DE3544932C2 - Wäßriges Bad zur stromlosen Verkupferung und Verfahren zur stromlosen Abscheidung von Kupfer unter Verwendung des Bades - Google Patents
Wäßriges Bad zur stromlosen Verkupferung und Verfahren zur stromlosen Abscheidung von Kupfer unter Verwendung des BadesInfo
- Publication number
- DE3544932C2 DE3544932C2 DE3544932A DE3544932A DE3544932C2 DE 3544932 C2 DE3544932 C2 DE 3544932C2 DE 3544932 A DE3544932 A DE 3544932A DE 3544932 A DE3544932 A DE 3544932A DE 3544932 C2 DE3544932 C2 DE 3544932C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- copper
- bath
- mol
- solution
- acid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000010949 copper Substances 0.000 title claims abstract description 143
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 142
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 142
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 35
- 238000007747 plating Methods 0.000 title claims description 29
- 230000008021 deposition Effects 0.000 title claims description 28
- -1 glyoxylate ions Chemical class 0.000 claims abstract description 30
- 239000008139 complexing agent Substances 0.000 claims abstract description 25
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 claims abstract description 22
- JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N Cu2+ Chemical compound [Cu+2] JPVYNHNXODAKFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- 229910001431 copper ion Inorganic materials 0.000 claims abstract description 13
- HHLFWLYXYJOTON-UHFFFAOYSA-N glyoxylic acid Chemical compound OC(=O)C=O HHLFWLYXYJOTON-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 92
- NSOXQYCFHDMMGV-UHFFFAOYSA-N Tetrakis(2-hydroxypropyl)ethylenediamine Chemical compound CC(O)CN(CC(C)O)CCN(CC(C)O)CC(C)O NSOXQYCFHDMMGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N Dextrotartaric acid Chemical group OC(=O)[C@H](O)[C@@H](O)C(O)=O FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N 0.000 claims description 10
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 10
- 229940095064 tartrate Drugs 0.000 claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 9
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 7
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 5
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 claims description 5
- KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N EDTA Chemical compound OC(=O)CN(CC(O)=O)CCN(CC(O)=O)CC(O)=O KCXVZYZYPLLWCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- QYCVHILLJSYYBD-UHFFFAOYSA-L copper;oxalate Chemical compound [Cu+2].[O-]C(=O)C([O-])=O QYCVHILLJSYYBD-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M hydroxide Chemical compound [OH-] XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 3
- GOCCREQJUBABAL-UHFFFAOYSA-N 2,2-dihydroxyacetic acid Chemical compound OC(O)C(O)=O GOCCREQJUBABAL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 2
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 claims description 2
- 230000003716 rejuvenation Effects 0.000 claims description 2
- 229960001484 edetic acid Drugs 0.000 claims 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims 1
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical compound O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 70
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract description 33
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 105
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 85
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 47
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 44
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 32
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 22
- 230000001464 adherent effect Effects 0.000 description 19
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 16
- AEMRFAOFKBGASW-UHFFFAOYSA-N Glycolic acid Chemical compound OCC(O)=O AEMRFAOFKBGASW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- MPTQRFCYZCXJFQ-UHFFFAOYSA-L copper(II) chloride dihydrate Chemical compound O.O.[Cl-].[Cl-].[Cu+2] MPTQRFCYZCXJFQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 12
- JXTHNDFMNIQAHM-UHFFFAOYSA-N dichloroacetic acid Chemical compound OC(=O)C(Cl)Cl JXTHNDFMNIQAHM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 8
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 7
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 6
- JZCCFEFSEZPSOG-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate pentahydrate Chemical compound O.O.O.O.O.[Cu+2].[O-]S([O-])(=O)=O JZCCFEFSEZPSOG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 6
- LJCNRYVRMXRIQR-OLXYHTOASA-L potassium sodium L-tartrate Chemical compound [Na+].[K+].[O-]C(=O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O LJCNRYVRMXRIQR-OLXYHTOASA-L 0.000 description 6
- 235000011006 sodium potassium tartrate Nutrition 0.000 description 6
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- BERDEBHAJNAUOM-UHFFFAOYSA-N copper(i) oxide Chemical compound [Cu]O[Cu] BERDEBHAJNAUOM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229960005215 dichloroacetic acid Drugs 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- ACVYVLVWPXVTIT-UHFFFAOYSA-N phosphinic acid Chemical class O[PH2]=O ACVYVLVWPXVTIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 5
- WGJCBBASTRWVJL-UHFFFAOYSA-N 1,3-thiazolidine-2-thione Chemical compound SC1=NCCS1 WGJCBBASTRWVJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000005705 Cannizzaro reaction Methods 0.000 description 4
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 4
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 4
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 4
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 4
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 4
- GEHJYWRUCIMESM-UHFFFAOYSA-L sodium sulfite Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]S([O-])=O GEHJYWRUCIMESM-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- YXIWHUQXZSMYRE-UHFFFAOYSA-N 1,3-benzothiazole-2-thiol Chemical compound C1=CC=C2SC(S)=NC2=C1 YXIWHUQXZSMYRE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- AEQDJSLRWYMAQI-UHFFFAOYSA-N 2,3,9,10-tetramethoxy-6,8,13,13a-tetrahydro-5H-isoquinolino[2,1-b]isoquinoline Chemical compound C1CN2CC(C(=C(OC)C=C3)OC)=C3CC2C2=C1C=C(OC)C(OC)=C2 AEQDJSLRWYMAQI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- ROFVEXUMMXZLPA-UHFFFAOYSA-N Bipyridyl Chemical group N1=CC=CC=C1C1=CC=CC=N1 ROFVEXUMMXZLPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XFXPMWWXUTWYJX-UHFFFAOYSA-N Cyanide Chemical compound N#[C-] XFXPMWWXUTWYJX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-N Sulfurous acid Chemical compound OS(O)=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000005864 Sulphur Substances 0.000 description 3
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 3
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 3
- 150000001299 aldehydes Chemical class 0.000 description 3
- 239000002738 chelating agent Substances 0.000 description 3
- 150000001879 copper Chemical class 0.000 description 3
- ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L copper(II) chloride Chemical compound Cl[Cu]Cl ORTQZVOHEJQUHG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- QCPTVXCMROGZOL-UHFFFAOYSA-L dipotassium;oxalate;hydrate Chemical compound O.[K+].[K+].[O-]C(=O)C([O-])=O QCPTVXCMROGZOL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 3
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 3
- WHMDPDGBKYUEMW-UHFFFAOYSA-N pyridine-2-thiol Chemical compound SC1=CC=CC=N1 WHMDPDGBKYUEMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 3
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 3
- 239000000176 sodium gluconate Substances 0.000 description 3
- 235000012207 sodium gluconate Nutrition 0.000 description 3
- 229940005574 sodium gluconate Drugs 0.000 description 3
- HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 2-Aminoethan-1-ol Chemical compound NCCO HZAXFHJVJLSVMW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QPCDCPDFJACHGM-UHFFFAOYSA-N N,N-bis{2-[bis(carboxymethyl)amino]ethyl}glycine Chemical compound OC(=O)CN(CC(O)=O)CCN(CC(=O)O)CCN(CC(O)=O)CC(O)=O QPCDCPDFJACHGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 2
- 238000013019 agitation Methods 0.000 description 2
- 239000012670 alkaline solution Substances 0.000 description 2
- HTKFORQRBXIQHD-UHFFFAOYSA-N allylthiourea Chemical compound NC(=S)NCC=C HTKFORQRBXIQHD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229960001748 allylthiourea Drugs 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- LMBWSYZSUOEYSN-UHFFFAOYSA-N diethyldithiocarbamic acid Chemical compound CCN(CC)C(S)=S LMBWSYZSUOEYSN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229950004394 ditiocarb Drugs 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- LEQAOMBKQFMDFZ-UHFFFAOYSA-N glyoxal Chemical compound O=CC=O LEQAOMBKQFMDFZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N methanoic acid Natural products OC=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HMMPCBAWTWYFLR-UHFFFAOYSA-N n-pyridin-2-ylpyridin-2-amine Chemical compound C=1C=CC=NC=1NC1=CC=CC=N1 HMMPCBAWTWYFLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000006386 neutralization reaction Methods 0.000 description 2
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 description 2
- 229940039748 oxalate Drugs 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229960003330 pentetic acid Drugs 0.000 description 2
- 229920001021 polysulfide Polymers 0.000 description 2
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001476 sodium potassium tartrate Substances 0.000 description 2
- 235000010265 sodium sulphite Nutrition 0.000 description 2
- AKHNMLFCWUSKQB-UHFFFAOYSA-L sodium thiosulfate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]S([O-])(=O)=S AKHNMLFCWUSKQB-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 235000019345 sodium thiosulphate Nutrition 0.000 description 2
- UEUXEKPTXMALOB-UHFFFAOYSA-J tetrasodium;2-[2-[bis(carboxylatomethyl)amino]ethyl-(carboxylatomethyl)amino]acetate Chemical compound [Na+].[Na+].[Na+].[Na+].[O-]C(=O)CN(CC([O-])=O)CCN(CC([O-])=O)CC([O-])=O UEUXEKPTXMALOB-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 2
- 239000000080 wetting agent Substances 0.000 description 2
- SZQUPQVVCLFZLC-UHFFFAOYSA-N 2-[benzyl(carboxymethyl)amino]acetic acid Chemical compound OC(=O)CN(CC(O)=O)CC1=CC=CC=C1 SZQUPQVVCLFZLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYFISNUWRPXWFQ-UHFFFAOYSA-N 3-[2-aminoethyl(2-hydroxyethyl)amino]propane-1,1,1-triol Chemical compound NCCN(CCO)CCC(O)(O)O RYFISNUWRPXWFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZKIBJUYAYGFWII-UHFFFAOYSA-N 3-aminopropane-1,1,1-triol Chemical compound NCCC(O)(O)O ZKIBJUYAYGFWII-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 4-(3-methoxyphenyl)aniline Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YIROYDNZEPTFOL-UHFFFAOYSA-N 5,5-Dimethylhydantoin Chemical compound CC1(C)NC(=O)NC1=O YIROYDNZEPTFOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M Acetate Chemical compound CC([O-])=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- KXDHJXZQYSOELW-UHFFFAOYSA-N Carbamic acid Chemical compound NC(O)=O KXDHJXZQYSOELW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical class [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VMQMZMRVKUZKQL-UHFFFAOYSA-N Cu+ Chemical class [Cu+] VMQMZMRVKUZKQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-L L-tartrate(2-) Chemical compound [O-]C(=O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-L 0.000 description 1
- UXCWQGQTBWILMA-UHFFFAOYSA-N OC(CNCCNCCN)(C(O)(O)O)O Chemical compound OC(CNCCNCCN)(C(O)(O)O)O UXCWQGQTBWILMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229930040373 Paraformaldehyde Natural products 0.000 description 1
- RVGRUAULSDPKGF-UHFFFAOYSA-N Poloxamer Chemical compound C1CO1.CC1CO1 RVGRUAULSDPKGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003171 Poly (ethylene oxide) Polymers 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010070834 Sensitisation Diseases 0.000 description 1
- FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N Tartaric acid Natural products [H+].[H+].[O-]C(=O)C(O)C(O)C([O-])=O FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-M Thiocyanate anion Chemical compound [S-]C#N ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003929 acidic solution Substances 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 1
- 238000005882 aldol condensation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 150000008044 alkali metal hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 description 1
- 239000012736 aqueous medium Substances 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 150000001540 azides Chemical class 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N borane Chemical class B UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000085 borane Inorganic materials 0.000 description 1
- YJROYUJAFGZMJA-UHFFFAOYSA-N boron;morpholine Chemical compound [B].C1COCCN1 YJROYUJAFGZMJA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZTQYEZDTWTZXPF-UHFFFAOYSA-N boron;propan-2-amine Chemical compound [B].CC(C)N ZTQYEZDTWTZXPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000711 cancerogenic effect Effects 0.000 description 1
- 231100000315 carcinogenic Toxicity 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L chromic acid Substances O[Cr](O)(=O)=O KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 150000004699 copper complex Chemical class 0.000 description 1
- 229910000365 copper sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L copper(II) sulfate Chemical compound [Cu+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] ARUVKPQLZAKDPS-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- YNIFQWSXTHTYPX-UHFFFAOYSA-L copper;sulfate;dihydrate Chemical compound O.O.[Cu+2].[O-]S([O-])(=O)=O YNIFQWSXTHTYPX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229960003280 cupric chloride Drugs 0.000 description 1
- KRFJLUBVMFXRPN-UHFFFAOYSA-N cuprous oxide Chemical compound [O-2].[Cu+].[Cu+] KRFJLUBVMFXRPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940112669 cuprous oxide Drugs 0.000 description 1
- 150000003946 cyclohexylamines Chemical class 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- HRKQOINLCJTGBK-UHFFFAOYSA-N dihydroxidosulfur Chemical class OSO HRKQOINLCJTGBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IRXRGVFLQOSHOH-UHFFFAOYSA-L dipotassium;oxalate Chemical compound [K+].[K+].[O-]C(=O)C([O-])=O IRXRGVFLQOSHOH-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- WBZKQQHYRPRKNJ-UHFFFAOYSA-L disulfite Chemical compound [O-]S(=O)S([O-])(=O)=O WBZKQQHYRPRKNJ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 235000019253 formic acid Nutrition 0.000 description 1
- 150000004675 formic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000003517 fume Substances 0.000 description 1
- AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-b]pyrazine-5,7-dione Chemical compound C1=CN=C2C(=O)OC(=O)C2=N1 AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940015043 glyoxal Drugs 0.000 description 1
- 239000008187 granular material Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002429 hydrazines Chemical class 0.000 description 1
- JUINSXZKUKVTMD-UHFFFAOYSA-N hydrogen azide Chemical compound N=[N+]=[N-] JUINSXZKUKVTMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-N hydrogen thiocyanate Natural products SC#N ZMZDMBWJUHKJPS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 1
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 1
- 150000004679 hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- NBZBKCUXIYYUSX-UHFFFAOYSA-N iminodiacetic acid Chemical compound OC(=O)CNCC(O)=O NBZBKCUXIYYUSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 description 1
- VRWKTAYJTKRVCU-UHFFFAOYSA-N iron(6+);hexacyanide Chemical compound [Fe+6].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-].N#[C-] VRWKTAYJTKRVCU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- WSFSSNUMVMOOMR-NJFSPNSNSA-N methanone Chemical compound O=[14CH2] WSFSSNUMVMOOMR-NJFSPNSNSA-N 0.000 description 1
- 230000003472 neutralizing effect Effects 0.000 description 1
- 150000002823 nitrates Chemical class 0.000 description 1
- MGFYIUFZLHCRTH-UHFFFAOYSA-N nitrilotriacetic acid Chemical compound OC(=O)CN(CC(O)=O)CC(O)=O MGFYIUFZLHCRTH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen group Chemical group [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000001477 organic nitrogen group Chemical group 0.000 description 1
- FKVWZYOXUFZTKM-UHFFFAOYSA-N oxaldehydic acid;sulfurous acid Chemical compound OS(O)=O.OC(=O)C=O FKVWZYOXUFZTKM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GEVPUGOOGXGPIO-UHFFFAOYSA-N oxalic acid;dihydrate Chemical compound O.O.OC(=O)C(O)=O GEVPUGOOGXGPIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 229920002866 paraformaldehyde Polymers 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 150000002978 peroxides Chemical class 0.000 description 1
- JRKICGRDRMAZLK-UHFFFAOYSA-L peroxydisulfate Chemical compound [O-]S(=O)(=O)OOS([O-])(=O)=O JRKICGRDRMAZLK-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- AQSJGOWTSHOLKH-UHFFFAOYSA-N phosphite(3-) Chemical class [O-]P([O-])[O-] AQSJGOWTSHOLKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PTMHPRAIXMAOOB-UHFFFAOYSA-N phosphoramidic acid Chemical compound NP(O)(O)=O PTMHPRAIXMAOOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 231100000614 poison Toxicity 0.000 description 1
- 230000007096 poisonous effect Effects 0.000 description 1
- 229920000233 poly(alkylene oxides) Polymers 0.000 description 1
- 229920002492 poly(sulfone) Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000005077 polysulfide Substances 0.000 description 1
- 150000008117 polysulfides Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 1
- 229910001380 potassium hypophosphite Inorganic materials 0.000 description 1
- CRGPNLUFHHUKCM-UHFFFAOYSA-M potassium phosphinate Chemical compound [K+].[O-]P=O CRGPNLUFHHUKCM-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- WOTCTOFEBNHWND-UHFFFAOYSA-M potassium;oxaldehydate Chemical compound [K+].[O-]C(=O)C=O WOTCTOFEBNHWND-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 1
- UBQKCCHYAOITMY-UHFFFAOYSA-N pyridin-2-ol Chemical compound OC1=CC=CC=N1 UBQKCCHYAOITMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 230000008313 sensitization Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000007086 side reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000779 smoke Substances 0.000 description 1
- MNWBNISUBARLIT-UHFFFAOYSA-N sodium cyanide Chemical compound [Na+].N#[C-] MNWBNISUBARLIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SOEVVANXSDKPIY-UHFFFAOYSA-M sodium glyoxylate Chemical compound [Na+].[O-]C(=O)C=O SOEVVANXSDKPIY-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910001379 sodium hypophosphite Inorganic materials 0.000 description 1
- ZNCPFRVNHGOPAG-UHFFFAOYSA-L sodium oxalate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C(=O)C([O-])=O ZNCPFRVNHGOPAG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229940039790 sodium oxalate Drugs 0.000 description 1
- WWGXHTXOZKVJDN-UHFFFAOYSA-M sodium;n,n-diethylcarbamodithioate;trihydrate Chemical compound O.O.O.[Na+].CCN(CC)C([S-])=S WWGXHTXOZKVJDN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VPWPWKBHCGJTTQ-UHFFFAOYSA-M sodium;oxaldehydate;hydrate Chemical compound O.[Na+].[O-]C(=O)C=O VPWPWKBHCGJTTQ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- IIACRCGMVDHOTQ-UHFFFAOYSA-N sulfamic acid Chemical compound NS(O)(=O)=O IIACRCGMVDHOTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000446 sulfanediyl group Chemical group *S* 0.000 description 1
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-L sulfite Chemical class [O-]S([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 235000002906 tartaric acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000011975 tartaric acid Substances 0.000 description 1
- 150000003892 tartrate salts Chemical class 0.000 description 1
- 150000003567 thiocyanates Chemical class 0.000 description 1
- DHCDFWKWKRSZHF-UHFFFAOYSA-L thiosulfate(2-) Chemical compound [O-]S([S-])(=O)=O DHCDFWKWKRSZHF-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 150000004764 thiosulfuric acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J tin(iv) chloride Chemical compound Cl[Sn](Cl)(Cl)Cl HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 231100000331 toxic Toxicity 0.000 description 1
- 230000002588 toxic effect Effects 0.000 description 1
- KQBSGRWMSNFIPG-UHFFFAOYSA-N trioxane Chemical compound C1COOOC1 KQBSGRWMSNFIPG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004584 weight gain Effects 0.000 description 1
- 235000019786 weight gain Nutrition 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
- C23C18/31—Coating with metals
- C23C18/38—Coating with copper
- C23C18/40—Coating with copper using reducing agents
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10S428/922—Static electricity metal bleed-off metallic stock
- Y10S428/9335—Product by special process
- Y10S428/936—Chemical deposition, e.g. electroless plating
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemically Coating (AREA)
- Electrolytic Production Of Metals (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Sealing Material Composition (AREA)
- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
Abstract
Kupfer kann aus einer Zusammensetzung stromlos abgeschieden werden, die Kupferionen, einen Komplex-Bildner, die Kupferionen in Lösung hält, und Glyoxylationen als Reduktionsmittel enthält. Dadurch wird die Verwendung von Formaldehyd vermieden.
Description
- Die Erfindung betrifft ein wäßriges Bad zur stromlosen Verkupferung und ein Verfahren zur stromlosen Abscheidung von Kupfer auf einem Substrat unter Verwendung des Bades, das eine Kupferionenquelle, einen Komplexbildner, der mit Kupferionen einen Komplex zu bilden vermag, welcher stärker ist als ein Kupferoxalatkomplex, und ein Reduktionsmittel enthält.
- Bei der stromlosen Abscheidung von Kupfer auf nicht leitenden Oberflächen, wie Montageplatten mit gedruckter Schaltung (PCBs) und Kunststoffen sind Formaldehyd und seine Polymeren lange als Reduktionsmittel verwendet worden.
- Es wird angenommen, daß Formaldehyd durch Umsetzung mit einem Hydroxylion unter Bildung eines Hydridions wirkt (P. Vaillagou + J. Pelissier, Traitements de Surface, 148, September 1976, pp 41-45), welches in einer aktivierten Oberfläche adsorbiert wird, um sie katalytisch zu machen. In Abwesenheit einer reduzierbaren Spezies, wie Cu(II)-Ionen, reduziert das Hydridion ein anderes Formaldehydmolekül zu Methanol. Diese Selbst-Oxidations/Reduktions-Reaktion des Formaldehyds ist als Cannizzaro-Reaktion bekannt. Wenn aber eine geeignete reduzierbare Spezies anwesend ist, wird diese ordnungsgemäß reduziert. Auf diese Weise werden Kupferionen zu Kupfermetall reduziert. Wegen der Bildung des Hydridions wird die stromlose Kupferabscheidung bei Verwendung von Formaldehyd als Reduktionsmittel als autokatalytisch bezeichnet; das bedeutet, daß, wenn Kupfer auf einer Oberfläche abzuscheiden ist, welche vorher aktiviert worden ist, um sie katalytisch zu machen, es möglich ist, einen Überzug zu erhalten, der dicker ist als eine bloße Anschlagverkupferung. Der Grund dafür besteht darin, daß, wenn die katalytischen Oberflächenstellen durch die abgeschiedene Schicht verborgen werden, die Kontinuität der Reduktionsreaktion durch die Bildung der Hydridionen während des Ablaufs der Reaktion sichergestellt ist.
- Es sind viele Alternativen für Formaldehyd vorgeschlagen worden, zum Beispiel anstelle von Formaldehyd andere Aldehyde, die die Cannizzaro-Reaktion eingehen können, zur stromlosen Verkupferung zu verwenden; sie haben aber alle den Nachteil, daß sie auch in der Lage sind, die Aldolkondensationsreaktion einzugehen, die in der Bildung von langkettigen Polymeren und eventuell Harzen resultiert. Außerdem sind andere Aldehyde im allgemeinen wie Formaldehyd flüchtig und/oder so hydrophob, daß sie in Wasser unlöslich sind.
- Bäder der eingangs angegebenen Gattung sind aus den US-PS 4 171 225 und 3 607 317 bekannt. Da Formaldehyd in alkalischen Bädern unerwünschte Nebenreaktionen eingeht, wird in der zuerst genannten PS vorgeschlagen, als Reduktionsmittel einen Komplex von Formaldehyd und einer Aminocarbonsäure, einer Aminosulfonsäure oder einer Aminophosphonsäure zu verwenden. Die Wiederauffrischung des Bades erfolgt durch Zusatz von Formaldehyd. In der US-PS 3 607 317 sind als Reduktionsmittel neben Formaldehyd angeführt: Vorläufer oder Derivate von Formaldehyd wie Paraformaldehyd, Trioxan, Dimethyl-hydantoin und Glyoxal; Borhydride, wie Natrium- und Kalium-Borhydrid, substituierte Borhydride, wie Natrium-trimethoxi-borhydrid und Borane wie Isopropylamin- boran und Morpholin-boran. Es ist auch angegeben, daß Hypophosphite, wie Natrium- und Kalium-hypophosphit, in sauren Lösungen zur stromlosen Verkupferung verwendet worden sind.
- Obwohl Hypophosphite die am meisten vorgeschlagenen, sich nicht von Formaldehyd ableitenden Reduktionsmittel sind, haben sie den Nachteil für einige Anwendungszwecke, daß sie nicht autokatalytisch sind. Es ist deshalb schwer, mit hypophosphithaltigen Bädern mehr als eine Anschlagkupferschicht zu erhalten.
- In einem in "Finishing Industries", October 1977, S. 36 bis 43 veröffentlichten, mit "Electroless Copper" betitelten Artikel besprechen Pushpavanam und Shenol die Verwendung von Hypophosphiten, Phosphiten, Hyposulfiten, Sulfiten, Sulfoxylaten, Thiosulfiten, Hdrazinen, Stickstoffwasserstoffsäure, Aziden, Formiaten und Tartraten zusätzlich zu Formaldehyd.
- Trotz dieser verschiedenen Alternativvorschläge zu Formaldehyd scheint keiner einen besonders bemerkenswerten wirtschaftlichen Erfolg zu haben. Dies dürfte die US-PS 4 279 948, die selbst die Verwendung von Hypophosphiten als Reduktionsmittel in Zusammensetzungen für die stromlose Verkupferung befürwortet, bestätigen, indem in Spalte 2, Zeilen 58 bis 59 steht:
Für Kupfer wird Formaldehyd heutzutage in der Industrie in weitaus größtem Maße gewählt.
Dies dürfte darauf zurückzuführen sein, daß Formaldehyd verhältnismäßig billig ist.
- In letzter Zeit sind aber Bedenken bezüglich der Verwendung von Formaldehyd aufgetreten. Er ist toxisch, flüchtig, und es wird angenommen, daß er karzinogen ist. Seine Verwendung ist in technologisch fortschrittlichen Ländern streng geregelt und man rechnet damit, daß die Bestimmungen noch strenger werden.
- Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Bad zur stromlosen Verkupferung der eingangs angegebenen Gattung bereitzustellen, das wirtschaftlich ist und als Reduktionsmittel weder Formaldehyd noch einen Vorläufer oder ein Derivat davon enthält und autokatalytisch ist. Es soll auch ein Verfahren zur stromlosen Verkupferung unter Verwendung dieses Bades und ein Verfahren zu seiner Wiederauffrischung angegeben werden.
- Die Aufgabe wird durch das Bad nach Anspruch 1, das Verfahren zur stromlosen Abscheidung von Kupfer nach Anspruch 9 und das Verfahren nach Anspruch 12 zum Wiederauffrischen des wäßrigen Bades gelöst. Bevorzugte Ausführungsformen sind in den Unteransprüchen angegeben.
- Es ist gefunden worden, daß Glyoxylsäure (nach der modernen chemischen Nomenklatur mit Oxoethansäure bezeichnet) als Reduktionsmittel in alkalischen Zusammensetzungen für die stromlose Verkupferung außerordentlich zufriedenstellend arbeitet. Obwohl Glyoxylsäure selbst seit langem bekannt ist, ist ihre Eignung in Bädern für die stromlose Verkupferung bisher nicht erkannt worden. Womöglich hat der Stand der Technik von seiner Verwendung weggeführt. Saubestre verweist in Proc. Amer. Electroplater's Soc., (1959), 46, 264, auf verschiedene Oxidationsprodukte von Weinsäure (nämlich Glyoxylsäure, Oxalsäure und Ameisensäure), die Reduktionsmittel sind, welche "Cuprisalze zum Cupro- Zustand reduzieren können". Er geht jedoch weiter und sagt:
"In allen Versuchen, die die Verwendung dieser Materialien als Reduktionsmittel einschlossen, wurde kein Erfolg erhalten."
- Saubestre gab nicht an, welche die Bestandteile der Zusammensetzungen seiner Versuche waren. Insbesondere sagte er nicht, ob die Zusammensetzungen sauer oder alkalisch waren, obwohl er erwähnt, daß ein Komplex von einem Kupfer (II)-Ion und einem Tartration in Alkali beständig ist. Er sagt auch nicht, ob irgendein Komplexbildner für das Kupfer verwendet wurde. Es ist daher unmöglich, zu erraten, warum Saubestres Versuche erfolglos waren, aber die Tatsache bleibt, daß er nicht offenbarte, wie eine funktionierende Zusammensetzung für die stromlose Verkupferung unter Verwendung von Glyoxylsäure bereitzustellen ist. Was er tat war, von jeder weiteren Arbeit an der möglichen Verwendung der von ihm erwähnten Reduktionsmittel in Bädern für die stromlose Verkupferung abzuschrecken.
- Im Gegensatz zu dem, was nach den Lehren von Saubestre zu erwarten war, ist nun gefunden worden, daß Glyoxylsäure in alkalischen Bädern für die stromlose Verkupferung als Reduktionsmittel wirkt. Und da Glyoxylsäure in Form des Glyoxylat-Anions in alkalischer Lösung vorliegt und nicht als ein gelöstes giftiges Gas, können viele der Sicherheits- und Umweltprobleme, die mit der Verwendung von Formaldehyd verbunden sind, ausgeschaltet werden. Ferner hat das Verhalten von Glyoxylsäure als Reduktionsmittel viele Ähnlichkeiten mit Formaldehyd (es unterliegt auch der Cannizzaro-Reaktion, wird aber oxidiert und reduziert zu Oxalsäure und Glycolsäure) und resultiert in der Freisetzung eines Hydridions. Dieses ermöglicht seine Verwendung als ein autokatalytisches Reduktionsmittel.
- Die Ausdrücke "Glyoxylsäure" und "Glyoxylat" werden hierin austauschbar benutzt, wenn der Zusammenhang es nicht anders erfordert, da die genaue Natur der vorliegenden Spezies von dem pH-Wert der Zusammensetzung abhängt; und daß die gleiche Überlegung auch auf andere schwache Säuren und Basen angewendet wird.
- Die Kupferionenquelle kann irgendein lösliches Kupfersalz sein, das mit der Badzusammensetzung verträglich ist. Kupferchlorid und Kupfersulfat werden allgemein bevorzugt, weil sie leicht verfügbar sind, Nitrate, andere Halogensalze oder organische Salze, wie Acetat, sind ebenfalls geeignet. Die Menge Kupfer in dem Bad liegt im Bereich von 0,5 bis 40 g/l (0,0078 bis 0,63 Mol/l), vorzugsweise von 2 bis 10 g/l (0,031 bis 0,16 Mol/l).
- Der Komplexbildner muß in der Lage sein, einen stabilen wasserlöslichen Kupferkomplex in dem Bad zu bilden, insbesondere unter Bedingungen hohen pH-Wertes (z. B. bis zu 12 und darüber) und hoher Temperatur (z. B. bis zum Sieden). Der Komplexbildner verhütet das Ausfallen von Kupferoxiden oder -hydroxiden oder unlöslichen Kupfersalzen, wie Kupferoxalat, aus dem Bad. Die Bedeutung, das Ausfallen von Kupferoxalat zu verhüten, liegt darin, daß, wenn Glyoxylsäure als Reduktionsmittel wirkt, es selbst zu Oxalsäure oxidiert wird. Es wird daher die Tendenz bestehen, daß sich bei Betrieb des Bades Oxalationen aufbauen.
- Praktisch alle Komplexbildner, die für die Verwendung in formaldehydhaltigen Bädern für die stromlose Verkupferung, z. B. in den schon genannten US-PS 3 607 317 und 4 171 222, vorgeschlagen worden sind, sind auch in Bädern gemäß der Erfindung geeignet. Es wird angenommen, daß der Komplexbildner die Koordination des Kupfers in der Lösung mit Wasser oder Hydroxylionen inhibiert, so daß er die Bildung von Kupfer-Hydroxyl- und Kupfer-Wasser-Bindungen, die zum Ausfallen von Kupfer(I)-Oxid führen, verhindert.
- Es kann ein Komplexbildner oder ein Gemisch von Komplexbildnern eingesetzt werden.
- Bevorzugte Komplexbildner fallen unter eine der in Anspruch 2 angegebenen allgemeinen Formeln I, II und III.
- Beispiele für diese Komplexbildner sind: EDTP, Pentahydroxypropyl-diethylentriamin, Trihydroxypropylamin ( Tripropanolamin) und Trihydroxypropyl-hydroxyethyl-ethylendiamin. EDTP wird besonders bevorzugt, weil es die Abscheidung mit zufriedenstellender Geschwindigkeit ermöglicht. Bäder, die EDTA als Komplexbildner enthalten, arbeiten langsamer, aber geben ein Produkt besserer Qualität. Was in der Praxis bevorzugt wird, hängt von dem jeweiligen Anwendungszweck, für den das beschichtete Substrat bestimmt ist, ab.
- Andere Komplexbildner, die verwendet werden können, sind ethoxylierte Cyclohexylamine und Benzyliminodiessigsäure (in der US-PS 3 645 749 offenbart), ferner Glycolsäure, Iminodiessigsäure, Polyimine und Ethanolamin. Die gebrachte Auswahl an Komplexbildnern zeigt, daß es möglich ist, außerordentlich gute Ergebnisse mit einem Bad nach der Erfindung zu formulieren, das frei von Tartrationen, die z. B. durch Rochelle-Salz bereitgestellt werden können, ist.
- Im allgemeinen hängt die erforderliche Menge Komplexbildner in dem Bad von der Menge Kupfer und der Natur des Komplexbildners ab. Es kann gefunden werden, daß die wirksamsten Komplexbildner Chelat-Bildner sind. Die optimale Menge für Penta-, Hexa- und Heptadentat-Chelat- Bildner (die bevorzugt werden) ist etwa das 1,5fache der Menge Kupfer in dem Bad, auf molarer Basis berechnet. Vorzugsweise liegt das Molverhältnis von Kupferionen zu Komplexbildner in dem Bereich von 1 : 0,7 bis 1 : 3 bis zur Löslichkeitsgrenze oder anderen Badverträglichkeiten. Bei Bi-, Tri- und Tetradentat-Chelatoren sind gewöhnlich höhere molare Konzentrationen, bezogen auf die Kupferkonzentration, erforderlich.
- Wenn Tartrat als Komplexbildner verwendet wird, hängt die Mindestmenge Tartrat im Bad von der Menge anwesenden Kupfers ab; das Molverhältnis von Tartrat zu Kupfer ist mindestens 6 : 1, vorzugsweise mindestens 7 : 1 bis 10 : 1. Ein höheres Verhältnis resultiert wahrscheinlich in einer glatteren Kupferabscheidung, bis zur Unverträglichkeitsgrenze des Tartrats in dem Bad.
- Das Bad hat einen pH-Wert von über 10,5, vorzugsweise von 12,5 bis 13. Die Hydroxylionen zur Einstellung des pH- Wertes können von einem Alkalimetallhydroxid in Mengen von 2 bis 60 g/l (0,05 bis 1,5 Mol/l), vorzugsweise 5 bis 20 g/l (0,125 bis 0,5 Mol/l), geliefert werden. Kaliumhydroxid wird bevorzugt, da sich Oxalationen beim Betreiben des Bades aufbauen und Kaliumoxalat löslicher ist als Natriumoxalat.
- Die Quelle für Glyoxylationen kann Glyoxylsäure selbst sein, obwohl zu bedenken ist, daß der Säure enthaltende Aldehyd in wäßriger Lösung im Gleichgewicht mit seinem Hydrat, Dihydroxyessigsäure, ist. Daraus ergibt sich für den Fachmann, daß die Quelle für Glyoxylsäure alternativ oder zusätzlich eine Dihalogenessigsäure, wie Dichloressigsäure, sein kann, die in wäßrigem Medium zum Hydrat der Glyoxylsäure hydrolisiert. Eine alternative Quelle für Glyoxylsäure ist das Bisulfit-Addukt, wie ein hydrolisierbarer Ester oder ein anderes Säurederivat. Das Bisulfit-Addukt kann dem Bad zugefügt oder in ihr in situ gebildet werden. Es scheint die Bildung guter Überzüge bei höheren Temperaturen und Abscheidungsgeschwindigkeiten zu gestatten. Das Bilsulfit-Addukt kann aus Glyoxylat und entweder Bisulfit, Sulfit oder Metabisulfit gebildet werden. Was immer die Quelle für Glyoxylsäure ist, sie sollte in einer Menge verwendet werden, daß die verfügbare Glyoxylsäure in dem Bad in einer Menge von 0,01 bis 1,5 Mol/l, vorzugsweise 0,05 bis 0,5 Mol/l, vorliegt.
- Zusätzlich und bevorzugt enthält das Bad mindestens einen Abscheidungsgeschwindigkeitsregler und/oder einen Stabilisator. Dies sind Verbindungen, die starke Kupfer(I)-Komplexe bilden, was die Bildung von Kupfer(I)- Oxid hinhibiert. Weil Kupfer autokatalytisch ist, würden willkürlich in dem Bad gebildete Kupferpartikel unbestimmt abgeschieden werden, wenn sie nicht stabilisiert worden sind. Die Stabilisatoren und/oder Abscheidungsgeschwindigkeitsregler, die einen Kornverfeinerungs- und Duktilitätsverbesserungs-Effekt auf die Kupferabscheidungen haben und dadurch das Aussehen der Abscheidung verbessern sowie eine leichtere Prüfung ermöglichen, sind allgemein die gleichen, die in formaldehydhaltigen Bädern für die stromlose Verkupferung geeignet sind. Sie fallen in die nachstehend aufgeführten sechs Kategorien und können in den angegebenen Mengen verwendet werden
- 1. Cyanide oder Cyanid-Komplexe, wie Tetracyanoferrat(II) (Ferrocyanid) (Cyanidionen bis 50 mg/l)
- 2. Organische stickstoffhaltige Verbindungen, wie 2,2-Bipyridyle, Hydroxipyridin und 2,2&min;-Dipyridylamin, und die stickstoffhaltigen Verbindungen, die in der US-PS 4 301 196 offenbart sind; (bis 30 mg/l)
- 3. Organische schwefelhaltige Verbindungen, in welchen der Schwefel zweiwertig ist, wie 2-Mercaptopyridin, Allyl-thioharnstoff, 2-Mercaptobenz-thiazol und 2-Mercaptothiazolin; (bis 15 mg/l)
- 4. Anorganische Thioverbindungen, einschließlich Sulfite, Thiocyanate, Thiosulfate und Polysulfide - diese Verbindungen enthalten ebenfalls zweiwertigen Schwefel; (bis 5 mg/l)
- 5. Langkettige organische Oxo-Polymere, wie die in der US-PS 3 607 317 offenbarten; es sind Polyalkylenoxide mit bis zu 7 C-Atomen pro Alkylen-Gruppe und einem Molekulargewicht von mindestens 6000, vorzugsweise in der Größenordnung von 5 000 000; (bis 100 mg/l)
- 6. Netzmittel (0,1-20 mg/l).
- In der US-PS 4 450 191 ist offenbart, was eine siebte Klasse von Stabilisatoren für die stromlose Verkupferung sein kann, nämlich Ammoniumionen.
- Das Bad kann Glykolsäure von vornherein enthalten. Zwar baut sich ihre Konzentration im Bad als ein Reaktionsprodukt des Glyoxylats auf, doch ist vorteilhaft, sie anfänglich zuzufügen, weil sie offenbar einen günstigen Effekt auf die Stabilität des Bades hat. Dieser Vorteil überwiegt den schwachen Effekt, den die Säure auf die Verminderung der Dicke des resultierenden Kupferüberzugs, der in einer gegebenen Zeit erhalten wird, ausübt. Wenn anfänglich bereitgestellt, kann die Glykolsäure in einer Menge von 0,1 bis 50 g/l, vorzugsweise 1 bis 20 g/l, vorliegen.
- Das Verfahren zur stromlosen Verkupferung eines Substrats mit dem vorstehend beschriebenen Bad wird allgemein bei einer Temperatur im Bereich von 20 bis 85°C, z. B. 40 bis 50°C, durchgeführt; die optimale Temperatur hängt von der bestimmten verwendeten Zusammensetzung des Bades ab.
- Es wird bevorzugt, das Bad während seiner Verwendung zu bewegen. Es kann Werkstück- und/oder Bad-Bewegung angewendet werden. Bewegung mittels Durchblasen von Luft hat sich als besonders wirksam erwiesen, da hierdurch anscheinend die Badstabilität erhöht wird.
- Das Verfahren wird so lange durchgeführt, bis ein Überzug der erforderlichen Dicke erhalten wird. Besonders geeignet ist es für die Herstellung von Montageplatten für gedruckte Schaltungen. Dies kann mittels der Subtraktiv-Verfahren, low build oder high build, beide gehen von einem mit Kupfer plattierten Laminat aus, dem Semi-Additivverfahren oder dem Additivverfahren geschehen. In allen diesen Fällen ist die stromlose Kupferabscheidung wichtig, zumindest beim Durch-Beschichten von in das Laminat gebohrten Löchern. Bei dem low build-Subtraktiv- Verfahren werden stromlose Kupferabscheidungen in Dicken der Größenordnung von 0,5 µm angestrebt, beim high build- Subtraktiv-Verfahren in der Größenordnung von 2,5 µm, bei dem Semi-Additivverfahren werden Dicken von 2 bis 10 µm erreicht und bei dem Additivverfahren kann die Dicke der Kupferschicht im Bereich von 25 bis 50 µm liegen. Daraus ist zu ersehen, daß mit dem Verfahren Kupferüberzüge, die dünner als auch solche, die dicker als 1 µm sind, erhalten werden können. Es können auch doppelseitige und mehrlagige Platten (steif oder flexibel) verkupfert werden.
- Die Laminate, die im allgemeinen für die Herstellung von Montageplatten mit gedruckter Schaltung verwendet werden, sind meistens Epoxy-Glas, aber auch Phenolharze, Polytetrafluorethylen (PTFE), Polyimide und Polysulfone.
- Neben der Anwendung der Erfindung bei der Herstellung von PCB's ist sie auch zum stromlosen Verkupfern von nichtleitenden Substraten allgemein, einschließlich Kunststoffen (wie ABS und Polycarbonat), Keramiken und Glas geeignet. Eine der Hauptanwendungen dürfte die Herstellung von elektromagnetischen Interferenz-(EMI)-Schirmen sein.
- Allgemein ist es zweckmäßig, die Substrate vor der stromlosen Verkupferung durch die Absorption eines katalysierenden Metalls (wie einem Edelmetall) an der Oberfläche des Substrats zu sensibilisieren.
- Dies kann durch folgende Stufen erfolgen: 1. Reinigen und Konditionieren des Substrats; 2. Ätzen etwa vorhandener Kupferplattierung auf Persulfat oder Peroxid; 3. Inkontaktbringen des Substrats mit einer Salzsäurelösung; 4. Inkontaktbringen mit einer kolloidalen Suspension von Palladium in einer wäßrigen sauren Zinnchloridlösung; und 5. Inkontaktbringen mit einem Beschleuniger. Nach der 1., 2., 4. und 5. Stufe wird im allgemeinen mit Wasser gespült.
- Es ist ebenso möglich, das ältere zweistufige Verfahren anzuwenden, bei welchem zuerst ein Zinnbad und dann ein Palladiumbad benutzt wird. Bäder, in welchen das Edelmetall aus alkalischer Lösung statt aus saurer Lösung abgeschieden wird, können auch verwendet werden. Da aber das erfindungsgemäße Verfahren autokatalytisch ist, ist die Sensibilisierung nicht wesentlich.
- Für nicht kupferplattierte Kunststoffe kann das Vorgehen im wesentlichen das gleiche sein, ausgenommen, daß Kunststoffätzmittel häufig Schwefelsäure, Chromsäure und/oder andere Säuren enthalten. Im allgemeinen wird aber gewöhnlich eine Stufe angewandt, um die Oberfläche mechanisch für die stromlose Verkupferung empfänglich zu machen und/oder eine Stufe, um die Oberfläche für die Reduktion von Kupferionen zu Kupfermetall katalytisch zu machen. Alternativ können für die PCB-Herstellung nach dem Additiv- oder dem Semi-Additiv-Verfahren vor-sensibilisierte Laminate verwendet werden.
- Während der Abscheidung werden Kupferionen, Glyoxylationen und Hydroxylionen verbraucht. Nach dem Verfahren zum Wiederauffrischen eines Bades für die stromlose Verkupferung wird dem Bad eine Kupferquelle, eine Glyoxylationenquelle und eine Hydroxylionenquelle zugegeben. Abscheidungsgeschwindigkeitsregler und Stabilisatoren können ebenfalls, wenn erforderlich, wieder ergänzt werden.
- Die Erfindung wird nun an Beispielen erläutert.
- Es wurden 800 ml einer Lösung folgender Zusammensetzung hergestellt:
8,0 g/l Kupfer(II)chlorid-Dihydrat (3,0 g/l Cu, 0,047 Mol/l)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/l)
30 g/l NaOH (0,75 Mol/l)
12,5 ml/l Dichloressigsäure (0,15 Mol/l)
und auf 80°C erhitzt. - (Bemerkung: Die Reaktion von dem Natriumhydroxid mit der Dichloressigsäure setzt die Natriumhydroxid-Konzentration auf 0,6 Mol/l herab.)
- Diese Lösung gab anfangs keinen Kupferüberzug auf einer mit Palladium katalysierten Platte. Jedoch, nach Zugabe von weiteren 10 g Natriumhydroxid und 5 ml Dichloressigsäure und 1 Stunde Warten bei 80°C wurde ein dünner Kupferüberzug festgestellt. Weitere behandelte Platten hatten offensichtlich dickere (dunklere) Überzüge, und nach 3 bis 4 Stunden wurden Kupfergranulate am Boden des Glasgefäßes festgestellt.
- Die Verzögerung ist wahrscheinlich darauf zurückzuführen, daß die Hydrolyse der Dichloressigsäure langsamer als erwartet verläuft.
- Die nun folgenden Beispiele beziehen sich auf die Verwendung von Glyoxylsäurelösung (9,75 molar) in Wasser, wenn nicht anders angegeben.
- Es wurden 500 ml einer Lösung folgender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat) (0,047 Mol/l)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/l)
10 g/l NaOH (0,25 Mol/l)
12,5 ml/l 9,75 Mol/l wäßrige Glyoxylsäurelösung (0,12 Mol/l)
und auf 70°C erhitzt. Diese Lösung rauchte nicht und konnte außerhalb eines Abzugschrankes hergestellt und erhitzt werden. - (Bemerkung: Eine Lösung von 0,25 Mol/l NaOH und 0,12 Mol/l Glyoxylsäure ergab eine Zusammensetzung von 0,13 Mol/l NaOH und 0,12 Mol/l Natriumglyoxylat, wie durch Analyse festgestellt. Die NaOH-Konzentration sank dann infolge der Kupferabscheidung und der Cannizzaro-Reaktion weiter ab.)
- Eine katalysierte Platte wurde 10 Minuten in die Lösung eingetaucht. Der Beginn der Abscheidung fand sofort statt und war von Gasentwicklung begleitet. Der Kupferüberzug war dunkelrosa, elektrisch leitend und haftend, und bedeckte die Platte vollständig, einschließlich Lochwände und Kanten. Die Überzugsdicke, berechnet aus der Gewichtszunahme, war 2,94 µm. Etwas Kupfer hatte sich am Boden des Glasgefäßes abgeschieden.
- Das Vorgehen des Beispiels 2 wurde wiederholt, aber die Lösung wurde auf 50°C erhitzt. Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang eingetaucht. Der Beginn der Abscheidung und Gasentwicklung wurde innerhalb von 10 Sekunden festgestellt. Der Überzug war dunkelrosa und haftend, und durchgehende Löcher waren beschichtet. Die Überzugsdicke war 3,92 µm. Etwas Kupfer hatte sich auf dem Boden des Glasgefäßes abgeschieden.
- Das Vorgehen des Beispiels 3 wurde wiederholt, aber es wurden 5 ppm Cyanid (als NaCN) zugegeben. Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang in die Lösung getaucht. Etwas Kupfer schied sich am Boden des Glasgefäßes ab, aber weniger als bei Beispiel 3. Der Überzug, der die Platte vollständig bedeckte, war in der Farbe heller als der des Beispiels 3; er hatte eine Dicke von 3,3 µm.
- Es wurden 500 ml einer Lösung folgender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat) (0,047 Mol/l)
28 g/l Tetra-Natrium-EDTA (0,067 Mol/l)
10 g/l NaOH (0,25 Mol/l)
11 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,107 Mol/l).
- (Bemerkung: Das NaOH der Lösung wurde auf 0,143 Mol/l unter Bildung von Glyoxylat herabgesetzt.)
- Die Lösung wurde auf 50°C erhitzt. Eine katalysierte Epoxy-Glas-Platte wurde 30 Minuten lang eingetaucht. Die Platte war vollständig mit einem festhaftenden hellrosa Kupferüberzug bedeckt. Die Dicke des Überzugs war 1,65 µm. Auf dem Boden des Gefäßes hatte sich kein Kupfer abgesetzt.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
5 g/l Kupfer (als Kupfer(II)-sulfat-Dihydrat) (0,078 Mol/l)
40 g/l Tetra-Natrium-EDTA (0,096 Mol/l)
20 g/l NaOH (0,5 Mol/l)
16 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,156 Mol/l)
und auf 40°C erhitzt. - (Bemerkung: Das NaOH in der Lösung sank auf 0,344 Mol/l unter Bildung von Glyoxylat.)
- Eine katalysierte (aktivierte) Epoxy-Glas-Platte wurde 30 Minuten lang in die Lösung getaucht. Es fand stromlose Kupferabscheidung und Gasentwicklung statt. Die Platte war vollständig mit einem haftenden dunkelrosa Kupferüberzug versehen. Die Dicke des Überzugs war 1,53 µm. Am Boden des Gefäßes hatte sich kein Kupfer abgeschieden.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer(II)-sulfat-Pentahydrat) (0,047 Mol/l)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/l)
20 g/l NaOH (0,5 Mol/l)
16 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,12 Mol/l)
1 mg/l Natrium-thiosulfat
und auf 40°C erhitzt. - (Bemerkung: Das NaOH in der Lösung sank auf 0,13 Mol/l unter Bildung von Glyoxylat.)
- Eine katalysierte Epoxy-Glas-Platte wurde 30 Minuten in die Lösung getaucht. Es wurde ein 4,14 µm dicker glatter dunkelrosa Kupferüberzug erhalten, der die Platte vollständig bedeckte. Am Boden des Gefäßes hatte sich kein Kupfer abgeschieden.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
2 g/l Kupfer (Kupfer(II)-sulfat-Pentahydrat) (0,031 Mol/l)
5 g/l Natriumgluconat (0,023 Mol/l)
10 g/l NaOH (0,25 Mol/l)
12 ml/l Glyoxylsäure (0,0195 Mol/l).
- (Bemerkung: Das NaOH in der Lösung sank auf 0,0605 Mol/l unter Bildung von Glyoxylat ab.)
- Es wurde eine dunkelblaue Lösung mit einem hellgelben Niederschlag gebildet. Die Lösung wurde auf 70°C erhitzt und eine katalysierte Platte 30 Minuten lang eingetaucht. Die Kupferabscheidung fand statt. Der Überzug war hellrosa und überdeckte die Platte vollständig. Die Dicke des Überzugs war 1,73 µm. Am Schluß des Testes hatte sich etwas Kupfer auf dem Boden des Glasgefäßes abgesetzt.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
2 g/l Kupfer (als Kupfer(II) -sulfat-Pentahydrat) (0,031 Mol/l)
10 g/l Kaliumoxalat-Monohydrat (0,054 Mol/l)
10 g/l NaOH (0,25 Mol/l)
und auf 60°C erhitzt. Die Bestandteile wurden in der vorstehend gegebenen Reihenfolge zugefügt. Es entstand eine blaugrüne trübe Lösung mit einem grauen Niederschlag. Es wurden weitere 10 g/l Kaliumoxalat-Monohydrat (0,054 Mol/l) zugefügt. Der Niederschlag löste sich nicht in größerem Ausmaß auf. Danach wurden 18 g/l EDTP (0,0616 Mol/l) zugegeben. Innerhalb von 10 Minuten wurde eine klare blaue Lösung erhalten. Danach wurden 4 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,039 Mol/l) zugefügt. Eine katalysierte Epoxy-Glas-Platte wurde dann 30 Minuten lang eingetaucht. Es wurde ein haftender rosa Kupferüberzug erhalten, der die Platte vollständig überdeckte. Die Überzugsdicke war 2,40 µm. Auf dem Boden des Glasgefäßes hatte sich kein Kupfer abgeschieden. - Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
4 g/l Kupfer (als Kupfer(II) -Sulfat-Pentahydrat) (0,062 Mol/l)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/l)
20 g/l NaOH (0,5 Mol/l)
10 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,0975 Mol/l)
und auf 50°C erhitzt. - (Bemerkung: Das NaOH in der Lösung sank auf 0,4 Mol/l unter Bildung von Glyoxylat ab.)
- Eine katalysierte Epoxy-Glas-Platte wurde 10 Minuten lang eingetaucht. Es wurde ein dunkelrosa haftender Kupferüberzug einer Dicke von 3,73 µm erhalten.
- Das Vorgehen des Beispiels 2 wurde wiederholt, aber 10 mg/l 2,2&min;-Bipyridyl zugegeben.
- Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang eingetaucht. Es wurde ein hellrosa glatter haftender Überzug erhalten. Die Platte war vollständig abgedeckt, und der Überzug hatte eine Dicke von 2,41 µm. Etwas Kupfer hatte sich auf dem Boden des Glasgefäßes abgesetzt, aber weniger als bei Beispiel 2.
- Das Vorgehen des Beispiels 2 wurde wiederholt, aber 1,5 mg/l 2-Mercaptothiazolin zugegeben.
- Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang eingetaucht. Die Platte war danach vollkommen mit einem glatten dunkelrosabraunen Überzug überdeckt. Am Boden des Glasgefäßes hatte sich kein Kupfer abgeschieden. Die Überzugsdicke war 3,65 µm.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat) (0,047 Mol/l)
22 g/l Natriumgluconat (0,1 Mol/l)
12 g/l NaOH (0,3 Mol/l)
10,2 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,1 Mol/l)
und auf 50°C erhitzt. - (Bemerkung: Das NaOH sank auf 0,2 Mol/l nach Glyoxylatbildung ab.)
- Die gebildete Lösung war dunkelblau und etwas trübe. Die Trübheit verstärkte sich während des Testes nicht. Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang eingetaucht. Die Kupferabscheidung begann innerhalb 1 Minute. Nach 5 Minuten war vollständige Abdeckung erreicht. Nach 30 Minuten hatte sich ein hellrosa glatter haftender 1,63 µm dicker Kupferüberzug abgeschieden. Etwas Kupfer hatte sich am Boden des Glasgefäßes abgesetzt.
- Das Vorgehen des Beispiels 13 wurde wiederholt, abgesehen davon, daß 28,4 g/l (0,1 Mol/l) Natrium-Glucoheptonatdihydrat anstelle von Natriumgluconat verwendet wurden.
- Es bildete sich eine klare dunkelblaugrüne Lösung. In diese Lösung wurde eine katalysierte Platte 30 Minuten lang eingetaucht. Die Kupferabscheidung setzte innerhalb 1 Minute ein, und nach 5 Minuten war die Abdeckung vollständig. Nach 30 Minuten wurde ein glatter dunkelrosa haftender Kupferüberzug einer Dicke von 1,04 µm festgestellt. Am Boden des Glasgefäßes hatte sich kein Kupfer abgesetzt.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat) (0,047 Mol/l)
29 g/l EDTP (0,1 Mol/l)
12 g/l NaOH (0,3 Mol/l)
630 mg/l Natriumsulfit (0,005 Mol/l)
10 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,0975 Mol/l)
und auf 50°C erhitzt. - (Bemerkung: Die NaOH-Konzentration sank auf 0,2 Mol/l nach der Bildung von Glyoxylationen ab.)
- Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten in die Lösung getaucht. Die Abscheidung setzte augenblicklich ein, begleitet von Gasentwicklung. Es wurde ein rosa haftender Kupferüberzug einer Dicke von 5,94 µm festgestellt. Eine kleine Menge Kupfer hatte sich auf dem Boden des Glasgefäßes abgeschieden.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat) (0,047 Mol/l)
29 g/l EDTP (0,1 Mol/l)
12 g/l NaOH (0,3 Mol/l)
13,8 g/l Natriumsulfit (0,11 Mol/l)
10 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,1 Mol/l)
und auf 70°C erhitzt. - (Bemerkung: Die NaOH-Konzentration blieb bei 0,3 Mol/l infolge der Bildung von Glyoxylat- Bisulfit-Additionsverbindung.)
- Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang in die Lösung getaucht. Die Abscheidung setzte augenblicklich ein, begleitet von Gasentwicklung. Es wurde ein hellrosa glatter haftender Kupferüberzug einer Dicke von 12 µm festgestellt. Obwohl dieser Überzug mit einer höheren Rate abgeschieden wurde, hatte er ein besseres Aussehen als der, der im Beispiel 15 erhalten worden ist.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (Kupfer(II)-sulfat-Pentahydrat) (0,047 Mol/l)
15 g/l EDTP (0,051 Mol/l)
12 g/l NaOH (0,3 Mol/l)
1 mg/l Natriumthiosulfat
5 mg/l 2,2&min;-Bipyridyl
1 mg/l Netzmittel (Pluronic P-85)
10 ml/l Glyoxylsäure (0,0975 Mol/l)
und auf 50°C erhitzt. - (Bemerkung: Die NaOH-Konzentration sank infolge Bildung von Glyoxylat auf 0,2 Mol/l.)
- Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten in die Lösung getaucht, wonach sie vollständig mit einem hellrosa feinkörnigen Kupferüberzug überzogen war. Die Dicke des Überzugs war 2,377 µm.
- Gleichzeitig wurde eine katalysierte doppelseitig kupferplattierte Epoxy-Glas-Platte 30 Minuten in die Lösung getaucht. Diese Platte hatte 50 ausgebohrte Löcher unterschiedlichen Durchmessers von 0,8 mm bis 2 mm. Nach der stromlosen Verkupferung zeigte sich, daß sich das Kupfer derart abgeschieden hatte, daß die Kanten der Platte und die Seiten der Lochwände vollständig überdeckt waren. Die genauere Inspektion der Lochwände zeigte die Abwesenheit von Poren (Bereiche von Fehlplattierung). Die Haftfestigkeit des stromlos abgeschiedenen Kupfers an der Kupferplattierung war ausreichend, um der Abtrennung mittels eines Klebbandes zu widerstehen.
- Die so hergestellte Lösung war stabil, am Boden des Glasgefäßes hatte sich kein Kupfer abgeschieden.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat) (0,047 Mol/l)
39,3 g/l Diethylen-Triamin-Pentaessigsäure (0,1 Mol/l)
32 g/l NaOH (0,8 Mol/l)
10 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,1 Mol/l)
und auf 60°C erhitzt. - (Bemerkung: Nach Neutralisiation der Diethylen- Triamin-Pentaessigsäure und der Glyoxylsäure war die Konzentration des NaOH in der Lösung 0,2 Mol/l.)
- Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang in die Lösung getaucht. Die Abscheidung setzte innerhalb von 10 Sekunden ein. Nach 30 Minuten hatte sich ein 2,0 µm dicker hellrosa haftender Kupferüberzug abgeschieden. Etwas Kupfer hatte sich am Boden des Glasgefäßes abgesetzt.
- Das Vorgehen des Beispiels 18 wurde wiederholt, aber es wurden 20 mg/l einer hochmolekularen Polyoxiethylen-Verbindung zugegeben. In die Lösung wurde eine katalysierte Platte 30 Minuten lang eingetaucht. Es wurde ein hellrosa haftender Kupferüberzug erhalten. Seine Dicke war 1,0 µm. Auf dem Boden des Glasgefäßes hatte sich kein Kupfer abgeschieden.
- Das Vorgehen des Beispiels 18 wurde wiederholt, abgesehen davon, daß Luft durch eine Sinterglasscheibe hindurchgeleitet wurde, um die Lösung zu belüften und zu bewegen. Es wurde ein hellrosa haftender Kupferüberzug erhalten. Seine Dicke war 2,15 µm. Auf dem Boden des Glasgefäßes hatte sich kein Kupfer abgesetzt.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat) (0,047 Mol/l)
114 g/l Nitrilotriessigsäure (0,6 Mol/l)
84 g/l NaOH (2,1 Mol/l)
10 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,1 Mol/l)
und auf 60°C erhitzt. - Die Konzentration des NaOH war nach der Neutralisation der Säuren auf 0,2 Mol/l gesunken. Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang in die Lösung getaucht. Es wurde ein rosa glatter haftender Kupferüberzug einer Dicke von 3,64 µm erhalten, der die katalysierte Platte vollständig überdeckte. Etwas Kupfer hatte sich am Boden des Glasgefäßes abgeschieden.
- 500 ml einer 10-molaren Glyoxylsäurelösung wurde neutralisiert, indem 400 ml einer 10,27-molaren Kaliumhydroxidlösung langsam unter Rühren zugegeben wurde. Die Mischung wurde auf eine Temperatur unter 30°C gekühlt.
- Die resultierende Lösung wurde auf 1 l verdünnt, um eine 5-molare Lösung eines Gemisches von Kalium-glyoxylat und Glyoxylsäure eines pH-Wertes von 3,9 bis 4,0 zu erhalten. Diese Lösung wird in diesem Beispiel und in den Beispielen 23 bis 25 mit "Reduktionsmittel" bezeichnet.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat) (0,047 Mol/l)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/l)
15 g/l KOH (0,27 Mol/l)
3 mg/l 2,2&min;-Dipyridylamin
20 ml/l Reduktionsmittel
und auf 55°C erhitzt. - In diese Lösung wurde eine katalysierte Platte 30 Minuten lang eingetaucht. Es wurde beobachtet, daß die Kupferabscheidung innerhalb von 10 Sekunden einsetzte. Nach 30 Minuten hatte sich ein rosa haftender Kupferüberzug einer Dicke von 2,3 µm abgeschieden. Eine kleine Menge Kupfer hatte sich am Boden des Glasgefäßes abgesetzt.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat) (0,047 Mol/l)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/l)
15 g/l KOH (0,27 Mol/l)
6 mg/l Natriumdiethyl-dithiocarbamat-Trihydrat
20 ml/l Reduktionsmittel (von Beispiel 22)
und auf 55°C erhitzt. - Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang eingetaucht. Die Kupferabscheidung setzte innerhalb von 10 Sekunden ein. Nach 30 Minuten Abscheidung wurde ein dunkelrosa haftender Kupferüberzug einer Dicke von 8,23 µm erhalten; es hatte sich etwas Kupfer am Boden des Glasgefäßes abgesetzt.
- Das Vorgehen des Beispiels 23 wurde wiederholt, abgesehen davon, daß 6 mg/l 2-Mercaptopyridin anstelle von Natrium-diethyldithiocarbamat zugegeben wurden.
- Nach 30 Minuten hatte sich ein 5,50 µm dicker dunkelrosa haftender Kupferüberzug abgeschieden. Etwas Kupfer hatte sich auf dem Boden des Glasgefäßes abgesetzt.
- Das Verfahren des Beispiels 23 wurde wiederholt, abgesehen davon, daß 10 mg/l Allylthioharnstoff anstelle von Natrium-diethyldithiocarbamat verwendet wurden.
- Nach 30 Minuten hatten sich 10,85 µm dunkelrosa haftendes Kupfer abgeschieden. Etwas Kupfer hatte sich auf dem Boden des Glases abgeschieden.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat) (0,047 Mol/l)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/l)
15 g/l KOH (0,27 Mol/l)
100 g/l Kaliumoxalat-Monohydrat
1,5 mg/l Sodiumtriosulphat
11,4 g/l Natriumglyoxylat-Monohydrat (0,1 Mol/l)
und auf 50°C erhitzt. - Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang in die Lösung getaucht. Nach 30 Minuten hatte sich ein 8,37 µm dicker dunkelrosa haftender Kupferüberzug abgeschieden. Kein Kupfer hatte sich an dem Glasgefäß abgeschieden.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat) (0,047 Mol/l)
28,2 g/l Rochelle-Salz (Natrium-Kaliumtartrat) (0,1 Mol/l)
12 g/l NaOH (0,3 Mol/l)
10,2 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,1 Mol/l)
und auf 50°C erhitzt. Das Verhältnis Tartrat zu Kupfer war 2,13 : 1. - (Bemerkung: Das NaOH war nach der Glyoxylatbildung auf 0,2 Mol/l gesunken.)
- Zu Beginn bildete sich eine klare blaue Lösung. Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang in die Lösung getaucht. Das Einsetzen der Abscheidung war ungleichmäßig, und es wurde nur eine teilweise Abdeckung der Platte mit Kupfer erreicht; andere Bereiche waren überzogen, was wie Kupfer-(I)-Oxid aussah. Diese Bereiche waren nicht leitfähig. Die Lösung wurde trübe, und am Boden des Glasgefäßes wurde ein orangeroter Niederschlag festgestellt.
- Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer(II)-sulfat-Pentahydrat) (0,047 Mol/l)
84 g/l Rochelle-Salz (Natrium-Kaliumtartrat) (0,3 Mol/l)
12 g/l NaOH (0,3 Mol/l)
10 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,1 Mol/l)
und auf 60°C erhitzt. Das Verhältnis von Tartrat zu Kupfer war 6,3 : 1. - (Bemerkung: Die Menge NaOH in der Lösung fiel nach der Bildung von Glyoxylat auf 0,2 Mol/l.)
- Die Lösung war trübe. Eine katalysierte Platte wurde 15 Minuten in die Lösung getaucht. Es wurde Beginn der Abscheidung und Freiwerden von Gas festgestellt. Es wurde ein roter Niederschlag am Boden des Glasgefäßes gebildet. Die Platte, die eine Fläche von 58,2 cm² hatte, war schätzungsweise zu 90% mit einem glatten rosa Kupferüberzug bedeckt. Die Dicke dieses Überzuges war schätzungsweise 2,4 µm.
- Das Vorgehen des Beispiels 28 wurde wiederholt, abgesehen davon, daß die Rochelle-Salz-Konzentration auf 168 g/l (0,6 Mol/l) erhöht wurde und Kupfer(II)-chlorid-Dihydrat als Kupferionenquelle verwendet wurde. Das Verhältnis von Tartrat zu Kupfer war 12,6 : 1. Es wurde eine klare, nicht trübe Lösung erhalten. In diese Lösung wurde eine katalysierte Platte 20 Minuten lang eingetaucht. Das Einsetzen der Kupferabscheidung fand innerhalb 1 Minute statt. Es wurde eine vollständige Abdeckung durch einen glatten rosa haftenden Kupferüberzug erreicht. Die Dicke des Überzugs war 2,7 µm.
- Es wurde ein Bad nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
2 g/l Kupfer (als Kupfersalzkonzentrat)
60 g/l KCL
143 g/l Oxalsäure-Dihydrat
82,125 g/l KOH (als 182,5 g/l 45%iger KOH-Lösung) (nur zum Neutralisieren der Oxalsäure und der Glykolsäure)
7,6 g/l Glykolsäure (als 10,1 ml/l einer 75%igen Lösung)
47,8 g/l K&sub4; EDTA
0,5 mg/l 2-Mercaptothiazolin
7,4 g/l Glyoxylsäure (als 11 ml einer 50%igen Lösung)
pH 12,7-13,0 (gemessen mit pH-Meter bei 26°C) (eingestellt mit 45%iger KOH). - Eine geeignet präparierte ABS-Testplatte wurde 10 Minuten lang in das Bad eingetaucht, das auf 60°C gehalten wurde. Während des Eintauchens wurde das Bad mittels Luft bewegt und schien stabil zu sein. Ein guter Kupferüberzug einer Dicke von 1 bis 1,6 µm wurde erzeugt.
Claims (12)
1. Wäßriges Bad zur stromlosen Verkupferung, das eine Kupferionenquelle, einen Komplexbildner, der mit Kupferionen einen Komplex zu bilden vermag, welcher stärker ist als ein Kupferoxalatkomplex, und ein Reduktionsmittel enthält, dadurch gekennzeichnet, daß es als Reduktionsmittel eine Glyoxylationenquelle enthält.
2. Bad nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es einen Komplexbildner aus der Gruppe von Verbindungen, die unter die nachstehend aufgeführten allgemeinen Formeln I, II und III fallen, enthält: °=c:150&udf54;&udf53;vu10&udf54;&udf53;vz14&udf54; &udf53;vu10&udf54;in denen bedeuten: R ein Alkylrest mit 2 bis 4 C-Atomen, R¹ ein niederer Alkylenrest und n eine ganze Zahl.
3. Bad nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es als Komplexbildner Tetra-2-Hydroxypropyl-ethylendiamin (EDTP) oder Ethylen-Diamin-Tetraessigsäure (EDTA) enthält.
4. Bad nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Molverhältnis von Kupferionen zu Komplexbildner im Bereich von 1 : 0,7 bis zur Löslichkeitsgrenze des Komplexbildners oder anderer Badverträglichkeit liegt, wenn aber der Komplexbildner Tartrat ist, das Molverhältnis von Tartrat zu Kupfer mindestens 6 : 1 ist.
5. Bad nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es einen pH-Wert aufweist, der über 10,5 liegt.
6. Bad nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es als Quelle für die Glyoxylationen Glyoxylsäure, Dihydroxyessigsäure, Dihalogenessigsäure, das Bisulfit- Addukt von Glyoxylsäure, einen hydrolisierbaren Ester oder ein anderes Säurederivat enthält.
7. Bad nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es die Glyoxylationenquelle in einer solchen Menge enthält, daß verfügbare Glyoxylsäure in dem Bad in einer Menge von 0,01 bis 1,5 Mol/l vorliegt.
8. Bad nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es mindestens einen Abscheidungsgeschwindigkeitsregler und/oder Stabilisator enthält.
9. Verfahren zur stromlosen Abscheidung von Kupfer auf einem Substrat unter Verwendung des Bades nach den Ansprüchen 1-8, dadurch gekennzeichnet, daß es bei einer Temperatur im Bereich von 20 bis 85°C durchgeführt wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß das Bad bewegt wird.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Bad mittels Luft bewegt wird.
12. Verfahren zum Wiederauffrischen eines wäßrigen Bades nach den Ansprüchen 1-8 zum stromlosen Verkupfern, dadurch gekennzeichnet, daß ihm eine Kupferquelle, eine Glyoxylationenquelle und eine Hydroxylionenquelle zugefügt wird.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB848432400A GB8432400D0 (en) | 1984-12-21 | 1984-12-21 | Copper plating |
| GB848432395A GB8432395D0 (en) | 1984-12-21 | 1984-12-21 | Copper plating |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3544932A1 DE3544932A1 (de) | 1986-07-03 |
| DE3544932C2 true DE3544932C2 (de) | 1987-04-09 |
Family
ID=26288606
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE3544932A Expired DE3544932C2 (de) | 1984-12-21 | 1985-12-19 | Wäßriges Bad zur stromlosen Verkupferung und Verfahren zur stromlosen Abscheidung von Kupfer unter Verwendung des Bades |
Country Status (14)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4617205A (de) |
| JP (1) | JPS61183474A (de) |
| AU (1) | AU559526B2 (de) |
| BR (1) | BR8506459A (de) |
| CA (1) | CA1255975A (de) |
| CH (1) | CH671037A5 (de) |
| DE (1) | DE3544932C2 (de) |
| ES (1) | ES8701853A1 (de) |
| FR (1) | FR2575187B1 (de) |
| GB (1) | GB2169924B (de) |
| HK (1) | HK22090A (de) |
| IT (1) | IT1182104B (de) |
| NL (1) | NL8503530A (de) |
| SE (1) | SE460483B (de) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2118568C1 (ru) * | 1993-11-22 | 1998-09-10 | Лилли Индастриз (Ю Эс Эй), Инк. | Осаждение меди способом диспропорционирования без участия аммиака |
| DE10129242B4 (de) * | 2000-06-19 | 2007-10-25 | Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo | Bad für die stromlose Verkupferung und dessen Verwendung |
Families Citing this family (33)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2595319B2 (ja) * | 1988-07-20 | 1997-04-02 | 日本電装株式会社 | 化学銅めっき液及びそれを用いた銅めっき皮膜の形成方法 |
| US4877450A (en) * | 1989-02-23 | 1989-10-31 | Learonal, Inc. | Formaldehyde-free electroless copper plating solutions |
| US5104688A (en) * | 1990-06-04 | 1992-04-14 | Macdermid, Incorporated | Pretreatment composition and process for tin-lead immersion plating |
| DE4111559C1 (en) * | 1991-04-05 | 1992-04-30 | Schering Ag Berlin Und Bergkamen, 1000 Berlin, De | Currentless bath for chemical deposition of copper@ (alloy) - contains polyethyleneimine deriv. and is formaldehyde-free |
| WO1992017624A1 (de) * | 1991-04-05 | 1992-10-15 | Schering Aktiengesellschaft | Formaldehydfreies bad zur stromlosen abscheidung von kupfer, verfahren und die verwendung von polyethyleniminen in formaldehydfreien bädern |
| DE69434619T2 (de) * | 1993-03-18 | 2006-08-17 | Atotech Deutschland Gmbh | Sich selbstbeschleunigendes und sich selbst auffrischendes Verfahren zur Tauchbeschichtung ohne Formaldehyd, sowie die entsprechende Zusammensetzung |
| US6042889A (en) * | 1994-02-28 | 2000-03-28 | International Business Machines Corporation | Method for electrolessly depositing a metal onto a substrate using mediator ions |
| US5753309A (en) * | 1995-12-19 | 1998-05-19 | Surface Tek Specialty Products, Inc. | Composition and method for reducing copper oxide to metallic copper |
| US5900186A (en) * | 1995-12-19 | 1999-05-04 | Morton International, Inc. | Composition and method for reducing copper oxide to metallic copper |
| US5721014A (en) * | 1995-12-19 | 1998-02-24 | Surface Tek Specialty Products, Inc. | Composition and method for reducing copper oxide to metallic copper |
| US6331239B1 (en) | 1997-04-07 | 2001-12-18 | Okuno Chemical Industries Co., Ltd. | Method of electroplating non-conductive plastic molded products |
| JP4482744B2 (ja) | 2001-02-23 | 2010-06-16 | 株式会社日立製作所 | 無電解銅めっき液、無電解銅めっき方法、配線板の製造方法 |
| JP4595237B2 (ja) * | 2001-04-27 | 2010-12-08 | 日立金属株式会社 | 銅めっき液および銅めっき方法 |
| JP2003147541A (ja) * | 2001-11-15 | 2003-05-21 | Hitachi Ltd | 無電解銅めっき液、無電解銅めっき用補給液及び配線板の製造方法 |
| US6897152B2 (en) * | 2003-02-05 | 2005-05-24 | Enthone Inc. | Copper bath composition for electroless and/or electrolytic filling of vias and trenches for integrated circuit fabrication |
| TWI348499B (en) * | 2006-07-07 | 2011-09-11 | Rohm & Haas Elect Mat | Electroless copper and redox couples |
| US20080241401A1 (en) * | 2007-03-28 | 2008-10-02 | Hok-Kin Choi | Method of monitoring electroless plating chemistry |
| US20080248194A1 (en) * | 2007-04-04 | 2008-10-09 | L'air Liquide - Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude | Method for producing a copper layer on a substrate in a flat panel display manufacturing process |
| TWI504787B (zh) * | 2011-03-01 | 2015-10-21 | Grand Plastic Technology Co Ltd | 高深寬比通孔無電鍍銅沉積方法及配方 |
| US20140242264A1 (en) * | 2011-10-05 | 2014-08-28 | Atotech Deutschland Gmbh | Formaldehyde-free electroless copper plating solution |
| US9153449B2 (en) * | 2012-03-19 | 2015-10-06 | Lam Research Corporation | Electroless gap fill |
| WO2014154702A1 (en) * | 2013-03-27 | 2014-10-02 | Atotech Deutschland Gmbh | Electroless copper plating solution |
| EP2784181B1 (de) | 2013-03-27 | 2015-12-09 | ATOTECH Deutschland GmbH | Stromlose Verkupferungslösung |
| EP3049550B1 (de) * | 2013-09-25 | 2018-05-23 | ATOTECH Deutschland GmbH | Verfahren zur abscheidung einer kupferkeimschicht auf eine barriereschicht und kupferplatierungsbad |
| WO2015111291A1 (ja) * | 2014-01-27 | 2015-07-30 | 奥野製薬工業株式会社 | 導電性皮膜形成浴 |
| US9869026B2 (en) | 2014-07-15 | 2018-01-16 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Electroless copper plating compositions |
| US20160145745A1 (en) * | 2014-11-24 | 2016-05-26 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Formaldehyde-free electroless metal plating compositions and methods |
| EP3035122B1 (de) | 2014-12-16 | 2019-03-20 | ATOTECH Deutschland GmbH | Verfahren zur Feinleiterherstellung |
| EP3034650B1 (de) | 2014-12-16 | 2017-06-21 | ATOTECH Deutschland GmbH | Plattierungsbadzusammensetzungen zur stromlosen Abscheidung von Metallen und Metalllegierungen |
| SG11201706122SA (en) | 2015-03-20 | 2017-10-30 | Atotech Deutschland Gmbh | Activation method for silicon substrates |
| TWI713737B (zh) | 2016-05-04 | 2020-12-21 | 德商德國艾托特克公司 | 沉積金屬或金屬合金至基板表面及包含基板表面活化之方法 |
| EP3578683B1 (de) | 2018-06-08 | 2021-02-24 | ATOTECH Deutschland GmbH | Stromloses kupfer- oder kupferlegierungsplattierungsbad und verfahren zur plattierung |
| CN111621773B (zh) * | 2020-05-27 | 2022-08-16 | 广东东硕科技有限公司 | 二硫代氨基甲酸类化合物在化学镀钯中的应用以及化学镀钯组合物 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3607317A (en) * | 1969-02-04 | 1971-09-21 | Photocircuits Corp | Ductility promoter and stabilizer for electroless copper plating baths |
| US4171225A (en) * | 1976-01-23 | 1979-10-16 | U.S. Philips Corporation | Electroless copper plating solutions |
| US4209331A (en) * | 1978-05-25 | 1980-06-24 | Macdermid Incorporated | Electroless copper composition solution using a hypophosphite reducing agent |
-
1985
- 1985-12-17 US US06/809,979 patent/US4617205A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-12-19 CA CA000498113A patent/CA1255975A/en not_active Expired
- 1985-12-19 DE DE3544932A patent/DE3544932C2/de not_active Expired
- 1985-12-20 GB GB08531356A patent/GB2169924B/en not_active Expired
- 1985-12-20 SE SE8506078A patent/SE460483B/xx not_active IP Right Cessation
- 1985-12-20 FR FR858518963A patent/FR2575187B1/fr not_active Expired
- 1985-12-20 ES ES550306A patent/ES8701853A1/es not_active Expired
- 1985-12-20 IT IT48967/85A patent/IT1182104B/it active
- 1985-12-20 NL NL8503530A patent/NL8503530A/nl not_active Application Discontinuation
- 1985-12-20 AU AU51554/85A patent/AU559526B2/en not_active Ceased
- 1985-12-21 JP JP60289106A patent/JPS61183474A/ja active Granted
- 1985-12-23 BR BR8506459A patent/BR8506459A/pt unknown
-
1986
- 1986-01-27 CH CH308/86A patent/CH671037A5/de not_active IP Right Cessation
-
1990
- 1990-03-22 HK HK220/90A patent/HK22090A/xx not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2118568C1 (ru) * | 1993-11-22 | 1998-09-10 | Лилли Индастриз (Ю Эс Эй), Инк. | Осаждение меди способом диспропорционирования без участия аммиака |
| DE10129242B4 (de) * | 2000-06-19 | 2007-10-25 | Murata Mfg. Co., Ltd., Nagaokakyo | Bad für die stromlose Verkupferung und dessen Verwendung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| IT1182104B (it) | 1987-09-30 |
| FR2575187B1 (fr) | 1989-04-28 |
| FR2575187A1 (fr) | 1986-06-27 |
| GB2169924A (en) | 1986-07-23 |
| SE8506078D0 (sv) | 1985-12-20 |
| ES8701853A1 (es) | 1986-12-01 |
| BR8506459A (pt) | 1986-09-02 |
| AU559526B2 (en) | 1987-03-12 |
| GB8531356D0 (en) | 1986-02-05 |
| ES550306A0 (es) | 1986-12-01 |
| IT8548967A0 (it) | 1985-12-20 |
| CA1255975A (en) | 1989-06-20 |
| US4617205A (en) | 1986-10-14 |
| CH671037A5 (de) | 1989-07-31 |
| SE8506078L (sv) | 1986-06-22 |
| NL8503530A (nl) | 1986-07-16 |
| HK22090A (en) | 1990-03-30 |
| JPS61183474A (ja) | 1986-08-16 |
| DE3544932A1 (de) | 1986-07-03 |
| GB2169924B (en) | 1988-07-13 |
| SE460483B (sv) | 1989-10-16 |
| JPH0224910B2 (de) | 1990-05-31 |
| AU5155485A (en) | 1986-06-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3544932C2 (de) | Wäßriges Bad zur stromlosen Verkupferung und Verfahren zur stromlosen Abscheidung von Kupfer unter Verwendung des Bades | |
| EP0003977B1 (de) | Verfahren zum stromlosen Abscheiden von Kupfer | |
| DE2920766C2 (de) | ||
| CA1117704A (en) | Composition and method for continuous electroless copper deposition using a hypophosphite reducing agent in the presence of cobalt or nickel ions | |
| DE69406701T2 (de) | Chemisches Vergoldungsbad | |
| EP0698130B1 (de) | Verfahren zur abscheidung von palladiumschichten | |
| DE69427307T2 (de) | Ammoniakfreie abscheidung von kupfer mittels disproportionierung | |
| DE2623716B2 (de) | Verfahren zur Vorbehandlung von Polysulfonsubstraten vor der stromlosen Beschichtung mit einem Metall | |
| DE69217183T2 (de) | Verfahren zur Verlängerung der Benutzbarkeit eines Metallisierungsbades nach der Austauschmethode | |
| DE2716729A1 (de) | Verfahren zum stromlosen metallisieren | |
| DE2847298A1 (de) | Verfahren zur herstellung von metallmustern auf einem isolierenden traegerstoff | |
| DE2928699A1 (de) | Katalytische loesung zum stromlosen niederschlagen von metallen sowie verfahren fuer ihre herstellung | |
| EP0283771A1 (de) | Verfahren zur haftfesten Metallisierung von Kunststoffen | |
| DE69007500T2 (de) | Lösung für stromlose Kupferplattierung. | |
| DE3320308A1 (de) | Waessriges bad zur stromlosen abscheidung von gold und ein verfahren zur stromlosen abscheidung von gold unter verwendung dieses bades | |
| DE2627941A1 (de) | Aktivierungsloesung auf silberbasis fuer ein verfahren zum stromlosen verkupfern | |
| DE2559059A1 (de) | Stabilisierte metallplattierungsloesung und verfahren zu ihrer herstellung | |
| DE3121015A1 (de) | Verfahren zur aktivierung von gebeizten oberflaechen und loesung zur durchfuehrung desselben | |
| DE3238921C2 (de) | Bad zur stromlosen Abscheidung von Kupfer auf einem Substrat und Verfahren zur stromlosen Abscheidung | |
| DE2300748A1 (de) | Stromfreies plattieren mit kupfer | |
| DE69706173T2 (de) | Verfahren zur reduktion von kupferoxid | |
| DE1621352C3 (de) | Stabilisiertes alkalisches Kupferbad zur stromlosen Abscheidung von Kupfer | |
| DE4412463C3 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Palladium-Kolloid-Lösung und ihre Verwendung | |
| DE4203577A1 (de) | Selektivverfahren zur herstellung von printplatten | |
| DE3938710A1 (de) | Komplexverbindungen mit oligomerem bis polymerem charakter |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |