DE4031136A1 - Fehlersimulationsverfahren - Google Patents

Fehlersimulationsverfahren

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DE4031136A1
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Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Fehlersimulationsverfahren und betrifft insbesondere ein Fehlersimulationsverfahren, das ausgelegt ist, eine Fehlersimulation einer Logikschaltung bei hoher Geschwindigkeit durchzuführen.
Die Logiksimulation ist als eine Technik bekannt, bei der der Betrieb einer Logikschaltung auf einem Computer realisiert und der Betrieb der Logikschaltung analysiert wird. Es gibt eine Technik zum Durchführen der Logiksimulation mit hoher Geschwindigkeit, bei der ein Vektorprozessor verwendet wird, der den Betrieb bzw. die Verarbeitung einer großen Anzahl von Vektordaten implementieren kann. Diese Technik implementiert eine Integration von Gattern, um die Anzahl des Ladens und Speicherns zu reduzieren, um den Vektorbetrieb mit hoher Geschwindigkeit durchzuführen. Beim Durchführen des Vektorbetriebs durch den Vektorprozessor ist vorzuziehen, daß eine Record-Länge von Daten als ein Objekt für den Betrieb eine feste Länge hat, so daß eine Logikmodifikation implementiert wird, um so die Anzahl von Eingangs- und Ausgangspins für jedes der Logikgatter zum Durchführen der Logiksimulation festzulegen. Die Logikschaltung, die das Objekt der Logiksimulation sein soll, wird logisch in eine Logikschaltungskonfiguration modifiziert, und zwar durch das Logikgatter, bei dem die Anzahl der Eingangs- und Ausgangspins konstant ist, und die Logikgatterdaten zum Beschreiben des Logikgatters werden zu Daten festgelegter Länge gemacht, wodurch die Länge von allen durch den Vektorprozessor zu bearbeitenden Daten auf eine festgelegte Länge bestimmt wird.
Das Logiksimulationsverfahren der Logikschaltung dieser Art ist z. B. in der japanischen, nicht geprüften Patentveröffentlichung von Kokai Nr. 2 21 745/1987 mit dem Titel "Method for Simulating Logic Circuit" offenbart. Dieses Logikschaltungs-Simulationsverfahren läßt einen Logiksimulator zum Simulieren eines Logikbetriebs der Logikschaltung die Simulation gemäß drei Schritten ausführen, d. h. einen ersten Schritt, bei dem die Anzahl der Eingabesignale (die Anzahl von Eingangs- und Ausgangspins) eines Gatters verarbeitet werden, das eine zu simulierende Simulationsschaltung bildet, um mit einer vorbestimmten Basisgatterform übereinzustimmen; der zweite Schritt, bei dem ein Ausgangssignalwert des Gatters in Folge von einem Gatter nach dem anderen fortgepflanzt wird und alle diese Ausbreitungsgatter in der Logikschaltung in Ziel-Einheiten der Ausbreitungsgatter unterteilt werden; und der dritte Schritt, bei dem eine Batch-Berechnung von Ausgabesignalwerten der gesamten unterteilten Gatter stattfindet.
Als Fehlersimulationsverfahren ist eine Technik bekannt, bei der eine Fehlersimulation durchgeführt wird, indem ein Fehlerwert in einen Fehlerannahmeabschnitt einer Logikschaltung eingeführt wird, die Objekt für die Fehlersimulation ist, und eine Simulation auf eine ähnliche Weise wie bei der Logiksimulation durchgeführt wird. Da bei diesen Fehlersimulationsverfahren die Schwierigkeit auftritt, daß sich ein Fehler ausbreitet bzw. fortpflanzt, wenn er sich durch die Logikschaltung erstreckt bzw. durch diese läuft, so daß eine Verfolgungsverarbeitung eines Pfades der Fortpflanzung des Fehlers kompliziert wird, ist die Logikschaltung, die Objekt der Fehlersimulation sein soll, in diesem Falle auf ein Ein-Eingangsgatter beschränkt und ein Fehlerlogikwert wird an dem Pin des Gatters eingestellt, wodurch der Fehler in die Logikschaltung eingebracht wird.
Um beim Durchführen der Logiksimulation die Verarbeitung bei hoher Geschwindigkeit unter Verwendung des Vektorprozessors zu implementieren, wird die Logikschaltung logisch in die Logikschaltungskonfiguration modifiziert bzw. umgesetzt, bei der Logikgatter eine Basisgatterform erhalten, bei der die Anzahl der Eingabe- und Ausgabepins jedes Logikgatters festgelegt ist, wobei jedoch die Position der Pins des Gatters der aktuellen Logikschaltung, der die Logiksimulation auszusetzen ist, nicht den Pins des Gatters nach der logischen Modifikation auf eine 1 : 1-Weise entsprechen muß. Daher kann der Fehlerwert nicht leicht in den Fehlerannahmeteil der betroffenen logischen Schaltung eingeführt werden, so daß die Fehlersimulation nicht geeignet ausgeführt werden kann. Um eine 1 : 1-Korrespondenz der Positionen der Pins des Gatters bzw. der Gatter der aktuellen Logikschaltung als das Objekt für die Logiksimulation zu den Positionen der Pins des Gatters, das der logischen Modifikation folgt, zu erzielen, kann die Logikschaltung logisch in Logikgatter in einer Basisgatterform modifiziert bzw. umgesetzt werden, bei der die Anzahl von Eingabe- und Ausgabepins festgelegt ist. Diese logische Modifikation erfordert jedoch mehr Gatter mit festgelegtem Wert und Erzeugungsgatter, wodurch die Schwierigkeit besteht, daß die Fehlersimulation einer großen (Lager-scale) Logikschaltung nicht mit hoher Geschwindigkeit ausgeführt werden kann.
Es ist weiterhin anzumerken, daß das Einführen des Fehlerlogikwertes zum Durchführen der Fehlersimulation erfordert, daß sich der Fehlerlogikwert des Gatters oder des Pins, bei dem ein Fehler angenommen wird, während der Fehlersimulation verändert, so daß, wenn der Fehlerlogikwert nicht leicht eingeführt werden kann, es erforderlich ist, daß während der Fehlersimulation bei Bedingungen auf eine komplexe Art und Weise verzweigt werden könnte. Hierbei kann jedoch aus der Hochgeschwindigkeits-Verarbeitungsfähigkeit des Vektorprozessors nicht hinreichend Vorteil gezogen werden.
