DE3334918A1 - Matrix-anzeigeeinrichtung - Google Patents
Matrix-anzeigeeinrichtungInfo
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Description
?J
... Matrix-Anzeigeeinrichtung ■ \"'.'.'■. ■—■-„. .~ht-
.-.'.'"' ·..-■■ . Beschreibung
■ Planar-Anzeigeeinrichtungen-verschiedener Arten, die Anzeigelemente,
wie z.B. Flüssigkristallelemente usw. verwenden, haben heutzutage' den Stand praktischer Anwendung
erreicht, und die Hauptanforderung besteht gegenwärtig darin, Modelle bzw. Ausbildungen solcher Anzeigeeinrichtungen
mit .hoher Dichte zu schaffen. Schwierigkeiten, die in Bezug auf die Treibereigenschaften solcher Anzeigeeinrichtungen
auftreten, können dadurch überwunden werden, daß Steuerelemente vorgesehen werden, um das Anlegen von Treiber-Signalpotentialen
an die Anzeigeelemente zu steuern. Diese Steuerelemente können aktive Elemente wie z.B. Transistoren,
oder aktive Elemente, wie z.B. Dioden oder Varistoren
..'_ sein, wobei eines oder mehrere Steuerelemente mit jedem
Anzeigeelement verbunden sind. Ein solches Verfahren wird beispielsweise von B.J. Lechner et al in einem Aufsatz
in Proceedings of the IEEE, Volume 59, Nr. 11, Seiten 1566 bis 1579 (im folgenden als Druckschrift 1 bezeichnet) er-
■ Örtert. Darin wird sowohl die Verwendung von Elementen mit
drei Anschlüssen (z.B. Transistoren) und Elementen mit zwei
(· Anschlüssen (z.B.nicht-lineare Widerstandselemente) als
Steuerelemente beschrieben. Es gibt Vorschläge, keramische Varistoren zu verwenden, um solche nicht-linearen Widerstandselemente
auszubilden, wie z.B. von D. E. Castleberry in IEEE ED-26, 1979, Seiten 1123 bis 1128 (Druckschrift 2).
30
Es ist weiterhin vorgeschlagen worden, Dioden vom MIM Type statt solcher nicht-linearer Widerstandselemente zu verwenden,
wie beispielsweise beschrieben von D.R. Baraff et al, in IEEE ED-28, 1981, Seiten 736 bis739 (Druckschrift 3).
Jedoch haben sich verschiedene Schwierigkeiten mit diesen bekannten Verfahren herausgestellt, die verhindert haben,
daß diese die Stufe praktischer Anwendung erreicht haben. Diese Schwierigkeiten sind im wesentlichen folgende:
COPY
1. Mangelnde
langelnde Gleichförmigkeit der Eigenschaften der Elemente.
.'
• 2. Hohes'Maß an Streuabweichungen bei der Schwellenspannung
c dieser'Elemente. . ' ■ ·■ -
ο ■ ,
3- Ein ausreichend hoher Pegel an EIN-Strom' I0- kann'
nicht erzeugt werden.
4. Der Pegel des AUS-Stroms I ist äußerst hoch.
. aus
5. Der erforderliche Treiberenergiepegel ist hoch.
6. Die Eigenschaften, sind nicht symmetrisch in Bezug auf
positive und negative Spannungen.
7- Das übersprechen ist groß.
Bei den vorherstehenden Angaben ist der EIN-Strom Iein der
Strompegel, welcher von einem nicht-linearen Widerstandselement einem Anzeigeelement in Abhängigkeit von einem
besonderen Treibersignalpotential zugeführt werden muß, . um das Anzeigeelement in seinen aktivierten Zustand (allge-
...me.in ein leuchtendeji oder auf andere .WeJLRe sichtbarer Zu^_
stand) oder nicht aktivierten Zustand in einer ausgewählten Periode zu setzen oder ein Anzeigeelement in dem aktivierten
Zustand zu halten. Der gewählte AUS-Strom I ist der Leckstrom, der durch das nicht-lineare Widerstandselement von einem
Anzeigeelement in Abhängigkeit vom Fehlen eines Treibersignalpotentials fließt, mit dem beabsichtigt ist, das
Anzeigelement in dem nicht-aktivierten Zustand (allgemein gesagt einem dunklen oder auf andere Weise nicht-sichtbaren
Zustand) zu halten. Je größer der erreichbare Wert für I .
desto höher ist die maximale Frequenz, mit der die Anzeigeelemente
zwischen dem aktivierten und dem nicht-aktivierten Zustand geschaltet werden können, da dieser Strom die Ladungsmenge
bestimmt, welche zu oder von dem Anzeigeelement
innerhalb eines spezifischen Treiberzeitintervalls überführt werden kann.
Im allgemeinen müssen solche nicht-linearen Widerstands-
COPY BAD ORIGINAL
33349Ϊ8
elemente eine symmetrische Leitfähigkeit -in zwei Richtungen
aufweisen, d.h. in der. allgemeinen Weise wie diejenigen eines Varistors, damit Anzeigeelemente, wie z.B.
Flüssigkristallanzeigelemente angesteuert'werden können,
bei denen das Anlegen eines Treibersignalwechselpctentials erforderlich ist. Der Ausdruck "nicht-lineares Widerstandselement"
wird im folgenden für eine Einrichtung verwandt, die eine solche Leitfähigkei'tseigenschaft aufweist. Der
■ Ausdruck "Gleichrichterelement" wird zur Bezeichnung einer Einrichtung verwandt, die eine Leitfähigkeitscharakteristik
nur in eine Richtung hat, wie z.B. bei einer Diode.
• Erfindungsgeaäß wird eine Matrix-Anzeigeeinrichtung geschaffen,
die umfaßt: Eine Vielzahl von Reihenelektroden und Spaltenelektroden, eine Vielzahl von Anzeigeelementen,
eine Vielzahl von nicht-linearen Widerstandselementen, Elektrodenverbindungsmittel
zum Koppeln der nicht-linearen Widerstandselenente und der Anzeigeelemente, und Treibersignalerzeugungsrnittel
zum Anlegen der Treibersignale an die Reihen- und Spaltenelektroden, wobei jedes der nichtlinearen Widerstandselemente wenigstens ein Paar von Sätzen
von Gleichrichter elementen umfaßt, die mittels eines Dünnschicht-Niederschlagverfahrens
auf einem Substrat der
nr. Matrix-Anzeigeeinrichtung ausgebildet sind, wobei die
25
Gleichrichterelementsätze eines jeden Paares miteinander verbunden und parallel mit entgegengesetzten Polaritäten
verbunden sind und jedes der Anzeigeelemente in Reihe mit wenigstens einem der nicht-linearen Widerstandselemente
zwischen einer Reihenelektrode und Spaltenelektrode verbunden ist.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher
erläutert. Es zeigt:
Figur 1 ein Diagramm zur Erläuterung der Betriebsweise
einer Matrix-Anzeige,
Figur;2 ein Diagramm zum Beschreiben der Betriebsweise
■ . einer Matrix-Anzeigeeinrichtung, bei der nicht- · .lineare Widerstandselemente vorgesehen sind,
• Figur 3. eine Kurve, die die I*-V-Kennlinie eines idealen,-.
nicht-linearen Widerstandselementes zeigt,
Figur 4 eine Kurve, die die I-V-Kennlinie eines nichtlinearen Widerstandselementes darstellt, das
10
Elemente wie Varistoren oder MIM-Dioden umfaßt t
Figur 5 eine Kurve, die die Verteilung der Schwellenspannungsabweichung
bei Varistoren zeigt,
Figur 6 ein Schaltungsblockdiagramm einer Ausführungsform
einer Matrix-Anzeigeeinrichtung nach der Erfindung,
Figur 7 und 8
Wellenf ormen-Diagramrse, die geeignete Treibersxgnalwellenformen
zum Betrieb einer Matrix-Anzeigeeinrichtung darstellen, die nicht-lineare Widerstandselemente
mit einem niedrigen Wert der Schwellenspannung umfassen,
Figur 9 eine grafische Darstellung der Beziehung zwischen V<, . der nicht-linaren Widerstandselemente, dem"
Betriebsraum M und dem Auflösungsfaktor N für Anzeigeelemente einer Matrix-Anzeigeeinrichtung
darstellt,
Figuren 10 und 11 -
eine Aufsicht bzw. eine Schnittdarstellung eines Teils einer Anzeigetafel gemäß einer Ausführungsform
der Erfindung, in der Dünnschicht-PIw'-Dioden als nicht-lineare Widerstandselemente verwendet
sind,
copy ]
.· Figur 12 eine Aufsicht auf eine abgewandelte· Ausbildung
■".·_-■ der Anzeigetafel gemäß Figuren 10 und 11,
Figur 13'eine grafische Darstellung, wie fotoelektrische,
in einem nicht-linearen Widerstandselement, erzeugte Ströme die symmetrische .Ausbildung wie in den Fig. 10 und 1Ϊ aufweisen,,
wirkungsvoll aufgehoben werden,
·
Figur 14 eine Kurve, die die Beziehung zwischen der
"■■-' Schwellenspannung und dem einfallenden Licht
ji-\ ' . ' ' bei einem nicht-linearen Widerstandselement
■ gemäß der Ausbildung der Figuren 10 und 11 zeigt,
"■'·'.
Figur 15 eine grafische Darstellung die die Beziehung ζ wisch en
dem EIN-Widerstandswert R . und dem AUS-Wider-
exn
standswert R eines nicht-linearen Widerstands-. aus
.-·■■-■ ■ .- elementes nach der Erfindung und der einfallenden
' · · Lichtintensität zeigt,
Figur 16'die Verteilung von Donator- und Akzeptor-Trägern
durch eine PIN-Diodenstruktur hindurch,
,· ' ' or. Figur 17 zeigt eine grafische Darstellung der Beziehung
■ zwischen dem EIN-Strom I . und dem AUS-Strom
ein
: I und der Dicke einer Halbleiterschicht vom
aus
I-Typ in einer PIN-Diodenstruktur,
Q0 Figur 18 die Verteilung von Donator- und Akzeptor-Trägerkonzentrationen
in einer PIN-Diodenausbildung, in der die I-Typschicht mit Bor dotiert ist,
Figur 19 eine grafische Darstellung, die die Beziehung zwischen dem Mischungsverhältnis von B2HgZSiH1^
in der I-Typ-Schicht einer PIN-Diode und den sich ergebenden Werten von I0. und I..,_ dar-
ein cLilo
stellt,
copy j
2 i ff - fm -*-* —▼
Figur 20 die Verteilung von Donator- und ■Akzeptor-Trägerkonzentrationen
durch eine PtJ-Übergang hindurch, wobei der Übergang durch allmähliche Änderungen
des''Dotierungsprofils ausgebildet ist,
Figuren 21 und 22
eine Aufsicht bzw. Schnittdarstellung eines Teils einer Anzeigetafel gemäß einer Ausführungsform nach
der Erfindung, bei der eine Vielzahl von Anzeigeelementen mit entsprechenden nicht-linearen Widerstandselementen
für jedes Bildelement vorgesehen ist, ■ ■ .
Figur 23 eine äquivalente Schaltkreisdarstellung eines
Bildelementes von der in den Figuren 21 und 22 dargestellten Art,
Figuren 2Ü, 25, 26, 27, 28 und 29
20
20
Schnittdarstellungen, um andere Ausbildungen bezüglich
der in den Figuren 21 und 22 gezeigten Gleichrichterelemente darzustellen,
Figuren 30 und 31
25
25
eine Aufsicht bzw. eine Schnittdarstellung eines Teils einer Anzeigetafel gemäß einer anderen Ausführung
nach der Erfindung,
Figuren 32, 33 und 34 ■ "
äquivalente Schaltkreisdiagramme nicht-linearer Widerstandselemenete, von denen jedes durch Sätze
'von Gleichrichterelementen gebildet ist, die mit gegenseitig entgegengesetzen Polaritäten angeordnet
„e sind, wobei jeder Satz eine Vielzahl von Gleichrichterelementen
umfaßt,
COPY
Figur 35 eine Aufsicht und
■ι- ■.-.■■-
Figur 36 eine Schnittdarstellung eines Teils einer Anzeige
; . tafel, bei der jedes nicht-lineare Widerstands-•
element aus Gleichrichterelementen gebildet ist,
_ die getrennt auf einem Substrat angeordnet sind, ο
• Figuren 37 und 38
:. . eine "Aufsicht bzw. Schnittdarstellung eines Teils
einer Anzeigetafel, gemäß einer Ausführungsform nach der Erfindung, bei der jedes nicht-lineare
Widerstandselement einen Satz von Gieichrichter-•
. . elementen umfaßt, die mit einer Mehrschichtkon-'
· figuration ausgebildet sind,
Figur 39 eine Barstellung, die einen allgemein verwandten
Typ der Mehrschichtkonfiguration zeigt,
Figur 40 eine Darstellung einer Mehrschichtgleichrichter-
• . eiementkonfiguration, wobei eine Metallschicht in
". einem nicht-gleichrichtenden Übergangsbereich ausgebildet
ist,
Figur 41 eine Darstellung, die eine in einem nicht-gleichrichtenden.
