DE10130942A1 - Magnetplatte, die einen ersten Kohlenstoffüberzug mit hohem SP3-Gehalt und einen zweiten Kohlenstoffüberzug mit niedrigem SP3-Gehalt aufweist - Google Patents

Magnetplatte, die einen ersten Kohlenstoffüberzug mit hohem SP3-Gehalt und einen zweiten Kohlenstoffüberzug mit niedrigem SP3-Gehalt aufweist

Info

Publication number
DE10130942A1
DE10130942A1 DE10130942A DE10130942A DE10130942A1 DE 10130942 A1 DE10130942 A1 DE 10130942A1 DE 10130942 A DE10130942 A DE 10130942A DE 10130942 A DE10130942 A DE 10130942A DE 10130942 A1 DE10130942 A1 DE 10130942A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
carbon
carbon layer
layer
magnetic disk
protective coating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE10130942A
Other languages
English (en)
Inventor
Eric Woo Hock Yong
Tsutomu Tom Yamashita
Ching Jackie Tsoi
Wen Liu
Shigeto Hashimoto
Bruce Lairson
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
WD Media LLC
Original Assignee
Komag Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Komag Inc filed Critical Komag Inc
Publication of DE10130942A1 publication Critical patent/DE10130942A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/84Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
    • G11B5/851Coating a support with a magnetic layer by sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/0605Carbon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
    • C23C16/26Deposition of carbon only
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/84Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
    • G11B5/8408Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers protecting the magnetic layer
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/84Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
    • G11B5/85Coating a support with a magnetic layer by vapour deposition
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24942Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including components having same physical characteristic in differing degree
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24942Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including components having same physical characteristic in differing degree
    • Y10T428/2495Thickness [relative or absolute]
    • Y10T428/24967Absolute thicknesses specified
    • Y10T428/24975No layer or component greater than 5 mils thick
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/30Self-sustaining carbon mass or layer with impregnant or other layer

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

Ein Verfahren zum Herstellen einer Magnetplatte, das das Bilden von ersten und zweiten Kohlenstoff-Schutzschichten auf einer Magnetschicht umfaßt. Die erste Kohlenstoff-Schutzschicht ist überwiegend SP3-Kohlenstoff. Die zweite Kohlenstoff-Schutzschicht umfaßt etwa 50% oder weniger SP3-Kohlenstoff. Die zweite Kohlenstoff-Schutzschicht ist sehr dünn, z. B. zwischen 0,1 und 1,0 nm Dicke. Eine Gleitmittelschicht (z. B. eine Perfluorpolyether-Gleitmittelschicht) wird auf die zweite Kohlenstoff-Schutzschicht aufgebracht. Die zweite Kohlenstoff-Schutzschicht erleichtert ein verbessertes Zusammenwirken zwischen Gleitmittel und der Platte.

