DE69711126T2 - Wellenlängenmonitor und Bedienungsanordnung für WDM optische Übertragungssysteme - Google Patents
Wellenlängenmonitor und Bedienungsanordnung für WDM optische ÜbertragungssystemeInfo
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title claims description 45
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 19
- 238000011022 operating instruction Methods 0.000 title 1
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 30
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 18
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 claims description 17
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 claims description 17
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 16
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 5
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 5
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 5
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 5
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/13—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
- H01S3/139—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/13—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
- H01S3/136—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling devices placed within the cavity
- H01S3/137—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling devices placed within the cavity for stabilising of frequency
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
- H01S5/0687—Stabilising the frequency of the laser
Landscapes
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Description
- Diese Erfindung bezieht sich auf eine Wellenlängen-Überwachungs-Anordnung zur Schaffung eines Steuer- oder Regelsignals zur Wellenlängen-Stabilisierung einer Laserquelle, mit Anwendung auf optische WDM- (Wellenlängen-) Multiplex- Übertragungs-Systeme.
- Lichtleitfaser-Kommunikationssysteme ergeben geringe Verluste und eine hohe Informations-Übertragungskapazität. In der Praxis kann die Bandbreite einer Lichtleitfaser durch Übertragung vieler unterschiedlicher Kanäle gleichzeitig unter Verwendung unterschiedlicher Trägerwellenlängen verwendet werden. Die zugehörige Technologie wird als Wellenlängen-Multiplex (WDM) bezeichnet. Bei einem Schmalband-WDM-System sind 8, 16 oder mehr unterschiedliche Wellenlängen in engem Abstand zueinander angeordnet, um die Lichtleitfaser-Übertragungskapazität zu vergrößern.
- Die Wellenlängen-Bandbreite, die irgendein einzelner Kanal einnimmt, hängt von einer Anzahl von Faktoren ab, unter Einschluß der Bandbreite der aufgeprägten Information und Sicherheitsabständen zur Berücksichtigung der Trägerfrequenzdrift, der Trägerfrequenz-Unsicherheit sowie der Notwendigkeit, ein mögliches Zwischenkanal- Übersprechen aufgrund von nicht idealen Filtern zu verringern.
- Um die Anzahl der Kanäle zu einem Maximum zu machen, sind Laser mit einer stabilen und präzisen Wellenlängensteuerung erforderlich, um mit engem Abstand angeordnete mehrfache Wellenlängen zu ermöglichen.
- Einige Laserquellen, beispielsweise Laser mit verteilter Rückführung (DFB), weisen mit der Zeit eine Wellenlängendrift auf, die größer ist, als die Forderungen für Schmalband-WDM. Die Wellenlänge des Bauteils neigt dazu, sich mit der Alterung und der Dauerleistung zu ändern. Weil erwartet wird, daß Telekommunikationssysteme eine Lebensdauer in der Größenordnung von 25 Jahren haben, muß dem Lasersender eine Wellenlängensteuerung oder -regelung hinzugefügt werden, um ein minimales Übersprechen zwischen den einen engen Abstand aufweisenden Kanälen über lange Zeitperioden sicherzustellen.
- Mit einer einzigen Wellenlänge arbeitende optische Kommunikationssysteme werden in weitem Umfang in der Industrie verwendet. In idealer Weise sind die Systemkonstrukteure bestrebt, eine minimale Unterbrechung vorhandener Systeme und eine Kompatibilität mit vorhandenen Gehäuseanordnungen bei der Entwicklung von WDM-Systemen zu erreichen.
- Typischerweise beruhen bekannte Laserwellenlängen-Überwachungs- und Stabilisierungssysteme auf einer Einheit, die sich außerhalb des üblichen Gehäuses einer Laserquelle (Sender) befindet. Ein im Handel erhältliches System zur Überwachung und zur Steuerung der Wellenlänge eines Halbleiterbauteils, ist eine Anordnung, die auf Kristallgittern beruht. Beispielsweise wird bei einem bekannten System, das von der Firma Accuwave hergestellt und in der Produkt-Literatur beschrieben ist, eine Wellenlängen-Verriegelungseinheit vorgesehen, die einen Lithium-Niobat-Kristall, in den zwei Bragg-Gitter eingeschrieben sind, die von einem kollimierten Strahl von einer mit der Anordnung gekoppelten Laserquelle angesteuert werden, und zwei Photodetektoren umfaßt. Jedes Gitter weist eine geringfügig unterschiedliche Bragg-Wellenlänge und einen Winkel gegenüber dem Eingangsstrahl auf. Der von den Gittern reflektierte Ausgang wird auf die beiden Detektoren gerichtet, und der Differenzausgang wird zur Schaffung einer Rückführungssteuerung für den Laser verwendet. Eine Wellenlängenstabilität von besser als 10 um kann mit der Regelschleife erzielt werden. Die Verriegelungseinheit verwendet jedoch eine von dem Sender getrennte Einheit und erfordert somit eine externe Kopplung mit dem Laser oder der Lichtquelle. Weiterhin ist die Einheit für eine bestimmte Wellenlänge ausgelegt, wie sie durch die Gitterparameter bestimmt ist. Es sind unterschiedliche Einheiten für unterschiedliche Wellenlängen erforderlich.
- Eine andere bekannte Art einer Wellenlängen-Überwachungs-/Steuer-Anordnung beruht auf Lichtleitfaser-Gittern. Beispielsweise bezieht sich die anhängige GB- Patentanmeldung 96/00478 vom 4. März 1996 auf den Namen Epworth et al. auf einen Laser vom Typ mit externem Hohlraum, dessen äußerer Reflektor durch einen Bragg-Reflektor gebildet ist, der sich in einer Lichtleitfaser befindet, die an eine mit einer Antireflexions-Beschichtung versehene Facette des Halbleiter-Lasers anschließt. Das Gitter ist weit genug entfernt von dem Laser angeordnet, damit die longitudinalen Moden einen so engen Abstand aufweisen, daß der Laser im Multimoden-Betrieb mit so vielen Moden arbeitet, daß das Moden-Aufteilungsrauschen vernachlässigbar wird. Eine weitere anhängige GB-Patentanmeldung 95/19614.3 vom 26. Sept. 1995 auf den Namen von Epworth et al., bezieht sich auf die Verwendung eines gechirpten Lichtleitfasergitters zur Entzerrung und zur Laserfrequenz-Stabilisierung.
- Die Herstellung von Lichtleitfaser-Gitteranordnungen ist kompliziert. Wie bei dem vorstehend erwähnten Kristallgittersystem, werden Lichtleitfaser-Gitter so hergestellt, daß sie an die spezielle Wellenlänge des Senders angepaßt sind, und die Anordnung ist daher wellenlängenspezifisch.
- Ein weiteres System zur Stabilisierung eines Halbleiterlasers ist in dem US-Patent 4 309 671 auf den Namen von Malyon beschrieben, wobei dieses System ein Paar von angepaßten Photodioden und zwei Strahlteiler verwendet. Der erste Strahlteiler und die erste Photodiode überwachen die Leistung und ein zweiter Strahlteiler, ein frequenzabhängiges Filter und ein zweite Photodiode werden zur Überwachung von Wellenlängen-Änderungen verwendet. Die Ausgänge der aneinander angepaßten Photodioden werden über Verstärker einem subtrahierenden Verstärker zugeführt, und der Ausgang wird als Gegenkopplung dem Verstärker zugeführt, der die Betriebsweise des Lasers steuert.
- Andere bekannte Systeme beruhen auf einem Filterelement, wie zum Beispiel einem Fabry-Perot-Etalon. Beispielsweise beschreibt das US-Patent 5 331 651 auf den Namen von Becker et al., die Verwendung eines Fabry-Perot-Etalons zur Feinabstimmung in Verbindung mit einem Gitter zur Grobabstimmung des Ausgangssignals eines Lasers.
- In einem in dem US 5 438 579 auf den Namen von Eda et al., beschriebenen System wird ein Fabry-Perot-Etalon mit einem einzigen Photodetektor verwendet, um ein Signal zu erzeugen, das dazu verwendet wird, eine Verriegelung auf eine Spitze eines Halbleiterlasers durchzuführen, was kollimierte Strahlen erfordert. Hill et al. beschreiben in dem US-Patent 4 839 614 ein System, das Frequenzen einer Strahlung von mehrfachen Quellen bezüglich einer Bezugsquelle in Beziehung setzt, wobei ein Filterelement, wie zum Beispiel ein Fabry-Perot-Etalon, und eine entsprechende Vielzahl von Detektoren verwendet wird.
- Ein weiteres System zur Laser-Wellenlängen-Stabilisierung ist in dem US-Patent 4 914 662 auf den Namen von Nakatani et al. beschrieben, wobei dieses System die spektroskopische Verarbeitung des Ausgangssignals eines eine veränderliche Wellenlänge aufweisenden Lasers und die Messung einer räumlichen Verteilung unter Verwendung von Bildverarbeitungs-Geräten beinhaltet, worauf die Verteilung mit der eine Bezugs-Lichtquelle mit fester Wellenlänge verglichen wird. Das letztere Bildverarbeitungssystem ist kompliziert und ist nicht ohne weiteres mit der Schaffung einer geringe Kosten aufweisenden kompakten Einheit vereinbar.
