DE69118260T2

DE69118260T2 - Verfahren zur Handhabung einer Probe für Atomabsorptionsanalysen

Info

Publication number: DE69118260T2
Application number: DE69118260T
Authority: DE
Inventors: Katsuhito Harada
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1990-07-19
Filing date: 1991-07-17
Publication date: 1996-11-21
Anticipated expiration: 2011-07-18
Also published as: JPH0477647A; JP2510339B2; EP0467326A2; EP0467326B1; US5235862A; EP0467326A3; DE69118260D1

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG

GEBIET DER ERFINDUNG

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Handhabung einer Probe für Atomabsorptionsanalysen und insbesondere ein Verfahren zur Handhabung einer Probe, bei dem ein Graphitofen zum Atomisieren von zu untersuchenden Elementen in einer Probe verwendet wird.

BESCHREIBUNG DES STANDS DER TECHNIK

Ein Beispiel eines Verfahrens der Atomabsorptionsanalyse ist ein Verfahren zum Atomisieren einer Probe in einem röhrenförmigen Graphitofen. Zur Verringerung der die bei einer solchen Analyse zu untersuchenden Elemente betreffenden Meßfehler werden Matrixmodifizierer häufig mit Proben vermischt.
In GB-A-2 104 656 ist ein Fall gezeigt, in dem eine Leerlösung, eine Matrixmodifiziererlösung, eine Standardlösung und eine Probenlösung nacheinander in dieser Reihenfolge in eine Düse gesogen werden und in dem diese Bestandteile in einen röhrenförmigen Ofen abgegeben werden.
Wenngleich das Verfahren aus dem Stand der Technik eine Probe und einen Matrixmodifizierer automatisch in einen Atomisierofen abgeben kann, besteht darin eine Schwierigkeit, daß die Probe und der Matrixmodifizierer im Vergleich zu einem vorbereitenden Handmischverfahren nicht ausreichend miteinander vermischt werden.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zur Handhabung einer Probe für die Atomabsorptionsanalyse zu schaffen, das dazu geeignet ist, eine vergleichbare Reproduzierbarkeit der Meßwerte zu erreichen, wie mit dem vorbereitenden Verfahren der Handvermischung. Diese Aufgabe wird durch das in Anspruch 1 ausgeführte Verfahren gelöst. Die Unteransprüche richten sich auf Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung. Unteranspruch 9 stellt eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung bereit, die weiterhin dazu geeignet ist, die Empfindlichkeit bei der Messung von Elementen niedriger Konzentrationen in einer Probe zu erhöhen.
Die vorliegende Erfindung wird dadurch verwirklicht, daß ein Matrixmodifizierer vor der Einbringung der Probe in den Ofen eingeführt wird und daß weiterhin nach der Einbringung der Probe ein Matrixmodifizierer in den Ofen eingebracht wird.
In einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird die Probenlösung in die Ablagerungszone eingebracht, nachdem ein Matrixmodifizierer in die Ablagerungszone innerhalb des Atomisierofens eingebracht wurde. Folglich wird die Probe über die Schichten des Matrixmodifizierers in der Ablagerungszone verteilt, und ein Teil der Probe dringt in den Matrixmodifizierer der unteren Schichten ein. Der Kontakt zwischen dem Matrixmodifizierer und der Probe ist daher ausgezeichnet. Als Folge der Einbringung des Matrixmodifizierers in die Ablagerungszone nach der Einbringung der Probe dringt ein Teil des Matrixmodifizierers in die Probenschicht ein.
Folglich erhält man einen Zustand, in dem die Probe zwischen einer unteren Schicht und einer oberen Schicht aus dem Matrixmodifizierer eingeschlossen ist. Der Kontakt zwischen der Probe und dem Matrixmodifizierer wird daher bis zu einem Grade verbessert, der einem Fall entspricht, in dem die vorbereitende Mischung von Hand durchgeführt wird. Wenn der Ofen daraufhin zur Atomisierung von zu untersuchenden Elementen in der Probe auf eine hohe Temperatur aufgeheizt wird, können für die Absorptionsphotometrie geeignete atomisierte Dämpfe erhalten werden.
Eine Standardlösung und eine Leerlösung können zur Probe in der Ablagerungszone des Ofens hinzugefügt werden. Durch Hinzufügung zusätzlicher Matrixmodifizierer auf diese Schichten können die Probe, die Standardlösung und die Leerlösung durch die Matrixmodifizierer im wesentlichen in einer schichtförmigen Anordnung gehalten werden.
Wenn die Konzentration der Elemente in der untersuchten Probe sehr gering ist, ist es vorteilhaft, daß so viel des Probenmaterials wie möglich in die Ablagerungszone des Ofens gebracht wird. Es gibt jedoch im allgemeinen eine Obergrenze für das Volumen der flüssigen Probe, das in der Ablagerungszone gehalten werden kann.
In der vorliegenden Erfindung wird so viel der Probenlösung bereitgestellt wie möglich, und nachdem die vorher eingebrachte Matrixmodifiziererlösung getrocknet ist, werden beispielsweise 0,10 ml der Probenlösung eingebracht und getrocknet. Daraufhin wird die weitere Einbringung und Trocknung von jeweils 0,10 ml der Probenlösung wiederholt. Auf diese Weise wird die Probe so angesammelt, daß das Gesamtvolumen der Probe in der Ablagerungszone verringert ist und die absolute Menge der zu untersuchenden Elemente erhöht ist. Wenn die Einbringung einer Probe in der beschriebenen Weise wiederholt wird, wird auch ein Matrixmodifizierer während des Verfahrens eingebracht.
Wenn eine zusätzliche Matrixmodifiziererlösung auf die vorher aufgebrachte getrocknete Übereinanderschichtung von Matrixmodifizierern und Proben aufgebracht wird, neigt die Lösung des Matrixmodifizierers dazu, in die getrocknete Substanz einzudringen.
Beim Einbringen und Trocknen des Matrixmodifizierers und der Probe wird der Ofen auf einer Temperatur gehalten, die niedriger ist als eine Veraschungstemperatur. Nachdem alle Bestandteile vollständig eingebracht worden sind, wird der Ofen auf eine Veraschungstemperatur und daraufhin auf eine Atomisierungstemperatur aufgeheizt.

KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNG

Fig. 1 ist eine schematische Darstellung, in der der Gesamtaufbau einer Vorrichtung einer Ausführungsform gezeigt ist, in der die vorliegende Erfindung verwirklicht ist;
Fig. 2 ist ein Flußdiagramm, in dem die Arbeitsweise der Ausführungsform der vorliegenden Erfindung gezeigt ist;
Fig. 3 ist eine Darstellung, in der die Übereinanderschichtung der in einen Graphitofen eingebrachten Bestandteile gezeigt ist; und
Fig. 4 ist ein Ablaufdiagramm eines Probenuntersuchungsverfahrens.

DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE

Ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die Figuren 1 bis 4 beschrieben.
Zunächst wird der Aufbau einer in Fig. 1 gezeigten Vorrichtung zur Atomabsorptionsanalyse erklärt. Diese Analysevorrichtung enthält ein Atomabsorptions-Spektrophotometer, eine Graphitatomisiereinheit, eine automatische Probeneinheit und einen Computer, der die Arbeit einer jeden der Einheiten steuert und die Datenverarbeitung durchführt.
In Fig. 1 enthält das Atomabsorptions-Spektrophotometer eine Hohlkathodenlampe 41, einen Monochromator 42 sowie einen Signalverstärker 43 und ist in einen Bereitschaftszustand versetzt, in dem zu jeder Zeit Messungen vorgenommen werden können. Die Hohlkathodenlampe 41 wird gezündet, wenn ein den Zündvorgang treibender Strom über eine Eingabe/Ausgabe- Schnittstelle durch einen Befehl eines Computers 30 bereitgestellt wird. Ein von der Hohlkathodenlampe 41 ausgesendeter Lichtstrahl 3 tritt durch das Innere des röhrenförmigen Graphitofens 1 und fällt von den reflektierenden Spiegeln 44 und 45 gelenkt auf den Monochromator 42. Der Monochromator 42 enthält ein Prisma oder ein Gitter 42a, Spalte 42b und einen Fotodetektor 42c. Die Spaltbreite und die Detektionswellenlängen für den Monochromator 42 werden entsprechend den zu messenden Elementen festgelegt. Durch den Monochrornator 42 erhaltene Nachweissignale werden durch den Signalverstärker 43 auf einen erforderlichen Pegel verstärkt und ausgegeben. Die Ausgangssignale des Signalverstärkers 43 werden über eine Eingabe/Ausgabe-Schnittstelle 34 zur Datenverarbeitungseinheit des Computers 30 übertragen. Die Analysebedingungen im Atomabsorptions-Spektrophotometer werden durch den Computer 30 gesteuert.
Im folgenden wird eine Graphitatomisiereinheit beschrieben. Ein Graphitofen 1 ist als Bestandteil eines Heizofens auf der optischen Achse 3 des Spektrophotometers angebracht. Der Graphitofen 1 wird durch Zuführen eines elektrischen Stromes über eine nicht dargestellte Elektrode oder den Ofen selbst direkt durch eine Stromquelle 46 geheizt. Der Vorgang der Stromzuführung durch die Stromquelle 46 wird durch den Computer 30 gesteuert. Dementsprechend werden die Zeiten, in denen der Graphitofen 1 geheizt wird, entsprechend den Probenhandhabungsverfahren verschiedener später beschriebener Typen von Arbeitsabläufen geeignet gewählt.
Die automatische Probeneinheit enthält einen Drehtisch 47, auf dem Proben im flüssigen Zustand, Standardproben, Matrixmodifizierer und eine Leerlösung angeordnet sind, eine Spritzeneinheit 48 zum Wiegen dieser Lösungen sowie eine Reinigungslösung oder ähnliches, in der sie aufgenommen werden oder aus der sie abgegeben werden, eine Düse 2 für das vorausgehend erwähnte Aufnehmen und Abgeben, einen die Düse 2 haltenden Arm 50 sowie eine Treibervorrichtung 50a für den Arm, mit der der Arm 50 gedreht und vertikal bewegt wird, um die Düse 2 zu den erforderlichen Stellen zu bewegen. Wenn der Arm 50 durch Ansteuern der Treibervorrichtung 50a für den Arm bewegt wird, bewegt sich das vordere Ende der Düse 2 entlang einer Bahn 63. Wie man anhand der Bahn 63 sieht, bewegt sich die Spitze der Düse 2 entlang festgelegter Stellen oberhalb einer kleinen Einlaßöffnung 1c des Graphitofens 1, des Reinigungsbehälters 62 sowie des Drehtisches 47.
Zwei Bereitstellungsorte 31 und 32 sind auf der Bahn 63 ausgebildet. Diese Bereitstellungsorte entsprechen den Reihen mit zwei Behältern auf dem Drehtisch 47. Eine Reihe von Probennäpfen 51 ist in Form eines Kreises auf dem äußeren Umfang des Drehtisches 47 angeordnet. Auf dem inneren Umfang des Drehtisches 47 sind in Form eines Kreises mehrere Behälter 52 angeordnet, die mehreren zu untersuchenden Elementen entsprechende Matrixmodifizierer enthalten, sowie mehrere Behälter 53 zur Aufnahme von Standardprobenlösungen, ein Behälter 54 zur Aufnahme einer Leerlösung sowie andere erforderliche Behälter.
Diese Behälter und Probennäpfe werden durch eine Treibervorrichtung 47a für den Tisch, die entsprechend einer vorgewählten Sequenz eine Indizieroperation (eine Positionieroperation) durchführt, zu einer gewünschten Zeit an den Bereitstellungsorten 31 und 32 positioniert. Die Arbeitsweise der Treibervorrichtung 47a für den Tisch wird durch den Computer 30 gesteuert.
Eine Spritzeneinheit 48 enthält einen Reinigungsbehälter 56 für die Aufnahme einer Reinigungslösung 55, ein Ventil 57 mit einem Dreiwegehahn, eine Kleinspritze 58 zum Bereitstellen einer Reinigungslösung, einen Schrittmotor 59, der den Kolben der Kleinspritze vertikal bewegt, eine Mikrospritze 60 zur Aufnahme verschiedener auf dem Drehtisch 47 befindlicher Lösungen oder zur Abgabe verschiedener Lösungen auf den Drehtisch 47 sowie einen Schrittmotor 61, um den Kolben der Mikrospritze vertikal zu bewegen. Ein Reinigungstank 62 für die Düse 2 ist auf der Bahn 63 zwischen dem Graphitofen 1 und dem Drehtisch 47 angeordnet. Steuersignale werden zur Treibervorrichtung 47a für das Drehen des Tisches, zur Treibervorrichtung 50a für den Arm und zu den Schrittmotoren 59 und 61 übertragen. Deren Arbeitsvorgänge werden durch den Computer 30 gesteuert.
Wie in Fig. 3 gezeigt ist, ist der Graphitofen 1 in der Form einer Röhre ausgebildet, deren beiden Endbereiche geöffnet sind. Die kleine Öffnung 1c, über die der Graphitofen 1 zugänglich ist, befindet sich in der Nähe der Mitte der oberen Wand des Graphitofens 1. Eine Ablagerungszone 33 ist in der unteren Wand des Graphitofens 1 ausgebildet. Verschiedene über die Düse 2 hinzugefügte Lösungen können von der Ablagerungszone 33 aufgenommen werden. Die Ablagerungszone 33 ist vorzugsweise mit einer leichten Vertiefung versehen. Der röhrenförmige Ofen 1 wird von der Stromquelle 46 mit Strom 72 zur Heizung des Ofens 1 versorgt.
Matrixmodifizierer werden in Abhängigkeit von den zu untersuchenden Elementen in einer Probe ausgewählt. Wenn ein zu untersuchendes Element beispielsweise Fe oder Co ist, wird Mg als Matrixmodifizierer verwendet. Wenn ein zu untersuchendes Element Cu, Ag oder Se ist, wird eine Mischung von Pd und Mg als Matrixmodifizierer verwendet. Andere bekannte Kombinationen von Matrixmodifizierern sind Pd für Pb, La für Sn oder Sc, Ca für B oder P, Rh für Si, Mo für Ga, Ni für As usw..
Bei Meßvorgängen, bei denen ein Standardhinzufügungsverfahren verwendet wird, werden eine Standardprobenlösung und eine Leerlösung in den Ofen 1 eingebracht. Bei Meßvorgängen, bei denen das normale analytische Fortlassungsverfahren verwendet wird, wird weder die Standardprobenlösung noch die Leerlösung benutzt.
Im folgenden wird die Arbeitsweise eines Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Figuren 2, 3 und 4 erklärt. In diesem Ausführungsbeispiel wird eine in Fig. 1 gezeigte Analysevorrichtung sowie ein Standardhinzufügungsverfahren verwendet.
In dem Flußdiagramm aus Fig. 2 ist ein Fall gezeigt, in dem eine einzige Probe gemessen wird. Durch Wiederholen der in Fig. 2 gezeigten Arbeitsvorgänge werden nacheinander zahlreiche Proben auf dem Drehtisch 47 gemessen.
In Schritt 101 wird zunächst die Analysevorrichtung in den Anfangszustand versetzt. Hierbei werden die Hohlkathodenlampe 41 gezündet und eine Spaltbreite sowie zu empfangende Wellenlängen eingestellt. Der Atomisierungsofen 1 wird nicht mit Strom versorgt und wird auf der Normaltemperatur gehalten. Daraufhin wird die automatische Probeneinheit betriebswirksam.
In Schritt 102 werden die innere und die äußere Wand der Düse 2 im Reinigungsbehälter 62 gereinigt. Wenn die Düse 2 in den Reinigungsbehälter 62 eingetaucht ist, wird die innere Wand der Düse 2 dadurch gereinigt, daß eine Reinigungslösung von der Spritzeneinheit 48 von der Öffnung im vorderen Ende der Düse 2 abgegeben wird; die äußere Wand der Düse 2 wird durch eine Reinigungslösung gereinigt, mit der der Reinigungsbehälter infolge der obengenannten Abgabe der Reinigungslösung gefüllt ist. Ein Ausströmanschluß ist im Unterteil des Reinigungsbehälters 62 angebracht, durch den die Reinigungslösung, die für den Reinigungsvorgang im Reinigungsbehälter 62 verwendet wurde, sofort nach Beendigung der Abgabe der Reinigungslösung von der Düse 2 ausströmt.
In Schritt 103 positioniert die Treibervorrichtung 47a für den Tisch einen benötigten Behälter an den Bereitstellungsorten 31 oder 32 auf dem Drehtisch 47. In diesem Beispiel wird ein Behälter 52, der ein erster, eine Matrixmodifiziererlösung enthaltender Behälter ist, gedreht und zu den Bereitstellungsorten 32 bewegt und dort angehalten.
In Schritt 104 wird die Treibervorrichtung 50 für den Arm geschwenkt, wodurch die gereinigte Düse 2 zum Bereitstellungsort 32 bewegt wird. Daraufhin wird das vordere Ende der Düse 2 in die Lösung im Behälter 52 eingetaucht, und der Kolben der Mikrospritze 60 wird betätigt. Auf diese Weise wird ein festgelegtes Volumen der Matrixmodifiziererlösung in die Düse 2 gesogen.
In Schritt 105 wird der Arm 50 aufwärts bewegt und geschwenkt, um die Düse 2 über die kleine Einlaßöffnung 1c des Graphitofens 1 zu bewegen. Daraufhin wird die Düse 2 durch die kleine Öffnung 1c durch Abwärtsbewegen des Arms 50 in den Ofen 1 bewegt. Daraufhin wird die in der Düse 2 gehaltene Matrixmodifiziererlösung durch Betätigen des Kolbens der Mikrospritze 60 auf die Ablagerungszone 33 des Ofens 1 abgegeben. Daraufhin bewegt sich der Arm 50 aufwärts, wodurch die Düse 2 aus dem Ofen 1 herausgezogen und daraufhin zum Säuberungsbehälter 62 transportiert wird.
In Schritt 106 wird der Graphitofen 1 von der Stromquelle 46 mit Strom versorgt, und der Graphitofen 1 wird für eine feste Zeit von etwa 20 bis 30 Sekunden Dauer auf eine feste Temperatur in einem Temperaturbereich zwischen 80 und 120ºC erhitzt. Daraufhin wird die Versorgung des Ofens 1 mit Strom unterbrochen und der Ofen 1 abkühlen gelassen.
In Schritt 107 wird überprüft, ob ein erforderlicher Probenuntersuchungsvorgang, abhängig von den zu untersuchenden Zielelementen oder von der Art der Probe&sub1; beendet wurde. In dem in Fig. 2 gezeigten Beispiel kehrt die Schrittfolge von Schritt 107 zu Schritt 102 zurück, da eine Probenlösung hinzugefügt werden muß, nachdem ein Matrixmodifizierer hinzugefügt wurde.
Daraufhin werden die Schritte 102 bis 106 zur Hinzufügung einer Probe ausgeführt. In Schritt 103 wird die Treibervorrichtung 47a für den Tisch betätigt, um einen eine zu analysierende Probe enthaltenden Probennapf 51 am Bereitstellungsort 31 zu positionieren. In Schritt 104 wird eine festgelegte Menge der Probenlösung aus diesem Probennapf in die Düse 2 gesogen.
Nachdem die Schritte 102 bis 106 zum drittenmal ausgeführt wurden, wird die Standardprobenlösung in den Ofen 1 eingebracht und eine Trocknung ausgeführt. Wenn die Schritte 102 bis 106 zum vierten Mal ausgeführt werden, wird eine Leerlösung eingebracht und eine Trocknung ausgeführt. Wenn die Schritte 102 bis 106 zum fünften Mal ausgeführt werden, wird ein zusätzlicher Matrixmodifizierer eingebracht und eine Trocknung ausgeführt. Bei Betrachtung der gesamten Bereitstellungsstation, einschließlich der Bereitstellungsorte 31 und 32, werden daher der Matrixmodifizierer, die Probe, das Standardmaterial, das Leermaterial und der zusätzliche Matrixmodifizierer in dieser Reihenfolge an den Bereitstellungsstationen positioniert. Folglich werden die vorgenannten Materialien in der gleichen Reihenfolge in den Atomisierungsofen 1 eingebracht.
Um die Gesamtzeit für die Analyse zu verringern, sollten der Trocknungsvorgang aus Schritt 106 und der Vorgang des Reinigens der Düse aus Schritt 102 vorzugsweise gleichzeitig ausgeführt werden. Nach Ausführung einer Reihe von Arbeitsabläufen für Probenlösungen gemäß einer Reihe von im Computer 30 gespeicherten Programmen veranlaßt der Computer 30 die Stromquelle 46 zur Einspeisung von Strom.
Wenn in Schritt 107 ein "Ja" festgestellt wurde, wird das Verfahren in Schritt 108 fortgesetzt, in dem der Graphitofen 1 auf ungefähr 1000ºC aufgeheizt wird und die getrockneten Schichten oder Ablagerungen innerhalb des Ofens 1 verascht werden.
In Schritt 109 wird ein solcher Strom zugeführt, daß der Atomisierungsofen 1 auf eine höhere Atomisiertemperatur aufgeheizt wird und die zu untersuchenden Elemente in einer Probe daher atomisiert werden. Das Auftreten eines atomisierten Dampfes von Elementen verursacht eine Intensitätsverringerung eines durch den Ofen 1 fallenden Lichtes. Signale, die der Menge der zu untersuchenden Elemente entsprechende Veränderungen der Intensität des Lichtes anzeigen, werden über einen Fotodetektor 42c und den Verstärker 43 in die Datenverarbeitungseinheit des Computers 30 eingelesen, in dem die Konzentration von Elementen in der Probe berechnet wird, und die Ergebnisse werden zu einem Ausgabegerät übertragen.
Fig. 4 zeigt den Arbeitsablauf bezüglich des Graphitofens 1. Die folgenden Schritte werden der Reihe nach ausgeführt: Schritt 11: Einbringung eines Matrixmodifizierers in den Ofen 1; Schritt 12: Einbringung einer Probenlösung; Schritt 13: Einbringung einer Standardlösung; Schritt 14: Einbringung einer Leerlösung und Schritt 15: Einbringung eines zusätzlichen Matrixmodifizierers. Die Trocknungsvorgänge 16a bis 16e werden nach jedem Einbringvorgang ausgeführt.
Nachdem die Schritte bis zum Trocknungsvorgang 16e beendet sind, befindet sich eine in Fig. 3 gezeigte schichtförmig ausgebildete trockene Substanz in der Ablagerungszone 33 des Ofens 1. In Fig. 3 ist eine Matrixmodifiziererschicht 21 in der untersten Schicht der trockenen Substanz ausgebildet. Darüber sind der Reihe nach eine Probenschicht 22, eine Standardschicht 23, eine Leerschicht 24 und eine zusätzliche Matrixmodifiziererschicht 25 stapelförmig ausgebildet.
Ein nach dem Trocknungsvorgang 16e in Fig. 4 ausgeführter Veraschungsvorgang 17 entspricht dem Schritt 108 in Fig. 2; ein Atomisier- und ein Lichtmeßvorgang 18 entspricht dem Schritt 109 in Fig. 2.
Folgendes wurde durch ein Experiment bestimmt: Die Reproduzierbarkeit (A) für auf dem in Fig. 2 gezeigten Verfahren beruhende Messungen und die Reproduzierbarkeit (B) für einen Fall, in dem eine vorab durch Mischen einer Probe und eines Matrixmodifizierers hergestellte Mischlösung gemessen wurde. In diesem Experiment wurde Pb (Blei) als zu untersuchendes Element verwendet, und Palladiumnitrat wurde als Matrixmodifizierer verwendet.
Die in dem Experiment erhaltenen Reproduzierbarkeiten wurden durch einen Standardabweichungsfaktor ausgedrückt, der im Fall von (A) 0,8 % beträgt und 0,7 % im Fall von (B). Es sei bemerkt, daß die Reproduzierbarkeit bei Ausführung der Arbeitsvorgänge 12 bis 18 (unter Ausschluß der Arbeitsvorgänge 11 und 16a in Fig. 4) einen Standardabweichungsfaktor von 1,6 % aufwies. Es ist daher ersichtlich, daß bei Verwendung der vorliegenden Erfindung selbst dann eine ausreichende Reproduzierbarkeit erreicht werden kann, wenn eine Mischlösung aus einer Probe und einem Matrixmodifizierer nicht im voraus vorbereitet wurde.
Im folgenden wird ein weiteres Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung erklärt.
Wenngleich die in Fig. 1 gezeigte Analysevorrichtung im zweiten Ausführungsbeispiel verwendet wird, liegt ein Unterschied gegenüber dem ersten Ausführungsbeispiel darin, daß der Graphitofen 1 von der Zeit an, in der Schritt 102 in Fig. 2 begonnen wird, und bis zu der Zeit, in der Schritt 107 beendet ist, auf einer Temperatur zwischen 100 und 200ºC gehalten wird. In Schritt 101 wird zur Initialisierung mit der Stromversorgung des Graphitofens 1 begonnen, so daß eine Trocknungstemperatur niedriger wird als eine Veraschungstemperatur. In diesem Fall werden verschiedene Lösungen langsamer in den Ofen 1 abgegeben als im ersten Ausführungsbeispiel. Da der Trocknungsvorgang in der Ablagerungszone 33 des Ofens 1 ausgeführt wird, während eine Lösung vom Graphitofen 1 eingebracht wird, kann dieser schnell auf eine Veraschungstemperatur aufgeheizt werden, nachdem alle erforderlichen Lösungen vollständig eingebracht worden sind. Die Reihenfolge der Einbringung verschiedener Lösungen ist die gleiche wie im ersten Ausführungsbeispiel.

Claims

1. Verfahren zur Handhabung einer Probe, wobei die Probe (22) und ein Matrixmodifizierer (21, 25) in einem Ofen (1) eingebracht und die zu untersuchenden Elemente in der Probe atomisiert werden, umfassend

einen ersten Schritt (11), in dem der Matrixmodifizierer (21) in den Ofen (1) eingebracht wird,

einen zweiten Schritt (12), in dem die Probe (22) in den Ofen (1) eingebracht wird, und

einen dritten Schritt (15), in dem ein zusätzlicher Matrixmodifizierer (25) in den Ofen (1) eingebracht wird,

wobei zwischen dem ersten und dem zweiten Schritt (11, 12) und zwischen dem zweiten und dem dritten Schritt (12, 15) -Trocknungsschritte (16a-16d) durchgeführt werden, um den Matrixmodifizierer (21) und die Probe (22), die vorher in den Ofen (1) eingebracht wurden, zu trocknen.

2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die Probe (22) und der zusätzliche Matrixmodifizierer (25) als Lösungen derart eingebracht werden, daß sie eine in dem jeweils vorhergehenden Trocknungsschritt getrocknete Schicht bedecken.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Trocknungsschritte (16a-16d) dadurch ausgeführt werden, daß der Ofen (1) auf einer Trockentemperatur gehalten wird.

4. Verfahren nach Anspruch 3, wobei der Ofen (1) während der Durchführung des ersten und des zweiten Schritts (11, 12) auf der Trockentemperatur gehalten wird.

5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Matrixmodifizierer (21, 25) und die Probe (22) zur Bildung getrockneter Schichten in eine Ablagerungszone (33) des Ofens (1) eingebracht werden.

6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, umfassend einen vierten Schritt (18), in dem der Ofen (1) auf einer derart hohen Temperatur gehalten wird, daß die zu untersuchenden Elemente atomisiert werden, nachdem der dritte Schritt (15) beendet worden ist und sämtliche Schichten in dem Ofen (1) getrocknet sind.

7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, umfassend weitere Schritte (13, 14), in denen nach dem zweiten Schritt (12) und vor dem dritten Schritt (15) eine Standardlösung und eine Leer-Lösung in den Ofen (1) eingebracht werden.

8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Schritte, wobei ein Lichtstrahl (3) aus einer Lichtquelle (41) durch den Ofen (1) geschickt wird.

9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei der zweite Schritt (12) und der anschließende Trocknungsschritt (16b) zur Erhöhung der absoluten Menge an zu untersuchenden Elementen wiederholt werden.