DE3689962T2 - Lösliche Zusätze für Oxid-Ätzlösungen aus NH4F/HF mit oberflächenaktivem fluoriertem Cykloalkansulfonat. - Google Patents

Lösliche Zusätze für Oxid-Ätzlösungen aus NH4F/HF mit oberflächenaktivem fluoriertem Cykloalkansulfonat.

Info

Publication number
DE3689962T2
DE3689962T2 DE3689962T DE3689962T DE3689962T2 DE 3689962 T2 DE3689962 T2 DE 3689962T2 DE 3689962 T DE3689962 T DE 3689962T DE 3689962 T DE3689962 T DE 3689962T DE 3689962 T2 DE3689962 T2 DE 3689962T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
fluorinated
etching solution
surfactant
aqueous
etching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE3689962T
Other languages
English (en)
Other versions
DE3689962D1 (de
Inventor
Ronald James Hopkins
Harold John Kieta
Evan Gower Thomas
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hmc Patents Holding Co Inc
Original Assignee
Hmc Patents Holding Co Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hmc Patents Holding Co Inc filed Critical Hmc Patents Holding Co Inc
Publication of DE3689962D1 publication Critical patent/DE3689962D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3689962T2 publication Critical patent/DE3689962T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B41/00After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
    • C04B41/53After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone involving the removal of at least part of the materials of the treated article, e.g. etching, drying of hardened concrete
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K13/00Etching, surface-brightening or pickling compositions
    • C09K13/04Etching, surface-brightening or pickling compositions containing an inorganic acid
    • C09K13/08Etching, surface-brightening or pickling compositions containing an inorganic acid containing a fluorine compound
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/10Etching compositions
    • C23F1/14Aqueous compositions
    • C23F1/16Acidic compositions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/31Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
    • H01L21/3105After-treatment
    • H01L21/311Etching the insulating layers by chemical or physical means
    • H01L21/31105Etching inorganic layers
    • H01L21/31111Etching inorganic layers by chemical means

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Weting (AREA)
  • Detergent Compositions (AREA)
  • Emulsifying, Dispersing, Foam-Producing Or Wetting Agents (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Description

    GEBIET DER ERFINDUNG
  • Die Erfindung betrifft verbesserte Zusammensetzungen von Ätzlösungen mit einem Zusatz von löslichen Tensiden. Mit diesen Zusatzstoffen können die Oberflächenspannungen niedriger gehalten und kann dadurch das Benetzen des Substrats verbessert werden, und sie können bei der Herstellung von integrierten Schaltungen verwendet werden. Insbesondere betrifft die Erfindung die Verwendung von fluorierten Cycloalkansulfonaten und/oder fluorierten Cycloalkansulfonaten als Zusatzstoffen zum Herabsetzen der Oberflächenspannung.
  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Mit der Verkleinerung der Dimensionen der Bauelemente von integrierten Schaltungen wird es schwieriger, die Oberflächen der Substrate mit der Ätzlösung zu benetzen. Dies ist besonders wichtig bei gepufferten Ätzlösungen auf der Grundlage von Oxidammoniumfluorid und Fluorwasserstoffsäure, wie sie zum Ätzen von Siliciumdioxid verwendet werden, weil diese Lösungen bei den üblichen Ätztemperaturen äußerst hohe Oberflächenspannungen von 85 bis 90·10&supmin;³ N/m haben. Infolge der relativ niedrigen Oberflächenenergien der verwendeten Maskenwerkstoffe, der Topographie des Photolacks, der Art der vorhandenen Störstoffe und den von anderen Verarbeitungsschritten her vorhandenen Verunreinigungen ist es schwierig, das Substrat einwandfrei zu benetzen, und das kann zu uneinheitlichem Ätzen und zu einer mangelhaften Reproduktion von Linien führen.
  • Um diese Probleme zu vermeiden, wird bei der Herstellung von integrierten Schaltungen häufig eine von mindestens zwei bekannten Techniken angewendet. Nach der ersten Technik werden die Substrate in eine wäßrige Tensidlösung getaucht, ehe sie in das Ätzmittel eingebracht werden. Nach der zweiten Technik wird das Tensid der Ätzlösung direkt zugesetzt. Da in der Industrie jedoch zunehmend feinteilige Stoffe enthaltende Systeme und Filtrierbehälter verwendet und andererseits genauer geätzte Linien mit geringeren Abweichungen gefordert werden, haben die bekannten Ätzverfahren mehrere Nachteile. Wenn vorgetaucht wird, werden anstelle eines Behälters zwei Behälter benötigt, so daß ein zusätzlicher Behandlungsschritt erforderlich ist. Da die Scheiben vorher gewässert werden, besteht eine Tendenz zum Überführen von Material von dem Tauchbehälter zu dem Ätzmittelbehälter, wodurch die Wirkung des Ätzmittels verändert und seine Gebrauchsdauer verkürzt wird. Ein noch schwerwiegenderer Nachteil dieser beiden Verfahren besteht darin, daß, wie die Erfahrung gezeigt hat, die meisten in der Industrie üblicherweise verwendeten Tenside in Ätzlösungen für Oxid auf der Basis von Ammoniumfluorid und Fluorwasserstoffsäure unlöslich sind, so daß das Tensid auf den Substratoberflächen abgeschieden wird und die Filter verlegt, durch die hindurch die Ätzbäder umgewälzt werden und die im allgemeinen Filteröffnungen in der Größenordnung von 0,2 Mikrometer haben. Infolgedessen werden Ätzlösungen erhalten, die höchstens kleine Mengen von Tensiden enthalten. Ferner können die verwendeten Tenside mit Metallionen verunreinigt sein, die die Funktion von integrierten Schaltungen beeinträchtigen oder die Aktivität herabsetzen können, weil das Ätzmittel Fluorwasserstoffsäure enthält. Verschiedene Erzeuger von Ätzmitteln haben versucht, in ihren Ätzlösungen für Oxid ein Tensid zu verwenden. Die Untersuchung dieser Substanzen durch Messung der Oberflächenspannung hat jedoch ergeben, daß Tenside höchstens in kleinen Mengen vorhanden sind. Daher besteht ein Bedürfnis nach einer verbesserten und wirksamen eine niedrigere Oberflächenspannung besitzenden Ätzlösung für Siliciumdioxid, die ein Tensid enthält, das in Lösungen von Ammoniumfluorid und Fluorwasserstoffsäure auch nach dem Filtrieren durch Absolutfilter mit Filteröffnungen von 0,2 Mikrometer noch oberflächenaktiv ist und das im wesentlichen frei ist von Metallionen.
  • DARSTELLUNG DER ERFINDUNG
  • Seit unserer älteren US-Patentanmeldung Serial No. 604 112 vom 24. April 1984 (jetzt US-PS 4 517 106), in der die Verwendung von linearen und stark verzweigten fluorierten Alkylsulfonaten als löslichen Zusatzstoffen in gepufferten Ätzlösungen auf der Grundlage von Ammoniumfluorid und Fluorwasserstoffsäure beschrieben ist, ist erkannt worden, daß mit bestimmten fluorierten zyklischen Substanzen ein besseres Benetzen erzielt werden kann. Diese Zusatzstoffe sind auch nach dem Filtrieren durch Filteröffnungen von 0,2 Mikrometer noch in Lösung, und sie sind mit Metallionen nur wenig verunreinigt. Diese Zusatzstoffe enthaltende Ätzmittel haben gewöhnlich Oberflächenspannungen unter 30·10&supmin;³ N/m, während die Oberflächenspannung der Ätzmittel ohne die zugesetzten Tenside 85·10&supmin;³ bis 90·10&supmin;³ N/m beträgt.
  • Die sich im Rahmen der Erfindung als wirksam erwiesenen Tenside sind die fluorierten Cycloalkansulfonate und die fluorierten Cycloalkensulfonate der allgemeinen Formel
  • in der X die Bedeutung F, H, Cl, OH, SO&sub3; oder R haben kann, mindestens eine der Gruppen X SO&sub3;A ist und Y die Bedeutung F, Cl, H, OH, oder R haben oder enthalten kann, so daß eine Doppelbindung vorhanden ist, R eine Alkyl- und/oder Fluoralkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen ist und n einen Wert von bis zu 6 haben kann. Diese Substanzen haben eine verbesserte Löslichkeit und werden durch Filtrieren durch Filteröffnungen von 0,2 Mikrometer nicht entfernt. Die Kationgruppe A kann NH&sub4;&spplus;, H&spplus;, Na&spplus;, K&spplus;, Li&spplus;, R+ sein oder aus organischen Aminkationen bestehen, d. h. , aus NR&sub4;&spplus;, wobei R die vorstehend angegebene Bedeutung hat. Wenn Metallionen, wie Na-, K- und Li-Salze, die elektrischen Eigenschaften der Schaltung beeinträchtigen könnten, werden vor allem z. B. Li-, Na-, K-, Ca- und Mg-Ionen nicht verwendet. Diese Substanzen werden offenbar in Bädern für die kontinuierliche Filtration nicht entfernt und verlegen daher keine Filter und werden nicht auf Oberflächen abgeschieden.
  • Daher hat die Erfindung die Aufgabe, eine Reihe von Ätzlösungen für Siliciumdioxid zu schaffen, mit denen die gewünschten Ätzgeschwindigkeiten erzielt werden können und ein besseres Benetzen erzielt werden kann als mit den Ätzlösungen nach dem Stand der Technik. Diese verbesserten Ätzmittel besitzen auch nach einem Filtrieren noch ihre Oberflächenaktivität.
  • Ferner hat unsere Erfindung die Aufgabe, eine Reihe derartiger Ätzlösungen zu schaffen, die nach einem Filtrieren z. B. in einer Säule im wesentlichen metallionenfrei sind und mit denen bei denselben Ätztemperaturen dieselben Ätzgeschwindigkeiten erzielt werden wie mit Lösungen nach dem Stand ,der Technik und die dank ihrer besseren Benetzungsfähigkeit ein gleichmäßigeres Ätzen bewirken und die keine Rückstände zurücklassen und das Haften von Photolack nicht beeinträchtigen.
  • Diese und weitere Aufgaben werden durch unsere im Anspruch 1 angegebene Erfindung gelöst. Danach werden Ätzlösungen geschaffen, die wenigstens teilweise aus einer wäßrigen Lösung von Fluorwasserstoff und Ammoniumfluorid mit zwischen 1 und 11 Gew.-% Fluorwasserstoff (HF), zwischen 13,5 und 40,5 Gew.-% Ammoniumfluorid (NH&sub4;F) und 25 bis 20 000 ppm eines bestimmten Tensids bestehen.
  • BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORM
  • Die Tenside, die sich im Rahmen der Erfindung als wirksam erwiesen haben, werden als fluorierte Cycloalkansulfonate und fluorierte Cycloalkensulfonate bezeichnet und haben die allgemeine Formel
  • in der X die Bedeutung F, H, Cl, OH, SO&sub3;A oder R haben kann, mindestens eine der Gruppen X SO&sub3;A ist, Y die Bedeutung F, Cl, H, OH oder R haben oder entfallen kann, so daß eine Doppelbindung vorhanden ist, R eine Alkyl- und/oder Fluoralkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen ist und n einen Wert von bis zu 6 hat. Die bevorzugten Verbindungen enthalten 4 bis 9 Kohlenstoffatome. Diese Substanzen haben eine verbesserte Löslichkeit und werden durch Filtrieren durch Filteröffnungen von 0,2 Mikrometer nicht entfernt. Durch A wird die Kationgruppe dargestellt, und es kann NH&sub4;&spplus;, H&spplus;, Na&spplus;, K&spplus;, Li&spplus;, P&spplus; oder NR&sub4; sein, wobei R die vorstehend angegebene Bedeutung hat. Wenn jedoch Salze mit einem relativ hohen Ionengehalt, wie Na-, K- und Li-Salze, die elektrischen Eigenschaften der Schaltung beeinträchtigen könnten, sollen derartige Ionen enthaltende Verbindungen nicht verwendet werden. Der Ausdruck "niedriger Metallionengehalt" besagt, daß Metallionen der
  • Gruppen I und II des Periodensystems, in erster Linie Li-, Na-, K-, Ca- und Mg-Ionen, nicht in nennenswerter Menge verwendet werden.
  • Alle neuen Ätzlösungen gemäß unserer Erfindung besitzen ihre Oberflächenaktivität auch nach dem Filtrieren durch Filteröffnungen von 0,2 Mikrometer, selbst bei einem kontinuierlichen Filtrieren. Ferner können die neuen Lösungen gemäß der Erfindung selbst nach einem Filtrieren Substrate wirksamer benetzen und zu einheitlicheren Ergebnissen führen, indem sie in einem Fotolackmuster kleine Oxidflächen (1 bis 5 Mikrometer) und große Oxidflächen (> 5 Mikrometer) mit derselben Geschwindigkeit ätzen können, ohne daß im Vergleich mit Lösungen nach dem Stand der Technik nachteilige Wirkungen auftreten.
  • Die erfindungsgemäßen Lösungen von HF und BH&sub4;F können nach beliebigen Verfahren hergestellt werden, in denen die Komponenten in den angegebenen Mengen anteiligen Mengen in Wasser gelöst werden. Wir ziehen es jedoch vor, wäßrige Lösungen der einzelnen Komponenten HF und HN&sub4;F zu mischen. Wir haben festgestellt, daß die HF-Standardlösung mit etwa 49% Fluorwasserstoff für diesen Zweck gut geeignet ist. Es versteht sich aber, daß auch Lösungen mit anderen HF-Konzentrationen verwendet werden können. Bei Verwendung dieser Lösung mit 49% HF muß eine Ammoniumfluoridlösung mit einer Konzentration zwischen 15 und 48 Gew.-% NH&sub4;F verwendet werden und werden Lösungen mit den gewünschten relativen Mengenanteilen der beiden Komponenten gemischt. Man kann Gemische von einem Gewichtsteil einer wäßrigen Lösung von 49 Gew.-% Fluorwasserstoff und 4 bis 100 Volumenteilen einer wäßrigen Lösung von 15 bis 48 Gew.-% Ammoniumfluorid verwenden. Auf diese Weise können Gemische hergestellt werden, die bis 11 Gew.-% HF und 13,5 bis 40,5 Gew.-% NH&sub4;F, Rest Wasser, enthalten. Dazu wird das gelöste fluorierte Cycloalkansulfonat und/oder fluorierte Cycloalkensulfonat mit niedrigem Metallionengehalt zugesetzt, worauf die Lösung durch ein Filter mit Öffnungen von 0,2 Mikrometer filtriert wird. Man kann natürlich HF und NH&sub4;F auch in anderen Konzentrationen verwenden.
  • Es wurde festgestellt, daß das wirksame Tensid in Konzentrationen im Bereich von 25 bis 20 000 wirksam ist. Es kann als Feststoff oder als eine Lösung in einem wäßrigen Gemisch mit einem polaren Lösungsmittel zugesetzt werden. Die Konzentration des aktiven Tensids liegt zweckmäßig im Bereich von 200 bis 5000 ppm.
  • Für manche Zwecke kann zum Herabsetzen der Korrosionswirkung ein geeignetes Verdünnungsmittel zugesetzt werden. Zu den geeigneten Verdünnungsmitteln gehören z. B. Essigsäure, Ethylenglykol und Alkylalkohole mit niederem Alkyl, z. B. mit 1 bis 3 Kohlenstoffatomen.
  • Die Erfindung wird in den nachstehenden Beispielen näher erläutert, in denen bestimmte im Rahmen der Erfindung, bevorzugte Arbeitsbedingungen näher angegeben sind, die jedoch in erster Linie der Erläuterung dienen und auf die die Erfindung in ihrem weiteren Umfang jedoch nicht eingeschränkt ist.
  • BEISPIEL 1 BIS 6
  • Zu einer Lösung von 27 Gew.-% Ammoniumfluorid, 6 Gew.-% Fluorwasserstoffsäure, Rest Wasser, wurden 250 ppm Tensid zugesetzt. Das Tensid wurde mit F¹&sup9;-NMR- und Massenspektrometrie analysiert. Die Oberflächenspannungen wurden bei 25ºC mit einem Du Nouy Ring-Oberflächenspannungsmesser gemessen. Die (in der Tabelle I angegebenen) Lösungen wurden durch ein Filter aus dem Fluorkohlenstoffpolymer TEFLON(R) mit Filteröffnungen von 0,2 Mikrometer filtriert; danach wurde ihre Oberflächenspannung nach demselben Verfahren gemessen.
  • Aus den in der Tabelle I angegebenen Ergebnissen von Oberflächenspannungsmessungen geht hervor, daß durch Filtrieren durch Filteröffnungen von 0,2 Mikrometer die Kaliumsalze der Perfluorcyclohexylsulfonsäure und des Perfluorethylderivats derselben und der verzweigten Perfluoroctylsulfonsäure im wesentlichen nicht entfernt wurden. Andererseits besagen die gemessenen Oberflächenspannungen, daß durch das Filtrieren die Kaliumsalze der linearen Perfluoroctylsulfonsaäure im wesentlichen aus der Lösung entfernt wurden.
  • Man erkennt, daß die linearen fluorierten Sulfonate mit einer Kettenlänge von C entfernt wurden, die fluorierten Cycloalkylsulfonate und die verzweigten Perfluoralkylsulfonate einer ähnlichen Masse dagegen in Lösung bleiben. TABELLE I Oberflächenspannung Oberflächenspannung vor dem Filtrieren nach dem Filtrieren Beispiel Ohne
  • * Kontrollversuch
  • a) Perfluorierter Ring
  • b) Perfluorierter Ring
  • c) In einer Konzentration von 1% zugesetzt

Claims (8)

1. Wäßrige Ätzlösung auf der Basis von Fluorwasserstoff und Ammoniumfluorid zum Ätzen von SiO&sub2;, dadurch gekennzeichnet, daß die Lösung zwischen 13,5 und 40,5 Gew.-% Ammoniumfluorid (NH&sub4;F), zwischen 1 und 11 Gew.-% Fluorwasserstoff und zwischen 25 und 20 000 ppm eines Tensids aus einem fluorierten Cycloalkansulfonat und/oder eines Tensids aus einem fluorierten Cycloalkensulfonat der Formel
enthält, in der n einen Wert von bis zu 6 hat, X die Bedeutung F, Cl, H, OH, SO&sub3;A oder R haben kann, Y die Bedeutung F, Cl, H, OH, R haben oder entfallen kann, so daß eine Doppelbindung vorhanden ist, A die Bedeutung NH&sub4;&spplus;, H&spplus;, Na&spplus;, K&spplus;, Li&spplus;, R&spplus; oder NR&sub4;&spplus; haben kann und R eine Alkyl- und/oder Fluoralkylgruppe mit 1 bis 4 Kohlenstoffatomen ist, wobei mindestens eine der Gruppen X SO&sub3;A ist.
2. Ätzlösung nach Anspruch 1, in der "n" einen Wert von 2 bis 4 hat.
3. Ätzlösung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, in der das fluorierte zyklische Tensid das Ammoniumsalz ist, das Metallionen der Gruppen I und II des Periodensystems nicht in beträchtlicher Menge enthält.
4. Ätzlösung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, in der das fluorierte Cycloalkan- oder Cycloalkensulfonat fluorierte Cycloalkan- oder Cycloalkensulfonsäure ist.
5. Ätzlösung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, in der das fluorierte zyklische Tensid in Mengen von 200 bis 5000 ppm vorhanden ist.
6. Ätzlösung nach einem der vorhergehenden Ansprüche mit zwischen 200 und 5000 ppm des fluorierten zyklischen Tensids und mit einem Verdünnungsmittel, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Essigsäure, Ethylenglykol und C&sub1;- bis C&sub3;-Alkylalkohol besteht.
7. Ätzlösung nach Anspruch 6, die bis zu 50 Gew.-% des Verdünnungsmittels enthält.
8. Verfahren zum Herstellen der Ätzlösung nach Anspruch 1, in dem 49 Gew.-% wäßriger Fluorwasserstoff und eine wäßrige Lösung von 15 bis 48 Gew.-% Ammoniumfluorid im Verhältnis von 1 Gewichtsteil der wäßrigen Fluorwasserstofflösung zu 4 bis 100 Volumenteilen der wäßrigen Ammoniumfluoridlösung gemischt werden und das im Anspruch 1 beschriebene, aus einem fluorierten zyklischen Sulfonat bestehende Tensid der Ätzlösung in Form eines trockenen Feststoffes oder einer Lösung in einem wäßrigen polaren Lösungsmittel zugesetzt und dadurch eine Lösung erhalten wird, in der das fluorierte zyklische Tensid in Mengen von 200 bis 5000 ppm vorhanden ist.
DE3689962T 1985-05-13 1986-04-30 Lösliche Zusätze für Oxid-Ätzlösungen aus NH4F/HF mit oberflächenaktivem fluoriertem Cykloalkansulfonat. Expired - Fee Related DE3689962T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/733,568 US4620934A (en) 1984-04-26 1985-05-13 Soluble fluorinated cycloalkane sulfonate surfactant additives for NH4

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3689962D1 DE3689962D1 (de) 1994-08-18
DE3689962T2 true DE3689962T2 (de) 1995-01-05

Family

ID=24948178

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3689962T Expired - Fee Related DE3689962T2 (de) 1985-05-13 1986-04-30 Lösliche Zusätze für Oxid-Ätzlösungen aus NH4F/HF mit oberflächenaktivem fluoriertem Cykloalkansulfonat.

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4620934A (de)
EP (1) EP0201808B1 (de)
JP (1) JPH0694596B2 (de)
KR (1) KR900003980B1 (de)
CN (1) CN1012071B (de)
CA (1) CA1276530C (de)
DE (1) DE3689962T2 (de)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4863563A (en) * 1987-01-27 1989-09-05 Olin Corporation Etching solutions containing ammonium fluoride and a nonionic alkyl amine glycidol adduct and method of etching
US4761244A (en) * 1987-01-27 1988-08-02 Olin Corporation Etching solutions containing ammonium fluoride and an alkyl polyaccharide surfactant
US4761245A (en) * 1987-01-27 1988-08-02 Olin Corporation Etching solutions containing ammonium fluoride and an alkylphenol polyglycidol ether surfactant
EP0416012B1 (de) * 1988-05-16 1993-11-24 Olin Corporation Ätzlösungen mit anionischen sulfatestern von alkylphenol-polyglycidol-ether
DE69418458T2 (de) * 1993-02-04 2000-01-27 Daikin Ind Ltd Nassaetzungsverbindung fuer halbleiter mit ausgezeichneten befeuchtungseigenschaften
US5320709A (en) * 1993-02-24 1994-06-14 Advanced Chemical Systems International Incorporated Method for selective removal of organometallic and organosilicon residues and damaged oxides using anhydrous ammonium fluoride solution
GB9621949D0 (en) * 1996-10-22 1996-12-18 Molloy Malachy J Floor and tile anti-slip treatment
DE19805525C2 (de) * 1998-02-11 2002-06-13 Sez Semiconduct Equip Zubehoer Verfahren zum Naßätzen von Halbleiterscheiben zum Erzeugen eines definierten Randbereichs durch Unterätzen
US5939336A (en) * 1998-08-21 1999-08-17 Micron Technology, Inc. Aqueous solutions of ammonium fluoride in propylene glycol and their use in the removal of etch residues from silicon substrates
US6670281B2 (en) * 1998-12-30 2003-12-30 Honeywell International Inc. HF etching and oxide scale removal
US6248704B1 (en) 1999-05-03 2001-06-19 Ekc Technology, Inc. Compositions for cleaning organic and plasma etched residues for semiconductors devices
AU2001274038A1 (en) * 2000-05-25 2001-12-03 Max Braun Etching process
ES2195770B1 (es) * 2002-02-21 2005-02-16 Jon Imanol Murua Fuertes Compuesto antideslizante.
US6740571B2 (en) * 2002-07-25 2004-05-25 Mosel Vitelic, Inc. Method of etching a dielectric material in the presence of polysilicon
US6890452B2 (en) * 2002-11-08 2005-05-10 3M Innovative Properties Company Fluorinated surfactants for aqueous acid etch solutions
JP4816250B2 (ja) * 2006-05-25 2011-11-16 三菱瓦斯化学株式会社 エッチング液組成物及びエッチング方法
US7779744B2 (en) * 2006-09-20 2010-08-24 Gm Global Technology Operations, Inc. Vehicular hydraulic system with priority valve
KR100891255B1 (ko) * 2007-01-05 2009-04-01 주식회사 하이닉스반도체 커패시터의 리닝 방지용 식각액 조성물 및 이를 이용한커패시터 제조 방법
KR20090109198A (ko) * 2008-04-15 2009-10-20 주식회사 동진쎄미켐 액정디스플레이 장치용 유리기판의 세정 및 식각 조성물 및이를 이용한 유리기판의 식각 방법
CN101840964B (zh) * 2009-03-18 2012-04-25 中国科学院半导体研究所 低阻p-GaN欧姆接触电极制备方法
CN108384548A (zh) * 2018-02-24 2018-08-10 苏州晶瑞化学股份有限公司 一种非金属氧化物膜用缓冲蚀刻液
CN115231864B (zh) * 2022-08-10 2023-06-20 安徽理工大学 一种利用二氧化硅基体蚀刻废液制备的碱激发混凝土及其应用

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1228083A (de) * 1968-06-10 1971-04-15
US3650960A (en) * 1969-05-06 1972-03-21 Allied Chem Etching solutions
US4040897A (en) * 1975-05-05 1977-08-09 Signetics Corporation Etchants for glass films on metal substrates
US4055458A (en) * 1975-08-07 1977-10-25 Bayer Aktiengesellschaft Etching glass with HF and fluorine-containing surfactant
JPS5616129A (en) * 1979-07-18 1981-02-16 Hitachi Ltd Pattern forming method
JPS5639027A (en) * 1979-09-08 1981-04-14 Mitsui Petrochem Ind Ltd Cyclopropenium salt and its preparation
JPS59974A (ja) * 1982-06-25 1984-01-06 Fujitsu Ltd 半導体受光装置の製造方法
JPS6039176A (ja) * 1983-08-10 1985-02-28 Daikin Ind Ltd エッチング剤組成物
US4517106A (en) * 1984-04-26 1985-05-14 Allied Corporation Soluble surfactant additives for ammonium fluoride/hydrofluoric acid oxide etchant solutions

Also Published As

Publication number Publication date
DE3689962D1 (de) 1994-08-18
KR860009100A (ko) 1986-12-20
JPH0694596B2 (ja) 1994-11-24
CN1012071B (zh) 1991-03-20
EP0201808A2 (de) 1986-11-20
EP0201808A3 (en) 1988-03-23
KR900003980B1 (ko) 1990-06-07
US4620934A (en) 1986-11-04
CN86103055A (zh) 1986-11-26
EP0201808B1 (de) 1994-07-13
JPS61266581A (ja) 1986-11-26
CA1276530C (en) 1990-11-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3689962T2 (de) Lösliche Zusätze für Oxid-Ätzlösungen aus NH4F/HF mit oberflächenaktivem fluoriertem Cykloalkansulfonat.
CA1241898A (en) Soluble surfactant additives for ammonium fluoride/hydrofluoric acid oxide etchant solutions
DE69636618T2 (de) Verfahren zur behandlung einer substratoberfläche und behandlungsmittel hierfür
DE68912351T2 (de) Ätzlösung für metallschicht mit photolackstruktur.
DE60315499T2 (de) Fluorhaltige tenside für wässrige säureätzlösungen
DE60212937T2 (de) Verfahren zum Entfernen von Rückständen von der Mikrostruktur eines Objektes
DE60309738T2 (de) Fluorhaltige tenside für gepufferte säureätzlösungen
JPS6219509B2 (de)
EP0975705B1 (de) Pufferlösungen für suspensionen, verwendbar zum chemisch-mechanischen polieren
DE2151073A1 (de) Verfahren zum chemischen Polieren von dielektrischen Einkristallen
DE112010003900T5 (de) Lösung zum Ätzen von Silizium und Ätz-Verfahren
DE69027266T2 (de) Schwefelsäurezusammensetzung mit niedriger oberflächenspannung
US4761244A (en) Etching solutions containing ammonium fluoride and an alkyl polyaccharide surfactant
DE69029228T2 (de) Oberflächenbehandlungsmittel für Präzisionsoberflächenbehandlung
DE69821151T2 (de) Zusammensetzungen zum Trocknen von festen Oberflächen
DE69833692T2 (de) Ätzlösung für das selektive ätzen von siliziumoxid mit fluorid-salz, komplexmittel und glykol-lösungsmittel
DE69201823T2 (de) Verbesserte Gleichförmigkeit beim Kupferätzen bei der Herstellung von mehrschichtig gedruckten Schaltungsplatinen.
EP0278628B1 (de) Ammoniumfluorid enthaltende Ätzlösungen
EP0499830A2 (de) Ätzlösung für nasschemische Prozesse der Halbleiterherstellung
DE69632107T2 (de) Reinigungslösung für Halbleiteranordnung und Reinigungsmethode
DE2015022B2 (de) Mittel zum Stabilisieren der Wasserhärte, insbesondere in Reinigungslösungen
DE19511236A1 (de) Reinigungsflüssigkeit für Silizium-Wafer und Verfahren zur Reinigung von Silizium-Wafern unter Verwendung dieser Reinigungsflüssigkeit
DE4101564A1 (de) Aetzloesung fuer nasschemische prozesse der halbleiterherstellung
DE68923844T2 (de) Entwickler für Positiv-Photolacke.
EP0164143A1 (de) Verfahren zum Ätzen von ferrimagnetischen Granatverbindungen

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee