DE69500100T2

DE69500100T2 - Analoge Spannung-Ausgangsschaltung

Info

Publication number: DE69500100T2
Application number: DE69500100T
Authority: DE
Inventors: Sylvie Drouot
Original assignee: SGS Thomson Microelectronics SA
Current assignee: STMicroelectronics SA
Priority date: 1994-01-28
Filing date: 1995-01-23
Publication date: 1997-05-07
Anticipated expiration: 2015-01-24
Also published as: FR2715772B1; JPH0843496A; EP0666481B1; DE69500100D1; EP0666481A1; FR2715772A1; US5705934A

Description

Die Erfindung betrifft integrierte Schaltungen.
Genauer gesagt, betrifft sie eine Analogspannungs-Ausgangsschaltung, die intern in einer integrierten Schaltung erzeugt wird.
Funktionsweise und Verwendung bestimmter integrierter Schaltungen können deren Entwickler dazu anregen, zur größeren Bequemlichkeit Versorgungsschaltkreise zu entwickeln, die intern in diesen integrierten Schaltungen bestehen.
Bei einer gegebenen Anwendung, bei der mehrere integrierte Schaltungen benötigt werden (Mikroprozessor, Speicher, Wandler, etc.), die sich auf einer Scheibe befinden, begrenzt man die Anzahl von den einzelnen Schaltungen gemeinsamen und somit zu diesen externen Versorgungsschaltkreisen. Dadurch wird insbesondere das Verlegen der Verbindungsdrähte erleichtert, welche diese integrierten Schaltungen miteinander verbinden.
Allgemein werden integrierte Schaltungen zwischen mindestens einer Masse und einer positiven Analogspannung, beispielsweise 5 V, versorgt, die unter anderem zur Versorgung der Logikschaltungen verwendet wird. Gelegentlich werden sie auch von einer zweiten Analgogspannung, beispielsweise 15 V, versorgt.
Um sich die Dinge einfacher zu machen, wird also versucht, Versorgungsschaltkreise zu entwickeln, die in bestimmte integrierte Schaltungen eingebaut sind, um für die einwandfreie Funktion dieser Schaltungen benötigte Analogspannungen zu erzeugen. Diese Analogspannungen werden ausgehend von den Versorgungsspannungen erzeugt, welche der integrierten Schaltung geliefert werden. Wenn die Funktion der integrierten Schaltung eine höhere Analogspannung erfordert, können beispielsweise Pumpschaltungen verwendet werden, welche die Spannung erhöhen. Im Rahmen der Verwendung eines EPROM-Speichers muß man beispielsweise über eine Spanne von Analogversorgungsspannungen für das Lesen, Schreiben und eventuelle Löschen von Zellen dieses Speichers verfügen. Die Werte dieser Analogspannungen schwanken je nach angewandter Technologie. Diese Analogspannungen sind für andere integrierte Schaltungen, die mit diesem Speicher verbunden oder auf der gleichen Scheibe vorhanden sind, nicht unbedingt nützlich. Daher ist es nicht nützlich, ja sogar unsinnig, einen oder mehrere externe Versorgungsschaltkreise des Speichers vorzusehen, deren einziges Ziel es wäre, diesen Speicher mit diesen Analogspannungen zu versorgen.
Um die Verfügbarkeit einer integrierten Schaltung während der Entwicklung zu prüfen, testet man verschiedene Hauptelemente dieser Schaltung. Eventuelle Versorgungsspannungen, die intern in dieser integrierten Schaltung erzeugt werden, gehören im allgemeinen zu diesen Hauptelementen.
Früher wurden die Ausgänge interner Versorgungsschaltkreise mit Sonden gemessen. Physikalisch ging es darum, eine Metallspitze auf eine leitende Bahn zu legen, die in Höhe eines Ausgangs des zu testenden Versorgungsschaltkreises angeschlossen war. Nun werden die Definitionsmindestabmessungen integrierter Schaltungen jedoch immer geringer. Bei Bahnabmessungen von einigen Mikrometern gibt es Probleme mit der mechanischen und elektrischen Empfind lichkeit. Bei der geringsten mechanischen Erschütterung muß die Metallspitze praktisch neu positioniert werden, wodurch sich die für die Messung benötigte Zeit erhöht. Andererseits reagiert diese Spitze, da sie eine Breite in der Größenordnung der Leiterbahnen haben muß, empfindlich auf Phänomene elektromagnetischer Strahlung, welche die Meßergebnisse verfälschen. Daher ist es schwierig, wenn nicht unmöglich, den oder die Werte der von einer oder mehreren internen integrierten Schaltungen gelieferten Analogspannungen zu testen.
So ergab sich die Notwendigkeit, Analogspannungs-Ausgangsschaltungen herzustellen, um den Wert dieser Analogspannungen an Kontaktpins der integrierten Schaltung zu testen.
Abgesehen davon, daß dadurch noch mehr Platz verbraucht wird, erfordert dies auch die zuordnung mindestens eines Kontaktpins der integrierten Schaltung zum Ausgang der Analogspannung/en, die gemessen werden sollen. Nun ist man jedoch bestrebt, die Anzahl von Kontaktpins der integrierten Schaltung auf ein Minimum zu beschränken, um deren Abmessungen zu begrenzen. Andererseits wird ein Testausgang einer internen Versorgung während der Entwicklungsphase verwendet und ist nicht dazu bestimmt, von einem Endbenutzer verwendet zu werden. Letzterer hat wenig Interesse daran, eine integrierte Schaltung mit einem oder mehreren für seine Anwendung unbrauchbaren Anschluß/Anschlüssen zu verwenden.
Bei der Entwicklung stellt man möglicherweise fest, daß ein Teil der mit einem internen Versorgungsschaltkreis verbundenen integrierten Schaltung nicht funktioniert. Dann ist es sinnvoll, zu prüfen, ob der Versorgungsschaltkreis tatsächlich die erwartete Analogspannung liefert. Ist die Anwort negativ, ist es immer noch sinnvoll, die Reaktion der integrierten Schaltung zu überprüfen, wenn gewünschte Analogspannung an diese Schaltung geliefert wird. Es erscheint also vorteilhaft, die erwartete Analogspannung von außen aufdrücken zu können.
Die Patentanmeldung US-A-4 950 921 betrifft einen Speicher, der eine Spannungsgeneratorschaltung umfaßt, die eine interne Spannung liefert, sowie eine Klemme zum Empfang einer Analogspannung. Er umfaßt eine Alterungstestkontrollschaltung, die eine interne Versorgungsleitung schaltet, die internen Schaltungen entweder die interne oder die Versorgungsspannung liefert.
Dieser Speicher weist für die interne Spannung keine Ausgangsschaltung an einer Ausgangsklemme auf, die entweder als Testklemme oder zu anderen Zwecken dienen kann.
Die Patentanmeldung GB-A-2 258 925 betrifft ebenfalls eine Schaltung, die einen Spannungsgenerator und Steuervorrichtungen zur Durchführung von Alterungstests umfaßt. Bei dieser Schaltung erzeugt der Generator zwei verschiedene interne Spannungen, entsprechend der an eine Klemme der Schaltung angelegten Spannung.
Auch dieser Speicher weist für die erzeugte Spannung keine Ausgangsschaltung an einer Ausgangsklemme auf, wobei die Klemme entweder als Testklemme oder zu anderen Zwecken dienen kann.
Die Patentanmeldung US-A-5 212 442 betrifft eine Schaltung, die so ausgerüstet ist, daß ihr Substrat an ein gegebenes Potential angelegt werden kann.
Angesichts des vorstehend Gesagten besteht das Ziel der vorliegenden Erfindung darin, eine Testschaltung vorzuschlagen, die drei Funktionen erfüllt:
