角の和の差を取ることによってなる信号
と、二分割光検出器全ての出力の和を取ることによって
なる信号との位相のずれからトラックエラー信号を演算
して（ヘテロダイン法）出力する。
手段は、二分割光検出器の各検出部の出力の差の２つ又
は４つの和を取ることからフォーカスエラー信号を演算
して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが連
続グルーブを有する場合は、前記トラックの中心線の同
じ側に位置する光ビームの二分割光検出器の出力の和の
差を取ることからトラックエラー信号を演算して（プッ
シュプル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列
のみを有する場合は、二分割光検出器の各検出部の出力
の和の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配
置における対角の和の差を取ることによってなる信号
と、二分割光検出器全ての出力の和を取ることによって
なる信号との位相のずれからトラックエラー信号を演算
して（ヘテロダイン法）出力する。
【００５３】第９発明に係る光ディスク装置では、光学
素子は、記録媒体からの反射光のファーフィールド中に
設けられ、この反射光を、記録媒体のトラックの中心線
の両側に２分割、トラック方向に３分割し、分割した光
ビームを互いに異なる方向へ偏向させる。光検出系は、
分割した光ビームの、内部の２つの光ビームのそれぞれ
の焦点に配置された光検出器と、その他の４つの光ビー
ムのそれぞれの焦点に配置された二分割検出器とを含
む。これにより、フォーカスエラー信号検出にフーコー
法を、トラックエラー信号検出にプッシュプル法又はヘ
テロダイン法をそれぞれ用いることができる。
素子は、記録媒体からの反射光のファーフィールド中に
設けられ、この反射光を、記録媒体のトラックの中心線
の両側に２分割、トラック方向に３分割し、分割した光
ビームを互いに異なる方向へ偏向させる。光検出系は、
分割した光ビームの、内部の２つの光ビームのそれぞれ
の焦点に配置された光検出器と、その他の４つの光ビー
ムのそれぞれの焦点に配置された二分割検出器とを含
む。これにより、フォーカスエラー信号検出にフーコー
法を、トラックエラー信号検出にプッシュプル法又はヘ
テロダイン法をそれぞれ用いることができる。
【００５４】第１０発明に係る光ディスク装置では、演
算手段は、二分割光検出器の各検出部の出力の差の２つ
又は４つの和を取ることからフォーカスエラー信号を演
算して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが
連続グルーブを有する場合は、内部の２つの光ビームの
それぞれの焦点に配置された光検出器の出力の差を取る
ことから、又はトラックの中心線の同じ側に位置する光
ビームの光検出器及び二分割光検出器の出力の和の差を
取ることからトラックエラー信号を演算して（プッシュ
プル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列のみ
を有する場合は、二分割光検出器の各検出部の出力の和
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることによってなる信号と、光
検出器及び二分割光検出器全ての出力の和を取ることに
よってなる信号との位相のずれからトラックエラー信号
を演算して（ヘテロダイン法）出力する。
算手段は、二分割光検出器の各検出部の出力の差の２つ
又は４つの和を取ることからフォーカスエラー信号を演
算して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが
連続グルーブを有する場合は、内部の２つの光ビームの
それぞれの焦点に配置された光検出器の出力の差を取る
ことから、又はトラックの中心線の同じ側に位置する光
ビームの光検出器及び二分割光検出器の出力の和の差を
取ることからトラックエラー信号を演算して（プッシュ
プル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列のみ
を有する場合は、二分割光検出器の各検出部の出力の和
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることによってなる信号と、光
検出器及び二分割光検出器全ての出力の和を取ることに
よってなる信号との位相のずれからトラックエラー信号
を演算して（ヘテロダイン法）出力する。
【００５５】第１１発明に係る光ディスク装置では、光
学素子は、情報信号を再生するための光ビームを、記録
媒体からの反射光とは逆方向へ、０次光として透過させ
るべく配置されているので、光学系の枝を減らすことが
でき、光学系の小型化を図ることができる。第１２発明
に係る光ディスク装置では、光学素子は、情報信号を再
生するための光ビームを、記録媒体からの反射光とは逆
方向へ、０次光として透過させるべく配置されており、
前記反射光の一部を偏光分離する。光検出系は、この偏
光分離した２つの光ビームをそれぞれ受光して情報信号
を再生するための光検出器を含むので、光学系の枝を更
に減らすことができ、光学系の小型化を図ることができ
る。
学素子は、情報信号を再生するための光ビームを、記録
媒体からの反射光とは逆方向へ、０次光として透過させ
るべく配置されているので、光学系の枝を減らすことが
でき、光学系の小型化を図ることができる。第１２発明
に係る光ディスク装置では、光学素子は、情報信号を再
生するための光ビームを、記録媒体からの反射光とは逆
方向へ、０次光として透過させるべく配置されており、
前記反射光の一部を偏光分離する。光検出系は、この偏
光分離した２つの光ビームをそれぞれ受光して情報信号
を再生するための光検出器を含むので、光学系の枝を更
に減らすことができ、光学系の小型化を図ることができ
る。
【００５６】第１３発明に係る光ディスク装置では、光
学素子は、記録媒体からの反射光の一部を０次光として
透過させ、光検出系は、この０次光として透過した光ビ
ームを受光して情報信号を再生するための光検出器をそ
なえている。従って、同一の光検出器ではサーボ信号と
情報信号とを生成せず、情報信号の成分を分離する回路
又はフィルタが不要となる。
学素子は、記録媒体からの反射光の一部を０次光として
透過させ、光検出系は、この０次光として透過した光ビ
ームを受光して情報信号を再生するための光検出器をそ
なえている。従って、同一の光検出器ではサーボ信号と
情報信号とを生成せず、情報信号の成分を分離する回路
又はフィルタが不要となる。
【００５７】第１４発明に係る光ディスク装置では、演
算手段は、２つのフォーカスエラー信号作成用光ビーム
の焦点に配置された二分割光検出器の各検出部の出力
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることからフォーカスエラー信
号を演算して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラ
ックが連続グルーブを有する場合は、ファーフィールド
に配置された二分割光検出器毎の、検出部の出力の和の
差を取ることからトラックエラー信号を演算して（プッ
シュプル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列
のみを有する場合は、ファーフィールドに配置された二
分割光検出器の検出部の出力の、記録媒体からの反射光
の断面上の光ビームの配置における対角の和の差を取る
ことによってなる信号と情報信号を再生するための光検
出器の出力信号との位相のずれからトラックエラー信号
を演算して（ヘテロダイン法）出力する。
算手段は、２つのフォーカスエラー信号作成用光ビーム
の焦点に配置された二分割光検出器の各検出部の出力
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることからフォーカスエラー信
号を演算して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラ
ックが連続グルーブを有する場合は、ファーフィールド
に配置された二分割光検出器毎の、検出部の出力の和の
差を取ることからトラックエラー信号を演算して（プッ
シュプル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列
のみを有する場合は、ファーフィールドに配置された二
分割光検出器の検出部の出力の、記録媒体からの反射光
の断面上の光ビームの配置における対角の和の差を取る
ことによってなる信号と情報信号を再生するための光検
出器の出力信号との位相のずれからトラックエラー信号
を演算して（ヘテロダイン法）出力する。
【００５８】第１５発明に係る光ディスク装置では、光
学素子は、記録媒体からの反射光の一部を０次光として
透過させ、光検出系は、この０次光として透過した光ビ
ームを受光して情報信号を再生するための光検出器を含
む。従って、同一の光検出器ではサーボ信号と情報信号
とを生成せず、情報信号の成分を分離する回路又はフィ
ルタが不要となる。
学素子は、記録媒体からの反射光の一部を０次光として
透過させ、光検出系は、この０次光として透過した光ビ
ームを受光して情報信号を再生するための光検出器を含
む。従って、同一の光検出器ではサーボ信号と情報信号
とを生成せず、情報信号の成分を分離する回路又はフィ
ルタが不要となる。
【００５９】第１６発明に係る光ディスク装置では、演
算手段は、二分割光検出器の各検出部の出力の差の２つ
又は４つの和を取ることからフォーカスエラー信号を演
算して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが
連続グルーブを有する場合は、トラックの中心線の同じ
側に位置する光ビームの二分割光検出器の出力の和の差
を取ることからトラックエラー信号を演算して（プッシ
ュプル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列の
みを有する場合は、二分割光検出器毎の検出部の出力の
和の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置
における対角の和の差を取ることによってなる信号と情
報信号を再生するための光検出器の出力信号との位相の
ずれからトラックエラー信号を演算して（ヘテロダイン
法）出力する。
算手段は、二分割光検出器の各検出部の出力の差の２つ
又は４つの和を取ることからフォーカスエラー信号を演
算して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが
連続グルーブを有する場合は、トラックの中心線の同じ
側に位置する光ビームの二分割光検出器の出力の和の差
を取ることからトラックエラー信号を演算して（プッシ
ュプル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列の
みを有する場合は、二分割光検出器毎の検出部の出力の
和の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置
における対角の和の差を取ることによってなる信号と情
報信号を再生するための光検出器の出力信号との位相の
ずれからトラックエラー信号を演算して（ヘテロダイン
法）出力する。
【００６０】第１７発明に係る光ディスク装置では、光
学素子は、記録媒体からの反射光の一部を０次光として
透過させ、光検出系は、この０次光として透過した光ビ
ームを受光して前記情報信号を再生するための光検出器
を含む。従って、同一の光検出器ではサーボ信号と情報
信号とを生成せず、情報信号の成分を分離する回路又は
フィルタが不要となる。
学素子は、記録媒体からの反射光の一部を０次光として
透過させ、光検出系は、この０次光として透過した光ビ
ームを受光して前記情報信号を再生するための光検出器
を含む。従って、同一の光検出器ではサーボ信号と情報
信号とを生成せず、情報信号の成分を分離する回路又は
フィルタが不要となる。
【００６１】第１８発明に係る光ディスク装置では、演
算手段は、二分割光検出器の各検出部の出力の差の２つ
又は４つの和を取ることからフォーカスエラー信号を演
算して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが
連続グルーブを有する場合は、内部の２つの光ビームの
それぞれの焦点に配置された光検出器の出力の差を取る
ことから、又はトラックの中心線の同じ側に位置する光
ビームの光検出器及び二分割光検出器の出力の和の差を
取ることからトラックエラー信号を演算して（プッシュ
プル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列のみ
を有する場合は、二分割光検出器の各検出部の出力の和
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることによってなる信号と情報
信号を再生するための光検出器の出力信号との位相のず
れからトラックエラー信号を演算して（ヘテロダイン
法）出力する。
算手段は、二分割光検出器の各検出部の出力の差の２つ
又は４つの和を取ることからフォーカスエラー信号を演
算して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが
連続グルーブを有する場合は、内部の２つの光ビームの
それぞれの焦点に配置された光検出器の出力の差を取る
ことから、又はトラックの中心線の同じ側に位置する光
ビームの光検出器及び二分割光検出器の出力の和の差を
取ることからトラックエラー信号を演算して（プッシュ
プル法）出力する。記録媒体のトラックがピット列のみ
を有する場合は、二分割光検出器の各検出部の出力の和
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることによってなる信号と情報
信号を再生するための光検出器の出力信号との位相のず
れからトラックエラー信号を演算して（ヘテロダイン
法）出力する。
【００６２】第１９発明に係る光ディスク装置では、回
折光学素子が、記録媒体からの反射光が入射される複数
の領域を有し、その内の２つの領域それぞれから＋１次
回折光の光ビーム及び−１次回折光の光ビームを出力す
る。光検出系は、＋１次回折光の光ビーム及び−１次回
折光の光ビームの何れか一方の２つの光ビームのそれぞ
れのファーフィールドに配置された二分割光検出器と、
他方の２つの光ビームのそれぞれの焦点に配置された二
分割光検出器とが、それぞれの光ビームを検出する。
折光学素子が、記録媒体からの反射光が入射される複数
の領域を有し、その内の２つの領域それぞれから＋１次
回折光の光ビーム及び−１次回折光の光ビームを出力す
る。光検出系は、＋１次回折光の光ビーム及び−１次回
折光の光ビームの何れか一方の２つの光ビームのそれぞ
れのファーフィールドに配置された二分割光検出器と、
他方の２つの光ビームのそれぞれの焦点に配置された二
分割光検出器とが、それぞれの光ビームを検出する。
【００６３】第２０発明に係る光ディスク装置では、フ
ァーフィールドに配置された二分割光検出器は、それぞ
れの分割線が記録媒体のトラックと平行であるので、ト
ラックエラー信号を演算することができる。また、焦点
に配置された二分割光検出器は、それぞれの分割線が記
録媒体のトラックと直角であるので、フォーカスエラー
信号を演算することが可能である。第２１発明に係る光
ディスク装置では、ファーフィールドに配置された二分
割光検出器は、一方は集光前のファーフィールドに配置
され、他方は集光後のファーフィールドに配置されてい
るので、光検出系の配置の自由度が増す。
ァーフィールドに配置された二分割光検出器は、それぞ
れの分割線が記録媒体のトラックと平行であるので、ト
ラックエラー信号を演算することができる。また、焦点
に配置された二分割光検出器は、それぞれの分割線が記
録媒体のトラックと直角であるので、フォーカスエラー
信号を演算することが可能である。第２１発明に係る光
ディスク装置では、ファーフィールドに配置された二分
割光検出器は、一方は集光前のファーフィールドに配置
され、他方は集光後のファーフィールドに配置されてい
るので、光検出系の配置の自由度が増す。
【００６４】第２２発明に係る光ディスク装置では、光
学素子は、記録媒体のトラックと直角方向の分割線によ
り分割された２つの領域を有するので、焦点に配置され
た２つの二分割光検出器により、記録媒体からの反射光
をトラック方向に４分割でき、トラックエラー信号に影
響されないフォーカスエラー信号を得ることができる。
学素子は、記録媒体のトラックと直角方向の分割線によ
り分割された２つの領域を有するので、焦点に配置され
た２つの二分割光検出器により、記録媒体からの反射光
をトラック方向に４分割でき、トラックエラー信号に影
響されないフォーカスエラー信号を得ることができる。
【００６５】第２３発明に係る光ディスク装置では、演
算手段は、焦点に配置された二分割光検出器の各検出部
の出力の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの
配置における外側２つの検出部の和と内側２つの検出部
の和との差を取ることからフォーカスエラー信号を演算
して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが連
続グルーブを有する場合は、ファーフィールドに配置さ
れた二分割光検出器の検出部の出力の、トラックの直角
方向における同じ側の和の差を取ることからトラックエ
ラー信号を演算して（プッシュプル法）出力する。記録
媒体のトラックがピット列のみを有する場合は、二分割
光検出器の検出部の出力の、記録媒体からの反射光の断
面上の光ビームの配置における対角の和の差を取ること
によってなる信号と二分割光検出器全ての出力の和を取
ることによってなる信号との位相のずれからトラックエ
ラー信号を演算して（ヘテロダイン法）出力する。
算手段は、焦点に配置された二分割光検出器の各検出部
の出力の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの
配置における外側２つの検出部の和と内側２つの検出部
の和との差を取ることからフォーカスエラー信号を演算
して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが連
続グルーブを有する場合は、ファーフィールドに配置さ
れた二分割光検出器の検出部の出力の、トラックの直角
方向における同じ側の和の差を取ることからトラックエ
ラー信号を演算して（プッシュプル法）出力する。記録
媒体のトラックがピット列のみを有する場合は、二分割
光検出器の検出部の出力の、記録媒体からの反射光の断
面上の光ビームの配置における対角の和の差を取ること
によってなる信号と二分割光検出器全ての出力の和を取
ることによってなる信号との位相のずれからトラックエ
ラー信号を演算して（ヘテロダイン法）出力する。
【００６６】第２４発明に係る光ディスク装置では、回
折光学素子が、記録媒体のトラックと直角方向の２本の
分割線により分割された３つの領域を有し、その内の外
部２つの領域のそれぞれから＋１次回折光の光ビーム及
び−１次回折光の光ビームを出力し、中央部の領域から
光ビームを出力する。光検出系は、＋１次回折光の光ビ
ーム及び−１次回折光の光ビームの何れか一方の２つの
光ビームのそれぞれのファーフィールドに配置された二
分割光検出器と、他方の２つの光ビームのそれぞれの焦
点に配置された二分割光検出器と、中央部の領域からの
光ビームを受光して情報信号を再生するための光検出器
とが、それぞれの光ビームを検出する。従って、同一の
光検出器ではサーボ信号と情報信号とを生成せず、情報
信号の成分を分離する回路又はフィルタが不要となる。
折光学素子が、記録媒体のトラックと直角方向の２本の
分割線により分割された３つの領域を有し、その内の外
部２つの領域のそれぞれから＋１次回折光の光ビーム及
び−１次回折光の光ビームを出力し、中央部の領域から
光ビームを出力する。光検出系は、＋１次回折光の光ビ
ーム及び−１次回折光の光ビームの何れか一方の２つの
光ビームのそれぞれのファーフィールドに配置された二
分割光検出器と、他方の２つの光ビームのそれぞれの焦
点に配置された二分割光検出器と、中央部の領域からの
光ビームを受光して情報信号を再生するための光検出器
とが、それぞれの光ビームを検出する。従って、同一の
光検出器ではサーボ信号と情報信号とを生成せず、情報
信号の成分を分離する回路又はフィルタが不要となる。
【００６７】第２５発明に係る光ディスク装置では、演
算手段は、焦点に配置された二分割光検出器の各検出部
の出力の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの
配置における外側２つの検出部の和と内側２つの検出部
の和との差を取ることからフォーカスエラー信号を演算
して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが連
続グルーブを有する場合は、ファーフィールドに配置さ
れた二分割光検出器の検出部の出力の、トラックの直角
方向における同じ側の和の差を取ることからトラックエ
ラー信号を演算して（プッシュプル法）出力する。記録
媒体のトラックがピット列のみを有する場合は、ファー
フィールドに配置された二分割光検出器の検出部の出力
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることによってなる信号と、中
央部の領域からの光ビームを受光する光検出器の出力信
号との、又はその光検出器及び４つの二分割光検出器の
出力の和を取ることによってなる信号との位相のずれか
らトラックエラー信号を演算して（ヘテロダイン法）出
力する。
算手段は、焦点に配置された二分割光検出器の各検出部
の出力の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの
配置における外側２つの検出部の和と内側２つの検出部
の和との差を取ることからフォーカスエラー信号を演算
して（フーコー法）出力する。記録媒体のトラックが連
続グルーブを有する場合は、ファーフィールドに配置さ
れた二分割光検出器の検出部の出力の、トラックの直角
方向における同じ側の和の差を取ることからトラックエ
ラー信号を演算して（プッシュプル法）出力する。記録
媒体のトラックがピット列のみを有する場合は、ファー
フィールドに配置された二分割光検出器の検出部の出力
の、記録媒体からの反射光の断面上の光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることによってなる信号と、中
央部の領域からの光ビームを受光する光検出器の出力信
号との、又はその光検出器及び４つの二分割光検出器の
出力の和を取ることによってなる信号との位相のずれか
らトラックエラー信号を演算して（ヘテロダイン法）出
力する。
【００６８】第２６発明に係る光ディスク装置では、光
学素子は、情報信号を再生するための光ビームを、記録
媒体からの反射光とは逆方向へ、０次光として透過させ
るべく配置されているので、光学系の枝を減らすことが
でき、光学系の小型化を図ることができる。
学素子は、情報信号を再生するための光ビームを、記録
媒体からの反射光とは逆方向へ、０次光として透過させ
るべく配置されているので、光学系の枝を減らすことが
でき、光学系の小型化を図ることができる。
【００６９】第２７発明に係る光ディスク装置では、光
検出系は、同一平面上に設けられているので、小型化を
図れると共に、取り付け及び調整が容易である。また、
部品の削減が可能となり、製造コストを低減できる。第
２８発明に係る光ディスク装置では、光検出系は、同一
基板上に設けられているので、小型化を図れると共に、
取り付け及び調整が容易である。また、部品点数の削減
が可能となり、製造コストを低減できる。
検出系は、同一平面上に設けられているので、小型化を
図れると共に、取り付け及び調整が容易である。また、
部品の削減が可能となり、製造コストを低減できる。第
２８発明に係る光ディスク装置では、光検出系は、同一
基板上に設けられているので、小型化を図れると共に、
取り付け及び調整が容易である。また、部品点数の削減
が可能となり、製造コストを低減できる。
【００７０】第２９発明に係る光ディスク装置では、光
検出系は、同一基板上に設けられ、光ビームを発生する
光源もその同一基板上に設けられているので、小型化を
図れると共に、取り付け調整が容易である。また、部品
点数の削減が可能となり、製造コストを低減できる。第
３０発明に係る光ディスク装置では、光ビームを発生す
る光源を基板上で支持し、その光源が発生する熱を放熱
する支持部材を備えているので、放熱効果が高まり、熱
による光源自体の破損及び光検出器等の部品に悪影響を
及ぼさない。
検出系は、同一基板上に設けられ、光ビームを発生する
光源もその同一基板上に設けられているので、小型化を
図れると共に、取り付け調整が容易である。また、部品
点数の削減が可能となり、製造コストを低減できる。第
３０発明に係る光ディスク装置では、光ビームを発生す
る光源を基板上で支持し、その光源が発生する熱を放熱
する支持部材を備えているので、放熱効果が高まり、熱
による光源自体の破損及び光検出器等の部品に悪影響を
及ぼさない。
【００７１】第３１発明に係る光ディスク装置では、光
検出系は、同一基板上に設けられ、光源からの光ビーム
を光学素子の方向へ偏向させるミラーが、その同一基板
上に設けられているので、光源が発生する熱の影響を、
基板が受けないようにすることができる。第３２発明に
係る光ディスク装置では、光検出系と光ビームを発生す
る光源とを内部に収納すべく設けられたハウジングを基
板上に備え、光学素子は、そのハウジングの表面に固定
されている。そのため、光検出系と光源と光学素子との
相対的位置関係を容易に設定することができ、これらの
取り付け及び調整が容易である。また、これらが一体的
に設けられ、これらの相対的位置関係の調整が既になさ
れた光学的デバイスとして扱うことができる。
検出系は、同一基板上に設けられ、光源からの光ビーム
を光学素子の方向へ偏向させるミラーが、その同一基板
上に設けられているので、光源が発生する熱の影響を、
基板が受けないようにすることができる。第３２発明に
係る光ディスク装置では、光検出系と光ビームを発生す
る光源とを内部に収納すべく設けられたハウジングを基
板上に備え、光学素子は、そのハウジングの表面に固定
されている。そのため、光検出系と光源と光学素子との
相対的位置関係を容易に設定することができ、これらの
取り付け及び調整が容易である。また、これらが一体的
に設けられ、これらの相対的位置関係の調整が既になさ
れた光学的デバイスとして扱うことができる。
【００７２】第３３発明に係る光ディスク装置では、焦
点に配置された二分割光検出器及びファーフィールドに
配置された二分割光検出器は、回折光学素子の同じ領域
からの光ビームを受光するもの同士が、同一基板上で、
情報信号を再生するための光ビームの断面に対して対称
の位置に設けられているので、これらの二分割光検出器
の相対的位置関係の調整が容易である。
点に配置された二分割光検出器及びファーフィールドに
配置された二分割光検出器は、回折光学素子の同じ領域
からの光ビームを受光するもの同士が、同一基板上で、
情報信号を再生するための光ビームの断面に対して対称
の位置に設けられているので、これらの二分割光検出器
の相対的位置関係の調整が容易である。
【００７３】第３４発明に係る光ディスク装置では、演
算手段は、基板上に設けられているので、小型化を図れ
ると共に、組み立てが容易である。また、部品点数の削
減が可能となり、製造コストを低減できる。第３５発明
に係る光ディスク装置では、光検出系は、基板上に直接
形成されているので、小型化を図れると共に、光検出系
の位置関係の調整が不要となり、組み立てが容易であ
る。また、部品点数の削減が可能となり、製造コストを
低減できる。第３６発明に係る光ディスク装置では、光
学素子はホログラム光学素子であるので、軽量化、小型
化を図れると共に、製造コストを低減できる。
算手段は、基板上に設けられているので、小型化を図れ
ると共に、組み立てが容易である。また、部品点数の削
減が可能となり、製造コストを低減できる。第３５発明
に係る光ディスク装置では、光検出系は、基板上に直接
形成されているので、小型化を図れると共に、光検出系
の位置関係の調整が不要となり、組み立てが容易であ
る。また、部品点数の削減が可能となり、製造コストを
低減できる。第３６発明に係る光ディスク装置では、光
学素子はホログラム光学素子であるので、軽量化、小型
化を図れると共に、製造コストを低減できる。
【００７４】
形態例１．図７は、本発明に係る光ディスク装置の形態
例１の光学系及び光検出系の構成を示す斜視図である。
この光ディスク装置の光学系及び光検出系は、この光学
系の光軸上に置かれたＬＤ（半導体レーザ）１６から水
平方向へ出射された光ビームが、光軸と光学面とが垂直
になるように光軸上に設置されたコリメートレンズ１７
に入射されて平行光に変換される。コリメートレンズ１
７からの平行光に変換された光ビームは、光軸上に設置
された整形プリズム１８に入射されて真円に整形された
後、ビームスプリッタ１９をそのまま透過して、立ち上
げミラー４ａで上方へ９０°偏向される。９０°偏向さ
れた光ビームは、光軸と光学面とが垂直になるように光
軸上に設置された対物レンズ２０により、対物レンズ２
０の上方で水平回転するディスク２１のトラック２１ａ
上に集光される。
例１の光学系及び光検出系の構成を示す斜視図である。
この光ディスク装置の光学系及び光検出系は、この光学
系の光軸上に置かれたＬＤ（半導体レーザ）１６から水
平方向へ出射された光ビームが、光軸と光学面とが垂直
になるように光軸上に設置されたコリメートレンズ１７
に入射されて平行光に変換される。コリメートレンズ１
７からの平行光に変換された光ビームは、光軸上に設置
された整形プリズム１８に入射されて真円に整形された
後、ビームスプリッタ１９をそのまま透過して、立ち上
げミラー４ａで上方へ９０°偏向される。９０°偏向さ
れた光ビームは、光軸と光学面とが垂直になるように光
軸上に設置された対物レンズ２０により、対物レンズ２
０の上方で水平回転するディスク２１のトラック２１ａ
上に集光される。
【００７５】ディスク２１によって反射された反射光
は、対物レンズ２０を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、ビー
ムスプリッタ１９へ戻って来る。ビームスプリッタ１９
内では、反射光は、反射されて側方へ９０°偏向され、
信号検出系へ入射される。信号検出系は、ビームスプリ
ッタ２２と、その光軸と各光学面とが垂直になるように
設けられたサーボレンズ２５及びプリズム２６とが、光
軸上にこの順で設けられている。信号検出系へ入射され
た反射光は、ビームスプリッタ２２内で、その一部が反
射されてＭＯ信号検出系へ入射される。ＭＯ信号検出系
へ入射された上述の反射光の一部は、ＭＯ信号検出系の
光軸上に設けられたウォラストンプリズム２３で、２つ
の直線偏光に偏光分離される。２つの直線偏光は、２分
割の光検出器２４へそれぞれ入射される。
は、対物レンズ２０を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、ビー
ムスプリッタ１９へ戻って来る。ビームスプリッタ１９
内では、反射光は、反射されて側方へ９０°偏向され、
信号検出系へ入射される。信号検出系は、ビームスプリ
ッタ２２と、その光軸と各光学面とが垂直になるように
設けられたサーボレンズ２５及びプリズム２６とが、光
軸上にこの順で設けられている。信号検出系へ入射され
た反射光は、ビームスプリッタ２２内で、その一部が反
射されてＭＯ信号検出系へ入射される。ＭＯ信号検出系
へ入射された上述の反射光の一部は、ＭＯ信号検出系の
光軸上に設けられたウォラストンプリズム２３で、２つ
の直線偏光に偏光分離される。２つの直線偏光は、２分
割の光検出器２４へそれぞれ入射される。
【００７６】信号検出系へ入射された反射光の、ビーム
スプリッタ２２内で透過した部分は、サーボレンズ２５
を介して、プリズム２６へ入射される。プリズム２６
は、図９（ａ）の上面図及び（ｂ）の側面図が示すよう
に、板状の直方体の光学面をトラック方向の分割線で上
中下に３分割して、その出射側の中央部を、稜線が鉛直
（トラック２１ａに直角；ディスク半径方向）になるよ
うに屋根型に形成してある。屋根型部分の入射側はレン
ズになっており、屋根型部分を通過する光ビーム（フォ
ーカスエラー信号作成用）及びそれ以外の部分を通過す
る光ビーム（トラックエラー信号作成用）の、プリズム
２６からのそれぞれの焦点距離を違えている。
スプリッタ２２内で透過した部分は、サーボレンズ２５
を介して、プリズム２６へ入射される。プリズム２６
は、図９（ａ）の上面図及び（ｂ）の側面図が示すよう
に、板状の直方体の光学面をトラック方向の分割線で上
中下に３分割して、その出射側の中央部を、稜線が鉛直
（トラック２１ａに直角；ディスク半径方向）になるよ
うに屋根型に形成してある。屋根型部分の入射側はレン
ズになっており、屋根型部分を通過する光ビーム（フォ
ーカスエラー信号作成用）及びそれ以外の部分を通過す
る光ビーム（トラックエラー信号作成用）の、プリズム
２６からのそれぞれの焦点距離を違えている。
【００７７】プリズム２６へ入射された反射光は、プリ
ズム２６の上部を通過した部分は上方へ、屋根型部分の
進行方向へ向かって右側を通過した部分は左方へ、屋根
型部分の進行方向へ向かって左側を通過した部分は右方
へ、下部を通過した部分は下方へとそれぞれ偏向され
る。偏向されたそれぞれの光ビームは、信号検出系の光
軸と垂直をなす同一平面上に設けられた光検出系の二分
割光検出器２７〜３０に入射する。
ズム２６の上部を通過した部分は上方へ、屋根型部分の
進行方向へ向かって右側を通過した部分は左方へ、屋根
型部分の進行方向へ向かって左側を通過した部分は右方
へ、下部を通過した部分は下方へとそれぞれ偏向され
る。偏向されたそれぞれの光ビームは、信号検出系の光
軸と垂直をなす同一平面上に設けられた光検出系の二分
割光検出器２７〜３０に入射する。
【００７８】即ち、プリズム２６の上部を通過した光ビ
ームは、進行方向へ向かって右側が検出部ａ、左側が検
出部ｂで、分割線が鉛直である二分割光検出器２７の分
割線に、ファーフィールド状態で入射する。プリズム２
６の屋根型部分の進行方向へ向かって右側の部分を通過
した光ビームは、進行方向へ向かって右側が検出部ｈ、
左側が検出部ｇで、分割線が鉛直である二分割光検出器
３０の分割線に、ニアフィールド状態で入射する。プリ
ズム２６の屋根型部分の進行方向へ向かって左側の部分
を通過した光ビームは、進行方向へ向かって右側が検出
部ｅ、左側が検出部ｆで、分割線が鉛直である二分割光
検出器２９の分割線に、ニアフィールド状態で入射す
る。プリズム２６の下部を通過した光ビームは、進行方
向へ向かって右側が検出部ｄ、左側が検出部ｃで、分割
線が鉛直である二分割光検出器２８の分割線に、ファー
フィールド状態で入射する。
ームは、進行方向へ向かって右側が検出部ａ、左側が検
出部ｂで、分割線が鉛直である二分割光検出器２７の分
割線に、ファーフィールド状態で入射する。プリズム２
６の屋根型部分の進行方向へ向かって右側の部分を通過
した光ビームは、進行方向へ向かって右側が検出部ｈ、
左側が検出部ｇで、分割線が鉛直である二分割光検出器
３０の分割線に、ニアフィールド状態で入射する。プリ
ズム２６の屋根型部分の進行方向へ向かって左側の部分
を通過した光ビームは、進行方向へ向かって右側が検出
部ｅ、左側が検出部ｆで、分割線が鉛直である二分割光
検出器２９の分割線に、ニアフィールド状態で入射す
る。プリズム２６の下部を通過した光ビームは、進行方
向へ向かって右側が検出部ｄ、左側が検出部ｃで、分割
線が鉛直である二分割光検出器２８の分割線に、ファー
フィールド状態で入射する。
【００７９】尚、対物レンズ２０は、ディスク２１の面
振れ方向及び半径方向の２軸に、それぞれ独立に移動可
能な支持機構（図示せず）により支持されている。これ
らの支持機構には、上述の２軸方向へ力を発生させる磁
気回路が付加されており、これらの磁気回路のコイル
に、光検出系から得られるフォーカスエラー信号及びト
ラックエラー信号に基づく制御電流を与えることによ
り、フォーカスサーボ及びトラックサーボを可能にして
いる。
振れ方向及び半径方向の２軸に、それぞれ独立に移動可
能な支持機構（図示せず）により支持されている。これ
らの支持機構には、上述の２軸方向へ力を発生させる磁
気回路が付加されており、これらの磁気回路のコイル
に、光検出系から得られるフォーカスエラー信号及びト
ラックエラー信号に基づく制御電流を与えることによ
り、フォーカスサーボ及びトラックサーボを可能にして
いる。
【００８０】また、プリズム２６は、図８に示すよう
に、図９（ｃ）の上面図及び（ｄ）の側面図が示すよう
な、屋根型部分の入射側がレンズではなく、３分割した
入射側の上部及び下部がレンズになっているプリズム２
６ａに置き換えても良い。但し、この場合、二分割光検
出器２７及び二分割光検出器２８に入射する光ビーム
は、集光後のファーフィールド状態で入射するので、分
割線上に形成される像は倒立する。
に、図９（ｃ）の上面図及び（ｄ）の側面図が示すよう
な、屋根型部分の入射側がレンズではなく、３分割した
入射側の上部及び下部がレンズになっているプリズム２
６ａに置き換えても良い。但し、この場合、二分割光検
出器２７及び二分割光検出器２８に入射する光ビーム
は、集光後のファーフィールド状態で入射するので、分
割線上に形成される像は倒立する。
【００８１】このような構成の光ディスク装置の光学系
及び光検出系の動作を以下に説明する。ＬＤ１６から水
平方向へ出射された光ビームが、コリメートレンズ１７
に入射されて平行光に変換される。平行光に変換された
光ビームは、整形プリズム１８に入射されて真円に整形
された後、ビームスプリッタ１９をそのまま透過して、
立ち上げミラー４ａで上方へ９０°偏向される。９０°
偏向された光ビームは、対物レンズ２０により、水平回
転するディスク２１のトラック２１ａ上に集光される。
及び光検出系の動作を以下に説明する。ＬＤ１６から水
平方向へ出射された光ビームが、コリメートレンズ１７
に入射されて平行光に変換される。平行光に変換された
光ビームは、整形プリズム１８に入射されて真円に整形
された後、ビームスプリッタ１９をそのまま透過して、
立ち上げミラー４ａで上方へ９０°偏向される。９０°
偏向された光ビームは、対物レンズ２０により、水平回
転するディスク２１のトラック２１ａ上に集光される。
【００８２】ディスク２１によって反射された反射光
は、対物レンズ２０を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、ビー
ムスプリッタ１９へ戻って来る。ビームスプリッタ１９
内では、反射光は、反射されて側方へ９０°偏向され、
信号検出系へ入射される。信号検出系へ入射された反射
光は、ビームスプリッタ２２内で、その一部が反射され
てＭＯ信号検出系へ入射される。ＭＯ信号検出系へ入射
された上述の反射光の一部は、ウォラストンプリズム２
３で、２つの直線偏光に偏光分離される。２つの直線偏
光は、２分割の光検出器２４でそれぞれ検出され、その
差から情報信号が得られる。
は、対物レンズ２０を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、ビー
ムスプリッタ１９へ戻って来る。ビームスプリッタ１９
内では、反射光は、反射されて側方へ９０°偏向され、
信号検出系へ入射される。信号検出系へ入射された反射
光は、ビームスプリッタ２２内で、その一部が反射され
てＭＯ信号検出系へ入射される。ＭＯ信号検出系へ入射
された上述の反射光の一部は、ウォラストンプリズム２
３で、２つの直線偏光に偏光分離される。２つの直線偏
光は、２分割の光検出器２４でそれぞれ検出され、その
差から情報信号が得られる。
【００８３】信号検出系へ入射された反射光の、ビーム
スプリッタ２２内で透過した部分は、サーボレンズ２５
を介して、プリズム２６へ入射される。プリズム２６へ
入射された反射光は、プリズム２６の上部を通過した部
分は上方へ、屋根型部分の進行方向へ向かって右側の部
分は左方へ、屋根型の部分の進行方向へ向かって左側の
部分は右方へ、下部を通過した部分は下方へとそれぞれ
偏向される。
スプリッタ２２内で透過した部分は、サーボレンズ２５
を介して、プリズム２６へ入射される。プリズム２６へ
入射された反射光は、プリズム２６の上部を通過した部
分は上方へ、屋根型部分の進行方向へ向かって右側の部
分は左方へ、屋根型の部分の進行方向へ向かって左側の
部分は右方へ、下部を通過した部分は下方へとそれぞれ
偏向される。
【００８４】プリズム２６の上部を通過して偏向された
光ビームは、二分割光検出器２７の分割線に、ファーフ
ィールド状態で入射する。プリズム２６の屋根型部分の
進行方向へ向かって右側の部分を通過して偏向された光
ビームは、二分割光検出器３０の分割線に、ニアフィー
ルド状態で入射する。プリズム２６の屋根型部分の進行
方向へ向かって左側の部分を通過して偏向された光ビー
ムは、二分割光検出器２９の分割線に、ニアフィールド
状態で入射する。プリズム２６の下部を通過して偏向さ
れた光ビームは、二分割光検出器２８の分割線に、ファ
ーフィールド状態で入射する。
光ビームは、二分割光検出器２７の分割線に、ファーフ
ィールド状態で入射する。プリズム２６の屋根型部分の
進行方向へ向かって右側の部分を通過して偏向された光
ビームは、二分割光検出器３０の分割線に、ニアフィー
ルド状態で入射する。プリズム２６の屋根型部分の進行
方向へ向かって左側の部分を通過して偏向された光ビー
ムは、二分割光検出器２９の分割線に、ニアフィールド
状態で入射する。プリズム２６の下部を通過して偏向さ
れた光ビームは、二分割光検出器２８の分割線に、ファ
ーフィールド状態で入射する。
【００８５】後述する演算部（演算手段、図７には図示
せず）は、フーコー法により、二分割光検出器２９，３
０の各検出部ｅ〜ｈの出力（ｅ〜ｈとする）から、フォ
ーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｅ＋ｇ）−（ｆ＋ｈ）を演
算して出力する。ディスク２１のトラック２１ａが連続
グルーブを有するとき（書換可能型ディスク等のとき）
は、プッシュプル法により、二分割光検出器２７，２８
の各検出部ａ〜ｄの出力（ａ〜ｄとする）から、トラッ
クエラー信号ＴＥＳ＝（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）を演算し
て出力する。
せず）は、フーコー法により、二分割光検出器２９，３
０の各検出部ｅ〜ｈの出力（ｅ〜ｈとする）から、フォ
ーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｅ＋ｇ）−（ｆ＋ｈ）を演
算して出力する。ディスク２１のトラック２１ａが連続
グルーブを有するとき（書換可能型ディスク等のとき）
は、プッシュプル法により、二分割光検出器２７，２８
の各検出部ａ〜ｄの出力（ａ〜ｄとする）から、トラッ
クエラー信号ＴＥＳ＝（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）を演算し
て出力する。
【００８６】ディスク２１のトラック２１ａが、ピット
列のみを有するＲＯＭディスク等のトラックのときは、
ヘテロダイン法により、二分割光検出器２７〜３０の各
検出部ａ〜ｈの出力から、ヘテロダイン信号ＨＴＤ＝
（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）と情報信号ＲＦ＝ａ＋ｂ＋ｃ＋
ｄ＋ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈとの位相差を求めて、トラックエラ
ー信号を得る。上述の支持機構は、フォーカスエラー信
号及びトラックエラー信号に基づいて、フォーカスサー
ボ及びトラックサーボを行う。連続グルーブを有するデ
ィスクとＲＯＭディスクとの区別は、ディスクのユーザ
領域以外の領域に、情報として記録しておき、判別手段
２１９ａ（図１０）が、この情報を読み取って判別す
る。又は、ディスクのカートリッジに判別用の穴を設け
るか、反射ラベルを貼っておき、判別手段２１９ａが、
ＬＥＤ等の発光素子と光検出器とを使用して判別する。
トラックエラー信号の切り換えは演算部内で行う。尚、
判別手段２１９ａを使用せず、操作者の判断で手動でこ
の切り換えを行うようにしても良い。
列のみを有するＲＯＭディスク等のトラックのときは、
ヘテロダイン法により、二分割光検出器２７〜３０の各
検出部ａ〜ｈの出力から、ヘテロダイン信号ＨＴＤ＝
（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）と情報信号ＲＦ＝ａ＋ｂ＋ｃ＋
ｄ＋ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈとの位相差を求めて、トラックエラ
ー信号を得る。上述の支持機構は、フォーカスエラー信
号及びトラックエラー信号に基づいて、フォーカスサー
ボ及びトラックサーボを行う。連続グルーブを有するデ
ィスクとＲＯＭディスクとの区別は、ディスクのユーザ
領域以外の領域に、情報として記録しておき、判別手段
２１９ａ（図１０）が、この情報を読み取って判別す
る。又は、ディスクのカートリッジに判別用の穴を設け
るか、反射ラベルを貼っておき、判別手段２１９ａが、
ＬＥＤ等の発光素子と光検出器とを使用して判別する。
トラックエラー信号の切り換えは演算部内で行う。尚、
判別手段２１９ａを使用せず、操作者の判断で手動でこ
の切り換えを行うようにしても良い。
【００８７】フーコー法を以下に説明する。記録媒体
（ディスク）によって反射された光ビームを２分割し、
それぞれを４分割の光検出器（又は２分割の光検出器２
つ、本形態例では二分割光検出器２９，３０）の検出部
の同一方向の分割線上に入射させる。このとき、記録媒
体上に光スポットが正確にフォーカスされていれば、２
分割された光ビームは、それぞれ４分割の光検出器上
で、図４（ｂ）に示すように、分割線上にニアフィール
ド状態のスポットを形成する。
（ディスク）によって反射された光ビームを２分割し、
それぞれを４分割の光検出器（又は２分割の光検出器２
つ、本形態例では二分割光検出器２９，３０）の検出部
の同一方向の分割線上に入射させる。このとき、記録媒
体上に光スポットが正確にフォーカスされていれば、２
分割された光ビームは、それぞれ４分割の光検出器上
で、図４（ｂ）に示すように、分割線上にニアフィール
ド状態のスポットを形成する。
【００８８】記録媒体が対物レンズの焦点位置より近け
れば、２分割された光ビームは、トラック上のスポット
を同一方向へ４分割したそれぞれの位置に対応する４分
割の光検出器の各検出部の内、外側２つの検出部にそれ
ぞれファーフィールドのスポットを形成する（図４
（ａ））。記録媒体が対物レンズの焦点位置より遠けれ
ば、２分割された光ビームは、内側２つの検出部にそれ
ぞれファーフィールド状態のスポットを形成する（図４
（ｃ））。従って、４分割の光検出器上の光ビームは、
記録媒体が対物レンズの焦点位置より遠いか近いかで、
明暗が反転するので、４分割の光検出器の対角の検出部
（外側２つ及び内側２つの検出部、本形態例では検出部
ｅ，ｇ及び検出部ｆ，ｈ）の出力の和の差を取ることに
よって、フォーカスエラー信号を得ることができる。
れば、２分割された光ビームは、トラック上のスポット
を同一方向へ４分割したそれぞれの位置に対応する４分
割の光検出器の各検出部の内、外側２つの検出部にそれ
ぞれファーフィールドのスポットを形成する（図４
（ａ））。記録媒体が対物レンズの焦点位置より遠けれ
ば、２分割された光ビームは、内側２つの検出部にそれ
ぞれファーフィールド状態のスポットを形成する（図４
（ｃ））。従って、４分割の光検出器上の光ビームは、
記録媒体が対物レンズの焦点位置より遠いか近いかで、
明暗が反転するので、４分割の光検出器の対角の検出部
（外側２つ及び内側２つの検出部、本形態例では検出部
ｅ，ｇ及び検出部ｆ，ｈ）の出力の和の差を取ることに
よって、フォーカスエラー信号を得ることができる。
【００８９】プッシュプル法を以下に説明する。記録媒
体上で光スポットの位置がトラックの位置からずれる
と、光検出器上の光スポットも、図５（ａ），（ｃ）の
ように、トラックと垂直方向の対応する方向へずれる。
一方、記録媒体上で光スポットの位置とトラックの位置
とが合致していると、光検出器上の光スポットも、図５
（ｂ）のように、何れへもずれない。従って、２分割の
光検出器（本形態例では二分割光検出器２７，２８のそ
れぞれの２検出部を、２分割の光検出器の１検出部と見
做す）の分割線をトラックの中心線に対応させれば、２
つの検出部の出力（本形態例では、ａ＋ｂ，ｃ＋ｄ）の
差を取ることによって、トラックエラー信号を得ること
ができる。
体上で光スポットの位置がトラックの位置からずれる
と、光検出器上の光スポットも、図５（ａ），（ｃ）の
ように、トラックと垂直方向の対応する方向へずれる。
一方、記録媒体上で光スポットの位置とトラックの位置
とが合致していると、光検出器上の光スポットも、図５
（ｂ）のように、何れへもずれない。従って、２分割の
光検出器（本形態例では二分割光検出器２７，２８のそ
れぞれの２検出部を、２分割の光検出器の１検出部と見
做す）の分割線をトラックの中心線に対応させれば、２
つの検出部の出力（本形態例では、ａ＋ｂ，ｃ＋ｄ）の
差を取ることによって、トラックエラー信号を得ること
ができる。
【００９０】ヘテロダイン法を以下に説明する。記録媒
体によって反射された光ビームを、ファーフィールド状
態で４分割光検出器（本形態例では、二分割光検出器２
７，２８）により検出すると、４検出部の出力和のＲＦ
信号（本形態例では、ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ＋ｇ＋
ｈ）と、対角和の差（本形態例では（ａ＋ｃ）−（ｂ＋
ｄ））のＨＴＤ（ヘテロダイン）信号とは図１１に示す
ようになる。光スポットがトラック上にあるとき、ＨＴ
Ｄ信号は０である（ｂ）。光スポットがトラック上から
外れているとき、ＨＴＤ信号の位相は、光スポットが外
れている方向に従って、ＲＦ信号に対して９０°の進み
又は遅れが生じる（ａ），（ｃ）。この位相差をヘテロ
ダイン検波で検出して、トラックエラー信号を得ること
ができる。
体によって反射された光ビームを、ファーフィールド状
態で４分割光検出器（本形態例では、二分割光検出器２
７，２８）により検出すると、４検出部の出力和のＲＦ
信号（本形態例では、ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ＋ｇ＋
ｈ）と、対角和の差（本形態例では（ａ＋ｃ）−（ｂ＋
ｄ））のＨＴＤ（ヘテロダイン）信号とは図１１に示す
ようになる。光スポットがトラック上にあるとき、ＨＴ
Ｄ信号は０である（ｂ）。光スポットがトラック上から
外れているとき、ＨＴＤ信号の位相は、光スポットが外
れている方向に従って、ＲＦ信号に対して９０°の進み
又は遅れが生じる（ａ），（ｃ）。この位相差をヘテロ
ダイン検波で検出して、トラックエラー信号を得ること
ができる。
【００９１】ヘテロダイン検波は、図１２において、光
スポットとトラック（ピットの並び）との位置関係
（ａ）によって得られるＲＦ信号（ｂ）の負レベルから
正レベルへの転換時及び正レベルから負レベルへの転換
時のサンプリングパルスＳ３及びＳ４（ｄ）により、Ｈ
ＴＤ信号（ヘテロダイン信号）（ｃ）をそれぞれサンプ
リングし、それぞれの保持信号Ｓ５（ｅ）とＳ６（ｆ）
との差を取ることにより、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位
相差を検出する。トラックエラー信号は、保持信号Ｓ５
（ｅ）とＳ６（ｆ）との差で得ることができる。
スポットとトラック（ピットの並び）との位置関係
（ａ）によって得られるＲＦ信号（ｂ）の負レベルから
正レベルへの転換時及び正レベルから負レベルへの転換
時のサンプリングパルスＳ３及びＳ４（ｄ）により、Ｈ
ＴＤ信号（ヘテロダイン信号）（ｃ）をそれぞれサンプ
リングし、それぞれの保持信号Ｓ５（ｅ）とＳ６（ｆ）
との差を取ることにより、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位
相差を検出する。トラックエラー信号は、保持信号Ｓ５
（ｅ）とＳ６（ｆ）との差で得ることができる。
【００９２】通常のヘテロダイン法の場合と異なり、本
形態例では、ディスクからの反射光の中心部分を使用し
ないで、ＨＴＤ信号を検出するが、ピット列を通過する
ときに、パターンの対角方向に現れるパターン変化によ
り、ＨＴＤ信号を得ることができるので、反射光の中心
部分を使用しない方法でヘテロダイン法を行っても問題
はない。ヘテロダイン法は、λ／４のピット深さのとき
が最適なので、ＲＦ信号が最大になるピット深さと相反
しない。
形態例では、ディスクからの反射光の中心部分を使用し
ないで、ＨＴＤ信号を検出するが、ピット列を通過する
ときに、パターンの対角方向に現れるパターン変化によ
り、ＨＴＤ信号を得ることができるので、反射光の中心
部分を使用しない方法でヘテロダイン法を行っても問題
はない。ヘテロダイン法は、λ／４のピット深さのとき
が最適なので、ＲＦ信号が最大になるピット深さと相反
しない。
【００９３】図１０は、本発明に係る光ディスク装置の
形態例１の演算部の構成を示すブロック図である。この
演算部は、検出部ｆの出力と検出部ｈの出力とを加算器
２０１で加算し、検出部ｅの出力と検出部ｇの出力とを
加算器２０２で加算する。加算器２０１の出力と加算器
２０２の出力との差を減算器２１０で演算して、その出
力は、ローパスフィルタ２０４で交流成分を除去した
後、フォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｅ＋ｇ）−（ｆ＋
ｈ）として出力する。
形態例１の演算部の構成を示すブロック図である。この
演算部は、検出部ｆの出力と検出部ｈの出力とを加算器
２０１で加算し、検出部ｅの出力と検出部ｇの出力とを
加算器２０２で加算する。加算器２０１の出力と加算器
２０２の出力との差を減算器２１０で演算して、その出
力は、ローパスフィルタ２０４で交流成分を除去した
後、フォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｅ＋ｇ）−（ｆ＋
ｈ）として出力する。
【００９４】検出部ａの出力と検出部ｂの出力とを加算
器２０８で加算し、検出部ｃの出力と検出部ｄの出力と
を加算器２０９で加算する。加算器２０８の出力と加算
器２０９の出力との差を減算器２１２で演算して、その
出力は、ローパスフィルタ２１３で交流成分を除去した
後、プッシュプル法によるトラック信号ＴＥＳ＝（ａ＋
ｂ）−（ｃ＋ｄ）としてスイッチ回路２１９の入力端子
に出力する。
器２０８で加算し、検出部ｃの出力と検出部ｄの出力と
を加算器２０９で加算する。加算器２０８の出力と加算
器２０９の出力との差を減算器２１２で演算して、その
出力は、ローパスフィルタ２１３で交流成分を除去した
後、プッシュプル法によるトラック信号ＴＥＳ＝（ａ＋
ｂ）−（ｃ＋ｄ）としてスイッチ回路２１９の入力端子
に出力する。
【００９５】検出部ａの出力と検出部ｃの出力とを加算
器２０６で加算し、検出部ｂの出力と検出部ｄの出力と
を加算器２０５で加算する。加算器２０５の出力と加算
器２０６の出力との和を加算器２０７で演算し、加算器
２０１の出力と加算器２０２の出力との和を加算器２０
３で演算する。加算器２０３の出力と加算器２０７の出
力との和を加算器２０４で演算し、その出力をＲＦ信号
として出力すると共に、パルス発生器２１４とパルス発
生器２１５とへ与える。加算器２０５の出力と加算器２
０６の出力との差を減算器２１１で演算して、その出力
は、ＨＴＤ信号としてゲートＧ１とゲートＧ２とへ与え
る。
器２０６で加算し、検出部ｂの出力と検出部ｄの出力と
を加算器２０５で加算する。加算器２０５の出力と加算
器２０６の出力との和を加算器２０７で演算し、加算器
２０１の出力と加算器２０２の出力との和を加算器２０
３で演算する。加算器２０３の出力と加算器２０７の出
力との和を加算器２０４で演算し、その出力をＲＦ信号
として出力すると共に、パルス発生器２１４とパルス発
生器２１５とへ与える。加算器２０５の出力と加算器２
０６の出力との差を減算器２１１で演算して、その出力
は、ＨＴＤ信号としてゲートＧ１とゲートＧ２とへ与え
る。
【００９６】パルス発生器２１４は、ＲＦ信号の負レベ
ルから正レベルへの転換時に、サンプリングパルスＳ３
（図１２）を発生し、ゲートＧ１へ与える。そのとき、
ゲートＧ１は開になり、ＨＴＤ信号のそのときの値が保
持回路２１６にサンプリング保持される。一方、パルス
発生器２１５は、ＲＦ信号の正レベルから負レベルへの
転換時に、サンプリングパルスＳ４（図１２）を発生
し、ゲートＧ２へ与える。そのとき、ゲートＧ２は開に
なり、ＨＴＤ信号のそのときの値が保持回路２１７にサ
ンプリング保持される。
ルから正レベルへの転換時に、サンプリングパルスＳ３
（図１２）を発生し、ゲートＧ１へ与える。そのとき、
ゲートＧ１は開になり、ＨＴＤ信号のそのときの値が保
持回路２１６にサンプリング保持される。一方、パルス
発生器２１５は、ＲＦ信号の正レベルから負レベルへの
転換時に、サンプリングパルスＳ４（図１２）を発生
し、ゲートＧ２へ与える。そのとき、ゲートＧ２は開に
なり、ＨＴＤ信号のそのときの値が保持回路２１７にサ
ンプリング保持される。
【００９７】保持回路２１６の保持信号Ｓ５と保持回路
２１７の保持信号Ｓ６（図１２）とは、減算器２１８で
その差が演算され、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位相差が
検出される。保持信号Ｓ５と保持信号Ｓ６との差Ｓ７
（図１２）は、トラックエラー信号としてスイッチ回路
２１９の入力端子に出力される。スイッチ回路２１９
は、判別手段２１９ａが、ディスク２１のトラック２１
ａは連続グルーブを有すると判別したときは、プッシュ
プル法によるトラックエラー信号を出力する。判別手段
２１９ａが、ディスク２１のトラック２１ａは、ピット
列のみを有すると判別したときは、ヘテロダイン法によ
るトラックエラー信号を出力する。尚、本形態例は、光
磁気ディスクの記録再生可能な光学系の構成となってい
るが、連続グルーブを有するディスクとして、相変化型
のディスクが装入された場合は、ＲＯＭディスクの場合
と同様、ＲＦ信号が情報信号となる。
２１７の保持信号Ｓ６（図１２）とは、減算器２１８で
その差が演算され、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位相差が
検出される。保持信号Ｓ５と保持信号Ｓ６との差Ｓ７
（図１２）は、トラックエラー信号としてスイッチ回路
２１９の入力端子に出力される。スイッチ回路２１９
は、判別手段２１９ａが、ディスク２１のトラック２１
ａは連続グルーブを有すると判別したときは、プッシュ
プル法によるトラックエラー信号を出力する。判別手段
２１９ａが、ディスク２１のトラック２１ａは、ピット
列のみを有すると判別したときは、ヘテロダイン法によ
るトラックエラー信号を出力する。尚、本形態例は、光
磁気ディスクの記録再生可能な光学系の構成となってい
るが、連続グルーブを有するディスクとして、相変化型
のディスクが装入された場合は、ＲＯＭディスクの場合
と同様、ＲＦ信号が情報信号となる。
【００９８】形態例２．図１３は、本発明に係る光ディ
スク装置の形態例２の光学系及び光検出系の構成を示す
斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検出
系は、形態例１におけるプリズム２６が、ホログラム光
学素子３１に置き換えられた例である。ホログラム光学
素子３１は、直方形の平板形状で、ホログラム光学素子
３１のパターン（ホログラムパターン）３１ｐに示すよ
うに、光学面をトラック方向の分割線で上中下に３分割
して、その中央部を鉛直線（トラック２１ａに直角方
向；ディスク半径方向）で、光ビームの進行方向へ向か
って右側の領域Ｃ１及び左側の領域Ｃ２に、さらに２分
割して形成してある。
スク装置の形態例２の光学系及び光検出系の構成を示す
斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検出
系は、形態例１におけるプリズム２６が、ホログラム光
学素子３１に置き換えられた例である。ホログラム光学
素子３１は、直方形の平板形状で、ホログラム光学素子
３１のパターン（ホログラムパターン）３１ｐに示すよ
うに、光学面をトラック方向の分割線で上中下に３分割
して、その中央部を鉛直線（トラック２１ａに直角方
向；ディスク半径方向）で、光ビームの進行方向へ向か
って右側の領域Ｃ１及び左側の領域Ｃ２に、さらに２分
割して形成してある。
【００９９】上部領域Ａ及び下部領域Ｂはレンズ作用を
有し、上下部領域Ａ，Ｂを通過する光ビーム（トラック
エラー信号作成用）及び領域Ｃ１，Ｃ２を通過する光ビ
ーム（フォーカスエラー信号作成用）の、ホログラム光
学素子３１からのそれぞれの焦点距離を違えている。ホ
ログラム光学素子３１へ入射されたディスク２１からの
反射光は、上部領域Ａを通過した部分は上方へ、領域Ｃ
１を通過した部分は、光ビームの進行方向へ向かって右
方へ、領域Ｃ２を通過した部分は左方へ、下部領域Ｂを
通過した部分は下方へとそれぞれ偏向される。
有し、上下部領域Ａ，Ｂを通過する光ビーム（トラック
エラー信号作成用）及び領域Ｃ１，Ｃ２を通過する光ビ
ーム（フォーカスエラー信号作成用）の、ホログラム光
学素子３１からのそれぞれの焦点距離を違えている。ホ
ログラム光学素子３１へ入射されたディスク２１からの
反射光は、上部領域Ａを通過した部分は上方へ、領域Ｃ
１を通過した部分は、光ビームの進行方向へ向かって右
方へ、領域Ｃ２を通過した部分は左方へ、下部領域Ｂを
通過した部分は下方へとそれぞれ偏向される。
【０１００】偏向されたそれぞれの光ビームは、信号検
出系の光軸と垂直をなす同一平面上に設けられた光検出
系の二分割光検出器２７〜３０に入射する。即ち、上部
領域Ａを通過した光ビームは、進行方向へ向かって右側
が検出部ａ、左側が検出部ｂで、分割線が鉛直である二
分割光検出器２７の分割線に、集光後のファーフィール
ド状態で入射する。領域Ｃ１を通過した光ビームは、進
行方向へ向かって右側が検出部ｅ、左側が検出部ｆで、
分割線が鉛直である二分割光検出器２９の分割線に、ニ
アフィールド状態で入射する。
出系の光軸と垂直をなす同一平面上に設けられた光検出
系の二分割光検出器２７〜３０に入射する。即ち、上部
領域Ａを通過した光ビームは、進行方向へ向かって右側
が検出部ａ、左側が検出部ｂで、分割線が鉛直である二
分割光検出器２７の分割線に、集光後のファーフィール
ド状態で入射する。領域Ｃ１を通過した光ビームは、進
行方向へ向かって右側が検出部ｅ、左側が検出部ｆで、
分割線が鉛直である二分割光検出器２９の分割線に、ニ
アフィールド状態で入射する。
【０１０１】領域Ｃ２を通過した光ビームは、進行方向
へ向かって右側が検出部ｈ、左側が検出部ｇで、分割線
が鉛直である二分割光検出器３０の分割線に、ニアフィ
ールド状態で入射する。下部領域Ｂを通過した光ビーム
は、進行方向へ向かって右側が検出部ｄ、左側が検出部
ｃで、分割線が鉛直である二分割光検出器２８の分割線
に、集光後のファーフィールド状態で入射する。
へ向かって右側が検出部ｈ、左側が検出部ｇで、分割線
が鉛直である二分割光検出器３０の分割線に、ニアフィ
ールド状態で入射する。下部領域Ｂを通過した光ビーム
は、進行方向へ向かって右側が検出部ｄ、左側が検出部
ｃで、分割線が鉛直である二分割光検出器２８の分割線
に、集光後のファーフィールド状態で入射する。
【０１０２】領域Ｃ１，Ｃ２を通過した＋−１次回折光
の光ビームは、サーボレンズ２５の収束作用のみで二分
割光検出器２９，３０に集光される。領域Ａ，Ｂが有す
るレンズ作用は、凸レンズ作用でも凹レンズ作用でもで
も良い。その他の構成及び動作は、形態例１で説明した
光ディスク装置の構成及び動作と同様なので、説明を省
略する。
の光ビームは、サーボレンズ２５の収束作用のみで二分
割光検出器２９，３０に集光される。領域Ａ，Ｂが有す
るレンズ作用は、凸レンズ作用でも凹レンズ作用でもで
も良い。その他の構成及び動作は、形態例１で説明した
光ディスク装置の構成及び動作と同様なので、説明を省
略する。
【０１０３】形態例３．図１４は、本発明に係る光ディ
スク装置の形態例３の光学系及び光検出系の構成を示す
斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検出
系は、形態例１におけるプリズム２６が、四角錐プリズ
ム３２に置き換えられた例である。四角錐プリズム３２
は、サーボレンズ２５から出射されるディスク２１から
の反射光のファーフィールドに、その底辺がトラック方
向に対して４５°をなすように設置されている。四角錐
プリズム３２へ入射されたディスク２１からの反射光
は、反射光の進行方向へ向かって右上方のプリズム面を
通過した部分は左下方へ、左上方のプリズム面を通過し
た部分は右下方へ、右下方のプリズム面を通過した部分
は左上方へ、左下方のプリズム面を通過した部分は右上
方へとそれぞれ偏向される。
スク装置の形態例３の光学系及び光検出系の構成を示す
斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検出
系は、形態例１におけるプリズム２６が、四角錐プリズ
ム３２に置き換えられた例である。四角錐プリズム３２
は、サーボレンズ２５から出射されるディスク２１から
の反射光のファーフィールドに、その底辺がトラック方
向に対して４５°をなすように設置されている。四角錐
プリズム３２へ入射されたディスク２１からの反射光
は、反射光の進行方向へ向かって右上方のプリズム面を
通過した部分は左下方へ、左上方のプリズム面を通過し
た部分は右下方へ、右下方のプリズム面を通過した部分
は左上方へ、左下方のプリズム面を通過した部分は右上
方へとそれぞれ偏向される。
【０１０４】偏向されたそれぞれの光ビームは、信号検
出系の光軸と垂直をなす同一平面上に設けられた光検出
系の二分割光検出器３３〜３６に入射する。即ち、右上
方のプリズム面を通過した光ビームは、進行方向へ向か
って右上側が検出部ｆ、左下側が検出部ｅで、分割線が
右上方のプリズム面の底辺に平行である二分割光検出器
３５の分割線に、ニアフィールド状態で入射する。左上
方のプリズム面を通過した光ビームは、進行方向へ向か
って左上側が検出部ｈ、右下側が検出部ｇで、分割線が
左上方のプリズム面の底辺に平行である二分割光検出器
３６の分割線に、ニアフィールド状態で入射する。
出系の光軸と垂直をなす同一平面上に設けられた光検出
系の二分割光検出器３３〜３６に入射する。即ち、右上
方のプリズム面を通過した光ビームは、進行方向へ向か
って右上側が検出部ｆ、左下側が検出部ｅで、分割線が
右上方のプリズム面の底辺に平行である二分割光検出器
３５の分割線に、ニアフィールド状態で入射する。左上
方のプリズム面を通過した光ビームは、進行方向へ向か
って左上側が検出部ｈ、右下側が検出部ｇで、分割線が
左上方のプリズム面の底辺に平行である二分割光検出器
３６の分割線に、ニアフィールド状態で入射する。
【０１０５】右下方のプリズム面を通過した光ビーム
は、進行方向へ向かって左上側が検出部ｃ、右下側が検
出部ｄで、分割線が右下方のプリズム面の底辺に平行で
ある二分割光検出器３４の分割線に、ニアフィールド状
態で入射する。左下方のプリズム面を通過した光ビーム
は、進行方向へ向かって右上側が検出部ａ、左下側が検
出部ｂで、分割線が左下方のプリズム面の底辺に平行で
ある二分割光検出器３３の分割線に、ニアフィールド状
態で入射する。二分割光検出器３３〜３６の各分割線の
方向は、図１５のＷに示す、四角錐プリズム３２の底辺
と略一致する方向からトラック方向に一致する方向の範
囲に設定されている。特に、図１５に示すように、各分
割線を同一方向に揃えておくと組み立て調整が容易であ
る。
は、進行方向へ向かって左上側が検出部ｃ、右下側が検
出部ｄで、分割線が右下方のプリズム面の底辺に平行で
ある二分割光検出器３４の分割線に、ニアフィールド状
態で入射する。左下方のプリズム面を通過した光ビーム
は、進行方向へ向かって右上側が検出部ａ、左下側が検
出部ｂで、分割線が左下方のプリズム面の底辺に平行で
ある二分割光検出器３３の分割線に、ニアフィールド状
態で入射する。二分割光検出器３３〜３６の各分割線の
方向は、図１５のＷに示す、四角錐プリズム３２の底辺
と略一致する方向からトラック方向に一致する方向の範
囲に設定されている。特に、図１５に示すように、各分
割線を同一方向に揃えておくと組み立て調整が容易であ
る。
【０１０６】本形態例では、ディスク上に光スポットが
正確にフォーカスされていれば、４分割された光ビーム
は、それぞれ二分割光検出器上で、図１５（ｂ）に示す
ように、分割線上にニアフィールド状態のスポットを形
成する。ディスクが対物レンズの焦点位置より遠けれ
ば、４分割された光ビームは、トラック上のスポットを
４分割したそれぞれの位置に対応する４分割の光検出器
の各検出部の内、光ビームの中心側の検出部ａ，ｃ，
ｅ，ｇにそれぞれファーフィールドのスポットを形成す
る（図１５（ｃ））。記録媒体が対物レンズの焦点位置
より近ければ、４分割された光ビームは、光ビームの外
周側の検出部ｂ，ｄ，ｆ，ｈにそれぞれファーフィール
ド状態のスポットを形成する（図１５（ａ））。
正確にフォーカスされていれば、４分割された光ビーム
は、それぞれ二分割光検出器上で、図１５（ｂ）に示す
ように、分割線上にニアフィールド状態のスポットを形
成する。ディスクが対物レンズの焦点位置より遠けれ
ば、４分割された光ビームは、トラック上のスポットを
４分割したそれぞれの位置に対応する４分割の光検出器
の各検出部の内、光ビームの中心側の検出部ａ，ｃ，
ｅ，ｇにそれぞれファーフィールドのスポットを形成す
る（図１５（ｃ））。記録媒体が対物レンズの焦点位置
より近ければ、４分割された光ビームは、光ビームの外
周側の検出部ｂ，ｄ，ｆ，ｈにそれぞれファーフィール
ド状態のスポットを形成する（図１５（ａ））。
【０１０７】後述する演算部（演算手段、図１４には図
示せず）は、フーコー法により、二分割光検出器３３〜
３６の各検出部ａ〜ｈの出力（ａ〜ｈとする）から、フ
ォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ａ−ｂ）＋（ｃ−ｄ）＋
（ｅ−ｆ）＋（ｇ−ｈ）を演算して出力する。ディスク
２１のトラック２１ａが連続グルーブを有するとき（書
換可能型ディスク等のとき）は、プッシュプル法によ
り、二分割光検出器３３〜３６の各検出部ａ〜ｈの出力
（ａ〜ｈとする）から、トラックエラー信号ＴＥＳ＝
（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−（ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈ）を演算して出
力する。
示せず）は、フーコー法により、二分割光検出器３３〜
３６の各検出部ａ〜ｈの出力（ａ〜ｈとする）から、フ
ォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ａ−ｂ）＋（ｃ−ｄ）＋
（ｅ−ｆ）＋（ｇ−ｈ）を演算して出力する。ディスク
２１のトラック２１ａが連続グルーブを有するとき（書
換可能型ディスク等のとき）は、プッシュプル法によ
り、二分割光検出器３３〜３６の各検出部ａ〜ｈの出力
（ａ〜ｈとする）から、トラックエラー信号ＴＥＳ＝
（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−（ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈ）を演算して出
力する。
【０１０８】ディスク２１のトラック２１ａが、ピット
列のみを有するＲＯＭディスク等のトラックのときは、
ヘテロダイン法により、二分割光検出器３３〜３６の各
出力の対角の和の差であるヘテロダイン信号ＨＴＤ＝
（ａ＋ｂ＋ｅ＋ｆ）−（ｃ＋ｄ＋ｇ＋ｈ）と、情報信号
ＲＦ＝ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈとの位相差を求
めて、トラックエラー信号を得る。
列のみを有するＲＯＭディスク等のトラックのときは、
ヘテロダイン法により、二分割光検出器３３〜３６の各
出力の対角の和の差であるヘテロダイン信号ＨＴＤ＝
（ａ＋ｂ＋ｅ＋ｆ）−（ｃ＋ｄ＋ｇ＋ｈ）と、情報信号
ＲＦ＝ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈとの位相差を求
めて、トラックエラー信号を得る。
【０１０９】図１７は、本発明に係る光ディスク装置の
形態例３の演算部の構成を示すブロック図である。この
演算部は、検出部ｂの出力と検出部ｄの出力とを加算器
２２０で加算し、検出部ａの出力と検出部ｃの出力とを
加算器２２１で加算する。検出部ａの出力と検出部ｂの
出力とを加算器２２４で加算し、検出部ｃの出力と検出
部ｄの出力とを加算器２２５で加算する。検出部ｅの出
力と検出部ｆの出力とを加算器２２６で加算し、検出部
ｇの出力と検出部ｈの出力とを加算器２２７で加算す
る。検出部ｆの出力と検出部ｈの出力とを加算器２２８
で加算し、検出部ｅの出力と検出部ｇの出力とを加算器
２２９で加算する。
形態例３の演算部の構成を示すブロック図である。この
演算部は、検出部ｂの出力と検出部ｄの出力とを加算器
２２０で加算し、検出部ａの出力と検出部ｃの出力とを
加算器２２１で加算する。検出部ａの出力と検出部ｂの
出力とを加算器２２４で加算し、検出部ｃの出力と検出
部ｄの出力とを加算器２２５で加算する。検出部ｅの出
力と検出部ｆの出力とを加算器２２６で加算し、検出部
ｇの出力と検出部ｈの出力とを加算器２２７で加算す
る。検出部ｆの出力と検出部ｈの出力とを加算器２２８
で加算し、検出部ｅの出力と検出部ｇの出力とを加算器
２２９で加算する。
【０１１０】加算器２２０の出力と加算器２２１の出力
との差を減算器２３３で演算し、加算器２２０の出力と
加算器２２１の出力との和を加算器２２２で演算する。
加算器２２４の出力と加算器２２５の出力との差を減算
器２３４で演算し、加算器２２６の出力と加算器２２７
の出力との差を減算器２３５で演算する。加算器２２８
の出力と加算器２２９の出力との和を加算器２３０で演
算し、加算器２２８の出力と加算器２２９の出力との差
を減算器２３６で演算する。
との差を減算器２３３で演算し、加算器２２０の出力と
加算器２２１の出力との和を加算器２２２で演算する。
加算器２２４の出力と加算器２２５の出力との差を減算
器２３４で演算し、加算器２２６の出力と加算器２２７
の出力との差を減算器２３５で演算する。加算器２２８
の出力と加算器２２９の出力との和を加算器２３０で演
算し、加算器２２８の出力と加算器２２９の出力との差
を減算器２３６で演算する。
【０１１１】減算器２３３の出力と減算器２３６の出力
との差を加算器２２３で演算し、その出力は、ローパス
フィルタ２０４で交流成分を除去した後、フォーカスエ
ラー信号ＦＥＳ＝（ａ−ｂ）＋（ｃ−ｄ）＋（ｅ−ｆ）
＋（ｇ−ｈ）として出力する。加算器２３０の出力と加
算器２２２の出力との差を減算器２３７で演算して、そ
の出力は、ローパスフィルタ２１３で交流成分を除去し
た後、プッシュプル法によるトラック信号ＴＥＳ＝（ａ
＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−（ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈ）としてスイッチ回
路２１９の入力端子に出力する。
との差を加算器２２３で演算し、その出力は、ローパス
フィルタ２０４で交流成分を除去した後、フォーカスエ
ラー信号ＦＥＳ＝（ａ−ｂ）＋（ｃ−ｄ）＋（ｅ−ｆ）
＋（ｇ−ｈ）として出力する。加算器２３０の出力と加
算器２２２の出力との差を減算器２３７で演算して、そ
の出力は、ローパスフィルタ２１３で交流成分を除去し
た後、プッシュプル法によるトラック信号ＴＥＳ＝（ａ
＋ｂ＋ｃ＋ｄ）−（ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈ）としてスイッチ回
路２１９の入力端子に出力する。
【０１１２】加算器２２２の出力と加算器２３０の出力
との和を加算器２３１で演算し、その出力をＲＦ信号と
して出力すると共に、パルス発生器２１４とパルス発生
器２１５とへ与える。減算器２３４の出力と減算器２３
５の出力との和を加算器２３２で演算して、その出力
は、ＨＴＤ信号としてゲートＧ１とゲートＧ２とへ与え
る。
との和を加算器２３１で演算し、その出力をＲＦ信号と
して出力すると共に、パルス発生器２１４とパルス発生
器２１５とへ与える。減算器２３４の出力と減算器２３
５の出力との和を加算器２３２で演算して、その出力
は、ＨＴＤ信号としてゲートＧ１とゲートＧ２とへ与え
る。
【０１１３】パルス発生器２１４は、ＲＦ信号の負レベ
ルから正レベルへの転換時に、サンプリングパルスＳ３
（図１２）を発生し、ゲートＧ１へ与える。そのとき、
ゲートＧ１は開になり、ＨＴＤ信号のそのときの値が保
持回路２１６にサンプリング保持される。一方、パルス
発生器２１５は、ＲＦ信号の正レベルから負レベルへの
転換時に、サンプリングパルスＳ４（図１２）を発生
し、ゲートＧ２へ与える。そのとき、ゲートＧ２は開に
なり、ＨＴＤ信号のそのときの値が保持回路２１７にサ
ンプリング保持される。
ルから正レベルへの転換時に、サンプリングパルスＳ３
（図１２）を発生し、ゲートＧ１へ与える。そのとき、
ゲートＧ１は開になり、ＨＴＤ信号のそのときの値が保
持回路２１６にサンプリング保持される。一方、パルス
発生器２１５は、ＲＦ信号の正レベルから負レベルへの
転換時に、サンプリングパルスＳ４（図１２）を発生
し、ゲートＧ２へ与える。そのとき、ゲートＧ２は開に
なり、ＨＴＤ信号のそのときの値が保持回路２１７にサ
ンプリング保持される。
【０１１４】保持回路２１６の保持信号Ｓ５と保持回路
２１７の保持信号Ｓ６（図１２）とは、減算器２１８で
その差が演算され、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位相差が
検出される。保持信号Ｓ５と保持信号Ｓ６との差Ｓ７
（図１２）は、トラックエラー信号としてスイッチ回路
２１９の入力端子に出力される。スイッチ回路２１９
は、判別手段２１９ａが、ディスク２１のトラック２１
ａは連続グルーブを有すると判別したときは、プッシュ
プル法によるトラックエラー信号を出力する。判別手段
２１９ａが、ディスク２１のトラック２１ａは、ピット
列のみを有すると判別したときは、ヘテロダイン法によ
るトラックエラー信号を出力する。
２１７の保持信号Ｓ６（図１２）とは、減算器２１８で
その差が演算され、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位相差が
検出される。保持信号Ｓ５と保持信号Ｓ６との差Ｓ７
（図１２）は、トラックエラー信号としてスイッチ回路
２１９の入力端子に出力される。スイッチ回路２１９
は、判別手段２１９ａが、ディスク２１のトラック２１
ａは連続グルーブを有すると判別したときは、プッシュ
プル法によるトラックエラー信号を出力する。判別手段
２１９ａが、ディスク２１のトラック２１ａは、ピット
列のみを有すると判別したときは、ヘテロダイン法によ
るトラックエラー信号を出力する。
【０１１５】その他の構成及び動作は、形態例１で説明
した光ディスク装置の構成及び動作と同様なので、説明
を省略する。尚、四角錐プリズム３２は、図１６に示す
ような風車型プリズム３２ａに置き換えても良い。この
場合、風車型プリズム３２と二分割光検出器２７〜３０
との位置関係は、図１６に示す通りである。
した光ディスク装置の構成及び動作と同様なので、説明
を省略する。尚、四角錐プリズム３２は、図１６に示す
ような風車型プリズム３２ａに置き換えても良い。この
場合、風車型プリズム３２と二分割光検出器２７〜３０
との位置関係は、図１６に示す通りである。
【０１１６】形態例４．図１８は、本発明に係る光ディ
スク装置の形態例４の光学系及び光検出系の構成を示す
斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検出
系は、形態例３における四角錐プリズム３２が、ホログ
ラム光学素子３７に置き換えられた例である。ホログラ
ム光学素子３７は、直方形の平板形状で、ホログラム光
学素子３７のホログラムパターン３７ｐに示すように、
光学面をトラック方向の分割線とその直角方向の分割線
とで４分割して形成してある。
スク装置の形態例４の光学系及び光検出系の構成を示す
斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検出
系は、形態例３における四角錐プリズム３２が、ホログ
ラム光学素子３７に置き換えられた例である。ホログラ
ム光学素子３７は、直方形の平板形状で、ホログラム光
学素子３７のホログラムパターン３７ｐに示すように、
光学面をトラック方向の分割線とその直角方向の分割線
とで４分割して形成してある。
【０１１７】ホログラム光学素子３７へ入射されたディ
スク２１からの反射光は、その進行方向へ向かって右上
方部を通過した部分の＋１次光は右上方へ、左上方部を
通過した部分の＋１次光は左上方へ、右下方部を通過し
た部分の＋１次光は右下方へ、左下方部を通過した部分
の＋１次光は左下方へとそれぞれ偏向される。
スク２１からの反射光は、その進行方向へ向かって右上
方部を通過した部分の＋１次光は右上方へ、左上方部を
通過した部分の＋１次光は左上方へ、右下方部を通過し
た部分の＋１次光は右下方へ、左下方部を通過した部分
の＋１次光は左下方へとそれぞれ偏向される。
【０１１８】偏向されたそれぞれの光ビームは、信号検
出系の光軸と垂直をなす同一平面上に設けられた光検出
系の二分割光検出器３３〜３６に入射する。即ち、右上
方部を通過した＋１次光の光ビームは、進行方向へ向か
って右上側が検出部ａ、左下側が検出部ｂで、分割線が
トラック方向と４５°の角度をなす二分割光検出器３３
の分割線に、ニアフィールド状態で入射する。左上方部
を通過した＋１次光の光ビームは、進行方向へ向かって
左上側が検出部ｃ、右下側が検出部ｄで、分割線がトラ
ック方向と１３５°の角度をなす二分割光検出器３４の
分割線に、ニアフィールド状態で入射する。
出系の光軸と垂直をなす同一平面上に設けられた光検出
系の二分割光検出器３３〜３６に入射する。即ち、右上
方部を通過した＋１次光の光ビームは、進行方向へ向か
って右上側が検出部ａ、左下側が検出部ｂで、分割線が
トラック方向と４５°の角度をなす二分割光検出器３３
の分割線に、ニアフィールド状態で入射する。左上方部
を通過した＋１次光の光ビームは、進行方向へ向かって
左上側が検出部ｃ、右下側が検出部ｄで、分割線がトラ
ック方向と１３５°の角度をなす二分割光検出器３４の
分割線に、ニアフィールド状態で入射する。
【０１１９】右下方部を通過した＋１次光の光ビーム
は、進行方向へ向かって左上側が検出部ｈ、右下側が検
出部ｇで、分割線がトラック方向と１３５°の角度をな
す二分割光検出器３６の分割線に、ニアフィールド状態
で入射する。左下方部を通過した＋１次光の光ビーム
は、進行方向へ向かって右上側が検出部ｆ、左下側が検
出部ｅで、分割線がトラック方向と４５°の角度をなす
二分割光検出器３５の分割線に、ニアフィールド状態で
入射する。その他の構成及び動作は、形態例３で説明し
た光ディスク装置の構成及び動作と同様なので、説明を
省略する。
は、進行方向へ向かって左上側が検出部ｈ、右下側が検
出部ｇで、分割線がトラック方向と１３５°の角度をな
す二分割光検出器３６の分割線に、ニアフィールド状態
で入射する。左下方部を通過した＋１次光の光ビーム
は、進行方向へ向かって右上側が検出部ｆ、左下側が検
出部ｅで、分割線がトラック方向と４５°の角度をなす
二分割光検出器３５の分割線に、ニアフィールド状態で
入射する。その他の構成及び動作は、形態例３で説明し
た光ディスク装置の構成及び動作と同様なので、説明を
省略する。
【０１２０】形態例５．図１９（ａ）は、本発明に係る
光ディスク装置の形態例５の光学素子及び光検出系の構
成を示す斜視図である。この光ディスク装置の光学素子
及び光検出系は、形態例４におけるホログラム光学素子
３７が、６分割のホログラム光学素子３７ａに置き換え
られた例である。ホログラム光学素子３７ａは、直方形
の平板形状で、図１９（ｂ）のホログラム光学素子３７
ａのホログラムパターン３７ａｐに示すように、ホログ
ラム光学素子３７をさらにトラック方向と直角の分割線
２本でトラック方向に３分割して形成してある。
光ディスク装置の形態例５の光学素子及び光検出系の構
成を示す斜視図である。この光ディスク装置の光学素子
及び光検出系は、形態例４におけるホログラム光学素子
３７が、６分割のホログラム光学素子３７ａに置き換え
られた例である。ホログラム光学素子３７ａは、直方形
の平板形状で、図１９（ｂ）のホログラム光学素子３７
ａのホログラムパターン３７ａｐに示すように、ホログ
ラム光学素子３７をさらにトラック方向と直角の分割線
２本でトラック方向に３分割して形成してある。
【０１２１】ホログラム光学素子３７ａへ入射されたデ
ィスク２１からの反射光は、その進行方向へ向かって右
上方の領域Ａを通過した部分の＋１次光は右上方へ、左
上方の領域Ｃを通過した部分の＋１次光は左上方へ、右
下方の領域Ｂを通過した部分の＋１次光は右下方へ、左
下方の領域Ｄを通過した部分の＋１次光は左下方へ、中
央の上方の領域Ｅを通過した部分の＋１次光は上方へ、
中央の下方の領域Ｆを通過した部分の＋１次光は下方へ
とそれぞれ偏向される。
ィスク２１からの反射光は、その進行方向へ向かって右
上方の領域Ａを通過した部分の＋１次光は右上方へ、左
上方の領域Ｃを通過した部分の＋１次光は左上方へ、右
下方の領域Ｂを通過した部分の＋１次光は右下方へ、左
下方の領域Ｄを通過した部分の＋１次光は左下方へ、中
央の上方の領域Ｅを通過した部分の＋１次光は上方へ、
中央の下方の領域Ｆを通過した部分の＋１次光は下方へ
とそれぞれ偏向される。
【０１２２】偏向されたそれぞれの光ビームは、信号検
出系の光軸と垂直をなす同一平面上に設けられた光検出
系の二分割光検出器３３〜３６及び光検出器３８，３９
に入射する。即ち、領域Ａを通過した＋１次光の光ビー
ムは、進行方向へ向かって右上側が検出部ａ、左下側が
検出部ｂで、分割線がトラック方向と４５°の角度をな
す二分割光検出器３３の分割線に、ニアフィールド状態
で入射する。領域Ｃを通過した＋１次光の光ビームは、
進行方向へ向かって左上側が検出部ｃ、右下側が検出部
ｄで、分割線がトラック方向と１３５°の角度をなす二
分割光検出器３４の分割線に、ニアフィールド状態で入
射する。
出系の光軸と垂直をなす同一平面上に設けられた光検出
系の二分割光検出器３３〜３６及び光検出器３８，３９
に入射する。即ち、領域Ａを通過した＋１次光の光ビー
ムは、進行方向へ向かって右上側が検出部ａ、左下側が
検出部ｂで、分割線がトラック方向と４５°の角度をな
す二分割光検出器３３の分割線に、ニアフィールド状態
で入射する。領域Ｃを通過した＋１次光の光ビームは、
進行方向へ向かって左上側が検出部ｃ、右下側が検出部
ｄで、分割線がトラック方向と１３５°の角度をなす二
分割光検出器３４の分割線に、ニアフィールド状態で入
射する。
【０１２３】領域Ｂを通過した＋１次光の光ビームは、
進行方向へ向かって左上側が検出部ｈ、右下側が検出部
ｇで、分割線がトラック方向と１３５°の角度をなす二
分割光検出器３６の分割線に、ニアフィールド状態で入
射する。領域Ｄを通過した＋１次光の光ビームは、進行
方向へ向かって右上側が検出部ｆ、左下側が検出部ｅ
で、分割線がトラック方向と４５°の角度をなす二分割
光検出器３５の分割線に、ニアフィールド状態で入射す
る。領域Ｅを通過した＋１次光の光ビームは、光検出器
３８の検出部ｉにニアフィールド状態で入射する。領域
Ｆを通過した＋１次光の光ビームは、光検出器３９の検
出部ｊにニアフィールド状態で入射する。
進行方向へ向かって左上側が検出部ｈ、右下側が検出部
ｇで、分割線がトラック方向と１３５°の角度をなす二
分割光検出器３６の分割線に、ニアフィールド状態で入
射する。領域Ｄを通過した＋１次光の光ビームは、進行
方向へ向かって右上側が検出部ｆ、左下側が検出部ｅ
で、分割線がトラック方向と４５°の角度をなす二分割
光検出器３５の分割線に、ニアフィールド状態で入射す
る。領域Ｅを通過した＋１次光の光ビームは、光検出器
３８の検出部ｉにニアフィールド状態で入射する。領域
Ｆを通過した＋１次光の光ビームは、光検出器３９の検
出部ｊにニアフィールド状態で入射する。
【０１２４】フォーカスエラー信号を求めるフーコー法
では、中央部の領域Ｅ，Ｆを通過した光ビームをフォー
カスエラー検出に用いないことにより、フォーカスエラ
ー信号の感度を高くすることができる。従って、形態例
４と同様に、ＦＥＳ＝（ａ−ｂ）＋（ｃ−ｄ）＋（ｅ−
ｆ）＋（ｇ−ｈ）＝（ａ＋ｃ＋ｅ＋ｇ）−（ｂ＋ｄ＋ｆ
＋ｈ）でフォーカスエラー信号を検出する。ディスク２
１のトラック２１ａが連続グルーブを有するとき（書換
可能型ディスク等のとき）は、プッシュプル法により、
光検出器３８，３９のそれぞれの検出部ｉ，ｊの出力
（ｉ，ｊとする）から、ＴＥＳ＝ｉ−ｊでトラックエラ
ー信号を検出する。トラックエラー信号ＴＥＳの光量が
減少するのを防ぐには、ＴＥＳ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋
ｉ）−（ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈ＋ｊ）で検出する。
では、中央部の領域Ｅ，Ｆを通過した光ビームをフォー
カスエラー検出に用いないことにより、フォーカスエラ
ー信号の感度を高くすることができる。従って、形態例
４と同様に、ＦＥＳ＝（ａ−ｂ）＋（ｃ−ｄ）＋（ｅ−
ｆ）＋（ｇ−ｈ）＝（ａ＋ｃ＋ｅ＋ｇ）−（ｂ＋ｄ＋ｆ
＋ｈ）でフォーカスエラー信号を検出する。ディスク２
１のトラック２１ａが連続グルーブを有するとき（書換
可能型ディスク等のとき）は、プッシュプル法により、
光検出器３８，３９のそれぞれの検出部ｉ，ｊの出力
（ｉ，ｊとする）から、ＴＥＳ＝ｉ−ｊでトラックエラ
ー信号を検出する。トラックエラー信号ＴＥＳの光量が
減少するのを防ぐには、ＴＥＳ＝（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋
ｉ）−（ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈ＋ｊ）で検出する。
【０１２５】ディスク２１のトラック２１ａが、ピット
列のみを有するＲＯＭディスク等のトラックのときは、
ヘテロダイン法により、ヘテロダイン信号ＨＴＤ＝（ａ
＋ｂ＋ｅ＋ｆ）−（ｃ＋ｄ＋ｇ＋ｈ）と、情報信号ＲＦ
＝ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈ＋ｉ＋ｊとの位相差
を求めて、トラックエラー信号を得る。その他の構成及
び動作は、形態例３で説明した光ディスク装置の構成及
び動作と同様なので、図示及び説明を省略する。
列のみを有するＲＯＭディスク等のトラックのときは、
ヘテロダイン法により、ヘテロダイン信号ＨＴＤ＝（ａ
＋ｂ＋ｅ＋ｆ）−（ｃ＋ｄ＋ｇ＋ｈ）と、情報信号ＲＦ
＝ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋ｅ＋ｆ＋ｇ＋ｈ＋ｉ＋ｊとの位相差
を求めて、トラックエラー信号を得る。その他の構成及
び動作は、形態例３で説明した光ディスク装置の構成及
び動作と同様なので、図示及び説明を省略する。
【０１２６】形態例６．図２０は、本発明に係る光ディ
スク装置の形態例６の光学系及び光検出系の構成を示す
斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検出
系は、この光学系の光軸上に置かれたＬＤ，ＰＤ（Phot
oDiode）ユニット４１から水平方向へ出射された光ビー
ムが、光軸と光学面とが垂直になるように光軸上に設置
されたホログラム光学素子４０に入射され、その回折さ
れない０次光がコリメートレンズ１７に入射されて平行
光に変換される。コリメートレンズ１７からの平行光に
変換された光ビームは、光軸上に設置されたビームスプ
リッタ１９をそのまま透過して、立ち上げミラー４ａで
上方へ９０°偏向される。９０°偏向された光ビーム
は、光軸と光学面とが垂直になるように光軸上に設置さ
れた対物レンズ２０により、対物レンズ２０の上方で水
平回転するディスク２１のトラック２１ａ上に集光され
る。
スク装置の形態例６の光学系及び光検出系の構成を示す
斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検出
系は、この光学系の光軸上に置かれたＬＤ，ＰＤ（Phot
oDiode）ユニット４１から水平方向へ出射された光ビー
ムが、光軸と光学面とが垂直になるように光軸上に設置
されたホログラム光学素子４０に入射され、その回折さ
れない０次光がコリメートレンズ１７に入射されて平行
光に変換される。コリメートレンズ１７からの平行光に
変換された光ビームは、光軸上に設置されたビームスプ
リッタ１９をそのまま透過して、立ち上げミラー４ａで
上方へ９０°偏向される。９０°偏向された光ビーム
は、光軸と光学面とが垂直になるように光軸上に設置さ
れた対物レンズ２０により、対物レンズ２０の上方で水
平回転するディスク２１のトラック２１ａ上に集光され
る。
【０１２７】ディスク２１によって反射された反射光
は、対物レンズ２０を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、ビー
ムスプリッタ１９へ戻って来る。ビームスプリッタ１９
内では、反射光は、一部がそのまま透過して信号検出系
へ入射される。反射光の残余は、ビームスプリッタ１９
内で反射されて側方へ９０°偏向され、ＭＯ信号検出系
へ入射される。
は、対物レンズ２０を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、ビー
ムスプリッタ１９へ戻って来る。ビームスプリッタ１９
内では、反射光は、一部がそのまま透過して信号検出系
へ入射される。反射光の残余は、ビームスプリッタ１９
内で反射されて側方へ９０°偏向され、ＭＯ信号検出系
へ入射される。
【０１２８】ＭＯ信号検出系へ入射された上述の反射光
の残余は、ＭＯ信号検出系の光軸上に設けられたウォラ
ストンプリズム２３で、２つの直線偏光に偏光分離され
る。２つの直線偏光は、２分割の光検出器２４へそれぞ
れ入射される。信号検出系へ入射された反射光は、コリ
メートレンズ１７を介して、上述の０次光とは逆方向
に、ホログラム光学素子４０へ入射される。ホログラム
光学素子４０は、図２１に示すように、形態例２のホロ
グラム光学素子３１と同形状で、分割した各光ビームを
偏向する方向も同じである。
の残余は、ＭＯ信号検出系の光軸上に設けられたウォラ
ストンプリズム２３で、２つの直線偏光に偏光分離され
る。２つの直線偏光は、２分割の光検出器２４へそれぞ
れ入射される。信号検出系へ入射された反射光は、コリ
メートレンズ１７を介して、上述の０次光とは逆方向
に、ホログラム光学素子４０へ入射される。ホログラム
光学素子４０は、図２１に示すように、形態例２のホロ
グラム光学素子３１と同形状で、分割した各光ビームを
偏向する方向も同じである。
【０１２９】ホログラム光学素子４０で分割偏向された
各光ビームは、光軸と光学面とが垂直になるように設け
られた光検出系の複合光検出器４２に入射する。複合光
検出器４２の各検出部ａ〜ｈは、形態例２の二分割検出
器２７〜３０の各検出部ａ〜ｈと同様に配置されてい
る。複合光検出器４２は、図２１に示すように、その筐
体の底部に固定されたＬＤ４３とで、ＬＤ，ＰＤユニッ
ト４１を構成している。偏向されたそれぞれの光ビーム
が、複合光検出器４２の各検出部ａ〜ｈへ入射する位置
及び状態は、形態例２の二分割検出器２７〜３０の各検
出部ａ〜ｈの場合と同様である。その他の構成及び動作
は、形態例２で説明した光ディスク装置の構成及び動作
と同様なので、説明を省略する。
各光ビームは、光軸と光学面とが垂直になるように設け
られた光検出系の複合光検出器４２に入射する。複合光
検出器４２の各検出部ａ〜ｈは、形態例２の二分割検出
器２７〜３０の各検出部ａ〜ｈと同様に配置されてい
る。複合光検出器４２は、図２１に示すように、その筐
体の底部に固定されたＬＤ４３とで、ＬＤ，ＰＤユニッ
ト４１を構成している。偏向されたそれぞれの光ビーム
が、複合光検出器４２の各検出部ａ〜ｈへ入射する位置
及び状態は、形態例２の二分割検出器２７〜３０の各検
出部ａ〜ｈの場合と同様である。その他の構成及び動作
は、形態例２で説明した光ディスク装置の構成及び動作
と同様なので、説明を省略する。
【０１３０】形態例７．図２２（ａ）は、本発明に係る
光ディスク装置の形態例７の光学素子及び光検出系の構
成を示す斜視図である。この光ディスク装置の光学系及
び光検出系は、形態例６の光学系及び光検出系におい
て、ホログラム光学素子４０が、ホログラム光学素子４
０ａに置き換えられた構成である。ホログラム光学素子
４０ａの形状及びホログラムパターンは、図２２
（ａ），（ｂ）に示すように、形態例４のホログラム光
学素子３７と同じホログラムパターンであり、分割した
各光ビームを偏向する方向も同じである。
光ディスク装置の形態例７の光学素子及び光検出系の構
成を示す斜視図である。この光ディスク装置の光学系及
び光検出系は、形態例６の光学系及び光検出系におい
て、ホログラム光学素子４０が、ホログラム光学素子４
０ａに置き換えられた構成である。ホログラム光学素子
４０ａの形状及びホログラムパターンは、図２２
（ａ），（ｂ）に示すように、形態例４のホログラム光
学素子３７と同じホログラムパターンであり、分割した
各光ビームを偏向する方向も同じである。
【０１３１】ホログラム光学素子４０ａで分割偏向され
た各光ビームは、光軸と光学面とが垂直になるように設
けられた光検出系の複合光検出器４５に入射する。複合
光検出器４５の各検出部ａ〜ｇは、形態例４の二分割検
出器３３〜３６の各検出部ａ〜ｇと同様に配置されてい
る。複合光検出器４５は、図２２に示すように、その筐
体の底部に固定されたＬＤ４３とで、ＬＤ，ＰＤユニッ
ト４１を構成している。 ホログラム光学素子４０ａで
分割偏向された各光ビームが、複合光検出器４５の各検
出部ａ〜ｇへ入射する位置及び状態は、形態例４の二分
割検出器３３〜３６の各検出部ａ〜ｇの場合と同様であ
る。その他の構成及び動作は、形態例６（光学系）及び
４形態例（光検出系）で説明した光ディスク装置の構成
及び動作と同様なので、説明を省略する。
た各光ビームは、光軸と光学面とが垂直になるように設
けられた光検出系の複合光検出器４５に入射する。複合
光検出器４５の各検出部ａ〜ｇは、形態例４の二分割検
出器３３〜３６の各検出部ａ〜ｇと同様に配置されてい
る。複合光検出器４５は、図２２に示すように、その筐
体の底部に固定されたＬＤ４３とで、ＬＤ，ＰＤユニッ
ト４１を構成している。 ホログラム光学素子４０ａで
分割偏向された各光ビームが、複合光検出器４５の各検
出部ａ〜ｇへ入射する位置及び状態は、形態例４の二分
割検出器３３〜３６の各検出部ａ〜ｇの場合と同様であ
る。その他の構成及び動作は、形態例６（光学系）及び
４形態例（光検出系）で説明した光ディスク装置の構成
及び動作と同様なので、説明を省略する。
【０１３２】形態例８．図２３は、本発明に係る光ディ
スク装置の形態例８の光学系及び光検出系の構成を示す
斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検出
系は、この光学系の光軸上に置かれたＬＤ，ＰＤユニッ
ト４１から水平方向へ出射された光ビームが、光軸と光
学面とが垂直になるように光軸上に設置されたホログラ
ム光学素子４６に入射され、その回折されない０次光が
コリメートレンズ１７に入射されて平行光に変換され
る。コリメートレンズ１７からの平行光に変換された光
ビームは、光軸上に設置された立ち上げミラー４ａで上
方へ９０°偏向される。９０°偏向された光ビームは、
光軸と光学面とが垂直になるように光軸上に設置された
対物レンズ２０により、対物レンズ２０の上方で水平回
転するディスク２１のトラック２１ａ上に集光される。
スク装置の形態例８の光学系及び光検出系の構成を示す
斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検出
系は、この光学系の光軸上に置かれたＬＤ，ＰＤユニッ
ト４１から水平方向へ出射された光ビームが、光軸と光
学面とが垂直になるように光軸上に設置されたホログラ
ム光学素子４６に入射され、その回折されない０次光が
コリメートレンズ１７に入射されて平行光に変換され
る。コリメートレンズ１７からの平行光に変換された光
ビームは、光軸上に設置された立ち上げミラー４ａで上
方へ９０°偏向される。９０°偏向された光ビームは、
光軸と光学面とが垂直になるように光軸上に設置された
対物レンズ２０により、対物レンズ２０の上方で水平回
転するディスク２１のトラック２１ａ上に集光される。
【０１３３】ディスク２１によって反射された反射光
は、対物レンズ２０を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、信号
検出系へ入射される。信号検出系へ入射された反射光
は、コリメートレンズ１７を介して、上述の０次光とは
逆方向に、ホログラム光学素子４６へ入射される。ホロ
グラム光学素子４６は、形態例２のホログラム光学素子
３１と同形状である。
は、対物レンズ２０を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、立ち上げミラー４ａで側方へ９０°偏向され、信号
検出系へ入射される。信号検出系へ入射された反射光
は、コリメートレンズ１７を介して、上述の０次光とは
逆方向に、ホログラム光学素子４６へ入射される。ホロ
グラム光学素子４６は、形態例２のホログラム光学素子
３１と同形状である。
【０１３４】ホログラム光学素子４６のホログラムパタ
ーンは、図２４（ｂ）に示すように、光学面が円の内外
の領域に区切られ、円内の領域Ａ，Ｂ，Ｃ１，Ｃ２はホ
ログラム光学素子３１のホログラムパターンと同様であ
り、分割した各光ビームを偏向する方向も同じである。
円外の領域Ｄは、ピッチが細かく、偏光分離作用を有
し、ホログラムパターンは、ＬＤ，ＰＤユニット４１か
らの出射光の偏光方向に対して約４５°の角度をなして
いる。領域Ｄを通過した±１次光は、進行方向に向かっ
て、左上と右下とへ偏向される。
ーンは、図２４（ｂ）に示すように、光学面が円の内外
の領域に区切られ、円内の領域Ａ，Ｂ，Ｃ１，Ｃ２はホ
ログラム光学素子３１のホログラムパターンと同様であ
り、分割した各光ビームを偏向する方向も同じである。
円外の領域Ｄは、ピッチが細かく、偏光分離作用を有
し、ホログラムパターンは、ＬＤ，ＰＤユニット４１か
らの出射光の偏光方向に対して約４５°の角度をなして
いる。領域Ｄを通過した±１次光は、進行方向に向かっ
て、左上と右下とへ偏向される。
【０１３５】ホログラム光学素子４６で分割偏向された
各光ビームは、光軸と光学面とが垂直になるように設け
られた光検出系の複合光検出器４７に入射する。複合光
検出器４７の各検出部ａ〜ｈは、形態例２の二分割検出
器２７〜３０の各検出部ａ〜ｈと同様に配置されてい
る。複合光検出器４７の他の検出部ｉ，ｈは、図２４
（ａ）に示すように、入射光の進行方向に向かって、検
出部ａ〜ｈの左上と右下とに設けられている。
各光ビームは、光軸と光学面とが垂直になるように設け
られた光検出系の複合光検出器４７に入射する。複合光
検出器４７の各検出部ａ〜ｈは、形態例２の二分割検出
器２７〜３０の各検出部ａ〜ｈと同様に配置されてい
る。複合光検出器４７の他の検出部ｉ，ｈは、図２４
（ａ）に示すように、入射光の進行方向に向かって、検
出部ａ〜ｈの左上と右下とに設けられている。
【０１３６】複合光検出器４７は、図２４（ａ）に示す
ように、その筐体の底部に固定されたＬＤ４３とで、Ｌ
Ｄ，ＰＤユニット４１を構成している。偏向されたそれ
ぞれの光ビームが、複合光検出器４２の各検出部ａ〜ｈ
へ入射する位置及び状態は、形態例２の二分割検出器２
７〜３０の各検出部ａ〜ｈの場合と同様である。領域Ｄ
を通過した±１次光は、検出部ｉ，ｈへそれぞれ入射
し、その差により、ＭＯ信号を得る。その他の構成及び
動作は、形態例２で説明した光ディスク装置の構成及び
動作と同様なので、説明を省略する。
ように、その筐体の底部に固定されたＬＤ４３とで、Ｌ
Ｄ，ＰＤユニット４１を構成している。偏向されたそれ
ぞれの光ビームが、複合光検出器４２の各検出部ａ〜ｈ
へ入射する位置及び状態は、形態例２の二分割検出器２
７〜３０の各検出部ａ〜ｈの場合と同様である。領域Ｄ
を通過した±１次光は、検出部ｉ，ｈへそれぞれ入射
し、その差により、ＭＯ信号を得る。その他の構成及び
動作は、形態例２で説明した光ディスク装置の構成及び
動作と同様なので、説明を省略する。
【０１３７】形態例９．図２５は、本発明に係る光ディ
スク装置の形態例９の光学素子及び光検出系の構成を示
す斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検
出系は、形態例８の光学系及び光検出系において、ホロ
グラム光学素子４６が、ホログラム光学素子４６ａに置
き換えられた構成である。ホログラム光学素子４６ａの
形状及びホログラムパターンは、形態例４のホログラム
光学素子３７と同形状である。
スク装置の形態例９の光学素子及び光検出系の構成を示
す斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光検
出系は、形態例８の光学系及び光検出系において、ホロ
グラム光学素子４６が、ホログラム光学素子４６ａに置
き換えられた構成である。ホログラム光学素子４６ａの
形状及びホログラムパターンは、形態例４のホログラム
光学素子３７と同形状である。
【０１３８】ホログラム光学素子４６ａのホログラムパ
ターンは、図２５（ｂ）に示すように、光学面が円の内
外の領域に区切られ、円内の領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄはホロ
グラム光学素子３７のホログラムパターンと同様であ
り、分割した各光ビームを偏向する方向も同じである。
円外の領域Ｅは、ピッチが細かく、偏光分離機能を有
し、ホログラムパターンは、ＬＤ，ＰＤユニット４１か
らの出射光の偏光方向に対して約４５°の角度をなして
いる。領域Ｅを通過した±１次光は、進行方向に向かっ
て、左上と右下とへ偏向される。
ターンは、図２５（ｂ）に示すように、光学面が円の内
外の領域に区切られ、円内の領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄはホロ
グラム光学素子３７のホログラムパターンと同様であ
り、分割した各光ビームを偏向する方向も同じである。
円外の領域Ｅは、ピッチが細かく、偏光分離機能を有
し、ホログラムパターンは、ＬＤ，ＰＤユニット４１か
らの出射光の偏光方向に対して約４５°の角度をなして
いる。領域Ｅを通過した±１次光は、進行方向に向かっ
て、左上と右下とへ偏向される。
【０１３９】ホログラム光学素子４６ａで分割偏向され
た各光ビームは、光軸と光学面とが垂直になるように設
けられた光検出系の複合光検出器４８に入射する。複合
光検出器４８の各検出部ａ〜ｈは、形態例４の二分割検
出器３３〜３６の各検出部ａ〜ｈと同様に配置されてい
る。複合光検出器４８の他の検出部ｉ，ｈは、図２５
（ａ）に示すように、入射光の進行方向に向かって、検
出部ａ〜ｈの左上と右下とに設けられている。
た各光ビームは、光軸と光学面とが垂直になるように設
けられた光検出系の複合光検出器４８に入射する。複合
光検出器４８の各検出部ａ〜ｈは、形態例４の二分割検
出器３３〜３６の各検出部ａ〜ｈと同様に配置されてい
る。複合光検出器４８の他の検出部ｉ，ｈは、図２５
（ａ）に示すように、入射光の進行方向に向かって、検
出部ａ〜ｈの左上と右下とに設けられている。
【０１４０】複合光検出器４８は、図２５（ａ）に示す
ように、その筐体の底部に固定されたＬＤ４３とで、Ｌ
Ｄ，ＰＤユニット４１を構成している。偏向されたそれ
ぞれの光ビームが、複合光検出器４８の各検出部ａ〜ｈ
へ入射する位置及び状態は、形態例４の二分割検出器３
３〜３６の各検出部ａ〜ｈの場合と同様である。領域Ｅ
を通過した±１次光は、検出部ｉ，ｈへそれぞれ入射
し、その差により、ＭＯ信号を得る。その他の構成及び
動作は、形態例４で説明した光ディスク装置の構成及び
動作と同様なので、説明を省略する。
ように、その筐体の底部に固定されたＬＤ４３とで、Ｌ
Ｄ，ＰＤユニット４１を構成している。偏向されたそれ
ぞれの光ビームが、複合光検出器４８の各検出部ａ〜ｈ
へ入射する位置及び状態は、形態例４の二分割検出器３
３〜３６の各検出部ａ〜ｈの場合と同様である。領域Ｅ
を通過した±１次光は、検出部ｉ，ｈへそれぞれ入射
し、その差により、ＭＯ信号を得る。その他の構成及び
動作は、形態例４で説明した光ディスク装置の構成及び
動作と同様なので、説明を省略する。
【０１４１】形態例１０．図２６は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例１０の光学系及び光検出系の構成を
示す斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光
検出系は、形態例２と略同様である。本形態例では、ホ
ログラム光学素子３１へ入射されたディスク２１からの
反射光の内、ホログラム光学素子３１で回折されない
（直進する）０次光の光ビームが、サーボレンズ２５の
収束作用のみで集光され、二分割光検出器２７〜３０の
中心に設けられた光検出器３０ａに入射する。
ィスク装置の形態例１０の光学系及び光検出系の構成を
示す斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光
検出系は、形態例２と略同様である。本形態例では、ホ
ログラム光学素子３１へ入射されたディスク２１からの
反射光の内、ホログラム光学素子３１で回折されない
（直進する）０次光の光ビームが、サーボレンズ２５の
収束作用のみで集光され、二分割光検出器２７〜３０の
中心に設けられた光検出器３０ａに入射する。
【０１４２】図２７は、本発明に係る光ディスク装置の
形態例１０の演算部の構成を示すブロック図である。こ
の演算部は、検出部ｆの出力と検出部ｈの出力とを加算
器２４０で加算し、検出部ｅの出力と検出部ｇの出力と
を加算器２４１で加算する。加算器２４０の出力と加算
器２４１の出力との差を減算器２４６で演算して、その
出力は、フォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｆ＋ｈ）−
（ｅ＋ｇ）として出力する。
形態例１０の演算部の構成を示すブロック図である。こ
の演算部は、検出部ｆの出力と検出部ｈの出力とを加算
器２４０で加算し、検出部ｅの出力と検出部ｇの出力と
を加算器２４１で加算する。加算器２４０の出力と加算
器２４１の出力との差を減算器２４６で演算して、その
出力は、フォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｆ＋ｈ）−
（ｅ＋ｇ）として出力する。
【０１４３】検出部ａの出力と検出部ｂの出力とを加算
器２４４で加算し、検出部ｃの出力と検出部ｄの出力と
を加算器２４５で加算する。加算器２４４の出力と加算
器２４５の出力との差を減算器２４８で演算して、その
出力は、プッシュプル法によるトラック信号ＴＥＳ＝
（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）としてスイッチ回路２１９の入
力端子に出力する。
器２４４で加算し、検出部ｃの出力と検出部ｄの出力と
を加算器２４５で加算する。加算器２４４の出力と加算
器２４５の出力との差を減算器２４８で演算して、その
出力は、プッシュプル法によるトラック信号ＴＥＳ＝
（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）としてスイッチ回路２１９の入
力端子に出力する。
【０１４４】光検出器３０ａの検出部ｉの出力をＲＦ信
号として出力すると共に、パルス発生器２１４とパルス
発生器２１５とへ与える。ＲＦ信号は、ディスク２１が
ＲＯＭディスク又は相変化型ディスクの場合の再生信号
とする。加算器２４２の出力と１算器２４３の出力との
差を減算器２４７で演算して、その出力は、ＨＴＤ信号
としてゲートＧ１とゲートＧ２とへ与える。
号として出力すると共に、パルス発生器２１４とパルス
発生器２１５とへ与える。ＲＦ信号は、ディスク２１が
ＲＯＭディスク又は相変化型ディスクの場合の再生信号
とする。加算器２４２の出力と１算器２４３の出力との
差を減算器２４７で演算して、その出力は、ＨＴＤ信号
としてゲートＧ１とゲートＧ２とへ与える。
【０１４５】パルス発生器２１４は、ＲＦ信号の負レベ
ルから正レベルへの転換時に、サンプリングパルスＳ３
（図１２）を発生し、ゲートＧ１へ与える。そのとき、
ゲートＧ１は開になり、ＲＦ信号のそのときの値が保持
回路２１６にサンプリング保持される。一方、パルス発
生器２１５は、ＲＦ信号の正レベルから負レベルへの転