Description

Die Erfindung betrifft Verfahren zur Herstellung von Magnetplatten, die Kohlenstoff- Schutzüberzüge umfassen, und die resultierenden Magnetplatten.
Fig. 1 veranschaulicht im Querschnitt eine Magnetplatte 10 in einem Plattenlaufwerk 12. Die Magnetplatte 10 umfaßt ein Substrat 14 (z. B. Glas, Glaskeramik oder NiP- platiertes Aluminium), eine Unterschicht 16 (z. B. Cr, eine Cr-Legierung, NiP, NiPAl oder ein anderes geeignetes Material), eine Magnetschicht 18 (z. B. eine Co-Legierung) und einen Schutzüberzug 20 (z. B. Wasserstoff-dotierter Kohlenstoff, Stickstoff-dotierter Kohlenstoff oder Kohlenstoff, der sowohl mit Wasserstoff als auch mit Stickstoff dotiert ist). Eine Gleitmittelschicht 22 (z. B. Perfluorpolyether) ist auf den Schutzüberzug 20 aufgebracht.
Die Magnetplatte 10 ist auf einer Spindel angeordnet, die durch einen Motor 24 gedreht wird. Ein Lese-Schreibkopf 26, der an einer Aufhängung 28 angeordnet ist, "fliegt" über der sich drehenden Platte. Der Kopf 26 umfaßt einen Schieber, der einen harten Al2O3-TiC-Körper 30 mit einem Lese-Schreibelement 32, das an der Hinterkante desselben gebildet ist, einschließt. Ein Kohlenstoffüberzug 34 ist auf der Bodenfläche (der luftseitigen Fläche) des Kopfes 26 für tribologische Zwecke gebildet.
Die Magnetschicht 18 erfüllt die Funktion der Datenspeicherung. Der Überzug 20 erfüllt mehrere Funktionen:
  • a) Er verhindert die Korrosion der Magnetschicht 18.
  • b) Er ist hart und verhindert eine mechanische Schädigung der Magnetschicht 18.
  • c) Er zeigt eine geringe statische und dynamische Reibung.
  • d) Er hält die Gleitmittelschicht 22 auf der Platte 10.
  • e) Er verhindert einen Verschleiß der Platte 10.
Die Industrie hat viel Zeit und Anstrengung dem Versuch gewidmet, geeignete Kohlenstoff-Filme zu bilden, die auf Magnetplatten als Schutzschichten abgeschieden werden sollen. Beispielsweise diskutiert F. K. King, "Datapoint Thin Film Media", IEEE Trans. Magn., Juli 1982, das Sputtern von Kohlenstoff auf eine Magnetplatte. Das US-Patent 5,045,165, erteilt für Yamashita, diskutiert das Sputtern eines Wasserstoff-dotierten Kohlenstoff-Films auf eine Magnetplatte, um Verschleiß und Korrosion zu verhindern. Yamashita lehrt, daß der Wasserstoff die Verschleißbeständigkeit des Kohlenstoffs erhöht. Die europäische Patentanmeldung EP 0 547 820 diskutiert das Sputtern eines Stickstoff-dotierten Kohlenstoff-Films auf eine Magnetplatte. Die '820-Anmeldung gibt an, daß der Stickstoff die Spannung im Kohlenstoff verringert und die Wahrscheinlichkeit verringert, daß der Kohlenstoff sich von der Platte ablöst. Das US-Patent 5,837,357 diskutiert eine Magnetplatte, die einen Wasserstoff-dotierten Kohlenstoff-Film, der durch einen Stickstoff-dotierten Kohlenstoff-Film abgedeckt ist, umfaßt. Das US-Patent 5,232,570 diskutiert auch das Sputtern von Kohlenstoff auf die Magnetplatte in Gegenwart von Stickstoff. Andere Druckschriften, die auf Kohlenstoffüberzüge für Magnetplatten gerichtet sind, umfassen das US-Patent 5,855,746 und die PCT-Patentanmeldung WO 99/03099. Diese Liste ist jedoch keinesfalls erschöpfend.
Die Kohlenstoffüberzüge für Magnetplatten werden typischerweise durch Sputtern gebildet. Aufgrund des Weges, auf dem diese gebildet werden, umfassen diese überwiegend SP2-Kohlenstoff. Die Industrie hat solche Kohlenstoff-Filme für viele Jahre verwendet und besitzt eine beträchtliche Erfahrung mit diesen Filmen. Somit sind verschiedenartige Typen von Gleitmitteln entwickelt worden, welche auf Filme mit überwiegend SP2-Kohlenstoff aufgebracht werden können, damit diese Filme eine niedrige Reibung und Haftreibung zeigen. (Wie hier verwendet, bedeutet der Begriff "überwiegend SP2-Kohlenstoff", daß von den Kohlenstoffbindungen in dem Film die meisten dieser Bindungen SP2 sind, denn irgendeine andere Art von Bindung. Ebenso bedeutet "überwiegend SP3-Kohlenstoff", daß von den Kohlenstoffbindungen in dem Film mehr SP3 sind, denn irgendein anderer Bindungstyp).
Kürzlich hat Komag (der Zessionar der vorliegenden Erfindung) einen neuen Typ von Kohlenstoffüberzug entwickelt, der mehr als 70% SP3-Kohlenstoff umfaßt. Diese Art von Kohlenstoffüberzug wird von Wen Hong Liu et al. in der US-Patentanmeldung 09/298,107, eingereicht am 22. April 1999, beschrieben, die hiermit durch Bezugnahme aufgenommen ist. Der '107-Kohlenstoff wird abgeschieden, indem man eine neuartige Spannungswellenform auf Kohlenstoff Sputtertargets anwendet. Man hat entdeckt, daß dieser Kohlenstoffüberzug äußerst hart und kratzbeständig ist.
Es gibt andere Typen von Kohlenstoffüberzügen, die hohe SP3-Gehalte aufweisen. Insbesondere kann man einen Kohlenstoff-Film unter Verwendung von chemischer Dampfabscheidung, Ionenstrahlabscheidung, Kathodenbogenabscheidung bilden. Weiler et al., "Deposition of Tetrahedral Hydrogenated Amorphous Carbon Using a Novel Electron Cyclotron Wave Resonance Reactor", Applied Physics Letters, Bd. 72, Nr. 11, 16. März 1998, diskutiert die Ionenstrahlabscheidung von Kohlenstoff. Kang, et al., "Evaluation of the Ion Bombardment Energy for Growing Diamondlike Carbon in an Electron Cyclotron Resonance Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition", J. Vac. Sci. Technol. A. 16(4), Juli/August 1998, diskutiert die Verwendung von chemischer Dampfabscheidung, um einen Kohlenstoff-Film zu bilden. J. Robertson, "Ultrathin Carbon Overcoats for Magnetic Storage Technology", TRIB-Bd. 9, Proceedings of the Symposium on Interface Technology Towards 100 GBit/in2, ASME 1999, diskutiert die Kathodenbogenabscheidung. Andere Druckschriften umfassen das US-Patent 5,476,691, Brown, "Vacuum Arc Ion Sources", Rev. Sci. Instrum. 65(10), Oktober 1994, Sanders, et al., "Coating Technology Based on the Vacuum Arc - a Review", IEEE Transactions on Plasma Science, Bd. 18, Nr. 6, 1990; und Anders et al., Mechanical Properties of Amorphous Hard Carbon Films Prepared by Cathodic Arc Deposition", Mat. Res. Soc. Symp. Proc. Bd. 383, 1995. Die japanische Offenlegungsschrift 62-183022 diskutiert das Verwenden eines Plasma-CVD- Verfahrens, um einen Kohlenstoff-Film auf einer Magnetplatte herzustellen. Die Weiler-, Kang-, Robertson-, die '691-Patent-, Brown-, Sanders-, Anders- und die 62- 183022-Druckschriften sind hiermit durch Bezugnahme aufgenommen.
Der SP3-Kohlenstoff hat eine Atomstruktur, die sich von der des SP2-Kohlenstoffs unterscheidet. Folglich kann das Verhalten von SP2-Kohlenstoff sehr verschieden von dem des SP3-Kohlenstoff sein - manchmal in einem nicht vorhersagbaren großen Ausmaß.
Wie zuvor erwähnt, enthält das Magnetplatten-Laufwerk 12 eine Magnetplatte 10 mit einem Kohlenstoff-Schutzüberzug 22 und Gleitmittel 24, die auf die Platte aufgebracht sind. Das Plattensubstrat 14 ist texturiert, um die Reibung und Haftreibung zwischen Platte 12 und dem Lese-Schreibkopf 26 zu minimieren. Die Platte/Lese-Schreibkopf- Grenzfläche stellt ein fein geregeltes tribologisches System dar, das ausgelegt ist, um statische und dynamische Reibung sowie Verschleiß zu minimieren. Die Texturierung der Scheibe, die Zusammensetzung, die Abscheidungsbedingungen und die Struktur der Kohlenstoff-Schutzüberzüge 22 und 34, die weiteren Elemente, die zu den Kohlenstoff- Schutzüberzügen zugegeben werden, die Arten von Gleitmitteln, die Additive in den Gleitmitteln, das Gleitmittel-Aufbringungsverfahren und verwandte Parameter werden basierend auf einer ausgedehnten Forschung bestimmt, um sicherzustellen, daß das Plattenlaufwerk eine große Anzahl von An/Aus(Kontakt-Start-Stop, oder "CSS" (contact-start-stop))-Zyklen überlebt. Das Ändern von einem Element in diesem tribologischen System kann das Verhalten des gesamten Systems verändern. Wenn man beispielsweise einen herkömmlichen Typ von überwiegend SP2-Kohlenstoff mit einem anderen Typ von Kohlenstoff, z. B. einem überwiegend SP3-Kohlenstoff, ersetzen würde, kann dies das Verhalten des tribologischen Systems vollständig ändern.
Lediglich als Beispiel erwähnt, man hat entdeckt, daß, wenn man versucht, den '107- Typ Kohlenstoff und ein Perfluorpolyether-Gleitmittel, wie beispielsweise Z-dol (hergestellt von Montedison Co. aus Italien), das mit einem X1P-Additiv gemischt ist, die erhaltenen Platten aus nicht gut verstandenen Gründen dazu neigen, in Gleittesten nicht zu bestehen. Dies ist besonders interessant und unerwartet, da die Gleitmitteldicke nur etwa 3 nm beträgt, wohingegen der Gleittest bei einer Gleithöhe von etwa 1 Mikrozoll oder etwa 25 nm durchgeführt wird. Es ist somit höchst unerwartet, daß das Gleitmittel mit dem Kohlenstoff-Film auf eine solche Weise interagieren könnte, die einen Fehler in einem Gleittest verursacht, bei dem die Gleithöhe das Achtfache der Gleitmitteldicke beträgt.
Von bestimmten Formen von hohem SP3-Kohlenstoff, der mittels chemischer Dampfabscheidung gebildet wird, hat man gefunden, daß er andere Probleme zeigt, d. h. eine Empfindlichkeit gegenüber bestimmten Arten von Verschmutzungen.
Ein Verfahren in Übereinstimmung mit der Erfindung umfaßt ein Abscheiden von ersten und zweiten Kohlenstoffschichten auf einer Magnetplatte und nachfolgendem Aufbringen eines Gleitmittels auf die Magnetplatte. Bei einer Ausführungsform ist die erste Kohlenstoffschicht vorwiegend SP3-Kohlenstoff. Die erste Schicht kann 70% oder mehr SP3-Bindung enthalten. Die zweite Schicht umfaßt weniger als oder gleich 50% SP3-Bindung. Die zweite Schicht kann äußerst dünn sein, z. B. eine Flash-Schicht mit einer Dicke zwischen 0,1 und 1 nm. Das Gleitmittel kann ein Perfluorpolyether- Gleitmittel sein.
Von Bedeutung ist, daß die Schutzschicht mit hohem SP3-Gehalt äußerst hart ist und verschleiß- sowie kratzbeständig ist. Weil die zweite Schutzschicht so dünn ist, trägt diese nicht wesentlich zu der Trennung von dem Magnetfilm in der Platte und dem Lese-Schreibkopf bei.
Man hat weiter entdeckt, daß, obgleich die zweite Schutzschicht äußerst dünn ist, die Eigenschaften der zweiten Schutzschicht die Art und Weise steuern, in der das Gleitmittel mit der Platte zusammenwirkt. Insbesondere bindet, obgleich die zweite Kohlenstoffschicht nur 0,1 bis 1 nm dick ist, das Gleitmittel mit der und adhäriert an die zweite(n) Kohlenstoffschicht auf die gleiche Weise wie das Gleitmittel mit dem Kohlenstoff auf einer herkömmlichen Magnetplatte zusammenwirken würde. Die zweite Kohlenstoffschicht kann irgendwelche schädlichen Effekte maskieren, die der hohe SP3-Gehalt der ersten Kohlenstoffschicht anderenfalls bei Wechselwirkung der Platte mit dem Gleitmittel haben würde.
Wie zuvor erwähnt, haben die ersten und zweiten Kohlenstoffschichten unterschiedliche Strukturen. Weit die erste Kohlenstoffschicht überwiegend SP3-Bindungen enthält, weist diese eine Dichte auf, die größer als etwa 2,1 g/cc, und typischerweise etwa 2,5 g/cc, ist. Im Unterschied dazu weist die zweite Kohlenstoffschicht eine geringere Dichte, z. B. weniger als etwa 2,1 g/cc, und typischerweise 1,8 g/cc, auf.
Die erste Kohlenstoffschicht weist einen Brechungsindex auf, der größer als 2,0 ist, und typischerweise etwa 2,1. Die zweite Kohlenstoffschicht weist einen geringeren Brechungsindex als die erste Kohlenstoffschicht auf, der weniger als etwa 2,0 und typischerweise etwa 1,8 ist.
Bei einer Ausführungsform hat die erste Kohlenstoffschicht eine geringere Oberflächen­ energie als die zweite Kohlenstoffschicht. (Ein Weg, die Oberflächenenergie zu messen, erfolgt durch den Wasserkontakt-Energietest. Die Differenz bei dem Wasserkontaktwinkel zwischen den ersten und zweiten Kohlenstoffschichten kann größer als 3 Grad sein und bei einer Ausführungsform größer als etwa 5 Grad. Der Unterschied beim Wasserkontaktwinkel beträgt typischerweise weniger als etwa 8 Grad.)
In Übereinstimmung mit einem weiteren Aspekt der Erfindung wird ein neuer Typ von Kohlenstoffüberzug in das Herstellungsverfahren für eine Magnetplatte eingebracht, ohne daß die umfassende Optimierung und das umfassende Reengineering erforderlich ist, das normalerweise erfolgt, wenn man eine Änderung an einem der Elemente des tribologischen Systems der Platte und des Lese-Schreibkopfs durchführt. In Übereinstimmung mit diesem Aspekt der Erfindung umfaßt ein Verfahren zum Herstellen einer Magnetplatte ursprünglich die Schritte:
  • a) Bereitstellen einer Struktur, die ein Substrat mit einer Magnetschicht darauf umfaßt;
  • b) Abscheiden eines ersten Kohlenstoffüberzugs auf der Magnetschicht (z. B. eines überwiegend SP2-Kohlenstoff-Überzugs, der durch Sputtern gebildet wird); und
  • c) Aufbringen einer Gleitmittelschicht auf dem Schutzüberzug.
Ein Verfahren in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung umfaßt das Ersetzen des Schritts des Abscheidens des ersten Kohlenstoffüberzugs durch den Schritt des Bereitstellens eines Kohlenstoffüberzugs mit Eigenschaften, die verschieden sind von denen des ersten Überzugs (z. B. eines Überzugs mit überwiegend SP3-Kohlenstoff), gefolgt von dem Schritt eines Abscheidens einer sehr dünnen Schicht von Kohlenstoff unter Verwendung der gleichen oder im wesentlichen gleichen Abscheidungsbedingungen wie derjenigen, die verwendet wurden, um den ersten Kohlenstoffüberzug zu bilden. Die Prozeßgaszusammensetzung, der Druck und die Fließgeschwindigkeit sind beispielsweise die gleichen oder im wesentlichen die gleichen. Die Substratvorspannung und Temperatur können die gleichen oder im wesentlichen die gleichen sein. Somit wirkt die obere Oberfläche der Magnetscheibe, die die sehr dünne Kohlenstoffschicht umfaßt, mit dem Gleitmittel auf die im wesentlichen gleiche Weise wie die zuvor erwähnte erste Kohlenstoffschicht zusammen. Daher ist es nicht notwendig, ein wesentliches Testen und Engineering durchzuführen, die anderenfalls durchgeführt werden müßte, wenn man einfach den ersten Kohlenstoffüberzug mit einem überwiegend SP3-Kohlenstoff-Überzug ersetzt.
Der überwiegend SP3-Kohlenstoff-Überzug kann unter Verwendung des Verfahrens des '107-Patents gebildet werden oder kann durch CVD oder Kathodenbogenabscheidung abgeschieden werden.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
Fig. 1 veranschaulicht im Querschnitt ein Magnetplatten-Laufwerk, das in Überein­ stimmung mit dem Stand der Technik konstruiert ist.
Fig. 2 veranschaulicht im Querschnitt eine Magnetplatte, die in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung konstruiert ist.
Fig. 3 veranschaulicht eine Spannungs- und Stromwellenform, die verwendet werden, um einen Kohlenstoffilm auf eine Magnetplatte zu sputtern.
Ein Verfahren in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung umfaßt die folgenden Schritte. Zuerst wird ein Substrat 100 (Fig. 2) bereitgestellt. Das Substrat kann Glas, Glaskeramik, NiP-platiertes Aluminium oder ein anderes Substratmaterial sein. Das Substrat 100 wird dann texturiert, z. B. unter Verwendung von mechanischen, Laser- oder chemischen Verfahren. (Solche Verfahren sind im Stand der Technik gut bekannt.)
Eine oder mehrere Unterschichten 102 (z. B. Cr, eine Cr-Legierung, NiP, NiAl oder ein anderes Material) wird, beispielsweise durch Sputtern, auf dem Substrat 100 abgeschieden. Die Unterschicht 102 kann etwa 10 bis 30 nm dick sein.
Eine oder mehrere Magnetlegierungsschichten 104 (z. B. eine Co- oder Fe-Legierung) wird, beispielsweise durch Sputtern, auf der Unterschicht 102 abgeschieden. Die Magnetschicht 104 kann etwa 15 nm dick sein. Bei einer Ausführungsform werden die Unterschicht 102 und die Magnetlegierungsschicht 104 unter Verwendung des Verfahrens und der Materialien, die in der US-Patentanmeldung mit dem Aktenzeichen 08/874,753, nunmehr US-Patent Nr. 6,150,015, beschrieben sind, eingereicht von Bertero et al. am 4. Dezember 1997, und hiermit durch Bezugnahme aufgenommen, gebildet.
Ein erster Überzug 108a mit einem relativ hohen SP3-Gehalt wird auf der Magnet­ legierungsschicht 104 abgeschieden. Der Überzug 108a ist hart und weist beispielsweise etwa 70% oder mehr SP3-Kohlenstoff und typischerweise etwa 80% oder mehr SP3- Kohlenstoff auf, wie beispielsweise durch das Reflexionsenergieverlust-Spektrometer- (REELS, reflection energy loss spectrometer)-Verfahren gemessen. (Das REELS- Verfahren wird von Hsiao-chu Tsai et al. in "Structure and Properties of Sputtered Carbon Overcoats on Rigid Magnetic Media Disks", J. Vac. Sci. Technol. A6(4), Juli/August 1988, hiermit unter Bezugnahme aufgenommen, beschrieben.) Der Überzug 108a minimiert den Verschleiß, die mechanische Beschädigung und die Korrosion der Scheibe. Der Überzug 108a ist typischerweise etwa 2 bis 5 nm dick. Bei einer Ausführungsform wird der Überzug 108a unter Verwendung des Sputterverfahrens, das in der US-Patentanmeldung 09/298,107, nunmehr das US-Patent 6,086,730, eingereicht von Wen Hong Lieu et al. am 22. April 1999, beschrieben ist, gebildet. Bei einer weiteren Ausführungsform kann die Schicht 108a durch chemische Dampfabscheidung (CVD) oder plasmaverstärkte chemische Dampfabscheidung (PECVD) gebildet werden. Während der PECVD wird ein Kohlenwasserstoffgas, wie beispielsweise Ethylen oder Acetylen, in die Bedampfungskammer eingebracht und man läßt es, z. B. durch die Beaufschlagung der Kammer mit elektrischer Energie, zersetzen. Dieses führt zu der Abscheidung von Wasserstoff-dotiertem Kohlenstoff-Film auf der Magnetplatte.
