DE10138556C1 - Verfahren zum Testen von Eingangs-/Ausgangstreibern einer Schaltung und entsprechende Testvorrichtung - Google Patents
Verfahren zum Testen von Eingangs-/Ausgangstreibern einer Schaltung und entsprechende TestvorrichtungInfo
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Abstract
Zum Testen der Eingangs- und Ausgangstreiber (3, 4) einer Schaltung (1), insbesondere einer integrierten Halbleiterschaltung, wird vorgeschlagen, die den einzelnen Signalanschlüssen (2) der zu testenden Schaltung (1) zugeordneten Eingangs- bzw. Ausgangstreiber (3, 4) in Serie zu einem Ringoszillator bzw. zu einer offenen Kette zu verschalten, wobei die Schwingung des Ringoszillators bzw. die Verzögerungszeit ausgewertet wird. Durch Vorsehen entsprechender steuerbarer Schalter (7, 11) kann die Konfiguration des Ringoszillators bzw. der Kette variabel in Abhängigkeit von den jeweils zu testenden Eingangs- bzw. Ausgangstreibern (3, 4) abgewandelt werden. Auf diese Weise wird ein "At-Speed"- und "Leakage"-Test sämtlicher Eingangs- und Ausgangstreiber (2) ermöglicht, ohne dass diese alle mit einem schnellen Testgerät verbunden sein müssen.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen
von Eingangs-/Ausgangstreibern einer Schaltung, insbesondere
einer integrierten Halbleiterschaltung, sowie eine
entsprechend ausgestaltete Testvorrichtung.
Im allgemeinen Fall wird zum Testen einer integrierten
Halbleiterschaltung mit n Signalanschlüssen ein Testautomat
bzw. eine Testvorrichtung mit n Ein-/Ausgängen benötigt, über
welche Testsignale an die Halbleiterschaltung angelegt und
gemessen werden können. Dabei muss der Testautomat die
Testsignale in der von dem jeweiligen Prüfling benötigten
Geschwindigkeit anlegen und auswerten können (sogenannter
"At-Speed-Test"). Der Testautomat ist umso billiger, je
weniger Signalein-/-ausgänge erforderlich und je geringer die
für den Test erforderlichen Frequenzen sind. Aus
wirtschaftlichen Gründen werden daher Testverfahren
angestrebt, die mit einfachen Testautomaten mit möglichst
wenigen Signalein-/-ausgängen und niedrigen Frequenzen
auskommen.
Anstelle des aufwändigen Funktionstests digitaler Schaltungen
"at speed" über alle Signalanschlüsse der Schaltung werden
zunehmend strukturelle Testverfahren eingesetzt, welche
beispielsweise unter dem Namen "Scanpath" und "Boundary Scan"
bekannt sind, bei denen nur wenige Signalanschlüsse der zu
testenden Schaltung kontaktiert werden müssen. Bei dem
"Scanpath"-Testverfahren besteht ein direkter Zugriff auf
alle sequenziellen Teile der zu testenden Schaltung, während
bei dem "Boundary Scan"-Testverfahren ein Zugriff auf alle
internen Logikein- und -ausgänge der Schaltung besteht. Diese
Verfahren können jedoch nicht feststellen, ob die übrigen
nicht kontaktierten Signalanschlüsse der Schaltung fehlerfrei
nach außen geführt sind und mit der erforderlichen Geschwin
digkeit arbeiten, d. h. mithilfe dieser Testverfahren kann
nicht die Funktion aller den einzelnen Signalanschlüssen zu
geordneten Eingangs-/Ausgangstreiber getestet und festge
stellt werden, ob deren Bondverbindungen fehlerfrei sind oder
nicht. Es besteht somit die Gefahr, dass Fehler in den Ein
gangs-/Ausgangsschaltungen der zu testenden Halbleiterschal
tungen nicht entdeckt und fehlerhafte Schaltungen unter Um
ständen an den Kunden ausgeliefert werden.
Aus der JP 09-257884 A ist beispielsweise ein Testverfahren
mit den Merkmalen des Oberbegriffs der Ansprüche 1 und 2 bzw.
eine Testvorrichtung mit den Merkmalen der Oberbegriffe der
Ansprüche 13 und 14 bekannt. Die zu testende Schaltung um
fasst unidirektionale Eingangstreiber, welche über steuerbare
Schalter in Form von Logikschaltungen zu einem Ringoszillator
verschaltet werden können, um durch Auswertung der Schwingung
des Ringoszillators die Eingangstreiber zu testen.
Aus "Dynamic digital integrated circuit testing using oscil
lation-test method" Arabi K. et al., Electronics Letters, Ap
ril 1998, Vol. 34 No. 8, Seiten 762-764 ist eine integrierte
Schaltung bekannt, welche dynamisch mittels eines Oszillati
onstests geprüft wird. Hierzu ist in der integrierten Schal
tung eines Testschaltung vorgesehen, mit der durch einen Mul
tiplexer einer der Ausgänge ausgewählt und über weitere Mul
tiplexer wieder in die zu prüfende Schaltung rückgeführt wer
den kann.
Die DE 100 24 476 A1, welche lediglich nachveröffentlichter
Stand der Technik gemäß § 3(2) PatG darstellt, offenbart ein
Testverfahren mit den Merkmalen des Oberbegriffs der Ansprü
che 1 und 2 sowie eine Testvorrichtung mit den Merkmalen der
Oberbegriffe der Ansprüche 13 und 14. In dieser Druckschrift
wird eine Schaltung mit bidirektionalen Signalanschlüssen,
welchen jeweils eine Kombination aus einem Eingangstreiber
und einem Ausgangstreiber zugeordnet sind, vorgeschlagen, wo
bei in einem Testbetrieb die Eingangs- und Ausgangstreiber
über Multiplexer derart in Serie verschaltet werden können,
dass jeweils der Ausgang eines Eingangs-/Ausgangstreibers mit
dem Eingang eines nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers
verbunden ist, um einen Ringoszillator zu bilden, so dass
durch Auswertung der Schwingung des Ringoszillators die zu
dem Ringoszillator verschalteten Eingangs-/Ausgangstreiber
getestet werden können. Es ist jedoch ausschließlich ein Test
des gesamten Ringoszillators, jedoch nicht einzelner Ein
gangs-/Ausgangstreiber, möglich.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde,
ein Testverfahren sowie eine entsprechend ausgestaltete Test
vorrichtung bereitzustellen, womit ein einfacher Test aller
äußeren Signalanschlüsse sowie der diesen Signalanschlüssen
zugeordneten Eingangs-/Ausgangstreibern einer Schaltung mög
lich ist. Des Weiteren soll eine entsprechend ausgestaltete
zu testende Schaltung bereitgestellt werden.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren mit
den Merkmalen des Anspruches 1 oder 2 bzw. eine Testvorrich
tung mit den Merkmalen des Anspruches 13 oder 14 gelöst. Dar
über hinaus wird eine zu testende Schaltung mit den Merkmalen
des Anspruches 18 zur Verfügung gestellt, welche zur Durch
führung des erfindungsgemäßen Testverfahrens ausgestaltet
ist. Die Unteransprüche definieren jeweils bevorzugte und
vorteilhafte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung.
Erfindungsgemäß wird vorgeschlagen, im Testbetrieb die Ein
gangs- bzw. Ausgangstreiber der zu testenden Schaltung (ins
besondere in Form einer integrierten Halbleiterschaltung) in
einem Ring derart zu verschalten, dass jeweils der Ausgang
eines Eingangs- bzw. Ausgangstreibers mit dem Eingang eines
nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers verbunden ist. Ein
derartiger Ring stellt einen Ringoszillator dar, wenn eine
ungerade Anzahl von Invertern in dem Ring vorhanden ist. Wer
den beispielsweise nur nicht invertierende Eingangs-/Aus
gangstreiber verwendet, muss zum Test ein zusätzlicher Inver
ter in den Ring eingefügt werden. Der somit gebildete Ringos
zillator schwingt auf einer Frequenz, deren Periodendauer der
doppelten Gesamtverzögerungszeit aller Elemente des Rings
entspricht. Durch Auswerten der in diesem Ringoszillator auf
tretenden Schwingung kann die Funktion, die Bondverbindung
oder auch die Verzögerungszeit jedes Eingangs-/Ausgangstrei
bers getestet bzw. gemessen werden. Eine derartige Schwingung
des Ringoszillators tritt nämlich nicht auf, wenn der Ring
infolge eines Defekts unterbrochen ist oder ein Eingangs-
/Ausgangstreiber nicht die entsprechende Funktion aufweist.
Darüber hinaus kann auf langsame Eingangs-/Ausgangstreiber
geschlossen werden, wenn die Periode der Schwingung einen be
stimmten Grenzwert überschreitet bzw. die Frequenz der
Schwingung einen bestimmten Grenzwert unterschreitet. Durch
externe Belastung der einzelnen Signalanschlüsse der Schal
tung, beispielsweise in Form von Leitungskapazitäten, kann
die Funktion der einzelnen Eingangs-/Ausgangstreiber unter
Last geprüft werden. Bleibt die Frequenz der Schwingung des
Ringoszillators auch bei Anschluss einer derartigen externen
Last an dem entsprechenden Signalanschluss unverändert, weist
dies auf einen intern nicht angeschlossenen Signalanschluss
bzw. Pin hin.
Die Verschaltung der einzelnen Eingangs-/Ausgangstreiber zu
dem Ringoszillator erfolgt im Rahmen der vorliegenden Erfin
dung derart, dass bei bidirektionalen Signalanschlüssen der
Schaltung, denen sowohl ein Ausgangstreiber als auch ein Ein
gangstreiber zugeordnet ist, die einzelnen Eingangs-/Aus
gangstreiber innerhalb der Schaltung miteinander verschaltet
werden, während bei unidirektionalen Signalanschlüssen, denen
entweder ein Eingangstreiber oder ein Ausgangstreiber zuge
ordnet ist, die einzelnen Eingangs-/Ausgangstreiber außerhalb
der Schaltung miteinander verschaltet werden.
Die Auswertung der Schwingung des Ringoszillators kann sowohl
innerhalb der zu testenden Schaltung als auch extern in dem
entsprechenden Testautomat bzw. in der entsprechenden Test
vorrichtung erfolgen, wobei die Auswertung für sämtliche Sig
nalanschlüsse an nur einem Signalanschluss durchgeführt wer
den kann.
Die Eingangs-/Ausgangstreiber der zu testenden Schaltung kön
nen im Testbetrieb zu einem langen oder mehreren kürzeren
Ringen zusammengeschaltet sein. Im Rahmen der vorliegenden
Erfindung können die einzelnen Eingangs-/Ausgangstreiber je
doch auch wahlweise - beispielsweise durch entsprechende Pro
grammierung - in den Ring eingefügt werden. Diese Variante
ist insbesondere deshalb vorteilhaft, da bei einer insgesamt
geraden Anzahl von Invertern innerhalb des Rings ein einzel
ner Inverter überbrückt und in einem zweiten Durchlauf getes
tet werden kann, wobei dann ein anderer Inverter überbrückt
wird. Darüber hinaus können mithilfe dieser Variante ver
schiedene jeweils kurze Ringe konfiguriert und die Auswertung
intern oder extern an ein und derselben Stelle bzw. an ein
und demselben Signalanschluss durchgeführt werden. Da bei
diesem Ausführungsbeispiel jedes Treiberstufenpaar (bei bidi
rektionalen Signalanschlüssen) auch getrennt ein- und ausge
schaltet werden kann, ist zudem die Bestimmung der Gesamtver
zögerungszeit jedes Treiberstufenpaars möglich.
Wird der auf zuvor beschriebene Art und Weise gebildete Ring
nicht geschlossen, sondern lediglich eine Kette der Eingangs-
/Ausgangstreiber bis zu einer Test- oder Auswertungseinrich
tung gebildet, kann das Leckverhalten der einzelnen Signalan
schlüsse nacheinander getestet werden, wobei an dem jeweils
zu testenden Signalanschluss am Anfang der Kette ein vordefi
nierter digitaler Signalwechsel hervorgerufen und anschlie
ßend der entsprechende Treiber hochohmig ("Tristate") ge
schaltet und am Ende der Kette die Zeit bis zum Auftreten
bzw. Erkennen des entsprechenden digitalen Signalwechsels ge
messen wird, wobei diese Zeit ein Maß für den Leckstrom an
dem entsprechenden Signalanschluss ist. Auf diese Weise kön
nen nacheinander sämtliche Signalanschlüsse der Schaltung auf
Leckstrom getestet werden.
Die vorliegende Erfindung ermöglicht einen "At-Speed"-Test
sämtlicher Eingangs- und/oder Ausgangstreiber (10-Treiber)
einer Schaltung, insbesondere einer integrierten Halbleiter
schaltung, unter Einbeziehung der entsprechenden Bondverbin
dungen. Dabei ist - wie bereits zuvor erläutert worden ist -
eine Charakterisierung jedes Eingangs-/Ausgangstreiberpaares
einzeln und zudem ein Test bei Belastung und ein Test des
Leckverhaltens ("Leakage"-Verhaltens) möglich. Die Auswertung
kann sowohl "on chip" als auch extern mit lediglich geringem
Zusatzaufwand erfolgen. Ein Testautomat mit vielen schnellen
Testkanälen für alle digitalen Signalanschlüsse der Schaltung
ist nicht erforderlich, was besonders wichtig ist, da zum
Testen interner Funktionen von Halbleiterschaltungen bereits
weitgehend auf derartige komplexe Tester verzichtet werden
kann. Die vorliegende Erfindung ergänzt die bekannten "Scan
path"- und "Boundary Scan"-Testverfahren für den Test der in
ternen Schaltungslogik um den Test der Padschaltungen mit
Eingangs-/Ausgangstreibern, so dass nunmehr die gesamte Halb
leiterschaltung einschließlich der äußeren Signalanschlüsse
ausreichend getestet werden kann.
Die vorliegende Erfindung eignet sich bevorzugt für den Test
der äußeren Signalanschlüsse von integrierten Halbleiter
schaltungen. Selbstverständlich ist die vorliegende Erfindung
jedoch nicht auf diesen bevorzugten Anwendungsbereich be
schränkt, sondern kann überall dort eingesetzt werden, wo ein
Test der Eingangs-/Ausgangstreiber einer Schaltung wünschens
wert ist. Dabei sind mit dem Begriff "Eingangs-/Ausgangstrei
ber" sowohl reine Eingangs- bzw. Ausgangstreiber als auch -
bei bidirektionalen Signalanschlüssen - Eingangs-/Ausgangs
treiberpaare gemeint.
Die vorliegende Erfindung wird nachfolgend näher unter
Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung anhand bevorzugter
Ausführungsbeispiele erläutert.
Fig. 1A und Fig. 1B zeigen eine integrierte
Halbleiterschaltung in einem erfindungsgemäßen Testbetrieb
bzw. in einem Normalbetrieb, und
Fig. 2A und Fig. 2B zeigen eine integrierte
Halbleiterschaltung und eine Testvorrichtung zum Testen der
integrierten Halbleiter-Schaltung gemäß einem bevorzugten
Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung sowie eine
Variante davon zur Durchführung eines "Leakage"-Tests.
In Fig. 1A ist eine integrierte Halbleiterschaltung 1 mit
mehreren Signalanschlüssen 2 dargestellt, welche zusätzlich
zu den (nicht gezeigten) Anschlüssen für die
Versorgungsspannung und für den Masseanschluss vorgesehen
sind. Diese Signalanschlüsse 2 sind entweder mit
Ausgangstreibern 3 oder Eingangstreibern 4 bzw. im Fall von
bidirektionalen Anschlüssen gleichzeitig mit Ausgangstreibern
3 und Eingangstreibern 4 verbunden. Bei dem in Fig. 1
gezeigten Beispiel handelt es sich bei sämtlichen
Signalanschlüssen 2 um bidirektionale Anschlüsse, so dass für
jeden Signalanschluss 2 sowohl ein Ausgangstreiber 3 als auch
ein Eingangstreiber 4 vorgesehen ist. Hinsichtlich dieser
Ausgangstreiber 3 und Eingangstreiber 4 ist mithilfe einer
entsprechenden Testeinheit 8 jeweils die logische Funktion,
die Geschwindigkeit bzw. Verzögerungszeit, möglichst auch
unter Belastung, sowie die Bondverbindung zu den
entsprechenden Signalanschlüssen 2 bzw. "Pins" sowie das
Leckverhalten zu überprüfen.
Im Normalbetrieb sind die einzelnen Ausgangstreiber 3 bzw.
Eingangstreiber 4 mithilfe von steuerbaren Umschaltern
(Multiplexern) 7 wie in Fig. 1B gezeigt derart verschaltet,
dass sie direkt mit der internen Logik 5 der jeweiligen
integrierten Halbleiterschaltung 1 verbunden sind. Der
Schaltzustand der Umschalter 7 wird von der Testeinheit 8
bzw. einer darin vorgesehenen Steuereinheit 10 gesteuert.
Ausgangssignale der internen Logik 5 können somit über den
entsprechenden Signalanschluss 2 mithilfe des entsprechenden
Ausgangstreibers 3 abgegriffen werden. Umgekehrt können der
internen Logik 5 über den entsprechenden Signalanschluss 2
mithilfe des jeweiligen Eingangstreibers 4 Eingangssignale
zugeführt werden.
Im Testbetrieb werden die Umschalter 7 hingegen wie in Fig.
1A gezeigt verschaltet. Dabei sind durch Umschalten der
Umschalter 7 die einzelnen Ausgangstreiber 3 bzw.
Eingangstreiber 4 über internen Verbindungen 6 in Serie zu
einem Ring verschaltet, wobei immer ein Ausgang eines
Treibers 3 bzw. 4 mit einem Eingang eines nachfolgenden
Treibers 3 bzw. 4 verbunden ist. Bei bidirektionalen
Signalanschlüssen 2, wie sie in Fig. 1 gezeigt sind, kann
diese Verbindung intern in der integrierten
Halbleiterschaltung 1, d. h. auf dem jeweiligen Chip,
erfolgen. Bei unidirektionalen Signalanschlüssen, denen
jeweils entweder nur ein Ausgangstreiber 3 oder ein
Eingangstreiber 4 zugeordnet ist, wird die dargestellte
Verbindung vorzugsweise zwischen den einzelnen Treibern
außerhalb des jeweiligen Chips, z. B. auf dem Testboard der
zum Testen der integrierten Halbleiterschaltung 1
vorgesehenen Testeinheit 8, realisiert.
Ein derartiger Ring stellt einen Ringoszillator dar, wenn in
dem Ring eine ungerade Anzahl von Invertern vorhanden ist.
Bei dem in Fig. 1A gezeigten Ausführungsbeispiel umfasst der
geschlossene Ring drei invertierende Ausgangstreiber 3 und
drei nicht invertierende Eingangstreiber 4, so dass dieses
Kriterium erfüllt ist. Ist hingegen dieses Kriterium einer
ungeraden Anzahl von Invertern in dem Ring nicht erfüllt,
beispielsweise wenn grundsätzlich nur nicht invertierende
Eingangstreiber 4 bzw. Ausgangstreiber 3 verwendet werden,
muss zum Testen der integrierten Halbleiterschaltung 1 ein
(in Fig. 1A gestrichelt angedeuteter) zusätzlicher Inverter
bzw. invertierender Treiber in die Ringverbindung 6 eingefügt
werden. Dies kann beispielsweise dadurch erfolgen, dass in
diesem Fall von der Testeinheit 8 gesteuert automatisch
dieser zusätzliche invertierende Treiber in den Ring
geschaltet wird. Ebenso kann die integrierte
Halbleiterschaltung 1 bereits bei der Fertigung derart
ausgestaltet sein, dass bei einer geraden Anzahl von den
einzelnen Signalanschlüssen 2 zugeordneten invertierenden
Ausgangstreibern 3 bzw. Eingangstreibern 4 dieser zusätzliche
invertierende Treiber in einer der Verbindungen 6 des Rings
vorgesehen ist.
Der auf diese Weise gebildete Ringoszillator schwingt auf
einer Frequenz, deren Periodendauer der doppelten
Gesamtverzögerungszeit sämtlicher Elemente des Rings
entspricht. Durch Auswertung der Schwingung dieses
Ringoszillators ist somit ein Test der äußeren
Signalanschlüsse 2 der integrierten Halbleiterschaltung 1
bzw. der in dem Ring befindlichen Ausgangstreiber 3 und
Eingangstreiber 4 einschließlich der Umschalter 7 möglich. Zu
diesem Zweck ist an einem der Signalanschlüsse 2 die bereits
zuvor erwähnte Testeinheit 8 mit einer Auswertungseinheit 9
angeschlossen. Die Auswertungseinheit 9 wertet die Schwingung
des Ringoszillators aus. Tritt eine Schwingung des
Ringoszillators nicht auf, erkennt die Auswertungseinheit 9,
dass der Ring entweder infolge eines Defekts unterbrochen ist
oder einer der Ausgangstreiber 3 bzw. Eingangstreiber 4 nicht
die entsprechende ordnungsgemäße Funktion ausübt. Bei dem
dargestellten Ausführungsbeispiel erfolgt die Auswertung der
Schwingung extern in der Auswertungseinheit 9 der Testeinheit
8. Selbstverständlich ist jedoch auch eine Auswertung der
Schwingung innerhalb der integrierten Halbleiterschaltung 1
in Form eines Selbsttests möglich.
Wie bereits erwähnt worden ist, entspricht die Periode der
Schwingung der doppelten Summe der Verzögerungszeiten
sämtlicher Ausgangstreiber 3 und Eingangstreiber 4, welche in
Form einer Serienschaltung in dem Ring vorhanden sind. Die
Auswertungseinheit 9 der Testeinheit 8 kann somit durch
Auswerten der Periode der Schwingung des Ringoszillators bzw.
durch Auswerten der Schwingungsfrequenz, beispielsweise durch
Vergleich mit einem bestimmten vorgegebenen Grenzwert,
erkennen, ob in dem Ring besonders langsame Treiber 3, 4 mit
einer ungewöhnlichen hohen Verzögerungszeit enthalten sind
oder nicht. Ebenso kann die Funktion der einzelnen
Ausgangstreiber 3 bzw. Eingangstreiber 4 unter Last geprüft
werden. Zu diesem Zweck kann die Testeinheit 8 automatisch
externe Last- bzw. Leitungskapazitäten an die einzelnen
Signalanschlüsse 2 anschließen, wie dies in Fig. 1A
gestrichelt angedeutet ist. Bei einer derartigen kapazitiven
Belastung wird die Verzögerungszeit der jeweiligen
Treiberstufe und damit die Periode des Ringoszillators um
einen festgelegten Betrag verlängert. Darüber hinausgehende
Verzögerungen der Schwingungsperiode weisen auf zu schwache
Treiber 3, 4 hin. Bleibt die Schwingungsfrequenz bzw.
Schwingungsperiode auch bei Anschluss einer derartigen
externen Last an den jeweiligen Signalanschluss 2 der
integrierten Halbleiterschaltung 1 unverändert, erkennt die
Auswertungseinheit 9 der Testeinheit 8, dass der
entsprechende Signalanschluss 2 bzw. Pin intern nicht korrekt
angeschlossen ist.
In der einfachsten Ausführungsform sind sämtliche
Ausgangstreiber 3 bzw. Eingangstreiber 4 der integrierten
Halbleiterschaltung 1 im Testbetrieb wie in Fig. 1A gezeigt
zu einem einzigen langen Ring zusammengeschaltet. Bei
integrierten Halbleiterschaltungen 1 mit vielen
Signalanschlüssen 2 kann es jedoch zweckmäßig sein, anstelle
eines langen Ringes mehrere voneinander unabhängige kürzere
Ringe zu bilden, wobei wiederum darauf geachtet werden muss,
dass die Anzahl invertierender Treiber bzw. invertierender
Stufen innerhalb jedes einzelnen Rings ungerade ist, so dass
jeder einzelne Ring einen Ringoszillator bildet. Die für das
Verschalten der Ausgangstreiber 3 bzw. Eingangstreiber 4
erforderliche Zusatzverdrahtung 6 mit den Umschaltern 7 kann
innerhalb der integrierten Halbleiterschaltung 1 weitgehend
automatisch generiert werden, indem z. B. diese zusätzlichen
Schaltungskomponenten per Software automatisch in die
entsprechende Netzliste der integrierten Halbleiterschaltung
1 eingefügt werden.
Eine einfache Möglichkeit zur Auswertung der Schwingung des
jeweiligen Ringoszillators bzw. der entsprechenden
Schwingungsperiode oder Schwingungsfrequenz ist die
Verwendung eines Universalfrequenzzählers mit Zeitmesseinheit
als Auswertungseinheit 9. Neben dieser Auswertungseinheit 9
umfasst die Testeinheit 8 auch die bereits erwähnte
Steuereinheit 10, welche automatisch den zuvor beschriebenen
Testablauf generiert und dafür sorgt, dass im Testbetrieb die
einzelnen Umschalter 7 wie in Fig. 1A geschaltet werden, um
die gewünschte Ringstruktur zu erhalten. Die Steuereinheit 10
erzeugt somit automatisch Steuer- bzw. Stellsignale für die
einzelnen steuerbaren Umschalter 7. Darüber hinaus sorgt die
Steuereinheit 10 auch für das automatische Hinzuschalten
eines gegebenenfalls erforderlichen zusätzlichen Inverters
bzw. für das automatische Zuschalten der zuvor beschriebenen
Lastkapazitäten an die einzelnen Signalanschlüsse 2 etc. Die
Steuersignale können beispielsweise ähnlich wie die
Testsignale für einen "Boundary Scan"-Test übertragen bzw.
angelegt werden.
In Fig. 2A ist ein weiteres Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung dargestellt, wobei ähnlich zu Fig. 1A
eine integrierte Halbleiterschaltung 1 mit mehreren
Signalanschlüssen 2, denen jeweils ein Ausgangstreiber 3 und
ein Eingangstreiber 4 zugeordnet ist, dargestellt ist. Ebenso
ist wie bei dem in Fig. 1 gezeigten Ausführungsbeispiel
jedem Signalschluss 2 ein Umschalter 7 zugeordnet, mit dessen
Hilfe zwischen einem Testbetrieb und einem Normalbetrieb
umgeschaltet werden kann. Im Normalbetrieb sind die einzelnen
Ausgangstreiber 3 bzw. Eingangstreiber 4 direkt mit der
internen Logik 5 der integrierten Halbleiterschaltung 1
verbunden, während sich die Umschalter 7 im Testbetrieb in
der in Fig. 2 gezeigten Stellung befinden, so dass die
einzelnen Ausgangstreiber 3 bzw. Eingangstreiber 4 wie bei
dem zuvor erläuterten Ausführungsbeispiel in Serie
miteinander verschaltet sind und einen Ring bilden.
Im Gegensatz zu dem zuvor beschriebenen Ausführungsbeispiel
ist jedoch bei dem in Fig. 2A gezeigten Ausführungsbeispiel
eine variable Konfiguration dieses Rings möglich. Zu diesem
Zweck sind zusätzliche Umschalter bzw. Multiplexer 11
vorgesehen, mit welchen die jeweils vorhergehende Eingangs-
/Ausgangstreiberkombination bzw. der entsprechende
Signalanschluss 2 überbrückt werden können. Zu diesem Zweck
ist ein Eingang dieses Umschalters 11 mit dem Ausgang eines
vorhergehenden Eingangstreibers 4 und ein anderer Eingang mit
dem Eingang eines entsprechenden vorhergehenden
Ausgangstreibers 3 bzw. dessen entsprechenden Umschalters 7
verbunden, während der Ausgang des jeweiligen Umschalters 11
wiederum mit einem Eingang eines nachfolgenden Umschalters 7
verbunden ist. Bei dem in Fig. 2A gezeigten
Ausführungsbeispiel sind mit Ausnahme des rechten oberen
Signalanschlusses 2 bzw. des entsprechenden Ausgangstreibers
3 und des entsprechenden Eingangstreibers 4 alle anderen
Signalanschlüsse 2 mit den entsprechenden Ausgangstreibern 3
und den entsprechenden Eingangstreibern 4 zu einem
Ringoszillator verschaltet, wobei wiederum die Anzahl der
invertierenden Stufen in diesem Ringoszillator ungerade ist.
Der rechte obere Signalanschluss 2 ist aufgrund der Schaltung
des (im Uhrzeigersinn) nachfolgenden Umschalters 11
überbrückt. Die einzelnen Umschalter 11 können von der
Steuereinheit 10 der Testeinheit 8 beispielsweise mit der dem
jeweiligen Signalanschluss 2 zugeordneten "Boundary Scan"-
Information geschaltet werden, wobei jedem Signalanschluss 2
ein "Boundary Scan"-Register zur Steuerung des entsprechenden
Umschalters 11 zugeordnet sein kann, um die Konfiguration des
Ringoszillators während des Testablaufs verändern zu können.
Bei dem in Fig. 2A gezeigten Ausführungsbeispiel mit
variabler Konfiguration des Ringoszillators ist vorteilhaft,
dass jedes Eingangs-/Ausgangstreiberpaar separat für den
Ringoszillator aktiviert und deaktiviert bzw. ein- und
ausgeschaltet werden kann, so dass die Gesamtverzögerungszeit
des entsprechenden Eingangs-/Ausgangstreiberpaars separat
bestimmt werden kann. Hierzu kann das zu analysierende
Eingangs-/Ausgangstreiberpaar während des Testablaufs
zusätzlich in den Ring geschaltet oder aber überbrückt
werden. Durch Auswertung der sich daraufhin einstellenden
Veränderung der Schwingungsperiode des Ringoszillators kann
die Testeinheit 8 bzw. die entsprechende Auswertungseinheit 9
auf die Gesamtverzögerungszeit des zu analysierenden
Eingangs-/Ausgangstreiberpaars schließen, da diese
Veränderung der Schwingungsperiode der doppelten
Gesamtverzögerungszeit des jeweiligen Eingangs-
/Ausgangstreiberpaars und des entsprechenden Umschalters 7
entspricht. Die Information, ob das jeweilige Eingangs-
/Ausgangstreiberpaar wirksam oder überbrückt ist, kann - wie
bereits erwähnt worden ist - beispielweise in "Boundary
Scan"-Registern hinterlegt sein.
Darüber hinaus ist das in Fig. 2A gezeigte
Ausführungsbeispiel auch deshalb vorteilhaft, da bei einer
insgesamt geraden Anzahl von invertierenden Stufen innerhalb
des Rings eine invertierende Stufe bzw. ein invertierender
Treiber gezielt überbrückt und in einem zweiten Durchlauf
getestet werden kann, wobei dann eine andere invertierende
Stufe überbrückt werden muss. Die Periodendauer der von der
Testeinheit 8 ausgewerteten Schwingungsperiode des
Ringoszillators wird umso länger, je mehr Treiberstufen und
Umschalter 7, 11 zu dem Ring verschaltet sind. Die
Erkennbarkeit von zusätzlichen Verzögerungen einzelner
Treiber nimmt dadurch jedoch ab. Daher sollte der Ring nicht
zu lange sein. Das in Fig. 2 gezeigte Ausführungsbeispiel
bietet diesbezüglich die Möglichkeit, nacheinander
verschiedene, jeweils kurze Ringe zu konfigurieren und die
Auswertung intern oder extern an ein und derselben Stelle,
beispielsweise an dem rechten unteren Signalanschluss 2,
durchzuführen.
Schließlich kann mit der in Fig. 2A gezeigten Anordnung auch
das Leckverhalten der Signalanschlüsse 2 einschließlich der
zugehörigen Eingangstreiber 4 und Ausgangstreiber 3 getestet
werden.
Hierzu werden alle Eingangs- und Ausgangstreiber zu einer
offenen Kette geschaltet, wobei das zu messende Treiberpaar
3, 4 jeweils den Beginn der Kette darstellt und die
Auswertungseinheit 9 am Ende der Kette angeschlossen ist.
Ein entsprechendes Beispiel hierfür ist in Fig. 2B
dargestellt, wobei das Treiberpaar 3, 4 links unten in Fig.
2B getestet wird. Der entsprechende Ausgangstreiber 3 ist mit
der internen Schaltungslogik 5 über den ihm zugeordneten
Umschalter 7 verbunden, wodurch gegenüber Fig. 2A der Ring
geöffnet ist. Zudem sind in Fig. 2B "Enable"- oder
Freigabeanschlüsse 12 der einzelnen Ausgangstreiber 3
dargestellt, um diese selektiv ein- und auszuschalten.
Der zu testende Ausgangstreiber 3 wird zunächst auf den
logischen Pegel "0", dann auf den logischen Pegel "1" und
schließlich über den Freigabeanschluss 12 hochohmig
geschaltet, wobei die Steuerung hierzu vorzugsweise über die
interne Schaltungslogik 5 erfolgt. An der Auswertungseinheit
9, welche am Ende der Kette liegt, wird nunmehr die
Zeitspanne gemessen, bis der entsprechende digitale
Signalwechsel nach dem Abschalten des Ausgangstreibers 3
erkannt werden kann. Bei einer geradzahligen Anzahl der
invertierenden Stufen in der Kette liegt am Ende der Kette
zunächst der logische Pegel "0", dann der logische Pegel "1"
und nach Ablauf der zu messenden Entladezeit wieder der
logische Pegel "0" an. Bei einer ungeraden Anzahl der
invertierenden Stufen ist die Signalfolge am Ende der Kette
invertiert. Nach Abschluss des "Leakage"-Tests zu dem
jeweiligen Signalanschluss 2 wird der im Uhrzeigersinn
nachfolgende Signalanschluss 2 getestet, wobei hierzu der
zugehörige Umschalter 7 so eingestellt wird, dass die oben
beschriebene Signalfolge ebenfalls von der internen
Schaltungslogik an den nunmehr zu testenden Ausgangstreiber 3
geschaltet ist. Auf diese Weise können nacheinander alle
Signalanschlüsse 2 der integrierten Halbleiterschaltung 1
separat auf ihr Leckverhalten getestet werden. Die gesamte
Testzeit entspricht der Summe sämtlicher gemessener
Entladezeiten. Zur Reduzierung der Testzeit kann die Kette
auch in mehrere Teile unterteilt werden, wobei am Ende jeder
Teilkette eine separate Auswertungs- oder Zeitmesseinheit 9
vorgesehen sein sollte. Bei p derartiger Teilketten und p
separaten Auswertungseinheiten 9 reduziert sich somit die
Testzeit um den Faktor p.
Abgesehen von einem reinen Fertigungstest mit einer minimalen
äußeren Beschaltung der integrierten Halbleiterschaltung 1
können für Analysezwecke die Signale aller Eingangstreiber 4
bzw. Ausgangstreiber 3 auch von außen, beispielsweise mit
einem Oszilloskop, beobachtet werden.
Insgesamt kann mithilfe der zuvor beschriebenen Erfindung mit
wenigen Signalen innerhalb oder außerhalb der zu testenden
integrierten Halbleiterschaltung 1 die korrekte Arbeitsweise
sämtlicher Eingangstreiber 4 und sämtlicher Ausgangstreiber 3
einschließlich der Verbindungen zu den jeweiligen
Signalanschlüssen 2 getestet werden. Durch wahlweises
Hinzuschalten oder Abtrennen einzelner Eingangstreiber 4 bzw.
Ausgangstreiber 3 während des Tests können deren
Verzögerungszeiten einzeln ermittelt werden. Ein
ausreichender Test der gesamten integrierten
Halbleiterschaltung 1 zwischen den äußeren Signalanschlüssen
2 und der internen Schaltungslogik 5 ist somit gewährleistet.
Die zusätzlich erforderten Schaltungsmaßnahmen (Umschalter 7
und 11 sowie Verdrahtung 6) kann bei dem Entwurf der
entsprechenden integrierten Halbleiterschaltung 1
beispielsweise einfach per Software in die entsprechende
Netzliste eingefügt werden, wobei dies eventuell
automatisiert beim Einfügen der Schaltung für das "Boundary
Scan"-Verfahren im selben Schritt erfolgen kann.
Claims (21)
1. Verfahren zum Testen von Eingangs-/Ausgangstreibern einer
Schaltung,
wobei die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) entsprechenden Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1) zugeordnet sind,
wobei zum Testen die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) in Serie derart verschaltet werden, dass jeweils der Ausgang eines Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) mit dem Eingang eines nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) verbunden ist, um einen Ringoszillator zu bilden, und
wobei zum Testen der zu dem Ringoszillator verschalteten Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die Schwingung des Ringoszillators ausgewertet wird,
dadurch gekennzeichnet,
dass zum Testen einzelner Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die entsprechenden Eingangs-/Ausgangstreiber in den Ringoszillator geschaltet oder von dem Ringoszillator abgetrennt werden und die sich daraufhin einstellende Veränderung der Schwingung des Ringoszillators ausgewertet wird.
wobei die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) entsprechenden Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1) zugeordnet sind,
wobei zum Testen die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) in Serie derart verschaltet werden, dass jeweils der Ausgang eines Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) mit dem Eingang eines nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) verbunden ist, um einen Ringoszillator zu bilden, und
wobei zum Testen der zu dem Ringoszillator verschalteten Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die Schwingung des Ringoszillators ausgewertet wird,
dadurch gekennzeichnet,
dass zum Testen einzelner Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die entsprechenden Eingangs-/Ausgangstreiber in den Ringoszillator geschaltet oder von dem Ringoszillator abgetrennt werden und die sich daraufhin einstellende Veränderung der Schwingung des Ringoszillators ausgewertet wird.
2. Verfahren zum Testen von Eingangs-/Ausgangstreibern einer
Schaltung,
wobei die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) entsprechenden Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1) zugeordnet sind,
wobei zum Testen die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) in Serie derart verschaltet werden, dass jeweils der Ausgang eines Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) mit dem Eingang eines nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) verbunden ist, um einen Ringoszillator zu bilden, und
wobei zum Testen der zu dem Ringoszillator verschalteten Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die Schwingung des Ringoszillators ausgewertet wird,
dadurch gekennzeichnet,
dass bei bidirektionalen Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1), denen sowohl ein Ausgangstreiber (3) als auch ein Eingangstreiber (4) zugeordnet ist, die einzelnen Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) innerhalb der Schaltung (1) miteinander verschaltet werden, während bei unidirektionalen Signalanschlüssen (2), denen entweder ein Eingangstreiber (4) oder ein Ausgangstreiber (3) zugeordnet ist, die einzelnen Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) außerhalb der Schaltung (1) miteinander verschaltet werden.
wobei die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) entsprechenden Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1) zugeordnet sind,
wobei zum Testen die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) in Serie derart verschaltet werden, dass jeweils der Ausgang eines Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) mit dem Eingang eines nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) verbunden ist, um einen Ringoszillator zu bilden, und
wobei zum Testen der zu dem Ringoszillator verschalteten Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die Schwingung des Ringoszillators ausgewertet wird,
dadurch gekennzeichnet,
dass bei bidirektionalen Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1), denen sowohl ein Ausgangstreiber (3) als auch ein Eingangstreiber (4) zugeordnet ist, die einzelnen Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) innerhalb der Schaltung (1) miteinander verschaltet werden, während bei unidirektionalen Signalanschlüssen (2), denen entweder ein Eingangstreiber (4) oder ein Ausgangstreiber (3) zugeordnet ist, die einzelnen Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) außerhalb der Schaltung (1) miteinander verschaltet werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
dass zum Testen der Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) der
Schaltung (1) die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) zu
mehreren Ringoszillatoren verschaltet werden, wobei die
Schwingung der einzelnen Ringoszillatoren separat ausgewertet
wird.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) derart miteinander
verschaltet werden, dass die Anzahl von invertierenden
Eingangs-/Ausgangstreibern (3, 4) in dem Ringoszillator
ungerade ist.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass für den Fall, dass nach Verschalten der den
Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1) zugeordneten
Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die Anzahl von
invertierenden Eingangs-/Ausgangstreibern (3, 4) in dem
Ringoszillator gerade ist, ein zusätzlicher invertierender
Treiber in den Ringoszillator geschaltet wird.
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass für den Fall, dass nach Verschalten der Eingangs-
/Ausgangstreiber (3, 4) zu dem Ringoszillator keine
Schwingung des Ringoszillators erfasst werden kann, auf einen
Defekt in der Verschaltung des Ringoszillators oder auf
mindestens einen defekten Eingangs-/Ausgangstreiber in dem
Ringoszillator geschlossen wird.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass zum Testen eines Signalanschlusses (2) der Schaltung (1)
eine Last an den jeweiligen Signalanschluss (2) geschaltet
wird, wobei bei Feststellen einer oberhalb eines vorgegebenen
Grenzwertes liegenden Verlängerung der Schwingungsperiode des
Ringoszillators nach Hinzuschalten der Last auf eine zu
geringe Treiberleistung des dem jeweiligen Signalanschluss
(2) zugeordneten Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4)
geschlossen wird.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass durch Auswertung der Schwingungsperiode des
Ringoszillators auf die Verzögerungszeit der zu dem
Ringoszillator verschalteten Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4)
geschlossen wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
dass zum Testen eines Signalanschlusses (2) der Schaltung (1)
eine Last an den jeweiligen Signalanschluss (2) geschaltet
wird, wobei bei Feststellen einer unveränderten
Schwingungsperiode des Ringoszillators nach Hinzuschalten der
Last auf eine fehlerhafte interne Verbindung des jeweiligen
Signalanschlusses (2) geschlossen wird.
10. Verfahren nach Anspruch 8 oder 9,
dadurch gekennzeichnet,
dass ein einzelner Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) während
des Tests zu dem Ringoszillator hinzugeschaltet oder von dem
Ringoszillator getrennt wird, wobei aus einer sich daraufhin
einstellenden Veränderung der Schwingungsperiode des
Ringoszillators auf die Verzögerungszeit des
hinzugeschalteten bzw. abgetrennten Eingangs-
/Ausgangstreibers (3, 4) geschlossen wird.
11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
dass zum Testen des Leckverhaltens der Signalanschlüsse (2)
der Schaltung (1) die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) in
Serie zu einer offenen Kette verschaltet werden, wobei an den
jeweils zu testenden Signalanschluss (2) ein vordefiniertes
Signal gelegt und das am Ende der Kette auftretende Signal
ausgewertet wird, um das Leckverhalten an dem jeweiligen
Signalanschluss (2) zu testen.
12. Verfahren nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet,
dass zum Testen des Leckverhaltens an einem Signalanschluss
(2) der Schaltung (1) ein dem jeweiligen Signalanschluss
zugeordneter und in der Kette enthaltener Ausgangstreiber (3)
zunächst auf einen ersten Signalpegel, dann auf einen zweiten
Signalpegel und anschließend hochohmig geschaltet wird, und
dass die Zeitspanne gemessen wird, bis am Ende der Kette ein
dem Wechsel in den hochohmigen Zustand des jeweiligen
Ausgangstreibers (3) entsprechender Signalwechsel auftritt,
wobei aus der somit gemessenen Zeitspanne auf das
Leckverhalten des jeweiligen Signalanschlusses (2)
geschlossen wird.
13. Testvorrichtung zum Testen von Eingangs-/Ausgangstreibern
einer Schaltung,
wobei die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) entsprechenden Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1) zugeordnet sind,
mit steuerbaren Schaltmitteln (7) und Steuermitteln (10) zum Ansteuern der steuerbaren Schaltmittel (7) derart, dass zum Testen der Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) diese über die steuerbaren Schaltmittel (7) in Serie derart verschaltet werden, dass jeweils der Ausgang eines Eingangs- /Ausgangstreibers (3, 4) mit dem Eingang eines nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) verbunden ist, um einen Ringoszillator zu bilden, und
mit Auswertungsmitteln (9), welche zum Testen der zu dem Ringoszillator verschalteten Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die Schwingung des Ringoszillators auswerten,
dadurch gekennzeichnet,
dass weitere steuerbare Schaltmittel (11) vorgesehen sind, um zum Testen einzelner Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die entsprechenden Eingangs-/Ausgangstreiber wahlweise zu dem Ringoszillator hinzuzuschalten oder von dem Ringoszillator abzutrennen,
wobei die Auswertungsmittel (9) derart ausgestaltet sind, dass sie zum Testen der entsprechenden Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) die sich daraufhin einstellende Veränderung der Schwingung des Ringoszillators auswerten.
wobei die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) entsprechenden Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1) zugeordnet sind,
mit steuerbaren Schaltmitteln (7) und Steuermitteln (10) zum Ansteuern der steuerbaren Schaltmittel (7) derart, dass zum Testen der Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) diese über die steuerbaren Schaltmittel (7) in Serie derart verschaltet werden, dass jeweils der Ausgang eines Eingangs- /Ausgangstreibers (3, 4) mit dem Eingang eines nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) verbunden ist, um einen Ringoszillator zu bilden, und
mit Auswertungsmitteln (9), welche zum Testen der zu dem Ringoszillator verschalteten Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die Schwingung des Ringoszillators auswerten,
dadurch gekennzeichnet,
dass weitere steuerbare Schaltmittel (11) vorgesehen sind, um zum Testen einzelner Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die entsprechenden Eingangs-/Ausgangstreiber wahlweise zu dem Ringoszillator hinzuzuschalten oder von dem Ringoszillator abzutrennen,
wobei die Auswertungsmittel (9) derart ausgestaltet sind, dass sie zum Testen der entsprechenden Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) die sich daraufhin einstellende Veränderung der Schwingung des Ringoszillators auswerten.
14. Testvorrichtung zum Testen von Eingangs-/Ausgangstreibern
einer Schaltung,
wobei die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) entsprechenden Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1) zugeordnet sind,
mit Mitteln (6, 7) zum Verschalten der Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) in Serie derart, dass jeweils der Ausgang eines Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) mit dem Eingang eines nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) verbunden ist, um einen Ringoszillator zu bilden, wobei die Mittel (6, 7) zum Verschalten der Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) steuerbare Schaltmittel (7) umfassen,
mit Steuermitteln (10) zum Ansteuern der steuerbaren Schaltmittel (7) derart, dass zum Testen der Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) diese über die steuerbaren Schaltmittel (7) in Serie zu dem Ringoszillator verschaltet werden, und
mit Auswertungsmitteln (9), welche zum Testen der zu dem Ringoszillator verschalteten Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die Schwingung des Ringoszillators auswerten,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Mittel (6, 7) zum Verschalten der Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) derart ausgestaltet sind, dass bei bidirektionalen Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1), denen sowohl ein Ausgangstreiber (3) als auch ein Eingangstreiber (4) zugeordnet ist, die einzelnen Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) innerhalb der Schaltung (1) miteinander verschaltet werden, während bei unidirektionalen Signalanschlüssen (2), denen entweder ein Eingangstreiber (4) oder ein Ausgangstreiber (3) zugeordnet ist, die einzelnen Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) außerhalb der Schaltung (1) miteinander verschaltet werden.
wobei die Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) entsprechenden Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1) zugeordnet sind,
mit Mitteln (6, 7) zum Verschalten der Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) in Serie derart, dass jeweils der Ausgang eines Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) mit dem Eingang eines nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) verbunden ist, um einen Ringoszillator zu bilden, wobei die Mittel (6, 7) zum Verschalten der Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) steuerbare Schaltmittel (7) umfassen,
mit Steuermitteln (10) zum Ansteuern der steuerbaren Schaltmittel (7) derart, dass zum Testen der Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) diese über die steuerbaren Schaltmittel (7) in Serie zu dem Ringoszillator verschaltet werden, und
mit Auswertungsmitteln (9), welche zum Testen der zu dem Ringoszillator verschalteten Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die Schwingung des Ringoszillators auswerten,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Mittel (6, 7) zum Verschalten der Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) derart ausgestaltet sind, dass bei bidirektionalen Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1), denen sowohl ein Ausgangstreiber (3) als auch ein Eingangstreiber (4) zugeordnet ist, die einzelnen Eingangs- /Ausgangstreiber (3, 4) innerhalb der Schaltung (1) miteinander verschaltet werden, während bei unidirektionalen Signalanschlüssen (2), denen entweder ein Eingangstreiber (4) oder ein Ausgangstreiber (3) zugeordnet ist, die einzelnen Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) außerhalb der Schaltung (1) miteinander verschaltet werden.
15. Testvorrichtung nach Anspruch 13 oder 14,
dadurch gekennzeichnet,
dass die steuerbaren Schaltmittel (7) zum Verschalten der
Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) zu einer offenen
Kettenschaltung zum Testen des Leckverhaltens an den
entsprechenden Signalanschlüssen (2) ausgestaltet sind.
16. Testvorrichtung nach Anspruch 15,
dadurch gekennzeichnet,
dass jeder Ausgangstreiber (3) einen Freigabeanschluss (12)
zum selektiven Ein- und Ausschalten des Ausgangstreibers (3)
aufweist.
17. Testvorrichtung nach einem der Ansprüche 13-16,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Testvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach
einem der Ansprüche 1-12 ausgestaltet ist.
18. Zu testende Schaltung, welche zur Durchführung des
Testverfahrens nach einem der Ansprüche 1-12 ausgestaltet
ist,
mit mehreren zu testenden Eingangs-/Ausgangstreibern (3, 4), welche entsprechenden Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1) zugeordnet sind,
mit steuerbaren Schaltmitteln (7), um zum Tasten der Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) diese derart in Serie zu verschalten, dass jeweils der Ausgang eines Eingangs- /Ausgangstreibers (3, 4) mit dem Eingang eines nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) verbunden ist, um einen Ringoszillator zu bilden,
dadurch gekennzeichnet,
dass weitere steuerbare Schaltmittel (11) vorgesehen sind, um zum Testen einzelner Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die entsprechenden Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) wahlweise zu dem Ringoszillator hinzuzuschalten oder von dem Ringoszillator abzutrennen.
mit mehreren zu testenden Eingangs-/Ausgangstreibern (3, 4), welche entsprechenden Signalanschlüssen (2) der Schaltung (1) zugeordnet sind,
mit steuerbaren Schaltmitteln (7), um zum Tasten der Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) diese derart in Serie zu verschalten, dass jeweils der Ausgang eines Eingangs- /Ausgangstreibers (3, 4) mit dem Eingang eines nachfolgenden Eingangs-/Ausgangstreibers (3, 4) verbunden ist, um einen Ringoszillator zu bilden,
dadurch gekennzeichnet,
dass weitere steuerbare Schaltmittel (11) vorgesehen sind, um zum Testen einzelner Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) die entsprechenden Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) wahlweise zu dem Ringoszillator hinzuzuschalten oder von dem Ringoszillator abzutrennen.
19. Schaltung nach Anspruch 18,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Schaltung (1) eine integrierte Halbleiterschaltung
ist.
20. Schaltung nach einem der Ansprüche 18-19,
dadurch gekennzeichnet,
dass die Schaltung (1) steuerbare Schaltmittel (7) zum
Verschalten der Eingangs-/Ausgangstreiber (3, 4) zu einer
offenen Kettenschaltung zum Testen des Leckverhaltens an den
entsprechenden Signalanschlüssen (2) umfasst.
21. Schaltung nach Anspruch 20,
dadurch gekennzeichnet,
dass jeder Ausgangstreiber (3) einen Freigabeanschluss (12)
zum selektiven Ein- und Ausschalten des Ausgangstreibers (3)
aufweist.
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JP 09-257884 A (Abstract, Volldokument und engl. Übersetzung) * |
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