DE539691T1 - Nipkowscheibe für konfokalen optischen Scanner. - Google Patents
Nipkowscheibe für konfokalen optischen Scanner.Info
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Claims (13)
1. Konfokaler optischer Scanner zum Drehen einer Feinlochscheibe,
in der eine Vielzahl von Feinlöchern erzeugt ist, um Beleuchtungslicht, das durch die Feinlochscheibe auf
eine Probe gelangt, abzuscannen, dadurch gekennzeichnet, daß
die Vielzahl der Feinlöcher, die in der Feinlochplatte erzeugt sind, mehr als eine Spirallinie von Feinlochreihen
bilden, die in Spiralform und so angeordnet sind, daß ein radialer Teilungsabstand einer Spur einer imaginären Linie,
die die Vielzahl der Feinlöcher verbindet, die die Feinlochreihen bilden, und ein peripherer Teilungsabstand entlang
der Spirale gleich sind.
2. Konfokaler optischer Scanner nach Anspruch I1 dadurch
gekennzeichnet, daß die radialen und peripheren Teilungsabstände so angeordnet sind, daß sie gleich werden, dadurch
daß ein Anordnen der Zentrumskoordinate eines jeden Feinlochs, das in der Feinlochscheibe erzeugt ist, den Wert der
folgenden Gleichung annimmmt:
&eegr; = ro + e\'rx\'aJ2it
&THgr;, = {2*/(m-a)}{-r0 + V(r0 2 + iVrTa2/*)}
wobei gilt:
i= 0, 1, 2, ..., &eegr; (Reihenfolge von der Innenseite
der Spirale aus),
ri: Radius des i-ten Feinlochs,
ri: Radius des i-ten Feinlochs,
ro: innerster Radius,
&thgr;&idiagr;: Winkel des i-ten Feinlochs,
m: Zahl der Spiralen, und
a: Feinlochteilungsabstand.
3. Konfokaler optischer Scanner zum Drehen einer Feinlochscheibe,
in der eine Vielzahl von Feinlöchern erzeugt ist, um Beleuchtungslicht, das durch die Feinlochscheibe auf
eine Probe gelangt, abzuscannen, dadurch gekennzeichnet, daß
der konfokale optische Scanner eine Bildebene mittels einer Vielzahl von Spirallinien von Feinlochreihen abscannt
und mit der Feinlochscheibe versehen ist, in der die Feinlöcher so angeordnet sind, daß sich Radien der Zentrumsposition aller Feinlöcher, die die Vielzahl der Feinlochreihen
auf der Bildebene bilden, voneinander unterscheiden.
4. Konfokaler optischer Scanner nach Anspruch 3, wobei der konfokale optische Scanner mit einer Feinlochscheibe versehen
ist, in der eine Vielzahl von Feinlöchern so angeordnet ist, daß, wenn Zahlen auf die Vielzahl der diese
eine Bildebene bildenden Feinlöcher nacheinander in der Drehwinkelrichtung indexgeschaltet werden, die einen an der
Innenseitendurchmesserseite ungeradzahlige Zahlen und die einen an der Innenseitendurchmesserseite geradzahlige
Zahlen entsprechend der Scanreihenfolge sind, oder die einen an der Innenseitendurchmesserseite geradzahlige
Zahlen und die einen an der Innenseitendurchmesserseite ungeradzahlige Zahlen sind, und deren Radius an der
Innenseitendurchmesserseite monoton zunimmt und an der Außenseitendurchmesserseite monoton abnimmt oder an der
Innenseitendurchmesserseite monoton abnimmt und an der Außenseitendurchmesserseite monoton zunimmt.
5. Konfokaler optischer Scanner nach Anspruch 3 oder 4, bei dem die Feinlochscheibe dadurch gekennzeichnet ist, daß
eine Vielzahl von Spirallinien der Feinlochreihen in einer Bildebene gleichzeitig vorhanden ist, und daß die Feinlöcher,
die die Vielzahl der Spirallinien der Feinlochreihen bilden, auf radialen imaginären
isometrischen Spuren mit gleichem Teilungsabstand angeordnet sind.
6. Konfokaler optischer Scanner zum Drehen einer Feinlochscheibe, in der eine Vielzahl von Feinlöchern erzeugt ist,
um ein Beieuchtungslicht, das durch die Feinlochscheibe auf
die Probe gelangt, abzuscannen, bei dem die Feinlochscheibe eine Vielzahl von Sammeleinrichtungen und eine Vielzahl von
Feinlöchern umfaßt, die jeweils auf einem Brennpunkt der Vielzahl der Sammeleinrichtungen angeordnet sind.
7. Konfokaler optischer Scanner nach den Ansprüchen 1 bis 5, bei dem die Feinlochscheibe eine Vielzahl von Sammeleinrichtungen
und eine Vielzahl von Feinlöchern umfaßt, die jeweils auf einem Brennpunkt der Vielzahl der Sammeleinrichtungen
angeordnet sind.
8. Konfokaler optischer Scanner nach Anspruch 6 oder 7, bei dem Fresnel-Linsen, ein gekrümmter Sekundärspiegel, eine
Mikrolinse des mikrokonvexen Linsentyps oder eine brechungsindexverteilte
Mikrolinse für die Vielzahl der Sammeleinrichtungen verwendet wird.
9. Konfokaler optischer Scanner nach den Ansprüchen 6 bis 8, bei dem die Vielzahl der Sammeleinrichtungen in einer
Sammeleinrichtungsgruppe gruppiert ist, die in der Umfangsrichtung angeordnet ist und eine konstante Breite besitzt,
einschließlich derjenigen, deren Brennpunkt an der Außenseite jeder Aperturpupille fokussiert ist, und wobei der
Beleuchtungsbereich in der radialen Richtung des Beleuchtungslichts, das zur Sammeleinrichtungsgruppe gestrahlt
wird, nur auf die Breite in der radialen Richtung der Sammeleinrichtungsgruppe begrenzt ist.
10. Konfokaler optischer Scanner zum Drehen einer Feinlochplatte, in welcher eine Vielzahl von Feinlöchern erzeugt
ist, um das Beleuchtungslicht, das durch die Feinlochscheibe auf die Probe gelangt, abzuscannen, wobei
der konfokale optische Scanner umfaßt:
eine Feinlochplatte mit einer Sammelscheibe, in der eine Vielzahl von Sammeleinrichtungen gebildet ist, einer
Feinlochscheibe, in der eine Vielzahl von Feinlöchern gebildet ist, und eine Trommel zum Verbinden der Sammelscheibe
und der Feinlochscheibe, so daß die Feinlöcher an Brennpunkten der Vielzahl der Sammeleinrichtungen
angeordnet sind;
eine Dreheinrichtung zum Drehen der Feinlochplatte mit einer konstanten Geschwindigkeit; und
ein optisches Verzweigungssystem, das zwischen der Sammeischeibe und der Feinlochscheibe der Feinlochplatte
vorgesehen ist;
wobei das Rückkehrlicht von der Probe ausgegeben wird,
nachdem es die Feinlochscheibe in der rechtwinkligen Richtung von der Lichtachsenrichtung des Beleuchtungslichteingangs
über die Zwischenschaltung der Sammelscheibe passiert, wobei sein Strahlengang durch das optische
Verzweigungssystem abgebogen wird.
11. Konfokaler optischer Scanner nach Anspruch 10, bei dem die Feinlochplatte die an ihrer Seite angeordnete Sammelscheibe
und die an ihrem Boden (Unterseite) angeordnete Feinlochscheibe umfaßt, und bei dem das von der Seite der
Feinlochplatte zu der Sammelscheibe eingegebene Beleuchtungslicht in seinem Strahlengang in der rechtwinkligen
Richtung durch das optische Verzweigungssystem abgebogen wird, um über die Feinlochscheibe auf die Probe gestrahlt
zu werden, und wobei das Rückkehrlicht von der Probe ausgegeben wird, indem es durch das optische Verzweigungssystem
übertragen wird, nachdem es die Feinlochscheibe passiert hat.
12. Konfokaler optischer Scanner nach den Ansprüchen 6 bis
11, bei dem ein Teil der Feinlochplatte, in welchem keine Sammeleinrichtung der Sammelscheibe gebildet ist, durch
einen Film mit geringer Durchlässigkeit abgeschattet ist.
13. Konfokaler optischer Scanner nach den Ansprüchen 10 bis 12, bei dem die Feinlochscheibe und die Sammelscheibe eine
Feinlochanordnung eines konfokalen optischen Scanners nach den Ansprüchen 1 bis 5 und eine Anordnung der Sammeleinrichtungen
des konfokalen optischen Scanners nach den Ansprüchen 6 bis 9 aufweisen.
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Families Citing this family (59)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4437896C1 (de) * | 1994-10-22 | 1996-05-15 | Leica Lasertechnik | Scan-Vorrichtung für konfokale Mikroskope |
US5717519A (en) * | 1995-07-13 | 1998-02-10 | Yokogawa Electric Corporation | Confocal microscope |
US6002509A (en) * | 1995-10-21 | 1999-12-14 | Leica Lasertechnik Gmbh | Beam scanner for confocal microscopes |
JP3533295B2 (ja) * | 1996-01-31 | 2004-05-31 | 株式会社ニデック | 共焦点走査型顕微鏡 |
US5760950A (en) * | 1996-07-25 | 1998-06-02 | Advanced Scanning, Ltd. | Scanning confocal microscope |
JP3438855B2 (ja) * | 1997-01-23 | 2003-08-18 | 横河電機株式会社 | 共焦点装置 |
US6545789B1 (en) * | 1997-04-25 | 2003-04-08 | John J. Lemasters | Device to improve Z-axis resolution in confocal microscopy |
JP3816632B2 (ja) * | 1997-05-14 | 2006-08-30 | オリンパス株式会社 | 走査型顕微鏡 |
US6108127A (en) * | 1997-05-15 | 2000-08-22 | 3M Innovative Properties Company | High resolution confocal microscope |
JPH10333054A (ja) * | 1997-05-30 | 1998-12-18 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡 |
US6147800A (en) * | 1997-09-25 | 2000-11-14 | Kramer Scientific Corporation | Fluorescence stereo microscope illuminator |
US6147798A (en) * | 1997-10-24 | 2000-11-14 | Atto Instruments, Llc. | Microscope attachment for high precision and efficient imaging |
KR20010034046A (ko) * | 1998-01-12 | 2001-04-25 | 월랙 오와이 | 다수의 스캐닝 빔을 갖는 공초점 현미경 |
JP3560123B2 (ja) * | 1998-03-17 | 2004-09-02 | 横河電機株式会社 | 共焦点装置 |
JPH11271622A (ja) * | 1998-03-19 | 1999-10-08 | Yokogawa Electric Corp | 光学顕微鏡 |
JP2000098259A (ja) * | 1998-09-22 | 2000-04-07 | Olympus Optical Co Ltd | 共焦点顕微鏡用撮影装置 |
KR100319206B1 (ko) * | 1998-10-20 | 2002-01-10 | 윤종용 | 박막트랜지스터 제조방법과 이에 의해 제조된 기판 및 박막트랜지스터 |
US6548796B1 (en) * | 1999-06-23 | 2003-04-15 | Regents Of The University Of Minnesota | Confocal macroscope |
US6731383B2 (en) | 2000-09-12 | 2004-05-04 | August Technology Corp. | Confocal 3D inspection system and process |
US6870609B2 (en) | 2001-02-09 | 2005-03-22 | August Technology Corp. | Confocal 3D inspection system and process |
JP3741051B2 (ja) * | 2001-05-10 | 2006-02-01 | 横河電機株式会社 | バイオチップ読取装置 |
DE10133017C2 (de) | 2001-07-06 | 2003-07-03 | Leica Microsystems | Konfokales Mikroskop |
US6882415B1 (en) | 2001-07-16 | 2005-04-19 | August Technology Corp. | Confocal 3D inspection system and process |
US6970287B1 (en) * | 2001-07-16 | 2005-11-29 | August Technology Corp. | Confocal 3D inspection system and process |
US20030031596A1 (en) * | 2001-08-09 | 2003-02-13 | Yokogawa Electric Corporation | Biochip reader and fluorometric imaging apparatus |
DE10206004A1 (de) * | 2002-02-14 | 2003-08-28 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Vorrichtung zur konfokalen optischen Mikroanalyse |
US6934079B2 (en) * | 2002-05-03 | 2005-08-23 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissen-schaften e. V. | Confocal microscope comprising two microlens arrays and a pinhole diaphragm array |
GB0224067D0 (en) * | 2002-10-16 | 2002-11-27 | Perkinelmer Uk Ltd | Improvements in and relating to imaging |
JP4014536B2 (ja) | 2003-05-14 | 2007-11-28 | 横河電機株式会社 | 共焦点光スキャナ |
US7247348B2 (en) * | 2004-02-25 | 2007-07-24 | Honeywell International, Inc. | Method for manufacturing a erosion preventative diamond-like coating for a turbine engine compressor blade |
DE102004034993A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung |
DE102004034991A1 (de) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop |
DE102004034981A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung |
DE102004034990A1 (de) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung |
KR100601964B1 (ko) * | 2004-09-07 | 2006-07-19 | 삼성전자주식회사 | 다채널 다중 컬러 측정을 위한 광검출장치 및 이를 채용한다채널 시료 분석기 |
JP2006078772A (ja) * | 2004-09-09 | 2006-03-23 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡 |
JP2006091507A (ja) * | 2004-09-24 | 2006-04-06 | Nikon Corp | 共焦点顕微鏡 |
DE102004058044B4 (de) * | 2004-12-01 | 2014-02-06 | Friedrich-Schiller-Universität Jena | Ortsfrequenzfiltervorrichtung und Verfahren zur Ortsfrequenzfilterung von Laserstrahlen |
DE102005009188A1 (de) * | 2005-03-01 | 2006-09-07 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Punktscannendes Laser-Scanning-Mikroskop sowie Verfahren zur Einstellung eines Mikroskopes |
US8014053B2 (en) | 2006-04-20 | 2011-09-06 | Nanofocus Ag | Method for generating a universal pinhole pattern for use in confocal microscopes |
DE102007009551B3 (de) | 2007-02-27 | 2008-08-21 | Ludwig-Maximilian-Universität | Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe |
DE102008004233A1 (de) | 2007-08-01 | 2009-02-05 | Hochschule Ostwestfalen-Lippe | Verfahren zur Lokalisierung und Sanierung von Schäden an Ver- und Entsorgungsleitungen einschließlich des umlagernden Baugrundes |
US8229294B2 (en) * | 2007-12-10 | 2012-07-24 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | Cameras with varying spatio-angular-temporal resolutions |
DE102008020889A1 (de) * | 2008-04-22 | 2009-11-05 | Nanolit Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum volumetrischen Scannen |
US8275226B2 (en) | 2008-12-09 | 2012-09-25 | Spectral Applied Research Ltd. | Multi-mode fiber optically coupling a radiation source module to a multi-focal confocal microscope |
WO2011069261A1 (en) * | 2009-12-08 | 2011-06-16 | Spectral Applied Research Inc. | Imaging distal end of multimode fiber |
US9606343B2 (en) | 2011-05-06 | 2017-03-28 | Visitech International Ltd | Enhancing spatial resolution utilizing multibeam confocal scanning systems |
GB201107556D0 (en) | 2011-05-06 | 2011-06-22 | Sheblee Jafer | Spatial resolution enhancements in multibeam confocal scanning systems |
CN102928969A (zh) * | 2011-08-12 | 2013-02-13 | 赖博 | 一种微透镜增强型滑块式共聚焦光学扫描仪 |
DE102013001238B4 (de) | 2013-01-25 | 2020-06-10 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Lichtmikroskop und Mikroskopieverfahren |
DE102013005563A1 (de) | 2013-03-28 | 2014-10-02 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Lichtmikroskop und verfahren zum untersuchen einer mikroskopischen probe |
DE102013015933A1 (de) | 2013-09-19 | 2015-03-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie |
US10352860B2 (en) | 2014-04-24 | 2019-07-16 | Bruker Nano, Inc. | Super resolution microscopy |
KR101471638B1 (ko) * | 2014-07-28 | 2014-12-24 | 한국기계연구원 | 닙코우 디스크의 핀홀 배치 방법 |
DE102015112960B3 (de) | 2015-08-06 | 2016-10-20 | Till I.D. Gmbh | Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe |
DE102015011552A1 (de) | 2015-09-02 | 2017-03-02 | Visitron Systems GmbH | Verfahren und Anordnung zur Lichteinkopplung in ein Multifokales Konfokalmikroskop |
JP6743788B2 (ja) * | 2017-09-14 | 2020-08-19 | 横河電機株式会社 | 変位センサ |
CN109375355A (zh) * | 2018-10-19 | 2019-02-22 | 上海市计量测试技术研究院 | 共聚焦三维测量装置及其多孔径尼普科夫圆盘 |
CN109758123A (zh) * | 2019-03-28 | 2019-05-17 | 长春嵩韵精密仪器装备科技有限责任公司 | 一种手持式口腔扫描仪 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE792522A (fr) * | 1971-12-09 | 1973-03-30 | Rca Corp | Systeme pour l'enregistrement d'un hologramme redondant d'un objet |
US4806004A (en) * | 1987-07-10 | 1989-02-21 | California Institute Of Technology | Scanning microscopy |
US4802748A (en) * | 1987-12-14 | 1989-02-07 | Tracor Northern, Inc. | Confocal tandem scanning reflected light microscope |
US4994664A (en) * | 1989-03-27 | 1991-02-19 | Massachusetts Institute Of Technology | Optically coupled focal plane arrays using lenslets and multiplexers |
JP2578376B2 (ja) * | 1989-12-19 | 1997-02-05 | 横河電機株式会社 | ピンホール基板及びその作製方法 |
US5067805A (en) * | 1990-02-27 | 1991-11-26 | Prometrix Corporation | Confocal scanning optical microscope |
US5083220A (en) * | 1990-03-22 | 1992-01-21 | Tandem Scanning Corporation | Scanning disks for use in tandem scanning reflected light microscopes and other optical systems |
DE4023650A1 (de) * | 1990-07-25 | 1992-01-30 | Max Planck Gesellschaft | Ueberaufloesendes konfokales mikroskop |
US5162941A (en) * | 1991-07-23 | 1992-11-10 | The Board Of Governors Of Wayne State University | Confocal microscope |
-
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