DE60222481D1 - Prüfschaltung und integrierte Halbleiterschaltung zur Durchführung der Überprüfung von Knotenverbindungen - Google Patents

Prüfschaltung und integrierte Halbleiterschaltung zur Durchführung der Überprüfung von Knotenverbindungen

Info

Publication number
DE60222481D1
DE60222481D1 DE60222481T DE60222481T DE60222481D1 DE 60222481 D1 DE60222481 D1 DE 60222481D1 DE 60222481 T DE60222481 T DE 60222481T DE 60222481 T DE60222481 T DE 60222481T DE 60222481 D1 DE60222481 D1 DE 60222481D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
check
semiconductor integrated
integrated circuit
node connections
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE60222481T
Other languages
English (en)
Other versions
DE60222481T2 (de
Inventor
Kohtaroh Gotoh
Koji Aoyagi
Kazuhiro Terashima
Shigeru Nishio
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Publication of DE60222481D1 publication Critical patent/DE60222481D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE60222481T2 publication Critical patent/DE60222481T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31712Input or output aspects
    • G01R31/31713Input or output interfaces for test, e.g. test pins, buffers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318533Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
    • G01R31/318572Input/Output interfaces

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
DE60222481T 2001-09-05 2002-02-27 Prüfschaltung und integrierte Halbleiterschaltung zur Durchführung der Überprüfung von Knotenverbindungen Expired - Lifetime DE60222481T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001269216A JP3955196B2 (ja) 2001-09-05 2001-09-05 試験回路および半導体集積回路装置
JP2001269216 2001-09-05

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE60222481D1 true DE60222481D1 (de) 2007-10-25
DE60222481T2 DE60222481T2 (de) 2008-01-10

Family

ID=19095075

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60210900T Expired - Lifetime DE60210900T2 (de) 2001-09-05 2002-02-27 Prüfschaltung und integrierte Halbleiterschaltung zur Durchführung der Überprüfung von Knotenverbindungen
DE60222481T Expired - Lifetime DE60222481T2 (de) 2001-09-05 2002-02-27 Prüfschaltung und integrierte Halbleiterschaltung zur Durchführung der Überprüfung von Knotenverbindungen

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60210900T Expired - Lifetime DE60210900T2 (de) 2001-09-05 2002-02-27 Prüfschaltung und integrierte Halbleiterschaltung zur Durchführung der Überprüfung von Knotenverbindungen

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6931344B2 (de)
EP (2) EP1612573B1 (de)
JP (1) JP3955196B2 (de)
DE (2) DE60210900T2 (de)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10109558C1 (de) * 2001-02-28 2003-01-30 Siemens Ag Empfängerseitige Zusatzschaltung für den Boundary Scan bei der Datenübertragung mit differentiellen Signalen
US6653957B1 (en) * 2002-10-08 2003-11-25 Agilent Technologies, Inc. SERDES cooperates with the boundary scan test technique
JP4388903B2 (ja) 2005-02-09 2009-12-24 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 Jtag試験方式
US7913141B2 (en) * 2006-08-16 2011-03-22 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Power gating in integrated circuits for leakage reduction
CN100487473C (zh) * 2006-08-17 2009-05-13 华为技术有限公司 边界扫描系统及方法
CN101796630A (zh) * 2007-09-10 2010-08-04 富士通株式会社 集成电路以及噪声测量方法
US7962885B2 (en) * 2007-12-04 2011-06-14 Alcatel-Lucent Usa Inc. Method and apparatus for describing components adapted for dynamically modifying a scan path for system-on-chip testing
US7958479B2 (en) * 2007-12-04 2011-06-07 Alcatel-Lucent Usa Inc. Method and apparatus for describing and testing a system-on-chip
US7949915B2 (en) * 2007-12-04 2011-05-24 Alcatel-Lucent Usa Inc. Method and apparatus for describing parallel access to a system-on-chip
US7958417B2 (en) * 2008-01-30 2011-06-07 Alcatel-Lucent Usa Inc. Apparatus and method for isolating portions of a scan path of a system-on-chip
US7954022B2 (en) * 2008-01-30 2011-05-31 Alcatel-Lucent Usa Inc. Apparatus and method for controlling dynamic modification of a scan path
US7728604B1 (en) * 2008-02-11 2010-06-01 Xilinx, Inc. Testing differential signal standards using device under test's built in resistors
US8026726B2 (en) * 2009-01-23 2011-09-27 Silicon Image, Inc. Fault testing for interconnections
CN103913700B (zh) * 2014-04-18 2017-04-05 电子科技大学 一种红外焦平面读出电路的检测电路
JP2016045123A (ja) * 2014-08-25 2016-04-04 株式会社メガチップス テスト回路
CN105976785B (zh) * 2016-07-21 2018-12-28 武汉华星光电技术有限公司 Goa电路及液晶显示面板
CN112882452A (zh) * 2019-11-29 2021-06-01 英业达科技有限公司 边界扫描测试控制器的功能验证系统及其方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4698830A (en) * 1986-04-10 1987-10-06 International Business Machines Corporation Shift register latch arrangement for enhanced testability in differential cascode voltage switch circuit
US4855669A (en) * 1987-10-07 1989-08-08 Xilinx, Inc. System for scan testing of logic circuit networks
US6304987B1 (en) * 1995-06-07 2001-10-16 Texas Instruments Incorporated Integrated test circuit
US5287386A (en) * 1991-03-27 1994-02-15 Thinking Machines Corporation Differential driver/receiver circuit
US5299136A (en) * 1991-06-05 1994-03-29 International Business Machines Corp. Fully testable DCVS circuits with single-track global wiring
JPH06249919A (ja) * 1993-03-01 1994-09-09 Fujitsu Ltd 半導体集積回路装置の端子間接続試験方法
US5598541A (en) * 1994-10-24 1997-01-28 Lsi Logic Corporation Node loop port communication interface super core for fibre channel
US5706297A (en) * 1995-08-24 1998-01-06 Unisys Corporation System for adapting maintenance operations to JTAG and non-JTAG modules
US6000051A (en) * 1997-10-10 1999-12-07 Logic Vision, Inc. Method and apparatus for high-speed interconnect testing
US6622108B1 (en) * 1998-02-02 2003-09-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Circuit with interconnect test unit and a method of testing interconnects between a first and a second electronic circuit
US6349398B1 (en) * 1999-01-26 2002-02-19 Silicon Graphics, Inc. Method and apparatus for partial-scan built-in self test logic
US6578180B2 (en) * 2000-11-30 2003-06-10 International Business Machines Corporation Method and system for testing interconnected integrated circuits
US6629297B2 (en) * 2000-12-14 2003-09-30 Tharas Systems Inc. Tracing the change of state of a signal in a functional verification system

Also Published As

Publication number Publication date
EP1612573A2 (de) 2006-01-04
JP2003078020A (ja) 2003-03-14
EP1308736A3 (de) 2004-01-14
EP1612573B1 (de) 2007-09-12
EP1308736B1 (de) 2006-04-26
DE60210900T2 (de) 2006-08-31
EP1308736A2 (de) 2003-05-07
EP1612573A3 (de) 2006-03-01
US20030046015A1 (en) 2003-03-06
DE60210900D1 (de) 2006-06-01
JP3955196B2 (ja) 2007-08-08
DE60222481T2 (de) 2008-01-10
US6931344B2 (en) 2005-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60210900D1 (de) Prüfschaltung und integrierte Halbleiterschaltung zur Durchführung der Überprüfung von Knotenverbindungen
DE60225360D1 (de) Spannungsregler und integrierter Halbleiterschaltkreis
DE60227300D1 (de) Strukturen von anschlusselementen und anzuschliessende komponente
DE60328764D1 (de) Halbleiterspeicherelement und integrierter Halbleiterschaltkreis
DE60230568D1 (de) Integrierte Radiofrequenz-Schaltkreise
DE60026331D1 (de) Leiterplatte, halbleiter und herstellung, test und gehäusung desselben und systemplatte und elektronikgerät
DE60130065D1 (de) Elektronisches Bauteil und Halbleitervorrichtung
ATE413501T1 (de) Bausatz aus plattenförmigen bauteilen und verbindungselementen
DE10196595T1 (de) Vorrichtung und Halbleiter-Prüfvorrichtung
DE60231077D1 (de) Resistzusammensetzung und Verfahren zur Herstellung von Halbleiterbauelementen
DE60106326D1 (de) Frequenzmultiplizierende Schaltung und integrierte Halbleiterschaltung
DE60322001D1 (de) Halbleiterchip-Testsystem und entsprechendes Testverfahren
DE60219990D1 (de) Speichertest-Schaltung
DE60230840D1 (de) Halbleiteranordnung und Herstellungsverfahren dafür
DE10295165D2 (de) Molekulares elektronisches Bauelement zum Aufbau nanoelektronischer Schaltungen, molekulare elektronische Baugruppe, elektronische Schaltung und Herstellungsverfahren
DE60204749D1 (de) Abtast- und Halteschaltung
DE60144582D1 (de) Gerät zur messung von komponenten und chips
DE60331887D1 (de) Halbleiterbauelement und Belastungsschaltkreis
DE60122381D1 (de) Hochfrequenz-halbleiterbauelement
DE60023961D1 (de) Frequenzmesstestschaltung und diese aufweisende integrierte Halbleiterschaltung
DE60214492D1 (de) Halbleiter integrierte Schaltungsvorrichtung und Vorrichtung zu ihrer Prüfung
DE60225790D1 (de) Halbleiterbauelement
DE60221625D1 (de) Integrierte Halbleiterschaltung
DE60318795D1 (de) Prüfung von integrierten Schaltungen
DE60231784D1 (de) Überbrückungs-Chipbauteil und Montierungsanordnung dafür

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8328 Change in the person/name/address of the agent

Representative=s name: SEEGER SEEGER LINDNER PARTNERSCHAFT PATENTANWAELTE