Der Überzug 108a kann durch andere Verfahren gebildet werden, z. B. kathodische Bogenabscheidung oder Ionenstrahlabscheidung (IBD, ion beam deposition), wie beispielsweise wie in den oben aufgenommenen Druckschriften beschrieben.
Ein zweiter Überzug 108b wird auf dem ersten Überzug 108a gebildet und deckt den ersten Überzug 108a kontinuierlich ab, beispielsweise durch Sputtern. Der zweite Überzug 108b ist eine äußerst dünne "Flash"-Schicht, beispielsweise 0,1 bis 1,0 nm dick. (Wie zuvor erwähnt, wirkt diese Flash-Schicht 108b mit einer nachfolgend abgeschiedenen Gleitmittelschicht zusammen. Wie hier verwendet, bedeutet der Begriff "Flash"-Schicht eine Schicht von ausreichender Dicke, um mit der Gleitmittelschicht angemessen zusammenzuwirken, so daß das Gleitmittel ordentlich funktioniert, aber nicht wesentlich dicker als das.) Der Überzug 108b weist einen viel geringeren SP3- Gehalt als der Überzug 108a auf, beispielsweise weniger als oder gleich etwa 50%. Bei einer Ausführungsform liegt der SP3-Gehalt zwischen 40 und 50%. Aufgrund des Unterschieds bei den Strukturen der Überzüge 108a und 108b, haben diese verschiedene Eigenschaften. Bei einer Ausführungsform hat der Kohlenstoff 108a eine Dichte von etwa 2,5 Gramm/cc, wie durch XRR (Röntgenstrahlreflexion) gemessen. Der Kohlenstoff 108b hat eine Dichte von 1,8 Gramm/cc. Der Kohlenstoff 108a weist einen Brechungsindex von 2,1 auf, wie mittels eines Ellipsometers gemessen, wohingegen der Kohlenstoff 108b einen Brechungsindex von 1,9 aufweist.
Bei einer Ausführungsform wird der Kohlenstoff 108b durch Sputtern unter Verwendung eines Prozeßgases, das ein Inertgas, wie beispielsweise Argon, das mit Stickstoff gemischt ist, umfaßt, gebildet. (Wahlweise kann in dem Prozeßgas Wasserstoff enthalten sein.) Der Gasdruck liegt zwischen 2 und 10 mTorr, typischerweise zwischen 4 und 9 mTorr, und bevorzugt zwischen 6 bis 9 mTorr. Die Argon-Flußrate beträgt 50 bis 90 SCCM, und die Stickstoff-Flußrate beträgt 4 bis 10 SCCM. Bei einigen Ausführungsformen wird eine Vorspannung an das Substrat angelegt, aber bei anderen Ausführungsformen wird eine Vorspannung nicht an das Substrat angelegt. Die Leistungsdichte beträgt 1 bis 2 W/cm2. Bei einer Ausführungsform kann die Spannung, die an das Sputter-Target angelegt wird, -500 bis -700 Volt betragen. Diese Spannung kann als Pulse angelegt werden. Die Abscheidungsrate der Kohlenstoffschicht 108b beträgt typischerweise wesentlich weniger als die Abscheidungsrate für die Kohlenstoffschicht 108a. Insbesondere liegt die Abscheidungsrate für die Kohlenstoffschicht 108a zwischen 0,1 und 2 nm/Sekunde, und bevorzugt zwischen 0,5 und 1 nm/Sekunde.
Nachdem die Kohlenstoffschicht 108b gebildet ist, wird eine Gleitmittelschicht 110 auf die Scheibe aufgebracht. Das Gleitmittel kann ein Perfluorpolyether-Gleitmittel sein. Ein Beispiel für ein solches Gleitmittel ist Fomblin Z-dol, verkauft von Montedison Co., Italien. Ein Additiv kann zu diesem Gleitmittel zugegeben werden. Ein Beispiel für ein solches Additiv ist Polyphenoxycyclotriphosphazen, das im US-Patent 5,587,217 beschrieben ist, erteilt für Chao et al., das hiermit unter Bezugnahme aufgenommen ist. Ein Additiv, das unter dem Handelsnamen X1P, hergestellt von Dow Chemical Corp., Midland, Michigan, verkauft wird, kann verwendet werden. Das Gleitmittel kann auf die Platte durch Eintauchen der Platte in ein Bad, das Zimmertemperatur aufweist, das eine Mischung des Fomblin Z-dol und X1P umfaßt, aufgebracht werden. Die Geschwindigkeit, mit der die Platte in das Gleitmittelbad eingetaucht wird, kann 1 bis 2 mm/Minute betragen. Wahlweise kann nach dem Eintauchverfahren das Gleitmittel einem Backprozeß unterworfen werden. Die Dicke des Gleitmittels und des Additivs auf der Platte beträgt etwa 3,2 nm, von der etwa 3 nm Z-dol ist und 0,2 nm X1P ist, wie durch das FTIR-Verfahren gemessen.
Bildung einer Kohlenstoffschicht 108a durch Sputtern
Wie zuvor erwähnt, kann die Kohlenstoffschicht 108a unter Verwendung des in der '107-Anmeldung (US-Patent 6,086,730) beschriebenen Verfahrens gebildet werden. Bei einer Ausführungsform dieses Verfahrens wird ein Graphit-Sputtertarget verwendet. Das Prozeßgas umfaßt Argon, Wasserstoff und Stickstoff. Der Argongasfluß beträgt 50 bis 70 SCCM, der Stickstoffgasfluß beträgt 0,5 bis 2,0 SCCM und der Wasserstoffgasfluß beträgt 15 bis 30 SCCM. Die Leistungsdichte beträgt etwa 1 kW/100 cm2, d. h. etwa 10 W/cm2. Die Vorspannungsversorgung für das Substrat beträgt minus 100 bis minus 200 Volt. Das Magnetron-Sputtern kann angewendet werden. Wahlweise kann das Substrat erwärmt werden. Bei einer Ausführungsform kann eine Sputtervorrichtung, wie beispielsweise eine Anelva-C-3010-Sputtervorrichtung, verwendet werden. Eine andere Vorrichtung, wie beispielsweise eine Ulvac- Sputtermaschine, kann auch verwendet werden. Eine Energieversorgung, z. B. eine RPG Modell Pulsenergieversorgung, hergestellt von ENI Inc., Rochester, New York, kann verwendet werden.
Wie in dem '730-Patent beschrieben, kann eine einzigartige Spannungswellenform an das Sputtertarget angelegt werden. Diese Wellenform umfaßt einen anfänglichen positiven Potentialbereich, z. B. einen Bereich, der etwa 300 Volt sein kann. Danach wird eine negative Spannung an das Target angelegt. Der negative Bereich der Wellenform umfaßt typischerweise einen negativen Puls, dem eine konstante (steady- state) negative Spannung folgt. Der negative Puls ist typischerweise 25% oder mehr größer beim Betrag als der konstante (steady-state) negative Wert. Bei einer Ausführungsform kann der negative Puls zwei- oder dreimal den Betrag der konstanten (steady-state) negativen Spannung haben. Man nimmt an, daß der große negative Ausschlag in der Spannung, die an das Target angelegt wird, vorübergehend eine hohe Abscheidungsrate verursacht und die Kohlenstoffatome können eine viel höhere Energie haben, als sie es während eines herkömmlichen Sputterns haben würden. Man nimmt an, daß diese Spannungswellenform bewirkt, daß der neuartige Schutzüberzug einen größeren SP3-Gehalt aufweist und eine größere Härte zeigt als typische gesputterte Kohlenstoff-Filme. Die Wellenform, die an das Sputtertarget angelegt wird, kann eine Frequenz zwischen etwa 50 kHz und 250 kHz haben.
Fig. 3 veranschaulicht eine Ausführungsform einer Spannungslinie 200, die an ein Sputtertarget, wie es im '730-Patent beschrieben ist, angelegt wird. Die Linie 200 hat einen positiven Peak 201 von etwa 450 Volt, welcher sich nachfolgend auf etwa positiv 150 Volt für etwa 2 µs einstellt. Nachfolgend wird ein großes, negatives Potential angelegt, wenn die Energieversorgung versucht, das Target zu betreiben. Das große, anfängliche, negative Potential (Negativpeak 202) beträgt etwa 1000 Volt bei dieser Ausführungsform. Die Spannung stellt sich dann auf etwa 600 negative Volt ein und hält ein Niveau oder eine konstante (steady state) Spannung 203, bis die Energie abgeschaltet wird und der positive Ausschlag wieder beginnt. Bei einer Ausführungsform ist die Amplitude des Negativpeaks 202 grob proportional zur Pulsbreite. Somit kann der Betrag der negativen Potentialspitze, die das Target aufnimmt, eingestellt werden, um die gewünschten Filmeigenschaften zu erhalten.
Die entsprechende Stromwellenform 210 ist in Fig. 3 unterhalb der Spannungskurve überlagert. Dies zeigt, daß es große Stromschwankungen 211 gibt, wenn die Energie abgeschaltet wird, wenn die Energieversorgung 450 positive Volt an das Target abgibt. Während des großen, negativen 1000 Volt-Ausschlags wird der Strom zu dem Target jedoch konstant bei grob etwa 4 Amp. gehalten. Man wird verstehen, daß dieses charakteristische Verhalten der Wellenform nicht nur eine Funktion der Energieversorgung selbst ist, sondern auch von dem Material, das gesputtert wird, dem Kathodendesign und auch von den Verfahrensbedingungen in der Vakuumkammer abhängt. Der Fachmann wird verstehen, daß es wünschenswert sein kann, die Einstellungen der Energieversorgung (z. B. Frequenz, Pulsbreite und Energie) als auch das Verfahren (z. B. Gaszusammensetzung und Druck) einzustellen, um die Wellenformen, die in Fig. 3 gezeigt sind, und andere Ausführungsformen der Erfindung zu erhalten.
Bei einer Ausführungsform wirkt die Energieversorgung als Stromversorgung, wenn die Spannung negativ wird, z. B. zum Zeitpunkt des großen negativen Spannungsausschlags. Bei einer Ausführungsform kann der negative Spannungspeak auch eine Größe haben, die 50% oder mehr größer als eine kontinuierliche DC-Spannung ist, die an das Target angelegt werden würde, um die gleiche Sputterrate zu erhalten.
Bildung einer Kohlenstoffschicht 108a durch CVD
Bei einer Ausführungsform wird die Kohlenstoffschicht 108a durch CVD (typischerweise plasmaverstärktes CVD oder PECVD) gebildet, indem man 1000 Watt an die CVD-Vorrichtung mit einer Substratvorspannung von 300 V und einem C2H4(Ethylen)-Prozeßgas, das mit einer Geschwindigkeit von 150 SCCM fließt, anlegt. Der Druck in der Bedampfungskammer beträgt typischerweise zwischen 20 und 40 mTorr. Die Verfahrenszeit beträgt etwa 5 Sekunden und führt zu 5 nm an überwiegend SP3-Kohlenstoff. Das Substrat wird bei diesem besonderen Beispiel eines CVD- Verfahrens nicht erwärmt. Die Details für dieses Verfahren sind lediglich beispielhaft. Andere Kohlenstoff-haltige Prozeßgase und andere Parameter können auch verwendet werden.
Abwandlung eines bereits bestehenden Herstellungsverfahrens
Wie oben erwähnt, kann ein Lese-Schreibkopf und eine Magnetplatte aus einem sorgfältig konstruierten tribologischen System, das ausgelegt ist, um die Reibung und Haftreibung zwischen dem Lese-Schreibkopf und der Platte zu minimieren, den Verschleiß verringern und die Anzahl von Kontakt-Start-Stop(CSS)-Zyklen, die das Plattenlaufwerk überleben kann, maximieren. Ein großer Anteil an Konstruktionsbemühung ist erforderlich, um diese Ziele zu erreichen. Diese Konstruktionsbemühung umfaßt:
  • a) Bereitstellen einer geeigneten Plattentextur mit Textureigenschaften von geeigneter Größe, Form und Flächendichte.
  • b) Bereitstellen einer geeigneten Schutzüberzugszusammensetzung (sowohl auf der Platte als auch auf dem Lese-Schreibkopf). Dieses erfordert das Entwickeln einer geeigneten Zusammensetzung, Dicke und Morphologie und Auswählen eines Abscheidungsverfahrens für den Überzug (z. B. CVD, Sputtern, Kathodenbogenabscheidung oder IBD). Dieses erfordert auch das Bestimmen einer geeigneten Prozeßgaszusammensetzung, einer Fließrate für jede Komponente des Prozeßgases, eines Prozeßgasdruckes, einer Substratvorspannung und Substrattemperatur.
  • c) Bereitstellen einer Gleitmittelzusammensetzung, Dicke und eines Aufbringungs­ verfahrens. Dies erfordert auch das Auswählen von Additiven für das Gleitmittel (einschließlich des Auswählens der Konzentration der Additive) und das Entwickeln von geeigneten Gleitmittel-Aufbringungsparametern. (Für ein Eintauchverfahren umfaßt dies beispielsweise das Auswählen der Geschwindigkeit, mit welcher die Platte in das Gleitmittelbad eingetaucht und aus dem Gleitmittelbad entnommen wird und die Badtemperatur.)
Das Ersetzen einer Art eines Schutzüberzugs auf der Platte durch einen anderen Schutzüberzug kann eine schädliche Wirkung auf den Rest des tribologischen Systems haben. Das Bereitstellen eines neuen Kohlenstoffüberzugs auf der Platte kann beispielsweise bewirken, daß die Platte nicht ordentlich mit dem Gleitmittel zusammenwirkt.
In Übereinstimmung mit einer Ausführungsform der Erfindung wird ein Verfahren zum Ändern eines Magnetplatten-Herstellungsverfahrens bereitgestellt. Das Verfahren umfaßt ursprünglich einen oder mehrere der Schritte:
  • a) Bereitstellen eines Substrats (z. B. ein Glassubstrat, Glaskeramiksubstrat, ein NiP-beschichtetes Aluminiumsubstrat oder ein anderes geeignetes Substratmaterial);
  • b) Bereitstellen einer Unterschicht auf dem Substrat (z. B. Cr, eine Cr- Legierung, NiP, NiAl oder eine andere geeignete Unterschicht, die durch Sputtern abgeschieden wird);
  • c) Bereitstellen einer Magnetschicht auf der Unterschicht (z. B. eine gesputterte Co- oder Fe-Legierung);
  • d) Bereitstellen eines anfänglichen. Schutzüberzugs auf dem Substrat (z. B. einen Kohlenstoff-Film, der in Gegenwart von Stickstoff und/oder Wasserstoff gesputtert ist);
  • e) Aufbringen eines Gleitmittels auf den Schutzüberzug (z. B. ein Perfluor­ polyether-Gleitmittel, aufgebracht durch Eintauchen).
Lediglich als Beispiel erwähnt, das in der oben aufgenommenen '753-Bertero- Anmeldung beschriebene Verfahren kann verwendet werden, um die Unterschicht und Magnetschicht zu bilden. Der Schutzüberzug kann durch Sputtern unter Verwendung der gleichen Sputterbedingungen, wie diejenigen, die für die Kohlenstoffschicht 108b oben beschrieben wurden, gebildet werden. (Bei einer solchen Ausführungsform ist die an die Abscheidungskammer angelegte Leistung typischerweise größer als die oben erwähnten 1 bis 2 W/cm2, um eine geeignet hohe Abscheidungsrate zu erhalten.) Das Gleitmittel kann die oben erwähnte Z-dol-X1P-Mischung sein, die durch Eintauchen aufgebracht wird, mit einer Gesamtdicke von etwa 32 nm.
In Übereinstimmung mit diesem Verfahren kann der Schritt des Abscheidens des Schutzüberzugs ersetzt werden durch den Schritt:
  • a) Abscheiden eines ersten, überwiegend SP3-Kohlenstoff-Überzugs auf der Magnetschicht; und
  • b) Abscheiden eines zweiten Kohlenstoffüberzugs auf dem ersten Kohlen­ stoffüberzug.
Der erste überwiegend SP3-Kohlenstoff-Überzug kann unter Verwendung der Abscheidungsverfahren und -bedingungen, die oben für die Kohlenstoffschicht 108b beschrieben sind, abgeschieden werden. Der erste Kohlenstoffüberzug kann etwa 2 bis 5 nm dick sein. Der zweite Kohlenstoffüberzug kann durch Sputtern unter Verwenden der gleichen oder im wesentlichen gleichen Bedingungen (z. B. der gleichen oder im wesentlichen gleichen Prozeßgaszusammensetzung, Flußraten für die verschiedenartigen Komponenten des Prozeßgases und des Prozeßgasdrucks) wie für den ursprünglichen Schutzüberzug, der ersetzt wird, abgeschieden werden. Die Substratvorspannung und/oder Substrattemperatur kann auch die gleiche oder im wesentlichen die gleiche während der Abscheidung sein. (Typischerweise beträgt die Leistung, die an die Sputtervorrichtung während der Abscheidung des zweiten Kohlenstoff-Schutzüberzugs angelegt wird, weniger als die Leistung, die verwendet wird, um den ursprünglichen Schutzüberzug abzuscheiden. Dieses ermöglicht eine langsamere Abscheidungsrate für den zweiten Kohlenstoff-Schutzüberzug.) Von Bedeutung ist, daß der zweite Kohlenstoff-Schutzüberzug die gleiche oder im wesentlichen die gleiche Zusammensetzung (einschließlich des gleichen oder im wesentlichen des gleichen Wasserstoff- und/oder Stickstoffgehalts) und/oder Morphologie (z. B. SP2- und SP3- Gehalt) wie der ursprüngliche Schutzüberzug hat. Der zweite Kohlenstoff- Schutzüberzug wirkt weiter mit der Gleitmittelschicht auf die gleiche oder im wesentlichen die gleiche Weise wie der ursprüngliche Schutzüberzug zusammen. Somit maskiert, obgleich der ursprüngliche Schutzüberzug durch eine duale Schichtstruktur ersetzt wird, die überwiegend SP3-Kohlenstoff mit einer Struktur umfaßt, die von der des ursprünglichen Schutzüberzugs abweicht, der zweite Kohlenstoff-Schutzüberzug diesen überwiegend SP3-Kohlenstoff und stellt eine kontinuierliche Kohlenstoff- Oberfläche bereit, die sich auf die gleiche Weise wie der ursprüngliche Schutzüberzug verhält und mit dem Gleitmittel und/oder weiteren Komponenten des Systems (z. B. Textur, Schieberoberfläche, etc.) auf die gleiche Weise wie der ursprüngliche Schutzüberzug zusammenwirkt. Somit kann man den ursprünglichen Schutzüberzug durch diesen neuen, überwiegenden SP3-Kohlenstoff ersetzen, ohne daß man sich bei einem beträchtlichen Reengineeren des Kopf-Platte-tribologischen Systems engagieren muß.
Gewerbliche Anwendbarkeit
Eine Platte, die unter Verwendung eines Verfahrens in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung konstruiert ist, wird typischerweise in ein Plattenlaufwerk eingebaut. Diese Platte wird mit einem Motor über eine Spindel gekoppelt. Der Motor dreht die Platte schnell, während ein Lese-Schreibkopf über dem Plattenlaufwerk "fliegt". Der Lese-Schreibkopf wird durch eine Aufhängung an Ort und Stelle gehalten.
Während die Erfindung im Hinblick auf spezifische Ausführungsformen beschrieben wurde, erkennt der Fachmann, daß Änderungen in der Form und bei Details gemacht werden können, ohne daß man den Geist und Umfang der Erfindung verläßt. Beispielsweise kann das Prozeßgas, das verwendet wird, um die Schicht 108b zu bilden, zwischen 0 und 20% Stickstoff, 0 und 20% Wasserstoff zusätzlich zu einem Inertgas umfassen. Bei einigen Ausführungsformen liegt der SP3-Gehalt der Schicht 108b zwischen 30 und 60%, aber noch deutlich weniger als der SP3-Gehalt der Schicht 108a. Die verschiedenartigen Schichten (102 bis 110) können auf einer oder beiden Seiten des Substrats 100 gebildet werden. Folglich liegen sämtliche dieser Änderungen innerhalb der vorliegenden Erfindung.

Claims (43)

1. Verfahren zum Herstellen einer Magnetplatte, das die Schritte umfaßt:
Abscheiden einer ersten Kohlenstoffschicht auf der Platte, wobei die erste Kohlenstoffschicht überwiegend SP3-Kohlenstoff umfaßt; und
Abscheiden einer zweiten Kohlenstoffschicht auf der Platte, wobei die zweite Kohlenstoffschicht etwa 60% oder weniger SP3-Kohlenstoff umfaßt, wobei der SP3- Gehalt der zweiten Kohlenstoffschicht geringer ist als der SP3-Gehalt der ersten Kohlenstoffschicht.
2. Verfahren gemäß Anspruch 1, wobei die zweite Kohlenstoffschicht weniger als etwa 50% SP3-Kohlenstoff umfaßt.
3. Verfahren gemäß Anspruch 2, wobei die zweite Kohlenstoffschicht mehr als etwa 30% SP3-Kohlenstoff umfaßt.
4. Verfahren gemäß Anspruch 1, wobei die zweite Kohlenstoffschicht eine Dicke von weniger als oder gleich etwa 1 nm aufweist.
5. Verfahren gemäß Anspruch 1, wobei die zweite Kohlenstoffschicht zwischen 0,1 und 1 nm dick ist.
6. Verfahren gemäß Anspruch 1, das weiter den Schritt des Aufbringens einer Gleitmittelschicht auf die zweite Kohlenstoffschicht umfaßt.
7. Verfahren gemäß Anspruch 1, wobei die zweite Kohlenstoffschicht durch Sputtern gebildet wird und die erste Kohlenstoffschicht mittels CVD, PECVD, IBD oder Kathodenbogenabscheidung gebildet wird.
8. Verfahren gemäß Anspruch 1, wobei die ersten und zweiten Kohlenstoffschichten durch Sputtern gebildet werden.
9. Verfahren gemäß Anspruch 8, wobei das Abscheiden der ersten Kohlenstoffschicht umfaßt: Anlegen einer Spannung an ein Sputtertarget, wobei das Sputtertarget Kohlenstoff umfaßt, wobei die Spannung durch eine Energieversorgung in der Form von Pulsen angelegt wird, wobei die Pulse wenigstens einen ersten Bereich und einen zweiten Bereich umfassen, wobei die Spannung, die während des zweiten Bereichs angelegt wird, negativer ist als die, die während des ersten Bereichs angelegt wird, wobei ein erster Unterbereich des zweiten Bereichs negativer ist als ein zweiter Unterbereich des zweiten Bereichs.
10. Eine Magnetplatte, die umfaßt:
ein Substrat;
eine Magnetschicht, die auf dem Substrat gebildet ist;
eine erste Kohlenstoffschicht, die auf der Magnetschicht gebildet ist, wobei die erste Kohlenstoffschicht überwiegend SP3-Kohlenstoff umfaßt; und
eine zweite Kohlenstoffschicht, die auf der ersten Kohlenstoffschicht gebildet ist, wobei die zweite Kohlenstoffschicht etwa 60% oder weniger SP3-Kohlenstoff umfaßt, wobei der SP3-Gehalt der zweiten Kohlenstoffschicht geringer ist als der SP3-Gehalt der ersten Kohlenstoffschicht.
11. Platte gemäß Anspruch 10, wobei die zweite Kohlenstoffschicht weniger als 50% SP3-Kohlenstoff umfaßt.
12. Platte gemäß Anspruch 10, wobei die zweite Kohlenstoffschicht eine Flash- Kohlenstoffschicht ist. .
13. Platte gemäß Anspruch 12, wobei die zweite Kohlenstoffschicht zwischen 0,1 und 1,0 nm dick ist.
14. Verfahren zum Modifizieren eines Herstellungsprozesses, wobei der Herstellungsprozeß das Bereitstellen eines auf Kohlenstoff basierenden Schutzüberzugs auf einer Magnetplatte unter Verwendung eines Parametersatzes umfaßt, wobei das Verfahren das Modifizieren des Prozesses umfaßt, so daß anstelle des Bereitstellens des auf Kohlenstoff basierenden Schutzüberzugs auf der Magnetplatte unter Verwendung des Parametersatzes die folgenden Schritte durchgeführt werden:
Abscheiden einer ersten Kohlenstoffschicht auf der Magnetplatte, wobei die erste Kohlenstoffschicht einen SP3-Gehalt von wenigstens etwa 70% aufweist; und
Abscheiden einer zweiten Kohlenstoffschicht unter Verwendung im wesentlichen dieses Parametersatzes, wobei die zweite Kohlenstoffschicht weniger als oder gleich etwa 1,0 nm dick ist.
15. Verfahren gemäß Anspruch 14, wobei die erste Kohlenstoffschicht eine Dicke zwischen 2 und 5 nm aufweist.
16. Verfahren gemäß Anspruch 14, wobei das Abscheiden der zweiten Kohlenstoffschicht ein Sputtern der zweiten Kohlenstoffschicht in einer Sputterkammer umfaßt und die Parameter die Zusammensetzung und den Druck des Gases in der Sputterkammer umfassen.
17. Verfahren gemäß Anspruch 14, wobei die Parameter die Substrattemperatur und die Vorspannung umfassen.
18. Verfahren gemäß Anspruch 14, wobei die zweite Kohlenstoffschicht eine Dicke von größer als oder gleich etwa 0,1 nm aufweist.
19. Verfahren gemäß Anspruch 14, wobei die erste Kohlenstoffschicht wenigstens ein Material, das aus der Gruppe, die aus Stickstoff und Wasserstoff besteht, ausgewählt wird, umfaßt.
20. Verfahren gemäß Anspruch 14, wobei die zweite Kohlenstoffschicht wenigstens ein Material, das aus der Gruppe, die aus Stickstoff und Wasserstoff besteht, ausgewählt wird, umfaßt.
21. Verfahren gemäß Anspruch 14, wobei die zweite Kohlenstoffschicht weniger als 60% SP3-Kohlenstoff umfaßt.
22. Verfahren zum Modifizieren eines Herstellungsprozesses, wobei der Herstellungsprozeß das Bereitstellen eines auf Kohlenstoff basierenden Schutzüberzugs auf einer Magnetplatte unter Verwendung eines Parametersatzes umfaßt, wobei das Verfahren das Modifizieren des Prozesses umfaßt, so daß anstelle des Bereitstellens des auf Kohlenstoff basierenden Schutzüberzugs auf der Magnetplatte unter Verwendung des Parametersatzes die folgenden Schritte durchgeführt werden:
Abscheiden einer ersten Kohlenstoffschicht auf der Magnetplatte, wobei die erste Kohlenstoffschicht überwiegend SP3-Kohlenstoff umfaßt; und
Abscheiden einer Flash-Schicht aus Kohlenstoff unter Verwendung des Parametersatzes.
23. Verfahren gemäß Anspruch 22, wobei die erste Kohlenstoffschicht etwa 70% oder mehr SP3-Kohlenstoff umfaßt.
24. Verfahren gemäß Anspruch 22, wobei die Flash-Schicht eine Dicke von weniger als etwa 1 nm aufweist.
25. Verfahren gemäß Anspruch 22, wobei die Flash-Schicht wenigstens ein Material, das aus der Gruppe, die aus Wasserstoff und Stickstoff besteht, ausgewählt wird, umfaßt.
26. Verfahren gemäß Anspruch 22, wobei die erste Kohlenstoffschicht wenigstens ein Material, das aus der Gruppe, die aus Wasserstoff und Stickstoff besteht, ausgewählt wird, umfaßt.
27. Verfahren zum Modifizieren eines Herstellungsprozesses, wobei der Herstellungsprozeß das Bereitstellen eines auf Kohlenstoff basierenden Schutzüberzugs auf einer Magnetplatte umfaßt, wobei das Verfahren das Modifizieren des Prozesses umfaßt, so daß anstelle des Bereitstellens des auf Kohlenstoff basierenden Schutzüberzugs auf der Magnetplatte die folgenden Schritte durchgeführt werden:
Abscheiden einer ersten Kohlenstoffschicht auf der Magnetplatte, wobei die erste Kohlenstoffschicht überwiegend SP3-Kohlenstoff umfaßt; und
Abscheiden einer zweiten Kohlenstoffschicht, die mit Gleitmittel mit im wesentlichen der gleichen Wirksamkeit wie der Schutzüberzug zusammenwirkt.
28. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei die erste Kohlenstoffschicht einen SP3- Gehalt von etwa 70% oder mehr aufweist.
29. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei die zweite Schicht weniger als etwa 1 nm dick ist.
30. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei die zweite Kohlenstoffschicht im wesentlichen den gleichen SP3-Gehalt wie der Schutzüberzug aufweist.
31. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei die zweite Kohlenstoffschicht im wesentlichen die gleiche Dichte und den gleichen Brechungsindex wie der Schutzüberzug aufweist.
32. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei die zweite Kohlenstoffschicht im wesentlichen die gleiche Oberflächenenergie wie der Schutzüberzug aufweist.
33. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei die zweite Kohlenstoffschicht im wesentlichen die gleichen chemischen Eigenschaften wie der Schutzüberzug aufweist.
34. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei die zweite Kohlenstoffschicht wenigstens ein Material, das aus der Gruppe, die aus Wasserstoff und Stickstoff besteht, ausgewählt wird, umfaßt.
35. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei die erste Kohlenstoffschicht wenigstens ein Material, das aus der Gruppe, die aus Wasserstoff und Stickstoff besteht, ausgewählt wird, umfaßt.
36. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei die zweite Kohlenstoffschicht eine Flash- Schicht ist.
37. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei ohne die zweite Kohlenstoffschicht das Zusammenwirken zwischen der Gleitmittelschicht auf der ersten Kohlenstoffschicht so sein würde, daß dies dazu neigt, daß die Platte einen Gleithöhe-Test nicht besteht, und wobei die zweite Kohlenstoffschicht es der Magnetplatte ermöglicht, den Gleithöhe-Test zu bestehen.
38. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei der Gleithöhe-Test die Platte bei einer Höhe von etwa 1 Mikrozoll testet.
39. Verfahren gemäß Anspruch 27, wobei die erste Kohlenstoffschicht einen größeren SP3-Gehalt aufweist als die zweite Kohlenstoffschicht.
40. Verfahren zum Modifizieren eines Herstellungsprozesses, wobei der Herstellungsprozeß das Bereitstellen eines auf Kohlenstoff basierenden Schutzüberzugs auf einer Magnetplatte umfaßt, wobei der auf Kohlenstoff basierende Schutzüberzug eine Komponente einer Kopf-Platte-Grenzfläche umfaßt, wobei das Verfahren das Modifizieren des Prozesses umfaßt, so daß anstelle des Bereitstellens des auf Kohlenstoff basierenden Schutzüberzugs auf der Magnetplatte die folgenden Schritte durchgeführt werden:
Abscheiden einer ersten Kohlenstoffschicht auf der Magnetplatte, wobei die erste Kohlenstoffschicht überwiegend SP3-Kohlenstoff umfaßt; und
Abscheiden einer zweiten Kohlenstoffschicht, die mit wenigstens einer zweiten Komponente der Kopf-Platte-Grenzfläche mit im wesentlichen der gleichen Wirksamkeit wie der Schutzüberzug zusammenwirkt.
41. Verfahren gemäß Anspruch 39, wobei die zweite Komponente der Kopf-Platte- Grenzfläche eins oder mehrere umfaßt von: ein Gleitmittel, das auf der zweiten Kohlenstoffschicht aufgebracht ist, eine Textur, die auf der Platte gebildet ist, und einen Schieber, der ein Schreibelement darauf aufweist.
42. Magnetplatte, die gemäß dem Verfahren gemäß Anspruch 1 hergestellt ist.
43. Magnetplattenlaufwerk, das die Platte gemäß Anspruch 42 umfaßt.
DE10130942A 2000-06-27 2001-06-27 Magnetplatte, die einen ersten Kohlenstoffüberzug mit hohem SP3-Gehalt und einen zweiten Kohlenstoffüberzug mit niedrigem SP3-Gehalt aufweist Withdrawn DE10130942A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/604,490 US6565719B1 (en) 2000-06-27 2000-06-27 Magnetic disk comprising a first carbon overcoat having a high SP3 content and a second carbon overcoat having a low SP3 content

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10130942A1 true DE10130942A1 (de) 2002-01-10

Family

ID=24419810

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10130942A Withdrawn DE10130942A1 (de) 2000-06-27 2001-06-27 Magnetplatte, die einen ersten Kohlenstoffüberzug mit hohem SP3-Gehalt und einen zweiten Kohlenstoffüberzug mit niedrigem SP3-Gehalt aufweist

Country Status (3)

Country Link
US (3) US6565719B1 (de)
JP (1) JP4769376B2 (de)
DE (1) DE10130942A1 (de)

Families Citing this family (92)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6312798B1 (en) * 1998-09-25 2001-11-06 Seagate Technology Llc Magnetic recording medium having a nitrogen-doped hydrogenated carbon protective overcoat
US6902773B1 (en) * 2000-11-21 2005-06-07 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. Energy gradient ion beam deposition of carbon overcoats on rigid disk media for magnetic recordings
US6875492B1 (en) * 2001-11-15 2005-04-05 Maxtor Corporation Carbon overcoat for magnetic recording medium
US20040161578A1 (en) * 2003-02-19 2004-08-19 Seagate Technology Llc Dual-layer protective overcoat system for disk recording media
US7175926B2 (en) * 2004-02-12 2007-02-13 Seagate Technology Llc Dual-layer carbon-based protective overcoats for recording media by filtered cathodic ARC deposition
JP2005350652A (ja) * 2004-05-12 2005-12-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 潤滑剤、ならびに磁気記録媒体および磁気記録媒体の製造方法
US20090263592A1 (en) * 2004-08-05 2009-10-22 Seagate Technology Llc Plasma-enhanced chemical vapor deposition of advanced lubricant for thin film storage medium
DE102004041234A1 (de) * 2004-08-26 2006-03-02 Ina-Schaeffler Kg Verschleißfeste Beschichtung und Verfahren zur Herstellung derselben
JP4131720B2 (ja) 2004-08-31 2008-08-13 富士通株式会社 磁気記録媒体、ヘッドスライダおよびそれらの製造方法
US7695820B2 (en) * 2005-07-26 2010-04-13 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Aliphatic polyesters and lubricants containing the polyesters
JP2007056721A (ja) * 2005-08-23 2007-03-08 Sanden Corp 斜板式圧縮機
JP2007070667A (ja) 2005-09-05 2007-03-22 Kobe Steel Ltd ダイヤモンドライクカーボン硬質多層膜成形体およびその製造方法
DE102007054181A1 (de) * 2007-11-14 2009-05-20 Schaeffler Kg Korrosionsfeste Beschichtung sowie Herstellverfahren hierfür
JP5117895B2 (ja) 2008-03-17 2013-01-16 ダブリュディ・メディア・シンガポール・プライベートリミテッド 磁気記録媒体及びその製造方法
JP2009238299A (ja) * 2008-03-26 2009-10-15 Hoya Corp 垂直磁気記録媒体および垂直磁気記録媒体の製造方法
JP5453666B2 (ja) 2008-03-30 2014-03-26 ダブリュディ・メディア・シンガポール・プライベートリミテッド 磁気ディスク及びその製造方法
JP2011034603A (ja) * 2008-03-31 2011-02-17 Hoya Corp 垂直磁気記録媒体
JP2009256749A (ja) * 2008-04-18 2009-11-05 Osaka Univ 炭素膜の製造法
KR101004917B1 (ko) * 2008-06-24 2010-12-28 이주희 탁자용 접철식 프레임
US9177586B2 (en) 2008-09-30 2015-11-03 WD Media (Singapore), LLC Magnetic disk and manufacturing method thereof
US8877359B2 (en) 2008-12-05 2014-11-04 Wd Media (Singapore) Pte. Ltd. Magnetic disk and method for manufacturing same
WO2010116908A1 (ja) 2009-03-28 2010-10-14 Hoya株式会社 磁気ディスク用潤滑剤化合物及び磁気ディスク
SG165294A1 (en) 2009-03-30 2010-10-28 Wd Media Singapore Pte Ltd Perpendicular magnetic recording medium and method of manufacturing the same
US20100300884A1 (en) 2009-05-26 2010-12-02 Wd Media, Inc. Electro-deposited passivation coatings for patterned media
US20110032640A1 (en) * 2009-08-10 2011-02-10 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Multi-layer, thin film overcoat for magnetic media disk
US8496466B1 (en) 2009-11-06 2013-07-30 WD Media, LLC Press system with interleaved embossing foil holders for nano-imprinting of recording media
US9330685B1 (en) 2009-11-06 2016-05-03 WD Media, LLC Press system for nano-imprinting of recording media with a two step pressing method
JP5643516B2 (ja) * 2010-01-08 2014-12-17 ダブリュディ・メディア・シンガポール・プライベートリミテッド 垂直磁気記録媒体
JP5574414B2 (ja) 2010-03-29 2014-08-20 ダブリュディ・メディア・シンガポール・プライベートリミテッド 磁気ディスクの評価方法及び磁気ディスクの製造方法
JP5645476B2 (ja) 2010-05-21 2014-12-24 ダブリュディ・メディア・シンガポール・プライベートリミテッド 垂直磁気ディスク
JP5634749B2 (ja) 2010-05-21 2014-12-03 ダブリュディ・メディア・シンガポール・プライベートリミテッド 垂直磁気ディスク
JP2011248968A (ja) 2010-05-28 2011-12-08 Wd Media (Singapore) Pte. Ltd 垂直磁気ディスク
JP2011248967A (ja) 2010-05-28 2011-12-08 Wd Media (Singapore) Pte. Ltd 垂直磁気ディスクの製造方法
JP2011248969A (ja) 2010-05-28 2011-12-08 Wd Media (Singapore) Pte. Ltd 垂直磁気ディスク
JP2012009086A (ja) 2010-06-22 2012-01-12 Wd Media (Singapore) Pte. Ltd 垂直磁気記録媒体及びその製造方法
US8889275B1 (en) 2010-08-20 2014-11-18 WD Media, LLC Single layer small grain size FePT:C film for heat assisted magnetic recording media
US8743666B1 (en) 2011-03-08 2014-06-03 Western Digital Technologies, Inc. Energy assisted magnetic recording medium capable of suppressing high DC readback noise
US8711499B1 (en) 2011-03-10 2014-04-29 WD Media, LLC Methods for measuring media performance associated with adjacent track interference
US8491800B1 (en) 2011-03-25 2013-07-23 WD Media, LLC Manufacturing of hard masks for patterning magnetic media
US9028985B2 (en) 2011-03-31 2015-05-12 WD Media, LLC Recording media with multiple exchange coupled magnetic layers
US8565050B1 (en) 2011-12-20 2013-10-22 WD Media, LLC Heat assisted magnetic recording media having moment keeper layer
US9029308B1 (en) 2012-03-28 2015-05-12 WD Media, LLC Low foam media cleaning detergent
US9269480B1 (en) 2012-03-30 2016-02-23 WD Media, LLC Systems and methods for forming magnetic recording media with improved grain columnar growth for energy assisted magnetic recording
US8941950B2 (en) 2012-05-23 2015-01-27 WD Media, LLC Underlayers for heat assisted magnetic recording (HAMR) media
JP6046379B2 (ja) * 2012-06-07 2016-12-14 トーヨーエイテック株式会社 ボールペンチップ、ボールペン及びその製造方法
JP6290525B2 (ja) * 2012-06-07 2018-03-07 トーヨーエイテック株式会社 摺動部材及びその製造方法
US8993134B2 (en) 2012-06-29 2015-03-31 Western Digital Technologies, Inc. Electrically conductive underlayer to grow FePt granular media with (001) texture on glass substrates
US8559136B1 (en) * 2012-11-14 2013-10-15 HGST Netherlands B.V. Hard amorphous carbon film containing ultratrace hydrogen for magnetic recording media and magnetic heads
US9034492B1 (en) 2013-01-11 2015-05-19 WD Media, LLC Systems and methods for controlling damping of magnetic media for heat assisted magnetic recording
US10115428B1 (en) 2013-02-15 2018-10-30 Wd Media, Inc. HAMR media structure having an anisotropic thermal barrier layer
US9153268B1 (en) 2013-02-19 2015-10-06 WD Media, LLC Lubricants comprising fluorinated graphene nanoribbons for magnetic recording media structure
US9183867B1 (en) 2013-02-21 2015-11-10 WD Media, LLC Systems and methods for forming implanted capping layers in magnetic media for magnetic recording
US9196283B1 (en) 2013-03-13 2015-11-24 Western Digital (Fremont), Llc Method for providing a magnetic recording transducer using a chemical buffer
US8787130B1 (en) 2013-03-15 2014-07-22 WD Media, LLC Systems and methods for providing heat assisted magnetic recording media configured to couple energy from a near field transducer
US9190094B2 (en) 2013-04-04 2015-11-17 Western Digital (Fremont) Perpendicular recording media with grain isolation initiation layer and exchange breaking layer for signal-to-noise ratio enhancement
US9093122B1 (en) 2013-04-05 2015-07-28 WD Media, LLC Systems and methods for improving accuracy of test measurements involving aggressor tracks written to disks of hard disk drives
US8716150B1 (en) * 2013-04-11 2014-05-06 Globalfoundries Inc. Method of forming a low-K dielectric film
US8947987B1 (en) 2013-05-03 2015-02-03 WD Media, LLC Systems and methods for providing capping layers for heat assisted magnetic recording media
US8867322B1 (en) 2013-05-07 2014-10-21 WD Media, LLC Systems and methods for providing thermal barrier bilayers for heat assisted magnetic recording media
US9296082B1 (en) 2013-06-11 2016-03-29 WD Media, LLC Disk buffing apparatus with abrasive tape loading pad having a vibration absorbing layer
US9406330B1 (en) 2013-06-19 2016-08-02 WD Media, LLC Method for HDD disk defect source detection
US9607646B2 (en) 2013-07-30 2017-03-28 WD Media, LLC Hard disk double lubrication layer
US9389135B2 (en) 2013-09-26 2016-07-12 WD Media, LLC Systems and methods for calibrating a load cell of a disk burnishing machine
US9177585B1 (en) 2013-10-23 2015-11-03 WD Media, LLC Magnetic media capable of improving magnetic properties and thermal management for heat-assisted magnetic recording
US9581510B1 (en) 2013-12-16 2017-02-28 Western Digital Technologies, Inc. Sputter chamber pressure gauge with vibration absorber
US9382496B1 (en) 2013-12-19 2016-07-05 Western Digital Technologies, Inc. Lubricants with high thermal stability for heat-assisted magnetic recording
US9824711B1 (en) 2014-02-14 2017-11-21 WD Media, LLC Soft underlayer for heat assisted magnetic recording media
US9447368B1 (en) 2014-02-18 2016-09-20 WD Media, LLC Detergent composition with low foam and high nickel solubility
US9431045B1 (en) 2014-04-25 2016-08-30 WD Media, LLC Magnetic seed layer used with an unbalanced soft underlayer
US9042053B1 (en) 2014-06-24 2015-05-26 WD Media, LLC Thermally stabilized perpendicular magnetic recording medium
US9159350B1 (en) 2014-07-02 2015-10-13 WD Media, LLC High damping cap layer for magnetic recording media
US10054363B2 (en) 2014-08-15 2018-08-21 WD Media, LLC Method and apparatus for cryogenic dynamic cooling
US9082447B1 (en) 2014-09-22 2015-07-14 WD Media, LLC Determining storage media substrate material type
US8995078B1 (en) 2014-09-25 2015-03-31 WD Media, LLC Method of testing a head for contamination
US9227324B1 (en) 2014-09-25 2016-01-05 WD Media, LLC Mandrel for substrate transport system with notch
US9685184B1 (en) 2014-09-25 2017-06-20 WD Media, LLC NiFeX-based seed layer for magnetic recording media
US9449633B1 (en) 2014-11-06 2016-09-20 WD Media, LLC Smooth structures for heat-assisted magnetic recording media
US9818442B2 (en) 2014-12-01 2017-11-14 WD Media, LLC Magnetic media having improved magnetic grain size distribution and intergranular segregation
US9401300B1 (en) 2014-12-18 2016-07-26 WD Media, LLC Media substrate gripper including a plurality of snap-fit fingers
US9218850B1 (en) 2014-12-23 2015-12-22 WD Media, LLC Exchange break layer for heat-assisted magnetic recording media
US9257134B1 (en) 2014-12-24 2016-02-09 Western Digital Technologies, Inc. Allowing fast data zone switches on data storage devices
US9990940B1 (en) 2014-12-30 2018-06-05 WD Media, LLC Seed structure for perpendicular magnetic recording media
US9280998B1 (en) 2015-03-30 2016-03-08 WD Media, LLC Acidic post-sputter wash for magnetic recording media
US9822441B2 (en) 2015-03-31 2017-11-21 WD Media, LLC Iridium underlayer for heat assisted magnetic recording media
US9275669B1 (en) 2015-03-31 2016-03-01 WD Media, LLC TbFeCo in PMR media for SNR improvement
US20170069345A1 (en) * 2015-09-09 2017-03-09 Seagate Technology Llc Methods of forming overcoats on magnetic storage media and magnetic storage media formed thereby
US11074934B1 (en) 2015-09-25 2021-07-27 Western Digital Technologies, Inc. Heat assisted magnetic recording (HAMR) media with Curie temperature reduction layer
US10236026B1 (en) 2015-11-06 2019-03-19 WD Media, LLC Thermal barrier layers and seed layers for control of thermal and structural properties of HAMR media
US9406329B1 (en) 2015-11-30 2016-08-02 WD Media, LLC HAMR media structure with intermediate layer underlying a magnetic recording layer having multiple sublayers
US10121506B1 (en) 2015-12-29 2018-11-06 WD Media, LLC Magnetic-recording medium including a carbon overcoat implanted with nitrogen and hydrogen
US11348613B2 (en) 2019-01-04 2022-05-31 Seagate Technology Llc Adding a cap-layer to improve magnetic recording media
US20220178026A1 (en) * 2020-12-03 2022-06-09 Applied Materials, Inc. Carbon cvd deposition methods to mitigate stress induced defects

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE32464E (en) 1971-05-03 1987-07-28 Thin film recording and method of making
JPS62183022A (ja) 1986-02-06 1987-08-11 Ulvac Corp 耐摩耗性磁気記録体
JP2600297B2 (ja) 1988-06-23 1997-04-16 松下電器産業株式会社 磁気記録媒体
JPH03130919A (ja) * 1989-07-07 1991-06-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 磁気記録媒体
US5268216A (en) * 1990-12-21 1993-12-07 Ovonic Synthetic Materials Company, Inc. Multilayer solid lubricant composite structures and method of making same
US5232570A (en) 1991-06-28 1993-08-03 Digital Equipment Corporation Nitrogen-containing materials for wear protection and friction reduction
JPH05143972A (ja) 1991-11-19 1993-06-11 Kubota Corp 金属薄膜型磁気記録媒体およびその製造法
JPH05225556A (ja) 1991-12-16 1993-09-03 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 保護膜を改良した磁気記録ディスク
JPH06145975A (ja) * 1992-03-20 1994-05-27 Komag Inc 炭素フィルムをスパタリングする方法及びその製造物
EP0580164B1 (de) 1992-07-24 1999-01-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Magnetischer Aufzeichnungsträger und sein Herstellungsverfahren
US5637373A (en) * 1992-11-19 1997-06-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Magnetic recording medium
JPH07210865A (ja) * 1994-01-21 1995-08-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd 磁気記録媒体の製造方法
US5476691A (en) 1994-01-21 1995-12-19 International Business Machines, Inc. Surface treatment of magnetic recording heads
WO1996001303A1 (en) 1994-07-01 1996-01-18 Hmt Technology Corporation Lubricant composition and method
JP3934697B2 (ja) 1994-12-06 2007-06-20 昭和電工株式会社 磁気記録媒体
JPH0944844A (ja) 1995-07-27 1997-02-14 Hitachi Ltd 磁気記録媒体の製造方法
US5714044A (en) 1995-08-07 1998-02-03 Hmt Technology Corporation Method for forming a thin carbon overcoat in a magnetic recording medium
JP3058066B2 (ja) 1995-11-06 2000-07-04 富士電機株式会社 磁気記録媒体及びその製造方法
JPH09212814A (ja) 1996-01-31 1997-08-15 Nec Corp 保護被膜と保護被膜を有する磁気ヘッドスライダおよび磁気ディスク装置
US5855746A (en) 1996-02-28 1999-01-05 Western Digital Corporation Buffered nitrogenated carbon overcoat for data recording disks and method for manufacturing the same
JPH09288818A (ja) 1996-04-22 1997-11-04 Hitachi Metals Ltd 磁気記録媒体
WO1997045855A1 (en) * 1996-05-31 1997-12-04 Akashic Memories Corporation Highly tetrahedral amorphous carbon films and methods for their production
US5858477A (en) * 1996-12-10 1999-01-12 Akashic Memories Corporation Method for producing recording media having protective overcoats of highly tetrahedral amorphous carbon
JPH101305A (ja) * 1996-06-11 1998-01-06 Denki Kagaku Kogyo Kk 炭素膜および炭素膜製造方法
JPH1050235A (ja) 1996-08-02 1998-02-20 Toshiba Corp 陰極線管装置
JPH10172130A (ja) 1996-12-09 1998-06-26 Hitachi Ltd 磁気記録媒体及びその製造方法並びに磁気記憶装置
JPH10229012A (ja) 1997-02-17 1998-08-25 Minebea Co Ltd 磁気記録媒体の製造方法
US5858182A (en) 1997-03-20 1999-01-12 Headway Technoloies, Inc. Bilayer carbon overcoating for magnetic data storage disks and magnetic head/slider constructions
JP3029407B2 (ja) 1997-04-24 2000-04-04 千葉特殊コンクリート工業株式会社 連結ピンによる接合構造
KR100485281B1 (ko) * 1997-07-10 2005-04-27 시게이트 테크놀로지 엘엘씨 다층의 탄소-함유 보호 오버코트를 포함하는 자기 기록 매체
JPH1139647A (ja) 1997-07-23 1999-02-12 Hitachi Ltd 磁気記録媒体及びその製造方法並びに磁気記憶装置
JP3192109B2 (ja) * 1997-08-07 2001-07-23 株式会社半導体エネルギー研究所 電気用部材
US6015597A (en) * 1997-11-26 2000-01-18 3M Innovative Properties Company Method for coating diamond-like networks onto particles
US6238780B1 (en) * 1998-04-16 2001-05-29 Seagate Technology Llc Magnetic recording medium comprising multilayered carbon-containing protective overcoats
US6303214B1 (en) * 1999-04-14 2001-10-16 Seagate Technology Llc Magnetic recording medium with high density thin dual carbon overcoats
US6086730A (en) * 1999-04-22 2000-07-11 Komag, Incorporated Method of sputtering a carbon protective film on a magnetic disk with high sp3 content

Also Published As

Publication number Publication date
US6565719B1 (en) 2003-05-20
US20040137207A1 (en) 2004-07-15
JP2002063717A (ja) 2002-02-28
US6855232B2 (en) 2005-02-15
US20030027019A1 (en) 2003-02-06
US6682807B2 (en) 2004-01-27
JP4769376B2 (ja) 2011-09-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10130942A1 (de) Magnetplatte, die einen ersten Kohlenstoffüberzug mit hohem SP3-Gehalt und einen zweiten Kohlenstoffüberzug mit niedrigem SP3-Gehalt aufweist
DE3875161T2 (de) Verfahren zur herstellung einer magnetischen aufzeichnungsplatte aus einem duennen film einer metallegierung mit einem hydrogenierten kohlenstoffueberzug.
DE69125633T2 (de) Verfahren zum Aufbringen eines Wasserstoff-dotierten Kohlenstoffschutzfilm durch kathodische Zerstäubung auf eine Magnetplatte
DE69615690T2 (de) Mehrschichtiger überzug für magnetische platten
DE69330292T2 (de) Laminat und verschleissfeste darauf in Dünnschichtverfahren gebildete magnetische Leseeinrichtung
DE69022826T2 (de) Magnetischer Aufzeichnungsträger und Verfahren zu seiner Herstellung.
DE69505994T2 (de) Vorrichtung und verfahren zum kathodenzerstäuben von kohlenstoff
EP0016404B1 (de) Magnetischer Aufzeichnungsträger und Verfahren zu seiner Herstellung
US6086730A (en) Method of sputtering a carbon protective film on a magnetic disk with high sp3 content
DE69621099T2 (de) Magnetischer Aufzeichnungsträger mit einer durch Zerstäubung aufgetragenen Keimschicht aus MgO
DE69211945T2 (de) Magnetisches Aufzeichnungsmedium
DE4211712A1 (de) Flächige Polyethylenterephthalat-Materialien mit geringer Oberflächenrauhigkeit sowie ein Verfahren zu ihrer Herstellung und ihre Verwendung
DE3519383C2 (de)
DE69729705T2 (de) Magnetisches Aufzeichnungsmedium, Herstellungsverfahren für dasselbe und magnetischer Speicher
DE4325329C2 (de) Magnetisches Aufzeichnungsmedium und Verfahren zu seiner Herstellung
EP0303178A2 (de) Verfahren zur Herstellung magnetischer Aufzeichnungsträger
DE3854990T2 (de) Magnetischer Aufzeichnungsträger
EP0258768B1 (de) Verfahren zur Oberflächenbearbeitung schiebenförmiger vernickelter Aluminiumsubstrate
DE69419868T2 (de) Magnetisches Aufzeichnungsmedium, Verfahren zur Herstellung desselben
DE69917561T2 (de) Verfahren zum Herstellen mit Dünnschichten beschichteter Magnetplatten sowie dadurch erhaltene Dünnschichtmagnetplatten
DE69806302T2 (de) Magnetisches Aufzeichnungsmedium
EP0143433A2 (de) Magnetischer Aufzeichnungsträger
DE3347179A1 (de) Magnetisches aufzeichnungsmaterial und verfahren zu seiner herstellung
DE3879560T2 (de) Magnetischer aufzeichnungstraeger und dessen herstellungsverfahren.
DE69110085T2 (de) Magnetischer Aufzeichnungsträger.

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee