DE3544932A1 - Zusammensetzung und verfahren zur stromlosen verkupferung - Google Patents
Zusammensetzung und verfahren zur stromlosen verkupferungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf die stromlose Verkupferung
aus Bädern, die keinen Formaldehyd als Primärreduktionsmittel enthalten und daher formaldehydfrei sind.
Formaldehyd und seine Polymeren sind lange als Reduktionsmittel bei der stromlosen Abscheidung von Kupfer auf
nichtleitenden Oberflächen, wie Montageplatten mit gedruckter Schaltung (PCBs) und Kunststoffen verwendet worden. Doch
sind in letzter Zeit Bedenken bezüglich der Verwendung von Formaldehyd aufgetreten. Er ist toxisch, flüchtig,
und es wird angenommen, daß er karzinogen ist. Seine Verwendung ist in technologisch fortschrittlichen Ländern
streng geregelt, und man rechnet damit, daß die Bestimmungen noch strenger werden.
Es wird angenommen, daß Formaldehyd durch umsetzung mit einem Hydroxilion unter Bildung eines Hydridions
wirkt (P. Vaillagou & J. Pelissier, Traitements de Surface,
148, September 1976, pp 41-45) , welches in einer aktivierten Oberfläche adsorbiert wird, um sie katalytisch
zu machen. In Abwesenheit einer reduzierbaren Spezies, wie Cu (II)-Ionen, reduziert das Hydridion ein anderes
Formaldehydmolekul zu Methanol. Diese Selbst-Oxidations/
Reduktions-Reaktion des Formaldehyds ist als Cannizzaro-Reaktion bekannt. Wenn aber eine geeignete reduzierbare
Spezies anwesend ist, wird diese ordnungsgemäß reduziert. Auf diese Weise werden Kupferionen zu Kupfermetall reduziert,
Wegen der Bildung des Hydridions wird die stromlose Kupferabscheidung bei Verwendung von Formaldehyd als
Reduktionsmittel als autokatalytisch bezeichnet; das bedeutet/ daß, wenn Kupfer auf einer Oberfläche abzuscheiden
ist, welche vorher aktiviert worden ist, um sie katalytisch zu machen, es möglich ist, einen Überzug zu erhalten,
der dicker ist als eine bloße Anschlagverkupferung (mere flash). Der Grund dafür besteht darin, daß, wenn die
katalytischen Oberflächenstellen durch die abgeschiedene Schicht verborgen werden, die Kontinuität der Reduktionsreaktion durch die Bildung der Hydridionen während des
Ablaufs der Reaktion sichergestellt ist.
Es sind viele Alternativen für Formaldehyd vorgeschlagen worden. In der US-PS 3,607,317 ist die Verwendung folgender
Verbindungen offenbart: Paraformaldehyd, Trioxan,
Dimethyl-hydantoin und Glyoxal (welche alle Vorläufer oder Derivate von Formaldehyd sind) und Borhydride,
wie Natrium- und Kalium-Borhydrid, substituierte Borhydride, wie Natrium-trimethoxi-borhydrid und
Borane/ wie Isoprppylamin-boran und Morpholin-boran.
Es ist auch angegeben, dai Hypophosphite, wie Natrium- und
Kalium-hypophosphit in sauren Lösungen zur stromlosen Verkupferung verwendet worden sind. In der US-PS
4,171,225 ist ein Reduktionsmittel offenbart, das ein
Komplex von Formaldehyd und einer Aminocarbonsäure, einer Aminosulfonsäure oder einer Aminophosphonsäure
ist.
Es ist auch vorgeschlagen worden, anstelle von Formaldehyd andere Aldehyde, die die Cannizzaro-Reaktion eingehen
können, zur stromlosen Verkupferung zu verwenden; sie haben aber alle den Nachteil, daß sie auch in der Lage
sind, die Aldolkondensationsreaktion einzugehen, die in der Bildung von langkettigen Polymeren und evtl. Harzen
resultiert. Außerdem sind andere Aldehyde im allgemeinen wie Formaldehyd flüchtig und/oder so hydrophob, daß sie
in Wasser unlöslich sind.
In einem in"Finishing Industries", October 1977, pp bis 43 veröffentlichten, mit "Electroless Copper"
betitelten Artikel besprechen Pushpavanam und Shenol die Verwendung von Hypophosphiten, Phosphaten,
Hyposulfiten, Sulfiten, SuIfoxilaten, Thiosulfiten,
Hydrazinen, Stickstoffwasserstoffsäure, Aziden,
Formiaten und Tartraten zusätzlich zu Formaldehyd.
. . ./10
Trotz dieser verschiedenen Alternativvorschläge zu Formaldehyd scheint keiner einen besonders bemerkenswerten
wirtschaftlichen Erfolg zu haben. Dies dürfte die US-PS 4,279,948, die selbst die Verwendung von Hypophosphiten
als Reduktionsmittel in Zusammensetzungen für die stromlose Verkupferung befürwortet, bestätigen,
indem in Spalte 2, Zeilen 58 bis 59 steht:
Für Kupfer wird Formaldehyd heutzutage in der Industrie in weitaus größtem Maße gewählt.
Dies ist möglicherweise die Folge davon, daß Formaldehyd verhältnismäßig billig ist.
Obwohl Hypophosphite die am meisten vorgeschlagenen, sich nicht von Formaldehyd ableitenden Reduktionsmittel
sind, leiden sie an dem Hauptnachteil für einige Anwendungszwecke, nicht autokatalytisch zu sein. Es ist
deshalb schwer, mehr als eine Anschlagkupferschicht (flash layer of copper) zu erzeugen, wenn sie verwendet
werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Zusammensetzung für die stromlose Verkupferung anzugeben, die
frei von Formaldehyd ist. Es soll auch ein Verfahren zur
galvanischen Verkupferung mit diesem Bad angegeben werden. Schließlich soll auch ein Verfahren zur Wiederauffrischung
einer Zusammensetzung zum stromlosen Verkupfern vorgeschlagen werden.
Die Aufgabe wird durch die Zusammensetzung des Anspruches und die Verfahren der Ansprüche 12 und 18 gelöst. Bevorzugte
Ausführungsformen sind in den Unteransprüchen
angegeben.
Es ist gefunden worden, daß Glyoxylsäure (nach der modernen chemischen Nomenklatur mit Oxoethansäure bezeichnet) als
Redμktionsmittel in alkalischen Zusammensetzungen für die
stromlose Verkupferung außerordentlich zufriedenstellend arbeitet. Obwohl Glyoxylsäure selbst natürlich seit langer
Zeit bekannt ist, ist ihre Eignung zur Einarbeitung in Bädern für die stromlose Verkupferung nicht erkannt worden,
bis die vorliegende Erfindung gemacht wurde. Womöglich hat der Stand der Technik von der Verwendung der Glyoxylsäure
weggeführt. Saubestre verweist in Proc. Amer. Electroplater's
Soc.ι (1959), 46, 264, auf verschiedene Oxidationsprodukte von Weinsäure (nämlich Glyoxylsäure, Oxalsäure und
Ameisensäure), die Reduktionsmittel sind, welche "Cuprisalze zum Cupro-Zustand reduzieren können". Er geht jedoch
weiter und sagt:
.../12
"In allen Versuchen, die die Verwendung dieser Materialien als Reduktionsmittel einschlossen,
wurde kein Erfolg erhalten".
Saubestre gab nicht an, welche die Bestandteile der Zusammensetzungen seiner Versuche waren. Insbesondere
sagte er nicht, ob die Zusammensetzungen sauer oder alkalisch waren, obwohl er erwähnt, daß ein Komplex
von einem Kupfer (II)-Ion und einem Tartration in Alkali beständig ist. Er sagt auch nicht, ob irgendein
Komplexbildner für das Kupfer verwendet wurde. Es ist daher unmöglich, zu erraten, warum Saubestre's Versuche
erfolglos waren, aber die Tatsache bleibt, daß er nicht offenbarte, wie eine funktionierende Zusammensetzung
für die stromlose Verkupferung unter Verwendung von Glyoxylsäure bereitzustellen ist. Was er tat war, von
jeder weiteren Arbeit an der möglichen Verwendung der von ihm erwähnten Reduktionsmittel als für die Einarbeitung
in Zusammensetzungen für die stromlose Verkupferung geeignet, abzuschrecken.
Im Gegensatz zu dem, was aus den Lehren von Saubestre natürlicherweise zu erwarten war, hat der Erfinder
der vorliegenden Anmeldung gefunden, daß Glyoxylsäure in alkalischen Zusammensetzungen für die stromlose
. . ./13
-■ -η -
Verkupferung als Reduktionsmittel wirkt. Und da Glyoxylsäure in Form des Glyoxylat-Anions in alkalischer Lösung
vorliegt und nicht als ein gelöstes giftiges Gas, können viele der Sicherheits- und Umweltprobleme, die mit der
Verwendung von Formaldehyd verbunden sind, ausgeschaltet werden. Ferner hat das Verhalten von Glyoxylsäure'· als
Reduktionsmittel viele Ähnlichkeiten mit Formaldehyd
(es unterliegt auch der Cannizzaro-Reaktion, wird aber
oxidiert und reduziert zu Oxalsäure und Glycolsäure)
und resultiert in der Freisetzung eines Hydridions.
Dieses ermöglicht seine Verwendung als ein autokatalytxsches Reduktionsmittel.
Verwendung von Formaldehyd verbunden sind, ausgeschaltet werden. Ferner hat das Verhalten von Glyoxylsäure'· als
Reduktionsmittel viele Ähnlichkeiten mit Formaldehyd
(es unterliegt auch der Cannizzaro-Reaktion, wird aber
oxidiert und reduziert zu Oxalsäure und Glycolsäure)
und resultiert in der Freisetzung eines Hydridions.
Dieses ermöglicht seine Verwendung als ein autokatalytxsches Reduktionsmittel.
Gemäß dem ersten Aspekt der Erfindung wird eine Zusammensetzung für die stromlose Abscheidung von Kupfer bereitgestellt.
Die Zusammensetzung enthält eine Kupferionenquelle, eine wirksame Menge eines Komplexbildners, der die Kupferionen
in Lösung hält und in der Lage ist, mit Kupfer einen Komplex zu bilden, der stärker ist als ein Kupfer-Oxalat-Komplex,
und eine Glyox ylationenquelle, wobei die Mengen von Komplexbildner und Glyoxylat ausreichen, die Kupferabscheidung
auf der Zusammensetzung zu gestatten, unter
der Bedingung, daß, wenn der Komplexbildner Tartrat ist, das Molverhältnis von Tartrat zu Kupfer mindestens
6 : 1 ist.
der Bedingung, daß, wenn der Komplexbildner Tartrat ist, das Molverhältnis von Tartrat zu Kupfer mindestens
6 : 1 ist.
. . ./14
Es ist zu bemerken, daß die Ausdrücke "Glyoxylsäure" und "Glyoxylat" hierin austauschbar benutzt werden, wenn
der Zusammenhang es nicht anders erfordert, da die genaue Natur der vorliegenden Spezies von dem pH-Wert der
Zusammensetzung abhängt; und daß die gleiche Überlegung auch auf andere schwache Säuren und Basen angewendet
wird.
Die Kupferionenquelle kann irgendein lösliches Kupfersalz
sein, das mit der Zusammensetzung als ein Ganzes verträglich ist. Kupferchlorid und Kupfersulfat werden allgemein bevorzugt,
weil sie leicht verfügbar sind, aber es ist auch möglich, daß unter gewissen Umständen Nitrate, andere
Halogensalze oder organische Salze, wie Acetat, als geeigneter befunden werden. Allgemein gesagt sollte die Menge Kupfer,
die in das Bad eingearbeitet wird, im Bereich von 0,5 bis 40 g/l (0,0078 bis 0,63 Mol/l), vorzugsweise von
2 bis 10 g/l (0,031 bis 0,16 Mol/l) liegen und typischerweise eine Größenordnung von 3 g/l (0,047 Mol/l) haben.
Der Komplexbildner -wird allgemein in der Lage sein,
einen stabilen wasserlöslichen Kupferkomplex in dem Bad
zu bilden, vorzugsweise unter Bedingungen hohen pH-Wertes (z.B. bis zu 12 und darüber) und hoher Temperatur
(z.B. bis zum Sieden). Die Wirkungsweise des Komplexbildners ist die Verhütung des Ausfallens von Kupferoxiden
oder -hydroxiden oder unlöslichen Kupfersalzen, wie
.../15
Kupferoxalat, aus der wässrigen Zusammensetzung. Die
Bedeutung, das Ausfallen von Kupferoxalat zu verhüten,
liegt darin, daß, wenn Glyoxylsäure als Reduktionsmittel wirkt, es selbst zu Oxalsäure oxidiert wird. Es wird
daher die Tendenz bestehen, daß sich bei Betrieb des Bades Oxalationen aufbauen.
Es scheint, daß die meisten, wenn nicht alle Kupferkomplexbildner,
die für die Verwendung in formaldehydhaltigen Zusammensetzungen für die stromlose Verkupferung vorgeschlagen
worden sind, auch für die Verwendung in Zusammensetzungen der vorliegenden Erfindung geeignet sind. Es wird angenommen,
daß der Komplexbildner die Koordination des Kupfers in der Lösung mit Wasser oder Hydroxylionen inhibiert,
weil (was ferner angenommen wird) die Bildung von Kupfer-Hydroxyl und Kupfer-Wasser-Bindungen dazu neigt , im Ausfallen
von Kupfer (I)-Oxid zu resultieren. Es wird daher vermutet (ohne sich an eine Theorie binden zu wollen), daß es für
den Komplexbildner eine Notwendigkeit oder mindestens eine Zweckmäßigkeit gibt, alle oder die meisten (möglichst
mindestens fünf) der sechs Koordinationsstellen des Kupferions in Lösung zu besetzen.
Der Komplexbildner kann eine Verbindung der nachstehenden
Formel (IV) sein:
.../16
/76
R1 R3
N - RD - N
R2 V
12 3 in der jeder der Substituenten R , R , R und R ,
unabhängig voneinander, ein Wasserstoffatom, eine Carboxylgruppe
oder eine niedrige Alkylgruppe (z.B. mit 1 bis oder 6 C-Atomen), substituiert mit einer oder mehreren
Carboxyl- und/oder Hydroxyl-Gruppen ,darstellt, und
R eine Bindung oder eine niedrige Alkylenkette darstellt (z.B. mit 1 bis 4 oder 6 C-Atomen), wahlfrei unterbrochen
mit einem oder mehreren substituierten Stickstoffatomen, wobei der Substituent am Stickstoff eine der Bedeutungen
1 4 der Substituenten R bis R haben kann;
unter der Voraussetzung, daß die Verbindung mindestens zwei Gruppen aufweist, die Carboxyl- oder Hydroxyl-Gruppen
sind.
Alternativ kann der Komplexbildner eine Verbindung der
nachstehenden Formel V sein:
R1 R2 \ S
R3
.../17
in der bedeuten: R ein Wasserstoffatom oder eine
Carboxyalkylgruppe oder eine Hydroxyalkylgruppe und
3 R und R , unabhängig voneinander eine Carboxyalkyl- oder Hydroxyalkyl-Gruppe, wobei "Alkyl" im allgemeinen
bis 4 oder 6 C-Atome hat.
Beispiele für Klassen geeigneter Komplexbildner umfassen:
1. Hydroxy-alkyl-alkylen (oder -alkyl)-amine, -diamine,
-triamine und andere -polyamine oder -imine, wobei die Alkyl-oder Alkylen-Gruppen 1 bis 4 oder 6 C-Atome
aufweisen, z.B. Tetra-2-hydroxypropyl-ethylen-diamin
(EDTP);
2. Alkylcarbonsäure-alkylen-amine, -diamine, —triamine
oder -polyamine oder -imine, wobei die Alkyl- und Alkylen-Gruppen wiederum 1 bis 4 oder 6 C-Atome aufweisen,
z.B. Ethylen-diamin-tetraessigsäure (EDTA) und Diethylen-triamin-pentaessigsäure;
3. Verbindungen, die Charakteristika der Verbindungen der vorstehenden Klassen 1 und 2 haben, d.h.
Hydroxyalkyl- oder -alkylencarbonsäure-amine,
-diamine, -triamine, -polyamine oder -imine, wie N-2-hydroxyethyl-ethylen-diamin-N,N1,N'-triessigsäure;
und
. . ./18
4. Hydroxy-mono-, di-, tri- oder tetra-carbonsäuren mit z.B. 1 bis 6 C-Atomen, die C-Atome der Carboxylgruppe
(n) nicht mit inbegriffen, wie Gluconat und Glucoheptonat.
Es kann entweder ein Komplexbildner oder ein verträgliches Gemisch von Komplexbildnern eingesetzt werden, vorausgesetzt,
die Gesamtmenge ist wirksam.
Bevorzugte Komplexbildner fallen unter eine der nachstehenden allgemeinen Formeln I, II und III
HOR-N-ROH (HOR)N-R -N(ROH)
ι ^ *■
ROH
(I)
und
ROH
ROH
(HOR)2N-(R1
(III)
in denen bedeuten*. R ein Alkylrest mit 2 bis 4 C-Atomen,
R ein niederer Alkylenrest (z.B. mit 1 bis 5 C-Atomen) und η eine positive ganze Zahl (z.B. 1 bis 6).
.../19
Beispiele für diese Komplexbildner sind: EDTP,
Pentahydroxypropyl-diethylentriamin, Trihydroxypropylamin
(Tripropanolamin) und Trihydroxypropylhydroxyethyl-ethylen-diamin.
EDTP wird besonders bevorzugt, weil es die Abscheidung in zufriedenstellender
Rate ermöglicht. Zusammensetzungen, die EDTA als Komplexbildner enthalten, arbeiten langsamer, aber geben ein
Produkt besserer Qualität. Was in der Praxis bevorzugt wird, hängt von dem jeweiligen Anwendungszweck, für
den das beschichtete Substrat bestimmt ist, ab.
Andere Komplexbildner, die verwendet werden können, umfassen ethoxylierte Cyclohexylamine mit mindestens zwei Ethoxy-Gruppen
am Stickstoffatom und nicht mehr als 25 Ethoxy-Gruppen
insgesamt, und Benzyliminodiessigsäure. Diese Verbindungen sind in der US-PS 3,645,749 offenbart.
Andere spezifische Komplexbildner, die in der erfindungsgemäßen Zusammensetzung verwendet werden können, schließen
ein: Nitrilotriessigsäure, Glycolsäure, Iminodiessigsäure, Polyimine und Ethanolamin, obgleich es so zu verstehen ist,
daß einige unter den jeweils gegebenen Bedingungen nicht so gut arbeiten wie andere. Obwohl die Auswahl an
Komplexbildnern gebracht worden ist, mit welchen es möglich ist, außerordentlich gute Ergebnisse zu erzielen, ist es
so zu verstehen, daß es möglich ist, eine Zusammensetzung
.../20
Zo
für die stromlose Verkupferung nach der Erfindung zu formulieren, die frei von Tartrationen, die z.B. durch
Rochelle-Salz bereitgestellt werden können, ist.
Im allgemeinen und abhängig von der bestimmten vorstehend angegebenen Bevorzugung hängt die Menge Komplexbildner,
die zur Erzielung guter Ergebnisse in der Zusammensetzung vorliegen sollte, von der Menge Kupfer und der Natur
des Komplexbildners selbst ab.Es kann gefunden werden, daß die wirksamsten Komplexbildner Chelat-Bildner sind.
Die optimale Menge für Penta-,Hexa- und Heptadentat-Chelat-Bildner (die bevorzugt werden) kann etwa das l,5fache der
Menge Kupfer in der Zusammensetzung sein, beides auf molarer Basis berechnet. Es kann allgemein der Fall sein,
daß das molare Verhältnis von Kupferionen zu Komplexbildner in den Bereich von 1 : 0,7 bis 1 : 3 oder darüber,
bis zur Löslichkeitsgrenze oder anderen Badverträglichkeiten liegt. Bei Bi-, Tri- und Tetradentat-Chelatoren sind
gewöhnlich höhere molare Konzentrationen, bezogen auf die Kupferkonzentration, erforderlich.
Wie weiter vorn angegeben, wenn Tartrat als Komplexbildner verwendet wird, hängt die Mindestmenge Tartrat im Bad von
der Menge anwesenden Kupfers ab. Die molare Mindestkonzentration sollte mindestens das 6fache der des Kupfers
sein. Vorzugsweise ist das molare Verhältnis von Tartrat
.../21
zu Kupfer mindestens 7:1,8:1,9:1 oder 10 : 1. Ein
höheres Verhältnis resultiert wahrscheinlich in einer glatteren Kupferabscheidung, bis zur Unverträglichkeitsgrenze
des Tartrats in der Zusammensetzung, aber die mit der Mindestmenge erhaltene Abscheidung kann für viele Zwecke gut genug sein,
Hydroxylionen sind vorzugsweise anwesend, um einen alkalischen
pH-Wert von allgemein über 10,5 oder 11, vorzugsweise von 12,5 bis 13, aufrechtzuerhalten. Die Hydroxylionen können von
irgendeiner verträglichen und wirksamen Alkaliverbindung, wie einem Alkalimetallhydroxid, z.B. NaOH, in Mengen von 2 bis
60 g/l (0,05 bis 1,5 Mol/l), vorzugsweise 5 bis 20 g/l (0,125 bis 0,5 Mol/l) oder KOH, geliefert werden. Kaliumhydroxid
wird bevorzugt, da sich Oxalationen beim Betreiben der Lösung aufbauen und Kaliumoxalat löslicher ist als
Natriumoxalat. :
Die Quelle für Glyoxylationen kann Glyoxylsäure selbst sein, obwohl zu bedenken ist, daß der Säure enthaltende
Aldehyd in wässriger Lösung im Gleichgewicht mit seinem Hydrat, Dihydroxiessigsäure, ist. Eine Würdigung dieses
Phänomens wird den Fachmann in die Lage versetzen zu realisieren, daß die Quelle für Glyoxylsäure alternativ
oder außerdem eine Dihalogenessigsäure, wie Dichloressigsäure, sein kann, die in wässrigem Medium zum Hydrat
der Glyoxylsäure hydrolisiert. Eine alternative Quelle für Glyoxylsäure ist das Bisulfit-Addukt, wie ein
hydrolisierbarer Ester oder ein anderes Säurederivat.
.../22
Das Bisulfit-Addukt kann der Zusammensetzung zugefügt
oder in ihr in situ gebildet werden. Es scheint die Bildung guter Überzüge bei höheren Temperaturen und Abscheidungsraten
zu gestatten. Das Bisulfit-Addukt kann aus Glyoxylat und entweder Bisulfit, Sulfit oder Metabisulfit
gebildet werden. Was immer die Quelle für Glyoxylsäure ist, sie sollte im allgemeinen in einer Menge verwendet
werden, daß die verfügbare Glyoxylsäure in dem Bad in einer Menge von 0,01 bis 1,5 Mol/l, vorzugsweise 0,05 bis
0,5 Mol/l, z.B. etwa 0,1 Mol/l, vorliegt.
Eine wahlfreie,aber besonders bevorzugte Komponente
der Zusammensetzungen nach der Erfindung ist mindestens ein Geschwindigkeitsabscheidungsregler und/oder Stabilisator,
Dies sind Verbindungen, die allgemein starke Kupfer (I)-Komplexe bilden, was die Bildung von Kupfer (I)-Oxid
inhibiert. Kombinationen solcher Verbindungen können als besonders bevorzugt befunden werden. Weil Kupfer autokatalytisch
ist, würden willkürlich in dem Bad gebildete Kupferpartikel unbestimmt abgeschieden werden, wenn sie
nicht stabilisiert worden sind. Ein Stabilisator für stromlose Verkupferung bewirkt eine Herabsetzung der
Abscheidungsrate bei einer gegebenen Kupferoberfläche,
wenn die Abscheidungszeit zunimmt. Zu den Gründen für die Verwendung eines Stabilisators gehört die Gefahr, daß
sich die Zusammensetzung ohne Stabilisator zersetzen kann,
.../23
und die Tatsache, daß seine Anwesenheit die Abscheidung auf das zu beschichtende Substrat begrenzt. Wenn kein
Stabilisator anwesend war, konnten Kupferpartikel oder feste Verunreinigungen, die auf den Boden des Tanks gefallen
waren, mit abgeschieden werden. Darüber hinaus kann es sein, daß sie in unkontrollierter Weise abgeschieden
werden, bis die Lösung infolge massiver Tankabscheidung zersetzt wird. Die Stabilisatoren und/oder Abscheidungsgeschwindigkeitsregler,
die einen Kornverfeinerungsund Duktilitätsverbesserungs-Effekt auf die Kupferabscheidungen
haben und dadurch das Aussehen der Abscheidung verbessern sowie eine leichtere Prüfung ermöglichen, sind allgemein
die gleichen, die in formaldehydhaltigen Zusammensetzungen für die stromlose Verkupferung als geeignet befunden wurden.
Sie fallen in die nachstehend aufgeführten sechs Kategorien:
1. Cyanide oder Cyanid-Komplexe, wie Tetracyanoferrat(II)
(Ferrocyanid);
2. Organische stickstoffhaltige Verbindungen, wie
2,2-Bipyridyle, Hydroxipyridin und 2,2'-Dipyridylamin,
und die stickstoffhaltigen Verbindungen, die in der US-PS 4,301,196 offenbart sindj
3. Organische schwefelhaltige Verbindungen, in welchen
der Schwefel zweiwertig ist, wie 2-Mercaptopyridin, Allyl-thioharnstoff, 2-Mercaptobenz-thiazol und
2-Mercaptothiazolin;
4. Anorganische Thioverbindungen, einschließlich Sulfite,
Thiocyanate, Thiosulfate und Polysulfide - diese Verbindungen enthalten ebenfalls zweiwertigen Schwefel;
5. Langkettige organische Oxo-Polymere, wie die in der
US-PS 3,607,317 offenbarten; es sind Polyalkylenoxide mit bis zu 7 C-Atomen pro Alkylen-Gruppe und einem
Molekulargewicht von mindestens 6000, vorzugsweise in der Größenordnung von 5 000 000; Beispiele dafür
sind Polyethylenoxid und Polypropylenoxid. Es wird angenommen, daß mindestens diese Klasse von Stabilisatoren
durch Einschließen naszierender Kupferkörner wirkt, wodurch sie daran gehindert werden, größer zu werden;
und
6. Netzmittel.
In der US-PS 4,450,191 idit offenbart, was eine siebte
Klasse von Stabilisatoren für die stromlose Verkupferung sein kann, nämlich Ammoniumionen.
•·./25
Abscheidungsgeschwindigkeitsregler der vorstehend genannten Klassen können allgemein in den nachstehend aufgeführten
Mengen verwendet werden:
1. Cyanidionen - 0 bis 50 mg/1, vorzugsweise 5 bis 30 mg/1, z.B. 10 mg/lf Kalium-Tetracyanoferrat(II), - 20 bis
500 mg/1, vorzugsweise 50 bis 200 mg/1, z.B. 100 mg/1 (die Menge anderer Tetracyanoferrate{II) sind auf
einer gleichen Basis zu berechnen);
2. 2,2-Bipyridyl, Hydroxipyridin und andere Verbindungen
- 0 bis 30 mg/1, vorzugsweise 5 bis 20 mg/1, z.B. 10 mg/1;
3. Organische schwefelhaltige Verbindungen - 0 bis 15 mg/1,
vorzugsweise 0,5 bis 5 mg/1, z.B. 3 mg/1;
4. Anorganische Thioverbindungen - 0 bis 5 mg/1, vorzugsweise
0,1 bis 2 mg/1, z.B. 0,5 oder 1 mg/1;
5. Langkettige organische Oxo-Verbindungen - 0 bis 100 mg/1, vorzugsweise 2 bis 50 mg/1, z.B. 20 mg/1; und
6. Netzmittel - 0,1 bis 20 mg/1, vorzugsweise 0,5 bis
10 mg/1, z.B. 2 mg/1.
. . ./26
Obwohl Mengenangaben der Bestandteile, allgemein und bevorzugt, angegeben worden sind, ist es so zu verstehen,
daß die optimalen Mengen von den speziellen Bedingungen, die angewendet werden, abhängen und vom Fachmann leicht
ermittelt werden können. Insbesondere hängen die optimalen Mengen der Hydroxylionen, der Glyoxylat-Quelle und des
Stabilisators und/oder Abscheidungsgeschwindigkeitsreglers, wenn eingesetzt, voneinander und von der Temperatur,
bei der die Abscheidung vorgenommen wird, ab.
Das Bad kann Glycolsäure von vornherein enthalten. Obwohl, selbst wenn sie nicht anfänglich zugefügt worden
ist, sich ihre Konzentration im Bad als ein Reaktionsprodukt des Glyoxylats aufbauen wird, kann es unter
gewissen Umständen vorteilhaft sein, sie anfänglich zuzufügen, weil sie offenbar einen günstigen Effekt auf die
Stabilität des Bades hat. Man kann diesen Vorteil so ansehen, daß er den schwachen Effekt, den die Säure auf
die Verminderung der Dicke des resultierenden Kupferüberzugs, der in einer gegebenen Zeit erhalten wird,
ausübt, überwiegt. Wenn anfänglich bereitgestellt, kann die Glykölsäure in einer Menge von 0,1 bis 50 g/l, vorzugsweise
1 bis 20 g/l, beispielsweise 5 bis 10 g/l, vorliegen.
.../27
Gemäß dem zweiten Aspekt der Erfindung wird ein Verfahren zur stromlosen Verkupferung eines Substrats bereitgestellt.
Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat mit einer Zusammensetzung in Kontakt gebracht wird, die
eine Kupferionenquelle, einen Komplexbildner, der mit
Kupferionen einen Komplex zu bilden vermag, welcher stärker ist als ein Kupferoxalatkomplex, in einer Menge, die
ausreicht, die Kupferionen in Lösung zu halten, und eine Glyoxylationenquelle enthält, wobei die Mengen von
Komplexbildner und Glyoxylat ausreichen, daß Kupferabscheidung aus der Zusammensetzung stattfinden kann,
unter der Bedingung, daß, wenn der Komplexbildner Tartrat ist, das Molverhältnis von Tartrat zu Kupfer mindestens
6 : 1 ist. Die Zusammensetzung kann alkalisch sein. Wahlfrei, aber bevorzugt enthält sie einen Stabilisator
oder einen Geschwindigkeitsabscheidungsregler.
Das Verfahren wird allgemein bei einer Temperatur im Bereich von 20 bis 85 0C, z. B. 40 bis 50 0C,
durchgeführt; die optimale Temperatur hängt in jedem
Fall von der bestimmten verwendeten Zusammensetzung ab.
Es wird bevorzugt, die Zusammensetzung während ihrer Verwendung zu bewegen. Es kann Werkstück- und/oder
Lösungs-Bewegung angewendet werden. Bewegung mittels Luft, die durch Einblasen von Luft durch die Zusammensetzung
.../28
während ihrer Verwendung erreicht wird, hat sich als
besonders wirksam erwiesen, da hierdurch anscheinend die Stabilität der Zusammensetzung erhöht wird.
Das. Verfahren wird in genügend langer Zeit durchgeführt,
um einen überzug der erforderlichen Dicke zu erhalten,
die wiederum von dem bestimmten Einsatzzweck abhängt. Ein Anwendungsgebiet, für das die Erfindung als besonders
geeignet angesehen wird, ist die Herstellung von Montageplatten für gedruckte Schaltungen. Dies kann sein
mittels der Subtraktiv-Verfahren, low build oder high
build, beide gehen von einem mit Kupfer plattierten Laminat aus, dem Semi-Additi werfahren oder dem Additivverfahren. In allen diesen Fällen ist die stromlose
Kupferabscheidung wichtig, zumindest beim Durch-Plattieren
von in das Laminat gebohrten Löchern. Bei dem low build-Subtraktiv-Verfahren werden stromlose Kupferabscheidungen
in Dicken der Größenordnung von 0,5 /um typischerweise
angestrebt, wogegen beim high bui Id-Subtraktiv-Verfahren
Dicken in der Größenordnung von 2,5 /um typisch sind. Bei dem Semi-Additiwerfahren werden stromlos abgeschiedene
Kupferüberzüge in Dicken im Bereich von 2 bis 10 pm
erreicht, während bei dem Additivverfahren die Dicke
der stromlos abgeschiedenen Kupferschicht im Bereich von 25 bis 50 /um liegen kann. Daraus ist zu ersehen, daß
das Verfahren nach der Erfindung zur Vorsehung stromlos
.../29
abgeschiedener Kupferüberzüge geeignet ist, sowohl solcher,
die dünner als auch solcher, die dicker als 1 um sind.
Nach der Erfindung können doppelseitige und mehrlagige
Platten (steif oder flexibel) verkupfert werden.
Die Laminate, die im allgemeinen für die Herstellung von
Montageplatten mit gedruckter Schaltung geeignet sind,
sind meistens Epoxy-Glas. Aber andere Substanzen, wie
Phenolharze, Polytetrafluorethylen (PTFE), Polyimide
und Polysulfone können auch verwendet werden.
Neben der Anwendung der Erfindung bei der Herstellung von PCB's wird sie auch zum stromlosen 'Verkupfern von nichtleitenden
Substraten allgemein, einschließlich Kunststoffen
(wie ABS und Polycarbonat), Keramiken und Glas als geeignet angesehen. Es wird in Betracht gezogen, daß
einer der Hauptanwendungen dieser Erfindung die Herstellung von elektromagnetischen Interferenz (EMD-Schirmen ist.
Allgemein ist es zweckmäßig, die Substrate zu sensibiIieren,
bevor sie stromlos verkupfert werden.Dies kann durch die
Adsorption eines katalysierenden Metalls (wie einem
Edelmetall, z.B. Palladium) an der Oberfläche des Substrats erreicht werden.
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OO
Bei MontagepLattenLaminaten für gedruckte SchaLtungen
(und anderen geeigneten Substraten) kann dies durch foLgende Stufen erfoLgen: 1. Reinigen und Konditionieren
des Substrats, um die Adsorption zu verbessern; 2. Ätzen etwa vorhandener KupferpLattierung (copper
cladding), um gute Bindung zwischen dem stromLos abgeschiedenen
Kupfer und der PLattierung zu erreichen (dies kann mit auf Persulfat oder Peroxid basierenden System vorgenommen
werden); 3. Inkontaktbringen des Substrats mit einer
KataLysator-Vor-TauchformuLierung, wie einer Salzsäure-Lösung,
wahlfrei mit einem ALkaLimetaL IsaLz, wie Natriumchlorid,
in der Lösung; 4. Verursachen, daß die Oberfläche katalytisch wird, z.B. durch Inkontaktbringen mit einer
kolloidalen Suspension von Palladium in einer wäßrigen sauren Zinnchloridlösung; und 5. Inkontaktbringen des
Substrats mit einem Beschleuniger, wie Fluoborsäure oder einer anderen Mineralsäure oder einem Alkali, um
Zinn zu entfernen und das Einschleppen zu verhindern. Nach der 1., 2., 4. und 5. Stufe wird im allgemeinen
mit Wasser gespült.
Obwohl das, was gerade beispielhaft gebracht worden ist, ein einstufiges saures Verfahren ist, ist es ebenso
möglich, das ältere zweistufige Verfahren anzuwenden, bei welchem zuerst ein Zinnbad (als Beispiel) und dann
ein Palladiumbad (wiederum als Beispiel) benutzt wird.
.../31
Bäder, in welchen das Edelmetall aus alkalischer Lösung
statt aus saurer Lösung abgeschieden wird, können auch verwendet
werden. Da aber das erfindungsgemäße Verfahren
autokata lytisch ist, ist die Sensibi Iisierung nicht wesentlich,
mindestens für die Verkupferung.
Für nicht kupferplattierte Kunststoffe kann das Vorgehen
im wesentlichen das gleiche sein, ausgenommen, daß Kunststoffätzmittel häufig Schwefelsäure, Chromsäure
und/oder andere Säuren enthalten. Im allgemeinen wird
aber gewöhnlich eine Stufe angewandt, um die Oberfläche
mechanisch für die stromlose Verkupferung empfänglich zu
machen und/oder eine Stufe, um die Oberfläche für die
Reduktion von Kupferionen zu Kupfermetall katalytisch zu
machen. Alternativ können für die PCB-Herstellung nach dem Additiv- oder dem Semi-Additiv-Verfahren vor-sensibilisierte
Laminate verwendet werden.
Während der Abscheidung werden Kupferionen, Glyoxylationen
und Hydroxy Iionen verbraucht. Daher wird nach einem dritten Aspekt der Erfindung ein Verfahren zum Wiederauffrischen
einer Zusammensetzung für die stromlose Vei— kupferung bereitgestellt. Es besteht darin, daß der
Zusammensetzung eine Kupferquelle, eine Glyoxylationenquelle
und eine HydroxylionenquelIe zugegeben wird.
Abscheidungsgeschwindigkeitsregler und Stabilisatoren
.../32
werden ebenfalls verbraucht, sofern sie anwesend waren; diese Bestandteile können ebenfalls,wenn erforderlich,
wieder ergänzt werden.
Gemäß einem vierten Aspekt der Erfindung wird ein Substrat bereitgestellt, das mit einer Zusammensetzung
nach der Erfindung und/oder dem Verfahren nach der Erfindung (zweiter Aspekt) stromlos mit Kupfer beschichtet
worden ist.
Die bevorzugten Merkmale des zweiten, dritten und vierten Aspekts der Erfindung sind allgemein die gleichen
wie die des ersten Aspekts.
Die Erfindung wird nun an den folgenden Beispielen erläutert.
Es wurden 800 ml einer Lösung folgender Zusammensetzung hergestel It:
.../33
8,0 g/l Kupfer(II)chlorid-Dihydrat (3,0 g/L Cu, 0,047 Mol/l
20 g/L EDTP (0,068 Mol/l)
30 g/L NaOH (0,75 Mol/l)
12,5 mL/L DichLoressigsäure (0,15 Mol/L)
und auf 80 0C erhitzt.
(Bemerkung: Die Reaktion von dem Natriumhydroxid mit der DichLoressigsäure setzt die Natriumhydroxid-Konzentration
auf 0,6 Mol/l herab).
Diese Lösung gab anfangs keinen Kupferüberzug auf einer
mit PaLLadium kataLysierten PLatte. Jedoch, nach Zugabe
von weiteren 10 g Natriumhydroxid und 5 mL DichLoressigsäure
und 1 Stunde Warten bei 80 C wurde ein dünner Kupferüberzug festgesteLLt. Weitere behandeLte PLatten
hatten of f ensi cht L i ch dickere (.dunklere) überzüge,
und nach 3 bis 4 Stunden wurden Kupfergranulate am Boden des Glasgefäßes festgestellt.
Die Verzögerung ist wahrscheinlich darauf zurückzuführen,
daß die Hydrolyse der DichLoressigsäure
.../34
Langsamer als erwartet verläuft.
Die nun folgenden Beispiele beziehen sich auf die Verwendung von Glyoxy Isäurelösung (9,75 molar) in Wasser,
wenn nicht anders angegeben.
Es wurden 500 ml einer Lösung folgender Zusammensetzung hergestelIt
3 g/l Kupfer (Kupfer(II)chIorid-Dihydrat)
(0,047 Mol/l)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/l)
10 g/l NaOH (0,25 Mol/l)
10 g/l NaOH (0,25 Mol/l)
12,5 ml/l 9,75 Mol/l wäßrige GlyoxyIsäurelösung
(0,12 Mol/l)
und auf 70 C erhitzt. Diese Lösung rauchte nicht und konnte außerhalb eines Abzugschrankes hergestellt
und erhitzt werden.
(Bemerkung: Eine Lösung von 0,25 Mol/l NaOH
.../35
und 0,12 MoL/L Glyoxylsäure ergab eine Zusammensetzung
von 0,13 Mol/L NaOH und 0,12 Mol/l Natriumglyoxylat,
wie durch Analyse festgesteLLt. Die NaOH-Konzentration
sank dann infolge der Kupferabscheidung
und der Cannizzaro-Reaktion weiter ab).
Eine katalysierte Platte wurde 10 Minuten in die Lösung eingetaucht. Der Beginn der Abscheidung fand sofort
statt und war von Gasentwicklung begleitet. Der Kupfer-Überzug
war dunkelrosa, elektrisch leitend und haftend, und bedeckte die Platte vollständig, einschließlich
Lochwände und Kanten. Die überzugsdicke, berechnet aus
der Gewichtszunahme, war 2,94 jum. Etwas Kupfer hatte sich
am Boden des Glasgefäßes abgeschieden.
Das Vorgehen des Beispiels 2 wurde wiederholt, aber die Lösung wurde auf 50 0C erhitzt. Eine katalysierte Platte
wurde 30 Minuten lang eingetaucht. Der Beginn der Abscheidung und Gasentwicklung wurde innerhalb von 10 Sekunden
festgestellt. Der überzug war dunkelrosa und haftend,und
durchgehende Löcher waren beschichtet. Die überzugsdicke war 3,92 /um. Etwas Kupfer hatte sich auf dem Boden
des Glasgefäßes abgeschieden.
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Das Vorgehen des Beispiels 3 wurde wiederholt, aber es
wurden 5 ppm Cyanid (als NaCN) zugegeben. Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang in die Lösung getaucht.
Etwas Kupfer schied sich am Boden des Glasgefäßes ab,
aber weniger als bei Beispiel 3. Der überzug, der die
Platte vollständig bedeckte, war in der Farbe heller als der des Beispiels 3; er hatte eine Dicke von 3,3 ^m.
Es wurden 500 ml einer Lösung folgender Zusammensetzung
hergestel It:
3 g/l Kupfer (als Kupfer(II)chlorid-Dihydrat)
(0,047 Mol/l)
28 g/l Tetra-Natrium-EDTA (0,067 Mol/l)
10 g/l NaOH (0,25 Mol/l)
11 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,107 Mol/l),
.../37
(Bemerkung: Das NaOH der Lösung wurde auf 0,143
Mol/l unter Bildung von GlyoxyLat herabgesetzt).
Die Lösung wurde auf 50 C erhitzt. Eine katalysierte Epox i -G las-P l-att e wurde 30 Minuten lang eingetaucht.
Die Platte war vollständig mit einem festhaftenden
hellrosa Kupferüberzug bedeckt. Die Dicke des Überzugs
war 1,65 μπ\. Auf dem Boden des Gefäßes hatte sich kein
Kupfer abgesetzt.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung
hergestellt:
5 g/l Kupfer (als Kupfer(II)-suLfat-Dihydrat)
(0,078 Mol/l)
40 g/l Tetra-Natrium-EDTA (0,096 Mol/l)
20 g/l NaOH (0,5 Mol/l)
16 ml/l Glyoxylsäuretösung (0,156 Mol/l)
und auf 40 0C erhitzt.
.../38
(Bemerkung: Das NaOH in der Lösung sank auf 0,344 Mol/L unter Bildung von Glyoxylat).
Eine katalysierte (aktivierte) Epoxy-Glas-Platte wurde
30 Minuten lang in die Lösung getaucht. Es fand stromlose Kupferabscheidung und Gasentwicklung statt. Die Platte
war vollständig mit einem haftenden dunkelrosa Kupferüberzug versehen. Die Dicke des Überzugs war 1,53 pm.
Am Boden des Gefäßes hatte sich kein Kupfer abgeschieden.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung
hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer(II)-sulfat-Pentahydrat)
(0,047 Mol/l)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/l)
20 g/l NaOH (0,5 Mol/l)
16 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,12 Mol/l)
1 mg/l Natrium-thiosulfat
.../39
und auf 40 0C erhitzt.
(Bemerkung: Das NaOH in der Lösung sank auf 0,13 Mol/l unter Bildung von GLyoxylat).
Eine katalysierte Epoxy-Glas-Platte wurde 30 Hinuaten
in die Lösung getaucht. Es wurde ein 4,14 pm dicker
glatter dunkelrosa Kupferüberzug erhalten, der die Platte vollständig bedeckte. Am Boden des Gefäßes hatte
sich kein Kupfer abgeschieden.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammenset zu ng hergestellt:
2 g/l Kupfer CKupfer(II)-suIfat-Pentahydrat)
(0,031 Mol/l)
5 g/l Natriumgluconat (0,023 Mol/l)
10 g/l NaOH (0,25 Mol/I)
12 ml/l Glyoxylsäure (0,0195 Mol/l).
.../40
(Bemerkung: Das NaOH in der Lösung sank auf 0,0605
Mol/L unter Bildung von GLyoxylat ab).
Es wurde eine dunkelblaue Lösung mit einem hellgelben Niederschlag gebildet. Die Lösung wurde auf 70 0C erhitzt
und eine katalysierte Platte 30 Minuten lang eingetaucht. Die Kupferabscheidung fand statt. Der überzug war hellrosa
und überdeckte die Platte vollständig. Die Dicke des Überzugs war 1,73 fjm. Am Schluß des Testes hatte sich etwas
Kupfer auf dem Boden des Glasgefäßes abgesetzt.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung
hergestellt:
2 g/l Kupfer (als Kupfer-(II)-sulfat-Pentahydrat)
(0,031 Mol/l)
10 g/l Kaliumoxalat-Monohydrat (0,054 Mol/l) 10 g/l NaOH (0,25 Mol/l)
und auf 60 0C erhitzt. Die Bestandteile wurden in der
vorstehend gegebenen Reihenfolge zugefügt. Es entstand
.../41
eine blau-grüne trübe Lösung mit einem grauen Niederschlag.
Es wurden weitere 10 g/L KaIiumoxalat-Monohydrat
(0,054 Mol/L) zugefügt. Der Niederschlag Löste sich nicht
in größerem Ausmaß auf. Danach wurden 18 g/L EDTP (0,0616 MoL/L) zugegeben. Innerhalb von 10 Minuten wurde
eine klare blaue Lösung erhalten. Danach wurden 4 ml/l GLyoxyIsäurelösung (0,039 Mol/l) zugefügt. Eine
katalysierte Epoxy-Glas-Platte wurde dann 30 Minuten
lang eingetaucht. Es wurde ein haftender rosa Kupfei—
überzug erhalten, der die Platte vollständig überdeckte.
Die überzugsdicke war 2,40 ^um. Auf dem Boden des Glasgefäßes
hatte sich kein Kupfer abgeschieden.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
4 g/l Kupfer (als Kupfer-(II)-SuIfat-Pentahydrat)
(0,062 MoL/l)
20 g/L EDTP (0,068 MoL/l)
20 g/L NaOH (0,5 Mol/l)
20 g/L NaOH (0,5 Mol/l)
10 ml/L GlyoxylsäureLösung (0,0975 Mo L/I)
.../42
und auf.50 0C erhitzt.
(Bemerkung: Das NaOH in der Lösung sank auf 0,4 Mol/l unter Bildung von Glyoxylat ab).
Eine katalysierte Epoxy-Glas-Platte wurde 10 Minuten
lang eingetaucht. Es wurde ein dunkelrosa haftender Kupferüberzug einer Dicke von 3,73 ^m erhalten.
Das Vorgehen des Beispiels 2 wurde wiederholt, aber
10 mg/l 2,2 '-Bipyridy I zugegeben.
Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang eingetaucht. Es wurde ein hellrosa glatter haftender überzug
erhalten. Die Platte war vollständig abgedeckt, und der überzug hatte eine Dicke von 2,41 /Um. Etwas Kupfer hatte
sich auf dem Boden des Glasgefäßes abgesetzt, aber weniger als bei Beispiel 2.
Das Vorgehen des Beispiels 2 wurde wiederholt, aber 1,5 mg/l 2-Mercaptothiazo Iiη zugegeben.
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Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang eingetaucht,
Die Platte war danach vollkommen mit einem glatten dunkelrosa-braunen
überzug überdeckt. Am Boden des Glasgefäßes hatte sich kein Kupfer abgeschieden. Die überzugsdicke war
3,65 /um.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung
hergestellt:
3 g/l Kupfer (Kupfer-(II)-chlorid-Dihydrat)
(0,047 Mol/l)
22 g/l Natriumgluconat (0,1 Hol/1)
12 g/l NaOH (0,3 Mol/l)
10,2 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,1 Hol/l)
und auf 50 0C erhitzt.
(Bemerkung: Das NaOH sank auf 0,2 Mol /I nach Glyoxylatbildung ab).
.../44
Die gebildete Lösung war dunkelblau und etwas trübe.
Die Trübheit verstärkte sich während des Testes nicht. Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang eingetaucht.
Die Kupferabscheidung begann innerhalb 1 Minute.
Nach 5 Minuten war vollständige Abdeckung erreicht. Nach 30 Minuten hatte sich ein hellrosa glatter haftender
1,63 juni dicker Kupferüberzug abgeschieden. Etwas Kupfer
hatte sich am Boden des Glasfäßes abgesetzt.
Das Vorgehen des Beispiels 13 wurde wiederholt, abgesehen davon, daß 28,4 g/l (0,1 Mol/l) Natrium-Glucoheptonatdihydrat
anstelle von Natriumgluconat verwendet wurden.
Es bildete sich eine klare dunkelblau-grüne Lösung.
In diese Lösung wurde eine katalysierte Platte 30 Minuten Lang eingetaucht. Die Kupferabscheidung setzte innerhalb
1 Minute ein,und nach 5 Minuten war die Abdeckung vollständig. Nach 30 Minuten wurde ein glatter dunkelrosa
haftender Kupferüberzug einer Dicke von 1,04 ^im festgestellt.
Am Boden des Glasgefäßes hatte sich kein Kupfer abgesetzt. ,
.../45
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung
hergestellt:
3 g/l Kupfer (Kupfer-(II)-chLorid-Dihydrat)
(0,047 Mol/I)
29 g/l EDTP (0,1 Mol/l) 12 g/l NaOH (0,3 Mol/l) 630 mg/l Nat ri umsul.fi t (0,005 Mol/l)
10 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,0975 Mol/l)
und auf 50 C erhitzt.
(Bemerkung: Die NaOH-Konzentration sank auf
0,2 Mol/l nach der Bildung von Glyoxylationen ab).
Eine katalysierte Platte wurde 30 Hinuten in die Lösung
getaucht. Die Abscheidung setzte augenblicklich ein,
begleitet von Gasentwicklung. Es wurde ein rosa haftender
.../46
354A932
Kupferüberzug einer Dicke von 5,94 um festgestellt.
Eine kleine Menge Kupfer hatte sich auf dem Boden des Glasgefäßes abgeschieden.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung
hergeste lit:
3 g/l Kupfer (als Kupfer-(II>-chlorid-Dihydrat)
(0,047 Mol/l)
29 g/l EDTP (0,1 Mol/l) 12 g/l NaOH (0,3 Ho I/ I)
13,8 g/l Natriumsulfit (0,11 Mol/l) 10 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,1 Mol/l)
und auf 70 0C erhitzt (Bemerkung: Die NaOH-Konzentration blieb bei
0,3 Mo17I infolge der Bildung von Glyoxylat-Bisulfit-Additionsverbindung).
.../47
Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang in die Lösung getaucht. Die Abscheidung setzte augenblicklich ein,
begleitet von Gasentwicklung. Es wurde ein hellrosa glatter
haftender Kupferüberzug einer Dicke von 12 jjm festgestellt.
Obwohl dieser überzug mit einer höheren Rate abgeschieden wurde, hatte er ein besseres Aussehen als der, der im
Beispiel 15 erhalten worden ist.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung
hergestelIt:
3 g/l Kupfer (Kupfer-(II)-suIfat-Pentahydrat)
(0,047 Mol/l)
15 g/l EDTP (0,051 Mol/l)
12 g/l NaOH (0,3 Mo I/I)
1 mg/l Natriumthiosulfat
5 mg/l 2,2'-Bipyridyl
1 mg/l Netzmittel (Pluronic P-85)
10 ml/l Glyoxylsäure (0,0975 Mol/l)
.-./48
und auf 50 C erhitzt.
(Bemerkung: Die NaOH-Konzentration sank infolge
Bildung von Glyoxylat auf 0,2 Mol/l).
Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten in die Lösung
getaucht, wonach sie vollständig mit einem hellrosa feinkörnigen Kupferüberzug überzogen war. Die Dicke des
Überzugs war 2,377 /im.
Gleichzeitig wurde eine katalysierte doppelseitig
kupferplattierte Epoxy-Glas-Platte 30 Minuten in die Lösung
getaucht. Diese Platte hatte 50 ausgebohrte Löcher unterschiedlichen Durchmessers von 0,8 mm bis 2 mm. Nach der
stromlosen Verkupferung zeigte sich, daß sich das Kupfer derart abgeschieden hatte, daß die Kanten der Platte
und die Seiten der Lochwände vollständig überdeckt waren. Die genauere Inspektion der Lochwände zeigte die Abwesenheit
von Poren (Bereiche von Feh Ip lattierung) .
Die Haftfestigkeit des stromlos abgeschiedenen Kupfers
an der Kupferplattierung war ausreichend, um der Abtrennung
mittels eines Klebbandes zu widerstehen.
Die so hergestellte Lösung war stabil, am Boden des Glasgefäßes hatte sich kein Kupfer abgeschieden.
.../49
BEISPIEL 18
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung
hergestellt:
3 g/l Kupfer (Kupfer-(II)-chlorid-Dihydrat )
(0,047 Mol/l)
39,3 g/l Diethylentriamin-Pentaessigsäure
(0,1 Mol/l)
32 g/l NaOH (0,8 Mol/l)
10 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,1 Mol/l)
und auf 60 0C erhitzt.
(Bemerkung: Nach Neutralisation der Diethylen-Triamin-Pentaessigsäure
und der Glyoxylsäure war die Konzentration des NaOH in der Lösung 0,2
Mo I/ I) .
Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang in die
Lösung getaucht. Die Abscheidung setzte innerhalb von 10 Sekunden ein. Nach 30 Minuten hatte sich ein 2,0 pm
dicker hellrosa haftender Kupferüberzug abgeschieden.
.../50
Etwas Kupfer hatte sich am Boden des GLasgefäßes
abgesetzt.
BEISPIEL 19
Das Vorgehen des Beispiels 18 wurde wiederholt, aber
es wurden 20 mg/l einer hochmolekularen PoIyoxiethylen-Verbindung
(Polyox Coagulant von Union Carbide) zugegeben. In die Lösung wurde eine katalysierte
Platte 30 Minuten lang eingetaucht. Es wurde ein hellrosa haftender Kupferüberzug erhalten. Seine Dicke war
1 , 0 JU m . Auf dem Boden des Glasgefäßes hatte sich kein
Kupfer abgeschieden.
Das Vorgehen des Beispiels 18 wurde wiederholt, abgesehen davon, daß Luft durch eine Sinterglasscheibe hindurchgeleitet
wurde, um die Lösung zu belüften und zu bewegen. Es wurde ein hellrosa haftender Kupferüberzug erhalten.
Seine Dicke war 2,15 ium. Auf dem Boden des Glasgefäßes
hatte sich kein Kupfer abgesetzt.
.../51
BEISPIEL 21
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer-(II)-chLorid-Dihydrat)
(0,047 Mol/l)
114 g/l Nitrilotriessigsäure (0,6 Mol/l)
84 g/l NaOH (2,1 Mol/l)
10 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,1 Mol/l)
und auf 60 °C erhitzt.
Die Konzentration des NaOH war nach der Neutralisation
der Säuren auf 0,2 Mol/l gesunken. Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang in die Lösung getaucht.
Es wurde ein rosa glatter haftender Kupferüberzug einer Dicke von 3,64 jum erhalten, der die katalysierte
Platte vollständig überdeckte. Etwas Kupfer hatte sich am Boden des Glasgefäßes abgeschieden.
./52
sz
BEISPIEL 22
500 ml einer 10-moLaren GLyoxyLsäureLösung wurde
neutraLisiert, indem 400 mL einer 10,27-molaren KaliumhydroxidLösung
Langsam unter Rühren zugegeben wurde. Die Mischung wurde auf eine Temperatur unter 30 0C gekühlt.
Die resultierende Lösung wurde auf 1 I verdünnt, um eine
5-molare Lösung eines Gemisches von KaLium-glyoxyLat
und Glyoxylsäure eines pH-Wertes von 3,9 bis 4,0 zu erhalten. Diese Lösung wird in diesem Beispiel und in
den Beispielen 23 bis 25 mit "Reduktionsmittel" bezeichnet.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergestel Lt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer-(II)-chlorid-Dihydrat)
(0,047 Mol/L)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/L)
15 g/l KOH (0,27 Mol/l)
3 mg/l 2,2 ' Dipyridylamiη
15 g/l KOH (0,27 Mol/l)
3 mg/l 2,2 ' Dipyridylamiη
20 ml/l Reduktionsmittel
.../53
..γ- 53 :- .
und auf 55 0C erhitzt.
In diese Lösung wurde eine katalysierte PLatte 30 Minuten
Lang eingetaucht. Es wurde beobachtet, daß die Kupferabscheidung innerhalb von 10 Sekunden einsetzte. Nach
30 Minuten hatte sich ein rosa haftender Kupferüberzug
einer Dicke von 2,3 /um abgeschieden. Eine kleine Menge
Kupfer hatte sich am Boden des Glasgefäßes abgesetzt.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung
hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer-(II)-chlorid-Dihydrat)
(0,047 Mol/l)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/l)
15 g/l KOH (0,27 Mol/l)
6 mg/l Natriumdiethyl-dithiocarbamat-Trihydrat
20 ml/L Reduktionsmittel (von Beispiel 22)
und auf 55 C erhitzt.
Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang eingetaucht.
Die Kupferabscheidung setzte innerhalb von 10 Sekunden
ein. Nach 30 Minuten Abscheidung wurde ein dunkelrosa haftender Kupferüberzug einer Dicke von 8,23 /um erhalten;
es hatte sich etwas Kupfer am Boden des Glasgefäßes abgesetzt.
BEISPIEL 24
Das Vorgehen des Beispiels 23 wurde wiederholt, abgesehen
davon, daß 6 mg/l 2-Mercaptopyridin anstelle von Natrium-diethyIdithiocarbamat zugegeben wurden.
Nach 30 Minuten hatte sich ein 5,50 yum dicker dunkelrosa
haftender Kupferüberzug abgeschieden. Etwas Kupfer hatte
sich auf dem Boden des Glasgefäßes abgesetzt.
Das Verfahren des Beispiels 23 wurde wiederholt, abgesehen davon, daß 10 mg/I Allylthioharnstoff anstelle von
Natrium-diethy Idithiocarbamat verwendet wurden.
Nach 30 Minuten hatten sich 10,85 pm dunkelrosa haftendes
Kupfer abgeschieden. Etwas Kupfer hatte sich auf dem
.../55
Boden des Glases abgeschieden.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung
hergestellt:
3 g/l Kupfer (als Kupfer-(II)-chlorid-Dihydrat)
(0,047 Mol/l)
20 g/l EDTP (0,068 Mol/l) 15 g/l KOH (0,27 Mol/l) 100 g/l KaIiumoxalat-Monohydrat
1,5 mg/l Sodiumtriosu Iphat
11,4 g/l Natriumglyoxylat-Monohydrat (0,1 Mol/l)
und auf 50 0C erhitzt.
Eine katalysierte Platte wurde 30 Hinuten lang in die
Lösung getaucht. Nach 30 Hinuten hatte sich ein 8,37 yum dicker dunkelrosa haftender Kupferüberzug abgeschieden
.../56
Kein Kupfer hatte sich an dem Glasgefäß abgeschieden.
BEISPIEL 27 (VergLeichsbeispieL)
Es wurden 500 mL einer Lösung nachstehender Zusammensetzung
hergestellt:
3 g/l Kupfer (Kupfer-(II)-chlorid-Dihydrat)
(0,047 Mol/l)
28,2 g/l Rochelle-Salz (Natrium-KaLiumtartrat)
(0,1 Mol/l)
12 g/l NaOH (0,3 Mol/l) 10,2 ml/l Glyoxylsäurelösung (0,1 Mol/l)
und auf 50 C erhitzt. Das Verhältnis Tartrat zu Kupfer
war 2,13 : 1.
(Bemerkung: Das NaOH war nach der GlyoxylatbiIdung
auf 0,2 Mol/l gesunken).
Zu Beginn bildete sich eine klare blaue Lösung. Eine katalysierte Platte wurde 30 Minuten lang in die Lösung
.../57
getaucht. Das Einsetzen der Abscheidung war ungleichmäßig,
und es wurde nur eine teilweise Abdeckung der Platte mit
Kupfer erreicht; andere Bereiche waren überzogen, was
wie Kupfer-(I)-Oxid aussah. Diese Bereiche waren nicht
leitfähig. Die Lösung wurde trübe/und am Boden des Glasgefäßes
wurde ein orange-roter Niederschlag festgestellt.
Es wurden 500 ml einer Lösung nachstehender Zusammensetzung hergesteI It:
3 g/l Kupfer (als Kupfer-(II)-suIfat-Pentahydrat)
(0,047 Mol/l)
84 g/l Rochelle-Salz (Natrium-Ka I iumtartrat)
(0,3 Mol/l)
12 g/l NaOH (0,3 Mol/l)
10 ml/l GLyoxy Isäurelösung (0,1 Mol/l)
und auf 60 C erhitzt. Das Verhältnis von Tartrat zu Kupfer war 6,3 : 1 .
.../58
(Bemerkung: Die Menge NaOH in der Lösung fiel nach der Bildung von GLyoxyaLat auf 0,2 Mol/l).
Die Lösung war trübe. Eine katalysierte Platte wurde
15 Hinuten in die Lösung getaucht. Es wurde Beginn der
Abscheidung und Freiwerden von Gas festgestellt. Es wurde
ein roter Niederschlag am Boden des Glasgefäßes gebildet.
Die Platte, die eine Fläche von 58,2 cm hatte, war schätzungsweise zu 90 % mit einem glatten rosa Kupferüberzug
bedeckt. Die Dicke dieses Überzuges war schätzungswei se 2,4 jum.
Das Vorgehen des Beispiels 28 wurde wiederholt, abgesehen davon, daß die Rochelle-Salz-Konzentration auf 168 g/l
(0,6 Mol/l) erhöht wurde und Kupfer(Il)-chlorid-Dihydrat
als Kupferionenquelle verwendet wurde. Das Verhältnis
von Tartrat zu Kupfer war 12,6 : 1. Es wurde eine klare, nicht trübe Lösung erhalten. In diese Lösung wurde
eine katalysierte Platte 20 Minuten lang eingetaucht. Das
Einsetzen der Kupferabscheidung fand innerhalb 1 Minute
statt. Es wurde eine vollständige Abdeckung durch einen glatten rosa haftenden Kupferüberzug erreicht. Die Dicke
des Überzugs war 2,7 jjm.
.../59
BEISPIEL 30
Es wurde ein Bad nachstehender Zusammensetzung hergestellt
2 g/l Kupfer (im UDIQUE(R) 820A-Kupferkonzentrat)
60 g/l KCl 143 g/l Oxalsäure-Dihydrat
82,125 g/l KOH (als 182,5 g/l 45 %-ifjen KOH-Lösung)
(nur zum Neutralisieren der Oxalsäure und der
Glykolsäure)
7,6 g/l Glykolsäure (als 10,1 ml/l einer 75 %-igen Lösung )
47,8 g/l K4 EDTA
0,5 mg/l 2-Mercaptothiazo I iη
7,4 g/l Glyoxylsäure (als 11 ml einer 50 %-igen Lösung),
pH 12.7 - 13,0 (gemessen mit pH-Meter bei 26 0C)
eingestellt mit 45 %-iger KOH).
.../60
Eine geeignet präparierte ABS-TestpLatte wurde 10 Minuten
Lang in das Bad eingetaucht, das auf 60 C gehalten wurde. Während des Eintauchens wurde das Bad mittels Luft bewegt
und schien stabil zu sein. Ein guter Kupferüberzug einer
Dicke von 1 bis 1,6 {um wurde erzeugt.
.../61
Claims (20)
1. Zusammensetzung zur stromlosen Verkupferung, dadurch
gekennzeichnet, daß sie je eine Kupferionenquelle, einen Komplexbildner, der mit Kupferionen einen
Komplex zu bilden vermag, welcher stärker ist als ein Kupferoxalatkomplex, in einer Menge, die ausreicht,
die Kupferionen in Lösung zu halten, und eine Glyoxylationenquelle enthält, wobei die Mengen von
Komplexbildner und Glyoxylat ausreichen, daß Kupfer abscheidung ■ aus der Zusammensetzung stattfinden
kann, unter der Bedingung, daß, wenn der Komplexbildner Tartrat ist, das Molverhältnis von Tartrat zu Kupfer
European Patent Attorneys Zugelassene Vertreter beim Europaischen Patentamt
Deutsche Bank AG Hamburg, Nr. O5/28497 (BLZ 2OO7OOOO) ■ Postscheck Hamburg 2842-206
Dresdner Bank AG Hamburg, Nr. Θ33βθ3ί>
(BLZ 2ΟΟ8ΟΟΟΟ)
mindestens 6 : 1 ist.
2. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sie als Kupferionenquelle ein lösliches Kupfersalz
enthält, das mit der Zusammensetzung als ganzes verträglich ist.
3. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sie die Kupferionenquelle in einer Menge enthält,
daß die Kupferionenkonzentration im Bereich von 0,5 bis 40 g/l (0,0078.bis 0,63 Mol/l) liegt.
4. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sie einen Komplexbildner aus der Gruppe von Verbindungen,
die unter die nachstehend aufgeführten allgemeinen Formeln I, II und III fallen, enthält:
HOR-N-ROH (HOR)2N-R1-N(ROH)
ROH
(1) und
ROH
(HOR UN-(R1-N)7-R1-N(ROH)
OL)
in denen bedeuten: R ein Alkylrest mit 2 bis 4 C-Atomen, R ein niederer Alkylenrest und η eine ganze Zahl.
5. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sie als Komplexbildner Tetra-2-Hydroxypropylethylendiamin
(EDTP) oder Ethylen-Diamin-Tetraessigsäure (EDTA) enthält.
6. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Molverhältnis von Kupferionen zu Komplexbildner
im Bereich von 1 : 0,7 bis zur Löslichkeitsgrenze des
Komplexbildners oder anderer Badverträglichkeit liegt.
7. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß sie Hydroxylionen enthält, so daß der pH-Wert über 10,5 liegt.
8. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sie als Quelle für die Glyoxylationen Glyoxylsäure,
Dihydroxyessigsäure, Dihalogenessigsäure, das Bisulfit-Addukt
von Glyoxylsäure, einen hydrolisierbaren Ester oder ein anderes Säurederivat enthält.
/4
9. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sie die Glyoxylationenquelle in einer solchen Menge
enthält, daß verfügbare Glyoxylsäure in dem Bad in einer Menge von 0,01 bis 1,5 Mol/l vorliegt.
10. Zusammensetzung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß sie mindestens einen Abscheidungsgeschwindigkeitsregler und/oder Stabilisator enthält.
11. Verfahren zur stromlosen Abscheidung von Kupfer auf einem Substrat, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat
mit einer Zusammensetzung in Kontakt gebracht wird, die eine Kupferionenquelle, einen Komplexbildner, der
mit Kupferionen einen Komplex zu bilden vermag, welcher stärker ist als ein Kupferoxalatkomplex, in einer
Menge, die ausreicht, die Kupferionen in Lösung zu halten, und eine Glyoxylationenquelle enthält, wobei
die Mengen von Komplexbildner und Glyoxylat ausreichen, daß Kupferabscheidung aus der Zusammensetzung stattfinden
kann, unter der Bedingung, daß, wenn der Komplexbildner Tartrat ist, das Molverhältnis von
Tartrat zu Kupfer mindestens 6 : 1 ist.
12'. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat mit einer Zusammensetzung in Kontakt
wird, die einen Komplexbildner aus der Gruppe von Verbindungen, die unter die nachstehend aufgeführten
allgemeinen Formeln I, II und III fallen, enthält:
HOR-N-ROH (HORJ2N-R1-N(ROH)2
I (II)
ROH
(j) und
ROH
I
(HOR)2N-(R1-N)2-R1-N(ROH)2
(HOR)2N-(R1-N)2-R1-N(ROH)2
(III)
in denen bedeuten: R ein Alkylrest mit 2 bis 4 C-Atomen, R ein niederer Alkylenrest und η eine ganze Zahl.
13. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet,
daß die stromlose Kupferabscheidung bei einer Temperatur
im Bereich von 20 bis 85 0C durchgeführt wird.
14. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Zusammensetzung während ihrer Verwendung bewegt
wird.
15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Zusammensetzung mittels Luft bewegt wird.
16. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat vor der stromlosen Verkupferung
sensibilisiert wird.
17. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat durch die Adsorption eines
katalysierenden Metalls an seiner Oberfläche sensibilisiert wird.
18. Verfahren zum Wiederauffrischen einer Zusammensetzung
zum stromlosen Verkupfern, dadurch gekennzeichnet, daß ihr eine Kupferquelle, eine Glyoxylationenquelle
und eine Hydroxilionenquelle zugefügt wird.
19. Verfahren nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß der Zusammensetzung zusätzlich ein oder mehrere
Abscheidungsgeschwindigkeitsregler und/oder
Stabilisatoren zugefügt werden.
20. Substrat, welches nach dem Verfahren des Anspruches stromlos verkupfert ist.
. . Jl
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB848432400A GB8432400D0 (en) | 1984-12-21 | 1984-12-21 | Copper plating |
GB848432395A GB8432395D0 (en) | 1984-12-21 | 1984-12-21 | Copper plating |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3544932A1 true DE3544932A1 (de) | 1986-07-03 |
DE3544932C2 DE3544932C2 (de) | 1987-04-09 |
Family
ID=26288606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19853544932 Granted DE3544932A1 (de) | 1984-12-21 | 1985-12-19 | Zusammensetzung und verfahren zur stromlosen verkupferung |
Country Status (14)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4617205A (de) |
JP (1) | JPS61183474A (de) |
AU (1) | AU559526B2 (de) |
BR (1) | BR8506459A (de) |
CA (1) | CA1255975A (de) |
CH (1) | CH671037A5 (de) |
DE (1) | DE3544932A1 (de) |
ES (1) | ES8701853A1 (de) |
FR (1) | FR2575187B1 (de) |
GB (1) | GB2169924B (de) |
HK (1) | HK22090A (de) |
IT (1) | IT1182104B (de) |
NL (1) | NL8503530A (de) |
SE (1) | SE460483B (de) |
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- 1985-12-20 GB GB08531356A patent/GB2169924B/en not_active Expired
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FR2575187B1 (fr) | 1989-04-28 |
BR8506459A (pt) | 1986-09-02 |
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AU5155485A (en) | 1986-06-26 |
GB2169924A (en) | 1986-07-23 |
NL8503530A (nl) | 1986-07-16 |
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SE8506078D0 (sv) | 1985-12-20 |
SE460483B (sv) | 1989-10-16 |
JPS61183474A (ja) | 1986-08-16 |
JPH0224910B2 (de) | 1990-05-31 |
ES8701853A1 (es) | 1986-12-01 |
AU559526B2 (en) | 1987-03-12 |
FR2575187A1 (fr) | 1986-06-27 |
ES550306A0 (es) | 1986-12-01 |
SE8506078L (sv) | 1986-06-22 |
IT1182104B (it) | 1987-09-30 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |