DE102010048031A1 - Polythiophene beinhaltende Dispersionen mit definiertem Sulfat-Gehalt - Google Patents
Polythiophene beinhaltende Dispersionen mit definiertem Sulfat-Gehalt Download PDFInfo
- Publication number
- DE102010048031A1 DE102010048031A1 DE102010048031A DE102010048031A DE102010048031A1 DE 102010048031 A1 DE102010048031 A1 DE 102010048031A1 DE 102010048031 A DE102010048031 A DE 102010048031A DE 102010048031 A DE102010048031 A DE 102010048031A DE 102010048031 A1 DE102010048031 A1 DE 102010048031A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- composition
- polythiophene
- sulfate
- ppm
- pedot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 title claims abstract description 51
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 title claims abstract description 50
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 title claims description 61
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 150
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 64
- YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N Thiophene Chemical compound C=1C=CSC=1 YTPLMLYBLZKORZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 50
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims abstract description 27
- 229930192474 thiophene Natural products 0.000 claims abstract description 26
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims abstract description 20
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 claims abstract description 17
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 17
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 claims abstract description 9
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 claims abstract description 5
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 42
- 229920000172 poly(styrenesulfonic acid) Polymers 0.000 claims description 40
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 claims description 38
- 229940005642 polystyrene sulfonic acid Drugs 0.000 claims description 37
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 32
- 229920000447 polyanionic polymer Polymers 0.000 claims description 26
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 14
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 11
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims description 11
- 229910021653 sulphate ion Inorganic materials 0.000 claims description 11
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 7
- GKWLILHTTGWKLQ-UHFFFAOYSA-N 2,3-dihydrothieno[3,4-b][1,4]dioxine Chemical group O1CCOC2=CSC=C21 GKWLILHTTGWKLQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- PMZURENOXWZQFD-UHFFFAOYSA-L Sodium Sulfate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]S([O-])(=O)=O PMZURENOXWZQFD-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 4
- 150000001447 alkali salts Chemical class 0.000 claims description 4
- 229910052938 sodium sulfate Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 235000011152 sodium sulphate Nutrition 0.000 claims description 4
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 4
- 238000011282 treatment Methods 0.000 claims description 3
- 150000003863 ammonium salts Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims 1
- -1 polyphenylenes Polymers 0.000 description 35
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 11
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 10
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 description 9
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 9
- 239000000047 product Substances 0.000 description 9
- 125000002091 cationic group Chemical group 0.000 description 8
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 8
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 description 8
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 6
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- VTLYFUHAOXGGBS-UHFFFAOYSA-N Fe3+ Chemical class [Fe+3] VTLYFUHAOXGGBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 5
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- HNSDLXPSAYFUHK-UHFFFAOYSA-N 1,4-bis(2-ethylhexyl) sulfosuccinate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)CC(S(O)(=O)=O)C(=O)OCC(CC)CCCC HNSDLXPSAYFUHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ATHHXGZTWNVVOU-UHFFFAOYSA-N N-methylformamide Chemical compound CNC=O ATHHXGZTWNVVOU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 4
- 229920002125 Sokalan® Polymers 0.000 description 4
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 4
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 4
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 description 4
- 235000005985 organic acids Nutrition 0.000 description 4
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 4
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 4
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N Glycerine Chemical compound OCC(O)CO PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920000144 PEDOT:PSS Polymers 0.000 description 3
- 229920002845 Poly(methacrylic acid) Polymers 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- 150000001408 amides Chemical class 0.000 description 3
- 125000000129 anionic group Chemical group 0.000 description 3
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 3
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 description 3
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 150000007522 mineralic acids Chemical class 0.000 description 3
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 3
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 3
- HXJUTPCZVOIRIF-UHFFFAOYSA-N sulfolane Chemical compound O=S1(=O)CCCC1 HXJUTPCZVOIRIF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000003457 sulfones Chemical class 0.000 description 3
- 239000010414 supernatant solution Substances 0.000 description 3
- SMNDYUVBFMFKNZ-UHFFFAOYSA-N 2-furoic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CO1 SMNDYUVBFMFKNZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IHCCAYCGZOLTEU-UHFFFAOYSA-N 3-furoic acid Chemical compound OC(=O)C=1C=COC=1 IHCCAYCGZOLTEU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 4-Butyrolactone Chemical compound O=C1CCCO1 YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OZJPLYNZGCXSJM-UHFFFAOYSA-N 5-valerolactone Chemical compound O=C1CCCCO1 OZJPLYNZGCXSJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920000089 Cyclic olefin copolymer Polymers 0.000 description 2
- 239000004713 Cyclic olefin copolymer Substances 0.000 description 2
- FBPFZTCFMRRESA-FSIIMWSLSA-N D-Glucitol Natural products OC[C@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)CO FBPFZTCFMRRESA-FSIIMWSLSA-N 0.000 description 2
- FBPFZTCFMRRESA-JGWLITMVSA-N D-glucitol Chemical compound OC[C@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@H](O)CO FBPFZTCFMRRESA-JGWLITMVSA-N 0.000 description 2
- 208000032974 Gagging Diseases 0.000 description 2
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 2
- CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L Magnesium sulfate Chemical compound [Mg+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylacetamide Chemical compound CN(C)C(C)=O FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UEEJHVSXFDXPFK-UHFFFAOYSA-N N-dimethylaminoethanol Chemical compound CN(C)CCO UEEJHVSXFDXPFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OHLUUHNLEMFGTQ-UHFFFAOYSA-N N-methylacetamide Chemical compound CNC(C)=O OHLUUHNLEMFGTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N Pyrrole Chemical compound C=1C=CNC=1 KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 206010038776 Retching Diseases 0.000 description 2
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 2
- DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-N Trifluoroacetic acid Chemical compound OC(=O)C(F)(F)F DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 2
- 125000005396 acrylic acid ester group Chemical group 0.000 description 2
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 2
- 150000007933 aliphatic carboxylic acids Chemical class 0.000 description 2
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 description 2
- DIZPMCHEQGEION-UHFFFAOYSA-H aluminium sulfate (anhydrous) Chemical compound [Al+3].[Al+3].[O-]S([O-])(=O)=O.[O-]S([O-])(=O)=O.[O-]S([O-])(=O)=O DIZPMCHEQGEION-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- RDOXTESZEPMUJZ-UHFFFAOYSA-N anisole Chemical compound COC1=CC=CC=C1 RDOXTESZEPMUJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 2
- 239000002585 base Substances 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- OSGAYBCDTDRGGQ-UHFFFAOYSA-L calcium sulfate Chemical compound [Ca+2].[O-]S([O-])(=O)=O OSGAYBCDTDRGGQ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 150000007942 carboxylates Chemical class 0.000 description 2
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 2
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 239000002612 dispersion medium Substances 0.000 description 2
- JBKVHLHDHHXQEQ-UHFFFAOYSA-N epsilon-caprolactam Chemical compound O=C1CCCCCN1 JBKVHLHDHHXQEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 2
- 238000001879 gelation Methods 0.000 description 2
- 238000001095 inductively coupled plasma mass spectrometry Methods 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000002609 medium Substances 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 2
- GJVFBWCTGUSGDD-UHFFFAOYSA-L pentamethonium bromide Chemical class [Br-].[Br-].C[N+](C)(C)CCCCC[N+](C)(C)C GJVFBWCTGUSGDD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 2
- 229920002492 poly(sulfone) Polymers 0.000 description 2
- 239000004584 polyacrylic acid Substances 0.000 description 2
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 2
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 2
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 2
- 229920000867 polyelectrolyte Polymers 0.000 description 2
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 2
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 2
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 2
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 2
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 2
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- 239000000600 sorbitol Substances 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 150000005846 sugar alcohols Chemical class 0.000 description 2
- 150000003460 sulfonic acids Chemical class 0.000 description 2
- 150000003462 sulfoxides Chemical class 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N toluene-4-sulfonic acid Chemical compound CC1=CC=C(S(O)(=O)=O)C=C1 JOXIMZWYDAKGHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GBXQPDCOMJJCMJ-UHFFFAOYSA-M trimethyl-[6-(trimethylazaniumyl)hexyl]azanium;bromide Chemical class [Br-].C[N+](C)(C)CCCCCC[N+](C)(C)C GBXQPDCOMJJCMJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N (2r,3r,4s,5r)-2-[6-[[2-(3,5-dimethoxyphenyl)-2-(2-methylphenyl)ethyl]amino]purin-9-yl]-5-(hydroxymethyl)oxolane-3,4-diol Chemical compound COC1=CC(OC)=CC(C(CNC=2C=3N=CN(C=3N=CN=2)[C@H]2[C@@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O2)O)C=2C(=CC=CC=2)C)=C1 BUHVIAUBTBOHAG-FOYDDCNASA-N 0.000 description 1
- SCYULBFZEHDVBN-UHFFFAOYSA-N 1,1-Dichloroethane Chemical compound CC(Cl)Cl SCYULBFZEHDVBN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NWUYHJFMYQTDRP-UHFFFAOYSA-N 1,2-bis(ethenyl)benzene;1-ethenyl-2-ethylbenzene;styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1.CCC1=CC=CC=C1C=C.C=CC1=CC=CC=C1C=C NWUYHJFMYQTDRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WURBVZBTWMNKQT-UHFFFAOYSA-N 1-(4-chlorophenoxy)-3,3-dimethyl-1-(1,2,4-triazol-1-yl)butan-2-one Chemical compound C1=NC=NN1C(C(=O)C(C)(C)C)OC1=CC=C(Cl)C=C1 WURBVZBTWMNKQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VXNZUUAINFGPBY-UHFFFAOYSA-N 1-Butene Chemical group CCC=C VXNZUUAINFGPBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LDMOEFOXLIZJOW-UHFFFAOYSA-N 1-dodecanesulfonic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCS(O)(=O)=O LDMOEFOXLIZJOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WBIQQQGBSDOWNP-UHFFFAOYSA-N 2-dodecylbenzenesulfonic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCC1=CC=CC=C1S(O)(=O)=O WBIQQQGBSDOWNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WWILHZQYNPQALT-UHFFFAOYSA-N 2-methyl-2-morpholin-4-ylpropanal Chemical compound O=CC(C)(C)N1CCOCC1 WWILHZQYNPQALT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004493 2-methylbut-1-yl group Chemical group CC(C*)CC 0.000 description 1
- MCLMZMISZCYBBG-UHFFFAOYSA-N 3-ethylheptanoic acid Chemical compound CCCCC(CC)CC(O)=O MCLMZMISZCYBBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003542 3-methylbutan-2-yl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- UQRONKZLYKUEMO-UHFFFAOYSA-N 4-methyl-1-(2,4,6-trimethylphenyl)pent-4-en-2-one Chemical group CC(=C)CC(=O)Cc1c(C)cc(C)cc1C UQRONKZLYKUEMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GUBGYTABKSRVRQ-XLOQQCSPSA-N Alpha-Lactose Chemical compound O[C@@H]1[C@@H](O)[C@@H](O)[C@@H](CO)O[C@H]1O[C@@H]1[C@@H](CO)O[C@H](O)[C@H](O)[C@H]1O GUBGYTABKSRVRQ-XLOQQCSPSA-N 0.000 description 1
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 1
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N Butyl acetate Natural products CCCCOC(C)=O DKPFZGUDAPQIHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KXDHJXZQYSOELW-UHFFFAOYSA-N Carbamic acid Chemical group NC(O)=O KXDHJXZQYSOELW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L Carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910020366 ClO 4 Inorganic materials 0.000 description 1
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FBPFZTCFMRRESA-KVTDHHQDSA-N D-Mannitol Chemical compound OC[C@@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@H](O)CO FBPFZTCFMRRESA-KVTDHHQDSA-N 0.000 description 1
- BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen disulfide Chemical compound SS BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 1
- 229930091371 Fructose Natural products 0.000 description 1
- RFSUNEUAIZKAJO-ARQDHWQXSA-N Fructose Chemical compound OC[C@H]1O[C@](O)(CO)[C@@H](O)[C@@H]1O RFSUNEUAIZKAJO-ARQDHWQXSA-N 0.000 description 1
- 239000005715 Fructose Substances 0.000 description 1
- WQZGKKKJIJFFOK-GASJEMHNSA-N Glucose Natural products OC[C@H]1OC(O)[C@H](O)[C@@H](O)[C@@H]1O WQZGKKKJIJFFOK-GASJEMHNSA-N 0.000 description 1
- 229930194542 Keto Natural products 0.000 description 1
- GUBGYTABKSRVRQ-QKKXKWKRSA-N Lactose Natural products OC[C@H]1O[C@@H](O[C@H]2[C@H](O)[C@@H](O)C(O)O[C@@H]2CO)[C@H](O)[C@@H](O)[C@H]1O GUBGYTABKSRVRQ-QKKXKWKRSA-N 0.000 description 1
- 229930195725 Mannitol Natural products 0.000 description 1
- WPPOGHDFAVQKLN-UHFFFAOYSA-N N-Octyl-2-pyrrolidone Chemical compound CCCCCCCCN1CCCC1=O WPPOGHDFAVQKLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZWXPDGCFMMFNRW-UHFFFAOYSA-N N-methylcaprolactam Chemical compound CN1CCCCCC1=O ZWXPDGCFMMFNRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005062 Polybutadiene Substances 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 229920000265 Polyparaphenylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 1
- CZMRCDWAGMRECN-UGDNZRGBSA-N Sucrose Chemical compound O[C@H]1[C@H](O)[C@@H](CO)O[C@@]1(CO)O[C@@H]1[C@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](CO)O1 CZMRCDWAGMRECN-UGDNZRGBSA-N 0.000 description 1
- 229930006000 Sucrose Natural products 0.000 description 1
- GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N Triethanolamine Chemical compound OCCN(CCO)CCO GSEJCLTVZPLZKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001299 aldehydes Chemical class 0.000 description 1
- 150000001338 aliphatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 150000001343 alkyl silanes Chemical class 0.000 description 1
- IYABWNGZIDDRAK-UHFFFAOYSA-N allene Chemical group C=C=C IYABWNGZIDDRAK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940037003 alum Drugs 0.000 description 1
- BFNBIHQBYMNNAN-UHFFFAOYSA-N ammonium sulfate Chemical compound N.N.OS(O)(=O)=O BFNBIHQBYMNNAN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052921 ammonium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000011130 ammonium sulphate Nutrition 0.000 description 1
- 125000002490 anilino group Chemical class [H]N(*)C1=C([H])C([H])=C([H])C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 125000003710 aryl alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- SRSXLGNVWSONIS-UHFFFAOYSA-N benzenesulfonic acid Chemical compound OS(=O)(=O)C1=CC=CC=C1 SRSXLGNVWSONIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940092714 benzenesulfonic acid Drugs 0.000 description 1
- 125000001797 benzyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(C([H])=C1[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- WQZGKKKJIJFFOK-VFUOTHLCSA-N beta-D-glucose Chemical compound OC[C@H]1O[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)[C@@H]1O WQZGKKKJIJFFOK-VFUOTHLCSA-N 0.000 description 1
- 230000001680 brushing effect Effects 0.000 description 1
- 229930188620 butyrolactone Natural products 0.000 description 1
- 239000012482 calibration solution Substances 0.000 description 1
- 150000001733 carboxylic acid esters Chemical class 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 1
- 235000010980 cellulose Nutrition 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 150000008280 chlorinated hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 229920000547 conjugated polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 150000001879 copper Chemical class 0.000 description 1
- 238000003851 corona treatment Methods 0.000 description 1
- 125000004093 cyano group Chemical group *C#N 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000582 cycloheptyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- 125000006547 cyclononyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- 125000000640 cyclooctyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- 125000001511 cyclopentyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C1([H])[H] 0.000 description 1
- ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N diethanolamine Chemical compound OCCNCCO ZBCBWPMODOFKDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N diethylene glycol Chemical compound OCCOCCO MTHSVFCYNBDYFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MOTZDAYCYVMXPC-UHFFFAOYSA-N dodecyl hydrogen sulfate Chemical class CCCCCCCCCCCCOS(O)(=O)=O MOTZDAYCYVMXPC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940060296 dodecylbenzenesulfonic acid Drugs 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 239000003480 eluent Substances 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000003682 fluorination reaction Methods 0.000 description 1
- 150000002240 furans Chemical class 0.000 description 1
- 238000005227 gel permeation chromatography Methods 0.000 description 1
- 239000008103 glucose Substances 0.000 description 1
- 238000007646 gravure printing Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N hexanoic acid Chemical compound CCCCCC(O)=O FUZZWVXGSFPDMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- TUJKJAMUKRIRHC-UHFFFAOYSA-N hydroxyl Chemical class [OH] TUJKJAMUKRIRHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005470 impregnation Methods 0.000 description 1
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 1
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 description 1
- 238000004255 ion exchange chromatography Methods 0.000 description 1
- 239000003456 ion exchange resin Substances 0.000 description 1
- 229920003303 ion-exchange polymer Polymers 0.000 description 1
- 125000000959 isobutyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000001972 isopentyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000000468 ketone group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000686 lactone group Chemical group 0.000 description 1
- 239000008101 lactose Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229920002521 macromolecule Polymers 0.000 description 1
- 229910052943 magnesium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000019341 magnesium sulphate Nutrition 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 239000000594 mannitol Substances 0.000 description 1
- 235000010355 mannitol Nutrition 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N methoxybenzene Substances CCCCOC=C UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000003136 n-heptyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000001280 n-hexyl group Chemical group C(CCCCC)* 0.000 description 1
- JIKUXBYRTXDNIY-UHFFFAOYSA-N n-methyl-n-phenylformamide Chemical compound O=CN(C)C1=CC=CC=C1 JIKUXBYRTXDNIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000740 n-pentyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000004123 n-propyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000001971 neopentyl group Chemical group [H]C([*])([H])C(C([H])([H])[H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000007645 offset printing Methods 0.000 description 1
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 1
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001037 p-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(=C([H])C([H])=C1*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000007649 pad printing Methods 0.000 description 1
- 125000003538 pentan-3-yl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- SNGREZUHAYWORS-UHFFFAOYSA-N perfluorooctanoic acid Chemical compound OC(=O)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F SNGREZUHAYWORS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JRKICGRDRMAZLK-UHFFFAOYSA-L persulfate group Chemical group S(=O)(=O)([O-])OOS(=O)(=O)[O-] JRKICGRDRMAZLK-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 1
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 229920000553 poly(phenylenevinylene) Polymers 0.000 description 1
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 1
- 229920001197 polyacetylene Polymers 0.000 description 1
- 229920002239 polyacrylonitrile Polymers 0.000 description 1
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 1
- 229920002857 polybutadiene Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 229920001195 polyisoprene Polymers 0.000 description 1
- 229920001444 polymaleic acid Polymers 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 229920002689 polyvinyl acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000011118 polyvinyl acetate Substances 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 235000019422 polyvinyl alcohol Nutrition 0.000 description 1
- 229920000036 polyvinylpyrrolidone Polymers 0.000 description 1
- 235000013855 polyvinylpyrrolidone Nutrition 0.000 description 1
- 239000012286 potassium permanganate Substances 0.000 description 1
- OTYBMLCTZGSZBG-UHFFFAOYSA-L potassium sulfate Chemical compound [K+].[K+].[O-]S([O-])(=O)=O OTYBMLCTZGSZBG-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910052939 potassium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000011151 potassium sulphates Nutrition 0.000 description 1
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 1
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000003586 protic polar solvent Substances 0.000 description 1
- 150000003233 pyrroles Chemical class 0.000 description 1
- HNJBEVLQSNELDL-UHFFFAOYSA-N pyrrolidin-2-one Chemical compound O=C1CCCN1 HNJBEVLQSNELDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 125000002914 sec-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000003548 sec-pentyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000007784 solid electrolyte Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 150000003440 styrenes Chemical class 0.000 description 1
- 239000005720 sucrose Substances 0.000 description 1
- BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M sulfonate Chemical compound [O-]S(=O)=O BDHFUVZGWQCTTF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 125000001273 sulfonato group Chemical group [O-]S(*)(=O)=O 0.000 description 1
- 150000003467 sulfuric acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 238000010345 tape casting Methods 0.000 description 1
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 125000001973 tert-pentyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 150000003568 thioethers Chemical class 0.000 description 1
- 150000003577 thiophenes Chemical class 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000000411 transmission spectrum Methods 0.000 description 1
- ZIBGPFATKBEMQZ-UHFFFAOYSA-N triethylene glycol Chemical compound OCCOCCOCCO ZIBGPFATKBEMQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000108 ultra-filtration Methods 0.000 description 1
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- NLVXSWCKKBEXTG-UHFFFAOYSA-N vinylsulfonic acid Chemical class OS(=O)(=O)C=C NLVXSWCKKBEXTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/06—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of other non-metallic substances
- H01B1/12—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of other non-metallic substances organic substances
- H01B1/124—Intrinsically conductive polymers
- H01B1/127—Intrinsically conductive polymers comprising five-membered aromatic rings in the main chain, e.g. polypyrroles, polythiophenes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08L—COMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
- C08L65/00—Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain; Compositions of derivatives of such polymers
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G61/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
- C08G61/12—Macromolecular compounds containing atoms other than carbon in the main chain of the macromolecule
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08J—WORKING-UP; GENERAL PROCESSES OF COMPOUNDING; AFTER-TREATMENT NOT COVERED BY SUBCLASSES C08B, C08C, C08F, C08G or C08H
- C08J3/00—Processes of treating or compounding macromolecular substances
- C08J3/02—Making solutions, dispersions, lattices or gels by other methods than by solution, emulsion or suspension polymerisation techniques
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/22—Electrodes
- H01G11/30—Electrodes characterised by their material
- H01G11/48—Conductive polymers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G11/00—Hybrid capacitors, i.e. capacitors having different positive and negative electrodes; Electric double-layer [EDL] capacitors; Processes for the manufacture thereof or of parts thereof
- H01G11/54—Electrolytes
- H01G11/56—Solid electrolytes, e.g. gels; Additives therein
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/10—Organic polymers or oligomers
- H10K85/111—Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
- H10K85/113—Heteroaromatic compounds comprising sulfur or selene, e.g. polythiophene
- H10K85/1135—Polyethylene dioxythiophene [PEDOT]; Derivatives thereof
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G2261/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
- C08G2261/10—Definition of the polymer structure
- C08G2261/14—Side-groups
- C08G2261/142—Side-chains containing oxygen
- C08G2261/1424—Side-chains containing oxygen containing ether groups, including alkoxy
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G2261/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
- C08G2261/30—Monomer units or repeat units incorporating structural elements in the main chain
- C08G2261/32—Monomer units or repeat units incorporating structural elements in the main chain incorporating heteroaromatic structural elements in the main chain
- C08G2261/322—Monomer units or repeat units incorporating structural elements in the main chain incorporating heteroaromatic structural elements in the main chain non-condensed
- C08G2261/3223—Monomer units or repeat units incorporating structural elements in the main chain incorporating heteroaromatic structural elements in the main chain non-condensed containing one or more sulfur atoms as the only heteroatom, e.g. thiophene
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G2261/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
- C08G2261/40—Polymerisation processes
- C08G2261/43—Chemical oxidative coupling reactions, e.g. with FeCl3
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G2261/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
- C08G2261/50—Physical properties
- C08G2261/51—Charge transport
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G2261/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
- C08G2261/50—Physical properties
- C08G2261/59—Stability
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G2261/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
- C08G2261/70—Post-treatment
- C08G2261/79—Post-treatment doping
- C08G2261/792—Post-treatment doping with low-molecular weight dopants
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G2261/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
- C08G2261/70—Post-treatment
- C08G2261/79—Post-treatment doping
- C08G2261/794—Post-treatment doping with polymeric dopants
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08L—COMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
- C08L25/00—Compositions of, homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by an aromatic carbocyclic ring; Compositions of derivatives of such polymers
- C08L25/18—Homopolymers or copolymers of aromatic monomers containing elements other than carbon and hydrogen
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/13—Energy storage using capacitors
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Polyoxymethylene Polymers And Polymers With Carbon-To-Carbon Bonds (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
Abstract
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer ein Polythiophen beinhaltenden Zusammensetzung, eine durch dieses Verfahren erhältliche Zusammensetzung, eine ein Polythiophen beinhaltende Zusammensetzung, einen Schichtkörper, ein elektronisches Bauteil sowie die Verwendung einer Zusammensetzung.
- Leitende Polymere gewinnen zunehmend an wirtschaftlicher Bedeutung, da Polymere gegenüber Metallen Vorteile bezüglich der Verarbeitbarkeit, des Gewichts und der gezielten Einstellung von Eigenschaften durch chemische Modifikation haben. Beispiele für bekannte π-konjugierte Polymere sind Polypyrrole, Polythiophene, Polyaniline, Polyacetylen, Polyphenylene und Poly(p-phenylenvinylene). Schichten aus leitenden Polymeren werden technisch vielfältig eingesetzt, z. B. als polymere Gegenelektrode in Kondensatoren oder zur Durchkontaktierung von elektronischen Leiterplatten. Die Herstellung leitender Polymere erfolgt chemisch oder elektrochemisch oxidativ aus monomeren Vorstufen, wie z. B. gegebenenfalls substituierten Thiophenen, Pyrrolen und Anilinen und deren jeweiligen gegebenenfalls oligomeren Derivaten. Insbesondere die chemisch oxidative Polymerisation ist weit verbreitet, da sie technisch einfach in einem flüssigen Medium bzw. auf vielfältigen Substraten zu realisieren ist.
- Ein besonders wichtiges und technisch genutztes Polythiophen ist das beispielsweise in der
EP 0 339 340 A2 beschriebene Poly(ethylen-3,4-dioxythiophen) (PEDOT oder PEDT), das durch chemische Polymerisation von Ethylen-3,4-dioxythiophen (EDOT oder EDT) hergestellt wird und das in seiner oxidierten Form sehr hohe Leitfähigkeiten aufweist. Eine Übersicht über zahlreiche Poly(alkylen-3,4-dioxythiophen)-Derivate, insbesondere Poly(ethylen-3,4-dioxythio-phen)-Derivate, deren Monomerbausteine, Synthesen und Anwendungen geben L. Groenendaal, F. Jonas, D. Freitag, H. Pielartzik & J. R. Reynolds, Adv. Mater. 12, (2000) S. 481–494. - Besondere technische Bedeutung haben die beispielsweise in der
EP 0 440 957 A2 offenbarten Dispersionen von PEDOT mit Polyanionen, wie z. B. Polystyrolsulfonsäure (PSS), erlangt. Aus diesen Dispersionen können transparente, leitende Filme erzeugt werden, die eine Vielzahl von Anwendungen gefunden haben, z. B. als antistatische Beschichtung oder als Lochinjektionsschicht in organischen Leuchtdioden (OLEDs) wie in derEP 1 227 529 A2 gezeigt. - Die Polymerisation von EDOT erfolgt dabei in einer wässrigen Lösung des Polyanions, und es entsteht ein Polyelektrolytkomplex. Kationische Polythiophene, die zur Ladungskompensation polymere Anionen als Gegenionen enthalten, werden in der Fachwelt auch oft als Polythiophen/Polyanion-Komplexe (PEDOT/PSS-Komplexe) bezeichnet. Aufgrund der Polyelektrolyteigenschaften von PEDOT als Polykation und PSS als Polyanion stellt dieser Komplex dabei keine echte Lösung dar, sondern eher eine Dispersion. Inwieweit Polymere oder Teile der Polymere dabei gelöst oder dispergiert sind, hängt vom Massenverhältnis des Polykations und des Polyanions, von der Ladungsdichte der Polymere, von der Salzkonzentration der Umgebung und von der Natur des umgebenden Mediums ab (V. Kabanov, Russian Chemical Reviews 74, 2005, 3–20). Die Übergänge können dabei fließend sein. Daher wird im Folgenden nicht zwischen den Begriffen „dispergiert” und „gelöst” unterschieden. Ebenso wenig wird zwischen „Dispergierung” und „Lösung” oder zwischen „Dispergierungsmittel” und „Lösungsmittel” unterschieden. Vielmehr werden diese Begriffe im Folgenden als gleichbedeutend verwendet.
- Der Nachteil der im Stand der Technik beschriebenen Dispersionen aus elektrisch leitfähigen Polymeren, insbesondere im Zusammenhang mit den aus dem Stand der Technik bekannten PEDOT/PSS-Dispersionen, besteht jedoch unter anderem darin, dass sie bei längerer Lagerung zum „Vergelen” neigen. Dieses Vergelen der Dispersion zeigt sich unter anderem darin, dass beispielsweise beim Ausgießen der Dispersion aus einem Gefäß heraus die Dispersion nicht gleichmäßig fließt, sondern Bereiche hinterlässt, in denen kaum Dispersion zurückbleibt. Man beobachtet häufig einen uneinheitlichen Fluss des Materials, der durch ein häufiges Abreißen gekennzeichnet ist. Auch verteilt sich die Dispersion auf Substrate, auf welche sie zu Beschichtungszwecken aufgebracht wird, sehr uneinheitlich. Da jedoch PEDOT/PSS-Dispersionen häufig zur Herstellung elektrisch leitfähiger Schichten eingesetzt werden und deshalb auf Substratoberflächen aufgetragen werden müssen, beeinflusst dieses Vergelen auch entscheidend die Homogenität und damit die elektrischen Eigenschaften der PEDOT/PSS-Schicht. Darüber hinaus sind die aus dem Stand der Technik bekannten PEDOT/PSS-Dispersionen auch dadurch gekennzeichnet, dass die mittels derartiger Dispersionen erhaltenen Schichten oftmals eine noch verbesserungswürde elektrische Leitfähigkeit aufweisen.
- Der vorliegenden Erfindung lag daher die Aufgabe zugrunde, die sich aus dem Stand der Technik ergebenden Nachteile im Zusammenhang mit Polythiophene beinhaltenden Zusammensetzungen, insbesondere im Zusammenhang mit PEDOT/PSS-Dispersionen, sowie im Zusammenhang mit aus diesen Zusammensetzung bzw. diesen Dispersionen hergestellten Schichtkörpern zu überwinden.
- Insbesondere lag der vorliegenden Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Herstellung einer Polyhtiophene beinhaltenden Zusammensetzung, vorzugsweise einer PEDOT/PSS-Dispersion anzugeben, die sich insbesondere dadurch auszeichnet, dass sie auch nach längerer Lagerungszeit kaum, vorzugsweise jedoch überhaupt nicht zum Vergelen neigt.
- Darüberhinaus sollte sich die durch dieses Verfahren erhältliche Zusammensetzung bzw. Dispersion dadurch auszeichnen, dass eine aus dieser Zusammensetzung bzw. Dispersionen hergestellte Schicht durch eine besonders hohe elektrische Leitfähigkeit gekennzeichnet ist.
- Dementsprechend war es auch eine der vorliegenden Erfindung zugrunde liegende Aufgabe, eine Polythiophene beinhaltene Zusammensetzung, vorzugsweise eine PEDOT/PSS-Dispersion bereitzustellen, die im Vergleich zu den aus dem Stand der Technik bekannten Zusammensetzungen bzw. Dispersionen durch eine besonders vorteilhafte Eigenschaftskombination aus guter Verarbeitbarkeit auf der einen Seite und hoher elektrischer Leitfähigkeit eines daraus gewonnenen Schicht gekennzeichnet ist.
- Eine weitere Aufgabe besteht in der Glättung von Busbars. Im Falle von OLED und OPV Aufbauten ist eine niedrige Oberflächenrauhigkeit erforderlich, da auf die Polythiophenschicht weitere Schichten aufgebracht werden, die üblicherweise eine Dicke von 10–200 nm. Im Falle von hohen Rauhigkeiten wird dieser Schichtaufbau gestört.
- Einen Beitrag zur Lösung dieser Aufgaben leistet ein Verfahren zur Herstellung einer ein Polythiophen beinhaltenden Zusammensetzung, beinhaltend die Verfahrensschritte:
- I) Bereitstellen einer Zusammensetzung Z1 beinhaltend Thiophen-Monomere und ein Oxidationsmittel;
- II) oxidative Polymerisation der Thiophen-Monomere durch Reduktion des Oxidationsmittels zu einem Reduktionsprodukt und Oxidation des Thiophen-Monomers unter Bildung einer ein Polythiophen und das Reduktionsprodukt beinhaltenden Zusammensetzung Z2;
- III) zumindest teilweises Entfernen des Reduktionsprodukts aus der im Verfahrensschritt II) erhaltenen Zusammensetzung Z2 unter Erhalt einer Zusammensetzung Z3;
- Überraschend wurde festgestellt, dass sich die Lagerungsstabilität von Polythiophene beinhaltenden Zusammensetzungen, insbesondere von PEDOT/PSS-Dispersionen, im Hinblick auf deren „Vergelungsverhalten”, ebenso wie die Leitfähigkeit von auf der Basis dieser Zusammensetzungen bzw. Dispersionen erhaltenen Schichten deutlich verbessern lässt, wenn in diesen Zusammensetzungen bzw. Dispersionen ein bestimmter, durch einen Mindestwert von etwa 100 ppm und einen Höchstwert von etwa 1.000 ppm gekennzeichneter Sulfat-Gehalt eingestellt wird. Liegt der Gehalt an Sulfat unterhalb von 100 ppm, so kann eine nennenswerte Erhöhung der Leitfähigkeit durch den Sulfat-Zusatz nicht erreicht werden. Liegt der Gehalt an Sulfat oberhalb von 100 ppm, so wird eine signifikante Erhöhung der Viskosität der Zusammensetzung bzw. der Dispersion beobachtet, die letztlich zu einem Vergelen führt und die Verarbeitung der Zusammensetzung bzw. der Dispersion erschwert.
- Im Verfahrensschritt I) des erfindungsgemäßen Verfahrens wird zunächst eine Zusammensetzung Z1 beinhaltend Thiophen-Monomere und ein Oxidationsmittel bereitgestellt.
- Als Thiophen-Monomere werden vorzugsweise Verbindungen der Formel (I) eingesetzt, worin
A für einen gegebenenfalls substituierten C1-C5-Alkylenrest steht,
R unabhängig voneinander für H, einen linearen oder verzweigten, gegebenenfalls substituierten C1-C18-Alkylrest, einen gegebenenfalls substituierten C5-C12-Cycloalkylrest, einen gegebenenfalls substituierten C6-C14-Arylrest, einen gegebenenfalls substituierten C7-C18-Aralkylrest, einen gegebenenfalls substituierten C1-C4-Hydroxyalkylrest oder einen Hydroxylrest steht,
x für eine ganze Zahl von 0 bis 8 steht, und
für den Fall, dass mehrere Reste R an A gebunden sind, diese gleich oder unterschiedlich sein können. Die allgemeine Formel (I) ist so zu verstehen, dass der Substituent R x-mal an den Alkylenrest A gebunden sein kann. - Besonders bevorzugt sind Thiophen-Monomere der allgemeinen Formel (I), worin A für einen gegebenenfalls substituierten C2-C3-Alkylenrest und x für 0 oder 1 steht. Ganz besonders bevorzugt als Thiophen-Monomer ist 3,4-Ethylendioxythiophen, welches im Verfahrensschritt II) unter Erhalt von Poly(3,4-ethylendioxythiophen) polymerisiert wird.
- C1-C5-Alkylenreste A sind im Rahmen der Erfindung bevorzugt Methylen, Ethylen, n-Propylen, n-Butylen oder n-Pentylen. C1-C18-Alkyl R stehen bevorzugt für lineare oder verzweigte C1-C18-Alkylreste wie Methyl, Ethyl, n- oder iso-Propyl, n-, iso-, sec- oder tert-Butyl, n-Pentyl, 1-Methylbutyl, 2-Methylbutyl, 3-Methylbutyl, 1-Ethylpropyl, 1,1-Dimethylpropyl, 1,2-Dimethylpropyl, 2,2-Dimethylpropyl, n-Hexyl, n-Heptyl, n-Octyl, 2-Ethylhexyl, n-Nonyl, n-Decyl, n-Undecyl, n-Dodecyl, n-Tridecyl, n-Tetradecyl, n-Hexadecyl oder n-Octadecyl, C5-C12-Cycloalkylreste R stehen beispielsweise für Cyclopentyl, Cyclohexyl, Cycloheptyl, Cyclooctyl, Cyclononyl oder Cyclodecyl, C6-C14-Arylreste R stehen beispielsweise für Phenyl oder Naphthyl, und C7-C18-Aralkylreste R beispielsweise für Benzyl, o-, m-, p-Tolyl, 2,3-, 2,4-, 2,5-, 2,6-, 3,4-, 3,5-Xylyl oder Mesityl. Die vorangehende Aufzählung dient der beispielhaften Erläuterung der Erfindung und ist nicht als abschließend zu betrachten.
- Als gegebenenfalls weitere Substituenten der Reste A und/oder der Reste R kommen im Rahmen der Erfindung zahlreiche organische Gruppen in Frage, beispielsweise Alkyl-, Cycloalkyl-, Aryl-, Aralkyl-, Alkoxy, Halogen-, Ether-, Thioether-, Disulfid-, Sulfoxid-, Sulfon-, Sulfonat-, Amino-, Aldehyd-, Keto-, Carbonsäureester-, Carbonsäure-, Carbonat-, Carboxylat-, Cyano-, Alkylsilan- und Alkoxysilangruppen sowie Carboxylamidgruppen.
- Weiterhin umfasst die im Verfahrensschritt I) bereitgestellte Zusammensetzung neben dem Thiophen-Monomer auch ein Oxidationsmittel. Als Oxidationsmittel können die für die oxidative Polymerisation von Pyrrol geeigneten Oxidationsmittel verwendet werden; diese sind beispielsweise in J. Am. Chem. Soc. 85, 454 (1963) beschrieben. Bevorzugt sind aus praktischen Gründen preiswerte und leicht handhabbare Oxidationsmittel, z. B. Eisen-III-Salze wie FeCl3, Fe(ClO4)3 und die Eisen-III-Salze organischer Säuren und organische Reste aufweisender anorganischer Säuren, ferner H2O2, K2Cr2O7, Alkali- und Ammoniumpersulfate, Alkaliperborate, Kaliumpermanganat und Kupfersalze, wie Kupfertetrafluoroborat. Die Verwendung der Persulfate und der Eisen-III-salze organischer Säuren und der organische Reste aufweisenden anorganischen Säuren hat den großen anwendungstechnischen Vorteil, dass sie nicht korrosiv wirken. Als Eisen-III-Salze organische Reste aufweisender anorganischer Säuren seien beispielsweise die Eisen-III-Salze der Schwefelsäurehalbester von C1-C20-Alkanolen, z. B. das Fe-III-Salz des Laurylsulfates genannt. Als Eisen-III-Salze organischer Säuren seien beispielsweise genannt: die Fe-III-Salze von C1-C20-Alkylsulfonsäuren, wie der Methan- und der Dodecansulfonsäure; aliphatischen C1-C20-Carbonsäuren wie der 2-Ethylhexylcarbonsäure; aliphatischen Perfluorcarbonsäuren, wie der Trifluoressigsäure und der Perfluoroctansäure; aliphatischen Dicarbonsäuren, wie der Oxalsäure und vor allem von aromatischen, gegebenenfalls durch C1-C20-Alkylgruppen substituierten Sulfonsäuren wie der Benzolsulfonsäure, p-Toluolsulfonsäure und der Dodecylbenzolsulfonsäure.
- Für die oxidative Polymerisation der Thiophen-Monomere der Formel I werden theoretisch je Mol Thiophen 2,25 Äquivalente Oxidationsmittel benötigt (siehe z. B. J. Polym. Sc. Part A Polymer Chemistry Vol. 26, S. 1287 (1988)). Praktisch wird das Oxydationsmittel jedoch in einem gewissen Überschuss, z. B. einem Überschuss von 0,1 bis 2 Äquivalenten je Mol Thiophen angewendet.
- Gemäß einer besonders bevorzugten Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens umfasst die im Verfahrensschritt I) bereitgestellte Zusammensetzung auch ein Polyanion, wobei unter einem Polyanion vorzugsweise ein polymeres Anion verstanden wird, welches mindestens 2, besonders bevorzugt mindestens 3, noch mehr bevorzugt mindestens 4 und am meisten bevorzugt mindestens 10 identische, anionische Monomer-Wiederholungseinheiten umfasst, die jedoch nicht notwendiger Weise unmittelbar miteinander verknüpft sein müssen.
- Polyanionen können hier beispielsweise Anionen polymerer Carbonsäuren, wie Polyacrylsäuren, Polymethacrylsäure oder Polymaleinsäuren, oder polymerer Sulfonsäuren, wie Polystyrolsulfonsäuren und Polyvinylsulfonsäuren sein. Diese Polycarbon- und -sulfonsäuren können auch Copolymere von Vinylcarbon- und Vinylsulfonsäuren mit anderen polymerisierbaren Monomeren, wie Acrylsäureestern und Styrol, sein. Bevorzugt ist in den im Verfahrensschritt I) bereitgestellten Dispersionen als Polyanion ein Anion einer polymeren Carbon- oder Sulfonsäure enthalten.
- Besonders bevorzugt als Polyanion ist das Anion der Polystyrolsulfonsäure (PSS). Das Molekulargewicht (MW) der die Polyanionen liefernden Polysäuren beträgt vorzugsweise 1.000 bis 2.000.000, besonders bevorzugt 2.000 bis 500.000. Die Bestimmung des Molekulargewichts erfolgt über Gelpermeationschromatographie mit Hilfe von Polystyrolsulfonsäuren mit definierten Molekulargewichten als Kalibrierungsstandard. Die Polysäuren oder ihre Alkalisalze sind im Handel erhältlich, z. B. Polystyrolsulfonsäuren und Polyacrylsäuren, oder aber nach bekannten Verfahren herstellbar (siehe z. B. Houben Weyl, Methoden der organischen Chemie, Bd. E 20 Makromolekulare Stoffe, Teil 2, (1987), S. 1141 u. f.).
- Das Polyanion und das Thiophen-Monomer können in der im Verfahrensschritt I) bereitgestellten Zusammensetzung insbesondere in einem Gewichtsverhältnis von 0,5:1 bis 50:1, bevorzugt von 1:1 bis 30:1, besonders bevorzugt 2:1 bis 20:1 enthalten sein.
- Weiterhin ist es erfindungsgemäß bevorzugt, dass die im Verfahrensschritt I) bereitgestellte Zusammensetzung neben dem Thiophen-Monomer, dem Oxidationsmittel und gegebenenfalls dem Polyanion ein Lösungs- bzw. Dispersionsmittel oder ein Lösungs- bzw. Dispersionsmittelgemisch beinhaltet, in dem diese Komponenten gelöst oder dispergiert sind. Als Lösungs- bzw. Dispersionsmittel seien beispielsweise folgenden Substanzen genannt: aliphatische Alkohole wie Methanol, Ethanol, i-Propanol und Butanol; aliphatische Ketone wie Aceton und Methylethylketon; aliphatische Carbonsäureester wie Essigsäureethylester und Essigsäurebutylester; aromatische Kohlenwasserstoffe wie Toluol und Xylol; aliphatische Kohlenwasserstoffe wie Hexan, Heptan und Cyclohexan; Chlorkohlenwasserstoffe wie Dichlormethan und Dichlorethan; aliphatische Nitrile wie Acetonitril, aliphatische Sulfoxide und Sulfone wie Dimethylsulfoxid und Sulfolan; aliphatische Carbonsäureamide wie Methylacetamid, Dimethylacetamid und Dimethylformamid; aliphatische und araliphatische Ether wie Diethylether und Anisol. Weiterhin kann auch Wasser oder ein Gemisch aus Wasser mit den vorgenannten organischen Lösungsmitteln als Lösungs- bzw. Dispersionsmittel verwendet werden. Bevorzugte Lösungs- bzw. Dispersionsmittel sind Wasser oder andere protische Lösungsmittel wie Alkohole, z. B. Methanol, Ethanol, i-Propanol und Butanol, sowie Mischungen von Wasser mit diesen Alkoholen, besonders bevorzugtes Lösungs- bzw. Dispersionsmittel ist Wasser.
- Die Menge bzw. Konzentration, in der die Thiophen-Monomere und Polyanionen in der im Verfahrensschritt I) bereitgestellten Zusammensetzung enthalten sind, wird vorzugsweise so gewählt, dass stabile Polythiophen/Polyanion-Dispersionen erhalten werden, deren Feststoffgehalt in einem Bereich von 0,05 bis 50 Gew.-%, vorzugsweise 0,1 bis 10 Gew.-% und noch mehr bevorzugt 1 bis 5 Gew.-% liegt.
- Im Verfahrensschritt II) des erfindungsgemäßen Verfahrens werden die Thiophen-Monomere durch Reduktion des Oxidationsmittels zu einem Reduktionsprodukt und Oxidation des Thiophen-Monomers unter Bildung einer ein vorzugsweise kationisches Polythiophen und das Reduktionsprodukt beinhaltenden Zusammensetzung Z2 oxidativ polymerisiert, wobei diese Polymerisation vorzugsweise bei einer Temperatur in einem Bereich von 0 bis 100°C erfolgt. Sofern Polyanionen in der im Verfahrensschritt I) bereitgestellten Zusammensetzung zugegen waren, werden im Verfahrensschritt kationische Polythiophene erhalten, die zur Ladungskompensation Polyanionen als Gegenionen enthalten, und die, wie eingangs beschrieben, in der Fachwelt auch oft als Polythiophen/Polyanion-Komplexe bezeichnet werden. Erfindungsgemäß besonders bevorzugte Polythiophen/Polyanion-Komplexe sind PEDOT/PSS-Komplexe.
- Unter dem Präfix „Poly” ist im Rahmen der Erfindung zu verstehen, dass mehr als eine gleiche oder verschiedene wiederkehrende Einheit im Polymeren bzw. Polythiophen enthalten ist. Die im Verfahrensschritt II) gebildeten Polythiophene enthalten insgesamt n wiederkehrende Einheiten der allgemeinen Formel (I), wobei n eine ganze Zahl von 2 bis 2.000, bevorzugt 2 bis 100, ist. Die wiederkehrenden Einheiten der allgemeinen Formel (I) können innerhalb eines Polythiophens jeweils gleich oder verschieden sein, je nachdem, ob in der im Verfahrensschritt I) bereitgestellten Zusammensetzung identische oder verschiedene Thiophen-Monomer vorhanden waren.
- Die im Verfahrensschritt II) durch oxidative Polymerisation gebildeten Polythiophene, ganz besonders das vorstehend genannte Poly(3,4-ethylendioxythiophen), können/kann neutral oder kationisch sein. In einer besonders bevorzugten Ausführungsform sind sie kationisch, wobei sich „kationisch” nur auf die Ladungen bezieht, die auf der Polythiophenhauptkette sitzen. Je nach Substituent an den Resten R können die Polythiophene positive und negative Ladungen in der Struktureinheit tragen, wobei sich die positiven Ladungen auf der Polythiophenhauptkette und die negativen Ladungen gegebenenfalls an den durch Sulfonat- oder Carboxylatgruppen substituierten Resten R befinden. Dabei können die positiven Ladungen der Polythiophenhauptkette zum Teil durch die gegebenenfalls vorhandenen anionischen Gruppen an den Resten R abgesättigt werden. Insgesamt betrachtet können die Polythiophene in diesen Fällen kationisch, neutral oder sogar anionisch sein. Dennoch werden sie im Rahmen der Erfindung alle als kationische Polythiophene betrachtet, da die positiven Ladungen auf der Polythiophenhauptkette maßgeblich sind. Die Anzahl der positiven Ladungen beträgt vorzugsweise mindestens 1 und höchstens n, wobei n die Gesamtanzahl aller wiederkehrenden Einheiten (gleicher oder unterschiedlicher) innerhalb des Polythiophens ist.
- Im Verfahrensschritt III) des erfindungsgemäßen Verfahrens wird das Reduktionsprodukts aus der im Verfahrensschritt II) erhaltenen Zusammensetzung Z2 unter Erhalt einer Zusammensetzung Z3 zumindest teilweise entfernt. Vorzugsweise geschieht dieses Entfernen des Reduktionsproduktes durch die Behandlung der Zusammensetzung Z2 mit einem oder mehreren Ionenaustauschern. Mittels dieser Maßnahme kann die im Verfahrensschritt II) erhaltene Zusammensetzung nicht nur vom Reduktionsprodukt, sondern ganz allgemein von noch vorhandenen Salzen befreit werden. Der oder die Ionentauscher kann/können beispielsweise mit der im Verfahrensschritt II) erhaltenen Zusammensetzung Z2 verrührt werden, oder die im Verfahrensschritt II) erhaltene Zusammensetzung Z2 wird über eine oder mehrere mit Ionenaustauscher gefüllt Säule/Säulen gefördert. Besonders bevorzugt ist es, die im Verfahrensschritt II) erhaltene Zusammensetzung sowohl mit einem Anionenaustauscher als auch mit einem Kationenaustauscher zu behandeln. Als Beispiel geeigneter Kationen- und Anionenaustauscher seien die unter der Handelsbezeichnung LEWATIT® erhaltenen Ionenaustauscher der Lanxess AG genannt.
- Erfindungsgemäß besonders bevorzugt ist es, dass es sich bei der Zusammensetzung Z2 oder der Zusammensetzung Z3 um eine Zusammensetzung handelt, welche einen PEDOT/PSS-Komplex enthält. Vorzugsweise handelt es sich bei der Zusammensetzung Z2 oder der Zusammensetzung Z3 um eine PEDOT/PSS-Dispersion. Als konkrete Beispiele für eine Zusammensetzung Z3, in der der Sulfat-Gehalt noch nicht auf einen Bereich von 100 bis 1.000 ppm eingestellt wurde, seien beispielsweise die von der Firma H. C. Stark Clevios GmbH unter den Bezeichnungen „Clevios®P” erhältlichen Dispersionen genannt.
- Das erfindungsgemäße Verfahren ist nun dadurch gekennzeichnet, dass die Zusammensetzung Z3 einen Sulfat-Gehalt in einem Bereich von 100 bis 1.000 ppm, besonders bevorzugt in einem Bereich von 100 bis 500 ppm und am meisten bevorzugt in einem Bereich von 100 bis 200 ppm, jeweils bezogen auf das Gesamtgewicht der Zusammensetzung Z3, aufweist. Mit dem Begriff „Sulfat” ist in diesem Fall das nicht chemisch gebundene Anion SO4 2– gemeint, welches vorzugsweise in gelöster Form in der Zusammensetzung enthalten ist. Mit Begriff „Sulfat” sind auch die protonierten Formen des Sulfat-ions HSO4 – bzw H2SO4 gemeint, die bei niedrigem pH Wert vorliegen.
- In diesem Zusammenhang ist es bevorzugt, den Sulfat-Gehalt in der Zusammensetzung Z3 durch Zugabe von Schwefelsäure oder einem Salz der Schwefelsäure zu der Zusammensetzung Z3 einzustellen. Vorzugsweise erst nach dem zumindest teilweisen Entfernen des Reduktionsproduktes, welches, wie vorstehen dargelegt, vorzugsweise durch das Behandeln der Zusammensetzung Z2 mit einem oder mehreren Ionenaustauschern erfolgt, werden der auf diese Weise erhaltenen Zusammensetzung entsprechende Mengen an Schwefelsäure oder entsprechende Mengen eines Salzes der Schwefelsäure oder ober entsprechende Menge einer Mischung aus Schwefelsäure und einem Salz der Schwefelsäure zugesetzt. Als Salz der Schwefelsäure können alle dem Fachmann bekannten Schwefelsäuresalze eingesetzt werden, wobei der Einsatz wasserlöslicher Schwefelsäuresalze besonders bevorzugt ist. Als Beispiele geeigneter Schwefelsäuresalze seien beispielsweise die Alkalisalze der Schwefelsäure, wie etwa Natriumsulfat oder Kaliumsulfat, Ammonuimsalze der Schwefelsäure, wie etwa Ammoniumsulfat oder Ammoniumhyrogensulfat, Erdalkalisalze der Schwefelsäure, wie etwa Magnesiumsulfat oder Kalziumsulfat, oder Sulfatsalze dreiwertiger Kationen, wie etwa Aluminiumsulfat oder Alaune, genannt.
- Einen Beitrag zur Lösung der eingangs genannten Aufgaben leistet auch eine Zusammensetzung, welche als Zusammensetzung Z3 durch das vorstehend beschrieben Verfahren erhältlich ist und welche vorzugsweise einen Sulfat-Gehalt in einem Bereich von 100 bis 1.000 ppm, besonders bevorzugt in einem Bereich von 100 bis 500 ppm und am meisten bevorzugt in einem Bereich von 100 bis 200 ppm, jeweils bezogen auf das Gesamtgewicht der Zusammensetzung Z3, aufweist.
- Einen Beitrag zur Lösung der eingangs genannten Aufgaben leistet auch eine Zusammensetzung beinhaltend ein Polythiophen, wobei die Zusammensetzung neben dem Polythiophen 100 bis 1.000 ppm Sulfat, besonders bevorzugt 100 bis 500 ppm Sulfat und am meisten bevorzugt 100 bis 200 ppm Sulfat, jeweils bezogen auf das Gesamtgewicht der Zusammensetzung, beinhaltet. Mit dem Begriff „Sulfat” ist auch in diesem Fall das nicht chemisch gebundene Anionen SO4 2– gemeint, welches vorzugsweise in gelöster Form in der Zusammensetzung enthalten ist. Mit Begriff „Sulfat” sind auch die protonierten Formen des Sulfat-ions HSO4 – bzw H2SO4 gemeint die bei niedrigem pH Wert vorliegen.
- Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Zusammensetzung beträgt die Eisenkonzentration der Zusammensetzung Z3 weniger als 200 ppm, besonders bevorzugt weniger als 50 ppm und am meisten bevorzugt weniger als 10 ppm, jeweils bezogen auf das Gesamtgewicht der Zusammensetzung. Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform beträgt die gemäß der nachstehenden Methode bestimmte Partikelkonzentration an partikulären auf vernetztem Polystyrolderivaten basierenden Ionenaustauschers in einer Dispersion weniger als 20, vorzugsweies weniger als 10 und besonders bevorzugt weniger als 5. Dieses kann auch dann gelten, wenn andere, von auf vernetztem Polystyrolderivaten basierende Ionenaustauscher eingesetzt werden. Die Teilchengröße der partikulären Ionenaustauscher, die häufig im Bereich von 0,1 bis 4 mm liegt, kann, insbesonere, wenn die Ionenaustauscher mechanischer Belasung ausgesetzt waren, auch kleiner Teilchenfraktinen in einem Bereich von 5 bis 100 μm betragen.
- In einer Anderen bevorzugten Ausführungsform liegt sowohl die Eisenkonzentration als auch der Inonentauschergehalt in den zuvor in den zwei Absätzen beschriebenen Grenzen.
- Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Zusammensetzung ist das Polythiophen Poly(3,4-ethylendioxythiophen).
- Weiterhin ist es erfindungsgemäß bevorzugt, dass die Zusammensetzung neben dem Polythiophen, vorzugsweise neben dem Poly(3,4-ethylendioxythiophen), auch ein Polyanion enthält, wobei als Polyanionen diejenigen Verbindungen bevorzugt sind, die bereits eingangs im Zusammenhang mit dem erfindungsgemäßen Verfahren als bevorzugte Polyanionen genannt wurden. In diesem Zusammenhang ganz besonders bevorzugte Polyanionen sind Anionen der Polystyrolsulfonsäure (PSS). In diesem Zusammenhang ist es weiterhin bevorzugt, dass die erfindungsgemäße Zusammensetzung einen PEDOT/PSS-Komplex beinhaltet. Wie vorstehend bereits im Zusammenhang mit dem erfindungsgemäßen Verfahren beschrieben, können derartige Zusammensetzung erhalten werden, in dem 3,4-Ethylendioxythiophene in Gegenwart von Polystyrolsulfonsäure oxidativ polymerisiert werden. In diesem Zusammenhang ist es insbesondere bevorzugt, dass die erfindungsgemäße Zusammensetzung eine PEDOT/PSS-Dispersion ist.
- Gemäß einer besonderen Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Zusammensetzung weist diese mindestens eine der, vorzugsweise jedoch alle folgenden Eigenschaften aufweist:
- i) eine Viskosität in einem Bereich von 2 bis 1000 mPas, vorzugsweise in einem Bereich von 10 bis 500 mPas und am meisten bevorzugt in einem Bereich von 60 bis 250 mPas;
- ii) eine gemäß der hierin beschriebenen Testmethode bestimmte Leitfähigkeit von mindestens 600 S/cm, vorzugsweise von mindestens 500 S/cm und am meisten bevorzugt von mindestens 400 S/cm;
- iii) einen PEDOT/PSS-Gehalt in einem Bereich von 0,05 bis 50 Gew.-%, vorzugsweise 0,1 bis 10 Gew.-% und am meisten bevorzugt 1 bis 5 Gew.-%, jeweils bezogen auf das Gesamtgewicht der Zusammensetzung.
- Erfindungsgemäß besonders bevorzugt ist eine Zusammensetzung, welche die Eigenschaften i) und ii) verwirklicht.
- Einen Beitrag zur Lösung der eingangs genannten Aufgaben leistet auch ein Schichtkörper, beinhaltend
- A) ein Substrat mit einer Substratoberfläche und
- B) eine die Substratoberfläche mindestens teilweise bedeckenden Schicht,
- Als Substrat bevorzugt sind in diesem Zusammenhang insbesondere Kunststofffolien, ganz besonders bevorzugt transparente Kunststofffolien, welche üblicherweise eine Dicke in einem Bereich von 5 bis 5.000 μm, besonders bevorzugt in einem Bereich von 10 bis 2.500 μm und am meisten bevorzugt in einem Bereich von 100 bis 1.000 μm aufweisen. Derartige Kunststofffolien können beispielsweise auf Polymeren wie Polycarbonaten, Polyestern wie z. B. PET und PEN (Polyethylenterephthalat bzw. Polyethylennaphthalindicarboxylat), Copolycarbonaten, Polysulfonen, Polyethersulfonen (PES), Polyimiden, Polyamiden, Polyethylen, Polypropylen oder cyclischen Polyolefinen bzw. cyclischen Olefincopolymeren (COC), Polyvinylchlorid, Polystyrol, hydrierten Styrolpolymeren oder hydrierten Styrolcopolymeren basieren.
- Die Oberfläche der Substrate kann vor der Beschichtung mit der erfindungsgemäßen Zusammensetzung gegebenenfalls vorbehandelt werden, beispielsweise durch Coronabehandlung, Flammbehandlung, Fluorierung oder Plasmabehandlung, um die Polarität der Oberfläche und somit die Benetzbarkeit und chemische Affinität zu verbessern.
- Bevor die erfindungsgemäße Zusammensetzung oder die durch das erfindungsgemäße Verfahren erhältliche Zusammensetzung zum Zwecke der Bildung einer Schicht auf die Substratoberfläche aufgebracht wird, können der Zusammensetzung noch weitere Additive zugesetzt werden, welche die die Leitfähigkeit steigern, wie z. B. ethergruppenhaltige Verbindungen, wie z. B. Tetrahydofuran, lactongruppenhaltige Verbindungen wie Butyrolacton, Valerolacton, amid- oder lactamgruppenhaltige Verbindungen wie Caprolactam, N-Methylcaprolactam, N,N-Dimethylacetamid, N-Methylacetamid, N,N-Dimethylformamid (DMF), N-Methylformamid, N-Methylformanilid, N-Methylpyrrolidon (NMP), N-Octylpyrrolidon, Pyrrolidon, Sulfone und Sulfoxide, wie z. B. Sulfolan (Tetramethylensulfon), Dimethylsulfoxid (DMSO), Zucker oder Zuckerderivate, wie z. B. Saccharose, Glucose, Fructose, Lactose, Zuckeralkohole wie z. B. Sorbit, Mannit, Furanderivate, wie z. B. 2-Furancarbonsäure, 3-Furancarbonsäure, und/oder Di- oder Polyalkohole, wie z. B. Ethylenglycol, Glycerin oder Di- bzw. Triethylenglycol. Besonders bevorzugt werden als leitfähigkeitserhöhende Additive Tetrahydrofuran, N-Methylformamid, N-Methylpyrrolidon, Ethylenglycol, Dimethylsulfoxid oder Sorbit eingesetzt.
- Auch können der Zusammensetzung noch ein oder mehrere, in organischen Lösungsmitteln lösliche oder wasserlösliche organische Bindemittel wie Polyvinylacetat, Polycarbonat, Polyvinylbutyral, Polyacrylsäureester, Polyacrylsäureamide, Polymethacrylsäureester, Polymethacrylsäureamide, Polystyrol, Polyacrylnitril, Polyvinylchlorid, Polyvinylpyrrolidone, Polybutadien, Polyisopren, Polyether, Polyester, Polyurethane, Polyamide, Polyimide, Polysulfone, Silicone, Epoxidharze, Styrol/Acrylsäureester-, Vinylacetat/Acrylsäureester- und Ethylen/Vinylacetat-Copolymerisate, Polyvinylalkohole oder Cellulosen zugesetzt werden. Der Anteil des polymerem Binders, sofern dieser eingesetzt wird, liegt üblicherweise in einem Bereich von 0,1 bis 90 Gew.-%, bevorzugt 0,5 bis 30 Gew.-% und ganz besonders bevorzugt 0,5 bis 10 Gew.-%, bezogen auf das Gesamtgewicht der Beschichtungszusammensetzung.
- Zur Einstellung des pH Werts können den Beschichtungszusammensetzungen beispielsweise Basen oder Säuren zugesetzt werden. Bevorzugt sind solche Zusätze, die die Filmbildung der Dispersionen nicht beeinträchtigen, wie z. B. die Basen 2-(Dimethylamino)-ethanol, 2,2'-Iminodiethanol oder 2,2',2''-Nitrilotriethanol.
- Diese Beschichtungszusammensetzung kann dann nach bekannten Verfahren, z. B. durch Spincoating, Tränkung, Gießen, Auftropfen, Spritzen, Aufsprühen, Aufrakeln, Bestreichen oder Bedrucken, beispielsweise Inkjet-, Sieb-, Tief-, Offset- oder Tampondrucken auf das Substrat in einer Nassfilmdicke von 0,5 μm bis 250 μm, bevorzugt in einer Nassfilmdicke von 2 μm bis 50 μm aufgebracht und anschließend bei einer Temperatur von 20°C bis 200°C getrocknet werden.
- Vorzugsweise weist die die Substratoberfläche mindestens teilweise bedeckende Schicht in den erfindungsgemäßen Schichtkörpern eine Schichtdicke in einem Bereich von 0,01 bis 50 μm, besonders bevorzugt in einem Bereich von 0,1 bis 25 μm und am meisten bevorzugt in einem Bereich von 1 bis 10 μm auf.
- Weiterhin ist es im Zusammenhang mit dem erfindungsgemäßen Schichtkörper bevorzugt, dass die Schicht B) die folgenden Eigenschaften zeigt:
- B1) die Interne Transmission der Schicht ist größer als 60%, vorzugsweise größer als 70% und am meisten bevorzugt größer als 80%;
- B2) die Rauhigkeit der Schicht (Ra) ist kleiner als 50 nm, vorzugsweise kleiner als 30 nm und am meisten bevorzugt kleiner als 20 nm, sowie ferner bevorzugt kleiner als 10 nm oder auch kleiner als 5 nm.
- In manchen Fällen wird eine Interne Transmission von maximal 99,5% erreicht. Auch wird nur in manchen Fällen eine Rauigkeit von mindestens 0,3 nm erreicht
- Einen Beitrag zur Lösung der eingangs genannten Aufgaben leistet auch ein elektronisches Bauteil, beinhaltend einen erfindungsgemäßen Schichtkörper. Bevorzugte elektronische Bauteile sind insbesondere organische Leuchtdioden, organische Solarzelle oder Kondensatoren, wobei der Einsatz in Kondensatoren, insbesondere der Einsatz als Feststoffelektrolyt in Kondensatoren mit Aluminiumoxid als Dielektrikum besonders bevorzugt ist.
- Einen Beitrag zur Lösung der eingangs genannten Aufgaben leistet auch die Verwendung einer erfindungsgemäßen Zusammensetzung oder einer durch das erfindungsgemäße Verfahren erhältlichen Zusammensetzung zur Herstellung einer elektrisch leitenden Schicht in elektronischen Bauteilen, insbesondere in organischen Leuchtdioden, organischen Solarzellen oder Kondensatoren.
- Die Erfindung wird nun anhand von Testmethoden und nicht limitierenden Beispielen näher erläutert.
- TESTMETHODEN
- Sofern hier nicht anders vermerkt, werden die Untersuchungen in einem Labor mit einer Temperatur von 21°C bei 50 bis 70% Luftfeuchtigkeit und Atmosphärendruck durchgeführt.
- Bestimmung des Sulfat-Gehaltes
- Der Sulfatgehalt der Dispersion wird mittels Ionenchromatographie bestimmt. Dazu wird eine mit Ionenaustauscher versehene Säule mit nachfolgender Leitfähigkeitsmessung verwendet. Als Ionenchromatograph wird ein Dionex 300 eingesetzt. Es wird eine Vorsäule vom Typ IonPac AG 11 der Firma Dionex mit 50 mm Länge und 4,0 mm Innendurchmesser und 5 μm Teilchendurchmesser eingesetzt. Es wird eine Trennsäule vom Typ IonPac AS 11 der Firma Dionex von 250 mm Länge und 4,0 mm Innendurchmesser und 5 μm Teilchendurchmesser eingesetzt. Als Elutionsmittel dient Wasser. Die Fließgeschwindigkeit beträgt 1,8 ml/min. Das Injektionsvolumen beträgt 50 μL. Die Retentionszeit für Sulfat beträgt bei dieser Anordnung ca. 12,5 min. Sulfat-Ionen werden mittels eines Leitfähigkeitsdetektors mit Suppressor Dionex ASRS-s detektiert.
- Zur Kalibrierung wird 95%-ige Schwefelsäure (reinst) eingesetzt. Dazu werden 200 mg Sulfat auf 0,1 mg genau in einen 1000 ml Meßkolben eingewogen und mit Wasser bis zur Marke aufgefüllt. Die Präzision der Analyse beträgt bei Konzentrationen > 5 mg/kg 3% relativ zum Messwert. Bei Werten zwischen 1 und 5 mg/kg liegt sie bei maximal 10% relativ zum Messwert.
- Bestimmung des Eisen-Gehaltes
- Der Eisengehalt der Dispersion wurde mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS) bestimmt. (Element 2; THERMO). Die Kalibrierung erfolgt mit zwei separaten Kalibrierlösungen (Tief- und Hochprobe = low und high-standard) und Dazu wird ein interner RhodiumStandard sowei eine Multielementlösung (Fa. Merck) verwendet. 2 g der erfindungsgemäßen Probe werden auf 20 ml verdünnt und eingesetzt. Die Analyse erfolt in der mittleren Auflösung des Massensprektrometers. Die Isotope Fe(54), Fe(56) und Rh(103) werden detektiert und anhand der Kalibrierung der Eisengehalt der Probe bestimmt.
- Bestimmung der Leitfähigkeit
- Ein gereinigtes Glassubstrat wird auf eine Lackschleuder gelegt und 10 ml der erfindungsgemäßen Zusammensetzung werden auf dem Substrat verteilt. Anschließend wird die überstehende Lösung durch Rotation des Tellers abgeschleudert. Danach wird das so beschichtete Substrat 15 min lang bei 130°C auf einer Heizplatte getrocknet. Die Schichtdicke wird mit Hilfe eines Schichtdickenmessgerätes bestimmt. (Tencor, Alphastep 500). Die Leitfähigkeit wird bestimmt, indem über eine Schattenmaske Ag-Elektroden mit 2,5 cm Länge in einem Abstand von 10 mm aufgedampft werden. Der mit einem Elektrometer (Keithly 614) bestimmte Oberflächenwiderstand wird mit der Schichtdicke multipliziert, um den elektrischen spezifischen Widerstand zu erhalten. Die Leitfähigkeit entspricht dem Kehrwert des elektrischen spezifischen Widerstands.
- Bestimmung der Viskosität
- Die Viskosität wird mit Hilfe eines Haake RV 1 Rheometers mit angeschlossenem Kryostaten bestimmt. Dazu wird eine DG 43 Messbecher mit Doppelspalt und ein DG 43 Rotor, beide Fa Haake, verwendet. 12 g der wässrigen Lösung werden in den Messbecher eingewogen. Die Temperatur wird mittels Kryostat auf 20°C geregelt. Zur Temperierung der Dispersion wird zunächst für 240 Sekunden bei einer Scheerrate von 50 s–1 temperiert. Anschließend wird die Scheerate auf 100 s–1 erhöht. Es werden 30 Sekunden bei dieser Scheerrate abgewartet. Dann erfolgen 30 Viskositätsmessungen bei einer Scheerrate von 100 s–1 über weitere 30 Sekunden (1 Messwert/Sekunde). Der Mittelwert dieser 30 Messwerte ist der Viskositätswert der Dispersion.
- Bestimmung des Vergelungsverhaltens
- 20 g der Zusammensetzung werden in ein 250 ml Becherglas gegeben. Anschließend wird die Zusammensetzung über eine glatte Kunststoffoberfläche mit einem Neigungswinkel von 45° gegossen.
- Im Falle einer vergelten Zusammensetzung treten folgende Effekte auf:
- a) Beim Ausgießen aus dem Becherglas fließt die Zusammensetzung nicht gleichmäßig aus sondern hinterlässt Bereiche, in denen die Zusammensetzung klumpig an der Glaswand kleben bleibt und Bereiche, in denen kaum Zusammensetzung zurückbleibt.
- b) Beim Fluß des Materials über die Kunststoffoberfläche bleibt das Material stellenweise klumpig liegen. Der Fluß ist nicht einheitlich, sondern reißt wiederholt ab. [Bild 1]
- Im Falle einer homogenen Zusammensetzung treten folgende Effekte auf:
- A) Beim Ausgießen entsteht ein einheitlicher Film an der Becherglaswand, der je nach Viskosität der Zusammensetzung dicker oder dünner ist. Der Film ist in jedem Fall gleichmäßig und weist keine Uneinheitlichkeiten auf.
- B) Beim Fluss des Materials über die Kunststoffoberfläche bildet sich ein einheitlicher Film. [Bild 2]
- Auf Basis dieser Kriterien kann eine Zusammensetzung als vergelt oder homogen eingestuft werden.
- Bestimmung der Transmission
- Die Transmission der beschichteten Substrate wird an einem 2-Kanal-Spektrometer (Lambda900, PerkinElmer) bestimmt. Um auch die von der Probe ggf. gestreuten Anteile des durchgehenden Lichts zu erfassen, ist das Gerät mit einer Photometerkugel (Ulrichtkugel) ausgerüstet. Die zu messende Probe wird dazu an der Eingangsöffnung der Photometerkugel fixiert. Zunächst wird die spektrale Transmission des Substrats ohne Beschichtung gemessen. Verwendet werden als Substrate Glasscheiben mit einer Dicke von 2 mm, die in 50 mm × 50 mm große Quadrate geschnitten werden. Zur Beschichtung des Substrates wird dieses auf eine Lackschleuder gelegt und 10 ml der erfindungsgemäßen Zusammensetzung werden auf dem Substrat verteilt. Anschließend wird die überstehende Lösung durch Rotation des Tellers abgeschleudert. Danach wird das so beschichtete Substrat 15 min lang bei 130°C auf einer Heizplatte getrocknet.
- Anschließend wird die spektrale Transmission des Substrats mit Beschichtung gemessen. Die Beschichtung auf dem Substrat ist dabei vor der Photometerkugel zur Kugel hin gerichtet.
- Die Transmissionsspektren werden im Bereich des sichtbaren Lichts, d. h. von 320 nm bis 780 nm aufgezeichnet mit einer Schrittweite von 5 nm aufgezeichnet. Aus den Spektren wird der Normfarbwert Y (Helligkeit) der Proben entsprechend der DIN 5033 errechnet, unter Zugrundelegung eines 10°-Beobachters und der Lichtart D65. Die interne Transmission wird aus dem Verhältnis der Helligkeit des Substrats mit Beschichtung (Y) zu der ohne Beschichtung (Y0) berechnet entsprechend:
Interne Transmission entspricht Y/Y0·100 in Prozent - Bestimmung der Rauhigkeit
- Ein gereinigtes Glassubstrat wird auf eine Lackschleuder gelegt und 10 ml der erfindungsgemäßen Zusammensetzung werden auf dem Substrat verteilt. Anschließend wird die überstehende Lösung durch Rotation des Tellers abgeschleudert. Danach wird das so beschichtete Substrat 15 min lang bei 130°C auf einer Heizplatte getrocknet. Die Rauheit einer Oberfläche wird mittels eines mechanischen Profilometers (Tenor Alpha Step 500, KLA-Tencor) bestimmt. Dazu wird die Abtastnadel (Stylus) über eine Strecke von 400 μm bewegt und das Gerät zeichnet die vertikale Auslenkung als Funktion der horizontalen Auslenkung auf. Die mittlere Rauheit (Ra) wird entsprechend seiner Definition (siehe unten sowie http://de.wikipedia.org/wiki/Rauheit) berechnet. Das Auflagegewicht der Abtastnadel ist dabei so niedrig gewählt, dass die Nadel die Oberfläche nicht verändert. Dies lässt sich durch eine wiederholte Aufnahme der Abtastprofile an gleicher Stelle überprüfen.
- Definition der mittleren Rauhigkeit (Ra)
- Die mittlere Rauheit, dargestellt durch das Symbol Ra, gibt den mittleren Abstand eines Messpunktes – auf der Oberfläche – zur Mittellinie an. Die Mittellinie schneidet innerhalb der Bezugsstrecke das wirkliche Profil so, dass die Summe der Profilabweichungen (bezogen auf die Mittellinie) minimal wird.
-
- Methode
- Partikelbestimmung – Mikroskopische Untersuchung
- 3 Tropfen der zu untersuchenden Probe werden mit Hilfe einer Pippette auf einen Objekträger aufgetragen und auf einer Fläche von ca 1 cm2 verteilt. Anschliessend wird der Objekträger für 10 min in einen Trockenschrank bei 100°C getrocknet. Nach dem Abkühlen wird der Objektträger in einem Mikroskop (Zeis Axioskop) bei 100 facher Vergrößerung bei Durchlicht ohne Polarisationsfilter betrachtet.
- Mit Hilfe einer Kamera (Olympus Altra 20) wird eine Aufnahme erstellt und es werden insgesamt fünf wilkürlich ausgewählte 200 μm × 200 μm große Bereiche betrachtet und die Zahl der Partikel des Ionentauschers in den fünf Aufnahmen gezählt sowie die Aufnahmen mit der größten Partikelzahl als maßgeblich für die Partikelkonzentration ausgewählt”.
- BEISPIELE
- Die Beispiele basieren auf kommerziellen PEDOT/PSS-Dispersionen der H. C. Starck Clevios GmbH. Da diese veröffentlicht und im Markt frei verfügbar sind, wird auf die Synthesevorschrift zu Herstellung der PEDOT/PSS-Dispersionen verzichtet. Einzelheiten zur Herstellung einer solchen Dispersion können jedoch beispielsweise der
EP 0 440 957 A2 entnommen werden. - Beispiel 1
- Für die Abmischungen wurde eine PEDOT/PSS-Dispersion mit folgenden Eigenschaften eingesetzt (Clevios P HC V4, H. C. Starck Clevios GmbH, Leverkusen):
Viskosität: 255 mPas Feststoffgehalt: 1,10% Sulfatgehalt: 7 mg/kg Natriumgehalt: 138 mg/kg Eisengehalt: 0,20 mg/kg Leitfähigkeit: 426 S/cm (gemessen nach Zugabe von 5% Dimethylsulfoxid). - Jeweils 200 g der Dispersion wurden mit verschiedenen Mengen Schwefelsäure versetzt. Schwefelsäure hat ein Molgewicht von 98 g/mol. Darin enthalten sind 96 g Sulfat je Mol. Diese Masse Sulfat wurde in den folgenden Darstellungen berücksichtigt. Die Sulfat-Menge ist in den Tabellen 1 und 2 in mg/kg angegeben. Die Viskosität der Dispersion wurde nach 0, 4, 11 und 18 Tagen bestimmt bzw. es wurde geprüft, ob die Probe nach diesen Zeiträumen vergelt ist. Die Viskositätsdaten sind in Tabelle 1 zusammengefasst.
Gehalt Sulfat [mg/kg] Viskosität nach Herstellung und Lagerung [mPas] 0 Tage 4 Tage 11 Tage 18 Tage 7 255 256 255 252 30 230 232 239 235 60 230 238 243 236 100 229 226 228 230 200 200 205 210 205 300 167 168 170 171 500 142 154 174 175 1000 156 157 199 205 2000 132 178 Vergelt vergelt - Zusätzlich wurde die Leitfähigkeit der Proben nach Herstellung bestimmt. Dazu wurden 95 g der oben beschriebenen Mischung aus PEDOT PSS Dispersion und Schwefelsäure mit 5 g Dimethylsulfoxid versetzt und die Leitfähigkeit dieser Proben wurde bestimmt. Die Ergebnisse sind der nachfolgenden Tabelle 2 zu entnehmen.
Gehalt Sulfat [mg/kg] Leitfähigkeit mit 5% DMSO [S/cm] 7 585 30 624 60 619 100 709 200 662 400 704 600 698 800 690 1000 710 2000 750 - Am Beispiel des Glassubstrates, welches mit der 200 mg/kg Sulfat enthaltenden Dispersion beschichtet ist wurde die Rauhigkeit und die Transmission bestimmt. Die Rauhigkeit der Probe betrug 3,53 nm. Die Schichtdicke der Probe betrug 142 nm und die Interne Transmission der Probe betrug 88.6%.
- Beispiel 2
- 2000 g einer PEDOT/PSS-Dispersion (Clevios PH 500, H. C. Starck Clevios GmbH) mit einem Feststoff von 1,10% wurden mit Hilfe einer Ultrafiltration auf einen Feststoff von 2,20% aufkonzentriert. Anschließend wurde die Dispersion über eine Säule gegeben, welche mit 500 ml Ionenaustauscherharz (Lewatit MP 62, Saltigo) gefüllt war. Die erhaltene Dispersion hatte folgende Eigenschaften:
Viskosität: 103 mPas Feststoffgehalt: 1,98% Sulfatgehalt: 1 mg/kg Natriumgehalt: 5 mg/kg Leitfähigkeit: 425 S/cm (gemessen nach Zugabe von 5% Dimethylsulfoxid) Eisengehalt 0,19 mg/kg - Diese Dispersion wurde mit Natriumsulfat versetzt. Jeweils 200 g der Dispersion wurden mit verschiedenen Mengen Natriumsulfat gemäß der Vorgehensweise in Beispiel 1 versetzt. Die Sulfat-Menge ist in den Tabellen 3 und 4 wieder in mg/kg angegeben. Die Viskosität der Dispersion wurde nach 0, 4, 11 und 18 Tagen bestimmt bzw. es wurde geprüft ob die Probe vergelt ist.
Gehalt Sulfat [mg/kg] Viskosität nach Herstellung und Lagerung [mPas] 0 Tage 4 Tage 11 Tage 18 Tage 1 103 104 101 102 30 100 98 102 102 60 93 95 94 96 100 90 92 93 94 200 76 81 82 86 400 66 73 79 83 600 60 73 85 95 800 59 80 96 112 1000 57 93 127 139 1200 58 110 157 179 1400 64 141 216 239 1600 67 168 226 269 1800 76 191 276 319 2000 80 200 298 340 - Zusätzlich wurde auch hier die Leitfähigkeit der Proben nach Herstellung bestimmt. Dazu wurden 95 g der oben beschriebenen Mischung aus PEDOT/PSS-Dispersion und Schwefelsäure mit 5 g Dimethylsulfoxid versetzt und die Leitfähigkeit dieser Proben wurde bestimmt. Die Ergebnisse sind der nachfolgenden Tabelle 4 zu entnehmen.
Gehalt Sulfat [mg/kg] Leitfähigkeit mit 5% DMSO [S/cm] 1 425 30 428 60 440 100 468 200 480 400 480 600 490 800 468 1000 434 2000 417 - Am Beispiel des Glassubstrates, welches mit der 200 mg/kg Sulfat enthaltenden Dispersion beschichtet ist wurde die Rauhigkeit und die Transmission bestimmt. Die Rauhigkeit der Probe betrug 1,39 nm. Die Schichtdicke der Probe betrug 66 nm und die Interne Transmission der Probe betrug 95.2%.
- Die Ergebnisse aus Beispiel 1 und 2 zeigen, dass sich eine besonders vorteilhafte Eigenschaftskombination aus hoher Leitfähigkeit und vorteilhafter Lagerungsstabilität dann erzielen lässt, wenn ein Gehalt an Sulfat in einem Bereich von 100 bis 1.000 ppm in der PEDOT/PSS-Dispersion sichergestellt wird. Ist der Sulfat-Gehalt kleiner als 100 ppm, so kann zwar eine vorteilhafte Lagerungsstabilität erzielt werden, die Leitfähigkeit ist jedoch vergleichsweise gering. Ist der Sulfat-Gehalt größer als 1.000 ppm, so ist zwar die Leitfähigkeit hoch, doch geht diese hohe Leitfähigkeit zu Lasten einer schlechteren Lagerungsstabilität.
- ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
- Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
- Zitierte Patentliteratur
-
- EP 0339340 A2 [0003]
- EP 0440957 A2 [0004, 0073]
- EP 1227529 A2 [0004]
- Zitierte Nicht-Patentliteratur
-
- L. Groenendaal, F. Jonas, D. Freitag, H. Pielartzik & J. R. Reynolds, Adv. Mater. 12, (2000) S. 481–494 [0003]
- V. Kabanov, Russian Chemical Reviews 74, 2005, 3–20 [0005]
- J. Am. Chem. Soc. 85, 454 (1963) [0019]
- J. Polym. Sc. Part A Polymer Chemistry Vol. 26, S. 1287 (1988) [0020]
- Houben Weyl, Methoden der organischen Chemie, Bd. E 20 Makromolekulare Stoffe, Teil 2, (1987), S. 1141 u. f. [0023]
- DIN 5033 [0067]
- http://de.wikipedia.org/wiki/Rauheit [0068]
Claims (25)
- Ein Verfahren zur Herstellung einer ein Polythiophen beinhaltenden Zusammensetzung, beinhaltend die Verfahrensschritte: I) Bereitstellen einer Zusammensetzung Z1 beinhaltend Thiophen-Monomere und ein Oxidationsmittel; II) oxidative Polymerisation der Thiophen-Monomere durch Reduktion des Oxidationsmittels zu einem Reduktionsprodukt und Oxidation des Thiophen-Monomers unter Bildung einer ein Polythiophen und das Reduktionsprodukt beinhaltenden Zusammensetzung Z2; III) zumindest teilweises Entfernen des Reduktionsprodukts aus der im Verfahrensschritt II) erhaltenen Zusammensetzung Z2 unter Erhalt einer Zusammensetzung Z3; wobei die Zusammensetzung Z3 einen Sulfat-Gehalt in einem Bereich von 100 bis 1.000 ppm, bezogen auf das Gesamtgewicht der Zusammensetzung Z3, aufweist.
- Das Verfahren nach Anspruch 1, wobei der ein Polythiophen beinhaltenden Zusammensetzung Z3 einen Sulfat-Gehalt in einem Bereich von 100 bis 500 ppm, bezogen auf die Zusammensetzung Z3, aufweist.
- Das Verfahren nach Anspruch 1, wobei der ein Polythiophen beinhaltenden Zusammensetzung Z3 einen Sulfat-Gehalt in einem Bereich von 100 bis 200 ppm, bezogen auf die Zusammensetzung Z3, aufweist.
- Das Verfahren nach einem der vorhergehenden, wobei der Sulfat-Gehalt der Zusammensetzung Z3 durch Zugabe von Schwefelsäure oder einem Salz der Schwefelsäure zur Zusammensetzung Z3 eingestellt wird.
- Das Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Thiophen-Monomer 3,4-Ethylendioxythiophen (EDT) und das Polythiophen Poly(3,4-ethylendioxythiophen) (PEDOT) ist.
- Das Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die im Verfahrensschritt I) bereitgestellte Zusammensetzung Z1 beinhaltend Thiophen-Monomere und ein Oxidationsmittel auch ein Polyanion beinhaltet.
- Das Verfahren nach Anspruch 6, wobei das Polyanion eine Polystyrolsulfonsäure (PSS) ist.
- Das Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Zusammensetzung Z3 eine PEDOT/PSS-Dispersion ist.
- Das Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Salz der Schwefelsäure ein Alkalisalz oder Ammoniumsalz der Schwefelsäure oder deren Mischung ist.
- Das Verfahren nach Anspruch 9, wobei das Alkalisalz der Schwefelsäure Natriumsulfat ist.
- Das Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das zumindest teilweise Entfernen des Reduktionsprodukts in Verfahrensschritt III) durch die Behandlung der Zusammensetzung Z2 mit einem Ionenaustauscher erfolgt.
- Eine Zusammensetzung, erhältlich als Zusammensetzung Z3 durch ein Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche.
- Eine Zusammensetzung beinhaltend ein Polythiophen, wobei die Zusammensetzung neben dem Polythiophen 100 bis 1.000 ppm Sulfat, bezogen auf das Gesamtgewicht der Zusammensetzung, beinhaltet.
- Die Zusammensetzung nach Anspruch 13, wobei die Zusammensetzung neben dem Polythiophen 100 bis 500 ppm Sulfat, bezogen auf das Gesamtgewicht der Zusammensetzung, beinhaltet.
- Die Zusammensetzung nach Anspruch 13, wobei die Zusammensetzung neben dem Polythiophen 100 bis 200 ppm Sulfat, bezogen auf das Gesamtgewicht der Zusammensetzung, beinhaltet.
- Die Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 13 bis 15, wobei die Zusammensetzung weniger als 20 ppm, bezogen auf das Gesamtgewicht der Zusammensetzung, Eisen enthält.
- Die Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 13 bis 16, wobei das Polythiophen Poly(3,4-ethylendioxythiophen) ist.
- Die Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 13 bis 17, wobei die Zusammensetzung neben dem Polythiophen ein Polyanion beinhaltet.
- Die Zusammensetzung nach Anspruch 19, wobei das Polyanion eine Polystyrolsulfonsäure ist.
- Die Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 13 bis 19, wobei die Zusammensetzung einen PEDOT/PSS-Komplex enthält.
- Die Zusammensetzung nach Anspruch 20, wobei die Zusammensetzung mindestens eine der folgenden Eigenschaften aufweist: i) eine Viskosität im Bereich von 60 bis 250 mPas; ii) eine gemäß der hierin beschriebenen Testmethode bestimmte Leitfähigkeit von mindestens 400 S/cm; iii) einen PEDOT/PSS-Gehalt in einem Bereich von 1 bis 5 Gew.-%, bezogen auf das Gesamtgewicht der Zusammensetzung.
- Ein Schichtkörper, beinhaltend A) ein Substrat mit einer Substratoberfläche und B) eine die Substratoberfläche mindestens teilweise bedeckenden Schicht, wobei die Schicht aus dem in einer Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 12 bis 22 enthaltenen Feststoff gebildet ist.
- Der Schichtkörper nach Anspruch 22, wobei die Schicht B) die folgenden Eigenschaften zeigt: B1) die Interne Transmission der Schicht ist größer als 80%; B2) die Rauhigkeit der Schicht (Ra) ist kleiner als 20 nm.
- Ein elektronisches Bauteil, beinhaltend einen Schichtkörper nach Anspruch 22 oder 23.
- Die Verwendung einer Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 12 bis 21 zur Herstellung einer elektrisch leitenden Schicht in einem elektronischen Bauteil.
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102010048031A DE102010048031A1 (de) | 2010-10-12 | 2010-10-12 | Polythiophene beinhaltende Dispersionen mit definiertem Sulfat-Gehalt |
CN2011800493234A CN103201341A (zh) | 2010-10-12 | 2011-10-07 | 包含具有确定的硫酸根含量的聚噻吩的分散体 |
PCT/EP2011/005021 WO2012048824A1 (en) | 2010-10-12 | 2011-10-07 | Dispersions comprising polythiophenes with a defined sulfate content |
US13/879,197 US20140145118A1 (en) | 2010-10-12 | 2011-10-07 | Dispersions Comprising Polythiophenes With A Defined Sulfate Content |
KR1020137012171A KR101783508B1 (ko) | 2010-10-12 | 2011-10-07 | 한정된 황산 함량을 갖는 폴리티오펜을 포함하는 분산액 |
JP2013533118A JP5890424B2 (ja) | 2010-10-12 | 2011-10-07 | 明確な硫酸イオン含有量を持つポリチオフェンを含む分散液 |
EP11782034.0A EP2627711A1 (de) | 2010-10-12 | 2011-10-07 | Dispersionen mit polythiophenen mit definiertem sulfatgehalt |
TW100136917A TWI598373B (zh) | 2010-10-12 | 2011-10-12 | 含具特定硫酸鹽含量之聚噻吩分散液 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102010048031A DE102010048031A1 (de) | 2010-10-12 | 2010-10-12 | Polythiophene beinhaltende Dispersionen mit definiertem Sulfat-Gehalt |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102010048031A1 true DE102010048031A1 (de) | 2012-04-12 |
Family
ID=45872404
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102010048031A Ceased DE102010048031A1 (de) | 2010-10-12 | 2010-10-12 | Polythiophene beinhaltende Dispersionen mit definiertem Sulfat-Gehalt |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20140145118A1 (de) |
EP (1) | EP2627711A1 (de) |
JP (1) | JP5890424B2 (de) |
KR (1) | KR101783508B1 (de) |
CN (1) | CN103201341A (de) |
DE (1) | DE102010048031A1 (de) |
TW (1) | TWI598373B (de) |
WO (1) | WO2012048824A1 (de) |
Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102013101443A1 (de) | 2012-03-01 | 2013-09-05 | Avx Corporation | Ultrahigh voltage solid electrolytic capacitor |
DE102013213723A1 (de) | 2012-07-19 | 2014-01-23 | Avx Corporation | Festelektrolytkondensator mit erhöhter Feucht-zu-Trocken-Kapazität |
US9548163B2 (en) | 2012-07-19 | 2017-01-17 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor with improved performance at high voltages |
CN103578768B (zh) | 2012-07-19 | 2017-10-31 | Avx公司 | 用在电解电容器固体电解质中的非离子表面活性剂 |
DE102013213720A1 (de) | 2012-07-19 | 2014-01-23 | Avx Corporation | Temperaturstabiler Festelektrolytkondensator |
GB2512480B (en) | 2013-03-13 | 2018-05-30 | Avx Corp | Solid electrolytic capacitor for use in extreme conditions |
US9236193B2 (en) | 2013-10-02 | 2016-01-12 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor for use under high temperature and humidity conditions |
KR101669574B1 (ko) | 2013-10-10 | 2016-10-26 | 주식회사 엘지화학 | 표면처리된 투명 전도성 고분자 박막의 제조방법 및 이를 이용하여 제조한 투명 전극 |
US9589733B2 (en) | 2013-12-17 | 2017-03-07 | Avx Corporation | Stable solid electrolytic capacitor containing a nanocomposite |
US9428603B2 (en) | 2014-03-18 | 2016-08-30 | Council Of Scientific & Industrial Research | Polymeric dispersion of thiophene copolymers and a process for preparation thereof |
EP3249708A1 (de) * | 2014-11-21 | 2017-11-29 | Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG | Pedot in perowskit-solarzellen |
US9972444B2 (en) | 2015-05-29 | 2018-05-15 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor element for use in dry conditions |
US9767963B2 (en) | 2015-05-29 | 2017-09-19 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor with an ultrahigh capacitance |
US9991055B2 (en) | 2015-05-29 | 2018-06-05 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor assembly for use at high temperatures |
US9672989B2 (en) | 2015-05-29 | 2017-06-06 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor assembly for use in a humid atmosphere |
CN107189098B (zh) * | 2015-10-30 | 2021-04-06 | 珠海万通化工有限公司 | 一种用于聚合物的添加剂和其制备方法与应用以及由其组成的阻燃聚合物模塑组合物 |
US10431389B2 (en) | 2016-11-14 | 2019-10-01 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor for high voltage environments |
CN108893803B (zh) * | 2018-05-30 | 2020-11-27 | 江西科技师范大学 | 高性能柔性pedot:pss热电纤维的制备方法 |
CN117912850A (zh) | 2018-08-10 | 2024-04-19 | 京瓷Avx元器件公司 | 包含本征导电聚合物的固体电解电容器 |
WO2020033817A1 (en) | 2018-08-10 | 2020-02-13 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor containing polyaniline |
US11081288B1 (en) | 2018-08-10 | 2021-08-03 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor having a reduced anomalous charging characteristic |
US11114250B2 (en) | 2018-08-10 | 2021-09-07 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor formed from conductive polymer particles |
US11380492B1 (en) | 2018-12-11 | 2022-07-05 | KYOCERA AVX Components Corporation | Solid electrolytic capacitor |
CN118213199A (zh) | 2018-12-11 | 2024-06-18 | 京瓷Avx元器件公司 | 含有本征导电聚合物的固体电解电容器 |
JP7325182B2 (ja) * | 2018-12-26 | 2023-08-14 | 信越ポリマー株式会社 | 導電性粒子の製造方法、及び導電性フィルムの製造方法 |
WO2020236573A1 (en) | 2019-05-17 | 2020-11-26 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor |
CN114521278A (zh) | 2019-09-18 | 2022-05-20 | 京瓷Avx元器件公司 | 用于高电压下使用的固体电解电容器 |
US11756742B1 (en) | 2019-12-10 | 2023-09-12 | KYOCERA AVX Components Corporation | Tantalum capacitor with improved leakage current stability at high temperatures |
WO2021119088A1 (en) | 2019-12-10 | 2021-06-17 | Avx Corporation | Tantalum capacitor with increased stability |
WO2021119065A1 (en) | 2019-12-10 | 2021-06-17 | Avx Corporation | Solid electrolytic capacitor containing a pre-coat and intrinsically conductive polymer |
US11763998B1 (en) | 2020-06-03 | 2023-09-19 | KYOCERA AVX Components Corporation | Solid electrolytic capacitor |
US11631548B2 (en) | 2020-06-08 | 2023-04-18 | KYOCERA AVX Components Corporation | Solid electrolytic capacitor containing a moisture barrier |
CN114108132B (zh) * | 2021-11-17 | 2024-05-10 | 江苏大学 | 一种高强度高电导电性pedot纤维的制备方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0339340A2 (de) | 1988-04-22 | 1989-11-02 | Bayer Ag | Neue Polythiophene, Verfahren zu ihrer Herstellung und ihre Verwendung |
EP0440957A2 (de) | 1990-02-08 | 1991-08-14 | Bayer Ag | Neue Polythiophen-Dispersionen, ihre Herstellung und ihre Verwendung |
EP1227529A2 (de) | 2001-01-26 | 2002-07-31 | Bayer Ag | Elektrolumineszierende Anordnungen |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0593111B1 (de) * | 1992-10-14 | 1998-06-17 | Agfa-Gevaert N.V. | Antistatische Beschichtungszusammensetzung |
DE19841803A1 (de) * | 1998-09-12 | 2000-03-16 | Bayer Ag | Hilfsschichten für elektrolumineszierende Anordnungen |
EP1382075A1 (de) * | 2001-04-17 | 2004-01-21 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Led mit einer transparenten leitfähigen polymerschicht mit geringem sulfatgehalt und hohem metallionengehalt |
US6811897B2 (en) * | 2002-03-29 | 2004-11-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ink for forming a hole injection layer of organic EL display devices and manufacturing method thereof, organic EL display devices, and manufacturing method of the same |
JP4281442B2 (ja) * | 2003-05-29 | 2009-06-17 | セイコーエプソン株式会社 | 正孔輸送材料 |
DE102004006583A1 (de) * | 2004-02-10 | 2005-09-01 | H.C. Starck Gmbh | Polythiophenformulierungen zur Verbesserung von organischen Leuchtdioden |
US7438832B2 (en) * | 2005-03-29 | 2008-10-21 | Eastman Kodak Company | Ionic liquid and electronically conductive polymer mixtures |
WO2007006833A2 (es) * | 2005-07-13 | 2007-01-18 | Fundacion Cidetec | Sensores de presión distribuidos de gran superficie basados en politiofenos |
JP2009221417A (ja) * | 2008-03-18 | 2009-10-01 | Fujifilm Corp | 導電性ポリマー及びその精製方法 |
DE102009036282A1 (de) * | 2009-08-06 | 2011-02-10 | H.C. Starck Clevios Gmbh | Neue Polymerbeschichtungen enthaltend leitfähige Polymere |
WO2011065213A1 (ja) * | 2009-11-27 | 2011-06-03 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 分散液、透明電極、および有機エレクトロルミネッセンス素子 |
DE102010048032A1 (de) * | 2010-10-12 | 2012-04-12 | Heraeus Clevios Gmbh | Polythiophene beinhaltende Dispersionen mit definiertem Gehalt an Thiophen-Monomer |
-
2010
- 2010-10-12 DE DE102010048031A patent/DE102010048031A1/de not_active Ceased
-
2011
- 2011-10-07 WO PCT/EP2011/005021 patent/WO2012048824A1/en active Application Filing
- 2011-10-07 CN CN2011800493234A patent/CN103201341A/zh active Pending
- 2011-10-07 KR KR1020137012171A patent/KR101783508B1/ko active IP Right Grant
- 2011-10-07 EP EP11782034.0A patent/EP2627711A1/de not_active Withdrawn
- 2011-10-07 JP JP2013533118A patent/JP5890424B2/ja active Active
- 2011-10-07 US US13/879,197 patent/US20140145118A1/en not_active Abandoned
- 2011-10-12 TW TW100136917A patent/TWI598373B/zh active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0339340A2 (de) | 1988-04-22 | 1989-11-02 | Bayer Ag | Neue Polythiophene, Verfahren zu ihrer Herstellung und ihre Verwendung |
EP0440957A2 (de) | 1990-02-08 | 1991-08-14 | Bayer Ag | Neue Polythiophen-Dispersionen, ihre Herstellung und ihre Verwendung |
EP1227529A2 (de) | 2001-01-26 | 2002-07-31 | Bayer Ag | Elektrolumineszierende Anordnungen |
Non-Patent Citations (7)
Title |
---|
DIN 5033 |
Houben Weyl, Methoden der organischen Chemie, Bd. E 20 Makromolekulare Stoffe, Teil 2, (1987), S. 1141 u. f. |
http://de.wikipedia.org/wiki/Rauheit |
J. Am. Chem. Soc. 85, 454 (1963) |
J. Polym. Sc. Part A Polymer Chemistry Vol. 26, S. 1287 (1988) |
L. Groenendaal, F. Jonas, D. Freitag, H. Pielartzik & J. R. Reynolds, Adv. Mater. 12, (2000) S. 481-494 |
V. Kabanov, Russian Chemical Reviews 74, 2005, 3-20 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103201341A (zh) | 2013-07-10 |
TWI598373B (zh) | 2017-09-11 |
US20140145118A1 (en) | 2014-05-29 |
KR20130101084A (ko) | 2013-09-12 |
KR101783508B1 (ko) | 2017-09-29 |
WO2012048824A1 (en) | 2012-04-19 |
EP2627711A1 (de) | 2013-08-21 |
JP5890424B2 (ja) | 2016-03-22 |
TW201217426A (en) | 2012-05-01 |
JP2013540865A (ja) | 2013-11-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102010048031A1 (de) | Polythiophene beinhaltende Dispersionen mit definiertem Sulfat-Gehalt | |
DE102010048032A1 (de) | Polythiophene beinhaltende Dispersionen mit definiertem Gehalt an Thiophen-Monomer | |
DE102010047086A1 (de) | Schichtaufbauten mit verbesserten elektrischen Kenngrößen beinthaltend PEDOT/PSS sowie einen Stabilisator | |
EP2297753B1 (de) | Verfahren zur herstellung von festelektrolytkondensatoren | |
DE102010047087A1 (de) | Verfahren zur Verbesserung der elektrischen Kenngrößen in Kondensatoren enthaltend PEDOT/PSS als Feststoffelektrolyt durch ein Polyalkylenglykol | |
EP2283497B1 (de) | Verfahren zur herstellung von festelektrolytkondensatoren | |
DE102012111937A1 (de) | Elektrisch leitende polymerzusammensetzung, elektrisch leitendes polymermaterial, elektrisch leitendes substrat, elektrode und festelektrolytkondensator | |
DE102013002855A1 (de) | Formulierungen aus gewaschenen Silberdrähten und PEDOT | |
DE102012018976A1 (de) | Verwendung von Mischungen aus selbstdotierten und fremddotierten leitfähigen Polymeren in einem Kondensator | |
DE102008036525A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Polythiophenen | |
DE102007041722A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von leitfähigen Polymeren | |
DE102009012660A1 (de) | Polymerbeschichtungen mit verbesserter Temperaturstabilität | |
DE102008005568A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von leitfähigen Polymeren | |
DE102009007594A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Elektrolytkondensatoren mit polymerer Außenschicht. | |
DE102010050507A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Schichtkörpern durch Behandlung mit organischen Ätzmitteln und daraus erhältliche Schichtkörper | |
DE112012002130T5 (de) | Elektrisch leitende Polymersuspension und Verfahren zur Herstellung derselben, elektrisch leitendes Polymermaterial, und Elektrolytkondensator und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE202006021121U1 (de) | Elektrolytkondensatoren mit hoher Nennspannung | |
DE102011016493A1 (de) | Verfahren zur Verbesserung der elektrischen Kenngrößen in Kondensatoren enthaltend PEDOT/PSS als Feststoffelektrolyt durch Additive | |
DE102012111932A1 (de) | Elektrisch leitende Polymerzusammensetzung, elektrisch leitendes Polymermaterial, elektrisch leitendes Substrat, Elektrode und Festelektrolytkondensator | |
DE102009014856A1 (de) | Polymerbeschichtungen mit verbesserter UV- und Temperaturstabilität | |
DE112012001014T5 (de) | Elektrisch leitende Polymerlösung und Verfahren zur Herstellung derselben, elektrisch leitendes Polymermaterial und dieses verwendender Festelektrolytkondensator und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE102010012180A1 (de) | Sulfonierte Polyketone als Gegenion leitfähiger Polymere | |
DE202012007001U1 (de) | Dispersionen aus PEDOT/Styrolsulfonsäure-Styrol-Copolymeren zur Reduzierung des Haze-Wertes | |
DE102011013068A1 (de) | Verfahren zur Verbesserung der elektrischen Kenngrößen in Kondensatoren enthaltend PEDOT/PSS als Feststoffelektrolyt durch Polyglycerin | |
DE102009031677A1 (de) | Neue Polyelektrolyt-Komplexe und deren Verwendung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: HERZOG FIESSER & PARTNER, DE Representative=s name: HERZOG FIESSER & PARTNER, 40210 DUESSELDORF, DE |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: HERAEUS PRECIOUS METALS GMBH & CO. KG, DE Free format text: FORMER OWNER: HERAEUS CLEVIOS GMBH, 63450 HANAU, DE Effective date: 20131031 Owner name: HERAEUS PRECIOUS METALS GMBH & CO. KG, DE Free format text: FORMER OWNER: H.C. STARCK CLEVIOS GMBH, 38642 GOSLAR, DE Effective date: 20111011 Owner name: HERAEUS DEUTSCHLAND GMBH & CO. KG, DE Free format text: FORMER OWNER: H.C. STARCK CLEVIOS GMBH, 38642 GOSLAR, DE Effective date: 20111011 Owner name: HERAEUS DEUTSCHLAND GMBH & CO. KG, DE Free format text: FORMER OWNER: HERAEUS CLEVIOS GMBH, 63450 HANAU, DE Effective date: 20131031 |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: HERZOG FIESSER & PARTNER, DE Effective date: 20111011 Representative=s name: HERZOG FIESSER & PARTNER, DE Effective date: 20131031 Representative=s name: HERZOG FIESSER & PARTNER PATENTANWAELTE PARTG , DE Effective date: 20111011 Representative=s name: HERZOG FIESSER & PARTNER PATENTANWAELTE PARTG , DE Effective date: 20131031 |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: HERAEUS DEUTSCHLAND GMBH & CO. KG, DE Free format text: FORMER OWNER: HERAEUS PRECIOUS METALS GMBH & CO. KG, 63450 HANAU, DE |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: HERZOG FIESSER & PARTNER PATENTANWAELTE PARTG , DE |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: HERZOG IP PATENTANWALTS GMBH, DE |
|
R002 | Refusal decision in examination/registration proceedings | ||
R003 | Refusal decision now final |