DE10253879B4 - Phasendetektor und Verfahren zur Taktsignal-Phasendifferenzkompensation - Google Patents

Phasendetektor und Verfahren zur Taktsignal-Phasendifferenzkompensation Download PDF

Info

Publication number
DE10253879B4
DE10253879B4 DE10253879A DE10253879A DE10253879B4 DE 10253879 B4 DE10253879 B4 DE 10253879B4 DE 10253879 A DE10253879 A DE 10253879A DE 10253879 A DE10253879 A DE 10253879A DE 10253879 B4 DE10253879 B4 DE 10253879B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
reset
flip
signals
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE10253879A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10253879A1 (de
Inventor
Chang-Sik Yoo
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of DE10253879A1 publication Critical patent/DE10253879A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10253879B4 publication Critical patent/DE10253879B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03DDEMODULATION OR TRANSFERENCE OF MODULATION FROM ONE CARRIER TO ANOTHER
    • H03D13/00Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations
    • H03D13/003Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations in which both oscillations are converted by logic means into pulses which are applied to filtering or integrating means
    • H03D13/004Circuits for comparing the phase or frequency of two mutually-independent oscillations in which both oscillations are converted by logic means into pulses which are applied to filtering or integrating means the logic means delivering pulses at more than one terminal, e.g. up and down pulses
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/085Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
    • H03L7/089Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/081Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
    • H03L7/0812Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
    • H03L7/0816Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the controlled phase shifter and the frequency- or phase-detection arrangement being connected to a common input
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/085Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
    • H03L7/089Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
    • H03L7/0891Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses the up-down pulses controlling source and sink current generators, e.g. a charge pump
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03LAUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION, OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
    • H03L7/00Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
    • H03L7/06Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
    • H03L7/08Details of the phase-locked loop
    • H03L7/10Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range
    • H03L7/107Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range using a variable transfer function for the loop, e.g. low pass filter having a variable bandwidth
    • H03L7/1077Details of the phase-locked loop for assuring initial synchronisation or for broadening the capture range using a variable transfer function for the loop, e.g. low pass filter having a variable bandwidth by changing characteristics of the phase or frequency detection means

Abstract

Phasendetektor für einen Verzögerungsregelkreis zur Kompensation einer Phasendifferenz zwischen einem ersten Taktsignal (REFCLK) und einem zweiten Taktsignal (FBCLK), mit folgenden Elementen:
– einem ersten Flip-Flop (110), welches das erste Taktsignal (REFCLK) empfängt, ein erstes Ausgangssignal (UP) erzeugt und durch ein erstes Rücksetzsignal (A2) zurückgesetzt wird,
– einem zweiten Flip-Flop (120), welches das zweite Taktsignal (FBCLK) empfängt, ein zweites Ausgangssignal (DOWN) erzeugt und von einem zweiten Rücksetzsignal (A3) zurückgesetzt wird, wobei das erste und zweite Rücksetzsignal von separaten Logikpfaden stammen, und
– einem Rücksetzschaltkreis (130) zur Erzeugung des ersten Rücksetzsignals basierend auf einer Kombination des ersten und zweiten Ausgangssignals und eines ersten Initialisierungssignals (INTL1) und zur Erzeugung des zweiten Rücksetzsignals basierend auf einer Kombination des ersten und zweiten Ausgangssignals und eines zweiten Initialisierungssignals (INTL2),
– wobei das erste und das zweite Initialisierungssignal basierend auf einem extern zugeführten Hauptrücksetzsignal (RESETB) erzeugt werden.

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf einen Phasendetektor für einen Verzögerungsregelkreis zur Kompensation einer Phasendifferenz zwischen einem ersten Taktsignal und einem zweiten Taktsignal und auf ein zugehöriges Phasendifferenzkompensationsverfahren.
  • Verzögerungsregelkreise (DLL) werden auf dem Gebiet analoger Schaltkreisentwürfe vielfach verwendet. Mit den immer strengeren Zeitsteuerungsanforderungen gegenwärtiger Computer- und Kommunikationssysteme mit hohem Leistungsvermögen werden DLL auch für den Einsatz in digitalen Schaltkreisentwürfen immer populärer, wie in Hauptplatinen von Rechnern, in Multimedia-Platinen für hohe Leistungsfähigkeit, in Halbleiterspeicherbauelementen etc. Speziell werden DLL in Halbleiterspeicherbauelementen, wie in DRAM-Bauelementen vom Typ mit doppelter Datenrate (DDR), dazu verwendet, eine gemeinsame Phase zwischen einem zugeführten Referenztaktsignal und einem internen Taktsignal zu erzielen.
  • 1 veranschaulicht im Blockschaltbild einen herkömmlichen Aufbau eines Verzögerungsregelkreises 1 mit einer spannungsgesteurten Verzögerungslinie bzw. Verzögerungsstufe (VCDL) 10, einem Phasendetektor 20, einer Ladungspumpe 30, einem als Filter fungierenden Kondensator C1 und einer optionalen Verzögerungseinheit 40, deren Vorhandensein im Verzögerungsregelkreis für die nachfolgende Beschreibung angenommen sei.
  • Der Phasendetektor 20 misst die Phasendifferenz zwischen einem zugeführten Referenztaktsignal REFCLK und einem Rückkopplungstaktsignal FBCLK, das von der Verzögerungseinheit 40 abgegeben wird, und gibt Phasendifferenz-Detektionssignale UP und DOWN ab. Die Ladungspumpe 30 steuert das Maß an Ausgangsstrom Ic in Reaktion auf die Detektionssignale UP und DOWN. Der Kondensator C1 liefert der VCDL 10 eine Steuerspannung Vc entsprechend dem von der Ladungspumpe 30 abgegebenen Strom Ic. Die VCDL 10 verzögert das Referenztaktsignal REFCLK um einen der Steuerspannung Vc entsprechenden Zeitbetrag und gibt ein Taktsignal OUTCLK als ein verzögertes Signal des Referenztaktsignals REFCLK ab. Die Verzögerungseinheit 40 verzögert das Taktsignal OUTCLK, das von der VCDL 10 abgegeben wird, um eine vorgegebene Zeitspanne und gibt ein gegenüber dem Taktsignal OUTCLK entsprechend verzögertes Signal ab, um die Phasendifferenz zwischen den beiden Taktsignalen OUTCLK und REFCLK zu kompensieren.
  • Wenn ein Hauptrücksetzsignal RESETB aktiviert ist, arbeitet der DLL 1 wie folgt. Das RESETB-Signal weist einen hohen Logikwert auf, wenn der DLL 1 in Betrieb ist. Der Phasendetektor 20 detektiert die Phasendifferenz zwischen dem zugeführten Referenztaktsignal REFCLK und dem Rückkopplungstaktsignal FBCLK, das von der Verzögerungseinheit 40 abgegeben wird. Wenn die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK der Phase des Referenztaktsignals REFCLK nacheilt bzw. die Phase des Signals REFCLK derjenigen des Signals FBCLK voreilt, wird das Phasendifferenz-Detektionssignal UP aktiviert. Dadurch liefert die Ladungspumpe 30 eine Ausgangsstrom Ic derart, dass die Verzögerungszeit der VCDL 10 verkürzt wird. Wenn andererseits die Phase des Signals FBCLK der Phase des Signals REFCLK voreilt bzw. die Phase des Signals REFCLK derjenigen des Signals FBCLK nacheilt, wird das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN aktiviert. Dadurch liefert die Ladungspumpe 30 einen Ausgangsstrom Ic derart, dass die Verzögerungszeit der VCDL 10 verlängert wird. Der DLL 1 verzögert jeweils das Referenztaktsignal REFCLK um die in der VCDL 10 festgelegte Zeitspanne, um das Ausgangstaktsignal OUTCLK abzugeben.
  • 2 zeigt im Blockschaltbild eine herkömmliche Realisierung für den Phasendetektor 20 mit zwei D-Flip-Flops 21, 22 und einem Rücksetzsteuerschaltkreis 23. Das D-Flip-Flop 21 weist einen Eingangsanschluss D, der mit einer Speisespannung VCC gekoppelt ist, einen Ausgangsanschluss Q, der das Phasendifferenz-Detektionssignal UP abgibt, einen Taktanschluss CK, der das Referenztaktsignal REFCLK empfängt, und einen Rücksetzanschluss RST auf. Das D-Flip-Flop 22 beinhaltet einen Eingangsanschluss D, der mit der Speisespannung VCC gekoppelt ist, einen Ausgangsanschluss Q, der das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN abgibt, einen Taktanschluss CK, der das Rückkopplungstaktsignal FBCLK empfängt, und einen Rücksetzanschluss RST, der ein vom Rücksetzsteuerschaltkreis 23 abgegebenes Steuersignal A0 empfängt. Der Rücksetzsteuerschaltkreis 23 ist aus einem NAND-Gatter 25, welches die Phasendifferenz-Detektionssignale UP und DOWN zur Durchführung einer NAND-Verknüpfung empfängt, und einem NAND-Gatter 24 aufgebaut, das ein Ausgangssignal des NAND-Gatters 25 und das extern zugeführte Hauptrücksetzsignal RESETB zur Durchführung einer NAND-Verknüpfung empfängt.
  • Die Betriebsweise dieses herkömmlichen Phasendetektors 20 wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die zugehörigen Zeitlablaufdiagramme der 3A, 3B und 4A bis 4D erläutert. Die 3A und 3B zeigen Zeitablaufdiagramme zur Veranschaulichung des Betriebszustands des Phasendetektors 20 von 2, wenn der DLL 1 von 1 in einem stationären Zustand arbeitet.
  • Speziell zeigt 3A ein Zeitablaufdiagramm zur Veranschaulichung der Zustände der Phasendifferenz-Detektionssignale UP und DOWN, die vom Phasendetektor 20 abgegeben werden, wenn die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK der Phase des Referenztaktsignals REFCLK voreilt.
  • Wie aus den 2 und 3A ersichtlich, wird das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN, wenn die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK der Phase des Referenztaktsignals REFCLK voreilt, wobei das Hauptrücksetzsignal RESETB auf hohem Pegel bleibt, mit dem Signal FBCLK synchronisiert, um zuerst aktiviert zu werden. Anschließend wird das Phasendifferenz-Detektionssignal UP synchron zum Signal REFCLK aktiviert. Wenn sowohl das UP- als auch das DOWN-Signal aktiviert sind, gibt das NAND-Gatter 25 im Rücksetzsteuerschaltkreis 23 ein Signal auf niedrigem Pegel ab. Dementsprechend geht das vom NAND-Gatter 24 abgegebene Signal A0 auf hohen Pegel. Beide D-Flip-Flops 21 und 22 werden daraufhin zurückgesetzt, was es dem UP- und dem DOWN-Signal erlaubt, auf niedrigen Pegel überzugehen. Es gibt somit eine simultane Zeitspanne, während der die vom Phasendetektor 20 abgegebenen Detektionssignale UP und DOWN beide aktiviert sind. Da jedoch die Zeitspanne der Aktivierung des DOWN-Signals länger als die Zeitspanne der Aktivierung des UP-Signals ist, liefert die Ladungspumpe 30 einen Ausgangsstrom Ic derart, dass die Verzögerungszeit der VCDL 10 proportional zur Zeitdifferenz zwischen dem UP- und dem DOWN-Signal anwächst.
  • 3B zeigt im Zeitablaufdiagramm die Zustände der Phasendifferenz-Detektionssignale UP und DOWN, die vom Phasendetektor 20 abgegeben werden, wenn die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK der Phase des Referenztaktsignals REFCLK nacheilt. Wie aus den 2 und 3B ersichtlich, wird das Phasendifferenz-Detektionssignal UP anfänglich synchron zum REFCLK-Signal aktiviert, wenn die Phase des FBCLK-Signals derjenigen des REFCLK-Signals nacheilt, wobei das Hauptrücksetzsignal RESETB auf hohem Pegel liegt. Das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN wird dann synchron zum Signal FBCLK aktiviert. Wenn das UP- und das DOWN-Signal beide aktiviert sind, gibt das NAND-Gatter 25 im Rücksetzsteuerschaltkreis 23 ein Signal auf niedrigem Pegel ab. Dadurch geht das vom NAND-Gatter 27 abgegebene Signal A0 auf hohen Pegel. In Reaktion auf den hohen Pegel des Signals A0 werden beide D-Flip-Flops 21 und 22 zurückgesetzt, wodurch das UP- und das DOWN-Signal beide auf niedrigen Pegel übergehen. Es gibt somit eine Zeitspanne, während der das UP- und das DOWN-Signal, die vom Phasendetektor 20 abgegeben werden, beide aktiviert sind. Dennoch liefert die Ladungspumpe 30, da die Aktivierungsdauer des UP-Signals länger als diejenige des DOWN-Signals ist, einen Ausgangsstrom Ic derart, dass die Verzögerungszeit der VCDL 10 proportional zur Differenz der Zeitdauern zwischen dem UP- und dem DOWN-Signal verkürzt wird.
  • Wenn keine Phasendifferenz zwischen den Signalen FBCLK und REFCLK vorliegt, sind die Aktivierungszeitspannen für das UP- und das DOWN-Signal identisch, wie unmittelbar ersichtlich und daher nicht explizit gezeigt. Dementsprechend wird dann die Verzögerungszeit der VCDL 10 nicht verstellt.
  • Der Phasendetektor 20 gibt die Phasendifferenz-Detektionssignale UP und DOWN zur Erhöhung, Verkürzung oder Beibehaltung der Verzöge rungszeit der VCDL 10 ab. Aus diesem Grund wird der Phasendetektor 20 auch als ein Dreizustands-Phasendetektor bezeichnet.
