DE60128019T2 - Bildsensorstruktur und Herstellungsverfahren dazu - Google Patents

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    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14603Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes

Description

  • Diese Erfindung bezieht sich allgemein auf lichtempfindliche Abbildungsanordnungen. Spezieller bezieht sich die vorliegende Erfindung auf das Abdichten freigelegter Kanten organischer Dielektrikumsschichten, um zu verhindern, dass das Unterschneiden der organischen Dielektrikumsschichten die Bildwandler-Leistungsfähigkeit und -Zuverlässigkeit beeinträchtigt.
  • Anordnungen aus fotoempfindlichen Elementen zum Umwandeln auftreffender Strahlungsenergie in ein elektrisches Signal werden üblicherweise bei Abbildungsanwendungen benutzt, z.B. in Röntgenstrahl-Bildwandlern und Bildübertragungs-Anordnungen. Hydriertes amorphes Silicium (a-Si) und Legierungen von a-Si werden aufgrund der vorteilhaften Charakteristika von a-Si und der relativen Einfachheit der Fabrikation üblicherweise bei der Herstellung fotoempfindlicher Elemente für solche Anordnungen eingesetzt. Im Besonderen können fotoempfindliche Elemente, wie Fotodioden, aus solchen Materialien in Verbindung mit erforderlichen Regel- oder Schaltelementen, wie Dünnfilmtransistoren (TFTs) in relativ großen Anordnungen gebildet werden.
  • Röntgenstrahlen-Bildwandler, z.B., werden auf einem im Wesentlichen flachen Substrat, typischerweise Glas, gebildet. Der Wandler schließt eine Anordnung von Pixeln mit lichtempfindlichen abbildenden Elementen, typischerweise Fotodioden, ein, von denen jedes ein dazugehöriges Schaltelement, wie einen TFT oder ein oder mehrere zusätzliche Adressierungs-Dioden, aufweist. In Verbindung mit einem Szintillator werden Röntgenstrahlen zum Abbilden mit den fotoempfindlichen Elementen in sichtbares Licht umgewan delt. Die fotoempfindlichen Elemente, typischerweise Fotodioden, sind an einer Oberfläche mit einer Schaltvorrichtung, typischerweise einem Dünnfilmtransistor, und an der anderen Oberfläche mit einer gemeinsamen Elektrode verbunden, die alle Fotodioden parallel kontaktiert. Die Anordnung wird mittels einer Vielzahl von Zeilen- und Spalten-Adressleitungen mit Kontaktkissen entlang den Seiten der Anordnung adressiert. Im Betrieb wird die Spannung an den Zeilenleitungen und folglich den TFTs nacheinander angeschaltet, was das Auslesen der Ladung an den Fotodioden der gescanten Leitungen über die Spalten-Adressleitungen gestattet, die mit externen Verstärkern verbunden sind. Die Zeilen-Adressleitungen werden üblicherweise als Scan-Leitungen und die Spalten-Adressleitungen als Daten-Leitungen bezeichnet. Die Adressleitungen grenzen elektrisch an Kontaktfinger, die sich von der aktiven Region zu den Kanten des Substrates erstrecken, wo sie wiederum elektrisch mit Kontaktkissen verbunden sind. Die Verbindung mit einer externen Scanleitungs-Antriebs- und Datenleitungs-Auslese-Schaltung erfolgt über die Kontaktkissen.
  • Die gemeinsame Elektrode, die über der Fotodioden-Anordnung angeordnet ist, sorgt für elektrischen Kontakt mit der Fotodioden-Anordnung. Über der Fotodioden-Anordnung liegt typischerweise eine erste Schicht aus einem anorganischen und eine zweite Schicht aus einem organischen Polymer-Dielektrikum, wie in US-PS 5,233,181 , erteilt am 3. August 1993 an Kwansnick (sic) et al., offenbart. Kontaktdurchgänge sind über den Fotodioden in jeder dielektrischen Schicht gebildet, um den elektrischen Kontakt mit den Fotodioden-Oberteilen durch die gemeinsame Elektrode zu gestatten.
  • Das Mustern der gemeinsamen Elektrode umfasst Abscheiden, Fotolithographie und Fotoresiststreifen, wie im Stande der Technik bekannt. Für Licht-Bildwandler, die amorphes Silicium umfassen, wurde beobachtet, dass die Durchgänge, die für die elektrische Verbindung zwischen den Kontaktkissen und den Kontaktfingern erforderlich sind, beschädigt werden können, wenn der Fotoresist durch ein Nassabstreif-Verfahren entfernt wird, was den Bildwandler beeinträchtigt. Das Trockenabstreifen des Fotoresist der gemeinsamen Elektrode wird, z.B., allgemein benutzt durch Veraschen mit einem O2 enthaltenden Plasma. Das Trockenabstreifen ätzt jedoch auch das darunter liegende organische Polymer und verursacht ein Unterschneiden seiner Kanten unter denen der gemeinsamen Elektrode. Nach der Bildung der gemeinsamen Elektrode wird typischerweise eine Sperrschicht auf dem Bildwandler angeordnet, z.B., siehe US-PS 5,401,668 , erteilt am 28. März 1999 an Kwasnick et al., und dieser Überhang der gemeinsamen Elektrode führt zu einer dürftigen Stufenabdeckung der Sperrschicht, was einen beeinträchtigten Umweltschutz und ein mögliches Fotodiodenleck verursacht. Es besteht daher ein Bedarf, sich mit dem Unterschneidungs-Problem zu befassen.
  • Es ist erwünscht, dass die Bildwandlerstruktur robust ist, um sowohl dem Herstellungsverfahren zu widerstehen als auch eine gute Leistungsfähigkeit im Betrieb zu ergeben. Da eine bessere Leistungsfähigkeit für Bildwandler gefordert wird (z.B. Rauschen, Auflösung usw.) ergibt sich die Notwendigkeit des größeren Musterns der Bildwandlerstruktur, um die erwünschte Leistungsfähigkeit im Betrieb und die Fähigkeit bereitzustellen, den Härten dar Herstellung und Verwendung zu widerstehen.
  • EP-A-0 652 596 offenbart einen Bildwandler mit einer Passivierungsschicht, die ein dielektrisches organisches Material sein kann, und einer gemeinsamen Elektrode, die ein im Wesentlichen lichtdurchlässiges leitendes Material umfassen kann.
  • Aspekte der vorliegenden Erfindung sind in den beigefügten Ansprüchen definiert.
  • In einem Beispiel der vorliegenden Erfindung wird eine Struktur und ein Verfahren zum Herstellen der Struktur für einen Bildwandler präsentiert. Die Struktur umfasst eine organische Dielektrikumsschicht und eine gemeinsame Elektrode mit einer lichtdurchlässigen leitenden Schicht, wobei die gemeinsame Elektrode die organische Dielektrikumsschicht bedeckt und sich über die seitliche äußere Kante der organischen Dielektrikumsschicht hinaus entlang eines "streifenförmigen" Segments der gemeinsamen Elektrode erstreckt. Ein Verfahren zum Herstellen einer solchen Struktur ist in Anspruch 7 angegeben.
  • Die Erfindung wird nun detaillierter beispielhaft unter Bezugnahme auf die Zeichnung beschrieben, in der zeigen:
  • 1 eine Draufsicht eines Wandlers gemäß der vorliegenden Erfindung,
  • 2 eine auseinandergezogene Ansicht eines Segmentes der Abbildungsanordnung im Bildwandler nach 1,
  • 3 eine Querschnittsansicht entlang der Linie 3-3 eines Abschnittes des Anordnungs-Segmentes von 2,
  • 4-7 Querschnittsansichten vom Teil des Anordnungs-Segmentabschnittes von 3 während der Herstellung,
  • 8 eine Querschnittsansicht eines Brückengliedes längs der Linie 8-8 von 2,
  • 9 eine Anschlussansicht eines Abschnittes des Bildwandlers nach 1,
  • 10 eine Querschnittsansicht des Bildwandlerabschnittes entlang Linie 10-10 nach 9.
  • 1 ist eine Draufsicht eines beispielhaften Bildwandlers 10 gemäß der vorliegenden Erfindung. Der Bildwandler 10 wird typischerweise auf einem im Wesentlichen flachen Substrat 12, typischerweise Glas, gebildet. Der Bildwandler 10 schließt eine Anordnung 14 aus lichtempfindlichen Abbildungselementen, vorzugsweise Fotodioden, ein, die in einer Matrix angeordnet sind, wobei jedes Abbildungelement ein dazugehöriges Schaltelement, vorzugsweise einen Dünnfilmtransistor (TFT) aufweist. Beide Elemente (Fotodiode und TFT) umfassen vorzugsweise amorphes Silicium (a-Si). Diese lichtempfindliche Region der Anordnung wird typischerweise als die aktive Region der Anordnung bezeichnet. Die Anordnung 14 wird um ihren Umfang herum durch eine Vielzahl von Zeilen- und Spalten-Adressleitungen mit Kontaktkissen 16 bzw. 18 adressiert, die entlang den Seiten der Anordnung 14 lokalisiert sind, wie durch die gestrichelten Darstellungen von 1 gezeigt.
  • In Betrieb wird die Spannung an den Zeilenleitungen und folglich den TFTs nacheinander angeschaltet, was das Auslesen der Ladung an den Fotodioden der gescanten Leitungen über die Spalten-Adressleitungen gestattet. Die Zeilen-Adressleitungen werden üblicherweise Scan-Leitungen und die Spalten-Adressleitungen die Daten-Leitungen genannt. Eine Daten-Leitung 32 (einige repräsentative Beispiele davon sind in 1 veranschaulicht) erstreckt sich typischer weise zwischen jedem eines entsprechenden Satzes von Kontaktkissen 18 in der Anordnung, wobei die Datenleitungen zum Auslesen der auf der Fotodioden-Anordnung während der Abbildungs-Operationen angesammelten Ladung benutzt werden.
  • Die Adressleitungen sind in der aktiven Region der Pixel-Anordnung 14 angeordnet, wobei sich Kontaktfinger 20 von der aktiven Region zur Kante des Substrates erstrecken. Die Kontaktfinger 20 verbinden elektrisch mit Kontaktkissen, wie Zeilen-Kontaktkissen 16 und Spalten-Kontaktkissen 18, die wiederum elektrisch mit externen Vorrichtungen verbunden werden können. Wie vollständiger in US-PS 5,389,775 , erteilt am 14. Februar 1995 an Kwasnick et al., diskutiert, schließen die Kontaktkissen Kontaktkissen ein, die mit gemeinsamen Elektroden der Anordnung verbunden sind.
  • Außerhalb der Kontaktkissen, wie Kontaktkissen 16, ist typischerweise ein Schutzring 22 um den Umfang der Pixel-Anordnung herum angeordnet. Schutzring 22 wird während des Betriebes typischerweise bei Erdpotenzial gehalten und dient dem Zweck des Schutzes der Anordnung vor elektrostatischer Entladung während der Bildung des Bildwandlers und während der Verbindung des Bildwandlers mit einer externen Schaltung und wirkt als ein Erdpotenzial für den Bildwandler 10. Der Schutzring 22 hat ein oder mehrere Schutz-Kontaktkissen 24, die im Abstand von einander um die innere Seite des Umfanges des Schutzringes 22 angeordnet sind, wie in 1 gezeigt.
  • Eine gemeinsame Elektrode 38 (von der ein kleiner repräsentativer Abschnitt in 1 veranschaulicht ist) ist über der Anordnung angeordnet, um einen gemeinsamen Kontakt für die Oberteile jeder der Dioden der Bildwandleranordnung bereitzustellen. Elektrische Kapazität zwischen den Datenleitungen 32 und der gemeinsamen Elektrode 38 kann zum e lektrischen Rauschen in der Auslese-Schaltung beitragen. Für Niedersignal-Anwendungen, wie Fluoroskopie in medizinischen Verfahren und für große Bildwandler mit Datenleitungen von länger als 20 cm, hat das Rauschen eine Größenordnung, die die Bildwandler-Leistungsfähigkeit beeinträchtigt. Die gemeinsame Elektrode wird daher von der Region über den Datenleitungen 32 entfernt, was die Kapazität verringert und dadurch die Bildwandler-Leistungsfähigkeit verbessert und zu einer sogenannten streifenförmigen gemeinsamen Elektrode führt. Die gemeinsame Elek-trode hat so eine Vielzahl von streifenförmigen Segmenten 39, die sich über den Bildwandler im Wesentlichen parallel den Datenleitungen 32 erstrecken, aber nicht über diesen liegen. Die entsprechenden streifenförmigen Segmente 39 sind durch eine Vielzahl von Brückengliedern 40 (die in 1 als "gekreuztstreifenförmig" angeordnet sind) gekoppelt, die die Datenleitungen zwischen streifenförmigen Segmenten überbrücken.
  • 2 ist eine Draufsicht eines Abschnittes 26 der lichtempfindlichen Abbildungsanordnung 14 von 1, einschließlich Glassubstrat 12, benachbarten lichtempfindlichen Abbildungs-Elementen 28 und 30 und Datenleitungen 32 und 34. Vorzugsweise sind Elemente 28 und 30 Fotodioden. Gestrichelt ist auch eine Scan-Leitung 36 gezeigt. Eine streifenförmige gemeinsame Elektrode 38 ist mit allen lichtempfindlichen Abbildungs-Elementen in der Anordnung gekoppelt ebenso wie mit Brückengliedern (ober erläutert) und sie wirkt als ein elektrischer Rückführungspfad geringen Widerstandes zu den Fotodioden von der äußeren Schaltung. Die streifenförmige gemeinsame Elektrode ist elektrisch mit den entsprechenden Fotodioden gekoppelt, wobei ein entsprechender Durchgang 43 durch darunter liegende dielektrische Schichten gebildet ist, um zu ermöglichen, das das gemeinsamen Elektrodenmaterials mit dem Halbleiter material des Fotodiodenkörpers in elektrischen Kontakt kommt.
  • Wie oben erwähnt, verläuft die streifenförmige gemeinsame Elektrode 38 allgemein parallel zu den Datenleitungen, bedeckt diese aber nicht. Vorzugsweise ist die gemeinsame Elektrode seitlich in einem Abstand von mindestens etwa 3 μm von den Datenleitungen angeordnet. Brückenglieder 40 und 41 koppeln elektrisch Fotodiode 30 mit benachbarten (nicht gezeigten) Fotodioden links und rechts der Fotodiode 30. Obwohl Brückenglieder 40 und 41 diese drei benachbarten Fotodioden elektrisch koppeln, sollte klar sein, dass Brückenglieder-Gruppen von mehr oder weniger unmittelbar benachbart elektronisch gekoppelter Fotodioden erzeugt werden könnten. Obwohl keine Brückenglieder zwischen allen benachbarten Fotodioden zu sein brauchen, sind sie vorzugsweise periodisch in der Anordnung verteilt, z.B. jede zweite Fotodiodengruppe und am bevorzugtesten etwa zehn bis etwa zwanzig Fotodioden zwischen Gruppen in einer gegebenen Zeile, um die Datenleitungs-Kapazität zu verringern.
  • Die Brückenglieder fördern das elektrische Wiedereinstellen des Gleichgewichtes in der Anordnung, nachdem eine Aufnahme gemacht wurde. Da die Anordnung viele Fotodioden einschließt, hat jede Fotodiode während des Abbildens eine andere Spannung, und Strom kann dazu neigen, in Richtung der Scan-Leitungen ebenso wie der Daten-Leitungen zu fließen. Die Brückenglieder helfen dem Strom, in der Richtung der Scan-Leitungen zu fließen.
  • Da die gemeinsamen Elektroden streifenförmig sind, werden Brüche in der gemeinsamen Elektrode oder elektrischen Isolation einer Diode zur Reparatur die Verbindung trennen. Die Brückenglieder lösen dieses Problem durch Bereitstellen eines alternativen Verbindungspfades, sollte ein gemeinsamer Elektrodenstreifen aus irgendeinem Grund einen Bruch entwickeln. Brückenglieder sind allgemein detailliert in US-PS 5,777,355 mit dem Titel "Radiation Imager with Discontinuous Dielectric", erteilt an Possin et al. am 7. Juli 1998, beschrieben.
  • Der Begriff "streifenförmiges Segment" der gemeinsamen Elektrode, wie er hier benutzt wird, bezieht sich auf solche Abschnitte der gemeinsamen Elektrode, die sich sowohl vertikal (Segment 39) als auch horizontal (Kreuzbrücken-Struktur 40) erstrecken, wie in 1 veranschaulicht, und die Bezugnahme auf Kanten des dielektrischen Materials entlang den streifenförmigen Segmenten der gemeinsamen Elektrode bezieht sich auf solche Kanten, bei denen das Material der gemeinsamen Elektrode beendet wurde (d.h., das leitende Material wurde entfernt), um nicht über Daten-Leitungen 32 zu liegen und bezieht sich nicht auf Durchgänge 40, die gebildet wurden, um den elektrischen Kontakt zwischen der Fotodiode und der gemeinsamen Elektrode zu ermöglichen. Typischerweise ist in Durchgängen das Material der gemeinsamen Elektrode nicht beendet, sondern bildet eine Bedeckung der Wände des Durchganges und der Oberfläche des Halbleitermaterials des Fotodiodenkörpers, der durch Bildung des Durchganges freigelegt wurde.
  • 3 ist eine Querschnittsansicht eines Abschnittes 42 des Teiles 26 von 2 entlang der Linie 3-3 durch Fotodiode 28. Abschnitt 42 schließt Daten-Leitungen 32 und 34 auf Substrat 12 ebenso wie das Dioden-Bodenkontaktkissen 46 ein. Daten-Leitungen umfassen, z.B., typischerweise Molybdän, Aluminium oder eine aufeinander geschichtete Kombination davon. Die Daten-Leitungen und Kanten des Dioden-Bodenkontaktkissens bedeckt eine Schicht 48 aus einem Passivierungs-Dielektrikum, wie, z.B., Siliciumdioxid, das, z.B., durch Plasma-geförderte Dampfabscheidung abgeschieden wurde. Über dem Boden-Kontaktkissen befindet sich Fotodiode 50. Fotodiode 50 schließt, z.B., eine Bodenschicht 52 aus N+ Silicium, dotiert mit, z.B., Phosphor, ein. Oberhalb der Bodenschicht 52 befindet sich, z.B., eine Schicht 54 aus im Wesentlichen eigenleitendem Silicium, über der sich eine Schicht 56 aus P+-dotiertem Silicium befindet, wozu man, z.B., Bor benutzt. Die Kanten der Fotodiode 50 bedeckt eine Schicht 58 aus einem Passivierungs-Dielektrikum, wie, z.B., Siliciumnitrid oder Siliciumoxid. Alternativ wird das in US-PS 5,233,181 , ausgegeben am 3. August 1999 an Kwansnick (sic) et al., diskutierte Doppelschicht-Dielektrikum benutzt. Die inneren Kanten von Schicht 58 bedeckt eine Schicht 60 aus einem zweiten organischen Dielektrikum, vorzugsweise vorimidisiertem Polyimid (erhältlich von, z.B., Arch Chemical, Inc.), das auch mit der oberen Schicht 56 von Fotodiode 50 in Kontakt steht. Schließlich bedeckt eine lichtdurchlässige leitende Schicht 62 die Polyimid-Schicht, wobei die Schicht 62 mit Fotodiode 50 in Kontakt steht (hier mit dem Oberteil der Fotodiode) und als die streifenförmige gemeinsame Elektrode 38 dient. Vorzugsweise ist Schicht 62 (die die gemeinsame Elektrode 38 bildet) ein lichtdurchlässiges leitendes Oxid und am bevorzugtesten Indium-Zinn-Oxid. Die Bevorzugung von Transparenz soll die Übertragung von Licht in die Fotodiode gestatten. Der Begriff "lichtdurchlässig", wie er hier benutzt wird, bedeutet, dass mindestens etwa 10% des auftreffenden Lichtes durchgelassen werden.
  • Der Einsatz von Polyimid für Schicht 60 dient drei Zwecken. Der erste Zweck ist es, die Stufenabdeckung der nachfolgenden Herstellungsschichten zu verbessern. Polyimid wird als eine viskose Flüssigkeit auf dem Substrat angeordnet und bildet so einen sich anpassenden Überzug über Schicht 58. Wird er nach konventionellen fotolithographischen Verfahren gemustert, dann bildet er eine graduelle Abschrägung für das gemeinsame Elek-trodenmaterial (d.h., das lichtdurchlässige leitende Material), weil es in O2-Plasma mit etwa der gleichen Rate geätzt wird wie Fotoresist, der natürlicherweise durch ein Nacherhitzen als Teil der Standard-Fotolithographie abgeschrägt wird. So zeigt, z.B., eine Feuchtigkeits-Sperrschicht, die über der lichtdurchlässigen leitenden Schicht 62 gebildet wird, eine verbesserte Stufenabdeckung durch Einsatz von Polyimid für die organische Dielektrikumsschicht 60. Der zweite Zweck ist es, elektrische Kurzschlüsse verhindern zu helfen, da Polyimid nicht zur Bildung von Nadellöchern neigt, die üblicherweise in einigen anorganischen Dielektrikumsschichten (z.B. Siliciumoxid) angetroffen werden. Der dritte Zweck für die Verwendung der Polyimidschicht ist die Verringerung der elektrischen Kapazität zwischen der gemeinsamen Elektrode und den Daten-Leitungen. Wie oben erwähnt, wird das Mustern der gemeinsamen Elektrode 38 zu streifenförmigen Segementen mit verbindenden Brücken 40 auch zum Verringern einer unerwünschten parasitären Kapazität zwischen der gemeinsamen Elektrode und den Daten-Leitungen benutzt.
  • In jeder der 2 und 3 ist das Schaltelement in jedem Pixel, z.B. ein Dünnfilmtransistor, nicht gezeigt, um die Figur zur Erleichterung des Verstehens der Erfindung zu vereinfachen.
  • In einer Ausführungsform schließt die vorliegende Erfindung auf der Anordnung 14, und insbesondere dem repräsentativen Abschnitt 42 (3), eine Abdeckung auf mindestens einem Teil der freigelegten Kanten der organischen Dielektrikums- (hier Polyimid)-Schichten 60 und 100 (Schicht 100 wird später beschrieben) entlang den streifenförmigen Segmenten der gemeinsamen Elektrode mit dem lichtdurchlässigen leitenden Material (hier Indium-Zinn-Oxid) ein, wie unten vollständiger erläutert wird. So ist, z.B., Polyimidkante 64 mit Abschnitt 66 der Schicht 62 des Materials der gemeinsamen Elektrode bedeckt. Das Bedecken freigelegter Kanten (z.B. nicht-horizontaler Oberflächen des organischen Dielektrikums, wo es diskontinuierlich wird) dient dem Abdichten dieser Kanten (d.h., deren Überziehen), um die Kante zu schützen, d.h., die Oberfläche des organischen Dielektrikums zu verringern, die Gegenstand des Unterschneidens oder eines anderen Angriffes durch ein Ätzmittel sein kann.
  • 4 zeigt einen relevanten Abschnitt 67 oberhalb der Daten-Leitungen 32 von Abschnitt 42 von 3 während späterer Stufen der Herstellung. Es sollte klar sein, dass das Herstellungsverfahren über Daten-Leitungen 34 ähnlich ist. Bei dieser Stufe, als Teil des Verfahrens der Bildung der streifenförmigen Segmente der gemeinsamen Elektrode, wird die organische Dielektrikumsschicht 60 abgeschieden und gemustert, um sie über den Daten-Leitungen zu entfernen, ausgenommen, wo die Daten-Leitungen sich mit den Brückengliedern 40 schneiden. Die organische Dielektrikumsschicht 60 hat eine Dicke von etwa 0,5 μm bis etwa 2,5 μm. Ein Beispiel eines organischen Dielektrikummaterials, das für Schicht 60 eingesetzt werden könnte, ist Polyimid, vorzugsweise vorimidisiert.
  • 5 zeigt Abschnitt 67 nach dem Mustern der organischen Dielektrikumsschicht 60. Konventionelle lithographische Techniken (z.B. Fotoresist) werden üblicherweise zum Ausführen des Musterns benutzt,
  • 6 zeigt Abschnitt 67 nach dem Abscheiden der lichtdurchlässigen leitenden Schicht 62 und vor dem Mustern derselben. Die lichtdurchlässige leitende Schicht 62 hat eine Dicke von etwa 500 ⎕ bis etwa 2000 ⎕ und sie umfasst Indium-Zinn-Oxid oder Ähnliches.
  • 7 zeigt Abschnitt 67 von 6 nach dem Abscheiden einer Schicht 68 aus Fotoresist, deren Freilegung und Entwicklung zum Mustern einer lichtdurchlässigen leitenden Schicht 62. Nachdem der Abschnitt von Schicht 62, der nicht durch Fotoresist 68 bedeckt ist, entfernt ist, muss der übrige Fotoresist ebenfalls entfernt werden.
  • Wo, z.B., die lichtdurchlässige leitende Schicht 62 Indium-Zinn-Oxid ist, würde das Mustern typischerweise unter Benutzung von HCl enthaltender Ätzmittel (d.h., eine "Nass"ätzung), ausgeführt werden. Es sollte jedoch klar sein, dass andere Nassätzungen (oder Trockenätzungen, wie, z.B., reaktives Io-nenätzen) benutzt werden können. Jedes Verfahren zum Entfernen von Fotoresist hat seine eigenen Charakteristika.
  • Das Nassabstreifen ist im Allgemeinen teurer und es wurde festgestellt, dass es die Durchgänge für die Kontaktkissen zur Verbindung von Komponenten außerhalb der Anordnung beschädigt, auch weiter unten mit Bezug auf 10 beschrieben, während das Veraschen die Polyimidschicht 60 angreift und eine Neigung hat, sie zu unterschneiden. Ein solches Unterschneiden würde zur Beeinträchtigung der Stufen-Abdeckung für nachfolgende Abscheidungen führen, wie, z.B., einer Sperrschicht für einen Röntgen-Bildwandler derart, dass die Funktionalität der Sperrschicht zum Schützen der Fotodioden vor Feuchtigkeit beeinträchtigt werden würde. Die vorliegende Erfindung gestattet die Benutzung des Veraschens, ohne dass die organische Dielektrikumsschicht in einem unterschnittenen Zustand freigelegt zurückbleibt.
  • Der Fachmann wird wissen, das Veraschen ein "mildes" Plasma-Ätzverfahren ist. Eine Form der Ätzungen benutzt das reaktive Ionen-Ätzen (RIE). Kurz gesagt, das Werkstück wird in einer Kammer bei einem höheren Druck angeordnet als bei dem konventionellen RIE mit einem O2-Plasma. Ein RF-Potenzial erzeugt ein Plasma, was das Ätzen des Fotoresist verursacht. Der höhere Druck ändert den mittleren freien Pfad der erzeugten Ionen, verhindert das Ionen-Bombardement und ist in diesem Sinne milder. Obwohl dies nicht genau zutrifft, wird das Veraschen häufig mehr als ein Verbrennen des Materials mit einem unterstützten Oxidations-Verfahren unter Benutzung von Sauerstoffionen angesehen.
  • 8 zeigt Abschnitt 67 nach dem Mustern der lichtdurchlässigen leitenden Schicht 62 und dem Entfernen von Fotoresist 68. Wie in 8 gezeigt, ist Kante 70 der organischen Dielektrikumsschicht 60 mit einer Erstreckung 72 der lichtdurchlässigen leitenden Schicht 62 abgedichtet. Die Erstreckung 72 erstreckt sich etwa 1 bis etwa 5 μm über Kante 70 hinaus. Das Endresultat ist in 3 gezeigt.
  • 9 ist eine Querschnittsansicht eines Abschnittes 98 des Brückengliedes 40 entlang der Linie 9-9 von 2. Wie gezeigt, schließt jedes Brückenglied eine Schicht 100 aus dem organischen Dielektrikummaterial von Schicht 60 von 3 und eine Schicht 102 aus dem lichtdurchlässigen leitenden Material der gemeinsamen Elektrode ein. Das leitende Material bedeckt die Kanten 104 und 106 des dielektrischen Materials und erstreckt sich etwa 1 bis etwa 5 μm über Kante 104, 106 hinaus (d.h., über die Endregion 105 von Schicht 100), um Schutz für Schicht 100 zu bieten.
  • 10 zeigt einen Abschnitt 110 des Bildwandlers 10 von 1. Abschnitt 110 zeigt Einzelheiten der Verbindung zwischen Kontaktkissen 16 und Finger 20. Finger 20 verläuft tatsächlich unterhalb des Kontaktkissens 16 und koppelt elektrisch damit beim Kontaktdurchgang 21. Kontaktdurchgang 21 umfasst typischerweise, z.B., eine lichtdurch lässige leitende Schicht (z.B. ITO). Kontaktkissen 16 umfasst vorzugsweise das gleiche Material wie die gemeinsame Elektrode (üblicherweise Indium-Zinn-Oxid).
  • 11 ist eine Querschnittsansicht von Teil 111 von Abschnitt 110 entlang Linie 11-11 in 10. Wie in 11 gezeigt, umfasst Finger 20 über Substrat 12 eine leitende Schicht 112 (z.B. Molybdän, Aluminium oder eine Kombination von Schichten jedes Materials), ähnlich den Daten-Leitungen in der Zusammensetzung. Über der leitenden Schicht befindet sich ein doppeltes Passivierungs-Dielektrikum, umfassend Schichten 114 und 116. Wie Schicht 48 in 3, umfasst Schicht 114, z.B., Siliciumoxid. Ähnlich wie Schicht 58 in 3, umfasst Schicht 116, z.B., Siliciumnitrid oder alternativ Siliciumoxid oder Kombinationen davon. Über den Passivierungs-Dielektrika ist eine Schicht 118 aus einem organischen Dielektrikum (z.B. Polyimid). Schicht 118 wird beim Herstellungsverfahren vorzugsweise zur gleichen Zeit gebildet wie Schicht 60 (3) und kann tatsächlich die gleiche physikalische Schicht sein. Die lichtdurchlässige leitende Schicht 23, die Kontaktdurchgang 21 füllt, gestattet elektrischen Kontakt zwischen der leitenden Schicht 112 von Finger 20 und dem Kontaktkissen 16. Wie bei 3, schließt die lichtdurchlässige leitende Schicht 23 Erstreckungen 122 und 124 von mindestens etwa 1 bis etwa 5 μm ein, die die Kanten 126 bzw. 128 der organischen Dielektricumsschicht 118 bedecken, um deren Beschädigung zu verhindern. Darüber hinaus werden Schichten 23 und 62 (3) beim Herstellungsverfahren vorzugsweise zur gleichen Zeit gebildet und es können tatsächlich die gleiche physikalische Schicht sein.
  • Das Abdichten freigelegter Polyimidgrenzen, wie hierin beschrieben, zusammen mit den streifenförmigen Segmenten der gemeinsamen Elektrode kann auf irgendeine Situation ausgedehnt werden, bei der eine organische Dielektrikumsschicht in der Gefahr des Unterschneidens steht.
  • In einem anderen Beispiel der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zum Herstellen einer Struktur für einen Bildwandler präsentiert. Eine organische Dielektrikumsschicht wird gebildet und von einer lichtdurchlässigen leitenden Schicht bedeckt. Die lichtdurchlässige leitende Schicht wird über eine freigelegte Kante der organischen Dielektrikumsschicht genügend weit erstreckt, um die freigelegte Kante bei der nachfolgenden Herstellung des Bildwandlers zu schützen.
  • In noch einem anderen Beispiel der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zum Herstellen eines Bildwandlers präsentiert. Eine Schicht aus lichtdurchlässigem leitendem Material wird direkt über einer organischen Dielektrikumsschicht gebildet, um als ein elektrischer Kontakt innerhalb des Bildwandlers zu wirken. Die Schicht aus lichtdurchlässigem leitendem Material wird mindestens 1 μm über eine freigelegte Kante der organischen Dielektrikumsschicht hinaus erstreckt.
  • Obwohl die vorliegende Erfindung unter Bezugnahme auf die speziellen Ausführungsformen hierin beschrieben wurde, sollte klar sein, dass die Technik des Abdichtens der Kanten des Polyimids oder eines anderen Dielektrikums mit lichtdurchlässigem leitendem Oxid oder anderem leitenden Material in anderen Situationen anwendbar ist. Der guten Ordnung halber werden verschiedene Aspekte der Erfindung in den folgenden Sätzen ausgeführt:
    • 1. Struktur für einen Bildwandler, zu der gehören: eine organische Dielektrikumsschicht und eine gemeinsame Elektrode, wobei die gemeinsame Elektrode eine lichtdurchlässige leitende Schicht aufweist, die die organische Dielektricumsschicht bedeckt und sich über die seitliche äußere Kante der organischen Dielektrikumsschicht längs einem streifenförmigen Segment der gemeinsamen Elektrode erstreckt.
    • 2. Struktur nach Satz 1, worin die organische Dielektrikums-schicht Polyimid aufweist.
    • 3. Struktur nach Satz 2, worin die gemeinsame Elektrode mehrere streifenförmige Segmente aufweist.
    • 4. Bildwandler, zu dem gehören: eine Struktur gemäß einem der vorhergehenden Sätze; wenigstens ein elektrischer Kontakt in dem Bildwandler, wobei dieser wenigstens eine elektrische Kontakt eine erste Schicht aus leitendem Material und eine gemeinsame Elektrode aufweist, wobei die gemeinsame Elektrode eine zweite Schicht aus lichtdurchlässigem leitenden Material aufweist; eine organische Dielektrikumsschicht, die zwischen Abschnitten der ersten und zweiten Schicht aus leitendem Material angeordnet ist; eine Durchgangsregion zur Bereitstellung eines elektrischen Kontaktes zwischen der ersten Schicht aus leitendem Material derart, dass die zweite Schicht aus lichtdurchlässigem leitendem Material in elektrischem Kontakt mit der ersten Schicht aus leitendem Material angeordnet ist, wobei das organische Dielektrikum von wenigstens einem Abschnitt des Bildwandlers auf einer Seite der genannten Durchgangsregion entfernt ist; die genannte gemeinsame Elektrode mehrere streifenförmige Segmente aufweist; die zweite Schicht aus lichtdurchlässigem leitenden Material angeordnet ist, um sich wenigstens 1 μm über die seitliche äußere Kante der organischen Dielektrikumsschicht in die Durchgangsregion und entlang der streifenförmigen Segmente der gemeinsamen Elektrode zu erstrecken.
    • 5. Bildwandler nach Satz 4, wobei die Schicht aus lichtdurchlässigem leitenden Material sich zwischen etwa 1 μm und etwa 5 μm über die freigelegte Kante der organischen Dielektrikums-schicht hinaus erstreckt.
    • 6. Bildwandler nach Satz 4 oder 5, weiter mit einer Anordnung aus lichtempfindlichen Bildgebungselementen, wobei die gemeinsame Elektrode in elektrischem Kontakt mit jedem lichtempfindlichen Bildgebungselement in der Anordnung angeordnet ist.
    • 7. Verfahren zum Herstellen einer Struktur für einen Bildwandler mit den Schritten: Bilden einer organischen Dielektrikumsschicht; Bilden einer lichtdurchlässigen leitenden Schicht, die die organische Dielektrikumsschicht bedeckt und Erstrecken der lichtdurchlässigen leitenden Schicht genügend weit über die seitliche äußere Kante der organischen Dielektrikumsschicht, um die freigelegte Kante bei der nachfolgenden Herstellung des Bildwandlers zu schützen.
    • 8. Verfahren nach Satz 7, worin das Formen der organischen Dielektrikumsschicht das Formen einer Polyimidschicht umfasst.
    • 9. Verfahren zum Herstellen eines Bildwandlers mit den Schritten: Herstellen einer Struktur gemäß Satz 7 oder 8; Bilden einer Schicht aus lichtdurchlässigem leitendem Material direkt über einer organischen Dielektrikumsschicht, um als ein elektrischer Kontakt in dem Bildwandler zu wirken und Erstrecken der Schicht aus lichtdurchlässigem leitendem Material wenigstens etwa 1 μm über die seitliche äußere Kante der organischen Dielektrikumsschicht hinaus entlang streifenförmiger Segmente einer gemeinsamen Elektrode, die durch die Schicht aus lichtdurchlässigem Material gebildet wird.
    • 10. Verfahren nach Satz 9, worin das Erstrecken das Erstrecken der Schicht aus lichtdurchlässigem leitendem Material zwischen etwa 1 μm und etwa 5 μm über die freigelegte Kante hinaus umfasst.

Claims (10)

  1. Struktur für einen Bildwandler (10), zu der gehören: eine organische Dielektrikumschicht (60); und eine gemeinsame Elektrode (33), wobei die gemeinsame Elektrode eine lichtdurchlässige leitende Schicht (62) aufweist, die die organische Dielektrikumschicht bedeckt, dadurch gekennzeichnet, dass die lichtdurchlässige leitende Schicht (62) sich jenseits der äußeren seitlichen Kante (64) der organischen Dielektrikumschicht längs einem streifenförmigen Segment (39, 40) der gemeinsamen Elektrode erstreckt.
  2. Struktur nach Anspruch 1, wobei die organische Dielektrikumschicht (60) Polyimid aufweist.
  3. Struktur nach Anspruch 1 oder 2, wobei die gemeinsame Elektrode (38) mehrere Segmente (39, 40) aufweist.
  4. Bildwandler (10), zu dem gehören: eine Struktur nach einem der vorhergehenden Ansprüche; wenigstens ein elektrischer Kontakt in dem Bildwandler (10), wobei der wenigstens eine elektrische Kontakt (16) eine erste Schicht (23) aus leitendem Material aufweist und die gemeinsame Elektrode (38) eine zweite Schicht aus einem lichtdurchlässigen leitenden Material bereitstellt; wobei die organische Dielektrikumschicht (60, 118) zwischen Abschnitten der ersten und zweiten Schicht aus leitendem Material angeordnet ist; ein Durchkontaktbereich (21), der dazu dient, einen elektrischen Kontakt zu der ersten Schicht aus leitendem Material bereitzustellen, so dass die zweite Schicht aus lichtdurchlässigem leitendem Material in elektrischen Kontakt mit der ersten Schicht aus leitendem Material angeordnet ist, wobei das organische Dielektrikum von wenigstens einem Abschnitt des Bildwandlers auf einer Seite des Durchkontaktbereichs entfernt ist; wobei die gemeinsame Elektrode (38) mehrere streifenförmige Segmente (39, 40) aufweist; wobei die zweite Schicht aus lichtdurchlässigem leitendem Material angeordnet ist, um sich um wenigstens etwa einen Mikrometer jenseits einer exponierten Kante (126) der organischen Dielektrikumschicht in dem Durchkontaktbereich und längs den streifenförmigen Segmenten der gemeinsamen Elektrode zu erstrecken.
  5. Bildwandler nach Anspruch 4, wobei die Schicht (23) aus lichtdurchlässigem leitendem Material sich zwischen etwa einem Mikrometer und etwa fünf Mikrometer jenseits der exponierten Kante (126) der organischen Dielektrikumschicht erstreckt.
  6. Bildwandler nach Anspruch 4 oder 5, ferner mit einer Matrix von auf Licht ansprechenden Bildgebungselementen (28), wobei die gemeinsame Elektrode (38) in elektrischem Kontakt mit jedem auf Licht ansprechenden Bildgebungselement in der Matrix angeordnet ist.
  7. Verfahren zum Herstellen einer Struktur für einen Bildwandler (10), mit den Schritten: Ausbilden einer organischen Dielektrikumschicht (60); Ausbilden einer lichtdurchlässigen leitenden Schicht (62), die die organische Dielektrikumschicht bedeckt; und dadurch gekennzeichnet, dass die lichtdurchlässige leitende Schicht jenseits der seitlichen äußeren Kante (64) der organischen Dielektrikumschicht ausreichend weit ausgebreitet wird, um die exponierte Kante in einer nachfolgenden Fertigung des Bildwandlers zu schützen.
  8. Verfahren nach Anspruch 7, wobei der Schritt des Ausbildens der organischen Dielektrikumschicht (60) auf dem Ausbilden einer Polyimidschicht basiert.
  9. Verfahren zum Herstellen eines Bildwandlers, mit den Schritten: Erzeugen einer Struktur nach Anspruch 7 oder Anspruch 8; Ausbilden der Schicht (23) aus lichtdurchlässigem leitendem Material unmittelbar über der organischen Dielektrikumschicht, um in dem Bildwandler als ein elektrischer Kontakt (118) zu wirken; und Ausbreiten der Schicht aus lichtdurchlässigem leitendem Material um wenigstens etwa einen Mikrometer jenseits der seitlichen äußeren Kante (64, 126) der organischen Dielektrikumschicht längs streifenförmigen Segmenten (39, 40) einer durch die Schicht aus lichtdurchlässigem Material ausgebildeten gemeinsamen Elektrode (38).
  10. Verfahren nach Anspruch 9, wobei der Schritt des Ausbreitens beinhaltet, dass die Schicht (23) aus lichtdurchlässigem leitendem Material zwischen etwa einen Mikrometer und etwa fünf Mikrometer jenseits der exponierten Kante (64, 126) ausgebreitet wird.
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Families Citing this family (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6617561B1 (en) * 2000-03-09 2003-09-09 General Electric Company Low noise and high yield data line structure for imager
US7088323B2 (en) * 2000-12-21 2006-08-08 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Liquid crystal display device and method for fabricating the same
AU2002336341A1 (en) * 2002-02-20 2003-09-09 Planar Systems, Inc. Light sensitive display
US7023503B2 (en) * 2002-02-20 2006-04-04 Planar Systems, Inc. Image sensor with photosensitive thin film transistors
US7009663B2 (en) * 2003-12-17 2006-03-07 Planar Systems, Inc. Integrated optical light sensitive active matrix liquid crystal display
US7053967B2 (en) * 2002-05-23 2006-05-30 Planar Systems, Inc. Light sensitive display
DE10238400A1 (de) * 2002-08-22 2004-03-04 Gottlieb Binder Gmbh & Co. Kg Vorrichtung zum Montieren von Sitzbezügen
US20060034492A1 (en) * 2002-10-30 2006-02-16 Roy Siegel Hand recognition system
US20080084374A1 (en) 2003-02-20 2008-04-10 Planar Systems, Inc. Light sensitive display
US6928144B2 (en) * 2003-08-01 2005-08-09 General Electric Company Guard ring for direct photo-to-electron conversion detector array
US6982176B2 (en) * 2003-10-30 2006-01-03 General Electric Company Method for monitoring production of pixel detectors and detectors produced thereby
US7773139B2 (en) 2004-04-16 2010-08-10 Apple Inc. Image sensor with photosensitive thin film transistors
US20060045240A1 (en) * 2004-08-31 2006-03-02 Buchner Gregory C Method and apparatus for delayed answering of telecommunications request
TWI287869B (en) * 2005-02-16 2007-10-01 Hannstar Display Corp Structure and manufacturing method of imager array unit
TWI281586B (en) * 2005-09-13 2007-05-21 Ind Tech Res Inst Pixel array
US7547572B2 (en) 2005-11-16 2009-06-16 Emcore Corporation Method of protecting semiconductor chips from mechanical and ESD damage during handling
US7612371B2 (en) * 2006-01-17 2009-11-03 International Business Machines Corporation Structure to monitor arcing in the processing steps of metal layer build on silicon-on-insulator semiconductors
US8519379B2 (en) 2009-12-08 2013-08-27 Zena Technologies, Inc. Nanowire structured photodiode with a surrounding epitaxially grown P or N layer
US8274039B2 (en) 2008-11-13 2012-09-25 Zena Technologies, Inc. Vertical waveguides with various functionality on integrated circuits
US8748799B2 (en) 2010-12-14 2014-06-10 Zena Technologies, Inc. Full color single pixel including doublet or quadruplet si nanowires for image sensors
US8735797B2 (en) 2009-12-08 2014-05-27 Zena Technologies, Inc. Nanowire photo-detector grown on a back-side illuminated image sensor
US8229255B2 (en) 2008-09-04 2012-07-24 Zena Technologies, Inc. Optical waveguides in image sensors
US8889455B2 (en) 2009-12-08 2014-11-18 Zena Technologies, Inc. Manufacturing nanowire photo-detector grown on a back-side illuminated image sensor
US9515218B2 (en) 2008-09-04 2016-12-06 Zena Technologies, Inc. Vertical pillar structured photovoltaic devices with mirrors and optical claddings
US9082673B2 (en) 2009-10-05 2015-07-14 Zena Technologies, Inc. Passivated upstanding nanostructures and methods of making the same
US8507840B2 (en) 2010-12-21 2013-08-13 Zena Technologies, Inc. Vertically structured passive pixel arrays and methods for fabricating the same
US8269985B2 (en) 2009-05-26 2012-09-18 Zena Technologies, Inc. Determination of optimal diameters for nanowires
US9000353B2 (en) 2010-06-22 2015-04-07 President And Fellows Of Harvard College Light absorption and filtering properties of vertically oriented semiconductor nano wires
US8866065B2 (en) 2010-12-13 2014-10-21 Zena Technologies, Inc. Nanowire arrays comprising fluorescent nanowires
US8299472B2 (en) 2009-12-08 2012-10-30 Young-June Yu Active pixel sensor with nanowire structured photodetectors
US9406709B2 (en) 2010-06-22 2016-08-02 President And Fellows Of Harvard College Methods for fabricating and using nanowires
US8791470B2 (en) 2009-10-05 2014-07-29 Zena Technologies, Inc. Nano structured LEDs
US8890271B2 (en) * 2010-06-30 2014-11-18 Zena Technologies, Inc. Silicon nitride light pipes for image sensors
US9343490B2 (en) 2013-08-09 2016-05-17 Zena Technologies, Inc. Nanowire structured color filter arrays and fabrication method of the same
US8835831B2 (en) 2010-06-22 2014-09-16 Zena Technologies, Inc. Polarized light detecting device and fabrication methods of the same
US8546742B2 (en) 2009-06-04 2013-10-01 Zena Technologies, Inc. Array of nanowires in a single cavity with anti-reflective coating on substrate
US9478685B2 (en) 2014-06-23 2016-10-25 Zena Technologies, Inc. Vertical pillar structured infrared detector and fabrication method for the same
US9299866B2 (en) 2010-12-30 2016-03-29 Zena Technologies, Inc. Nanowire array based solar energy harvesting device
KR20100037211A (ko) * 2008-10-01 2010-04-09 주식회사 동부하이텍 이미지 센서 및 그 제조 방법
US8106487B2 (en) * 2008-12-23 2012-01-31 Pratt & Whitney Rocketdyne, Inc. Semiconductor device having an inorganic coating layer applied over a junction termination extension
US9310923B2 (en) 2010-12-03 2016-04-12 Apple Inc. Input device for touch sensitive devices
US8928635B2 (en) 2011-06-22 2015-01-06 Apple Inc. Active stylus
US8638320B2 (en) 2011-06-22 2014-01-28 Apple Inc. Stylus orientation detection
US9329703B2 (en) 2011-06-22 2016-05-03 Apple Inc. Intelligent stylus
JP2013243319A (ja) * 2012-05-23 2013-12-05 Konica Minolta Inc 放射線画像撮影装置
US9652090B2 (en) 2012-07-27 2017-05-16 Apple Inc. Device for digital communication through capacitive coupling
US9557845B2 (en) 2012-07-27 2017-01-31 Apple Inc. Input device for and method of communication with capacitive devices through frequency variation
US9176604B2 (en) 2012-07-27 2015-11-03 Apple Inc. Stylus device
US9935152B2 (en) 2012-12-27 2018-04-03 General Electric Company X-ray detector having improved noise performance
US10048775B2 (en) 2013-03-14 2018-08-14 Apple Inc. Stylus detection and demodulation
US10067580B2 (en) 2013-07-31 2018-09-04 Apple Inc. Active stylus for use with touch controller architecture
FR3012663B1 (fr) 2013-10-25 2015-12-04 Thales Sa Generateur de rayons x a capteur de flux integre
US9917133B2 (en) * 2013-12-12 2018-03-13 General Electric Company Optoelectronic device with flexible substrate
US10732131B2 (en) 2014-03-13 2020-08-04 General Electric Company Curved digital X-ray detector for weld inspection
US10067618B2 (en) 2014-12-04 2018-09-04 Apple Inc. Coarse scan and targeted active mode scan for touch
US10474277B2 (en) 2016-05-31 2019-11-12 Apple Inc. Position-based stylus communication
EP3355355B1 (de) * 2017-01-27 2019-03-13 Detection Technology Oy Asymmetrisch positionierte schutzringkontakte
JP7308595B2 (ja) * 2018-07-02 2023-07-14 Tianma Japan株式会社 イメージセンサ

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05303116A (ja) * 1992-02-28 1993-11-16 Canon Inc 半導体装置
US5233181A (en) * 1992-06-01 1993-08-03 General Electric Company Photosensitive element with two layer passivation coating
US5463225A (en) * 1992-06-01 1995-10-31 General Electric Company Solid state radiation imager with high integrity barrier layer and method of fabricating
US5401668A (en) 1993-09-02 1995-03-28 General Electric Company Method for fabrication solid state radiation imager having improved scintillator adhesion
US5399884A (en) * 1993-11-10 1995-03-21 General Electric Company Radiation imager with single passivation dielectric for transistor and diode
US5389775A (en) * 1993-12-03 1995-02-14 General Electric Company Imager assembly with multiple common electrode contacts
US5517031A (en) * 1994-06-21 1996-05-14 General Electric Company Solid state imager with opaque layer
WO1998005187A1 (en) * 1996-07-29 1998-02-05 Cambridge Display Technology Limited Electroluminescent devices with electrode protection
ATE365976T1 (de) * 1996-09-04 2007-07-15 Cambridge Display Tech Ltd Elektrodenabscheidung für organische lichtemittierende vorrichtungen
US5777355A (en) 1996-12-23 1998-07-07 General Electric Company Radiation imager with discontinuous dielectric
US6037609A (en) * 1997-01-17 2000-03-14 General Electric Company Corrosion resistant imager
US6232626B1 (en) * 1999-02-01 2001-05-15 Micron Technology, Inc. Trench photosensor for a CMOS imager
KR100477788B1 (ko) * 1999-12-28 2005-03-22 매그나칩 반도체 유한회사 커패시터가 접속된 포토다이오드를 갖는 씨모스이미지센서 및 그 제조방법
TWI282625B (en) * 2002-08-01 2007-06-11 Au Optronics Corp Method of forming a thin film transistor liquid crystal display

Also Published As

Publication number Publication date
DE60128019D1 (de) 2007-06-06
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US6465824B1 (en) 2002-10-15

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