CN102737721A - 硬盘阵列开关机测试装置及测试方法 - Google Patents

硬盘阵列开关机测试装置及测试方法 Download PDF

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Abstract

一种硬盘阵列开关机测试装置，用于对硬盘阵列进行开关机测试，所述硬盘阵列开关机测试装置包括计算机主机总线适配器、控制芯片、继电器及外部电源，所述计算机包括计数器，当该硬盘阵列完成一次开关机测试则该计数器计数加一，所述主机总线适配器分别连接至所述计算机及硬盘阵列，所述控制芯片电性连接至所述计算机，所述继电器分别电性连接至所述控制芯片、外部电源及硬盘阵列，所述计算机通过驱动控制芯片来使继电器闭合与断开，实现该外部电源对该硬盘阵列的供电与断电以对应控制该硬盘阵列的开机与关机；所述主机总线适配器侦测该硬盘阵列的开、关机状态并返回给所述计算机。本发明还涉及一种硬盘阵列开关机测试方法。

Description

硬盘阵列开关机测试装置及测试方法
技术领域
本发明涉及一种硬盘阵列开关机测试装置及测试方法。
背景技术
硬盘阵列是一种把多块独立的硬盘按不同的方式组合起来形成一个硬盘组的设备。硬盘阵列内可以同时放置12块到24块或者更多数量的硬盘，因此可以将硬盘阵列当成一个容量相当大的硬盘，或者可以对其进行硬盘分区以方便使用。
为了确保硬盘阵列能顺利重新启动并保证可靠的开关机次数，一般需要对硬盘阵列进行开关机测试。现有的硬盘阵列开关机测试装置一般包括一台电源装置及一台电脑。所述电源装置用于为所述硬盘阵列供电以使所述硬盘阵列开机。所述电脑通过RS-232接口连接至所述硬盘阵列，当硬盘阵列开机后，所述电脑通过所述RS-232接口读取硬盘阵列的开机信号并计数。通过对所述电源装置进行参数设定来设定其对硬盘阵列的供电及断电时间。当电源装置对硬盘阵列供电一定时间后，即自动切断对该硬盘阵列的供电以使硬盘阵列关机，接着电源装置对硬盘阵列进行下一次的供电并计数，以此实现对硬盘阵列的开关机控制以及开关机次数的控制。
采用上述方法进行硬盘阵列的开关机测试时，电脑对硬盘阵列开关机状态的测试以及电源装置对硬盘阵列开关机的控制是相互独立进行的，在测试过程中，电脑与电源装置都会计数并显示计数结果，但由于RS-232信号传送到电脑的时间与电源装置本身的时间计算会存在一定的误差，往往容易造成电脑上显示的测试次数与电源装置的测试次数不一致，致使测试人员无法方便获知准确的测试结果。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种具有较高测试可靠度的硬盘阵列开关机测试装置。
另，还必要提供一种上述硬盘阵列开关机测试装置的测试方法。
一种硬盘阵列开关机测试装置，用于对硬盘阵列进行开关机测试，所述硬盘阵列开关机测试装置包括计算机、主机总线适配器、控制芯片、继电器及外部电源，所述计算机包括计数器，当该硬盘阵列完成一次开关机测试则该计数器计数加一，所述主机总线适配器分别连接至所述计算机及硬盘阵列，所述控制芯片电性连接至所述计算机，所述继电器分别电性连接至所述控制芯片、外部电源及硬盘阵列，所述计算机通过驱动控制芯片来使继电器闭合与断开，实现该外部电源对该硬盘阵列的供电与断电以对应控制该硬盘阵列的开机与关机；所述主机总线适配器侦测该硬盘阵列的开、关机状态并返回给所述计算机。
一种如上述的硬盘阵列开关机测试装置的硬盘阵列开关机测试方法，该方法包括如下步骤：
设定计数器的计数次数；
计算机通过驱动控制芯片使继电器闭合，外部电源通过继电器为硬盘阵列供电以使硬盘阵列开机；
计算机通过控制芯片使继电器断开，切断外部电源对该硬盘阵列的供电以使硬盘阵列关机；
计数器计数加一，计算机判断是否到达计数器的预定计数次数；
若未到达计数器的计数次数，则反复执行上述步骤，直至到达计数器的计数次数。
所述的硬盘阵列开关机测试装置及其测试方法通过所述计算机来驱动所述控制芯片控制继电器的断开与闭合，实现对硬盘阵列的开机与关机的控制，并仅由所述计算机的计数器进行开关机次数的计数，实现了仅由计算机来完成对硬盘阵列开关机的控制与测试，能确保得到较高的测试准确度。
附图说明
图1为本发明较佳实施方式硬盘阵列开关机测试装置的功能模块图。
图2及图3为本发明较佳实施方式的硬盘阵列开关机测试方法的测试流程图。
主要元件符号说明
硬盘阵列开关机测试装置 10
计算机 11
计数器 111
控制模块 113
开机计时器 115
关机计时器 117
主机总线适配器 13
控制芯片 15
继电器 17
外部电源 19
硬盘阵列 20
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1，本发明较佳实施方式的硬盘阵列开关机测试装置10用于对硬盘阵列20进行开关机测试。所述硬盘阵列开关机测试装置10包括计算机11、主机总线适配器（Host Bus Adapter，HBA）13、控制芯片15、继电器17以及外部电源19。所述继电器17分别与所述控制芯片15、外部电源19及待测的硬盘阵列20电性连接。所述计算机11通过驱动控制芯片15来使继电器17闭合，从而实现该外部电源19对该待测的硬盘阵列20供电。所述计算机11通过主机总线适配器13来侦测待测的所述硬盘阵列20的开关机状态。当该硬盘阵列20开机后，则计算机11通过驱动控制芯片15来控制继电器17断开，以切断该外部电源19对该硬盘阵列20的供电，使该硬盘阵列20关机。
所述计算机11内设置有计数器111、控制模块113、开机计时器115及关机计时器117。所述计数器111用于对该硬盘阵列20的开关机次数进行计时，即，当该硬盘阵列20完成一次开关机测试，则计数器加一；当到达预设的计数次数后，则对该硬盘阵列20的开关机测试结束。所述控制模块113用于根据所述主机总线适配器13的侦测结果发送相应的控制信号给所述控制芯片15。所述控制模块113还用于判断该计数器111是否到达预设的计数次数，若该计数器111到达了预设的计数次数，则该控制模块113停止发送控制信号给所述控制芯片15。所述开机计时器115及关机计时器117分别用于设定该硬盘阵列20的开、关机时间。
在本较佳实施方式中，所述控制模块113通过RS-232电缆连接至所述控制芯片15。所述主机总线适配器13插设于计算机11的主机板上，并可与计算机11进行通信。所述主机总线适配器13通过HBA电缆连接至待测的硬盘阵列20。
在测试开始时，所述控制模块113首先发送开机信号给所述控制芯片15，控制芯片15随即控制所述继电器17闭合，所述外部电源19通过继电器17提供开机电源电压至所述硬盘阵列20使该硬盘阵列20开机，此时开机计时器115开始计时。当所述硬盘阵列20开机后，所述主机总线适配器13即可侦测到该硬盘阵列20的开机状态以及该硬盘阵列20内的所有硬盘的信息等。若所述主机总线适配器13侦测到该硬盘阵列20开机，则将侦测到的硬盘阵列20的开机状态传送给所述控制模块113，并将侦测到的硬盘阵列20的信息通过计算机11的显示器显示出来。
控制模块113首先判断在开机计时器115预设的开机时间内是否从主机总线适配器13接收到所述硬盘阵列20的开机状态。若在开机计时器115预设的开机时间内没有接收到硬盘阵列20的开机状态信息，则说明开机测试失败，控制模块113将开机失败信息通过计算机11的显示器显示出来，测试结束。若在开机计时器115预设的开机时间内接收到该硬盘阵列20的开机状态，所述控制模块113随即发送关机信号给所述控制芯片15，控制芯片15即控制所述继电器17断开，以切断该外部电源19对该硬盘阵列20的供电，使得所述硬盘阵列20断电关机完成一次开关机测试。此时所述关机计时器117开始计时。若所述主机总线适配器13侦测到该硬盘阵列20关机后，则将关机状态返回给计数器111及控制模块113，此时所述计数器111的计数加一。
控制模块113首先判断在关机计时器117预设的关机时间内是否从主机总线适配器13接收到所述硬盘阵列20的关机状态。若在关机计时器117预设的开机时间内没有接收到硬盘阵列20的关机状态信息，则说明关机测试失败，控制模块113将关机失败信息通过计算机11的显示器显示出来，测试结束。若接收到该硬盘阵列20的关机状态，控制模块113还需判断是否到达计数器111预设的计数次数，若未到达预设的计数次数，则控制模块113再次发送开机信号给控制芯片15，以对该硬盘阵列20重复进行开关机操作。
请一并参阅图2及图3，采用所述硬盘阵列开关机测试装置10对硬盘阵列20进行开关机测试的方法包括如下步骤：
步骤S1：在计算机11上设定计数器111的计数次数、开机计时器115的计时时间以及关机计时器117的计时时间。即设定对该硬盘阵列20的开关机次数以及开、关机时间。
步骤S2：控制模块113通过控制芯片15使继电器17闭合，外部电源19通过继电器17为硬盘阵列20供电，开机计时器115开始计时。控制模块113发送开机信号给控制芯片15，控制芯片15根据接收到的开机信号控制所述继电器17闭合。
步骤S3：控制模块113判断是否从主机总线适配器13接收到所述硬盘阵列20的开机状态。若是，则执行步骤S5；若否，则执行步骤S4。
步骤S4：控制模块113判断是否到达开机计时器115的计时时间。若是，则说明测试失败，流程结束；若否，则返回步骤S3。
步骤S5：控制模块113通过控制芯片15使继电器17断开，切断外部电源对该硬盘阵列20的供电，关机计时器117开始计时。控制模块113发送关机信号给控制芯片15，控制芯片15根据接收到的关机信号控制所述继电器17断开。
步骤S6：控制模块113判断是否从主机总线适配器13接收到所述硬盘阵列20的关机状态。若是，则执行步骤S8；若否，则执行步骤S7。
步骤S7：控制模块113判断是否到达关机计时器117的计时时间。若是，则说明测试失败，流程结束；若否，则返回步骤S6。
步骤S8：计数器111计数加一。
步骤S9：控制模块113判断是否到达计数器111的预定计数次数。若是，则流程结束；若否，则返回步骤S2。
所述的硬盘阵列开关机测试装置10及其测试方法通过所述计算机11的控制模块113来驱动所述控制芯片15控制继电器17的断开与闭合，实现对硬盘阵列20的开机与关机的控制，并仅由所述计算机11进行开关机次数的计数，实现了仅由计算机来完成对硬盘阵列开关机的控制与测试，能确保得到较高的测试准确度。