- Die japanische Patentanmeldung 92-157780 bezieht sich auf einen Frequenzstabilisator für einen Halbleiter-Laser ohne die Verwendung externer Modulationseinrichtungen und beruht auf einem geneigten Fabry-Perot-Etalon, auf das die Laserquelle auftrifft, sowie auf zwei Photodetektoren zur Erfassung von jeweils den ausgesandten und reflektierten Signalen. Durch Substraktieren der Ausgangssignale der beiden Detektoren wird ein Signal zur Steuerung der Schwingungsfrequenz erzeugt. Die Resonator-Länge wird durch Ändern der Neigung des Etalons geändert, um eine Abstimmbarkeit zu schaffen. Die gerätemäßige Ausführung dieses Systems für einen minimalen Raum erfordert die Verwendung des FP mit einem relativ großen Winkel bei verringerter Stabilität hinsichtlich der Mitten-Wellenlänge und der Bandbreite. Andererseits erfordert ein kleiner FP-Winkel zusätzliche Bauteile und Raum, wie dies in Fig. 1B dieser Patentanmeldung gezeigt ist. Weiterhin werden unabhängige Detektoren mit möglicherweise unterschiedlichen Ansprech- und Alterungs-Eigenschaften verwendet.
- Die Europäische Patentanmeldung auf den Namen Nacharu Yanagawa, EP-A-0516318 mit dem Titel "Vorrichtung zur Steuerung der Halbleiter-Laser-Betriebstemperatur" beschreibt eine Wellenlängen-Detektions-Nergleichs-Einheit, die zwei Fabry-Perot- Filter einschließt. Die Filter sind so ausgebildet, daß sie Rückwärtsemissions- Laserstrahlen des Halbleiterlasers empfangen, die unterschiedliche Wellenlängen λ&sub1; und λ&sub2; aufweisen, wobei die von den Filtern emittierten Signale von zwei Photodioden erfaßt werden, deren Differenzsignal mit einem Bezugssignal verglichen und zur Erzeugung eines Steuersignals zur Überwachung der Laserwellenlänge verwendet wird.
- Entsprechend sind verschiedene vorhandene Systeme zur Wellenlängen-Stabilisation unter Verwendung von Anordnungen bekannt, die ein Kristallgitter, eine Lichtleitfaser- Gitter oder ein Etalon verwenden. Die auf Gittern beruhenden Systeme weisen den Mangel an Wellenlängen-Abstimmbarkeit auf, und viele Systeme beruhen auf relativ großen Steuereinheiten außerhalb einer in einem Gehäuse angeordneten Laserquelle, mit sich daraus ergebenden Kopplungs-, Raum- und Leistungs-Verbrauchsproblemen. Obwohl Systeme auf der Grundlage eines Etalons eine Abstimmbarkeit ergeben, ist keine der bekannten Konfigurationen ausreichend kompakt, um sie ohne Unterbrechung in bekannte genormte Gehäuse einzufügen.
- Die vorliegende Erfindung ist auf die Schaffung einer kompakten Wellenlängen- Überwachungs- und Steueranordnung gemäß Anspruch 1 gerichtet, vorzugsweise zur Integration im Inneren eines kleinen Halbleiter-Laser-Gehäuses und zur Anwendung in optischen WDM Übertragungssystemen.
- Somit wird entsprechend einem Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung eine Wellenlängen-Überwachungs- und Steueranordnung für ein optisches System geschaffen, das eine divergierende Laseremissionsquelle aufweist, wobei die Anordnung folgendes umfaßt:
- - erste und zweite Photodetektoren, die durch einem bestimmten Abstand voneinander getrennt sind und sich in einer bestimmten Entfernung von der Emissionsquelle befinden,
- - eine schmales wellenlängenselektives Bandpaß-Transmissions- oder Übertragungsfilterelement mit einer Fabry-Perot-Struktur, das sich zwischen der Quelle und den Detektoren befindet, wobei das Filter unter einem Winkel Θ gegenüber der optischen Achse der Emissionsquelle geneigt ist, um eine Winkelabhängigkeit der Wellenlängenübertragung des Filters zu schaffen, und
- - eine Regelschleife zur Rückführung eines Differenzsignals, das von den ersten und zweiten Photodetektoren in Abhängigkeit von einer Änderung der Wellenlänge der Emissionsquelle erzeugt wird, an Steuereinrichtungen der Emissionsquelle.
- Somit wird eine einfache und kompakte Wellenlängen-Überwachungs- und Steueranordnung für eine Laser-Emissionsquelle geschaffen. Die Photodetektoren werden über geneigte Schmalband-Durchlaßfilter mit einem geringfügig divergierenden Strahl beleuchtet. Somit wird die Wellenlängen-Änderung der Laser-Emissionsquelle in differentielle Photostrom-Änderungen in den beiden Photodetektoren umgewandelt. Die Wellenlänge des Eingangsstrahls wird durch das relative Ansprechverhalten der beiden Detektoren überwacht. Das Differenz-Ausgangssignal der beiden Detektoren wird in einer Rückführungsschleife zur Stabilisierung der Wellenlänge der Quelle auf eine gewünschte Ziel-Wellenlänge verwendet, das heißt über ein Signal, das zum Laser (Sender) zurückgesandt wird, beispielsweise über Temperaturänderungen des aktiven Bereichs, oder Stromänderungen, um eine Wellenlängendrift zu korrigieren.
- Diese Anordnung ermöglicht eine präzise optische Überwachung der Wellenlänge, um ein Steuersignal zur Wellenlängen-Stabilisierung zu schaffen, um die Laser- Wellenlänge innerhalb der Grenzen zu halten, die erforderlich sind, um ein Übersprechen bei der Verwendung in beispielsweise einem optischen WDM- Übertragungssystem zu verringern. Ein Differenzsignal ist weiterhin vorteilhaft, um eine Unempfindlichkeit gegenüber Schwankungen der Ausgangsleistung zu schaffen.
- Das eine schmale Bandpaßbreite aufweisende wellenlängenselektive Übertragungsfilterelement muß eine Fabry-Perot-Struktur sein. Die Photodetektoren sind vorzugsweise ein angepaßtes Paar von Photodioden. Durch die Winkelabhängigkeit der Wellenlängen-Übertragung des Fabry-Perot-Etalons wird eine Wellenlängenänderung von der Quelle in einen Übertragungsverlust umgewandelt, und die Wellenlängenänderung wird als eine Leistungsänderung erfaßt. Somit arbeitet das Gerät als ein optischer Wellenlängen-Diskriminator, bei dem der Detektor die optische Energie in einen Strom für eine Rückführungsschleife zur Steuerung der Lichtquelle umwandelt. Zur Wellenlängen-Stabilisation wird der Differenzausgang der beiden Photodetektoren in einer Rückführungs-Schleife verwendet, um die Wellenlänge der Laserquelle auf eine gewünschte Zielwellenlänge zu stabilisieren.
- In nützlicher Weise ist der Neigungswinkel des Filters einstellbar, um eine Abstimmbarkeit der vorgegebenen Wellenlänge zu schaffen. Weil das wellenlängenselektive Filterelement ein Fabry-Perot-Etalon ist, dessen Übertragungseigenschaften von dem Winkel des Etalons gegenüber dem Strahl abhängig sind, ergibt die Anordnung eine Abstimmbarkeit durch Einstellung des Winkels des Etalons. Weiterhin können die mehrfachen Übertragungsspitzen eines Etalons mit einem Abstand von beispielsweise 4 nm für mehrfache Wellenlängen verwendet werden, das heißt, daß mehrfache Stabilisierungspunkte für eine Vielzahl von vorgegebenen Wellenlängen erreichbar sind, die durch die Wellenlängenabstände der mehrfachen Übertragungsspitzen bestimmt sind, die für das Fabry-Perot-Filter charakteristisch sind.
- Die Anordnung ist verglichen mit der Herstellung von Lichtleitfaser-Gittersystemen zur Wellenlängen-Stabilisation einfach herstellbar. Diese Lösung ergibt ein schwankungsfreies Diskriminationsschema, das außerdem Frequenzmodulations- und Demodulations-Schritte vermeidet.
- In vorteilhafter Weise sind die Photodetektoren ein angepaßtes Paar von Photodioden. Wenn die Verstärkung jedes der beiden Photodetektoren unabhängig einstellbar ist, kann die vorgegebene Wellenlänge durch Einstellen ungleicher Verstärkungen für die beiden Photodetektoren ausgewählt werden.
- Wahlweise ist eine Linse zwischen der Emissionsquelle und dem Übertragungs- Filterelement angeordnet, um die Divergenz der Laseremissionsquelle zu steuern. Die Divergenz des Strahls wird gesteuert, um das Betriebsverhalten und die Leistung der Detektion zu einem Optimum zu machen. Eine größere Fleckgröße ist vorzuziehen, um eine idealere Filterform zu schaffen, damit eine wirkungsvollere Leistungsübertragung erreicht wird.
- Die Laseremissionsquelle kann eine Ausgangsfacette eines Halbleiter-Lasers sein, oder sie kann alternativ eine gespleißte oder verjüngte Monomoden-Lichtleitfaser sein.
- Vorzugsweise ist die Überwachungsanordnung in einem Gehäuse integriert.
- Weil die Überwachungsanordnung einfach und kompakt ist, besteht ein wichtiger Vorteil darin, daß die Anordnung zusammen mit der Laserquelle in einer vorhandenen Sender-Modul-Einheit verpackt werden kann, das heißt in einer üblichen Laser- Gehäuse-Anordnung. Dies ist besonders bei der Anpassung vorhandener Sender- Moduleinheiten, wie sie für mit einer einzigen Wellenlänge arbeitende Übertragungssysteme verwendet werden, zur Verwendung mit zusätzlichen Komponenten für WDM nützlich, ohne daß ein zusätzlicher Raum erforderlich ist, und bei einer minimalen Unterbrechung vorhandener Systeme. Obwohl die Verwendung der Anordnung als externe Bezugseinheit denkbar ist, sind die Polarisation beibehaltende Filter und Koppler in idealer Weise erforderlich, um eine Polarisations- Abhängigkeit zu vermeiden.
- Es wird erwartet, daß die Langzeitzuverlässigkeit der Anordnung Lebensdauer- Forderungen für WDM-Systeme erfüllt.
- Gemäß einem zweiten Gesichtspunkt der Erfindung wird ein Verfahren zur Schaffung einer Wellenlängen-Stabilisation für eine divergierende Laseremissionsquelle in einem optischen System geschaffen, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfaßt. Bereitstellen erster und zweiter Photodetektoren, die durch einen bestimmten Abstand voneinander getrennt sind und die sich in einer bestimmten Entfernung von der Emissionsquelle befinden; Bereitstellen eines eine schmale Bandpaßbreite aufweisenden wellenlängenselektiven Übertragungs-Filterelements mit einer Fabry- Perot-Struktur, das sich zwischen der Quelle und den Detektoren befindet, wobei das Filter unter einem Winkel 0 gegenüber der optischen Achse der Emissionsquelle geneigt ist, um eine Winkelabhängigkeit der Wellenlängen-Übertragung des Filters zu schaffen; und Bereitstellen einer Regelschleife zur Rückführung eines Differenzsignals, das von den ersten und zweiten Photodetektoren in Abhängigkeit von einer Änderung der Wellenlänge der Emissionsquelle erzeugt wird, zu Steuereinrichtungen für die Emissionsquelle.
- Fig. 1 zeigt eine schematische Darstellung eines Teils einer Wellenlängen- Überwachungsanordnung, gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
- Fig. 2 zeigt Übertragungskurven des Etalons für das Signal bei zwei Wellenlängen;
- Fig. 3 zeigt das entsprechende Differenzsignal von den ersten und zweiten Photodetektoren;
- Fig. 4 zeigt eine schematische Darstellung eines Teils der in Fig. 1 gezeigten Anordnung, die Koordinaten und Parameter für die Konstruktion der Anordnung festlegt; und
- Fig. 5 zeigt ein Schaltbild eines Testsystems für eine Wellenlängen- Stabilisierungs-Anordnung gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
- Ein Teil einer Wellenlängen-Überwachungsanordnung 10 gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist in Fig. 1 gezeigt. Die Anordnung umfaßt eine divergierende Quelle 12 für Laseremission, das heißt eine Halbleiter- Laser-Facette 14 eines DFB-Lasers, wie dies gezeigt ist, oder alternativ eine Ausgangs-Facette einer Monomoden-Lichtleitfaser (SMF). Eine wahlweise Linse 16 ermöglicht eine Steuerung der Divergenz des Ausgangsstrahls der Laser-Quelle, der auf ein eine schmale Bandpaßbreite aufweisendes wellenlängenselektives Übertragungsfilterelement 18 gerichtet wird. Das letztere ist vorzugsweise ein Fabry- Perot- (FP-) Resonator, der eine Struktur ist, die eine Abstandsschicht umfaßt, die zwischen zwei stark reflektierenden Schichten eingeschichtet ist. Er ist beispielsweise als Typ vom Mehrschicht-Einzelhohlraum-Filter-Typ konstruiert, bei dem eine vollständig dielektrische Spiegel/Abstandselement/Spiegel-Struktur auf einem Glassubstrat abgeschieden ist. Alternativ wird ein massiver Etalon-Typ verwendet, bei dem die Spiegel auf beiden Seiten auf einer Glas-Abstandsplatte abgeschieden sind.
- Der übertragene divergierende Strahl wird auf erste und zweite ähnliche koplanare Photodetektoren (P&sub1;) 20 und (P&sub2;) 22 gerichtet, die einen bestimmten Durchmesser und einen bestimmten Abstand aufweisen, und die auf einem gemeinsamen Träger 24 in einer bestimmten Entfernung von dem FP-Etalon, befestigt sind, wie dies schematisch in Fig. 1 gezeigt ist.
- Weil die Wellenlänge der Lichtquelle bestimmt, wie stark der Strahl von dem FP-Filter übertragen wird, hängt das an jedem Detektor 20 und 22 empfangene Signal von der von der Lichtquelle emittierten Wellenlänge ab. Somit wird über die Winkelabhängigkeit der Wellenlängen-Übertragung des Fabry-Perot-Etalons eine Wellenlängenänderung von der Quelle in eine Transmissions- Übertragungs-Änderung umgewandelt, und die Wellenlängenänderung wird als eine Leistungsänderung von den beiden Photodetektoren erfaßt. Die Ausgangssignale von den beiden Photodetektoren werden zur Erzeugung eines Differenzsignals in einem Subtrahierverstärker 26 verwendet, das einer Rückführungsschleife 28 zur Steuerung der Ausgangswellenlänge der Laserquelle zugeführt wird. Wenn die Anordnung so getroffen wird, daß die von beiden Detektoren erfaßte Übertragung bei einer ausgewählten Wellenlänge gleich ist, so wird das Differenzsignal so eingestellt, daß es bei der vorgegebenen Wellenlänge gleich Null ist, das heißt bei der eingerasteten oder der verriegelten Wellenlänge. Die eingerastete Wellenlänge kann mit äquivalenter Stabilität auf unterschiedliche Werte dadurch eingestellt werden, daß ungleiche Verstärkungen für die Photodetektoren P&sub1; und P&sub2; verwendet werden. Wenn sich die Wellenlänge der Quelle ändert, so ist das von den beiden Detektoren erzeugte Differenzsignal, das heißt das Fehlersignal, wellenlängenabhängig, und es kann zur Überwachung der Wellenlänge der Lichtquelle verwendet werden. Das Gerät arbeitet daher als ein optischer Wellenlängen- Diskriminator, bei dem die Photodetektoren optische Energie in einen Strom für eine Rückführungsschleife zur Steuerung der Laserquelle umwandeln.
- Schematische Darstellungen der Übertragungskurven und des von den beiden Detektoren erzeugten Differenzsignals sind jeweils in den Fig. 2 und 3 gezeigt. Die Fig. 2 zeigt die Übertragungskurven der beiden Detektoren, wobei T die Übertragung von der Quelle zu den Detektoren ist worin T&sub1; und T&sub2; die Übertragungskurven für die einzelnen Detektoren P&sub1; und P&sub2; darstellen, die eine maximale Übertragung bei T1M und T2M bei λ&sub1; und λ&sub2; haben. Das Differenzsignal von den beiden Detektoren ist in Fig. 3 gezeigt. Bei der gewünschten eingerasteten Wellenlänge ist die Steigung SR der Differenz an dem Einrastpunkt λR gleich
- und der nahezu lineare Bereich zwischen λ&sub1; und λ&sub2; definiert den Nutzbereich der erreichten Steuerung, beispielsweise durch Verwendung ungleicher Photodetektor- Verstärkungen.
- Fig. 4 definiert Koordinaten und eine Anzahl von wesentlichen Konfigurations- Parametern für eine Anordnung, die eine divergierende Emissionsquelle, beispielsweise eine Monomoden-Lichtleitfaser, eine Linse, ein Filter und zwei Photodetektoren einschließt. Ein Schaltbild einer Anordnung und ein Testaufbau für die Wellenlängen-Stabilisierung eines DFB-Lasers unter Einschluß einer Regelschleife ist in Fig. 5 gezeigt.
- In Fig. 5 ist die eine Linse 116, das FP-Etalon 118 und ein Paar von PIN-Dioden 120 und 122 umfassende Wellenlängen-Stabilisierungs-Anordnung zusammen mit einer DFB-Laserquelle 112 in einem einzigen Gehäuse 128 verpackt, das ein genormtes 14 Anschlußstifte aufweisendes Gehäuse ist. Die Dioden des angepaßten Dioden-Paars 120 und 122 sind koplanar und nahe aneinander auf einer gemeinsamen Halterung 124 befestigt. Ausgangssignale von den beiden Dioden werden einem Substrahier- Verstärker 130 zugeführt, um ein Differenzsignal zu erzeugen, das an das Laser- Steuergerät 140 zurückgespeist wird, um die Ausgangs-Wellenlänge des Lasers zu steuern. Andere in Fig. 5 gezeigte Bauteile schließen Testvorrichtungen ein, die bei der Entwicklung optimaler Konfigurationen für den Prototyp verwendet wurden. Vorzugsweise ist die Halterung 117 für die Linse 116 und die Halterung 119 für das FP-Etalon 118 einstellbar. Eine Änderung des Neigungswinkels Θx des FP-Etalons ermöglicht eine Abstimmung der Ziel-Wellenlänge, wie dies weiter unten beschrieben wird.
- Wie dies in Fig. 4 gezeigt ist, hat die divergierende Quelle 13 ein allgemein Gauß'sches Muster, das elliptisch (Laser) oder kreisförmig (Monomoden-Lichtleitfaser) sein kann.
- Das Fabry-Perot-Etalon hat Parameter der Dicke t, des Brechungsindex n, des Reflexionsvermögens R, der internen Transmission oder Übertragung A, einen x- Achsen-Neigungswinkel ΘxFP, der durch die Wahl der FP-Konstruktion und die erforderliche λR bestimmt ist und einen y Achsen-Neigungswinkel ΘyFP, der willkürlich so gewählt sein kann, daß er 0º ist. Die beiden Detektoren weisen nominelle y- Achsen-Positionen von y&sub0;&sub1; = 0 und y&sub0;&sub2; = 0 auf, die willkürlich gewählt sind.
- Andere Konfigurationsparameter werden entsprechend dieser Parameter und der gewünschten Spezifikationen gewählt, das heißt der erforderlichen Transmissions- oder Übertragungskurven.
- Diese Parameter schließen folgendes ein: die Brennweite der Linse f, die z-Achsen- Position S&sub1;, den x-Achsen-Neigungswinkel ΘxL' den y-Achsen-Neigungswinkel ΘyL, die z-Achsen-Position des Etalons zFP, und, unter der Annahme, daß die Detektoren kreisförmig sind, den Radius r der Photodetektoren, deren z-Achsenposition z&sub0; und die X-Achsen-Positionen x&sub0;&sub1; und x&sub0;&sub2;.
- Jeder Detektor hat einen Durchmesser von d&sub1; bzw. d&sub2;, und die beiden Detektoren sind koplanar und sie sind durch einen Mittenabstand mit einer Entfernung von D getrennt, der sich in einer Entfernung I von der Lichtquelle befindet, wobei das FP-Filter unter einem Winkel von Θ gegenüber der Normalen auf die Ebene der beiden Detektoren geneigt ist.
- Faktoren, die das Betriebsverhalten der Anordnung beeinflussen, schließen die Neigungswinkel des FP-Etalons in den x- und y-Achsen, die FP-Index-Änderung mit der Temperatur, die x- und y-Achsen-Versetzung der Detektoren, die Linsenposition und Neigung und die z-Achsen-Position der Detektoren ein. T ist die Übertragung von der Quelle zu einem Detektor und schließt den Kopplungsverlust aufgrund der beschränkten Detektorgröße ein.
- Die gewünschte eingerastete Wellenlänge λR hat einen bestimmten Zielwert, beispielsweise 1557,0 nm. Die Verhältnisse T1R/T1M und T2R/T2M sind so festgelegt, daß sie in einer ersten Näherung einhalb sind. Die Steigung an dem Einrastpunkt SR ist ebenfalls von Interesse, und zwar aufgrund ihrer Auswirkung auf die Schleifenverstärkung. Eine große Steigung ist allgemein wünschenswert. λ&sub2; -λ&sub1; drückt den Abstimmbereich aus, über den T&sub1; und T&sub2; verglichen werden können. TiM und T2M ermöglichen die Abschätzung der absoluten Leistung und damit des S/N für eine vorgegebene Detektor-Charakteristik.
- Die Anordnung ist dadurch hinsichtlich der Wellenlänge abstimmbar, daß der Neigungswinkel Θ des Filterelements geändert wird, beispielsweise der Neigungswinkel Θx, wie er in Fig. 5 gezeigt ist, wobei das Filterelement, das heißt das Etalon, auf einer einstellbaren Halterung mit vier Freiheitsgraden, unter Einschluß einer Winkeleinstellung, befestigt ist. In dem Testaufbau war die Linse außerdem in drei Abmessungen beweglich. Sobald die Anordnung für eine bestimmte Ziel- Wellenlänge ausgerichtet ist, werden die Bauteile unter Einschluß des Filters und der Linse unter Verwendung dünner Klebematerial-Schichten an ihrem Platz festgelegt.
- Die Wellenlängen-Abstimmbarkeit in der Modul-Ausrichtstufe ist ein Vorteil gegenüber bekannten Wellenlängen-Steuereinheiten auf der Grundlage von Gittern.
- Weil weiterhin die Übertragung eines Fabry-Perot-Filters durch eine Serie von Übertragungs- oder Transmissions-Spitzen unter regelmäßigen Wellenlängen- Intervallen gekennzeichnet ist, beispielsweise mit einem Abstand von 4 nm, sind gleichzeitige Stabilisierungspunkte für eine Vielzahl von vorgegebenen Wellenlängen erreichbar, die durch die Wellenlängen-Abstände der mehrfachen Transmissions- Spitzen-Charakteristik des Fabry-Perot-Filters bestimmt sind.
- Somit sind die minimal erforderlichen Komponenten für das Wellenlängen- Diskriminations-Schema ein Schmalband-Übertragungs-Filter (Etalon) und zwei mit engem Abstand angeordnete Detektoren, vorzugsweise ein angepaßtes Paar von Photodioden, und eine Regelschleife, die auf das Differenzsignal von dem beiden Photodetektoren anspricht. Ein Fabry-Perot-Etalon ist erforderlich, um geeignete Characteristiken des wellenlängenselektiven Filterelements zu schaffen.
- Die Lichtquelle kann beispielsweise eine vordere Facette eines Halbleiter-Lasers, beispielsweise eines DFB-Lasers, oder das gespleißte oder verjüngte Ende einer Monomoden-Lichtleitfaser sein. Wenn dies erforderlich ist, wird die Divergenz der Emissionsquelle in der in Fig. 1 gezeigten Weise durch eine Linse kontrolliert werden, die irgendeine geeignete aspherische Linse, eine Zylinder-Linse, eine spherische Linse oder eine gradierte Index-Linse aus Glas oder Kunststoff sein kann. Eine größere Fleckgröße gibt dem Filter eine Form, die näher an dem Erwünschten liegt, und ergibt eine bessere Leistungsübertragung an die Detektoren. Alternativ kann die Anordnung ohne die Linse vorgesehen werden, wenn die Divergenz der Emissionsquelle ausreichend ist, um diese Forderungen zu erfüllen. In vorteilhafter Weise sind keine kollimierenden Strahlen erforderlich, wodurch möglicherweise die Anzahl von Bauteilen und die Größe der Anordnung verringert wird.
- In der vorstehend beschriebenen Anordnung ermöglicht es die Kompaktheit und Einfachheit der Konfiguration, diese zusammen mit einer Laserquelle in einem üblichen Laser-Sender-Gehäuse anzuordnen. Dies ist von besonderem Vorteil für die Integration mit vorhandenen Systemen. Einige der Vorteile der gleichen Konfiguration können in einer Einheit erzielt werden, die außerhalb der Laserquelle angeordnet ist, weil jedoch die Kopplung mit einer externen Einheit polarisationsabhängig ist, würden Koppler oder Lichtleitfasern, die die Polarisation aufrechterhalten, bevorzugt sein.
- Somit wird eine einfache und kompakte Wellenlängen-Überwachungs- und Steueranordnung für eine Laseremissionsquelle geschaffen, die ein einen schmalen Bandpaß bildendes wellenlängenselektives Übertragungsfilter-Element umfaßt, beispielsweise ein Fabry-Perot-Etalon, durch das hindurch ein nicht kollimierter Strahl von der Laser-Quelle auf zwei mit engem Abstand angeordnete Photodetektoren gelenkt wird. Zur Wellenlängen-Stabilisation wird der Differenzausgang der beiden Photodetektoren, der durch die Änderung der Übertragung oder Transmission des Filterelements bei einer Änderung der Wellenlänge erzeugt wird in einer Rückführungsschleife zur Stabilisation der Wellenlänge der Laser-Quelle auf eine gewünschte Ziel-Wellenlänge verwendet. Wahlweise wird eine Wellenlängen- Abstimmbarkeit durch Ändern des Neigungswinkels des Fabry-Perot-Etalons gegenüber der Laser-Quelle vorgesehen. Das System ist kompakt und kann zusammen mit einer Laseremissionsquelle in dem gleichen Gehäuse oder der Verpackung angeordnet werden, wodurch Kopplungs-, Raum- und Verlustleistungs- Probleme vermieden werden, die bei bekannten externen Halbleiterlaser-Wellenlängen- Steuereinheiten üblich sind.
- Obwohl spezielle Ausführungsformen im einzelnen beschrieben wurden, ist es verständlich, daß Abänderungen und Modifikationen der Ausführungsformen innerhalb des Schutzumfangs der folgenden Ansprüche durchgeführt werden können.
Claims (14)
1. Wellenlängen-Überwachungs- und Steueranordnung (10) für ein optisches System,
das eine divergente Laseremissionsquelle (12) umfaßt, wobei die Anordnung folgendes
umfaßt:
- erste (20) und zweite (22) Photodetektoren, die durch einen bestimmten Abstand
getrennt sind und in einer bestimmten Entfernung von der Emissionsquelle angeordnet
sind, eine Regelschleife (28) zur Rückführung eines Differenzsignals, das von den
ersten und zweiten Photodetektoren in Abhängigkeit von einer Änderung der
Wellenlänge der Emissionsquelle erzeugt wird, an Steuereinrichtungen für die
Emissionsquelle, gekennzeichnet durch:
- ein einen schmalen Bandpaß bildendes wellenlängenselektives Transmissions-
Filterelement (18) mit einer Fabry-Perot-Struktur, das zwischen der Quelle und den
Detektoren angeordnet ist, wobei das Filter unter einem Winkel Θ gegenüber der
optischen Achse der Emissionsquelle geneigt ist, um eine Winkelabhängigkeit der
Wellenlängentransmission des Filters zu schaffen.
2. Anordnung nach Anspruch 1, die eine Linse (16) umfaßt, die zwischen der
Emissionsquelle und dem Transmissions-Filterelement angeordnet ist, um die
Divergenz der Laseremissionsquelle zu steuern.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, bei der die Laseremissionsquelle einen
Halbleiterlaser umfaßt, der in einem Gehäuse angeordnet ist, wobei die Wellenlängen-
Überwachungs-Anordnung innerhalb des gleichen Gehäuses vorgesehen ist, um eine
integrale Einheit zu bilden.
4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, bei der die Laseremissionsquelle
eine Ausgangsfacette eines Halbleiterlasers umfaßt.
5. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, bei der die Laseremissionsquelle eine
gespleißte Monomoden-Lichtleitfaser umfaßt.
6. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, bei der die Laseremissionsquelle eine
verjüngte Monomoden-Lichtleitfaser umfaßt.
7. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der das Filter ein
Fabry-Perot-Etalon umfaßt, und wobei der Neigungswinkel Θ des Etalon zur
Emissionsquelle einstellbar ist, um eine Abstimmbarkeit der vorgegebenen
Wellenlänge zu schaffen.
8. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der die
Photodetektoren durch ein angepaßtes Paar von Photodioden gebildet sind.
9. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der die Verstärkung
jedes der beiden Photodetektoren unabhängig einstellbar ist, und wobei eine
vorgegebene Wellenlänge durch Einstellung ungleicher Verstärkungen für die beiden
Photodetektoren auswählbar ist.
10. Anordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der gleichzeitige
Stabilisierungspunkte für eine Vielzahl von vorgegebenen Wellenlängen erreichbar
sind, die durch Wellenlängen-Abstände der mehrfachen Transmissionsspitzen-
Charakteristik des Fabry-Perot-Filters bestimmt sind.
11. Gehäuse für ein optisches System, das eine Anordnung nach einem der
Ansprüche 1 bis 10 einschließt.
12. Verfahren zur Schaffung einer Wellenlängen-Stabilisierung einer divergierenden
Laseremissionsquelle (12) in einem optischen System, wobei das Verfahren die
folgenden Schritte umfaßt:
- Bereitstellen erster (20) und zweiter (22) Photodetektoren, die durch einen
bestimmten Abstand voneinander getrennt sind, und die an einer bestimmten
Entfernung von der Emissionsquelle angeordnet sind,
- Bereitstellen eines einen schmalen Bandpaß bildenden wellenlängenselektiven
Transmissions-Filterelements (18) mit einer Fabry-Perot-Struktur, das zwischen der
Quelle und dem Detektor angeordnet ist, wobei das Filter unter einem Winkel Θ
gegenüber der optischen Achse der Emissionsquelle geneigt ist, um eine
Winkelabhängigkeit der Wellenlängen-Transmission des Filters zu schaffen,
- und die Bereitstellung einer Regelschleife (28) zur Rückführung eines
Differenzsignals, das von den ersten und zweiten Photodetektoren als Antwort auf eine
Änderung der Wellenlänge der Emissionsquelle erzeugt wird, an Steuereinrichtungen
der Emissionsquelle.
13. Verfahren nach Anspruch 12, das den weiteren Schritt der Bereitstellung einer
Linse (16) umfaßt, die zwischen der Emissionsquelle und dem Transmissions-
Filterelement angeordnet ist, um die Divergenz der Laseremissionsquelle zu steuern.
14. Verfahren nach Anspruch 12 oder 13, das weiterhin den Schritt der Auswahl einer
Wellenlänge durch unabhängiges Einstellen der Verstärkungen der zwei
Photodetektoren derart umfaßt, daß diese ungleiche Verstärkungen aufweisen.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/680,284 US5825792A (en) | 1996-07-11 | 1996-07-11 | Wavelength monitoring and control assembly for WDM optical transmission systems |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69711126D1 DE69711126D1 (de) | 2002-04-25 |
DE69711126T2 true DE69711126T2 (de) | 2002-12-19 |
Family
ID=24730476
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69711126T Expired - Lifetime DE69711126T2 (de) | 1996-07-11 | 1997-07-09 | Wellenlängenmonitor und Bedienungsanordnung für WDM optische Übertragungssysteme |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5825792A (de) |
EP (1) | EP0818859B1 (de) |
JP (1) | JP3979703B2 (de) |
CA (1) | CA2209558C (de) |
DE (1) | DE69711126T2 (de) |
Families Citing this family (196)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9715022D0 (en) * | 1997-07-18 | 1997-09-24 | Renishaw Plc | Frequency stabilised laser diode |
US6370290B1 (en) | 1997-09-19 | 2002-04-09 | Uniphase Corporation | Integrated wavelength-select transmitter |
US5956356A (en) * | 1997-12-08 | 1999-09-21 | Lucent Technologies Inc. | Monitoring wavelength of laser devices |
US6101200A (en) * | 1997-12-24 | 2000-08-08 | Nortel Networks Corporation | Laser module allowing simultaneous wavelength and power control |
US6289028B1 (en) | 1998-02-19 | 2001-09-11 | Uniphase Telecommunications Products, Inc. | Method and apparatus for monitoring and control of laser emission wavelength |
US6134253A (en) * | 1998-02-19 | 2000-10-17 | Jds Uniphase Corporation | Method and apparatus for monitoring and control of laser emission wavelength |
KR100295810B1 (ko) | 1998-06-02 | 2001-10-26 | 서평원 | 파장분할다중방식광전송망채널감시시스템 |
KR100318922B1 (ko) | 1998-07-30 | 2001-12-29 | 윤종용 | 파장 분할 다중방식을 채용한 광 전송시스템에서 안정화상태감시기능을 구비한 파장 안정화회로 |
US6198757B1 (en) * | 1998-08-26 | 2001-03-06 | Lucent Technologies Inc. | Control system for wavelength stabilization of a laser source |
US6222861B1 (en) * | 1998-09-03 | 2001-04-24 | Photonic Solutions, Inc. | Method and apparatus for controlling the wavelength of a laser |
JP2002525856A (ja) | 1998-09-11 | 2002-08-13 | ニュー・フォーカス・インコーポレイテッド | 波長可変レーザ |
AU1905400A (en) | 1998-10-16 | 2000-05-08 | New Focus, Inc. | Interferometer for optical wavelength monitoring |
US6560253B1 (en) | 1999-01-14 | 2003-05-06 | Jds Uniphase Corporation | Method and apparatus for monitoring and control of laser emission wavelength |
KR20000051028A (ko) | 1999-01-18 | 2000-08-16 | 윤종용 | 광 필터 및 이를 이용한 광채널 감시 장치 및 방법 |
WO2000052789A2 (en) * | 1999-03-01 | 2000-09-08 | The Regents Of The University Of California | A tunable laser source with an integrated wavelength monitor and method of operating same |
US6215801B1 (en) * | 1999-03-05 | 2001-04-10 | Lucent Technologies, Inc. | Wavelength stabilized laser |
US6384947B1 (en) * | 1999-03-09 | 2002-05-07 | Agere Systems Guardian Corp. | Two path digital wavelength stabilization |
KR100292808B1 (ko) | 1999-03-12 | 2001-06-15 | 윤덕용 | 투과특성이 서로 다른 광학 필터를 이용한 주파수 감시 장치 |
US6233263B1 (en) * | 1999-06-04 | 2001-05-15 | Bandwidth9 | Monitoring and control assembly for wavelength stabilized optical system |
US6291813B1 (en) * | 1999-06-07 | 2001-09-18 | Agere Systems Optoelectronics Guardian Corp. | Method and system for deriving a control signal for a frequency stabilized optical source |
KR100300099B1 (ko) * | 1999-06-07 | 2001-09-22 | 윤종용 | 광펄스의 천이 출력을 측정하는 장치 및 방법 |
US6486984B1 (en) | 1999-06-07 | 2002-11-26 | Agilent Technologies, Inc. | Wavelength monitor using hybrid approach |
US6341040B1 (en) * | 1999-06-08 | 2002-01-22 | Jds Uniphase Corporation | Multi-plate comb filter and applications therefor |
US6516010B1 (en) | 1999-07-13 | 2003-02-04 | Agere Systems, Inc. | Method and apparatus for active numeric temperature compensation of an etalon in a wavelength stabilized laser |
US6853654B2 (en) | 1999-07-27 | 2005-02-08 | Intel Corporation | Tunable external cavity laser |
US6879619B1 (en) | 1999-07-27 | 2005-04-12 | Intel Corporation | Method and apparatus for filtering an optical beam |
US6186937B1 (en) * | 1999-07-30 | 2001-02-13 | Lucent Technologies, Inc. | Method and device for obtaining a desired phase of optical characteristic of a fabry-perot etalon |
CA2381662A1 (en) * | 1999-08-10 | 2001-02-15 | Reich Watterson | Single etalon optical wavelength reference device |
US6498800B1 (en) | 1999-08-10 | 2002-12-24 | Coretek, Inc. | Double etalon optical wavelength reference device |
GB2362501C (en) | 1999-08-13 | 2008-08-21 | Marconi Comm Ltd | Method of controlling a laser in a WDM application |
EP1212581A4 (de) * | 1999-08-23 | 2003-01-02 | Coretek Inc | Wellenlängenreferenzvorrichtung |
KR100334790B1 (ko) * | 1999-09-13 | 2002-05-02 | 윤종용 | 레이저 다이오드를 위한 파장 안정화 장치 |
US6856632B1 (en) | 1999-09-20 | 2005-02-15 | Iolon, Inc. | Widely tunable laser |
US6847661B2 (en) | 1999-09-20 | 2005-01-25 | Iolon, Inc. | Tunable laser with microactuator |
DE19954036A1 (de) * | 1999-10-29 | 2001-05-10 | Siemens Ag | Verfahren und Anordnung zur Wellenlängenstabilisierung von Licht |
US6204970B1 (en) * | 1999-12-13 | 2001-03-20 | Corning Incorporated | Method of spectrally tuning a filter |
US6400737B1 (en) | 1999-12-14 | 2002-06-04 | Agere Systems Guardian Corp. | Automatic closed-looped gain adjustment for a temperature tuned, wavelength stabilized laser source in a closed-loop feedback control system |
US6433869B1 (en) | 1999-12-17 | 2002-08-13 | Nortel Networks Limited | Wavelength measurement by dispersion timing |
US6535532B1 (en) * | 1999-12-30 | 2003-03-18 | Agere Systems Inc | Method and apparatus to select optimal operating conditions in a digital wavelength stabilized control system |
SE517341C2 (sv) | 2000-01-10 | 2002-05-28 | Ericsson Telefon Ab L M | Integrerad våglängdsmonitor för laserljus |
KR20010073962A (ko) * | 2000-01-24 | 2001-08-03 | 오길록 | 파장안정화를 위한 파장검출 및 안정화 방법과 이를이용한 파장안정화 광원모듈 |
WO2001057487A1 (fr) | 2000-01-31 | 2001-08-09 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Dispositif de controle de longueur d'onde, procede de reglage correspondant, source lumineuse stabilisee, et systeme de communication utilisant des sources lumineuses stabilisees |
JP2001257419A (ja) | 2000-03-10 | 2001-09-21 | Nec Corp | 波長安定化レーザモジュール |
CA2335892A1 (en) * | 2000-03-20 | 2001-09-20 | Richard Bendicks Bylsma | Raised optical detector on optical sub-assembly |
JP3931545B2 (ja) * | 2000-03-22 | 2007-06-20 | 住友電気工業株式会社 | 発光モジュール |
JP2001284711A (ja) * | 2000-03-31 | 2001-10-12 | Hitachi Ltd | 光伝送装置及びこれを用いた光システム |
US6661818B1 (en) | 2000-04-05 | 2003-12-09 | Digital Optics Corporation | Etalon, a wavelength monitor/locker using the etalon and associated methods |
US7092416B2 (en) * | 2000-04-05 | 2006-08-15 | Digital Optics Corporation | Integrated wavelength locker for use with more than one wavelength and associated methods |
EP1158630B1 (de) * | 2000-04-25 | 2006-12-06 | Avanex Corporation | Wellenlängenstabilisierungsvorrichtung und dessen Arbeitswellenlängenjustierungsverfahren |
US7209498B1 (en) | 2000-05-04 | 2007-04-24 | Intel Corporation | Method and apparatus for tuning a laser |
JP2001358362A (ja) * | 2000-06-16 | 2001-12-26 | Oki Electric Ind Co Ltd | 光モニタ,光フィルタ,および光モジュール |
US6587214B1 (en) | 2000-06-26 | 2003-07-01 | Jds Uniphase Corporation | Optical power and wavelength monitor |
US7120176B2 (en) | 2000-07-27 | 2006-10-10 | Intel Corporation | Wavelength reference apparatus and method |
EP1346445B1 (de) | 2000-08-09 | 2011-11-09 | Santur Corporation | Verstimmbarer laserdiode mit verteilter rückkopplung |
US6738140B2 (en) | 2000-09-19 | 2004-05-18 | Lambda Control, Inc. | Wavelength detector and method of detecting wavelength of an optical signal |
US6735395B1 (en) | 2000-09-29 | 2004-05-11 | Futurewei Technologies, Inc. | WDM communication system utilizing WDM optical sources with stabilized wavelengths and light intensity and method for stabilization thereof |
JP4626042B2 (ja) * | 2000-09-29 | 2011-02-02 | 住友電気工業株式会社 | 発光モジュール |
DE10048695A1 (de) * | 2000-09-30 | 2002-04-11 | Leybold Vakuum Gmbh | Pumpe als Seitenkanalpumpe |
US6587484B1 (en) * | 2000-10-10 | 2003-07-01 | Spectrasensor, Inc,. | Method and apparatus for determining transmission wavelengths for lasers in a dense wavelength division multiplexer |
US6671296B2 (en) * | 2000-10-10 | 2003-12-30 | Spectrasensors, Inc. | Wavelength locker on optical bench and method of manufacture |
US6693928B2 (en) | 2000-10-10 | 2004-02-17 | Spectrasensors, Inc. | Technique for filtering chirp from optical signals |
US6611341B2 (en) | 2000-10-10 | 2003-08-26 | Spectrasensors, Inc. | Method and system for locking transmission wavelengths for lasers in a dense wavelength division multiplexer utilizing a tunable etalon |
JP2004518287A (ja) * | 2000-10-30 | 2004-06-17 | サンター コーポレイション | 熱によるレーザ素子のチューニング |
WO2002037069A1 (en) * | 2000-10-30 | 2002-05-10 | Santur Corporation | Laser and fiber coupling control |
WO2002037621A2 (en) * | 2000-10-30 | 2002-05-10 | Santur Corporation | Tunable controlled laser array |
JP2002148121A (ja) * | 2000-11-09 | 2002-05-22 | Mitsubishi Electric Corp | 波長モニタ装置及びこれを用いた波長安定化光源並びに波長検出方法 |
JP2002171023A (ja) | 2000-11-30 | 2002-06-14 | Hitachi Ltd | 集積化光素子及び半導体レーザモジュール並びに光送信機 |
US6486950B1 (en) | 2000-12-05 | 2002-11-26 | Jds Uniphase Corporation | Multi-channel wavelength monitor |
JP3781982B2 (ja) * | 2000-12-06 | 2006-06-07 | 三菱電機株式会社 | 半導体レーザ装置 |
JP4656614B2 (ja) | 2000-12-18 | 2011-03-23 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 波長安定化ユニット及び波長安定化レーザモジュール |
US6744793B2 (en) | 2000-12-21 | 2004-06-01 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method and apparatus for stabilizing a broadband source |
US6515752B2 (en) | 2000-12-28 | 2003-02-04 | Coretek, Inc. | Wavelength monitoring system |
US6791694B2 (en) * | 2001-01-16 | 2004-09-14 | Santur Corporation | Tunable optical device using a scanning MEMS mirror |
JP2002232050A (ja) | 2001-02-01 | 2002-08-16 | Hitachi Ltd | 光モジュール |
DE10106079B4 (de) * | 2001-02-08 | 2008-01-03 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Durchführung interferometrischer Messungen |
JP2002252413A (ja) | 2001-02-26 | 2002-09-06 | Hitachi Ltd | 半導体レーザモジュール及びこれを用いた光システム |
US6597712B2 (en) | 2001-02-26 | 2003-07-22 | Hitachi, Ltd. | Laser diode module |
US6898221B2 (en) * | 2001-03-15 | 2005-05-24 | Iolon, Inc. | Apparatus for frequency tuning and locking and method for operating same |
US6619864B2 (en) | 2001-03-15 | 2003-09-16 | Optinel Systems, Inc. | Optical channel monitor with continuous gas cell calibration |
US6658031B2 (en) | 2001-07-06 | 2003-12-02 | Intel Corporation | Laser apparatus with active thermal tuning of external cavity |
WO2002084742A1 (en) | 2001-03-30 | 2002-10-24 | Santur Corporation | Switched laser array modulation with integral electroabsorption modulator |
US6781734B2 (en) | 2001-03-30 | 2004-08-24 | Santur Corporation | Modulator alignment for laser |
AU2002254522A1 (en) | 2001-03-30 | 2003-11-11 | Santur Corporation | High speed modulation of arrayed lasers |
WO2002080317A1 (en) | 2001-03-30 | 2002-10-10 | Santur Corporation | Alignment of an on chip modulator |
EP1255097B1 (de) * | 2001-05-02 | 2007-08-29 | Avago Technologies Fiber IP (Singapore) Pte. Ltd. | Vorrichtung zur Steuerung der Wellenlänge eines Lasers |
US6959153B2 (en) * | 2001-05-24 | 2005-10-25 | Broadband Royalty Corporation | Dynamically reconfigurable add/drop multiplexer with low coherent cross-talk for optical communication networks |
US20020181515A1 (en) * | 2001-05-31 | 2002-12-05 | Kennet Vilhemsson | Apparatus and method for controlling the operating wavelength of a laser diode |
JP4084006B2 (ja) * | 2001-06-27 | 2008-04-30 | 株式会社日立製作所 | 半導体レーザ制御モジュールとその応用装置 |
US6724797B2 (en) | 2001-07-06 | 2004-04-20 | Intel Corporation | External cavity laser with selective thermal control |
US6822979B2 (en) | 2001-07-06 | 2004-11-23 | Intel Corporation | External cavity laser with continuous tuning of grid generator |
US6804278B2 (en) | 2001-07-06 | 2004-10-12 | Intel Corporation | Evaluation and adjustment of laser losses according to voltage across gain medium |
US6901088B2 (en) * | 2001-07-06 | 2005-05-31 | Intel Corporation | External cavity laser apparatus with orthogonal tuning of laser wavelength and cavity optical pathlength |
EP1421421A4 (de) * | 2001-07-20 | 2005-10-05 | Essex Corp | Verfahren und vorrichtung zur optischen signalverarbeitung unter verwendung einer optischen abgegriffenen verzögerungsleitung |
JP4780694B2 (ja) * | 2001-08-01 | 2011-09-28 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 波長安定化レーザモジュール及びレーザ光の波長安定化方法 |
WO2003015226A2 (en) * | 2001-08-08 | 2003-02-20 | Santur Corporation | Method and system for selecting an output of a vcsel array |
US6993257B2 (en) * | 2001-08-15 | 2006-01-31 | Broadband Royalty Corporation | Optical channel monitor utilizing multiple Fabry-Perot filter pass-bands |
JP2003101130A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-04-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 発光モジュール |
JP2003101133A (ja) * | 2001-09-20 | 2003-04-04 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 発光モジュール |
US7289544B2 (en) * | 2001-09-20 | 2007-10-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical module |
US6888857B2 (en) * | 2001-09-21 | 2005-05-03 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical module |
US6683295B2 (en) | 2001-10-01 | 2004-01-27 | Digital Optics Corp. | Reduced noise wavelength locker module |
JP3690321B2 (ja) * | 2001-10-01 | 2005-08-31 | 住友電気工業株式会社 | 波長検出装置、マルチモード半導体レーザモジュール、波長安定化装置およびラマン増幅器 |
US20080044128A1 (en) * | 2001-10-09 | 2008-02-21 | Infinera Corporation | TRANSMITTER PHOTONIC INTEGRATED CIRCUITS (TxPICs) AND OPTICAL TRANSPORT NETWORK SYSTEM EMPLOYING TxPICs |
EP1436931B1 (de) * | 2001-10-09 | 2005-12-28 | Infinera Corporation | Digitale optische netzwerkarchitektur |
US7751658B2 (en) * | 2001-10-09 | 2010-07-06 | Infinera Corporation | Monolithic transmitter photonic integrated circuit (TxPIC) having tunable modulated sources with feedback system for source power level or wavelength tuning |
US7680364B2 (en) * | 2001-10-09 | 2010-03-16 | Infinera Corporation | Wavelength locking and power control systems for multi-channel photonic integrated circuits (PICS) |
AU2002334906A1 (en) * | 2001-10-09 | 2003-04-22 | Infinera Corporation | Transmitter photonic integrated circuits (txpic) and optical transport networks employing txpics |
US7116851B2 (en) | 2001-10-09 | 2006-10-03 | Infinera Corporation | Optical signal receiver, an associated photonic integrated circuit (RxPIC), and method improving performance |
US7672546B2 (en) | 2001-10-09 | 2010-03-02 | Infinera Corporation | Optical transport network having a plurality of monolithic photonic integrated circuit semiconductor chips |
JP3993409B2 (ja) | 2001-10-17 | 2007-10-17 | 日本オプネクスト株式会社 | 光モジュール及びその製造方法 |
US20030076568A1 (en) * | 2001-10-22 | 2003-04-24 | Adc Telecommunications, Inc. | Light frequency stabilizer |
EP1309049A1 (de) | 2001-11-05 | 2003-05-07 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Wellenlängenempfindliche Vorrichtung zur Wellenlängenstabilisation |
EP1315259A1 (de) * | 2001-11-23 | 2003-05-28 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Änderungen der Wellenlänge eines Lasers |
US6859469B2 (en) * | 2001-12-11 | 2005-02-22 | Adc Telecommunications, Inc. | Method and apparatus for laser wavelength stabilization |
US7075656B2 (en) | 2001-12-11 | 2006-07-11 | Adc Telecommunications, Inc. | Method and algorithm for continuous wavelength locking |
US7038782B2 (en) | 2001-12-11 | 2006-05-02 | Adc Telecommunications, Inc. | Robust wavelength locker for control of laser wavelength |
KR100431195B1 (ko) * | 2001-12-18 | 2004-05-12 | 한국전자통신연구원 | 음향광학 파장가변 필터를 이용한 다중파장 고정방법 및장치 |
US6738536B2 (en) * | 2001-12-20 | 2004-05-18 | Optinel Systems, Inc. | Wavelength tunable filter device for fiber optic systems |
US7146064B2 (en) * | 2001-12-21 | 2006-12-05 | Gsi Group Corporation | System and method for producing optical circuits |
US20030118268A1 (en) * | 2001-12-21 | 2003-06-26 | Christopher Wimperis | System and method for producing optical circuits |
EP1324516B1 (de) | 2001-12-21 | 2005-12-14 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Verfahren und Gerät zur Detektierung von Übersprechen |
US7230959B2 (en) | 2002-02-22 | 2007-06-12 | Intel Corporation | Tunable laser with magnetically coupled filter |
JP4190775B2 (ja) | 2002-03-05 | 2008-12-03 | Necエレクトロニクス株式会社 | 波長安定化半導体レーザモジュール |
US7528385B2 (en) | 2002-03-15 | 2009-05-05 | Pd-Ld, Inc. | Fiber optic devices having volume Bragg grating elements |
WO2003079058A2 (en) | 2002-03-15 | 2003-09-25 | Pd-Ld, Inc. | Fiber optic devices having volume bragg grating elements |
US6911629B2 (en) * | 2002-03-16 | 2005-06-28 | Agilent Technologies, Inc. | Method and system for turning on an optical radiation source |
EP1345298A1 (de) * | 2002-03-16 | 2003-09-17 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Wellenlängenkontrollgerät und Verfahren dafür |
EP1345296A1 (de) * | 2002-03-16 | 2003-09-17 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | System zur Leistungskontrol, Wellenlänge und Extinktionsratio in ioptischen Quellen und Rechnerprogram dafür |
EP1345297A1 (de) * | 2002-03-16 | 2003-09-17 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Vorrichtung zur Steuerung der Wellenlänge einer optischen Quelle |
EP1345295A1 (de) | 2002-03-16 | 2003-09-17 | Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) | Verfahren und Vorrichtung zum Aufstarten einer optischen Lichtquelle |
US6910780B2 (en) * | 2002-04-01 | 2005-06-28 | Santur Corporation | Laser and laser signal combiner |
US6724784B2 (en) | 2002-04-15 | 2004-04-20 | Agere Systems Inc. | Optical wavelength locker module having a high thermal conductive material |
JP2004022916A (ja) * | 2002-06-19 | 2004-01-22 | Nikon Corp | レーザ光源制御方法及び装置、露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法 |
EP1380822B1 (de) * | 2002-07-11 | 2006-12-20 | Agilent Technologies, Inc. - a Delaware corporation - | Vorrichtung und Verfahren zur Wellenlängenbestimmung |
EP1381090A1 (de) * | 2002-07-11 | 2004-01-14 | Agilent Technologies, Inc. - a Delaware corporation - | Vorrichtung und Verfahren zur Wellenlängenmessung |
US7088441B2 (en) | 2002-09-19 | 2006-08-08 | Mitutoyo Corporation | Method and apparatus for measuring wavelength changes in a high-resolution measurement system |
US6816323B2 (en) * | 2002-10-03 | 2004-11-09 | Intel Corporation | Coupling with strong lens and weak lens on flexure |
US7747114B2 (en) | 2002-10-08 | 2010-06-29 | Infinera Corporation | Tilted combiners/decombiners and photonic integrated circuits (PICs) employing the same |
JP2004153149A (ja) * | 2002-10-31 | 2004-05-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 発光モジュール |
US6838658B2 (en) * | 2002-11-12 | 2005-01-04 | Intel Corporation | Simple and compact laser wavelength locker |
GB2396249B (en) * | 2002-11-21 | 2005-01-12 | Bookham Technology Plc | Wavelength locker |
KR20040047254A (ko) * | 2002-11-29 | 2004-06-05 | 한국전자통신연구원 | 에탈론 필터가 집적된 파장가변 레이저 다이오드 광학기구 |
US6896422B2 (en) | 2003-02-04 | 2005-05-24 | Intel Corporation | Optoelectronic modules and methods of manufacturing the same |
US20040190580A1 (en) * | 2003-03-04 | 2004-09-30 | Bardia Pezeshki | High-yield high-precision distributed feedback laser based on an array |
EP1458070A1 (de) * | 2003-03-12 | 2004-09-15 | Agilent Technologies Inc. a Delaware Corporation | Optische Wellenlängen Überprüfungsanlage |
EP1649564A4 (de) * | 2003-07-03 | 2007-09-05 | Pd Ld Inc | Verwendung von volumen-bragg-gittern zur aufbereitung von laseremissionskenngrössen |
CA2540089A1 (en) | 2003-09-26 | 2005-04-07 | Pd-Ld, Inc. | Methods for manufacturing volume bragg grating elements |
US7133136B2 (en) * | 2003-10-22 | 2006-11-07 | Jds Uniphase Corporation | Wavelength monitor |
KR100583649B1 (ko) * | 2003-12-24 | 2006-05-26 | 한국전자통신연구원 | 콜리메이팅 검출장치 및 이를 이용한 광모듈 패키징 장치 |
US7889776B2 (en) * | 2004-01-20 | 2011-02-15 | Trumpf Photonics Inc. | High-power semiconductor laser |
ATE410804T1 (de) * | 2004-06-10 | 2008-10-15 | Finisar Corp | Wellenlängenstabilisiertes lasermodul |
US7310153B2 (en) * | 2004-08-23 | 2007-12-18 | Palo Alto Research Center, Incorporated | Using position-sensitive detectors for wavelength determination |
US7522786B2 (en) | 2005-12-22 | 2009-04-21 | Palo Alto Research Center Incorporated | Transmitting light with photon energy information |
US7949030B2 (en) | 2005-02-03 | 2011-05-24 | Pd-Ld, Inc. | High-power, phased-locked, laser arrays |
US7301612B2 (en) * | 2005-08-09 | 2007-11-27 | The Boeing Company | Optical network and method including self-test capability |
