CN205210119U - 一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置 - Google Patents

Abstract

一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，涉及芯片测试技术领域，其结构包括用于将B档光传感器或者A档光传感器择一接至第二比较器的传感器选择器件、用于载入被测芯片档案并且根据被测芯片的档案来切换传感器选择器件所选通的传感器的单片机以及与单片机电连接的显示屏，被测芯片档案载入单片机，显示屏显示被测芯片档案，单片机根据第一比较器输出的第一比较结果和第二比较器输出的第二比较结果更新被测芯片档案，该测试装置可供软件工程师写入软件后可实现测试档位的自动切换，可及早发现测试档位与被测芯片的类型不符。

Description

一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置。

背景技术

同种型号的芯片测试机可以测试对应该封装形式下多个引脚的芯片，比较常见的为8个引脚、14个引脚或者16个引脚。

芯片进入测试区之前，是由芯片分离机构将一个一个的芯片逐一传输至芯片检测站，然而由于芯片分离机构的老化等原因，可能导致芯片分离机构同时传输两颗芯片至检测站，那么排列在后的那颗芯片将出现漏检测的情况，它将跟随前一颗芯片的测试结果进入良品或者不良品中。

为解决该异常，保证每个芯片都能被正常测试到，在芯片测试机设置有光传感器，用于检测在检测站内是有一颗芯片还是两颗芯片的功能，如果在检测站出现两颗芯片，则进行报警。但是，因存在不同类型的芯片，它们由于引脚数量的不同而导致长短不一，测试同型号不同数量引脚的芯片时需要进行不同光传感器之间的档位切换，以达到检测的目的。

现有技术的档位一般包括A档位和B档位两个档位，A档位设置A档光传感器，B档位设置B档光传感器，A档用于检测8个引脚的芯片（简称短芯片），B档用于检测14个引脚或者16个引脚的芯片（简称长芯片），还包括一个进料光传感器，用于检测是否进料。

测试时，芯片从进料通道自上向下进入，先经过A档光传感器对应的位置，再经过B档光传感器对应的位置，最后到达进料光传感器对应的位置，如果芯片挡住进料光传感器，则可以判断有料进入，如果芯片仅挡住进料传感器和B档光传感器的光线而未挡住A档光传感器的光线，则可以判断有两个短芯片进入，属于异常情况（或者一个长芯片进入，而档位设置错误，这也是异常情况），如果芯片将三个传感器的光线都挡住，那么就可判断有两个长芯片进入，属于异常情况。

对于两个档位的切换为手动切换，存在切换不方便，而且容易出现因为测试人员的粗心，被测芯片的类型换了，但光传感器的档位没有切换过来，档位与被测芯片的数量引脚不符而出现测试质量异常。

实用新型内容

本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，该在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置供软件工程师写入软件后可实现测试档位的自动切换，可及早发现测试档位与被测芯片的类型不符。

本实用新型的目的通过以下技术方案实现：

提供一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，包括固定设于竖立式进料通道的进料光传感器、B档光传感器、A档光传感器、第一比较器和第二比较器，所述进料光传感器、B档光传感器和A档光传感器自下向上依次排列，所述进料光传感器的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述进料光传感器的受光器位于被测芯片的下方/上方，所述B档光传感器的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述B档光传感器的受光器位于被测芯片的下方/上方，所述A档光传感器的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述A档光传感器的受光器位于被测芯片的下方/上方，

测试装置还包括用于将B档光传感器或者A档光传感器择一接至第二比较器的传感器选择器件、用于载入被测芯片档案并且根据被测芯片的档案来切换传感器选择器件所选通的传感器的单片机以及与单片机电连接的显示屏，

进料光传感器发送电平至第一比较器，第一比较器根据预设的第一电压基准值输出第一比较结果至单片机，B档光传感器或者A档光传感器发送电平至第二比较器，第二比较器根据预设的第二基准值输出第二比较结果至单片机，

被测芯片档案载入单片机，显示屏显示被测芯片档案，单片机根据第一比较结果和第二比较结果更新被测芯片档案，

B档光传感器与进料通道的底部在沿进料通道的长度方向的距离W小于两款被测芯片中长芯片的长度A，并且大于被测芯片中短芯片的长度B。

所述传感器选择器件为双刀单掷开关。

进料光传感器、B档光传感器和A档光传感器均为光耦传感器。

进料光传感器的发光器的正极接第一电源、进料光传感器的发光器的负极接B档光传感器的发光器的正极，B档光传感器的发光器的负极接A档光传感器的发光器的正极，A档光传感器的发光器的负极接地，进料光传感器的受光器的集电极、进料光传感器的受光器的集电极以及进料光传感器的受光器的集电极均接第二电源，进料光传感器的受光器的发射极接第一比较器的一个输入端，第一比较器的另一个输入端接第一基准电压源，第一比较器的输出端接单片机，B档光传感器的受光器的发射极接双刀单掷开关的一个常开触点，双刀单掷开关的常闭触点接第二比较器的一个输入端，第二比较器的另一个输入端接第二基准电压源，第二比较器的输出端接单片机。

所述第一基准电压源包括第一可变电阻器。

所述第二基准电压源包括第二可变电阻器。

所述第一电源为+4.5V。

所述第二电源为+24V。

本实用新型的有益效果：本实用新型的测试装置，可供软件工程师在单片机写入软件，进而可通过单片机来载入被测芯片档案，单片机一旦识别到新载入的被测芯片档案，就会通过双刀单掷开关将第二比较器自动切换至与合适的传感器电连接，被测芯片档案在显示屏显示，被测芯片档案的数据由单片机根据第一比较结果和第二比较结果进行更新，工作人员通过观察显示屏的数据，就可迅速知道被测芯片是否测试通过等信息，以及被测芯片的类型与所载入的被测芯片档案是否相符，如果不相符，可尽快重新载入正确的被测芯片档案，这样就可在更改了被测的芯片类型，但是工作人员忘记载入对应的被测芯片档案时，及早地发现并改正错误。

附图说明

利用附图对实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。

图1是本实用新型的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置的电路示意图。

图2是本实用新型的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置的第一种测试情况的正视示意图。

图3是本实用新型的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置的第二种测试情况的正视示意图。

图4是本实用新型的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置的第三种测试情况的正视示意图。

图5是本实用新型的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置的第四种测试情况的正视示意图。

图中包括有：

进料光传感器1；

B档光传感器2；

A档光传感器3；

单片机4；

显示屏5；

8pin的被测芯片6；

16pin的被测芯片7。

具体实施方式

结合以下实施例对本实用新型作进一步描述。

本实施例的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，包括固定设于竖立式进料通道的进料光传感器1、B档光传感器2和A档光传感器3，所述进料光传感器1、B档光传感器2和A档光传感器3自下向上依次排列，所述进料光传感器1的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述进料光传感器1的受光器位于被测芯片的下方/上方，所述B档光传感器2的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述B档光传感器2的受光器位于被测芯片的下方/上方，所述A档光传感器3的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述A档光传感器3的受光器位于被测芯片的下方/上方。

测试装置还包括用于将B档光传感器2或者A档光传感器3择一接至第二比较器的传感器选择器件、用于载入被测芯片档案并且根据被测芯片的档案来切换传感器选择器件所选通的传感器的单片机4以及与单片机4电连接的显示屏5。

如图2和图4所示，B档光传感器2与进料通道的底部在沿进料通道的长度方向的距离W小于两款被测芯片中长芯片的长度A，并且大于被测芯片中短芯片的长度B。

如图1所示，进料光传感器1、B档光传感器2和A档光传感器3均为光耦传感器，

进料光传感器1的发光器的正极接第一电源、进料光传感器1的发光器的负极接B档光传感器2的发光器的正极，B档光传感器2的发光器的负极接A档光传感器3的发光器的正极，A档光传感器3的发光器的负极接地，进料光传感器1的受光器的集电极、进料光传感器1的受光器的集电极以及进料光传感器1的受光器的集电极均接第二电源，进料光传感器1的受光器的发射极接第一比较器的一个输入端，第一比较器的另一个输入端接第一基准电压源，第一比较器的输出端接单片机4，B档光传感器2的受光器的发射极接双刀单掷开关的一个常开触点，双刀单掷开关的常闭触点接第二比较器的一个输入端，第二比较器的另一个输入端接第二基准电压源，第二比较器的输出端接单片机4。

所述第一基准电压源包括第一可变电阻器。

所述第二基准电压源包括第二可变电阻器。

所述第一电源为+4.5V。

所述第二电源为+24V。

本实施例的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，可供软件工程师在单片机4编写软件，上电后，三个传感器均处于工作状态。

如图2所示，情况一：载入短芯片（8pin的芯片）的档案进单片机4，单片机4识别到档案为短芯片的内容，则将双刀单掷开关拨至B档光传感器2，假设有一颗短芯片进入进料通道。进料传感器的发光器和受光器之间被芯片隔开，则进料传感器的受光器接收不到发光器发射的光源，进料传感器的受光器输出低电平至第一比较器的正输入端，第一比较器的正输入端输入的电压小于第一比较器的负输入端的电压，则第一比较器的输出端输出0V的电压，可判断为有料进入进料通道。

情况二：与情况一相反，当第一比较器的输出端输出4.3V的电压，可判断为无料进入进料通道。

如图3所示，情况三：与情况一的区别在于有两颗短芯片（或一颗长芯片）进入进料通道，此时进料传感器判断为有料进入进料通道，而B档光传感器2的受光器无法接收到发光器发射的光源，B档光传感器2的受光器输出低电平至第二比较器的正输入端，第二比较器的正输入端输入的电压小于第二比较器的负输入端的电压，则第二比较器的输出端输出0V的电压，可判断为进料异常，此时可看出这种进料异常是进两颗短芯片还是进一颗长芯片，如果进两颗短芯片，则需要停机检查芯片分离机构是否出问题了，如果是进一颗长芯片，则证明工作人员忘记载入长芯片（16pin的芯片）的档案了，需要重新载入长芯片的档案。

如图4所示，情况四：载入长芯片（16pin的芯片）的档案进单片机4，双刀单掷开关拨至A档光传感器3，B档光传感器2不工作，有一颗长芯片进入进料通道，此时进料传感器判断为有料进入进料通道，而A档光传感器3的受光器均可以接收到发光器发射的光源，则发送高电平至第二比较器的正输入端，第二比较器的输出端输出4.3V的电压，可判断为只进一颗长芯片，进料正常。

如图5所示，情况五：与情况四的区别在于，有两颗长芯片进入进料通道，此时进料传感器判断为有料进入进料通道，而A档光传感器3的受光器无法接收到发光器发射的光源，则发送低电平至第二比较器的正输入端，第二比较器的输出端输出0V的电压，可判断为进料异常。

本实施例通过在单片机4编写软件，使得可通过单片机4来载入被测芯片档案，单片机4一旦识别到新载入的被测芯片档案，就会通过双刀单掷开关将第二比较器自动切换至与合适的传感器电连接，被测芯片档案在显示屏5显示，被测芯片档案的数据由单片机4根据第一比较结果和第二比较结果进行更新，工作人员通过观察显示屏5的数据，就可迅速知道被测芯片是否测试通过等信息，以及被测芯片的类型与所载入的被测芯片档案是否相符，如果不相符，可尽快重新载入正确的被测芯片档案，这样就可在更改了被测的芯片类型，但是工作人员忘记载入对应的被测芯片档案时，及早地发现并改正错误。

最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。

Claims (8)

1.一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，包括固定设于竖立式进料通道的进料光传感器、B档光传感器、A档光传感器、第一比较器和第二比较器，所述进料光传感器、B档光传感器和A档光传感器自下向上依次排列，所述进料光传感器的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述进料光传感器的受光器位于被测芯片的下方/上方，所述B档光传感器的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述B档光传感器的受光器位于被测芯片的下方/上方，所述A档光传感器的发光器位于被测芯片的上方/下方，所述A档光传感器的受光器位于被测芯片的下方/上方，

其特征在于：测试装置还包括用于将B档光传感器或者A档光传感器择一接至第二比较器的传感器选择器件、用于载入被测芯片档案并且根据被测芯片的档案来切换传感器选择器件所选通的传感器的单片机以及与单片机电连接的显示屏，

进料光传感器发送电平至第一比较器，第一比较器根据预设的第一电压基准值输出第一比较结果至单片机，B档光传感器或者A档光传感器发送电平至第二比较器，第二比较器根据预设的第二基准值输出第二比较结果至单片机，

被测芯片档案载入单片机，显示屏显示被测芯片档案，单片机根据第一比较结果和第二比较结果更新被测芯片档案，

B档光传感器与进料通道的底部在沿进料通道的长度方向的距离W小于两款被测芯片中长芯片的长度A，并且大于被测芯片中短芯片的长度B。

2.如权利要求1所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述传感器选择器件为双刀单掷开关。

3.如权利要求2所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述进料光传感器、B档光传感器和A档光传感器均为光耦传感器。

4.如权利要求3所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述进料光传感器的发光器的正极接第一电源、进料光传感器的发光器的负极接B档光传感器的发光器的正极，B档光传感器的发光器的负极接A档光传感器的发光器的正极，A档光传感器的发光器的负极接地，进料光传感器的受光器的集电极、进料光传感器的受光器的集电极以及进料光传感器的受光器的集电极均接第二电源，进料光传感器的受光器的发射极接第一比较器的一个输入端，第一比较器的另一个输入端接第一基准电压源，第一比较器的输出端接单片机，B档光传感器的受光器的发射极接双刀单掷开关的一个常开触点，双刀单掷开关的常闭触点接第二比较器的一个输入端，第二比较器的另一个输入端接第二基准电压源，第二比较器的输出端接单片机。

5.如权利要求4所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述第一基准电压源包括第一可变电阻器。

6.如权利要求4所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述第二基准电压源包括第二可变电阻器。

7.如权利要求4所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述第一电源为+4.5V。

8.如权利要求4所述的一种在芯片测试时能够自动切换测试档位的测试装置，其特征在于：所述第二电源为+24V。