- Testmöglichkeit für den oder die Wert/e einer oder mehrerer Analogspannung/en, die von Versorgungsschaltkreisen erzeugt werden, die in einer integrierten Schaltung vorgesehen sind, wobei der Wert bzw. die Werte an einem oder mehreren Kontaktpin/s der integrierten Schaltung zugänglich ist/sind,
- Möglichkeit des Aufdrückens dieses Werts bzw. dieser Werte, die außerhalb der integrierten Schaltung erzeugt wurden, wobei dieser Wert bzw. diese Werte an Kontaktpins der integrierten Schaltung angelegt werden,
- im Normalbetrieb Möglichkeit der Trennung der internen Versorgungsschaltkreise von den Kontaktpins, die zum Messen oder Aufdrücken einer Analogspannung verwendet werden.
Die letztere beschriebene Funktion erlaubt die eventuelle Verwendung eines für den Test (Messen oder Aufdrükken) verwendeten Kontaktpins zu einem anderen Zweck im normalem Einsatz. Auf diese Weise gibt es bei der (zum Verkauf bestimmten) Kundenversion der integrierten Schaltung keine unbrauchbaren Kontaktpins.
Nach der Erfindung wird dieses Ziel mit einer integrierten Schaltung erreicht, die Bezugsklemmen zum Liefern jeweils einer oder mehrerer Grundspannung/en und einer oder mehrerer Versorgungsspannung/en umfaßt, wobei einer oder mehrere interne Versorgungsschaltkreis/e mindestens eine interne Eingangsklemme umfassen, um eine Versorgungsspannung aufzunehmen, mindestens eine interne Ausgangsklemme zum Liefern einer internen Versorgungsspannung, und mindestens eine Steuerklemme zum Empfang eines Start-Impulssignals, eine Testklemme und eine Test-Steuerklemme, wobei die Testklemme eine Testspannung empfangen oder liefern kann, und wobei die Test-Steuerklemme ein Test-Steuerimpulssignal empfangen kann, sowie eine Analogspannungs- Ausgangsschaltung, die jeweils mit der Ausgangsklemme, der Testklemme, der Test-Steuerklemme, einer oder mehreren Bezugsklemmen zusammengeschaltet ist, wobei diese Analogspannungs-Ausgangsschaltung Trenntransistoren umfaßt, die in Serie zwischen der Ausgangsklemme und der Testklemme geschaltet sind, und einen oder mehrere Verbindungsschaltkreise, dadurch gekennzeichnet, daß ein erster Verbindungsschaltkreis das Steuergitter eines ersten Trenntransistors jeweils mit der Testklemme zusammenschaltet, wenn sich das Test-Steuersignal in einem ersten Zustand befindet, und mit einer Bezugsklemme, wenn sich das Test-Steuersignal in einem zweiten Zustand befindet.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform schaltet ein zweiter Verbindungsschaltkreis das Steuergitter eines zweiten Trenntransistors jeweils mit der internen Ausgangsklemme zusammen, wenn sich das Test-Steuersignal in seinem ersten Zustand befindet, und mit einer Bezugsklemme, wenn sich das Test-Steuersignal in seinem zweiten Zustand befindet.
Auf diese Weise ermöglicht die Schaltung der Erfindung einerseits, die interne Ausgangsklemme und die Testklemme zu trennen, wenn sich das Test-Steuersignal in seinem ersten Zustand befindet, und andererseits, die interne Ausgangsklemme und die Testklemme zusammenzuschalten, wenn sich das Test-Steuersignal in seinem zweiten Zustand befindet.
Zur Trennung der internen Ausgangsklemme und der Testklemme legt man die Gitter von Trenntransistoren an diese Klemmen an. Auf diese Weise sind diese Transistoren unabhängig von den an diesen Klemmen vorhandenen Spannungswerten blockiert.
