DE2818002C2 - Flüssigkristall-Lichtventil - Google Patents
Flüssigkristall-LichtventilInfo
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Description
45
Die Erfindung betrifft ein Flüssigkrlstall-Lichtventll
mit einer Flüssigkristallschicht und zugeordneten Zwischenschichten, die einen dielektrischen Spiegel und eine
Lichtsperrschicht umfassen, einem an die Zwischenschichten angrenzenden, einen gleichrichtenden PN-Übergang
bildenden Halbleiterkörper und einer Elektrodenan-Ordnung /um Zuführen eines Anregungsstromes.
Ein solches Flüssigkrlstall-Lichtventll Ist aus der DE-OS
25 50 923 bekannt. Bei diesem bekannten Lichtventil besteht die Lichtsperrschicht aus P-leltendem CdTe. An
die Lichtsperrschicht angrenzend Ist eine photoleitende
CdS/CdSe-Schicht vom N-Typ angeordnet, so daß an der Grenzfläche zur Llchispeffschlcht ein PN-Übergang ent'
steht. Die beiden Schichten bilden zusammen eine Pho^
todlode. Der an die Lichtsperrschicht angrenzende Bereich des Phötolelters besteht vorwiegend aus CdSe
und weist eine höhere StÖfStellen^Dlchfe auf. Auf diese
Welse werden die spektralen Äbsorptionselgenschaften
der photoleitenden Schicht für das von Kathodenstrahlröhren
emittierte Licht verbessert. An die Elektroden des bekannten Lichtventils Ist Wechselstrom angelegt.
Die Erfindung befaßt sich nicht mit der Ausbildung
der Photokathode eines solchen Lichtventils. Der Erfindung liegt vielmehr die Aufgabe zugrunde, ein Flüsslgkristall-Lichtventll
der vorstehend beschriebenen Art derart auszubilden, daß es von vielen Ladungsträgern,
die für Informationen darstellende Signale charakteristisch sind passiert werden kann, ohne daß ein Übersprechen
zwischen benachbarten Signalen sta'tfindet. Diese Aufgabe wird nach der Erfindung dadurch gelöst,
daß bei einem Flüssigkrlstall-LIchtventil der eingangs
beschriebenen Art sich der PN-Übergang zwischen zwei
Schichten entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps des Halbleiterkörpers befindet und daß die Elektrodenanordnung
eine Glelchspannungsquelle umfaßt, welche den PN-Übergang In Sperr-Rlchtung beaufschlagt und eine sich
über den ganzen Halbleiterkörper erstreckende Verarmungszone erzeugt, so daß an einer Seite des Halbleiterkörpers
zugeführte, für Lichtsignale charakteristische Ladungsträger durch die Verarmungszone hindurch zur
entgegengesetzten Seite des Halbleiterkörpers getrieben werden, damit sie die Flüssigkristallschicht erregen.
Die Erfindung gestattet es, ein elektrisches Feld an
eine relativ dicke Halbleiterschicht mit relativ hohem Widerstand anzulegen, um sie von allen beweglichen
Ladungen zu entblößen. Durch die Bildung einer Diode mit PN-Übergang In der Schicht und Beaufschlagen des
PN-Überganges in Sperr-Richtung kann auf beiden Selten der Dioden eine Ladungsverarmung erzeugt werden.
Der besondere Vorteil der Erfindung besteht In der Möglichkeit, ein Bündel von Ladungsträgern, die Informationssignale
darstellen, gleichzeitig und parallel von einer Oberfläche des Halbleiterkörpers zur gegenüberliegenden
unter der Einwirkung eines elektrischen Feldes mit guter räumlicher Auflösung zu übertragen. Da sich
die Verarmungszone über die ganze Dicke des Halbleiterkörpers erstreckt, kann unter dem Einfluß des elektrischen
Feldes, das über dem Übergang aufgebaut Ist. ein räumlich aufgelöstes Muster von M'norltätsträgern von
einer Oberfläche des Körpers zur gegenüberliegenden driften, ohne daß eine seitliche Ausbreitung der Drift
infolge von Diffusion stattfindet. Die Minoritätsträger können mittels optischer Bilder, Röntgenstrahlen, energiereichen
Elektronen oder durch sonstige Mittel eingebracht werden, die zur Erzeugung oder Injektion von
Minoritätsträgern geeignet sind.
Ein aus ladungsgekoppelten Bauelementen (CCD) bestehendes Eingangsregister kann dazu benutzt werden,
serielle Eingangsdaten aufzunehmen, zu speichern und In ein Format zu bringen, das für eine nachfolgende Parallelverarbeitung
geeignet Ist. Eine Ladungsübertragungsanordnung kann dazu dienen, die In dem CCD-Reglster
gespeicherten Ladungen durch einen Slllclum-Halblelterkörper
hindurch In den Flüssigkristall zu bringen. Solch eine Anordnung Ist für viele Anwendungen zur optischen
Datenverarbeitung mit großer Bandbreite nützlich Beispielsweise kann ein optisches Daten verarbeitendes
Flüsslgkrlstall-Llchtventü, das die Ladungsvertellung
einer CCD-Anordnung aufnimmt und in eine entsprechende Variation einer optischen Doppelbrechung
umsetzt, zur räumlichen Modulation eines Laserstrahles
benützt werden.
Die Erfindung wird Im folgenden anhand der In der
Zeichnung dargestellten Ausführungsbelsplele näher beschrieben und erläutert. Es zeigen
Flg. 1 einen schematischen Querschnitt durch ein
FIÜssIgkrlstalULlchtvenlll mit einer SlllclUm-Fotodlode,
Flg. 2, 3 und 4 drei verschiedene Ausführungsformen
von Fotodioden zur Verwendung In einem Flüsslgkrlstall-LIchtventll,
Flg.5 einen schematischen Querschnitt durch eine
w.eltere Ausführungsform eines Flüssigkrlstall-Llchtventils,
Flg.6 das Äqulvalentschaltblld einer Leseanordnung
für ein Flüsslgkristall-Lichtventli.
Das in FIg 1 dargestellte, mit Gleichstrom betriebene
Flüssigkristall-Lichtventil umfallt ein Substrat 5, das für
einfallendes Licht 10 durchlässig Ist. Auf das Substrat 5 folgt eine Slllclum-Fotodlode 12. Sie besteht aus einer
dünnen P-Schlcht 14, einer relativ dicken N-Schicht 16 und einem PN-Übergang 13. Bei einem Versuchsaufbau
eines solchen Lichtventil hatte die dünne P-Schlcht 12 eine Dicke von 0,2 μΐη und einen spezifischen Widerstand
von 0,02 Ω/cm. Diese Schicht Ist daher gut leitend und kann außer als P-Selte des PN-Überganges auch als
eine Elektrode für die Gesamtanordnung verwendet werden. Die angrenzende Schicht 16 ist vom N-Typ, erheb-Hch
dicker und hat einen hohen Widerstand. Bei einer Ausführungsform hatte diese Schicht eine Dicke von
125 um und einen spezifischen Widerstand von
3 000 Ω/cm.
An die Fotodiode schließt eine Flüsslgkrlstall-Anordnung
32 an, welche eine Flüssigkristallschicht 23, die andere Elektrode 24 der Anordnung und eine Anzahl
Zwischenschichten 18, 20 umfaßt, die dazu dienen, einen Durchtritt des Leselichtes 30 zur Slllclum-Fotodiode
14, 16 zu verhindern und einen Reflektor für das Lesen zu bilden. Silicium Ist bis zum nahen Infrarot
fotoempfindlich. Um eine Lichtsperre für das Silicium zu bilden, muß ein Material benutzt werden, dessen Bandabstand
gleich oder kleiner als derjenige des Slllciums Ist. Der Flächenwiderstand eines solchen Materials Ist jedoch
gewöhnlich nicht ausreichend hoch, um eine hohe Auflösung aufrechterhalten zu können, wenn die Mobilität In
diesem Material In der gleichen Größenordnung Hegt wie
die Mobilität Im Silicium. Es Ist besonders schwierig, ein
Elnphasen-Materlal zu finden, das sowohl das Licht aus- -to reichend abschirmt als auch einen ausreichend hohen
Flächenwiderstand aufweist, um die erforderliche Auflösung aufrechtzuerhalten. Daher macht die In Flg. 1 dargestellte
Ausführungsform von einem Zwelphasen-Materlal
Gebrauch, das als »Cermet« bezeichnet wird und aus ·>5
metallischen und dielektrischen Komponenten besteht Eine solche dünne lichtundurchlässige Cermet-Schlcht
kann erzeugt werden. Indem kleine Metallteilchen In eine
dielektrische Schicht eingebettet werden. Die Metalltellchen
sind voneinander durch das Dielektrikum Isoliert. Es ist bekannt, daß viele Metalle, wie beispielsweise
Zinn, Indium und Blei, die Tendenz haben, anstelle einer
durchgehenden Schicht Inseln zu bilden, wenn sie In sehr dünnen Schichten (0,02 um) abgelagert werden
Solch eine mehrphasige Struktur hat einen hohen Flächenwiderstand, we.;l die Metallteilchen In der Ebene
des Filmes voneinander Isoliert sind. Dagegen Ist In einer
Richtung senkrecht zur Filmebene der Widerstand gering, well die dünnen, einander überlappenden Isolierenden
Filme den Übergang von Elektronen zwischen Metalltellchen In benachbarten Metallinseln durch
Durehtunneln oder durch Injektion unter dem Einfluß hoher elektrischer Feldstärken gestalten. Demgemäß 1st
der beobachtete spezifische Widerstand senkrecht zur Schlchfebene sehr klein gegenüber dem spezifischen
• Widerstand In der Schichtebene und es kann daher ein
Gleichstrom durch die fcärize Schlchtstruklur hindurchfließen,
ohne sich seitlich auszubreiten.
Als nächstes folgt auf die Schicht 18 ein Cermet-Splegel
20. Er besteht aus dielektrischen Schichten mit hohem und niedrigem Brechungsindex, die mit einer
geringen Metnilkonzentration abgeschieden sind. Sie führen zu einer starken Anisotropie der Gleichstrom-Leitfähigkeit
zwischen dem Isolator-Glelchen-Flächenwlderstand und dem geringen Widerstand senkrecht zum
Film. Demgemäß kann das Lichtventil Irn reflektierenden Modus arbeiten.
Die Flüssigkristallschicht 23 ist benachbart zum Cermet-Spiegel
20 zwischen zwei Passivlerungsschlchten 21a und 216 angeordnet. Die Dicke der Flüssigkristallschicht
23 wird von Abstandhaltern 22a und 226 bestimmt. An die Passivierungsschicht 216 schließt eine durchsichtige
Elektrode 24 an, die von einer ebenfalls durchsichtigen Deckplatte 26 gefolgt wird. Eine Glelchspannungsquelle
oder Batterie 25 Ist zwischen die Elektrode 24 und die P-Schlcht 14 der Fotodiode 12 geschaltet. Die Spannung
der Batterie 25 Ist so gewählt, daß der 5'N-Übergang der Fotodiode 12 in Sperrichtung beaufschlagt und eine Verarmungszone
geschaffen wird, die sich zu jeder Seite des Überganges 15 durch den gesamte Sillclumkörper
erstreckt. Wenn Minuriiätslräger auf ucr P-SdIe des
Überganges eingeführt werden, diffundieren sie in diesem hochleitenden Bereich in Richtung auf den Übergang.
Da der PN-Übergang In Sperrichtung beaufschlagt ist, wird e. die Minoritätsträger sammeln und sie in die
Zwischenschichten 18. 20 und die Flüssigkristallschicht
23 von einer hohen Ausgangsimpedanz her eingeben. Die räumliche Auflösung der Träger bleibt daher erhalten,
well In der Verarmungszone das Potential \on der Raumladung
und nicht durch den Stromfluß bestimmt Ist. Daher besteht In diesem Bereich kein seitlich gerichtetes
Feld.
Flg. 2 zeigt eine Fotodiode mit einer eingangsseltlg
relativ dünnen Schicht 14, einer relativ dicken Schicht 16 und einem dazwischenliegenden PN-Übergang 15. An
die dicke Schicht 16 angrenzend ist ein Abschnitt der Flüssigkristall-Anordnung 32 dargestellt. Im Betrieb
braucht die dünne Schicht nicht an Ladungsträgern verarmt zu sein, wenn die Dicke und Leitfähigkeit den eintreffenden
Signalen erlaubt, die verarmte Schicht 16 ohne erheb!,ehe seitliche Ausbreitung zu erreichen. Wenn beispielsweise
eine Strahlung benutzt wird, um die Signalladungen zu erzeugen, dann muß die nlchl verarmte Zone
dünner sein als die gewünschte Auflösung. Statt dessen kann die nicht verarmte Zone so ausgebildet werden, daß
sie die einfallende Strahlung nicht absorbiert
Beispielswelse kann die Schicht 16 einen spezifischen
Widerstand In der Größenordnung von 10 000 ki2/cm aufweisen, während die nicht verarmte Zone 14 einen
spezifischen Widerstand Im Bereich zwischen I und 10
H/cm haben kann. Bei einer so hohen Leitfähigkeit der elngangsseltlgen Schicht 14 besteht keine Notwendigkeit
zur λην. jndung einer besonderen Elektrode an dieser
Seite zum Vorspannen der Fotodiode, da eine elektrische Verbindung unmlttelbjr über die Schicht 14 Hergestellt
werden kann.
Die Schicht 16 kaiin relativ dick und vom y-Typ sein,
d h. eine Schicht vom N-Typ mit hohem Widerstand,
die nahezu elgenleltend Ist, kann benachbart zur Flüssigkrlslall-Anordnung
angebracht und von dem PN-Übergang 15 und einer relativ dünnen P-Schicht \* gefolgt
werden, Eine andere Möglichkeit besteht Im Anbringen einer Schicht 16 vom K-Typ, also einer nahezu eigenleitenden
P-Schlcht mit hohem Widerstand, benachbart zur Flüsslgkrlstall-Anordnung 32, die von dem PN-Übergang
Und einer Schicht 14 vom N-Typ gefolgt wird.
Flg. 3 zeigt einen anderen Aufbau, nämlich eine der
Flüsslgkrlslall-Anordnuhg 32 benachbarte, relativ dünne
Schicht 14. In diesem Fall müssen beide Selten der Diode 12 von allen beweglichen Ladungsträgern befreit sein,
well einfallende Signale zunächst auf die relativ dicke
Schicht 16 mit hohem Widerstand auftreffen. In diesem
Fall Ist eine nicht verarmte, leitende Schicht 17 hinzugefügt,
die der dicken Schicht 16 benachbart Ist, um einen
ohtnschen Kontakt zum Vorspannen der Fotodiode 12 zu
bilden.
Bei der Anordnung nach Flg. 3 wird die Flüsslgkrlstall-Anordnung
von einer relativ dünnen P-Schlchi 14. einem PN-Übergang 15. einer relativ dicken Schicht 16
vom Widerstandstyp (R-Typ) und einer ohmschen Kontaktschicht
17 vom N-Typ. Statt dessen kann an die Flüsslgkrlstall-Anordnung 32 auch eine dünne Schicht 14
vom N-Typ, ein PN-Übergang 15, eine relativ dicke Schicht 16 vom π-Typ und eine leitende Kontaktschicht
17 vom P-Typ angrenzen
Flg. 4 zeigt einen Aulbau, der dem Aufbau nach Flg. 3 gleich Ist, abgesehen davon, daß der PN-Übergang
15 sich nahe der Mitte der Fotodiode 12 befindet. Auch
hler müssen beide Selten der Fotodiode 12 von allen mobilen Ladungsträgern während des Betriebs der
Anordnung befreit sein. Der Flüsslgkrlstall-Anordnung 32 folgt eine Schicht 14 vom π-Typ, ein PN-Übergang
15, eine Schicht 16 vom P-Typ und eine ohmsche Kontaktschicht
17 vom N-Typ.
Statt dessen kann der Flüsslgkrlstall-Anordnung 32 auch eine Schicht 14 vom P-Typ, ein PN-Übergang 15.
eine Schicht 16 vom π-Typ und eine leitende ohmsche
Kontaktschicht 17 vom P-Typ folgen.
In Fig. 5 Ist ein CCD-Flüssigkrlstall-Llchtventll nach
der Erfindung dargestellt Es umfaßt ein Glas-Substrat 5.
auf dem sich eine SlO^Isollerschlcht 82 befindet. In der
CCD-Elektroden 84 angeordnet sind und die von einem Halbleiter-Substrat 14 gefolgt wird, das aus Silicium mit
hohem spezifischem Widerstand besteht und eine der Isolierschicht 82 benachbarte, leitende Epitaxieschicht 82
aufweist. Die dünne Epitaxieschicht 86 bildet einen CCD-Kanal. Die Schicht 86 hat eine Dicke Im Bereich
von 5 bis 25 pm und Ist vom gleichen Leitfähigkeitstyp
wie Jas Halbleiter-Substrat 14. An der gegenüberliegenden
Seite des Halbleiter-Substrats 14 befindet sich ein PN-Übergang 15 und eine weitere Halbleiterschicht 16
vom entgegengesetzten Leitfähigkeitstyp. Diese Schicht wird von zwei Zwischenschichten 18 und 20 gefolgt,
nämlich einer das Lieht blockierenden Schicht 18 und einem dielektrischen Spiegel 20. Die Zwischenschichten
18 und 20 werden von einer Flüssigkristallschicht 23. einer durchsichtigen Elektrode 24 und einer Glasplatte 26
gefolgt. Eine Glelchspannungsquelle 25 ist zwischen die leitende Epitaxieschicht 86 und die Elektrode 24 so
geschaltet, daß sie den PN-Übergang 15 in Sperrichtung "beaufschlagt und eine Verarmung der Halbleiter-Schichten
14 und 16 an mobilen Ladungsträgern bewirkt. Diese Verarmungszone erstreckt sich nur über einen sehr flachen
Bereich der dem Halbleiter-Substrat 14 benachbarten Epitaxieschicht 86, so daß fast die gesamte Dicke der
Epitaxialschicht 86 ihre beweglichen Ladungsträger behält. Daher werden, wenn in Abhängigkeit von Informationssignalen
die CCD-Elektroden 84 Ladungsträger in das Flüssigkristall-Lichtventil einführen, die Ladung
in CCD-Potentialmulden innerhalb des nicht verarmten Bereiches der Epitaxialschicht 86, die der isolierenden
SiOr-Schicht 82 benachbart ist. gespeichert und darin
mittels einer Taktspannung gehalten, die an den CCD-Elektroden 84 anliegt. Wenn die Taktspannung zu Null
wird, fallen die gespeicherten Ladungen In die Verarmungszone
und werden durch die Veraftnürigszone Und
die Zwischenschichten 18 und 20 hindurch zur Flüssigkristallschicht
23 getrieben und bewirken dfcren Aktlvlerung.
Demgemäß werden erste Ladungsträger, die Informatlonsslgnale
darstellen, Von den CCD-Elekfroderi 84 zur
epitaktischen Halbleltörschlcht 86 gebracht. Dann werden während der Lesezelt (Zelt der Ladungsübertragung)
die CCD-Taktslgnale zu Null oder nahe Null gebracht.
Beispielswelse müssen für ein CCD rfilt N-Kanal die
Taklslgnale den Wert Null annehmen oder leicht negativ sein. Die Minoritätsträger, die In den CCD-Polentlalmul·
den In der Epitaxieschicht 86 gespeichert sind, dlffundleren
In Richtung auf das verarmte Substrat 14 und werden dann von dem elektrischen Feld In Richtung auf den
PN-Übergang 15 geleitet. Der PN-Übergang 15 Ist In Sperrichtung beaufschlagt und sammelt Infolgedessen die
_ Minoritätsträger ein und Injiziert sie durch die Zwischen-
*« schichten iS und 2ö in die Fiüssigkrisiaüschicni 23. Die
gesamte Anordnung Ist einem Transistor mit gemeinsamer
Basis vergleichbar. Der PN-Übergang entspricht dem Kollektor-Übergang, die nicht verarmte Zone entspricht
der Basis und es entspricht die CCD-Anordnung dem Emitter, der Ladungen In die Basis Injiziert.
Die räumliche Verteilung der Ladungen In der
Gesatrtstruktur bleibt aus den folgenden Gründen erhalten:
In -csjm nicht verarmten Bereich, der von der Epitaxialschicht
gebildet wird. Ist ein seitlich gerichtetes
Feld vernachlässigbar und es bewegen sich die Ladungen durch Diffusion. Deshalb soll die Dicke
des nicht verarmten Bereiches geringer sein als die geforderte Auflösung, beispielsweise 5 bis 25 μην
b) In der Verarmungszone Ist das Potential durch die Raumladung und nicht durch den Stromfluß bestimmt Daher gibt es auch in diesem Bereich kein seitliches Feld. Weiterhin Ist eine Ausbreitung der Ladung In diesem Bereich sehr viel geringer, weil das Feld eine fokussterende Wirkung hat.
Die Zwischenschichten werden von einer lichtundurchlässigen Cermet-Schlcht 18 und einem Cermet-Spiegel 20 gebildet.
b) In der Verarmungszone Ist das Potential durch die Raumladung und nicht durch den Stromfluß bestimmt Daher gibt es auch in diesem Bereich kein seitliches Feld. Weiterhin Ist eine Ausbreitung der Ladung In diesem Bereich sehr viel geringer, weil das Feld eine fokussterende Wirkung hat.
Die Zwischenschichten werden von einer lichtundurchlässigen Cermet-Schlcht 18 und einem Cermet-Spiegel 20 gebildet.
F1 g. 6 zeigt das Ersatzschaltbild mit einem Transistor
mit gemeinsamer Basis für den Übergangsmechanismus, durch den die CCD-Ladungen von einer Seite der Silicium-Platte
zur anderen übertragen werden. Die nicht verarmte, geerdete Epitaxieschicht 86 Ist als Basis des
Transistors veranschaulicht, während das Halblelter-Substrat
14 mit dem Übergang 15 dem Kollektorübergang In dem Ersatzschaltbild entspricht. Wenn die Vorspannung
für die CCD-Taktelekttoden zu Null wird, diffundieren
die gespeicherten Minoritätsträger durch die nicht verarmte Epitaxieschicht hindurch und werden von dem
5d kollektorübergang weitgehend In der gleichen Weise aufgenommen
wie bei einem Transistor mit gemeinsamer
Basis. Die beiden Zwischenschichten 18 und 20 sind durch zwei RC-Kreise dargestellt. Beispielsweise kann
die das Licht blockierende Cermet-Schicht 18 durch einen Widerstand 104 und eiaen dazu parallel geschalteten
Kondensator 106 dargestellt werden. In gleicher Weise kann der Cermet-Spiegel 20 durch einen Widerstand
108 mit einem parallelgeschalteten Kondensator 110 wiedergegeben werden und es ist auch der Flüssigkristallschicht
23 ein Widerstand 112 mit einem parallelgeschalteten Kondensator 114 äquivalent Zum
Zwecke der Erläuterung sind in der folgenden Tabelle I
einige typische Werte für die Widerstände und Konden-
satoreri angegeben, die In dem Ersatzschaltbild nach
Flg. 6 die verschiedenen Schichten repräsentieren.
Bezeichnung | Wert | |
Lichtundurchlässige | 104 | 30 kn/cm2 |
Cei-Tielschlchl | 106 | 15 nF/cfn2 |
Certrietsplegel | 108 | 6 kn/cm2 |
110 | 10 nF/cm2 | |
Flüssigkristallschicht | 112 | l.SMn/crh2 |
i 14 | 3 nF/cni2 |
Die Vorspannung der Gleichspannungsquelle 25 kann
In der Größenordnung von 50 bis 100 V liegen.
Der Hauptzweck der Epitaxieschicht 86 In der Anord^
nung nach Flg. 5 besteht darin, die CCD-Anordnung von der Leseslruktur abzuschirmen. Diese Schicht Ist
jedoch nicht unerläßlich. Die CCD-Anordnung kann Ulimittelbar auf die einen hohen Widerstand aufweisende
Halblelterschlcht 88 aufgebracht werden. In diesem Fall werden die von deti CCD-Potenllalmulden' freigesetzten
Ladungen mittels elektrischer Felder der anderen Seite der Halblelterschlchl 14 und der Flüssigkristallschicht 25
aufgrund zusammenbrechender GCD-Taktslgnale zugeleitet.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
230 236/306
Claims (4)
1. Flüssigkristall-Lichtventil mit einer Flüssigkristallschicht
(23) und zugeordneten Zwlschenschichten, die einen dielektrischen Spiegel (20) und eine
Lichtsperrschicht (18) umfassen, einem an die Zwischenschichten angrenzenden, einen gleichrichtenden
PN-Übergang bildenden Halbleiterkörper (14, 16) und einer Elektrodenanordnung (14, 24) zum Zuführen
eines Anregungsstromes, dadurch gekennzeichnet, daß sich der PN-Übergang (15) zwischen
zwei Schichten (14, 16) entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps des Halbleiterkörpers befindet und daß die
Elektrodenanordnung eine Gleichspannungsquelle (25) umfaßt, welche den PN-Übergang (15) In Sperrrichtung
beaufschlagt und eine sich über den ganzen Halbleiterkörper erstreckende Verarmungszone
erzeugt, so daß an einer Seite des Halbleiterkörpers (14, 16) zugeführte, für Lichtsignale charakteristische
Ladungsträger durch die Verarmungszone hindurch zur entgegengesetzten Seite des Halbleiterkörpers
getrieben werden, damit sie die Flüssigkristallschicht (23) erregen.
2. Lichtventil nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß dem Halbleiterkörper (14, 16) eine
Anordnung (82, 84, 86) aus ladungsgekoppelten Bauelementen zum Speichern u.id Freisetzen der
Ladungsträger benachbart ist.
3. Lichtventil nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Anordnung (82, 84, 86) aus iadungsgekoppelten
Bauelementen aus einer den Halbleiterkörper (14, 16) uedeckenden leitenden Epitaxieschicht
(86) und einer angrenzender Isolierschicht (82) besteht. In der eine Vielzah1 von CCD-Elektroden (84)
angeordnet Ist, die an einen V /spannkreis angeschlossen sind. '
4. Lichtventil nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine Schicht
(14) des Halbleiterkörper (14, 16) eine höhere Leltfä- -to
higkelt aufweist als die andere und eine mit der Glelchspannungsquelle (25) verbundene Elektrode
bildet.
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DE2818002A1 (de) | 1978-11-16 |
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