US7693420B2 (en) * | 2005-08-09 | 2010-04-06 | The Boeing Company | Thermal drift compensation system and method for optical networks |
US7773885B2 (en) * | 2005-08-09 | 2010-08-10 | The Boeing Company | Thermal drift compensation system and method for optical networks |
US7463832B2 (en) * | 2005-08-09 | 2008-12-09 | The Boeing Company | Thermal drift compensation system and method for optical networks |
GB2429766A (en) * | 2005-09-06 | 2007-03-07 | Bookham Technology Plc | Light monitoring device |
US7315667B2 (en) * | 2005-12-22 | 2008-01-01 | Palo Alto Research Center Incorporated | Propagating light to be sensed |
US8437582B2 (en) | 2005-12-22 | 2013-05-07 | Palo Alto Research Center Incorporated | Transmitting light with lateral variation |
US7433552B2 (en) * | 2005-12-22 | 2008-10-07 | Palo Alto Research Center Incorporated | Obtaining analyte information |
US7718948B2 (en) * | 2006-12-04 | 2010-05-18 | Palo Alto Research Center Incorporated | Monitoring light pulses |
US9164037B2 (en) | 2007-01-26 | 2015-10-20 | Palo Alto Research Center Incorporated | Method and system for evaluation of signals received from spatially modulated excitation and emission to accurately determine particle positions and distances |
US8821799B2 (en) | 2007-01-26 | 2014-09-02 | Palo Alto Research Center Incorporated | Method and system implementing spatially modulated excitation or emission for particle characterization with enhanced sensitivity |
US8455157B1 (en) | 2007-04-26 | 2013-06-04 | Pd-Ld, Inc. | Methods for improving performance of holographic glasses |
JP2009004525A (ja) * | 2007-06-21 | 2009-01-08 | Fujitsu Ltd | 光源モジュール |
US8320983B2 (en) | 2007-12-17 | 2012-11-27 | Palo Alto Research Center Incorporated | Controlling transfer of objects affecting optical characteristics |
US8629981B2 (en) | 2008-02-01 | 2014-01-14 | Palo Alto Research Center Incorporated | Analyzers with time variation based on color-coded spatial modulation |
US8373860B2 (en) | 2008-02-01 | 2013-02-12 | Palo Alto Research Center Incorporated | Transmitting/reflecting emanating light with time variation |
US8101471B2 (en) * | 2008-12-30 | 2012-01-24 | Intel Corporation | Method of forming programmable anti-fuse element |
GB0904476D0 (en) | 2009-03-16 | 2009-04-29 | Bookham Technology Plc | Ridge waveguide serial interferometers |
US8477296B2 (en) | 2010-04-12 | 2013-07-02 | University of Maribor | Opto-electronic signal processing methods, systems, and apparatus for optical sensor interrogation |
US8781327B2 (en) | 2010-07-09 | 2014-07-15 | Futurewei Technologies, Inc. | Use of multiple shared wavelength lockers to stabilize transponders in a wavelength division multiplexing (WDM) network |
GB2484334A (en) * | 2010-10-07 | 2012-04-11 | Oclaro Technology Ltd | Semiconductor laser device and method for stabilising the wavelength of a semiconductor laser device |
US8723140B2 (en) | 2011-08-09 | 2014-05-13 | Palo Alto Research Center Incorporated | Particle analyzer with spatial modulation and long lifetime bioprobes |
US9029800B2 (en) | 2011-08-09 | 2015-05-12 | Palo Alto Research Center Incorporated | Compact analyzer with spatial modulation and multiple intensity modulated excitation sources |
US8971714B2 (en) | 2011-09-29 | 2015-03-03 | Lockheed Martin Corporation | Photonic circuit |
JP5825162B2 (ja) | 2012-03-16 | 2015-12-02 | 富士通株式会社 | フロントエンド装置 |
JP2013243304A (ja) * | 2012-05-22 | 2013-12-05 | Mitsubishi Electric Corp | 波長モニタ、及び波長モニタリング方法 |
JPWO2013187114A1 (ja) * | 2012-06-11 | 2016-02-04 | コニカミノルタ株式会社 | 分光光学系、分光測定装置 |
US9525269B2 (en) * | 2014-11-22 | 2016-12-20 | TeraDiode, Inc. | Wavelength beam combining laser systems utilizing etalons |
US9391696B1 (en) | 2015-04-09 | 2016-07-12 | International Business Machines Corporation | Tuning external cavity lasers within CWDM transmitters for temperature insensitivity and superchannel construction |
CN106998230B (zh) * | 2017-03-07 | 2019-07-09 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 内置信号校准电路的双速率dml器件、模块及信号校准方法 |
US9983122B1 (en) * | 2017-08-03 | 2018-05-29 | Sea-Bird Electronics, Inc. | Aqueous solution constituent analyzer |
US10305601B2 (en) | 2017-08-31 | 2019-05-28 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Optical channel-to-wavelength tuning |
JP6761390B2 (ja) * | 2017-09-19 | 2020-09-23 | 日本電信電話株式会社 | 半導体光集積素子 |
GB201805277D0 (en) * | 2018-03-29 | 2018-05-16 | Oclaro Tech Ltd | Optical filter control |
DE102018205559C5 (de) * | 2018-04-12 | 2024-06-27 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Optische sende/empfangs-einheit und vorrichtung zur signalübertragung |
US10230474B1 (en) | 2018-06-15 | 2019-03-12 | Optella Inc. | Dispersion compensation apparatus and driving method thereof |
KR102183003B1 (ko) * | 2018-08-01 | 2020-11-27 | (주)엘디스 | 광통신 광원용 광파장 감시기 |
DE102019202766C5 (de) | 2019-02-28 | 2024-04-25 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Optische Sende/Empfangs-Einheit und Vorrichtung zur Signalübertragung |
US11283237B2 (en) | 2019-07-22 | 2022-03-22 | Coherent, Inc. | Laser wavelength stabilization apparatus |
CN110530610A (zh) * | 2019-08-28 | 2019-12-03 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 利用回音壁模式的激光光源测fp偏振特性的装置及方法 |
CN112945909B (zh) * | 2021-01-29 | 2024-06-14 | 武汉光谷航天三江激光产业技术研究院有限公司 | 基于共振增强效应的激光反射元件功率检测装置及方法 |
KR20230061039A (ko) | 2021-10-28 | 2023-05-08 | 한국전자기술연구원 | 파장 안정기 및 그를 구비하는 광 모듈 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0001714B1 (de) * | 1977-10-26 | 1984-03-21 | The Post Office | Steuerapparat für eine Halbleiter-Laservorrichtung |
DE3212809C2 (de) * | 1982-04-06 | 1984-12-20 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Meßeinrichtung für die Stabilisierung von Lasern |
JPS60117695A (ja) * | 1983-11-29 | 1985-06-25 | Sharp Corp | 半導体レ−ザ光源装置 |
GB8522821D0 (en) * | 1985-09-16 | 1985-10-23 | British Telecomm | Frequency referencing system |
KR910006307B1 (ko) * | 1987-09-26 | 1991-08-19 | 미쓰비시덴기 가부시기가이샤 | 레이저 파장의 안정화 방법 및 파장 안정화 장치 |
CA1313688C (en) * | 1987-10-28 | 1993-02-16 | Hitsoshi Wakata | Method of stabilizing a wavelength of a laser beam and wavelength stabilizing laser device |
US5003546A (en) * | 1989-08-31 | 1991-03-26 | At&T Bell Laboratories | Interferometric devices for reducing harmonic distortions in laser communication systems |
DE69120369T2 (de) * | 1990-09-20 | 1997-01-09 | Fujitsu Ltd | Vorrichtung zur Steuerung und Messung der optischen Frequenztastung von Laserlicht |
JP2914748B2 (ja) * | 1990-10-20 | 1999-07-05 | 富士通株式会社 | 半導体レーザの周波数安定化装置 |
US5243614A (en) * | 1990-11-28 | 1993-09-07 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Wavelength stabilizer for narrow bandwidth laser |
JP3407893B2 (ja) * | 1991-05-27 | 2003-05-19 | パイオニア株式会社 | 半導体レーザ制御装置 |
DE69200586T2 (de) * | 1992-01-24 | 1995-05-24 | Hewlett Packard Gmbh | Verfahren und Apparat zum Abstimmen der Wellenlänge in einer optischen Vorrichtung und deren Anwendung in einem Laser. |
JPH0783154B2 (ja) * | 1992-11-04 | 1995-09-06 | 日本電気株式会社 | 波長切り換え光源 |
WO1994015388A1 (en) * | 1992-12-18 | 1994-07-07 | Olympus Optical Co., Ltd. | Apparatus for stabilizing wavelength |
-
1996
- 1996-07-11 US US08/680,284 patent/US5825792A/en not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-07-02 CA CA002209558A patent/CA2209558C/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-07-09 EP EP97111630A patent/EP0818859B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-07-09 DE DE69711126T patent/DE69711126T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-07-11 JP JP18620497A patent/JP3979703B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0818859B1 (de) | 2002-03-20 |
CA2209558A1 (en) | 1998-01-11 |
DE69711126D1 (de) | 2002-04-25 |
EP0818859A1 (de) | 1998-01-14 |
US5825792A (en) | 1998-10-20 |
JPH1079723A (ja) | 1998-03-24 |
CA2209558C (en) | 2001-03-27 |
JP3979703B2 (ja) | 2007-09-19 |
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