Erster und zweiter Trenntransistor sind günstigerweise P-Transistoren. Diese Transistoren haben einen doppelten Vorteil. Erstens werden die Spannungsabfälle zwischen dem Ausgang des internen Versorgungsschaltkreis und der Testklemme minimiert. Zweitens kann man das Zusammenschalten der internen Ausgangsklemme und der Testklemme steuern, indem man ihr Steuergitter an Masse legt. Man kann somit der Ausgangsklemme unabhängig von der an der internen Ausgangsklemme vorhandenen Spannung leicht eine äußere Spannung aufdrücken.
Da diese Transistoren in Serie geschaltet sind, schaltet man vorteilhafterweise den Mittelpunkt dieser Transistoren mit dem Drain eines N-Transistors zusammen, dessen Quelle mit einer Bezugsklemme zusammengeschaltet ist und dessen Steuergitter mit dem Steuergitter des zweiten Trenntransistors zusammengeschaltet ist. Außerdem erreicht man auf diese Weise durch das Zusammenschalten der Substrate der Trenntransistoren jeweils mit der Testklemme bzw. der internen Ausgangsklemme eine einwandfreie Trennung zwischen diesen Klemmen.
Weitere Besonderheiten und Vorteile der vorliegenden Erfindung gehen aus der nachfolgenden genauen Beschreibung eines bevorzugten Ausführungsbeispiels hervor, das nur beispielhaft und nicht erschöpfend gegeben ist.
Fig. 1 allein stellt ein Beispiel einer integrierten Schaltung 1 dar, die eine Analogspannungs-Ausgangsschaltung 2 der Erfindung umfaßt.
Diese integrierte Schaltung 1 umfaßt:
- Bezugsklemmen 2, 3 und 4 zum Liefern jeweils einer oder mehrerer Grundspannung/en und einer oder mehrerer Versorgungsspannung/en,
- einen internen Versorgungsschaltkreis 5,
- eine Testklemme 6 und eine Test-Steuerklemme 7,
- eine Analogspannungs-Ausgangsschaltung 8.
In dem beschriebenen Beispiel umfaßt die integrierte Schaltung 1 drei Bezugsklemmen 2, 3 und 4. Diese Bezugsklemmen liefern der integrierten Schaltung 1 eine oder mehrere Spannung/en. Mit Liefern ist gemeint, daß diese Spannungen von Versorgungsschaltkreisen außerhalb der integrierten Schaltung 1 erzeugt werden. Die Bezugsklemmen 2, 3 und 4 sind also in der Praxis Kontaktpins der integrierten Schaltung 1.
Die Bezugsklemme 2 liefert eine sogenannte Grundspannung GND. In der Praxis handelt es sich dabei um eine Masse.
Die Bezugsklemmen 3 und 4 liefern jeweils eine erste Versorgungsspannung VCCL und eine zweite Versorgungsspannung VCCA.
In dem betrachteten Beispiel entspricht die erste Versorgungsspannung VCCL einer Spannung, die Logikschaltungen versorgt. Diese Logikversorgungsspannung VCCL beträgt in der Praxis 3 bis 5 Volt. Die zweite Versorgungsspannung VCCA entspricht einer Analogspannung von beispielsweise 12 bis 15 Volt. Diese Art Analogstromversorgung VCCA wird üblicherweise zum Betrieb von EPROM-Speichern verwendet, die hohe Spannungen benötigen (bis zu 20 Volt), beispielsweise zum Programmieren und Löschen (im Falle von EEPROM- Speichern) der Zellen dieser Speicher. Es ist nämlich einfacher und vor allem kostengünstiger, eine Spannung um einen geringen Wert, beispielsweise 12 bis 17 Volt, als um einen hohen Wert, 5 bis 17 Volt, zu erhöhen.
Natürlich könnte man auch ein Beispiel einer Schaltung nehmen, die von einer einzigen externen Versorgungsspannung versorgt wird.
Der interne Versorgungsschaltkreis 5 umfaßt:
- eine interne Eingangsklemme 9 zum Empfang einer Versorgungsspannung,
- eine interne Ausgangsklemme 10 zum Liefern einer internen Versorgungsspannung VPC, und
- eine Steuerklemme 11 zum Empfang eines Start-Impulssignals.
Es wird nur von einem einzigen internen Versorgungsschaltkreis 5 ausgegangen. Dennoch könnten je nach den für den Betrieb der integrierten Schaltung 1 erforderlichen Spannungswerten auch mehrere interne Versorgungsschaltkreise vorgesehen werden.
Die Zusammensetzung und die Funktion des internen Versorgungsschaltkreises 5 werden in der Folge der Beschreibung nicht umfassend beschrieben. In der Regel werden beispielsweise Schenkel-Pumpschaltungen verwendet.
Der interne Versorgungsschaltkreis 5 empfängt an seiner internen Eingangsklemme 9 eine externe Versorgungsspannung, VCCL oder VCCA. Ausgehend von dieser externen Versorgungsspannung erzeugt er eine interne Versorgungsspannung VPC. Diese interne Versorgungsspannung VPC wird an den Rest der integrierten Schaltung 1 an deren interner Ausgangsklemme 10 geliefert. Intern bedeutet hier, daß sie von außerhalb der integrierten Schaltung 1 nicht zugänglich ist, im Gegensatz zu Kontaktpins, die dies sind.
Die Steuerklemme 11 empfängt ein Binärsteuersignal ON/OFF. Dieses Signal ON/OFF wird zum Starten, beim Zustand ON, oder Stoppen, beim Zustand OFF, des internen Versorgungsschaltkreises 5 verwendet. Ein solches Signal ON/OFF ist nicht zwingend erforderlich. Es wäre denkbar, daß der interne Versorgungsschaltkreis 5 immer in Betrieb ist. Dennoch ist es vom Betrieb her vorteilhaft, ein solches Steuersignal vorzusehen. Man will nämlich statt und anstelle der Versorgungsspannung VPC eine außerhalb erzeugte Span nung der integrierten Schaltung aufdrücken können. In diesem Fall wird empfohlen, die Möglichkeit einer Trennung der internen Ausgangsklemme 10 von dem internen Versorgungsschaltkreis 5 vorzusehen, um einen möglichen Kurzschluß zwischen dem internen Versorgungsschaltkreis 5 und einem externen Versorgungsschaltkreis zu verhindern. Andererseits ist es allgemein sinnvoll, den Verbrauch der integrierten Schaltung 1 zu begrenzen. Man wird also im allgemeinen versuchen, den Verbrauch bestimmter Teile dieser Schaltung, die nicht im Einsatz sind, zu unterbrechen.
In der Folge der Beschreibung wird davon ausgegangen, daß GND 0V, VCCL 5V, VCCA 12V und VPC 7V entspricht. Es wird angenommen, daß VPC von VCCL aus erzeugt wird, und daß die interne Eingangsklemme 9 mit der Logikversorgungsklemme 3 zusammengeschaltet wird.
Die Testklemme 6 kann eine Testspannung empfangen oder liefern. Diese Testklemme 6 ist ein Kontaktstift der integrierten Schaltung 1. Durch Zusammenschalten mit dieser Testklemme 6 kann man die Versorgungsspannung VPC messen und der internen Ausgangsklemme 10 des internen Versorgungsschaltkreises 5 eine Spannung aufdrücken.
Die Test-Steuerklemme 7 kann ein Test-Steuerimpulssignal /TEST empfangen. Das Test-Steuersignal /TEST kann zwei Werte haben, die in der Praxis VCCL und GND entsprechen. Diese Spannungswerte entsprechen Logikzuständen und 1. /TEST=0 entspricht dem Spannungswert GND. /TEST=1 entspricht dem Spannungswert VCCL. Wenn das Test-Steuersignal /TEST bei logischer 0 steht, kann man an der internen Ausgangsklemme 10 eine Spannung messen oder aufdrücken. Wenn das Test-Steuersignal /TEST bei logischer 1 steht, trennt man die interne Ausgangsklemme 10 von der Testklemme
Praktisch ist die Test-Steuerklemme 7 entweder ein Kontaktstift der integrierten Schaltung 1 oder eine interne Klemme. Wenn sie ein Kontaktstift ist, kann man sie in der Kundenversion eventuell zu einem anderen Zweck verwenden. Wenn sie eine interne Klemme ist, wird das Test-Steuersignal /TEST intern in der integrierten Schaltung 1 erzeugt. In der Regel wird die zweite Lösung bevorzugt, wobei das Signal /TEST von einer an die integrierte Schaltung 1 gelieferten Codefrequenz aus erzeugt wird.
Die Analogspannungs-Ausgangsschaltung 8 ist jeweils zusammengeschaltet mit:
- der internen Ausgangsklemme 10,
- der Testklemme 6,
- der Test-Steuerklemme 7,
- den Bezugsklemmen 2 und 3.
Diese Analogspannungs-Ausgangsschaltung 8 umfaßt Trenntransistoren 12, 13, die in Serie zwischen der internen Ausgangsklemme 10 und der Testklemme 6 geschaltet sind. Die Trenntransistoren 12, 13 sowie die nachstehend beschriebenen Transistoren sind beispielsweise MOS-Transistoren. Sie umfaßt außerdem Verbindungsschaltkreise 14, 15.
Ein erster Verbindungsschaltkreis 14 schaltet das Steuergitter eines ersten Trenntransistors 12 jeweils zusammen mit:
- der Testklemme 6, wenn das Test-Steuersignal /TEST auf 1 steht,
- mit der Basisklemme 2, wenn das Test-Steuersignal /TEST auf 0 steht.
Dieser erste, in klassischer Weise ausgeführte Verbindungsschaltkreis 14 umaßt:
- zwei Eingänge,
- einen mit dem einen oder anderen Ausgang zusammengeschalteten Ausgang,
- eine Steuerung.
Zwei Transistoren 16 und 17, jeweils ein P- und ein N- Transistor, sind zwischen der Testklemme 6 und der Basisklemme 2 in Serie geschaltet. Die Testklemme 6 und die Basisklemme 2 sind die Eingänge des Verbindungsschaltkreises 14. Die Quelle des P-Transistors 16 ist mit der Testklemme 6 zusammengeschaltet. Die Quelle des N-Transistors 17 ist mit der Basisklemme 2 zusammengeschaltet. Die Drains dieser beiden Transistoren 16 und 17 sind zusammengeschaltet und bilden den Ausgang des Verbindungsschaltkreises 14, wobei dieser selbst mit dem Steuergitter des ersten Trenntransistors 12 zusammengeschaltet ist.
Der erste Verbindungsschaltkreis 14 umfaßt zwei wei tere Transistoren 18 und 19, jeweils einen P- und ein N- Transistor, deren Quellen in gleicher Weise an die der ersten Transistoren 16 und 17 montiert sind und deren Drains ebenfalls zusammengeschaltet sind.
Das Steuergitter des ersten P-Transistors 16 ist mit dem Drain des zweiten P-Transistors 18 zusammengeschaltet. Ebenso ist das Steuergitter des zweiten P-Transistors 18 mit dem Drain des ersten P-Transistors 16 zusammengeschaltet.
Das Steuergitter des zweiten N-Transistors 19 ist mit der Test-Steuerklemme 7 zusammengeschaltet. Das Steuergitter des ersten N-Transistors 17 ist es auch, und zwar über einen Inverter, der in herkömmlicher Weise zwei Transistoren 20 und 21 entgegengesetzten Typs aufweist, die zwischen der Logikversorgungsklemme 3 und der Basisklemme 2 in Serie geschaltet sind. Die Steuerung des Verbindungs schaltkreises 14 hängt somit von dem Test-Steuersignal /TEST ab.
Ein zweiter Verbindungsschaltkreis 15 schaltet das Steuergitter eines zweiten Trenntransistors 13 jeweils zusammen mit:
- der internen Ausgangsklemme 10, wenn das Test-Steuersignal /TEST auf 1 steht,
- der Basisklemme 2, wenn das Test-Steuersignal /TEST auf 0 steht.
Dieser zweite Verbindungsschaltkreis 15 ist genauso wie der erste Verbindungsschaltkreis 14 ausgeführt, mit einem Unterschied. Die Eingänge dieses Verbindungsschaltkreises sind nämlich die interne Ausgangsklemme 10 und die Basisklemme 2 und nicht die Testklemme 6 und die Basisklemme 2.
Der erste Trenntransistor 12 ist ein P-Transistor, dessen Quelle und Substrat mit der Testklemme 6 zusammengeschaltet sind.
Der zweite Trenntransistor 13 ist ein P-Transistor, dessen Quelle und Substrat mit der internen Ausgangsklemme 10 zusammengeschaltet sind und dessen Drain mit dem Drain des ersten Trenntransistors 12 zusammengeschaltet ist.
Zur besseren Meßgenauigkeit werden P-Transistoren vorgezogen. In wie oben beschriebener Weise montierte N-Transistoren würden nämlich Spannungsabfälle von bis zu 2 Volt pro Transistor induzieren (Schwellen- und Substrateffekt).
5. Die gemessene Spannung würde somit relativ stark von der tatsächlich in Höhe der internen Ausgangsklemme 10 vorhandenen Spannung abweichen. Beispielsweise werden 4 statt 7 Volt gemessen. Zur Minimierung dieser Verluste könnte man ins Auge fassen, die Steuergitter dieser Transistoren mit einer Versorgungsklemme zusammenzuschalten, welche eine höhere Versorgungsspannung liefert, beispielsweise VCCA (12V). Dies würde das Einbauschema verkomplizieren, was nicht wünschenswert ist. Andererseits müßte auch sichergestellt sein, daß die Spannung VPC diese Versorgungsspannung VCCA niemals überschreitet.
Die Testschaltung 8 trennt die interne Ausgangsklemme und die Testklemme 6, wenn das Test-Steuersignal /TEST auf 1 steht. Die Steuergitter der Trenntransistoren 12 und 13 sind dann nämlich mit ihren Quellen zusammengeschaltet. Sie sind somit unabhängig von den an den Klemmen 10 und 6 vorhandenen Spannungen blockiert.
Die Analogspannungs-Ausgangsschaltung 8 schaltet die interne Ausgangsklemme 10 und die Testklemme 6 zusammen, wenn das Test-Steuersignal /TEST auf 0 steht. Die Steuergitter der Trenntransistoren 12 und 13 sind dann nämlich mit der Basisklemme 2 zusammengeschaltet.
In diesem Fall kann man den internen Versorgungsschaltkreis 5 problemlos von seiner internen Ausgangsklemme trennen. Die Tatsache, daß man den zweiten Trenntransistor 13 blockiert oder durchgehend macht, ist unabhängig von dem Wert der internen Versorgungsspannung VPC. Im ersteren Fall sind das Steuergitter und die Quelle dieses Transistors zusammengeschaltet. Im zweiten Fall ist das Steuergitter dieses Transistors mit der Basisklemme 2 zu sammengeschaltet, sofern VCCL positiv ist. Will man der Testklemme 6 eine Spannung aufdrücken, kann man also den internen Versorgungsschaltkreis 5 und die interne Ausgangsklemme 10 trennen.
Vorteilhafterweise werden die Drains der Trenntransistoren 12 und 13 mit dem Drain eines N-Transistors 22 zusammengeschaltet, dessen Quelle mit der Basisklemme 2 zusammengeschaltet und dessen Steuergitter mit dem Steuergitter des zweiten Trenntransistors 13 zusammengeschaltet ist. Somit erreicht man im Normalbetrieb eine einwandfreie Trennung zwischen der internen Ausgangsklemme 10 und der Testklemme 6. Die Substrate der Trenntransistoren 12 und 13 sind dann nämlich sicher an ein Potential gelegt, das höher oder gleich den Potentialen der Quellen und Drains dieser Transistoren ist. Auf diese Weise verhindert man Verluste aufgrund eines schwankenden Potentials in Höhe der Drains der Trenntransistoren 12 und 13.
Das Verhältnis zwischen der Breite des Steuergitters und der Länge desselben, in Mikrometer ausgedrückt, kann beispielsweise folgendes sein:
- 30/6 beim ersten Trenntransistor 12, und
- 15/3 beim zweiten Trenntransistor 13.
Vorstehend wurde eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung beschrieben.
Diese Ausführungsform ist nicht erschöpfend. Insbesondere könnte man die Analogspannungs-Ausgangsschaltung ver doppeln, um verschiedene interne Versorgungsschaltkreise zu testen, indem man ebenfalls die Anzahl der Test-Steuersignale verdoppelt. Es würde keinerlei Probleme bereiten, diese Schaltungen mit ein und derselben Testklemme zusammenzuschalten. Wenn man nämlich darauf achtet, daß nicht mehr als ein Test-Steuersignal auf einmal auf 0 steht, kann man sicher sein, daß diese Schaltungen voneinander getrennt sind.

Claims

1. Integrierte Schaltung (1), die umfaßt:

- Bezugsklemmen (2, 3, 4) zum Liefern jeweils einer oder mehrerer Grundspannung/en (GND) und einer oder mehrerer Versorgungsspannung/en (VCCL, VCCA),

- einen internen Versorgungsschaltkreis (5), der mindestens eine interne Eingangsklemme (9) umfaßt, die eine Versorgungsspannung empfangen soll, mindestens eine interne Ausgangsklemme (10) zum Liefern einer internen Versorgungsspannung (VPC), und mindestens eine Steuerklemme (11), die ein Start-Impulssignal (ON/OFF) empfangen soll,

- eine Testklemme (6) und eine Test-Steuerklemme (7), wobei die Testklemme (6) eine Testspannung empfangen oder liefern kann, und wobei die Test-Steuerklemme (7) ein Test-Steuerimpulssignal (/TEST) empfangen kann,

- eine Analogspannungs-Ausgangsschaltung (8), die jeweils mit der internen Ausgangsklemme (10), mit der Testklemme (6), der Test-Steuerklemme (7), mit einer oder mehreren Bezugsklemmen (2, 3) zusammengeschaltet ist, wobei diese Analogspannungs-Ausgangsschaltung (8) Trenntransistoren (12, 13) umfaßt, die in Serie zwischen der internen Ausgangsklemme (10) und der Testklemme (6) geschaltet sind, und einen oder mehrere Verbindungsschaltkreise (14, 15),

dadurch gekennzeichnet, daß ein erster Schaltkreis (14) das Steuergitter eines ersten Trenntransistors (12) jeweils zusammenschaltet mit:

- der Testklemme (6), wenn sich das Test-Steuer signal (/TEST) in einem ersten Zustand befindet,

- einer Bezugsklemme (2), wenn sich das Test- Steuersignal (ITEST) in einem zweiten Zustand befindet.

2. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein zweiter Verbindungsschaltkreis (15) das Steuergitter eines zweiten Trenntransistors (13) jeweils zusammenschaltet mit:

- der internen Ausgangsklemme (10), wenn sich das Test-Steuersignal (/TEST) in seinem ersten Zustand befindet,

- einer Bezugsklemme (2), wenn sich das Test-Steuersignal (/TEST) in seinem zweiten Zustand befindet.

3. Schaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Analogspannungs-Ausgangsschaltung (8) die interne Ausgangsklemme (10) und die Testklemme (6) trennt, wenn sich das Test-Steuersignal (/TEST) in seinem ersten Zustand befindet, und daß sie die interne Ausgangsklemme (10) und die Testklemme (6) verbindet, wenn sich das Test-Steuersignal (/TEST) in seinem zweiten Zustand befindet.

4. Schaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Trenntransistor (12) ein P-Transistor ist, dessen Quelle und Substrat mit der Testklemme (6) zusammengeschaltet sind.

5. Schaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite Trenntransistor (13) ein P-Transistor ist, dessen Quelle und Substrat mit der internen Ausgangsklemme (10) zusammengeschaltet sind und dessen Drain mit dem Drain des ersten Trenntransistors (12) zusammengeschaltet ist.

6. Schaltung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Drains der Trenntransistoren (12, 13) mit dem Drain eines N-Transistors (22) zusammengeschaltet sind, dessen Quelle mit einer Bezugsklemme (2) zusammengeschaltet ist, und dessen Steuergitter mit dem Steuergitter des zweiten Trenntransistors (13) zusammengeschaltet ist.

7. Schaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Verhältnis zwischen der Breite des Steuergitters und der Länge dieses Gitters in Mikrometer ausgedrückt folgendes ist:

- 30/6 beim ersten Trenntransistor (12), und

- 15/3 beim zweiten Trenntransistor (13).