DE4032733C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE4032733C2 DE4032733C2 DE4032733A DE4032733A DE4032733C2 DE 4032733 C2 DE4032733 C2 DE 4032733C2 DE 4032733 A DE4032733 A DE 4032733A DE 4032733 A DE4032733 A DE 4032733A DE 4032733 C2 DE4032733 C2 DE 4032733C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- transistor
- oversaturation
- switching
- input terminal
- vin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/082—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using bipolar transistors
- H03K19/088—Transistor-transistor logic
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/017509—Interface arrangements
- H03K19/017518—Interface arrangements using a combination of bipolar and field effect transistors [BIFET]
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/04—Modifications for accelerating switching
- H03K17/041—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/0412—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
- H03K17/04126—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit in bipolar transistor switches
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/04—Modifications for accelerating switching
- H03K17/041—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/0412—Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
- H03K17/0414—Anti-saturation measures
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
- H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
- H03K17/60—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being bipolar transistors
- H03K17/615—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being bipolar transistors in a Darlington configuration
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0008—Arrangements for reducing power consumption
- H03K19/001—Arrangements for reducing power consumption in bipolar transistor circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/013—Modifications for accelerating switching in bipolar transistor circuits
- H03K19/0136—Modifications for accelerating switching in bipolar transistor circuits by means of a pull-up or down element
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/0036—Means reducing energy consumption
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Traffic Control Systems (AREA)
- Acyclic And Carbocyclic Compounds In Medicinal Compositions (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft TTL-Pegel-BiCMOS-Treiber
Im allgemeinen werden TTL-Schaltungen auf dem Gebiet der
Logikschaltungen in weitem Umfang verwendet. Fig. 1 zeigt
einen derartigen Inverter bei üblichen TTL-Schaltungen,
wie sie auch aus "Elektronik" 9/3. Mai 1985, Seiten 65 bis
70 oder aus "Digital Design", M. Morris Mano, Prentice
Hall, 1984, Seiten 413-416 bekannt sind. Befindet sich
in Fig. 1 ein Eingangsknoten (VIN) auf Niedrigpegel, so
wird ein Schalttransistor (Q1) ausgeschaltet und das
Basispotential des Transistors (Q2) steigt an. Somit wer
den die Transistoren (Q2, Q3), die zusammen eine Darling
ton-Schaltung bilden, eingeschaltet, während ein Schalt
transistor (Q4) abhängig vom Ausschalten des Transistors
(Q1) ausgeschaltet wird, so daß ein Ausgangsknoten (VOUT)
einen Hochpegel annimmt.
Befindet sich dagegen ein Eingangsknoten auf einem Hoch
pegel, so wird der Transistor (Q1) eingeschaltet und
das Basispotential des Transistors (Q2) geht herab. Somit
wird der Transistor (Q2) zusammen mit einem weiteren Tran
sistor (Q3) ausgeschaltet, so daß der Ausgangsknoten
(VOUT) einen Niedrigpegel annimmt.
Gemäß dieser bekannten TTL-Schaltung sollte die in der
Basis des Transistors (Q3) gespeicherte Ladung rasch
entladen werden, indem ein Widerstand (R1) mit ihr verbunden
wird, um ein schnelles Umschalten der Spannung des Aus
gangsknotens (VOUT) vom Hochpegel zum Niedrigpegel zu er
zielen. Jedoch fließt der Strom kontinuierlich durch den
Widerstand (R1), wenn der Widerstand (Q3) eingeschaltet
wird, wodurch ein beträchtlicher Leistungsverbrauch resul
tiert. Darüber hinaus sollte zur Aufrechterhaltung des
Niedrigpegels der Ausgangsspannung (VOUT) die Sättigungs
spannung zum Einschalten der Transistoren (Q1, Q4) ange
legt werden, womit eine beträchtliche Verzögerung für die
Schaltzeit vom Niedrigpegel zum Hochpegel der Ausgangs
spannung (VOUT) resultiert.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen TTL-Pegel-
BiCMOS-Treiber zu schaffen, der eine höhere
Schaltgeschwindigkeit ermöglicht und gleichzeitig den
Leistungsverbrauch der Schaltung vermindert.
Zur Lösung dieser Aufgabe wird erfindungsgemäß vorge
schlagen, daß der TTL-Pegel-BiCMOS-Treiber umfaßt:
eine Einrichtung, die einen Eingangsanschluß (VIN) zum Eingeben eines Logiksignales aufweist, zum Verhindern von Übersättigung nachfolgender Stufen durch das eingegebene Logiksignal, und zum Erzeugen eines Steuersignals;
eine Steuereinrichtung, die an die Übersättigungs-Verhin derungseinrichtung angeschlossen ist,
um ein Schaltsteuersignal entsprechend der Ausgabe der Übersättigungs-Verhinderungseinrichtung zu liefern;
Schalteinrichtungen, die eine erste Schaltereinrichtung und eine zweite Schaltereinrichtung umfassen, und mit dem Eingangsanschluß (VIN), mit der Übersättigungs-Verhinde rungseinrichtung und der Steuereinrichtung verbunden sind, welche Schaltereinrichtungen miteinander verbunden sind, um ein Logiksignal entsprechend dem eingegebenen Logiksi gnal auszugeben;
wobei die Schaltereinrichtungen Stromableitungseinrichtun gen umfassen, die von der Übersättigungs-Verhinderungsein richtung gesteuert werden, um die Schaltgeschwindigkeit der Schaltereinrichtungen zu erhöhen.
eine Einrichtung, die einen Eingangsanschluß (VIN) zum Eingeben eines Logiksignales aufweist, zum Verhindern von Übersättigung nachfolgender Stufen durch das eingegebene Logiksignal, und zum Erzeugen eines Steuersignals;
eine Steuereinrichtung, die an die Übersättigungs-Verhin derungseinrichtung angeschlossen ist,
um ein Schaltsteuersignal entsprechend der Ausgabe der Übersättigungs-Verhinderungseinrichtung zu liefern;
Schalteinrichtungen, die eine erste Schaltereinrichtung und eine zweite Schaltereinrichtung umfassen, und mit dem Eingangsanschluß (VIN), mit der Übersättigungs-Verhinde rungseinrichtung und der Steuereinrichtung verbunden sind, welche Schaltereinrichtungen miteinander verbunden sind, um ein Logiksignal entsprechend dem eingegebenen Logiksi gnal auszugeben;
wobei die Schaltereinrichtungen Stromableitungseinrichtun gen umfassen, die von der Übersättigungs-Verhinderungsein richtung gesteuert werden, um die Schaltgeschwindigkeit der Schaltereinrichtungen zu erhöhen.
Weitere Ausführungsbeispiele ergeben sich aus den Unteran
sprüchen.
Ein Übersättigung-Verhinderungsteil, der CMOS-Transistoren
an seiner Eingangsklemme und einen die Stromableitung ver
bindenden Transistor an seiner Ausgangsklemme enthält,
verhindert eine Übersättigung in den folgenden Teilen, in
dem ein eine Stromableitung verhinderndes Signal gemäß ei
nem Eingangssignal geliefert wird, das einer Eingangsklem
me (VIN) zugeführt wird. Ein Inverterteil, der an den
Übersättigung-Verhinderungsteil angeschlossen ist, liefert
ein Schaltsteuersignal entsprechend einem Ausgang des
Übersättigung-Verhinderungsteils. Der Übersättigung-
Verhinderungsteil und der Inverterteil dienen dazu, ein
Logiksignal entsprechend dem der Eingangsklemme zugeführ
ten Eingangssignal zu liefern.
Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich im ein
zelnen aus der folgenden Beschreibung bevorzugter Ausfüh
rungsformen in Verbindung mit den anliegenden Zeichnungen;
es zeigt
Fig. 1 ein Schaltbild, das einen Inverter der bekannten
TTL-Logikschaltungen angibt; und
Fig. 2 ein Schaltbild eines erfindungsgemäßen TTL-Pegel-
BiCMOS-Treibers.
Die Erfindung wird anschließend unter Bezugnahme auf die
anliegenden Zeichnungen näher erläutert.
Fig. 2 zeigt einen erfindungsgemäßen TTL-Pegel-BiCMOS-
Treiber, der einen
Übersättigung-Verhinderungsteil (1), einen Inverterteil
(3) und einen Schaltkreis mit einem ersten und zweiten
Schaltteil (2, 4) umfaßt.
Im einzelnen liefert der Übersättigung-Verhinderungsteil
(1) ein eine Stromableitung verhinderndes Signal an den
ersten Schaltteil (2), um einen Übersättigungszustand
sowohl des Inverterteils (3) als auch des zweiten
Schaltteils (4) zu verhindern. Dieser
Übersättigung-Verhinderungsteil (1) umfaßt
Pegelabfalldioden (D1, D2) und einen PMOS- und
NMOS-Transistor (P1, N1), die für ein Signal einer
Eingangsklemme (VIN) als Inverter dienen.
Die in Reihe an eine Versorgungsspannung (VCC)
angeschlossenen Dioden (D1, D2) sind mit Source des
PMOS-Transistors (P1) verbunden und ferner mit der
Eingangsklemme (VIN) .
Der erste Schaltteil (2) ist mit der Eingangsklemme (VIN)
verbunden, mit dem Übersättigung-Verhinderungsteil (1) und
dem Inverterteil (3) und umfaßt einen Inverter (I1),
einen PMOS-Transistor (P2), einen NMOS-Transistor (N2),
und Transistoren (Q5, Q6), die eine Darlington-Schaltung
bilden. Das Gate des PMOS-Transistors (P2) ist an den
Inverter (I1) angeschlossen, um aus einem Eingangssignal
der Eingangsklemme (VIN) ein invertiertes Signal zu bilden
und die Darlington-Transistoren (Q5, Q6) werden abhängig
von der Steuerung des PMOS-Transistors (P2) durch ein
Steuersignal des Inverterteils (3) eingeschaltet.
Ferner enthält der erste Schaltteil (2) den
NMOS-Transistor (N2), um eine Stromableitung an der Basis
des Transistors (Q6) zu verhindern und wird zeitweilig
durch die in der Basis des Transistors (Q6) gespeicherte
Ladung und das Signal des Übersättigung-Verhinderungsteils
(1) eingeschaltet, wenn der Transistor (Q5) ausgeschaltet
ist.
Der Inverterteil (3) ist an die Eingangsklemme (VIN) und
den Übersättigung-Verhinderungsteil angeschlossen, um ein
Schaltsteuersignal zu liefern, und umfaßt einen
Schalttransistor (Q7), der abhängig von der Steuerung des
PMOS-Transistors (P1) eingeschaltet wird, einen Widerstand
(R5) sowie eine Diode (D3) zur Erhöhung des
Schwellenwertspannungspegels für die Einschaltung des
Transistors (Q7).
Der zweite Schaltteil (4) umfaßt einen Transistor (Q8) zum
Schalten und einen NMOS-Transistor (N3), wobei der
Transistor (Q8) zum Schalten mit dem Emitter des
Transistors (Q7) verbunden ist, um abhängig von der
Steuerung des Transistors (Q7) eingeschaltet zu werden.
Ferner wird der NMOS-Transistor (N3) zeitweilig durch die
in der Basis des Transistors (Q8) gespeicherte Ladung
eingeschaltet, wenn der Transistor (Q8) ausgeschaltet ist.
Bei der vorliegenden Erfindung wird der PMOS-Transistor
(P1) ausgeschaltet, wenn sich das Eingangssignal auf
Hochpegel befindet, und anschließend werden die
Transistoren (Q7, Q8) und der NMOS-Transistor (N2)
ausgeschaltet. Das Hochpegel-Eingangssignal wird durch den
Inverter (I1) auf Niedrigpegel invertiert und
anschließend dem Gate des PMOS-Transistors (P2) zugeführt.
In diesem Falle wird der Transistor (Q7) abgeschaltet, so
das die Spannung am Basispotential des Transistors (Q5)
auf Hochpegel ansteigt, wodurch die
Darlington-Transistoren (Q5, Q6) sowie der PMOS-Transistor
(P2) eingeschaltet werden. Somit nimmt die
Ausgangsspannung an der Ausgangsklemme (VOUT) den
Hochpegel an. Jedoch wird der NMOS-Transistor (N2), der
mit dem Emitter des Transistors (Q5) verbunden ist,
abhängig von dem Einschalten des PMOS-Transistors (P1) im
Übersättigung-Verhinderungsteil (1) abgeschaltet. Somit
kann die Stromentladung an Masse, die zu einer
Stromableitung in den bekannten TTL-Schaltungen führt,
wirksam verhindert werden.
Im Gegensatz hierzu wird, falls der Eingangsknoten der
Eingangsklemme (VIN) vom Hochpegel zu einem Niedrigpegel
invertiert wird, der PMOS-Transistor (P1) eingeschaltet,
während der NMOS-Transistor (N1) ausgeschaltet wird, womit
der Spannungspegel an der Basis des Transistors (Q7)
ansteigt. Somit wird der Transistor (Q7) in einem
Sättigungsbereich eingeschaltet, aber das Ausmaß der
Sättigung des Transistors (Q7) wird durch die Dioden (D1,
D2) in dem Übersättigung-Verhinderungsteil (1) verringert.
Infolge der Einschaltung des Transistors (Q7) steigt der
Spannungspegel an der Basis des Transistors (Q8) an und
der Transistor (Q8) wird eingeschaltet. Andererseits wird
der mit der Basis des Transistors (Q8) verbundene
NMOS-Transistor (N3) abhängig vom Einschalten des
Transistors (Q8) abgeschaltet, da die Gatespannung des
NMOS-Transistors identisch mit jener der Eingangsklemme
(VIN) ist, die sich auf Niedrigpegel befindet, so daß die
Stromentladung an Masse, die zu einer Stromableitung
führt, wirksam verhindert werden kann.
Ferner wird der Niedrigpegeleingang durch den Inverter
(I1) in einen Hochpegel invertiert und anschließend dem
Gate des PMOS-Transistors (P2) zugeführt, um den
PMOS-Transistor (P2) abzuschalten. Somit werden die
Darlington-Transistoren (Q5, Q6) abgeschaltet und die
Ausgangsspannung der Ausgangsklemme (VOUT) nimmt
Niedrigpegel an, wobei die in der Basis des Transistors
(Q6) gespeicherte Ladung durch den NMOS-Transistor (N2)
nach Masse entladen werden soll, der abhängig von der
Ansteuerung des PMOS-Transistors (P1) eingeschaltet wird,
so daß die Schaltgeschwindigkeit des Transistors (Q6)
wirksam verbessert werden kann.
In ähnlicher Weise wird die Ladung in der Basis des
Transistors (Q8) im zweiten Schaltteil (4) gespeichert,
wenn der Transistor (Q8) durch den Niedrigpegeleingang
eingeschaltet wird. Diese gespeicherte Ladung soll
abhängig vom Einschalten des NMOS-Transistors (N3) an
Masse entladen werden, wenn der Transistor (Q8)
ausgeschaltet wird, wobei der NMOS-Transistor (N3) durch
den Hochpegeleingang der Eingangsklemme (VIN)
eingeschaltet wird.
Infolgedessen kann die Schaltgeschwindigkeit des
Transistors (Q8) wirksam verbessert werden.
Wie vorausgehend beschrieben wurde, kann erfindungsgemäß
die Schaltgeschwindigkeit wirksam verbessert und der
Leistungsverbrauch kann auf ein Mindestmaß verringert
werden, mittels des Übersättigung-Verhinderungsteils und
der Transistoren zur Verhinderung einer Stromableitung am
Schaltteil und zur schnellen Entladung der in der Basis
des Transistors neben der Ausgangsklemme gespeicherten
Ladung.
Claims (5)
1. TTL-Pegel-BiCMOS-Treiber, umfassend
- - eine Einrichtung (1), die einen Eingangsanschluß (VIN) zum Eingeben eines Logiksignales aufweist, zum Verhindern von Übersättigung nachfolgender Stufen durch das eingegebene Logiksignal, und zum Erzeugen eines Steuersignals;
- - eine Steuereinrichtung (3), die an die Übersättigungs-Verhinderungseinrichtung (1) angeschlossen ist, um ein Schaltsteuersignal entsprechend der Ausgabe der Übersättigungs-Verhinderungseinrichtung (1) zu liefern;
- - Schalteinrichtungen, die eine erste Schaltereinrichtung (2) und eine zweite Schaltereinrichtung (4) umfassen, und mit dem Eingangsanschluß (VIN), mit der Übersättigungs-Verhinderungseinrichtung (1) und der Steuereinrichtung (3) verbunden sind, welche Schaltereinrichtungen (2, 4) miteinander verbunden sind, um ein Logiksignal entsprechend dem eingegebenen Logiksignal auszugeben;
- - wobei die Schaltereinrichtungen (2, 4) Stromableitungseinrichtungen (N2, N3) umfassen, die von der Übersättigungs-Verhinderungseinrichtung (1) gesteuert werden, um die Schaltgeschwindigkeit der Schaltereinrichtungen (2, 4) zu erhöhen.
2. TTL-Pegel-BiCMOS-Treiber nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
die Übersättigungs-Verhinderungseinrichtung (1) umfaßt:
- - Dioden (D1, D2), die an eine Versorgungsspannung (VCC) angeschlossen sind, und
- - einen Inverter, der mit den Dioden verbunden ist und einen PMOS-Transistor (P1) umfaßt, der entsprechend einem Logiksignal des Eingangsanschlusses (VIN) gesteuert wird, sowie einen NMOS-Transistor (N1), dessen Drain mit dem PMOS-Transistor (P1) verbunden ist, und die Gates des NMOS-Transistors (N1) und des PMOS-Transistors (P1) mit dem Eingangsanschluß verbunden sind.
3. TTL-Pegel-BiCMOS-Treiber nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Steuereinrichtung (3) umfaßt:
- - einen Transistor (Q7), der entsprechend der Ansteuerung des PMOS-Transistors (P1) in der Übersättigung-Verhinderungseinrichtung (1) ein- oder ausgeschaltet wird, und
- - eine mit dem Emitter des Transistors (Q7) verbundene Diode (D3) zur Anhebung des Vorspannungspegels zwecks Einschaltung des Transistors.
4. TTL-Pegel-BiCMOS-Treiber nach einem der vorangehenden
Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
die erste Schaltereinrichtung (2) umfaßt:
- - einen mit der Eingangsklemme (VIN) verbundenen Inverter (I1);
- - Darlington-Transistoren (Q5, Q6) , die von der Steuereinrichtung (3) ein- oder ausgeschaltet werden und mit einem PMOS-Transistor (P2) verbunden sind, der von dem Signal des Inverters I1 gesteuert wird, um transiente Kurzschlußströme während des Umschaltens zu unterbinden; und
- - einen NMOS-Transistor (N2), der mit der Basis des einen Darlington-Transistors (Q6) verbunden ist und gemäß einem Signal von der Übersättigungs-Verhinderungseinrichtung angesteuert wird, um transiente Kurzschlußströme während des Umschaltens durch Ableitung des Basispotentials zu unterbinden.
5. TTL-Pegel-BiCMOS-Treiber nach einem der vorangehenden
Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
die zweite Schaltereinrichtung (4) umfaßt:
- - einen Transistor (Q8), der entsprechend der Ansteuerung durch die Steuereinrichtung (3) eingeschaltet wird; und
- - einen NMOS-Transistor (N3), der mit der Eingangsklemme (VIN) und der Basis des Transistors (Q8) verbunden ist und entsprechend einem Signal der Eingangsklemme gesteuert wird, um transiente Kurzschlußströme während des Umschaltens durch Ableitung des Basispotentials zu unterbinden.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019890020225A KR920010212B1 (ko) | 1989-12-29 | 1989-12-29 | 바이씨모스 ttl레벨 출력구동회로 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4032733A1 DE4032733A1 (de) | 1991-08-08 |
DE4032733C2 true DE4032733C2 (de) | 1992-11-05 |
Family
ID=19294274
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4032733A Granted DE4032733A1 (de) | 1989-12-29 | 1990-10-15 | Ttl-pegel-bicmos-treiber |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5103119A (de) |
JP (1) | JPH0738582B2 (de) |
KR (1) | KR920010212B1 (de) |
DE (1) | DE4032733A1 (de) |
FR (1) | FR2656749B1 (de) |
GB (1) | GB2239750B (de) |
IT (1) | IT1243456B (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR920010212B1 (ko) | 1989-12-29 | 1992-11-21 | 삼성전자 주식회사 | 바이씨모스 ttl레벨 출력구동회로 |
EP0621693B1 (de) * | 1993-04-19 | 1998-07-01 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | BiCMOS Ausgangstreiberschaltung |
JP3881337B2 (ja) * | 2003-12-26 | 2007-02-14 | ローム株式会社 | 信号出力回路及びそれを有する電源電圧監視装置 |
KR101683877B1 (ko) * | 2009-10-23 | 2016-12-07 | 엘지이노텍 주식회사 | 전원 공급 보호 장치 |
US8623749B2 (en) * | 2010-12-20 | 2014-01-07 | Diodes Incorporated | Reduction of stored charge in the base region of a bipolar transistor to improve switching speed |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4441068A (en) * | 1981-10-22 | 1984-04-03 | Kollmorgen Technologies Corporation | Bipolar linear current source driver amplifier for switching loads |
JPH0783252B2 (ja) * | 1982-07-12 | 1995-09-06 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
US4472647A (en) * | 1982-08-20 | 1984-09-18 | Motorola, Inc. | Circuit for interfacing with both TTL and CMOS voltage levels |
EP0101751B1 (de) * | 1982-08-25 | 1991-08-21 | Ibm Deutschland Gmbh | Transistor-Leistungsverstärker mit verringerten Schaltzeiten |
JPH0693626B2 (ja) * | 1983-07-25 | 1994-11-16 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路装置 |
JPS60141011A (ja) * | 1983-12-28 | 1985-07-26 | Nec Corp | コレクタ飽和抑制回路 |
JPS60141016A (ja) * | 1983-12-28 | 1985-07-26 | Nec Corp | 出力回路 |
JPS60177723A (ja) * | 1984-02-24 | 1985-09-11 | Hitachi Ltd | 出力回路 |
JPS62171226A (ja) * | 1986-01-22 | 1987-07-28 | Nec Corp | 出力回路 |
US4703203A (en) * | 1986-10-03 | 1987-10-27 | Motorola, Inc. | BICMOS logic having three state output |
JPS63193720A (ja) * | 1987-02-06 | 1988-08-11 | Toshiba Corp | 論理回路 |
JPS63202126A (ja) * | 1987-02-17 | 1988-08-22 | Toshiba Corp | 論理回路 |
JPH01114214A (ja) * | 1987-10-28 | 1989-05-02 | Nec Corp | 出力回路 |
US4857776A (en) * | 1987-11-20 | 1989-08-15 | Tandem Computers Incorporated | True TTL output translator-driver with true ECL tri-state control |
US4810903A (en) * | 1987-12-14 | 1989-03-07 | Motorola, Inc. | BICMOS driver circuit including submicron on chip voltage source |
US4970414A (en) * | 1989-07-07 | 1990-11-13 | Silicon Connections Corporation | TTL-level-output interface circuit |
KR920010212B1 (ko) | 1989-12-29 | 1992-11-21 | 삼성전자 주식회사 | 바이씨모스 ttl레벨 출력구동회로 |
-
1989
- 1989-12-29 KR KR1019890020225A patent/KR920010212B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1990
- 1990-10-09 US US07/594,828 patent/US5103119A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-10-15 FR FR9012675A patent/FR2656749B1/fr not_active Expired - Fee Related
- 1990-10-15 JP JP2273520A patent/JPH0738582B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1990-10-15 DE DE4032733A patent/DE4032733A1/de active Granted
- 1990-10-15 GB GB9022335A patent/GB2239750B/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-10-18 IT IT02177990A patent/IT1243456B/it active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH03216017A (ja) | 1991-09-24 |
FR2656749A1 (fr) | 1991-07-05 |
KR910013738A (ko) | 1991-08-08 |
DE4032733A1 (de) | 1991-08-08 |
KR920010212B1 (ko) | 1992-11-21 |
GB2239750B (en) | 1994-09-07 |
US5103119A (en) | 1992-04-07 |
GB9022335D0 (en) | 1990-11-28 |
IT1243456B (it) | 1994-06-10 |
GB2239750A (en) | 1991-07-10 |
IT9021779A0 (it) | 1990-10-18 |
JPH0738582B2 (ja) | 1995-04-26 |
FR2656749B1 (fr) | 1993-12-24 |
IT9021779A1 (it) | 1992-04-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69224833T2 (de) | Leistungs-mosfet-treiber mit reduzierung des querstroms | |
DE69904912T2 (de) | Unterschwingungsfester Busschalter | |
DE102007052143B4 (de) | Ansteuerschaltung zum Ansteuern und Steuern einer Leistungshalbleitervorrichtung der Seite auf hohem Potential | |
DE69317213T2 (de) | Ausgangspufferschaltungen | |
DE68912617T2 (de) | Spannungsseitige MOS-Treiberschaltung. | |
DE69314893T2 (de) | Ausgangstreiberschaltung | |
DE19525237A1 (de) | Pegelschieberschaltung | |
DE68918164T2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung mit einem CMOS-Inverter. | |
DE69612007T2 (de) | Ausgangspuffer mit gemeinsam genutzten zwischenknoten | |
DE3784285T2 (de) | Integrierte komplementaere mos-schaltung. | |
DE4135528A1 (de) | Tristate-treiberschaltung | |
DE68912739T2 (de) | Befehlschaltung. | |
DE69635767T2 (de) | Cmos treiberschaltung | |
DE68925856T2 (de) | Logische Bicmos-Schaltung | |
DE3700071A1 (de) | Halbleiterschalter | |
DE69026468T2 (de) | Anpassungsfähige Gate-Entladeschaltung für Leistungs-Fets | |
DE69738366T2 (de) | Pull-Up-Schaltung und damit ausgerüstete Halbleitervorrichtung | |
DE4032733C2 (de) | ||
DE10223763B4 (de) | Halbleitervorrichtung | |
DE69618135T2 (de) | Ausgangsschaltung | |
EP0535359A1 (de) | Analoge Verzögerungsschaltungsanordnung | |
DE4032703C2 (de) | ||
DE69931121T2 (de) | Spannungsvergleicher | |
DE69427624T2 (de) | CMOS-Schaltkreis zur Ausführung Boole'scher Funktionen | |
DE69131532T2 (de) | Schaltung zum Ansteuern einer schwebenden Schaltung mit einem digitalen Signal |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |