CN110806539B - 一种继电器与驱动芯片的检测器 - Google Patents

一种继电器与驱动芯片的检测器 Download PDF

Info

Publication number
CN110806539B
CN110806539B CN201911172857.0A CN201911172857A CN110806539B CN 110806539 B CN110806539 B CN 110806539B CN 201911172857 A CN201911172857 A CN 201911172857A CN 110806539 B CN110806539 B CN 110806539B
Authority
CN
China
Prior art keywords
relay
module
chip
socket
resistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201911172857.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110806539A (zh
Inventor
米鹏
李伟志
李伟
周杰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen STS Microelectronics Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen STS Microelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen STS Microelectronics Co Ltd filed Critical Shenzhen STS Microelectronics Co Ltd
Priority to CN201911172857.0A priority Critical patent/CN110806539B/zh
Publication of CN110806539A publication Critical patent/CN110806539A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110806539B publication Critical patent/CN110806539B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Relay Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开了一种继电器与驱动芯片的检测器,包括振荡模块、继电器插座、触点检测模块、驱动芯片插座、检测继电器、第一提示模块和第二提示模块;所述振荡模块与继电器插座、驱动芯片插座电性连接,所述振荡模块用于产生周期性的脉冲信号以触发安装于继电器插座处的待检测继电器工作和/或触发安装于驱动芯片插座处的待检测驱动芯片工作。本发明的继电器与驱动芯片的检测器既可以实现对继电器性能以及驱动芯片性能的独立检测,也可以实现对继电器和驱动芯片的并行检测;且对驱动芯片实现的是动态检测而非静态检测,方便用户检测继电器和/或驱动芯片的实际性能。

Description

一种继电器与驱动芯片的检测器
技术领域
本发明涉及检测技术领域,尤其涉及一种继电器与驱动芯片的检测器。
背景技术
继电器和驱动芯片是常见的一种元器件,测试设备使用的继电器要求响应速度快,触点接触电阻小(0.3欧以内)。继电器老化和驱动芯片负载性能变差是导致测试设备不稳定的最主要因素。
目前的有公开如下方案:申请号为CN201510525411.7的方案,其公开了继电器动作时间检测电路及检测方法,由于可编程逻辑器件中同时包括检测继电器常开或常闭触点动作电平状态变化的程序和记录时间长度的程序,当检测到继电器触点从一种电平状态变化到另一种电平状态时,就终止记录时间,由于可编程逻辑器件具有工作模式可以并行和工作频率高的特点,单位时间可达到纳秒级别,可以将检测时间可以精确到纳秒级别。
申请号为CN201620950355.1的方案,其公开了一种继电器耐久性测试装备,通过判断继电器线圈端加载次数和继电器负载触点动作次数来对继电器的耐久性进行检测。
申请号为CN200820157147.1的方案,其公开了继电器自动测试装置,其实现了多个继电器并行加载依次测试,能够检测继电器控制线圈是否失效及常开、常闭触点的开关是否正常工作。
由上可知,目前更多的是针对于继电器的触点检测和耐久性检测,并没有涉及到驱动芯片驱动负载的能力的检测;因此,如何设计一种能够方便、快速、准确的检测继电器和驱动芯片实际负载驱动性能的检测装置成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
为了克服现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种继电器与驱动芯片的检测器,其能实现对继电器以及驱动芯片性能的检测。
本发明的目的采用如下技术方案实现:
一种继电器与驱动芯片的检测器,包括振荡模块、继电器插座、触点检测模块、驱动芯片插座、检测继电器、第一提示模块和第二提示模块;
所述振荡模块与继电器插座、驱动芯片插座电性连接,所述振荡模块用于产生周期性的脉冲信号以触发安装于继电器插座处的待检测继电器工作和/或触发安装于驱动芯片插座处的待检测驱动芯片工作;
所述驱动芯片插座与检测继电器电性连接,所述继电器插座与触点检测模块电性连接;所述触点检测模块用于检测待检测继电器的触点电压,并根据检测到的触点电压与预设电压比较;所述第一提示模块用于提示用户待检测继电器是否存在异常,所述第二提示模块用于提示用户待检测驱动芯片是否存在异常。
进一步地,还包括供电模块和电压切换模块,所述供电模块用于给待检测继电器、触点检测模块以及振荡模块供电;所述电压切换模块用于切换供电模块对待检测继电器的供电电压。
进一步地,所述振荡模块为NE555时基集成电路。
进一步地,所述振荡模块包括振荡芯片U3、可变电阻R37、电阻R36、电容C8和充电电容C9;所述供电模块的输出端与振荡芯片U3的电压端、振荡芯片U3的重置清零端相接,所述供电模块的输出端通过可变电阻R37、电阻R36与振荡芯片U3的触发端相接,所述振荡芯片U3的高触发端TH与振荡芯片U3的低触发端TR相接,所述振荡芯片U3的低触发端TR、振荡芯片U3的高触发端TH与充电电容C9正极相接,所述振荡芯片U3的放电端与可变电阻R37和电阻R36的连接点相接,所述振荡芯片U3的输出端通过电阻R12与驱动芯片插座的相接,所述振荡芯片U3的输出端与继电器插座的线圈端相接;所述振荡芯片U3的控制电压端通过电容C8接地。
进一步地,在振荡模块与继电器插座之间还设置有电阻R35和开关管Q5,所述振荡芯片U3的输出端通过电阻R35与开关管Q5的栅极相接,开关管Q5的源极接地,开关管Q5的漏极与继电器插座的线圈端相接。
进一步地,所述开关管Q5为耗尽式N沟道场效应管。
进一步地,所述振荡芯片U3的输出端通过电阻R11与驱动芯片插座的输入引脚相接,驱动芯片插座的输出引脚分别与对应检测继电器的一端、第二提示模块的一端相接,所述检测继电器的另一端与第二提示模块的另一端相接。
进一步地,所述触点检测模块包括电压比较器U2、三极管Q1、电阻R6A、电阻R10A、电阻R30A、电阻R31A和电阻R2A;所述供电模块的输出端依次通过电阻R10A、电阻R30A接地;电压比较器U2的正向输入端与电阻R10A和电阻R30A的连接点相接,供电模块的输出端通过电阻R6A与继电器插座的触点端相接,电压比较器U2的反向输入端与继电器插座的触点端相接,供电模块的输出端通过电阻R2A与三极管Q1的集电极相接,电压比较器U2的输出端与三极管Q1的基极相接,三极管Q1的发射极通过第一提示模块接地。
进一步地,所述触点检测模块的数量为多个,每个触点检测模块用于检测对应的继电器插座的触点端。
进一步地,还包括继电器失效检测模块,所述继电器失效检测模块用于检测待检测继电器触点失效的次数;所述继电器失效检测模块包括对比继电器、逻辑判断模块、计数器;所述对比继电器与待检测继电器的类型相同,且触点检测模块与对比触点检测模块相同,供电模块的输出端通过对比触点检测模块与对比继电器的触点端相接,对比触点检测模块的输出端与逻辑判断模块的一输入端相接,触点检测模块的输出端与逻辑判断模块的另一输入端相接,所述逻辑判断模块的输出端与计数器的输入端相接。
进一步地,所述逻辑判断模块的型号为74LS086,所述计数器的型号为H7EC-BVLM。
进一步地,所述第一提示模块为二极管D6,当二极管D6处于发光状态时,则表示继电器插座处的待检测继电器工作正常,当二极管D6处于不发光状态时,则表示继电器插座处的待检测继电器工作异常。
进一步地,还包括电流检测模块,所述电流检测模块用于检测待检测驱动芯片的电流大小,所述电流检测模块包括数据采集模块、控制模块和显示模块,所述数据采集模块将采集到的电压信号传输至控制模块,所述控制模块对接收到的电压信号进行解析以得到待检测驱动芯片的电流大小并输出至显示模块进行显示。
进一步地,所述数据采集模块包括运算放大器和A/D转换芯片,所述运算放大器通过采样电阻R30来采集检测继电器的电压信号,并将根据电压信号得到测量电压通过A/D转换芯片输出至控制模块。
进一步地,所述运算放大器的型号为LMV321,所述A/D转换芯片的型号为PCF8091,所述控制模块的型号为AT89C51,所述显示模块的型号为LCD1602。
进一步地,所述继电器插座为单刀单掷继电器插座、单刀双掷继电器插座、双刀双掷继电器插座、光耦继电器插座中的一种或多种。
相比现有技术,本发明的有益效果在于:
本发明的继电器与驱动芯片的检测器既可以实现对继电器性能以及驱动芯片性能的独立检测,也可以实现对继电器和驱动芯片的并行检测;且对驱动芯片实现的是动态检测而非静态检测,方便用户检测继电器和/或驱动芯片的实际性能。
附图说明
图1为本发明的继电器与驱动芯片的检测器的电路原理框图;
图2为本发明的继电器与驱动芯片的检测器中的继电器检测的电路原理图;
图3为本发明的继电器与驱动芯片的检测器中的驱动芯片检测的电路原理图;
图4为本发明的驱动芯片插座、第二提示模块及检测继电器的电路原理图;
图5为本发明的振荡模块的电路原理图;
图6为本发明的供电模块的电路原理图;
图7为本发明的触点检测模块的电路原理图;
图8为本发明的继电器失效检测模块的电路原理图;
图9为本发明的电流检测模块的电路原理图。
具体实施方式
下面,结合附图以及具体实施方式,对本发明做进一步描述,需要说明的是,在不相冲突的前提下,以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
如图1和图2所示,本实施例提供了一种继电器与驱动芯片的检测器,包括振荡模块、继电器插座、触点检测模块、驱动芯片插座、检测继电器、第一提示模块和第二提示模块;
所述振荡模块与继电器插座、驱动芯片插座电性连接,所述振荡模块用于产生周期性的脉冲信号以触发安装于继电器插座处的待检测继电器工作和/或触发安装于驱动芯片插座处的待检测驱动芯片工作;并且在本实施例中可增加不同型号驱动芯片的底座,以适用不同信号控制端的芯片。
所述驱动芯片插座与检测继电器电性连接,所述继电器插座与触点检测模块电性连接;所述触点检测模块用于检测待检测继电器的触点电压,并用于根据检测到的触点电压与预设电压比较;所述第一提示模块用于提示用户待检测继电器是否存在异常,所述第二提示模块用于提示用户待检测驱动芯片是否存在异常。在本实施例中,第一提示模块和第二提示模块可以是发光二极管、显示屏、扬声器或者微型马达等器件,其主要目的是为了提示用户对应的继电器或者驱动芯片是否存在异常;当选用发光二极管时,其通过亮灭来表示继电器是否正常,显示屏通过直接显示结果来表示继电器是否正常,扬声器通过是否发出声音来表示继电器是否正常,微型马达通过是否振动来表示继电器是否异常。
更为优选地,本实施例中的继电器插座可以为单刀单掷继电器插座、单刀双掷继电器插座、双刀双掷继电器插座、光耦继电器插座中的一种或多种;也可以是其他类型的继电器插座,其主要作用是安装对应的待检测继电器,以使得待检测继电器的线圈端与继电器插座的各线圈端和触点端相接。
在本实施例中,优选地,所述振荡芯片U3为NE555时基集成电路。本实施例的振荡芯片U3可以产生不同频率的脉冲波来驱动待检测继电器工作,且该脉冲波的频率、数量以及延时均为可调参数。更为优选地,本实施例的检测器还包括供电模块和电压切换模块,供电模块的具体电路图如图6所示,所述供电模块用于给待检测继电器、触点检测模块以及振荡模块供电;所述电压切换模块用于切换供电模块对待检测继电器的供电电压。除了设置供电模块来进行供电之外,还可以直接通过外接电源来进行供电。其中电压切换模块主要采用5V/12V电压切换,当采用12V驱动电压驱动继电器时,则切换至12V的电源,当需要采用5V驱动电压驱动继电器时,则切换至5V的电源,其具体电源大小是根据继电器的型号来选定的。
如图5所示,所述振荡模块包括振荡芯片U3、可变电阻R37、电阻R36、电容C8和充电电容C9;所述供电模块的输出端与振荡芯片U3的电压端、振荡芯片U3的重置清零端相接,所述供电模块的输出端通过可变电阻R37、电阻R36与振荡芯片U3的触发端相接,所述振荡芯片U3的高触发端TH与振荡芯片U3的低触发端TR相接,所述振荡芯片U3的低触发端TR、振荡芯片U3的高触发端TH与充电电容C9正极相接,所述振荡芯片U3的放电端与可变电阻R37和电阻R36的连接点相接,所述振荡芯片U3的输出端通过电阻R12与驱动芯片插座的相接,所述振荡芯片U3的输出端与继电器插座的线圈端相接;所述振荡芯片U3的控制电压端通过电容C8接地。在本实施例中R37为可变电阻,其可以通过调节R37的阻值来改变对C9充放电的速度从而控制被检测继电器的打开与闭合的频率。
如图7所示,所述触点检测模块包括电压比较器U2、三极管Q1、电阻R6A、电阻R10A、电阻R30A、电阻R31A和电阻R2A;所述供电模块的输出端依次通过电阻R10A、电阻R30A接地;电压比较器U2的正向输入端与电阻R10A和电阻R30A的连接点相接,供电模块的输出端通过电阻R6A与继电器插座的触点端相接,电压比较器U2的反向输入端与继电器插座的触点端相接,供电模块的输出端通过电阻R2A与三极管Q1的集电极相接,电压比较器U2的输出端与三极管Q1的基极相接,三极管Q1的发射极通过第一提示模块接地。由于继电器的触点一般不止有一个,故而在进行设置时,所述触点检测模块的数量为多个,每个触点检测模块用于检测对应的继电器插座的触点端。
更为优选地,在本实施例中,所述第一提示模块为二极管D6,当二极管D6处于发光状态时,则表示继电器插座处的待检测继电器工作正常,当二极管D6处于不发光状态时,则表示继电器插座处的待检测继电器工作异常。
在振荡模块与继电器插座之间还设置有电阻R35和开关管Q5,所述振荡芯片U3的输出端通过电阻R35与开关管Q5的栅极相接,开关管Q5的源极接地,开关管Q5的漏极与继电器插座的线圈端相接。所述开关管Q5为耗尽式N沟道场效应管。
本实施例中,单独对继电器进行检测的具体工作原理:
当需要对继电器进行检测时,先将待检测继电器安装至对应的继电器插座中,根据继电器的类型选择适当的工作电压5V或12V,具体可直接通过开关SW1进行切换。当接通开关J1,工作电压通过稳压电源U1后产生5V直流电,稳压电源U1产生的5V直流电经过R10A和R30A之后接地,在R10A和R30A的连结点的电位作为电压比较器U2的预设电位U3;另一路5V直流电经过R6A和继电器插座K1的触点端后接地,在R6A和继电器插座K1触点的连结点得到被比较电位U2。电压比较器U2的PIN2为比较结果输出端,当被比较电位U2>预设电位U3时,PIN2为低电位,此时三极管Q1为关闭状态,因此二极管D6 LED不发光,表示继电器工作异常;当被比较电位U2<被比较电位U3时,PIN2为高电位,此时三极管Q1处于导通状态,二极管D6发光,表示继电器工作正常。
当开关J1闭合的同时稳压电源U1同时提供5V直流电至振荡芯片U3,此时振荡芯片U3的PIN3、PIN7为高电平,此电平信号经R35控制三极管Q5打开或关断,并使相应电压连接到继电器插座的线圈端(也即是待检测继电器的线圈端)然后接地。在振荡芯片U3得电的同时5V直流电经过可变电阻R37和R36给C9充电,振荡芯片U3的PIN2、PIN6连接到C9的正极,当C9充电电位达到振荡芯片U3的触发电位时,振荡芯片U3被触发,此时振荡芯片U3的PIN3、PIN7转为低电平,进而控制继电器线圈停止工作;当PIN3转低电平后,充电电容C9经过R37和R36放电,振荡芯片U3的PIN2、PIN6电位下降,当电位下降到阀值以下时,此时控制PIN3、PIN7转为高电平,以对C9再次充电;循环往复完成这样的充放电过程。因此C9的充放电过程就是开关J1闭合以后在振荡芯片U3的控制下对充电电容C9进行反复充放电,同时待检测继电器触点会有规律地闭合或断开,电压比较器U2实时检测继电器触点的阻抗并通过D6来指示状态。
除了上述对继电器检测的相关电路之外,更为优选的,还存在有对驱动芯片进行检测的对应原理图;在本实施例中主要是对驱动芯片动态能力的检测,而并不是对驱动芯片的静态能力的检测,也即是检测驱动芯片处于工作状态时各项指标参数。如图3和图4所示,所述振荡芯片U3的输出端通过电阻R11与驱动芯片插座U4的输入引脚相接,所述振荡芯片U3的输出端通过电阻R12与驱动芯片插座U5的输入引脚相接,各个驱动芯片插座的输出引脚分别与对应检测继电器的一端、第二提示模块的一端相接,所述检测继电器的另一端与第二提示模块的另一端相接。本实施例中的驱动芯片插座为两个,在具体实施时,也可以只设置一个驱动芯片插座也可以设置3个或者3个以上,生产厂商可以根据实际需求来进行设计。
本实施例中,单独对驱动芯片进行检测的具体工作原理:
当需要对驱动芯片的驱动能力进行检测时,先将待检测的驱动芯片安装至驱动芯片插座处,振荡芯片U3的PIN3发出脉冲触发信号并分别通过电阻R11和电阻R12传输至待检测驱动芯片U4和待检测驱动芯片U5处,进而控制待检测驱动芯片U4和待检测驱动芯片U5每个通道的I/O信号输出;当脉冲触发信号为高电平的时候对应的通道输出为低电平,此时对应的继电器线圈端的电流被接通,进而控制检测继电器工作。当脉冲触发信号为低电平时,此时对应的继电器线圈端的电流被截止,则控制继电器停止工作。在检测过程中,第二提示模块也即是对应的二极管对相应通道状态进行检测;然后通过发光二极管的亮灭来表示对应通道是否导通,进而实现对驱动芯片的检测。在整个驱动过程中检测继电器的开关状态、相应的电流驱动大小、频率检测都在同时进行。
更为优选地,本实施例的检测器还包括继电器失效检测模块,如图8所示,所述继电器失效检测模块用于检测待检测继电器触点失效的次数;所述继电器失效检测模块包括对比继电器、逻辑判断模块、计数器;所述对比继电器与待检测继电器的类型相同,且触点检测模块与对比触点检测模块相同,供电模块的输出端通过对比触点检测模块与对比继电器的触点端相接,对比触点检测模块的输出端与逻辑判断模块的一输入端相接,触点检测模块的输出端与逻辑判断模块的另一输入端相接,所述逻辑判断模块的输出端与计数器的输入端相接。所述逻辑判断模块的型号为74LS086,所述计数器的型号为H7EC-BVLM。
本实施例中的继电器失效检测模块的具体工作原理如下:
在进行继电器失效检测过程中对比继电器和待检测继电器的类型相同,且检测的触点也一一对应;振荡芯片U3的脉冲触发信号输入控制三极管Q5的开启或闭合进而使得相应的档位切换电压加在待测继电器和同步对比继电器插座各自对应的线圈端V+和V-处,进而使待检测继电器往复切换;图8中的电压比较器U2对待检测继电器和对比继电器各自对应的触点进行检测,各个触点有K1+与K1+,K2+与K2+等两组触点,因为待检测继电器和对比继电器电平频率相同所以开关状态同步;将待检测继电器的触点K1+与对比继电器的触点K1+的作为一组判断信号通过分别触点检测模块接入一逻辑判断模块的输入引脚处;并将待检测继电器的触点K2+与对比继电器的触点K2+作为另一组判断信号分别通过触点检测模块接入另一逻辑判断模块的输入引脚,然后通过逻辑判断模块输出的高低电平来进行逻辑监控,在本实施例中逻辑判断模块的型号为74LS86。逻辑判断模块的具体判断逻辑如下:当待检测继电器和对比继电器的两组触点K1+,K2+K2+各自的触点检测模块输出的信号同步为高或同为低时,则表示该待检测继电器正常,当各自的触点检测模块输出一高一低的电压信号时,则表示待检测继电器的触点有问题;同时逻辑判断模块输出信号至计数器处,H7EC-BLM即为电压电流计数器,当有电压电流流过开始计数,通过该计数器以此对待检测继电器失效的次数进行统计。
更为优选地,本实施例的检测器还包括电流检测模块,如图9所示,所述电流检测模块用于检测待检测驱动芯片的电流大小,所述电流检测模块包括数据采集模块、控制模块和显示模块,所述数据采集模块将采集到的电压信号传输至控制模块,所述控制模块对接收到的电压信号进行解析以得到待检测驱动芯片的电流大小并输出至显示模块进行显示。
更为优选地,所述数据采集模块包括运算放大器和A/D转换芯片,所述运算放大器通过采样电阻R30来采集检测继电器的电压信号,并将根据电压信号得到测量电压通过A/D转换芯片输出至控制模块。所述运算放大器的型号为LMV321,所述A/D转换芯片的型号为PCF8091,所述控制模块的型号为AT89C51,所述显示模块的型号为LCD1602。本实施例的LCD1602为显示器,RS引脚为数据选择,R/W引脚数据读写,E使能信号数据传输,D1-D7为显示数据引脚。
本实施例中的电流检测模块的具体工作原理如下:
当检测继电器K1的线圈电流流过采样电阻R30进行采样后,采样电压输入到运算放大器U6A的正向输入端进行电压运放,然后将经过运放后的电压输出至A/D转换芯片,在本实施例中,A/D转换芯片的型号为PCF8691,该A/D转换芯片的AIN0-AIN3为模拟信号输入端,SDA为总线数据线,SCL为时钟线,REF基准电压端。当运放电压信号输入至A/D转换芯片的AIN0模拟信号输入端后被触发,并读写A/D转换结果以将采样结果存储至内部ADC数据寄存器中,最后通过SDA和SCL接口将数据传输至控制模块的引脚21和引脚22的I/O接口接受,进而将数据在显示模块处进行显示,具体数据传输是控制模块通过引脚26、27、28的I/O输出数据信号到LCD1602显示器RS端、RW端和E端三个引脚进行数据读写控制,控制模块也与显示模块LCD的D1-D7引脚进行相接以进行数据显示。
除了上述实施例中提及的单独对继电器以及驱动芯片进行检测的方式之外,本实施例的检测器还可以实现对继电器以及驱动芯片的并行检测;也即是将待检测继电器与待检测驱动芯片均安装于该检测器处,然后通过接通对应开关以实现继电器与驱动芯片的并行检测。
上述实施方式仅为本发明的优选实施方式,不能以此来限定本发明保护的范围,本领域的技术人员在本发明的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本发明所要求保护的范围。

Claims (16)

1.一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,包括振荡模块、继电器插座、触点检测模块、驱动芯片插座、检测继电器、第一提示模块和第二提示模块,检测驱动芯片处于工作状态时各项指标参数;
所述振荡模块与继电器插座、驱动芯片插座电性连接,所述振荡模块控制待检测驱动芯片每个通道的I/O信号输出,所述振荡模块用于产生周期性的脉冲信号以触发安装于继电器插座处的待检测继电器工作和/或触发安装于驱动芯片插座处的待检测驱动芯片工作;
所述驱动芯片插座与检测继电器电性连接,所述继电器插座与触点检测模块电性连接;所述触点检测模块用于检测待检测继电器的触点电压,并用于根据检测到的触点电压与预设电压比较;所述第一提示模块用于提示用户待检测继电器是否存在异常,所述第二提示模块用于提示用户待检测驱动芯片是否存在异常。
2.如权利要求1所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,还包括供电模块和电压切换模块,所述供电模块用于给待检测继电器、触点检测模块以及振荡模块供电;所述电压切换模块用于切换供电模块对待检测继电器的供电电压。
3.如权利要求2所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,所述振荡模块为NE555时基集成电路。
4.如权利要求3所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,所述振荡模块包括振荡芯片U3、可变电阻R37、电阻R36、电容C8和充电电容C9;所述供电模块的输出端与振荡芯片U3的电压端、振荡芯片U3的重置清零端相接,所述供电模块的输出端通过可变电阻R37、电阻R36与振荡芯片U3的触发端相接,所述振荡芯片U3的高触发端TH与振荡芯片U3的低触发端TR相接,所述振荡芯片U3的低触发端TR、振荡芯片U3的高触发端TH与充电电容C9正极相接,所述振荡芯片U3的放电端与可变电阻R37和电阻R36的连接点相接,所述振荡芯片U3的输出端通过电阻R12与驱动芯片插座的相接,所述振荡芯片U3的输出端与继电器插座的线圈端相接;所述振荡芯片U3的控制电压端通过电容C8接地。
5.如权利要求4所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,在振荡模块与继电器插座之间还设置有电阻R35和开关管Q5,所述振荡芯片U3的输出端通过电阻R35与开关管Q5的栅极相接,开关管Q5的源极接地,开关管Q5的漏极与继电器插座的线圈端相接。
6.如权利要求5所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,所述开关管Q5为耗尽式N沟道场效应管。
7.如权利要求4所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,所述振荡芯片U3的输出端通过电阻R11与驱动芯片插座的输入引脚相接,驱动芯片插座的输出引脚分别与对应检测继电器的一端、第二提示模块的一端相接,所述检测继电器的另一端与第二提示模块的另一端相接。
8.如权利要求2所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,所述触点检测模块包括电压比较器U2、三极管Q1、电阻R6A、电阻R10A、电阻R30A、电阻R31A和电阻R2A;所述供电模块的输出端依次通过电阻R10A、电阻R30A接地;电压比较器U2的正向输入端与电阻R10A和电阻R30A的连接点相接,供电模块的输出端通过电阻R6A与继电器插座的触点端相接,电压比较器U2的反向输入端与继电器插座的触点端相接,供电模块的输出端通过电阻R2A与三极管Q1的集电极相接,电压比较器U2的输出端与三极管Q1的基极相接,三极管Q1的发射极通过第一提示模块接地。
9.如权利要求8所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,所述触点检测模块的数量为多个,每个触点检测模块用于检测对应的继电器插座的触点端。
10.如权利要求8所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,还包括继电器失效检测模块,所述继电器失效检测模块用于检测待检测继电器触点失效的次数;所述继电器失效检测模块包括对比继电器、逻辑判断模块、计数器;所述对比继电器与待检测继电器的类型相同,且触点检测模块与对比触点检测模块相同,供电模块的输出端通过对比触点检测模块与对比继电器的触点端相接,对比触点检测模块的输出端与逻辑判断模块的一输入端相接,触点检测模块的输出端与逻辑判断模块的另一输入端相接,所述逻辑判断模块的输出端与计数器的输入端相接。
11.如权利要求10所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,所述逻辑判断模块的型号为74LS086,所述计数器的型号为H7EC-BVLM。
12.如权利要求2所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,所述第一提示模块为二极管D6,当二极管D6处于发光状态时,则表示继电器插座处的待检测继电器工作正常,当二极管D6处于不发光状态时,则表示继电器插座处的待检测继电器工作异常。
13.如权利要求1所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,还包括电流检测模块,所述电流检测模块用于检测待检测驱动芯片的电流大小,所述电流检测模块包括数据采集模块、控制模块和显示模块,所述数据采集模块将采集到的电压信号传输至控制模块,所述控制模块对接收到的电压信号进行解析以得到待检测驱动芯片的电流大小并输出至显示模块进行显示。
14.如权利要求13所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,所述数据采集模块包括运算放大器和A/D转换芯片,所述运算放大器通过采样电阻R30来采集检测继电器的电压信号,并将根据电压信号得到测量电压通过A/D转换芯片输出至控制模块。
15.如权利要求14所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,所述运算放大器的型号为LMV321,所述A/D转换芯片的型号为PCF8091,所述控制模块的型号为AT89C51,所述显示模块的型号为LCD1602。
16.如权利要求1所述的一种继电器与驱动芯片的检测器,其特征在于,所述继电器插座为单刀单掷继电器插座、单刀双掷继电器插座、双刀双掷继电器插座、光耦继电器插座中的一种或多种。
CN201911172857.0A 2019-11-26 2019-11-26 一种继电器与驱动芯片的检测器 Active CN110806539B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911172857.0A CN110806539B (zh) 2019-11-26 2019-11-26 一种继电器与驱动芯片的检测器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911172857.0A CN110806539B (zh) 2019-11-26 2019-11-26 一种继电器与驱动芯片的检测器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110806539A CN110806539A (zh) 2020-02-18
CN110806539B true CN110806539B (zh) 2021-12-28

Family

ID=69491787

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911172857.0A Active CN110806539B (zh) 2019-11-26 2019-11-26 一种继电器与驱动芯片的检测器

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110806539B (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112964979A (zh) * 2021-02-03 2021-06-15 华东师范大学 一种集成电路芯片封装测试系统
CN115372817B (zh) * 2022-10-26 2023-03-14 国网江西省电力有限公司电力科学研究院 一种积木式继电器自动检测装置及方法
CN117214673B (zh) * 2023-11-07 2024-03-08 蓝芯存储技术(赣州)有限公司 芯片的测试方法、装置、设备和存储介质

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6363510B1 (en) * 1999-08-31 2002-03-26 Unisys Corporation Electronic system for testing chips having a selectable number of pattern generators that concurrently broadcast different bit streams to selectable sets of chip driver circuits
DE10138556C1 (de) * 2001-08-06 2003-06-05 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Testen von Eingangs-/Ausgangstreibern einer Schaltung und entsprechende Testvorrichtung
CN206489260U (zh) * 2017-01-17 2017-09-12 云南电网有限责任公司西双版纳供电局 一种继电器动作功率自动测量仪
CN106864270A (zh) * 2017-01-20 2017-06-20 深圳市沃特玛电池有限公司 具有故障诊断功能的继电器控制系统
CN206788314U (zh) * 2017-04-21 2017-12-22 信丰明新电子科技有限公司 一种带自检功能的集成电路测试板
CN109283462A (zh) * 2018-09-27 2019-01-29 深圳赛意法微电子有限公司 手持式继电器测试仪
CN209560050U (zh) * 2019-02-27 2019-10-29 上海地铁维护保障有限公司 便携式继电器测试装置
CN110161403A (zh) * 2019-06-17 2019-08-23 哈尔滨汇鑫仪器仪表有限责任公司 一种单相智能电能表用继电器驱动芯片检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN110806539A (zh) 2020-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110806539B (zh) 一种继电器与驱动芯片的检测器
CN107797050A (zh) 一种定位服务器主板上电时序状态异常的方法
CN102737721A (zh) 硬盘阵列开关机测试装置及测试方法
US7928745B2 (en) Endurance testing system and method
US8717049B2 (en) System and method for testing computer under varying environmental conditions
CN105140890B (zh) 一种稳态过压保护系统
CN103093714A (zh) Led显示屏驱动板的检测装置以及检测方法
CN103267919A (zh) 一种自动开关机装置
CN104297614A (zh) 一种段码类液晶显示模块短路测试装置和方法
CN101520491B (zh) 一种开关电源输出短路及过压保护的测试方法及装置
CN110703729B (zh) 一种微控制器测试系统及其测试方法
CN101846117A (zh) 液压缸性能测试装置
CN1256673C (zh) Pda主板生产测试的方法
CN110426186A (zh) 一种蝶阀自动检测装置及检测方法
CN212675092U (zh) 耐电源噪声测试装置
CN105223880A (zh) 一种程序控制盒同步性能检测方法及装置
CN102022314A (zh) 风扇的测试治具及测试系统
CN115343347A (zh) 一种血糖仪的可编程自动测试装置和方法
CN113608514A (zh) 一种用于电机控制器的测试工装
CN211121924U (zh) 开关测试装置及系统
TWM545253U (zh) 電容漏電流量測系統
EP3660529B1 (en) Device for detecting the load state of driving power supply
CN102129021A (zh) 发光二极管测试装置
US8862425B2 (en) Failure sensing and control system for cycle testing
CN205210119U (zh) 一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant