CN104216808A - 电源芯片检测装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种电源芯片检测装置及方法。所述电源芯片检测装置包括一电源芯片、一电源时序控制模块、一基板管理控制器、一信号检测模块及一GPIO模块，电源时序控制模块用于在服务器开机后发送一初始电源使能信号给电源芯片，电源芯片用于反馈一初始powergood信号给电源时序控制模块，信号检测模块用于在判断初始电源使能信号及初始powergood信号发出的时间差小于一预设值后发送一时间差检测异常结果给GPIO模块，GPIO模块用于将检测结果发送给基板管理控制器。所述电源芯片检测装置及方法能准确地检测所述电源芯片的状态。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测装置及方法，特别是指一种检测电源芯片的装置及方法。
背景技术
服务器的稳定度是衡量服务器好坏的一个重要考虑因素，所以服务器对上电的时序有着严格的控制，因为只要一旦出现时序异常将极大的影响服务器的稳定度。传统服务器对上电时序的控制只是检测到相应的电源使能信号后才会去检测电源芯片反馈的power good信号。电源芯片反馈的power good信号出现问题时，不但可能造成时序紊乱，电源芯片出现问题也无法检测出来。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种准确检测电源芯片的装置及方法。
一种电源芯片检测装置，应用于一服务器中，包括一电源芯片、一电源时序控制模块、一基板管理控制器，所述电源芯片检测装置还包括一信号检测模块及一GPIO模块，所述电源时序控制模块用于在所述服务器开机后发送一初始电源使能信号给所述电源芯片，所述电源芯片用于在接收到所述初始电源使能信号后反馈一初始power good信号给所述电源时序控制模块，所述信号检测模块用于在判断所述初始电源使能信号及所述初始power good信号发出的时间差小于一预设值后发送一时间差检测异常结果给所述GPIO模块，所述GPIO模块用于将所述时间差检测异常结果发送给所述基板管理控制器。
一实施例中，所述电源芯片检测装置还包括一延时模块及一与门模块，所述电源时序控制模块还用于在发送所述初始电源使能信号给所述电源芯片的同时发送所述初始电源使能信号给所述延时模块，所述延时模块用于将所述初始电源使能信号延时处理后发送延时后的电源使能信号给所述与门模块，所述电源芯片用于先发送所述初始power good信号给所述与门模块，所述与门模块用于在所述初始power good信号及所述延时后的的电源使能信号均为高电平时发送一调整后的power good信号给所述电源时序控制模块。
一实施例中，所述电源芯片检测装置还包括一电平检测模块，所述电平检测模块用于在判断所述初始电源使能信号及所述初始power good信号的电平异常时发送一电平检测异常结果给所述GPIO模块，所述GPIO模块用于将所述电平检测异常结果发送给所述基板管理控制器。
一实施例中，所述电源时序控制模块、所述信号检测模块及所述GPIO模块均包含于一可编程逻辑器件中。
一种电源芯片检测方法，应用于一服务器的电源芯片检测装置中，所述检测装置包括一电源芯片、一电源时序控制模块、一信号检测模块及一GPIO模块及一基板管理控制器，所述检测方法包括：
所述电源时序控制模块在所述服务器开机后发送一初始电源使能信号给所述电源芯片；
所述电源芯片在接收到所述初始电源使能信号后反馈一初始power good信号给所述电源时序控制模块；
所述信号检测模块在判断所述初始电源使能信号及所述初始power good信号发出的时间差小于一预设值后发送一时间差检测异常结果给所述GPIO模块；
所述GPIO模块将所述时间差检测异常结果发送给所述基板管理控制器。
一实施例中，所述电源芯片检测装置还包括一延时模块及一与门模块，所述电源时序控制模块在发送所述初始电源使能信号给所述电源芯片的同时发送所述初始电源使能信号给一延时模块，所述延时模块将所述初始电源使能信号延时处理后发送延时后的电源使能信号给一与门模块，所述电源芯片先发送所述初始power good信号给所述与门模块，所述与门模块在所述初始power good信号及所述延时后的的电源使能信号均为高电平时发送一调整后的power good信号给所述电源时序控制模块。
一实施例中，所述初始电源使能信号及所述初始power good信号发送给一电平检测模块，所述电平检测模块在判断所述初始电源使能信号及所述初始power good信号的电平异常时发送一电平检测异常结果给所述GPIO模块，所述GPIO模块将所述电平检测异常结果发送给所述基板管理控制器。
一实施例中，所述电源时序控制模块、所述信号检测模块及所述GPIO模块均包含于一可编程逻辑器件中。
与现有技术相比，所述电源芯片检测装置及方法通过比较初始电源使能信号及所述初始power good信号发出的时间差来确定所述power good信号是否正常。所述电源芯片检测装置及方法能准确地检测所述电源芯片的状态。
附图说明
图1是本发明一实施方式中一电源芯片检测装置的功能模块图。
图2是本发明一实施方式中一电源芯片检测方法的流程图。
主要元件符号说明
| 电源芯片 | 10 |
| 可编程逻辑器件 | 30 |
| 电源时序控制模块 | 31 |
| 与门模块 | 32 |
| 延时模块 | 33 |
| 电平检测模块 | 34 |
| 信号检测模块 | 35 |
| GPIO模块 | 36 |
| 基板管理控制器 | 50 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1，一电源芯片检测装置包括一电源芯片10、一可编程逻辑器件30及一基板管理控制器（BMC）50。在本实施例中，所述可编程逻辑器件30为一复杂可编程逻辑器件（Complex Programmable Logic Device）。
所述电源芯片10用于给服务器的其它装置进行供电，例如CPU，硬盘，光驱等。
所述可编程逻辑器件30包括一电源时序控制模块31、一与门模块32、一延时模块33、一电平检测模块34、一信号检测模块35及一GPIO模块36。
所述电源时序控制模块31用于在服务器开机后发送一初始电源使能信号给所述电源芯片10及所述延时模块33，所述电源芯片10用于在接受到所述初始电源使能信号后发送一初始power good信号给所述与门模块32，所述初始电源使能信号经所述延时模块33延时处理后发送给所述与门模块32，所述与门模块32在所述初始电源使能信号及所述初始power good信号均为高电平时发送一调整后的power good信号给所述电源时序控制模块31，从而确保初始电源使能信号与调整后的power good信号的时序性。所述电源时序控制模块31在接收到调整后的power good信号对下一个电源芯片（图未示）发送初始电源使能信号。
所述电平检测模块34用于检测所述初始power good信号及所述初始电源使能信号的电平是否为高电平以确定所述初始power good信号及所述初始电源使能信号是否正常，若异常，所述电平检测模块34发送电平检测异常结果经所述GPIO模块36发送所述基板管理控制器50。所述基板管理控制器50用于将所述电平检测异常结果发送给一显示器（图未示）进行显示。
所述信号检测模块35用于检测所述初始电源使能信号与所述power good信号发出的时间差是否小于一预设值，如果是，则判断所述power good信号为异常，从而可以确定所述电源芯片10有问题，所述信号检测模块35在检测到时间差异常后将一时间差检测异常结果经所述GPIO模块36发送给所述基板管理控制器50。所述基板管理控制器50用于将所述时间差检测结果发送给一显示器进行显示。
请参阅图2，一种电源芯片检测方法包括以下步骤：
S201，服务器开机后所述电源时序控制模块31发送一初始电源使能信号给所述电源芯片10；
S202，所述电源芯片10在接收到所述初始电源使能信号后反馈一初始power good信号给所述电源时序控制模块31；
S203，所述电平检测模块34判断所述初始电源使能信号及所述初始power good信号的电平是否常，若所述初始电源使能信号及所述初始power good信号其中之一异常，发送一电平检测异常结果给所述GPIO模块36；
S204，所述信号检测模块34判断所述初始电源使能信号及所述初始power good信号的发出的时间差是否小于一预设值，如果是，则判断所述power good信号为异常，并发送时间差检测异常结果给所述GPIO模块36；
S205，所述GPIO模块36发送所述检测结果给所述基板管理控制器50，以便所述基板管理控制器50将所述结果发送给一显示器进行显示。
在上述方法中，为了确保所述初始电源使能信号与所述电源时序控制模块31接收到的power good信号的时序性，所述初始电源使能信号先发送给所述与门模块32，所述初始电源使能信号还发送给所述延时模块33进行延时处理然后发送给所述与门模块32，所述与门模块32在所述延时后的电源使能信号与所述初始power good信号均为高电平时发送调整后的power good信号给所述电源时序控制模块31。
对本领域的技术人员来说，可以根据本发明的发明方案和发明构思结合生产的实际需要做出其他相应的改变或调整，而这些改变和调整都应属于本发明所公开的范围。
Claims (8)
1.一种电源芯片检测装置，应用于一服务器中，包括一电源芯片、一电源时序控制模块、一基板管理控制器，其特征在于：所述电源芯片检测装置还包括一信号检测模块及一GPIO模块，所述电源时序控制模块用于在所述服务器开机后发送一初始电源使能信号给所述电源芯片，所述电源芯片用于在接收到所述初始电源使能信号后反馈一初始power good信号给所述电源时序控制模块，所述信号检测模块用于在判断所述初始电源使能信号及所述初始power good信号发出的时间差小于一预设值后发送一时间差检测异常结果给所述GPIO模块，所述GPIO模块用于将所述时间差检测异常结果发送给所述基板管理控制器。
2.如权利要求1所述的电源芯片检测装置，其特征在于：所述电源芯片检测装置还包括一延时模块及一与门模块，所述电源时序控制模块还用于在发送所述初始电源使能信号给所述电源芯片的同时发送所述初始电源使能信号给所述延时模块，所述延时模块用于将所述初始电源使能信号延时处理后发送延时后的电源使能信号给所述与门模块，所述电源芯片用于先发送所述初始power good信号给所述与门模块，所述与门模块用于在所述初始power good信号及所述延时后的的电源使能信号均为高电平时发送一调整后的power good信号给所述电源时序控制模块。
3.如权利要求1所述的电源芯片检测装置，其特征在于：所述电源芯片检测装置还包括一电平检测模块，所述电平检测模块用于在判断所述初始电源使能信号及所述初始power good信号的电平异常时发送一电平检测异常结果给所述GPIO模块，所述GPIO模块用于将所述电平检测异常结果发送给所述基板管理控制器。
4.如权利要求1所述的电源芯片检测装置，其特征在于：所述电源时序控制模块、所述信号检测模块及所述GPIO模块均包含于一可编程逻辑器件中。
5.一种电源芯片检测方法，应用于一服务器的电源芯片检测装置中，所述检测装置包括一电源芯片、一电源时序控制模块、一信号检测模块及一GPIO模块及一基板管理控制器，其特征在于：所述检测方法包括：
所述电源时序控制模块在所述服务器开机后发送一初始电源使能信号给所述电源芯片；
所述电源芯片在接收到所述初始电源使能信号后反馈一初始power good信号给所述电源时序控制模块；
所述信号检测模块在判断所述初始电源使能信号及所述初始power good信号发出的时间差小于一预设值后发送一时间差检测异常结果给所述GPIO模块；
所述GPIO模块将所述时间差检测异常结果发送给所述基板管理控制器。
6.如权利要求5所述的电源芯片检测方法，其特征在于：所述电源芯片检测装置还包括一延时模块及一与门模块，所述电源时序控制模块在发送所述初始电源使能信号给所述电源芯片的同时发送所述初始电源使能信号给一延时模块，所述延时模块将所述初始电源使能信号延时处理后发送延时后的电源使能信号给一与门模块，所述电源芯片先发送所述初始power good信号给所述与门模块，所述与门模块在所述初始power good信号及所述延时后的的电源使能信号均为高电平时发送一调整后的power good信号给所述电源时序控制模块。
7.如权利要求5所述的电源芯片检测方法，其特征在于：所述初始电源使能信号及所述初始power good信号发送给一电平检测模块，所述电平检测模块在判断所述初始电源使能信号及所述初始power good信号的电平异常时发送一电平检测异常结果给所述GPIO模块，所述GPIO模块将所述电平检测异常结果发送给所述基板管理控制器。
8.如权利要求5所述的电源芯片检测方法，其特征在于：所述电源时序控制模块、所述信号检测模块及所述GPIO模块均包含于一可编程逻辑器件中。
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