Es ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Fehlersimulationsverfahren zu schaffen, mit dem eine Fehlersimulation bei hoher Geschwindigkeit unter Verwendung des Vektorprozessors durchgeführt werden kann.
Es ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Fehlersimulationsverfahren anzugeben, das ein leichtes Einführen des Fehlerlogikwertes ermöglicht und eine Fehlersimulationsverarbeitung gestattet, die aus der Hochgeschwindigkeitsverarbeitungsfähigkeit des Vektorprozessors hinreichend Vorteil zieht.
Um die genannten Ziele zu erreichen, schafft die vorliegende Erfindung ein Fehlersimulationsverfahren zum Erfassen eines Fehlers in einer Logikschaltung durch Einführen eines Fehlerlogikwertes in eine Position einer Fehlerannahme in der Logikschaltung, die der Fehlersimulation auszusetzen ist, und durch Durchführen einer logischen Simulation, wobei das Verfahren die folgenden Schritte aufweist.
Durchführen einer logischen Modifikation der der Fehlersimulation auszusetzenden Logikschaltung in eine Logikschaltungskonfiguration mit Logikgattern einer vorbestimmten Grundgatterform;
Erzeugen von Pin-Managementdaten, die eine Korrespondenz von allen Pins nach der logischen Modifikation und die Position einer Fehlerannahme bei jedem der Pins von der Logikmodifikation auf die Gatter anzeigen; und
Einführen des Fehlerlogikwertes in die Position der Fehlerannahme von jedem der Pins der Logikschaltung nach der Logiksimulation entsprechend jedem der Pins vor der Logikmodifikation, wobei auf die Pin-Managementdaten Bezug genommen wird.
Es ist anzumerken, daß das Einführen des Fehlerlogikwertes gekennzeichnet ist durch Verbinden des Gatters festgelegten Wertes und grundlegender Gatterform, das den Fehlerlogikwert erzeugt, mit den Eingangspins des Logikgatters, in dem der Fehlerlogikwert eingeführt wird.
Bei dieser Anordnung sind die Logikgatterdaten der der Fehlersimulation auszusetzenden Logikschaltung Daten festgelegter Länge, so daß die Fehlersimulation implementiert wird, indem das Logikgatter in die Logikschaltungskonfiguration logisch umgesetzt wird, bei der das Logikgatter die grundlegende Gatterform mit einer konstanten Anzahl von Eingangs- und Ausgangspins hat, und durch Einführen des Fehlerlogikwertes in das Logikgatter der logisch modifizierten Logikschaltung. Daher kann die Fehlersimulation mit hoher Geschwindigkeit verarbeitet werden, indem die Daten festgelegter Länge mit dem Vektorprozessor verarbeitet werden. Wenn das Logikgatter logisch modifiziert worden ist, werden die Pin-Managementdaten erzeugt, die eine Korrespondenz von jedem der Pins des Gatters nach der logischen Modifikation zu der Position einer Fehlerannahme von jedem der Pins des Gatters vor der Logikmodifikation angeben, und der Fehlerlogikwert wird in das Logikgatter der Logikschaltung eingeführt, die logisch modifiziert ist. Im Einzelnen wird der Logikwert in die Fehlerannahmeposition von jedem der Pins des Gatters der Logikschaltung nach der Logikmodifikation eingeführt, und zwar entsprechend jedem der Pins vor der Logikmodifikation mit Bezug auf die Pin-Managementdaten. Das Einführen des Fehlerlogikwertes wird implementiert, in dem das Gatter festgelegter Länge mit dem Fehlerlogikwert zur Einführung in das Logikgatter der logisch modifizierten Logikschaltung verbunden wird, in die der Fehlerlogikwert injiziert wird. Die hierbei verwendeten Pin-Managementdaten sind Daten, die die Position eines Fehlerpins managen, anzeigend das Logikgatter, in den der Logikfehlerwert eingeführt ist, dessen Position einer Fehlerannahme vor der Logikmodifikation entspricht. Weiterhin managen die Pin-Managementdaten das Einführen des Fehlerlogikwertes, wobei ein Fehlerwert-Einführungsindikator zum Aufzeichnen und Managen von allen Pinpositionen geliefert wird, von den angenommen werden muß, daß ein Fehler der Logikschaltung vorliegt, die der Fehlersimulation auszusetzen ist. Die Pin-Managementdaten können die Korrespondenz der Position jedes Pins des Logikgatters mit dem Fehlerlogikwert, der bei der Implementierung der Fehlersimulation eingeführt ist, mit der Pinposition vor der Logikmodifikation managen und können weiterhin das Einführen des Fehlers in Entsprechung zu jeder der Pinpositionen managen, wodurch mit der Fehlersimulation bei hoher Effizenz verfahren wird.
Die Logikgatterdaten in dem logisch modifizierten Logikgatter haben einen Zusatz von dem zumindest bzw. am wenigsten notwendigen Erzeugungsgatter und beschreiben die Logikschaltung von dem Gatter mit einer festgelegten Anzahl der Eingangs- und Ausgangspins, so daß eine große Logikschaltung mit dem Vektorprozessor bei hoher Geschwindigkeit simuliert werden kann. Da die Pin-Managementdaten alle Orte aufzeichnen, bei denen ein Fehler in der Logikschaltung anzunehmen ist, die der Fehlersimulation auszusetzen ist, und zwar aus der Beziehung zwischen Pin-Position vor und nach der Logikmodifikation, kann die Fehlersimulation genau, ohne etwas auszulassen, durchgeführt werde. Als Gatter mit festgelegtem Wert wird das Logikgatter der Basisgatterform verwendet, und dieses Gatter festgelegten Werts kann auf dieselbe Weise wie das Basisgatter oder das Erzeugungsgatter behandelt werden, so daß die Fehlersimulation für den eingeführten Fehler durchgeführt werden kann durch Ändern der Verbindung des Gatters mit festgelegtem Wert, wodurch die Fehlersimulation mit hoher Geschwindigkeit realisiert wird.
Weitere Vorteile, Merkmale und Anwendungsmöglichkeiten der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von bevorzugten Ausführungsbeispielen in Verbindung mit der Zeichnung.
Fig. 1 ist ein Schaltungsdiagramm, das ein Beispiel von einer Fehlersimulation auszusetzenden Logikschaltungen zeigt;
Fig. 2 ist eine schematische Darstellung, die ein Beispiel der Logikschaltungen zeigt, die durch logisches Modifizieren der Logikschaltung nach Fig. 1 in eine Logikschaltungskonfiguration durch das Logikgatter der Basisgatterform erhalten sind;
Fig. 3a und 3b sind eine schematische Darstellung, die jeweils die Logikschaltungskonfiguration zeigen, wenn der Fehler eingeführt ist, durch Verbinden des Gatters mit festgelegtem Wert mit der Logikschaltung nach Fig. 2;
Fig. 4 ist eine schematische Darstellung, die ein Beispiel von Formaten der Logikgatterdaten zeigt, die das Logikgatter der Basisgatterform beschreiben;
Fig. 5 ist eine schematische Darstellung eines Beispiels von Formaten der Pin-Managementdaten zum Managen der Fehlerannahmepositionen, wenn der Fehlerlogikwert in die Eingangs- und Ausgangspins des Logikgatters eingeführt ist; und
Fig. 6 ist ein Flußdiagramm, das den Betrieb der Fehlersimulationsverarbeitung mit dem Vektorprozessor bei Bezug auf einen Fluß von Daten zeigt und beschreibt.
Fig. 1 ist ein Schaltungsdiagramm, das ein Beispiel der der Fehlersimulation auszusetzenden Logikschaltung zeigt. In Fig. 1 sind Gatter 1 bis 5 gezeigt, bei denen Gatter 1 ein Gatter mit zwei Eingängen und zwei Ausgängen ist, wohingegen die Gatter 2 bis einschließlich 5 Gatter sind, die jeweils einen Eingang und einen Ausgang haben. Einer der zwei Ausgänge des Gatters 1 wird am Verzweigungspunkt 10 verzweigt und mit den Gattern 2 und 3 verbunden, während der andere der zwei Ausgänge bei einem Verzweigungspunkt 20 verzweigt wird und dann mit den Gattern 4 und 5 verbunden wird, so daß also vier Ausgänge erforderlich sind, um den Ausgang des Gatters 1 zu simulieren.
Das Fehlersimulationsverfahren ist, die Verarbeitung der Fehlersimulation mit einem Vektorprozessor bei hoher Geschwindigkeit zu implementieren, und zwar unter Verwendung von Logikgatterdaten einer der Fehlersimulation auszusetzenden Logikschaltung als Daten festgesetzter Länge, derart, daß die logische Modifikation implementiert wird unter Verwendung eines Logikgatters mit beispielsweise drei Eingängen und drei Ausgängen als Logikgatter einer Basisgatterform, bei der die Anzahl von Eingangs- und Ausgangspins vergeben ist. Daher wird die logische Schaltung nach Fig. 1 logisch in eine logische Schaltung gemäß Fig. 2 modifiziert bzw. umgesetzt. Basisgatter 100 bis einschließlich 104 sind derart angeordnet, daß sie Gattern 1 bis einschließlich 5 der der Fehlersimulation auszusetzenden Logikschaltung entsprechen. Da die logische Umsetzung hier implementiert ist unter Verwendung des Logikgatters mit drei Eingängen und drei Ausgängen, können drei der vier Ausgänge des Gatters 1 beschrieben werden wie sie sind; ein Erzeugungsgatter 120 ist jedoch derart angeordnet, daß es dem Verzweigungspunkt 20 zum Verzweigen entspricht, um einen Negationsausgang bzw. invertierten Eingang zu erhöhen bzw. miteinzuschließen, der im Gatter 1 fehlt.
Wie zuvor beschrieben, wird die Anzahl der Eingänge und Ausgänge des Gatters 1 eingestellt, indem das Erzeugungsgatter 120 zu den Grundgattern 100 bis 104 hinzugefügt wird, und die Logikschaltung nach Fig. 1 wird logisch in eine Schaltungskonfiguration bei Verwendung des Logikgatters einer Grundgatterform umgesetzt. Mit dem Ausgang, der zur Beschreibung der Logikschaltung nach Fig. 1 unter den drei Eingängen von jedem der Basisgatter 100 bis 104 und des Erzeugungsgatters 120 nicht erforderlich ist, sind die Ausgänge von Gattern 110 bis einschließlich 113 mit festgelegtem Wert zum Erzeugen eines festen logischen Werts verbunden, der keinen Einfluß auf den Betrieb irgendeines Gatters ausübt. Wenn z. B. die Logikfunktion des Basisgatters 100 gemäß Fig. 2 UND wäre, ist ein Eingang 145 mit einem Gatter 110 festgelegten Werts, nämlich des logischen Werts "1" verbunden. Jeder der Eingänge der anderen Basisgatter 101, 102, 103 und 104 als auch des Erzeugungsgatters 120 ist auf ähnliche Weise mit allen Ausgängen von den Gattern 110 bis einschließlich 113 festgelegten Wertes verbunden, die einen Logikwert ohne Einfluß auf den Betrieb des Gatters haben.
Die Logikschaltung nach Fig. 2, die durch die Logikmodifikation auf die zuvor beschriebene Weise erzeugt ist, ist derart, daß jedes der Logikgatter durch Logikgatterdaten einer festgelegten Länge beschrieben wird, und ein Zusammenschluß der Logikgatterdaten eine Logikschaltung beschreibt.
Fig. 4 ist eine schematische Darstellung eines Beispiels eines Formats von Logikgatterdaten, die das Logikgatter einer Basisgatterform beschreiben. Das Basisgatter 100, das die Logikschaltung nach Fig. 2 darstellt, wird z. B. mit Logikgatterdaten 400 festgelegter Länge beschrieben, wie es in Fig. 4 gezeigt ist. Andererseits wird das Erzeugungsgatter 120 mit Logikgatterdaten 401 festgelegter Länge desselben Formats wie das Basisgatter 100 beschrieben. Alle Logikgatterdaten haben ein gemeinsames Format für alle Gatter der Basisgatter, der Erzeugungsgatter und der Gatter festgelegten Werts, und haben Logikfunktionsdaten 402, Logikwertdaten 403 und Gatterverbindungsdaten 406. Die Logikfunktionsdaten 402 stellen eine logische Funktion des Gatters dar, d. h. die Funktion eines logischen Betriebs, so wie UND, ODER, Flip-Flop usw. Die Logikwertdaten 403 sind ausgelegt, einen Ausgangswert beim Ausführen der Simulation und Fortpflanzen eines Logikausganges zurück- bzw. beizubehalten. Die Logikwertdaten werden offengelassen, wenn der Ausgang jedes Gatters zur Zeit der Logikmodifikation nicht festgelegt ist. Die Gatterverbindungsdaten 406 sind derart aufgebaut, daß sie Verbindungsdaten enthalten, die der Anzahl von Eingängen und Ausgängen des Gatters entsprechen (in diesem Ausführungsbeispiel ist die Anzahl von Eingängen und Ausgängen insgesamt sechs mit drei Eingängen und drei Ausgängen). Zum Beispiel entsprechen alle Verbindungsdaten von Eingang 1, Eingang 2 und Eingang 3 der Logikgatterdaten 400 des Basisgatters 100 einem Eingang 143, einem Eingang 144 bzw. einem Eingang 145 des Basisgatters 100 nach Fig. 2. Und alle Verbindungsdaten von Ausgang 1, Ausgang 2 und Ausgang 3 entsprechen einem Ausgang 140, einem Ausgang 141 bzw. einem Ausgang 142 des Basisgatters 100. Alle Verbindungsdaten haben ein NICHT-Flag 404, das das Vorliegen oder Nicht-Vorliegen einer Inversion des Logikwertes bei den Eingängen und den Ausgängen darstellt ("1" stellt das Vorliegen der Logikwertinversion dar, wohingehend "0" das Nicht-Vorliegen der Logikwertinversion darstellt), und einen Verbindungsknotenzeiger 405 auf die Logikgatterdaten des Gatters, mit dem sie anzuschließen sind. Fig. 4 zeigt die Logikgatterdaten 400 des Basisgatter 100 und die Logikgatterdaten 401 des Erzeugungsgatters 120 in der Logikschaltung nach Fig. 2.
Gleichzeitig, wenn ein Zusammenschluß bzw. eine Gesamtheit der Logikgatterdaten gemäß Fig. 4 erzeugt wird, und der Konfiguration der auf die zuvor beschriebene Weise logisch modifizierten Logikschaltung zu entsprechen, werden Pin-Managementdaten zum Managen bzw. Organisieren bzw. Verwalten der Position eines Fehlerpins bei Einfügung eines Fehlerlogikwertes in den Pin des Logikgatters erzeugt.
Fig. 5 ist eine schematische Darstellung eines Beispiels eines Formats der Pin-Managementdaten zum Verwalten einer Fehlerannahmeposition bei Einführung des Fehlerlogikwertes in die Eingabe- und Ausgabepins des Logikgatters. Die Pin-Managementdaten werden erzeugt, um allen Gattern der Logikgatterdaten zu entsprechen, die durch die Logikmodifikation erzeugt sind. Zum Beispiel werden die Pin-Managementdaten 500 erzeugt für die Logikgatterdaten 400 (Fig. 4) des Basisgatters 100, angebend die Logikschaltung nach Fig. 2, wohingehend Pin-Managementdaten 501 für die Logikgatterdaten 401 des Erzeugungsgatter 120 erzeugt werden. Die Pin-Managementdaten 500 haben eine Fehlerannahmezahl 502 auf der Eingangsseite (Eingabefehlerannahmezahl), eine Fehlerannahmezahl 503 auf der Ausgabeseite (Ausgabefehlerannahmezahl), Fehlerdaten 504 und 505 auf der Eingabeseite (Eingabefehlerdaten) und Fehlerdaten 504, 506, 507 und 508 auf der Ausgabeseite (Ausgabefehlerdaten). Die Eingabefehlerannahmezahl 502 und die Ausgabefehlerannahmezahl 503 stellen die Anzahl von Positionen der Eingabe- und Ausgabepins unter den Eingabe- und Ausgabepins (in dieser Ausführungsform drei Eingabepins und drei Ausgabepins) des Logikgatters dar, und zwar von den Positionen, von denen angenommen wird, daß sie einen Fehler in der Logikschaltung vor der Logikmodifikation erzeugt haben. Die Eingabefehlerdaten 504 und 505 und die Ausgabefehlerdaten 504, 506, 507 und 508 stellen Fehlerannahmedaten dar, wenn der Fehler in jedem der Eingabe- und Ausgabepins eingebaut bzw. enthalten ist. Insbesondere bestehen die Eingabefehlerdaten aus Pindaten 504, die die Positionen der Eingabe- und Ausgabepins darstellen, annehmend einen Fehler vor der logischen Modifikation, und aus einer Eingabezahl 505, die die Entsprechung zu den Positionen der Eingabe- und Ausgabepins darstellt, und zwar zu deren Eingang des Logikgatters nach der Logikmodifikation. Die Ausgabefehlerdaten bestehen aus den Pindaten 404 und äquivalenten Flags 506, 507 und 508, die darstellen, welcher Ausgang des Logikgatters nach der Logikmodifikation den Positionen der Ausgabepins äquivalent ist, von den angenommen wird, daß sie den Fehler vor der Logikmodifikation haben. Die äquivalenten Flags 506, 507 und 508, auf die hier Bezug genommen wird, entsprechen jedem der Ausgabepins des Logikgatters und die äquivalenten Flags sind vorgesehen, so daß sie der Anzahl der Ausgänge des Gatters entsprechen (in dieser Ausführungsform sind drei Flags vorgesehen, um den drei Ausgängen zu entsprechen). Das äquivalente Flag wird aus "1" eingestellt, wenn der entsprechende Ausgang äquivalent ist, und das äquivalente Flag wird auf "0" eingestellt, wenn der entsprechende Ausgang nicht äquivalent ist. Es ist anzumerken, daß die Pin-Managementdaten 500 nach Fig. 5 Pin-Managementdaten zwischen Pin-Daten des Gatters 1 (Fig. 1) vor der Logikmodifikation und dem Pin des Basisgatters 100 (Fig. 2) beim Beschreiben der Logikgatterdaten (Fig. 4) darstellen, wenn der Fehler für jeden Pin des Logikgatters in der der Fehlersimulation auszusetzenden Logikschaltung angenommen wird.
Wie zuvor beschrieben, wird die Logikmodifikation in die Schaltungskonfiguration durch das Logikgatter der Basisgatterform durchgeführt und die Logikgatterdaten und die Pin-Managementdaten werden erzeugt. Hiernach wird ein Fehlerlogikwert in die Fehlerannahmeposition des Logikgatters eingebracht und dann wird die Verarbeitung der Fehlersimulation implementiert. Das folgende ist eine Beschreibung eines Beispiels der Verarbeitung der Fehlersimulation.
Fig. 6 ist ein Flußdiagramm zum Beschreiben des Betriebs der Fehlersimulationsverarbeitung unter Verwendung eines Vektorprozessors, in Verbindung mit dem Fluß von Daten. Der Vektorprozessor ermöglicht die parallele Batch-Verarbeitung des Betriebs von jedem Vektorelement unter Verwendung eines Vektorregisters 620, wodurch die Betriebsverarbeitung bei hoher Geschwindigkeit implementiert wird.
Zunächst wird das Verfahren der Simulation des Logikwerts von jedem Gatter in einem Zustand vor der Aufnahme des Fehlerlogikwertes mittels der Ereignisausbreitungstechnik in Verbindung mit Fig. 6 beschrieben. Ein Gatterdatenspeicher 611 speichert die Logikgatterdaten für alle Gatter gemäß Fig. 4. Und eine Ereignistabelle 610 speichert eine Adresse der Logikgatterdaten entsprechend dem Logikgatter unter allen Gattern, in dem das Ereignis sich ausbreitet.
Nachdem das System im Schritt 600 gestartet worden ist, geht das Programm zum Schritt 601 über, bei dem die Verarbeitung des Lesens der Logikfunktion der Logikgatterdaten implementiert ist. Diese Verarbeitung involviert das Lesen der Logikfunktionsdaten 402 aus dem Gatterdatenspeicher 611 für alle die Gatter, die aus der Ereignistabelle 610 indiziert sind, und das Laden der Lese-Logikfunktionsdaten in ein Vektorregister VRa. Dann geht das Programm zum Schritt 602 über, bei dem die Verarbeitung des Lesens des Eingangswertes der Logikgatterdaten vollzogen wird, und diese Verarbeitung involviert auf ähnliche Weise das Lesen der Logikwerte der drei Eingänge von dem Gatterdatenspeicher 611 für alle die Gatter, die aus der Ereignistabelle 610 indiziert sind. Im einzelnen wird der Logikwert ausgelesen, durch Geben der Logikgatterdaten, die auf ihrer Eingangsseite angeschlossen sind, von dem Verbindungsknotenzeiger (405; Fig. 4) der Gatterverbindungsdaten auf die Eingangsseite jeder der Logikgatterdaten (400 und 401; Fig. 4) und durch Lesen der Logikwertdaten 403. Zunächst werden die Logikwertdaten 403 von Eingang 1 gelesen, indem die Logikwertdaten ("1", "0", "1", . . .) 403 der Logikgatterdaten gelesen werden, die durch Zeiger (204, 205, 203, . . .) von Eingang 1 angezeigt werden, und dann das Ergebnis in ein Vektorregister VRb eingegeben wird. Auf ähnliche Weise werden die Logikwertdaten 403 von Eingang 2 gelesen, indem die Logikwertdaten ("0", "1", "1", . . .) 403 der Logikgatterdaten gelesen werden, die durch den Zeiger (205, 203, 204, . . .) von Eingang 2 angezeigt werden, und indem das Ergbnis in ein Vektorregister VRc eingegeben wird. Weiterhin wird das Lesen der Logikwertdaten 403 von Eingang 3 inplementiert, indem die Logikwertdaten ("1", "1", "0", . . .) 403 der Logikgatterdaten gelesen werden, die durch Zeiger (203, 204, 206, . . .) von Eingang 3 angezeigt werden, und indem das Ergebnis in ein Vektorregister VRd eingegeben wird. Dieser Betrieb ermöglicht, daß die Logikwerte von Eingang 1, Eingang 2 und Eingang 3 jedes Gatters in die jeweiligen Vektorregister VRb, VRc und VRd geladen werden. Dann werden im Schritt 603 die in die Vektorregister VRb, VRc und VRd geladenen Logikwerte einer logischen Operation ausgesetzt, die von dem Vektorregister VRa instruiert wird, und das Ergebnis wird in einem Vektorregister VRe gespeichert, wonach der Betrieb Schritt 604 übergeht, bei dem abgefragt wird, ob der logische Wert verändert worden ist, der in dem Vektorregister VRe gespeichert ist. Wenn im Schritt 604 entschieden ist, daß der Logikwert verändert worden ist, d. h. daß der in dem Vektorregister VRe gespeicherte Logikwert unterschiedlich von einem Wert der Logikwertdaten 403 ist, die in dem Gatterdatenspeicher gespeichert sind, geht der Programmfluß zu Schritt 605 über, bei dem eine Ereignisregistrierung derart durchgeführt wird, daß eine nächste Ereignistabelle 612 eine Adresse desjenigen Gatters speichert, das mit dem Ausgang desjenigen Gatters zu verbinden ist, in dem der Logikwert verändert worden ist. Hiernach wird im Schritt 606 das Ergebnis der logischen Operation, das in dem Vektorregister VRe gespeichert ist, dann in den Logikwertdaten 403 in dem Gatterdatenspeicher gespeichert, gefolgt von dem Ende der Verarbeitung. Wenn andererseits im Schritt 604 entschieden wird, daß das Ergebnis der logischen Operation oder der logische Wert nicht verändert worden ist, ist keine Verarbeitung erforderlich, so daß die Verarbeitung endet. Dies faßt eine erste Serie der Verarbeitung der Ereignisausbreitung zusammen. Hiernach wird die Ereignistabelle 610 durch die nächste Ereignistabelle 612 ersetzt und dieselbe Verarbeitung wird wiederholt, wodurch die Verarbeitung der Ereignisausbreitung der Reihe nach durchgeführt und die logische Schaltung als ganze logisch simuliert wird.
In der zuvor beschriebenen Ausführungsform sind die Anzahlen der Eingänge und Ausgänge des Basisgatters auf jeweils drei festgelegt und derart formalisiert, daß die Logikgatterdaten Daten festgelegter Länge sein können und der Betrieb auf Daten festgelegter Länge ausgeführt werden kann. Daher kann die logische Operation durch eine Vektorinstruktion implementiert werden unter Verwendung des Vektorregisters in dem Vektorprozessor, wodurch die logische Simulation bei einer hohen Geschwindigkeit durchgeführt werden kann. Dieses System kann auch die Fehlersimulation mit einer hohen Geschwindigkeit verarbeiten, wobei die logische Simulation bei Einfügen verschiedener Fehlerlogikwerte wiederholt wird.
Nachstehend wird die Fehlereinfügungsverarbeitung zum Einfügen des Fehlerlogikwertes in die Eingangs- und Ausgangspins von jedem der Logikgatter beschrieben, und zwar beim Durchführen der Logiksimulation auf die Weise wie zuvor beschrieben.
Die Fig. 3a und 3b sind schematische Darstellungen der Konfiguration der Logikschaltung beim Einfügen des Fehlers durch Verbinden des Gatters festgelegten Wertes mit der Logikschaltung nach Fig. 2.
Es wird nun der Moment des Einfügens des Fehlers in die Ausgabeseite mit Bezug auf Fig. 3a beschrieben. Wenn z. B. der Fehler in die Ausgabeseite des Basisgatters 100 entsprechend dem Gatter 1 eingefügt wird, wird der Fehler mit Logikwert "1" ("1" Degenerationsfehler) in Pin P3 des Ausgangs von Gatter 1 (Fig. 1) eingefügt, indem eine Verbindung auf der Seite einer Ausbreitung (hintere Stufe) mit Bezug auf die Pin-Managementdaten 500 (Fig. 5) des Basisgatters 100 entsprechend dem Gatter 1 verändert wird. Mit anderen Worten wird die Verbindung des Eingangs des Basisgatters 101 und des Basisgatters 102, der zu dem Ausgang führt, in dem die äquivalenten Flags 506, 507 und 508 für die Ausgabefehlerdaten der Pin-Managementdaten 500 auf 1 eingestellt sind, durch ein Gatter 150 mit festgelegtem Wert logisch 1 für den Fehlerlogikwert verändert. Wie zuvor beschrieben worden ist, wird der Fehlerlogikwert durch Modifizieren der Logikschaltung nach Fig. 2 in die Logikschaltung nach Fig. 3a eingefügt, indem das Gatter festgelegten Werts (Fehlereinfügungsgatter mit festgelegtem Wert) 150 hinzugefügt wird, das den Fehlerlogikwert an die Logikschaltung nach Fig. 2 aufgibt, als auch durch Ändern der Verbindung unter den Basisgattern 100, 101 und 102.
Nun wird der Moment des Einfügens des Fehlers auf der Eingabeseite mit Bezug auf Fig. 3b beschrieben, indem als Beispiel der Fall angenommen wird, bei dem der Fehler auf die Eingabeseite des Basisgatters 100 entsprechend dem Gatter 1 eingefügt wird. In diesem Fall wird ebenfalls der Fehlerlogikwert unter Bezugnahme auf die Pin-Managementdaten 500 (Fig. 5) des Basisgatters 100 entsprechend dem Gatter 1 eingefügt. Wenn z. B. der Fehler mit Logikwert "0" ("0" Degenerationsfehler) und den Eingabepin P1 des Gatters 1 auf die gleiche Weise wie zuvor beschrieben eingefügt wird, wird die Einführung durchgeführt, indem die Verbindung auf der Seite der Ausbreitung (Vorderstufe) verändert wird - d. h. durch Ändern der Verbindung des Eingangs 1 des Basisgatters 100, angezeigt durch die Eingabezahl 1 des Eingangs P1 der Eingabefehlerdaten der Pin-Managementdaten 500 durch ein Gatter 151 mit festgelegtem Wert logisch "0" des Fehlerlogikwertes. Mit anderen Worten wird der Fehlerlogikwert eingefügt, indem die Verbindung des Eingangs 143 nach Fig. 2 so verändert wird, daß dieser mit dem Gatter 151 mit festgelegtem Wert logisch "0" verbunden wird. In diesem Fall wird das Einfügen des Fehlerlogikwertes durchgeführt, indem das Gatter 151 mit festgelegtem Wert hinzuaddiert wird, das den Fehlerlogikwert an die Logikschaltung nach Fig. 2 abgibt, als auch durch Ändern der Verbindung des Basisgatters 100, wodurch die Modifikation der Logikschaltung gemäß Fig. 3b vollzogen werden.
Um den Logikwert zu simulieren, der von jedem Gatter nach der Einfügung des Fehlerlogikwertes eingenommen wird, wird die Fehlersimulation durch das Logiksimulationsverfahren gemäß der Ereignisausbreitungstechnik verarbeitet, wie zuvor bei Fig. 6 beschrieben, indem eine Gruppe von Logikgatterdaten verwendet wird, die die Logikschaltung gemäß Fig. 3a oder 3b beschreiben.
Wie zuvor beschrieben worden ist, gestattet die vorliegende Erfindung die Fehlersimulation ohne Durchführen irgendeiner speziellen Verarbeitung des eingefügten Fehlers, und zwar durch Beschreiben, der durch eine Hinzufügung der geringstmöglichen Anzahl von Erzeugungsgattern und durch die Verwendung des Gatters modifiziert ist, das die festgelegten Eingabe- und Ausgabepins hat, so daß die vorliegende Erfindung die Fehlersimulation für eine große Logikschaltung bei hoher Geschwindigkeit und mit hoher Genauigkeit durchführen kann.
Es ist hier anzumerken, daß die vorliegende Erfindung zwar anhand von Ausführungsbeispielen beschrieben worden ist, sie jedoch nicht auf irgendeine Weise auf diese Ausführungsform zu beschränken ist. Es ist vielmehr klar, daß die vorliegende Erfindung verschiedene Modifikationen und Varianten innerhalb des Schutzbereiches der Erfindung umfaßt.
Wie zuvor beschrieben worden ist, gestattet das Fehlersimulationsverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung eine leichte Einfügung des Fehlerlogikwertes auf der Basis der Pin-Managementdaten in die logisch modifizierte Logikschaltung, um von dem Vektorprozessor verarbeitet zu werden. Weiterhin gestattet die vorliegende Erfindung die Fehlersimulation nach der Einfügung des Fehlerlogikwertes, die bei hoher Geschwindigkeit auszuführen ist, und zwar ohne Unterscheidung zwischen dem Vorliegen und Nicht-Vorliegen der Fehlerlogikwerteinfügung durch eine Verbindung mit dem festen Gatter, das den Fehlerlogikwert ausgibt.

Claims (9)

1. Fehlersimulationsverfahren zum Erfassen eines Fehlers in einer Logikschaltung durch Einfügen eines Fehlerlogikwertes in eine Position einer Fehlerannahme in der Logikschaltung in die Logikschaltung, die der Fehlersimulation auszusetzen ist, und durch Durchführen einer logischen Simulation, mit den folgenden Schritten:
Durchführen einer logischen Modifikation der der Fehlersimulation auszusetzenden Logikschaltung in eine Logikschaltungskonfiguration durch ein Logikgatter einer vorbestimmten Basisgatterform;
Erzeugen von Pin-Managementdaten, anzeigend eine Entsprechung von jedem der Pins und der Position der Fehlerannahme bei jedem der Pins vor der logischen Modifikation zu dem Gatter nach der logischen Modifikation; und
Einfügen des Fehlerlogikwertes in die Position der Fehlerannahme von jedem der Pins der Logikschaltung nach der logischen Modifikation entsprechend jedem der Pins vor der logischen Modifikation, und zwar mit Bezug auf die Pin-Managementdaten.
2. Fehlersimulationsverfahren nach Anspruch 1, wobei der Fehlerlogikwert eingefügt wird durch Verbinden eines Gatters festgelegten Werts der Basisgatterform, die den Fehlerlogikwert erzeugt, mit einem Eingangspin in der Position der Fehlerannahme eines Logikgatters, in das der Fehlerlogikwert eingefügt wird.
3. Fehlersimulationsverfahren nach Anspruch 1, wobei das Logikgatter einer Basisgatterform, die als ein logisch zu modifizierendes Schaltungselement funktioniert, ein Logikgatter ist, in dem die Anzahl von Eingängen und Ausgängen festgelegt ist.
4. Fehlersimulationsverfahren nach Anspruch 1, wobei:
eine Gruppe von Logikgatterdaten, die aus einem Zusammenschluß von Logikgatterdaten bestehen, die jedes Logikgatter darstellen, beschreibend die Logikschaltungskonfiguration, derart erzeugt wird, daß es der Logikschaltungskonfiguration entspricht, die durch logisches Modifizieren der der Fehlersimulation auszusetzenden Logikschaltung durch das Logikgatter der Basisgatterform erhalten wird; und
Pin-Managementdaten, die die Korrespondenz von jedem der Pins eines Gatters nach der Logikmodifikation zu der Position einer Fehlerannahme von jedem der Pins vor der Modifikation angeben, erzeugt werden, um den logischen Gatterdaten zu entsprechen.
5. Fehlersimulationsverfahren zum Erfassen eines Fehlers in einer Logikschaltung durch Einfügen eines Fehlerlogikwertes in eine Position einer Fehlerannahme in der Logikschaltung in die Logikschaltung, die einer Fehlersimulation auszusetzen ist, und durch Durchführen einer Logiksimulation, mit den folgenden Schritten:
Durchführen einer Logikmodifikation der der Fehlersimulation auszusetzenden Logikschaltung in eine Logikschaltungskonfiguration durch ein Logikgatter einer vorbestimmten Basisgatterform;
Erzeugen einer Gruppe von Logikgatterdaten, bestehend aus einem Zusammenschluß von Logikgatterdaten, die jedes Logikgatter darstellen, beschreibend die Logikschaltungskonfiguration, um der Logikschaltungskonfiguration zu entsprechen, die durch die Logikmodifikation erzeugt ist;
Erzeugen von Pin-Managementdaten, die die Korrespondenz von jedem der Pins eines Gatters nach der logischen Modifikation zu der Position einer Fehlerannahme von jedem der Pins vor der logischen Modifikation angeben, um allen Logikgatterdaten der Gruppe der erzeugten Logikgatterdaten zu entsprechen;
Erzeugen von Fehlereinfügungs-Logikgatterdaten zum Verbinden eines Gatters festgelegten Werts des Logikgatters einer Basisgatterform, die den Fehlerlogikwert an einem Eingangspin in der Position einer Fehlerannahme des Logikgatters einer Basisgatterform erzeugt, und zwar zur Fehlereinfügung durch Festlegen der Position der Fehlerannahme von jedem der Pins des Gatters der Logikschaltung nach der logischen Modifikation entsprechend jedem der Pins vor der logischen Modifikation, und zwar mit Bezug auf die Pin-Managementdaten; und
Implementieren einer Logiksimulation, die auf der Basis der Gruppe der Logikgatterdaten und der Fehlereinfügungs-Logikgatterdaten arbeitet.
6. Fehlersimulationsverfahren nach Anspruch 5, wobei:
das Logikgatter einer Basisgatterform als ein logisch zu modifizierendes Schaltungselement ein Logikgatter ist, bei dem die Anzahl seiner Eingänge und Ausgänge festgelegt ist;
die Logikgatterdaten, die das Logikgatter darstellen, eine festgelegte Länge haben; und
Logikgatterdaten Logikfunktionsdaten, Logikwertdaten und Gatterverbindungsdaten enthalten.
7. Fehlersimulationsverfahren nach Anspruch 5, wobei die Pin-Managementdaten, die in Entsprechung zu den Logikgatterdaten erzeugt sind, die Anzahl der Fehlerannahmen, Eingabefehlerdaten und Ausgabefehlerdaten der Eingabe- und Ausgabepins des Logikgatters vor der logischen Modifikation enthalten.
8. Fehlersimulationsverfahren nach Anspruch 7, wobei die Ausgabefehlerdaten der Pin-Managementdaten Pin-Daten und ein äquivalentes Flag enthalten; und ein identischer Fehlerlogikwert durch eine Instruktion des äquivalenten Flags in eine Vielzahl der Ausgabepins eingefügt wird.
9. Fehlersimulationsverarbeitung zum Implementieren einer Logiksimulationsverarbeitung unter Verwendung eines Vektorprozessors aus einer Gruppe von Logikgatterdaten und Fehlereinfügungs-Logikgatterdaten in dem Fehlersimulationsverfahren nach Anspruch 5, wobei
der erste Schritt Lesen von Logikfunktionsdaten der Logikgatterdaten für alle Logikgatter ist, die eine Instruktion einer Ereignistabelle aus einem Gatterdatenspeicher empfangen, der die Gruppe der Logikgatterdaten speichert, die eine Logikschaltungskonfiguration nach der Einfügung eines Fehlerlogikwertes in ein erstes Vektorregister beschreiben;
der zweite Schritt Lesen von Eingabelogikwertdaten der Logikgatterdaten für alle Logikgatter ist, die die Instruktion der Ereignistabelle von dem Gatterdatenspeicher empfangen, der die Gruppe der Logikgatterdaten speichert, die die Logikschaltungskonfiguration nach der Einfügung des Fehlerlogikwertes in ein zweites Vektorregister beschreibt;
der dritte Schritt Durchführen einer Logikoperation der Logikfunktion ist, die in dem ersten Vektorregister gespeichert ist, und zwar für einen Eingabelogikwert, der in dem zweiten Vektorregister gespeichert ist, und Speichern des Ergebnisses der Logikoperation in ein drittes Vektorregister ist;
der vierte Schritt Registrieren des Logikgatters mit einem veränderten Logikwert in eine nächste Ereignistabelle und Speichern des veränderten Logikwertes als ein Logikwert der Logikgatterdaten des entsprechenden Logikgatters des Gatterdatenspeichers ist; und
der fünfte Schritt Wiederholen der Verarbeitung von dem ersten Schritt ist, und zwar unter Verwendung eines Inhalts der nächsten Ereignistabelle, die in dem vierten Schritt als der Inhalt einer Ereignistabelle registriert ist.
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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9106758D0 (en) * 1991-03-28 1991-05-15 Genrad Ltd A system for determining the operations of an integrated circuit and processor for use therein
DE69225527T2 (de) * 1991-04-11 1998-09-10 Hewlett Packard Co Verfahren und System zur automatischen Bestimmung der logischen Funktion einer Schaltung
JP2781081B2 (ja) * 1991-06-12 1998-07-30 株式会社日立製作所 並列演算機構による論理演算方法
JPH0546697A (ja) * 1991-08-14 1993-02-26 Nec Corp 論理シミユレータ
US5884065A (en) * 1992-01-10 1999-03-16 Nec Corporation Logic circuit apparatus and method for sequentially performing one of a fault-free simulation and a fault simulation through various levels of a logic circuit
US5475624A (en) * 1992-04-30 1995-12-12 Schlumberger Technologies, Inc. Test generation by environment emulation
JPH06194415A (ja) * 1992-09-30 1994-07-15 American Teleph & Telegr Co <Att> 論理回路の試験方法とその装置
US5633813A (en) * 1994-05-04 1997-05-27 Srinivasan; Seshan R. Apparatus and method for automatic test generation and fault simulation of electronic circuits, based on programmable logic circuits
US5548715A (en) * 1994-06-10 1996-08-20 International Business Machines Corporation Analysis of untestable faults using discrete node sets
US5668816A (en) * 1996-08-19 1997-09-16 International Business Machines Corporation Method and apparatus for injecting errors into an array built-in self-test
US6625770B1 (en) * 2000-06-20 2003-09-23 Lsi Logic Corporation Method of automatically generating schematic and waveform diagrams for relevant logic cells of a circuit using input signal predictors and transition times
US6961887B1 (en) 2001-10-09 2005-11-01 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Streamlined LASAR-to-L200 post-processing for CASS
US20090048945A1 (en) 2007-08-15 2009-02-19 Deline Jonathan E Fuel dispenser
US7870441B2 (en) * 2008-03-18 2011-01-11 International Business Machines Corporation Determining an underlying cause for errors detected in a data processing system
US9032266B2 (en) * 2011-06-28 2015-05-12 Terence Wai-kwok Chan Multithreaded, mixed-HDL/ESL concurrent fault simulator for large-scale integrated circuit designs
US10346273B2 (en) * 2017-09-22 2019-07-09 Analog Devices Global Unlimited Company Automated analog fault injection
CN107861005B (zh) * 2017-11-10 2020-09-29 北京润科通用技术有限公司 一种供电故障模拟装置及供电故障模拟方法
US10969429B1 (en) * 2019-08-13 2021-04-06 Cadence Design Systems, Inc. System and method for debugging in concurrent fault simulation

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3221819A1 (de) * 1982-06-09 1984-02-23 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Vorrichtung zur simulation eines schaltwerks mit hilfe eines rechners

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0668756B2 (ja) * 1985-04-19 1994-08-31 株式会社日立製作所 回路自動変換方法
JPS62221745A (ja) * 1986-03-24 1987-09-29 Hitachi Ltd 論理回路シミユレ−シヨン方法
US4815016A (en) * 1986-07-24 1989-03-21 Unisys Corp. High speed logical circuit simulator
US4996659A (en) * 1986-08-20 1991-02-26 Hitachi, Ltd. Method of diagnosing integrated logic circuit
US4791578A (en) * 1986-12-30 1988-12-13 Eta Systems, Inc. Logic gate system design
JP2583949B2 (ja) * 1988-03-10 1997-02-19 松下電器産業株式会社 論理シミュレーション方法と論理シミュレーション装置
US4954953A (en) * 1988-04-07 1990-09-04 Vlsi Technology, Inc. Machine process for converting one representation of an electronic integrated circuit into another representation
US4937765A (en) * 1988-07-29 1990-06-26 Mentor Graphics Corporation Method and apparatus for estimating fault coverage

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3221819A1 (de) * 1982-06-09 1984-02-23 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Vorrichtung zur simulation eines schaltwerks mit hilfe eines rechners

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DE-Z.: messen + prüfen/automatik, Mai 1976, Jg. 12, H. 5, S. 268-277 *
US-Z.: IEEE Transactions on Computer-Aided Design, Vol. 7, No. 12, December 1988, S. 1250-1260 *

Also Published As

Publication number Publication date
JPH03118488A (ja) 1991-05-21
DE4031136C2 (de) 1993-07-01
US5184308A (en) 1993-02-02

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