DE102015215858A1 - Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, Granulat aus Silizium und Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium - Google Patents

Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, Granulat aus Silizium und Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium Download PDF

Info

Publication number
DE102015215858A1
DE102015215858A1 DE102015215858.6A DE102015215858A DE102015215858A1 DE 102015215858 A1 DE102015215858 A1 DE 102015215858A1 DE 102015215858 A DE102015215858 A DE 102015215858A DE 102015215858 A1 DE102015215858 A1 DE 102015215858A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
silicon
granules
plasma
process gas
plasma chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE102015215858.6A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102015215858B4 (de
Inventor
Georg Brenninger
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siltronic AG
Original Assignee
Siltronic AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to DE102015215858.6A priority Critical patent/DE102015215858B4/de
Application filed by Siltronic AG filed Critical Siltronic AG
Priority to PCT/EP2016/065465 priority patent/WO2017029010A1/de
Priority to KR1020187007609A priority patent/KR102069984B1/ko
Priority to US15/742,306 priority patent/US20180194633A1/en
Priority to EP16733098.4A priority patent/EP3337758A1/de
Priority to CN201680048555.0A priority patent/CN107922196A/zh
Priority to JP2018508631A priority patent/JP6608041B2/ja
Priority to TW105125161A priority patent/TWI609999B/zh
Publication of DE102015215858A1 publication Critical patent/DE102015215858A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102015215858B4 publication Critical patent/DE102015215858B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B33/00Silicon; Compounds thereof
    • C01B33/02Silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B13/00Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B13/00Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
    • C30B13/16Heating of the molten zone
    • C30B13/20Heating of the molten zone by induction, e.g. hot wire technique
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B13/00Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
    • C30B13/16Heating of the molten zone
    • C30B13/22Heating of the molten zone by irradiation or electric discharge
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B13/00Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
    • C30B13/28Controlling or regulating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/14Heating of the melt or the crystallised materials
    • C30B15/16Heating of the melt or the crystallised materials by irradiation or electric discharge
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/02Elements
    • C30B29/06Silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B35/00Apparatus not otherwise provided for, specially adapted for the growth, production or after-treatment of single crystals or of a homogeneous polycrystalline material with defined structure
    • C30B35/007Apparatus for preparing, pre-treating the source material to be used for crystal growth
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J2219/00Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
    • B01J2219/08Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
    • B01J2219/0894Processes carried out in the presence of a plasma
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2002/00Crystal-structural characteristics
    • C01P2002/60Compounds characterised by their crystallite size

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, das aus polykristallinen Körnern besteht, Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium, in dessen Verlauf wärmebehandeltes Granulat aus Silizium verwendet wird und wärmebehandeltes Granulat aus Silizium. Das Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium umfasst:
das Leiten eines Prozessgases entlang einer Fließrichtung durch eine Plasmakammer;
das Erzeugen einer Plasmazone in der Plasmakammer;
das Aufrechterhalten der Plasmazone durch Zuführen von Mikrowellenstrahlung in die Plasmakammer;
das Vorerhitzen des Granulats aus Silizium durch das Prozessgas auf eine Temperatur von nicht weniger als 900 °C;
den Transport des vorerhitzten Granulats aus Silizium durch die Plasmakammer und die Plasmazone entgegen der Fließrichtung des Prozessgases, wobei ein äußerer Bereich der Körner vorübergehend geschmolzen wird; und
das Sammeln des plasmabehandelten Granulats aus Silizium.

Description

  • Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, das aus polykristallinen Körnern besteht, ein Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium, in dessen Verlauf wärmebehandeltes Granulat aus Silizium verwendet wird und wärmebehandeltes Granulat aus Silizium.
  • Granulat aus Silizium wird üblicherweise durch Abscheiden von Silizium in einer Wirbelschicht erzeugt. Die WO 2014/191274 ist eine von vielen Quellen, die das Herstellungsverfahren thematisieren. Gemäß dieser Quelle kann das erzeugte Granulat aus Silizium, das aus polykristallinen Körnern besteht, direkt als Rohmaterial zur Herstellung eines Einkristalls verwendet werden.
  • In der US 2005/0135986 A1 wird ein Herstellungsverfahren für Granulat aus Silizium vorgeschlagen, bei dem vergleichsweise wenig Feinstaub anfällt und welches Granulat aus Silizium erzeugt, dessen polykristalline Körner jeweils eine Oberfläche aufweisen, die vergleichsweise glatt ist. Die geringe Neigung zur Staubbildung ist eine Eigenschaft, die besonders wichtig wird, wenn beabsichtigt ist, das Granulat aus Silizium zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium zu verwenden. Bleiben Partikel nach dem Schmelzen des Granulats zurück und gelangen sie zur Grenzfläche, an der der Einkristall wächst, können die Partikel die Bildung von Versetzungen hervorrufen. In der Regel muss daraufhin der Kristallisationsprozess abgebrochen werden.
  • Die US 2013/0295385 A1 offenbart ein Herstellungsverfahren für Granulat aus Silizium, das auch zur Herstellung von Einkristallen aus Silizium nach dem GFZ-Verfahren verwendet werden kann. Das GFZ-Verfahren ist eine Abwandlung des FZ-Verfahrens (Float Zone crystal growth), bei dem der Einkristall an der Grenzfläche einer Schmelzenzone wächst, die durch fortgesetztes Schmelzen eines polykristallinen Vorratstabs mittels einer Induktionsheizspule und Absenken des wachsenden Einkristalls aufrechterhalten wird. Beim GFZ-Verfahren tritt Granulat aus Silizium an die Stelle des Vorratstabes. In der US 2011/0185963 A1 ist ein GFZ-Verfahren beschrieben, bei dem eine Induktionsheizspule extra zum Schmelzen des Granulats eingesetzt wird.
  • Es hat sich herausgestellt, dass weiterhin Bedarf besteht, die Eigenschaften von Granulat aus Silizium zu verbessern. Insbesondere besteht Bedarf, Granulat aus Silizium derart zu modifizieren, dass dessen Neigung abnimmt, in geschmolzenem Zustand Partikel und Gaseinschlüsse in der Schmelze zu hinterlassen. Davon abgeleitet ist der Bedarf an einem modifizierten GFZ-Verfahren, das geringe Versetzungsraten aufweist und mit dem Einkristalle aus Silizium hergestellt werden können, die möglichst frei von Gaseinschlüssen sind.
  • Gelöst wird die sich daraus ergebende Aufgabe durch ein Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, das aus polykristallinen Körnern besteht, umfassend
    das Leiten eines Prozessgases entlang einer Fließrichtung durch eine Plasmakammer;
    das Erzeugen einer Plasmazone in der Plasmakammer;
    das Aufrechterhalten der Plasmazone durch Zuführen von Mikrowellenstrahlung in die Plasmakammer;
    das Vorerhitzen des Granulats aus Silizium durch das Prozessgas auf eine Temperatur von nicht weniger als 900 °C;
    den Transport des vorerhitzten Granulats aus Silizium durch die Plasmakammer und die Plasmazone entgegen der Fließrichtung des Prozessgases, wobei ein äußerer Bereich der Körner vorübergehend geschmolzen wird; und
    das Sammeln des plasmabehandelten Granulats aus Silizium.
  • Die Aufgabe wird ferner gelöst durch ein Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium, umfassend
    das Bilden einer Schmelzenzone mit einer Grenzfläche, an der ein Einkristall aus Silizium wächst;
    das Leiten eines Prozessgases entlang einer Fließrichtung durch eine Plasmakammer;
    das Erzeugen einer Plasmazone in der Plasmakammer;
    das Aufrechterhalten der Plasmazone durch Zuführen von Mikrowellenstrahlung in die Plasmakammer;
    das Vorerhitzen von Granulat aus Silizium, das aus polykristallinen Körnern besteht, durch das Prozessgas auf eine Temperatur von nicht weniger als 900 °C;
    den Transport des vorerhitzten Granulats aus Silizium durch die Plasmakammer und die Plasmazone entgegen der Fließrichtung des Prozessgases, wobei ein äußerer Bereich der Körner vorübergehend geschmolzen wird;
    das induktive Schmelzen des plasmabehandelten Granulats aus Silizium; und
    das Zuführen des geschmolzenen Granulats zur Schmelzenzone.
  • Die Aufgabe wird schließlich gelöst durch Granulat aus Silizium, das aus polykristallinen Körnern besteht, die jeweils umfassen: eine Oberfläche, einen Randbereich und einen Kernbereich, wobei die Kristall-Dichte im Randbereich geringer ist, als die Kristall-Dichte im Kernbereich.
  • Der Erfindung liegt die Erkenntnis zu Grunde, dass Maßnahmen nicht ausreichen, die sich darauf beschränken, die Eigenschaften von Granulat aus Silizium durch Optimieren von dessen Herstellung durch Abscheiden von Silizium in einer Wirbelschicht zu verbessern.
