DE4304858C2 - Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines niederohmigen linearen Musters, und Solarzelle - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines niederohmigen linearen Musters, und SolarzelleInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und
eine Vorrichtung zur Herstellung eines linearen
Musters, das eine Breite von 100 Mikrons oder kleiner
und einen spezifischen Widerstand in der Größenordnung von
10-6 Ω*cm aufweist. Die vorliegende Erfindung bezieht sich
ebenfalls auf eine Solarzelle.
Fig. 9 stellt eine Querschnittsansicht dar, die schematisch
eine herkömmliche Solarzelle zeigt. Wie in Fig. 9 veranschaulicht,
weist eine aktive Schicht der Solarzelle 500
eine n-leitende (n-Typ) Si-Schicht 51 und eine p-leitende
(p-Typ) Si-Schicht 52 auf. Eine p-seitige Elektrode 53, die
ein lineares Muster aufweist, ist auf die p-leitende Si-Schicht
52 aufgebracht, und eine n-seitige Elektrode 54 ist
auf die rückwärtige Oberfläche der n-leitenden Si-Schicht 51
aufgebracht.
Als Verfahren zur Bildung einer Elektrode einer solchen herkömmlichen
Solarzelle wurde ein Dünnfilmbildungsverfahren
durch Aufdampfen oder Aufsprühen, ein Siebdruckverfahren,
ein Zeichen-Druck-Verfahren, ein Ätz-Verfahren gemäß EP 0 186 351 A2 oder dgl. verwendet. Zusätzlich
wurde eine Ag-Paste als Elektrodenmaterial einer herkömmlichen
Solarzelle verwendet. In jüngerer Zeit wird eine bei
niedriger Temperatur zu brennende Ag-Paste, deren Brenntemperatur
nur 150-180°C beträgt, in Gebrauch genommen.
Falls eine bei hoher Temperatur zu brennende Ag-Paste, deren
Brenntemperatur 700-800°C beträgt, für die Bildung einer
Elektrode einer amorphen Silicium-Solarzelle oder einer Solarzelle
vom Übergangstyp mikrokristallines/kristallines Silicium
verwendet wird, so wird die Übergangsstelle bzw. Kontaktstelle
in der aktiven Schicht der Solarzelle während des
Brennprozesses unvorteilhaft gebrochen.
Mittlerweile wird beim obenerwähnten Siebdruckverfahren
eine Ag-Paste, die Ag-Pulver, Glasfritte und organische Binder
aufweist, durch eine Druckmaske, die ein rostfreies Netz
aufweist, auf ein Substrat gedruckt, wobei
auf dem Netz ein Emulsions-Ätz-Muster bzw. ein durch
Lichteinwirkung auf eine lichtempfindliche Schicht herstellbares
Muster ausgebildet ist. Danach wird die Paste getrocknet
und gebrannt, um ein Elektrodenmuster, welches den erwünschten
spezifischen Widerstand aufweist, zu bilden. Die
durch dieses Verfahren herstellbare minimale Elektrodenbreite
beträgt 100-150 Mikrons, und eine Elektrode mit Abmessungen
unter diesen Werten kann nicht gebildet werden.
Falls die Elektrode 53 auf der lichtaufnehmenden Oberfläche
der in Fig. 9 gezeigten Solarzelle 500 mit diesem Siebdruckverfahren
gebildet wird, wird die Elektrodenbreite 53
100 Mikrons überschreiten, wodurch der effektive leistungserzeugende
Bereich 55 der lichtaufnehmenden Oberfläche abnimmt.
Im übrigen wird, falls das Elektrodenmuster verändert
wird, eine neue Siebdruck- bzw. Schutzmaske gebraucht, was
zu einer geringen Produktionsausbeute führt.
Die Fig. 8 stellt eine schematische Abbildung dar, die ein
Verfahren zum Aufbringen einer Paste auf ein Substrat
unter Verwendung einer Zeichnung- bzw. Zieh-Druck-Vorrichtung
zeigt, die in der japanischen veröffentlichten
Patentanmeldung Nr. 64-39078 offenbart ist. Beim
Zeichnung- bzw. Zieh-Druck-Verfahren wird ein Gefäß 10 mit
der Paste 13 gefüllt und mit auf gleichbleibender Temperatur
gehaltenem Wasser 14, welches um das Gefäß 10 zirkuliert,
warmgehalten. Das auf gleichbleibender Temperatur gehaltene
Wasser 14 wird von einem auf konstanter Temperatur gehaltenen
Gefäß 15 aus durch eine Pumpe 17 geschickt. Die Paste 13
wird mittels eines Schwimmers 12, der mit Luftdruck 11 beaufschlagt
ist, ausgedrückt und durch eine Düse 18 abgegeben,
wobei ein erwünschtes Muster auf das Substrat 16 gezeichnet
wird. Dieses Verfahren löst die Probleme des herkömmlichen
Siebdruckverfahrens. Falls jedoch nun ein lineares
Muster, das eine Breite kleiner als 100 Mikrons aufweist,
mit diesem Verfahren unter Verwendung der mit
niedriger Temperatur gebrannten Ag-Paste gezeichnet und
danach bei 150-180°C gebrannt wird, um ein Elektrodenmuster
einer amorphen Silicium-Solarzelle oder Solarzelle
vom Übergangstyp mikrokristallines/kristallines Silicium zu
bilden, ist der spezifische Widerstand des Elektrodenmusters
höher als 5*10-5 Ω*cm, so daß der in der Zelle erzeugte
Strom nicht effizient entnommen werden kann, und sich somit
die Charakteristik der Solarzelle verschlechtert.
Da ferner bei dem oben beschriebenen Siebdruckverfahren und
dem Zeichnung- bzw. Zieh-Druck-Verfahren eine Paste verwendet
wird, ist ein Brennvorgang der Paste nach der Ausbildung
des Musters erforderlich. Dieser Vorgang benötigt viel Zeit.
Deshalb wird das Muster mit keiner hohen Effizienz gebildet.
Hinzu kommt, falls die mit hoher Temperatur gebrannte Paste
verwendet wird, daß eine plötzliche Temperaturänderung zwischen
dem Brennvorgang und dem Kühlvorgang nach dem Brennen
auftritt, so daß das Substrat, auf dem das Muster gebildet
wird, bei diesem Temperaturwechsel unvorteilhaft deformiert
wird.
Aus der Offenlegungsschrift DE 23 18 053 ist eine Solarzelle
bekannt, die eine aktive Schicht mit mindestens einer p-leitenden
und einer n-leitenden Schicht und Elektroden zur
Entnahme des in der aktiven Schicht erzeugten Stromes aufweist,
wobei eine dieser Elektroden ein lineares Muster
bildet. Das lineare Muster besteht aus Kontaktfingern, die
sich über die gesamte Breite einer aktiven Schicht erstrecken.
Die einzelnen Kontaktfinger sind am Seitenrand durch
ein elektrisch leitendes Material miteinander verbunden. Um
die Fläche der aktiven Schicht groß zu halten, aber dennoch
den Widerstand innerhalb eines Kontaktfingers auf ein Minimum
zu reduzieren, sind die Kontaktfinger so ausgebildet,
daß sich die Breite der Kontaktfinger von der elektrisch
leitenden Verbindung am Seitenrand weg zum anderen Seitenrand
hin verjüngen. Mit dieser Maßnahme vermindert sich der
Querschnittswiderstand jedes Kontaktfingers in Richtung auf
die elektrisch leitende Verbindung hin. Jeder aus der aktiven
Schicht abgezogene Ladungsträger muß aber weiterhin innerhalb
eines dünnen Kontaktfingers eine große Distanz
überbrücken, so daß ein Mindestwiderstand nicht unterschritten
werden kann.
Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren
und eine Vorrichtung zur Herstellung eines linearen Musters
zu schaffen, mit dem ein lineares Muster, das eine
Breite
kleiner als 100 Mikrons und einen spezifischen Widerstand in
der Größenordnung von 10-6 Ω*cm aufweist, bei einer Temperatur
unter 200°C in einem einfachen Prozeß herstellbar ist, und
eine leistungsfähige Solarzelle zu schaffen, in der
ein effektiver, leistungserzeugender Bereich vergrößert, ein
spezifischer Widerstand einer Elektrode reduziert und eine
Übergangszone in einer aktiven Schicht nicht zerstört wird.
Diese Aufgabe wird mit den Ansprüchen 1 und 14 gelöst.
Andere Zielsetzungen und Vorteile der vorliegenden Erfindung
werden durch die detaillierte Beschreibung, die hieran anknüpft,
ersichtlich; es ist hervorzuheben, daß die detaillierte
Beschreibung und eine spezifische Ausgestaltung nur
mit der Absicht einer reinen Veranschaulichung gegeben wird,
da verschiedene Veränderungen und Modifikationen innerhalb
des Erfindungsgedankens und Erfindungsbereiches für den
Fachmann aus dieser detaillierten Beschreibung ersichtlich
werden.
Gemäß einem ersten Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung wird
bei einem Verfahren zur Herstellung eines linearen Musters
wie folgt vorgegangen:
Ein Metall mit einem niedrigen Schmelzpunkt wird in einem Gefäß in seinem
geschmolzenen Zustand gehalten; das geschmolzene Metall wird
mit Hilfe der Kapillarwirkung an die Spitze eines Zeichenkopfes,
der die Oberfläche des Substrats berührt, gelenkt;
das geschmolzene Metall wird auf das Substrat in einer Linie,
die dünner als 100 Mikrons ist, aufgebracht, wobei der
Zeichenkopf bewegt wird; und das lineare Muster des geschmolzenen
Metalls auf dem Substrat wird gekühlt, wodurch es sich spontan
auf dem Substrat verfestigt. Das lineare Muster, das eine Breite kleiner
als 100 Mikrons und einen spezifischen Widerstand in der
Größenordnung von 10-6 Ω*cm aufweist, wird dadurch in einem
einfachen Vorgang mit hoher Effizienz gebildet.
Gemäß einem zweiten Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung wird
ein Metall mit niedrigem Schmelzpunkt verwendet, wobei der
Schmelzpunkt unterhalb 200°C liegt. Deshalb wird, falls das
oben beschriebene lineare Muster auf einer aktiven Schicht
hergestellt worden ist, die amorphes Silicium oder
mikrokristallines Silicium einer Solarzelle als eine Elektrode
der Solarzelle aufweist, der Übergangsbereich der aktiven
Schicht nicht zerstört.
Gemäß einem dritten Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung weist
eine Muster-Zeichen-Einheit ein Gefäß auf, mit dem ein Metall
mit niedrigem Schmelzpunkt in dessen geschmolzenem Zustand
gehalten werden kann, und der Zeichenkopf bzw. zumindest
eine der Komponenten Substrat oder Muster-Zeicheneinheit
werden in einer vorgeschriebenen Richtung durch eine
Computersteuerung bewegt bzw. relativ zueinander bewegt.
Deshalb sind das zu bildende Muster und die Bedingungen
zum Aufbringen des geschmolzenen Metalls einfach und
schnell mit dem in dem Computer gespeicherten Programm zu
ändern.
Gemäß einem vierten Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung weist
eine auf einer lichtaufnehmenden Oberfläche einer aktiven
Schicht einer Solarzelle aufgebrachte Elektrode ein lineares
Muster auf, das eine Breite unter 100 Mikrons und einen spezifischen
Widerstand in der Größenordnung von
10-6 Ω*cm aufweist. Deshalb nimmt der effektive leistungserzeugende
Bereich der Solarzelle zu, und ein in der aktiven
Schicht erzeugter Strom wird mit hoher Effizienz entnommen.
Weitere Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung sind
Gegenstand der weiteren Unteransprüche.
Fig. 1 ist eine Querschnittsansicht, die schematisch eine
Vorrichtung zur Herstellung eines linearen Musters in
Übereinstimmung mit einer Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung veranschaulicht;
Fig. 2 ist eine perspektivische Ansicht, die schematisch
eine Spitze eines in Fig. 1 gezeigten Zeichnungskopfes
veranschaulicht;
Fig. 3a und 3b sind Abbildungen, in denen jede eine Beziehung
zwischen einem Mischungsverhältnis und einem
Schmelzpunkt einer Indiumlegierung zeigt;
Fig. 4 ist eine Querschnittsansicht einer Solarzelle in
Übereinstimmung mit einer weiteren Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung;
Fig. 5 ist eine perspektivische Ansicht einer Solarzelle in
Übereinstimmung mit einer weiteren Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung;
Fig. 6 ist eine Querschnittsansicht eines Solarzellenmoduls,
in dem eine Vielzahl der in Fig. 5 gezeigten
Solarzellen miteinander verbunden sind;
Fig. 7 ist eine perspektivische Ansicht einer Vorrichtung
zur Herstellung eines linearen Musters in Übereinstimmung
mit einer anderen Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 8 ist eine Querschnittsansicht einer Zeichnung- bzw.
Zieh-Druck-Vorrichtung, die die Paste in Übereinstimmung
mit dem Stand der Technik als das zu zeichnende
Mustermaterial verwendet; und
Fig. 9 ist eine Querschnittsansicht einer Solarzelle in
Übereinstimmung mit dem Stand der Technik.
Fig. 1 ist eine Querschnittsansicht, die schematisch eine
Struktur einer Vorrichtung zur Herstellung eines linearen Musters
in Übereinstimmung mit der ersten Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung zeigt. In Fig. 1 bezeichnet das Bezugszeichen
100 eine Vorrichtung zur Herstellung eines linearen
Musters. Die Vorrichtung 100 weist ein mit
geschmolzenem Indium 1 gefülltes Gefäß 2, einen mit
dem Gefäß 2 verbundenen Zeichenkopf 3, eine Abdeckung
6, die das Gefäß 2 und den Zeichenkopf 3 bedeckt, und einen
Gaseinlaß 5 auf, durch welches inertes Gas in den Raum innerhalb
der Abdeckung 6 eingelassen wird. Zusätzlich bezeichnet
das Bezugszeichen 4 ein Substrat,
auf dem ein lineares Muster gebildet wird. Die Bezugszeichen
8 bzw. 7 bezeichnen schmale Nuten oder Rinnen, die
in dem Gefäß 2 bzw. im Zeichenkopf 3 ausgebildet sind. Das
Gefäß 2 und der Zeichenkopf 3 werden auf einer
vorgeschriebenen Temperatur warmgehalten, so daß das Indium
in seinem geschmolzenen Zustand gehalten wird. Fig. 2 ist
eine perspektivische Ansicht, die schematisch die Spitze des
Kopfes 3 zeigt. In der Fig. 2 ist die Spitze des Kopfes 3
zylindrisch ausgebildet und weist einen Radius
R auf. Zusätzlich sind das Gefäß 2 und der Zeichenkopf
3 von einem solchen Material gebildet, daß z. B. das Indium
in einem geschmolzenen Zustand gehalten werden kann und es
dem Indium ermöglicht wird, die Rinnen 7 und 8 mit Hilfe der
Kapillarwirkung zu durchdringen bzw. zu durchströmen. Vorzugsweise
wird Fe, eine Legierung von Fe oder ein anderes
Metall verwendet.
Im folgenden wird eine Beschreibung für ein Verfahren zur
Herstellung eines linearen Musters unter Verwendung der Vorrichtung
100 gegeben.
Das geschmolzene Indium 1 im Gefäß 2, das einen Schmelzpunkt
von 156,6°C besitzt, durchdringt die schmalen Rinnen 8 und
7 mit Hilfe der Kapillarwirkung und fließt in den Rinnen, um
die Spitze des Zeichenkopfes 3 zu erreichen. In diesem Stadium
breitet sich, da der Zeichenkopf 3 ebenfalls warmgehalten
wird, das geschmolzene Indium über das Oberflächenende
der Spitze des Kopfes aus und verbleibt wegen seiner
Oberflächenspannung in diesem Stadium. Danach wird ein
Teil der Spitze des zylindrischen Kopfes mit der Oberfläche
des Substrats 4 in Kontakt gebracht, wodurch das geschmolzene
Indium 1 auf das Substrat 4 aufgebracht wird. Zu
diesem Zeitpunkt ist das geschmolzene Indium 1 auf der Oberfläche
des Substrats 4 durch die Oberflächenspannung des geschmolzenen
Indiums 1 und die Benetzbarkeit des Substrates
bzw. der Oberfläche 4 mit geschmolzenem Indium 1 angeheftet.
Die Breite des geschmolzenen, in einer Linie aufgebrachten
Indiums 1 wird durch die Oberflächenspannung des geschmolzenen
Indiums, die Benetzbarkeit der Oberfläche mit geschmolzenem
Indium, die Bewegungsgeschwindigkeit des Kopfes 3, den
Radius R der Endoberfläche des Kopfes 3 und dgl.
eingestellt bzw. gesteuert. Durch Anpassung dieser Bedingungen
in vorgeschriebenen Bereichen wird das geschmolzene Indium
1 auf das Substrat 4 mit hoher Präzision in einer Linie
aufgebracht, die schmaler als 100 Mikrons ist. Das geschmolzene
Indium auf dem Substrat 4 wird abgekühlt, weil
die Wärme des geschmolzenen Indiums durch das Substrat 4
absorbiert wird, wodurch es sich verfestigt und in der Form
verbleibt, in der es aufgebracht worden ist, was zu einem
linearen Muster führt, das eine Breite kleiner als 100 Mikrons
und einen spezifischen Widerstand von 8*10-6 Ω*cm aufweist.
In den Verfahrensschritten wird das geschmolzene Indium
1, während es auf dem Substrat aufgebracht wird und
sich verfestigt, nicht oxidiert, da der Raum innerhalb der
Abdeckung 6 mit einem inerten Gas gefüllt ist, und es wird
kein oxidierender Schlamm in den Rinnen 7 und 8 und auf der
Spitze des Kopfes 3 erzeugt. Deshalb wird der Weg von dem
Gefäß 2 zu der Spitze des Zeichenkopfes 3 nicht durch das
geschmolzene Indium blockiert, so daß eine Unterbrechung des
Musters, Variationen in der Breite des Musters oder dgl.
vermieden wird.
Während bei der oben beschriebenen Ausführungsform die Vorrichtung
nur einen Zeichenkopf 3 aufweist, kann sie eine
Vielzahl von Zeichenköpfen aufweisen. In diesem Fall werden
eine Vielzahl von linearen Mustern, die parallel zueinander
verlaufen, zur gleichen Zeit gebildet, wodurch die Zeit zur
Bildung des Musters reduziert wird.
Während in der oben beschriebenen ersten Ausführungsform die
Spitze des Zeichenkopfes 3 die Oberfläche des Substrats 4 im
Falle des Aufbringens von geschmolzenem Indium auf das Substrat
berührt, kann die Spitze des Zeichenkopfes 3 auch
sehr nahe bzw. dicht an der Oberfläche des Substrats
positioniert werden.
Zusätzlich ist das Metall mit dem niedrigen Schmelzpunkt
nicht auf Indium beschränkt.
Fig. 4 ist eine Querschnittsansicht einer Solarzelle vom
Übergangstyp mikrokristallines/kristallines Silicium gemäß
einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. In
der Fig. 4 weist eine aktive Schicht der Solarzelle 150
eine p-leitende mikrokristalline Siliciumschicht 22 und eine
n-leitende kristalline Siliciumschicht 23 auf. Eine lichtdurchlässige
Elektrode 21, die von einer sog. ITO-(Indium-Zinn-Oxid)Schicht
oder dgl. gebildet ist, ist auf der p-leitenden
mikrokristallinen Siliciumschicht 22 angeordnet. Eine
p-seitige Elektrode 20, die Indium aufweist, ist auf der
lichtdurchlässigen Elektrode 21 angeordnet. Eine n-seitige
Elektrode 24, die Aluminium oder dgl. aufweist, ist auf der
rückwärtigen Oberfläche der n-leitenden kristallinen Siliciumschicht
23 angeordnet.
Bei dieser Ausführungsform wird unter Verwendung der
in Fig. 1 gezeigten Vorrichtung ein lineares Muster, das
Indium aufweist und eine Breite kleiner als 100 Mikrons besitzt,
auf der lichtaufnehmenden bzw. Lichtempfangs-Oberfläche
der aktiven Schicht gebildet, d. h. auf der lichtdurchlässigen
Elektrode 21, wodurch die p-seitige Elektrode 20
hergestellt ist. Die lichtdurchlässige Elektrode 21 wird somit
nicht über den Schmelzpunkt des Indiums, d. h. 156,6°C
erwärmt, so daß die aktive Schicht somit nicht über diese
Temperatur erwärmt wird und die pn-Übergangsstelle zwischen
der p-leitenden mikrokristallinen Siliciumschicht 22 und der
n-leitenden kristallinen Siliciumschicht 23 nicht zerstört
wird. Da zusätzlich die Breite der p-seitigen Elektrode
kleiner als 100 Mikrons ist und der spezifische Widerstand
davon in der Größenordnung von 10-6 Ω*cm liegt, wird der effektive
leistungserzeugende Bereich 25 vergrößert, wodurch
die Leistungserzeugung in der aktiven Schicht gesteigert ist
und der erzeugte Strom mit hoher Effizienz entnommen wird.
Während bei der oben beschriebenen Ausführungsform
Indium als Metall mit niedrigem Schmelzpunkt verwendet wird,
können selbstverständlich auch andere Metalle, die einen
Schmelzpunkt unterhalb 200°C aufweisen, ebenso benutzt werden.
Zusätzlich können Indium-Zinn-Legierungen, Indium-Blei-Legierungen
oder dgl. verwendet werden, solange ihr Mischungsverhältnis
so gewählt ist, daß ihr Schmelzpunkt unterhalb
200°C liegt.
Die Fig. 6 ist eine schematische Abbildung, die ein Solarzellenmodul
in Übereinstimmung mit einer anderen Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung veranschaulicht. In der
Fig. 6 weist das Solarzellenmodul 300 Solarzellen 200a, 200b
und 200c auf, die miteinander über Cu-Drähte 26 elektrisch
verbunden sind.
Die Fig. 5 ist eine perspektivische Ansicht, die eine Struktur
der Solarzelle 200a (200b, 200c) gemäß Fig. 6
detaillierter zeigt. Die Solarzelle 200 gemäß Fig. 5 ist
grundsätzlich identisch mit der in Fig. 4 gezeigten Solarzelle
150, wobei die gleichen Bezugszeichen wie in Fig. 4
die gleichen oder entsprechenden Teile bezeichnen.
In der Solarzelle 200 weist eine auf der lichtaufnehmenden
Oberfläche der aktiven Schicht angeordnete Elektrode eine
Vielzahl von linearen Elektroden 20a, die parallel zueinander
verlaufen, und eine lineare Elektrode 20b auf, die die
Elektroden 20a schneidet. Die Elektroden 20a weisen eine Indiumlegierung,
wie z. B. eine Indium-Zinn-Legierung (In-Sn-Legierung)
oder eine Indium-Blei-Legierung (In-Pb-Legierung)
auf, die im Vergleich zu der Indium-Legierung für die Elektrode
20b einen unterschiedlichen Schmelzpunkt und ein
unterschiedliches Mischungsverhältnis haben. Im einzelnen
ist der Schmelzpunkt der Indium-Legierung für die Elektrode
20b niedriger als der Schmelzpunkt der Indium-Legierung für
die Elektroden 20a. Diese Elektroden 20a und 20b werden in
der gleichen Weise gebildet, wie bei der Ausführungsform,
bei der die Vorrichtung gemäß Fig. 1 verwendet
wird. Die Breite jeder einzelnen Elektrode ist kleiner als
100 Mikrons. Zusätzlich ist ein Ende des Cu-Drahtes mit der
Elektrode 20b durch herkömmliche Verbindungs- bzw. Lötmittel
verbunden, wobei das andere Ende davon mit einer Elektrode
auf der rückwärtigen Oberfläche der benachbarten Zelle, wie
in der Fig. 6 gezeigt, verbunden ist. Die Fig. 3a zeigt zusätzlich
eine Beziehung zwischen dem Mischungsverhältnis und
dem Schmelzpunkt der In-Sn-Legierung, und Fig. 3b zeigt eine
Beziehung zwischen dem Mischungsverhältnis und dem Schmelzpunkt
der Pb-In-Legierung. Wie in den Fig. 3a und 3b gezeigt,
können die Schmelzpunkte dieser Indium-Legierungen in
vielfältiger Weise variiert werden, ohne 200°C zu überschreiten.
Gemäß dieser Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
wird die Indium-Legierung mit dem höheren Schmelzpunkt für
die linearen Elektroden 20a verwendet, die zuerst auf der
aktiven Schicht ausgebildet werden, und die Indium-Legierung
mit dem niedrigeren Schmelzpunkt wird für die linearen Elektroden
20b verwendet, die als zweites gebildet werden. Wenn
die Elektrode 20b dann über den Elektroden 20a ausgebildet
wird, werden die Elektroden 20a nicht erneut geschmolzen,
was zu einem verbesserten Elektrodenmuster ohne Bruchstellen
führt. Da die Schmelzpunkte der oben beschriebenen Indium-Legierungen
darüber hinaus unterhalb 200°C liegen, wird eine
p-n-Übergangsstelle bzw. ein p-n-Übergangsbereich innerhalb
der Zelle nicht zerstört, was eine Verschlechterung der Bauelementscharakteristik
verhindert.
Wird der Cu-Draht 26 mit der Elektrode 20b mittels Lötmittel
verbunden, so sollte der Schmelzpunkt des Lots niedriger als
der Schmelzpunkt der Elektrode 20b sein. In diesem Fall wird
das Lötmittel bzw. das Lot mit einem Schmelzpunkt unter dem
der Elektrode 20b aus herkömmlichen Loten wie z. B. Pb-Sn-Legierungen,
Pb-Ag-Legierungen, Bi-Sn-Legierungen und dgl.
ausgewählt, wodurch ein Brechen der linearen Elektrode 20b
vermieden wird, wenn der Cu-Draht 26 damit verbunden wird.
Während in der oben veranschaulichten Ausführungsform
die Indium-Legierung für die Elektroden 20a und 20b
verwendet wird, kann jede davon aus Indium mit den gleichen
Effekten wie oben beschrieben gebildet werden.
Im folgenden wird eine Beschreibung einer weiteren Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung gegeben. Eine mit dieser
Ausführungsform erzielte Solarzellenstruktur
ist identisch mit der in Fig. 4 gezeigten Solarzelle. Wenn
die in Fig. 4 gezeigte, p-seitige Elektrode 20, die Indium
aufweist, ausgebildet wird, werden kugelförmige oder flockenartige
Metallteilchen, wie z. B. Ag, Au, Cu, Pt oder
dgl., die einen höheren Schmelzpunkt und einen niedrigeren,
spezifischen Widerstand als Indium besitzen, in das geschmolzene
Indium gemischt. Ein mittlerer Durchmesser der
Teilchen sollte 1-10 Mikrons betragen.
Gemäß dieser Ausführungsform ist der spezifische Widerstand
pro Volumen des linearen Musters signifikant durch die
in das Metall mit niedrigem Schmelzpunkt gemischten Metallteilchen
reduziert, wodurch die Stromdichte in der Elektrode
in dem Maße zunimmt, wie das Volumen des linearen Musters
abnimmt, mit dem Ergebnis, daß der Leistungsverlust vermindert
ist und die Solarzellencharakteristik signifikant verbessert
wird.
Die Fig. 7 stellt eine perspektivische Ansicht dar, die eine
Vorrichtung zur Herstellung eines linearen Musters in Übereinstimmung
mit einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung zeigt. In Fig. 7 ist ein Substrat
39, auf der ein lineares Muster gebildet wird, auf einem
auf einer Bodenplatte 41 der Vorrichtung 400 angeordneten
Objektträger 40 aufgelegt. Ein Gefäß 30 ist mit einem
Metall mit niedrigem Schmelzpunkt wie z. B. Indium gefüllt
und auf einer vorgeschriebenen Temperatur warm gehalten, um
das Metall in seinem geschmolzenen Zustand zu halten. Das
Metall mit niedrigem Schmelzpunkt in dem Gefäß 30 wird durch
eine Kapillarwirkung zu dem Zeichenkopf 32 befördert. Der
Zeichenkopf 32 wird ebenso auf einer vorgeschriebenen Temperatur
warmgehalten. Das Gefäß 30 und der Zeichenkopf 32 bilden
eine Musterzeicheneinheit 31. Ein Y-Richtungs-Antriebsmotor
33 ist am Musterzeichengerät 31 befestigt und bewegt
sich entlang einer Stange 37. Ein gleitend verschiebbares
Bauteil 36 bzw. ein Schlitten ist an einem Ende der Stange
37 befestigt und bewegt sich entlang einer Halteachse 35,
die die Stange 37 in einem rechten Winkel schneidet. Ein X-Richtungs-Antriebsmotor
34 ist an dem gegenüberliegenden
Ende der Stange 37 befestigt und bewegt sich entlang der
Stange 38, die die Stange 37 in einem rechten Winkel schneidet.
Der Y-Richtungs-Antriebsmotor 33 und der X-Richtungs-Antriebsmotor
34 werden durch einen Rechner 43 extern angesteuert.
Der Aufbau des Zeichenkopfes 32 ist im wesentlichen
der gleiche wie derjenige des in Fig. 2 gezeigten Zeichenkopfs
3. Der Rechner 43 steuert die Erwärmung des Gefäßes 30
und des Zeichenkopfes 32. Zusätzlich wird gasförmiger Stickstoff
durch ein Stickstoffgaseinlaß 44 in das Gefäß 30 eingelassen,
um einen Druck auf das geschmolzene Metall in dem
Gefäß 30 auszuüben, wobei das geschmolzene Metall durch Kapillarwirkung
dem Zeichenkopf 32 zugeführt wird. Gasförmiger
Stickstoff wird ebenfalls in den Kasten 42 durch ein Stickstoffgaseinlaß
45 eingelassen.
Gemäß dieser Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
ist das mit dem Metall mit niedrigem Schmelzpunkt gefüllte
Gefäß 30 und der Zeichenkopf 32 zu einer Muster-Zeicheneinheit
31 vereinigt, und die Bewegung und die Erwärmung der
Muster-Zeicheneinheit 31 werden in Übereinstimmung mit den
in dem Rechner 43 gespeicherten Programmen gesteuert. Das zu
bildende Muster und die Aufbringungszustände und -bedingungen
des geschmolzenen Metalls werden somit einfach und
schnell abgeändert, so daß die Produktionsausbeute verbessert
wird, wenn verschiedene Arten von linearen Mustern in
jeweils kleinen Losen ausgebildet werden. Zusätzlich kann
das Material des Musters lediglich durch Austauschen der Muster-Zeicheneinheit
31 geändert werden, was die Auswechselschwierigkeiten
des Materials vermindert.
Während in der oben beschriebenen Ausführungsform
die Bewegung der Muster-Zeicheneinheit 31 durch den Rechner
43 gesteuert wird, kann auch die Bewegung des Substrats 39
oder aber die Bewegungen sowohl von dem Substrat 39 als
auch von der Muster-Zeicheneinheit 31 durch den Rechner 43
gesteuert werden. Auch in diesem Fall werden die gleichen
Effekte wie oben beschrieben erzielt.
Obwohl Solarzellen vom Übergangstyp mikrokristallines/kristallines
Silicium in einer der voran beschriebenen
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben
werden, wird selbst für den Fall, daß lineare Elektroden auf
einer lichtaufnehmenden Oberfläche einer amorphen Silicium-Solarzelle,
deren aktive Schicht amorphes Silicium aufweist,
gebildet wird, ein Übergangsbereich in der aktiven Schicht
nicht zerstört, und es werden die gleichen Effekte erzielt,
wie sie in Zusammenhang mit diesen Ausführungsformen beschrieben
wurden.
In den oben beschriebenen Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung wird ein lineares Muster auf
die lichtaufnehmende Oberfläche einer aktiven Schicht oder
auf die Oberfläche einer lichtdurchlässigen, auf der aktiven
Schicht angeordneten Elektrode ausgebildet. Das Verfahren
und die Vorrichtung zur Herstellung eines linearen Musters
der vorliegenden Erfindung kann ebenso auf eine Bildung von
Schaltungsmustern auf einem Drucksubstrat oder einem
Keramiksubstrat angewendet werden. Auch in diesem Fall werden
die gleichen, wie oben beschriebenen Effekte erreicht. Da
zusätzlich keine plötzlichen Änderungen der Prozeßtemperatur
während der Musterbildung auftreten, werden Deformationen
der Substrate oder Keramik-Substrate,
auf die gedruckt wird, vermieden.
Wie aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich, wird erfindungsgemäß
das Metall mit niedrigem Schmelzpunkt in seinem
geschmolzenen Zustand gehalten, wobei das geschmolzene
Metall der Spitze des Zeichenkopfes, die die Oberfläche des
Substrats berührt, durch Kapillarwirkung zugeführt wird, woraufhin
das geschmolzene Metall auf dem Substrat in einer
Linie mit einer Breite unter 100 Mikrons (µm) aufgebracht
wird, in dem der Zeichenkopf bewegt wird, wobei abschließend
das lineare Muster des geschmolzenen Metalls abgekühlt wird
und sich spontan auf dem Substrat verfestigt. Dieses Verfahren
kommt ohne eine Anordnung einer Abschirmungsmaske und
ohne Brennen des Musters auf dem Substrat, was bei den herkömmlichen
Verfahren erforderlich ist, aus. Es wird demgemäß
ein lineares Muster mit einer Breite kleiner als 100 Mikrons
und einem spezifischen Widerstand in der Größenordnung von
10-6 Ω*cm direkt auf dem Substrat in einem einfachen Verfahrensschritt
mit hoher Effizienz ausgebildet, wobei die
Produktionsausbeute signifikant verbessert wird.
Da zusätzlich das Metall mit niedrigem Schmelzpunkt verwendet
wird, wird ein lineares Muster, das eine Breite kleiner
als 100 Mikrons und einen spezifischen Widerstand in der
Größenordnung von 10-6 Ω*cm aufweist, in einem Niedrigtemperaturverfahrensschritt
unterhalb 450°C herstellbar, so
daß Deformationen des Substrats, auf dem das Muster gebildet
wird, vermieden werden. Insbesondere dann, wenn das lineare
Muster als Elektrode auf einer lichtaufnehmenden Oberfläche
einer Solarzelle vom Übergangstyp mikrokristallines/kristallines
Silicium oder auf einer amorphen Siliciumsolarzelle
gebildet wird, wird der Übergangsbereich in der
Solarzelle während der Herstellung nicht zerstört.
Da die somit gebildete Elektrode eine Breite kleiner
als 100 Mikrons und einen spezifischen Widerstand in der
Größenordnung von 10-6 Ω*cm aufweist, nimmt der effektive,
leistungserzeugende Bereich der Solarzelle zu und ein in der
aktiven Schicht erzeugter Strom wird mit hoher Effizienz
entnommen, was zu einer signifikant verbesserten Charakteristik
der Solarzelle führt.
Zusätzlich sind das Gefäß zum Halten des Metalls
mit niedrigem Schmelzpunkt in seinem geschmolzenen Zustand
und der Zeichenkopf zum Aufbringen des geschmolzenen
Metalls auf dem Substrat vereinigt, wobei die Bewegung der
Einheit durch einen Rechner gesteuert wird. Das zu formende
Muster und die Aufbringungsbedingungen des geschmolzenen Metalls
können deshalb einfach und schnell durch das in dem
Rechner gespeicherte Programm geändert werden, mit dem Ergebnis,
daß verschiedene Arten von linearen Mustern mit hoher
Effizienz gebildet werden können.
Die Erfindung schafft somit ein Verfahren zur Herstellung
eines linearen Musters auf einer Oberfläche, das eine Breite
kleiner als 100 Mikrons und einen spezifischen Widerstand in
einer Größenordnung von 10-6 Ω*cm aufweist. Die Verfahrensschritte
beinhalten Schritte zum Halten eines Metalls mit
niedrigem Schmelzpunkt in seinem geschmolzenen Zustand, zum
Zuführen des geschmolzenen Metalls an eine Spitze eines Zeichenkopfes
unter Kapillarwirkung, wobei der Zeichenkopf sehr
nahe an dem Substrat angeordnet ist oder das Substrat berührt,
und einen Schritt, bei dem das geschmolzene Metall
auf dem Substrat in einer Linie aufgebracht wird, die eine
Breite kleiner als 100 Mikrons aufweist, während die Spitze
des Zeichenkopfes bewegt wird. Das lineare Muster des geschmolzenen
Metalls wird abgekühlt und verfestigt sich, indem
das lineare Muster sich selbst überlassen ist. Ein lineares
Muster, das eine Breite kleiner als 100 Mikrons und
einen spezifischen Widerstand von 10-6 Ω*cm aufweist, wird
somit direkt auf dem Substrat in einem einfachen Prozeß mit
hoher Effizienz aufgebracht, und die Produktionsausbeute
wird signifikant verbessert.
Claims (19)
1. Verfahren zur Herstellung eines linearen Musters mit
einer Linienstärke unter 100 Mikrons (µm) und einem
spezifischen Widerstand in der Größenordnung von 10-6 Ω*cm
auf einem Substrat, dadurch gekennzeichnet, daß
ein Metall mit niedrigem Schmelzpunkt in einem Gefäß in seinem geschmolzenen Zustand gehalten wird;
das geschmolzene Metall (1) durch Kapillarwirkung einer Spitze eines Zeichenkopfes (3; 32) zugeführt wird, welcher sehr nahe an dem Substrat (4; 39) angeordnet ist oder das Substrat (4; 39) berührt;
das geschmolzene Metall (1) auf das Substrat (4; 39) in einer Linie, die eine Breite kleiner als 100 Mikrons aufweist, aufgebracht wird, während die Spitze des Zeichenkopfes (3; 32) bewegt wird; und
das lineare Muster des geschmolzenen Metalls (1) auf dem Substrat abgekühlt wird, wodurch es sich verfestigt und in der Form verbleibt, in der es aufgebracht worden ist.
ein Metall mit niedrigem Schmelzpunkt in einem Gefäß in seinem geschmolzenen Zustand gehalten wird;
das geschmolzene Metall (1) durch Kapillarwirkung einer Spitze eines Zeichenkopfes (3; 32) zugeführt wird, welcher sehr nahe an dem Substrat (4; 39) angeordnet ist oder das Substrat (4; 39) berührt;
das geschmolzene Metall (1) auf das Substrat (4; 39) in einer Linie, die eine Breite kleiner als 100 Mikrons aufweist, aufgebracht wird, während die Spitze des Zeichenkopfes (3; 32) bewegt wird; und
das lineare Muster des geschmolzenen Metalls (1) auf dem Substrat abgekühlt wird, wodurch es sich verfestigt und in der Form verbleibt, in der es aufgebracht worden ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
der Schmelzpunkt des Metalls mit niedrigem Schmelzpunkt
unterhalb 200°C liegt.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
das Metall mit niedrigem Schmelzpunkt aus In, einer In-Sn-Legierung
oder einer In-Pb-Legierung besteht.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
ein erstes lineares Muster auf dem Substrat (4; 39) gebildet
wird und dann ein zweites lineares Muster auf
das erste lineare Muster aufgebracht wird, wobei der
Schmelzpunkt des niedrigschmelzenden Metalls des zweiten
linearen Musters niedriger als der Schmelzpunkt des
niedrigschmelzenden Metalls für das erste lineare Muster
ist.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
das niedrigschmelzende Metall für das erste und zweite
lineare Muster eine In-Sn-Legierung, eine In-Pb-Legierung
oder zwei Metalle aufweist, die aus In, einer In-Sn-Legierung
und einer In-Pb-Legierung ausgewählt sind.
6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
dem niedrigschmelzenden Metall Metallteilchen, die einen
höheren Schmelzpunkt und einen niedrigeren, spezifischen
Widerstand als die niedrigschmelzenden Metalle
aufweisen, zugemischt werden.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
die Metallteilchen kugelförmige oder flockenartige
Teilchen sind, die zumindest eines der Metalle Ag, Au,
Cu und/oder Pt aufweisen.
8. Verwendung des Verfahrens nach Anspruch 1, zur Herstellung
von Elektroden bei einer Solarzelle.
9. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch
1, gekennzeichnet durch
ein Gefäß (2; 30) zum Halten eines Metalls (1) mit niedrigem Schmelzpunkt in seinem geschmolzenen Zustand, wobei das Gefäß einen schmalen Durchgang aufweist, durch den das geschmolzene Metall (1) fließt; und
einen Zeichenkopf (3; 32), der eine dünne, mit dem schmalen Durchgang des Gefäßes (2; 30) verbundene Rinne (7, 8) aufweist, dessen Spitze sehr nahe an dem Substrat (4; 39) angeordnet ist oder das Substrat (4; 39) berührt; wobei
das geschmolzene Metall (1) der Spitze des Zeichenkopfes (3; 32) durch die Rinne (7, 8) durch Kapillarwirkung zugeführt und dann auf die Oberfläche des Substrats (4; 39) aufgebracht wird.
ein Gefäß (2; 30) zum Halten eines Metalls (1) mit niedrigem Schmelzpunkt in seinem geschmolzenen Zustand, wobei das Gefäß einen schmalen Durchgang aufweist, durch den das geschmolzene Metall (1) fließt; und
einen Zeichenkopf (3; 32), der eine dünne, mit dem schmalen Durchgang des Gefäßes (2; 30) verbundene Rinne (7, 8) aufweist, dessen Spitze sehr nahe an dem Substrat (4; 39) angeordnet ist oder das Substrat (4; 39) berührt; wobei
das geschmolzene Metall (1) der Spitze des Zeichenkopfes (3; 32) durch die Rinne (7, 8) durch Kapillarwirkung zugeführt und dann auf die Oberfläche des Substrats (4; 39) aufgebracht wird.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß das Gefäß (2; 30) und der Zeichenkopf (3; 32) vereinigt
sind, um eine Muster-Zeicheneinheit (31) zu bilden,
wobei zumindest eine der Komponenten Muster-Zeicheneinheit
(31) und Substrat (4; 39) in einer vorgeschriebenen
Richtung durch Steuerung mittels eines
Rechners (43) bewegt wird.
11. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß mehrere Zeichenköpfe vorgesehen sind.
12. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Abschnitt des Zeichenkopfes (3; 32), der die
Oberfläche des Substrats (4; 39) berührt, einen runden
Bogenabschnitt bzw. Kreisbogenabschnitt oder einen
eliptischen Bogenabschnitt aufweist.
13. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet,
daß der Zeichenkopf (3; 32) und die Oberfläche des
Substrats (4; 39) in einer inerten Atmosphäre vorliegen.
14. Solarzelle, mit
einer aktiven Schicht, die mindestens eine p-leitende Schicht (22) und eine n-leitende Schicht (23) aufweist; und
Elektroden zur Entnahme des in der aktiven Schicht erzeugten Stromes, die auf der gegenüberliegenden Oberfläche zu beiden Seiten der aktiven Schicht angebracht sind, wobei
eine dieser Elektroden, die auf einer lichtaufnehmenden Oberfläche der aktiven Schicht aufgebracht ist, ein lineares Muster aufweist, das von einem niedrigschmelzenden Metall gebildet ist und eine Stärke bzw. Breite unter 100 Mikrons und einen spezifischen Widerstand in der Größenordnung von 10-6 Ω*cm besitzt,
dadurch gekennzeichnet, daß
das lineare Muster ein erstes lineares, auf die lichtaufnehmende Oberfläche der aktiven Schicht aufgebrachtes Muster und ein zweites lineares, auf das erste lineare Muster aufgebrachte Muster aufweist, wobei das zweite Muster von einem niedrigschmelzenden Metall gebildet ist, das einen Schmelzpunkt hat, der niedriger als der Schmelzpunkt des niedrigschmelzenden Metalls liegt, das das erste Muster bildet.
einer aktiven Schicht, die mindestens eine p-leitende Schicht (22) und eine n-leitende Schicht (23) aufweist; und
Elektroden zur Entnahme des in der aktiven Schicht erzeugten Stromes, die auf der gegenüberliegenden Oberfläche zu beiden Seiten der aktiven Schicht angebracht sind, wobei
eine dieser Elektroden, die auf einer lichtaufnehmenden Oberfläche der aktiven Schicht aufgebracht ist, ein lineares Muster aufweist, das von einem niedrigschmelzenden Metall gebildet ist und eine Stärke bzw. Breite unter 100 Mikrons und einen spezifischen Widerstand in der Größenordnung von 10-6 Ω*cm besitzt,
dadurch gekennzeichnet, daß
das lineare Muster ein erstes lineares, auf die lichtaufnehmende Oberfläche der aktiven Schicht aufgebrachtes Muster und ein zweites lineares, auf das erste lineare Muster aufgebrachte Muster aufweist, wobei das zweite Muster von einem niedrigschmelzenden Metall gebildet ist, das einen Schmelzpunkt hat, der niedriger als der Schmelzpunkt des niedrigschmelzenden Metalls liegt, das das erste Muster bildet.
15. Solarzelle nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet,
daß das lineare Muster als Linie ausgebildet ist.
16. Solarzelle nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet,
daß die aktive Schicht mikrokristallines Silicium oder
amorphes Silicium aufweist, und daß der Schmelzpunkt
des Metalls mit niedrigem Schmelzpunkt unterhalb 200°C
liegt.
17. Solarzelle nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet,
daß das Metall (1) mit niedrigem Schmelzpunkt aus In,
einer In-Sn-Legierung oder einer In-Pb-Legierung besteht.
18. Solarzelle nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet,
daß die Metalle mit niedrigem Schmelzpunkt des ersten
und zweiten linearen Musters aus einer In-Sn-Legierung,
einer In-Pb-Legierung oder von zwei Metallen gebildet
sind, die aus In, In-Sn-Legierung und In-Pb-Legierung
ausgewählt sind.
19. Solarzelle nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet,
daß in das niedrigschmelzende Metall Metallteilchen,
die einen höheren Schmelzpunkt und einen niedrigeren
spezifischen Widerstand als das niedrigschmelzende Metall
aufweisen, eingemischt werden.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4075308A JPH05235388A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 低抵抗線状パターンの形成方法及び形成装置並びに太陽電池 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4304858A1 DE4304858A1 (de) | 1993-08-26 |
DE4304858C2 true DE4304858C2 (de) | 1997-12-11 |
Family
ID=13572500
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4304858A Expired - Fee Related DE4304858C2 (de) | 1992-02-24 | 1993-02-17 | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines niederohmigen linearen Musters, und Solarzelle |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US5328520A (de) |
JP (1) | JPH05235388A (de) |
DE (1) | DE4304858C2 (de) |
FR (1) | FR2687845B1 (de) |
Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2642574B2 (ja) * | 1992-12-17 | 1997-08-20 | 同和鉱業株式会社 | セラミックス電子回路基板の製造方法 |
US5411897A (en) * | 1994-02-04 | 1995-05-02 | Mobil Solar Energy Corporation | Machine and method for applying solder paste to electronic devices such as solar cells |
US5391514A (en) * | 1994-04-19 | 1995-02-21 | International Business Machines Corporation | Low temperature ternary C4 flip chip bonding method |
US5725665A (en) * | 1996-05-01 | 1998-03-10 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Coater enclosure and coating assembly including coater enclosure |
JPH1125829A (ja) * | 1997-07-04 | 1999-01-29 | Yazaki Corp | 温度ヒューズ及び車両用ワイヤハーネスの異常検出装置 |
DE69840914D1 (de) * | 1997-10-14 | 2009-07-30 | Patterning Technologies Ltd | Methode zur Herstellung eines elektrischen Kondensators |
GB2330331B (en) * | 1997-10-14 | 2002-04-10 | Patterning Technologies Ltd | Method of forming a circuit element on a surface |
US6086942A (en) | 1998-05-27 | 2000-07-11 | International Brachytherapy S.A. | Fluid-jet deposition of radioactive material for brachytherapy devices |
DE59913661D1 (de) | 1998-12-17 | 2006-08-24 | Guardian Industries | Vorrichtung und Verfahren zum Beschichten eines ebenen Substrates |
JP2002217434A (ja) * | 2001-01-19 | 2002-08-02 | Sharp Corp | 太陽電池、太陽電池用インターコネクターおよびストリング |
US7162302B2 (en) * | 2002-03-04 | 2007-01-09 | Nanoset Llc | Magnetically shielded assembly |
US20040210289A1 (en) * | 2002-03-04 | 2004-10-21 | Xingwu Wang | Novel nanomagnetic particles |
US7091412B2 (en) * | 2002-03-04 | 2006-08-15 | Nanoset, Llc | Magnetically shielded assembly |
US20050244337A1 (en) * | 2003-04-08 | 2005-11-03 | Xingwu Wang | Medical device with a marker |
US20050261763A1 (en) * | 2003-04-08 | 2005-11-24 | Xingwu Wang | Medical device |
US20050155779A1 (en) * | 2003-04-08 | 2005-07-21 | Xingwu Wang | Coated substrate assembly |
US20050240100A1 (en) * | 2003-04-08 | 2005-10-27 | Xingwu Wang | MRI imageable medical device |
US20050278020A1 (en) * | 2003-04-08 | 2005-12-15 | Xingwu Wang | Medical device |
US20070027532A1 (en) * | 2003-12-22 | 2007-02-01 | Xingwu Wang | Medical device |
ES2365904T3 (es) * | 2004-01-13 | 2011-10-13 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Dispositivo fotovoltaico. |
EP1560272B1 (de) * | 2004-01-29 | 2016-04-27 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Solarzellenmodul |
JP5010468B2 (ja) * | 2005-03-24 | 2012-08-29 | 京セラ株式会社 | 光電変換素子とその製造方法、及びこれを用いた光電変換モジュール |
WO2007076424A1 (en) * | 2005-12-27 | 2007-07-05 | Bp Corporation North America Inc. | Process for forming electrical contacts on a semiconductor wafer using a phase changing ink |
GB2437070B (en) * | 2006-04-10 | 2011-12-14 | Dek Int Gmbh | Screen printing head and system |
JP2009081386A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-16 | U-Tec Kk | 光起電力素子の製造方法 |
US8628992B2 (en) | 2008-04-18 | 2014-01-14 | 1366 Technologies, Inc. | Methods to pattern diffusion layers in solar cells and solar cells made by such methods |
TWI362759B (en) * | 2008-06-09 | 2012-04-21 | Delsolar Co Ltd | Solar module and system composed of a solar cell with a novel rear surface structure |
CN102272935B (zh) * | 2009-01-06 | 2015-06-24 | 1366科技公司 | 用配送管进行的含液材料至图案表面的配送 |
KR101732633B1 (ko) * | 2011-05-26 | 2017-05-04 | 엘지전자 주식회사 | 태양전지 모듈 |
JP6681878B2 (ja) * | 2015-03-16 | 2020-04-15 | シャープ株式会社 | 光電変換素子および光電変換素子の製造方法 |
US10424680B2 (en) * | 2015-12-14 | 2019-09-24 | Solarcity Corporation | System for targeted annealing of PV cells |
CN113769978B (zh) * | 2021-09-15 | 2022-05-17 | 杭州中芯微科技有限公司 | 一种用于rfid读写器机板导电胶涂覆设备 |
CN116364788A (zh) * | 2021-12-27 | 2023-06-30 | 隆基绿能科技股份有限公司 | 一种太阳能电池及其电极 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3536039A (en) * | 1968-07-01 | 1970-10-27 | Rca Corp | Marking device |
GB1355890A (en) * | 1972-04-29 | 1974-06-05 | Ferranti Ltd | Contacts for solar cells |
US4017871A (en) * | 1976-02-09 | 1977-04-12 | Graphic Controls Corporation | Marker with three phase ink circuit |
US4320250A (en) * | 1980-07-17 | 1982-03-16 | The Boeing Company | Electrodes for concentrator solar cells, and methods for manufacture thereof |
US4485387A (en) * | 1982-10-26 | 1984-11-27 | Microscience Systems Corp. | Inking system for producing circuit patterns |
US4511600A (en) * | 1984-02-10 | 1985-04-16 | Solarex Corporation | Solar cell metal spray process |
US4595790A (en) * | 1984-12-28 | 1986-06-17 | Sohio Commercial Development Co. | Method of making current collector grid and materials therefor |
JPS61166126A (ja) * | 1985-01-18 | 1986-07-26 | Nec Corp | 半導体装置の電極配線方法 |
DE3619311A1 (de) * | 1986-06-07 | 1987-12-10 | Telefunken Electronic Gmbh | Solargenerator mit hoher flaechenausnutzung |
US4694115A (en) * | 1986-11-04 | 1987-09-15 | Spectrolab, Inc. | Solar cell having improved front surface metallization |
JPS6439079A (en) * | 1987-08-05 | 1989-02-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Manufacture of photovoltaic device |
JPS6439078A (en) * | 1987-08-05 | 1989-02-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Method for forming compound semiconductor film by drawing-printing method |
JPS6439076A (en) * | 1987-08-05 | 1989-02-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Manufacture of photovoltaic element |
DE3802746A1 (de) * | 1988-01-30 | 1989-08-03 | Schneider Geb Gmbh | Zeichengeraet mit einer zeichenspitze, deren stirnflaeche die gezeichnete strichstaerke bestimmt |
DE3815512C2 (de) * | 1988-05-06 | 1994-07-28 | Deutsche Aerospace | Solarzelle und Verfahren zu ihrer Herstellung |
JPH074568B2 (ja) * | 1988-06-07 | 1995-01-25 | 富士写真フイルム株式会社 | 塗布方法 |
US5052626A (en) * | 1989-01-09 | 1991-10-01 | Union Carbide Canada Limited | Coolant introduction in blow molding |
US5045358A (en) * | 1989-10-30 | 1991-09-03 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Coating head assembly and coating method |
JP2533812B2 (ja) * | 1990-07-13 | 1996-09-11 | 富士写真フイルム株式会社 | ガラス乾板製造方法及び装置 |
US5151377A (en) * | 1991-03-07 | 1992-09-29 | Mobil Solar Energy Corporation | Method for forming contacts |
-
1992
- 1992-02-24 JP JP4075308A patent/JPH05235388A/ja active Pending
- 1992-09-16 FR FR9211047A patent/FR2687845B1/fr not_active Expired - Fee Related
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1993
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1994
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