Übergangsbereich in einer Mehrschicht- · gleichrichterelementkonfiguration, die Schottkyübergänge
verwendet, ausgebildete Metallschicht zeigt,
Figur 42 eine Darstellung, die eine Schicht mit hoher · Störstellenkonzentration in einem nicht-gleichrichtenden
Übergangsbereich in einer Mehrschichtgleichrichterelementkonfiguration zeigt, die
Schottky-übergänge verwendet,
Figur 43 eine Darstellung, die eine Mehrschichtkonfiguration für den Fall zeigt, bei dem MIS-Elemente in einem
nicht-linearen Widerstandselement verwandt werden, und
COPY
Figur 44 eine Darstellung, die eine Mehrschichtkonfiguration
für den Fall zeigt, bei dem PIN-übergänge in einem
nicht-linearen Widerstandselement verwendet werden.
Bevor die Ausführungsformen der Erfindung beschrieben werden, wird eine einfache Erläuterung der grundsätzlichen Ausgestaltung
einer Matrix-Anzeige gegeben. Figur 1 ist eine Darstellung zun Beschreiben einer Art von Matrix-Anzeige, die
manchmal als passive Matrix-Anzeige bezeichnet wird, welche keine Steuerelemente aufweist. In Figur 1 bezeichnet S eine
Vielzahl von Reihenelektroden und D eine Vielzahl von Spalteneiektroden, wobei Anzeigeelemente C an den Schnittstellen
der Reihenelektroden und der Spaltenelektroden angeordnet sind. Figur 2 ist eine Darstellung, um eine Matrix-
Anzeigeeinrichtung zu beschreiben, bei der Steuerelemente mit zwei Anschlüssen, d.h. nicht-lineare Widerstandselemente
NL verwendet werden. Jedes Matrix-Element M, das an einem Schnittpunkt einer Reihenelektrode und einer Spaltenelektrode
angeordnet ist, umfaßt ein nicht-lineares Element
NL und ein Anzeigeelement C, die in Reihe miteinander verbunden
sind.
Figur 3 zeigt die ideale Charakteristik eines nicht-linearen
Elementes. Gemäß der Darstellung sind zwei unterschiedliche
25
Widerstandswerte R und Rein für quer zu dem Element liegende
Spannungen gezeigt, deren absolute Werte tiefer und höher als die Schwellenspannung Vsch liegen.
__ Figur 4 zeigt die Kennlinie eines nicht-linearen Widerstands-ου
elementes nach dem Stand der Technik, welches von Varistoren
oder MIM-Dioden gebildet ist, wie es in der Druckschrift 3 beschrieben ist. MIM-Elemente zeigen eine Kennlinie der
folgenden Art:
I <x£ V exp(B NT) .
I <x£ V exp(B NT) .
Varistoren haben eine Kennlinie der folgenden Form
1 ·*■ Vr t mifc ρ >_ 50 .
COPY
<■ - t
Verglichen mit dem idealen Beispiel gemäß Figur 3 ist die
Nicht-Linearität in beiden Fällen nur schlecht festgelegt. Als Ergebnis hiervon liegt ein großer Wert von I «nahe
. duo
der Schwellenspannung Vs . vor, wodurch es schwierig wird,
genau die Treiberströme für die Anzeigeelemente in Abhängigkeit von vorbestimmten Treibersignalpotentialen genau
zu schalten. Ferner wird'der Betrieb durch Datensignale
anderer Reihen beeinflußt, d.h. es wird ein übersprechen
-0 erzeugt.. Somit ist es nicht möglich, solche nicht-linearen
Widerstandseiemente zu.verwenden, um eine analoge Anzeige
; zu schaffen, welche eine sehr genaue Steuerung der Kontrastpegel
der Bildelemente, beispielsweise bei einer Fernseh-Anzeige erfordert.
.'"■■ · .
Figur 5 zeigt die Verteilung von Streuabweichungen des Wertes der Schwellenspannung Vg . von Varistoren, wie es
in der Druckschrift 2 beschrieben ist. Gemäß der Darstellung ist es schwierig, die Werte V-. für Varistoren
wegen der großen Breite der Herstellungsstreuabweichungen zu steuern. Dies gilt auch für MIM-Elemente, deren Arbeitsweise
auf Tunnelströmen beruht, die durch eine dünne Schicht eines elektrisch isolierenden Materials hindurchgehen..
Die Isolationsgüte einer solchen Schicht wird in hohem Maße von der Art des die Schicht bildenden Materials
beeinflußt, wodurch es schwierig ist, VSch>
Iein und Iaus
mit genauen vorbestimmten Werten zu steuern.
COPV
Statt Varistoren oder MIM-Elemente zu verwenden, ist es
möglich, die Vorwärtsleitfähigkeitseigenschaften von Dioden
auszunutzen, um nichtlineare Widerstandselemente zu schaffen, da diese nichtlineare Elemente ergeben, welche enggesteuerte
Eigenschaften und eine hohe Schwellenspannung aufweisen. In der Druckschrift 1 wird eine Anordnung vorgeschlagen,
■ bei der Dioden in einer Ringkonfiguration verbunden sind. Das heißt, jedes nichtlineare Widerstandselement umfaßt
zwei Sätze von jeweils bis zu 40 Dioden, wobei die Dioden in jedem Satz in Reihe verbunden und die Sätze parallel mit
gegenseitig entgegengesetzten Polaritäten verbunden sind. Jedoch treten Schwierigkeiten bei der Verwendung solcher
Diodenringe auf. Erstens, wenn insgesamt 10 χ 2 = 80 Elemente für jedes Matrixelement verwendet werden, dann
sind bei einer Matrix mit 500 Reihen und 500 Spalten ins-
•7
gesamt 2 χ 10 Elemente erforderlich. Es ist unmöglich eine
solch große Anzahl von Elementen auf einer Anzeigeplatte bei Verwendung normaler Herstellungsverfahren getrennt anzuordnen,
obgleich die vorliegende Erfindung eine Anordnung angibt, durch die der von einer Anzahl von in Reihe geschalteten
Gleichrichterelementen besetzte Anzeigesubstratsbereich verglichen mit herkömmlichen Verfahren in hohem
Maße verringert werden kann, bei denen die Anzeigeelemente getrennt auf einem Substrat angeordnet und durch auf diesem
ausgebildete Leitungen miteinander verbunden sind. Ferner ist es beim Einsatz normaler Herstellungsverfahren schwierig,
die Leckströme der Diodenübergänge auf einem niederen und stabilen Wert zu halten, wenn eine solch große Anzahl von
Elementen verwendet wird. Zusätzlich, wenn eine große Anzahl von in Reihe geschalteten Elementen bei der Ausbildung eines
jeden nichtlinearen Widerstandselementes verwendet wird, ist es schwierig, einen ausreichend großen Wert von Iei zu erreichen
und ein hoher Pegel .für die Versorgungsspannung wird wegen des großen Wertes der Schwellenspannung Vg^ erforderlich
35
COPY
^ Bei der vorliegenden Erfindung sind die Nachteile bein
Stand der Technik in hohem Maße verringert. Die Erfindung wird nun unter Bezugnahme auf die Figuren beschrieben.
Fig. 6 zeigt ein Blockdiagramm einer Ausfuhrungsform einer
Anzeigeeinrichtung nach der Erfindung. Das Bezugszeichen 10 bezeichnet eine Anzeigetafel. Das Bezugszeichen 12 bezeichnet
einen Treiberschaltkreis für Reihenelektroden, . um Abtastsignale, die die in Fig. 7 gezeigte Form Q*
aufweisen/ an die Reihenelektroden S 1 bis SN der Anzeigetafel zu legen. Das Bezugszeichen 16 bezeichnet einen Treiberschaltkreis
für die Spaltenelektroden r um Datensignale
mit der in Fig. 7 gezeigten Form Dm an die Spaltenelektroden D1 bis.De .zu legen. Das Bezugszeichen 14 bezeichnet eine
1^ Steuereinrichtung, um Anzeigedaten 18, Zeitsignale 24 und
und Stromversorgungen 20 und 22 für die Treiberschaltkreise zur Verfügung zu stellen.
Fig. 7 zeigt ein Beispiel von Treibersignalwellenformen.
Wenn Treibersignale mit solchen Wellenformen verwendet werden, reicht ein Wert für die Schwellenspannung VSch für die
nichtlinearen Elemente in der Größenordnung von 0,5.bis . 1V aus. Somit ist.es möglich, eine einzige Diodenstufe für-
jedes nichtlineare Element statt bis zu 40 Stufen zu ver-,i*"""
25 wenden, wie es bei dem vorhergehend beschriebenen Beispiel aus dem Stand der Technik erforderlich ist.
Fig. 8 zeigt ein anderes Beispiel von Treibersignalwellen-· formen. Im folgenden wird die Spannung, die an ein Anzeigeelement
gelegt werden muß, damit es in den aktivierten Zustand gebracht wird, mit V . und die Spannung, welche angelegt
werden muß, um ein Anzeigeelement in dem nicht aktivierten Zustand zu halten, mit V bezeichnet. Das Ver—
hältnis v ein /v aus wird als der Arbeitsspielraum M (operating
35
COPY
margin) bezeichnet. Der Arbeitsspielraum M ist ein Maß
für die von einer Anzeige geschaffene Bildqualität die sich aufgrund des Auflösungsvermögens und des Kontrastes (d.h.
des Kontrastverhältnisses) ergibt, die die Anzeige liefert. V/enn Treibersignalwellenformen der in Fig. 7 oder 8 gezeigten
Form verwandt werden, liefert- ein Wert der Sc iwellenspannung
VSch im Bereich von °»5 bis 1 V für die nichtlinearen Widerstandselernente
einen ausreichend großen Wert für den Arbeitsspielraum M, so daß dann, wenn jedes nichtlineare Element
aus zwei Sätzen von mit entgegengesetzten Polaritäten parallel verbundenen Dioden gebildet sind, jeder Satz eine bis
drei Diodenstufen umfassen kann.
Fig. 9 zeigt die Beziehung -zwischen dem Arbeitsspielraum
M der Schwellenspannung V„ . der nichtlinearen Elemente
und dem Anzeigeauflösungsfaktor N für Anzeigeelemente, die eine Aktivierungsspannung von 2 V haben. Je größer der Wert
M ist, umso besser ist die Bildqualität. Auch kann man Fig. 9 entnehmen, daß für ein spezifisches Auflösungsvermö-
gen die Bilcqualität umso besser sein wird, je größer der
Wert der Schwellenspannung V„ , der nichtlinearen Elemente
ist. Ferner ist für einen gegebenen Wert des Arbeitsspiel-, raums M der Anzeigeauflösungsfaktor M umso besser je größer
der Wert der Schwellenspannung V3 , der nichtlinearen EIemente
ist, wobei dieser Faktor N schnell mit zunehmendem Viert von V3ch zunimmt. Zusätzlich, wenn die Ansprechgeschwindigkeit
der Anzeigeeinrichtung groß sein soll, dann muß der Pegel des EIN-StromesT . auch groß gemacht werden,
um sicherzustellen, daß die durch die Anzeigeelemente während
eines vorbestimmten Treiberzeitintervalls fließende Strommenge ausreicht. Wenn der Wert I . nicht ausreichend groß ist,
dann sind die EIN- und AUS-Zustände der Anzeigeelemente nur schlecht festgelegt und der Kontrastgradient ist klein
mit der Folge einer schlechten Bildqualität. Man sieht so-
mit, daß die Werte von V„ , und von I . in einer Anzeige-
ocn θ χ π
COPY
einrichtung von großer Bedeutung sind. Vom Gesichtspunkt
der Steuerung der Elementeeigenschaften und der Kosten
können nichtlineare Elemente, die die Vorwärtsleitfähigkeitseigenschaf
t von Didoder. ausnützen, als bevorzugt betrachtet werden.
Fig. 10 zeigt eine Aufsicht auf einen Teil einer Ausführungsform einer Anzeigetafel nach der Erfindung. Fig. 11.zeigt
eine Schnittdarstellung längs der Linie 65 in Fig. 10.
•10 Bei dieser Ausführungsform umfaßt jedes nichtlineare
Widerstandselenient ein Paar Gleichrichterelemente, die mit
entgegengesetzten Polaritäten parallel verbunden sind, wobei jedes Gleichrichterelement eine durch Niederschlagen
einer dünnen Schicht gebildete PIN-Diode umfaßt. Diese Ausführungsform ist für eine Matrix-Anzeigeeinrichtung geeignet,
die Treibersignale von der in den Fig. 7 oder 8 dargestellten Art verwendet, wobei nur ein niedriger Wert
für die Schwellenspannung der nichtlinearen Widerstandselemente erforderlich ist. Die Bezugszeichen 50,51 bezeichnen
Substrate, 72 und 71 bezeichnen Reihenelektroden, 53 und 55 bezeichnen eine Oberflächenschutzschicht bzw.
eine Ausrichtschicht, und 54 bezeichnet ein Anzeigeelement, welches ein Material wie z.B. einen Flüssigkristall umfaßt.
Mit den Bezugszeichen 64 und 77 sind Gleichrichterelemente bezeichnet, welche umfassen Halbleiterbereiche 74,75, von
denen jeder-aus einer P-Typ Halbleiterschicht 60 besteht,
einer I-Typ Halbleiterschicht 59, die ein geringes Maß an zugesetzten Fremdatomstoffen aufweist und eine N-Typ Halbleiterschicht
58, um eine PIM-Dioden-Struktur zu bilden.
Mit 8-1 ist eine Anzeigeelektrode und mit 61 eine Spaltenelektrode
bezeichnet. Die Spaltenelektrode 61 ist mit einem Anschluß des Gleichrichterelementes 64 über eine leitende
Schicht 57 verbunden. Der Anschluß der entgegengesetzten Polarität des Gleichrichterelementes' 64 ist mit der Anzeigeelektrode
81 des Anzeigeelementes 54 über eine durch eine
COPY
Kontaktöffnung 84 gekoppelte Verbindungselektrode 62 verbunden.
Fig. 12 zeigt eine Aufsicht auf eine etwas andere Ausführungsform, bei der im Gegensatz zu der Anordnung gemäß
Fig. 10 zwei Gruppen Gleichrichterelemente 9^ und 96 in einer
Ecke eines jeden Bildelementes abgeformt sind.
Aus den vorhergehenden Ausführungsformen ergibt sich ohne weiteres, daß ein Merkmal der.Erfindung darin besteht,
Gleichrichterelemente zu verwenden, welche als Dünnschichten ausgebildet sind. Ein anderes Merkmal besteht darin, daß
die Strocwege dieser Gleichrichterelemente unmittelbar auf dem Substrat angeordnet sind. Eine derartige Anordnung ermöglicht
die Querschnittsbereiche der Stromv/ege maximal auszubilden, so daß ein Nachteil bei Elementen dieser Art nach
dem Stand der Technik, nämlich ein nicht ausreichender Wert von I . überwunden werden kann. Es ist ferner möglich, diese
ein
Schwierigkeit des nicht ausreichenden Stromes Iein durch Ergänzung
mittels Lichtwirkung zu verringern.
Im allgemeinen besteht ein Nachteil bei der Verwendung von
Transistoren oder Dioden als Steuerelemente in Matrix-Anzeigeeinrichtungen
in der Empfindlichkeit gegenüber Licht. Da Dioden eine Art von Solarzellen sind, kann sich ein fehlerhafter
Betrieb durch die Erzeugung von fotoelektrischen Strömen ergeben. Bei der Erfindung sind zwei Gruppen von
Gleichrichterelementen symmetrisch in bezug auf außerhalb erzeugtes, einfallendes Licht und Wärme derart angeordnet,
daß sich deren Wirkungen im wesentlichen gegenseitig aufheben. Beispielsweise sind die Gleichrichterelemente 64
und 77 oder 94 und 96 in den Fig. 10 und T2 niit im wesentlichen
der gleichen Form ausgebildet und sehr nahe beieinander angeordnet, so daß diese Flächen der Halbleiterbereiche
jedes dieser Gleichrichterelemente in bezug auf von außen einfallendes Licht, wie es mit dem Bezugszeichen 66 in
Figur 11 angedeutet ist, im wesentlichen identisch sind.
COPY
3334318 V5
Wenn z.B. jedes nichtlineare Widerstandselement aus mit
einem Plasma-Niederschlagverfahren im Vakuum gebildeten PIN-Dioden
aus amorphem Silicium bestehen, dann stellen die Kurven 101 und 102 in Fig. 13 die Solarzellen-Kennlinien
jeder dieser Dioden dar. Da diese parallel mit entgegengesetzten Polaritäten verbunden sind, ergibt sich eine
Gesaintke.inlinie für das nichtlineare Widerstandselement,
wie es die Kurve 103 zeigt. Man sieht, daß sich die foto-
, elektrischen Ströme 104 und 105 gegenseitig in diesem nichtlinearen Widerstandselement aufheben und nicht außerhalb
von diesen auftreten. Ferner ist, wie es Fig. -14 zeigt,
■ die Schwellenspannung V„ . im wesentlichen stabil in
bezug suf Pegeländerungen des einfallenden Lichtes bis zu
einem Lichtpegel in der Größenordnung von 1/10 des AMI-
Solarzellen-Empfindlichkeitswertes (AMI bedeutet Luftmasse
1) (100 mW).
Bei der Erfindung ist es auch möglich, in positiver Weise die fotoelektrischen Wirkungen des einfallenden Lichtes
zu verwenden, statt sie auszuschließen. Da die Gleichrichtereleniente
grundsätzlich, lichtempfindliche Einrichtungen sind, ist es schwierig, vollständig diese Wirkungen
des einfallendes Lichtes auszuschließen. Bei der Erfindung kann eine der Elektroden eines Gleichrichterelementes,
beispielsweise die Elektrode 57 in Fig. 11 als eine transparente
Elektrode aus einem Material wie Ir0O-, :Sn oder
SnO2, ZnO usw. gebildet sein. Fig. 15 zeigt die R ein /R aus~
Kennlinien in Bezug auf den einfallenden Lichtpegel I. Im Falle von amorphen Silicium-Dioden, bei denen es eine
wesentliche Schwierigkeit darstellt, einen ausreichend geringen Wert R . zu erzielen, wird das Problem mit zunehmendem
Pegel des einfallenden Lichtes geringer. Jedoch bleibt der Wert R innerhalb zulässiger Grenzen, so daß dies
cLUS
keine besondere Schwierigkeit darstellt. Bei einer Ausführungsform
der Erfindung, bei der eine Ausbildung unter
COPY
■ fallenden' Lichtes verwendet
Verwendung der Wirkungen des einf ^ ^ ? ^ ^^
ulrd, ist der Wert R1 um einen FaK ^^^ TOn
Pegel des einfallenden Lichtes ι ufleaung nm
ΊοΟΟ lu* verringert. Somit nimmt die
einen Faktor von 2-5 zu.
■ ν,βη der Verteilung der
Akzeptor-Konzentration N, und der ^ ^_
Kd die einem Gleichrichterelemen « lst. Fig-17
fSnrusnsform der Figuren !0 und Π .-.β ^^
zeist die Beziehung zwischen der Dicke ^ ^ ^ ^_
der pIN.Halbleiterstru1ctur und I u ^^^ pR_
nimmt, nimmt laus sohneil ab un .in „ verwandt
Di0den aus amorphem Silicium b" ^ herzustellen, da&
„erden, dann ist es von Bedeutung niohtlinearen
! ... ausreichend groß ist. «°bel*" „„„,,„ so klein ■
. Λιι Di°S Steile a^llv" ' exit
wie möglich sein soll- υ - . Gegenmaßnahmen in der
seln wird, während die «^-«»^^» des fotoeleXtrinementstruktur
zum *»ft«b'n ^^ ^rrinsert ist.
sehen Stromes vorzusehen, brt"^erunpllMM11trrti™ .
Andererseits werden, wenn ι hUoh erforderliohe
1B der !-Schicht größer als,der ^1 angelegten
Wert zum Standhalten gegenüber · ^ Steuereigenspannung
gemacht wird hte kann erhöht
■ -sohaften verbessert und «^^^„^„, llefert
„erden.im Vergleich mit eineMaß an Herelne PIN-Diodenstr*
« ^ ^^ von x und
stellungsabweichungen »e.uglic ^ ^^ ^ 3 ^ ver_
vsoh und es ^^^^ dle vorhergehenden Aus-„endet
werd^,» η Hi bli ^ ^^ _ 3 „lB 50O nm
führungen ist eine
optimal.
optimal.
35 COPY
333Α918
Die Grenze des Wertes für den Vorwärtsstrom I in in einer
PIN-Diodenausbildung wird hauptsächlich durch den Löcherstrom
in dem ΡΙ-übergangsbereich festgelegt. Wenn die I-Schicht etwas mit Bor dotiert ist, wie es in Fig.
gezeigt ist, ermöglicht die P+PN-Struktur Verbesserungen
bezüglich der Werte von I . und I, ,o· Fig. 19 zeigt
sin aus
die Besiehungen zwischen dem Mischungsverhältnis B2Hg/
SiH2, und Iair. und I . Wenn der Anteil von Β,,Η^ nicht
äußerst groä ist, können Verbesserungen der. Eigenschaften erhalten werden.
COPY
Wenn ferner die. Elemente aus amorphem Silizium unter Verwendung des . Plasma- Nieders^hlagsverfahren im· Vakuum
(CVD) des lichtunterstützten (photo assisted) Kathoden-Niederschlagsverfahren im Vakuum oder des
Aufstäubverfahrens gebildet werden, dann kann das Do-•tierungsprofil,
gemessen in der Richtung der Dicke der Schichten, frei gesteuert werden, und wie es Fig. 20
zeigt, können die übergänge durch allmähliche Änderungen in diesem Profil, ausgebildet werden. Solche gradienten
übergänge sind für nicht lineare Widerstandselemente, welche in einer Matrix-Anzeigeeinrichtung eingesetzt
werden sollen, äußerst geeignet. Die Gründe hierfür W liegen im folgenden. Erstens kann ein Strom mit einem
großen Wert aufgrund der Diffusionsströme fließen, welche von den Löchern und Elektronen in den PI- und IN-übergängen
herrühren, so daß I . großgemacht v/erden kann.
61 Ii
Jedoch·können wegen des Vorhandenseins eines als eines
Zwischenbereiches gebildeten Bereiches mit niederer Frendstoffatomkonzentration die Fermi-Potentiale der
dotierten Schichten auf beiden Seiten des Bereiches mit niederer Fremdstoffatomkonzentration genau bestimmt
werden. Als Ergebnis hiervon sind die Streuungen des Wertes V« , und die Übergangsleckströme stark verringert.
a 25 Fig. 21 zeigt eine Aufsicht auf einen Teil einer anderen
•Ausführungsform einer Anzeigetafel nach der Erfindung. Bei dieser Ausführungsform sind für jedes Bildelement
eine Vielzahl von Anzeigeelementen und nicht-linearen Widerstandselementen vorgesehen. Fig. 22 zeigt eine
Schnittdarstellung längs der Linie 116 in Fig. 21.
Mit 108 ist eine Spaltenelektrode bezeichnet, die mit einer Elektrode eines Gleichrichterelementes 115 und M7 durch
eine leitende Schicht 112 verbunden ist, welche ai3 erste Verbindungselektrode bezeichnet wird. Mit 113
und 114 sind Reihenelektroden, mit 110 eine zweite Verbin-
COPY
Q rs o A Q Λ. Q
dungseiektrode undmit115a und 111 ~dne Halbleiterschicht bezeichnet,
in der eine oder mehrere'Diodenübergänge ausgebildet
sind. Die Bezugszeichen 51 und 50 bezeichnen Substrate, 53 und 55 eine Oberflächenschutzschicht bzw. eine Aus-
. 5 richtschicht,116 bezeichnet eine Anzeigeelektrode und 54
eine Flüssigkristallschicht. Gleichrichterelemente 115 und 117 umfassen jeweils eine Halbleiterschicht
■-- . und weisen mit jeder Seite der Halbleiterschicht gekoppelte Elektroden auf. Die
zwei Gleichrichterelemente sind in einer Ringkonfiguration miteinander verbunden, um ein nicht-lineares Widerstands element
mit zwei Richtungen darzustellen. Die Bezugszeichen 116, 118 und 120 bezeichnen Anzeigeelektroden.
Das äquivalente Schaltbild eines Bildelementes gemäß der Ausführungsform
von Fig. 21 und 22 ist in Fig._23 dargestellt, wobei drei Anzeigeelemente· und drei entsprechende nichtlineare Widerstandselemente für jedes Bildelement vorgesehen
sind. Die Eildelemente 119a, 119b und 119c sind in
Reihe mit Gleichrichterelementen 115a, 115b bzw. 115c an den Schnittstellen zwischen einer'Reihenelektrode 114 und
einer Spaltenelektrode 108 verbunden, wobei diese Ausgestaltung ein Bildelement bildet. Diese Anordnung, bei der
eine Vielzahl von Gruppen von Anzeigeelementen und nichtlinearen Elementen für jedes Bildelement vorgesehen sind,
weist die folgenden Vorteile auf. Erstens ist es nicht erforderlich, das obere und untere Substrat mit großer Genauigkeit
auszurichten. Der Grund hierfür besteht darin, daß, wenn die Lage einer Reihenelektrode oder einer Spaltenelektrode
auf einem Substrat und die Lage eines Anzeigeelementes, welches mit einer Anzeigeelektrode gekoppelt
ist.-, nicht zueinanderpassen bzw. zueinander angepaßt sind, dann wird übersprechen bei einer Anzeigeeinrichtung auftreten,
in der ein einziges Anzeigeelement für jedes BiIdelement
vorgesehen ist. Bei der Ausführungsform gemäß
COPY
Fig. 23 jedoch ist eine Vielzahl von Anzeigeelementen für
jedes Bildelement vorgesehen, so daß das übersprechen verringert ist und dessen Wirkungen vernachlässigbar gemacht
werden können. Aus diesen Gründen liefert die Ausführungsform gemäß Fig. -23, bei der eine Anzahl von Anzeigeelementen
für jedes Bildelement vorgesehen ist, eine erhöhte
Bildqualität. Um die vorhergehend beschriebenen Ergebnisse zu erzielen, sollten die Anzeigeelektroden 116, 118, 120...,
die in Fig. 21 gezeigt sind, parallel zu den Reihenelektroden 113, 114.... positioniert werden.
Ein zweiter Vorteil besteht darin, daß der Produktionsausstoß erhöht werden kann. Dies bedeutet, daß in dem Fall
einer Anzeigeeinrichtung, bei der nur ein Anzeigeelement für jedes Bildelement vorgesehen ist, das gesarate Bildelement
unwirksam wird, wenn nur eines der Gleichrichterelemente fehlerhaft wird, welches- mit einem Anzeigeelement verbunden
.' ist. Eine solche Wirkung ist auffallend und verringert die Bildqualität. VJe η η jedoch eine. Anzahl von Anzeigeelementen
für jedes Bildelement vorgesehen ist, ergibt sich selbst
dann, wenn eines der Gleichrichterelemente eines Anzeigeelementes fehlerhaft werden sollte, keine Wirkung auf die
Arbeitsweise des entsprechenden Bildelementes, so daß keine Fehler in dem Bild auftreten.
Wie vorhergehend beschrieben, ist somit eine Ausbildung gemäß dieser Ausführungsform nach der Erfindung sehr vorteilh-at
in Bezug auf einen erhöhten Produktionsausstoßes und verbesserte Bildqualität und verringert die Gesamtherstellungskosten.
Die Fig. 24, 25 und 26 zeigen spezielle Ausbildungen für Bereiche der Gleichrichterelemente, die in den Fig. 21
und 22 dargestellt sind. In Fig. 24 bezeichnet das Bezugs-35
zeichen 121 eine untere Elektrode, das Bezugszeichen 122
COPY
einen Halbleiterbereich und das Bezugszeichen 126 eine obere Elektrode. Der Halbleiterbereich 122 umfaßt eine
Vielzahl von Schichten, die unterschiedliche Arten von Dotierungen mit Fremdstoffatomen oder unterschiedliche
Fremdstoffatomkonzentrationen aufweisen. In Fig. 24 ist
eine PIN-Diodenstruktur aus drei Schichten gebildet, näm-•
lieh einer Schicht 123 vom P-Typ (oder N-Typ), einer
Schicht 124 mit einer geringen Fremdstoffat'omkonzentration
und einer Schicht 125 vom N-Typ (oder P-Typ). Ein Nachteil dieser Ausgestaltung besteht darin, daß ein seitlicher
.Strompfad außerhalb des normalen PIN-Strompfades zwischen
der Schicht 123 vom P-Typ (oder N-Typ) und der Elektrode 126 gebildet wird. Diese Schwierigkeit des seitlichen
Strompfades kann dadurch verringert werden, daß der Abstand zwischen dem Anschluß 129 der unteren Elektrode und dem
Aüsgangsanschluß 128 der oberen Elektrode groß gemacht ■und die Breite der Anschlüsse verringert wird. Der Vorteil
dieser Ausbildung gemäß den Fig. 24 bis 27 besteht darin,
daß die gesamte Struktur nur drei Schichten umfaßt, d.h.
die obere Elektrodenschicht, die Halbleiterschicht und die untere Elektrodenschicht, so daß die Ausbildung dieser
Schichten und der Musterausbildungsvorgang insgesamt in drei Schritten durchgeführt werden kann. Dies verkürzt
die Herstellungszeit und erleichtert den Herstellungsvorgang,
wodurch eine beträchtliche Kostenverringerung möglich wird.
Fig. 25 unterscheidet sieh von der Anordnung gemäß Fig.24
in der Ausbildung eines Bereiches 133 des ersten der auszubildenden Halbleiterbereiche 132, d.h. die Schicht 131
vom P-Typ oder N-Typ. Genauer gesagt, wird bei der Ausführungsform gemäß Fig. 24 ein Teil der Halbleiterschicht·
123 auf dem Ausführungsbereich 127 der unteren Elektrode belassen. Bei der Ausführungsform gemäß Fig. 25 hingegen
5ist dieser Teil fortgelassen. Als Ergebnis hiervon wird
der bei der Ausführungsform gemäß Fig. 24 auftretende
COPY ]
·· - 30 ■ ■-:
Nachteil, nämlich, daß ein seitlicher Strompfad gebildet ist, der einen Leckstrom ermöglicht, beträchtlich verringert.
Die Herstellungsschritte für die Ausführungsform gemäß Fig. .25 sind in Fig. 26 (a) und 26 (b) dargestellt.
Wie gezeigt, wird ein Selbstausrichtverfahren verwandt, um die Anzahl der Markierungsstufen zu verringern. Zuerst
werden mit einem Schritt (a) die untere Elektrodenschicht 121 und die Haibleiterschicht . 141, welche Träger von
einer ersten Art (d.h. P-Typ oder N-Typ) aufweist, nacheinander niedergeschlagen. Gleichzeitig werden unter Verwendung
einer einzigen Maske diese Schichten mit Mustern so ausgebildet, daß die Halbleiterschicht Hi die Elektrodenschicht
121 bis zu dem Substrat überlappt. Anschließend werden die Schicht 124 mit niederer Fremdstoffatomkonzentration
und eine Halbleiterschicht 125 mit einer zweiten Art von Trägern (d.h. P-Typ oder N-Typ) aufeinanderfolgend
niedergeschlagen, wobei die Maskierung gleichzeitig durchgeführt wird. Während dieses Musterausbildungsschrittes
wird die Halbleiterschicht 141 so geätzt, daß sie die mit 131 bezeichnete Form erhält. Während dieser Verfahrensschritte
wird die Halbleiterschicht 131, die vom ersten Leitfähigkeitstyp ist, im unteren Elektrodenmuster ohne
Überlappung überlagert, wobei die Lagen dieser Überlager- ■ ten Schichten automatisch ausgerichtet sind, d.h. selbstausrichtend
sind.
Fig. 27 zeigt eine Schnittdarstellung einer anderen Ausführungsform
der Erfindung, wobei ein Teil eines Gleichrichterelementes dargestellt ist. Mit dem Bezugszeichen
151 ist eine untere Elektrode, mit 152 ein Halbleiterbereich und mit 155 eine obere Elektrode bezeichnet.
Die untere Elektrode 151 und der Halbleiterbereich 152 bilden einen Übergang mit Grenzschicht vom Schottky-Typ,
während die obere Elektrode 155 und der Halbleiterbereich 152 einen Ohmschen Übergang bilden. Das untere
COPY
Element 151 kann beispielsweise durch eine Schicht aus Platin unter Verwendung eines Zerstäubungsverfahrens gebildet
werden, und der Halbleiterbereich 152 kann als eine Schicht aus amorphem Silizium durch Plasma-Niederschlag
is Vakuum (CVD)' gebildet werden. Die obere Schicht 155 kann als eine transparente leitende Schicht aus Indiumoxid
gebildet werden.
Der untere Bereich 153 des Halbleiterbereiches 152 umfaßt
eine Halbleicersehicht mit niederer Fremdstoffatomkonzentration,
um einen Schottky-übergang zu schaffen, während ' der obere Bereich 154 des Halbleiterbereiches 152 eine
Halbleiterschicht umfaßt, die Fremdatome, wie Bor oder Phosphor enthält. Die Verwendung eines Grenzschichtüberganges
vom Schottky-Typ wie bei dieser Ausführungsform ergibt die folgenden Vorteile. Erstens, es kann ein großer
• Wert für den Strom in Vorwärtsrichtung erzielt werden. Wie anhand der in den Fig. 7 und 8 dargestellten Treibersignalweilenfcrmen
zu erkennen ist, werden die Treibersignale an die nicht-linearen Widerstandselemente einer
Matrix-Anzeigeeinrichtung in einer.Time-Sharing-Weise gelegt, und -es ist erforderlich, einen ausreichend großen
Stromwert für die Anzeigeelemente zur Verfügung zu stellen
Somit ist es notwendig, einen ausreichend großen Wert für den Strom in Vorwärtsrichtung in diesen Elementen zu
schaffen. Jedoch ist in dem Fall der vorhergehend beschriebenen Beispiele, bei denen PIN-Diodenübergänge
oder PN-Diodenübergänge verwendet werden, der Wert des Stromes in Vorwärtsrichtung niedrig, und als Ergebnis
hiervon muß die Fläche eines jeden Anzeigeelementes groß
sein. Durch die Verwendung von Schottky-Grenzschichtübergängen jedoch ist vielmehr statt wie bei einem Stromfluß,
dem Minoritätsträger-Driftströme zugrunde liegen, wie im Falle von PIN-Übergängen oder PN-übergängen,
der Stromfluß in Vorwärtsrichtung das Ergebnis von
COPY
Majoritätsträgern, so daß ein ausreichend großer Wert an Strom erreicht werden kann.
Ein zweiter Vorteil bei der Verwendung von Gleichrichter-5' elementen, die Schottky-Grenzschichtübergänge aufweisen,
. in einer Matrix-Anzeigeeinrichtung besteht darin, daß die Ladungsanhäufung, verglichen mit der Verwendung von
PN-Übergängen oder PIN-Übergängen verringert wird. Deshalb
ist das übersprechen gering. Da der Stromfluß bei PIN-Übergängen
und PN-Übergängen auf Minoritätsträgern beruht, können, wenn die Richtung der angelegten Spannung
von der Vorwärtsrichtung in die umgekehrte Richtung,umgeschaltet
wird, die angesammelten Minoritätsträger nicht sofort von dem Übergangsbereich entfernt werden, so daß
der Stromfluß in Vorwärtsrichtung nicht unmittelbar nach Anlegen einer umgekehrten Vorspannung angehalten werden,
kann. Dieses Verhalten ergibt ein übersprechen auf der Anzeige mit einer geringeren Anzeigeauflösung. Wenn jedoch
Schottky-Grenzschichtübergänge verwendet werden, wie bei
dieser Ausführungsform, kann das Maß an Ladungsanhäufung aufgrund von Minoritätsträgern vernachlässigt werden,
so daß sich ein geringeres übersprechen ergibt.