Claims (8)

1.一种硬盘阵列开关机测试装置，用于对硬盘阵列进行开关机测试，所述硬盘阵列开关机测试装置包括计算机，所述计算机包括计数器，当该硬盘阵列完成一次开关机测试则该计数器计数加一，其特征在于：所述硬盘阵列开关机测试装置还包括主机总线适配器、控制芯片、继电器及外部电源，所述主机总线适配器分别连接至所述计算机及硬盘阵列，所述控制芯片电性连接至所述计算机，所述继电器分别电性连接至所述控制芯片、外部电源及硬盘阵列，所述计算机通过驱动控制芯片来使继电器闭合与断开，实现该外部电源对该硬盘阵列的供电与断电以对应控制该硬盘阵列的开机与关机；所述主机总线适配器侦测该硬盘阵列的开、关机状态并返回给所述计算机。
2.如权利要求1所述的硬盘阵列开关机测试装置，其特征在于：所述计算机还包括控制模块，控制模块首先发送开机信号开机信号给所述控制芯片以控制继电器闭合；当该主机总线适配器侦测到该硬盘阵列开机后，该控制模块则发送关机信号给所述控制芯片以控制继电器断开；当该主机总线适配器侦测到该硬盘阵列关机并且该计数器未到达预设计数次数时，该控制模块发送开机信号给所述控制芯片以控制继电器闭合。
3.如权利要求2所述的硬盘阵列开关机测试装置，其特征在于：所述计算机还包括开机计时器，所述控制模块发送开机信号给所述控制芯片后，控制模块判断在开机计时器预设的开机时间内是否从主机总线适配器接收到硬盘阵列的开机状态。
4.如权利要求3所述的硬盘阵列开关机测试装置，其特征在于：所述计算机还包括关机计时器，当所述控制模块发送关机信号给所述控制芯片后，控制模块判断在关机计时器预设的关机时间内是否从主机总线适配器接收到硬盘阵列的关机状态，并且在计数器未到达预设计数次数时，控制模块再次发送开机信号给控制芯片以对该硬盘阵列重复进行开关机操作。
5.如权利要求1至4任一项所述的硬盘阵列开关机测试装置，其特征在于：所述计算机通过RS-232电缆与所述控制芯片相连。
6.一种如权利要求1所述的硬盘阵列开关机测试装置的硬盘阵列开关机测试方法，该方法包括如下步骤：
设定计数器的计数次数；
计算机通过驱动控制芯片使继电器闭合，外部电源通过继电器为硬盘阵列供电以使硬盘阵列开机；
计算机通过控制芯片使继电器断开，切断外部电源对该硬盘阵列的供电以使硬盘阵列关机；
计数器计数加一，计算机判断是否到达计数器的预定计数次数；
若未到达计数器的计数次数，则反复执行上述步骤，直至到达计数器的计数次数。
7.如权利要求6所述的硬盘阵列开关机测试方法，其特征在于：提供一开机计时器及控制模块，该开机计时器及控制模块设置于计算机内，当控制模块通过控制芯片使继电器闭合时，开机计时器开始计时；若控制模块在开机计时器的计时时间内从主机总线适配器接收到硬盘阵列的开机状态，控制模块再通过控制芯片使继电器断开。
8.如权利要求7所述的硬盘阵列开关机测试方法，其特征在于：提供一关机计时器，该关机计时器设置于计算机内，当控制模块通过控制芯片使继电器断开时，关机计时器开始计时；当控制模块在关机计时器的计时时间内从主机总线适配器接收到硬盘阵列的关机状态并且计数器未到达预设计数次数，控制模块再次发送开机信号给控制芯片以对该硬盘阵列重复进行开关机操作。
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