  • Die 4A und 4B zeigen Zeitablaufdiagramme zur Veranschaulichung von Betriebszuständen des Phasendetektors von 2, wenn der DLL 1 von 1 von einem Nichtbetriebszustand in einen Betriebszustand wechselt oder initialisiert wird. Speziell zeigt 4A ein Zeitablaufdiagramm von Signalen, die vom Phasendetektor 20 für den Fall abgegeben werden, dass das Hauptrücksetzsignal RESETB vor der Aktivierung des Rückkopplungstaktsignals FBCLK aktiviert wird, wenn die Phase des Signals FBCLK der Phase des Signals REFCLK voreilt.
  • Wie aus 4A ersichtlich, geht das vom NAND-Gatter 24 des Rücksetzsteuerschaltkreises 23 abgegebene Signal A0 auf hohen Pegel, während das Hauptrücksetzsignal RESETB auf niedrigem Pegel gehalten wird, d.h. der DLL 1 in einem Nichtbetriebszustand gehalten wird. Die Phasendifferenz-Detektionssignale DOWN und UP, die von den D-Flip-Flops 21 und 22 abgegeben werden, werden daher auf niedrigem Pegel gehalten. Wenn das Hauptrücksetzsignal RESETB von niedrigem auf hohen Pegel übergeht, d.h. der DLL1 aktiviert wird, gibt das NAND-Gatter 24 im Rücksetzsteuerschaltkreis 23 das Signal A0 mit niedrigem Pegel ab. Dadurch werden die D-Flip-Flops 21 und 22 mit dem Referenztaktsignal REFCLK bzw. dem Rückkopplungstaktsignal FBCLK synchronisiert.
  • Wie aus 4A zu erkennen, geht das Rückkopplungstaktsignal FBCLK, nachdem das Hauptrücksetzsignal RESETB auf hohen Pegel übergegangen ist, vor dem Referenztaktsignal REFCLK auf hohen Pegel. Das vom D-Flip-Flop 22 abgegebene Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN wird auf hohen Pegel aktiviert. Als nächstes wird das Phasendifferenz-Detektionssignal UP, das vom D-Flip-Flop 21 abgegeben wird, auf hohen Pegel aktiviert, wenn das Signal REFCLK auf hohen Pegel übergegangen ist. Wenn sowohl das UP- als auch das DOWN-Signal aktiviert sind, geht das vom NAND-Gatter 24 im Rücksetzsteuerschaltkreis 23 abgegebene Signal A0 auf hohen Pegel.
  • 4C zeigt ein Zeitablaufdiagramm von Signalen des Phasendetektors 20 im Fall, dass das Hauptrücksetzsignal RESETB aktiviert wird, bevor das Referenztaktsignal REFCLK aktiviert wird, wenn die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK nacheilt.
  • Wie aus 4C ersichtlich, behalten beide von den D-Flip-Flops 21 und 22 abgegebenen Phasendifferenz-Detektionssignale UP und DOWN einen niedrigen Pegel bei, wenn das Hauptrücksetzsignal RESETB auf niedrigem Pegel gehalten wird, da das vom NAND-Gatter 24 abgegebene Signal A0 dann auf hohem Pegel gehalten wird. Wenn ein Übergang des Hauptrücksetzsignals RESETB von niedrigem auf hohen Pegel auftritt, wechselt das vom NAND-Gatter 24 abgegebene Signal A0 von hohem auf niedrigen Pegel. Da das Signal REFCLK vor dem Signal FBCLK auf hohen Pegel wechselt, nachdem das Signal RESETB auf hohen Pegel übergegangen ist, wird das vom D-Flip-Flop 21 abgegebene Phasendifferenz-Detektionssignal UP auf hohen Pegel aktiviert. Wenn später das Signal FBCLK aktiviert wird, wird dann auch das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN aktiviert. Wenn das UP- und das DOWN-Signal beide aktiviert sind, geht das vom NAND-Gatter 27 abgegebene Signal A0 auf hohen Pegel.
  • Wie oben erwähnt, arbeitet der Phasendetektor 20 in einer normalen Weise, wenn das Hauptrücksetzsignal RESETB aktiviert wird, bevor das in seiner Phase voreilende Signal der beiden Signale REFCLK und FBCLK aktiviert wird. Wenn jedoch das Signal RESETB zwischen dem Aktivierungszeitpunkt des in seiner Phase voreilenden Taktsignals und dem Aktivierungszeitpunkt des in seiner Phase nacheilenden Taktsig nals aktiviert wird, kann ein Fehlbetrieb des Phasendetektors 20 auftreten, bei dem dessen Ausgangssignal einen nicht korrekten Wert aufweist.
  • 4B zeigt im Zeitablaufdiagramm eine derartige abnormale Betriebssituation des herkömmlichen Phasendetektors 20, wenn die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK derjenigen des Referenztaktsignals REFCLK voreilt und das Hauptrücksetzsignal RESETB in einem solchen Zwischenzeitpunkt aktiviert wird. Wie aus den 2 und 4B ersichtlich, wird das vom D-Flip-Flop 21 abgegebene Phasendifferenz-Detektionssignal UP, wenn das Hauptrücksetzsignal RESETB zwischen einer jeweiligen ansteigenden Flanke der Taktsignale FBCLK und REFCLK in der Situation aktiviert wird, dass die Phase des Signals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK voreilt, synchron zum Signal REFCLK aktiviert. Wenn dann das Signal FBCLK aktiviert wird, wird das vom D-Flip-Flop 22 abgegebene Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN aktiviert.
  • Wenn die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK derjenigen des Referenztaktsignals REFCLK voreilt, sollte das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN vor dem Phasendifferenz-Detektionssignal UP aktiviert werden. Im Beispiel des herkömmlichen Phasendetektors 20 gemäß 4B ergibt sich jedoch unerwünschterweise ein Fehlbetrieb des Phasendetektors 20, bei dem dieser die Verzögerung verringert, statt sie zu erhöhen.
  • 4D zeigt im Zeitablaufdiagramm einen weiteren Fehlbetriebszustand des herkömmlichen Phasendetektors von 2. Wenn das Hauptrücksetzsignal RESETB zwischen dem Aktivierungszeitpunkt des Referenztaktsignals REFCLK und dem Aktivierungszeitpunkt des Rückkopplungstaktsignals FBCLK im Fall, dass die Phase des Signals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK nacheilt, aktiviert wird, wird das vom D-Flip-Flop 22 abgegebene Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN synchron zum Signal FBCLK aktiviert. Wenn danach das Signal REFCLK aktiviert wird, wird das vom D-Flip-Flop 21 abgegebene Signal UP aktiviert.
  • Wenn die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK derjenigen des Referenztaktsignals REFCLK nacheilt, sollte das Phasendifferenz-Detektionssignal UP vor dem Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN aktiviert werden. Im herkömmlichen Phasendetektor 20 tritt hingegen, wie in 4D veranschaulicht, unerwünschterweise wiederum ein Fehlbetrieb in diesem Fall auf, wenn das Signal DOWN zuerst aktiviert wird, indem die Verzögerung erhöht, statt verringert wird.
  • Die Patentschrift US 5.539.345 offenbart einen Phasendetektor mit vier Flip-Flops, die jeweils am einen Eingangsanschluss auf einem festen, z.B. hohen Pegel gehalten werden, während am anderen Eingang ein erstes und drittes Flip-Flop ein erstes Taktsignal bzw. dessen invertiertes Signal und ein zweites und viertes Flip-Flop ein zweites Signal bzw. dessen invertiertes Signal empfangen. Die Ausgangssignale des ersten und dritten Flip-Flops einerseits und die Ausgangssignale des zweiten und vierten Flip-Flops andererseits werden jeweils ODER-verknüpft, um je ein Signal zu erzeugen, das einen Flankenwechsel des ersten bzw. zweiten Taktsignals anzeigt. Das dritte und vierte Flip-Flop werden durch ein Signal zurückgesetzt, das durch eine NAND-Verknüpfung ihrer Ausgangssignale gebildet ist. Das erste und das zweite Flip-Flop werden durch Signale zurückgesetzt, die jeweils durch eine spezielle Logikkombination aller vier Flip-Flop-Ausgangssignale gebildet sind.
  • Die Patentschrift US 4.105.947 offenbart einen Phasen- und Frequenzdetektor mit zwei Flip-Flops, die jeweils am einen Eingang auf ein festes Potential gelegt sind und am anderen Eingang ein Eingangsimpulssignal empfangen. Die Ausgangssignale der beiden Flip-Flops werden je einem Eingang eines Integrierers zugeführt, der daraus eine Steuerspan nung für einen spannungsgesteuerten Oszillator erzeugt, dessen Ausgangssignalfrequenz gleich einer vorgegebenen Referenzfrequenz gehalten werden soll. Dazu ist die Frequenz des Eingangssignals des einen Flip-Flops aus der Referenzfrequenz und die Frequenz des Eingangssignals für das andere Flip-Flop aus der Ausgangssignalfrequenz des spannungsgesteuerten Oszillators abgeleitet. Die Flip-Flops werden durch Rücksetzsignale zurückgesetzt, die jeweils durch eine NAND-Verknüpfung der beiden Flip-Flop-Eingangssignale und des Eingangssignals des betreffenden Flip-Flops gebildet sind.
  • Der Erfindung liegt als technisches Problem die Bereitstellung eines Phasendetektors für einen Verzögerungsregelkreis und eines Verfahrens zur Phasendifferenzkompensation zugrunde, mit denen sich eine möglichst fehlerfreie Phasenkompensation zwischen einem ersten und zweiten Taktsignal erzielen lässt, insbesondere unabhängig davon, zu welchem Zeitpunkt der Betrieb eines zugehörigen Verzögerungsregelkreises initialisiert oder dessen Betriebszustand geändert wird.
  • Die Erfindung löst dieses Problem durch die Bereitstellung eines Phasendetektors mit den Merkmalen des Anspruchs 1 sowie eines Phasendifferenz-Kompensationsverfahrens mit den Merkmalen des Anspruchs 11.
  • Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
  • Vorteilhafte, nachfolgend beschriebene Ausführungsformen der Erfindung sowie die zu deren besserem Verständnis oben erläuterten, herkömmlichen Ausführungsbeispiele sind in den Zeichnungen dargestellt, in denen zeigen:
  • 1 ein Blockschaltbild eines herkömmlichen Aufbaus eines Verzögerungsregelkreises,
  • 2 ein Blockschaltbild eines herkömmlichen Aufbaus eines Phasendetektors von 1,
  • 3A und 3B Zeitablaufdiagramme zur Veranschaulichung des Betriebszustands des Phasendetektors von 2 während eines stationären Betriebszustands des Verzögerungsregelkreises von 1,
  • 4A bis 4D Zeitablaufdiagramme zur Veranschaulichung des Betriebszustands des Phasendetektors von 2 bei Initialisierung des Verzögerungsregelkreises von 1 von einem Nichtbetriebszustand in einen Betriebszustand,
  • 5 ein Blockschaltbild eines erfindungsgemäßen Phasendetektors,
  • 6A bis 6D Zeitablaufdiagramme zur Veranschaulichung von Betriebszuständen des erfindungsgemäßen Phasendetektors von 5 und
  • 7 ein Blockschaltbild eines weiteren erfindungsgemäßen Phasendetektors.
  • 5 zeigt den Schaltungsaufbau eines ersten erfindungsgemäßen Phasendetektors 100 mit D-Flip-Flops 110 und 120, die jeweils ein Phasendifferenz-Detektionssignal UP bzw. DOWN abgeben, einer Rücksetzsteuerlogik 130, die unabhängige und separate Rücksetzsignale A2 und A3 zur Steuerung des Rücksetzvorgangs der D-Flip-Flops 110, 120 abgeben und einer Ausgangszustands-Setzlogik 140 zur Erzeugung von Anfangszustandssetzsignalen INTL1 und INTL2, um die Anfangszustän de für das UP- und das DOWN-Signal zu setzen. Der Rücksetzsteuerschaltkreis 130 besteht aus NAND-Gattern 131, 132 und 133. Die Anfangszustands-Setzlogik 140 umfasst ein D-Flip-Flop 141, NAND-Gatter 143 und 145 sowie Inverter 142 und 144.
  • Jedes der beiden D-Flip-Flops 110 und 120 besitzt dieselbe Konfiguration wie die beiden D-Flip-Flops 21 und 22 im herkömmlichen Phasendetektor 20 von 2. Folglich beinhaltet das D-Flip-Flop 110 einen Eingangsanschluss D, der mit einer Speisespannung VCC gekoppelt ist, einen Taktanschluss CK, der das Referenztaktsignal REFCLK empfängt, und einen Rücksetzanschluss RST, der das von der Rücksetzsteuerlogik 130 abgegebene Signal A2 empfängt. Das D-Flip-Flop 120 beinhaltet einen an die Speisespannung VCC gekoppelten Eingangsanschluss D, einen Ausgangsanschluss Q, der das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN abgibt, einen Taktanschluss CK, der das Rückkopplungstaktsignal FBCLK empfängt, und einen Rücksetzanschluss RST, der das von der Rücksetzsteuerlogik 130 abgegebene Signal A3 empfängt.
  • Das D-Flip-Flop 141 weist einen Einganganschluss D, der das Referenztaktsignal REFCLK empfängt, einen Ausgangsanschluss Q und einen Taktanschluss CK auf, der das Rückkopplungstaktsignal FBCLK empfängt. Ein vom Ausgangsanschluss Q abgegebenes Signal A1 wird vom Inverter 142 invertiert. Ein Hauptrücksetzsignal RESETB, das extern zum Rücksetzen eines DLL zugeführt wird, wird durch den Inverter 144 invertiert. Hierbei kann es sich insbesondere um den DLL 1 von 1 handeln, bei dem der herkömmliche durch den erfindungsgemäßen Phasendetektor ersetzt ist. Das NAND-Gatter 143 empfängt die von den Invertern 142 und 144 abgegebenen Signale und führt mit diesen eine NAND-Verknüpfung aus, um das erste Anfangszustandssetzsignal INTL1 abzugeben. Das NAND-Gatter 145 empfängt das vom Ausgangsanschluss Q abgegebene Signal A1 und das vom Inverter 144 abgegebene Signal, um mit diesen eine NAND-Verknüpfung auszuführen und dementsprechend das zweite Anfangszustandssetzsignal INTL2 abzugeben.
  • Das NAND-Gatter 132 empfängt die von den beiden D-Flip-Flops 110 und 120 abgegebenen Signale UP und DOWN und führt mit diesen eine NAND-Verknüpfung durch. Das NAND-Gatter 131 empfängt die Ausgangssignale der NAND-Gatter 132 und 143 und führt mit diesen eine NAND-Verknüpfung durch, um das Signal A2 abzugeben. Das NAND-Gatter 133 empfängt das Ausgangssignal des NAND-Gatters 132 und das vom NAND-Gatter 145 abgegebene Signal INTL2 und führt mit diesen eine NAND-Verknüpfung durch, um das Signal A3 abzugeben. Das vom NAND-Gatter 131 abgegebene Signal A2 wird dem Rücksetzanschluss RST des D-Flip-Flops 110 zugeführt, und das vom NAND-Gatter 133 abgegebene Signal A3 wird an den Rücksetzanschluss RST des D-Flip-Flops 120 angelegt.
  • Nachfolgend wird genauer auf die Betriebsweise des erfindungsgemäßen Phasendetektors 100 von 5 unter zusätzlicher Bezugnahme auf die 6A bis 6D eingegangen.
  • Die 6A bis 6D zeigen Zeitablaufdiagramme zur Veranschaulichung von Betriebszuständen des Phasendetektors 100 der 5. Speziell zeigt 6A ein Zeitablaufdiagramm für Signale, die vom Phasendetektor 100 abgegeben werden, wenn das Hauptrücksetzsignal RESETB vor der Aktivierung des Rückkopplungstaktsignals FBCLK aktiviert wird, d.h. eine ansteigende Flanke aufweist, für den Fall, dass die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK derjenigen des Referenztaktsignals REFCLK voreilt.
  • Wie aus den 5 und 6A ersichtlich, befindet sich das vom Inverter 144 abgegebene Signal auf einem hohen Logikpegel, wenn sich das Signal RESETB in einem deaktivierten Zustand auf niedrigem Pegel be findet. Da die Phase des Signals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK voreilt, befindet sich das Signal REFCLK zum Zeitpunkt einer ansteigenden Flanke des Signals FBCLK auf niedrigem Pegel. Daher liegt das vom D-Flip-Flop 141 abgegebene Signal A1 auf niedrigem Pegel, so dass das vom Inverter 142 abgegebene Signal auf hohem Pegel liegt. Da die von den Invertern 142 und 144 abgegebenen Signale auf hohem Pegel liegen, gibt das NAND-Gatter 143 das erste Anfangszustandssetzsignal INTL1 auf niedrigem Pegel ab. Daher liegt das vom NAND-Gatter 131 abgegebene Signal A2 unabhängig vom Ausgangssignal des NAND-Gatters 132 auf hohem Pegel. Als Resultat hiervon gibt das D-Flip-Flop 110, wenn die Phase des Signals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK voreilt, das Phasendifferenz-Detektionssignal UP auf niedrigem Pegel ab, während sich das Hauptrücksetzsignal RESETB auf niedrigem Pegel befindet.
  • Andererseits empfängt das NAND-Gatter 145 das vom D-Flip-Flop 141 abgegebene Signal A1 auf niedrigem Pegel und das vom Inverter 144 abgegebene Signal auf hohem Pegel, um das Signal INTL2 mit hohem Pegel abzugeben. Durch die zuvor geschilderte Betriebsweise gibt das NAND-Gatter 132 ein Signal auf hohem Pegel ab, da sich das Phasendifferenz-Detektionssignal UP auf niedrigem Pegel befindet. Da das vom NAND-Gatter 132 abgegebene Signal und das vom NAND-Gatter 145 abgegebene Signal INTL2 auf hohem Pegel liegen, gibt das NAND-Gatter 133 das Signal A3 mit niedrigem Pegel ab. Daher gibt das D-Flip-Flop 120 das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN mit hohem Pegel synchron zum Rückkopplungstaktsignal FBCLK ab. Der erfindungsgemäße Phasendetektor 100 setzt folglich die Phasendifferenz-Detektionssignale UP und DOWN auf niedrigen bzw. hohen Pegel, während sich das Hauptrücksetzsignal RESETB auf niedrigem Pegel befindet, wenn die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK derjenigen des Referenztaktsignals REFCLK voreilt.
  • Wenn das Signal RESETB auf hohen Pegel übergeht, geht das Ausgangssignal des Inverters 144 auf niedrigen Pegel. Dadurch geben die NAND-Gatter 143 und 145 das erste bzw. zweite Anfangszustandssetzsignal INTL1, INTL2 auf hohem Pegel ab. Folglich arbeiten die NAND-Gatter 131 und 133 in Abhängigkeit vom Ausgangssignal des NAND-Gatters 132. Da die Signale UP und DOWN auf niedrigen bzw. hohen Pegel gesetzt wurden, nimmt das vom NAND-Gatter 132 abgegebene Signal hohen Pegel an. Dementsprechend geht das vom NAND-Gatter 131 abgegebene Signal A2 von hohem auf niedrigen Pegel über, und das vom NAND-Gatter 133 abgegebene Signal A3 bleibt auf niedrigem Pegel. Dies ermöglicht es den D-Flip-Flops 110 und 120, in einem nicht rückgesetzten Zustand zu arbeiten.