  • Anknüpfend an diese Erkenntnis wird vorgeschlagen, das Granulat aus Silizium nach dessen Herstellung durch eine Behandlung mit Plasma auf eine Temperatur zu erhitzen, die höher ist als die Schmelztemperatur von Silizium. Im Zuge dieser Wärmebehandlung werden die polykristallinen Körner des Granulats in einem Randbereich (äußerer Bereich) geschmolzen, wobei ein Kernbereich (innerer Bereich) in festem Zustand bleibt. Beim nachfolgenden Abkühlen der Körner kristallisiert der Randbereich wieder, jedoch mit veränderter polykristalliner Struktur. Die Kristall-Dichte (Anzahl der Kristalle pro Volumen) ist im Randbereich deutlich niedriger als im Kernbereich. Darüber hinaus nimmt die Rauheit der Oberfläche der Körner ab. Das zeigt sich schon bei visueller Inspektion des plasmabehandelten Granulats aus Silizium an dessen Glanz, der auf Grund der Behandlung zunimmt. Mit der strukturellen Änderung des Granulats aus Silizium ist auch eine Verbesserung von dessen Eigenschaften zu beobachten. Wird es zur Herstellung eines Einkristalls verwendet, sinken Versetzungsraten und die Häufigkeit von Gaseinschlüssen im Einkristall.
  • Granulat aus Silizium, das zur vorgeschlagenen Behandlung mit Plasma geeignet ist, besteht aus polykristallinen Körnern und wird vorzugsweise durch Abscheiden von Silizium auf Partikeln aus Silizium in Gegenwart eines siliziumhaltigen Reaktionsgases in einem Wirbelschicht-Reaktor hergestellt. Das Reaktionsgas enthält Silan oder ein Chlor enthaltendes Silan, vorzugsweise Trichlorsilan. Als Herstellungsverfahren kann beispielsweise das in der WO 2014/191274 A1 beschriebene Verfahren eingesetzt werden. Vorzugsweise bestehen nicht weniger als 98 % (bezogen auf das Gewicht) des Granulats aus Körnern mit kugelähnlicher Form, deren Korngröße, ausgedrückt durch den Siebdurchmesser als Äquivalentdurchmesser, vorzugsweise 600 bis 8000 µm beträgt, besonders bevorzugt 600 bis 4000 µm. Das Granulat aus Silizium enthält vorzugsweise nicht mehr als 50 ppb (bezogen auf das Gewicht) an metallischen Verunreinigungen.
  • Die vorgeschlagene Behandlung des Granulats aus Silizium mit Plasma erfolgt vorzugsweise unter einem Druck im Bereich des atmosphärischen Drucks, insbesondere unter einem Druck im Bereich von 50000 Pa bis 150000 Pa. Das Granulat aus Silizium wird in einer Vorheizstufe auf eine Temperatur von nicht weniger als 900 °C vorerhitzt und anschließend durch eine Plasmazone transportiert, die eine Temperatur hat, die über der Temperatur des Schmelzpunkts von Silizium liegt. Eine kurze Verweildauer in der Plasmazone reicht bereits aus, um die Körner des Granulats aus Silizium jeweils in Oberflächennähe zu schmelzen. Der geschmolzene Bereich kristallisiert gleich nach dem Verlassen der Plasmazone wieder.
  • Das Erzeugen und Unterhalten der Plasmazone geschieht vorzugsweise unter Verwendung einer an sich bekannten Vorrichtung, beispielsweise unter Verwendung einer Vorrichtung, die in der DE 103 27 853 A1 beschrieben ist. Eine solche Vorrichtung umfasst einen Mikrowellengenerator, eine Plasmakammer, Mikrowellenleiter zum Zuführen von Mikrowellenstrahlung zur Plasmakammer und eine Zündeinrichtung zum Zünden des Plasmas. Besonders bevorzugt ist die Verwendung einer Vorrichtung, die in der WO 2015/014839 A1 beschrieben ist, weil damit auch bei höheren Leistungen die über die Mikrowellenstrahlung zugeführte Energie in der Plasmakammer gleichmäßig verteilt werden kann. Die Mikrowellenstrahlung wird vorzugsweise an mindestens zwei sich gegenüberliegenden Stellen durch Hohlleiter an die Plasmakammer herangeführt. Die Frequenz der Mikrowellenstrahlung liegt vorzugsweise im Bereich von 0,9 GHz bis 10 GHz, beispielsweise bei 2,45 GHz. Die Plasmazone breitet sich nach dem Zünden des Plasmas in der Plasmakammer entlang von deren Längsachse aus.
  • Das Granulat aus Silizium wird durch Prozessgas vorerhitzt. Das Prozessgas wird durch die Plasmakammer geleitet und dort in der Plasmazone selbst erhitzt. Ein Teil der aufgenommenen Wärme wird anschließend auf das Granulat aus Silizium übertragen, um es vorzuerhitzen. Vorzugsweise wird zumindest ein Teil des Prozessgases im Kreis geführt, also nach dem Vorerhitzen des Granulats aus Silizium zu einem Gaseinlass in die Plasmakammer zurückgeleitet.
  • Das Prozessgas wird vorzugsweise über einen unteren Gaseinlass in die Plasmakammer geleitet und verlässt die Plasmakammer vorzugsweise über einen oberen Gasauslass. Das Prozessgas wird am Gaseinlass vorzugsweise tangential in die Plasmakammer geleitet und strömt deshalb wirbelnd entlang einer Fließrichtung durch die Plasmakammer zum Gasauslass. Vorerhitztes Granulat aus Silizium wird entgegen der Fließrichtung des Prozessgases durch die Plasmazone transportiert. Vorzugsweise lässt man das Granulat aus Silizium durch die Plasmazone fallen. Die Verwirbelung des Prozessgases verlängert den Transportweg des Granulats aus Silizium in der Plasmazone und dessen Aufenthaltsdauer in der Plasmazone. Die Innenwand der Plasmakammer besteht aus einem Dielektrikum, vorzugsweise aus Quarz oder Keramik. Nach dem Verlassen der Plasmakammer strömt das Prozessgas in eine Vorheizstufe für Granulat aus Silizium und von dort vorzugsweise zurück zum Gaseinlass in die Plasmakammer.
  • Das Prozessgas besteht aus Luft oder einem Bestandteil von Luft oder einer Mischung mindestens zweier Bestandteile von Luft oder aus Wasserstoff oder aus einer Mischung von Wasserstoff und mindestens einem inerten Gas. Bevorzugtes Prozessgas hat inerten oder reduzierenden Charakter. Besonders bevorzugtes Prozessgas ist Argon oder ein Gemisch von Argon und Wasserstoff, wobei der Anteil an Wasserstoff vorzugsweise nicht mehr als 2,7 % (bezogen auf das Volumen) betragen sollte. Ein Prozessgas mit reduzierendem Charakter entfernt eine Oxidschicht auf der Oberfläche der Körner, aus denen das Granulat aus Silizium besteht.
  • Die Vorheizstufe ist vorzugsweise ein Rohr, von dem aus das Granulat aus Silizium kontinuierlich oder diskontinuierlich in die Plasmazone fallen kann. Das Granulat aus Silizium wird durch Prozessgas vorerhitzt, das in das Rohr aufsteigt. Gegebenenfalls ist eine Heizung vorhanden, die das Rohr und das darin enthaltene Granulat aus Silizium zusätzlich von außen erhitzen. Besonders bevorzugt ist es, im Rohr Umlenkplatten anzuordnen, die eine Kaskade von Stufen bilden, die den Transportweg von Granulat aus Silizium durch das Rohr verlängern. Auf diese Weise wird auch die Verweildauer des Granulats im Rohr verlängert, so dass mehr Zeit zur Verfügung steht, das Granulat aus Silizium in der Vorheizstufe vorzuerhitzen. Das Rohr und gegebenenfalls die Umlenkplatten bestehen vorzugsweise aus einem Material, durch das das Granulat aus Silizium beim Kontakt nicht oder nur geringfügig mit Metallen verunreinigt wird. Das Material ist vorzugsweise Quarz oder Keramik.
  • Das Granulat aus Silizium wird von einem Vorratsbehälter in die Vorheizstufe gefördert und fällt gegen das aufsteigende Prozessgas zuerst durch die Vorheizstufe, anschließend durch die Plasmazone und schließlich an einen Zielort, beispielsweise in einen Auffangbehälter oder in einen Tiegel oder auf einen Teller oder auf ein Förderband.
  • Das plasmabehandelte Granulat aus Silizium besteht aus Körnern mit polykristalliner Struktur. Die polykristalline Struktur umfasst eine Vielzahl von Kristallen und gemeinsame Grenzflächen zwischen benachbarten Kristallen. Die Oberfläche der Körner ist glatt und glänzend, sofern als Prozessgas ein inertes oder reduzierendes Gas eingesetzt wurde und das Granulat aus Silizium nach der Behandlung mit Plasma keiner oxidierenden Atmosphäre wie beispielsweise der Umgebungsluft ausgesetzt wurde. Im Randbereich unterscheidet sich die polykristalline Struktur der Körner von der im Kernbereich. Der Randbereich erstreckt sich jeweils von der Oberfläche der Körner ins Innere der Körner. Im Randbereich sind die Kristalle deutlich größer, als im Kernbereich. Dementsprechend ist die Kristall-Dichte (Anzahl der Kristalle pro Volumen) im Randbereich kleiner, als im Kernbereich. Im Randbereich beträgt die Kristall-Dichte vorzugsweise nicht mehr als 20 % der Kristall-Dichte im Kernbereich, besonders bevorzugt nicht mehr als 2 %. Die Dicke des Randbereichs beträgt vorzugsweise nicht weniger als 20 µm, besonders bevorzugt nicht weniger als 40 µm. Zwischen dem Randbereich und dem Kernbereich gibt es einen Übergangsbereich, in dem die Kristall-Dichte größer ist als im Randbereich und kleiner als im Kernbereich.
  • Die besondere polykristalline Struktur der Körner verleiht dem plasmabehandelten Granulat aus Silizium die Eigenschaft, für die Herstellung von Einkristallen besonders geeignet zu sein. Das Potential des plasmabehandelten Granulats aus Silizium, Quelle von Feinstaub und Gaseinschlüssen werden zu können, ist deutlich vermindert.
  • Das plasmabehandelte Granulat aus Silizium wird deshalb vorzugsweise verwendet, um damit Einkristalle (vorzugsweise mittels eines CZ-Verfahrens oder eines GFZ-Verfahrens) oder polykristalline Körper aus Silizium herzustellen. Die hergestellten Einkristalle oder polykristallinen Körper dienen selbst insbesondere als Grundstoffe zur Herstellung elektronischer oder optoelektronischer Bauelemente oder von Bauelementen der Solarindustrie.
  • Gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung wird das plasmabehandelte Granulat aus Silizium geschmolzen und zu einem Einkristall kristallisiert, ohne zuvor einer oxidierenden Atmosphäre ausgesetzt worden zu sein. Besonders bevorzugt ist es, das Granulat aus Silizium in plasmabehandeltem Zustand gemäß einem GFZ-Verfahren zu schmelzen und die dabei entstehende Schmelze anschließend zu einem Einkristall zu kristallisieren. Zu diesem Zweck wird das plasmabehandelte Granulat aus Silizium nach dem Austritt aus der Plasmakammer unter einer nicht-oxidierenden Atmosphäre, vorzugsweise unter Argon oder unter einem Gemisch aus Argon und Wasserstoff, besonders bevorzugt unter einer nicht-oxidierenden Atmosphäre mit der Zusammensetzung des während der Behandlung mit Plasma eingesetzten Prozessgases in eine Vorrichtung zur Kristallzüchtung transportiert. Die Vorrichtung umfasst einen Tiegel oder einen Teller. Dort wird das plasmabehandelte Granulat aus Silizium induktiv geschmolzen und in geschmolzenem Zustand einer Schmelzenzone mit einer Grenzfläche zugeführt, an der ein Einkristall wächst. Beim Schmelzen des plasmabehandelten Granulats muss keine Oxidschicht gelöst werden und in diesem Zusammenhang stehende Probleme durch Partikelbildung werden vermieden. Besonders bevorzugt ist die Verwendung einer Vorrichtung zur Kristallzüchtung, die über eine Induktionsheizspule verfügt, die extra zum Schmelzen des Granulats aus Silizium vorgesehen ist. Eine solche Induktionsheizspule ist beispielsweise in US 2011/0185963 A1 offenbart. Zum Erzeugen der Schmelzenzone wird zunächst festes Silizium, das eine Öffnung im Zentrum eines Tiegels oder Tellers vorübergehend verschließt, geschmolzen und das geschmolzene Silizium mit einem Keimkristall in Kontakt gebracht. Bevorzugt ist auch, dass das plasmabehandelte Granulat aus Silizium auf Grund der Behandlung mit Plasma noch eine Temperatur von nicht weniger als 600 °C, besonders bevorzugt nicht weniger als 800 °C hat, wenn damit begonnen wird, das plasmabehandelte Granulat aus Silizium zu schmelzen und der Schmelzenzone zuzuführen. So wird die Induktionsheizspule zum Schmelzen des plasmabehandelten Granulats aus Silizium entlastet und die Dauer der Herstellung des Einkristalls verkürzt.
  • Die Erfindung wird nachfolgend unter Verweis auf Zeichnungen genauer erläutert.
  • 1 zeigt schematisch den Aufbau einer Vorrichtung, die geeignet ist, die Herstellung eines Einkristalls aus Silizium gemäß einer besonders bevorzugten Ausführungsform der Erfindung zu vollziehen.
  • 2 zeigt schematisch den Aufbau einer besonders bevorzugten Ausführungsform der Vorheizstufe.
  • 3 zeigt schematisch den Aufbau einer besonders bevorzugten Ausführungsform der Plasmakammer.
  • 4 bis 8 zeigen REM-Aufnahmen von Körnern von Granulat aus Silizium.
  • Die Vorrichtung gemäß 1 ist gegliedert in eine Einrichtung zur Behandlung von Granulat aus Silizium mit Plasma und eine Einrichtung zur Herstellung eines Einkristalls gemäß dem GFZ-Verfahren unter Verwendung des plasmabehandelten Granulats aus Silizium.
  • Die Einrichtung zur Behandlung von Granulat aus Silizium mit Plasma umfasst einen Vorratsbehälter 1 für zu behandelndes Granulat aus Silizium, eine Dosiervorrichtung 2 zum Dosieren von Granulat aus Silizium in eine Vorheizstufe 3, in der das zu behandelnde Granulat aus Silizium vorerhitzt wird, eine Plasmakammer 4, in der eine Plasmazone 5 gezündet und mittels Mikrowellenstrahlung aufrechterhalten wird, einen Generator 6 zum Erzeugen der Mikrowellenstrahlung sowie eine Förderleitung 7 zum Fördern von plasmabehandeltem Granulat 8 aus Silizium in die Einrichtung zur Herstellung eines Einkristalls gemäß dem GFZ-Verfahren. Diese Einrichtung umfasst eine Induktionsheizspule 9 zum Schmelzen des Granulats 8 auf einem Teller 10, wobei die Induktionsspule 9 eine Öffnung hat, durch die das Granulat 8 auf den Teller 10 fällt, wo es geschmolzen wird, um von dort in geschmolzenem Zustand durch eine Öffnung im Zentrum des Tellers 10 zu einer Schmelzenzone zu gelangen, die von einer Induktionsheizspule 11 aufrechterhalten wird. Die Schmelzenzone hat eine Grenzfläche, an der ein Einkristall 12 wächst und kontinuierlich abgesenkt wird. Über eine Leitung 17 wird Prozessgas, das die Vorheizstufe 3 verlässt, zurück zu einem Gaseinlass in die Plasmakammer 4 geleitet.
  • Die in 2 schematisch dargestellte Vorheizstufe 3 umfasst ein Rohr 13 mit eingebauten Umlenkplatten 14. Zu behandelndes Granulat aus Silizium wird in einen oberen Bereich des Rohrs 13 gefördert und fällt zunächst auf die Umlenkplatten 14 und schließlich aus einer unteren Öffnung 15 des Rohrs 13 in die Plasmakammer 4. Prozessgas wird entgegen der Fallrichtung des Granulats aus Silizium von unten nach oben durch das Rohr 13 geleitet.
  • Die Plasmakammer 4 gemäß 3 umfasst Hohlleiter 16 zum Heranführen von Mikrowellenstrahlung entsprechend der Richtung der breiten Pfeile und zum Unterhalten der Plasmazone 5 innerhalb der Plasmakammer 4, eine Zündeinrichtung 18 zum Erzeugen der Plasmazone 5 und einen Auffangbehälter 19 zum Sammeln von plasmabehandeltem Granulat. Prozessgas wird entsprechend der Richtung des schmalen Pfeils durch die Leitung 17 zu einem unteren Gaseinlass in die Plasmakammer geleitet und strömt durch die Plasmazone 5 zu einem oberen Gasauslass aus der Plasmakammer.
  • 4 repräsentiert die REM-Aufnahme eines Teils der Oberfläche eines Korns von Granulat aus Silizium, das erfindungsgemäß mit Plasma behandelt wurde. Zu erkennen sind die Oberflächen von Kristallen 20 und gemeinsame Grenzflächen 21 zwischen benachbarten Kristallen. Zum Vergleich ist in 5 ein Teil der Oberfläche eines Korns von Granulat aus Silizium abgebildet, das im Zustand vor einer erfindungsgemäßen Behandlung mit Plasma war.
  • 6 zeigt die REM-Aufnahme von einem Ausschnitt eines Schnitts durch ein Korn von Granulat aus Silizium, das erfindungsgemäß mit Plasma behandelt wurde. Der Ausschnitt reicht von der Oberfläche 22 des Korns ins Innere des Korns. Ein oberflächennaher Randbereich 23 des Korns ist durch Kristalle 24 gekennzeichnet, die vergleichsweise groß sind, während die Kristalle in einem Kernbereich 25 des Korns vergleichsweise klein sind. Zum Vergleich ist in 7 eine entsprechende Aufnahme eines Korns von Granulat aus Silizium abgebildet, das im Zustand vor einer erfindungsgemäßen Behandlung mit Plasma war.
  • Die REM-Aufnahme gemäß 8 zeigt einen Ausschnitt von der Oberfläche und einen Ausschnitt von der Schnittfläche durch ein Korn von Granulat aus Silizium, das erfindungsgemäß mit Plasma behandelt wurde. Zu sehen sind eine Kante 26 zwischen der Oberfläche 22 und der Schnittfläche und Kristalle 24 im Randbereich 23 des Korns, die vergleichsweise groß sind.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • WO 2014/191274 [0002]
    • US 2005/0135986 A1 [0003]
    • US 2013/0295385 A1 [0004]
    • US 2011/0185963 A1 [0004, 0022]
    • WO 2014/191274 A1 [0011]
    • DE 10327853 A1 [0013]
    • WO 2015/014839 A1 [0013]

Claims (11)

  1. Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, das aus polykristallinen Körnern besteht, umfassend das Leiten eines Prozessgases entlang einer Fließrichtung durch eine Plasmakammer; das Erzeugen einer Plasmazone in der Plasmakammer; das Aufrechterhalten der Plasmazone durch Zuführen von Mikrowellenstrahlung in die Plasmakammer; das Vorerhitzen des Granulats aus Silizium durch das Prozessgas auf eine Temperatur von nicht weniger als 900 °C; den Transport des vorerhitzten Granulats aus Silizium durch die Plasmakammer und die Plasmazone entgegen der Fließrichtung des Prozessgases, wobei ein äußerer Bereich der Körner vorübergehend geschmolzen wird; und das Sammeln des plasmabehandelten Granulats aus Silizium.
  2. Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium, umfassend das Bilden einer Schmelzenzone mit einer Grenzfläche, an der ein Einkristall aus Silizium wächst; das Leiten eines Prozessgases entlang einer Fließrichtung durch eine Plasmakammer; das Erzeugen einer Plasmazone in der Plasmakammer; das Aufrechterhalten der Plasmazone durch Zuführen von Mikrowellenstrahlung in die Plasmakammer; das Vorerhitzen von Granulat aus Silizium, das aus polykristallinen Körnern besteht, durch das Prozessgas auf eine Temperatur von nicht weniger als 900 °C; den Transport des vorerhitzten Granulats aus Silizium durch die Plasmakammer und die Plasmazone entgegen der Fließrichtung des Prozessgases, wobei ein äußerer Bereich der Körner vorübergehend geschmolzen wird; das induktive Schmelzen des plasmabehandelten Granulats aus Silizium; und das Zuführen des geschmolzenen Granulats zur Schmelzenzone.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Prozessgas reduzierende Eigenschaft hat und eine Oxidschicht von der Oberfläche des Granulats entfernt wird.
  4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, umfassend das Vorsehen eines Transportweges des Granulats aus Silizium durch eine Vorheizstufe, in der das Granulat aus Silizium vorerhitzt wird und das Bereitstellen von Umlenkplatten in der Vorheizstufe, deren Gegenwart den Transportweg des Granulats durch die Vorheizstufe verlängert.
  5. Verfahren nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, umfassend nach dem Vorerhitzen des Granulats aus Silizium durch das Prozessgas das Zurückführen des Prozessgases zu einem Gaseinlass in die Plasmakammer.
  6. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet dass das Granulat aus Silizium in plasmabehandeltem Zustand von der Plasmakammer in einer nicht-oxidierenden Atmosphäre an einen Ort transportiert wird, wo das induktive Schmelzen des Granulats stattfindet.
  7. Verfahren nach Anspruch 2 oder Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Granulat aus Silizium vor dem induktiven Schmelzen eine Temperatur von nicht weniger als 600 °C hat.
  8. Granulat aus Silizium, das aus polykristallinen Körnern besteht, die jeweils umfassen: eine Oberfläche, einen Randbereich und einen Kernbereich, wobei die Kristall-Dichte im Randbereich geringer ist, als die Kristall-Dichte im Kernbereich.
  9. Granulat aus Silizium nach Anspruch 8, wobei die Kristall-Dichte im Randbereich nicht mehr als 20 % der Kristall-Dichte im Kernbereich ist.
  10. Granulat aus Silizium nach Anspruch 8 oder Anspruch 9, wobei der Randbereich eine Dicke von nicht weniger als 30 µm hat.
  11. Granulat aus Silizium nach einem der Ansprüche 8 bis 10, wobei mindestens 98 Gew.-% der Körner eine Korngröße von 600 bis 8000 µm haben.
DE102015215858.6A 2015-08-20 2015-08-20 Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, Granulat aus Silizium und Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium Expired - Fee Related DE102015215858B4 (de)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102015215858.6A DE102015215858B4 (de) 2015-08-20 2015-08-20 Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, Granulat aus Silizium und Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium
KR1020187007609A KR102069984B1 (ko) 2015-08-20 2016-07-01 실리콘으로 구성되는 입자형 재료의 열처리를 위한 방법, 실리콘으로 구성되는 입자형 재료, 및 실리콘으로 구성되는 단결정을 제조하는 방법
US15/742,306 US20180194633A1 (en) 2015-08-20 2016-07-01 Method for the thermal treatment of granular material composed of silicon, granular material composed of silicon, and method for producing a monocrystal composed of silicon
EP16733098.4A EP3337758A1 (de) 2015-08-20 2016-07-01 Verfahren zur wärmebehandlung von granulat aus silizium, granulat aus silizium und verfahren zur herstellung eines einkristalls aus silizium
PCT/EP2016/065465 WO2017029010A1 (de) 2015-08-20 2016-07-01 Verfahren zur wärmebehandlung von granulat aus silizium, granulat aus silizium und verfahren zur herstellung eines einkristalls aus silizium
CN201680048555.0A CN107922196A (zh) 2015-08-20 2016-07-01 热处理粒状硅的方法、粒状硅及制备硅单晶的方法
JP2018508631A JP6608041B2 (ja) 2015-08-20 2016-07-01 粒状シリコンの熱処理プロセス、粒状シリコン、およびシリコン単結晶の製造プロセス
TW105125161A TWI609999B (zh) 2015-08-20 2016-08-08 熱處理粒狀矽的方法、粒狀矽與製備矽單晶的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102015215858.6A DE102015215858B4 (de) 2015-08-20 2015-08-20 Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, Granulat aus Silizium und Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102015215858A1 true DE102015215858A1 (de) 2017-03-09
DE102015215858B4 DE102015215858B4 (de) 2019-01-24

Family

ID=56289519

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102015215858.6A Expired - Fee Related DE102015215858B4 (de) 2015-08-20 2015-08-20 Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, Granulat aus Silizium und Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium

Country Status (8)

Country Link
US (1) US20180194633A1 (de)
EP (1) EP3337758A1 (de)
JP (1) JP6608041B2 (de)
KR (1) KR102069984B1 (de)
CN (1) CN107922196A (de)
DE (1) DE102015215858B4 (de)
TW (1) TWI609999B (de)
WO (1) WO2017029010A1 (de)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19538020A1 (de) * 1995-10-12 1997-04-17 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Einkristallen aus Silicium
US20040004301A1 (en) * 2002-07-03 2004-01-08 Osram Sylvania Inc. Method of spheridizing silicon metal powders
DE10327853A1 (de) 2003-06-18 2005-01-05 Krohmann, Udo, Dipl.-Ing. Verfahren und Vorrichtung zur Plasmabehandlung an Oberflächen und Stoffen mittels eines sich bewegenden Mikrowellenplasmas innerhalb einer wellenleitenden Hohlleiterstruktur
US20050135986A1 (en) 2003-12-18 2005-06-23 Wacker-Chemie Gmbh Dust-free and pore-free, high-purity granulated polysilicon
DE102009051010A1 (de) * 2009-10-28 2011-05-12 Siltronic Ag Vorrichtung zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium durch Umschmelzen von Granulat
US20110185963A1 (en) 2010-02-03 2011-08-04 Siltronic Ag Method For Producing A Single Crystal Composed Of Silicon Using Molten Granules
DE102010011853A1 (de) * 2010-03-09 2011-09-15 Schmid Silicon Technology Gmbh Verfahren zur Herstellung von hochreinem Silizium
US20130295385A1 (en) 2012-05-07 2013-11-07 Wacker Chemie Ag Granular polycrystalline silicon and production thereof
WO2014191274A1 (de) 2013-05-29 2014-12-04 Wacker Chemie Ag Verfahren zur herstellung von granularem polysilicium
WO2015014839A1 (de) 2013-08-02 2015-02-05 Eeplasma Gmbh Vorrichtung und verfahren zur behandlung von prozessgasen in einem plasma angeregt durch elektromagnetische wellen hoher frequenz

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2528367B2 (ja) * 1989-11-02 1996-08-28 住友シチックス株式会社 多結晶シリコンの加熱装置
JPH0680412A (ja) * 1992-08-31 1994-03-22 Toagosei Chem Ind Co Ltd 多結晶シリコンの製造方法
JP3478406B2 (ja) * 1992-09-09 2003-12-15 アルベマール・コーポレーシヨン 粒状物質の供給装置
JPH06100394A (ja) * 1992-09-17 1994-04-12 Nkk Corp 単結晶製造用原料供給方法及び装置
US5445679A (en) * 1992-12-23 1995-08-29 Memc Electronic Materials, Inc. Cleaning of polycrystalline silicon for charging into a Czochralski growing process
US5753567A (en) * 1995-08-28 1998-05-19 Memc Electronic Materials, Inc. Cleaning of metallic contaminants from the surface of polycrystalline silicon with a halogen gas or plasma
DE19735378A1 (de) * 1997-08-14 1999-02-18 Wacker Chemie Gmbh Verfahren zur Herstellung von hochreinem Siliciumgranulat
DE60124246T2 (de) * 2000-05-11 2007-05-31 Tokuyama Corp., Shunan Polykristallines silicium und verfahren zur herstellung desselben
DE102005039118A1 (de) * 2005-08-18 2007-02-22 Wacker Chemie Ag Verfahren und Vorrichtung zum Zerkleinern von Silicium
DE102005056292A1 (de) * 2005-11-24 2007-05-31 Outokumpu Technology Oy Verfahren und Anlage zur thermischen Behandlung von Feststoffen
DE102005061690A1 (de) * 2005-12-21 2007-07-05 Solmic Gmbh Verfahren zur Herstellung solartauglichen Siliziums
JP4800095B2 (ja) * 2006-04-20 2011-10-26 独立行政法人産業技術総合研究所 粒状シリコンの製造方法及び製造装置
US9067792B1 (en) * 2006-11-03 2015-06-30 Semlux Technologies, Inc. Laser conversion of high purity silicon powder to densified granular forms
CN101377010A (zh) * 2007-08-30 2009-03-04 上海太阳能工程技术研究中心有限公司 制造太阳能级多晶硅的装置及其方法
CN103787336B (zh) * 2008-09-16 2016-09-14 储晞 生产高纯颗粒硅的方法
TW201014937A (en) * 2008-10-06 2010-04-16 Clean Venture 21 Corp Method for producing semiconductor particles
DE102008059408A1 (de) * 2008-11-27 2010-06-02 Schmid Silicon Technology Gmbh Verfahren und Vorrichtungen zur Herstellung von Reinstsilizium
DE102010015354A1 (de) * 2010-04-13 2011-10-13 Schmid Silicon Technology Gmbh Herstellung eines kristallinen Halbleiterwerkstoffs
JP5886831B2 (ja) * 2010-04-13 2016-03-16 シュミット シリコン テクノロジー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 単結晶半導体材料の生成
JP2012036056A (ja) * 2010-08-11 2012-02-23 Sumco Corp シリコンの電磁鋳造装置
CN102363528B (zh) * 2011-06-30 2013-05-15 常州天合光能有限公司 冷离子太阳能级多晶硅料的提纯方法及其设备
CN102381711A (zh) * 2011-07-05 2012-03-21 兰州大学 微波等离子体提纯冶金级多晶硅的方法
DE102012215677B3 (de) * 2012-09-04 2013-10-10 Siltronic Ag Verfahren zum Herstellen eines Einkristalls aus Silizium
TWI541393B (zh) * 2012-12-28 2016-07-11 中美矽晶製品股份有限公司 用於製造矽晶鑄錠之晶種
CN104310405A (zh) * 2014-10-10 2015-01-28 东莞市长安东阳光铝业研发有限公司 一种微波等离子体辅助的多晶硅提纯方法
CN107614758A (zh) * 2015-05-07 2018-01-19 德克萨斯州立大学董事会 致密的光响应性硅膜在熔融氯化钙中的一步生长

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19538020A1 (de) * 1995-10-12 1997-04-17 Wacker Siltronic Halbleitermat Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Einkristallen aus Silicium
US20040004301A1 (en) * 2002-07-03 2004-01-08 Osram Sylvania Inc. Method of spheridizing silicon metal powders
DE10327853A1 (de) 2003-06-18 2005-01-05 Krohmann, Udo, Dipl.-Ing. Verfahren und Vorrichtung zur Plasmabehandlung an Oberflächen und Stoffen mittels eines sich bewegenden Mikrowellenplasmas innerhalb einer wellenleitenden Hohlleiterstruktur
US20050135986A1 (en) 2003-12-18 2005-06-23 Wacker-Chemie Gmbh Dust-free and pore-free, high-purity granulated polysilicon
DE102009051010A1 (de) * 2009-10-28 2011-05-12 Siltronic Ag Vorrichtung zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium durch Umschmelzen von Granulat
US20110185963A1 (en) 2010-02-03 2011-08-04 Siltronic Ag Method For Producing A Single Crystal Composed Of Silicon Using Molten Granules
DE102010011853A1 (de) * 2010-03-09 2011-09-15 Schmid Silicon Technology Gmbh Verfahren zur Herstellung von hochreinem Silizium
US20130295385A1 (en) 2012-05-07 2013-11-07 Wacker Chemie Ag Granular polycrystalline silicon and production thereof
WO2014191274A1 (de) 2013-05-29 2014-12-04 Wacker Chemie Ag Verfahren zur herstellung von granularem polysilicium
WO2015014839A1 (de) 2013-08-02 2015-02-05 Eeplasma Gmbh Vorrichtung und verfahren zur behandlung von prozessgasen in einem plasma angeregt durch elektromagnetische wellen hoher frequenz

Also Published As

Publication number Publication date
US20180194633A1 (en) 2018-07-12
KR102069984B1 (ko) 2020-01-23
TWI609999B (zh) 2018-01-01
CN107922196A (zh) 2018-04-17
WO2017029010A1 (de) 2017-02-23
KR20180041723A (ko) 2018-04-24
TW201708636A (zh) 2017-03-01
JP2018523625A (ja) 2018-08-23
DE102015215858B4 (de) 2019-01-24
JP6608041B2 (ja) 2019-11-20
EP3337758A1 (de) 2018-06-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1645333B1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum kontaminationsarmen, automatischen Brechen von Siliciumbruch
DE60310627T2 (de) Fliessfähige Späne, Verfahren und Vorrichtung zu ihrer Herstellung und ihrer Anwendung
DE112014000786B4 (de) Ingotzuchtvorrichtung
DE102006055064A1 (de) Verfahren zur Herstellung von polykristallinem Silizium mit hoher Reinheit und Herstellungsvorrichtung dafür
EP1992593A2 (de) Polykristalliner Siliciumstab für das Zonenschmelzverfahren und ein Verfahren zu dessen Herstellung
EP2662335B1 (de) Polykristalliner siliciumstab und verfahren zu dessen herstellung
DE2928089B2 (de) Verbundtiegel für halbleitertechnologische Zwecke und Verfahren zur Herstellung
DE3811091A1 (de) Verfahren zum kontaminationsarmen zerkleinern von massivem stueckigem silicium
DE102010008162A1 (de) Verfahren für die Herstellung von Quarzglas
DE3332469A1 (de) Reaktorsystem und verfahren zur reaktion von keimteilchen mit einem als materialquelle dienenden gas
DE102012207505A1 (de) Polykristallines Siliciumgranulat und seine Herstellung
DE102011112662B4 (de) Verfahren zum Behandeln von metallurgischem Silizium
DE102013209076A1 (de) Reaktor zur Herstellung von polykristallinem Silicium und Verfahren zur Entfernung eines Silicium enthaltenden Belags auf einem Bauteil eines solchen Reaktors
DE112012002094T5 (de) Siliziumcarbidpulver und Verfahren für die Herstellung von Siliziumcarbidpulver
DE112013003894B4 (de) Verfahren zum Züchten von Silizium-Einkristall
DE69735130T2 (de) Verfahren und vorrichtung zur herstellung von metallpulvern
DE112010004412T5 (de) Verfahren zum reinigen metallurgischen siliziums
DE1496434A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Glasperlen
DE19538020A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Einkristallen aus Silicium
DE1439816B2 (de) Vorrichtung zur herstellung von plutoniumoxidkugeln in der groessenordnung von 10 mikron durchmesser
DE102015215858B4 (de) Verfahren zur Wärmebehandlung von Granulat aus Silizium, Granulat aus Silizium und Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium
DE102014007354B4 (de) Verfahren zum Aufbereiten von Rückständen aus der mechanischen Bearbeitung von Siliziumprodukten
WO2010012273A2 (de) Verfahren zum entfernen von nichtmetallischen verunreinigungen aus metallurgischem silicium
DE102008049598A1 (de) Verfahren und Vorrichtung für die Reinigung von SiO2-Körnung
DE112012001167T5 (de) Silikaglastiegel, Verfahren zum Herstellen desselben und Verfahren zum Herstellen eines Silizium-Einkristalls

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee