DE69722099D1 - Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Geschwindigkeit einer Speichereinheit in einer integrierten Schaltung - Google Patents

Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Geschwindigkeit einer Speichereinheit in einer integrierten Schaltung

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3805152A (en) * 1971-08-04 1974-04-16 Ibm Recirculating testing methods and apparatus
JPS62120698A (ja) * 1985-11-20 1987-06-01 Fujitsu Ltd 半導体記憶回路
JPS6425400A (en) * 1987-07-22 1989-01-27 Nec Corp Circuit for testing access time
JPH01120660A (ja) * 1987-11-04 1989-05-12 Nec Corp マイクロコンピュータ装置
JPH0812230B2 (ja) * 1988-09-06 1996-02-07 株式会社日立製作所 Ic試験装置
JPH0330200A (ja) * 1989-06-28 1991-02-08 Hitachi Ltd 半導体記憶装置の試験方法
JPH04274100A (ja) * 1991-03-01 1992-09-30 Nec Corp テスト回路内蔵のメモリーlsi
JP3193810B2 (ja) * 1993-08-31 2001-07-30 富士通株式会社 不揮発性半導体記憶装置及びその試験方法
US5704035A (en) * 1994-07-28 1997-12-30 Intel Corporation Computer method/apparatus for performing a basic input/output system (BIOS) power on test (POST) that uses three data patterns and variable granularity
JP3761612B2 (ja) * 1995-09-26 2006-03-29 富士通株式会社 半導体集積回路及びその試験方法
JPH0991997A (ja) * 1995-09-28 1997-04-04 Mitsubishi Electric Corp メモリテスト回路
JPH10283777A (ja) * 1997-04-04 1998-10-23 Mitsubishi Electric Corp Sdramコアと論理回路を単一チップ上に混載した半導体集積回路装置およびsdramコアのテスト方法

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