  • Da das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN anfänglich auf hohen Pegel gesetzt ist, behält es an der ersten ansteigenden Flanke des Signals FBCLK nach Aktivierung des Signals RESETB den hohen Pegel bei. Das Phasendifferenz-Detektionssignal UP wird dann an einer ansteigenden Flanke des Signals REFCLK auf hohen Pegel aktiviert. Wenn sich die Signale UP und DOWN beide auf hohem Pegel befinden, geht das vom NAND-Gatter 132 abgegebene Signal auf niedrigen Pegel. Dadurch geben die NAND-Gatter 131 und 133 die Signale A2 bzw. A3 auf hohem Pegel ab. Jedes der beiden D-Flip-Flops 110 und 120 wird zurückgesetzt, und jedes der beiden von diesen abgegebenen Signale DOWN und UP gehen auf niedrigen Pegel. Das Signal DOWN wird an einer zweiten ansteigenden Flanke des Signals FBCLK nach Aktivierung des Signals RESETB aktiviert, und das Signal UP wird an einer zweiten ansteigenden Flanke des Signals REFCLK auf hohen Pegel aktiviert. Mit Aktivierung beider Signale UP und DOWN gehen die von den NAND-Gattern 131 und 133 abgegebenen Signale A2 bzw. A3 auf hohen Pegel. Dadurch werden die D-Flip-Flops 110 und 120 zurückgesetzt, und die von diesen abgegebenen Signale UP und DOWN werden auf niedrigen Pegel deaktiviert.
  • Als Ergebnis wird die einer Phasendifferenz zwischen den Signalen UP und DOWN entsprechende Steuerspannung Vc in einem Verzögerungsregelkreisaufbau entsprechend 1 der VCDL 10 zugeführt, die das Signal REFCLK um eine von der Steuerspannung Vc abhängige Zeitspanne weiter verzögert und das verzögerte Signal OUTCLK abgibt.
  • 6B veranschaulicht im Zeitablaufdiagramm Signale, die vom Phasendetektor 100 im Fall abgegeben werden, dass das Hauptrücksetzsignal RESETB zwischen Aktivierungszeiten des Referenztaktsignals REFCLK und des Rückkopplungstaktsignals FBCLK aktiviert wird, wenn die Phase des Signals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK voreilt.
  • Wie aus den 5 und 6B ersichtlich, werden die von den NAND-Gattern 131 und 133 abgegebenen Signale A2 und A3 wie im Fall von 6A auf hohen bzw. niedrigen Pegel gesetzt, während das Signal RESETB deaktiviert ist, d.h. auf niedrigem Pegel liegt. Das D-Flip-Flop 110 wird dadurch zurückgesetzt, so dass es das Phasendifferenz-Detektionssignal UP auf niedrigem Pegel abgibt, während das D-Flip-Flop 120 mit dem Rückkopplungstaktsignal FBCLK synchronisiert wird und dabei das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN auf hohem Pegel abgibt.
  • Wenn das Signal RESETB auf hohen Pegel übergeht, geht das Ausgangssignal des Inverters 144 auf niedrigen Pegel. Dadurch geben die NAND-Gatter 143 und 145 das erste bzw. zweite Anfangszustands-Setzsignal INTL1, INTL2 auf hohem Pegel ab. Dies ermöglicht es den NAND-Gattern 131 und 133, in Abhängigkeit vom Ausgangssignal des NAND-Gatters 132 zu arbeiten. Da die Signale UP und DOWN anfänglich auf niedrigen bzw. hohen Pegel gesetzt sind, nimmt das vom NAND-Gatter 132 abgegebene Signal hohen Pegel an. Dementsprechend geht das vom NAND-Gatter 131 abgegebene Signal A2 von hohem auf nied rigen Pegel über, während das vom NAND-Gatter 133 abgegebene Signal A3 niedrigen Pegel beibehält. Dies ermöglicht es den beiden D-Flip-Flops 110 und 120, in einem nicht zurückgesetzten Zustand zu arbeiten.
  • Da das Phasendetektionssignal DOWN anfänglich auf hohen Pegel gesetzt ist, behält es nach dem Pegelübergang des Signals RESETB hohen Pegel bei. Das Phasendetektionssignal UP wird dann auf hohem Pegel an einer ersten ansteigenden Flanke des Signals REFCLK nach dem Übergang des Haupt-Rücksetzsignals RESETB auf hohen Pegel aktiviert. Sobald beide Signale UP und DOWN aktiviert sind, gehen die von den NAND-Gatters 131 und 133 abgegebenen Signale A2 und A3 auf hohen Pegel. Dadurch werden beide D-Flip-Flops 110 und 120 zurückgesetzt, und die beiden von ihnen abgegebenen Signale UP und DOWN werden deaktiviert.
  • Das Signal DOWN wird an einer ersten ansteigenden Flanke des Signals FBCLK nach Aktivierung des Signals RESETB auf hohen Pegel aktiviert, d.h. es geht auf hohen Pegel über, und das Signal UP wird an einer zweiten ansteigenden Flanke des Signals REFCLK auf hohen Pegel aktiviert. Sobald beide Signale UP und DOWN aktiviert sind, gehen die von den NAND-Gattern 131 und 133 abgegebenen Signale A2 und A3 auf hohen Pegel. Dadurch werden beide D-Flip-Flops 110 und 120 zurückgesetzt, und die von ihnen abgegebenen Signale UP und DOWN werden auf niedrigen Pegel deaktiviert.
  • Folglich wird beim Verzögerungsregelkreisaufbau entsprechend 1 der VCDL 10 eine Steuerspannung Vc zugeführt, die der Phasendifferenz zwischen dem Signal UP und DOWN entspricht, wodurch die VCDL 10 das Signal REFCLK um eine von der Steuerspannung Vc abhängige Zeitspanne weiter verzögert. Wie oben erläutert, erzeugt der erfindungsgemäße Phasendetektor 100 die Phasendifferenz-Detektionssignale UP und DOWN basierend auf einer Phasenbeziehung zwischen den beiden Taktsignalen REFCLK und FBCLK, wenn das Signal FBCLK dem Signal REFCLK voreilt. Wie aus den 6A und 6B ersichtlich, arbeitet der erfindungsgemäße Phasendetektor 100 selbst dann ordnungsgemäß, wenn das Signal RESETB aktiviert wird.
  • 6C veranschaulicht im Zeitablaufdiagramm Signale, die vom Phasendetektor 100 für den Fall abgegeben werden, dass das Hauptrücksetzsignal RESETB vor der Aktivierung des Referenztaktsignals REFCLK aktiviert wird, wenn die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK nacheilt.
  • Wie aus den 5 und 6C ersichtlich, befindet sich das vom Inverter 144 abgegebene Signal auf hohem Pegel, wenn das Signal RESETB auf niedrigem Pegel liegt. Da die Phase des Signals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK nacheilt, liegt das Signal REFCLK bei einer ansteigenden Flanke des Signals FBCLK auf hohem Pegel. Daher nimmt das vom D-Flip-Flop 141 abgegebene Signal A1 hohen Pegel an, und das vom Inverter 142 abgegebene Signal geht auf niedrigen Pegel. Folglich geht das vom NAND-Gatter 143 abgegebene, erste Anfangszustands-setzsignal INTL1 auf hohen Pegel, und das vom NAND-Gatter 145 abgegebene, zweite Anfangszustandssetzsignal INTL2 geht auf niedrigen Pegel. Das vom NAND-Gatter 133 abgegebene Signal A3 liegt unabhängig vom Ausgangssignal des NAND-Gatters 132 auf hohem Pegel, wodurch das D-Flip-Flop 120 zurückgesetzt wird. Sobald das vom D-Flip-Flop 120 abgegebene Phasendetektionssignal DOWN auf niedrigen Pegel geht, geht das vom NAND-Gatter 132 abgegebene Signal auf hohen Pegel. Das NAND-Gatter 131 gibt ein Signal auf niedrigem Pegel ab, so dass das D-Flip-Flop 110 mit dem Signal REFCLK synchronisiert wird, um das Phasendetektionssignal UP auf hohem Pegel abzugeben. Wenn die Phase des Signals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK nacheilt, wird das Signal UP auf hohen Pegel gesetzt, und das Signal DOWN wird auf niedrigen Pegel gesetzt, während das Signal RESETB auf niedrigem Pegel liegt.
  • Wenn das Signal RESETB hohen Pegel annimmt, geht das Ausgangssignal des Inverters 144 auf niedrigen Pegel. Dadurch geben die NAND-Gatter 143 und 145 das erste bzw. zweite Anfangszustandssetzsignal INTL1, INTL2 auf hohem Pegel ab. Die NAND-Gatter 131 und 133 arbeiten abhängig vom Ausgangssignal des NAND-Gatters 132. Da das Signal UP anfänglich auf hohen Pegel und das Signal DOWN anfänglich auf niedrigen Pegel gesetzt sind, gibt das NAND-Gatter 132 ein Signal auf hohem Pegel ab. Dementsprechend geht das vom NAND-Gatter 133 abgegebene Signal A3 von hohem auf niedrigen Pegel über, und das vom NAND-Gatter 131 abgegebene Signal A2 bleibt auf niedrigem Pegel. Dies erlaubt es den beiden D-Flip-Flops 110 und 120, in einem nicht rückgesetzten Zustand zu arbeiten.
  • Da das Phasendifferenz-Detektionssignal UP auf hohen Pegel gesetzt ist, verbleibt es an einer ersten ansteigenden Flanke des Signals REFCLK nach Aktivierung des Signals RESETB auf hohem Pegel. Das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN wird dann an einer ansteigenden Flanke des Signals FBCLK auf hohen Pegel aktiviert. Wenn sich beide Signale UP und DOWN auf hohem Pegel befinden, geht das vom NAND-Gatter 132 abgegebene Signal auf niedrigen Pegel. Dadurch gibt das NAND-Gatter 131 das Signal A2 auf hohem Pegel ab, und das NAND-Gatter 132 gibt das Signal A3 ebenfalls auf hohem Pegel ab. Beide D-Flip-Flops 110 und 120 werden zurückgesetzt, und die beiden von ihnen abgegebenen Signale UP und DOWN gehen auf niedrigen Pegel. Das Signal UP wird bei einer zweiten ansteigenden Flanke des Signals REFCLK nach Aktivierung des Signals RESETB auf hohen Pegel aktiviert, und das Signal DOWN wird bei einer zweiten ansteigenden Flanke des Signals FBCLK auf hohen Pegel aktiviert. Wenn die Signale UP und DOWN beide aktiviert sind, gehen die von den D-Flip-Flops 110 und 120 abgegebenen Signale A2 und A3 auf hohen Pegel. Die D-Flip-Flops 110 und 120 werden zurückgesetzt, und die beiden von ihnen abgegebenen Signale UP und DOWN werden auf niedrigem Pegel deaktiviert.
  • Folglich wird der VCDL 10 beim Verzögerungsregelkreisaufbau gemäß 1 eine der Phasendifferenz zwischen den Signalen UP und DOWN entsprechende Steuerspannung Vc zugeführt, so dass die VCDL 10 die Verzögerungszeit um ein von der Steuerspannung Vc abhängiges Maß verkürzt.
  • 6D veranschaulicht im Zeitablaufdiagramm vom Phasendetektor 100 abgegebene Signale für den Fall, dass das Hauptrücksetzsignal RESETB zwischen ansteigenden Flanken des Referenztaktsignals REFCLK und des Rückkopplungstaktsignals FBCLK einen Übergang zeigt und die Phase des Signals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK nacheilt.
  • Wie aus den 5 und 6D ersichtlich, werden die von den NAND-Gattern 131 und 133 abgegebenen Signale A2 und A3 wie im obigen Fall von 6C auf niedrigen bzw. hohen Pegel gesetzt. Dadurch wird das D-Flip-Flop 120 zurückgesetzt und gibt ein Phasendifferenz-Detektionssignal auf niedrigem Pegel ab. Das D-Flip-Flop 110 wird mit dem Referenztaktsignal REFCLK synchronisiert und gibt das Phasendifferenz-Detektionssignal UP auf hohem Pegel ab.
  • Wenn das Signal RESETB auf hohen Pegel übergeht, geht das Ausgangssignal des Inverters 144 auf niedrigen Pegel. Dadurch geben die NAND-Gatter 143 und 145 das erste bzw. zweite Anfangszustandssetzsignal INT1, INT2 auf hohem Pegel ab. Dementsprechend arbeiten die NAND-Gatter 131 und 133 abhängig vom Ausgangssignal des NAND-Gatters 132. Da das Signal UP anfänglich auf hohen Pegel und das Sig nal DOWN anfänglich auf niedrigen Pegel gesetzt werden, befindet sich das vom NAND-Gatter 132 abgegebene Signal auf hohem Pegel. Demgemäß bleibt das vom NAND-Gatter 131 abgegebene Signal A2 auf niedrigem Pegel, während das vom NAND-Gatter 133 abgegebene Signal A3 auf niedrigen Pegel geht. Dies erlaubt es den beiden D-Flip-Flops 110 und 120, in einem nicht rückgesetzten Zustand zu arbeiten.
  • Da das Signal UP anfänglich auf hohen Pegel gesetzt ist, wird das Signal DOWN bei einer ersten ansteigenden Flanke des Signals FBCLK nach Aktivierung des Signals RESETB auf hohen Pegel aktiviert. Sobald beide Signale UP und DOWN aktiviert sind, gehen die von den NAND-Gattern 131 und 133 abgegebenen Signale A2 und A3 beide auf hohen Pegel. Folglich werden beide D-Flip-Flops 110 und 120 zurückgesetzt, und die beiden von ihnen abgegebenen Signale UP und DOWN werden auf niedrigen Pegel deaktiviert.
  • Das Signal UP wird auf hohen Pegel an einer ersten ansteigenden Flanke des Referenztaktsignals REFCLK nach einem Übergang des Signals RESETB von niedrigem auf hohen Pegel aktiviert, und das Signal DOWN wird auf einen hohen Pegel an einer zweiten ansteigenden Flanke des Rückkopplungstaktsignals FBCLK nach einem Übergang des Signals RESETB von niedrigem auf hohen Pegel aktiviert. Sobald die beiden Signale UP und DOWN aktiviert sind, gehen die von den NAND-Gattern 131 und 133 abgegebenen Signale A2 und A3 auf hohen Pegel. Dadurch werden beide D-Flip-Flops 110 und 120 zurückgesetzt, und die beiden von ihnen abgegebenen Signale UP und DOWN werden auf niedrigen Pegel deaktiviert.
  • Folglich wird beim Verzögerungsregelkreisaufbau nach Art von 1 eine der Phasendifferenz zwischen dem Signal UP und DOWN entsprechende Steuerspannung Vc an die VDCL 10 derart angelegt, dass letz tere die Verzögerungszeit um ein von der Steuerspannung Vc abhängiges Maß verkürzt.
  • Wie oben erläutert, legt der erfindungsgemäße Phasendetektor 100 die Phasendifferenz-Detektionssignale UP und DOWN basierend auf einer Phasenbeziehung zwischen den beiden Taktsignalen REFCLK und FBCLK fest, wenn das Signal REFCLK dem Rückkopplungstaktsignal FBCLK in der Phase voreilt. Wie aus den 6C und 6D ersichtlich, arbeitet der erfindungsgemäße Phasendetektor 100 unabhängig von dem Zeitpunkt korrekt, zu dem das Signal RESETB während des Zyklus der Signale REFCLK und FBCLK aktiviert wird.
  • 7 veranschaulicht im Blockschaltbild einen weiteren erfindungsgemäßen Phasendetektor 200, der D-Flip-Flops 210 und 220, eine Rücksetzsteuerlogik 230 und eine Anfangszustands-Einstelllogik 240 aufweist. Die D-Flip-Flops 210 und 220 und die Rücksetzsteuerlogik 230 weisen dieselbe Schaltkreiskonfiguration wie die D-Flip-Flops 110 und 120 und die Rücksetzsteuerlogik 130 von 5 auf. Wie die Anfangszustands-Einstelllogik 140 von 5 umfasst auch die Anfangszustands-Einstelllogik 240 ein D-Flip-Flop 241, NAND-Gatter 243 und 245 sowie Inverter 242 und 244. Im Unterschied zur Anfangszustands-Einstelllogik 140 wird jedoch im Ausführungsbeispiel von 7 das Rückkopplungstaktsignal FBCLK an den Eingangsanschluss D angelegt, während das Referenztaktsignal REFCLK an den Taktanschluss CK angelegt wird, d.h. die beiden Taktsignale werden im Ausführungsbeispiel von 7 gegenüber demjenigen von 5 vertauscht angelegt. Des weiteren wird das vom NAND-Gatter 243 abgegebene Signal an einen Eingang eines NAND-Gatters 233 der Rücksetzsteuerlogik als das zweite Anfangszustandssetzsignal INTL2 angelegt, und das vom NAND-Gatter 245 abgegebene Signal wird einem Eingang eines NAND-Gatters 231 der Rücksetzsteuerlogik 230 als das erste Anfangszustandssetzsignal INTL1 zugeführt. Bis auf diese Vertauschung entspricht das Ausfüh rungsbeispiel von 7 demjenigen von 5, so dass zur detaillierteren Beschreibung des Aufbaus und der Funktionsweise auf die obigen Erläuterungen zu den 5 bis 6D verwiesen werden kann.
  • Wenn im Ausführungsbeispiel von 7 die Phase des Rückkopplungstaktsignals FBCLK derjenigen des Referenztaktsignals REFCLK voreilt, geht das vom D-Flip-Flop 241 abgegebene Signal A1 auf hohen Pegel. Dadurch gelangt das vom NAND-Gatter 243 abgegebene, zweite Anfangszustandssetzsignal INTL2 auf hohen Pegel, während das Hauptrücksetzsignal RESETB auf niedrigem Pegel liegt, und das vom NAND-Gatter 245 abgegebene, erste Anfangszustandssetzsignal INTL1 gelangt auf niedrigen Pegel. Das vom NAND-Gatter 231 abgegebene Signal A2 geht auf hohen Pegel, wodurch das D-Flip-Flop 210 zurückgesetzt wird und das Phasendetektionssignal UP auf niedrigen Pegel gesetzt wird. Da das Signal UP auf niedrigen Pegel gesetzt wurde, geht das vom NAND-Gatter 232 abgegebene Signal auf hohen Pegel, während das vom NAND-Gatter 233 abgegebene Signal A3 auf niedrigen Pegel geht. Dementsprechend gibt das D-Flip-Flop 220 das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN, das mit dem Rückkopplungstaktsignal FBCLK synchronisiert ist, auf hohem Pegel ab.
  • Mit anderen Worten wird, wenn die Phase des Signals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK voreilt, das Signal UP auf niedrigen Pegel gesetzt und das Signal DOWN auf hohen Pegel, während sich das Signal RESETB auf niedrigem Pegel befindet. Dadurch arbeitet der Phasendetektor 200 unabhängig vom Zeitpunkt, zu dem das Hauptrücksetzsignal RESETB aktiviert wird, korrekt.
  • Wenn andererseits die Phase des Signals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK nacheilt, geht das vom D-Flip-Flop 241 abgegebene Signal A1 auf niedrigen Pegel, während sich das Signal RESETB auf niedrigem Pegel befindet. Daher gelangt das vom NAND-Gatter 243 abge gebene Signal INTL2 auf niedrigen Pegel, und das vom NAND-Gatter 245 abgegebene Signal INTL1 gelangt auf hohen Pegel. Das vom NAND-Gatter 233 abgegebene Signal A3 geht auf hohen Pegel, so dass das D-Flip-Flop 220 zurückgesetzt wird und das Phasendifferenz-Detektionssignal DOWN auf niedrigen Pegel gesetzt wird. Wenn das Signal DOWN auf niedrigen Pegel gesetzt ist, geht das vom NAND-Gatter 232 abgegebene Signal auf hohen Pegel, und das NAND-Gatter 231 gibt das Signal A2 auf niedrigem Pegel ab. Somit gibt das D-Flip-Flop 210 das Phasendifferenz-Detektionssignal UP auf hohem Pegel ab, das mit dem Referenztaktsignal REFCLK synchronisiert ist.
  • Wenn die Phase des Signals FBCLK derjenigen des Signals REFCLK nacheilt, wird das Signal UP auf hohen Pegel und das Signal DOWN auf niedrigen Pegel gesetzt, während das Signal RESETB einen niedrigen Pegelzustand beibehält. Dadurch arbeitet der Phasendetektor 200 unabhängig vom Zeitpunkt fehlerfrei, zu dem das Signal RESETB auf hohen Pegel übergeht.
  • Wie oben erläutert, legt der mit dem erfindungsgemäßen Pegeldetektor ausgerüstete Verzögerungsregelkreis den Zustand von Phasendifferenz-Detektionssignalen unabhängig von der Phasenbeziehung zwischen dem Referenztaktsignal und dem Rückkopplungstaktsignal fest. Für die Flip-Flops 110, 120 bzw. 210, 220 des Pegeldetektors, welche die Signals UP und DOWN liefern, werden unabhängige und separate Rücksetzsignale bereitgestellt. Daher ist der erfindungsgemäße Phasendetektor in der Lage, unabhängig vom Zeitpunkt, zu dem das Hauptrücksetzsignal auf hohen Pegel übergeht, korrekt zu arbeiten. Auf diese Weise wird ein fehlerfreier Phasenregelbetrieb sichergestellt.

Claims (13)

  1. Phasendetektor für einen Verzögerungsregelkreis zur Kompensation einer Phasendifferenz zwischen einem ersten Taktsignal (REFCLK) und einem zweiten Taktsignal (FBCLK), mit folgenden Elementen: – einem ersten Flip-Flop (110), welches das erste Taktsignal (REFCLK) empfängt, ein erstes Ausgangssignal (UP) erzeugt und durch ein erstes Rücksetzsignal (A2) zurückgesetzt wird, – einem zweiten Flip-Flop (120), welches das zweite Taktsignal (FBCLK) empfängt, ein zweites Ausgangssignal (DOWN) erzeugt und von einem zweiten Rücksetzsignal (A3) zurückgesetzt wird, wobei das erste und zweite Rücksetzsignal von separaten Logikpfaden stammen, und – einem Rücksetzschaltkreis (130) zur Erzeugung des ersten Rücksetzsignals basierend auf einer Kombination des ersten und zweiten Ausgangssignals und eines ersten Initialisierungssignals (INTL1) und zur Erzeugung des zweiten Rücksetzsignals basierend auf einer Kombination des ersten und zweiten Ausgangssignals und eines zweiten Initialisierungssignals (INTL2), – wobei das erste und das zweite Initialisierungssignal basierend auf einem extern zugeführten Hauptrücksetzsignal (RESETB) erzeugt werden.
  2. Phasendetektor nach Anspruch 1, weiter dadurch gekennzeichnet, dass das erste und zweite Initialisierungssignal während eines Initialisierungsvorgangs komplementär sind.
  3. Phasendetektor nach Anspruch 1 oder 2, weiter dadurch gekennzeichnet, dass das erste Taktsignal ein Referenztaktsignal beinhaltet und das zweite Taktsignal ein Rückkopplungstaktsignal beinhaltet.
  4. Phasendetektor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, weiter dadurch gekennzeichnet, dass das erste Ausgangssignal ein Signal (UP) beinhaltet, das im Verzögerungsregelkreis zur Verringerung der Verzögerung des Taktsignals verwendet wird, und das zweite Ausgangssignal ein Signal (DOWN) beinhaltet, das im Verzögerungsregelkreis zur Erhöhung der Verzögerung des ersten Taktsignals verwendet wird.
  5. Phasendetektor nach einem der Ansprüche 1 bis 4, weiter dadurch gekennzeichnet, dass der Rücksetzschaltkreis folgende Elemente enthält: – einen ersten Logikschaltkreis (132) zur Durchführung einer Logikverknüpfung des ersten und zweiten Ausgangssignals zur Bereitstellung eines ersten Zwischensignals, – einen zweiten Logikschaltkreis (131) zur Durchführung einer Logikoperation des ersten Zwischensignals und des ersten Initialisierungssignals zur Erzeugung des ersten Rücksetzsignals und – einen dritten Logikschaltkreis (133) zur Durchführung einer Logikoperation des ersten Zwischensignals und des zweiten Initialisierungssignals zur Erzeugung des zweiten Rücksetzsignals.
  6. Phasendetektor nach einem der Ansprüche 1 bis 5, weiter gekennzeichnet durch einen Initialisierungsschaltkreis (140) zur Erzeugung des ersten und zweiten Initialisierungssignals mit folgenden Elementen: – einem dritten Flip-Flop (141) zum Empfangen des ersten und zweiten Taktsignals und Erzeugen eines zweiten Zwischensignals (A1), – einem vierten Logikschaltkreis (143) zur Durchführung einer Logikoperation des zweiten Zwischensignals mit dem extern erzeugten Hauptrücksetzsignal (RESETB) zur Erzeugung des ersten Initialisierungssignals und – einem fünften Logikschaltkreis (145) zur Durchführung einer Logikoperation des zweiten Zwischensignals mit dem extern erzeugten Hauptrücksetzsignal zur Erzeugung des zweiten Initialisierungssignals.
  7. Phasendetektor nach einem der Ansprüche 1 bis 6, weiter dadurch gekennzeichnet, dass das erste, zweite und/oder dritte Flip-Flop ein D-Flip-Flop ist.
  8. Phasendetektor nach Anspruch 7, weiter dadurch gekennzeichnet, dass das erste Taktsignal an einen D-Eingang des dritten D-Flip-Flops und das zweite Taktsignal an einen Takteingang des dritten D-Flip-Flops gekoppelt sind.
  9. Phasendetektor nach Anspruch 7, weiter dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Taktsignal an einen D-Eingang des dritten D-Flip- Flops und das erste Taktsignal an einen Takteingang des dritten D-Flip-Flops gekoppelt sind.
  10. Phasendetektor nach einem der Ansprüche 1 bis 9, weiter dadurch gekennzeichnet, dass das erste Taktsignal an einen Takteingang des ersten D-Flip-Flops und das zweite Taktsignal an einen Takteingang des zweiten D-Flip-Flops gekoppelt sind und die D-Eingänge des ersten und zweiten D-Flip-Flops jeweils an eine Spannungsquelle (VCC) gekoppelt sind, die eine binäre Eins repräsentiert.
  11. Verfahren zur Kompensation einer Phasendifferenz zwischen einem ersten Taktsignal (REFCLK) und einem zweiten Taktsignal (FBCLK), mit folgenden Schritten: – Empfangen des ersten Taktsignals und Erzeugen eines ersten Ausgangssignals (UP) an einem ersten Flip-Flop (110), das durch ein erstes Rücksetzsignal (A2) zurückgesetzt wird, – Empfangen des zweiten Taktsignals (FBCLK) und Erzeugen eines zweiten Ausgangssignals (DOWN) an einem zweiten Flip-Flop (120), das durch ein zweites Rücksetzsignal (A3) zurückgesetzt wird, wobei das erste und zweite Rücksetzsignal von separaten Logikpfaden stammen, und – Erzeugen des ersten Rücksetzsignals in einem Rücksetzschaltkreis (130) basierend auf einer Kombination des ersten und zweiten Ausgangssignals und eines ersten Initialisierungssignals (INTL1) und Erzeugen des zweiten Rücksetzsignals basierend auf einer Kombination des ersten und zweiten Ausgangssignals und eines zweiten Initialisierungssignals (INTL2), – wobei das erste und das zweite Initialisierungssignal basierend auf einem extern zugeführten Hauptrücksetzsignal (RESETB) erzeugt werden.
  12. Verfahren nach Anspruch 11, weiter dadurch gekennzeichnet, dass das Erzeugen des ersten und zweiten Rücksetzsignals folgende Schritte umfasst: – Durchführen einer Logikoperation mit dem ersten und zweiten Ausgangssignal zur Bereitstellung eines ersten Zwischensignals, – Durchführen einer Logikoperation mit dem ersten Zwischensignal und dem ersten Initialisierungssignal zur Erzeugung des ersten Rücksetzsignals und – Durchführen einer Logikoperation mit dem ersten Zwischensignal und dem zweiten Initialisierungssignal zur Erzeugung des zweiten Rücksetzsignals.
  13. Verfahren nach Anspruch 11 oder 12, weiter gekennzeichnet durch folgende Schritte zur Erzeugung des ersten und zweiten Initialisierungssignals: – Empfangen des ersten und zweiten Taktsignals und Erzeugen eines zweiten Zwischensignals an einem dritten Flip-Flop, – Durchführen einer Logikoperation mit dem zweiten Zwischensignal und dem extern erzeugten Hauptrücksetzsignal zur Erzeugung des ersten Initialisierungssignals und – Durchführen einer Logikoperation mit dem zweiten Zwischensignal und dem extern erzeugten Hauptrücksetzsignal zur Erzeugung des zweiten Initialisierungssignals.
DE10253879A 2001-11-13 2002-11-11 Phasendetektor und Verfahren zur Taktsignal-Phasendifferenzkompensation Expired - Fee Related DE10253879B4 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/012,831 US6683478B2 (en) 2001-11-13 2001-11-13 Apparatus for ensuring correct start-up and phase locking of delay locked loop
US10/012831 2001-11-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10253879A1 DE10253879A1 (de) 2003-10-02
DE10253879B4 true DE10253879B4 (de) 2006-05-11

Family

ID=21756914

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10253879A Expired - Fee Related DE10253879B4 (de) 2001-11-13 2002-11-11 Phasendetektor und Verfahren zur Taktsignal-Phasendifferenzkompensation

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6683478B2 (de)
JP (1) JP3940917B2 (de)
KR (1) KR100440452B1 (de)
DE (1) DE10253879B4 (de)
TW (1) TWI289974B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011089867B4 (de) * 2011-01-13 2020-04-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Digitaler Phasenfrequenzdetektor, Verfahren zum Detektieren einer Phase und einer Frequenz eines Ausgabesignals und digitale Phasenregelschleife

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3904859B2 (ja) * 2001-07-30 2007-04-11 シャープ株式会社 パワーオンリセット回路およびこれを備えたicカード
US6856558B1 (en) 2002-09-20 2005-02-15 Integrated Device Technology, Inc. Integrated circuit devices having high precision digital delay lines therein
TW586270B (en) * 2003-04-08 2004-05-01 Realtek Semiconductor Corp Phase frequency-detecting circuit for phase lock loop
TW583837B (en) * 2003-05-06 2004-04-11 Realtek Semiconductor Corp Phase frequency detector applied in digital PLL system
US7477716B2 (en) * 2003-06-25 2009-01-13 Mosaid Technologies, Inc. Start up circuit for delay locked loop
US20050052252A1 (en) * 2003-07-15 2005-03-10 Galibois Joseph F. Synchronizing unit for redundant system clocks
US6998889B2 (en) * 2003-08-11 2006-02-14 Rambus Inc. Circuit, apparatus and method for obtaining a lock state value
US7046042B1 (en) * 2003-08-11 2006-05-16 Marvell Semiconductor Israel Ltd. Phase detector
KR100526353B1 (ko) * 2003-09-02 2005-11-08 삼성전자주식회사 위상 비교 방법 및 이를 수행하기 위한 위상 비교기
US6867627B1 (en) 2003-09-16 2005-03-15 Integrated Device Technology, Inc. Delay-locked loop (DLL) integrated circuits having high bandwidth and reliable locking characteristics
CN1981441B (zh) * 2004-04-02 2010-09-08 卡本研究有限公司 具有d触发器的相频检测器
US7042260B2 (en) 2004-06-14 2006-05-09 Micron Technology, Inc. Low power and low timing jitter phase-lock loop and method
US7154304B2 (en) * 2004-07-13 2006-12-26 Semtech Corporation Enhanced phase and frequency detector that improves performance in the presence of a failing clock
US7057432B2 (en) * 2004-10-07 2006-06-06 International Business Machines Corporation Low power high frequency phase detector
CN100462897C (zh) * 2004-11-30 2009-02-18 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 具重启控制电路的计算机系统
US7190201B2 (en) 2005-02-03 2007-03-13 Mosaid Technologies, Inc. Method and apparatus for initializing a delay locked loop
US7428284B2 (en) * 2005-03-14 2008-09-23 Micron Technology, Inc. Phase detector and method providing rapid locking of delay-lock loops
KR100699851B1 (ko) * 2005-06-27 2007-03-27 삼성전자주식회사 트랙킹 신호 발생 장치 및 디지털 위상 제어기
US7282972B2 (en) * 2005-07-29 2007-10-16 Micron Technology, Inc. Bias generator with feedback control
KR100672033B1 (ko) * 2005-10-14 2007-01-19 삼성전자주식회사 두 개의 입력 기준 클럭을 가지는 지연동기루프회로, 이를포함하는 클럭 신호 발생 회로 및 클럭 신호 발생 방법
JP5134779B2 (ja) * 2006-03-13 2013-01-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 遅延同期回路
KR100878259B1 (ko) * 2007-04-10 2009-01-13 삼성전자주식회사 위상 검출기, 이를 포함하는 지연 고정 루프 및 이를구동하는 방법
US7728676B2 (en) 2007-09-17 2010-06-01 Atheros Communications, Inc. Voltage-controlled oscillator with control range limiter
US7728631B2 (en) * 2008-05-15 2010-06-01 Atheros Communications, Inc. Phase frequency detector with pulse width control circuitry
US7839177B1 (en) 2008-11-07 2010-11-23 Altera Corporation Techniques for phase detection with fast reset
JP2011166232A (ja) 2010-02-04 2011-08-25 Toshiba Corp 位相検出回路およびpll回路
US8350596B1 (en) * 2010-03-26 2013-01-08 Altera Corporation Clock loss detection circuit for PLL clock switchover
KR101899084B1 (ko) * 2011-10-20 2018-09-18 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 집적회로 및 그의 구동 방법
FR2996968A1 (fr) * 2012-10-11 2014-04-18 St Microelectronics Sa Circuit de protection de rapport cyclique
US9395698B2 (en) * 2014-10-14 2016-07-19 Intel Corporation Bang-bang time to digital converter systems and methods
US10581439B1 (en) * 2019-06-28 2020-03-03 Nxp B.V. Clock synchronization in an ADPLL
CN112910459B (zh) * 2021-01-29 2022-05-17 华中科技大学 一种用于产生四相延时信号的方法及dll电路
US11595047B1 (en) * 2022-03-03 2023-02-28 Ciena Corporation Apparatus and methods for a phase frequency detector with a wide operational range

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4105947A (en) * 1977-09-16 1978-08-08 Rca Corporation Pulse wave phase and frequency detector
JPH06132817A (ja) * 1992-10-19 1994-05-13 Fujitsu Ltd 比較回路及びこれを用いたpll回路
EP0599372A1 (de) * 1992-11-18 1994-06-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. PLL-Schaltung mit einem stabilen Phasendiskriminator
US5539345A (en) * 1992-12-30 1996-07-23 Digital Equipment Corporation Phase detector apparatus

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5740213A (en) 1994-06-03 1998-04-14 Dreyer; Stephen F. Differential charge pump based phase locked loop or delay locked loop
US5663665A (en) 1995-11-29 1997-09-02 Cypress Semiconductor Corp. Means for control limits for delay locked loop
US5923715A (en) 1996-12-19 1999-07-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Digital phase-locked loop circuit
US5936430A (en) * 1997-07-21 1999-08-10 Hewlett-Packard Company Phase detection apparatus and method
US5892380A (en) 1997-08-04 1999-04-06 Motorola, Inc. Method for shaping a pulse width and circuit therefor
US5939901A (en) * 1997-09-22 1999-08-17 Northern Telecom Limited Synthesizable flip-flop based phase-frequency comparator for phase-locked loops
JP2000049882A (ja) 1998-07-30 2000-02-18 Nec Corp クロック同期回路
US6150889A (en) 1998-08-03 2000-11-21 Motorola, Inc. Circuit and method for minimizing recovery time
JP2002522941A (ja) 1998-08-04 2002-07-23 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ ハーモニック同期検出を備える遅延ロックループ
KR100301043B1 (ko) * 1998-08-08 2001-09-06 윤종용 지연동기루프의위상비교기및지연동기방법
KR20000026330A (ko) * 1998-10-20 2000-05-15 윤종용 지연 동기 루프 및 그의 동작방법
US6448820B1 (en) * 1998-11-04 2002-09-10 Altera Corporation Fast locking phase frequency detector
DE19859515C1 (de) * 1998-12-22 2000-04-20 Siemens Ag Digitaler Phasen-Frequenz-Detektor
US6157218A (en) * 1999-07-14 2000-12-05 Realtex Semiconductor Corp. Phase-frequency detection with no dead zone

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4105947A (en) * 1977-09-16 1978-08-08 Rca Corporation Pulse wave phase and frequency detector
JPH06132817A (ja) * 1992-10-19 1994-05-13 Fujitsu Ltd 比較回路及びこれを用いたpll回路
EP0599372A1 (de) * 1992-11-18 1994-06-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. PLL-Schaltung mit einem stabilen Phasendiskriminator
US5539345A (en) * 1992-12-30 1996-07-23 Digital Equipment Corporation Phase detector apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011089867B4 (de) * 2011-01-13 2020-04-02 Samsung Electronics Co., Ltd. Digitaler Phasenfrequenzdetektor, Verfahren zum Detektieren einer Phase und einer Frequenz eines Ausgabesignals und digitale Phasenregelschleife

Also Published As

Publication number Publication date
TWI289974B (en) 2007-11-11
KR100440452B1 (ko) 2004-07-14
KR20030039994A (ko) 2003-05-22
DE10253879A1 (de) 2003-10-02
JP3940917B2 (ja) 2007-07-04
US20030090296A1 (en) 2003-05-15
US6683478B2 (en) 2004-01-27
JP2003209464A (ja) 2003-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10253879B4 (de) Phasendetektor und Verfahren zur Taktsignal-Phasendifferenzkompensation
DE102008008050B4 (de) Auf digitaler Verzögerungsleitung basierender Frequenz-Synthesizer
DE102011088719B4 (de) Digitales Phasenregelschleifensystem und Verfahren
DE60107743T2 (de) Einstellung der Takt-Rate eines periodischen Signal mit steigenden und fallenden Flanken-DLL
DE60003247T2 (de) Ladungspumpenschaltkreis mit Schaltung zur Verringerung von Leckströmen
DE10252491A1 (de) Verzögerungsregelkreisschaltung und -verfahren
DE102007009299B4 (de) Verzögerungsregelkreis und Verfahren zum Erzeugen eines Ausgangstaktsignals
DE19700017A1 (de) Swallowzähler mit Modulsignalausgabesteuerung
DE102004002437B4 (de) Verzögerungsregelkreis, integrierte Schaltung und Betriebsverfahren
DE19852457C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Phasendrehung in einem Phasenregelkreis
DE19912967A1 (de) Verzögerungsregelkreisschaltung und Steuerverfahren hierfür
DE3022746A1 (de) Digitale phasenkomparatorschaltung
DE60205518T2 (de) Verfahren zum Umschalten der Betriebsart einer PLL-Schaltung und Schaltung zur Steuerung der Betriebsart einer PLL-Schaltung
DE19625185C2 (de) Präzisionstaktgeber
DE102006024471A1 (de) Umschaltbarer Phasenregelkreis sowie Verfahren zum Betrieb eines umschaltbaren Phasenregelkreises
DE102006051763A1 (de) Phasenregelschleife zur Taktgewinnung
DE102023107496A1 (de) Unabhängiges takten eines digitalen schleifenfilters durch zeit-digital-wandler in digitaler phasenregelschleife
DE19910885C2 (de) Schaltungsanordnung zum störungsfreien Initialisieren von Delay-Locked-Loop-Schaltungen mit Fast-Lock
DE102006024469B3 (de) Phasenregelkreis zur Erzeugung mehrerer Ausgangssignale
EP1525662B1 (de) Digital gesteuerter oszillator
DE60303985T2 (de) Phasenregelkreis zum Reduzieren des Phasenfehlers im stationären Zustand
DE60112199T2 (de) Leistungsarmer phasen- und frequenzdetektor mit ladungspumpe und ohne totbereich
DE10310065B4 (de) Verfahren und Vorrichtung für eine Verzögerungsverriegelungsschleife
DE102006013782A1 (de) Sigma-Delta-Modulator und Verfahren zur Sigma-Delta-Modulation
DE102013101933A1 (de) Verfahren und Anordnung zur Erzeugung eines Taktsignals mittels eines Phasenregelkreises

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8364 No opposition during term of opposition
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20120601