DE10246738B4 - Leseverstärker mit unabhängiger Rückschreibefähigkeit für ferroelektrische Direktzugriffsspeicher - Google Patents
Leseverstärker mit unabhängiger Rückschreibefähigkeit für ferroelektrische Direktzugriffsspeicher Download PDFInfo
- Publication number
- DE10246738B4 DE10246738B4 DE10246738A DE10246738A DE10246738B4 DE 10246738 B4 DE10246738 B4 DE 10246738B4 DE 10246738 A DE10246738 A DE 10246738A DE 10246738 A DE10246738 A DE 10246738A DE 10246738 B4 DE10246738 B4 DE 10246738B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- channel transistor
- drain
- sense amplifier
- write
- output signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/067—Single-ended amplifiers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/22—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using ferroelectric elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/062—Differential amplifiers of non-latching type, e.g. comparators, long-tailed pairs
Abstract
Erfassungsschaltung, die eine unabhängige Rückschreibefähigkeit aufweist, mit folgenden Merkmalen:
einem Leseverstärker (14), der ein Eingangssignal mit einem Referenzsignal vergleicht und ein Ausgangssignal erzeugt; wobei der Leseverstärker (14) folgende Merkmale umfaßt:
einen p-Kanal-Transistor, der eine Source, die mit Leistung verbunden ist, und einen ersten Drain aufweist;
einen ersten und einen zweiten Schenkel, wobei jeder Schenkel mit dem Drain des p-Kanal-Transistors und Masse verbunden ist, wobei jeder Schenkel ferner folgende Merkmale umfaßt:
einen ersten p-Kanal-Transistor, der eine Source aufweist, die mit dem ersten Drain verbunden ist,
einen zweiten p-Kanal-Transistor, der eine Source aufweist, die mit dem Drain des ersten p-Kanal-Transistors an einem ersten Knoten verbunden ist, zwei n-Kanal-Transistoren, die parallel geschaltet sind, und deren Drains mit dem Drain des zweiten p-Kanal-Transistors an einem zweiten Knoten verbunden sind, und deren Sources mit Masse verbunden sind,
einen dritten n-Kanal-Transistor, der in Serie mit dem Gate des ersten p-Kanal-Transistors...
einem Leseverstärker (14), der ein Eingangssignal mit einem Referenzsignal vergleicht und ein Ausgangssignal erzeugt; wobei der Leseverstärker (14) folgende Merkmale umfaßt:
einen p-Kanal-Transistor, der eine Source, die mit Leistung verbunden ist, und einen ersten Drain aufweist;
einen ersten und einen zweiten Schenkel, wobei jeder Schenkel mit dem Drain des p-Kanal-Transistors und Masse verbunden ist, wobei jeder Schenkel ferner folgende Merkmale umfaßt:
einen ersten p-Kanal-Transistor, der eine Source aufweist, die mit dem ersten Drain verbunden ist,
einen zweiten p-Kanal-Transistor, der eine Source aufweist, die mit dem Drain des ersten p-Kanal-Transistors an einem ersten Knoten verbunden ist, zwei n-Kanal-Transistoren, die parallel geschaltet sind, und deren Drains mit dem Drain des zweiten p-Kanal-Transistors an einem zweiten Knoten verbunden sind, und deren Sources mit Masse verbunden sind,
einen dritten n-Kanal-Transistor, der in Serie mit dem Gate des ersten p-Kanal-Transistors...