Aufgrund der vorhergehend beschriebenen Vorteile ermöglicht die Verwendung von Schottky-Grenzschichtübergängen für die
Gleichrichterelemente ein gutes Ansprechen selbst dann, wenn Treibersignalimpulse geringer Dauer angelegt werden,
so daß eine hohe Anzeigedichte mit beispielsiieise 500
bis 1000 oder mehr Abtastlinien erzeugt werden kann. 30
Ein dritter Vorteil dieser Ausführungsform besteht darin, daß die Herstellung vereinfacht wird. Wenn Schottky-Grenzschichtübergänge
verwendet werden, tritt der bei der Ausführungsform gemäß Fig. 24 vorhandene seitliche Leckstrompfad
nicht auf, so daß die in Fig. 26 dargestellten Her-
COPY
.1 Stellungsschritte nicht erforderlich sind- Genauer.gesagt,
kann durch die Ausbildung einer Schottky-Grenzschicht an dem übergang zwischen der unteren Elektrode und der.Halbleiterschicht
bei der Ausbildung gemäß Fig. 27 ein Element in drei Schritten für die Schichtausbildung und die Mustererzeugung
hergestellt werden. Das derart gebildete Element zeigt einen Leckstrom entlang eines seitlichen Strompfades,
Es ist- möglich, anderes Metall als Platin für die Schottky·
übergänge zu verwenden, wie z.B. Ir, Au, Rh1 Pd, Ni, Cr,
Al usw., während polykristallines oder mikrokristallines Silizium oder Te, Se, Cd, CdS, InP, GaAs usw. für das
Halbleitermaterial und Al, Cr oder Ni usw. für die ohmischen übergänge verwendet werden können. Es ist auch
15
möglich, die bei dieser Ausführungsform dargestellte Konfiguration umzudrehen, d.h. den Schottky-übergang zwischen
der unteren Elektrode und dem Halbleiterbereich auszubilden und einen ohmischen übergang zwischen der
oberen Elektrode und dem Halbleiterbereich zu bilden. Auch ist es möglich, einen Übergang vom MIS-Typ zu
bilder., indem eine dünne isolierende Schicht innerhalb des Schottky-Überganges eingefügt wird.
COPY
333A918
Fig. 28 zeigt eine Schnittdarstellung eines Gleichrichterelementes
vom MIS-Typ. Mit 161 ist eine Reihenelektrode,
mit 162 eine dünne Isolierschicht, mit 163 ein Halbleiterbereich und mit 165 eine obere Elektrode bezeichnet. Da
der Halbleiterbereich 1.63 eine MIS-Charakteristik zeigt, wird eine Schicht 164 mit geringer Fremdstoffatomkonzentration
auf der. Seite der isolierenden Schicht bei dieser Ausbildung vorgesehen, und eine Schicht 165 mit einer großen
Fremdstoffatomkonzentration ist auf der Seite der oberen Elektrode der Kalbleiterschicht ausgebildet, um einen
ohmischen Kontakt zu schaffen. D.h., die Halbleiterschicht
163 umfaßt zwei Schichten. Materialien, wie Pt, Cr usw. können für die untere Elektrode, während Materialien
wie Ta2O oder TiO2 für die Isolierschicht, amorphes
Silizium für den Halbleiterbereich und ein Material wie ITO (Indiutnzinnoxid) für die obere Elektrode verwendet
werden kennen.
20
20
Ein Vorteil der Verwendung eines Gleichrichterelementes vom MIS-Typ in einer Anzeigeeinrichtung besteht darin,
COPY
daß ein großer Wert für die Schwellenspannung VSch erhalten
werden kann. Wenn beispielsweise' die untere Elektrode aus Cr gebildet ist, wird, wenn keine Isolierschicht verwendet
wird, V0 . in der Größenordnung von 0,2 V liegen.
Wenn .iedoch eine MIS-Ausbildung verwendet wird, wobei
eine Isolierschicht aus InO mit einer Dicke in der Größenordnung von 30 S gebildet wird, dann nimmt der
Wert von VCrsV, auf die Größenordnung von 0,55 V zu. ·
Fig. 29 zeigt eine Schnittdarstellung eines Gleichrichterelementes
nit einem Hetero-übergang. ■ Das Bezugszeichen 171 bezeichnet eine Reihenelektrode, .das Bezugszeichen
V 172 einen Kalbleiterbereich und das Bezugszeichen 172
eine obere Elektrode. Bei dieser Ausführungsform ist
die untere Elektrode aus einer leitfähigen Art eines Halbleiters gebildet, wobei ein Hetero-übergang zwischen
dieser Elektrode und dem Halbleiterbereich gebildet ist.
Wenn beispielsweise die untere Elektrode aus In2CU:Sn,
- 20 der Halbleiterbereich aus amorphem Silizium und die
untere Elektrodenseite des Halbleiterbereichs aus einer Schicht 173 mit einer geringen Fremdstoffatomkonzentration
gebildet sind, dann kann ein geeigneter übergang hergestellt werden. Mit 174 ist eine Schicht mit hoher Fremd-/""*'
25 Stoffatomkonzentration bezeichnet, um einen nicht gleichrichtenden Kontakt mit der oberen Elektrode 175
zu schaffen.
Die Vorteile der Verwendung eines Gleichrichterelements mit einem Hetero-übergang in einer Anzeigeeinrichtung
sind die folgenden. Erstens, das Herstellungsverfahren ist einfach und es können stabile Eigenschaften erhalten
werden. Beispielsweise können, wenn das in Fig. 15 dargestellte Herstellungsverfahren verwendet wird, die
Schichtausbildungen und Musterausbildungsvorgänge mit . insgesamt drei Schritten durchgeführt werden.
COPY
Fig. 30 zeigt eine Aufsicht auf einen Anzeigetafelteil einer anderen Ausführungsform nach der Erfindung, und
Fig. 31 stellt eine Schnittdarstellung längs der Linie-188
dar. Bei dieser Ausführungsform sind eine untere Elektrode 181 unter einem Halbleiterbereich 182 und
eine obere Elektrode 183 angeordnet und beide aus nichttransparenten, leitenden Schichten hergestellt. Bei einer
solchen Ausgestaltung kann kein Licht in den Halbleiterbereich eindringen, so daß sich keine Änderungen bezüglich
der Eigenschaften der lichtempfindlichen Elemente aufgrund von einfallendem Licht ergeben. Ferner wird die
Zuleitungsverbindung zu der oberen Elektrode durch eine Kontaktöffnung geschaffen, die in der Isolierschicht 63
ausgebildet ist, so daß die Kontaktverbindung keine Seitenfläche des Halbleiterbereiches berührt. Somit wird kein
Leckstrom läng eines seitlichen Strompfades hervorgerufen, welcher bei der Anordnung gemäß Fig. 24 auftritt.
Bei den vorhergehend beschriebenen Ausführung^formen nach
der Erfindung umfaßt jedes nicht-lineare Widerstandselement ein Paar von Gleichrichterelementen, von denen jedes eine
einzige Diode, die parallel mit entgegengesetzten Polaritäten geschaltet sind, umfaßt, um dadurch Gleichrichterelemente
mit in zwei Richtungen symmetrischen Leitungseigenschaften der in Fig. 3 dargestellten Grundform zu
bilden. Eine solche Anordnung ist dann geeignet, wenn ein niederer, jedoch genau gesteuerter Wert der Schwellenspannung
ausreichend ist. In manchen Fällen jedoch mag es erforderlich sein, einen größeren Wert für die Schwellenspannung
zu liefern, als es mit einer einzigen Diodenstufe möglich ist. In einem solchen Fall kann ein nichtlineares Widerstandselement aus zwei Sätzen von Gleichrichterelementen
gebildet werden, von denen jeder eine Vielzahl von Diodenstufen umfaßt, die in Reihe für eine
Leitung in einer Richtung verbunden sind. Der äquivalente Schaltkreis einer solchen Anordnung ist in Fig. 32 darge-
COPY
stellt, bei dem ein nicht-lineares Widerstandselement 190 ein Paar von Sätzen von Gleichrichterelementen 192 und
194 umfaßt, von denen jeder eine Vielzahl von Diodenstufen
aufweist. Die Sätze 192 und 194 sind parallel mit
entgegengesetzten Polaritäten geschaltet.
Eine andere Anordnung, um ein nicht-lineares Widerstandselement mit einem großen'Wert der Schvjellenspannung zu
schaffen, ist durch den äquivalenten Schaltkreis gemäß Fig. 34 dargestellt. Hier kann man sich das nicht-lineare
Widerstandselement als eine Vielzahl von Diodenringen 204, 206, vorstellen, die in Reihe geschaltet sind, wobei
jeder Ring ein Paar von mit entgegengesetzten Polaritäten parallel geschalteten Dioden umfaßt. Die elektrische Betriebsweise
ist diegleiche wie bei der Anordnung gemäß Fig. 32, ermöglicht jedoch, die Verbindungen zwischen
den Diodenstufen einfacher als bei der Verbindung gemäß Fig. 32 herzustellen.
Wenn gemäß den Ausbildungen der Fig. 32 und 34 eine große Anzahl von Diodenstufen in jedem nicht-linearen
Widerstandselement vorgesehen wird, dann wird das nichtlineare Widerstandselement fehlerhaft, wenn irgendein
offener Kreis bei den Verbindungsleitungen- zwischen den Dioden vorliegt. Somit kann eine solche Anordnung zu
einem relativ geringen Produktionsausstoß für die gesamte Matrix-Anzeigeeinrichtung führen, wenn diese eine große
Anzahl von nicht-linearen Widerstandselementen umfaßt. Bei der Ausführungsform nach der Erfindung, deren
äquivalenter Schaltkreis in Fig. 32 gezeigt ist, ist ' eine Vielzahl von nicht-linearen Widerstandselementen,
von"denen jedes zwei Sätze Gleichrichterelemente (d.h. wie es mit . · ·■ 198 und 200 bezeichnet ist)aufwe
mit jedem Anzeigeelement gekoppelt. Somit wird ein fehlerhaftes Gleichrichterelement oder eine fehlerhafte Verbindungsleitung
zwischen Gleichrichterelementen in einem der Sätze nur eines der nicht-linearen Widerstandselemente
copy
beeinträchtigen, und die Arbeitsweise des entsprechenden Bildelementes wird nicht beeinträchtigt. Als Ergebnis hiervon
wird der gesamte Produktionsausstoß bei Matrix-Anzeigeeinrichtungen wesentlich erhöht, die eine solche Anordnung
verwenden.:
Fig. 35 zeigt eine Aufsicht auf einen Teil einer Anzeigetafel gemäß einer Ausführungsform nach der Erfindung, die
dem äquivalenten Schaltkreis gemäß Fig. 32 entspricht, bei dem Dioden., die durch Niederschlagen einer dünnen
Schicht auf ein Substrat ausgebildet sind, durch auf dem gleichen Substrat ausgebildete Verbindungsleitung miteinander
verbunden sind. Fig. 36 zeigt eine Schnittdarstellung
der Anzeigetafel gemäß Fig. 35 längs der Linie A-B. Die Bezugszeichen 220 und 232 bezeichnen Substrate, 210 und 211
Reihenelelctroden, 222 und 224 eine Oberflächenschutzschicht
bzw·, eine Ausrichtschicht und 223 ein Anzeigeelement, wie z.B. ein Flüssigkristall-Anzeigeelement - Die Bezugszeichen
218 und. 2"i9 bezeichnen Anzeigeelektroden zum Verbinden.
der Anzeigeeleraente, wie z.B. die Anzeigeelektrode 219} die
riiit der Anzeigeelement 223 verbunden .ist.
Die Bezugszeichen 214 und 215 bezeichnen zwei Sätze Gleichrichterelemente,
die den Sätzen 192 und 191^ in. Fig. 32 entsprechen.
Bei diesem Beispiel umfaßt jedes Gleichrichterelement eine Halbleiterschicht 30 vom P-Typ, eine HaIbleiterschicht
229 vom I-Typ mit niederer Fr*emdstof fatomkonzentration
und eine Halbleiterschicht 228 vom N-Typ, welche insgesamt als Halbleiterbereich 213 bezeichnet sind.
Das Bezugszeichen 226 bezeichnet eine elektrisch isolierende Schicht. Jedes Gleichrichterelement 214 ist eine Diode mit
der in Fig. 36 gezeigten Ausbildung. Das Bezugszeichen 216b
bezeichnet Verbindungsleitungen, die auf den Substrat 232 ausgebildet sind, um die Gleichrichtereleaiente des Satzes
215 zu verbinden, während das Bezugszeichen 216a entsprechende Verbindungsleitunsen bezeichnet,, die auf dem
Substrat 232 zur Verbindung der Gleiclvrichterelemente des
Satzes 214 ausgebildet sind. Ein Anschluß des Gleichricht-er-
COPY
■· *
elementsatzes 215 ist mit der Spaltenelektrode 212 verbunden, während der gegenüberliegende Anschluß mit
einer Anzeigeelektrode 219 verbunden ist. In ähnlicher Weise ist ein Anschluß des Gleichrichterelementesatzes
211I mit einer Spaltenelektrode 212 verbunden, wobei der
entgegengesetzte Anschluß mit der Anzeigeelektrode 219 verbunden ist.
Eine solche Ausbildung wejst den Nachteil auf, daß der
Bereich, auf dem die Dioden ausgebildet sind, groß ist,
verglichen mit der gesamten Anzeigefläche, so daß das Öffnungsverhältnis und damit die Gesamtbildqualität
der Anzeige klein ist. Ferner ist eine große Anzahl von Verbindungsleitungen erforderlich. Als Ergebnis hiervon
ist eine große Anzahl von Kontaktlöchern erförderlich, • was zu einer großen Zahl an Kontaktfehlern führt.
Andere Ausführungsformen der Erfindung werden nun be-.schrieben,
in denen jeder Satz von in Reihe verbundenen Gleichrichterelementen als eine Vielzahl von Halbleiterschichten
und leitenden Schichten ausgebildet ist, die in sich in senkrechter Richtung überlappender Weise auf.
einem Substrat gestapelt sind, um abwechselnde Gleichrichterübergänge und nicht-gleichrichtende übergänge auszubilden,
wodurch die für die Ausbildung der Gleichrichterelemente erforderliche Fläche im Vergleich mit der gesamten
Anzeigefläche klein und das Öffnungsverhältnis groß gemacht werden können und die Bildqualität verbessert wird. Ferner
ist die Anzahl der Kontaktlöcher kleiner und die Anzahl der Verbindungsleitungen ist auch verringert, so daß eine
größere Anzahl Elemente auf einer vorgegebenen Fläche geschaffen werden kann . Ferner kann eine gleichförmigere
Anzeigequalität erhalten werden. Diese Gleichrichterelemente können als kontinuierliche dünne Schichten gebildet werden,
wobei alle diese Elemente zusammen mit einem Ätzverfahren hergestellt werden können. Dadurch kann eine viel höhere
COPY 1
X Produktivität als in dem Fall erreicht werden, in dem .
einzelne Elemente in Reihe auf einer ebenen Oberfläche miteinander verbunden, werden.
Fig. 37 zeigt eine Aufsicht auf einen Teil einer Anzeigetafel gemäß einer solchen Ausführungsform nach der Erfindung.
Fig. 38 ist eine Schnittdarstellung längs der· Linie Ar-B' in Fig. 37- Durch. Vergleich mit Fig. 35, in
der eine Vielzahl von Dioden getrennt auf einer ebenen Oberfläche ausgebildet ist, ist diese Ausführungsform
dadurch gekennzeichnet, daß jedes nicht-lineare Widerstandselenent
aus zwei Sätzen von Gleichrichterelementen gebildet wird, wobei jeder Satz eine Vielzahl von Gleichriehterelementen
umfaßt, die aufeinander in einer Mehrschicht-Ausbildung
angeordnet sind, so daß der von den Gleichrichterelementen besetzte Oberflächenbereich wesentlich
kleiner ist. In den Fig. 37 und 38 bezeichnen 220 und 232 Substrate, 210 und 211 Reihenelektroden, 222 und
244 eine Qberflächenschutzschicht bzw. eine Ausrichtschicht
und 223 ein Anzeigeelement, wie ein Flüssigkristall-Anzeigeeierr.ent.
Mit 212 ist eine Spaltenelektrode bezeichnet. Die Bezugszeichen 238 und 239 bezeichnen Anzeigeelektroden
zur Verbindung der nicht-linearen Wider- ■ star.dselener.te mit Anzeigeelementen, wie z.B. die Anzeiseeiektroce
239, die das Anzeigeelement 223 verbindet. Mit den 3ezugszeichen 234 und 235 sind zwei
Sätze von in Reihe geschalteten Gleichrichtereleraenten
bezeichnet, welche zusammen ein nicht-lineares VJiderstandsele-enc
darstellen. 250 bis 253 bezeichnen die Gleichrichterelemente, welche den Satz 234 bilden. Diese
sind in einer Mehrschicht-Ausbildung hergestellt, welche beispielsweise eine Mehrschicht-Schottky-Diodenausbildung
sein kann, eine Mehrschicht-Kombination von Metall-Isolator-Metall (MIS) Dioden, NP-Übergänge, die durch
Kombinationen unterschiedlicher Arten von Dotierungsstoffen oder unterschiedlichen Fremdstoffkonzentrationen,
COPY
d'ie in einem Halbleiter gebildet sind, hergestellt werden,
PN-Übergänge, die durch unterschiedliche Fremdstoffatomkonzentrationen
ausgebildet sind, oder Mehrschicht-Ausbildungen von PIN-Übergangen.
Ein Anschluß des Satzes 234 von Gleichrichterelementen
ist über eine leitende Schicht 245 mit einer Spaltenelektrode
212 verbunden, während der gegenüberliegende Anschluß des Satzes 234 von Gleichrichterelementen über
einen Elektrodenbereich 248 durch eine Verbindungsöffnung 238, die in einer Isolierschicht 239 ausgebildet ist,
mit der Anzeigeelektrode 219 verbunden ist. In gleicher Weise ist ein Anschluß des Satzes 235 von Gleichrichterelementen
(d.h. der Anschluß nahe dem Substrat 232) mit der Spaltenelektrode 212 über eine Fortsetzung der
leitender. Schicht, die die Spaltenelektrode 212 bildet, verbunden, während der andere Anschluß der Gruppe 235
von Gleichrichterelementen mit der Änzei&eelektrode 219 durch eine leitende Schicht verbunden ist, die in der
deichen Weise wie die leitende Schicht 245 gemäß Fig, angeordnet ist. Da die Gleichrichterelemente in jedem
Satz 23^ und 235 zur gleichen Zeit durch die gleichen
Verfahrensschritte des Niederschlagen? eines dünnen Filmes und durch Musterausbildung hergestellt worden
sind, ist es offensichtlich, daß der äquivalente Schaltkreis des nicht-linearen Widerstandselementes, welches
durch die Sätze 234 und 235 von Gleichrichterelementen gebildet ist und die Verbindungen zwischen diesen und
der Sßaltenelektrode 212 und der Anzeigeelektrode 219, so iafc,wie in Fig. 32 gezeigt ist. Aus dem Vorhergehenden
ist offensichtlich, daß eine kleinere Fläche von dem Gleichrichterelement bei dieser Ausführungsform überdeckt
wird als sie in dem Fall einer Vielzahl von in Reihe längs einer Oberfläche verbundenen Dioden benötigt wird. Als
Ergebnis hiervon kann ein größeres Öffnungsverhältnis
erhalten werden. Zusätzlich, da die Anzahl von Kontakt-
COPY
löchern und Verbindungsleitungen kleiner ist, ist der
Produktionsausstoß ausgezeichnet. Da ferner die Strombahnen der Gleichrichterelemente unmittelbar auf dem
Substrat angeordnet werden, -kann der EIN-Strom I . groß gemacht werden. Somit ist diese Ausführungsform
äußerst wirkungsvoll, um eine Anzeigeeinrichtung zu schaffen, welche ein. hohes Auflösungsvermögen und ein
großes Öffnungsverhältnis aufweist, wobei diese leicht • hergestellt werden kann.
'
'
Bei einer Anzeigeeinrichtung gemäß den vorhergehenden Ausführungsforiaen
sind die nicht-linearen Widerstandselemente ( von Sätzen von Gleichrichterelementen gebildet, die aufeinanderfolgend
mit der gleichen Polaritätsrichtung gestapelt sind. Wie vorhergehend beschrieben ist es von
Vorteil, Einrichtungen wie PN-Dioden oder PIN-Dioden, ■ Dioden mit Schottky-Übergängen oder Dioden mit MIS-übergang
zu verwenden, um die nicht-linearen Widerstandselemente auszubilden, da diese eine wesentlich bessere
Steuerung der Eigenschaften des Elementes und der Schwellenspannuns;
erlauben als es bei Einrichtungen wie z.B. Varistoren oder MIM-Elementen möglich ist. Die Verwendung
solcher bevorzugter Einrichtungen, um Satze von Gleichrichterelementen
mit einer Mehrschicht-Ausgsstaltung ■r^" 25 der in Fig. 38' gezeigten Art auszubilden, wird nun unter
Bezugnahme auf die folgenden Ausführungsformen beschrieben. Bevor diese bevorzugten Ausführungsformen beschrieben
v/erden, wird eine nicht geeignete Anordnung unter Bezugnahme auf die Fig. 39 (A) erörtert. Hier wird angenommen,
daß Gleichrichterelemente verwendet werden, die PN-Dioden umfassen. Diese sind einfach senkrecht auf einem Substrat
übereinander angeordnet. Fig. 39 (B) zeigt den äquivalenten Schaltkreis der Fig. 39 (A). In Fig. 39(A) bezeichnet
ein Substrat, welches aus einem Material wie z.B. Glas oder einem keramischen Material besteht und 261 eine aus Al
oder Cr gebildete Elektrode. Die Bezugszeichen 263,
COPY
bezeichnen eine Halbleiterschicht (P) vom P-Typ, die Bezugszeichen 263 und 265 bezeichnen eine Halbleiterschicht
(N) vom N-Typ und 266 bezeichnet eine Elektrode. •Wie man aus dem Diagramm ersehen kann, besteht diese An-Ordnung
einfach aus Diodenschichten, so daß ein umgekehrt vorgespannter Übergang.für beide Polaritäten der angelegten
Spannung gebildet wird. Bei der Erfindung jedoch sind die Gleichrichtereiemente abwechselnd auf dem
Substrat geschichtet, wobei gleichrichtende übergänge
mit nicht gleichrichtenden Übergängen abwechseln. Als Ergebnis hiervon werden umgekehrt vorgespannte Übergänge
ausgeschlossen, so daß I. und V0, . groß sein können. Ein
em Sch
Beispiel hierfür wird unter Bezugnahme auf die Fig. 40 • nun beschrieben.
Hier ist eine Mehrschicht-Ausbildung von PN-Dioden durch
. Halbleiterschichten (P) 269, 272 vom P-Typ und Halbleiterschichten (N) 270, 273 vom N-Typ gebildet- Die gleichrichtenden
Übergänge sind mit 269 bis 270 und 272 bis bezeichnet. Ein nicht-leitender Übergang wird von einer
leitenden Schicht 271 gebildet, die zwischen den Schichten 270 und 272 geformt ist, die tatsächlich den umgekehrt
vorgespannten PN-Übergang kurzschließt, welcher sonst zwischen den Schichten 270 und 272 besteht. Diese leitende
. Schicht 271 kann aus einem Metall wie z.B. Ar oder Tr bestehen. In Fig. 40(A) bezeichnet das Bezugszeichen
das Substrat, welches aus einem Material wie z.B. Glas oder Keramik besteht und die Bezugszeichen 268 und 274
bezeichnen Elektroden, die aus einem Material wie z.B.
Ar oder Cr bestehen. Fig. 40(B) zeigt das äquivalente
Schaltdiagramm der Anordnung gemäß Fig. 40(A). Durch die Verwendung einer Ausbildung für die Gleichrichterelemente,
bei der nicht gleichrichtende übergänge und gleichrichtene übergänge abwechselnd und aufeinanderfolgend
übereinander angeordnet sind, wird die Ausbildung von
COPY
rückwärts
kann groß gemacht werden.
rückwärts vorgespannten übergängen verhindert und I.
Einige Ausführungsformen der Erfindung werden nun be-"
schrieben, aiz Schottky-Übergänge, PN-übergänge,' PIN-.·.
