DE4440104A1 - Formkörper aus Quarzglas und Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus Quarzglas - Google Patents

Formkörper aus Quarzglas und Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus Quarzglas

Info

Publication number
DE4440104A1
DE4440104A1 DE4440104A DE4440104A DE4440104A1 DE 4440104 A1 DE4440104 A1 DE 4440104A1 DE 4440104 A DE4440104 A DE 4440104A DE 4440104 A DE4440104 A DE 4440104A DE 4440104 A1 DE4440104 A1 DE 4440104A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
transparent
surface area
base body
quartz glass
shaped body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE4440104A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4440104C2 (de
Inventor
Wolfgang Dr Englisch
Stephan Moritz
Dietmar Hellmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Heraeus Quarzglas GmbH and Co KG
Original Assignee
Heraeus Quarzglas GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Heraeus Quarzglas GmbH and Co KG filed Critical Heraeus Quarzglas GmbH and Co KG
Priority to DE4440104A priority Critical patent/DE4440104C2/de
Publication of DE4440104A1 publication Critical patent/DE4440104A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4440104C2 publication Critical patent/DE4440104C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/02Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with glass
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/06Other methods of shaping glass by sintering, e.g. by cold isostatic pressing of powders and subsequent sintering, by hot pressing of powders, by sintering slurries or dispersions not undergoing a liquid phase reaction
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22CFOUNDRY MOULDING
    • B22C9/00Moulds or cores; Moulding processes
    • B22C9/12Treating moulds or cores, e.g. drying, hardening
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/06Other methods of shaping glass by sintering, e.g. by cold isostatic pressing of powders and subsequent sintering, by hot pressing of powders, by sintering slurries or dispersions not undergoing a liquid phase reaction
    • C03B19/066Other methods of shaping glass by sintering, e.g. by cold isostatic pressing of powders and subsequent sintering, by hot pressing of powders, by sintering slurries or dispersions not undergoing a liquid phase reaction for the production of quartz or fused silica articles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B20/00Processes specially adapted for the production of quartz or fused silica articles, not otherwise provided for
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C11/00Multi-cellular glass ; Porous or hollow glass or glass particles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica
    • C03C3/06Glass compositions containing silica with more than 90% silica by weight, e.g. quartz
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B35/00Apparatus not otherwise provided for, specially adapted for the growth, production or after-treatment of single crystals or of a homogeneous polycrystalline material with defined structure
    • C30B35/002Crucibles or containers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/429Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to measurement of ultraviolet light
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B2201/00Type of glass produced
    • C03B2201/06Doped silica-based glasses
    • C03B2201/20Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine
    • C03B2201/23Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine doped with hydroxyl groups
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2201/00Glass compositions
    • C03C2201/02Pure silica glass, e.g. pure fused quartz
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2201/00Glass compositions
    • C03C2201/80Glass compositions containing bubbles or microbubbles, e.g. opaque quartz glass
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2203/00Production processes
    • C03C2203/50After-treatment
    • C03C2203/52Heat-treatment
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/13Hollow or container type article [e.g., tube, vase, etc.]
    • Y10T428/131Glass, ceramic, or sintered, fused, fired, or calcined metal oxide or metal carbide containing [e.g., porcelain, brick, cement, etc.]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/13Hollow or container type article [e.g., tube, vase, etc.]
    • Y10T428/131Glass, ceramic, or sintered, fused, fired, or calcined metal oxide or metal carbide containing [e.g., porcelain, brick, cement, etc.]
    • Y10T428/1317Multilayer [continuous layer]

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Glass Melting And Manufacturing (AREA)
  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
  • Producing Shaped Articles From Materials (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Formkörper aus Quarzglas, der min­ destens einen Oberflächenbereich aus transparentem Quarzglas aufweist, dessen freie Oberfläche glatt ist und eine Oberflächenmikrorauhigkeit kleiner als 8 µm besitzt.
Weiterhin bezieht sich die Erfindung auf ein Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus Quarzglas mit mindestens einem Oberflächenbereich aus transparentem Quarzglas, dessen Oberfläche glatt ist und eine Ober­ flächenmikrorauhigkeit kleiner als 8 µm besitzt.
Aus der japanischen Gebrauchsmuster-Veröffentlichung Nr. S55-52906 (ver­ öffentlicht am 26. Januar 1983) ist ein Formkörper aus Quarzglas bekannt, der mindestens einen Oberflächenbereich aus transparentem Quarzglas auf­ weist, dessen freie Oberfläche glatt ist und eine Oberflächenrauhigkeit kleiner als 2 µm besitzt. Hierbei ist auf den Flansch eines Grundkör­ pers aus opakem, blasenhaltigem Quarzglas ein Flanschring aus transparen­ tem Quarzglas aufgeschmolzen, dessen freie Oberfläche zur Erlangung der erwünschten niedrigen Oberflächenrauhigkeit noch poliert und zur Ober­ flächenglättung feuerglasiert wurde. Dieser Aufbau des Formkörpers ist sehr kostenintensiv, weil der Flanschring jeweils einzeln aus einer transparenten Quarzglasplatte geschnitten werden muß, was u. a. mit erheb­ lichem Verschnittabfall verbunden ist. Auch ist das Aufschmelzen eines solchen Flanschrings aus transparentem Quarzglas auf einen Flansch aus opakem Quarzglas risikoreich wegen möglicherweise auftretender Schwin­ dungserscheinungen und/oder Spannungen zwischen den beiden Quarzglassor­ ten. Abgesehen davon ist diese Herstellungsweise auch sehr arbeitsinten­ siv. Ein Feuerglasieren der freien Flanschoberfläche des Formkörpers aus opakem Quarzglas hatte zu keinem Erfolg geführt, weil dies zwar zu einer glatten, gegen Säurebehandlung resistenten Oberfläche führt, aber die Blasen des Quarzglases als Löcher von erheblicher Größe in der freien Oberfläche zurückbleiben.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Formkörper aus Quarzglas gemäß der eingangs charakterisierten Art zu schaffen, der einen einfachen Aufbau aufweist und dessen Herstellung preiswert ist und eine Bevorratung oder separate Herstellung von Zusatzbauteilen vermeidet.
Der Erfindung liegt die weitere Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Her­ stellung solcher Formkörper bereitzustellen, das in einfacher Weise durchzuführen ist und Materialabfall praktisch vermeidet.
Gelöst wird die Aufgabe für einen Formkörper der eingangs charakterisier­ ten Art erfindungsgemäß dadurch, daß er aus einem Grundkörper besteht, dessen Grundmaterial eine chemische Reinheit von mindestens 99,9% und einen Cristobalitgehalt von höchstens 1% besitzt, der gasundurchlässig und opak ist, Poren enthält, bei einer Wandstärke von 1 mm eine praktisch konstante, unterhalb 10% liegende, direkte spektrale Transmission im Wellenlängenbereich λ = 190 nm bis λ = 2.650 nm besitzt und eine Dichte von wenigstens 2,15 g/cm³ aufweist, und daß der transparente Oberflä­ chenbereich aus dem bei einer Temperatur oberhalb 1.650°C wärme­ behandelten Grundmaterial gebildet ist, seine Dicke mindestens 0,5 mm beträgt und seine direkte spektrale Transmission bei einer Schichtdicke von 1 mm im Wellenlängenbereich von λ = 600 nm bis λ = 2650 nm einen Wert von mindestens 60%. besitzt.
Vorteilhafterweise besteht der Formkörper aus einem einzigen Grundkörper.
Die erfindungsgemäßen Formkörper zeichnen sich vorteilhaft weiterhin dadurch aus, daß mindestens 80% der Poren des Grundmaterials eine maxi­ male Porenabmessung von weniger als 20 µm aufweisen; vorteilhafter­ weise beträgt die maximale Porenabmessung weniger als 10 µm. Der Po­ rengehalt im Grundmaterial liegt im Bereich von 0,5 bis 2,5%. pro Volumen­ einheit.
Dadurch, daß der Formkörper aus einem Grundkörper aus dem Grundmaterial mit den spezifizierten Charakteristika gebildet ist, werden Spannungen praktisch vermieden, weil die Dichte des opaken, porenhaltigen Grundma­ terials und die Dichte des durch Wärmebehandlung transparent gewordenen Grundmaterials sich nicht wesentlich voneinander unterscheiden. Wegen des geringen Prozentsatzes an Poren pro Volumeneinheit im Grundmaterial zeigt das zu transparentem Material umgewandelte Grundmaterial auch keine merk­ lichen Schrumpfungserscheinungen. Viele andere technische Eigenschaften sind nahezu identisch mit denen des Grundmaterials.
Wie weiter oben angegeben, soll die direkte spektrale Transmission bei einer Schichtdicke von 1 mm im Wellenlängenbereich von λ = 600 nm bis λ = 2650 nm einen Wert von mindestens 60%. besitzen. Die spektrale Transmission, also die Transparenz des Grundmaterials im transparenten Oberflächenbereich, wird mit einem Spektralphotometer ohne Ulbricht-Kugel an einer geeignet präparierten Probe mit polierten Oberflächen gemessen. Aus dem angegebenen Wert errechnet sich bei einer Schichtdicke von etwa 0,5 mm unter Berücksichtigung des Extinktionskoeffizienten ein entspre­ chend höherer, prozentualer Transmissionswert.
Das Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers, wie eingangs charakte­ risiert, zeichnet sich erfindungsgemäß dadurch aus, daß ein Grundkörper nach dem Schlickergußverfahren hergestellt wird, wobei Quarzglas einer Reinheit von mindestens 99,9%. zu einem Pulver mit einer Teilchengröße unter 70 µm zerkleinert, ein Schlicker aus dem Pulver gebildet und während einer Zeitdauer von 1 bis 240 h durch fortwährendes Inbewegung­ halten stabilisiert wird, der stabilisierte Schlicker in eine poröse, dem Grundkörper entsprechende Form eingefüllt und darin eine vorbestimmte Zeit belassen, nach Entfernen der Form der erhaltene Grundkörper-Rohling getrocknet und danach in einem Ofen mit einer Aufheizgeschwindigkeit von 5 bis 60 K/min auf eine Sintertemperatur im Bereich von 1.350°C bis 1.450°C aufgeheizt, einer Temperatur von über 1.300°C während einer Zeitdauer von mindestens 40 min ausgesetzt und der gesinterte Grundkörper abgekühlt wird, und daß dann ein Oberflächenbereich des den Grundkörper bildenden opaken, porösen, gasundurchlässigen Grundmaterials lokal mit­ tels einer Heizquelle auf eine Temperatur im Bereich von 1.650°C bis 2.200°C zur Umwandlung des porösen, opaken Grundmaterials in transparen­ tes Quarzglas so lange erhitzt wird, bis die Dicke des transparenten Oberflächenbereichs mindestens 0,5 mm beträgt und seine direkte spektrale Transmission bei einer Schichtdicke von 1 mm im Wellenlängenbereich von λ = 600 nm bis λ = 2650 nm einen Wert von mindestens 60% besitzt. Durch die Wärmezufuhr heizt sich zunächst eine dünne Schicht des Oberflächenbe­ reichs sehr schnell auf, weil durch die geringe spektrale Transmission des Grundmaterials des Grundkörpers ein Energietransport durch Wärme­ strahlung wirkungsvoll unterdrückt wird. Da auch die Wärmeleitung des Grundmaterials gering ist, bleibt die wärmebeeinflußte Zone lokal eng begrenzt und es werden schnell die hohen Temperaturen im Bereich von 1.650°C bis 2.200°C erreicht. Dabei sintern die Mikroporen im Grundma­ terial zusammen und es bildet sich eine transparente Quarzglas-Schicht aus. Da die Dichte des porösen, opaken Grundmaterials nahezu der Dichte von massivem, transparentem Quarzglas entspricht bzw. der Volumenanteil an Mikroporen im Grundmaterial sehr gering ist, treten keine merklichen Schwunderscheinungen auf und Spannungen im Grundkörper werden vermieden. Außerhalb des wärmebehandelten Oberflächenbereichs bleiben die Eigen­ schaften des opaken, porösen Grundmaterials unverändert erhalten.
Ein besonderer Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens ist darin zu sehen, daß es die Herstellung beliebiger, komplizierter Formkörper mit mindestens einem transparenten Oberflächenbereich ermöglicht, weil der Grundkörper des Formkörpers im Schlickergußverfahren herstellbar ist und wegen der lokalen Erwärmung an beliebig ausgewählten Oberflächenbereichen des Grundkörpers das Grundmaterial aus dem opaken, porösen Zustand in den transparenten Zustand umgewandelt werden kann.
Bei einem erfindungsgemäßen Formkörper ist der transparente Oberflächen­ bereich vorteilhafterweise als Flanschfläche ausgebildet. Hierbei beträgt die Dicke des transparenten Oberflächenbereichs mehr als 0,6 mm. Bei diesem Formkörper wird der durch die Erfindung erzielte Vorteil einer kostengünstigen Herstellung gegenüber dem Stand der Technik, wie er durch die japanische Gebrauchsmusterveröffentlichung bekannt geworden ist, deutlich. Es kommt nur ein einziger Werkstoff bei der Erfindung zum Ein­ satz, nämlich das spezielle Grundmaterial. Die glatte Oberfläche, die gegebenenfalls noch poliert ist, ergibt eine gute Dichtwirkung. Eine Reinigung der freien Oberfläche des transparenten Oberflächenbereichs, beispielsweise durch Ätzen mit Fluorwasserstoffsäure, ist möglich, ohne daß hierdurch die Dichtwirkung der freien Oberfläche verschlechtert wird.
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung kann der Formkörper als Hohlkörper ausgebildet sein, wobei wenigstens Teilbereiche seiner Außen- und/oder Innenfläche den transparenten Oberflächenbereich bilden. Hierbei kann es von Vorteil sein, die gesamte Außen- und/oder Innenober­ fläche transparent auszubilden. Ein solcher Hohlkörper kann beispiels­ weise ein Rohr sein, dessen Außen- und/oder Innenoberfläche transparent ausgebildet ist. Bei Rohren, wie sie beispielsweise für Hochtempera­ tur-Druckwalzen oder -Glättungswalzen eingesetzt werden, wäre die Außen­ oberfläche des rohrförmigen Grundkörpers transparent auszubilden. Bei Rohren für die Leitung von hocherhitzten, chemisch aggressiven Substanzen wäre die Innenoberfläche des rohrförmigen Grundkörpers transparent auszu­ bilden. Die opak bleibende Außenoberfläche würde dabei eine direkte Wär­ meabstrahlung verhindern, während die transparente Innenoberfläche bei­ spielsweise Korrosion durch die Substanzen vermindert und ein Haften von Teilchen verhindert.
Der Formkörper kann auch als Tiegel ausgebildet sein, wobei vorteilhaf­ terweise dessen gesamte Innenoberfläche transparent, beispielsweise bis zu einer Schichtdicke von 1,5 mm, ausgebildet ist. Wenn die Außenober­ fläche des Tiegels opak belassen wird, sorgt sie für eine homogene Tem­ peraturvertellung im Tiegel, während die transparente Innenoberfläche weniger korrosionsanfällig als eine opake, poröse Innenoberfläche ist und auch leicht gereinigt werden kann.
Beispielsweise kann der Formkörper auch ein Bauteil eines Behälters sein und der transparente Oberflächenbereich, der über seine gesamte Dicke transparent ausgebildet ist, kann als Einblickfenster dienen. Die Her­ stellung eines solchen Einblickfensters nach dem erfindungsgemäßen Ver­ fahren ist sehr einfach im Gegensatz zu der bisher üblichen Praxis des Einschweißens eines Fensters in einen Behälter, was außerordentlich kri­ tisch, aufwendig und nur unter thermischer Strapazierung eines größeren Behälterbereichs möglich ist.
Wie beim Bilden eines Einblickfensters kann bei allen Formkörpern der Oberflächenbereich über die gesamte Wandstärke des Grundkörpers transpa­ rent ausgebildet sein. Hierzu hat es sich bewährt, den einander gegen­ überliegenden Oberflächenbereichen jeweils mit einer separaten Heizquel­ le Wärme zuzuführen, um die Umwandlung des opaken, porösen Quarzglases in transparentes Quarzglas durchzuführen.
In einer bevorzugten, weiteren Ausführungsform ist der Formkörper gemäß der Erfindung als Bauteil eines Spiegelrohlings, wie Leichtgewichtsspie­ gelrohlings, ausgebildet und der transparente Oberflächenbereich bildet die mit einem Reflexionsbelag zu versehene Fläche des Spiegelrohlings. Dabei wird mittels des oben angegebenen Schlickergußverfahrens zunächst ein Grundkörper in Form eines Spiegelrohlings oder eines Bauteils eines Spiegelrohlings hergestellt. Dann wird diejenige Oberfläche des Spiegel­ rohlings oder des Bauteils, die mit einem Reflexionsbelag versehen werden soll, mittels einer oder mehrerer Heizquellen erhitzt. Dabei führen die zu erhitzende Oberfläche und die Heizquelle(n) eine Relativbewegung zu­ einander aus, so daß nach und nach die gesamte Oberfläche erhitzt und das Grundmaterial in den transparenten Zustand umgewandelt wird. Diese Ver­ fahrensweise zur Herstellung eines Formkörpers als Spiegelrohling ist wesentlich kostengünstiger als der aus dem Stand der Technik bekannte Zusammenbau eines Spiegelrohlings durch Verschweißen, Zusammenfritten oder Zusammensintern von mehreren Einzelbauteilen, an das sich gegebenen­ falls noch eine mechanische Bearbeitung anschließt.
Nachfolgend werden unter Bezugnahme auf die Zeichnungen bevorzugte Aus­ führungsbeispiele von erfindungsgemäßen Formkörpern erläutert.
In den Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 die Herstellung einer transparenten Schicht auf der Oberfläche eines Flansches,
Fig. 2 einen Schnitt entlang der Schnittlinie II-II in Fig. 1,
Fig. 3 einen Längsschnitt durch einen Leichtgewichtsspiegelrohling,
Fig. 4A einen Rohrabschnitt mit transparenter Außenschicht,
Fig. 4B einen Rohrabschnitt mit transparenter Innenschicht,
Fig. 4C einen Rohrabschnitt, dessen gesamte Wand transparent ausgeführt ist,
Fig. 5 einen Tiegel mit transparenter Innenschicht, und
Fig. 6 einen Behälter mit transparentem Einblickfenster.
Alle Grundkörper für die einzelnen Teile, wie sie in den Fig. 1 bis 6 dargestellt sind, werden nach dem Schlickergußverfahren hergestellt. Hierbei wird als Ausgangsmaterial hoch reines, amorphes Siliziumdioxid mit einer chemischen Reinheit von 99,9%. eingesetzt, das aus Quarzsand oder Bergkristall hergestellt wird. Gegebenenfalls lassen sich auch hoch reine Quarzabfälle, wie Quarzglasbruch, als Ausgangsmaterial einsetzen.
Das Ausgangsmaterial wird zu einem pulverförmigem Material zerkleinert, wobei die Teilchengröße unter 70 µm liegt, vorzugsweise in einem sehr engen Bereich zwischen 0,45 µm bis 50 µm. Diese Zerkleinerung er­ folgt in einer mit Polyurethan ausgekleideten Kugelmühle zusammen mit demineralisiertem Wasser. Um das Ausgangsmaterial chemisch rein zu hal­ ten, werden vorzugsweise Mahlkugeln eingesetzt, die aus Quarzglas be­ stehen. Der Schlicker wird in der Kugelmühle in Bewegung gehalten, bis keine Sedimentationserscheinungen mehr zu beobachten sind. In diesem Zustand beträgt der Feststoffgehalt in dem Schlicker etwa 80%. bei einem pH-Wert von 4,5. Anschließend wird der Schlicker in eine Hartgipsform eingegossen, die eine Negativform für den zu erstellenden Grundkörper darstellt. Nach einer mehrstündigen Verweilzeit des gesamten, eingegos­ senen Materials wird der Formkörper-Rohling der Form entnommen und ge­ trocknet. Eine solche Trocknung sollte schonend erfolgen, beispielsweise unter langsamer, stufenweiser Erhitzung bis auf 300°C, wobei die einzel­ nen Temperaturstufen in der Größenordnung von 10 bis 15 Stunden aufrecht­ erhalten werden. Die stufenweise Anhebung der Temperatur sollte etwa 15 bis 20°C betragen. Dieser getrocknete Formkörper-Rohling wird dann einer Hochtemperaturbehandlung in einem Ofen unterworfen, wobei eine Sinter­ temperatur von 1350°C bis 1450°C eingestellt wird. Der Hochtemperaturbe­ handlung von über 1300°C wird der Formkörper-Rohling für mindestens 40 Minuten ausgesetzt. Danach wird der gesinterte Rohling abgekühlt. Der nun vorliegende Grundkörper ist opak und porös. Es ist ersichtlich, daß solche Grundkörper in beliebigen Formen mit dem vorstehend beschriebenen, einfachen Gießverfahren hergestellt werden können. Hierbei sind auch komplizierte Strukturen möglich, wobei die Grenzen solcher Strukturen durch die herzustellenden Gießformen und die mögliche Entformbarkeit gegeben sind. Unter Umständen können verlorene Gipsformen eingesetzt werden, d. h. diese Gipsformen werden nach einer Trocknung des Ausgangsma­ terials zerstört.
An dieses Herstellungsverfahren des Grundkörpers schließt sich nun eine lokale Temperaturbehandlung im Bereich von 1650°C bis 2200°C an, um das poröse, opake Grundmaterial in ein transparentes Quarzglas umzuwandeln.
Hierzu wird das Grundmaterial so lange erhitzt, bis sich eine transparen­ te Oberflächenschicht aufbaut, deren Dicke mindestens 0,5 mm beträgt. Dabei erfolgt eine lokale Erwärmung mittels einer Heizquelle, wobei vor­ zugsweise ein Gasbrenner, wie Erdgas- oder Wasserstoff-Sauerstoff-Bren­ ner, ein Plasmabrenner, ein elektrischer Lichtbogen oder ein Laser, wie CO₂-Laser, eingesetzt werden. Wie ersichtlich ist, kann mit den unter­ schiedlichen Wärmequellen entweder eine lokale flächige Erwärmung des Grundkörpers erfolgen oder aber eine sehr definierte Erwärmung, bei­ spielsweise durch Einsatz eines Laserstrahls. Durch die Herstellung der transparenten Oberflächenschicht wird eine mikroskopisch sehr glatte Oberfläche erzeugt.
In Fig. 1 ist ein Flansch 1 dargestellt, an dessen Unterseite ein Steg 2 mitgegossen ist. Dieser Grundkörper ist mittels vorstehend angeführtem Gießverfahren gefertigt. Der Grundkörper wird in eine Dreheinrichtung eingespannt und um die Achse 3 in Richtung des Drehpfeils 4 gedreht. Auf die freie Oberfläche 5 des Flanschs 1 ist die Flamme 7 eines Wasser­ stoff-Sauerstoff-Brenners 6 gerichtet. Diese Flamme erwärmt einen lokalen Bereich der Oberfläche 5, der durch das Bezugszeichen 8 in Fig. 1 ange­ geben ist. Um die gesamte freie Flanschoberfläche zu erwärmen und damit eine transparente Oberflächenschicht 9 zu erzeugen, wie dies in Fig. 2 dargestellt ist, wird zusätzlich zu der Drehung des Flansches 1 um die Drehachse 3 der Brenner 6 in Richtung des Doppelpfeils 10 in radialer Richtung der Oberfläche des Flansches hin- und herbewegt. Eine solche Bewegung in Richtung des Doppelpfeils 10 kann von innen nach außen oder von außen nach innen erfolgen; unter Umständen kann aber auch eine oszil­ lierende Bewegung derart erfolgen, daß die einzelnen Oberflächenbereiche mehrfach durch die Flamme 7 des Brenners 6 Überstrichen werden.
Wie die Schnittdarstellung der Fig. 2 zeigt, wird in der dargestellten Ausführungsform nur eine transparente Oberflächenschicht 9 erzeugt, wäh­ rend die Unterseite des Flansches 1 sowie der Steg 2 als opakes Grundma­ terial 11 verbleiben.
Der Flansch, wie er in den Fig. 1 und 2 gezeigt ist, besitzt einen Außendurchmesser 12 von 280 mm und einen Innendurchmesser 13 von 200 mm. Die Dicke 14 des rohrförmigen Stegs 2 beträgt etwa 4 mm. Die verglaste, transparente Oberflächenschicht 9 ist in der gezeigten Ausführungsform in einer Dicke 15 von 3 mm ausgeführt, während die verbleibende, opake Ober­ flächenschicht 11 an der Unterseite des Flansches in einer entsprechenden Dicke 16 von 12 mm verbleibt.
Es ist ersichtlich, daß das Bauteil in Form des Flansches mit dem Steg 2 nicht nur an der Oberseite des Flansches mit einer transparenten Ober­ flächenschicht 9 versehen werden kann, sondern daß mit einer entsprechen­ den Abwandlung des Verfahrens auch weitere Bereiche des Bauteils, z. B. die Unterseite des Flansches oder auch der Innenumfang des rohrförmigen Stegs 2, transparent ausgeführt werden können.
Fig. 3 zeigt einen Spiegelträger-Rohling 17, der auf seiner Unterseite strukturiert ist und auf seiner Oberseite eine transparente Oberflächen­ schicht 9 aufweist, die nach dem erfindungsgemäßen Verfahren, z. B. mit einer Brenneranordnung, wie sie in Fig. 1 dargestellt ist, hergestellt ist. Insbesondere in Verbindung mit Spiegelträgerkörpern können mit dem erfindungsgemäßen Gießverfahren und der anschließenden Bildung einer transparenten Schicht 9 sehr komplizierte und feingliedrige Tragestruktu­ ren aufgebaut werden. Mit der transparenten Schicht 9 wird eine sehr glatte und nicht poröse Schicht geschaffen, auf die nach mechanischer Bearbeitung ein reflektierender Belag aufgebracht, beispielsweise aufge­ dampft, werden kann.
In den Fig. 4A, B und C sind einfache Rohrabschnitte gezeigt, um zu demonstrieren, daß mit dem erfindungsgemäßen Verfahren in einfacher Weise Rohre 19 gegossen werden können, die anschließend an definierten Stellen, z. B. an der Außenfläche 20 oder der Innenfläche 21, unter Wärmebehandlung mit einer transparenten Schicht 9 versehen werden können, wobei auf der jeweils gegenüberliegenden Seite eine opake Schicht aus dem Grundma­ terial 11 verbleibt. Falls erwünscht ist, kann der gesamte Rohrab­ schnitt 19 über seine gesamte Wandstärke verglast werden, wobei die er­ findungsgemäße Wärmebehandlung von der Außenseite oder der Innenseite oder von beiden Seiten erfolgen kann. Entsprechende Maßnahmen hängen von der Länge des Rohrabschnitts sowie dessen Durchmesser und der Wandstärke des Grundkörpers ab.
Die Fig. 5 zeigt einen Tiegel 22, der an seiner Oberseite einen nach außen vorstehenden, umlaufenden Flansch 23 besitzt. Der Tiegel ist nach dem erfindungsgemäßen Schlickergußverfahren als Grundkörper hergestellt. Wie in Fig. 5 angedeutet ist, ist die Innenfläche 24 sowie die nach oben gerichtete Außenfläche des Flansches 23 transparent ausgeführt, d. h. diese Flächenbereiche wurden wärmebehandelt, so daß in dem Grundmate­ rial 11 des Grundkörpers eine transparente Schicht 9 in einer Dicke im Bereich von 1 bis 2 mm gebildet wird. Auf diese Weise wird die Innenseite des Tiegels vergütet, d. h. die Poren werden geschlossen und es wird eine sehr glatte Oberfläche erzeugt. Es ist ersichtlich, daß solche Tiegel sehr kostengünstig hergestellt werden können, da für die Erzeugung der transparenten Quarzglas-Innenauskleidung des Tiegels keine besonderen Bauteile miteinander verschweißt werden müssen. Vielmehr wird nur ein aus Schlickerguß gegossener Grundkörper verwendet.
In fig. 6 ist eine Ausführungsform eines geschlossenen Behälters 25 ge­ zeigt, der aus zwei Hälften als Bauteile gebildet ist, wie durch die Trennlinie 28 angedeutet ist. Jede dieser Hälften ist nach dem Schlicker­ gußverfahren hergestellt. An einer Stelle der oberen Hälfte 26 ist ein Einblick-Fenster 27 vorgesehen, das durch lokale Wärmebehandlung des opaken Grundmaterials erzeugt wird. Anhand dieser Ausführungsform ist ersichtlich, daß definierte Stellen nachträglich, d. h. nach dem die bei­ den Grundkörper zum Behälter zusammengefügt sind, transparent gemacht werden können. Zum Aufbau des Grundkörpers müssen solche Fenster vorab nicht berücksichtigt werden, sondern sie können vielmehr den Anforde­ rungen des Kunden angepaßt werden. Bisher mußten solche Fenster nach­ träglich in die Wandung eines solchen Behälters eingeschweißt werden, wodurch sich eine sehr aufwendige und kostenintensive Verfahrensweise ergab.

Claims (23)

1. Formkörper aus Quarzglas, der mindestens einen Oberflächenbereich aus transparentem Quarzglas aufweist, dessen freie Oberfläche glatt ist und eine Oberflächenmikrorauhigkeit von kleiner als 8 µm besitzt, dadurch gekennzeichnet, daß er aus einem Grundkörper besteht, dessen Grundmaterial eine chemische Reinheit von mindestens 99,9%. und einen Cristobalitgehalt von höchstens 1%. besitzt, der gasundurchlässig und opak ist, Poren enthält, bei einer Wandstärke von 1 mm eine praktisch konstante, unterhalb 10%. liegende, direkte spektrale Transmission im Wellenlängenbereich λ = 190 nm bis λ = 2.650 nm besitzt und eine Dichte von wenigstens 2,15 g/cm³ aufweist, und daß der transparente Oberflächenbereich aus dem bei einer Temperatur oberhalb 1.650°C wärmebehandelten Grundmaterial gebildet ist, seine Dicke mindestens 0,5 mm beträgt und seine direkte spektrale Transmission, bei einer Schichtdicke von 1 mm im Wellenlängenbereich von λ = 600 nm bis λ = 2650 nm, einen Wert von mindestens 60%. besitzt.
2. Formkörper nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß er aus einem einzigen Grundkörper besteht.
3. Formkörper nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß we­ nigstens 80%. der Poren des Grundmaterials eine maximale Porenabmes­ sung von weniger als 20 µm, vorzugsweise von weniger als 10 µm, aufweisen.
4. Formkörper nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Porengehalt im Grundmaterial im Bereich von 0,5 bis 2,5%. pro Volumeneinheit liegt.
5. Formkörper nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der transparente Oberflächenbereich eine Flanschfläche bildet.
6. Formkörper nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper als Hohlkörper ausgebildet ist, wobei wenigstens ein Teilbereich seiner Außen- und/oder Innenoberfläche den transpa­ renten Oberflächenbereich bildet.
7. Formkörper nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die gesamte Außen- und/oder Innenoberfläche transparent ausgebildet ist.
8. Formkörper nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der transparente Oberflächenbereich über die gesamte Wandstärke des Grundkörpers transparent ausgebildet ist.
9. Formkörper nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper als Tiegel ausgebildet ist, dessen gesamte Innen­ oberfläche transparent bis zu einer Wandstärke von mindestens 1,0 mm ausgebildet ist.
10. Formkörper nach einem der Ansprüche 1 bis 4 und 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper als Bauteil eines Behälters aus­ gebildet ist und der transparente Oberflächenbereich über die gesamte Wandstärke des Grundkörpers transparent ausgebildet ist und ein Ein­ blickfenster bildet.
11. Formkörper nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper als Bauteil eines Spiegelrohlings, wie Leicht­ gewichtsspiegelrohlings, ausgebildet ist und der transparente Ober­ flächenbereich die mit einem Reflexionsbelag zu versehende fläche des Spiegelrohlings bildet.
12. Formkörper nach einem der Ansprüche 1 bis 8 und 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß der transparente Oberflächenbereich eine Dicke von mindestens 1,0 mm besitzt.
13. Verfahren zum Herstellen eines Formkörpers aus Quarzglas mit min­ destens einem Oberflächenbereich aus transparentem Quarzglas, dessen freie Oberfläche glatt ist und eine Mikrorauhigkeit von kleiner als 8 µm besitzt, dadurch gekennzeichnet, daß ein Grundkörper nach dem Schlickergußverfahren hergestellt wird, wobei Quarzglas einer Rein­ heit von mindestens 99,9% zu einem Pulver mit einer Teilchengröße unter 70 µm zerkleinert, ein Schlicker aus dem Pulver gebildet und während einer Zeitdauer von 1 bis 240 h durch fortwährendes Inbewe­ gunghalten stabilisiert wird, wobei der stabilisierte Schlicker in eine poröse, dem Grundkörper entsprechende Form eingefüllt und darin eine vorbestimmte Zeit belassen wird, wobei nach Entfernen der Form der erhaltene Grundkörper-Rohling getrocknet und danach in einem Ofen mit einer Aufheizgeschwindigkeit von 5 bis 60 K/min auf eine Sinter­ temperatur im Bereich von 1.350°C bin 1.450°C aufgeheizt, einer Temperatur von über 1.300°C während einer Zeitdauer von mindestens 40 min ausgesetzt und der gesinterte Grundkörper abgekühlt wird, und daß dann ein Oberflächenbereich des den Grundkörper bildenden opaken, porösen, gasundurchlässigen Grundmaterials lokal mittels einer Heiz­ quelle auf eine Temperatur im Bereich von 1.650°C bis 2.200°C zur Umwandlung des porösen, opaken Grundmaterials in transparentes Quarz­ glas solange erhitzt wird, bis die Dicke des transparenten Ober­ flächenbereichs mindestens 0,5 mm beträgt und seine direkte spektrale Transmission bei einer Schichtdicke von 1 mm im Wellenlängenbereich von λ = 600 nm bis λ = 2650 nm einen Wert von mindestens 60% be­ sitzt.
14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß als Heiz­ quelle ein Gasbrenner, wie Erdgas- oder Wasserstoff-Sauerstoff-Bren­ ner, ein Plasmabrenner, ein elektrischer Lichtbogen oder ein Laser, wie CO₂-Laser, eingesetzt wird.
15. Verfahren nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Heizquelle und der Oberflächenbereich relativ zueinander bewegt wer­ den.
16. Verfahren nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Heiz­ quelle hin und her über den Oberflächenbereich bewegt wird.
17. Verfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper als Flansch ausgebildet wird.
18. Verfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper als Hohlkörper ausgebildet wird und wenigstens ein Teilbereich seiner Außen- und/oder Innenoberfläche mittels der Heizquelle erhitzt wird.
19. Verfahren nach Anspruch 15 und Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß der Hohlkörper zur Erhitzung des Teilbereichs seiner Außen- und/oder Innenoberfläche rotiert wird.
20. Verfahren nach Anspruch 18 oder 19, dadurch gekennzeichnet, daß die gesamte Außen- und/oder Innenoberfläche mittels der Heizquelle er­ hitzt wird.
21. Verfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß die Erhitzung des Grundkörpers im Oberflächenbereich so lange durchgeführt wird, bis er über seine gesamte Wandstärke transparent ist.
22. Verfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper als Tiegel ausgebildet wird, dessen gesamte In­ nenoberfläche mittels der Heizquelle solange erhitzt wird, daß eine transparente Schicht von wenigstens 1,0 mm Dicke gebildet wird.
23. Verfahren nach einem der Ansprüche 13 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper als Bauteil eines Spiegelrohlings, wie Leichtge­ wichtsspiegelrohlings, ausgebildet wird und die Heizquelle über die­ jenige Oberfläche des Spiegelrohlings bewegt wird, die als Re­ flexionsfläche vorgesehen ist.
DE4440104A 1993-11-12 1994-11-10 Formkörper aus Quarzglas, Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus Quarzglas und Behälter aus Quarzglas Expired - Lifetime DE4440104C2 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4440104A DE4440104C2 (de) 1993-11-12 1994-11-10 Formkörper aus Quarzglas, Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus Quarzglas und Behälter aus Quarzglas

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4338807A DE4338807C1 (de) 1993-11-12 1993-11-12 Formkörper mit hohem Gehalt an Siliziumdioxid und Verfahren zur Herstellung solcher Formkörper
DE4440104A DE4440104C2 (de) 1993-11-12 1994-11-10 Formkörper aus Quarzglas, Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus Quarzglas und Behälter aus Quarzglas

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4440104A1 true DE4440104A1 (de) 1995-05-18
DE4440104C2 DE4440104C2 (de) 1996-04-25

Family

ID=6502525

Family Applications (4)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4338807A Expired - Lifetime DE4338807C1 (de) 1993-11-12 1993-11-12 Formkörper mit hohem Gehalt an Siliziumdioxid und Verfahren zur Herstellung solcher Formkörper
DE4434858A Expired - Lifetime DE4434858C2 (de) 1993-11-12 1994-09-29 UV-Sensor
DE59404672T Expired - Lifetime DE59404672D1 (de) 1993-11-12 1994-10-13 UV-Sensor
DE4440104A Expired - Lifetime DE4440104C2 (de) 1993-11-12 1994-11-10 Formkörper aus Quarzglas, Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus Quarzglas und Behälter aus Quarzglas

Family Applications Before (3)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4338807A Expired - Lifetime DE4338807C1 (de) 1993-11-12 1993-11-12 Formkörper mit hohem Gehalt an Siliziumdioxid und Verfahren zur Herstellung solcher Formkörper
DE4434858A Expired - Lifetime DE4434858C2 (de) 1993-11-12 1994-09-29 UV-Sensor
DE59404672T Expired - Lifetime DE59404672D1 (de) 1993-11-12 1994-10-13 UV-Sensor

Country Status (8)

Country Link
US (1) US5736206A (de)
EP (1) EP0653381B1 (de)
JP (2) JP3763420B2 (de)
KR (2) KR100321284B1 (de)
CN (1) CN1066696C (de)
CA (1) CA2135542C (de)
DE (4) DE4338807C1 (de)
WO (1) WO1995013248A1 (de)

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0909743A1 (de) * 1997-10-16 1999-04-21 Tosoh Corporation Undurchsichtiger Silikatglasgegenstand mit durchsichtigem Bereich und Verfahren zu dessen Herstellung
DE19930817C1 (de) * 1999-07-01 2001-05-03 Sico Jena Gmbh Quarzschmelze Verfahren zur Herstellung von Verbundkörpern aus Quarzmaterial
WO2001046077A1 (de) * 1999-12-22 2001-06-28 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Quarzglastiegel und verfahren für seine herstellung
DE19962451C1 (de) * 1999-12-22 2001-08-30 Heraeus Quarzglas Verfahren für die Herstellung von opakem Quarzglas und für die Durchführung des Verfahrens geeignetes Si0¶2¶-Granulat
EP1110917A3 (de) * 1999-12-22 2001-10-04 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Verfahren für die Herstellung von opakem Quarzglas und nach dem Verfahren hergestelltes opakes Bauteil
DE10019693A1 (de) * 2000-04-20 2001-10-31 Heraeus Quarzglas Verfahren zur Herstellung eines Bauteils aus opakem, synthet. Quarzglas, sowie nach dem Verfahren hergestelltes Quarzglasrohr
WO2002020424A1 (de) * 2000-09-07 2002-03-14 Wacker-Chemie Gmbh ELEKTROPHORETISCH NACHVERDICHTETE SiO2-FORMKÖRPER, VERFAHREN ZU IHRER HERSTELLUNG UND VERWENDUNG
US6405563B1 (en) 1997-10-16 2002-06-18 Tosoh Corporation Opaque silica glass article having transparent portion and process for producing same
US6699808B1 (en) 1999-09-09 2004-03-02 Wacker-Chemie Gmbh High-solids SiO2 dispersions, process for producing them, and their use
WO2006021416A1 (de) * 2004-08-23 2006-03-02 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Bauteil mit einer reflektorschicht sowie verfahren für seine herstellung
WO2006021415A2 (de) * 2004-08-23 2006-03-02 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Beschichtetes bauteil aus quarzglas sowie verfahren zur herstellung des bauteils
DE102005059291A1 (de) * 2005-12-09 2007-06-14 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren für die Herstellung eines Quarzglas-Bauteils sowie nach dem Verfahren erhaltenes Quarzglas-Bauteil
DE102007030698A1 (de) 2007-06-30 2009-01-02 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung eines Verbundkörpers aus einem Basiskörper aus opakem Quarzglas und einer dichten Versiegelunsschicht
US7563512B2 (en) 2004-08-23 2009-07-21 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Component with a reflector layer and method for producing the same
WO2011151154A1 (de) 2010-06-02 2011-12-08 Qsil Ag Quarzschmelze Ilmenau Quarzglaskörper sowie verfahren und gelkörper zur herstellung eines quarzglaskörpers
EP2460775A1 (de) * 2010-12-01 2012-06-06 Japan Super Quartz Corporation Verfahren zur Herstellung eines Quarzglastiegels, Quarzglastiegel
DE102011120932A1 (de) * 2011-12-14 2013-06-20 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren für die Herstellung eines Quarzglasbauteils miteiner transparenten Oberflächenschicht
WO2014085601A1 (en) * 2012-11-29 2014-06-05 Corning Incorporated Porous cellular structures of amorphous fused silica glass and method of their making
WO2015067688A1 (en) 2013-11-11 2015-05-14 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Composite material, heat-absorbing component, and method for producing the composite material
EP4108641A1 (de) 2021-06-24 2022-12-28 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Formkörper aus opakem quarzglas sowie verfahren zur herstellung desselben

Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19523954C2 (de) * 1995-07-05 1998-01-29 Heraeus Quarzglas Rohrförmiges Bauteil aus transparentem Quarzglas
JP3649802B2 (ja) * 1995-12-27 2005-05-18 信越石英株式会社 石英ガラス製フランジ及びその製造方法
GB9603128D0 (en) * 1996-02-15 1996-04-17 Tsl Group Plc Improved vitreous silica product and method of manufacture
EP0816297B1 (de) * 1996-07-04 2002-11-06 Tosoh Corporation Opakes Quarzglas und Verfahren zu dessen Herstellung
DE19738464A1 (de) * 1997-09-03 1999-03-04 Basf Ag Verwendung von Formkörpern als Katalysator zur Herstellung von Caprolactam
DE19801454C2 (de) * 1998-01-16 1999-12-09 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung eines UV-Strahlungs-Indexes
JP3793553B2 (ja) * 1999-03-31 2006-07-05 京セラ株式会社 黒色SiO2質耐食性部材及びその製造方法
EP1187170B1 (de) * 2000-08-29 2007-05-09 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Plasmafeste Quartzglas-Haltevorrichtung
AUPR054000A0 (en) * 2000-10-04 2000-10-26 Austai Motors Designing Pty Ltd A planetary gear apparatus
DE10052072B4 (de) * 2000-10-19 2005-06-16 Heraeus Tenevo Ag Verfahren zur Bearbeitung eines langgestreckten hohlzylindrischen Bauteils aus Quarzglas mittels Laserstrahlung
US20020083740A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-04 Pandelisev Kiril A. Process and apparatus for production of silica grain having desired properties and their fiber optic and semiconductor application
US7797966B2 (en) * 2000-12-29 2010-09-21 Single Crystal Technologies, Inc. Hot substrate deposition of fused silica
US20020083739A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-04 Pandelisev Kiril A. Hot substrate deposition fiber optic preforms and preform components process and apparatus
DE10158521B4 (de) * 2001-11-29 2005-06-02 Wacker-Chemie Gmbh In Teilbereichen oder vollständig verglaster SiO2-Formkörper und Verfahren zu seiner Herstellung
US6829908B2 (en) * 2002-02-27 2004-12-14 Corning Incorporated Fabrication of inclusion free homogeneous glasses
KR100913116B1 (ko) 2002-04-04 2009-08-19 토소가부시키가이샤 석영유리 용사부품 및 그 제조방법
DE10260320B4 (de) * 2002-12-20 2006-03-30 Wacker Chemie Ag Verglaster SiO2-Formkörper, Verfahren zu seiner Herstellung und Vorrichtung
DE10319300B4 (de) * 2003-04-29 2006-03-30 Wacker Chemie Ag Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus Kieselglas
DE10339676A1 (de) * 2003-08-28 2005-03-24 Wacker-Chemie Gmbh SiO2-Formkörper, Verfahren zu ihrer Herstellung und Verwendung
CN101023041B (zh) * 2004-08-23 2012-08-01 赫罗伊斯石英玻璃股份有限两合公司 具有反射体层的组件及其生产方法
DE102004054392A1 (de) * 2004-08-28 2006-03-02 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren zum Verbinden von Bauteilen aus hochkieselsäurehaltigem Werkstoff, sowie aus derartigen Bauteilen zusammengefügter Bauteil-Verbund
JP4484748B2 (ja) * 2005-04-08 2010-06-16 信越石英株式会社 シリカガラス製品の製造方法
EP1870388B1 (de) * 2005-04-15 2010-09-08 Asahi Glass Company Ltd. Verfahren zur verringerung des durchmessers einer blase in einer glasplatte
DE102006052512A1 (de) * 2006-11-06 2008-05-08 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung von opakem Quarzglas, nach dem Verfahren erhaltenes Halbzeug sowie daraus hergestelltes Bauteil
DE102008049325B4 (de) * 2008-09-29 2011-08-25 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG, 63450 Verfahren zur Herstellung eines rohrförmigen Halbzeugs aus Quarzglas sowie Halbzeug aus Quarzglas
IT1392068B1 (it) 2008-11-24 2012-02-09 Lpe Spa Camera di reazione di un reattore epitassiale
DE102009059015B4 (de) 2009-12-17 2014-02-13 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Quarzglasbauteil mit opaker Innenzone sowie Verfahren zur Herstellung desselben
DE102010045934B4 (de) * 2010-09-21 2012-04-05 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren für die Herstellung eines Quarzglastiegels mit transparenter Innenschicht aus synthetisch erzeugtem Quarzglas
JP5467418B2 (ja) * 2010-12-01 2014-04-09 株式会社Sumco 造粒シリカ粉の製造方法、シリカガラスルツボの製造方法
CN102167500B (zh) * 2011-01-10 2013-01-09 圣戈班石英(锦州)有限公司 一种不透明石英实验室器皿的制备方法
US9221709B2 (en) * 2011-03-31 2015-12-29 Raytheon Company Apparatus for producing a vitreous inner layer on a fused silica body, and method of operating same
US9193620B2 (en) 2011-03-31 2015-11-24 Raytheon Company Fused silica body with vitreous silica inner layer, and method for making same
CN105210173A (zh) * 2013-05-23 2015-12-30 应用材料公司 用于半导体处理腔室的经涂布的衬里组件
US9725351B2 (en) 2013-12-23 2017-08-08 Heraeus Quartz America Llc Method for forming opaque quartz glass components
TWI652240B (zh) 2014-02-17 2019-03-01 日商東曹股份有限公司 不透明石英玻璃及其製造方法
US10604438B2 (en) 2015-07-15 2020-03-31 Heraeus Quartz America Llc Process for joining opaque fused quartz to clear fused quartz
US10730780B2 (en) 2015-12-18 2020-08-04 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a quartz glass body in a multi-chamber oven
CN109153593A (zh) 2015-12-18 2019-01-04 贺利氏石英玻璃有限两合公司 合成石英玻璃粉粒的制备
US11952303B2 (en) 2015-12-18 2024-04-09 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Increase in silicon content in the preparation of quartz glass
CN108698883A (zh) 2015-12-18 2018-10-23 贺利氏石英玻璃有限两合公司 石英玻璃制备中的二氧化硅的喷雾造粒
EP3390308A1 (de) 2015-12-18 2018-10-24 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Glasfasern und vorformen aus quarzglas mit geringem oh-, cl- und al-gehalt
WO2017103115A2 (de) 2015-12-18 2017-06-22 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Herstellung eines quarzglaskörpers in einem schmelztiegel aus refraktärmetall
TWI720090B (zh) 2015-12-18 2021-03-01 德商何瑞斯廓格拉斯公司 於石英玻璃之製備中作為中間物之經碳摻雜二氧化矽顆粒的製備
JP6981710B2 (ja) 2015-12-18 2021-12-17 ヘレウス クワルツグラス ゲーエムベーハー ウント コンパニー カーゲー 二酸化ケイ素造粒体からの石英ガラス体の調製
TWI813534B (zh) 2015-12-18 2023-09-01 德商何瑞斯廓格拉斯公司 利用露點監測在熔融烘箱中製備石英玻璃體
KR20180095624A (ko) 2015-12-18 2018-08-27 헤래우스 크바르츠글라스 게엠베하 & 컴파니 케이지 불투명 실리카 유리 제품의 제조
DE102016012003A1 (de) 2016-10-06 2018-04-12 Karlsruher Institut für Technologie Zusammensetzung und Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus hochreinem, transparentem Quarzglas mittels additiver Fertigung
EP3339256A1 (de) * 2016-12-23 2018-06-27 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Verfahren zur herstellung von opakem quarzglas, und rohling aus dem opaken quarzglas
RU2650970C1 (ru) * 2017-05-04 2018-04-20 Акционерное общество "Научно-производственное объединение Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова" (АО "НПО ГОИ им. С.И. Вавилова") Способ получения кварцевой керамики
CN113165938A (zh) 2018-12-14 2021-07-23 东曹石英股份有限公司 不透明石英玻璃的制造方法
DE102020120565A1 (de) 2020-08-04 2022-02-10 Sick Ag Optoelektronischer Sensor, Glaslinse und Verfahren zur Herstellung einer Glaslinse
DE102020128337A1 (de) 2020-10-28 2022-04-28 Heraeus Noblelight Gmbh Strahlerbauteil mit einer Reflektorschicht sowie Verfahren für seine Herstellung
WO2022162923A1 (ja) 2021-01-30 2022-08-04 東ソー・クォーツ株式会社 不透明石英ガラス及びその製造方法
WO2023166547A1 (ja) 2022-03-01 2023-09-07 東ソ-・エスジ-エム株式会社 不透明石英ガラスおよびその製造方法
DE102022105673A1 (de) 2022-03-10 2023-09-14 PFW Aerospace GmbH Verfahren zur Herstellung eines mindestens zweischichtigen Sandwichbauelements
DE102022134350A1 (de) 2022-12-21 2024-06-27 Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT Werkstück aus Quarzglas für den Einsatz in einem plasmaunterstützten Fertigungsprozess sowie Verfahren zur Herstellung des Werkstücks

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US506303A (en) * 1893-10-10 Joseph j
DE543957C (de) * 1928-03-01 1932-02-12 Heraeus Gmbh W C Verfahren zum Herstellen von Rohren oder anderen Hohlkoerpern aus Quarz und anderen schwer schmelzbaren Stoffen
FR2133840A1 (en) * 1971-04-19 1972-12-01 Mellen Edward Thin quartz glass beakers - consisting of fused slip cast powder
GB1384319A (en) * 1971-04-19 1975-02-19 Sherwood Refractories Vitreous silica and process and apparatus for making same
US3972704A (en) * 1971-04-19 1976-08-03 Sherwood Refractories, Inc. Apparatus for making vitreous silica receptacles
CH566077A5 (de) * 1972-08-05 1975-08-29 Heraeus Schott Quarzschmelze
US4040795A (en) * 1974-06-04 1977-08-09 Lothar Jung Method for the conversion of crystalline silica raw materials into amorphous silica
US4086489A (en) * 1977-02-04 1978-04-25 Piltingsrud Harley V Ultra violet radiation personnel hazard meter
JPS5812280A (ja) * 1981-07-16 1983-01-24 松下電器産業株式会社 シ−ズヒ−タ
US5389582A (en) * 1985-11-06 1995-02-14 Loxley; Ted A. Cristobalite reinforcement of quartz glass
US4703173A (en) * 1986-03-06 1987-10-27 Fusion Systems Corporation Probe for collecting light for a radiation monitoring device
US4935046A (en) * 1987-12-03 1990-06-19 Shin-Etsu Handotai Company, Limited Manufacture of a quartz glass vessel for the growth of single crystal semiconductor
DE8800850U1 (de) * 1988-01-25 1988-03-24 Gerstel, Eberhard, 4330 Muelheim UV-Sensor
CN1045758A (zh) * 1989-03-22 1990-10-03 长沙市电子材料二厂 气炼法生产不透明乳白石英玻璃
DD300159A7 (de) * 1990-09-03 1992-05-27 Universal Quarzgut Schmelze Verfahren zur Herstellung von Erzeugnissen mit hohem SiO2-Gehalt
US5330941A (en) * 1991-07-24 1994-07-19 Asahi Glass Company Ltd. Quartz glass substrate for polysilicon thin film transistor liquid crystal display

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
NICHTS ERMITTELT *

Cited By (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6312775B1 (en) 1997-10-16 2001-11-06 Tosoh Quartz Corporation Opaque silica glass article having transparent portion and process for producing same
EP0909743A1 (de) * 1997-10-16 1999-04-21 Tosoh Corporation Undurchsichtiger Silikatglasgegenstand mit durchsichtigem Bereich und Verfahren zu dessen Herstellung
US6405563B1 (en) 1997-10-16 2002-06-18 Tosoh Corporation Opaque silica glass article having transparent portion and process for producing same
DE19930817C1 (de) * 1999-07-01 2001-05-03 Sico Jena Gmbh Quarzschmelze Verfahren zur Herstellung von Verbundkörpern aus Quarzmaterial
US6412306B1 (en) 1999-07-01 2002-07-02 Sico Jena Gmbh Quarzschmelze Process for producing composite bodies from quartz material
US6699808B1 (en) 1999-09-09 2004-03-02 Wacker-Chemie Gmbh High-solids SiO2 dispersions, process for producing them, and their use
DE19962451C1 (de) * 1999-12-22 2001-08-30 Heraeus Quarzglas Verfahren für die Herstellung von opakem Quarzglas und für die Durchführung des Verfahrens geeignetes Si0¶2¶-Granulat
DE19962452A1 (de) * 1999-12-22 2001-11-29 Heraeus Quarzglas Verfahren für die Herstellung von opakem Quarzglas und nach dem Verfahren hergestelltes opakes Bauteil
US6381987B1 (en) 1999-12-22 2002-05-07 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Process for making opaque quartz glass and opaque component made according to the process
EP1110917A3 (de) * 1999-12-22 2001-10-04 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Verfahren für die Herstellung von opakem Quarzglas und nach dem Verfahren hergestelltes opakes Bauteil
DE19962449A1 (de) * 1999-12-22 2001-07-12 Heraeus Quarzglas Quarzglastiegel und Verfahren für seine Herstellung
DE19962449C2 (de) * 1999-12-22 2003-09-25 Heraeus Quarzglas Quarzglastiegel und Verfahren für seine Herstellung
US6672107B2 (en) 1999-12-22 2004-01-06 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Quartz glass crucible and process for the production thereof
WO2001046077A1 (de) * 1999-12-22 2001-06-28 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Quarzglastiegel und verfahren für seine herstellung
DE19962452B4 (de) * 1999-12-22 2004-03-18 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren für die Herstellung von opakem Quarzglas
KR100716483B1 (ko) * 1999-12-22 2007-05-10 헤래우스 크바르츠글라스 게엠베하 & 컴파니 케이지 석영유리 도가니 및 그의 제조 방법
DE10019693A1 (de) * 2000-04-20 2001-10-31 Heraeus Quarzglas Verfahren zur Herstellung eines Bauteils aus opakem, synthet. Quarzglas, sowie nach dem Verfahren hergestelltes Quarzglasrohr
DE10019693B4 (de) * 2000-04-20 2006-01-19 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung eines Bauteils aus opakem, synthetischen Quarzglas, nach dem Verfahren hergestelltes Quarzglasrohr, sowie Verwendung desselben
WO2002020424A1 (de) * 2000-09-07 2002-03-14 Wacker-Chemie Gmbh ELEKTROPHORETISCH NACHVERDICHTETE SiO2-FORMKÖRPER, VERFAHREN ZU IHRER HERSTELLUNG UND VERWENDUNG
WO2006021415A3 (de) * 2004-08-23 2006-10-26 Heraeus Quarzglas Beschichtetes bauteil aus quarzglas sowie verfahren zur herstellung des bauteils
US7563512B2 (en) 2004-08-23 2009-07-21 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Component with a reflector layer and method for producing the same
WO2006021416A1 (de) * 2004-08-23 2006-03-02 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Bauteil mit einer reflektorschicht sowie verfahren für seine herstellung
EP2263981A3 (de) * 2004-08-23 2013-09-04 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Verfahren zur Herstellung eines Quarzglasbauteils
WO2006021415A2 (de) * 2004-08-23 2006-03-02 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Beschichtetes bauteil aus quarzglas sowie verfahren zur herstellung des bauteils
DE102005059291A1 (de) * 2005-12-09 2007-06-14 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren für die Herstellung eines Quarzglas-Bauteils sowie nach dem Verfahren erhaltenes Quarzglas-Bauteil
DE102005059291B4 (de) * 2005-12-09 2009-02-12 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren für die Herstellung eines Quarzglas-Bauteils
US8408027B2 (en) 2007-06-30 2013-04-02 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Method for the production of a composite body from a basic body of opaque quartz glass and a tight sealing layer
DE102007030698B4 (de) * 2007-06-30 2009-06-10 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung eines Verbundkörpers aus einem Basiskörper aus opakem Quarzglas und einer dichten Versiegelungsschicht sowie Verwendung des Verbundkörpers
DE102007030698A1 (de) 2007-06-30 2009-01-02 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Herstellung eines Verbundkörpers aus einem Basiskörper aus opakem Quarzglas und einer dichten Versiegelunsschicht
DE102010022534B4 (de) * 2010-06-02 2015-05-28 Thomas Kreuzberger Verfahren zur Herstellung eines Quarzglaskörpers
DE102010022534A1 (de) 2010-06-02 2011-12-08 Thomas Kreuzberger Quarzglaskörper sowie Verfahren und Gelkörper zur Herstellung eines Quarzglaskörpers
WO2011151154A1 (de) 2010-06-02 2011-12-08 Qsil Ag Quarzschmelze Ilmenau Quarzglaskörper sowie verfahren und gelkörper zur herstellung eines quarzglaskörpers
DE202010018292U1 (de) 2010-06-02 2015-07-14 Thomas Kreuzberger Quarzglaskörper und Gelbkörper zur Herstellung eines Quarzglaskörpers
EP2460775A1 (de) * 2010-12-01 2012-06-06 Japan Super Quartz Corporation Verfahren zur Herstellung eines Quarzglastiegels, Quarzglastiegel
US9469560B2 (en) 2010-12-01 2016-10-18 Japan Super Quartz Corporation Method of manufacturing vitreous silica crucible, vitreous silica crucible
DE102011120932A1 (de) * 2011-12-14 2013-06-20 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Verfahren für die Herstellung eines Quarzglasbauteils miteiner transparenten Oberflächenschicht
WO2014085601A1 (en) * 2012-11-29 2014-06-05 Corning Incorporated Porous cellular structures of amorphous fused silica glass and method of their making
US10370304B2 (en) 2012-11-29 2019-08-06 Corning Incorporated Fused silica based cellular structures
WO2015067688A1 (en) 2013-11-11 2015-05-14 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Composite material, heat-absorbing component, and method for producing the composite material
KR20160085314A (ko) * 2013-11-11 2016-07-15 헤래우스 크바르츠글라스 게엠베하 & 컴파니 케이지 복합 재료, 열흡수 성분, 및 상기 복합 재료의 제조 방법
US9957431B2 (en) 2013-11-11 2018-05-01 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Composite material, heat-absorbing component, and method for producing the composite material
KR102083617B1 (ko) 2013-11-11 2020-04-24 헤래우스 크바르츠글라스 게엠베하 & 컴파니 케이지 복합 재료, 열-흡수 구성요소, 및 상기 복합 재료의 제조 방법
EP4108641A1 (de) 2021-06-24 2022-12-28 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Formkörper aus opakem quarzglas sowie verfahren zur herstellung desselben

Also Published As

Publication number Publication date
EP0653381A1 (de) 1995-05-17
KR960705742A (ko) 1996-11-08
DE4338807C1 (de) 1995-01-26
JPH07267724A (ja) 1995-10-17
WO1995013248A1 (de) 1995-05-18
DE59404672D1 (de) 1998-01-08
KR100349412B1 (ko) 2002-11-14
KR950014027A (ko) 1995-06-15
US5736206A (en) 1998-04-07
DE4434858C2 (de) 1997-05-22
DE4440104C2 (de) 1996-04-25
CN1066696C (zh) 2001-06-06
CA2135542C (en) 2007-10-23
JP3763420B2 (ja) 2006-04-05
EP0653381B1 (de) 1998-04-29
CN1105650A (zh) 1995-07-26
DE4434858A1 (de) 1995-05-18
KR100321284B1 (ko) 2002-06-28
JPH09506324A (ja) 1997-06-24
JP3241046B2 (ja) 2001-12-25
CA2135542A1 (en) 1995-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4440104C2 (de) Formkörper aus Quarzglas, Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus Quarzglas und Behälter aus Quarzglas
EP1789370B1 (de) Beschichtetes bauteil aus quarzglas sowie verfahren zur herstellung des bauteils
DE69912668T2 (de) Kokille und Verfahren zur Herstellung von Siliziumstäben
DE2313276A1 (de) Verfahren zur herstellung von optischem glas
DE102016107630A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Formkörpers aus Glaskeramik mit komplexer Geometrie sowie solcherart hergestellter Formkörper
EP0920543A2 (de) Quarzglas-bauteil für ein reaktorgehäuse sowie herstellungsverfahren und anwendung dafür
EP1148035A2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Bauteils aus opakem, synthetischen Quarzglas sowie nach dem Verfahren hergestelltes Quarzglasrohr
DE2639259A1 (de) Vorrichtung zum ausformen optischer elemente aus glas
DE112013007710T5 (de) Verfahren zum Formen von Komponenten aus opakem Quarzglas
DE10260320B4 (de) Verglaster SiO2-Formkörper, Verfahren zu seiner Herstellung und Vorrichtung
EP0196719B1 (de) Verfahren und Vorrichtungen zur Herstellung von Glaskörpern
DE10158521B4 (de) In Teilbereichen oder vollständig verglaster SiO2-Formkörper und Verfahren zu seiner Herstellung
WO2005026067A1 (de) VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINES Si3N4 BESCHICHTETEN SiO2-FORMKÖRPERS
DE10324440A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines innenseitig verglasten SiO2-Tiegels
DE3623843C2 (de)
DE2827303C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Glasgegenstandes und dessen Anwendung
DE2757472A1 (de) Verfahren zur herstellung eines schlickergussgegenstandes
DE4011346A1 (de) Transportrohr und verfahren zu dessen herstellung
EP1658242A1 (de) Sio2-formkörper, verfahren zu ihrer herstellung und verwendung
DE102005025796A1 (de) Verfahren zum Verbinden von Bauteilen aus glasigem oder keramischem Werkstoff mittels einer Verbindungsmasse, SiO2-haltiges Fügemittel zur Durchführung des Verfahrens sowie nach dem Verfahren erhaltener Bauteilverbund
DE102005036746A1 (de) SiO2-Formkörper aus zwei Schichten, Verfahren zu ihrer Herstellung und Verwendung
EP0056597B1 (de) Wärmeisolierender keramischer Formkörper und Verfahren zu seiner Herstellung
DE4405331A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Keramikbauteils
DE19730742A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Werkstoffes, Formkörpern aus diesem Werkstoff und deren Verwendung
DE3422997A1 (de) Verfahren zur herstellung von lichtwellenleitern

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: HERAEUS QUARZGLAS GMBH & CO. KG, 63450 HANAU, DE

R071 Expiry of right