Description
- Der digitale Differenzkomparator, der in
1 gezeigt ist, wird in dynamischen Direktzugriffspeichern (DRAM) sowie in statischen Direktzugriffsspeichern (SRAM) verwendet. Diese Schaltung findet jedoch üblicherweise in dem Datenpfad außerhalb des Speicherarrays selbst Anwendung und verstärkt das Datensignal, das von dem Speicherarray empfangen wird, und leitet dasselbe weiter zu dem Ausgangspuffer. Da diese Schaltung keine Fähigkeit aufweist, zurück auf die Eingangsknoten zu schreiben, und da sie um einiges komplexer als der herkömmliche Zwischenspeicher-Leseverstärker ist, der in2 gezeigt ist, findet sie normalerweise keine Anwendung in dem Speicherarray selbst. - Ferroelektrische Speicher sind gegenüber EEPROM und Flash-Speichern hinsichtlich einer Schreibzugriffszeit und eines Gesamtleistungsverbrauchs überlegen. Sie werden in Anwendungen verwendet, in denen ein nichtflüchtiger Speicher mit diesen Merkmalen erforderlich ist, z. B. Digitalkameras und berührungsfreien Smart-Cards. Berührungsfreie Smart-Cards benötigen nichtflüchtige Speicher mit einem niedrigen Leistungsverbrauch, da sie nur eine elektromagnetische Kopplung verwenden, um die elektronischen Chips auf der Karte hochzufahren. Digitalkameras erfordern sowohl einen niedrigen Leistungsverbrauch als auch schnelle häufige Schreiboperationen, um ein gesamtes Bild in weniger als 0,1 Sekunden in den Speicher zu speichern und zurückzuspeichern.
- Ein typischer Lese-Zugriff auf einen ferroelektrischen Speicher besteht aus einem Schreiben-Zugriff, gefolgt durch ein Erfassen. Zur Darstellung wird eine „0" in den ferroelektrischen Kondensator geschrieben, um den ursprünglichen Dateninhalt der Speicherzelle zu entdecken. Wenn der ursprüngliche Inhalt der Speicherzelle eine „1" ist, kehrt das Schreiben einer „0" die Richtung der Polarisierung in dem ferroelektrischen Kondensator um. Dies induziert eine große Stromspitze auf dem Erfassungsdraht. Andererseits gibt es keine Stromspitze auf dem Erfassungsdraht, wenn der ursprüngliche Inhalt des ferroelektrischen Kondensators ebenfalls eine „0" war. Deshalb werden durch ein Erfassen des Vorliegens einer Stromspitze auf dem Erfassungsdraht die ursprünglichen Daten des ferroelektrischen Kondensators, auf den zugegriffen wird, bestimmt.
- Die Lese-Operation ist, wie beschrieben wurde, destruktiv, da eine „0" in jede Speicherzelle geschrieben wird, auf die für eine Lese-Operation zugegriffen wird. Die ursprünglichen Daten jedoch werden in dem Leseverstärker gespeichert und können auch wieder in der Speicherzelle, auf die zugegriffen wird, zurückgespeichert werden. Anders ausgedrückt ist ein Lesen-Zugriff erst nach dem zweiten Schreiben vollständig, das die ursprünglichen Daten zurückspeichert.
- Aus der
US 5,031,143 ist eine Erfassungsschaltung für ferroelektrische Speichervorrichtungen bekannt, welche einen Leseverstärker und Rückschreibeblock hat. Der Leseverstärker vergleicht ein Eingangssignal mit einem Referenzsignal und erzeugt ein Ausgangssignal. Der Rückschreibeblock weist ein Aktivierungssignal und ein Rückschreibeausgangssignal auf. Das Ausgangsignal des Leseverstärkers ist mit dem Rückschreibeblock gekoppelt. - Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Erfassungsschaltung und einen Leseverstärker zu schaffen, die ein schnelles, energiesparendes Erfassen bzw. Lesen von Daten ermöglichen.
- Diese Aufgabe wird durch Erfassungsschaltungen nach den Patentansprüchen 1, 2 und 3 sowie durch einen Leseverstärker nach Anspruch 4 gelöst.
- Eine Erfassungsschaltung mit einer unabhängigen Rückschreibefähigkeit umfaßt einen Leseverstärker, der ein Eingangssignal und ein Referenzsignal empfängt, und einen Tri-State-fähigen Rückschreibeblock, der ein Schreibaktivierungssignal und das Ausgangssignal des Leseverstärkers empfängt. Ein optionaler Datenpuffer empfängt außerdem das Ausgangssignal des Leseverstärkers.
- Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
-
1 einen digitalen Differenzkomparator des Stands der Technik; -
2 einen Zwischenspeicher-Leseverstärker des Stands der Technik; -
3 ein Funktionsblockdiagramm der vorliegenden Erfindung; -
4 den Rückschreibefunktionsblock aus3 ; -
5 den Leseverstärker aus3 ; -
6 einen alternativen Laserverstärker aus3 ; und -
7 den optionalen Datenpuffer aus3 . - Die optimale Anzahl von Zellen pro Bitleitung eines ferroelektrischen Speichers neigt dazu, größer zu sein als die eines DRAM. Deshalb kann ein etwas komplexerer Leseverstärker leichter toleriert werden, da es weniger Partitionen des Speicherarrays gibt und die Zelleffizienz dazu neigt, höher zu sein. Die höhere Bitleitungskapazität des FeRAM bedeutet aufgrund der größeren Anzahl von Bits, daß die Verwendung eines älteren Zwischenspeicher-Leseverstärkers (in
2 gezeigt) zu noch langsameren Zugriffszeiten führt. Da eine angemessene Spannungstrennung zwischen Bitleitung undBitleitung auftreten muß, bevor dieselben mit dem Ausgangsdatenpfad gekoppelt werden können, wird zusätzliche Zeit benötigt, um die stark belasteten Bitleitungen zu laden oder zu entladen. - Ein Funktionsblockdiagramm
10 der vorliegenden Erfindung ist in3 gezeigt. Der Rückschreibefunktionsblock12 wird durch ein Eingangssignal WB aktiviert. Im Betrieb vergleicht der Leseverstärker die Spannung auf der Bitleitung (BL) mit der Spannung an dem Referenzeingang (REF). Das Ausgangssignal (OUT) des Leseverstärkers wird durch den Rückschreibefunktionsblock12 empfangen. Ein optionaler Datenpuffer16 empfängt außerdem das Ausgangssignal. So wird die stark belastete Bitleitung von den leichtbelasteten internen Erfassungsknoten getrennt. -
4 zeigt den Rückschreibefunktionsblock12 aus3 . In Serie geschaltet von Leistung zu Masse sind ein erster und ein zweiter p-Kanal-Transistor gefolgt durch einen ersten und einen zweiten n-Kanal-Transistor. Das BL-Signal ist mit den Knoten zwischen dem zweiten p-Kanal-Transistor und dem ersten n-Kanal-Transistor verbunden. Die Gates des ersten p-Kanal-Transistors und des zweiten n-Kanal-Transistors sind gemeinsam mit dem KnotenOUT verbunden, der das Komplement des Ausgangssignals OUT des Leseverstärkers ist. Das Gate des zweiten p-Kanal-Transistors empfängt ein SteuerungssignalRückschreiben (WBB) , während das Gate des ersten n-Kanal-Transistors ein Steuerungssignal Rückschreiben (WB) empfängt. -
5 stellt den Leseverstärker14 aus3 dar. Bei einem dritten p-Kanal-Transistor MP1 ist dessen Source mit Leistung verbunden, wobei sein Drain mit dem ersten und dem zweiten Schenkel verbunden ist. Jeder Schenkel umfaßt zwei in Serie geschaltete p-Kanal-Transistoren (MP2, MP4; MP3, MP5) gefolgt durch zwei parallel geschaltete n-Kanal-Transistoren (MN3, MN1; MN2, MN4). - Für den ersten Schenkel sind an dem
OUT -Tor der Knoten zwischen dem Drain des zweiten p-Kanal-Transistors MP4 und den Drains der beiden parallel geschalteten n-Kanal-Transistoren MN3, MN1 mit dem Gate des zweiten p-Kanal-Transistors MP5 des zweiten Schenkels und dem Gate des n-Kanal-Transistors MN2 verbunden. Für den zweiten Schenkel sind an dem OUT-Tor der Knoten zwischen dem Drain des zweiten p-Kanal-Transistors MP5 und den Drains der beiden parallel geschalteten n-Kanal-Transistoren MN2, MN4 mit dem Gate des zweiten p-Kanal-Transistors MP4 des ersten Schenkels und dem Gate des zweiten n-Kanal-Transistors MN1 verbunden. -
6 stellt ein alternatives Ausführungsbeispiel für den Leseverstärker aus3 dar. Zusätzlich zu der elektrischen Anschlußmöglichkeit, die in5 beschrieben wurde, verbindet ein fünfter n-Kanal-Transistor MN5 Knoten N1 und N2 und wird zum Ausgleich verwendet. Ein sechster n-Kanal-Transistor MN6 ist in Serie mit dem Gate des p-Kanal-Transistors MP2 geschaltet. Ein siebter n-Kanal-Transistor MN7 ist in Serie mit dem Gate des p-Kanal-Transistors MP3 geschaltet. Die Gates der n-Kanal-Transistoren MN5, MN6 und MN7 sind mitEN verbunden. N-Kanal-Transistoren MN6 und MN7 sind Trennungsvorrichtungen. -
7 stellt den optionalen Datenpuffer16 aus3 dar. Ein erster und ein zweiter p-Kanal-Transistor sind in Serie zwischen Leistung und ein Tor DATA geschaltet. Das Gate des ersten p-Kanal-Transistors empfängt ein Signal OUT, während das Gate des zweiten p-Kanal-Transistors ein Signal VDD empfängt. Zwei n-Kanal-Transistoren sind in Serie zwischen das Tor DATA und Masse geschaltet. Das Gate des ersten n-Kanal-Transistors ist mit OUT verbunden, während das Gate des zweiten n-Kanal-Transistors ein Signal YS empfängt. - Im Betrieb wird der Mangel einer Rückschreibefähigkeit, der dem alleinstehenden Leseverstärker inhärent ist, durch die Hinzufügung des Serien-p-Kanal- und des Serien-n-Kanal-Transistors, die mit BL verbunden sind, überwunden, was in einem Speicherarray die Bit- oder Datenleitung wäre. WB und WBB sind zusätzliche komplementäre Steuerungssignale, die erzeugt werden, nachdem der Leseverstärker durch ein Anlegen von VSS an
EN und VDD an EN aktiviert wurde, nachdem OUT undOUT auf ihre vollen logischen Pegel getrieben wurden. Gleichzeitig mit der Rückschreibezurückspeicherung auf der Bitleitung kann auf Daten über das YS-Signal zuge griffen werden und dieselben können auf ihrem Pfad zu dem Datenausgangspuffer des Chips starten, und zwar unabhängig von der Zeit, die benötigt wird, um das Rückschreiben zu erzielen.
Claims (6)
- Erfassungsschaltung, die eine unabhängige Rückschreibefähigkeit aufweist, mit folgenden Merkmalen: einem Leseverstärker (
14 ), der ein Eingangssignal mit einem Referenzsignal vergleicht und ein Ausgangssignal erzeugt; wobei der Leseverstärker (14 ) folgende Merkmale umfaßt: einen p-Kanal-Transistor, der eine Source, die mit Leistung verbunden ist, und einen ersten Drain aufweist; einen ersten und einen zweiten Schenkel, wobei jeder Schenkel mit dem Drain des p-Kanal-Transistors und Masse verbunden ist, wobei jeder Schenkel ferner folgende Merkmale umfaßt: einen ersten p-Kanal-Transistor, der eine Source aufweist, die mit dem ersten Drain verbunden ist, einen zweiten p-Kanal-Transistor, der eine Source aufweist, die mit dem Drain des ersten p-Kanal-Transistors an einem ersten Knoten verbunden ist, zwei n-Kanal-Transistoren, die parallel geschaltet sind, und deren Drains mit dem Drain des zweiten p-Kanal-Transistors an einem zweiten Knoten verbunden sind, und deren Sources mit Masse verbunden sind, einen dritten n-Kanal-Transistor, der in Serie mit dem Gate des ersten p-Kanal-Transistors geschaltet ist, und wobei für jeden Schenkel der zweite Knoten mit den Gates des zweiten p-Kanal-Transistors und einem der beiden n-Kanal-Transistoren des anderen Schenkels verbunden ist; und einen ersten n-Kanal-Transistor, der über die ersten Knoten des ersten und des zweiten Schenkels verbunden ist; einem Tri-State-fähigen Rückschreibeblock (12 ), der ein Aktivierungs- und ein Rückschreibeausgangssignal aufweist, wobei das Ausgangssignal des Leseverstärkers mit dem Rückschreibeblock gekoppelt ist. - Erfassungsschaltung, die eine unabhängige Rückschreibefähigkeit aufweist, mit folgenden Merkmalen: einem Leseverstärker (
14 ), der ein Eingangssignal mit einem Referenzsignal vergleicht und ein Ausgangssignal erzeugt; einem Tri-State-fähigen Rückschreibeblock (12 ), der ein Aktivierungs- und ein Rückschreibeausgangssignal aufweist, wobei das Ausgangssignal des Leseverstärkers mit dem Rückschreibeblock gekoppelt ist; und einem Datenpuffer (16 ), der das Ausgangssignal des Leseverstärkers empfängt, wobei der Datenpuffer (16 ) folgende Merkmale umfaßt: einen ersten n-Kanal-Transistor, der einen Drain aufweist, der ein Daten-Aus-Signal erzeugt, und der ein Gate aufweist, das ein Steuerungssignal empfängt; und einen zweiten n-Kanal-Transistor, der einen Drain, der mit der Source des ersten n-Kanal-Transistors verbunden ist, eine Source, die mit Masse verbunden ist, und ein Gate aufweist, das das Ausgangssignal des Leseverstärkers empfängt. - Erfassungsschaltung, die eine unabhängige Rückschreibefähigkeit aufweist, mit folgenden Merkmalen: einem Leseverstärker (
14 ), der ein Eingangssignal mit einem Referenzsignal vergleicht und ein Ausgangssignal erzeugt; und einem. Tri-State-fähigen Rückschreibeblock (12 ), der ein Aktivierungs- und ein Rückschreibeausgangssignal aufweist, wobei das Ausgangssignal des Leserverstärkers mit dem Rückschreibeblock gekoppelt ist, wobei der Rückschreibeblock (12 ) folgende Merkmale umfaßt: einen ersten p-Kanal-Transistor, der eine Source aufweist, die mit Leistung verbunden ist; einen zweiten p-Kanal-Transistor, der eine Source aufweist, die mit dem Drain des ersten p-Kanal-Transistors verbunden ist; einen ersten n-Kanal-Transistor, der einen Drain aufweist, der mit dem Drain des zweiten p-Kanal-Transistors verbunden ist, der das Rückschreibeausgangssignal bildet, das mit dem Eingangssignal verbunden ist; und einen zweiten n-Kanal-Transistor, der einen Drain aufweist, der mit der Source des ersten n-Kanal-Transistors verbunden ist, und der eine Source aufweist, die mit Masse verbunden ist, wobei die Gates des ersten p-Kanal- und des zweiten n-Kanal-Transistors das Komplement des Ausgangssignals empfangen. - Leseverstärker mit folgenden Merkmalen: einem p-Kanal-Transistor, der eine Source, die mit Leistung verbunden ist, und einen ersten Drain aufweist; einem ersten und einem zweiten Schenkel, wobei jeder Schenkel mit dem Drain des p-Kanal-Transistors und Masse verbunden ist, wobei jeder Schenkel ferner folgende Merkmale umfaßt: einen ersten p-Kanal-Transistor, der eine Source aufweist, die mit dem ersten Drain verbunden ist, einen zweiten p-Kanal-Transistor, der eine Source aufweist, die mit dem Drain des ersten p-Kanal-Transistors an einem ersten Knoten verbunden ist, zwei n-Kanal-Transistoren, die parallel geschaltet und mit dem Drain des zweiten p-Kanal-Transistors an einem zweiten Knoten und Masse verbunden sind, einen dritten n-Kanal-Transistor, der in Serie mit dem Gate des ersten p-Kanal-Transistors geschaltet ist, und wobei für jeden Schenkel der zweite Knoten mit dem zweiten p-Kanal-Transistor und einem der beiden n-Kanal-Transistoren des anderen Schenkels verbunden ist; und einem ersten n-Kanal-Transistor, der über die ersten Knoten des ersten und des zweiten Schenkels verbunden ist.
- Erfassungsschaltung gemäß Anspruch 2, bei der der Datenpuffer (
16 ) ferner folgende Merkmale umfaßt: einen ersten p-Kanal-Transistor, der eine Source, die mit Leistung verbunden ist, ein Gate, das das Ausgangssignal des Leseverstärkers empfängt und einen Drain aufweist; und einen zweiten p-Kanal-Transistor, der mit dem Drain des ersten p-Kanal-Transistors und dem Drain des ersten n-Kanal-Transistors verbunden ist und ein Gate aufweist, das mit VDD verbunden ist. - Erfassungsschaltung gemäß Anspruch 2, bei der der Datenpuffer (
16 ) ferner folgende Merkmale umfaßt: einen ersten p-Kanal-Transistor, der eine Source, die mit Leistung verbunden ist, ein Gate, das das Ausgangssignal des Leseverstärkers empfängt und einen Drain aufweist; und einen zweiten p-Kanal-Transistor, der mit dem Drain des ersten p-Kanal-Transistors und dem Drain des ersten n-Kanal-Transistors verbunden ist und ein Gate aufweist, das mit dem Komplement des Gate-Steuerungssignals des ersten n-Kanal-Transistors verbunden ist.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/991571 | 2001-11-16 | ||
US09/991,571 US6563753B1 (en) | 2001-11-16 | 2001-11-16 | Sense amplifier with independent write-back capability for ferroelectric random-access memories |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10246738A1 DE10246738A1 (de) | 2003-06-05 |
DE10246738B4 true DE10246738B4 (de) | 2004-05-06 |
Family
ID=25537333
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10246738A Expired - Fee Related DE10246738B4 (de) | 2001-11-16 | 2002-10-07 | Leseverstärker mit unabhängiger Rückschreibefähigkeit für ferroelektrische Direktzugriffsspeicher |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6563753B1 (de) |
JP (1) | JP2003168289A (de) |
KR (1) | KR100893475B1 (de) |
DE (1) | DE10246738B4 (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100414210B1 (ko) * | 2001-11-19 | 2004-01-13 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
US6704218B2 (en) * | 2002-04-02 | 2004-03-09 | Agilent Technologies, Inc. | FeRAM with a single access/multiple-comparison operation |
US6724645B1 (en) * | 2003-01-30 | 2004-04-20 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for shortening read operations in destructive read memories |
TW594736B (en) * | 2003-04-17 | 2004-06-21 | Macronix Int Co Ltd | Over-driven read method and device of ferroelectric memory |
US8421602B2 (en) | 2006-09-13 | 2013-04-16 | Savant Systems, Llc | Remote control unit for a programmable multimedia controller |
US7859916B2 (en) | 2007-12-18 | 2010-12-28 | Micron Technology, Inc. | Symmetrically operating single-ended input buffer devices and methods |
TW201417102A (zh) | 2012-10-23 | 2014-05-01 | Ind Tech Res Inst | 電阻式記憶體裝置 |
JP6560508B2 (ja) * | 2014-03-13 | 2019-08-14 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5031143A (en) * | 1990-11-21 | 1991-07-09 | National Semiconductor Corporation | Preamplifier for ferroelectric memory device sense amplifier |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51113545A (en) * | 1975-03-31 | 1976-10-06 | Hitachi Ltd | Memory |
US5289475A (en) * | 1990-11-29 | 1994-02-22 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Semiconductor memory with inverted write-back capability and method of testing a memory using inverted write-back |
US5254760A (en) * | 1992-07-29 | 1993-10-19 | Ciba-Geigy Corporation | Inhibiting polymerization of vinyl aromatic monomers |
KR950004558A (ko) * | 1993-07-16 | 1995-02-18 | 김광호 | 반도체 메모리 구조 및 반도체 제조방법 |
KR960006381B1 (ko) * | 1993-12-18 | 1996-05-15 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 비트라인 센스 증폭회로 및 그 방법 |
KR100206408B1 (ko) * | 1996-06-27 | 1999-07-01 | 김영환 | 반도체 메모리 장치의 데이터 라인 프리차지회로 |
US6054879A (en) * | 1997-12-08 | 2000-04-25 | Cypress Semiconductor Corp. | Current sensing amplifier with feedback |
KR100268452B1 (ko) * | 1998-03-25 | 2000-10-16 | 윤종용 | 강유전체 랜덤 액세스 메모리 장치 |
KR100324605B1 (ko) * | 1998-09-19 | 2002-05-09 | 박종섭 | 반도체메모리소자의감지증폭기 |
KR20000044916A (ko) * | 1998-12-30 | 2000-07-15 | 김영환 | 센스앰프의 출력전압 조정회로 |
KR20000066269A (ko) * | 1999-04-15 | 2000-11-15 | 김영환 | 센스 앰프의 출력 피이드백회로를 갖는 dram 장치 |
-
2001
- 2001-11-16 US US09/991,571 patent/US6563753B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-10-07 DE DE10246738A patent/DE10246738B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2002-11-15 JP JP2002332580A patent/JP2003168289A/ja not_active Withdrawn
- 2002-11-15 KR KR1020020070981A patent/KR100893475B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5031143A (en) * | 1990-11-21 | 1991-07-09 | National Semiconductor Corporation | Preamplifier for ferroelectric memory device sense amplifier |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100893475B1 (ko) | 2009-04-17 |
US20030095456A1 (en) | 2003-05-22 |
US6563753B1 (en) | 2003-05-13 |
DE10246738A1 (de) | 2003-06-05 |
KR20030041082A (ko) | 2003-05-23 |
JP2003168289A (ja) | 2003-06-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE60129073T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung | |
DE69934853T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung | |
DE112016002710B4 (de) | Hochgeschwindigkeits-, hochspannungstolerante schaltungen in flash-pfad | |
DE2557359A1 (de) | Gegen datenverlust bei netzausfall gesicherter dynamischer speicher | |
DE10329627B4 (de) | Flash-Speicherbaustein | |
DE3740361A1 (de) | Halbleiterdauerspeichereinrichtung | |
DE102005010796B4 (de) | Halbleiterspeicher | |
DE10042388A1 (de) | Nichtflüchtiger ferroelektrischer Speicher | |
DE10303702A1 (de) | Magnetische Dünnfilmspeichervorrichtung mit einem von einer Mehrzahl von Zellen gemeinsam genutzten Zugriffselement | |
DE10246738B4 (de) | Leseverstärker mit unabhängiger Rückschreibefähigkeit für ferroelektrische Direktzugriffsspeicher | |
DE4224048C2 (de) | Mit einer variablen, extern angelegten Versorgungsspannung betreibbare Halbleiterspeichereinrichtung | |
DE112012002672B4 (de) | Schaltkreise und Verfahren für Speicher | |
DE60107174T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung | |
DE10053700A1 (de) | Halbleiterspeicherbauelement mit Datenleitungspaaren | |
DE112015004023T5 (de) | Nichtflüchtiger statischer 10t-direktzugriffsspeicher | |
DE10038228A1 (de) | Zellenblockstruktur eines nichtflüchtigen ferroelektrischen Speichers | |
DE3939849A1 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung mit einem geteilten leseverstaerker und verfahren zu deren betrieb | |
DE4324649A1 (de) | Verstärkerschaltung und Halbleiterspeichervorrichtung, die diesen benutzt | |
DE19963417A1 (de) | Nichtflüchtiger ferroelektrischer Speicher | |
DE10253872A1 (de) | Speicherbauelement mit Abtastverstärkerschaltung | |
DE3334560A1 (de) | Halbleiterspeicher | |
DE10335070A1 (de) | Halbleiterspeichervorrichtung mit einer Speicherzelle mit geringem Zellverhältnis | |
DE1960598A1 (de) | MOS-Schnellesespeicher | |
DE60315340T2 (de) | 2t2c signal margin test unter verwendung eines definierten ladungsaustauschs zwischen komplementären bitleitungen | |
DE10248065A1 (de) | Inhaltsadressierbares Speicherbauelement |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: AVAGO TECHNOLOGIES GENERAL IP ( SINGAPORE) PTE. LT |
|
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Representative=s name: DILG HAEUSLER SCHINDELMANN PATENTANWALTSGESELLSCHA |
|
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Representative=s name: DILG HAEUSLER SCHINDELMANN PATENTANWALTSGESELLSCHA |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |