DE2242025B2 - Zusammengesetzte halbleiterschaltung - Google Patents
Zusammengesetzte halbleiterschaltungInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 39
- 239000002131 composite material Substances 0.000 title claims description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 25
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920003217 poly(methylsilsesquioxane) Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
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- H01L23/58—Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
- H01L23/64—Impedance arrangements
- H01L23/66—High-frequency adaptations
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/818—Bonding techniques
- H01L2224/81801—Soldering or alloying
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01005—Boron [B]
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01006—Carbon [C]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01013—Aluminum [Al]
-
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01014—Silicon [Si]
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- H—ELECTRICITY
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
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- H01L2924/01019—Potassium [K]
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01023—Vanadium [V]
-
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
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- H01L2924/01033—Arsenic [As]
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
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- H01L2924/0105—Tin [Sn]
-
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01074—Tungsten [W]
-
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- H01L2924/01082—Lead [Pb]
-
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/095—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
- H01L2924/097—Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
- H01L2924/09701—Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3025—Electromagnetic shielding
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Description
45
50
Die Erfindung betrifft eine zusammengesetzte Halbleiterschaltung mit mehreren integrierten Schaltungen
In einem Halbleiterkörper.
Aus der DT-AS 15 14 254 ist eine Halbleiterschaltung
bekannt, bei der zwischen den Leiterbahnen und lern Halbleiterkörper eine Metallabschirmung als
kapazitive Abschirmung Vorgesehen ist.
Eine derartige Abschirmung ist jedoch bei HF-Schaltkreisen wie z.B. in einem Fernsehempfänger
nicht ausreichend, um das Übersprechen zwischen den Bauelementen der Schaltkreise zu verhindern.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Halbleiterschaltung der eingangs genannten Gattung
derart auszubilden, daß das Übersprechen zwischen den einzelnen Bauelementen der Schaltkreise verhindert
wird.
Gelöst wird diese Aufgabe gemäß der Erfindung durch eine integrierte Schaltungen enthaltende Halbleiterplatte
mit über die Platte.iebene vorstehender metallischen Abschirmungen zur Abschirmung du
Schaltkreise gegeneinander und eine isolierende Grundplatte mit äußeren Zuleitungen zu den integrierten
Schaltkreisen mit ebenfalls aus der Plattenebene vorstehenden Abschirmungen, wobei sieh die
Abschirmungen der beiden Platten kontaktieren.
Eine derartige Anordnung hat außer der Abschirmung der Schaltkreise gegeneinander den Vorteil, ckn.'
durch die Grundplatte eine hohe mechanische I-'esii,
keit erreicht wird. Darüber hinaus kann der Schaii.ingsaul'biiu
der Halbieiterplalte vereinfacht werden
da die erforderlichen Leiterbahnen auf der Grundplatte ausgebildet sind, so daß auf der Halhleiieiplatte
nur" die zugehörigen Anschlüsse vorgesehen werden müssen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand der Fiel
bis 11 beispielsweise erläutert. Es zeigt
Fic 1 ein schematisches Schaltbild eines Tunerkreises
eines Fernsehempfängers,
Fi«. 2 eine perspektivische Darstellung einer
Grundplatte der Halbleiterschaltung,
J-" i u. 3 eine perspektivische Darstellung einer 11.,IhleilerplLitte
der 1 lalblciiersvhaltung,
I- i ü. 4 eine Aufsicht der aus der Grundplatte und
der Halbieitciplatte der F i g. 2 und 3 bestehenden
Halbleiterschaltung,
F i g. 5 einen Schnitt längs der Linie 5-5 in I i >.;. 4.
F ie. 6 eine perspektivische Darstellung der Ausführungsform
der Γ i g. 2 bis 5, eingebaut in den Tunerkreis eines Fernsehempfängers,
Fi e.. 7 A bis 7 E Querschnitte, aus denen die Herstellungsschriltc
der Halbleiterschaltung der F i..;. ."
hervorgehen.
Fig. 7F einen Querschnitt einer weiteren Ausiührungsform
der Halbleiterschaltung,
Fig. 8 eine perspektivische Darstellung einei Grundplatte in einer weiteren Ausführungsform der
Erfindung,
Fig. 9 eine perspektivische Darstellung der Unterseite
einer Halbleiterplattc für die in Fig. 8 gezeigte Grundplatte,
Fig. 10 eine perspektivische Darstellung der Unterseite
einer Halblcitcrplatte in einer weiteren Ausführungsform der Erfindung und
Fig. 11 eine perspektivische Darstellung, aus dci
die Anordnung der Halbleiterplatte der Fig. 10 iiv
Gehäuse eines Fernsehempfänger-Tunerkreises hervorgeht.
F i g. 1 zeigt einen Tunerkreis 1 eines Fernsehempfängers mit einem HF-Vcrstärkerkreis 2, einem
Empfangsoszillatorkreis 3 und einem MisciierKreia *
Das an dem Tunerkreis ankommende HF-Signal wire zu einem Anschluß 10 geleitet, der mit einem Hochpaßfilter
9 verbunden ist. Nachdem das HF-Signa das Filter 9 verlassen hat, läuft es durch den HF-Verstärker
2 7ii dem Mischerkreis 4. Der Empfnngsoszil-Ialor3
liefert dem Mischerkreis 4 ein Signal., und da; Ausgangssignal des Mischcrkreises wird an dem Anschluß
11 erhalten.
Jeder dieser Kreise ist in einem Hohlraum eine; abgeschirmten Chassis5 angeordnet. Der HF-Vcrstärkerkreis
ist daher in einem Hohlraum 6, der Mischerkreis in einem Hohlräume und der Empfangsoszillatorkreis
in einem Hohlraum 7 abgeschirmt. Dci HF-Verstärkcrkrcis weist einen Transistor 12. dei
Miseiierkreis zwei Transistoren 14 und der Empfangs
oszillatorkrcis einen Transistor 13 auf. Die Einzelhei-
ten dieser Kreise werden nicht beschrieben, da sie bekannt sind. Wenn jeder der Transistoren 12, 13
und 14 auf einer integrierten Schaltkreisplatte erzeugt wird, wird es schwierig, die jeweiligen Transistoren
derart zu isolieren, daß keine Streuung von HF-Signalen von einem zum anderen Kreis auftritt.
Die Fi g. 2 und 3 /eigen eine Ausführungsfom der
Halbleiterschaltung gemäß der Erfindung, bestehend aus zwei Schaltkreisen 29 und 30, die an der Unterseite
einer Halbleiterplaite 20 ausgebildet sind. Der Schaltkreis 29 entspricht dem HF-Verstärker und der
Schaltkreis 30 dem Os/illnuu kreis. Der Schaltkreis 29
hat mehrere Leitungen 21,-1, 21 ß, 21 Γ, 22/). 22B
und 22C, die jeweils mit Leitungsanschlüssen 25/1, 25 B, 25C, 26/1, 26 ß und 26 C verbunden sind. Der
Osiiilatorkreis hat mehrere Leitungen 23/1. 23 ß,
">?>C 24/1, 24B und 24C, die jeweils mit Leitungsänscfiliissen
27Λ, 27 B, 21C, 28A, 28 B und 28C
verbunden sind. Die Leitungen und Leitungsanschlüssc sind alle an der ebenen Unterseite der Platte
Ό (die in F i g 3 mit der Unterseite nach oben gezeigt
ist) angeordnet.
Die Leitunucn iuul 1 λ nun;.·-anschlüsse des Schalikriisjs29
sind get ι η die Leitungen und Lcitungsansclilüsse
des Schaltkreises JO durch eine Abschirmen
31 abgeschirmt, die /wischen den beiden Sätzen von Leitungen und Leitungsanschlüssen liegt und
die auf der gleichen ebenen Fläche der Halbieiterplaltc
einstückig mit dieser ausgebildet ist, auf der die I ciuiiigcn und Anschlüsse angeordnet sind. Die Leitungen"
und Leitungsanschlüsse der Schaltkreise 29 und 30 sind auch gegen äußere Signale durch Abschirmungen
32 und 33 abgeschirmt, die parallel zueinander "und zu der Abschirmung 31 verlaufen und
die an gegenüberliegenden Enden der ebenen Unterseite der Platte 20 angeordnet und einstückig mit dieser
ausgebildet sind. Die Abschirmungen 31, 32 und 33 haben vorzugsweise die gleiche Dicke wie die Anschlüsse
25 A bis 26 C und 27 A bis 28 C.
Um der Platte 20 mechanische Festigkeit zu verleihen, ist sie auf einer isolierenden Grundplatte 34
befesti°t, wie Fig. 2 zeigt. Die Grundplatte 34 besteht a°us einem Substrat 39 z. B. aus keramischem
Material oder Glas oder Epoxyharz. Es sind mehrere äußere Leitungen 35/1, 35 ß, 35 C, 36/), 36 ß und
36 Γ vorhanden, die an der Oberseite des Substrats derart angeordnet sind, daß sie die Leitungsanschlüsse
25 A bis 26 C des Kreises 39 kontaktieren. Der zweite Satz äußerer Leitungsanschlüsse 37/1, 37 ß, 37 C,
44 gebildet werden. Die Abschirmschicht 44 hat senkrechte Arme 40 und 41, die symmetrisch an der Oberfläche
des Substrats 39 liegen.
Die Enden der Arme 41 sind verbreitert und kontaktieren die Abschirmungen 32 und 33, wenn die
Halbleiterplatte 20 umgekehrt und auf der Grundplatte 34 angeordnet wird. Der Arm 40 kontaktiert die
Abschirmung 31, wenn die Halbleiterplatte 20 umgekehrt und auf der Grundplatte 34 angeordnet wird,
Die leitenden Schichten, die die äußeren Leitungen 35/1 bis 38 C bilden, sind vorzugsweise so ausgebildet,
daß sie die gleiche Dicke wie die leitende Abschirmschicht 44 haben. Alle diese Schichten sind aut
dem Substrat 39 durch die bekannte Dickfilmtechnik «ebildet.
" In Fig. 6 ist die montierte Halbleiterschaltung in
einem zweiteiligen abgeschirmten Chassis 45 angeordnet, das einen Hohlraum 46 und einen Hohlraum
48 hat, die durch eine Wand getrennt sind. Die Wand 47 hat eine Ausnehmung 49, in der die Grundplatte
34 zusammen mit der Halbleiterplatte 20 angeordnet ist Die Ebene der Wand 47 fällt mit der der Abschirmung
31 und des Arms 40 der Abschirmschicht 44 zusammen Dies bewirkt die völlige Abschirmung der
.5 beiden getrennten Kreise 29 und 30 gegen in jedem
erzeuiite HF-Signale.
Es wird nun anhand der F i g. 7 A bis 7 E das \ erfahren
erläutert, durch das die Leitungsanschlüsse wie die Leitungsanschlüsse 25 A bis 28 C und die Abscliirmimcen
31 bis 33 auf einer Halbleiterplatte gebildet werden. Es ist nur ein Teil der Halbleiterplatte
mit einem Schaltkreis dargestellt, da die Konstruktion des restlichen Teils im wesentlichen die gleiche ist.
Der Schaltkreis besteht aus einer N-Typ-Kollektorschicht
50, die auf der Oberseite einer P-Typ-Schictit
70 abgelagert ist. In der N-Typ-Schicht 50 ist eine P-Typ-Basisschicht 51 abgelagert, und in der P-1YP"
Basisschicht51 ist eine N-Typ-Emitterschicht 52 abgelagert.
Jede dieser Schichten hat gesonderte Alurniniumelektroden
54, die durch eine gemeinsame SiIiziumdioxyd-Oberflächenschicht
57 vorstehen.
In der N-Typ-Schicht 50 ist ein Bereich s6jns
N--Typ-Material angeordnet, an der die K~
elektrode befestigt ist. Eine Schicht aus N+-
terial 55 ist ebenfalls zwischen dem P-Tyρ
70 und der N-Typ-Kollektorschicht 50 angeordnet. Die Außenseite der P-Typ-Schicht 70 ist mit einer
Schicht aus Aluminium 72 bedeckt.
An den äußeren Enden des Teils des Substrats 50,
daß die Platte 20 umgekehrt und auf der Grundplatte reiche 53 wirken als ^^"^^^Se^.
34 so angeordnet wird, daß jeder der Leitungsan- 55 gen für einen mederohmigen Weg in der Halbster
wicd,irchWarn,vcrklcbc-nvCrbumlen(Fig.5).
,a»d,,ch, 58 geb.Idct ,ichlempfi„d,iche
Aluminium- und Nickelschichten miteinander legieren. Die Dicke der Titanschicht beträgt etwa 0,1 μηι.
Der nächste Schritt des Verfahrens ist in F i g. 7 D gezeigt. Hierbei wird eine Zinnschicht 61 auf die Nikkeischicht
60 mit einer relativ großen Dicke plattiert. Die restlichen frei liegenden Teile der Fotowiderstandsschicht
59 werden entfernt, und die Titanschicht wird ebenfalls bis zu der Siliziumdioxydschicht 57
weggeätzt. Der sich ergebende Schaltkreis ist, wie Fi g. 7 E zeigt, ein integrierter Schaltkreis mit mehreren
erhabenen Kontakten 62. Die linken und rechten äußeren Kontakte 62, gesehen in F i g. 7 E, entsprechen
den Abschirmungen 32 und 31. Der Teil des Schaltkreises, der in den Fig. 7A bis 7E gezeigt ist,
umfaßt die Hälfte des in F i g. 3 gezeigten Schaltkreises.
Fig. 7F zeigt eine abgewandelte Ausführungsform, bei der die Teile 53 aus P+-Typ-Material an
Stelle von P-Typ-Ma'erial bestehen. Statt des P-Typ-Substrats 70 ist ein epitaktisch gewachsenes P- und
P+-Substrat 70' vorhanden.
Die F i g. 8 und 9 zeigen eine weitere Ausführungsform der Erfindung, die eine Abwandlung der
Ausführungsform der F i g. 2 bis 6 ist. Es wurden daher entsprechende Bezugsziffern verwendet. Bei
dieser Ausführungsform hat die Abschirmschicht 44 an der Grundplatte 34 an dem Arm 41 mehrere
kammartige Verlängerungen 100. Die Verlängerungen 100 trennen die äußeren Leitungen 35/4 bis 38 C
voneinander und schirmen sie gegen HF-Signale in den anderen Leitungen ab. Die Halbleiterplatte 2(1
hat auch mehrere Abschirmungen 102, die die Endanschlüsse 25 A bis 28C voneinander trennen und so
angeordnet sind, daß sie mit den Verlängerungen 100 übereinstimmen, wenn die Halblciterplalte 20 umgekehrt
und mit der Grundplatte 34 verbunden wird. Dadurch berühren die Abschirmungen 102 die jeweiligen
Verlängerungen 100, um eine weitere Abschirmung für den Schaltkreis zu schaffen.
ίο Fig. 10 zeigt eine weitere Ausführungsform dci
Erfindung. Bei dieser Ausführungsform hat eine Halbleiterplatte 20' vier Kreise 29', 29", 30' und 30".
Jeder der vier Kreise wird durch Abschirmungen 31' 32' und 33' gesondert abgeschirmt, die den Abschirmungen
31, 32 und 33 der Ausführungsform dci Fig. 3 entsprechen. Eine zusätzliche Abschirmung
110 erstreckt sich senkrecht zu den Abschirmunger 3Γ bis 33' und verbindet sie mit diesen, um getrennte
Quadranten für jeden Schaltkreis zu schaffen. Die Halbleiterplattc 20' wird umgekehrt und auf einei
Grundplatte wie der Grundplatte 34 angeordnet. Die vollständige Anordnung wird in einen Behälter mi
vier gesonderten Hohlräumen 46/1, 46 ß, 48 A unc
48 B eingesetzt, die durch innere Wände 47 A. 47 B 47C und 47D getrennt sind. Die Platte 34 wird ir
Ausnehmungen der Wände an deren Schnittstelle an geordnet, so daß die Wände zusätzlich zur Untcrtci
lung der Grundplatte 34 in Quadranten und zur BiI dung einer gesonderten Abschirmung für jeden de
Kreise 29', 29", 30' und 30" dienen (F i g. 11).
Hierzu 6 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Zusammengesetzte Halbleiterschaltung mit tnehreren integrieiten Schaltungen in einem Halbleiterkörper,
gekennzeichnet durch eine integrierte Schaltungen enthaltende Halbleiterplatte (20) mit über die Plattenebene vorstehenden
metallischen Abschirmungen (31, 32, 33,102; 31', 32', 33', 110) zur Abschirmung der Schaltkreise
(29, 30) gegeneinander und eine isolierende Grundplatte (34) mit äußeren Zuleitungen (35 bis
38) zu den integrierten Schaltkreisen (29, 30; 29', 29", 30', 30") mit ebenfalls aus der Plattenebene
vorstehenden Abschirmungen (40, 41), wobei sich die Abschirmungen der beiden Platten kontaktieren.
2. Zusammengesetzte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch aus der Ebene
der Halbleiterplatte (20) vorstehende Anschlüsse (25 bis 28) für die Schaltkreise, die die Zuleitungen
(35 bis 38) an der Grundplatte (34) kontaktieren.
3. Zusammengesetzte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Halbleiterplatte (20) eine" erste Schicht (50) aus halbleitendem Material eines ersten Leitungstyps und darunter eine zweite Schicht (70) aus
halbleitendem Material eines zweiten Leitungstyps aufweist und daß die Abschirmungen (31. 32,
33) der Halbleiterplatte (20) aus einem ersten Teil (54, 58, 59, 62) und einem zweiten Teil (53) des
zweiten Leitungstyps bestehen, der sich von der Oberfläche der Halbleiterplatte (20) durch die
erste Schicht (53) erstreckt und die zweite Schicht (70) kontaktiert.
4. Zusammengesetzte Halbleiterschaltung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Abschirmungen (31, 32, 33) der Halbleiterplatte (20) Teile (54, 58, 62) aus leitendem Mate-
rial aufweist, die auf der Oberfläche der HaIbleiterplatte
(20) ausgebildet sind und die um eine bestimmte Strecke über diese vorstehen.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6527271A JPS547196B2 (de) | 1971-08-26 | 1971-08-26 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2242025A1 DE2242025A1 (de) | 1973-03-08 |
DE2242025B2 true DE2242025B2 (de) | 1976-04-08 |
Family
ID=13282109
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19722242025 Ceased DE2242025B2 (de) | 1971-08-26 | 1972-08-26 | Zusammengesetzte halbleiterschaltung |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3754170A (de) |
JP (1) | JPS547196B2 (de) |
CA (1) | CA963977A (de) |
DE (1) | DE2242025B2 (de) |
GB (1) | GB1407626A (de) |
NL (1) | NL177059C (de) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (7)
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1972
- 1972-08-22 US US00282859A patent/US3754170A/en not_active Expired - Lifetime
- 1972-08-23 CA CA150,039A patent/CA963977A/en not_active Expired
- 1972-08-25 GB GB3981772A patent/GB1407626A/en not_active Expired
- 1972-08-26 DE DE19722242025 patent/DE2242025B2/de not_active Ceased
- 1972-08-28 NL NLAANVRAGE7211725,A patent/NL177059C/xx not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1407626A (en) | 1975-09-24 |
JPS547196B2 (de) | 1979-04-04 |
NL177059C (nl) | 1985-07-16 |
NL7211725A (de) | 1973-02-28 |
JPS4831076A (de) | 1973-04-24 |
DE2242025A1 (de) | 1973-03-08 |
US3754170A (en) | 1973-08-21 |
NL177059B (nl) | 1985-02-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
BHV | Refusal |