DE2947270C3 - Keramiksubstrat für Halbleiterbauelemente - Google Patents
Keramiksubstrat für HalbleiterbauelementeInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein quadratisches Keramiksubstrat
nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs
für Halbleiterbauelemente -
im folgenden auch kurz "Halbleiterelemente" genannt.
Ein solches Keramiksubstrat ist dazu geeignet, daß ein
Element für eine elektronische Vorrichtung darauf befe
stigt und aufgenommen werden kann, es ist insbesondere
ein Keramiksubstrat, das für ein Element für integrierte
Halbleiterschaltungen geeignet ist.
Ein Keramiksubstrat mit zwei Stirnflächen und mehreren
den Umfang bildenden Seitenflächen, die Vorsprünge auf
weisen, und das als Träger für Halbleiterbauelemente
verwendet wird, ist in der DE-OS 18 15 989 beschrieben.
Das dort beschriebene Keramiksubstrat ist abweichend von
üblichen Keramiksubstraten im Querschnitt nicht recht
eckig wie das hier in den Fig. 1A und 1B dargestellte
Keramiksubstrat 1, sondern es weist im Querschnitt Vor
sprünge auf den Seitenflächen auf. Das Keramiksubstrat
hat eine obere und untere Stirnfläche und Seitenflächen,
wobei die obere Stirnfläche diejenige Oberfläche des
plättchenförmigen Keramiksubstrats ist, auf welche Halb
leiterbauelemente aufgebracht werden, während die untere
Stirnfläche die Auflagefläche dieser Keramiksubstrate auf
einer Unterlage ist und die Seitenflächen die obere und
untere Stirnfläche miteinander verbinden. In jedem Falle
sind die Vorsprünge auf den Seitenflächen des bekannten
Keramiksubstrats durch ebene Flächen gebildet.
Bei einem automatischen Zusammenbau von Halbleiter
elementen müssen die Keramiksubstrate zur Zusammenbau
station gefördert werden. Bei dieser Beförderung kolli
dieren die Keramiksubstrate untereinander und können sich
dadurch gegenseitig beschädigen. Durch diese Kollisionen
entstehen in dem Keramiksubstrat Fissuren, Risse, Sprün
ge, Absplitterungen usw., wodurch die Ausbeute und die
Verläßlichkeit der Produkte verringert bzw. verschlech
tert werden.
Aus der Zeitschrift "Electronic Packaging and Produc
tion", Juli 1978, Seite 160 bis 163 ist es bekannt, bei
runden Siliciumscheiben eine praktisch halbkreisförmig
oder halbelliptisch gerundete Seitenfläche zur Vermin
derung von Verlusten auf Grund von Absplitterungen durch
Stöße vorzusehen. Dieses praktisch halbkreisförmige oder
halbellyptische Runden der Seitenfläche ist jedoch her
stellungsmäßig aufwendig.
Weiterhin ist aus der DE-OS 22 43 318 eine Mosaikplatte
oder Keramikfliese mit rechteckiger oder quadratischer
Grundform bekannt, deren Seitenkanten regelmäßig wellen-,
bogen- oder zickzackförmig ausgebildet sind, um Beschä
digungen der Kanten weitgehend zu vermeiden.
Schließlich ist aus der japanischen Gebrauchsmuster-
Offenlegungsschrift 34 948/1977 ein quadratisches Kera
miksubstrat der eingangs genannten Art bekannt, bei dem
die ursprünglich ebenen und senkrecht zu den Stirnflächen
verlaufenden Seitenflächen dadurch nach außen gewölbt
sind, daß die Kanten und Ecken des Keramiksubstrats ge
rundet worden sind, wobei das Runden mit einem Radius von
etwa 0,1 mm bis 0,4 mm bei Keramiksubstraten, die eine
Dicke von 1 bis 2 mm haben, durchgeführt wird, um Ab
splitterungen durch Stöße zu vermindern. Bei dieser Art
der Bearbeitung durch Runden der Ecken und Kanten des
ursprünglich quaderförmigen Keramiksubstrats bleibt der
in Dickenrichtung mittlere Bereich der Seitenflächen
zwischen den Strirnflächen eben, wodurch noch eine relativ
große Gefahr des Erzeugens von Absplitterungen durch
Stöße besteht, weil diese ebenen Teile der Seitenflächen
mit den Ecken anderer Keramiksubstrate kollidieren
können.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein quadratisches Keramik
substrat unter Vermeidung der Gefahr, daß die Herstellung
des Keramiksubstrats zu schwierig wird, so auszubilden,
daß das Entstehen von Sprüngen, Rissen, Absplitterungen
und dergleichen bei einer Kollision dieser Keramiksub
strate besser vermieden wird als bei einem quadratischen
Keramiksubstrat nach der japanischen Gebrauchsmuster-
Offenlegungsschrift 34 948/1977 und daß die Keramiksubstrate
gut handhabbar sind.
Diese Aufgabe wird mit einem Keramiksubstrat der eingangs
genannten Art durch die im Kennzeichen des Patentanspruches angegebenen Merkmale
gelöst.
Auf diese Weise kommt es trotz einer im Verhältnis zur
Dicke T relativ sehr geringen Höhe D des Scheitelpunkts
des nach außen gewölbten Teils der Seitenflächen bei ei
ner Kollosion von auf einer gemeinsamen Unterlagefläche
nebeneinanderliegenden Keramiksubstraten dazu, daß die
Keramiksubstrate mit ihren nach außen gewölbten Vorsprün
gen aufeinandertreffen oder daß eine Ecke eines Keramik
substrats auf einen solchen nach außen gewölbten Vor
sprung auftrifft, wodurch das Entstehen von Sprüngen,
Rissen, Absplitterungen und dergleichen ganz erheblich
vermindert wird. Diese im Verhältnis zur Dicke T geringe
Höhe D vermindert die Fehler an Fissuren, Rissen und Ab
splitterungen in überraschender Weise auf weniger als ein
Fünftel der Fehler an Fissuren, Rissen und Absplitterun
gen, die sich bei einem ansonsten gleichen Keramiksub
strat ergeben, das keinen nach außen gewölbten Vorsprung
oder einen solchen von geringerer Höhe D hat (Tabelle I).
Zwar ist eine größere Höhe D nicht nachteilig, aber in
dem Maß, in dem die Höhe D des Keramiksubstrats erhöht
wird, wird die Form des Keramiksubstrats und insbesondere
die Form der Seitenflächen des Keramiksubstrats nicht nur
in der normalen Größe verändert, sondern es besteht auch
die Gefahr, daß die Herstellung des Keramiksubstrats zu
schwierig wird.
Die Erfindung sei nachstehend unter Bezugnahme auf die
Zeichnungen an Hand einiger Ausführungsformen näher
erläutert; es zeigt
Fig. 1(A) und (B) eine Draufsicht und eine Seitenansicht
eines an sich bekannten Keramiksubstrats;
Fig. 2 eine teilweise Schnittansicht einer Ausfüh
rungsform eines Keramiksubstrats nach der Er
findung; und
Fig. 3(A) und (B) eine Kollision von Keramiksubstraten
nach der Erfindung.
Bei der in Fig. 2 dargestellten Ausführungsform eines
Keramiksubstrats 2, das mehrere den Umfang bildende Sei
tenflächen 3, von denen nur eine gezeigt ist, sowie zwei
Stirnflächen 4 hat, sind die Seitenflächen 3 im Quer
schnitt senkrecht zu den Stirnflächen 4 nach außen ge
wölbt. Der Scheitelpunkt des nach außen gewölbten Teils
der Seitenfläche 3 befindet sich in der Dickenmitte des
Keramiksubstrats 2 und hat die Höhe D. Bei einer Dicke T
des Keramiksubstrats 2 von 1,52 mm liegt die Höhe D im
Bereich von 0,02 bis 0,1 mm, was dem Verhältnis D/T von
0,013 bis 0,066 entspricht.
Eine Kollision zweier solcher Keramiksubstrate 2 und 2′
ist in Fig. 3 im Querschnitt dargestellt, wobei die
Keramiksubstrate 2 und 2′ mit den nach außen gewölbten
Teilen ihrer Seitenflächen kollidieren. Hierbei wird, da
der Kollisionsstoß auf die gerundeten, nach außen gewölb
ten Teile der Seitenflächen 3 und 3′ wirkt, die weniger
leicht rissig werden oder Absplitterungen bilden, ein
Stoß auf Teile vermieden, die leicht einer Rißbildung,
Absplitterungen unterliegen, und so wird das Keramiksub
strat 2 gegenüber Beschädigungen geschützt.
Die nach außen gewölbten Teile der Seitenfläche 3 begin
nen von jeder der vier Ecken Ra des Keramiksubstrats 2
und 2′ um etwa 5% der Seitenlänge des Keramiksubstrats
entfernt, wie Fig. 3(A) zeigt.
Nachstehend seien Vergleichsversuche angegeben:
Als Beispiel sind getrennt die Ergebnisse von Kollisions
tests aufgeführt, die mit einem der hier vorgeschlage
nen Keramiksubstrate und einem Keramiksubstrat nach dem Stande der Technik durchgeführt wurden, welche
die gleiche Grundform besaßen, wobei das letztere ebene Seitenflächen hatte, während das erstere die in Fig. 2
dargestellte Querschnittsform hatte. Beide Keramiksubtrate hatten eine quadratische Form von
24,00×24,00 mm, waren 1,52 mm dick und besaßen einen Eckenradius von 0,381 mm. Bei dem verwendeten
Keramiksubstrat nach Fig. 2 betrug die Höhe D 0,02 bis 0,05 mm. Für die Kollisionsversuchsbedingungen
werden zwanzig Substrate als Testgruppe flach nebeneinander in einem Abstand von 50 cm auf dem oberen Teil
eines schrägstehenden, 100 cm langen Tabletts mit einer Neigung von 70° angeordnet und auf Grund ihres
Eigengewichts heruntergleiten gelassen, und zwar in Richtung auf einen Auffänger, hergestellt aus Polyamid
harz, der am unteren Ende des Tabletts befestigt war. Diese Art von Herabgleiten wurde 10mal wiederholt und
solche Keramiksubstrate, die Risse, Fissuren und/oder Absplitterungen am Ende des neunten Herabgleitens
aufwiesen, wurden durch neue Keramiksubstrate ersetzt; jedesmal wurde untersucht, ob Risse, Fissuren und
Absplitterungen auftraten. Die Anzahl der gebildeten Risse, Fissuren und Absplitterungen von einer Testgruppe
von 20 Keramiksubstraten wurde summiert, nachdem die Keramiksubstrate das wiederholte Herabgleiten von
10mal beendigt hatten.
Aus den Testergebnissen der Tabelle I ist ersichtlich, daß durch die Bildung eines nach außen gewölbten Teils
mit einer Höhe von D=0,1 mm auf der Seitenfläche des Keramiksubstrats, das 1,52 mm dick ist, die Bildung von
Fissuren, Rissen, Absplitterungen durch eine Kollosion der Keramiksubstrate untereinander auf etwa 7,2%
verringert wird.
Andererseits ist die Höhe D nicht strikt auf den Bereich von 0,02 bis 0,1 mm begrenzt und eine Erhöhung des
Bereichs von 0,1 mm bewirkt auch eine Erhöhung der Wirkung bei der Verhinderung von Fissuren, Rissen,
Absplitterungen. Abhängig von den Bedingungen, bei denen das Keramiksubstrat verwendet wird, ist eine Höhe
D über 0,1 mm nicht nachteilig. Aber in dem Maß, in dem die Höhe D des Keramiksubstrats erhöht wird, wird die
Form des Keramiksubstrats und insbesondere die Form der Seitenflächen des Keramiksubstrats nicht nur in der
normalen Größe verändert, sondern es besteht die Gefahr, daß die Herstellung des Keramiksubstrats zu
schwierig wird. Im Gegensatz dazu besteht, wenn die Höhe D des Keramiksubstrats auf eine Größe unter
0,02 mm verringert wird, die Gefahr, daß die Fehlerrate nicht so stark wie bei dem Testbeispiel von Tabelle I
verringert wird.
Zur Herstellung des Keramiksubstrats und für die Bildung des nach außen gewölbten Teils der Seitenfläche
des Keramiksubstrats kann man irgendein beliebiges, geeignetes Verfahren verwenden, wie zum Beispiel ein
Verfahren, bei dem der nach außen gewölbte Teil der Seitenfläche des Keramiksubstrat gebildet wird, nachdem
das Keramiksubstrats aus Keramikmaterialien nach irgendeinem der bekannten Verfahren, wie durch Pulver
preßverfahren, Stampfen aus einer Rohplatte mit einem Rakelverfahren oder nach bekannten Extrudierverfah
ren, hergestellt worden ist.
Claims (1)
- Quadratisches Keramiksubstrat für Halbleiterbauelemente mit zwei Stirnflächen und vier den Umfang bildenden Sei tenflächen, wobei die Seitenflächen zwischen den Stirn flächen nach außen gewölbte Vorsprünge aufweisen, dadurch gekenn zeichnet, daß die nach außen gewölbten Vorsprünge der Seitenflächen (3, 3′) in einem Abstand von etwa 5% der Seitenlänge von jeder der vier Ecken (Ra) des Keramiksubstrats (2, 2′) entfernt beginnen und das Verhältnis D/T der Höhe D des Scheitelpunkts der nach außen gewölbten Vorsprünge der Seitenflächen (3, 3′) zur Dicke T des Keramiksubstrats (2, 2′) einen Wert von 0,013 bis 0,066 besitzt.
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