DE102007009551B3 - Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe - Google Patents

Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe Download PDF

Info

Publication number
DE102007009551B3
DE102007009551B3 DE102007009551A DE102007009551A DE102007009551B3 DE 102007009551 B3 DE102007009551 B3 DE 102007009551B3 DE 102007009551 A DE102007009551 A DE 102007009551A DE 102007009551 A DE102007009551 A DE 102007009551A DE 102007009551 B3 DE102007009551 B3 DE 102007009551B3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
mask
openings
optics
light
micro
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
DE102007009551A
Other languages
English (en)
Inventor
Rainer Prof. Dr. Uhl
Rainer Daum
Christian Dr. Seebacher
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Till Id De GmbH
Original Assignee
Ludwig Maximilians Universitaet Muenchen LMU
Till I D GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ludwig Maximilians Universitaet Muenchen LMU, Till I D GmbH filed Critical Ludwig Maximilians Universitaet Muenchen LMU
Priority to DE102007009551A priority Critical patent/DE102007009551B3/de
Priority to US12/037,667 priority patent/US7580171B2/en
Priority to GB0803452A priority patent/GB2447130A/en
Application granted granted Critical
Publication of DE102007009551B3 publication Critical patent/DE102007009551B3/de
Priority to US12/506,431 priority patent/US7706043B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages
    • G02B21/0044Scanning details, e.g. scanning stages moving apertures, e.g. Nipkow disks, rotating lens arrays

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung für die konfokale Beobachtung einer Probe (12), mit einem Objektiv (10), einer im Beleuchtungs- und Bildstrahlengang angeordneten und um eine zentrale Achse (20) drehbaren Maske (22, 24), die mit Hilfe des Objektivs auf die Probe abgebildet wird und mit Öffnungen (32) versehen ist, um ein sich über die Probe bewegendes Beleuchtungsmuster zu erzeugen, einer auf die geometrische Anordnung der Öffnungen der Maske und die Drehung der Maske abgestimmten Anordnung fokussierender Mikrooptiken (34, 36), um das Beleuchtungslicht (16) mittels je einer der Mikrooptiken (36) in je eine der Öffnungen der Maske zu konzentrieren, sowie einem Strahlteiler (26), um mittels des Objektivs von der Probe aufgesammeltes Licht (17, 17'), welches die Öffnungen der Maske durchstrahlt hat, vom Beleuchtungslicht zu trennen, wobei der Strahlteiler in dem Strahlengang zwischen der Maske und der Mikrooptikenanordnung angeordnet ist. Erfindungsgemäß ist in dem Strahlengang zwischen der Maske (22, 24) und der Mikrooptikenanordnung (34, 36) eine optische Anordnung (42, 44, 46, 50, 56) vorgesehen, um einen Unendlichraum (40) zu erzeugen, in welchem der Strahlteiler (26) angeordnet ist.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung für die konfokale Beobachtung einer Probe gemäß dem Oberbegriff von Anspruch 1.
  • Vor über 100 Jahren beschrieb der deutsche Erfinder Paul Nipkow ein Verfahren zur Bildaufnahme mit einer Vielzahl von Beleuchtungspunkten, die auf einer Lochmaske so angeordnet sind, dass bei Rotation der Lochmaske um eine zentrale Drehachse alle zu beleuchtenden Punkte nacheinander – jeweils möglichst gleich lang – beleuchtet werden. Eine solche Lochmaske wird auch als „Nipkow-Scheibe" bezeichnet. Mit diesem Verfahren lassen sich auch sogenannte konfokale Mikroskopbilder aufnehmen, indem man Beleuchtungs- und Bildstrahlengang in umgekehrter Strahlrichtung durch die gleiche Lochmaske führt, wodurch von außerhalb der Objektebene stammendes Licht ausgeblendet und eine gute Tiefenauflösung erhalten werden kann.
  • Ein derartiges Konfokalmikroskop nach dem Stand der Technik ist in 1 schematisch gezeigt. Das Mikroskop umfaßt ein Objektiv 10, mit dessen Hilfe eine Probe 12 in der Objektebene 14 mit Beleuchtungslicht 16 beleuchtet wird und das von der Probe 12 reflektierte oder emittierte Licht aufgesammelt und – üblicherweise mit Hilfe einer Tubuslinse 18 – in die Zwischenbildebene abgebildet wird, wo eine um eine Achse 20, die parallel zum Strahlengang orientiert ist, rotierende Lochmaske (Nipkow-Scheibe) 22 angeordnet ist, auf die ein geeignetes Öffnungsmuster 24 aufgebracht wurde, welches konzentrisch um die Drehachse 20 angeordnet ist. Die Trennung bzw. Vereinigung von Beleuchtungsstrahlengang und Bildstrahlengang mittels eines Strahlteilers 26 findet dabei vom Objektiv 10 aus gesehen hinter der Nipkow-Scheibe bzw. Lochmaske 22 statt, wobei das von der Probe 12 emittierte bzw. reflektierte Licht auf einen Detektor 28 fällt bzw. abgebildet wird. Eine solche Anordnung ist insbesondere bei der Fluoreszenzmikroskopie von Vorteil, weil dort Beleuchtung bzw. Anregung und Emission bei unterschiedlichen Wellenlängen stattfinden, so dass sich das Beleuchtungslicht und das Emissionslicht im wesentlichen verlustfrei voneinander separieren lassen, wenn der Strahlteiler 26 als Farbteiler ausgebildet ist. In dem Beispiel von 1 läßt dabei der Strahlteiler 26 das Emissionslicht durch, während das Beleuchtungslicht 16 reflektiert wird. Bei einer solchen Anordnung wird die Lochmaske 22 einerseits mittels der Tubuslinse 18 und dem Objektiv 12 in die Objektebene 14 und damit auf die Probe 12 abgebildet, und sie wird andererseits, typischerweise mittels zweier Projektive 30 auf den Detektor 30 abgebildet, indem das Zwischenbild zunächst ins Unendliche und danach auf den Detektor 28 abgebildet wird. Wie aus 1 ersichtlich ist, wird jeweils immer nur ein Teilbereich der Nipkow-Scheibe bzw. Lochmaske 22 beleuchtet.
  • Die gewünschte Konfokalität wird dadurch erzielt, dass nur ein kleiner Bruchteil der Probe 12 in der Objektebene 14 gleichzeitig mit dem Beleuchtungslicht 16 beleuchtet wird, nämlich nur dort, wo jeweils eine Öffnung der Lochmaske 22 auf die Probe 12 abgebildet wird, und sich diese Beleuchtungspunkte jeweils weit genug voneinander entfernt befinden, damit das durch die entsprechende Öffnung in der Lochmaske 22 gelangte Beleuchtungslicht 16 nicht oder nur geringfügig durch von der Probe 12 stammendes reflektiertes Licht oder Emissionslicht verfälscht ist, das durch eine benachbarte Öffnung in der Lochmaske 22 verursacht wurde. Die Öffnungen der Lochmaske 22 wirken somit als konfokale Blenden. Bei einem System gemäß 1 wird üblicherweise von dem Anregungslicht 16 nur der Teil genutzt, der durch die Öffnungen der Lochmaske 22 hindurch fällt, während der übrige Teil des Beleuchtungslichts 16 ausgeblendet wird, so dass solche Systeme einen relativ geringen Wirkungsgrad aufweisen und deshalb relativ lichtschwach sind. Ein Beispiel für ein solches System ist in der US 6,147,798 zu finden.
  • Ein System bzw. Verfahren, mit welchem der Lichtdurchsatz bei einem konfokalen Mikroskop mit Nipkow-Scheibe gesteigert werden kann, ist beispielsweise in der gattungsgemäßen EP 0 539 691 A2 beschrieben. Die dort beschriebene optische Anordnung ist in den 2 und 3 schematisch dargestellt. Dabei ist axial versetzt zu der Lochmaske 22 eine Mikrolinsenanordnung 34 vorgesehen, die in ihrer Geometrie auf das Lochmuster 24 abgestimmt ist und sich synchron mit der Lochmaske 22 um die gleiche Drehachse 20 dreht. Jede Mikrolinse 36 der Mikrolinsenanordnung 34 ist dabei auf einer Scheibe 38 angeordnet und dient dazu, den auf die jeweilige Mikrolinse 36 fallenden Anteil des Beleuchtungslichts 16 für die zugeordnete Öffnung 32 der Lochmaske 22 zu konzentrieren, d. h. auf einen Brennpunkt zu fokussieren, der in der entsprechenden Öffnung 32 liegt. Für jede Öffnung 32 der Lochmaske 22 gibt es somit eine konjugierte Mikrolinse 36 in der Mikrolinsenanordnung 34. Da sich die Lochmaske 22 in der Brennebene der Mikrolinsen 36 befindet, kann auf diese Weise der Lichtdurchsatz erheblich gesteigert werden, zumindest wenn es sich bei dem Beleuchtungs lichtstrahl 16 um einen kohärenten Laserlichtstrahl handelt. Ein Problem bei diesem Ansatz besteht jedoch darin, dass die Strahlteilung im konvergenten Strahlengang zwischen den beiden Scheiben 22 und 38 erfolgt, wo aufgrund der kurzen Brennweite der Mikrolinsen 36 wenig Raum für den Strahlteiler 26 ist, der in diesem Fall als Kurzpaßfilter ausgebildet sein muß. Der Strahlteiler 26 darf zur Vermeidung von Bildfehlern durch Oberflächenungenauigkeiten nicht zu dünn ausfallen. Eine entsprechende Dicke des Strahlteilers 26 erzeugt jedoch einen mit der Neigung des Strahlteilers 26 zunehmenden Strahlversatz, der linear in die Richtung der Neigung weist. Bei zwei sich synchron drehenden Scheiben 22 und 38 mit radial angeordnetem Muster führt das dazu, dass der Fokuspunkt der Mikrolinsen 36 nicht immer mit der entsprechenden Lichtdurchlaßöffnung 32 der Lochmaske 22 übereinstimmt. Dies muß durch eine Neigung der einen Scheibe relativ zu der anderen ausgeglichen werden.
  • Bei einer Nipkow-Scheibe sind die Öffnungen üblicherweise in mehreren ineinander greifenden spiralförmigen Bahnen bzw. Schalen angeordnet. Da ein konfokales Mikroskop eine möglichst gleichmäßige Beleuchtung des Beobachtungsfelds erfordert, müssen, sofern die Öffnungen an allen Stellen gleich groß sind und die Beleuchtung gleichmäßig ist, alle Punkte des Gesichtsfelds exakt gleich lang beleuchtet werden. Dies gilt entsprechend auch für die verwendeten Mikrolinsen. Gemäß der EP 0 539 691 A2 wird die gleichmäßige Probenbeleuchtung dadurch erzielt, dass der tangentiale Abstand benachbarter Öffnungen konstant gehalten wird und zugleich der radiale Abstand zwischen benachbarten Schalen der Öffnungen unabhängig vom Radius r ebenfalls auf dem gleichen Wert konstant gehalten wird. Damit variiert der radiale Abstand zwischen benachbarten Öffnungen zwischen dem Wert 1 × r und dem Wert 1,12 × r, und der Füllfaktor reduziert sich bei Verwendung kreisförmiger Mikrolinsen auf maximal 78,5%.
  • Weitere gattungsgemäße konfokale Mikroskope mit einem Strahlteiler zwischen einer Nipkow-Scheibe und einer axial versetzt synchron dazu drehenden Mikrolinsenanordnung sind beispielsweise in der DE 103 50 918 B3 , EP 1 168 029 A2 und US 2003/0215121 A1 beschrieben.
  • In der EP 0 753 779 B1 ist ein abgewandeltes konfokales Mikroskop beschrieben, wobei in dem Bereich zwischen der Mikrolinsenscheibe und der Nipkow-Scheibe Spiegel vorgesehen sind, um das Licht zwecks Abbildung und Strahlteilung in radialer Richtung aus dem Raum zwischen den beiden Scheiben herauszuführen.
  • In der EP 1 359 452 A1 ist ein konfokales Mikroskop beschrieben, bei welchem vom Objektiv aus gesehen vor der synchron mit der Nipkow-Scheibe rotierenden Mikrolinsenscheibe eine axial dazu versetzt angeordnete zweite Mikrolinsenscheibe vorgesehen ist, die ebenfalls synchron mit der Nipkow-Scheibe rotiert und auf die erste Mikrolinsenscheibe genau abgestimmt ist, um einen Unendlichraum, d. h. parallelen Strahlengang, zwischen den beiden Mikrolinsenscheiben zu erzeugen, in welchem der Strahlteiler angeordnet ist. Problematisch sind hierbei die mechanischen Anforderungen, die sich aus der Forderung ergeben, dass die beiden Mikrolinsenscheiben jederzeit exakt aufeinander abgestimmt sein müssen.
  • In der US 5,760,950 ist ein konfokales Mikroskop beschrieben, welches keine Mikrolinsen verwendet, wobei ein radialer Bereich, der von der sich drehenden Nipkowscheibe erfaßt wird, mit Licht aus der Lichtquelle beleuchtet wird, das durch diesen ersten Bereich gelangte Beleuchtungslicht mittels eines Pentaprismas um 90° umgelenkt wird, und das umgelenkte Licht mittels eines Strahlteilers nochmals um 90° umgelenkt wird und zur Beleuchtung eines zweiten von der sich drehenden Nipkowscheibe erfaßten radialen Bereichs dient, welcher genau gegenüberliegend zu der Drehachse, d. h. in Umfangsrichtung um 180° versetzt, angeordnet ist. Der zweite Bereich der Nipkow-Scheibe wird mittels des Objektivs auf die Probe abgebildet, und das von der Probe stammende Licht wird durch diesen zweiten Bereich der Nipkow-Scheibe räumlich gefiltert, bevor es auf den Detektor abgebildet wird.
  • Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine konfokale Vorrichtung zu Beobachten einer Probe mit einer rotierenden Lochmaske zu schaffen, welche möglichst lichtstark ist und dennoch relativ einfach aufgebaut ist.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch konfokale Vorrichtungen gemäß Anspruch 1, 27 bzw. 38.
  • Bei der Lösung gemäß Anspruch 1 ist vorteilhaft, dass dadurch, dass in dem Strahlengang zwischen der Maske mit den Öffnungen und den Mikrooptiken eine optische Anordnung vorgesehen ist, um einen Unendlichraum zu erzeugen, in welchem der Strahlteiler angeordnet ist, einerseits aufgrund der Mikrooptiken eine hohe Konzentration des Beleuchtungslichts auf die Öffnungen der Maske und damit eine hohe Lichtstärke erzielt werden kann, während andererseits beim Strahlteiler aufgrund seiner Anordnung in dem Unendlichraum auf konstruktiv einfache Weise ein Strahlversatz am Strahlteiler vermieden wird. Insbesondere sind weder eine zusätzliche Mikrolinsenanordnung wie in der EP 1 359 452 A1 noch konstruktive Korrekturmaßnahmen bezüglich eines Strahlversatzes am Strahlteiler wie in der EP 0 539 691 A2 erforderlich.
  • Vorzugsweise wird der Unendlichraum mittels zweier Projektive der optischen Anordnung erzeugt, zwischen denen der Strahlteiler angeordnet ist (statt zweier Projektive könnte man jedoch auch andere fokussierende optische Elemente, wie normale Linsen, holographische Elemente oder Spiegel, verwenden). Dabei ist zu berücksichtigen, dass eine Zwischenabbildung, wie sie z. B. mit Hilfe zweier Projektive bewirkt wird, ein spiegelbildliches Abbild des sich drehenden, von den Mikrooptiken erzeugten Fokusmuster erzeugt, welches sich demnach in entgegengesetzter Richtung zu dem Fokusmuster bzw. dem Mikrooptikenmuster dreht. Dem kann beispielsweise dadurch Rechnung getragen werden, (1) dass sich eine zweite Abbildung anschließt, welche die Spiegelung wieder rückgängig macht, beispielsweise mittels zweier weiterer Projektive, (2) dass man ein bildinvertierendes Roof-Prisma vorsieht, welches die erforderliche Strahldrehung bewirkt, oder (3) dass die Anordnung des Mikrooptikenmusters und des Öffnungsmusters zueinander so gewählt wird, dass auf ein Rückgängigmachen der spiegelbildlichen Abbildung durch die beiden Projektive verzichtet werden kann. Letzteres kann dadurch erfolgen, dass man für das Mikrooptikenmuster und das Öffnungsmuster getrennte Drehachsen vorsieht, wobei die beiden Drehachsen im einen Fall parallel zueinander stehen und die beiden Muster unter axialem Versatz in einem Teilbereich überlappen, oder im anderen Fall in einem Winkel, vorzugsweise senkrecht, zueinander stehen. Gemäß einer bevorzugten Variante sind die Öffnungen der Maske und die Mikrooptikenanordnung jeweils konzentrisch um eine gemeinsame zentrale Drehachse angeordnet, wobei die Öffnungen der Maske und die Mikrooptikenanordnung jedoch radial zueinander versetzt sind. Dies hat den Vorteil, dass die Mikrooptikenanordnung und die Maske auf einer gemeinsamen Scheibe angeordnet werden können, so dass eine Synchronisation zwischen unterschiedlichen Scheiben entfällt.
  • Bei den Mikrooptiken handelt es vorzugsweise um Mikrolinsen.
  • Bei der Lösung gemäß Anspruch 27 ist vorteilhaft, dass dadurch, dass die Öffnungen der Maske und die Mikrooptikenanordnung zueinander feststehend und jeweils konzentrisch um die zentrale Achse, jedoch zueinander radial versetzt, angeordnet sind, eine einfache und stabile mechanische Anordnung der Maske und der Mikrooptikenanordnung, insbesondere auf einer einzigen Scheibe, ermöglicht wird und zudem eine besonders gute Zugänglichkeit der Maske und der Mikrooptikenanordnung für die Plazierung optischer Elemente, z. B. des Strahteilers, bei minimaler Bauraumbeschränkung erreicht wird.
  • Bei der Lösung gemäß Anspruch 38 ist vorteilhaft, dass dadurch, dass die Mikrooptiken als fokussierende Mikrospiegel ausgebildet sind, die jeweils eine der Öffnungen der Maske aufweisen, wobei eine fokussierende Makrooptik vorgesehen ist, um das von den Mikrospiegeln erzeugte Fokusmuster des Beleuchtungslichts auf die Öffnungen der Maske abzubilden, eine einfache, stabile und maximal kompakte -nämlich integrierte- mechanische Anordnung der Maske und der Mikrooptikenanordnung ermöglicht wird, wobei auch hier eine besonders gute Zugänglichkeit der Maske und der Mikrooptikenanordnung für die Plazierung optischer Elemente, z. B. des Strahlteilers, bei minimaler Bauraumbeschränkung erreicht wird.
  • Das in Anspruch 64 definierte Öffnungsmuster hat den Vorteil, dass es eine im Vergleich zu einer Anordnung, wie sie beispielsweise in der EP 0 539 691 A2 beschrieben ist, erhöhte Packungsdichte der Mikrooptiken erlaubt, so dass eine erhöhte Lichtstärke erzielt werden kann.
  • Bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
  • Beispiele der Erfindung werden anhand der beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Dabei zeigen:
  • 1 eine schematische Ansicht einer konfokalen Vorrichtung mit Nipkow-Scheibe gemäß dem Stand der Technik;
  • 2 eine schematische Ansicht eines Teils einer konfokalen Vorrichtung gemäß dem Stand der Technik mit einem Mikrolinsen-Array;
  • 3 eine Detailansicht aus 2;
  • 4 eine schematische Ansicht eines Teils einer ersten Ausfürungsform einer erfindungsgemäßen konfokalen Vorrichtung;
  • 5 eine Ansicht wie 4, wobei eine zweite Ausführungsform der Erfindung gezeigt ist;
  • 6A und 6B in einer Aufsicht bzw. seitlichen Ansicht eine dritte Ausführungsform der Erfindung;
  • 7 eine seitliche Ansicht einer vierten Ausführungsform der Erfindung;
  • 8 eine seitliche Ansicht einer fünften Ausführungsform der Erfindung;
  • 9 eine Aufsicht auf die Scheibe der Ausführungsform von 8 in einer schematischen Darstellung;
  • 10 eine Abwandlung der Ausführungsform von 8;
  • 11A, 11B und 11C eine schematische Darstellung der Anordnung der Mikrolinsen im radial äußeren Bereich bzw. radial inneren Bereich im Detail bzw. in einer Übersicht;
  • 12 eine seitliche Ansicht einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
  • 13 eine seitliche Ansicht einer Abwandlung der Ausführungsform von 12;
  • 14 eine schematische Ansicht einer inkohärenten Beleuchtung für eine erfindungsgemäße Mikroskopvorrichtung; und
  • 15A und 15B zwei unterschiedliche schematische Ansichten einer Filteranordnung für eine inkohärente Beleuchtung für eine erfindungsgemäße Mikroskopvorrichtung.
  • Grundsätzlich ist bei den Strahlengangdarstellungen in den Figuren zu beachten, dass aus Gründen der Veranschaulichung in der Regel die Brennweiten der Mikrooptiken (Mikrolin se/Mikrospiegel) im Vergleich zu den Brennweiten der Makrooptiken viel zu groß dargestellt sind (typisch wäre in der Praxis z. B. ein Verhältnis von etwa 1:30 (z. B. 3 mm vs. 90 mm)).
  • In 4 ist schematisch ein erstes Beispiel dafür gezeigt, wie in erfindungsgemäßer Weise ein Unendlichraum zwischen dem Öffnungsmuster 24 der Lochmaske 22 und der Mikrolinsenanordnung 34 geschaffen werden kann, in welchen der Strahlteiler 26 zum Trennen des Beleuchtungslichts und des von der Probe reflektierten und/oder emittierten Lichts angeordnet werden kann.
  • Dabei wird ein Unendlichraum 40 mittels zweier Projektive 42 erzeugt, zwischen denen der Strahlteiler 26 angeordnet ist, der für das Beleuchtungslicht 16 durchlässig und für das Emissionslicht der Probe 12 im wesentlichen reflektierend ist (der Detektor für das Emissionslicht ist in 4 nicht dargestellt). Die Lochmaske 22 und die Mikrolinsenanordnung 34 sind beide konzentrisch zu einer gemeinsamen Drehachse 20 angeordnet, die parallel zum Strahlengang verläuft und als gemeinsame Drehachse für die Mikrolinsenanordnung 34 und Öffnungsmuster 24 bzw. die entsprechenden Scheiben 22 und 38 dient. Die Lochmaske 22 mit dem Öffnungsmuster 24 ist somit feststehend bezüglich der Mikrolinsenanordnung 34, jedoch axial versetzt zu dieser angeordnet, wobei kein radialer Versatz vorliegt. Das Öffnungsmuster 24 und die Mikrolinsenanordnung 34 sind kongruent und seitenrichtig zueinander angeordnet und drehen sich synchron zueinander um die gemeinsame Drehachse 20.
  • Im Beispiel von 4 wird die spiegelnde, d. h. seitenverkehrende Abbildung durch die beiden Projektive 42 durch ein weiteres Paar von Projektiven 44 wieder umgekehrt, d. h. aufgehoben, die zwischen den Projektiven 42 und der Mikrolinsenanordnung 34 angeordnet sind. Auf diese Weise ist die durch die aus den beiden Projektivpaaren 42 und 44 bestehende optische Anordnung 46 bewirkte Abbildung nicht spiegelverkehrt; insbesondere dreht sich das Abbild der Brennpunkte der Mikrolinsen 36 in die gleiche Richtung wie das Öffnungsmuster 24. Die optische Anordnung 46 dient dabei dazu, die Brennebene 48 der Mikrolinsenanordnung 34, d. h. jeweils die Brennpunkte der einzelnen Mikrolinsen 36, so auf das Öffnungsmuster 24 abzubilden, dass das Abbild eines der Brennpunkte genau in eine der Öffnungen 32 fällt, um das Beleuchtungslicht 16 in die Öffnungen 32 zu konzentrieren, soweit es die geometrische Anordnung der Mikrolinsen 36 zuläßt. Wenn die Mikrolinsenanordnung 36 und das Öffnungsmuster 24 kongruent sind, weist die optische Anordnung 46 einen Abbildungsmaßstab von 1:1 auf.
  • Es versteht sich, das bei allen Ausführungsformen zu jedem Zeitpunkt immer nur ein Teilbereich der Maske und der Mikrooptiken beleuchtet bzw. abgebildet wird. Da die jeweiligen Makrooptiken räumlich feststehend sind und sich die Maske bzw. die Mikrooptikenanordnung relative dazu dreht, läuft der momentan beleuchtete bzw. abgebildete Teilbereich im Koordinatensystem der Maske bzw. der Mikrooptikenanordnung um. Im folgenden ist mit „Teilbereich der Maske" bzw. „Teilbereich der Mikrooptikenanordnung" dieser im Koordinatensystem der Maske bzw. der Mikrooptikenanordnung umlaufende Teilbereich gemeint.
  • In 5 ist eine alternative Ausführungsform der optischen Anordnung 46 gezeigt, bei welcher zwischen den beiden Projektiven 42 eine bildinvertierende Einheit 50 vorgesehen ist, bei welcher es sich um ein geeignetes Roof-Prisma, z. B. ein Abbe-Konig-Prisma oder ein Schmidt-Pechan-Prisma handeln kann. Auf diese Weise bewirkt die von den Projektiven 42 und der bildinvertierenden Einheit 50 gebildete optische Anordnung 46 eine 1:1 Abbildung ohne Spiegelung, so dass auf das zweite Projektivpaar 44 von 4 verzichtet werden kann (die beiden Projektive 44 bilden in der Ausführungsform von 4 die bildinvertierende Einheit). Grundsätzlich kann die bildinvertierende Einheit der optischen Anordnung 46 den Projektiven 42 vor-, nach- oder zwischengeschaltet sein.
  • Es versteht sich, dass die optische Anordnung 46 zu einem bestimmten Zeitpunkt jeweils nur einen Teilbereich der Brennebene 48 bzw. der Brennpunkte der Mikrolinsen 36 auf das Öffnungsmuster 24 abbildet sowie dass die optische Anordnung 46 räumlich feststehend ist, d. h. die Scheiben 22 und 38 drehen sich bezüglich der optischen Anordnung 46 um die Achse 20.
  • In den 6A, 6B und 7 sind zwei andere Ansätze gezeigt, wie man die invertierende Abbildung der beiden Projektive 42 ohne die Verwendung einer zusätzlichen bildinvertierenden Einheit ausgleichen kann, indem man das Öffnungsmuster 24 und die Mikrolinsenanordnung 34 in geeigneter Weise zueinander anordnet und relativ zueinander bewegt.
  • In der Ausführungsform von 6A und 6B wird die Mikrolinsenanordnung 36 nicht um eine gemeinsame Achse 20, sondern um eine separate Achse 52 gedreht, die parallel zu der Achse 20 verläuft, um welche das Öffnungsmuster 24 gedreht wird. Entsprechend ist das Öffnungsmuster 24 konzentrisch zu der Achse 20 angeordnet, während die Mikrolinsenanordnung 34 konzentrisch zu der Achse 52 angeordnet ist. Die beiden Drehachsen 20 und 52 sind radial zueinander so versetzt, dass die Lochmaske 22 und die Mikrolinsenscheibe 38 im Bereich zwischen den beiden Drehachsen 20 und 52 überlappen, wobei die beiden Scheiben 22 und 38 axial zueinander versetzt sind, damit die Projektive 42, zwischen welchen der Strahlteiler 26 angeordnet ist, dazwischen angeordnet werden können. Die optische Anordnung 46 wird somit bei der Ausführungsform von 6A, 6B von den beiden Projektiven 42 gebildet, welche die Brennebene 48 der Mikrolinsenanordnung 36 spiegelverkehrt auf das Öffnungsmuster 24 abbildet.
  • Wie in 6A zu sehen ist, drehen sich die beiden Scheiben 38 und 22 gleichsinnig (im gezeigten Beispiel im Uhrzeigersinn), und die Mikrolinsenanordnung 34 und das Öffnungsmuster 24 sind kongruent und seitenrichtig zueinander ausgebildet. Die gezeigte Anordnung dieser Elemente bewirkt, dass sich im Überlappbereich der beiden Scheiben 38 und 22 der beleuchtete Teilbereich der Mikrolinsenanordnung 34 und der Teilbereich des Öffnungsmusters 24, auf den die Brennebene 48 des beleuchteten Teilbereichs der Mikrolinsenanordnung 34 sowie das von Probe kommende Licht abgebildet wird, gegenläufig zueinander bewegen und spiegelbildlich zueinander liegen. Auf diese Weise werden die Brennpunkte der in 6A mit A bis E bezeichneten Mikrolinsen 36 spiegelverkehrt – und damit passend – auf die entsprechenden Öffnungen A–E des Öffnungsmusters 24 abgebildet. Auch die Bewegungsrichtung der Brennpunkte der Mikrolinsen A–E wird durch die spiegelverkehrte Abbildung durch die optische Anordnung 46 umgekehrt und ist dann gleichläufig zu derjenigen der Öffnungen A–E.
  • Wie bei den Ausführungsformen von 4 bzw. 5 ist der Strahlteiler 26 für das Beleuchtungslicht 16 transparent, jedoch für das Emissionslicht der Probe 12 reflektierend. In 6B ist angedeutet, wie mittels einer Optik 54 eine Abbildung des von der Probe kommenden und von dem Objektiv 10 aufgesammelten Emissionslichts, welches die Öffnungen 32 durchdrungen hat, aus dem Unendlichraum zwischen den beiden Projektiven 42 auf den Detektor 28 abgebildet wird. Eine solche Anordnung ist auch für die Ausführungsform gemäß 4 bzw. 5 geeignet.
  • In 7 ist eine Ausfürungsform gezeigt, bei welcher die Drehachsen 20 der Lochmaske 22 und die Drehachse 52 der Mikrolinsenscheibe 38 unter einem Winkel zueinander angeordnet sind, der im gezeigten Beispiel 90° beträgt. Dabei wird wie bei der Ausführungsform von 6A, 6B die Brennebene 48 der Mikrolinsenanordnung 34 mittels der beiden Projektive 42 spiegelverkehrt auf das Öffnungsmuster 24 abgebildet. Entsprechend sind der beleuchtete Teil der Mikrolinsenanordnung 34 und des Öffnungsmusters 24 spiegelbildlich und gegenläufig bewegt angeordnet. Im Gegensatz zu der Ausführungsform von 6A, 6B ist der Strahlteiler 26 zweckmäßigerweise so ausgebildet, dass er für das Beleuchtungslicht 16 reflektierend und für das Emissionslicht der Probe 12 durchlässig ist, welches mittels der Optik 54 auf den Detektor 28 abgebildet wird.
  • In 8 ist eine Ausführungsform der Erfindung gezeigt, bei welcher das Öffnungsmuster 24 und die Mikrolinsenanordnung 34 auf einer gemeinsamen Scheibe 22 angeordnet sind, und zwar radial versetzt zueinander und konzentrisch bzgl. der gemeinsamen Drehachse 20. Im Beispiel von 8 ist dabei die Mikrolinsenanordnung 34 radial außenliegend und das Öffnungsmuster 24 radial innenliegend dargestellt. Der von dem Beleuchtungslicht 16 beleuchtete Teilbereich der Mikrolinsenanordnung 34, d. h. genauer gesagt die Brennpunkte der beleuchteten Mikrolinsen 36 in der Brennebene 48, werden mittels der beiden Projektive 42 in einen in Umfangsrichtung versetzt zu dem beleuchteten Teilbereich der Mikrolinsen 36 angeordneten Teilbereich des Öffnungsmusters 24 abgebildet, auf den auch das von der Probe stammende, vom Objektiv 10 aufgesammelte Licht abgebildet wird.
  • In gezeigtem Beispiel sind diese beiden Teilbereiche in Umfangsrichtung um 180° versetzt, d. h. gegenüberliegend bezüglich der Drehachse 20, angeordnet. Der Abbildungsmaßstab entspricht dabei dem Verhältnis der Radien der Mikrolinsenanordnung 34 und des Öffnungsmusters 24 und kann durch das Verhältnis der Brennweiten der beiden Projektive 42 entsprechend eingestellt werden. Im Gegensatz zu den bisher beschriebenen Ausführungsformen sind das Öffnungsmuster 24 und die Mikrolinsenanordnung 34 aufgrund des radialen Versatzes nämlich nicht kongruent.
  • Am einfachsten wäre es zwar, bei der Abbildung der Brennebene 48 auf das Öffnungsmuster 24 den Beleuchtungslichtstrahl nur zweimal umzulenken. Dabei ist allerdings zu berücksichtigen, dass dann das Abbild der Brennebene 48 auf dem Öffnungsmuster 24 spiegel verkehrt wäre und sich somit in die entgegen gesetzte, d. h. die falsche, Richtung bewegen würde. Dies kann verhindert werden, indem man dafür sorgt, dass der Beleuchtungsstrahlengang zwischen den Mikrolinsen 36 und den Öffnungen 32 des Öffnungsmusters 24 eine ungerade Anzahl von Reflektionen aufweist. Dies kann beispielsweise wie in 8 gezeigt dadurch erreicht werden, dass man für die erste Umlenkung des Beleuchtungslichts 16 noch vor dem ersten Projektiv 42 ein Pentaprisma 56 vorsieht, welches unabhängig vom Eintrittswinkel für eine 90°-Ablenkung sorgt, wobei im Gegensatz zu einer 90°-Ablenkung beispielsweise mittels eines Spiegels keine Seitenverkehrung stattfindet. Die zweite Umlenkung kann dann beispielsweise mittels des Strahlteilers 26 erfolgen, der in diesem Fall dann für das Beleuchtungslicht 16 reflektierend und für das Emissionslicht 17 von der Probe 12 durchlässig ist, das von dem Mikroskopobjektiv 10 von der Probe 12 aufgesammelt und mit der Tubuslinse 18 auf den Teilbereich der Öffnungen 32 abgebildet wird, welcher mit dem Beleuchtungslicht 16 beleuchtet wird. Das Emissionslicht 17 gelangt durch die als konfokale Blende wirkenden Öffnungen 32 hindurch und wird von dem Projektiv 42 und der Optik 54 auf den Detektor 28 abgebildet. Der Strahlteiler 26 ist dabei in dem von den Projektiven 42 erzeugten Unendlichraum angeordnet, wodurch die Trennung des Beleuchtungslichts 16 und des Emissionslicht 17 erleichtert wird.
  • Eine Aufsicht auf die Scheibe 22 mit dem Öffnungsmuster 24 und der Mikrolinsenanordnung 34 ist in schematischer Darstellung in 9 gezeigt.
  • Anordnungen in der Art von 8 und 9, bei welchen die Mikrolinsenanordnung 34 und das Öffnungsmuster 24 auf einer gemeinsamen Scheibe angeordnet werden können, haben den Vorteil, dass eine aufwendige Synchronisierung zweier separater Scheiben vermieden wird und ferner auch kein (relativ großer und damit destabilisierender) axialer Versatz zweier zueinander feststehender, sich um eine gemeinsame Achse drehender Scheiben zwecks Aufnahme der Abbildungsoptik erforderlich ist.
  • Ein weitere Vorteil besteht darin, dass aufgrund des langen und gut zugänglichen Beleuchtungsstrahlengangs zwischen den Maskenöffnungen 32 und den Mikrolinsen 36 sogar auf die beschriebene Erzeugung eines Unendlichraums 40 mittels der Projektive 42 verzichtet werden kann. Wenn der Strahlteiler 26 wie 8 gezeigt als Langpass, d. h. als Umlenkung für das Beleuchtungslicht, ausgebildet ist, braucht der durch den Strahlteiler 26 erzeugte Strahlversatz – selbst wenn dieser im Endlichraum angeordnet ist – nicht durch eine Schrägstellung der Scheibe 22 ausgeglichen werden.
  • In 10 ist ein Beispiel gezeigt, wie mit der Anordnung von 8 und 9 eine Aufspaltung des Emissionsbildes auf einfache Weise in mehrere unterschiedlich gefärbte, voneinander räumlich getrennte Teilbilder auf dem Detektor 28 vorgehen werden kann, ohne dass dazu die Anzahl der optischen Abbildungselemente erhöht werden muß. In der schematischen Darstellung von 10 ist der Beleuchtungsstrahlengang der Einfachheit halber weggelassen. Dabei wird im Unendlichraum, d. h. zwischen den beiden Projektiven 42, ein optisches Element 58 vorgesehen, welches Licht 17 mit einer längeren Wellenlänge unter einem anderen Winkel ablenkt als Licht 17' mit einer kürzeren Wellenlänge. Solche Elemente 58 sind beispielsweise als „W-View" bekannt und erhältlich. Im Beispiel von 10 ist das optische Element 58 im Unendlichraum hinter (von der Scheibe 22 aus gesehen) dem Strahlteiler 26 angeordnet. Die in 10 gezeigte Anordnung funktioniert grds. auch z. B. mit einer mit einer Anordnung gemäß 12 bzw. 13.
  • Bei Verwendung von Mikrospiegeln statt Mikrolinsen ist es möglich, in einer Nipkow-Anordnung den Bild- und den Beleuchtungsstrahlengang so miteinander zu kombinieren, dass wie bei dem Beispiel von 8 und 9 kein axialer Versatz zwischen den Mikrooptiken und der Maske erforderlich ist und – im Gegensatz zu dem Beispiel von 8 und 9 – für beide sogar der gleiche radiale Bereich der sich drehenden Nipkow-Scheibe genutzt werden kann, es also keine kritisch einzuhaltenden Maßstabsanforderungen mehr gibt. Zwei verschiedene Ausführungsformen dieses Prinzips sind in 12 bzw. 13 gezeigt.
  • Bei der Ausführungsform gemäß 12 wird das durch eine (nicht dargestellte Optik) auf einen Punkt 102 konzentrierte Beleuchtungslicht 16 durch die abgeflachte Spitze 104 eines Retroreflektor-Prismas („corner cube") 106 in die Anordnung eingekoppelt. Das vom Einkoppelpunkt 102 ausgehende, divergente Licht wird von einem Strahlteiler 26 (hier ein Langpaß-Filter) abgelenkt und durch eine Linsensanordnung, z. B. ein Projektiv 142, so kollimiert, daß es auf der sich um eine zur Strahlrichtung parallelen Achse drehenden Nipkowscheibe 122 ein Feld beleuchtet, dessen Größe dem vom Detektor (nicht dargestellt) gesehenen Bildfeld entspricht. Auf dem radialen Bereich der Scheibe 122, der bei der Drehung vom beleuchteten Feld überstrichen wird, befindet sich eine Anordnung 134 fokussierender Mikrospiegel 136, deren Zentrum jeweils eine das Licht durchlassende Öffnung 132 aufweist. Ein kleiner Teil des auf jeden der Mikrospiegel 136 fallenden Lichts (entsprechend der Fläche der Durchgangsöffnung im Verhältnis zur Gesamtfläche des jeweiligen Hohlspiegels) passiert den Spiegel durch diese Öffnung 132 bereits beim ersten Auftreffen und gelangt von dort über den Mikroskopstrahlengang auf die Probe (nicht dargestellt). Der größte Teil des Lichtes wird durch die Mikrohohlspiegel 136 jedoch zurückreflektiert, wobei in der Brennebene 148 der Mikrohohlspiegel 136 ein sich mit der Scheibe 122 drehendes Fokusmuster entsteht. Da das Fokusmuster in oder nahe der (vorderen) Brennebene des Projektivs 142 liegt, wird es von dem nunmehr rückwärts durchlaufenen Projektiv 142 ins Unendliche abgebildet und gelangt nach erneuter Reflexion am Strahlteiler 26 zum Prisma 106, wo es neuerlich reflektiert wird. Die nicht reflektierende, abgeflachte Spitze 104 entspricht dabei dem Abbild der zentralen Öffnung 132 eines jeden der Mikrohohlspiegel 136.
  • Befände sich das Prisma 106, d. h. dessen abgeflachte Spitze 104 exakt in der (hinteren) Brennebene 108 des Projektivs 142, würde der Strahl, der auf dem gleichen Weg über Strahlteiler 26 und Projektiv 142 wieder auf die Mikrospiegel 136 zurückgeschickt wird, dort wieder kollimiert und ein weiteres Mal zurückreflektiert. Wird das Prisma 106, d. h. dessen Spitze 104, jedoch in geeigneter Weise ein klein wenig aus der Brennebene 108 des Projektivs 142 gerückt, fallen die telezentrischen Foci jeweils auf die transparenten Durchgangsöffnungen 132 im Zentrum der Mikrohohlspiegel 136, werden dort durchgelassen und über den Mikroskopstrahlengang als sich drehendes Punktmuster auf die Probe gelenkt. Das von der Probe (durch Reflexion oder Fluoreszenz) zurückgesandte Licht wird durch die Öffnungen 132 räumlich gefiltert, durch das Projektiv 142 ins Unendliche abgebildet, vom Strahlteiler 26 durchgelassen und danach mit einer weiteren optischen Anordnung auf den Detektor abgebildet (nicht dargestellt).
  • Gemäß 13 kann die Aufgabe des Prismas 106 auch ein Spiegel übernehmen, der dann jedoch nicht in der Brennebene des Projektivs 142 plaziert werden kann (dies würde bedeuten, daß sich die Mikrospiegel 136 und ihr Bild punktgespiegelt relativ zueinander drehen würden), sondern erst hinter einem weiteren Projektiv 144, das in bzw. nahe der Ebene eines Planspiegels 110 ein Bild des sich drehenden Fokusmusters der Mikrospiegel 136 erzeugt. Auch hier muß der Spiegel 110 geringfügig aus der Fokusebene 112 der optischen Anordnung, d. h. hier des Projektivs 144, herausbewegt werden, damit das Bild des Fokusmusters der Mikrospiegel 136 in den Durchgangsöffnungen 132 zu liegen kommt. Weiterhin muß eine zur abgeflachten Spitze 104 des Prismas 106 analoge Stelle geschaffen werden, über die der hier nur punktgroße Beleuchtungsstrahl eingekoppelt werden kann. Dies geschieht am besten mit Hilfe eines geneigten Strahlteilerplättchens 114, welches transparent ist und nur im Strahlzentrum einen kleinen verspiegelten Bereich 116 aufweist, der in der (hinteren) Brennebene des Projektivs 142 liegt.
  • Hinsichtlich der erzielbaren Leuchtdichten auf der Probe 12 ist die Verwendung von kohärentem Licht, d. h. Laserlicht, als Beleuchtungslicht 16 grundsätzlich am günstigsten, da hier annähernd das gesamte die Mikrooptiken treffende Beleuchtungslicht 16 auch durch die zugeordneten Öffnungen 32 bzw. 132 des Öffnungsmusters 24 bzw. 134 gelangen kann. Allerdings ist es auch möglich, durch einen geeigneten optischen Aufbau auch bei der Verwendung von inkohärenten Lichtquellen, z. B. Bogenlampen, quasi-kohärente Verhältnisse zu schaffen und annähernd gleiche Leuchtdichten wie mit Laserlichtquellen zu erreichen.
  • Ein Beispiel für eine solche inkohärente Beleuchtung ist in 14 gezeigt. Dabei macht man sich zunutze, dass bei Bogenlampen 61, deren leuchtende Fläche typischerweise einen Durchmesser von etwa 0,6 bis 2 mm aufweist, im Brennfleck 60 keine homogene Intensitätsverteilung herrscht, sondern es einen sehr viel helleren „hot spot" 62 ganz nahe bei einer der beiden Elektroden 64, 66 gibt, wobei die Intensität mit dem Abstand zu diesem „hot spot" 62 in alle Raumrichtungen abnimmt. Dabei ist eine Kollektoroptik 68 vorgesehen, um Licht aus dem „hot spot" 62, d. h. dem Bereich höchster Leuchtdichte, auf die Mikrolinsenanordnung 36 zu kollimieren. In der Brennebene 48 der Mikrolinsen 36 entsteht dabei für jede der Mikrolinsen 36 ein Abbild der Leuchtfläche 60. Grundsätzlich kann eine solche Anordnung für alle der in 4 bis 10 gezeigten Ausführungsformen verwendet werden, wobei anstelle der einfachen Kollektoroptik 68 auch eine mehrstufige Optik zum Einsatz kommen kann.
  • Im Fall der Verwendung von Mikrolinsen zur Erzeugung eines Spotmusters mittels nichtkohärenter Bogenlampen werden die Abbilder der Leuchtfläche 60 in der Brennebene 48 von der nachfolgenden optischen Anordnung 46, welche die beiden Projektive 42 und ggf. weitere optische Elemente umfaßt, so auf das Öffnungsmuster 24 abgebildet, dass ausschließlich der Bereich 62 höchster Leuchtdichte jeweils in die entsprechende Öffnung 32 abgebildet wird. Damit wirkt die Öffnung 32 als Blende, um die Umgebung des Bereichs 62 höchster Leuchtdichte, d. h. die dunkleren Bereiche der Leuchtfläche 60, auszublenden. Bei der in 12 gezeigten einfachen Ausgestaltung wird die gesamte Leuchtfläche 60 der Bogenlampe 61 auf das Öffnungsmuster 24 der Lochmaske 22 abgebildet, wobei nur das jeweilige Abbild des Bereichs 62 höchster Leuchtdichte in die jeweilige Öffnung 32 fällt. Somit bewirkt erst die Lochmaske 22 die räumliche Filterung des gesamten aus der Leuchtfläche 60 stammenden Beleuchtungslichts 16. Dies kann u. U. dazu führen, dass viel ungenutztes Beleuchtungslicht in die optische Anordnung eingekoppelt wird und als Streulicht oder als unerwünschte Fluoreszenz erzeugendes Störlicht die Messung am Detektor 28 verfälschen kann.
  • Dies läßt sich vermeiden, wenn man bereits vor der Mikrolinsenanordnung 34 eine räumliche Filterung vorsieht, so dass nur noch das vom Bereich 62 höchster Leuchtdichte stammende Beleuchtungslicht für den auf die Mikrolinsenanordnung 34 fallenden kollimierten Beleuchtungsstrahl genutzt wird, d. h. die Kollektoroptik 68 ist so ausgebildet, dass sie in dem auf die Mikrolinsenanordnung kollimierten Licht aus der Umgebung des Bereichs 62 höchster Leuchtdichte ausblendet. Dies kann beispielsweise dadurch geschehen, dass die Kollektoroptik 68 ein Zwischenbild der Leuchtfläche 60 erzeugt, wobei in der Zwischenbildebene eine Blende vorgesehen ist, um Licht aus der Umgebung des Bereichs 62 höchster Leuchtdichte auszublenden. Vorzugsweise wird ein Lichtleiter als Blende verwendet, der dann gleichzeitig noch dazu dient, den (heißen) Ort der Lichtentstehung vom Nipkowsystem zu trennen.
  • Nicht nur mit Mikrolinsen, auch mit Mikrospiegeln läßt sich eine solche selektive Verwendung des Lichts aus dem Hotspot zur Erzeugung eines Punktmusters mit maximaler Leuchtdichte verwenden. Dazu muß lediglich dafür gesorgt werden, daß am Punkt 102 der Einkopplung des Meßlichts in die Mikrospiegelanordnung die höchste Leuchtdichte herrscht, d. h. sich ein Bild des Hot-spot befindet. Wie weiter oben beschrieben geschieht dies vorzugsweise dadurch, daß der Hot-spot auf einen Lichtleiter entsprechend kleinen Durchmessers abgebildet wird und sich die Austrittsfläche dieses Lichtleiters in der Eintrittsebene 102 befindet.
  • Bogenlampen lassen sich, im Gegensatz zu Laser, nicht schnell ein- und ausschalten bzw. in der Intensität modulieren. Aus diesem Grund kann man eine beispielsweise mit der Anord nung von 14 erzeugte quasi-kohärente Beleuchtung mit einer Filterwahlanordnung kombinieren, wie sie in 15A bzw. 15B gezeigt ist. Dabei wird der einfallende, quasi-kohärente Lichtstrahl 70 mittels eines Planspiegels 72 zu einem Filterelement 74A, 74B, 74C, 74D oder 74E abgelenkt. Der Spiegel 72 ist auf einem Drehmotor 76, z. B. einem Galvanometer, montiert und ist mittels Betätigung des Motors 76 um eine Achse 78 drehbar, um ein bestimmtes der Filterelemente 74A bis 74E selektiv auszuwählen.
  • Die Filterelemente 74A und 74C bis 74E sind so ausgebildet, dass der von dem Spiegel 72 kommende Strahl so umgelenkt wird, dass der zurückkehrende Strahl parallel zu dem einfallenden Strahl, jedoch in Richtung der Drehachse 78 dazu axial versetzt ist. Dies kann beispielsweise wie in 15B gezeigt, dadurch erfolgen, dass das entsprechende Filterelement 74A, 74C, 74D, 74E zwei um 90° zueinander geneigte reflektierende Flächen 80, 82 aufweist, zwischen denen der eigentliche Filter 84 angeordnet ist. Der zurückkehrende Strahl trifft auf einen Planspiegel 86, der axial versetzt zu dem Spiegel 72 und um beispielsweise 45° gegenüber dem Spiegel 72 um die Achse 78 verdreht angebracht ist und von dem Motor 76 synchron mit dem Spiegel 72 gedreht wird. Auf diese Weise bilden die beiden Spiegel 72, 86 zusammen mit dem Motor 76 ein Filterselektionselement 90, mit Hilfe dessen zwischen verschiedenen Filterelementen 74A bis 74E ausgewählt werden kann, ohne dass sich die Richtung des einfallenden Strahls 70 bzw. des ausfallenden Strahls 88 durch die Betätigung des Filterselektionselements 90 ändern würde.
  • Die Filter 84 können beispielsweise als unterschiedliche spektrale Bandpässe ausgebildet sein, um ein schnelles Umschalten zwischen verschiedenen Beleuchtungs- bzw. Anregungswellenlängen zu erlauben. Werden die Filter 84 nicht unmittelbar nebeneinander positioniert, sondern durch eine lichtundurchlässigen Steg 74b voneinander getrennt, dessen Weite zumindest dem eines Filterelements entspricht, können auch sehr schnell verschiedenen Helligkeitswerte erreicht werden, indem man den Strahl teilweise auf den durchlässigen Filter, teilweise jedoch auch auf den lichtundurchlässigen Steg lenkt. Ein völliges Abdunkeln erfordert, daß der Strahl vollständig auf den lichtundurchlässigen Steg gerichtet wird. Typischerweise können mit einer solchen Anordnung Umschaltzeiten zwischen Wellenlängen und/oder Helligkeitswerten von weniger als 1 ms erreicht werden.
  • Voraussetzung der Verwendung einer solchen Anordnung für inkohärentes Licht ist, dass im einfallenden Strahl 70 die Bereiche der Leuchtfläche 60 außerhalb des „hot spot" 62 ausgeblendet wurden, so dass der Strahl weitgehend parallel ist und man mit Planspiegeln bzw. Prismen arbeiten kann.
  • In den 11A11C ist eine spezielle Anordnung der Mikrolinsen 36 gezeigt, die bei hoher Packungsdichte eine gleichmäßige Beleuchtung aller Probenpunkte im Zusammenspiel mit einer entsprechenden Gestaltung des Öffnungsmusters 24 erlaubt. 11A zeigt dabei Mikrolinsen 36 in einem radial weiter außen liegenden Bereich während 11B Mikrolinsen 36 in einem radial weiter innen liegenden Bereich zeigt. Eine Übersicht über das Gesamtmuster ist in 11C gezeigt. Die Mikrolinsen 36 bilden eine hexagonale Anordnung, wobei die Einheitszelle jeweils von vier unmittelbar benachbarten Mikrolinsen 36A, 36B, 36C bzw. 36D gebildet wird.
  • Gemäß 11B sind die Mikrolinsen 36 im Bereich kleiner Radien in tangentialer Richtung maximal dicht angeordnet, so dass sie sich in tangentialer Richtung berühren, um den tangentialen Abstand dt zu minimieren. In radialer Richtung liegt hier dagegen keine maximal dichte Packung vor.
  • Im Bereich größerer Radien ist gemäß 11A dagegen der tangentiale Abstand dt vergrößert, so dass in tangentialer Richtung zwischen benachbarten Mikrolinsen 36A, 36C Spalte auftreten. Dafür ist jedoch hier der radiale Abstand dr zwischen benachbarten Mikrolinsen 36A, 36B kleiner als in 11B. Im Abstand vom dem Radius, bei welchem die betreffende Einheitszelle angeordnet ist, sind der tangentiale Abstand dt und der radiale Abstand dr der Mikrolinsen 36 so gewählt, dass die Fläche der Einheitszelle konstant bleibt, so dass eine gleichmäßige Beleuchtung aller Punkte gewährleistet ist. Durch diese „Verzerrung" ist die Einheitszelle im Vergleich zu einer idealen hexagonalen Anordnung im radial äußeren Bereich (11A) tangential elongiert und im radial inneren Bereich (11B) radial elongiert. In 11B ist zum Vergleich die Einheitszelle von 11A gepunktet eingezeichnet. Zum Beispiel würden die Mikrolinsen im radial äußeren Bereich ohne die entsprechende Verringerung des radialen Abstands aufgrund des vergrößerten tangentialen Abstands weniger Licht sehen als die radial weiter innen liegend angeordneten.
  • Es versteht sich, dass die Mikrolinsen grundsätzlich in um eine zentrale Drehachse der Mikrolinsenanordnung 34 ineinander laufenden schneckenförmigen Schalen angeordnet sind. In tangentialer Richtung unmittelbar benachbart liegende Mikrolinsen liegen dabei auf der gleichen Schale. In 11A sind die Schalen mit 92A, 92B bzw. 92C angedeutet.
  • Es versteht sich, dass die Öffnungen 32 der Maske 22 dem gleichen Anordnungsschema gehorchen müssen, das vorstehend beschrieben wurde. Dieses Anordnungsschema kann natürlich auch für mit Öffnungen 132 versehene Mikrospiegel 136, wie sie z. B. in den 12 und 13 gezeigt sind, verwendet werden.
  • Es versteht sich ferner, dass bei allen Ausführungsformen der Erfindung die „Öffnungen" 32 bzw. 132 der Lochmaske 22 bzw. 122 als Öffnungen in dem Sinn zu verstehen sind, dass sie das Beleuchtungs- bzw. Emissionslicht durchlassen. Dabei kann es sich physikalisch um Löcher in der Maske 22 bzw. 122 oder um Bereiche mit transparentem Material handeln.

Claims (64)

  1. Vorrichtung für die konfokale Beobachtung einer Probe (12), mit einem Objektiv (10), einer im Beleuchtungs- und Bildstrahlengang angeordneten und um eine zentrale Achse (20) drehbaren Maske (22, 24), die mit Hilfe des Objektivs auf die Probe abgebildet wird und mit Öffnungen (32) versehen ist, um ein sich über die Probe bewegendes Beleuchtungsmuster zu erzeugen, einer auf die geometrische Anordnung der Öffnungen der Maske und die Drehung der Maske abgestimmten Anordnung fokussierender Mikrooptiken (34, 36), um das Beleuchtungslicht (16) mittels je einer der Mikrooptiken (36) in je eine der Öffnungen der Maske zu konzentrieren, sowie einem Strahlteiler (26), um mittels des Objektivs von der Probe aufgesammeltes Licht (17, 17'), welches die Öffnungen der Maske durchstrahlt hat, vom Beleuchtungslicht zu trennen, wobei der Strahlteiler in dem Strahlengang zwischen der Maske und der Mikrooptikenanordnung angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass in dem Strahlengang zwischen der Maske (22, 24) und der Mikrooptikenanordnung (34, 36) eine optische Anordnung (42, 44, 46, 50, 56) vorgesehen ist, um einen Unendlichraum (40) zu erzeugen, in welchem der Strahlteiler (26) angeordnet ist.
  2. Vorrichtung gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Mikrooptiken als Mikrolinsen (36) ausgebildet sind.
  3. Vorrichtung gemäß Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Unendlichraum (40) mittels zweier Projektive (42) der optischen Anordnung (46) erzeugt wird, zwischen denen der Strahlteiler (26) angeordnet ist.
  4. Vorrichtung gemäß Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die optische Anordnung (42, 44, 46, 50, 56) jeweils einen Teilbereich der Brennebene (48) der Mikrolinsen (36) so auf einen Teilbereich der Öffnungen (32) der Maske (22, 24) abbildet, dass das Abbild des Fokus je einer der Mikrolinsen in je eine der Öffnungen der Maske fällt.
  5. Vorrichtung gemäß Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (32) der Maske (22, 24) und die Mikrolinsenanordnung (34, 36) zueinander feststehend angeordnet sind.
  6. Vorrichtung gemäß Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (32) der Maske (22, 24) und die Mikrolinsenanordnung (34, 36) jeweils konzentrisch um die zentrale Achse (20) angeordnet sind.
  7. Vorrichtung gemäß Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (32) der Maske (22, 24) und die Mikrolinsenanordnung (34, 36) zueinander radial versetzt angeordnet sind.
  8. Vorrichtung gemäß Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (32) der Maske (22, 24) und die Mikrolinsenanordnung (34, 36) axial versetzt zueinander angeordnet sind.
  9. Vorrichtung gemäß Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (32) der Maske (22, 24) und die Mikrolinsenanordnung (34, 36) kongruent und seitenrichtig zueinander angeordnet sind.
  10. Vorrichtung gemäß Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Abbildungsmaßstab der optischen Anordnung (42, 44, 46, 50) 1:1 ist.
  11. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 8 bis 10 dadurch gekennzeichnet, dass die optische Anordnung (42, 44, 46, 50) in axialer Richtung zwischen der Maske (22, 24) und der Mikrolinsenanordnung (34, 36) angeordnet ist.
  12. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 8 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die optische Anordnung (42, 44, 46, 50) eine bildinvertierende Einheit (44, 50) aufweist, welche den beiden Projektiven (42) vor-, nach- oder zwischengeschaltet ist, um die durch die beiden Projektive bewirkte Bildinvertierung zu kompensieren.
  13. Vorrichtung gemäß Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die bildinvertierende Einheit zwei weitere Projektive (44) aufweist.
  14. Vorrichtung gemäß Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die bildinvertierende Einheit ein Roof-Prima (50), insbesondere ein Abbe-Koenig-Prisma oder ein Schmidt-Pechan-Prisma, aufweist.
  15. Vorrichtung gemäß Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass das Roofprisma (50) zwischen den beiden Projektiven (42) angeordnet ist.
  16. Vorrichtung gemäß Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Maske (22, 24) und die Mikrolinsenanordnung (34, 36) zueinander synchron bewegbar angeordnet sind.
  17. Vorrichtung gemäß Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (32) der Maske (22, 24) konzentrisch um die zentrale Achse (20) angeordnet sind und die Mikrolinsenordnung (34, 36) konzentrisch um eine andere Achse (52) drehbar angeordnet ist,
  18. Vorrichtung gemäß Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Drehachse (52) der Mikrolinsenanordnung (34, 36) radial versetzt parallel zu der zentralen Achse (20) der Maske (22, 24) angeordnet ist und die Mikrolinsenanordnung axial versetzt zu der Maske angeordnet ist.
  19. Vorrichtung gemäß Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, dass die Drehrichtung der Mikrolinsenanordnung (34, 36) und die Drehrichtung der Maske (22, 24) um die jeweilige Achse (20, 52) gleichläufig sind.
  20. Vorrichtung gemäß Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass der von der optischen Anordnung (42, 46) abgebildete Teilbereich der Brennebene (48) der Mikrolinsen (36) und der Teilbereich der Öffnungen der Maske, auf den abgebildet wird, axial versetzt zueinander, jedoch ohne radialen Versatz, angeordnet sind.
  21. Vorrichtung gemäß Anspruch 19 oder 20, dadurch gekennzeichnet, dass die optische Anordnung (42, 46) den Teilbereich der Brennebene (48) der Mikrolinsen (36) spiegelverkehrt auf den entsprechenden Teilbereich der Öffnungen (32) der Maske (22, 24) abbildet, wobei der von der optischen Anordnung abgebildete Teilbereich der Brennebene der Mikrolinsen sich gegenläufig zu dem Teilbereich der Öffnungen der Maske, auf den abgebildet wird, bewegt, und wobei der von der optischen Anordnung abgebildete Teilbereich der Brennebene der Mikrolinsen und der Teilbereich der Öffnungen der Maske, auf den abgebildet wird, punktgespiegelt zueinander orientiert sind.
  22. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 19 bis 21, dadurch gekennzeichnet, dass die Mikrolinsenanordnung (34, 36) und die Maske (22, 24) als teilüberlappende Scheiben (22, 38) ausgebildet sind.
  23. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 18 bis 22, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlteiler (26) als Kurzpass ausgebildet ist, um den Bildstrahlengang umzulenken.
  24. Vorrichtung gemäß Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Drehachse (52) der Mikrolinsenanordnung (34, 36) unter einem Winkel, insbesondere 90 Grad, zu der zentralen Achse (20) der Maske (22, 24) angeordnet ist.
  25. Vorrichtung gemäß Anspruch 24, dadurch gekennzeichnet, dass die optische Anordnung (42, 46) den Teilbereich der Brennebene (48) der Mikrolinsen (36) spiegelverkehrt auf den Teilbereich der Öffnungen (32) der Maske (22, 24) abbildet, wobei der von der optischen Anordnung abgebildete Teilbereich der Brennebene der Mikrolinsen sich gegenläufig zu dem Teilbereich der Öffnungen der Maske, auf den abgebildet wird, bewegt, und wobei der von der optischen Anordnung abgebildete Teilbereich der Brennebene der Mikrolinsen und der Teilbereich der Öffnungen der Maske, auf den abgebildet wird, punktgespiegelt zueinander orientiert sind.
  26. Vorrichtung gemäß Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlteiler (26) als Langpass ausgebildet ist, um den Beleuchtungsstrahlengang umzulenken.
  27. Vorrichtung für die konfokale Beobachtung einer Probe (12), mit einem Objektiv (10), einer im Beleuchtungs- und Bildstrahlengang angeordneten und um eine zentrale Achse (20) drehbaren Maske (22, 24), die mit Hilfe des Objektivs auf die Probe abgebildet wird und mit Öffnungen (32) versehen ist, um ein sich über die Probe bewegendes Beleuchtungsmuster zu erzeugen, einer auf die geometrische Anordnung der Öffnungen der Maske und die Drehung der Maske abgestimmten Anordnung fokussierender Mikrooptiken (34, 36), um das Beleuchtungslicht (16) mittels je einer der Mikrooptiken (36) in je eine der Öffnungen der Maske zu konzentrieren, wobei eine optische Anordnung (42, 44, 46, 50, 56) vorgesehen ist, die jeweils einen Teilbereich der Brennebene (48) der Mikrooptiken (36) so auf einen Teilbereich der Öffnungen (32) der Maske (22, 24) abbildet, dass das Abbild des Fokus je einer der Mikrooptiken in je eine der Öffnungen der Maske fällt, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (32) der Maske (22, 24) und die Mikrooptikenanordnung (34, 36) zueinander feststehend und jeweils konzentrisch um die zentrale Achse (20), jedoch zueinander radial versetzt, angeordnet sind.
  28. Vorrichtung gemäß Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, dass ein Strahlteiler (26) in dem Strahlengang zwischen der Maske und der Mikrooptikenanordnung angeordnet ist, um mittels des Objektivs (10) von der Probe (12) aufgesammeltes Licht (17, 17'), welches die Öffnungen (32) der Maske (22) durchstrahlt hat, vom Beleuchtungslicht (16) zu trennen.
  29. Vorrichtung gemäß Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, dass die Mikrooptiken als Mikrolinsen (36) ausgebildet sind.
  30. Vorrichtung gemäß Anspruch 29, dadurch gekennzeichnet, dass der Abbildungsmaßstab der optischen Anordnung (42, 44, 46, 56) dem Verhältnis des Abstands einer der Mikrolinsen (36) von der zentralen Achse (20) und des Abstands der zugeordneten Öffnung (32) der Maske (22, 24) von der zentralen Achse entspricht.
  31. Vorrichtung gemäß Anspruch 29 oder 30, dadurch gekennzeichnet, dass der von der optischen Anordnung (42, 44, 46, 56) auf den Teilbereich der Öffnungen (32) der Maske (22, 24) abgebildete Teilbereich der Brennebene (48) der Mikrolinsen (36) und dieser Teilbereich der Öffnungen der Maske in Umfangsrichtung zueinander versetzt angeordnet sind.
  32. Vorrichtung gemäß Anspruch 31, dadurch gekennzeichnet, dass der von der optischen Anordnung (42, 44, 46, 56) auf den Teilbereich der Öffnungen (32) der Maske (22, 24) abgebildete Teilbereich der Brennebene (48) der Mikrolinsen (36) und dieser Teilbereich der Öffnungen (32) der Maske (22, 24) diametral gegenüberliegend bzgl. der zentralen Achse (20) angeordnet sind.
  33. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 29 bis 32, dadurch gekennzeichnet, dass die Maske (22, 24) und die Mikrolinsenanordnung (34, 36) auf einer gemeinsamen Scheibe (22) angeordnet sind.
  34. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 29 bis 33, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (32) der Maske (22, 24) radial innen liegend und die Mikrolinsenanordnung (34, 36) radial außen liegend angeordnet sind.
  35. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 29 bis 34, dadurch gekennzeichnet, dass der Beleuchtungsstrahlengang zwischen den Mikrolinsen (36) und den Öffnungen (32) der Maske (22, 24) eine ungerade Anzahl von Reflexionen aufweist.
  36. Vorrichtung gemäß Anspruch 35, dadurch gekennzeichnet, dass in dem Beleuchtungsstrahlengang zwischen den Mikrolinsen (36) und den Öffnungen (32) der Maske (22, 24) ein Pentaprisma (56) vorgesehen ist.
  37. Vorrichtung gemäß Anspruch 36, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlteiler (26) als Langpass ausgebildet ist, um das Beleuchtungslicht (16) umzulenken.
  38. Vorrichtung für die konfokale Beobachtung einer Probe (12), mit einem Objektiv (10), einer im Beleuchtungs- und Bildstrahlengang angeordneten und um eine zentrale Achse (20) drehbaren Maske (122), die mit Hilfe des Objektivs auf die Probe abgebildet wird und mit Öffnungen (132) versehen ist, um ein sich über die Probe bewegendes Beleuchtungsmuster zu erzeugen, einer auf die geometrische Anordnung der Öffnungen der Maske und die Drehung der Maske abgestimmten Anordnung (134) fokussierender Mikrooptiken (136), um das Beleuchtungslicht (16) mittels je einer der Mikrooptiken in je eine der Öffnungen der Maske zu konzentrieren, sowie einem Strahlteiler (26), um mittels des Objektivs von der Probe aufgesammeltes Licht (17), welches die Öffnungen der Maske durchstrahlt hat, vom Beleuchtungslicht zu trennen, dadurch gekennzeichnet, dass die Mikrooptiken als fokussierende Mikrospiegel (136) ausgebildet sind, die jeweils eine der Öffnungen (132) der Maske (122) aufweisen, wobei eine fokussierende Makrooptik (26, 106, 110, 142, 144) vorgesehen ist, um das von den Mikro spiegeln erzeugte Fokusmuster des Beleuchtungslichts auf die Öffnungen der Maske abzubilden.
  39. Vorrichtung gemäß Anspruch 38, dadurch gekennzeichnet, dass jede Öffnung (132) im Zentrum des entsprechenden Mikrospiegels (136) angeordnet ist.
  40. Vorrichtung gemäß Anspruch 39, dadurch gekennzeichnet, dass die Makrooptik (26, 106, 110, 142, 144) eine Linsenanordnung (142) aufweist, in dessen einer Brennebene das von den Mikrospiegeln (136) erzeugte Fokusmuster des Beleuchtungslichts (16) liegt.
  41. Vorrichtung gemäß Anspruch 40, dadurch gekennzeichnet, dass das von einer Lichtquelle kommende Beleuchtungslicht (16) auf einen Einkoppelpunkt (102) konzentriert wird, der in oder nahe der anderen Brennebene (108) der Linsenanordnung (142) liegt.
  42. Vorrichtung gemäß Anspruch 41, dadurch gekennzeichnet, dass das auf den Einkoppelpunkt (102) konzentriert Beleuchtungslicht (16) mittels des als Langpass ausgebildeten Strahlteilers (26) zu der Linsenanordnung (142) umgelenkt wird, von der Linsenanordnung kollimiert und von dem beleuchteten Teil der Mikrospiegel (136) fokussiert wird, um das Fokusmuster des Beleuchtungslichts zu erzeugen, wobei das Beleuchtungslicht des Fokusmusters von der Linsenanordnung mindestens annähernd ins Unendliche abgebildet wird und von dem Strahteiler zu einem reflektierenden Element (106, 110) der Makrooptik (26, 106, 110, 142, 144) umgelenkt wird, von diesem zu dem Strahteiler zurück und von diesem zu der Linsenanordnung gelenkt wird und von der Linsenanordnung auf die Ebene der Öffnungen (132) der Maske (122) fokussiert wird.
  43. Vorrichtung gemäß Anspruch 42, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei dem reflektierenden Element um ein Retroreflektor-Prisma (106) mit einer abgeflachten Spitze (104) handelt, welche den Einkoppelpunkt (102) des von der Lichtquelle kommenden Beleuchtungslichts (16) bildet.
  44. Vorrichtung gemäß Anspruch 43, dadurch gekennzeichnet, dass die abgeflachten Spitze (104) so weit aus der Brennebene (108) der Linsenanordnung (142) verschoben ist, dass das Beleuchtungslicht des Fokusmusters von der Linsenanordnung (142) auf die Ebene der Öffnungen (132) der Maske (122) fokussiert wird.
  45. Vorrichtung gemäß Anspruch 42, dadurch gekennzeichnet, dass ein ansonsten transparentes Umlenkelement (114) vorgesehen ist, um das von der Lichtquelle kommende Beleuchtungslicht (16) an dem Einkoppelpunkt (102) auf den Strahlteiler (26) umzulenken.
  46. Vorrichtung gemäß Anspruch 45, dadurch gekennzeichnet, dass das Umlenkelement (114) als transparentes Substrat mit verspiegeltem Zentralpunkt (116) ausgebildet ist.
  47. Vorrichtung gemäß Anspruch 45 oder 46, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei dem reflektierenden Element um einen Planspiegel (110) handelt, wobei die Linsenanordnung eine erste Linsenanordnung (142) bildet und wobei eine zweite Linsenanordnung (144) zwischen dem Strahlteiler (26) und dem Planspiegel vorgesehen ist, um das von der ersten Linsenanordnung mindestens annähernd ins Unendliche abgebildete Fokusmuster der Mikrospiegel (136) in eine Ebene mindestens nahe des Planspiegels abzubilden.
  48. Vorrichtung gemäß Anspruch 47, dadurch gekennzeichnet, dass der Planspiegel (110) so weit aus der Brennebene (112) der zweiten Linsenanordnung (144) verschoben ist, dass das Beleuchtungslicht des Fokusmusters von der ersten (142) und der zweiten Linsenanordnung auf die Ebene der Öffnungen (132) der Maske (122) fokussiert wird.
  49. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 40 bis 48, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei der ersten und/oder der zweiten Linsenanordnung um ein Projektiv (142, 144) handelt.
  50. Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (32, 132) als Löcher in der Maske (22, 24, 122) ausgebildet sind.
  51. Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass im Bildstrahlengang zwischen dem Strahlteiler (26) und einem Detektor (28) zum Erfassen des vom Strahlteiler kommenden Lichts ein optisches Element (58) angeordnet ist, um das von der Probe (12) kommende Licht unter einem jeweils von der Wellenlänge oder der Polarisation des Licht bestimmten Winkel abzulenken und so nebeneinander auf den Detektor projizierte Teilbilder zu erzeugen.
  52. Vorrichtung gemäß Anspruch 51, dadurch gekennzeichnet, dass das optische Element als W-view-Anordnung (58) ausgebildet ist.
  53. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 37, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung eine inkohärente Lichtquelle (61) mit inhomogener Leuchtdichte zum Beleuchten der Probe (12) aufweist sowie eine Kollektoroptik (68) vorgesehen ist, um Licht aus einem Bereich höchster Leuchtdichte (62) der Lichtquelle auf die Mikrooptiken (34, 36) zu kollimieren, wobei die optische Anordnung (42, 44, 46, 50, 56) ausgebildet ist, um die Brennebene (48) der Mikrooptiken auf die Öffnungen (32) der Maske (22, 24) so abzubilden, dass ausschließlich der Bereich höchster Leuchtdichte der Lichtquelle jeweils in die Öffnung abgebildet wird, so dass die Öffnung jeweils als Blende wirkt, um die Umgebung (60) des Bereichs höchster Leuchtdichte auszublenden.
  54. Vorrichtung gemäß Anspruch 53, dadurch gekennzeichnet, dass die gesamte Leuchtfläche (60) der Lichtquelle (61) auf die Maske (22, 24) abgebildet wird und nur das Abbild (48) des Bereichs höchster Leuchtdichte (62) in die jeweilige Öffnung (32) der Maske fällt.
  55. Vorrichtung gemäß Anspruch 54, dadurch gekennzeichnet, dass die Kollektoroptik (68) ausgebildet ist, um in dem auf die Mikrooptiken (34, 36) kollimierten Licht Licht aus der Umgebung (60) des Bereichs höchster Leuchtdichte (62) auszublenden.
  56. Vorrichtung gemäß Anspruch 55, dadurch gekennzeichnet, dass die Kollektoroptik (68) ein Zwischenbild der Leuchtfläche (60) der Lichtquelle (61) erzeugt, wobei in der Zwischenbildebene eine Blende vorgesehen ist, um Licht aus der Umgebung des Bereichs höchster (62) Leuchtdichte auszublenden.
  57. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 53 bis 57, dadurch gekennzeichnet, dass es sich bei der Lichtquelle um eine Bogenlampe (61) handelt.
  58. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 38 bis 49, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung eine inkohärente Lichtquelle (61) mit inhomogener Leuchtdichte zum Beleuchten der Probe (12) aufweist sowie eine Kollektoroptik vorgesehen ist, um Licht aus einem Bereich höchster Leuchtdichte (62) der Lichtquelle auf die Mikrospiegel (136) zu kollimieren, wobei die Makrooptik (26, 106, 110, 142, 144) ausgebildet ist, um das Fokusmuster der Mikrospiegel auf die Öffnungen (32) der Maske (22, 24) so abzubilden, dass ausschließlich der Bereich höchster Leuchtdichte der Lichtquelle jeweils in die Öffnung abgebildet wird, wobei die Kollektoroptik ausgebildet ist, um in dem auf die Mikrospiegel (136) kollimierten Licht Licht aus der Umgebung (60) des Bereichs höchster Leuchtdichte (62) auszublenden.
  59. Vorrichtung gemäß Anspruch 58, dadurch gekennzeichnet, dass die Kollektoroptik einen Lichtleiter aufweist.
  60. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 1 bis 37, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung eine inkohärente Lichtquelle (61) mit inhomogener Leuchtdichte zum Beleuchten der Probe (12) aufweist sowie eine Kollektoroptik (68) vorgesehen ist, um Licht aus einem Bereich höchster Leuchtdichte (62) der Lichtquelle auf die Mikrooptiken (34, 36) zu kollimieren, wobei die Kollektoroptik (68) ausgebildet ist, um in dem auf die Mikrooptiken kollimierten Licht Licht aus der Umgebung (60) des Bereichs höchster Leuchtdichte auszublenden, wobei in dem kollimierten Lichtstrahl (70) ein durch Drehung um eine Achse (78) betätigbares Filterselektionselement (90) vorgesehen ist, um den kollimierten Lichtstrahl durch ein mittels Betätigung des Filterselektionselements aus einer Mehrzahl von Filterelementen (74A, 74B, 74C, 74D, 74E) selektiv auswählbares Filterelement zu schicken, wobei das Filterselektionselement und Filterelemente so ausgebildet sind, dass die Richtung des austretenden kollimierten Strahls (88) von der Betätigung des Filterselektionselements unabhängig ist.
  61. Vorrichtung gemäß Anspruch 60, dadurch gekennzeichnet, dass das Filterselektionselement (90) einen ersten (72) und einen zweiten Planspiegel (86) aufweist, die auf der Achse (78) axial versetzt und um einen bestimmten Winkel, insbesondere 45 Grad, gegeneinander um die Achse verdreht angebracht sind, wobei der einfallende Strahl (70) von dem ersten Planspiegel entsprechend der Drehbetätigung der Achse zu dem gewählten Filterelement (74A, 74B, 74C, 74D, 74E) abgelenkt wird, dort einen Filter (84) durchläuft und danach unter axialem Versatz bzgl. der Achse auf den zweiten Planspiegel zurückgelenkt wird und von diesem in Richtung der Mikrooptiken (34, 36) abgelenkt wird, wobei jedes Filterelement so ausgebildet ist, dass der vom ersten Planspiegel kommende Strahl und der zum zweiten Planspiegel abgelenkte Strahl parallel zueinander sind.
  62. Vorrichtung gemäß Anspruch 61, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eines der Filterelemente (74A, 74C, 74D, 74E) zwei um 90 Grad zueinander geneigte reflektierende Flächen (80, 82) aufweist, zwischen denen der Filter (84) angeordnet ist.
  63. Vorrichtung gemäß einem der Ansprüche 60 bis 62, dadurch gekennzeichnet, dass die Filterelemente (74A, 74B, 74C, 74D, 74E) als unterschiedliche Bandpässe und/oder Abschwächer ausgebildet sind, um eine Umschalten zwischen verschiedenen Beleuchtungswellenlängen und/oder Helligkeiten mittels Betätigung des Filterselektionselements (90) zu ermöglichen.
  64. Vorrichtung gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Öffnungen (32, 132) konzentrisch um die zentrale Achse (20) der Maske in ineinanderlaufen schneckenförmigen Schalen (92A, 92B, 92C) und in einem hexagonalen Muster angeordnet sind, wobei der tangentiale Abstand (dt) benachbarter Öffnungen mit zunehmendem radialen Abstand von der zentralen Achse so zunimmt und der radiale Abstand (dr) benachbarter Schalen (92A, 92B, 92C) mit zunehmendem radialen Abstand von der zentralen Achse (20) der Maske (22, 24, 122) so abnimmt, dass Fläche der jeweils aus den vier unmittelbar benachbarten Öffnungen gebildeten Einheitszellen unabhängig vom radialen Abstand von der zentralen Achse ist.
DE102007009551A 2007-02-27 2007-02-27 Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe Active DE102007009551B3 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007009551A DE102007009551B3 (de) 2007-02-27 2007-02-27 Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe
US12/037,667 US7580171B2 (en) 2007-02-27 2008-02-26 Device for confocal illumination of a specimen
GB0803452A GB2447130A (en) 2007-02-27 2008-02-26 Confocal observation device with infinity optics between mask and microoptics
US12/506,431 US7706043B2 (en) 2007-02-27 2009-07-21 Device for confocal illumination of a specimen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007009551A DE102007009551B3 (de) 2007-02-27 2007-02-27 Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102007009551B3 true DE102007009551B3 (de) 2008-08-21

Family

ID=39284554

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102007009551A Active DE102007009551B3 (de) 2007-02-27 2007-02-27 Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe

Country Status (3)

Country Link
US (2) US7580171B2 (de)
DE (1) DE102007009551B3 (de)
GB (1) GB2447130A (de)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008053881A1 (de) 2008-10-30 2010-05-12 I.L.E.E. Ag Industrial Laser And Electronic Engineering Reflexionsschranke mit Vermessungs- und / oder Lokalisierungsfunktion
EP2733514A1 (de) * 2012-11-16 2014-05-21 PerkinElmer Cellular Technologies Germany GmbH Vorrichtung zur strukturierten Beleuchtung einer Probe
EP2908166A3 (de) * 2014-02-17 2015-11-04 Yokogawa Electric Corporation Konfokaler optischer Scanner
EP3035101A1 (de) * 2014-12-17 2016-06-22 Olympus Corporation Abtastungsvorrichtung und vorrichtung zur konfokalen beobachtung
DE102015011552A1 (de) 2015-09-02 2017-03-02 Visitron Systems GmbH Verfahren und Anordnung zur Lichteinkopplung in ein Multifokales Konfokalmikroskop
US10191263B2 (en) 2015-04-30 2019-01-29 Olympus Corporation Scanning microscopy system
DE102022108448B3 (de) 2022-04-07 2023-05-04 Till I.D. Gmbh Superauflösende Mikroskopvorrichtung mit rotierender Scheibe

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010084478A2 (en) * 2009-01-24 2010-07-29 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) High-resolution microscopy and photolithography devices using focusing micromirrors
KR20100110996A (ko) * 2009-04-06 2010-10-14 주식회사 프로텍 그리드 이미지와 스테이지의 이동 각도 조절에 의한 레이저빔 간 피치조절 방법
DE102009025368A1 (de) * 2009-06-18 2010-12-23 Giesecke & Devrient Gmbh Optisches System und Sensor zur Prüfung von Wertdokumenten mit einem solchen optischen System
EP2315065B1 (de) * 2009-10-26 2015-05-13 Olympus Corporation Mikroskop
CN102971824B (zh) 2010-07-14 2016-01-13 Fei公司 用于扫描共焦电子显微镜的改进对比度
WO2013126568A1 (en) * 2012-02-21 2013-08-29 Massachusetts Eye & Ear Infirmary Calculating conjunctival redness
DE102012007045B4 (de) * 2012-04-05 2023-03-16 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Mikroskopie
DE102013001238B4 (de) 2013-01-25 2020-06-10 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtmikroskop und Mikroskopieverfahren
DE102013002423A1 (de) * 2013-02-11 2014-08-14 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optikanordnung und Lichtmikroskop
ES2893541T3 (es) 2014-05-02 2022-02-09 Massachusetts Eye & Ear Infirmary Calificación de la tinción corneal con fluoresceína
US20160026275A1 (en) * 2014-07-23 2016-01-28 Verifone, Inc. Data device including ofn functionality
WO2016092674A1 (ja) * 2014-12-11 2016-06-16 オリンパス株式会社 観察システム、光学部品、及び観察方法
US10088427B2 (en) 2015-03-31 2018-10-02 Samantree Medical Sa Systems and methods for in-operating-theatre imaging of fresh tissue resected during surgery for pathology assessment
DE102015112960B3 (de) * 2015-08-06 2016-10-20 Till I.D. Gmbh Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe
DE102016103182B4 (de) * 2016-02-23 2018-04-12 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtblattmikroskop und Verfahren zur lichtmikroskopischen Abbildung einer Probe
DE102016123974A1 (de) 2016-12-09 2018-06-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Beleuchtungseinrichtung für ein konfokales Mikroskop und Konfokalmikroskop
NL2018854B1 (en) 2017-05-05 2018-11-14 Illumina Inc Systems and methodes for improved focus tracking using blocking structures
NL2018853B1 (en) 2017-05-05 2018-11-14 Illumina Inc Systems and methods for improved focus tracking using a hybrid mode light source
NL2018857B1 (en) 2017-05-05 2018-11-09 Illumina Inc Systems and methods for improved focus tracking using a light source configuration
US11747603B2 (en) 2017-10-31 2023-09-05 Samantree Medical Sa Imaging systems with micro optical element arrays and methods of specimen imaging
US10539776B2 (en) 2017-10-31 2020-01-21 Samantree Medical Sa Imaging systems with micro optical element arrays and methods of specimen imaging
US10928621B2 (en) 2017-10-31 2021-02-23 Samantree Medical Sa Sample dishes for use in microscopy and methods of their use
JP7180707B2 (ja) * 2021-03-15 2022-11-30 横河電機株式会社 共焦点スキャナ及び共焦点顕微鏡
EP4167009A1 (de) * 2021-10-15 2023-04-19 PreciPoint Innovation GmbH Mikroskop und verfahren zum betreiben eines mikroskops
CN114838673B (zh) * 2022-05-18 2024-03-19 长春长光辰英生物科学仪器有限公司 用于转盘共聚焦系统的阿基米德条纹转盘及其分区方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991013379A1 (en) * 1990-02-27 1991-09-05 Prometrix Corporation Improved confocal scanning optical microscope
EP0539691A2 (de) * 1991-10-31 1993-05-05 Yokogawa Electric Corporation Nipkowscheibe für konfokalen optischen Scanner
DE19703643A1 (de) * 1996-01-31 1997-08-07 Nidek Kk Konfokales Abtastmikroskop
US5760950A (en) * 1996-07-25 1998-06-02 Advanced Scanning, Ltd. Scanning confocal microscope
US6147798A (en) * 1997-10-24 2000-11-14 Atto Instruments, Llc. Microscope attachment for high precision and efficient imaging
EP1168029A2 (de) * 2000-06-23 2002-01-02 Yokogawa Electric Corporation Optisches Bildtrennungssystem und konfokale Abtasteinheit
EP0753779B1 (de) * 1995-07-13 2003-09-10 Yokogawa Electric Corporation Konfokales Mikroskop
EP1359452A1 (de) * 2002-05-03 2003-11-05 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Konfokales Mikroskop mit zwei Mikrolinsenarrays und einem Lochblendenarray
US20030215121A1 (en) * 2002-03-04 2003-11-20 Hideo Yokota Method and apparatus for observing three-dimensional localizations of in vivo expressed genes as well as method and apparatus for observing minute three-dimensional localizations of in vivo expressed genes
DE10350918B3 (de) * 2003-10-31 2005-04-14 Evotec Technologies Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Transmission eines Objekts

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4118619A (en) * 1977-08-02 1978-10-03 R. J. Reynolds Tobacco Company Rotary beam chopper and scanning system
US5162941A (en) * 1991-07-23 1992-11-10 The Board Of Governors Of Wayne State University Confocal microscope
JP3327432B2 (ja) * 1994-10-11 2002-09-24 横河電機株式会社 共焦点光スキャナ
US20010041843A1 (en) * 1999-02-02 2001-11-15 Mark Modell Spectral volume microprobe arrays
US6002509A (en) * 1995-10-21 1999-12-14 Leica Lasertechnik Gmbh Beam scanner for confocal microscopes
JP3159006B2 (ja) * 1995-11-10 2001-04-23 横河電機株式会社 共焦点光スキャナ
US5847867A (en) * 1996-07-03 1998-12-08 Yokogawa Electric Corporation Confocal microscope
JP3930929B2 (ja) * 1996-11-28 2007-06-13 オリンパス株式会社 共焦点顕微鏡
DE10133017C2 (de) * 2001-07-06 2003-07-03 Leica Microsystems Konfokales Mikroskop
US6634866B2 (en) * 2001-08-17 2003-10-21 Borgwarner, Inc. Method and apparatus for providing a hydraulic transmission pump assembly having a one way clutch
US6934079B2 (en) * 2002-05-03 2005-08-23 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissen-schaften e. V. Confocal microscope comprising two microlens arrays and a pinhole diaphragm array
JP2004288279A (ja) * 2003-03-20 2004-10-14 Nikon Corp ニッポウディスクとこれを用いたコンフォーカルスキャニング装置
JP4947341B2 (ja) * 2006-02-24 2012-06-06 横河電機株式会社 共焦点顕微鏡の同期縞除去方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991013379A1 (en) * 1990-02-27 1991-09-05 Prometrix Corporation Improved confocal scanning optical microscope
EP0539691A2 (de) * 1991-10-31 1993-05-05 Yokogawa Electric Corporation Nipkowscheibe für konfokalen optischen Scanner
EP0753779B1 (de) * 1995-07-13 2003-09-10 Yokogawa Electric Corporation Konfokales Mikroskop
DE19703643A1 (de) * 1996-01-31 1997-08-07 Nidek Kk Konfokales Abtastmikroskop
US5760950A (en) * 1996-07-25 1998-06-02 Advanced Scanning, Ltd. Scanning confocal microscope
US6147798A (en) * 1997-10-24 2000-11-14 Atto Instruments, Llc. Microscope attachment for high precision and efficient imaging
EP1168029A2 (de) * 2000-06-23 2002-01-02 Yokogawa Electric Corporation Optisches Bildtrennungssystem und konfokale Abtasteinheit
US20030215121A1 (en) * 2002-03-04 2003-11-20 Hideo Yokota Method and apparatus for observing three-dimensional localizations of in vivo expressed genes as well as method and apparatus for observing minute three-dimensional localizations of in vivo expressed genes
EP1359452A1 (de) * 2002-05-03 2003-11-05 Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Konfokales Mikroskop mit zwei Mikrolinsenarrays und einem Lochblendenarray
DE10350918B3 (de) * 2003-10-31 2005-04-14 Evotec Technologies Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Transmission eines Objekts

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008053881A1 (de) 2008-10-30 2010-05-12 I.L.E.E. Ag Industrial Laser And Electronic Engineering Reflexionsschranke mit Vermessungs- und / oder Lokalisierungsfunktion
EP2733514A1 (de) * 2012-11-16 2014-05-21 PerkinElmer Cellular Technologies Germany GmbH Vorrichtung zur strukturierten Beleuchtung einer Probe
WO2014075868A1 (en) * 2012-11-16 2014-05-22 Perkinelmer Cellular Technologies Germany Gmbh Apparatus for structured illumination of a specimen
US9958661B2 (en) 2012-11-16 2018-05-01 Perkinelmer Cellular Technologies Germany Gmbh Apparatus for structured illumination of a specimen
EP2908166A3 (de) * 2014-02-17 2015-11-04 Yokogawa Electric Corporation Konfokaler optischer Scanner
US9360665B2 (en) 2014-02-17 2016-06-07 Yokogawa Electric Corporation Confocal optical scanner
EP3035101A1 (de) * 2014-12-17 2016-06-22 Olympus Corporation Abtastungsvorrichtung und vorrichtung zur konfokalen beobachtung
US9733462B2 (en) 2014-12-17 2017-08-15 Olympus Corporation Scanning apparatus, confocal observation apparatus and disk scanning apparatus
US10191263B2 (en) 2015-04-30 2019-01-29 Olympus Corporation Scanning microscopy system
DE102015011552A1 (de) 2015-09-02 2017-03-02 Visitron Systems GmbH Verfahren und Anordnung zur Lichteinkopplung in ein Multifokales Konfokalmikroskop
DE102022108448B3 (de) 2022-04-07 2023-05-04 Till I.D. Gmbh Superauflösende Mikroskopvorrichtung mit rotierender Scheibe
EP4258036A1 (de) 2022-04-07 2023-10-11 Till I.D. GmbH Drehscheibenmikroskopvorrichtung mit potentiell erhöhter bildauflösung

Also Published As

Publication number Publication date
US20090279159A1 (en) 2009-11-12
GB0803452D0 (en) 2008-04-02
GB2447130A (en) 2008-09-03
US7706043B2 (en) 2010-04-27
US20080218849A1 (en) 2008-09-11
US7580171B2 (en) 2009-08-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102007009551B3 (de) Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe
EP2948810B1 (de) Lichtmikroskop und mikroskopieverfahren
DE19758745C5 (de) Laser-Scanning-Mikroskop
EP2030062B1 (de) Autofokuseinrichtung für die mikroskopie
DE10004191B4 (de) Fluoreszenz-Scanmikroskop
EP3084399B1 (de) Vorrichtung und verfahren zum untersuchen einer probe mittels optischer projektionstomografie
DE3534019A1 (de) Optische bahnueberwachungsvorrichtung
DE2852203B2 (de) Lichtleiteinrichtung für eine mit Auflicht betriebene Abbildungsvorrichtung
EP1359452B1 (de) Konfokales Mikroskop mit zwei Mikrolinsenarrays und einem Lochblendenarray
DE102015112960B3 (de) Vorrichtung für die konfokale Beleuchtung einer Probe
DE10340965A1 (de) Rastermikroskop
DE19942998B4 (de) Mikroskop zur Auf- und Durchlichtmikroskopie
DE102013002423A1 (de) Optikanordnung und Lichtmikroskop
DE10133017C2 (de) Konfokales Mikroskop
DE3328821A1 (de) Autofokus fuer mikroskope
WO2001088599A1 (de) Autofokussiereinrichtung für optische geräte
EP1985227B1 (de) Optikkomponente für ein Stereomikroskop
DE10127611A1 (de) Anordnung zum optischen Anregen der Fluoreszenzstrahlung von Einzelproben auf einem Multiprobenträger
DE10227119A1 (de) Optische Anordnung zur Gewinnung von Informationen von einer Probe oder einem Beobachtungsobjekt
EP2784564A1 (de) Lichtmikroskop und Verfahren zum Untersuchen einer mikroskopischen Probe
DE102006011277A1 (de) Laser-Scanning-Mikroskop und Laser-Scanning-Mikroskopierverfahren
WO2014049127A1 (de) Konfokales auflicht-rastermikroskop zur multifleck-abtastung
WO2013045065A1 (de) Laser-scanning-mikroskop
EP3992687A1 (de) Mikroskop und verfahren zur lichtfeldmikroskopie mit lichtblattanregung sowie zur konfokalen mikroskopie
DE102004035340B4 (de) Rastermikroskop mit einer Strahlablenkeinrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: TILL I.D. GMBH, 82166 GRAEFELFING, DE

8364 No opposition during term of opposition
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: TILL I.D. GMBH, DE

Free format text: FORMER OWNER: TILL I.D. GMBH, 82166 GRAEFELFING, DE