DE69300064T2 - Speicher-Leseschaltung mit Vorladung und Ausgleichung vor dem Lesen. - Google Patents

Speicher-Leseschaltung mit Vorladung und Ausgleichung vor dem Lesen.

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Description

  • Die Erfindung betrifft die Speicher in integrierter Schaltungsform und bezieht sich insbesondere auf die Leseschaltungen, die das Erfassen des Zustands der Zellen des Speichers erlauben.
  • Die Erfindung wird unter Bezugnahme auf die elektrisch programmierbaren, nichtflüchtigen Speicher (EEPROM, EPROM, Flash EPROM) beschrieben werden, obwohl sie auf andere flüchtige oder nichtflüchtige Speicherarten anwendbar ist.
  • Die Speicher sind in Rastern von Zellen organisiert, wobei die Zellen einer einzelnen Spalte mit einer Bitleitung und die Zellen einer einzelnen Zeile mit einer Wortleitung verbunden sind. Die Bitleitung erlaubt, eine Information über den Zustand einer sich am Kreuzungspunkt dieser Bitleitung und einer ausgewählten Wortleitung befindenden Speicherzelle zu übertragen.
  • Die Leseschaltungen sind mit Bitleitungen verbunden, gegebenenfalls über einen Multiplexer, falls mehrere Bitleitungen für eine einzelne Leseschaltung vorhanden sind. Man wird sich nachfolgend mit dem Aufbau einer einzelnen Leseschaltung befassen, die als mit einer einzigen Bitleitung verbunden angenommen wird, um die Erklärungen zu vereinfachen.
  • Das allgemeine Prinzip einer Leseschaltung ist in der Figur 1 dargestellt, und ihre Funktion wird nachstehend erklärt werden. Man nimmt an, daß der Speicher ein EEPROM-Speicher ist, wobei die Zellen einen ursprünglichen Zustand haben können, in dem sie einen elektrischen Strom durchlassen können, und einen programmierten Zustand, in dem sie sich dem Fließen des Stroms widersetzen; um die Information zu lesen, sucht man das Vorhandensein eines Lade- oder Entladestroms der mit einer zu lesenden Zelle verbundenen Bitleitung zu erfassen: ein solcher Strom existiert, wenn die Zelle ursprünglich ist, wohingegen er nicht existiert, wenn die Zelle programmiert ist.
  • Um den Strom zu erfassen, verwendet man eine der Bitleitung ähnliche Bezugsleitung, um differentiell zu arbeiten. Die Bezugsleitung führt während der Lesephase einen Bezugsstrom. In einer der Lesephase vorangehenden Vorladephase werden die Bitleitung und die Bezugsleitung auf ein Potential vorgeladen, welches etwa 1 Volt betragen kann. Dann findet die eigentliche Lesephase statt, und der Entladestrom der Bitleitung wird mit dem Entladestrom der Bezugsleitung verglichen; dies erlaubt zu bestimmen, ob die ausgewählte Zelle ursprünglich oder programmiert ist. Bevorzugt wird ein Strom/Spannungswandler eingesetzt zum Umwandeln des Entladestroms der Bitleitung in eine Spannung, um einen Spannungs-Differenzverstärker zum Durchführen des Vergleichs einsetzen zu können.
  • Figur 1 zeigt in vereinfachter Art und Weise ein Beispiel einer bekannten Leseschaltung.
  • Eine an der Kreuzung einer Wortleitung WL und einer Bitleitung BL angeordnete Speicherzelle CM kann mittels der Wortleitung ausgewählt werden und gibt dann eine Information über den Zustand der Bitleitung ab. Die Bitleitung BL wird in einer Vorladephase über einen Transistor T1, dessen Funktion es ist, unter Begrenzung des Vorladepotentials auf einen vorbestimmten, bevorzugt nahe bei einem Volt liegenden Wert der Bitleitung einen Vorladestrom zuzuführen, mit einer Spannung vorgeladen.
  • Eine Bezugsleitung LR, mit vor allem unter dem Gesichtspunkt parasitärer Kapazitäten der Bitleitung sehr ähnlichen Eigenschaften, wird durch einen Vorladetransistor T2 gleichermaßen auf eine Spannungswert von näherungsweise einem Volt aufgeladen. Während der Lesephase nimmt diese Bezugsleitung einen Strom auf, der gleich demjenigen ist, der von einer ursprünglichen Zelle aufgenommen wird. Die Bezugsleitung kann die Bitleitung einer Spalte von ursprünglichen Bezugszellen sein, die durch dieselben Wortleitungen wie die zu lesenden Zellen adressiert werden.
  • Die Transistoren T1 bzw. T2 weisen bevorzugt einen N-Kanal auf, und ihr Sourcebereich ist mit der Bitleitung bzw. mit der Bezugsleitung verbunden. Zur Vereinfachung sind die Gatebereiche bzw. Basen der Transistoren T1 und T2 als mit einer Polarisationsspannungsquelle V1 verbunden dargestellt. Der Wert der Spannung V1 definiert die obere Grenze der Vorladespannung der Leitungen LR und BL.
  • Um den Zustand der Zellen zu lesen wird man einen Vergleich zwischen dem durch die Bitleitung aufgenommenen Strom und einem Bezugsstrom durchführen. Im einzelnen wird man den durch die Bitleitung aufgenommenen Strom mit einem Bezugsstrom vergleichen, der ein Bruchteil des normalerweise von einer ursprünglichen Zelle aufgenommenen Stroms ist.
  • Hierzu werden die Drainbereiche der Transistoren T1 und T2 durch die zwei Äste eines Stromspiegels mit einem Spiegelverhältnis k kleiner als 1 gespeist. Der erste Ast des Spiegels umfaßt einen Spiegeltransistor T3; der zweite Ast umfaßt einen Bezugstransistor T4. Der Spiegeltransistor dient dazu, den Strom zu kopieren, der im Bezugstransistor fließt. Das Spiegelverhältnis k ist das Verhältnis der Geometrien der Transistoren, und man richtet es bevorzugt so ein, daß dieses Verhältnis k kleiner ist als die Einheit, z.B. 1/2.
  • Der Spiegeltransistor T3 ist ein Transistor mit P-Kanal, dessen Sourcebereich mit der Anschlußklemme der hohen Speisespannung der Schaltung (Anschlußklemme A) verbunden ist; diese liegt im allgemeinen etwa +5 Volt höher als eine Anschlußklemme mit niedriger Speisespannung. Der Drainbereich des Spiegeltransistors ist mit dem Drainbereich des ersten Vorladetransistors T1 verbunden.
  • Der Bezugstransistor T4 ist gleichfalls ein Transistor mit P-Kanal, mit größerer Geometrie als T3, dessen Sourcebereich mit der Anschlußklemme A und dessen Drainbereich mit dem Drainbereich des zweiten Vorladetransistors T2 verbunden ist.
  • Die Gatebereiche der Transistoren T3 und T4 sind zusammengeführt, und der Gatebereich des Bezugstransistors ist mit seinem Drainbereich verbunden (Schaltung als Diode). Man hat demzufolge eine herkömmliche Stromspiegelschaltung.
  • Ein Differenzverstärker AD ist an seinen Eingängen mit den Drainbereichen der Transistoren T3 und T4 verbunden und mißt demzufolge den Unterschied zwischen den Potentialen dieser beiden Drainbereiche. Dieser Unterschied ist Null wenn die Ströme in T3 und T4 im Verhältnis k der Geometrien vorliegen. Es weicht von Null ab, wenn das Verhältnis der Ströme größer oder kleiner ist als k. Der Ausgang des Verstärkers Ausgabedaten gibt ein Signal ab, welches anzeigt, ob das Stromverhältnis größer oder kleiner ist als k.
  • Schließlich ist ein Ausgleichstransistor T5 vorgesehen zum Auf-Null-Bringen der differentiellen Eingangsspannung an den Anschlußklemmen des Differenzverstärkers in einer Ausgleichsphase, die der Vorladephase folgt und die der Lesephase vorausgeht. Diese Ausgleichsphase erlaubt, den differentiellen Spannungsunterschied am Eingang des Verstärkers AD auf einen Wert zurückzuführen, der so nahe wie möglich bei Null liegt, was dem bei einer Speicherzelle in der vorangehenden Lesephase gelesenen logischen Zustand entspricht. Der Transistor T5 ist z.B. ein während einer Ausgleichsphase EQ leitender Transistor mit N-Kanal.
  • Unter den Eigenschaften, die man von einer Leseschaltung erwartet, ist vor allem das Erreichen einer ausreichenden Schnelligkeit der Vorlade-, Ausgleichs- und Lesephasen, die überdies mit der Empfindlichkeit des Lesens verknüpft ist, d.h. mit der Fähigkeit der Schaltung, schwache Stromänderungen zu erfassen.
  • Um die Kompromisse zwischen den Anforderungen der Schnelligkeit und der Exaktheit der gelesenen Information zu mildern, schlägt die Erfindung vor, die Leseschaltung durch Modifizieren der Ausgleichsschaltung und ihrer Beziehung zu dem Rest der Leseschaltung zu verbessern.
  • Erfindungsgemäß wird ein Speicher in integrierter Schaltung vorgeschlagen, umfassend zumindest eine Bitleitung, mit der Speicherzellen verbunden sind, und eine mit der Bitleitung verbundene und einen Differenzverstärker beinhaltende Leseschaltung, Mittel zum Vorladen der Bitleitung vor einer Lesephase, und Mittel zum Ausgleichen der Eingangsspannungen des Differenzverstärkers vor der Lesephase, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel zum Ausgleichen einen Begleitverstärker beinhalten mit einem Eingang, der mit dem Ausgang des Differenzverstärkers verbunden ist und der während der Ausgleichsphase, nicht jedoch während der Lesephase, so geschaltet ist, daß er einen Bitleitungs-Ladestrom mit einer Richtung injiziert, die auf das Aufheben der Ausgangsspannung des Differenzverstärkers hinzielt.
  • Mit anderen Worten verwendet die Ausgleichsphase keinen einfachen Kurzschluß zwischen den Eingängen des Differenzverstärkers zum Ausgleichen der Vorladung der Bitleitung und der Vorladung der Bezugsleitung, um eine differentielle Spannung mit dem Wert Null am Eingang des Differenzverstärkers zu erzielen, sondern sie verwendet eine Gegenreaktion zwischen dem Ausgang des Verstärkers und einem der Eingänge, wobei sich diese Gegenreaktion auf die Vorladung der Bitleitung auswirkt.
  • Im allgemeinen Fall werden eine der Bitleitung ähnliche Bezugsleitung, ein erster Transistor zur Vorladung der Bitleitung sowie ein zweiter Transistor zur Vorladung der Bezugsleitung vorhanden sein, und der Ausgang des Begleitverstärkers wird während der Ausgleichsphase mit dem ersten Vorladetransistor verbunden sein.
  • Im Prinzip sind die Bitleitung und die Bezugsleitung mit Stromvergleichsmitteln verbunden, die erlauben, während der Lesephase den Entladestrom der Bitleitung und den Entladestrom der Bezugsleitung zu vergleichen. Diese Vergleichsmittel können einen einen Bezugstransistor und einen Spiegeltransistor aufweisenden Stromspiegel mit einem von der Einheit abweichenden Spiegelverhältnis verwenden.
  • In diesem Fall ist es wünschenswert, einen ersten Zwischentransistor, dessen Gatebereich an ein festes Potential gekoppelt und in Reihe zwischen den Spiegeltransistor und den ersten Vorladetransistor geschaltet ist, sowie einen in Reihe zwischen den Bezugstransistor und den zweiten Vorladetransistor angeordneten zweiten Zwischentransistor vorzusehen, dessen Gatebereich an dasselbe Potential wie der erste gekoppelt ist. Diese Zwischentransistoren sind, mit ihren Gatebereichen auf konstantem Potential liegend, in Kaskadenschaltung angeordnet und dienen dazu, den dynamischen Widerstand der Äste des Stromspiegels zu erhöhen, um die Erfassung einer Stromschwankung in den Ästen des Stromspiegels zu beschleunigen.
  • Die Eigenschaften und Vorteile der Erfindung werden durch das Lesen der nachstehenden detaillierten Beschreibung unter Bezugnahme auf die beigefügten Figuren deutlich, in denen:
  • - Figur 1, bereits beschrieben, eine Leseschaltung in bekannter Technik darstellt;
  • - Figur 2 eine Leseschaltung gemäß einer Ausführungsform der Erfindung darstellt; und
  • - Figur 3 eine Leseschaltung gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung darstellt.
  • Figur 2 unterscheidet sich von der Figur 1 darin, daß man den Ausgleichstransistor T5 entfernt und einen Begleitverstärker AS neu hinzugefügt hat, dessen Eingang mit dem Ausgang S des Differenzverstärkers AD und dessen Ausgang mit dem Drainbereich eines der Vorladetransistoren verbunden ist, bevorzugt mit dem Transistor T1, der mit der der zu lesenden Zelle entsprechenden Bitleitung verbunden ist.
  • Dieser Begleitverstärker AS wird nur während einer der Lesephase LCT vorangehenden Ausgleichsphase EQ aktiviert. Während der anderen Phasen, d.h. insbesondere während der Lesephase, verhält sich sein Ausgang wie eine hohe Impedanz, um keinen Strom in den ersten Ast des Stromspiegels vorwegzunehmen oder zu injizieren. Eine Steuerung zur Aktivierung des Begleitverstärkers empfängt ein die Ausgleichsphase EQ definierendes Zeitgebersignal.
  • Dieser Begleitverstärker bildet das Hauptelement einer Gegenreaktionsschleife, die die Vorladung der Bitleitung ändert, um das Potential eines Eingangs des Differenzverstärkers AD in einer Richtung zu erhöhen oder zu verringern, die darauf abzielt, die Ausgangsspannung der Differenzverstärkers zu annulieren.
  • Diese Gegenreaktionsschleife dient demzufolge dazu, die Rolle zu spielen, die man den Transistor T5 in der Figur 1 zu spielen lassen versucht, jedoch auf eine sehr unterschiedliche Art und Weise, da man einerseits direkt von dem Ausgang des Differenzverstärkers ausgehend und nicht von seinen Eingängen aus einwirkt, und andererseits durch Injizieren oder Unterdrücken eines zusätzlichen Ladestroms der Bitleitung und nicht durch Kurzschließen der Bitleitung und der Bezugsleitung einwirkt.
  • Man kann in Betracht ziehen, daß die Aktivierung des Begleitverstärkers AS wie eine ergänzende Vorladung wirkt, so daß es ebenfalls nicht zwingend erforderlich ist, zwei unterschiedliche Phasen (Vorladung und Ausgleich) vor der Lesephase vorzusehen; eine einzige Ausgleichsphase kann vorgesehen sein, da sie auf dieselbe Art und Weise wirkt wie eine Vorladephase und insgesamt die Ausgleichsfunktion sicherstellt.
  • Aus diesem Grund hat man die Steuergitter von T1 und T2 als durch eine einfache, feste Polarisationsspannung V1 gesteuert dargestellt und nicht durch eine während einer Vorladephase aktivierte Schaltung. V1 beträgt z.B. gleich 2 Volt, um das Potential der Leitungen LR und BL auf etwa 1 Volt zu begrenzen.
  • Die Transistoren T1 und T2 wirken, wie in Figur 1, als Spannungsbegrenzer, um die Vorladespannung der Bitleitung und der Bezugsleitung auf den Bereich um 1 Volt zu begrenzen.
  • Die Schaltung arbeitet auf die folgende Art und Weise: Während der Vorladephase werden die Bitleitung und die Bezugsleitung auf ein Potential von näherungsweise 1 Volt gebracht. Der während der Vorladung angelegte Wert der Spannung V1 erlaubt, diesen Potentialwert zu steuern. Dann wird, während der Ausgleichsphase, der Begleitverstärker AS aktiviert, der die Ladung der Bitleitung in Abhängigkeit von dem Ausgang des Differenzverstärkers ändert. Die Ladungsänderung der Bitleitung dient dazu, den Ausgang des Verstärkers AD auf Null zurückzuführen. Man erzielt demzufolge einen Ausgleich des Differenzverstärkers genau vor der Lesephase. Der Ausgang des Verstärkers führt dann praktisch eine Spannung mit dem Wert Null, was dem von diesem Ausgang bei dem vorangehenden Lesen eingenommenen Zustand entspricht.
  • Während der Lesephase wird der Begleitverstärker deaktiviert (Ausgang mit hoher Impedanz). Das Anlegen einer Lesespannung auf der Wortleitung hat zwei mögliche Wirkungen:
  • - wenn die Zelle ursprünglich ist, so zielt sie darauf ab, die Bitleitung mit einem Strom i zu entladen. Der Stromspiegel beaufschlagt jedoch die Bitleitung mit einem Strom k i (mit k kleiner als 1), da gleichzeitig ein Strom i in der Bezugsleitung fließt. Der Drainbereich des Transistors 1 strebt danach, auf ein Potential mit dem Wert Null abzufallen, während der Drainbereich des Transistors T2 etwa um den Wert einer Schwellenspannung unter der Speisespannung Vcc bleibt. Der Differenzverstärker kippt in einen ersten Zustand.
  • - Wenn die gelesene Zelle programmiert ist, so läßt sie keinen Entladestrom von der Bitleitung passieren, während der Spiegeltransistor T3 darauf abzielt, einen Entladestrom k i einzuprägen; der Transistor T3 sättigt sich und strebt danach, das Drainpotentiai von T1 auf Vcc zu erhöhen. Der Differenzverstärker AD kippt in die andere Richtung.
  • In einer verbesserten Ausführung, sichtbar in Figur 3, hat man einen zusätzlichen Transistor T6 zwischen den Drainbereich des Vorladetransistors T1 und den Drainbereich des Spiegeltransistors T3 zwischengeschaltet; sowie gleichermaßen einen Transistor T7 zwischen den Drainbereich des Vorladetransistors T2 und den Drainbereich des Bezugstransistors T4.
  • Diese Transistoren sind in Kaskadenschaltung angeordnet, d.h. sie haben ihre Gatebereiche auf einem Potential, das sie leitend macht. Bevorzugt sind dies Transistoren mit P-Kanal, deren Gatebereiche auf dem niedrigen Speisepotential der Schaltung (Masseklemme B) liegt. Der Ausgang des Begleitverstärkers AD ist mit dem Verbindungspunkt des Vorladetransistors T1 und des zusätzlichen Transistors T6 verbunden.
  • Der Vorteil dieser Transistoren ist der, daß sie dynamisch eine große Widerstandsimpedanz zwischen der Bitleitung und den Eingängen des Differenzverstärkers einführen. Diese Impedanz stellt eine Entkopplung zwischen dem Drainbereich des Transistors T1 (der aufgrund des Vorhandenseins des Begleitverstärkers eine große Parasitärkapazität aufweist) und dem Eingang des Differenzverstärkers (der eine schwache Parasitärkapazität aufweist) her.
  • Daraus ergibt sich, daß das Spannungsungleichgewicht, das auf der Bitleitung bei der Lesephase auftritt, sich stark verstärkt auf die Anschlußklemmen des Differenzverstärkers zurück überträgt. Der Lesevorgang wird infolgedessen beschleunigt.

Claims (8)

1. Speicher in integrierter Schaltungsform, umfassend zumindest eine Bitleitung (BL), mit der Speicherzellen (CM) verbunden sind, und eine mit der Bitleitung verbundene und einen Differenzverstärker (AD) beinhaltende Leseschaltung, Mittel (T1) zum Vorladen der Bitleitung vor einer Lesephase, und Mittel zum Ausgleichen der Eingangsspannungen des Differenzverstärkers vor der Lesephase, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel zum Ausgleichen einen Begleitverstärker (AS) beinhalten mit einem Eingang, der mit dem Ausgang des Differenzverstärkers (AD) verbunden ist und der während der Ausgleichsphase, nicht jedoch während der Lesephase, so geschaltet ist, daß er einen Bitleitungs-Ladestrom mit einer Richtung injiziert, die auf das Aufheben der Ausgangsspannung des Differenzverstärkers (AD) hinzielt.
2. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine der Bitleitung ähnliche Bezugsleitung (LR) vorgesehen ist, und daß die Mittel zum Vorladen einen ersten Vorladetransistor (T1) für die Bitleitung und einen zweiten Vorladetransistor (T2) für die Bezugsleitung umfassen, wobei der Ausgang des Begleitverstärkers (AS) während der Ausgleichsphase mit dem ersten Vorladetransistor (T1) verbunden ist.
3. Speicher nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Basen der Vorladetransistoren während der Vorladephase mit einem Bezugspotential verbunden sind.
4. Speicher nach einem der Ansprüche 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Bitleitung und die Bezugsleitung mit Stromvergleichsmitteln (T3, T4) verbunden sind, die während der Lesephase das Vergleichen des Bitleitungs-Entladestroms und des Bezugsleitungs-Entladestroms erlauben.
5. Speicher nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichsmittel einen Bezugstransistor (T4), der über den zweiten Vorladetransistor (T2) mit der Bezugsleitung verbunden ist, und einen Transistor (T3) umfassen, der den Strom des Bezugstransistors spiegelt, wobei der Spiegeltransistor über den ersten Vorladetransistor (T1) mit der Bitleitung verbunden ist.
6. Speicher nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß ein erster Zwischentransistor (T6), dessen Basis mit einem festen Potential verbunden ist, in Reihe zwischen den Spiegeltransistor und den ersten Vorladetransistor geschaltet ist.
7. Speicher nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Zwischentransistor (T6) vom P-Kanal-Typ und seine Basis mit einer niedrigen Speisespannung verbunden ist.
8. Speicher nach einem der Ansprüche 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein zweiter Zwischentransistor (T7), dessen Basis mit dem selben festen Potential verbunden ist, in Reihe zwischen den Bezugstransistor und den zweiten Vorladetransistor geschaltet ist.
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