DE69722099T2 - Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Geschwindigkeit einer Speichereinheit in einer integrierten Schaltung - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Geschwindigkeit einer Speichereinheit in einer integrierten Schaltung Download PDF

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Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich allgemein auf Techniken zur Messung der Geschwindigkeit einer Speichereinheit in einer integrierten Schaltung (IC) und insbesondere auf eine eingebaute Hardware-Vorrichtung zum Messen eines Zeitintervalls zwischen zwei aufeinander folgenden Ausgaben der Speichereinheit.
  • Wie in der Technik bekannt ist, ist es sehr wichtig, die Geschwindigkeit einer Speichereinheit, die in einem IC vorgesehen ist, genau zu bestimmen. Eine nützliche Messung der Geschwindigkeit einer Speichereinheit ist die Zeit, die zwischen dem Beginn eines Arbeitsschritts und der Beendigung dieses Arbeitsschritts vergeht. Diese wird als Speicherzugriffszeit bezeichnet. Eine weitere wichtige Messung ist die Speicherzykluszeit, welche die minimale Zeitverzögerung ist, die zwischen dem Beginn von zwei aufeinander folgenden Speichervorgängen liegt.
  • Eine bekannte Technik zur Messung der Geschwindigkeit von IC-Speicher besteht darin, aufeinander folgend Speicheradressen von außen anzulegen und jede Speicherausgabe zu erfassen. Ein IC-Prüfgerät wird verwendet, um die Zeitverzögerung zwischen dem Anlegen der jeweiligen Adresse und der Erfassung der Daten, die aus dem Speicher stammen, zu messen. Wie bekannt ist, ist ein Pufferverstärker zwischen dem Speicher und den Ausgabestiften vorgesehen. Diese Pufferverstärkereinheit hat die Eigenheit, für eine relativ große Verzögerung zu sorgen, bevor die Daten aus der Speichereinheit über die IC-Ausgabepins erhalten werden. Daher ist es mit dem genannten Verfahren sehr schwierig, die Geschwindigkeit der Speichereinheit genau zu messen.
  • Ein weiterer Ansatz zur Messung der Speichergeschwindigkeit besteht darin, eine Speichergeschwindigkeits-Messeinheit innerhalb des IC-Speichers selbst vorzusehen. Ein Beispiel für solche Techniken ist in der japanischen offengelegten Patentanmeldung Nr. 4-274100 offenbart. Gemäß dieser herkömmlichen Technik ist eine Anzahl von Verzögerungselementen in einem IC-Speichermodul eingebaut, um die Speicherzugriffszeit zu bestimmen. Diese Technik erfasst eine Speicherzugriffszeit, jedoch in einem Zeitintervall, das durch die Verzögerungselemente festgelegt ist, und dementsprechend kann nicht erwartet werden, dass es die Geschwindigkeit der Speichereinheit genau bestimmt.
  • Die US-A-3805152 offenbart eine Hardware-Vorrichtung zum Messen der Geschwindigkeit einer Speichereinheit, die einen Speicher umfasst, der eine Anzahl von Speicherworten mit logischen Werten aufweist, die abwechselnd in der Reihenfolge der Speicheradressen wechseln und eine Adressinkrementschaltung zum Erzeugen einer Speicheradresse, die an den Speicher angelegt wird, um einen Frequenzzähler zu umfassen, der mit dem Ausgang der Schaltung verbunden ist, um die Schwingung des Geräts zu überwachen.
  • Es ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Hardware-Vorrichtung vorzusehen, die in ein Speichermodul eingebaut ist und die in der Lage ist, die Geschwindigkeit des Speichers genau zu messen.
  • Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren zum genauen Messen der Geschwindigkeit von Speicher unter Verwendung einer eingebauten Mess-Hardware bereitzustellen.
  • Diese Aufgabe wird durch eine Hardware-Vorrichtung gelöst, wie sie in Anspruch 1 beansprucht wird und durch ein Verfahren, wie es in Anspruch 4 beansprucht wird; die übrigen Ansprüche beziehen sich auf weitere Ausgestaltungen der Erfindung.
  • Kurz gefasst, werden diese Aufgaben durch eine Technik gelöst, wonach die Speichereinheit mindestens ein Bitdatum an einer festgelegten Bitposition in jedem Speicherwort speichert, um die Geschwindigkeit der Speichereinheit genau zu messen. Das heißt, der logi sche Wert des Einbitdatums ändert sich abwechselnd in der Reihenfolge der Speicheradresse. Eine Adressinkrementschaltung, die in einem Modul, das die Speichereinheit umfasst, vorgesehen ist, erzeugt aufeinander folgend Speicheradressen, die an den Speicher angelegt werden. Die Adressinkrementschaltung inkrementiert eine Speicheradresse in Abhängigkeit von der Ausgabe des Speichers. Die Speichergeschwindigkeit zwischen zwei aufeinanderfolgenden Speicherausgaben wird durch die Messung einer Pulsbreite eines Pulssignals erfasst, das von der Speichereinheit ausgegeben wird. Dadurch kann eine relativ große Verzögerung, die ansonsten in einem Pufferverstärker verursacht wird, wirksam ausgeglichen werden.
  • Die Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung deutlicher werden in Verbindung mit den begleitenden Zeichnungen, in denen übereinstimmende Elemente mit übereinstimmenden Referenzzeichen bezeichnet sind, und wobei:
  • 1 ein Blockdiagramm ist, das eine allgemeine Anordnung eines ersten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung zeigt;
  • 2A und 2B jeweils eine Tabelle ist, die Speicheradressen und dort gespeicherte Daten zeigt;
  • 3 ein Zeitdiagramm zum Gebrauch bei der Beschreibung des Betriebs der Anordnung von 1 ist;
  • 4 ein Blockdiagramm ist, das eine Einzelheit eines Blocks aus 1 zeigt;
  • 5 ein Blockdiagramm ist, das eine allgemeine Anordnung eines zweiten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung zeigt; und
  • 6 ein Blockdiagramm ist, das eine Einzelheit eines Blocks aus 5 zeigt.
  • Es wird nun auf 1 Bezug genommen, in der ein erstes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung in Form eines Blockdiagramms allgemein veranschaulicht ist. Dabei ist zu beachten, dass 1 nur eine Anordnung zeigt, die sich direkt mit der Speicherge schwindigkeits-Messung gemäß der vorliegenden Erfindung befasst. Demgemäß werden verschiedene Anschlüsse einer Speichereinheit zum Zwecke der Vereinfachung der Offenbarung nicht gezeigt, die im normalen Betrieb verwendet werden und in der Technik wohl bekannt sind.
  • Die Anordnung von 1 wird zusammen mit 2A, 2B und 3 beschrieben. Wie in 1 gezeigt, enthält ein Speichermodul (oder funktionelles Speichermakro) 10 einen asynchronen Speicher (oder eine Speicheranordnung) 12, eine Adressinkrementschaltung 14 und einen Pufferverstärker 16. Der Speicher 12 kann als RAM (Freizugriffsspeicher), ROM (Festwertspeicher) usw. vorliegen. Wenn die Geschwindigkeit des Speichers 12 gemessen werden soll, werden zwei Arten von Daten (nämlich alles „1-en" und alles „0-en" abwechselnd in den Speicherworten des Speichers 12 in der Reihenfolge der Speicheradressen gespeichert, wie in 2A gezeigt. Das Schreiben der Daten aller „1-en" und aller „0-en" wird auf eine Weise durchgeführt, die Fachleuten bekannt ist. In 2A gibt ein Buchstabe H, der an jede Speicheradresse angehängt ist, an, dass die Adresse in Hexadezimal-Schreibweise wiedergegeben ist. Die Speicherwortlänge selbst wird von der vorliegenden Erfindung nicht betroffen.
  • Um die Speichergeschwindigkeits-Messung zu beginnen, wird ein Testsignal 18 zum Zeitpunkt T1 an die Adressinkrementschaltung 14 angelegt (3). Das Testsignal 18 veranlasst die Schaltung 14, eine Ausgabe 20 der Speicheranordnung 12 anstelle eines Adressbus 22 und einer Taktleitung 24 auszuwählen. Um deutlich zu zeigen, dass der Adressbus 22 und die Taktleitung 24 bei der Speichergeschwindigkeits-Messung nicht verwendet werden, sind sie durch gestrichelte Linien gezeigt. Danach legt die Adressinkrementschaltung 14 die erste Adresse „OOOH" an den Speicher 12 an, der nur „1"-Daten an den Datenausgabeanschlüssen des Speichers 12 ausgibt. Ein Einbitdatum unter den gesamten Daten, die vom Speicher 12 ausgegeben werden, wird an die Adressinkrementschaltung 14 und ebenfalls an den Pufferverstärker 16 angelegt. Da die Daten, die von der Speicheranordnung 12 ausgegeben werden, nur „1-en" oder nur „0-en" zeigen, wird das genannte Einbitdatum willkürlich ausgewählt, wenn die in 1 gezeigte Speichergeschwindigkeits-Messanordnung entworfen wird.
  • Der Betrieb der Anordnung aus 1 wird unter Bezug auf 3 weiter beschrieben. Die Schaltung 14 aus 1 gibt, in Abhängigkeit von dem „1" anzeigenden Bitdatum, das ihr aus dem Speicher 12 zugeführt worden ist, die nächste Speicheradresse „001H" an den Speicher 12 an. Also empfängt die Schaltung 14 der Reihe nach ein Bitdatum, das „0" anzeigt, woraufhin die Schaltung 14 die nächste Speicheradresse „002H" an den Speicher 12 anlegt. Diese Vorgänge werden wiederholt, bis das Testsignal 18, wie zu einem Zeitpunkt T2, beendet wird (3).
  • Wie oben erwähnt, werden die Speicherbitdaten ebenfalls an den Pufferverstärker 16 angelegt, dessen Ausgabe dort verzögert wird und an einem Messanschluss 26 erscheint. Die Daten am Messanschluss 26 nehmen abwechselnd hohe und niedrige Logikpegel (nämlich „1" und „0") an, wie in der unteren Reihe von 3 gezeigt. Dieses Pulssignal, das am Messanschluss 26 erscheint, wird dann an eine geeignete Messausrüstung (nicht gezeigt) angelegt, die die Pulsbreite misst, die einer Speicherzykluszeit entspricht (bezeichnet durch MC). In der unmittelbaren Offenbarung bedeutet ein Zeitintervall zwischen zwei aufeinander folgenden Speicherausgaben die Speicherzykluszeit. Es ist verständlich, dass die Verzogerung im Pufferverstärker 16 durch die Messung der Pulsbreite wirksam beseitigt wird.
  • 4 ist ein Blockdiagramm, das eine Einzelheit der Adressinkrementschaltung 14 aus 1 zeigt. Wie in 4 gezeigt, umfasst die Anordnung eine Inkrementschaltung 30, zwei Selektoren 32 und 34, einen Zwischenspeicher 36 und einen Haltesignalgenerator 38. Außerdem enthält der Generator 38 zwei Inverter 40 und 42 und ein Exklusiv-ODER-Gatter 44.
  • Wenn die Geschwindigkeit des Speichers 12 (1) gemessen werden soll, wird das Testsignal 18 an die Adressinkrementschaltung 14 aus 4 angelegt. In Abhängigkeit vom Testsignal 18, das einen hohen Logikpegel annimmt, fährt der Selektor 32 fort, eine Ausgabe der Inkrementschaltung 30 anstatt des externen Adress-Signals über den Adressbus 22 auszuwählen. Der andere Selektor 34 reagiert ebenfalls auf das Testsignal 18 (das den hohen Logikpegel annimmt) und wählt die Ausgabe des Haltesignalgenerators 38 an stelle des Takts 24. Wenn das Taktsignal 18 den hohen Logikpegel annimmt, wird die Inkrementschaltung 30 zurückgesetzt und gibt das erste Adress-Signal „OOOH" aus. Der Zwischenspeicher 36 reagiert auf das Mess-Signal 18, indem er den hohen Logikpegel annimmt und hält die erste Adresse „OOOH", die so an den Speicher 12 angelegt wird. Außerdem reagiert die Inkrementschaltung 30 auf die Ausgabe des Adress-Signals vom Zwischenspeicher 36 und erhöht die Adresse im unmittelbaren Stadium auf „001H".
  • Danach wird das vom Speicher 12 ausgegebene Bitdatum „1" an den Haltesignalgenerator 38 angelegt. Es wird angenommen, dass der Haltesignalgenerator 38 anfangs mit einem Logikpegel „0" versorgt wird. Die in Reihe geschalteten Inverter 40 und 42 dienen als Verzögerungsschaltung. Wenn die Eingabe in den Generator 38 von „0" auf „1" wechselt, wird dementsprechend ein Puls aus dem Exklusiv-ODER-Gatter 44 erzeugt und weist eine sehr geringe Pulsbreite auf. Wenn der Eingang in den Generator 38 von „1" auf „0" wechselt, wird ebenfalls der gleiche Puls, der oben erwähnt wurde, von dem Gatter 44 erzeugt. Die Ausgabe des Gatters 44 wird als Haltesignal 46 bezeichnet. Zusammenfassend wird ein Puls mit einer schmalen Pulsbreite erzeugt, wenn die Bitdaten 20 von „1" auf „0" wechseln oder umgekehrt, wie in 4 gezeigt. Jede Pulsbreite des Haltesignals 46, die durch die Verzögerung bestimmt wird, die durch die beiden Inverter 40 und 42 erfolgt, hat einen sehr kleinen Wert und kann bei der Messung der Speichergeschwindigkeit vernachlässigbar sein.
  • Der Zwischenspeicher 36 reagiert auf die ansteigende Flanke des Haltesignals 46 und hält die nächste Adresse „001H", die an den Speicher 12 angelegt wird. Wie oben erwähnt, reagiert die Inkrementschaltung 30 auf die neue gehaltene Adresse und erhöht deren Inhalt im unmittelbaren Fall auf „002H". Diese Vorgänge werden wiederholt, bis das Mess-Signal 18 beendet wird (also einen niedrigen Logikpegel annimmt).
  • In der obigen Beschreibung werden nur „1" und nur „0" -Daten abwechselnd in den Speicheradressen, beginnend mit der ersten Adresse „OOOH", gespeichert. Es ist jedoch möglich, abwechselnd nur „0" und nur „1" -Daten von der ersten Adresse „OOOH" zu speichern.
  • In diesem Fall wird ein Inverter vor dem Haltesignalgenerator 38 eingefügt, während ein weiterer Inverter vor dem Pufferverstärker 16 eingefügt wird.
  • Im ersten Ausführungsbeispiel wird nur ein Bitdatum aus dem Speicher 12 benötigt. Daher ist es nicht nötig, nur „1" und nur „0" -Daten in den Speicherworten zu speichern. Das soll heißen, wie in 2B gezeigt, dass es ausreichend ist, abwechselnd „1" und „0"-Bitdaten an einer vorgegebenen Bitposition jedes Speicherworts zu speichern. In 2B zeigt ein Sternchen an, dass die Bitdaten jeden logischen Wert (nämlich „1" oder „0") annehmen können.
  • Ein zweites Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird unter Bezug auf die 5 und 6 beschrieben.
  • Das zweite Ausführungsbeispiel unterscheidet sich vom ersten darin, dass jenes Ausführungsbeispiel mit einer Adressinkrementschaltung 14' versehen ist, die eine Anzahl von Bitsignalen (bezeichnet durch 20') aus dem Speicher 12 empfängt und dann ein Bitsignal unter diesen auswählt. Der Pufferverstärker 16 empfängt ein Bitsignal (bezeichnet durch 20'') unter den Bitsignalen 20'. Abgesehen davon ist das zweite Ausführungsbeispiel mit dem ersten Ausführungsbeispiel identisch. Figur 6 zeigt eine Einzelheit der Adressinkrementschaltung 14'. Wie gezeigt, ist dort ein Bitselektor 50 vor dem Haltesignalgenerator 38 vorgesehen. Der Bitselektor 50 wird mit der Ausgabe 20' des Speichers 12 gespeist und wählt unter Verwendung eines Bitauswahlsignals 52 ein Bit aus. Die übrigen Bereiche von 6 sind identisch mit jenen von 4 und daher wird deren weitere Beschreibung der Kürze halber ausgelassen.
  • Es dürfte verständlich sein, dass die obige Offenbarung nur für zwei mögliche Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung repräsentativ ist und dass das Konzept, auf dem die Erfindung beruht, nicht speziell darauf begrenzt ist.

Claims (5)

  1. Speichermodul zum genauen Messen der Geschwindigkeit einer Speichereinheit, wobei das Speichermodul (10) die Speichereinheit (12) aufweist, die in sich eine Anzahl von aufeinanderfolgenden Speicherwörtern speichert, wobei jedes Speicherwort zumindest ein Einbit-Datum in einer vorgegebenen Bitposition speichert und wobei der logische Wert von dem zumindest einen Einbit-Datum alternierend zwischen 0 und 1 in den aufeinanderfolgenden Speicherwörtern in der Reihenfolge der Speicheradresse wechselt, das Speichermodul ferner eine Adresserhöhungsschaltung (14) aufweist zum Erzeugen einer Speicheradresse, die an die Speichereinheit angelegt wird, und wobei die Adresserhöhungsschaltung die Speicheradresse in Abhängigkeit von dem zumindest einen Einbitdatum erhöht, das aus der Speichereinheit ausgelesen wird, so dass aufeinanderfolgende Speicherwörter aus der Speichereinheit ausgelesen werden, und das Speichermodul ferner einen Pufferverstärker (16) aufweist, der zwischen dem Ausgang der Speichereinheit und dem Speichermodulausgang angeordnet ist, wobei der Pufferverstärker das zumindest eine Einbitdatum in der vorgegebenen Bitposition aus der Speichereinheit empfängt, wobei die Ausgabe des Pufferverstärkers ein Pulszug ist, wodurch die Geschwindigkeit der Speichereinheit durch Messung der Pulsbreite des Pulszuges sichergestellt werden kann, ohne durch eine Verzögerung an dem Pufferverstärker beeinträchtigt zu sein.
  2. Speichermodul nach Anspruch 1, wobei die Adresserhöhungsschaltung Eingaben von einem Adressbus (22) und einer Taktleitung (24) erhält, wobei die Eingaben zum Lesen von Daten aus der Speichereinheit mit Ausnahme der Speichergeschwindigkeitsmessung verwendet werden, wobei die Adresserhöhungsschaltung in Abhängigkeit von einem Testsignal (18), das ihr angelegt wird, eine Ausgabe der Speichereinheit anstatt der Eingaben von dem Adressbus und der Taktleitung auswählt, um die Speichergeschwindigkeitsmessung umzusetzen.
  3. Speichermodul nach Anspruch 1, wobei die Adresserhöhungsschaltung eine Inkrementschaltung (30) aufweist, erste und zweite Selektoren (32, 34), eine Halteschaltung (36) und einen Haltesignalgenerator (38), wobei zur Messung der Geschwindigkeit der Speichereinheit ein Testsignal (18) an die Adresserhöhungsschaltung angelegt wird, wobei das Testsignal den ersten Selektor dazu veranlaßt, eine Ausgabe der Inkrementschaltung anstatt eines externen Adresssignals über einen Adressbus (22) auszuwählen, und den zweiten Selektor veranlaßt, die Ausgabe des Haltesignalgenerators anstatt des Taktes über die Taktleitung (24) auszuwählen.
  4. Verfahren zum Messen der Geschwindigkeit einer Speichereinheit, die in einem Speichermodul vorgesehen ist, mit Speichern von zumindest einem Einbitdatum in einer vorgegebenen Bitposition in jedem einer Anzahl von aufeinanderfolgenden Speicherwörtern, die in der Speichereinheit (10) gespeichert sind, wobei der logische Wert des zumindest einen Einbit-Datums sich abwechselnd zwischen einer Null und einer Eins in den aufeinanderfolgenden Speicherwörtern ändert, Erzeugen einer Speicheradresse, die an die Speichereinheit angelegt wird, wobei die Speicheradresse in Abhängigkeit von zumindest einem Einbitdatum erhöht wird, das aus der Speichereinheit ausgelesen wird, so dass aufeinanderfolgende Wörter aus der Speichereinheit ausgelesen werden und Empfangen der Bitdaten an der vorgegebenen Bitposition von der Speichereinheit mit einem Pufferverstärker (16), wobei die Ausgabe des Pufferverstärkers ein Pulszug ist, wodurch die Geschwindigkeit der Speichereinheit durch Messung der Pulsbreite des Pulszuges sichergestellt wird, ohne durch eine Verzögerung am Pufferverstärker beeinträchtigt zu werden.
  5. Verfahren nach Anspruch 4, mit ferner: Empfangen von Eingaben von einem Adressbus (22) und einer Taktleitung (24), die zum Lesen von Daten von der Speichereinheit mit Ausnahme bei der Speichergeschwindigkeitsmessung verwendet werden, und Antworten auf ein Testsignal (18), das angelegt wird, und Auswählen der Ausgabe der Speichereinheit anstatt der Eingaben von dem Adressbus und der Taktleitung, um die Speichergeschwindigkeitsmessung umzusetzen.
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