換時に、サンプリングパルスＳ４（図１２）を発生し、
ゲートＧ２へ与える。そのとき、ゲートＧ２は開にな
り、ＲＦ信号のそのときの値が保持回路２１７にサンプ
リング保持される。
ルから正レベルへの転換時に、サンプリングパルスＳ３
（図１２）を発生し、ゲートＧ１へ与える。そのとき、
ゲートＧ１は開になり、ＲＦ信号のそのときの値が保持
回路２１６にサンプリング保持される。一方、パルス発
生器２１５は、ＲＦ信号の正レベルから負レベルへの転
換時に、サンプリングパルスＳ４（図１２）を発生し、
ゲートＧ２へ与える。そのとき、ゲートＧ２は開にな
り、ＲＦ信号のそのときの値が保持回路２１７にサンプ
リング保持される。
【０１４６】保持回路２１６の保持信号Ｓ５と保持回路
２１７の保持信号Ｓ６（図１２）とは、減算器２１８で
その差が演算され、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位相差が
検出される。保持信号Ｓ５と保持信号Ｓ６との差Ｓ７
（図１２）は、トラックエラー信号としてスイッチ回路
２１９の入力端子に出力される。スイッチ回路２１９
は、判別手段２１９ａが、ディスク２１のトラック２１
ａは連続グルーブを有すると判別したときは、プッシュ
プル法によるトラックエラー信号を出力する。判別手段
２１９ａが、ディスク２１のトラック２１ａはピット列
のみを有すると判別したときは、ヘテロダイン法による
トラックエラー信号を出力する。
２１７の保持信号Ｓ６（図１２）とは、減算器２１８で
その差が演算され、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位相差が
検出される。保持信号Ｓ５と保持信号Ｓ６との差Ｓ７
（図１２）は、トラックエラー信号としてスイッチ回路
２１９の入力端子に出力される。スイッチ回路２１９
は、判別手段２１９ａが、ディスク２１のトラック２１
ａは連続グルーブを有すると判別したときは、プッシュ
プル法によるトラックエラー信号を出力する。判別手段
２１９ａが、ディスク２１のトラック２１ａはピット列
のみを有すると判別したときは、ヘテロダイン法による
トラックエラー信号を出力する。
【０１４７】本形態例の演算部では、ＲＦ信号作成用に
光検出器３０ａを設けているので、サーボ信号（ＦＥ
Ｓ，ＴＥＳ）から再生信号（ＲＦ信号）を除去するため
のローパスフィルタが不要になり、回路構成が簡潔にな
る。また、加算器、減算器も高周波域までの性能を必要
としないので、安価なものを使用できる。その他の構成
及び動作は、形態例１で説明した光ディスク装置の構成
及び動作と同様なので、説明を省略する。
光検出器３０ａを設けているので、サーボ信号（ＦＥ
Ｓ，ＴＥＳ）から再生信号（ＲＦ信号）を除去するため
のローパスフィルタが不要になり、回路構成が簡潔にな
る。また、加算器、減算器も高周波域までの性能を必要
としないので、安価なものを使用できる。その他の構成
及び動作は、形態例１で説明した光ディスク装置の構成
及び動作と同様なので、説明を省略する。
【０１４８】形態例１１．図２８は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例１１の光学系及び光検出系の構成を
示す斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光
検出系は、形態例４と略同様である。本形態例では、ホ
ログラム光学素子３７へ入射されたディスク２１からの
反射光の内、ホログラム光学素子３７で回折されない
（直進する）０次光の光ビームが、サーボレンズ２５の
収束作用のみで集光され、二分割光検出器３３〜３６の
中心に設けられた光検出器３８の検出部ｉに入射する。
検出部ｉで検出された信号は、ＲＦ信号として利用され
る。ＲＦ信号は、ディスク２１がＲＯＭディスク又は相
変化型ディスクの場合の再生信号とする。
ィスク装置の形態例１１の光学系及び光検出系の構成を
示す斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び光
検出系は、形態例４と略同様である。本形態例では、ホ
ログラム光学素子３７へ入射されたディスク２１からの
反射光の内、ホログラム光学素子３７で回折されない
（直進する）０次光の光ビームが、サーボレンズ２５の
収束作用のみで集光され、二分割光検出器３３〜３６の
中心に設けられた光検出器３８の検出部ｉに入射する。
検出部ｉで検出された信号は、ＲＦ信号として利用され
る。ＲＦ信号は、ディスク２１がＲＯＭディスク又は相
変化型ディスクの場合の再生信号とする。
【０１４９】ディスク２１のトラック２１ａが、ピット
列のみを有するときは、ヘテロダイン信号ＨＴＤ＝（ａ
＋ｂ＋ｅ＋ｆ）−（ｃ＋ｄ＋ｇ＋ｈ）とＲＦ＝ｉ（検出
部ｉの出力）との位相の差を得て、ヘテロダイン法によ
るトラックエラー信号を出力する。本形態例の演算部で
は、ＲＦ信号作成用に光検出器３８を設けているので、
サーボ信号（ＦＥＳ，ＴＥＳ）から再生信号（ＲＦ信
号）を除去するためのローパスフィルタが不要になり、
回路構成が簡潔になる。また、加算器、減算器も高周波
域までの性能を必要としないので、安価なものを使用で
きる。その他の構成及び動作は、形態例４で説明した光
ディスク装置の構成及び動作と同様なので、説明を省略
する。
列のみを有するときは、ヘテロダイン信号ＨＴＤ＝（ａ
＋ｂ＋ｅ＋ｆ）−（ｃ＋ｄ＋ｇ＋ｈ）とＲＦ＝ｉ（検出
部ｉの出力）との位相の差を得て、ヘテロダイン法によ
るトラックエラー信号を出力する。本形態例の演算部で
は、ＲＦ信号作成用に光検出器３８を設けているので、
サーボ信号（ＦＥＳ，ＴＥＳ）から再生信号（ＲＦ信
号）を除去するためのローパスフィルタが不要になり、
回路構成が簡潔になる。また、加算器、減算器も高周波
域までの性能を必要としないので、安価なものを使用で
きる。その他の構成及び動作は、形態例４で説明した光
ディスク装置の構成及び動作と同様なので、説明を省略
する。
【０１５０】形態例１２．図２９（ａ）は、本発明に係
る光ディスク装置の形態例１２の光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。この光ディスク装置の光学
系及び光検出系は、形態例５と略同様である。本形態例
では、ホログラム光学素子３７ａへ入射されたディスク
２１からの反射光の内、ホログラム光学素子３７ａで回
折されない（直進する）０次光の光ビームが、サーボレ
ンズ２５の収束作用のみで集光され、二分割光検出器３
３〜３６の中心に設けられた光検出器３９ａの検出部ｋ
に入射する。検出部ｋで検出された信号は、ＲＦ信号と
して利用される。ＲＦ信号は、ディスク２１がＲＯＭデ
ィスク又は相変化型ディスクの場合の再生信号とする。
る光ディスク装置の形態例１２の光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。この光ディスク装置の光学
系及び光検出系は、形態例５と略同様である。本形態例
では、ホログラム光学素子３７ａへ入射されたディスク
２１からの反射光の内、ホログラム光学素子３７ａで回
折されない（直進する）０次光の光ビームが、サーボレ
ンズ２５の収束作用のみで集光され、二分割光検出器３
３〜３６の中心に設けられた光検出器３９ａの検出部ｋ
に入射する。検出部ｋで検出された信号は、ＲＦ信号と
して利用される。ＲＦ信号は、ディスク２１がＲＯＭデ
ィスク又は相変化型ディスクの場合の再生信号とする。
【０１５１】ディスク２１のトラック２１ａが、ピット
列のみを有するときは、ヘテロダイン信号ＨＴＤ＝（ａ
＋ｂ＋ｅ＋ｆ）−（ｃ＋ｄ＋ｇ＋ｈ）とＲＦ＝ｋ（検出
部ｋの出力）との位相の差を得て、ヘテロダイン法によ
るトラックエラー信号を出力する。本形態例の演算部で
は、ＲＦ信号作成用に光検出器３９ａを設けているの
で、サーボ信号（ＦＥＳ，ＴＥＳ）から再生信号（ＲＦ
信号）を除去するためのローパスフィルタが不要にな
り、回路構成が簡潔になる。また、加算器、減算器も高
周波域までの性能を必要としないので、安価なものを使
用できる。その他の構成及び動作は、形態例５で説明し
た光ディスク装置の構成及び動作と同様なので、図示及
び説明を省略する。
列のみを有するときは、ヘテロダイン信号ＨＴＤ＝（ａ
＋ｂ＋ｅ＋ｆ）−（ｃ＋ｄ＋ｇ＋ｈ）とＲＦ＝ｋ（検出
部ｋの出力）との位相の差を得て、ヘテロダイン法によ
るトラックエラー信号を出力する。本形態例の演算部で
は、ＲＦ信号作成用に光検出器３９ａを設けているの
で、サーボ信号（ＦＥＳ，ＴＥＳ）から再生信号（ＲＦ
信号）を除去するためのローパスフィルタが不要にな
り、回路構成が簡潔になる。また、加算器、減算器も高
周波域までの性能を必要としないので、安価なものを使
用できる。その他の構成及び動作は、形態例５で説明し
た光ディスク装置の構成及び動作と同様なので、図示及
び説明を省略する。
【０１５２】形態例１３．図３０は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例１３の光学素子及び光検出系の構成
を示す斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び
光検出系は、形態例１０と略同様である。本形態例で
は、ホログラム光学素子３１ａへ入射されたディスク２
１からの反射光の内、ホログラム光学素子３１ａで回折
されない（直進する）０次光の光ビームは、サーボレン
ズ２５の収束作用のみで集光され、二分割光検出器２７
〜３０の中心に設けられた光検出器３０ａに入射する。
ィスク装置の形態例１３の光学素子及び光検出系の構成
を示す斜視図である。この光ディスク装置の光学系及び
光検出系は、形態例１０と略同様である。本形態例で
は、ホログラム光学素子３１ａへ入射されたディスク２
１からの反射光の内、ホログラム光学素子３１ａで回折
されない（直進する）０次光の光ビームは、サーボレン
ズ２５の収束作用のみで集光され、二分割光検出器２７
〜３０の中心に設けられた光検出器３０ａに入射する。
【０１５３】ホログラム光学素子３１ａの上部領域Ａを
通過した光は０次光と±１次とに分かれ、０次光の光ビ
ームは光検出器３０ａに入射し、例えば＋１次光は光ビ
ームの進行方向へ向かって右上方へ、−１次光は光ビー
ムの進行方向へ向かって左上方へ偏向される。ホログラ
ム光学素子３１ａの下部領域Ｂを通過した光は０次光と
±１次とに分かれ、０次光の光ビームは光検出器３０ａ
に入射し、例えば＋１次光は光ビームの進行方向へ向か
って右下方へ、−１次光は光ビームの進行方向へ向かっ
て左下方へ偏向される。
通過した光は０次光と±１次とに分かれ、０次光の光ビ
ームは光検出器３０ａに入射し、例えば＋１次光は光ビ
ームの進行方向へ向かって右上方へ、−１次光は光ビー
ムの進行方向へ向かって左上方へ偏向される。ホログラ
ム光学素子３１ａの下部領域Ｂを通過した光は０次光と
±１次とに分かれ、０次光の光ビームは光検出器３０ａ
に入射し、例えば＋１次光は光ビームの進行方向へ向か
って右下方へ、−１次光は光ビームの進行方向へ向かっ
て左下方へ偏向される。
【０１５４】領域Ａを通過した＋１次光は、二分割光検
出器２９の上方に設けられた光検出器２７の分割線に、
集光後のファーフィールド状態で入射し、−１次光は、
二分割光検出器３０の上方向に設けられた光検出器３９
の検出部ｊに、ファーフィールド状態で入射する。領域
Ｂを通過した＋１次光は、二分割光検出器２９の下方に
設けられた光検出器２８の分割線に、集光後のファーフ
ィールド状態で入射し、−１次光は、二分割光検出器３
０の下方向に設けられた光検出器３９ａの検出部ｋに、
ファーフィールド状態で入射する。
出器２９の上方に設けられた光検出器２７の分割線に、
集光後のファーフィールド状態で入射し、−１次光は、
二分割光検出器３０の上方向に設けられた光検出器３９
の検出部ｊに、ファーフィールド状態で入射する。領域
Ｂを通過した＋１次光は、二分割光検出器２９の下方に
設けられた光検出器２８の分割線に、集光後のファーフ
ィールド状態で入射し、−１次光は、二分割光検出器３
０の下方向に設けられた光検出器３９ａの検出部ｋに、
ファーフィールド状態で入射する。
【０１５５】図３１は、本発明に係る光ディスク装置の
形態例１３の演算部の構成を示すブロック図である。こ
の演算部は、検出部ｆの出力と検出部ｈの出力とを加算
器２５０で加算し、検出部ｅの出力と検出部ｇの出力と
を加算器２５１で加算する。加算器２５０の出力と加算
器２５１の出力との差を減算器２５４で演算して、その
出力は、フォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｆ＋ｈ）−
（ｅ＋ｇ）として出力する。光検出器３９の検出部ｊの
出力と光検出器３９ａの検出部ｋの出力との差を減算器
２５６で演算して、その出力は、プッシュプル法による
トラック信号ＴＥＳ＝ｊ−ｋとしてスイッチ回路２１９
の入力端子に出力する。
形態例１３の演算部の構成を示すブロック図である。こ
の演算部は、検出部ｆの出力と検出部ｈの出力とを加算
器２５０で加算し、検出部ｅの出力と検出部ｇの出力と
を加算器２５１で加算する。加算器２５０の出力と加算
器２５１の出力との差を減算器２５４で演算して、その
出力は、フォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｆ＋ｈ）−
（ｅ＋ｇ）として出力する。光検出器３９の検出部ｊの
出力と光検出器３９ａの検出部ｋの出力との差を減算器
２５６で演算して、その出力は、プッシュプル法による
トラック信号ＴＥＳ＝ｊ−ｋとしてスイッチ回路２１９
の入力端子に出力する。
【０１５６】光検出器３０ａの検出部ｉの出力をＲＦ信
号として出力すると共に、パルス発生器２１４とパルス
発生器２１５とへ与える。ＲＦ信号は、ディスク２１が
ＲＯＭディスク又は相変化型ディスクの場合の再生信号
とする。検出部ａの出力と検出部ｃの出力とを加算器２
５３で加算し、検出部ｂの出力と検出部ｄの出力とを加
算器２５２で加算する。加算器２５２の出力と加算器２
５３の出力との差を減算器２５５で演算して、その出力
は、ＨＴＤ信号としてゲートＧ１とゲートＧ２とへ与え
る。
号として出力すると共に、パルス発生器２１４とパルス
発生器２１５とへ与える。ＲＦ信号は、ディスク２１が
ＲＯＭディスク又は相変化型ディスクの場合の再生信号
とする。検出部ａの出力と検出部ｃの出力とを加算器２
５３で加算し、検出部ｂの出力と検出部ｄの出力とを加
算器２５２で加算する。加算器２５２の出力と加算器２
５３の出力との差を減算器２５５で演算して、その出力
は、ＨＴＤ信号としてゲートＧ１とゲートＧ２とへ与え
る。
【０１５７】パルス発生器２１４は、ＲＦ信号の負レベ
ルから正レベルへの転換時に、サンプリングパルスＳ３
（図１２）を発生し、ゲートＧ１へ与える。そのとき、
ゲートＧ１は開になり、ＲＦ信号のそのときの値が保持
回路２１６にサンプリング保持される。一方、パルス発
生器２１５は、ＲＦ信号の正レベルから負レベルへの転
換時に、サンプリングパルスＳ４（図１２）を発生し、
ゲートＧ２へ与える。そのとき、ゲートＧ２は開にな
り、ＲＦ信号のそのときの値が保持回路２１７にサンプ
リング保持される。
ルから正レベルへの転換時に、サンプリングパルスＳ３
（図１２）を発生し、ゲートＧ１へ与える。そのとき、
ゲートＧ１は開になり、ＲＦ信号のそのときの値が保持
回路２１６にサンプリング保持される。一方、パルス発
生器２１５は、ＲＦ信号の正レベルから負レベルへの転
換時に、サンプリングパルスＳ４（図１２）を発生し、
ゲートＧ２へ与える。そのとき、ゲートＧ２は開にな
り、ＲＦ信号のそのときの値が保持回路２１７にサンプ
リング保持される。
【０１５８】保持回路２１６の保持信号Ｓ５と保持回路
２１７の保持信号Ｓ６（図１２）とは、減算器２１８で
その差が演算され、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位相差が
検出される。保持信号Ｓ５と保持信号Ｓ６との差Ｓ７
（図１２）は、トラックエラー信号としてスイッチ回路
２１９の入力端子に出力される。スイッチ回路２１９
は、判別手段２１９ａが、ディスク２１のトラック２１
ａは連続グルーブを有すると判別したときは、プッシュ
プル法によるトラックエラー信号を出力する。判別手段
２１９ａが、ディスク２１のトラック２１ａはピット列
のみを有すると判別したときは、ヘテロダイン法による
トラックエラー信号を出力する。
２１７の保持信号Ｓ６（図１２）とは、減算器２１８で
その差が演算され、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位相差が
検出される。保持信号Ｓ５と保持信号Ｓ６との差Ｓ７
（図１２）は、トラックエラー信号としてスイッチ回路
２１９の入力端子に出力される。スイッチ回路２１９
は、判別手段２１９ａが、ディスク２１のトラック２１
ａは連続グルーブを有すると判別したときは、プッシュ
プル法によるトラックエラー信号を出力する。判別手段
２１９ａが、ディスク２１のトラック２１ａはピット列
のみを有すると判別したときは、ヘテロダイン法による
トラックエラー信号を出力する。
【０１５９】本形態例の演算部では、プッシュプル信号
を得るための光検出器３９，３９ａと、ＨＴＤ信号を得
るための光検出器２７，２８と異なるので、ローパスフ
ィルタが不要になり、回路構成が簡潔になる。また、加
算器、減算器も高周波域までの性能を必要としないの
で、安価なものを使用できる。その他の構成及び動作
は、形態例１０で説明した光ディスク装置の構成及び動
作と同様なので、図示及び説明を省略する。
を得るための光検出器３９，３９ａと、ＨＴＤ信号を得
るための光検出器２７，２８と異なるので、ローパスフ
ィルタが不要になり、回路構成が簡潔になる。また、加
算器、減算器も高周波域までの性能を必要としないの
で、安価なものを使用できる。その他の構成及び動作
は、形態例１０で説明した光ディスク装置の構成及び動
作と同様なので、図示及び説明を省略する。
【０１６０】形態例１４．図３２は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例１４の光学系及び光検出系の構成を
示す斜視図である。本形態例は、本発明に係る光ディス
ク装置を光磁気ディスク装置又はミニディスク装置に適
用した例である。この光ディスク装置の光学系及び光検
出系は、この光学系の光軸８９上に置かれたＬＤ（半導
体レーザ）７１から鉛直上方向へ出射された光ビーム
が、光軸８９と光学面とが垂直になるように光軸８９上
に設置されたホログラム光学素子７２に入射される。ホ
ログラム光学素子７２は直方形の平板形状であり、その
光学面は、後述するトラック７７と垂直方向の分割線７
２０により領域７２ａ，７２ｂに分割されている。
ィスク装置の形態例１４の光学系及び光検出系の構成を
示す斜視図である。本形態例は、本発明に係る光ディス
ク装置を光磁気ディスク装置又はミニディスク装置に適
用した例である。この光ディスク装置の光学系及び光検
出系は、この光学系の光軸８９上に置かれたＬＤ（半導
体レーザ）７１から鉛直上方向へ出射された光ビーム
が、光軸８９と光学面とが垂直になるように光軸８９上
に設置されたホログラム光学素子７２に入射される。ホ
ログラム光学素子７２は直方形の平板形状であり、その
光学面は、後述するトラック７７と垂直方向の分割線７
２０により領域７２ａ，７２ｂに分割されている。
【０１６１】ホログラム光学素子７２に入射された光ビ
ームは、領域７２ａ，７２ｂにより、０次光、±１次光
及びそれ以上の高次光に回折分離される。この内、０次
光は、光軸８９に沿って進行し、光軸８９と光学面とが
垂直になるように光軸８９上に設置されたコリメータレ
ンズ（コリメートレンズ）７３に入射されて平行光に変
換される。コリメータレンズ７３で平行光に変換された
光ビームは、光軸８９上に設けられたビームスプリッタ
７４をそのまま透過して、光軸８９と光学面とが垂直に
なるように光軸８９上に設置された対物レンズ７５に入
射される。この光学系は、０次光以外の光ビームは全て
蹴られるように設計されている。そのため、対物レンズ
７５は、０次光のみ、対物レンズ７５の上方で水平回転
するディスク７６のトラック７７上に、微小スポットと
して集光する。この微小スポットは、情報信号の消去、
書き込み、読み出しに使用される。
ームは、領域７２ａ，７２ｂにより、０次光、±１次光
及びそれ以上の高次光に回折分離される。この内、０次
光は、光軸８９に沿って進行し、光軸８９と光学面とが
垂直になるように光軸８９上に設置されたコリメータレ
ンズ（コリメートレンズ）７３に入射されて平行光に変
換される。コリメータレンズ７３で平行光に変換された
光ビームは、光軸８９上に設けられたビームスプリッタ
７４をそのまま透過して、光軸８９と光学面とが垂直に
なるように光軸８９上に設置された対物レンズ７５に入
射される。この光学系は、０次光以外の光ビームは全て
蹴られるように設計されている。そのため、対物レンズ
７５は、０次光のみ、対物レンズ７５の上方で水平回転
するディスク７６のトラック７７上に、微小スポットと
して集光する。この微小スポットは、情報信号の消去、
書き込み、読み出しに使用される。
【０１６２】ディスク７６によって反射された反射光
は、対物レンズ７５を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、ビームスプリッタ７４へ戻って来る。ビームスプリ
ッタ７４内では、反射光は、その一部が反射されて側方
へ９０°偏向され、ＭＯ信号検出系へ入射される。ＭＯ
信号検出系へ入射された上述の反射光の一部は、ＭＯ信
号検出系の光軸上に設けられたウォラストンプリズム７
８で、２つの直線偏光に偏光分離される。２つの直線偏
光は、集光レンズ７９でそれぞれ集光されて、２分割の
光検出器７１ｃの検出部７１ａ，７１ｂへそれぞれ入射
される。
は、対物レンズ７５を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、ビームスプリッタ７４へ戻って来る。ビームスプリ
ッタ７４内では、反射光は、その一部が反射されて側方
へ９０°偏向され、ＭＯ信号検出系へ入射される。ＭＯ
信号検出系へ入射された上述の反射光の一部は、ＭＯ信
号検出系の光軸上に設けられたウォラストンプリズム７
８で、２つの直線偏光に偏光分離される。２つの直線偏
光は、集光レンズ７９でそれぞれ集光されて、２分割の
光検出器７１ｃの検出部７１ａ，７１ｂへそれぞれ入射
される。
【０１６３】ディスク７６によって反射された反射光
の、ビームスプリッタ７４をそのまま透過した部分は、
コリメータレンズ７３により収束されて、上述の０次光
とは逆方向に、ホログラム光学素子７２に入射される。
図３３は、本形態例のホログラム光学素子７２及び光検
出系の構成を示す斜視図である。ホログラム光学素子７
２はホログラムパターン７２ｐを有している。ホログラ
ム光学素子７２に入射された反射光は、分割された光ビ
ーム毎に、コリメータレンズ７３及び領域７２ａ，７２
ｂがそれぞれ有している屈折作用により、ニアフィール
ド状態又はファーフィールド状態となって、後述するそ
れぞれの二分割光検出器に入射される。
の、ビームスプリッタ７４をそのまま透過した部分は、
コリメータレンズ７３により収束されて、上述の０次光
とは逆方向に、ホログラム光学素子７２に入射される。
図３３は、本形態例のホログラム光学素子７２及び光検
出系の構成を示す斜視図である。ホログラム光学素子７
２はホログラムパターン７２ｐを有している。ホログラ
ム光学素子７２に入射された反射光は、分割された光ビ
ーム毎に、コリメータレンズ７３及び領域７２ａ，７２
ｂがそれぞれ有している屈折作用により、ニアフィール
ド状態又はファーフィールド状態となって、後述するそ
れぞれの二分割光検出器に入射される。
【０１６４】ホログラム光学素子７２に入射された反射
光の、領域７２ａを通過した−１次光の光ビーム８３ａ
１は、分割線がホログラム光学素子７２の分割線７２０
に平行で、領域７２ａ側に位置する検出部ｍ、領域７２
ｂ側に位置する検出部ｎを備えた二分割光検出器８４ａ
の分割線上に、ニアフィールド状態のビームスポット８
６ａを形成する。領域７２ａを通過した＋１次光の光ビ
ーム８３ａ２は、分割線がトラック７７に平行で、トラ
ック７７の内側に対応する検出部ｑ、トラック７７の外
側に対応する検出部ｒを備えた二分割光検出器８５ａの
分割線上に、ファーフィールド状態のビームスポット８
７ａを形成する。
光の、領域７２ａを通過した−１次光の光ビーム８３ａ
１は、分割線がホログラム光学素子７２の分割線７２０
に平行で、領域７２ａ側に位置する検出部ｍ、領域７２
ｂ側に位置する検出部ｎを備えた二分割光検出器８４ａ
の分割線上に、ニアフィールド状態のビームスポット８
６ａを形成する。領域７２ａを通過した＋１次光の光ビ
ーム８３ａ２は、分割線がトラック７７に平行で、トラ
ック７７の内側に対応する検出部ｑ、トラック７７の外
側に対応する検出部ｒを備えた二分割光検出器８５ａの
分割線上に、ファーフィールド状態のビームスポット８
７ａを形成する。
【０１６５】ホログラム光学素子７２に入射された反射
光の、領域７２ｂを通過した−１次光の光ビーム８３ｂ
１は、分割線がホログラム光学素子７２の分割線７２０
に平行で、領域７２ａ側に位置する検出部ｐ、領域７２
ｂ側に位置する検出部ｏを備えた二分割光検出器８４ｂ
の分割線上に、ニアフィールド状態のビームスポット８
６ｂを形成する。領域７２ｂを通過した＋１次光の光ビ
ーム８３ｂ２は、分割線がトラック７７にに平行で、ト
ラック７７の内側に対応する検出部ｔ、トラック７７の
外側に対応する検出部ｓを備えた二分割光検出器８５ｂ
の分割線上に、集光後のファーフィールド状態のビーム
スポット８７ｂを形成する。
光の、領域７２ｂを通過した−１次光の光ビーム８３ｂ
１は、分割線がホログラム光学素子７２の分割線７２０
に平行で、領域７２ａ側に位置する検出部ｐ、領域７２
ｂ側に位置する検出部ｏを備えた二分割光検出器８４ｂ
の分割線上に、ニアフィールド状態のビームスポット８
６ｂを形成する。領域７２ｂを通過した＋１次光の光ビ
ーム８３ｂ２は、分割線がトラック７７にに平行で、ト
ラック７７の内側に対応する検出部ｔ、トラック７７の
外側に対応する検出部ｓを備えた二分割光検出器８５ｂ
の分割線上に、集光後のファーフィールド状態のビーム
スポット８７ｂを形成する。
【０１６６】ここに、二分割光検出器８４ａは、領域７
２ａ側でトラック７７の内側に配置されている。二分割
光検出器８４ｂは、領域７２ａ側でトラック７７の外側
に配置されている。二分割光検出器８５ａは、領域７２
ｂ側でトラック７７の外側に配置されている。二分割光
検出器８５ｂは、領域７２ｂ側でトラック７７の内側に
配置されている。
２ａ側でトラック７７の内側に配置されている。二分割
光検出器８４ｂは、領域７２ａ側でトラック７７の外側
に配置されている。二分割光検出器８５ａは、領域７２
ｂ側でトラック７７の外側に配置されている。二分割光
検出器８５ｂは、領域７２ｂ側でトラック７７の内側に
配置されている。
【０１６７】入射された反射光の、領域７２ａを通過し
た−１次光の光ビーム８３ａ１は、分割線がホログラム
光学素子７２の分割線７２０に平行で、領域７２ａ側に
位置する検出部ｍ、領域７２ｂ側に位置する検出部ｎを
備えた二分割光検出器８４ａの分割線上に、ニアフィー
ルド状態のビームスポット８６ａを形成する。領域７２
ａを通過した＋１次光の光ビーム８３ａ２は、分割線が
トラック７７にに平行で、トラック７７の内側に対応す
る検出部ｑ、トラック７７の外側に対応する検出部ｒを
備えた二分割光検出器８５ａの分割線上に、ファーフィ
ールド状態のビームスポット８７ａを形成する。
た−１次光の光ビーム８３ａ１は、分割線がホログラム
光学素子７２の分割線７２０に平行で、領域７２ａ側に
位置する検出部ｍ、領域７２ｂ側に位置する検出部ｎを
備えた二分割光検出器８４ａの分割線上に、ニアフィー
ルド状態のビームスポット８６ａを形成する。領域７２
ａを通過した＋１次光の光ビーム８３ａ２は、分割線が
トラック７７にに平行で、トラック７７の内側に対応す
る検出部ｑ、トラック７７の外側に対応する検出部ｒを
備えた二分割光検出器８５ａの分割線上に、ファーフィ
ールド状態のビームスポット８７ａを形成する。
【０１６８】ホログラム光学素子７２に入射された反射
光の、領域７２ｂを通過した−１次光の光ビーム８３ｂ
１は、分割線がホログラム光学素子７２の分割線７２０
に平行で、領域７２ａ側に位置する検出部ｐ、領域７２
ｂ側に位置する検出部ｏを備えた二分割光検出器８４ｂ
の分割線上に、ニアフィールド状態のビームスポット８
６ｂを形成する。領域７２ｂを通過した＋１次光の光ビ
ーム８３ｂ２は、分割線がトラック７７に平行で、トラ
ック７７の内側に対応する検出部ｔ、トラック７７の外
側に対応する検出部ｓを備えた二分割光検出器８５ｂの
分割線上に、集光後のファーフィールド状態のビームス
ポット８７ｂを形成する。
光の、領域７２ｂを通過した−１次光の光ビーム８３ｂ
１は、分割線がホログラム光学素子７２の分割線７２０
に平行で、領域７２ａ側に位置する検出部ｐ、領域７２
ｂ側に位置する検出部ｏを備えた二分割光検出器８４ｂ
の分割線上に、ニアフィールド状態のビームスポット８
６ｂを形成する。領域７２ｂを通過した＋１次光の光ビ
ーム８３ｂ２は、分割線がトラック７７に平行で、トラ
ック７７の内側に対応する検出部ｔ、トラック７７の外
側に対応する検出部ｓを備えた二分割光検出器８５ｂの
分割線上に、集光後のファーフィールド状態のビームス
ポット８７ｂを形成する。
【０１６９】尚、対物レンズ７５は、ディスク７６の面
振れ方向及び半径方向の２軸に、それぞれ独立に移動可
能な支持機構（図示せず）により支持されている。これ
らの支持機構には、上述の２軸方向へ力を発生させる磁
気回路が付加されており、これらの磁気回路のコイル
に、光検出系から得られるフォーカスエラー信号及びト
ラックエラー信号に基づく制御電流を与えることによ
り、フォーカスサーボ及びトラックサーボを可能にして
いる。
振れ方向及び半径方向の２軸に、それぞれ独立に移動可
能な支持機構（図示せず）により支持されている。これ
らの支持機構には、上述の２軸方向へ力を発生させる磁
気回路が付加されており、これらの磁気回路のコイル
に、光検出系から得られるフォーカスエラー信号及びト
ラックエラー信号に基づく制御電流を与えることによ
り、フォーカスサーボ及びトラックサーボを可能にして
いる。
【０１７０】このような構成の光ディスク装置の光学系
及び光検出系の動作を以下に説明する。ＬＤ７１から出
射された光ビームは、ホログラム光学素子７２に入射さ
れる。ホログラム光学素子７２に入射された光ビーム
は、領域７２ａ，７２ｂにより、０次光、±１次光及び
それ以上の高次光に回折分離される。この内、０次光
は、光軸８９に沿って進行し、コリメータレンズ７３に
入射されて平行光に変換される。コリメータレンズ７３
で平行光に変換された光ビームは、ビームスプリッタ７
４をそのまま透過して、対物レンズ７５に入射される。
対物レンズ７５は、０次光のみ、ディスク７６のトラッ
ク７７上に、微小スポットとして集光する。この微小ス
ポットは、情報信号の消去、書き込み、読み出しに使用
される。
及び光検出系の動作を以下に説明する。ＬＤ７１から出
射された光ビームは、ホログラム光学素子７２に入射さ
れる。ホログラム光学素子７２に入射された光ビーム
は、領域７２ａ，７２ｂにより、０次光、±１次光及び
それ以上の高次光に回折分離される。この内、０次光
は、光軸８９に沿って進行し、コリメータレンズ７３に
入射されて平行光に変換される。コリメータレンズ７３
で平行光に変換された光ビームは、ビームスプリッタ７
４をそのまま透過して、対物レンズ７５に入射される。
対物レンズ７５は、０次光のみ、ディスク７６のトラッ
ク７７上に、微小スポットとして集光する。この微小ス
ポットは、情報信号の消去、書き込み、読み出しに使用
される。
【０１７１】ディスク７６によって反射された反射光
は、対物レンズ７５を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、ビームスプリッタ７４へ戻って来る。ビームスプリ
ッタ７４内では、反射光は、その一部が反射されて側方
へ９０°偏向され、ＭＯ信号検出系へ入射される。ＭＯ
信号検出系へ入射された上述の反射光の一部は、ウォラ
ストンプリズム７８で２つの直線偏光に偏光分離され
る。この２つの直線偏光は、集光レンズ７９でそれぞれ
集光されて、二分割光検出器７１ｃの検出部７１ａ，７
１ｂへそれぞれ入射され、その検出出力差から情報信号
が得られる。
は、対物レンズ７５を上述の集光時とは逆方向へ透過
し、ビームスプリッタ７４へ戻って来る。ビームスプリ
ッタ７４内では、反射光は、その一部が反射されて側方
へ９０°偏向され、ＭＯ信号検出系へ入射される。ＭＯ
信号検出系へ入射された上述の反射光の一部は、ウォラ
ストンプリズム７８で２つの直線偏光に偏光分離され
る。この２つの直線偏光は、集光レンズ７９でそれぞれ
集光されて、二分割光検出器７１ｃの検出部７１ａ，７
１ｂへそれぞれ入射され、その検出出力差から情報信号
が得られる。
【０１７２】ディスク７６によって反射された反射光
の、ビームスプリッタ７４をそのまま透過した部分は、
コリメータレンズ７３により収束されて、上述の０次光
とは逆方向に、ホログラム光学素子７２に入射される。
ホログラム光学素子７２に入射された反射光の、領域７
２ａを通過した−１次光の光ビーム８３ａ１は、二分割
光検出器８４ａの分割線上に、ニアフィールド状態のビ
ームスポット８６ａを形成する。領域７２ａを通過した
＋１次光の光ビーム８３ａ２は、二分割光検出器８５ａ
の分割線上に、ファーフィールド状態のビームスポット
８７ａを形成する。
の、ビームスプリッタ７４をそのまま透過した部分は、
コリメータレンズ７３により収束されて、上述の０次光
とは逆方向に、ホログラム光学素子７２に入射される。
ホログラム光学素子７２に入射された反射光の、領域７
２ａを通過した−１次光の光ビーム８３ａ１は、二分割
光検出器８４ａの分割線上に、ニアフィールド状態のビ
ームスポット８６ａを形成する。領域７２ａを通過した
＋１次光の光ビーム８３ａ２は、二分割光検出器８５ａ
の分割線上に、ファーフィールド状態のビームスポット
８７ａを形成する。
【０１７３】ホログラム光学素子７２に入射された反射
光の、領域７２ｂを通過した−１次光の光ビーム８３ｂ
１は、二分割光検出器８４ｂの分割線上に、ニアフィー
ルド状態のビームスポット８６ｂを形成する。領域７２
ｂを通過した＋１次光の光ビーム８３ｂ２は、二分割光
検出器８５ｂの分割線上に、集光後のファーフィールド
状態のビームスポット８７ｂを形成する。
光の、領域７２ｂを通過した−１次光の光ビーム８３ｂ
１は、二分割光検出器８４ｂの分割線上に、ニアフィー
ルド状態のビームスポット８６ｂを形成する。領域７２
ｂを通過した＋１次光の光ビーム８３ｂ２は、二分割光
検出器８５ｂの分割線上に、集光後のファーフィールド
状態のビームスポット８７ｂを形成する。
【０１７４】後述する演算部（演算手段、図３２には図
示せず）は、フーコー法により、二分割光検出器８４
ａ，８４ｂの各検出部ｍ〜ｐの出力（ｍ〜ｐとする）か
ら、フォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｎ＋ｐ）−（ｍ＋
ｏ）を演算して出力する。ディスク７６のトラック７７
が連続グルーブを有するとき（書換可能型ディスク等の
とき）は、プッシュプル法により、二分割光検出器８５
ａ，８５ｂの各検出部ｑ〜ｔの出力（ｑ〜ｔとする）か
ら、トラックエラー信号ＴＥＳ＝（ｑ＋ｓ）−（ｒ＋
ｔ）を演算して出力する。
示せず）は、フーコー法により、二分割光検出器８４
ａ，８４ｂの各検出部ｍ〜ｐの出力（ｍ〜ｐとする）か
ら、フォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｎ＋ｐ）−（ｍ＋
ｏ）を演算して出力する。ディスク７６のトラック７７
が連続グルーブを有するとき（書換可能型ディスク等の
とき）は、プッシュプル法により、二分割光検出器８５
ａ，８５ｂの各検出部ｑ〜ｔの出力（ｑ〜ｔとする）か
ら、トラックエラー信号ＴＥＳ＝（ｑ＋ｓ）−（ｒ＋
ｔ）を演算して出力する。
【０１７５】ディスク７６のトラック７７が、ピット列
のみを有するＲＯＭディスク等のトラックのときは、ヘ
テロダイン法により、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，
８５ａ，８５ｂの各検出部ａ〜ｈの出力から、ヘテロダ
イン信号ＨＴＤ＝（ｒ＋ｓ）−（ｑ＋ｔ）と情報信号Ｒ
Ｆ＝ｍ＋ｎ＋ｏ＋ｐ＋ｑ＋ｒ＋ｓ＋ｔとの位相差を求め
て、トラックエラー信号を得る。上述の支持機構は、フ
ォーカスエラー信号及びトラックエラー信号に基づい
て、フォーカスサーボ及びトラックサーボを行う。連続
グルーブを有するディスクとＲＯＭディスクとの区別
は、ディスクのユーザ領域以外の領域に、情報として記
録しておく。又は、ディスクのカートリッジに認識用の
穴を設けるか、反射ラベルを貼っておき、ＬＥＤ等の発
光素子と光検出器とを使用して認識する。トラックエラ
ー信号の切り換えは演算部内で行う。
のみを有するＲＯＭディスク等のトラックのときは、ヘ
テロダイン法により、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，
８５ａ，８５ｂの各検出部ａ〜ｈの出力から、ヘテロダ
イン信号ＨＴＤ＝（ｒ＋ｓ）−（ｑ＋ｔ）と情報信号Ｒ
Ｆ＝ｍ＋ｎ＋ｏ＋ｐ＋ｑ＋ｒ＋ｓ＋ｔとの位相差を求め
て、トラックエラー信号を得る。上述の支持機構は、フ
ォーカスエラー信号及びトラックエラー信号に基づい
て、フォーカスサーボ及びトラックサーボを行う。連続
グルーブを有するディスクとＲＯＭディスクとの区別
は、ディスクのユーザ領域以外の領域に、情報として記
録しておく。又は、ディスクのカートリッジに認識用の
穴を設けるか、反射ラベルを貼っておき、ＬＥＤ等の発
光素子と光検出器とを使用して認識する。トラックエラ
ー信号の切り換えは演算部内で行う。
【０１７６】フーコー法を以下に説明する。ディスク７
６によって反射された光ビームを２分割し、それぞれを
４分割の光検出器（又は２分割の光検出器２つ、本形態
例では二分割光検出器８４ａ，８４ｂ）の検出部の同一
方向の分割線上に入射させる。このとき、図３５（ｂ）
に示すように、ディスク７６上に光スポットが正確にフ
ォーカスされていれば、２分割された光ビームは、それ
ぞれ４分割の光検出器上（本形態例では二分割光検出器
８４ａ，８４ｂの検出部ｍ〜ｐ上）で、図３６（ａ），
（ｂ）に示すように、分割線上にニアフィールド状態の
スポットを形成する。
６によって反射された光ビームを２分割し、それぞれを
４分割の光検出器（又は２分割の光検出器２つ、本形態
例では二分割光検出器８４ａ，８４ｂ）の検出部の同一
方向の分割線上に入射させる。このとき、図３５（ｂ）
に示すように、ディスク７６上に光スポットが正確にフ
ォーカスされていれば、２分割された光ビームは、それ
ぞれ４分割の光検出器上（本形態例では二分割光検出器
８４ａ，８４ｂの検出部ｍ〜ｐ上）で、図３６（ａ），
（ｂ）に示すように、分割線上にニアフィールド状態の
スポットを形成する。
【０１７７】ディスク７６が、図３５（ａ）に示すよう
に、対物レンズ７５の焦点位置より近ければ、２分割さ
れた光ビームは、トラック上のスポットを同一方向へ４
分割したそれぞれの位置に対応する４分割の光検出器の
各検出部の内、外側２つの検出部ｍ，ｏにそれぞれファ
ーフィールドのスポットを形成する（図３６（ｃ），
（ｄ））。ディスク７６が、図３５（ｃ）に示すよう
に、対物レンズ７５の焦点位置より遠ければ、２分割さ
れた光ビームは、内側２つの検出部ｎ，ｐにそれぞれフ
ァーフィールド状態のスポットを形成する（図３６
（ｅ），（ｆ））。
に、対物レンズ７５の焦点位置より近ければ、２分割さ
れた光ビームは、トラック上のスポットを同一方向へ４
分割したそれぞれの位置に対応する４分割の光検出器の
各検出部の内、外側２つの検出部ｍ，ｏにそれぞれファ
ーフィールドのスポットを形成する（図３６（ｃ），
（ｄ））。ディスク７６が、図３５（ｃ）に示すよう
に、対物レンズ７５の焦点位置より遠ければ、２分割さ
れた光ビームは、内側２つの検出部ｎ，ｐにそれぞれフ
ァーフィールド状態のスポットを形成する（図３６
（ｅ），（ｆ））。
【０１７８】従って、４分割の光検出器上の光ビーム
は、記録媒体が対物レンズの焦点位置より遠いか近いか
で、明暗が反転するので、４分割の光検出器の対角の検
出部（外側２つ及び内側２つの検出部、本形態例では検
出部ｍ，ｏ及び検出部ｎ，ｐ）の出力の和の差を取るこ
とによって、図３７に示すようなフォーカスエラー信号
を得ることができる。プッシュプル法及びヘテロダイン
法については、形態例１における説明と同様なので、説
明を省略する。
は、記録媒体が対物レンズの焦点位置より遠いか近いか
で、明暗が反転するので、４分割の光検出器の対角の検
出部（外側２つ及び内側２つの検出部、本形態例では検
出部ｍ，ｏ及び検出部ｎ，ｐ）の出力の和の差を取るこ
とによって、図３７に示すようなフォーカスエラー信号
を得ることができる。プッシュプル法及びヘテロダイン
法については、形態例１における説明と同様なので、説
明を省略する。
【０１７９】図３４は、本発明に係る光ディスク装置の
形態例１４の演算部の構成を示すブロック図である。こ
の演算部は、検出部ｍの出力と検出部ｏの出力とを加算
器２６１で加算し、検出部ｎの出力と検出部ｐの出力と
を加算器２６０で加算する。加算器２６０の出力と加算
器２６１の出力との差を減算器２６９で演算して、その
出力は、ローパスフィルタ２０４で交流成分を除去した
後、フォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｎ＋ｐ）−（ｍ＋
ｏ）として出力する。
形態例１４の演算部の構成を示すブロック図である。こ
の演算部は、検出部ｍの出力と検出部ｏの出力とを加算
器２６１で加算し、検出部ｎの出力と検出部ｐの出力と
を加算器２６０で加算する。加算器２６０の出力と加算
器２６１の出力との差を減算器２６９で演算して、その
出力は、ローパスフィルタ２０４で交流成分を除去した
後、フォーカスエラー信号ＦＥＳ＝（ｎ＋ｐ）−（ｍ＋
ｏ）として出力する。
【０１８０】検出部ｑの出力と検出部ｓの出力とを加算
器２６７で加算し、検出部ｔの出力と検出部ｒの出力と
を加算器２６８で加算する。加算器２６７の出力と加算
器２６８の出力との差を減算器２７１で演算して、その
出力は、ローパスフィルタ２１３で交流成分を除去した
後、プッシュプル法によるトラック信号ＴＥＳ＝（ｑ＋
ｓ）−（ｒ＋ｔ）としてスイッチ回路２１９の入力端子
に出力する。
器２６７で加算し、検出部ｔの出力と検出部ｒの出力と
を加算器２６８で加算する。加算器２６７の出力と加算
器２６８の出力との差を減算器２７１で演算して、その
出力は、ローパスフィルタ２１３で交流成分を除去した
後、プッシュプル法によるトラック信号ＴＥＳ＝（ｑ＋
ｓ）−（ｒ＋ｔ）としてスイッチ回路２１９の入力端子
に出力する。
【０１８１】検出部ｑの出力と検出部ｔの出力とを加算
器２６５で加算し、検出部ｒの出力と検出部ｓの出力と
を加算器２６４で加算する。加算器２６４の出力と加算
器２６５の出力との和を加算器２６６で演算し、加算器
２６０の出力と加算器２６１の出力との和を加算器２６
２で演算する。加算器２６２の出力と加算器２６６の出
力との和を加算器２６３で演算し、その出力をＲＦ信号
として出力すると共に、パルス発生器２１４とパルス発
生器２１５とへ与える。加算器２６４の出力と加算器２
６５の出力との差を減算器２７０で演算して、その出力
は、ＨＴＤ信号としてゲートＧ１とゲートＧ２とへ与え
る。
器２６５で加算し、検出部ｒの出力と検出部ｓの出力と
を加算器２６４で加算する。加算器２６４の出力と加算
器２６５の出力との和を加算器２６６で演算し、加算器
２６０の出力と加算器２６１の出力との和を加算器２６
２で演算する。加算器２６２の出力と加算器２６６の出
力との和を加算器２６３で演算し、その出力をＲＦ信号
として出力すると共に、パルス発生器２１４とパルス発
生器２１５とへ与える。加算器２６４の出力と加算器２
６５の出力との差を減算器２７０で演算して、その出力
は、ＨＴＤ信号としてゲートＧ１とゲートＧ２とへ与え
る。
【０１８２】パルス発生器２１４は、ＲＦ信号の負レベ
ルから正レベルへの転換時に、サンプリングパルスＳ３
（図１２）を発生し、ゲートＧ１へ与える。そのとき、
ゲートＧ１は開になり、ＲＦ信号のそのときの値が保持
回路２１６にサンプリング保持される。一方、パルス発
生器２１５は、ＲＦ信号の正レベルから負レベルへの転
換時に、サンプリングパルスＳ４（図１２）を発生し、
ゲートＧ２へ与える。そのとき、ゲートＧ２は開にな
り、ＲＦ信号のそのときの値が保持回路２１７にサンプ
リング保持される。
ルから正レベルへの転換時に、サンプリングパルスＳ３
（図１２）を発生し、ゲートＧ１へ与える。そのとき、
ゲートＧ１は開になり、ＲＦ信号のそのときの値が保持
回路２１６にサンプリング保持される。一方、パルス発
生器２１５は、ＲＦ信号の正レベルから負レベルへの転
換時に、サンプリングパルスＳ４（図１２）を発生し、
ゲートＧ２へ与える。そのとき、ゲートＧ２は開にな
り、ＲＦ信号のそのときの値が保持回路２１７にサンプ
リング保持される。
【０１８３】保持回路２１６の保持信号Ｓ５と保持回路
２１７の保持信号Ｓ６（図１２）とは、減算器２１８で
その差が演算され、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位相差が
検出される。保持信号Ｓ５と保持信号Ｓ６との差Ｓ７
（図１２）は、トラックエラー信号としてスイッチ回路
２１９の入力端子に出力される。スイッチ回路２１９
は、判別手段２１９ａが、ディスク２１のトラック２１
ａは連続グルーブを有すると判別したときは、プッシュ
プル法によるトラックエラー信号を出力する。判別手段
２１９ａが、ディスク２１のトラック２１ａはピット列
のみを有すると判別したときは、ヘテロダイン法による
トラックエラー信号を出力する。尚、本形態例は、光磁
気ディスクの記録再生可能な光学系の構成となっている
が、連続グルーブを有するディスクとして、相変化型の
ディスクが装入された場合は、ＲＯＭディスクの場合と
同様、ＲＦ信号が情報信号となる。
２１７の保持信号Ｓ６（図１２）とは、減算器２１８で
その差が演算され、ＲＦ信号とＨＴＤ信号との位相差が
検出される。保持信号Ｓ５と保持信号Ｓ６との差Ｓ７
（図１２）は、トラックエラー信号としてスイッチ回路
２１９の入力端子に出力される。スイッチ回路２１９
は、判別手段２１９ａが、ディスク２１のトラック２１
ａは連続グルーブを有すると判別したときは、プッシュ
プル法によるトラックエラー信号を出力する。判別手段
２１９ａが、ディスク２１のトラック２１ａはピット列
のみを有すると判別したときは、ヘテロダイン法による
トラックエラー信号を出力する。尚、本形態例は、光磁
気ディスクの記録再生可能な光学系の構成となっている
が、連続グルーブを有するディスクとして、相変化型の
ディスクが装入された場合は、ＲＯＭディスクの場合と
同様、ＲＦ信号が情報信号となる。
【０１８４】形態例１５．図３８は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例１５の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。本形態例の光学系及び光検
出系の構成は、形態例１４の光学系及び光検出系の構成
と略同様である。ホログラム光学素子７２１は、ホログ
ラム光学素子７２同様、分割線７２０により、２領域７
２１ａ，７２１ｂに分割され、ホログラムパターン７２
１ｐを有している。二分割光検出器８４ａは、領域７２
１ａ側でトラック７７（図３２）の内側に配置されてい
る。二分割光検出器８４ｂは、領域７２１ｂ側でトラッ
ク７７の内側に配置されている。
ィスク装置の形態例１５の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。本形態例の光学系及び光検
出系の構成は、形態例１４の光学系及び光検出系の構成
と略同様である。ホログラム光学素子７２１は、ホログ
ラム光学素子７２同様、分割線７２０により、２領域７
２１ａ，７２１ｂに分割され、ホログラムパターン７２
１ｐを有している。二分割光検出器８４ａは、領域７２
１ａ側でトラック７７（図３２）の内側に配置されてい
る。二分割光検出器８４ｂは、領域７２１ｂ側でトラッ
ク７７の内側に配置されている。
【０１８５】二分割光検出器８５ａは、領域７２１ｂ側
でトラック７７の外側に配置されている。二分割光検出
器８５ｂは、領域７２１ａ側でトラック７７の内側に配
置されている。ホログラム光学素子７２１は、光ビーム
８３ａ１、８３ａ２，８３ｂ１，８３ｂ２を、それぞれ
の二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂへ入
射するように回折する。二分割光検出器８４ａ，８４
ｂ，８５ａ，８５ｂの各分割線の方向は、形態例１４の
場合と同様である。
でトラック７７の外側に配置されている。二分割光検出
器８５ｂは、領域７２１ａ側でトラック７７の内側に配
置されている。ホログラム光学素子７２１は、光ビーム
８３ａ１、８３ａ２，８３ｂ１，８３ｂ２を、それぞれ
の二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂへ入
射するように回折する。二分割光検出器８４ａ，８４
ｂ，８５ａ，８５ｂの各分割線の方向は、形態例１４の
場合と同様である。
【０１８６】本形態例では、ビームスポット８６ａ，８
６ｂが、それぞれ二分割光検出器８４ａ，８４ｂの分割
線８４Ａ，８４Ｂ上に形成されるように、ホログラム光
学素子７２１を、光軸８９を中心として回動して位置の
調整を行う際、形態例１４の場合と比べてより大きな回
動を必要とする。このため、本形態例では、形態例１４
の場合と比べて、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５
ａ，８５ｂの位置調整精度を向上させることができる。
６ｂが、それぞれ二分割光検出器８４ａ，８４ｂの分割
線８４Ａ，８４Ｂ上に形成されるように、ホログラム光
学素子７２１を、光軸８９を中心として回動して位置の
調整を行う際、形態例１４の場合と比べてより大きな回
動を必要とする。このため、本形態例では、形態例１４
の場合と比べて、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５
ａ，８５ｂの位置調整精度を向上させることができる。
【０１８７】その反面、ビームスポット８６ａ，８６ｂ
と分割線８４Ａ，８４Ｂとの、同じ相対ずれ量の調整を
行う場合、形態例１４と比較して、二分割光検出器８４
ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂのより大きな回動量を必要
とする。従って、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５
ａ，８５ｂの位置調整を重視するか、二分割光検出器８
４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂの回動量の少なさを重視
するかによって、形態例１４の配置又は本形態例の配置
を採用すれば良い。その他の構成及び動作は、形態例１
４で説明した光ディスク装置の構成及び動作と同様なの
で、説明を省略する。
と分割線８４Ａ，８４Ｂとの、同じ相対ずれ量の調整を
行う場合、形態例１４と比較して、二分割光検出器８４
ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂのより大きな回動量を必要
とする。従って、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５
ａ，８５ｂの位置調整を重視するか、二分割光検出器８
４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂの回動量の少なさを重視
するかによって、形態例１４の配置又は本形態例の配置
を採用すれば良い。その他の構成及び動作は、形態例１
４で説明した光ディスク装置の構成及び動作と同様なの
で、説明を省略する。
【０１８８】形態例１６．図３９は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例１６の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。本形態例の光学系及び光検
出系の構成は、形態例１４の光学系及び光検出系の構成
と略同様である。ホログラム光学素子７２２は、ホログ
ラム光学素子７２同様、分割線７２０により、２領域７
２２ａ，７２２ｂに分割され、ホログラムパターン７２
２ｐを有している。二分割光検出器は、二分割光検出器
８５ｂ，８４ａ，８５ａ，８４ｂの順にトラック７７
（図３２）の半径方向にトラック７７の内側から外側に
並べられている。
ィスク装置の形態例１６の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。本形態例の光学系及び光検
出系の構成は、形態例１４の光学系及び光検出系の構成
と略同様である。ホログラム光学素子７２２は、ホログ
ラム光学素子７２同様、分割線７２０により、２領域７
２２ａ，７２２ｂに分割され、ホログラムパターン７２
２ｐを有している。二分割光検出器は、二分割光検出器
８５ｂ，８４ａ，８５ａ，８４ｂの順にトラック７７
（図３２）の半径方向にトラック７７の内側から外側に
並べられている。
【０１８９】ホログラム光学素子７２２は、光ビーム８
３ａ１、８３ａ２，８３ｂ１，８３ｂ２を、それぞれの
二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂへ入射
するように回折する。二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，
８５ａ，８５ｂの各分割線の方向は、形態例１４の場合
と同様である。本形態例によっても、形態例１４と同様
の効果を得ることができる。その他の構成及び動作は、
形態例１４で説明した光ディスク装置の構成及び動作と
同様なので、説明を省略する。
３ａ１、８３ａ２，８３ｂ１，８３ｂ２を、それぞれの
二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂへ入射
するように回折する。二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，
８５ａ，８５ｂの各分割線の方向は、形態例１４の場合
と同様である。本形態例によっても、形態例１４と同様
の効果を得ることができる。その他の構成及び動作は、
形態例１４で説明した光ディスク装置の構成及び動作と
同様なので、説明を省略する。
【０１９０】形態例１７．図４０は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例１７の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。本形態例の光学系及び光検
出系の構成は、形態例１４の光学系及び光検出系の構成
と略同様である。ホログラム光学素子７２３は、ホログ
ラム光学素子７２同様、分割線７２０により、２領域７
２３ａ，７２３ｂに分割され、ホログラムパターン７２
３ｐを有している。二分割光検出器は、二分割光検出器
８４ｂ，８４ａ，８５ａ，８５ｂの順にトラック７７
（図３２）の半径方向にトラック７７の内側から外側に
並べられている。
ィスク装置の形態例１７の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。本形態例の光学系及び光検
出系の構成は、形態例１４の光学系及び光検出系の構成
と略同様である。ホログラム光学素子７２３は、ホログ
ラム光学素子７２同様、分割線７２０により、２領域７
２３ａ，７２３ｂに分割され、ホログラムパターン７２
３ｐを有している。二分割光検出器は、二分割光検出器
８４ｂ，８４ａ，８５ａ，８５ｂの順にトラック７７
（図３２）の半径方向にトラック７７の内側から外側に
並べられている。
【０１９１】ホログラム光学素子７２３は、光ビーム８
３ａ１、８３ａ２，８３ｂ１，８３ｂ２を、それぞれの
二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂへ入射
するように回折する。二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，
８５ａ，８５ｂの各分割線の方向は、形態例１４の場合
と同様である。本形態例によっても、形態例１４と同様
の効果を得ることができる。その他の構成及び動作は、
形態例１４で説明した光ディスク装置の構成及び動作と
同様なので、説明を省略する。
３ａ１、８３ａ２，８３ｂ１，８３ｂ２を、それぞれの
二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂへ入射
するように回折する。二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，
８５ａ，８５ｂの各分割線の方向は、形態例１４の場合
と同様である。本形態例によっても、形態例１４と同様
の効果を得ることができる。その他の構成及び動作は、
形態例１４で説明した光ディスク装置の構成及び動作と
同様なので、説明を省略する。
【０１９２】形態例１８．図４１は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例１８の光学系及び光検出系の構成を
示す斜視図である。本形態例は、本発明に係る光ディス
ク装置をコンパクトディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、相変化型
光ディスク装置に適用される。本形態例の光学系及び光
検出系の構成は、形態例１４の光学系及び光検出系の構
成と略同様である。ホログラム光学素子７２Ａは、トラ
ック７７に直角方向の２本の分割線７２０Ａ，７２０Ｂ
により、３領域７２ａ，７２ｂ，７２ｃに分割されてい
る。領域７２ａ，７２ｂを通過した光ビームは、形態例
１４と同様に二分割光検出器に入射する。領域７２ｃを
通過した光ビームは、光検出器９０にビームスポット９
１として集光され、ＲＦ信号を検出するために使用され
る。
ィスク装置の形態例１８の光学系及び光検出系の構成を
示す斜視図である。本形態例は、本発明に係る光ディス
ク装置をコンパクトディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、相変化型
光ディスク装置に適用される。本形態例の光学系及び光
検出系の構成は、形態例１４の光学系及び光検出系の構
成と略同様である。ホログラム光学素子７２Ａは、トラ
ック７７に直角方向の２本の分割線７２０Ａ，７２０Ｂ
により、３領域７２ａ，７２ｂ，７２ｃに分割されてい
る。領域７２ａ，７２ｂを通過した光ビームは、形態例
１４と同様に二分割光検出器に入射する。領域７２ｃを
通過した光ビームは、光検出器９０にビームスポット９
１として集光され、ＲＦ信号を検出するために使用され
る。
【０１９３】尚、ＲＦ信号の再生は、二分割光検出器８
４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂの各出力信号に基づいて
行っても良い。この場合、受光する光量の総和が増大し
て信号成分も増大するが、光検出器の受光面積の総和が
増加することにより、接合容量が増加して雑音成分も増
加する。さらに、同一の光検出器からサーボ信号もＲＦ
信号も生成する場合には、これらの信号を分離するため
の回路を付加する必要もある。従って、信号成分の増大
より雑音成分の増加の方が顕著に表れてしまうような場
合には、上述のように、光検出器９０のみの出力信号に
基づいてＲＦ信号を再生する方が好ましい。
４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂの各出力信号に基づいて
行っても良い。この場合、受光する光量の総和が増大し
て信号成分も増大するが、光検出器の受光面積の総和が
増加することにより、接合容量が増加して雑音成分も増
加する。さらに、同一の光検出器からサーボ信号もＲＦ
信号も生成する場合には、これらの信号を分離するため
の回路を付加する必要もある。従って、信号成分の増大
より雑音成分の増加の方が顕著に表れてしまうような場
合には、上述のように、光検出器９０のみの出力信号に
基づいてＲＦ信号を再生する方が好ましい。
【０１９４】上述の形態例１４〜１７を、コンパクトデ
ィスク装置及び相変化型ディスク装置等の、記録媒体か
らの反射光の強弱でＲＦ信号を検出する装置に適用する
場合は、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５
ｂの出力信号の一部又は総和からＲＦ信号を検出する必
要があるので、上述のように、サーボ信号とＲＦ信号と
を分離するための回路を別途設ける必要が生じる。これ
に対して、本形態例では、光検出器９０のみの出力信号
に基づいてＲＦ信号を再生できるので、分離するための
回路が不要である。
ィスク装置及び相変化型ディスク装置等の、記録媒体か
らの反射光の強弱でＲＦ信号を検出する装置に適用する
場合は、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５
ｂの出力信号の一部又は総和からＲＦ信号を検出する必
要があるので、上述のように、サーボ信号とＲＦ信号と
を分離するための回路を別途設ける必要が生じる。これ
に対して、本形態例では、光検出器９０のみの出力信号
に基づいてＲＦ信号を再生できるので、分離するための
回路が不要である。
【０１９５】形態例１９．図４２は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例１９の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。二分割光検出器８４ａ，８
４ｂ，８５ａ，８５ｂは、シリコン等からなる１枚の基
板１０１上の４隅に直接形成されている。二分割光検出
器８４ａと二分割光検出器８５ａとは、基板１０１上で
光軸８９に対して対称な位置に設置されている。また、
二分割光検出器８５ｂと二分割光検出器８４ｂとは、基
板１０１上で光軸８９に対して対称な位置に設置されて
いる。
ィスク装置の形態例１９の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。二分割光検出器８４ａ，８
４ｂ，８５ａ，８５ｂは、シリコン等からなる１枚の基
板１０１上の４隅に直接形成されている。二分割光検出
器８４ａと二分割光検出器８５ａとは、基板１０１上で
光軸８９に対して対称な位置に設置されている。また、
二分割光検出器８５ｂと二分割光検出器８４ｂとは、基
板１０１上で光軸８９に対して対称な位置に設置されて
いる。
【０１９６】基板１０１上には、光軸が基板１０１の中
心を通過するように、ＬＤ７１が取り付けられた支持部
材１０２が設けられている。この支持部材１０２は、例
えば銅等の熱伝導率の高い材料からなり、ＬＤ７１を支
持すると共に、ＬＤ７１が発生する熱を効率良く放熱す
る。本形態例によれば、ＬＤ７１及び二分割光検出器８
４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂが、同じ基板１０１に設
けられているので、これらの相対的位置の調整が容易で
ある。特に、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，
８５ｂが基板１０１上に直接形成されている場合には、
二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂ間の相
対的位置関係を容易に設定し固定することができる。
心を通過するように、ＬＤ７１が取り付けられた支持部
材１０２が設けられている。この支持部材１０２は、例
えば銅等の熱伝導率の高い材料からなり、ＬＤ７１を支
持すると共に、ＬＤ７１が発生する熱を効率良く放熱す
る。本形態例によれば、ＬＤ７１及び二分割光検出器８
４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂが、同じ基板１０１に設
けられているので、これらの相対的位置の調整が容易で
ある。特に、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，
８５ｂが基板１０１上に直接形成されている場合には、
二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂ間の相
対的位置関係を容易に設定し固定することができる。
【０１９７】また、光ディスク装置の部品点数の削減及
びコストの低減も可能となる。さらに、ＬＤ７１から発
生する熱は、支持部材１０２を介して効率良く放熱され
るので、熱によるＬＤ７１自体の破損及び二分割光検出
器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂ等の他の部品に悪影
響を及ぼすこともない。その他の構成及び動作は、形態
例１４で説明した光ディスク装置の構成及び動作と同様
なので、説明を省略する。
びコストの低減も可能となる。さらに、ＬＤ７１から発
生する熱は、支持部材１０２を介して効率良く放熱され
るので、熱によるＬＤ７１自体の破損及び二分割光検出
器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂ等の他の部品に悪影
響を及ぼすこともない。その他の構成及び動作は、形態
例１４で説明した光ディスク装置の構成及び動作と同様
なので、説明を省略する。
【０１９８】形態例２０．図４３は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例２０の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。二分割光検出器８４ａ，８
４ｂ，８５ａ，８５ｂは、シリコン等からなる１枚の基
板１０１上の４隅に直接形成されている。二分割光検出
器８４ａと二分割光検出器８５ａとは、基板１０１上で
光軸８９に対して対称な位置に設置されている。また、
二分割光検出器８５ｂと二分割光検出器８４ｂとは、基
板１０１上で光軸８９に対して対称な位置に設置されて
いる。
ィスク装置の形態例２０の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。二分割光検出器８４ａ，８
４ｂ，８５ａ，８５ｂは、シリコン等からなる１枚の基
板１０１上の４隅に直接形成されている。二分割光検出
器８４ａと二分割光検出器８５ａとは、基板１０１上で
光軸８９に対して対称な位置に設置されている。また、
二分割光検出器８５ｂと二分割光検出器８４ｂとは、基
板１０１上で光軸８９に対して対称な位置に設置されて
いる。
【０１９９】光軸が基板１０１の中心を通過するよう
に、ＬＤ７１が先端部に取り付けられたＬ字型の支持部
材１０２Ａが、光学系の少なくとも一部を収納する、後
述するハウジング（図示せず）に固定されている。この
支持部材１０２Ａは、例えば銅等の熱伝導率の高い材料
からなり、ＬＤ７１を支持すると共に、ＬＤ７１が発生
する熱を効率良く放熱する。これにより、ハウジングを
熱伝導率の高い材料で形成すれば、ＬＤ７１が発生する
熱は、支持部材１０２Ａ及びハウジングを介してさらに
効率良く放熱することができる。その他の構成及び動作
は、形態例１４で説明した光ディスク装置の構成及び動
作と同様なので、説明を省略する。
に、ＬＤ７１が先端部に取り付けられたＬ字型の支持部
材１０２Ａが、光学系の少なくとも一部を収納する、後
述するハウジング（図示せず）に固定されている。この
支持部材１０２Ａは、例えば銅等の熱伝導率の高い材料
からなり、ＬＤ７１を支持すると共に、ＬＤ７１が発生
する熱を効率良く放熱する。これにより、ハウジングを
熱伝導率の高い材料で形成すれば、ＬＤ７１が発生する
熱は、支持部材１０２Ａ及びハウジングを介してさらに
効率良く放熱することができる。その他の構成及び動作
は、形態例１４で説明した光ディスク装置の構成及び動
作と同様なので、説明を省略する。
【０２００】形態例２１．図４４は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例２１の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。二分割光検出器８４ａ，８
４ｂ，８５ａ，８５ｂは、シリコン等からなる１枚の基
板１０１上の４隅に直接形成されている。二分割光検出
器８４ａと二分割光検出器８５ａとは、基板１０１上で
光軸８９に対して対称な位置に設置されている。また、
二分割光検出器８５ｂと二分割光検出器８４ｂとは、基
板１０１上で光軸８９に対して対称な位置に設置されて
いる。
ィスク装置の形態例２１の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。二分割光検出器８４ａ，８
４ｂ，８５ａ，８５ｂは、シリコン等からなる１枚の基
板１０１上の４隅に直接形成されている。二分割光検出
器８４ａと二分割光検出器８５ａとは、基板１０１上で
光軸８９に対して対称な位置に設置されている。また、
二分割光検出器８５ｂと二分割光検出器８４ｂとは、基
板１０１上で光軸８９に対して対称な位置に設置されて
いる。
【０２０１】ＬＤ７１が取り付けられた直方体形状の支
持部材１０２Ｂが、光学系の少なくとも一部を収納す
る、後述するハウジング（図示せず）に固定されてい
る。ＬＤ７１は光ビームを水平方向へ出力し、この光ビ
ームは、基板１０１上の中央に固定されたミラー１０３
により反射され鉛直方向へ偏向される。偏向された光ビ
ームは、光軸８９に沿ってコリメータレンズ７３（図３
２）に入射される。支持部材１０２Ｂは、例えば銅等の
熱伝導率の高い材料からなり、ＬＤ７１を支持すると共
に、ＬＤ７１が発生する熱を効率良く放熱する。これに
より、ハウジングを熱伝導率の高い材料で形成すれば、
ＬＤ７１が発生する熱は、支持部材１０２Ｂ及びハウジ
ングを介してさらに効率良く放熱することができる。
持部材１０２Ｂが、光学系の少なくとも一部を収納す
る、後述するハウジング（図示せず）に固定されてい
る。ＬＤ７１は光ビームを水平方向へ出力し、この光ビ
ームは、基板１０１上の中央に固定されたミラー１０３
により反射され鉛直方向へ偏向される。偏向された光ビ
ームは、光軸８９に沿ってコリメータレンズ７３（図３
２）に入射される。支持部材１０２Ｂは、例えば銅等の
熱伝導率の高い材料からなり、ＬＤ７１を支持すると共
に、ＬＤ７１が発生する熱を効率良く放熱する。これに
より、ハウジングを熱伝導率の高い材料で形成すれば、
ＬＤ７１が発生する熱は、支持部材１０２Ｂ及びハウジ
ングを介してさらに効率良く放熱することができる。
【０２０２】本形態例は、特にＬＤ７１を基板１０１上
に設けたくない場合に好都合である。その他の構成及び
動作は、形態例１４で説明した光ディスク装置の構成及
び動作と同様なので、説明を省略する。
に設けたくない場合に好都合である。その他の構成及び
動作は、形態例１４で説明した光ディスク装置の構成及
び動作と同様なので、説明を省略する。
【０２０３】形態例２２．図４５は、本発明に係る光デ
ィスク装置の形態例２２の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。二分割光検出器８４ａ，８
４ｂ，８５ａ，８５ｂは、シリコン等からなる１枚の基
板１０１上に設けられている。二分割光検出器８４ａと
二分割光検出器８５ａとは、基板１０１上で光軸８９に
対して対称な位置に設置されている。また、二分割光検
出器８５ｂと二分割光検出器８４ｂとは、基板１０１上
で光軸８９に対して対称な位置に設置されている。
ィスク装置の形態例２２の光源、光学素子及び光検出系
の構成を示す斜視図である。二分割光検出器８４ａ，８
４ｂ，８５ａ，８５ｂは、シリコン等からなる１枚の基
板１０１上に設けられている。二分割光検出器８４ａと
二分割光検出器８５ａとは、基板１０１上で光軸８９に
対して対称な位置に設置されている。また、二分割光検
出器８５ｂと二分割光検出器８４ｂとは、基板１０１上
で光軸８９に対して対称な位置に設置されている。
【０２０４】基板１０１上には、ＬＤ７１が取り付けら
れた直方体形状の支持部材１０２と、演算部を含む半導
体集積回路１０８とが設けられている。二分割光検出器
８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂと半導体集積回路１０
８とは、それぞれ別個に製造されたものが搭載される構
成でも、少なくとも１つが基板１０１に直接形成された
構成であっても良い。基板１０１上には、基板１０１全
体を覆う直法体形状のハウジング１０９が設けられてい
る。ハウジング１０９の上板１０９ａには、ホログラム
光学素子７２が固定されている。ホログラム光学素子７
２が固定されている位置は、ディスク７６からの反射光
ビームの各成分が、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８
５ａ，８５ｂの対応する光検出器に入射するように設定
されている。
れた直方体形状の支持部材１０２と、演算部を含む半導
体集積回路１０８とが設けられている。二分割光検出器
８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂと半導体集積回路１０
８とは、それぞれ別個に製造されたものが搭載される構
成でも、少なくとも１つが基板１０１に直接形成された
構成であっても良い。基板１０１上には、基板１０１全
体を覆う直法体形状のハウジング１０９が設けられてい
る。ハウジング１０９の上板１０９ａには、ホログラム
光学素子７２が固定されている。ホログラム光学素子７
２が固定されている位置は、ディスク７６からの反射光
ビームの各成分が、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８
５ａ，８５ｂの対応する光検出器に入射するように設定
されている。
【０２０５】二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，
８５ｂとＬＤ７１とを基板１０１上に設け、ホログラム
光学素子７２をハウジング１０９に設けることにより、
それぞれの相対的位置関係を容易に設定することがで
き、これらの取り付け及び調整作業が簡単になる。つま
り、この構成を採用することにより、ハウジング１０９
は、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂと
ＬＤ７１とホログラム光学素子７２と半導体集積回路１
０８とが一体的に設けられて、それぞれの相対的位置関
係の調整が既になされた光学的デバイスとして扱うこと
が可能となる。その他の構成及び動作は、形態例１４で
説明した光ディスク装置の構成及び動作と同様なので、
説明を省略する。
８５ｂとＬＤ７１とを基板１０１上に設け、ホログラム
光学素子７２をハウジング１０９に設けることにより、
それぞれの相対的位置関係を容易に設定することがで
き、これらの取り付け及び調整作業が簡単になる。つま
り、この構成を採用することにより、ハウジング１０９
は、二分割光検出器８４ａ，８４ｂ，８５ａ，８５ｂと
ＬＤ７１とホログラム光学素子７２と半導体集積回路１
０８とが一体的に設けられて、それぞれの相対的位置関
係の調整が既になされた光学的デバイスとして扱うこと
が可能となる。その他の構成及び動作は、形態例１４で
説明した光ディスク装置の構成及び動作と同様なので、
説明を省略する。
【０２０６】尚、基板１０１及びハウジング１０９の形
状は、図４５に示すものに限定されるものではなく、例
えば、基板１０１を円形にして、ハウジング１０９をこ
れに対応させて円筒形状にしても良い。また、上述各形
態例において、フォーカスエラー信号ＦＥＳを−１次回
折光に基づいて生成し、トラッキングエラー信号ＴＥＳ
を＋１次回折光に基づいて生成しても良い。さらに、上
述各形態例では、集光前のファーフィールド状態及び集
光後のファーフィールド状態で検出した＋１次回折光又
は−１次回折光に基づいてトラッキングエラー信号を生
成しているが、集光前のファーフィールド状態のみ又は
集光後のファーフィールド状態のみで検出しても良い。
状は、図４５に示すものに限定されるものではなく、例
えば、基板１０１を円形にして、ハウジング１０９をこ
れに対応させて円筒形状にしても良い。また、上述各形
態例において、フォーカスエラー信号ＦＥＳを−１次回
折光に基づいて生成し、トラッキングエラー信号ＴＥＳ
を＋１次回折光に基づいて生成しても良い。さらに、上
述各形態例では、集光前のファーフィールド状態及び集
光後のファーフィールド状態で検出した＋１次回折光又
は−１次回折光に基づいてトラッキングエラー信号を生
成しているが、集光前のファーフィールド状態のみ又は
集光後のファーフィールド状態のみで検出しても良い。
【０２０７】
【発明の効果】本発明の第１発明に係る光ディスク装置
によれば、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相変化型
光ディスクとを駆動することができる。
によれば、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相変化型
光ディスクとを駆動することができる。
【０２０８】第２発明に係る光ディスク装置によれば、
ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相変化型光ディスク
とを自動的に判別して、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク
及び相変化型光ディスクとを駆動することができる。
ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相変化型光ディスク
とを自動的に判別して、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク
及び相変化型光ディスクとを駆動することができる。
【０２０９】第３発明に係る光ディスク装置によれば、
フォーカスエラー信号検出にフーコー法を、トラックエ
ラー信号検出にプッシュプル法又はヘテロダイン法をそ
れぞれ用いることができる。
フォーカスエラー信号検出にフーコー法を、トラックエ
ラー信号検出にプッシュプル法又はヘテロダイン法をそ
れぞれ用いることができる。
【０２１０】第４発明に係る光ディスク装置によれば、
フォーカスエラー信号作成用の光ビーム及びトラックエ
ラー信号作成用の光ビームのそれぞれを検出する光検出
系を同一平面上に並べることができる。
フォーカスエラー信号作成用の光ビーム及びトラックエ
ラー信号作成用の光ビームのそれぞれを検出する光検出
系を同一平面上に並べることができる。
【０２１１】第５，６，８，１０発明に係る光ディスク
装置によれば、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相変
化型光ディスクとを駆動することができる。
装置によれば、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相変
化型光ディスクとを駆動することができる。
【０２１２】第７発明に係る光ディスク装置によれば、
光検出系の位置調整が簡単である。
光検出系の位置調整が簡単である。
【０２１３】第９発明に係る光ディスク装置によれば、
フォーカスエラー信号検出にフーコー法を、トラックエ
ラー信号検出にプッシュプル法又はヘテロダイン法をそ
れぞれ用いることができる。
フォーカスエラー信号検出にフーコー法を、トラックエ
ラー信号検出にプッシュプル法又はヘテロダイン法をそ
れぞれ用いることができる。
【０２１４】第１１発明に係る光ディスク装置によれ
ば、光学系の枝を減らすことができ、光学系の小型化を
図ることができる。
ば、光学系の枝を減らすことができ、光学系の小型化を
図ることができる。
【０２１５】第１２発明に係る光ディスク装置によれ
ば、光学系の枝を更に減らすことができ、光学系の小型
化を図ることができる。
ば、光学系の枝を更に減らすことができ、光学系の小型
化を図ることができる。
【０２１６】第１３発明に係る光ディスク装置によれ
ば、同一の光検出器ではサーボ信号と情報信号とを生成
せず、情報信号の成分を分離する回路又はフィルタが不
要となる。
ば、同一の光検出器ではサーボ信号と情報信号とを生成
せず、情報信号の成分を分離する回路又はフィルタが不
要となる。
【０２１７】第１４，１６，１８発明に係る光ディスク
装置によれば、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相変
化型光ディスクとを駆動することができる。
装置によれば、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相変
化型光ディスクとを駆動することができる。
【０２１８】第１５，１７発明に係る光ディスク装置に
よれば、同一の光検出器ではサーボ信号と情報信号とを
生成せず、情報信号の成分を分離する回路又はフィルタ
が不要となる。
よれば、同一の光検出器ではサーボ信号と情報信号とを
生成せず、情報信号の成分を分離する回路又はフィルタ
が不要となる。
【０２１９】第１９発明に係る光ディスク装置によれ
ば、ホログラム光学素子を使用しても、ノイズ及び迷光
等の影響を受け難い光ディスク装置を実現することがで
きる。
ば、ホログラム光学素子を使用しても、ノイズ及び迷光
等の影響を受け難い光ディスク装置を実現することがで
きる。
【０２２０】第２０，２３，２５発明に係る光ディスク
装置によれば、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相変
化型光ディスクとを駆動することができる。
装置によれば、ＣＤ−ＲＯＭと光磁気ディスク及び相変
化型光ディスクとを駆動することができる。
【０２２１】第２１発明に係る光ディスク装置によれ
ば、光検出系の配置の自由度が増す。
ば、光検出系の配置の自由度が増す。
【０２２２】第２２発明に係る光ディスク装置によれ
ば、トラックエラー信号に影響されないフォーカスエラ
ー信号を得ることができる。
ば、トラックエラー信号に影響されないフォーカスエラ
ー信号を得ることができる。
【０２２３】第２４発明に係る光ディスク装置によれ
ば、同一の光検出器ではサーボ信号と情報信号とを生成
せず、情報信号の成分を分離する回路又はフィルタが不
要となる。
ば、同一の光検出器ではサーボ信号と情報信号とを生成
せず、情報信号の成分を分離する回路又はフィルタが不
要となる。
【０２２４】第２６発明に係る光ディスク装置によれ
ば、光学系の枝を減らすことができ、光学系の小型化を
図ることができる。
ば、光学系の枝を減らすことができ、光学系の小型化を
図ることができる。
【０２２５】第２７発明に係る光ディスク装置によれ
ば、小型化を図れると共に、取り付け及び調整が容易で
ある。また、部品の削減が可能となり、製造コストを低
減できる。
ば、小型化を図れると共に、取り付け及び調整が容易で
ある。また、部品の削減が可能となり、製造コストを低
減できる。
【０２２６】第２８発明に係る光ディスク装置によれ
ば、小型化を図れると共に、取り付け及び調整が容易で
ある。また、部品点数の削減が可能となり、製造コスト
を低減できる。
ば、小型化を図れると共に、取り付け及び調整が容易で
ある。また、部品点数の削減が可能となり、製造コスト
を低減できる。
【０２２７】第２９発明に係る光ディスク装置によれ
ば、小型化を図れると共に、取り付け調整が容易であ
る。また、部品点数の削減が可能となり、製造コストを
低減できる。
ば、小型化を図れると共に、取り付け調整が容易であ
る。また、部品点数の削減が可能となり、製造コストを
低減できる。
【０２２８】第３０発明に係る光ディスク装置によれ
ば、放熱効果が高まり、熱による光源自体の破損及び光
検出器等の部品に悪影響を及ぼさない。
ば、放熱効果が高まり、熱による光源自体の破損及び光
検出器等の部品に悪影響を及ぼさない。
【０２２９】第３１発明に係る光ディスク装置によれ
ば、光源が発生する熱の影響を、基板が受けないように
することができる。
ば、光源が発生する熱の影響を、基板が受けないように
することができる。
【０２３０】第３２発明に係る光ディスク装置によれ
ば、光検出系と光源と光学素子との相対的位置関係を容
易に設定することができ、これらの取り付け及び調整が
容易である。また、これらが一体的に設けられ、これら
の相対的位置関係の調整が既になされた光学的デバイス
として扱うことができる。
ば、光検出系と光源と光学素子との相対的位置関係を容
易に設定することができ、これらの取り付け及び調整が
容易である。また、これらが一体的に設けられ、これら
の相対的位置関係の調整が既になされた光学的デバイス
として扱うことができる。
【０２３１】第３３発明に係る光ディスク装置によれ
ば、二分割光検出器の相対的位置関係の調整が容易であ
る。
ば、二分割光検出器の相対的位置関係の調整が容易であ
る。
【０２３２】第３４発明に係る光ディスク装置によれ
ば、小型化を図れると共に、組み立てが容易である。ま
た、部品点数の削減が可能となり、製造コストを低減で
きる。
ば、小型化を図れると共に、組み立てが容易である。ま
た、部品点数の削減が可能となり、製造コストを低減で
きる。
【０２３３】第３５発明に係る光ディスク装置によれ
ば、小型化を図れると共に、光検出系の位置関係の調整
が不要となり、組み立てが容易である。また、部品点数
の削減が可能となり、製造コストを低減できる。
ば、小型化を図れると共に、光検出系の位置関係の調整
が不要となり、組み立てが容易である。また、部品点数
の削減が可能となり、製造コストを低減できる。
【０２３４】第３６発明に係る光ディスク装置によれ
ば、軽量化、小型化を図れると共に、製造コストを低減
できる。
ば、軽量化、小型化を図れると共に、製造コストを低減
できる。
【図１】従来の光ディスク装置の光学系及び光検出系の
構成例を示す斜視図である。
構成例を示す斜視図である。
【図２】従来の光ディスク装置の光学系及び光検出系の
構成例を示す斜視図である。
構成例を示す斜視図である。
【図３】従来の光ディスク装置の光学系及び光検出系の
構成例を示す斜視図である。
構成例を示す斜視図である。
【図４】フーコー法を説明するための説明図である。
【図５】プッシュプル法を説明するための説明図であ
る。
る。
【図６】従来の光ディスク装置の光学系及び光検出系の
構成例を示す斜視図である。
構成例を示す斜視図である。
【図７】本発明に係る光ディスク装置の形態例１の光学
系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図８】本発明に係る光ディスク装置の形態例１の光学
系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図９】形態例１に使用されるプリズムの上面図及び側
面図である。
面図である。
【図１０】形態例１の演算部の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図１１】ヘテロダイン法を説明するための説明図であ
る。
る。
【図１２】ヘテロダイン法を説明するための説明図であ
る。
る。
【図１３】本発明に係る光ディスク装置の形態例２の光
学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図１４】本発明に係る光ディスク装置の形態例３の光
学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図１５】形態例３の二分割光検出器の分割線を説明す
るための説明図である。
るための説明図である。
【図１６】風車型プリズム及び光検出系の構成例を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図１７】形態例３の演算部の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図１８】本発明に係る光ディスク装置の形態例４の光
学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図１９】本発明に係る光ディスク装置の形態例５のホ
ログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す斜視図、
並びにホログラム光学素子のパターン図である。
ログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す斜視図、
並びにホログラム光学素子のパターン図である。
【図２０】本発明に係る光ディスク装置の形態例６の光
学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図２１】形態例６のＬＤ、ホログラム光学素子及び光
検出系の構成例を示す斜視図である。
検出系の構成例を示す斜視図である。
【図２２】本発明に係る光ディスク装置の形態例７のＬ
Ｄ、ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す斜
視図、並びにホログラム光学素子のパターン図である。
Ｄ、ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す斜
視図、並びにホログラム光学素子のパターン図である。
【図２３】本発明に係る光ディスク装置の形態例８の光
学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図２４】形態例８のＬＤ、ホログラム光学素子及び光
検出系の構成例を示す斜視図、並びにホログラム光学素
子のパターン図である。
検出系の構成例を示す斜視図、並びにホログラム光学素
子のパターン図である。
【図２５】本発明に係る光ディスク装置の形態例９のＬ
Ｄ、ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す斜
視図、並びにホログラム光学素子のパターン図である。
Ｄ、ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す斜
視図、並びにホログラム光学素子のパターン図である。
【図２６】本発明に係る光ディスク装置の形態例１０の
光学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
光学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図２７】形態例１０の演算部の構成を示すブロック図
である。
である。
【図２８】本発明に係る光ディスク装置の形態例１１の
光学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
光学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図２９】本発明に係る光ディスク装置の形態例１２の
ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す斜視
図、並びにホログラム光学素子のパターン図である。
ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す斜視
図、並びにホログラム光学素子のパターン図である。
【図３０】本発明に係る光ディスク装置の形態例１３の
ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す斜視図
である。
ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す斜視図
である。
【図３１】形態例１３の演算部の構成を示すブロック図
である。
である。
【図３２】本発明に係る光ディスク装置の形態例１４の
光学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
光学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図３３】形態例１４のＬＤ、ホログラム光学素子及び
光検出系の構成例を示す斜視図である。
光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図３４】形態例１４の演算部の構成を示すブロック図
である。
である。
【図３５】フーコー法を説明するための説明図である。
【図３６】フーコー法を説明するための説明図である。
【図３７】ＦＥＳ生成回路により生成されるフォーカス
エラー信号を示す特性図である。
エラー信号を示す特性図である。
【図３８】本発明に係る光ディスク装置の形態例１５の
ＬＤ、ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す
斜視図である。
ＬＤ、ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す
斜視図である。
【図３９】本発明に係る光ディスク装置の形態例１６の
ＬＤ、ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す
斜視図である。
ＬＤ、ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す
斜視図である。
【図４０】本発明に係る光ディスク装置の形態例１７の
ＬＤ、ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す
斜視図である。
ＬＤ、ホログラム光学素子及び光検出系の構成例を示す
斜視図である。
【図４１】本発明に係る光ディスク装置の形態例１８の
光学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
光学系及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図４２】本発明に係る光ディスク装置の形態例１９の
ＬＤ及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
ＬＤ及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図４３】本発明に係る光ディスク装置の形態例２０の
ＬＤ及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
ＬＤ及び光検出系の構成例を示す斜視図である。
【図４４】本発明に係る光ディスク装置の形態例２１の
ＬＤ、ミラー及び光検出系の構成例を示す斜視図であ
る。
ＬＤ、ミラー及び光検出系の構成例を示す斜視図であ
る。
【図４５】本発明に係る光ディスク装置の形態例２２の
ホログラム光学素子、ＬＤ、光検出系及び演算部の構成
例を示す斜視図である。
ホログラム光学素子、ＬＤ、光検出系及び演算部の構成
例を示す斜視図である。
２１、７６ ディスク ２１ａ、７７ トラック ２６，２６ａ，３２ プリズム ２７〜３０，３０ａ，３３〜３６，８４ａ，８４ｂ，８
５ａ，８５ｂ 二分割光検出器 ３１，３１ａ，３７，３７ａ，４０、４０ａ，７２ ホ
ログラム光学素子 ３８，３９，３９ａ 光検出器 ４１ ＬＤ，ＰＤユニット ４２，４５，４６，４６ａ，４７ 複合光検出器 ７１ ＬＤ ８９ 光軸 １０１ 基板 １０２，１０２Ａ，１０２Ｂ 支持部材 １０３ ミラー １０９ ハウジング １０９ａ 上板 ２１９ スイッチ回路 ２１９ａ 判別手段
５ａ，８５ｂ 二分割光検出器 ３１，３１ａ，３７，３７ａ，４０、４０ａ，７２ ホ
ログラム光学素子 ３８，３９，３９ａ 光検出器 ４１ ＬＤ，ＰＤユニット ４２，４５，４６，４６ａ，４７ 複合光検出器 ７１ ＬＤ ８９ 光軸 １０１ 基板 １０２，１０２Ａ，１０２Ｂ 支持部材 １０３ ミラー １０９ ハウジング １０９ａ 上板 ２１９ スイッチ回路 ２１９ａ 判別手段
Claims (36)
- 【請求項１】 トラックを有する記録媒体上に光ビーム
を照射する際、その反射光から、前記光ビームを制御す
るためのフォーカスエラー信号とトラックエラー信号と
を検出する光ディスク装置において、 前記反射光を、トラックエラー信号及びフォーカスエラ
ー信号を作成するための複数の光ビームに分割し、該複
数の光ビームを互いに異なる方向へ偏向させる光学素子
と、前記複数の光ビームのそれぞれを検出する光検出系
と、該光検出系の出力からフォーカスエラー信号を演算
して出力し、前記トラックの構造に応じて、前記光検出
系の出力からトラックエラー信号を演算し選択的に出力
する演算手段とを備えることを特徴とする光ディスク装
置。 - 【請求項２】 トラックを有する記録媒体上に光ビーム
を照射する際、その反射光から、前記光ビームを制御す
るためのフォーカスエラー信号とトラックエラー信号と
を検出する光ディスク装置において、 前記反射光を、トラックエラー信号及びフォーカスエラ
ー信号を作成するための複数の光ビームに分割し、該複
数の光ビームを互いに異なる方向へ偏向させる光学素子
と、前記複数の光ビームのそれぞれを検出する光検出系
と、前記トラックが連続グルーブを有するか、ピット列
のみを有するかを判別する判別手段と、前記光検出系の
出力からフーコー法によるフォーカスエラー信号を演算
して出力し、前記判別手段が前記トラックは連続グルー
ブを有すると判別したときは、前記光検出系の出力から
演算したプッシュプル法によるトラックエラー信号を出
力し、前記判別手段が前記トラックはピット列のみを有
すると判別したときは、前記光検出系の出力から演算し
たヘテロダイン法によるトラックエラー信号を出力する
演算手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項３】 前記光学素子は、前記反射光を、前記ト
ラックの中心線の両側に位置する２つのトラックエラー
信号作成用の光ビーム及び２つのフォーカスエラー信号
作成用の光ビームに分割し、分割した光ビームを互いに
異なる方向へ偏向させ、前記光検出系は、前記２つのト
ラックエラー信号作成用の光ビームのそれぞれのファー
フィールドに配置された二分割光検出器と、前記２つの
フォーカスエラー信号作成用の光ビームのそれぞれの焦
点に配置された二分割光検出器とを含む請求項１又は２
記載の光ディスク装置。 - 【請求項４】 前記光学素子は、前記フォーカスエラー
信号作成用の光ビームの焦点迄の光軸方向の距離と前記
トラックエラー信号作成用の光ビームの焦点迄の光軸方
向の距離とを相違させる請求項１〜３の何れかに記載の
光ディスク装置。 - 【請求項５】 前記演算手段は、前記２つのフォーカス
エラー信号作成用の光ビームの焦点に配置された二分割
光検出器の各検出部の出力の、前記反射光の断面上の前
記光ビームの配置における対角の和の差を取ることから
フォーカスエラー信号を演算して出力し、前記トラック
が連続グルーブを有する場合は、前記ファーフィールド
に配置された二分割光検出器毎の、検出部の出力の和の
差を取ることからトラックエラー信号を演算して出力
し、前記トラックがピット列のみを有する場合は、前記
二分割光検出器の検出部の出力の、前記反射光の断面上
の前記光ビームの配置における対角の和の差を取ること
によってなる信号と前記二分割光検出器全ての出力の和
を取ることによってなる信号との位相のずれからトラッ
クエラー信号を演算して出力する請求項３又は４記載の
光ディスク装置。 - 【請求項６】 前記光学素子は、前記反射光のファーフ
ィールド中に設けられ、前記反射光を４つの光ビームに
分割し、分割した光ビームを互いに異なる方向へ偏向さ
せ、前記光検出系は、前記４つの光ビームのそれぞれの
焦点に配置された二分割光検出器を含む請求項１又は２
記載の光ディスク装置。 - 【請求項７】 前記二分割光検出器は、それぞれの分割
線の方向が同一である請求項６記載の光ディスク装置。 - 【請求項８】 前記演算手段は、前記二分割光検出器の
各検出部の出力の差の２つ又は４つの和を取ることから
フォーカスエラー信号を演算して出力し、前記トラック
が連続グルーブを有する場合は、前記トラックの中心線
の同じ側に位置する光ビームの前記二分割光検出器の出
力の和の差を取ることからトラックエラー信号を演算し
て出力し、前記トラックがピット列のみを有する場合
は、前記それぞれの焦点に配置された二分割光検出器の
各検出部の出力の和の、前記反射光の断面上の前記光ビ
ームの配置における対角の和の差を取ることによってな
る信号と前記二分割光検出器全ての出力の和を取ること
によってなる信号との位相のずれからトラックエラー信
号を演算して出力する請求項６又は７記載の光ディスク
装置。 - 【請求項９】 前記光学素子は、前記反射光のファーフ
ィールド中に設けられ、前記反射光を、前記トラックの
中心線の両側に２分割、前記トラック方向に３分割し、
分割した光ビームを互いに異なる方向へ偏向させ、前記
光検出器は、前記分割した光ビームの、内部の２つの光
ビームのそれぞれの焦点に配置された光検出器と、その
他の４つの光ビームのそれぞれの焦点に配置された二分
割検出器とを含む請求項１又は２記載の光ディスク装
置。 - 【請求項１０】 前記演算手段は、前記二分割光検出器
の各検出部の出力の差の２つ又は４つの和を取ることか
らフォーカスエラー信号を演算して出力し、前記トラッ
クが連続グルーブを有する場合は、前記内部の２つの光
ビームのそれぞれの焦点に配置された光検出器の出力の
差を取ることから、又は前記トラックの中心線の同じ側
に位置する光ビームの前記光検出器及び前記二分割光検
出器の出力の和の差を取ることからトラックエラー信号
を演算して出力し、前記トラックがピット列のみを有す
る場合は、前記それぞれの焦点に配置された二分割光検
出器の各検出部の出力の和の、前記反射光の断面上の前
記光ビームの配置における対角の和の差を取ることによ
ってなる信号と前記光検出器及び前記二分割光検出器全
ての出力の和を取ることによってなる信号との位相のず
れからトラックエラー信号を演算して出力する請求項９
記載の光ディスク装置。 - 【請求項１１】 前記光学素子は、前記記録媒体上に照
射するための光ビームを、前記反射光とは逆方向へ、０
次光として透過させるべく配置された請求項１〜１０の
何れかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項１２】 前記光学素子は、前記記録媒体上に照
射するための光ビームを、前記反射光とは逆方向へ、０
次光として透過させるべく配置され、また、前記反射光
の一部を偏光分離し、前記光検出系は、この偏光分離し
た２つの光ビームをそれぞれ受光して情報信号を再生す
るための光検出器を含む請求項１〜１１の何れかに記載
の光ディスク装置。 - 【請求項１３】 前記光学素子は、前記反射光の一部を
０次光として透過させ、前記光検出系は、この０次光と
して透過した光ビームを受光して情報信号を再生するた
めの光検出器を含む請求項１〜４の何れかに記載の光デ
ィスク装置。 - 【請求項１４】 前記演算手段は、前記光ビームの焦点
に配置された二分割光検出器の各検出部の出力の、前記
反射光の断面上の前記光ビームの配置における対角の和
の差を取ることからフォーカスエラー信号を演算して出
力し、前記トラックが連続グルーブを有する場合は、前
記ファーフィールドに配置された二分割光検出器毎の、
検出部の出力の和の差を取ることからトラックエラー信
号を演算して出力し、前記トラックがピット列のみを有
する場合は、前記二分割光検出器の検出部の出力の、前
記反射光の断面上の前記光ビームの配置における対角の
和の差を取ることによってなる信号と情報信号を再生す
るための光検出器の出力信号との位相のずれからトラッ
クエラー信号を演算して出力する請求項１３記載の光デ
ィスク装置。 - 【請求項１５】 前記光学素子は、前記反射光の一部を
０次光として透過させ、前記光検出系は、この０次光と
して透過した光ビームを受光して情報信号を再生するた
めの光検出器を含む請求項６又は７記載の光ディスク装
置。 - 【請求項１６】 前記演算手段は、前記二分割光検出器
の各検出部の出力の差の２つ又は４つの和を取ることか
らフォーカスエラー信号を演算して出力し、前記トラッ
クが連続グルーブを有する場合は、前記トラックの中心
線の同じ側に位置する光ビームの二分割光検出器の出力
の和の差を取ることからトラックエラー信号を演算して
出力し、前記トラックがピット列のみを有する場合は、
前記それぞれの焦点に配置された二分割光検出器毎の検
出部の出力の和の、前記反射光の断面上の前記光ビーム
の配置における対角の和の差を取ることによってなる信
号と情報信号を再生するための光検出器の出力信号との
位相のずれからトラックエラー信号を演算して出力する
請求項１５記載の光ディスク装置。 - 【請求項１７】 前記光学素子は、前記反射光の一部を
０次光として透過させ、前記光検出系は、この０次光と
して透過した光ビームを受光して情報信号を再生するた
めの光検出器を含む請求項９記載の光ディスク装置。 - 【請求項１８】 前記演算手段は、前記二分割光検出器
の各検出部の出力の差の２つ又は４つの和を取ることか
らフォーカスエラー信号を演算して出力し、前記トラッ
クが連続グルーブを有する場合は、前記内部の２つの光
ビームのそれぞれの焦点に配置された前記光検出器の出
力の差を取ることから、又は前記トラックの中心線の同
じ側に位置する光ビームの前記光検出器及び前記二分割
光検出器の出力の和の差を取ることからトラックエラー
信号を演算して出力し、前記トラックがピット列のみを
有する場合は、前記それぞれの焦点に配置された二分割
光検出器の各検出部の出力の和の、前記反射光の断面上
の前記光ビームの配置における対角の和の差を取ること
によってなる信号と情報信号を再生するための光検出器
の出力信号との位相のずれからトラックエラー信号を演
算して出力する請求項１７記載の光ディスク装置。 - 【請求項１９】 前記光学素子は、前記反射光が入射さ
れる複数の領域を有し、その内の２つの領域それぞれか
ら＋１次回折光の光ビーム及び−１次回折光の光ビーム
を出力する回折光学素子であり、前記光検出系は、前記
＋１次回折光の光ビーム及び−１次回折光の光ビームの
何れか一方の２つの光ビームのそれぞれのファーフィー
ルドに配置された二分割光検出器と、他方の２つの光ビ
ームのそれぞれの焦点に配置された二分割光検出器とを
含む請求項１又は２記載の光ディスク装置。 - 【請求項２０】 前記ファーフィールドに配置された二
分割光検出器は、それぞれの分割線が前記トラックと平
行であり、前記焦点に配置された二分割光検出器は、そ
れぞれの分割線が前記トラックと直角である請求項１９
記載の光ディスク装置。 - 【請求項２１】 前記ファーフィールドに配置された二
分割光検出器は、一方は集光前のファーフィールドに配
置され、他方は集光後のファーフィールドに配置されて
いる請求項１９又は２０記載の光ディスク装置。 - 【請求項２２】 前記光学素子は、前記トラックと直角
方向の分割線により分割された２つの前記領域を有する
請求項１９〜２１の何れかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項２３】 前記演算手段は、前記焦点に配置され
た二分割光検出器の各検出部の出力の、前記反射光の断
面上の前記光ビームの配置における外側２つの検出部の
和と内側２つの検出部の和との差を取ることからフォー
カスエラー信号を演算して出力し、前記トラックが連続
グルーブを有する場合は、前記ファーフィールドに配置
された二分割光検出器の検出部の出力の、前記トラック
の直角方向における同じ側の和の差を取ることからトラ
ックエラー信号を演算して出力し、前記トラックがピッ
ト列のみを有する場合は、前記二分割光検出器の検出部
の出力の、前記反射光の断面上の前記光ビームの配置に
おける対角の和の差を取ることによってなる信号と前記
二分割光検出器全ての出力の和を取ることによってなる
信号との位相のずれからトラックエラー信号を演算して
出力する請求項２２記載の光ディスク装置。 - 【請求項２４】 前記光学素子は、前記トラックと直角
方向の２本の分割線により分割された３つの前記領域を
有し、その内の外側２つの領域のそれぞれから＋１次回
折光の光ビーム及び−１次回折光の光ビームを出力し、
中央部の領域から光ビームを出力する回折光学素子であ
り、前記光検出系は、前記＋１次回折光の光ビーム及び
−１次回折光の光ビームの何れか一方の２つの光ビーム
のそれぞれのファーフィールドに配置された二分割光検
出器と、他方の２つの光ビームのそれぞれの焦点に配置
された二分割光検出器と、前記中央部の領域からの光ビ
ームを受光して情報信号を再生するための光検出器とを
含む請求項１９〜２１の何れかに記載の光ディスク装
置。 - 【請求項２５】 前記演算手段は、前記焦点に配置され
た二分割光検出器の各検出部の出力の、前記反射光の断
面上の前記光ビームの配置における外側２つの検出部の
和と内側２つの検出部の和との差を取ることからフォー
カスエラー信号を演算して出力し、前記トラックが連続
グルーブを有する場合は、前記ファーフィールドに配置
された二分割光検出器の検出部の出力の、前記トラック
の直角方向における同じ側の和の差を取ることからトラ
ックエラー信号を演算して出力し、前記トラックがピッ
ト列のみを有する場合は、前記ファーフィールドに配置
された二分割光検出器の検出部の出力の、前記反射光の
断面上の前記光ビームの配置における対角の和の差を取
ることによってなる信号と、前記中央部の領域からの光
ビームを受光する光検出器の出力信号との、又は該光検
出器及び４つの前記二分割光検出器の出力の和を取るこ
とによってなる信号との位相のずれからトラックエラー
信号を演算して出力する請求項２４記載の光ディスク装
置。 - 【請求項２６】 前記光学素子は、前記記録媒体上に照
射するための光ビームを、前記反射光とは逆方向へ、０
次光として透過させるべく配置された請求項１９〜２３
の何れかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項２７】 前記光検出系は、同一平面上に設けら
れた請求項１〜２６の何れかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項２８】 前記光検出系は、同一基板上に設けら
れた請求項２７記載の光ディスク装置。 - 【請求項２９】 前記光検出系は、同一基板上に設けら
れ、前記記録媒体上に照射するための光ビームを発生す
る光源が前記基板上に設けられた請求項１１，１２，２
６の何れかに記載の光ディスク装置。 - 【請求項３０】 前記光源を前記基板上で支持し、該光
源が発生する熱を放熱する支持部材を備えた請求項２９
記載の光ディスク装置。 - 【請求項３１】 前記光検出系は、同一基板上に設けら
れ、前記光ビームを発生する光源からの光ビームを前記
光学素子の方向へ偏向するミラーが、前記基板上に設け
られた請求項２６記載の光ディスク装置。 - 【請求項３２】 前記光検出系と前記光源とを内部に収
納すべく設けられたハウジングを前記基板上に備え、前
記光学素子は該ハウジングの表面に固定された請求項２
９又は３０記載の光ディスク装置。 - 【請求項３３】 前記焦点に配置された二分割光検出器
及び前記ファーフィールドに配置された二分割光検出器
は、前記回折光学素子の同じ領域からの光ビームを受光
するもの同士が、同一基板上で、前記記録媒体上に照射
するための光ビームの断面に対して対称の位置に設けら
れた請求項１９〜２６，２９，３０〜３２の何れかに記
載の光ディスク装置。 - 【請求項３４】 前記演算手段は、前記基板上に設けら
れた請求項２８〜３３の何れかに記載の光ディスク装
置。 - 【請求項３５】 前記光検出系は、前記基板上に直接形
成された請求項２８〜３４の何れかに記載の光ディスク
装置。 - 【請求項３６】 前記光学素子はホログラム光学素子で
ある請求項１〜３５の何れかに記載の光ディスク装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7180427A JPH0935284A (ja) | 1995-07-17 | 1995-07-17 | 光ディスク装置 |
| US08/637,936 US5859819A (en) | 1995-07-17 | 1996-04-23 | Tracking and focus control system for optical disk apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7180427A JPH0935284A (ja) | 1995-07-17 | 1995-07-17 | 光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0935284A true JPH0935284A (ja) | 1997-02-07 |
Family
ID=16083073
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7180427A Pending JPH0935284A (ja) | 1995-07-17 | 1995-07-17 | 光ディスク装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5859819A (ja) |
| JP (1) | JPH0935284A (ja) |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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