. übergänge und MIS-Übergänge verwenden. Im Falle von :
Schottky-Übergängen, die zur Ausbildung von Gleichrichter-•
elementen verwendet werden, wird eine Diodenausbildung mit einem Schottky-übergang verwandt, die Halbleiter-■
schichten und Metallschichten vorsieht. Die Metallschichten können ferner als Verbindungsleitungen verwandt werden, um dadurch die Anzahl der erforderlichen
Herstellungsschritte zu verringern. Ferner können die Halbleiterschichten dünn ausgebildet v/erden, und da
dies einen hohen Wert für I . ermöglicht, ist die Verwendung von Schottky-Übergängen von Vorteil. Fig. 4l
zeigt eine Aus führungs form nach der Erfindung, bei .der
Schottky-Übergänge verwendet werden, um die gleichrichtenden übergänge der Gleichrichterelemente zu bilden.
In Fig. 41 bezeichnet 232 ein Substrat, welches aus einem Material wie z.B. Glas oder Keramik bestehen kann, 277
und 280 eine Halbleiterschicht (I) die aus einem Material wie z.B. Si oder Ge besteht, 276 und 279 leitende Schichten
S(M), die zur Ausbildung von Schottky-Übergängen mit den Halbleiterschichten verwendet werden, wobei diese leitenden Schichten aus einem Material wie S(M) oder einer
dünnen Schicht aus Cr, Pt oderlnZnO oder SnOp hergestellt
sein können. Die Bezugszeichen 278 und 281 bezeichnen Metallschichten aus einem Material wie Al oder Au, die
dazu dienen, die Schichten 277 und 279 kurzzuschließen bzw. einen ohmschen Übergang mit den Elektroden 282 herzustellen.
Fig. 42 zeigt eine Ausführungsform, in der statt der
Metallschichten 278 und 281 bei der Aus führungsform gemäß
Fig. 41 Halbleiterschichten 283 und 284 verwendet werden,
COPY
.1 die eine hohe· Fremdstoffatomkonze.ntration eufweisen,
um die I-und S(M)-Schichten 277 und 279 kurzzuschließen
bzw. einen ohmschen übergang zu der Elektrode 2Ö2 zu bilden
.Die Halbleiterschicht mit hoher Fremdstoffatomkonzentration
kann durch Mischen von Fremdstoffen aus einer geeigneten Quelle mit dem Halbleiter zum Zeitpunkt der Ausbildung
der dünnen Halbleiterschicht oder mittels von z.B. Implantation usw. erzeugt werden. Es wird darauf hingewiese,
daß die Verwendung einer solchen Halbleiterschicht roit großer Fremdstoffatomkonzentration ermöglicht, einen
besseren ohaschen Kontakt mit den anschließenden HaIb-
f*>_ leiterschichten zu erzeugen,, als es möglich ist, wenn
/ Metallschichten für diesen Zweck verwendet .werden,· wie
z.B. bei der Ausführungsform gemäß Fig. 41.
Fig. 43 zeigt eine Ausführungsform nach der Erfindung,
bei der .MIS-übergänge· als gleichrichtende übergänge
der Gleichrichterelemente verwendet werden. Da eine ■ MIS-Ausbildung verwendet wird, kann als Elektrode eine
Metallschicht vorgesehen werden. Ferner kann durch geeignete Auswahl des verwendeten Metalls (z.B. Al oder Au),
um einen ohisschen Kontakt mit der Halbleiterschicht herzustellen,
der Wert von I . groß gehalten werden und der
em
Wert der Schwellenspannung V„ , kann groß gemacht werden,
indem einfach eine übereinander angeordnete MIS-Dioden-Ausbildung verwendet wird. Ferner kann Ißin durch
Dotieren der Halbleiterschichten mit geeigneten Fremd-. stoffen erhöht werden. In Fig. 43 bezeichnen 285 und
288 Metallschichten (z.B. aus Al, Au, Cr), 286 und 289 ^O - .Isolierschichten (z.B. aus SiO2, SiJM2, oder Al2O^) und29O
eine Halbleiterschicht (z.B. aus Si oder Ge). Das Bezugszeichen 300 bezeichnet eine Elektrode (z.B. aus Λ1 oder
Au), die einen ohmschen Kontakt mit der Schicht 290 herstellt. Es ist möglich, eine Halbleiterschicht mit einer
hohen Fremdstoffatomkonzentration zwischen den Schichten
287 und 288 und zwischen den Schichten 290 und 300 auszubilden oder hierfür verschiedene andere Metalle zu ver-
COPY 1
7P ·
Wenn die Gleichrichterelemente durch PN-Dioden- /
übergänge gebildet, sind, werden stabile Eigenschaften
für die PN-übergänge die zwischen den Halbleiterschichten vom P-Typ und den Halbleiterschichten
vom N-Typ gebildet sind, durch entsprechende Steuerung der Fremdstoffarten und der Fremdstoffkonzentration
in dem Halbleiter erhalten. Durch die Verwendung von PN-übergängen als gleichrichtenden übergängen in den
Halbleiterelementen nach der Erfindung kann eine Anzeigeeinrichtung geschaffen werden, welche eine gleichförmige
Bildqualität und eine gute Steuerung der Eigenschaften der Elemente aufweist.
Es wird darauf hingewiesen, daß, wenn dünne Halbleiterschichten bei niederer Temperatur hergestellt oder
äußerst dünne Halbleiterschichten als Halbleiterschichten verwendet werden, ein Durchbruch durch die PN-übergänge
auftreten kann, wobei R äußerst niedrig sein kann,
3. US
und die Elemente weisen kein ausreichend großes EIN/AUS-Verhältnis
auf. Diese Schwierigkeiten können dadurch überwunden werden, daß eine Halbleiterschicht vom I-Typ zwischen
jeder Halbleiterschicht vom P-Typ und Halbleiterschicht vom N-Typ vorgesehen wird, wobei diese Halbleiterschicht
vom I-Typ eine niedere Fremdstoffkonzentration aufweist, um dadurch PIN-Übergänge zu schaffen. Fig. UU
zeigt eine Ausführungsform nach der Erfindung, bei der
PIN-Übergänge verwendet werden. Die Bezugszeichsn 3.02 und 305 bezeichnen Halbleiterschichten vom P-Typ, 304 und 3O7
Halbleiterschichten vom N-Typ und 303 und 306 Halbleiterschichten. Vom I-Typ, d.h. Schichten, die eine niedere
Fremdstoffdotierungskonzentration aufweisen. In Fig.
umfassen die gleichrichtenden übergänge PIN-Übergänge, die zwischen den Schichten 302 bis 304 bzw. 30^ bis
gebildet sind. Ein rückwärts vorgespannter übergang ist zwischen den Schichten 304 zu 30? ausgebildet, da
jedoch ein Druchbruch dieses Übergangs auftreten wird und
COPY
β «
ein Strom durch ihn hindurchfließt, wird, dieser tatsächlich
wie ein nicht gleichrichtender übergang arbeiten.
Amorphes Silizium kann wirkungsvoll als Material für diese dünnen Halbleiterschichten verwendet werden, wobei eine
.Mehrschicht-Konfiguration durch aufeinanderfolgende Schichten mit abwechselnd großer und kleiner Fremdstoff-■
atomkonsentrationen oder durch abwechselnd unterschiedliche
Arten von Fremdstoffdotierungen in aufeinanderfolgen-1Ö den Schichten gebildet wird. Diese Schichten können alle
innerhalb einer einzigen Kammer ausgebildet v/erden und =""*** das Ätzen kann zur gleichen Zeit durchgeführt werden.
( .Auf diese Weise kann die Anzahl der Herstellungsschritte in hohem ""Maße verringert werden. Um eine gute Steuerung
der Elementeigenschaften zu schaffen und einen großen Wert von I . zu erhalten, können, wenn amorphes Silizium
verwendet wird, leitende Schichten, die aus einem Metall (z.B. Al. Cr) gebildet sind, zwischen den NP-Übergängen
304 und 3'35 vorgesehen werden. Jedoch kann dadurch, daß
eine mit Metallmolekülen dotierte Halbleiterschicht zwischen den Schichten 304 und 3 05 vorgesehen wird, die Ausbildung
von umgekehrt vorgespannten übergängen wirkungsvoller unterdrückt werden, um nicht gleichtrichtende
/*^ übergänge zu schaffen, und I . kann dadurch erhöht werden.
ein ■^Λ
Ferner können die Halbleiterschichten als eine kontinuierlich ausgebildete, dünne Schicht hergestellt werden, indem
ein Material wie z.B. Metalldampf zu der dünnen Schicht hinzugefügt wird, während sie gebildet wird, um dadurch
geeignet dotierte Schichten zu erzeugen- Ferner kann das Ätzmuster der Gleichrichterelemente gleichzeitig mit dem
Niederschlagen der Schichten durchgeführt werden, die die Gleichrichterelemente bilden. Dadurch wird nicht nur
die Anzahl der Herstellungsschritte verringert, sondern dadurch sind auch Gleichrichterelemehte mit einem großen
Wert der Schwellenspannung νς y. und von von I . möglich,
herzustellen. Der Vorwärtsstrom I. . , welcher in einem
copy
PIN-übergang fließt, wird dadurch begrenzt, daß er·
hauptsächlich aus einem Strom von Löcherträgern, durch den PI-übergang fließt. Somit kann der I . -Strom durch
Hinzufügen einer geringen Menge an Bor zu der I-Schicht
erhöht werden.
Es ist erforderlich, eine Gleichförmigkeit der Eigenschaften der Dioden, die in einer Anzeigeeinrichtung
verwendet werden, zu schaffen, und es ist auch er-
1^ forerlich, die Eigenschaften der dünnen Halbleiterschichten
zu steuern, d.h. deren Fremdstoffkonzentrationen, das Maß der Oberflächenungleichmäßigkeit, Nadelöffnungen
und Dickeverteilung. Verfahren zum Ausbilden dünner Halbleiterschichten umfassen das Plasmaverfahren zum Nieder-
1^ schlagen aus-der Dampfphase (CVD)', das lichtunterstützte Verfahren
zum Niederschlagen aus der Dampfphase, Aufstäubverfahren, usw. Da mit diesen Verfahren dünne
Schichten bei niederen Temperaturen ausgebildet werden können, kennen die Dioden auf Glas, Keramik oder hochpolymeren
Folien geformt werden, wodurch großflächige Anzeigeeinrichtungen mit niederen Herstellungskosten
hergestellt werden können.
Aus der vorhergehenden Beschreibung ist es offensichtlich,
daß aufgrund der Erfindung eine Matrix-Anzeigeeinriehtung
hergestellt werden kann, bei der die Anwendung der Treibersignalpotentiale an jedes Anzeigeelement durch ein oder
mehrere Widerstandselemente mit zwei Anschlüssen gesteuert wird, die eine symmetrische in zwei Richtungen gerichtete
Sprnnung-Strom-Charakteristik aufweisen, damit Elemente
wie z.B. Flüssigkristall-Anzeigeelemente, angesteuert werden können, die ein Wechseltreibersignal benötigen,
und daß diese nicht-linearen VJiderstandselemente durch
Dünnschichtniederschlag auf einem Substrat der Anzeigeeinrichtung gebildet sind. Jedes nicht-lineare Widerstandselement
umfaßt zwei Sätze von Gleichrichterelementen, die parallel mit gegenseitig entgegengesetzten Polaritäten
g, 9 <Ί * »ft**
verbunden sind, wobei jeder Satz ein oder mehrere in Reihe geschaltete Gleichrichterelemente umfaßt.
Wenn jedoch eine Anzahl von Gleichrichterelementen in jedem Satz vorgesehen sein muß,um dadurch ein nichtlineares
Widerstandselement mit einem hohen Schwellenspannungsvrert
zu bilden, beschreibt die Erfindung die Ausbildung von Sätzen von senkrecht geschichteten
Gleichrichterelementen, die durch eine Mehrschichtstruktur gebildet sind, wodurch der von jedem nichtlinearen
Widerstandselement geforderte Bereich auf dem Substrat äußerst klein' ist, um dadurch die Anzeige- r
Bildqualität zu erhöhen.Eine solche Anordnung dient ferner dazu, die Zuverlässigkeit der Verbindungen zwischen
den Gleichrichterelementen zu erhöhen, wodurch die Zuverlässigkeit und der Gesamtherstellungsausstoß
der Matrix-Einrichtung erhöht werden.
Obgleich die Erfindung-vorhergehend im Zusammenhang
mit besonderen Ausführungsformen beschrieben worden ist, wird darauf hingewiesen, daß verschiedene Änderungen und
Abwandlungen an diesen Ausführungsformen in Betracht gezogen werden können, die in den durch die. Erfindung
beanspruchten Bereich fallen. Deshalb sollte die Be-Schreibung lediglich im erläuternden und nicht im begrenzenden
Sinne betrachtet werden.
Claims (1)
- !•Matrix-Anzeigeeinrichtung Patentansprüche1/ Matrix-Anzeigeeinrichtung, mit einer Vielzahl von Reihenelektroden und Spaltenelektroden, einer Vielzahl von Anzeigeeleinenten, einer Vielzahl von nicht-linearen Widerstandselementen , Verbindungselektrodeneinrichtungen ? um die nicht-linearen Widerstandselemente und Anzeigeelemente miteinander zu koppeln, und einer Treibersignalerzeugungseinrichtung, um Treibersignale an die Reihenelektroden und die Spaltenelektroden zu legen, dadurch gekennzeichnet , daß jedes nicht-lineare Widerstandselement wenigstens ein Paar von Sätzen von Gleichrichterelementen (64,77; 94,96) umfaßt, die durch ein Dünnschicht-Niederschlagverfahren auf einem Substrat (50) der Matrix-Anzeigeeinrichtung hergestellt sind, wo-COPY \-2-bei die Gleichrichterelement-Sätze eines .jeden Paares parallel miteinander mit entgegengesetzten Polaritäten verbunden sind, und daß jedes der Anzeigeelemente (54) .in Reihe mit wenigstens einem der nicht-linearen Wider-Standselemente zwischen einer der Reihenelektroden (71»72) und der Spalteneiektroden (61) verbunden ist.2. Matrix-Änzeigeeinrichtung nach Anspruch. 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Gleichrichterelement-Sätze (64,77; 94,96) eines'jeden Paares in symmetrischer Ausgestaltung auf dem Substrat (50) geformt sind, so daß sich die elektrischen Ströme gegenseitig aifheben, die in den Paaren von Sätzen der Dünnschicht-Gleichriehterelemente aufgrund von durch Licht oder Wärme aktivierte Träger er-zeugt worden sind.3. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Verbridungselektrodeneinrichtungen eine Vielzahl von transparenten Elektroden (57) umfassen,wobei wenigstens ein Teil einer Oberfläche eines jeden der Sä.tze von Gleichrichterelementen (64) von einer der transparenten Elektroden überdeckt ist, und daß die Ausgestaltung derart ist, daß außerhalb erzeugtes Licht (66) durch die transparenten Elektroden (57) hin-durchgeht und auf die Dünnschicht-Gleichrichterelemente(64) fällt. :. 4. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 1, dadurchgekennzeichnet, daß jedes Dünnschicht-Gleichrichterelement 30eine P-leitende Halbleiterschicht (60) und eine N-leitende Halbleiterschicht (58) umfaßt, die zur Bildung eines PN-überganges angeordnet sind.COPY.-^yjt^»-3-5- Mätfix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß eine Halbleiterschicht (59) vom 1-Typ (vom ursprünglichen Typ (intrinsic)).mit einer niederen Fremdstoffatomkonz&ntration zwischen der P-■ 5 leitenden Halbleiterschicht (60) und der N-leitenden ~ ' Halbleiterschicht (58) angeordnet ist. *. ■ 6. Matrix-Anzeigeeinrichti:ng nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterschicht (59) mit ge-1Ö ringer Fremdstoffatomkonzentration eine dünne Schicht mit einer Dicke im Bereich von 3 bis 500 nm ist./ 7. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch H, dadurch gekennzeichnet, daß eine mäßig dotierte, P-leitende Halbleiterschicht zwischen der P-leitenden Hälbleitersehicht (60) und der N-leitenden Halbleiterschicht (58) angeordnet ist.. '' 8. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Verteilungen der N-Typ Fremdstoffatomkonzentration und der P-Typ Fremdstoffatomkonzentration sich in allmählicher Weise von der P-leitenden Halbleiter-. _. schicht zu der N-leitenden Halbleiterschicht ändern.9. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach einem der vorhergehen-C . den Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiterschichten der Dünnschicht-Gleichrichterelemente amorphes Silizium umfassen.10. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Dünnschicht-Gleichrichterelemente-Reihenelektroden durch ein chemisches Plasma-Nidersch'lagverfahren (CVD) gebildet sind.35COPY ,Tl. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 9»" dadurch gekennzeichnet,' daß die Dünnschicht-Gleichrichterelemente durch ein lichtunterstütztes, chemisches Vakuumniederschlagsverfahren gebildet sind.12. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Dünnschicht-Gleichrichterelemente .durch ein Aufstäubungsverfahren gebildet sind. ·....'13- Matrix-Änzeigeeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens Teile der Verbindungselektrodeneinrichtungen lichtundurchlässig und so angeordnet sind, daß eine Beaufschlagung der Gleichrichter- · elemente mit äußerem Licht unterbunden ist.14. Matrix-Änzeigeeinrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Dünnschicht-Gleichrichterelemente mikrokristallines Silizium umfassen.15. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der Dünnschicht-Gleichrichterelemente in jedem Satz im Bereich von 1 bis 3 liegt.16. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jeder der Sätze von Gleichrichterelementen eine Vielzahl von Gleichrichterelementen (250-253) umfaßt, die als eine Vielzahl von aufeinanderfolgenden, aufeinandergeschichteten Schichten gebildet sind (.Fig. 37 bis 44).COPY; 17. Matrix^Anzeigeeiririchtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet ,· daß jeder Satz von Gleictrichterelementen eine Vielzahl von Schichten von gleichrichtenden übergängenund hicht-gleichrichtenden übergängen umfaßt, welche 5aufeinanderfolgend auf dem Substrat in einer senkrecht geschichteten Ausbildung geformt sind.18. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die gleichrichtenden übergänge Schottky-übergänge umfassen (Fig.27).19. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 17} dadurch gekennzeichnet, daß die gleichrichtenden übergänge übergänge von MIS-Typ umfassen, die aus einer zwischen einer metallischen . Schicht M und einer Halbleiterschicht S angeordneten elektrisch isolierenden Schicht (I) gebildet sind. (Fig. 28)20. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 17, dadurchgekennzeichnet, daß wenigstens ein Teil der nicht-gleichrichtenden Übergangsbereiche eine mit einem Metall dotierte dünne Kalbleiterschicht umfassen.21. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 17, dadurchgekennzeichnet, daß die gleichrichtenden übergänge eine mehrfachDünnschicht umfassen, die durch ein kontinuierliches Niederschlagverfahren gebildet ist.22. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 1, dadurchgekennzeichnet, daß während des Herstellungsverfahrens der Gleichrichterelemente eine Wärmebehandlung vorgenommen wird.
35COPY ,23.. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die gleichrichtenden übergänge der Gleichrichterelemente (250-253) , die Schottky-übergänge umfassen, jeweils aus einer ersten, metallischen Schicht und einer Kalbleiterschicht gebildet sind, daß die nichtgleichrichtenden übergänge eine .Halbleiterschicht und eine zweite metallische Schicht umfassen, und daß ferner jeder der Sätze von Gleichricht e relementen eine Vielzahl von aufeinanderfolgend übereinander angeordnete! Schichten aufweist, die aus einer ersten, metallischen Schicht, einer auf dieser gebildeten Halbleiterschicht, einer auf dieser gebildeten zweiten , metallischen Schicht, einer auf dieser gebildeten ersten, metallischen Schicht, einer auf dieser gebildeten Halbleiterschicht und so fort,bestehen (Fig. 37, 38).24. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die gleichrichtenden Übergänge der Gleichrichterelemente, die Schottky-übergänge umfassen,jeweils aus einer metallischen Schicht (276,279) einer Halbleiterschicht (277,280) gebildet sind, daß die nichtgleicnrichtenden übergänge der Sätze von Halbleiterelementen jeweils durch, eine Halbleiterschicht, die einerelativ niedrige Fremdstoffatomkonzentratxon aufweist, 25und eine Halbleiterschicht (283,284) gebildet sind, dieeine relativ hohe Fremdstoffatomkonzentratxon aufweist, daß jeder Satz von Gleichrichterelementen aus einer Vielzahl von aufeinanderfolgend übereinander angeordneten Schichten gebildet ist, die eine metallische Schicht, 30eine auf dieser gebildete Halbleiterschicht, eine auf dieser gebildete Halbleiterschicht mit hoher Fremdstoffatomkonzentratxon, eine auf dieser gebildete metallische Schicht, eine auf dieser gebildete Halbleiterschicht.._ usw. umfaßt (Fig. 42).COPY• -L1N-Ol-Sh- U:|k;U;;ilö|;:i; 33349125. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die gleichrichtenden übergänge der Gleichrichterelemente übergänge vom PN-Typ umfassen, die durch P-leitende Halbleiterschichten (269,272) und N-leitende Halbleiterschichten (270,273) geformt sind, und daß jeder nicht-gleichrichtende übergang in den Sätzen von Gleichrichterelementen eine P-leitende Halbleiterschicht , eine N-leitende Halbleiterschicht und eine metallische Schicht (271) umfaßt, und daß jeder Satz von Gleichrichterelementen durch eine Vielzahl von. aufeinanderfolgend übereinander angeordneten Schichten ge- ^- . bildet ist, die aus einer metallischen Schicht, einem auf ( dieser gebildeten PN-Übergang, einer darauf gebildeten metallischen Schicht, einer metallischen Schicht, einem auf dieser gebildeten PN-Übergang usw. besteht. (Fig. '4G). '26. Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 17, dadurch 2ö gekennzeichnet, daß die gleichrichtenden übergänge derGleichrichterelemente PIN-übergänge umfassen, von denen jeder durch eine Halbleiterschicht vom I-Typ mit niedriger Fremdstoffatomkonzentration gebildet ist, die zwischen einer P-leitenden Halbleiterschicht (302, 305) und einer ^-v 25 N-leitenden Halbleiterschicht (304, 307) angeordnet ist, f daß jeder der nicht-gleichrichtenden übergänge eine Metallschicht, eine P-leitende Halbleiterschicht und eine N-leitende Halbleiterschicht umfaßt, und daß jeder Satz von Gleichrichterelementen eine Vielzahl von aufeinanderfolgend übereinander angeordneten Schichten umfaßt, die aus einer metallischen Schicht, einem auf dieser ausgebildeten PIN-Übergang, einer metallischen Schicht, einer auf dieser ausgebildeten PIN-Übergang, einer metallischen Schicht usw. besteht (Fig. 44).35COPY-δι 27· Matrix-Anzeigeeinrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die. gleichrichtenden übergänge der Gleichrichterelemente MIS-übergänge umfassen, die dprch eine elektrisch isolierende Schicht I (286, 289), die zwischen einer metallischen Schicht M (285,288) und . einer Kalbleiterschicht S (287, 290) angeordnet ist, gebildet, .ist, daß' die nicht-gleichrichtenden übergänge der Sätse von Gleichrichterelementen jeweils.eine metallische Schicht M und eine Halbleiterschicht S (290) aufweisen, daß jeder Satz von Gleichrichterelementen durch aufeinanderfolgend übereinander angerodnete Schichten gebildet ist, die aus einem MIS-übergang, einem darauf ausgebildeten MIS-übergang usw. bestehen. (Fig. HH). j . .. ■ ■·:'■■■. ■COPY
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57167944A JPS5957287A (ja) | 1982-09-27 | 1982-09-27 | 表示装置 |
JP57167945A JPS5957273A (ja) | 1982-09-27 | 1982-09-27 | マトリクス表示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3334918A1 true DE3334918A1 (de) | 1984-04-12 |
DE3334918C2 DE3334918C2 (de) | 1990-08-16 |
Family
ID=26491834
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833334918 Granted DE3334918A1 (de) | 1982-09-27 | 1983-09-27 | Matrix-anzeigeeinrichtung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4642620A (de) |
DE (1) | DE3334918A1 (de) |
FR (1) | FR2537316B1 (de) |
GB (1) | GB2129183B (de) |
HK (1) | HK83287A (de) |
SG (1) | SG56387G (de) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58140781A (ja) * | 1982-02-17 | 1983-08-20 | 株式会社日立製作所 | 画像表示装置 |
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- 1983-09-27 FR FR8315391A patent/FR2537316B1/fr not_active Expired
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- 1983-09-27 DE DE19833334918 patent/DE3334918A1/de active Granted
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FR2537316B1 (fr) | 1989-01-20 |
HK83287A (en) | 1987-11-20 |
FR2537316A1 (fr) | 1984-06-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G09G 3/36 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |