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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Oberflächenwellenbauelement,
das als Oberflächenwellenfilter,
beispielsweise als ein Resonator- und ein Bandpaßfilter verwendet werden kann,
und auf ein Verfahren zum Herstellen des Oberflächenwellenbauelements.
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In
jüngeren
Jahren wurde mit der Zunahme von Teilnehmern und verschiedener Dienste
sowohl die Frequenzbänder
zum Senden als auch zum Empfang verbreitert, wodurch sich die Sendefrequenzen und
Empfangsfrequenzen einander annäherten. Folglich
ist erforderlich, daß bei
Bandpaßfiltern,
die bei tragbaren Telefonen verwendet werden, die Filter breitbandig
und die Dämpfungscharakteristika
in der Nähe
von Durchlaßbändern hervorragend
sind. Wenn ein EGSM-System (EGSM = European Groupe Speciale Mobile)
als ein tragbares Telefonsystem in Europa als ein Beispiel genommen
wird, weist das Sendeseitenfrequenzband 880 MHz bis 915 MHz und
das Empfangsseitenfrequenzband 925 MHz bis 960 MHz auf.
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Sendesignale
werden in Empfangsseite-Schaltungen zu Rauschsignalen. Folglich
ist es bei den Bandpaßfiltern,
die in Empfangsseite-Schaltungen verwendet werden, notwendig, Signale
in dem Band von 925 MHz bis 960 MHz durchlässig zu machen und Signale
in dem Band von 880 MHz bis 915 MHz zu dämpfen. Das heißt, daß Filtercharakteristika
erforderlich sind, die ein Durchlaßband von 925 MHz bis 960 MHz
und ein Dämpfungsband
von 880 MHz bis 915 MHz aufweisen. Folglich beträgt der Frequenzunterschied
zwischen dem Durchlaßband und
dem Dämpfungsband
lediglich 10 MHz, obwohl die Durchlaßbandbreite ein breites Band
von 35 MHz aufweisen muß.
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Andererseits
wird bei den Oberflächenwellenfiltern,
die bei den tragbaren Telefonen als ein Bandpaßfilter verwendet werden, ein
Substrat mit einem 36°-Schnitt
aus LiTaO3 verwendet. Bei diesem Substrat
liegt eine Temperaturabhängigkeit
der Frequenz in einem Bereich von –30 ppm/°C bis 35 ppm/°C. Folglich
ist es notwendig, daß eine
Spanne einer Temperaturänderung
beim Entwerfen von Schaltungen, die Oberflächenwellenbauelemente umfassen,
vorgesehen wird.
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Wenn
ferner Frequenzveränderungen
während
einer Herstellung in Betracht gezogen werden, wird der Frequenzabstand
zwischen dem Durchlaßband
und dem Dämpfungsband
viel geringer. Folglich ist es wichtiger, die Steilheit der Filtercharakteristik
in der Nähe
des Durchlaßbands
zu erhöhen.
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Die
Bandbreite eines Oberflächenwellenfilters
und die Steilheit in der Nähe
des Durchlaßbands sind
annähernd
einzig durch den elektromechanischen Kopplungskoeffizienten eines
piezoelektrischen Substrats festgelegt. Allgemein gesagt, können, wenn
der elektromechanische Kopplungskoeffizient groß ist, Breitbandfiltercharakteristika
erhalten werden, während,
wenn der elektromechanische Kopplungskoeffizient klein ist, Filtercharakteristika mit
hervorragender Steilheit erhalten werden können.
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Wenn
folglich piezoelektrische Substrate mit unterschiedlichen elektromechanischen
Kopplungskoeffizienten entsprechend Elementen in Oberflächenwellenfiltern
verwendet werden, können
gemäß diesen
Kombinationen steile und relativ breitbandige Filtercharakteristika
erhalten werden.
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In
der japanischen ungeprüften
Patentanmeldung Nr. 7-283688 ist ein Verfahren zum Einstellen von
elektromechanischen Kopplungskoeffizienten auf eine solche Art und
Weise durchgeführt,
daß sich
bei einem Oberflächenwellenfilter
eines Schaltungsaufbaus eines Leitertyps die Oberflächenwellenausbreitungsrichtung
in einem Reihe-Arm-Resonator von demjenigen in einem Parallel-Arm-Resonator
unterscheidet. Bei einem Substrat mit einem 36°-Y-Schnitt aus LiTaO3 ist der elektromechanische Kopplungskoeffizient
von der Oberflächenwellenausbreitungsrichtung
abhängig.
Wenn angenommen wird, dass die Oberflächenwellenausbreitungsrichtung
entlang der X-Achse gerichtet ist, wird der elektromechanische Kopplungskoeffizient
ein Maximum, während
der elektromechanische Kopplungskoeffizient kleiner wird, wenn die
Oberflächenwellenausbreitungsrichtung
von der X-Achse abweicht. Wie es in 16 gezeigt
ist, verringert sich folglich beispielsweise bei einem Oberflächenwellenfilter,
der einen Schaltungsaufbau eines Leitertyps aufweist, der Abstand
zwischen einer Resonanzfrequenz und einer Antiresonanzfrequenz in
der Resonanzcharakteristik A des Parallel-Arm-Resonators, verglichen
mit der Charakteristik (die durch eine gestrichelte Linie Aa gezeigt
ist) des Falls, bei dem die Ausbreitungsrichtung des Parallel-Arm-Resonators
nicht von der X-Achse abweicht, und verglichen mit der Resonanzcharakteristik
B des Reihe-Arm-Resonators, wenn die Ausbreitungsrichtung in dem
Reihe-Arm-Resonator entlang der X-Achse gerichtet ist und die Ausbreitungsachse
in dem Parallel-Arm-Resonator von der X-Achse abweicht. Folglich
kann eine Filtercharakteristik mit einer hervorragenden Steilheit
erhalten werden, wie es durch eine gestrichelte Linie in 17 gezeigt ist. Ferner zeigt
die durchgezogene Linie D in 17 die
Charakteristik, bei der sich die Oberflächenwellenausbreitungsrichtung
in dem Reihe-Arm-Resonator und Parallel-Arm-Resonator nicht unterscheidet.
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Andererseits
ist in der japanischen ungeprüften
Patentanmeldung Nr. 8-65089 ein Verfahren zum Hinzufügen einer
Kapazität
zu jedem Resonator in einem Oberflächenwellenfilter eines Schaltungsaufbaus
eines Leitertyps offenbart. Wenn die Kapazität parallel zu einem Oberflächenwellenresonator
hinzugefügt
ist, erniedrigt sich eine Antiresonanzfrequenz und der Abstand zwischen
einer Resonanzfrequenz und einer Antiresonanzfrequenz ist auf die
gleiche Art und Weise wie in dem Fall des Verfahrens, das in der japanischen
ungeprüften
Patentanmeldung Nr. 7-283688 offenbart ist, ver schmälert. Folglich
ist zu erwarten, daß eine
Filtercharakteristika mit hervorragender Steilheit erhalten werden
kann.
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Bei
den Oberflächenwellenfiltern,
die in der japanischen ungeprüften
Patentanmeldung Nr. 7-283688 und der japanischen ungeprüften Patentanmeldung
Nr. 8-65089 offenbart sind, traten jedoch verschiedene Probleme
auf.
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Beispielsweise
trat bei der ersten ein Problem auf, derart, daß, wenn in einem Substrat mit
einem 36°-Y-Schnitt
aus LiTaO3 die Ausbreitungsrichtung einer
Oberflächenwelle
von der X-Achse abweicht, sich der Leistungsflußwinkel als ein Winkelunterschied
zwischen der Richtung der Ausbreitung der Oberflächenwelle und der Richtung
des Energieübertrags
erhöht,
wodurch sich der Leckverlust der Energie von dem Wellenleiter und
der Verlust erhöht. Da
es ferner notwendig ist, eine Mehrzahl von Oberflächenwellenresonatoren
mit unterschiedlichen Ausbreitungsrichtungen auf dem gleichen piezoelektrischen
Resonator bereitzustellen, nimmt die Größe des Oberflächenwellenfilters
stark zu. Ferner traten Fälle
auf, bei denen unterschiedliche Resonatoren akustisch teilweise
gekoppelt sind, wodurch sich die Charakteristika aufgrund der Kopplung
verschlechtern.
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Andererseits
war bei dem Verfahren, das in der japanischen ungeprüften Patentanmeldung
Nr. 8-65089 beschrieben ist, um eine Kapazität hinzuzufügen, die Chipgröße stark
erhöht.
Da ferner die Filtercharakteristika nicht verändert werden können, nachdem
die Elektroden gebildet sind, konnte die Frequenz nicht eingestellt
werden.
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Aus
der
US-4,636,678 ist
ein Interdigitalwandler bekannt, bei dem durch Anlegen einer Gleichspannung
Frequenzeinstellungen vorgenommen werden, um Umwelteinflüsse zu kompensieren.
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Aus
der
US-3,743,953 ist
ein Oberflächenwellenelement
bekannt, das mehrere Interdigitalwandler aufweist, wobei Elektrodenfinger
unterschiedlicher Interdigitalwandler in verschiedenen Richtungen
angeordnet sind.
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Die
Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein Konzept zu
schaffen, um bei einem Oberflächenwellenbauelement,
das eine kleine Größe aufweist,
hervorragende Filtercharakteristika zu erhalten, ohne erhöhte Verluste
und verschlechterte Charakteristika zu bewirken, sowie Verwendungen und
ein Herstellungsferfahren für
ein solches Bauelement anzusehen.
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Diese
Aufgabe wird mit dem Gegenstand des Anspruchs 1 bzw. mit den Verwendungen
nach Anspruch 5, 7 oder 8 bzw. mit dem Verfahren nach dem Anspruch
9 gelöst.
Die Unteransprüche
sehen Ausführungsarten
der Erfindung an.
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Um
die obig beschriebenen Probleme zu überwinden, schafft die Erfindung
ein Oberflächenwellenbauelement;
bei dem die obig genannten Nachteile des Stands der Technik gelöst sind,
ohne eine größere Größe, erhöhte Verluste
und verschlechterte Charakteristika zu bewirken, derart, daß die Steilheit
in der Nähe
des Durchlaßbands
hervorragend ist, wenn dasselbe als ein Bandpaßfilter verwendet wird, und
ein Verfahren zum Herstellen für
ein solches Oberflächenwellenbauelement.
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Andere
bevorzugte Ausführungsbeispiele der
vorliegenden Erfindung liefern ein Oberflächenwellenfilter, das durch
einen geringen Verlust, hervorragende Filtercharakteristika, eine
sehr kleine Größe und eine
hervorragende Steilheit in der Nähe
des Durchlaßbands
gekennzeichnet ist.
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Gemäß einem
bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung umfaßt
ein Oberflächenwellenbauelement
ein piezoelektrisches Substrat, das aus LiTaO3 besteht,
und zumindest einen Interdigitalwandler, der auf dem Substrat angeordnet ist
und eine Mehrzahl von Elektrodenfingern aufweist. Die Polarisationsrichtung
in zumindest einem Spaltabschnitt zwischen Elektrodenfingern des
zumindest einen Interdigitalwandlers unterscheidet sich von der
Polarisationsrichtung in anderen Spaltabschnitten zwischen Elektrodenfingern
auf dem gleichen Ausbreitungsweg.
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Gemäß der einzigartigen
Struktur und Anordnung dieses bevorzugten Ausführungsbeispiels der vorliegenden
Erfindung ist der elektromechanische Kopplungskoeffizient stark
reduziert verglichen mit dem Fall, bei dem die Polarisationsrichtung
von allen Spaltabschnitten bei dem Interdigitalwandler gleich ist.
Folglich ist ein Frequenzabstand zwi schen einer Resonanzfrequenz
und einer Antiresonanzfrequenz stark verschmälert, wobei die Steilheit in
der Nähe
des Durchlaßbands
stark erhöht
ist, wenn eine Verwendung als ein Oberflächenwellenfilter vorgesehen
ist.
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Bei
dem Oberflächenwellenbauelement
können
die Elektrodenfinger des zumindest einen Interdigitalwandlers entnommen
sein, so daß der
elektromechanische Kopplungskoeffizient durch das Entnehmen reduziert
ist. In diesem Fall kann der Abstand zwischen einer Resonanzfrequenz
und einer Antiresonanzfrequenz viel stärker reduziert werden, wobei
bei einer Verwendung als ein Oberflächenwellenfilter die Steilheit
der Filtercharakteristika in der Nähe des Durchlaßbands viel
stärker
erhöht
werden kann.
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Gemäß einem
weiteren bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung umfaßt
ein Oberflächenwellenfilter
vorzugsweise ein piezoelektrisches Substrat und eine Mehrzahl von Ein-Tor-Oberflächenwellenelementen,
die jeweils einen Interdigitalwandler aufweisen, der auf dem piezoelektrischen
Substrat angeordnet ist. Die Mehrzahl von Ein-Tor-Oberflächenwellenelementen ist eine Schaltung
eines Leitertyps die zumindest einen Parallel-Arm-Resonator und
zumindest einen Reihe-Arm-Resonator
aufweist. Die Polarisationsrichtung in zumindest einem Spaltabschnitt
zwischen Elektrodenfingern in dem Interdigitalwandler von einem
der Ein-Tor-Oberflächenwellenelemente
unterscheidet sich von der Polarisationsrichtung in anderen Spaltabschnitten
zwischen den Elektrodenfingern.
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Gemäß einem
noch weiteren bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung umfaßt
ein Oberflächenwellenresonatorfilter
ein piezoelektrisches Substrat und eine Mehrzahl von Interdigitalwandlern,
die auf dem piezoelektrischen Substrat vorgesehen sind. Bei dem
Interdigitalwandler eines der Ein-Tor-Oberflächenwellenelemente, unterscheidet
sich die Polarisationsrichtung in zumindest einem Spaltabschnitt
zwischen Elektrodenfingern von der Polarisations richtung in anderen
Spaltabschnitten zwischen den Elektrodenfingern.
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Gemäß dieser
einzigartigen Strukturen und Anordnungen ist bei dem zumindest einen
Oberflächenwellenelement
der Frequenzabstand zwischen einer Resonanzfrequenz und einer Antiresonanzfrequenz
verschmälert.
Folglich ist die Steilheit in der Nähe des Durchlaßbands des
Oberflächenwellenfilters
stark erhöht.
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Wenn
sich beispielsweise bei einem Parallel-Arm-Resonator die Polarisationsrichtung
in zumindest einem Spaltabschnitt von der Polarisationsrichtung
in einem anderen Spaltabschnitt unterscheidet, wie es oben beschrieben
wurde, nimmt die Resonanzfrequenz in dem Parallel-Arm-Resonator
und die Steilheit der Filtercharakteristik auf der Seite einer tieferen
Frequenz des Durchlaßbands
zu. Wenn sich die Polarisationsrichtung in den Spaltabschnitten voneinander
unterscheidet, ist bei einem Reihe-Arm-Resonator die Steilheit auf
der Seite einer höheren
Frequenz des Durchlaßbands
eines Oberflächenwellenfilters
stark erhöht,
wie es oben beschrieben wurde.
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Bei
den Filtern kann ein Abschnitt der Elektrodenfinger des zumindest
einen Interdigitalwandlers entnommen sein. Alternativ kann sich
bei zumindest einem der Interdigitalwandler die Ausbreitungsrichtung
einer Oberflächenwelle
von der Ausbreitungsrichtung anderer Interdigitalwandler unterscheiden.
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In
diesem Fall ist der elektromechanische Kopplungskoeffizient des
Oberflächenwellenbauelements
durch den Ausdünnungsprozeß wesentlich
erniedrigt, wodurch die Steilheit der Filtercharakteristika wirksamer
erhöht
werden kann.
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Das
Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements, das
zumindest ein piezoelektrisches Substrat und zumindest einen Interdigitalwandler
umfaßt,
der auf dem Sub strat vorgesehen ist, wobei derselbe eine Mehrzahl
von Elektrodenfingern aufweist, umfaßt bevorzugt die Schritte eines Bildens
mindestens eines der Interdigitalwandler auf dem piezoelektrischen
Substrat und ein Anlegen einer Gleichspannung, so daß an dem
zumindest einen Interdigitalwandler eine elektrische Feldstärke von etwa
50 V/μm
oder mehr anliegt. Für
den Fall kann eine Frequenzeinstellung ferner durch ein Anlegen der
Gleichspannung durchgeführt
werden.
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Bevorzugte
Ausführungsbeispiele
der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend unter Bezugnahme auf
die beiliegenden Zeichnungen näher
erläutert.
Es zeigen:
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1 eine Draufsicht, die den
Aufbau von Elektroden in einem Ein-Tor-Oberflächenwellenresonator zeigt,
der bei einem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung eingebaut ist;
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2 eine schematische Draufsicht,
um die Polarisationsrichtung in dem Spalt zwischen Elektrodenfingern
darzustellen, wenn bei einem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung eine Gleichspannung an einem Interdigitalwandler
anliegt;
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3 das Verhältnis zwischen
einer elektrischen Feldstärke
und einem elektromechanischen Kopplungskoeffizienten, wenn eine
Gleichspannung an einen Interdigitalwandler anliegt ist;
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4 einen Interdigitalwandler,
bei dem Elektrodenfinger entnommen sind;
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5 einen Oberflächenwellenfilter,
bei dem sich die Ausbreitungsrichtung von einigen Resonatoren von
anderen unterscheidet;
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6 eine Draufsicht eines
Oberflächenwellenfilters
des ersten bevorzugten Ausführungsbeispiels
der vorliegenden Erfindung;
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7 eine typische vergrößerte Draufsicht, die
den Aufbau von Elektroden bei einem Interdigitalwandler eines Parallel-Arm-Resonators
zeigt, der bei dem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung verwendet wird;
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8 eine Draufsicht, um den
Zustand darzustellen, bei dem ein Oberflächenwellenfilterelement des
ersten bevorzugten Ausführungsbeispiels in
einem Gehäuse
befestigt ist;
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9 die Impedanzfrequenzcharakteristik (durchgezogene
Linie), bevor bei einem Oberflächerwellenfilter
des ersten bevorzugten Ausführungsbeispiels
der vorliegenden Erfindung eine Gleichspannung angelegt wird, und
die Impedanzfrequenzcharakteristik (gestrichelte Linie), nachdem
eine Gleichspannung an den Parallel-Arm-Resonator angelegt wurde;
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10 die Dämpfungswert-Frequenz-Charakteristik
(gestrichelte Linie) eines Oberflächenwellenbauelements des ersten
bevorzugten Ausführungsbeispiels
und die Dämpfungswert-Frequenz-Charakteristik
(durchgezogene Linie) eines Oberflächenwellenfilters, der auf
die gleiche Art und Weise, außer
dass keine Gleichspannung angelegt wurde, aufgebaut ist, wobei derselbe
für einen
Vergleich vorbereitet wurde;
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11 eine Draufsicht, um ein
Oberflächenwellenfilter
gemäß einem
zweiten bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung darzustellen;
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12 eine typische vergrößerte Draufsicht, um
das Verfahren zum Anlegen einer Gleichspannung an einen Reihe-Arm-Resonator
bei dem zweiten bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung darzustellen;
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13 die Dämpfungswert-Frequenz-Charakteristik
(gestrichelte Linie) eines Oberflächenwellenfilters des ersten
bevorzugten Ausführungsbeispiels
und die Dämpfungswert-Frequenz-Charakteristik
(durchgezogene Linie) eines Oberflächenwellenbauelements, das
auf die gleiche Art und Weise, außer daß keine Gleichspannung an einen
Reihe-Arm-Resonator
angelegt wurde, aufgebaut ist, wobei derselbe für einen Vergleich vorbereitet
wurde;
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14 einen schematischen Aufbau,
der ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel
eines Antennenduplexers zeigt, der durch eine Verwendung eines Oberflächenwellenfilters
gemäß weiterer
bevorzugter Ausführungsbeispiele
der vorliegenden Erfindung aufgebaut ist;
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15 ein schematisches Blockdiagramm einer
Kommunikationsvorrichtung, die unter Verwendung eines Antennenduplexers
gemäß einem
bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung aufgebaut ist;
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16 die Impedanzfrequenzcharakteristik eines
Resonators bei einem herkömmlichen
Oberflächenwellenfilter;
und
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17 die Dämpfungsfrequenzcharakteristik
eines Oberflächenwellenfilters
eines herkömmlichen
Aufbaus einer Schaltung eines Leiter-Typs.
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Die
Erfinder der vorliegenden Erfindung entdeckten, daß, wenn
eine Gleichspannung über
ein Paar von kammförmigen
Elektroden, die einen Interdigitalwandler bilden, angelegt wird,
so daß eine elektrische
Feldstärke
von etwa 50 V/μm
oder mehr zwischen denselben anliegt, der elektromechanische Kopplungskoeffizient
wesentlich verändert
werden kann. Gemäß diesem
Verfahren kann ein Oberflächenwellenfilter,
das eine kleine Größe aufweist,
realisiert werden, ohne zuzulassen, daß sich der Verlust erhöht. Dieses
Prinzip ist unter Bezugnahme auf die 1 und 2 dargestellt.
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1 zeigt eine Basisstruktur
eines Oberflächenwellenresonators 1,
der bei bevorzugten Ausführungsbeispielen
der vorliegenden Erfindung verwendet wird. Der Oberflächenwellenresonator 1 umfaßt vorzugsweise
einen Interdigitalwandler 2 und ein Paar von Reflektoren 3,
die auf einem piezoelektrischen Substrat 5 angeordnet sind.
Das Paar von Reflektoren ist auf beiden Seiten des Interdigitalwandlers 2 angeordnet.
Das Paar von Reflektoren 3 kann abhängig von den erforderlichen
Resonatorcharakteristika weggelassen werden. Der Interdigitalwandler umfaßt eine
Mehrzahl von Elektrodenfingern 6. Die Mehrzahl von Elektrodenfingern 6 sind
abwechselnd mit Sammelschienen (bus bars) 7a und 7b verbunden,
wodurch jeweils kammförmige
Elektroden 2A und 2B gebildet sind, die zueinander
interdigital angeordnet sind. Anschlußflächen 4a und 4b sind
mit den Sammelschienen 7a und 7b verbunden.
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Wenn
bei dem oben beschriebenen Oberflächenwellenresonator 1 zwischen
den Elektrodenflächen 4a und 4b eine
Gleichspannung anliegt, indem Prüfköpfe in eine
Berührung
mit den Elektrodenflächen 4a und 4b gebracht
werden, liegt an den Spalten zwischen Elektrodenfingern 6 des
Interdigitalwandlers 2 eine Gleichspannung an, wodurch
sich die Polarisationsrichtung des Substrats bei den Spaltbereichen
verändert,
wie es in 2 gezeigt
ist.
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In
dem Fall, bei dem das Substrat 5 ein X-Ausbreitungs-Substrat
mit einem 36°-Y-Schnitt
aus LiTaO3 ist, ist eine Komponente der
Polarisationsrichtung auf der Oberfläche des Substrats im wesentlichen
senkrecht zu der Ausbreitungsrichtung einer Oberflächenwelle
und im wesentlichen parallel zu der Ausdehnungsrichtung der Elektrodenfinger 6,
wie es durch einen Pfeil P0 angezeigt ist.
Die Polarisationsrichtung ist über
das gesamte X-Ausbreitungs-Substrat 5 mit einem 36°-Y-Schnitt
aus LiTaO3 gleich.
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Wenn,
nachdem der Interdigitalwandler 2 auf dem Substrat 5 gebildet
wurde, zwischen den kammförmigen
Elektroden 2A und 2B eine hohe elektrische Feldstärke von
etwa 50 V/μm
oder mehr anliegt, ändert
sich die Polarisationsrichtung bei den Spaltbereichen zwischen den
Elektrodenfingern 6, derart, daß die Polarisationsrichtung
bei den Spaltbereichen zwischen Elektrodenfingern 6 abwechselnd
von der ursprünglichen
Polarisationsrichtung P0 abweichen, wie
es durch Pfeile P1 und P2 angezeigt
ist. Das heißt, daß sich die
Polarisationsrichtung des piezoelektrischen Substrats 5 in
den Spaltbereichen zwischen Elektrodenfingern 6 von derjenigen
in dem Bereich unterscheiden, bei dem der Interdigitalwandler 2 nicht
vorgesehen ist. Wenn die Polarisationsrichtung auf eine solche Art
und Weise abweicht, daß sich
die piezoelektrische Konstante und die elastische Konstante verändern, ändert sich
auch der elektromechanische Kopplungskoeffizient.
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Die
Beziehung zwischen der elektrischen Feldstärke, die an einen Interdigitalwandler
angelegt ist, und dem elektromechanischen Kopplungskoeffizient ist
in 3 gezeigt.
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Die
elektrische Feldstärke
ist in der angelegten Spannung/Spaltlänge des Interdigitalwandlers gezeigt.
Wie es in 3 klar zu
sehen ist, verändert sich
der elektromechanische Kopplungskoeffizient kaum, wenn die elektrische
Feldstärke
etwa 50 V/μm oder
weniger beträgt.
Folglich ist es verständlich,
daß die
elektrische Feldstärke
von etwa 50 V/μm
oder mehr erforderlich ist, um den elektromechanischen Kopplungskoeffizienten
zu steuern.
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Ferner
ist die elektrische Feldstärke
von etwa 300 V/μm
oder mehr zu hoch, wobei die Möglichkeit
existiert, daß der
Interdigitalwandler durchschlagen kann. Daher ist es in der Praxis
wünschenswert,
die elektrische Feldstärke
auf etwa 300 V/μm oder
weniger einzustellen, wobei jedoch die obere Grenze nicht bestimmt
definiert ist, da sich die Wahrscheinlichkeit eines Durchschlags
aufgrund des Aufbaus der Interdigitalwandler und des Isolationswiderstands
verändert.
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Es
sei bemerkt, daß die
japanische ungeprüfte
Patentanmeldung Nr. 5-75378 offenbart, daß, wenn ein piezoelektrisches
Substrat, wie beispielsweise Quarz oder ein anderes geeignetes Material, verwendet
wird, durch ein Anlegen einer Gleichspannung an einen Interdigitalwandler
eine Störung
bzw. Verzerrung in dem piezoelektrischen Substrat verursacht wird,
wobei sich die piezoelektrische Konstante und andere Charakteristika
verändern.
Bei diesem beschriebenen bekannten Verfahren kehrt die piezoelektrische
Konstante jedoch auf den ursprünglichen Wert
zurück,
wenn das Anlegen einer Gleichspannung beendet wird. Bei dieser bekannten
Druckschrift ist durch das Verwenden der Veränderung einer Gleichspannung
durch diese Wirkung ein Oszillator eines spannungsgesteuerten Typs
aufgebaut.
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Andererseits
verändert
sich in dem Fall eines Substrats aus LiTaO3 die
Polarisationsrichtung durch ein Anlegen einer Spannung, wie es obig
beschrieben ist, wobei sich die Eigenschaften selbst ändern und
nicht auf den ursprünglichen
Wert zurückkehren. Das
heißt;
daß, sobald
ein großes
Gleichspannungsfeld anliegt, wie es oben beschrieben ist, die veränderten
Eigenschaften des Materials verbleiben wie sie sind, selbst wenn
das Anlegen der Spannung beendet wurde. Folglich kann durch ein
Anlegen einer vorbestimmten Spannung die Konstante eines piezoelektrischen
Substratmaterials frei verändert
werden, wobei es folglich möglich
ist, die Steilheit der Filtercharakteristika zu erhöhen und
die Bandbreite zu steuern.
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Wenn
eine angelegte Spannung zu hoch ist, kann ein Interdigitalwandler
selbst durchschlagen, wobei es folglich schwierig ist, den elektromechanischen
Kopplungskoeffizienten über
eine bestimmte Begrenzung hinaus zu reduzieren, wie es oben beschrieben
wurde. In diesem Fall kann eine viel vorteilhaftere Wirkung erhalten
werden, indem der elektromagnetische Kopplungskoeffizient durch
andere Verfahren, wie beispielsweise ein Verfahren einer Entnahme
von Gewicht (method of withdrawal weighting), ein Verfahren, bei
dem die Ausbreitungsrichtung einer Oberflächenwelle unterschiedlich gemacht wird,
oder andere geeignete Verfahren, auf ein bestimmtes Ausmaß reduziert
wird.
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Spezifischer
ist in 4 ein Beispiel
eines Interdigitalwandlers 101 gezeigt, bei dem ein Verfahren
einer Entnahme von Gewicht (Weglasswichtung) angewendet wird. Der
Interdigitalwandler 101 umfaßt eine Mehrzahl von Elektrodenfingern 102,
die, mit der Ausnahme der Elektrodenfinger 102a und 102b,
abwechselnd mit Sammelschienen 103a und 103b von einem
Paar von kammförmigen
Elektroden 104a und 104b verbunden sind. Die Elektrodenfinger 102a und 102b,
die normalerweise mit der Sammelschiene 103b verbunden
sein sollen, sind jedoch von der Sammelschiene 103 elektrisch
gelöst,
wodurch die Elektrodenfinger 102a und 102b entnommen
sind. Die Elektrodenfinger 102a und 102b sind
mit der Sammelschiene 103a als Scheinelektroden (Dummy-Elektroden)
verbunden, wobei dies nicht notwendig ist. Durch das Verfahren einer
Entnahme von Gewicht weist ein Oberflächenwellenresonator, der den Interdigitalwandler 101 umfaßt, einen
kleineren elektromechanischen Kopplungskoeffizienten auf.
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5 zeigt ein Beispiel eines
Verfahrens, bei dem die Ausbreitungsrichtung einer Oberflächenwelle
unterschiedlich gemacht wird. Ein Oberflächenwellenfilter 110 umfaßt auf einem
piezoelektrischen Substrat 113 Reihe-Arm-Resonatoren 111a und 111b und
Parallel-Arm-Resonatoren 112a und 112b. Die Reihe-Arm-Resonatoren 111a und 111b sind
auf dem piezoelektrischen Substrat derart angeordnet, daß eine Richtung,
in die sich die Oberflächenwelle
ausbreitet, im wesentlichen parallel mit der x-Richtung ausgerichtet
ist, wie es in 5 gezeigt
ist. Andererseits sind die Parallel-Arm-Resonatoren 112a und 112b auf
dem piezoelektrischen Substrat derart angeordnet, daß eine Richtung,
in die sich die Oberflächenwelle
ausbreitet, die x-Richtung schneidet. Folglich unterscheiden sich
die elektromechanischen Kopplungskoeffizienten der Parallel-Arm-Resonatoren 112a und 112b von
denjenigen der Reihe-Arm-Resonatoren 111a und 111b.
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Unter
Bezugnahme auf die Zeichnungen werden bevorzugte Ausführungsbeispiele
der vorliegenden Erfindung hierin nachfolgend detaillierter beschrieben.
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6 stellt eine typische Draufsicht
dar, die ein Oberflächenwellenfilter
als ein Oberflächenwellenbauelement
gemäß einem
ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung zeigt.
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Bei
dem Oberflächenwellenbauelement
des momentan bevorzugten Ausführungsbeispiels
sind auf einem X-Ausbreitungs-Substrat 10 mit einem 36°-Y-Schnitt
aus LiTaO3 zwei Reihe-Arm-Resonatoren 11a und 11b,
zwei Parallel-Arm-Resonatoren 12a und 12b, Verdrahtungselektroden 13a und 13b und Elektrodenanschlußflächen 14a bis 14e durch
eine Photolithographie und ein Ätzen
oder andere geeignete Prozesse gebildet. Als ein Elektrodenmaterial zum
Bilden dieser Elemente wird vorzugsweise Aluminium verwendet, wobei
jedoch dieselben unter Verwendung eines geeigneten Metalls aufgebaut sein
können.
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Jeder
der obigen Reihe-Arm-Resonatoren 11a und 11b und
Parallel-Arm-Resonatoren 12a und 12b stellt bevorzugt
einen Ein-Tor-Oberflächenwellenresonator
dar, bei dem an beiden Seiten in der Oberflächenwellenausbreitungsrichtung
eines Interdigitalwandlers Reflektoren angeordnet sind. Ferner ist
die Verdrahtungselektrode 13a mit der Elektrodenanschlußfläche 14a,
dem Reihe-Arm-Resonator 11a und dem Parallel-Arm-Resonator 12a verbunden. Der
Endabschnitt des Parallel-Arm-Resonators 12a, der der Seite
gegenüber
liegt, die mit der Verdrahtungselektrode 13a elektrisch
verbunden ist, ist mit der Elektrodenanschlußfläche 14d verbunden.
Ferner ist die Verdrahtungselektrode 13b mit dem Endabschnitt
des Reihe-Arm-Resonators 11a, der der Seite gegenüber liegt,
die mit der Verdrahtungselektrode 13a verbunden ist, dem
Reihe-Arm-Resonator 14c, dem Parallel-Arm-Resonator 12b und
der Elektrodenanschlußfläche 14b verbunden.
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Der
Endabschnitt des Reihe-Arm-Resonators 11b, der der Seite
gegenüber
liegt, die mit der Verdrahtungselektrode 13b verbunden
ist, ist mit der Elektrodenanschlußfläche 14c verbunden.
Auf die gleiche Art und Weise ist der Endabschnitt des Parallel-Arm-Resonators 12b,
der der Seite gegenüber liegt,
die mit der Verdrahtungselektrode 13b verbunden ist, mit
der Elektrodenanschlußfläche 14e verbunden.
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Bei
dem Interdigitalwandler des Reihe-Arm-Resonators 11a beträgt die Kreuzbreite
etwa 40 μm,
eine Anzahl von Paaren von Elektrodenfingern beträgt 90, eine
Anzahl von Elektrodenfingern bei dem Reflektor beträgt 100,
und ein Abstand der Elektrodenfinger bei dem Interdigitalwandler
und der Elektrodenfinger des Reflektors beträgt etwa 2,05 μm (die Wellenlänge der
Oberflächenwelle
beträgt
etwa 4,1 μm).
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Die
Kreuzbreite der Elektrodenfinger des Interdigitalwandlers des Reihe-Arm-Resonators 11b beträgt etwa
80 μm, eine
Anzahl von Paaren von Elektrodenfingern beträgt etwa 90, eine Anzahl von Elektrodenfingern
bei dem Reflektor beträgt
100, und ein Abstand der Elektrodenfinger bei dem Interdigitalwandler
und der Elektrodenfinger der Reflektoren beträgt etwa 2,05 μm (die Wellenlänge der
Oberflächenwelle
beträgt
etwa 4,1 μm).
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Die
Kreuzbreite des Interdigitalwandlers des Parallel-Arm-Resonators 12a beträgt etwa
80 μm, eine
Anzahl von Paaren von Elektrodenfingern beträgt 60, eine Anzahl von Elektrodenfingern
eines Reflektors beträgt
100, und ein Abstand der Elektrodenfinger bei dem Interdigitalwandler
und den Reflektoren beträgt
etwa 2,15 μm
(die Wellenlänge
der Oberflächenwelle
beträgt
etwa 4,3 μm).
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Die
Kreuzbreite des Interdigitalwandlers des Parallel-Arm-Resonators 12b beträgt etwa
120 μm, eine
Anzahl von Paaren von Elektrodenfingern beträgt 90, eine Anzahl von Elektrodenfingern
von einem Reflektor beträgt
100, und ein Abstand der Elektrodenfinger bei dem Interdigitalwandler
und den Reflektoren beträgt
etwa 2,15 μm
(die Wellenlänge
der Oberflächenwelle
beträgt
etwa 4,3 μm).
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Ferner
sind in 4 die Resonatoren
schematisch dargestellt, wobei anzumerken ist, daß eine Anzahl
von Paaren von Elektrodenfingern und sich das Verhältnis zwischen
den Kreuzbreiten tatsächlich von
den Zeichnungen unterscheidet.
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Nachdem
jede der obigen Elektroden gebildet wurde, wird zwischen den Elektrodenanschlußflächen 14a und 14d und
zwi schen den Elektrodenanschlußflächen 14b und 14e eine
Gleichspannung von etwa 180 V angelegt, wodurch eine Spannung an beiden
Parallel-Arm-Resonatoren 12a und 12b anliegt.
In 7 ist das Verfahren,
bei dem eine Gleichspannung an den Interdigitalwandler des Parallel-Arm-Resonators 12a angelegt
wird, schematisch dargestellt. Ferner sind in 5 die Reflektoren weggelassen.
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Die
Breite E der Elektrodenfinger beträgt etwa 1,15 μm, während die
Spaltbreite F zwischen benachbarten Elektrodenfingern etwa 1,00 μm betragen.
Ferner ist die Spaltbreite als die Abmessung des Spalts entlang
der Ausbreitungsrichtung der Oberflächenwelle definiert. Folglich
liegt zwischen benachbarten Elektrodenfingern eine elektrische Feldstärke von
etwa 180 V/μm
an. Wenn ferner die obige Spannung anliegt, kann die Spannung allmählich von
einer Spannung erhöht
werden, bei der der Abschnitt des Interdigitalwandlers nicht durchschlägt, wobei
die elektrische Feldstärke
beispielsweise von etwa 50 V/μm
allmählich
erhöht
werden kann.
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Danach
wird das obige piezoelektrische Substrat 10 in einem Keramikgehäuse 20,
das in 8 gezeigt ist,
befestigt. Das Keramikgehäuse 20 weist
in der Mitte einen hohlen Abschnitt 21 auf, wobei das obig
beschriebene Oberflächenwellenfilterelement
an dem hohlen Abschnitt befestigt wird. Um einen hohlen Abschnitt 21 ist
ein Paar von vorstehenden Abschnitten vorgesehen, wobei auf der
oberen Oberfläche
der vorstehenden Abschnitte Elektrodenanschlußflächen 21a, 21b, 22a und 22b vorgesehen sind.
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Die
Elektrodenanschlußfläche 21a und
die Elektrodenanschlußfläche 14a des
Oberflächenwellenfilterelements
sind über
einen verbundenen bzw. gebondeten Draht 23a elektrisch
verbunden. Ferner ist die Elektrodenanschlußfläche 21b über einen
verbundenen Draht 23b mit der Elektrodenanschlußfläche 14e des
Oberflächenwellenfilterelements
elektrisch verbunden. Ferner ist die Elektrodenanschlußfläche 22a über einen
verbundenen Draht 23c mit der Elektrodenanschlußfläche 14d des
Oberflächenwellenfilterelements
elektrisch verbunden. Darüberhinaus
ist die Elektrodenanschlußfläche 22b über einen verbundenen
Draht 23d mit der Elektrodenanschlußfläche 14c des Oberflächenwellenfilterelements
elektrisch verbunden.
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Bei
dem obig beschriebenen Keramikgehäuse bilden die Elektrodenanschlußflächen 21a und 22b heiße Anschlüsse, während die
Elektrodenanschlußflächen 21b und 22a Masseanschlüsse bilden.
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Durch
ein Verbinden eines plattenartigen Materials zum Abdecken des hohlen
Abschnitts des Keramikgehäuses 20 ist
ein Oberflächenwellenfilterbauelement
hergestellt, das ein Oberflächenwellenfilterelement
umfaßt.
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Bei
dem momentan bevorzugten Ausführungsbeispiel
wird, bevor das Oberflächenwellenfilterelement
in dem Keramikgehäuse 20 befestigt
wird, eine Gleichspannung von etwa 180 V an den Parallel-Arm-Resonator 12a angelegt,
wie es oben beschrieben wurde, wobei der elektromechanische Kopplungskoeffizient
des Parallel-Arm-Resonators 12a durch das Anlegen der Spannung
wesentlich erniedrigt werden kann, wodurch sich der Abstand zwischen
einer Resonanzfrequenz und einer Antiresonanzfrequenz verschmälert. Dies
ist unter Bezugnahme auf die 7 und 8 beschrieben.
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9 zeigt die Impedanzcharakteristik
von lediglich dem Parallel-Arm-Resonator 12a, der in 4 gezeigt ist, wobei die
durchgezogene Linie die Charakteristik zeigt, bevor die obige Spannung
anliegt, während
die gestrichelte Linie die Charakteristik zeigt, nachdem die Spannung
angelegt wurde.
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Wie
es klar zu sehen ist, wenn die Charakteristika der durchgezogenen
Linie und der gestrichelten Linie verglichen werden, nimmt die Resonanzfrequenz
durch das Anlegen der Gleichspannung zu, obwohl sich die Position
der Antiresonanzfrequenz nicht verschiebt, wobei es verständlich ist,
daß sich aufgrund
dessen der Frequenzabstand zwischen der Resonanzfrequenz und der
Antiresonanzfrequenz verschmälert.
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Ferner
ist die Frequenzcharakteristik des Dämpfungswerts des Oberflächenwellenfilterbauelements,
das wie oben beschrieben aufgebaut ist, in 10 durch eine gestrichelte Linie gezeigt.
Darüberhinaus
ist die Frequenzcharakteristik des Dämpfungswerts des Oberflächenwellenfilterbauelements, das
auf die gleiche Art und Weise, außer daß die obige Gleichspannung
nicht angelegt wurde, aufgebaut ist, in 10 durch eine durchgezogene Linie gezeigt.
Ferner stellen die gestrichelte Linie I und die durchgezogene Linie
J in 10 Linien dar,
bei denen die Charakteristika, die durch die gestrichelte Linie
G und die durchgezogene Linie H gezeigt sind, jeweils vergrößert sind.
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Wie
es klar zu sehen ist, wenn die Charakteristika, die durch die durchgezogene
und gestrichelte Linie in 8 gezeigt
sind, verglichen werden, ist es, da eine Gleichspannung an den Parallel-Arm-Resonator
angelegt ist und die Resonanzfrequenz des Parallel-Arm-Resonators 12a als
ein Ergebnis der Abnahme des elektromechanischen Kopplungskoeffizienten
erhöht
ist, wie es obig beschrieben wurde, zu verstehen, daß bei der
Frequenzcharakteristik des gesamten Filters die Steilheit auf der
Seite einer tieferen Frequenz des Durchlaßbands stark erhöht ist. Gemäß 1 ergibt sich dies aufgrund
dessen, daß zwischen
Elektrodenfingern eine Spannung anliegt und sich die Spalten zwischen
Elektrodenfingern in der Ausbreitungsrichtung der Oberflächenwelle
voneinander unterscheiden.
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Ferner
wurde bei dem oben beschriebenen bevorzugten Ausführungsbeispiel
vorzugsweise ein Substrat mit einem 36°-Y-Schnitt aus LiTaO3 als
ein piezoelektrisches Substrat verwendet, wobei, selbst wenn ein
Substrat mit einem Y-Schnitt von 36° bis 46° aus LiTaO3 verwendet
wird, das einen ande ren Schnittwinkel aufweist, die gleiche Wirkung
erreicht werden kann. Ferner wurden bei dem obigen bevorzugten Ausführungsbeispiel
die elektrischen Verbindungen zwischen dem Keramikgehäuse und
dem Oberflächenwellenfilterelement
durch eine Verwendung der verbundenen Drähte hergestellt, wobei jedoch
die Elektrodenanschlußflächen des
Gehäuses und
die Elektrodenanschlußflächen des
Oberflächenwellenfilterelements
durch andere elektrische Verbindungs-Elemente und -Verfahren, wie
beispielsweise ein Höckerverbinden
(Bump-Bonding), elektrisch
verbunden werden können.
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Darüber hinaus
kann durch das Verwenden des Unterschieds der Charakteristika vor
und nach der Anwendung einer Gleichspannung ferner die Frequenzeinstellung
durchgeführt
werden, wie es obig beschrieben wurde. Bevor die Spannung angelegt wird,
wird in diesem Fall die elektrische Charakteristik des Oberflächenwellenfilterelements,
das einer Aufbau einer Schaltung eines Leiter-Typs aufweist, gemessen,
indem Prüfstifte
oder andere geeignete Elemente verwendet werden. Durch ein Verändern der angelegten
Spannung in dem Bereich von etwa 50 V/μm bis etwa 300 V/μm kann eine
gewünschte
Frequenzcharakteristik erhalten werden.
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Da
sich jedoch die Frequenz auf der Seite einer höheren Frequenz des Durchlaßbands nicht ändert, ist
es wünschenswert,
im voraus ein Durchlaßband
mit einer geringeren Breite zu entwerfen.
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Bei
dem momentan bevorzugten Ausführungsbeispiel
wurde die Gleichspannung an das Oberflächenwellenfilterelement angelegt,
bevor das Element in dem Keramikgehäuse befestigt wird, jedoch
kann die Gleichspannung auch an das Oberflächenwellenfilterelement angelegt
werden kann, nachdem das Element in dem Keramikgehäuse befestigt
wurde. Da es jedoch schwierig ist, an einen bestimmten Resonator
auf dem piezoelektrischen Substrat 10 eine Spannung selektiv
anzulegen, ist es wünschenswert,
im voraus vorherzusagen, welche Spannung an jeden Resonator angelegt
wird, und die Elektroden vorher zu entwerfen, so daß dieselben nach
dem Anlagen der Spannung eine gewünschte Charakteristik erhalten.
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Wenn
ferner die Spannung an allen Resonatoren anliegt, fließt ein Überschußstrom durch
außergewöhnliche
Resonatoren, so daß dieselben
zerstört werden.
Folglich kann durch das Anlegen der obigen Spannung ferner ein Bereinigungseffekt
erwartet werden.
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11 stellt eine typische
Draufsicht dar, die ein Oberflächenwellenfilter
als ein Oberflächenwellenbauelement
gemäß einem
zweiten bevorzugten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung zeigt.
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Bei
dem Oberflächenwellenbauelement
des momentan bevorzugten Ausführungsbeispiels
sind auf einem X-Ausbreitungs-Substrat 30 mit einem 46°-Y-Schnitt
aus LiTaO3 zwei Reihe-Arm-Resonatoren 31a und 31b,
zwei Parallel-Arm-Resonatoren 32a und 32b, Verdrahtungselektroden 13a und 13b und
Elektrodenanschlußflächen 14a bis 14e vorzugsweise
durch eine Photolithographie und einen Ätzvorgang gebildet. Ein Elektrodenmaterial
zum Bilden dieser Elemente weist vorzugsweise Aluminium auf, wobei
dieselben jedoch unter Verwendung eines geeigneten Metalls aufgebaut
werden können.
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Jeder
der Reihe-Arm-Resonatoren 31a und 31b und Parallel-Arm-Resonatoren 32a und 32b stellt
vorzugsweise einen Ein-Tor-Oberflächenwellenresonator
dar, bei dem Reflektoren in der Oberflächenwellenausbreitungsrichtung
an beiden Seiten eines Interdigitalwandlers angeordnet sind. Ferner
ist die Verdrahtungselektrode 13a mit der Elektrodenanschlußfläche 14a,
dem Reihe-Arm-Resonator 31a und dem Parallel-Arm-Resonator 32a verbunden. Der
Endabschnitt des Parallel-Arm-Resonators 32a, der
der Seite gegenüber
liegt, die mit der Verdrahtungselektrode 13a elektrisch
verbunden ist, ist mit der Elektrodenanschlußfläche 14d verbunden.
Ferner ist die Verdrahtungselektrode 13b mit dem Endabschnitt
des Reihe-Arm-Resonators 31a,
der der Seite gegenüber
liegt, die mit der Verdrahtungselektrode 13a verbunden
ist, dem Reihe-Arm-Resonator 34c,
dem Parallel-Arm-Resonator 32b und der Elektrodenanschlußfläche 14b verbunden.
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Der
Endabschnitt des Reihe-Arm-Resonators 31b, der der Seite
gegenüber
liegt, die mit der Verdrahtungselektrode 13b verbunden
ist, ist mit der Elektrodenanschlußfläche 14c verbunden.
Auf die gleiche Art und Weise ist der Endabschnitt des Parallel-Arm-Resonators 32b,
der der Seite gegenüber liegt,
die mit der Verdrahtungselektrode 13b verbunden ist, mit
der Elektrodenanschlußfläche 14e verbunden.
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Bei
dem Interdigitalwandler des Reihe-Arm-Resonators 31a beträgt die Kreuzbreite
etwa 20 μm,
eine Anzahl von Paaren von Elektrodenfingern beträgt 90, eine
Anzahl von Elektrodenfingern bei dem Reflektor beträgt 100,
und ein Abstand der Elektrodenfinger bei dem Interdigitalwandler
und der Elektrodenfinger des Reflektors beträgt etwa 1,04 μm (die Wellenlänge der
Oberflächenwelle
beträgt
etwa 2,08 μm).
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Die
Kreuzbreite der Elektrodenfinger des Interdigitalwandlers des Reihe-Arm-Resonators 11b beträgt etwa
40 μm, eine
Anzahl von Paaren von Elektrodenfingern beträgt 90, eine Anzahl von Elektrodenfingern
bei den Reflektoren beträgt
100, und ein Abstand der Elektrodenfinger bei dem Interdigitalwandler
und der Elektrodenfinger des Reflektors beträgt etwa 1,04 μm (die Wellenlänge der
Oberflächenwelle
beträgt
etwa 2,08 μm).
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Die
Kreuzbreite der Elektrodenfinger des Interdigitalwandlers des Parallel-Arm-Resonators 12a beträgt etwa
40 μm, eine
Anzahl von Paaren von Elektrodenfingern beträgt 60, eine Anzahl von Elektrodenfingern
bei einem Reflektor beträgt
100 und ein Abstand der Elektrodenfinger bei dem Interdigitalwandler
und der Elektrodenfinger des Reflektors beträgt etwa 1,08 μm (die Wellenlänge der
Oberflächenwelle
beträgt
etwa 2,16 μm).
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Die
Kreuzbreite der Elektrodenfinger des Interdigitalwandlers des Parallel-Arm-Resonators 12b beträgt etwa
60 μm, eine
Anzahl von Paaren von Elektrodenfingern beträgt 90, eine Anzahl von Elektrodenfingern
bei einem Reflektor beträgt
100 und ein Abstand der Elektrodenfinger bei dem Interdigitalwandler
und der Elektrodenfinger des Reflektors beträgt etwa 1,08 μm (die Wellenlänge der
Oberflächenwelle
beträgt
etwa 2,16 μm).
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In 11 ist jeder der Resonatoren
schematisch dargestellt, obwohl sich die Anzahl von Paaren von Elektrodenfingern
und das Verhältnis
zwischen den Kreuzbreiten tatsächlich
von der Zeichnung unterscheiden.
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Nachdem
jede der obigen Elektroden gebildet wurde, wird eine Spannung von
etwa 70 V zwischen die Elektrodenanschlußflächen 14a und 14b und
zwischen die Elektrodenanschlußflächen 14b und 14c angelegt,
wodurch an beiden Reihe-Arm-Resonatoren 31a und 31b eine
Gleichspannung von etwa 70 V anliegt. In 10 ist das Verfahren, bei dem eine Gleichspannung
an den Interdigitalwandler des Reihe-Arm-Resonators 31a angelegt wird,
schematisch dargestellt. Ferner sind in 12 die Reflektoren weggelassen.
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Die
Breite E der Elektrodenfinger beträgt etwa 0,54 μm, während die
Spaltbreite F zwischen benachbarten Fingern etwa 0,5 μm beträgt. Ferner
ist die Spaltbreite als die Abmessung des Spalts entlang der Ausbreitungsrichtung
einer Oberflächenwelle
definiert. Daher liegt zwischen benachbarten Elektrodenfingern eine
elektrische Feldstärke
von etwa 140 V/μm
an. Wenn die obige Spannung anliegt, kann die Spannung allmählich von
einer Spannung, bei der der Abschnitt des Interdigitalwandlers nicht
durchschlägt,
erhöht
werden.
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Nachdem
der obige piezoelektrische Resonator 30 in einem Keramikgehäuse 20,
das in 6 gezeigt ist,
befestigt ist, werden die Elektrodenanschlußflächen 21a, 21b, 22a und 22b mit
den Elektrodenanschlußflächen 14a bis 14e die
gleiche Art und Weise, wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel, verbunden,
wobei durch ein Verbinden eines plattenartigen Materials, in der
Weise daß der
hohle Abschnitt des obigen Keramikgehäuses 20 abgedeckt ist,
ein Oberflächenwellenfilterbauelement
hergestellt ist, das ein Oberflächenwellenfilterelement
umfaßt.
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Bei
dem momentan bevorzugten Ausführungsbeispiel
wird, bevor das Oberflächenwellenfilterelement
in dem Keramikgehäuse 20 befestigt
wird, eine Gleichspannung von etwa 70 V an die Parallel-Arm-Resonatoren
angelegt, wie es oben beschrieben wurde, wobei der elektromechanische Kopplungskoeffizient
des piezoelektrischen Substrats 30 durch das Anlegen der
Spannung stark reduziert werden kann, wodurch sich der Abstand zwischen
einer Resonanzfrequenz und einer Antiresonanzfrequenz verschmälert. Dies
wird unter Bezugnahme 13 beschrieben.
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Die
Frequenzcharakteristik des Dämpfungswerts
des Oberflächenwellenfilterbauelements,
das wie oben beschrieben aufgebaut ist, ist in 13 durch eine gestrichelte Linie gezeigt.
Ferner ist in 13 die
Frequenzcharakteristik des Dämpfungswerts
eines Oberflächenwellenfilterbauelements,
das auf die gleiche Art und Weise, außer daß die obige Gleichspannung
nicht angelegt wurde, aufgebaut ist, durch eine durchgezogene Linie
gezeigt. Darüberhinaus
stellen in 13 die gestrichelte
Linie M und die durchgezogene Linie J Linien dar, bei denen die
Charakteristika, die durch die gestrichelte Linie K bzw. die durchgezogene
Linie L gezeigt sind, vergrößert sind.
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Wie
es klar zu sehen ist, wenn die durch die durchgezogene und gestrichelte
Linie in 13 gezeigten
Charakteristika verglichen werden, ist es, da an dem Reihe-Arm-Resonator
eine Gleichspannung an liegt und die Resonanzfrequenz des Reihe-Arm-Resonators 31a erhöht ist,
wie es vorhergehend beschrieben wurde, zu verstehen, daß bei der Frequenzcha rakteristik
des gesamten Filters die Steilheit auf der Seite einer höheren Frequenz
des Durchlaßbands
zunimmt. Dies ergibt sich aufgrund dessen, daß zwischen Elektrodenfingern
eine Spannung anliegt, wobei sich die Spalten zwischen Elektrodenfingern
in der Ausbreitungsrichtung der Oberflächenwelle voneinander unterscheiden.
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Bei
dem obigen ersten und zweiten bevorzugten Ausführungsbeispiel wurde ein Oberflächenwellenfilterelement
eines Schaltungsaufbaus eines Leiter-Typs, der Parallel-Arm-Resonatoren
und Reihe-Arm-Resonatoren enthält,
als ein Beispiel gegeben und beschrieben, wobei die vorliegende
Erfindung jedoch ferner auf verschiedene Oberflächenwellenbauelemente, die
einen Ein-Tor-Oberflächenwellenresonator
verwenden, beispielsweise Resonatoren, Oberflächenwellenfilter als eine Zusammensetzung
von Filtern eines Resonator-Typs und Ein-Tor-Oberflächenwellenresonatoren,
Filter eines Gitter-Typs, Mehrfach-Moden-Oberflächenwellenresonatorfilter usw.,
angewendet werden kann, wobei durch ein gleichzeitiges Anlegen einer
Gleichspannung zwischen Elektrodenfingern die Verbesserung der Steilheit
und die Frequenzeinstellung von Filtercharakteristika hergestellt
werden kann.
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Wenn
der elektromechanische Kopplungskoeffizient vor und nach dem Anlegen
einer Spannung durch ein Ausdünnen
eines Abschnitts des Interdigitalwandlers und durch ein Verschieben
der Ausbreitungsrichtung einer Oberflächenwelle von einer X-Achse
gemäß herkömmlicher
Verfahren vorhergehend wesentlich reduziert ist, kann eine viel größere Wirkung
der durch bevorzugte Ausführungsbeispiele
der vorliegenden Erfindung erreichten Vorteile erhalten werden.
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Nachfolgend
wird ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel
eines Antennenduplexers, der unter Verwendung eines Oberflächenwellenfilters
gemäß weiterer
bevorzugter Ausführungsbeispiele
der vorliegenden Erfindung aufgebaut ist, unter Bezugnahme auf 14 beschrieben.
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14 stellt ein Schaltungsdiagramm
zum Beschreiben eines Antennenduplexers des momentan bevorzugten
Ausführungsbeispiels
dar. Bei einem Antennenduplexer 70 des momentan bevorzugten
Ausführungsbeispiels
wird ein Paar von Filtern eines Leiter-Typs verwendet, die die gleichen
wie der in 6 gezeigte
Oberflächenwellenfilter
eines Leiter-Typs sind, wobei sich bei denselben die Anzahl von
Stufen von derjenigen des in 6 gezeigten Leiter-Typ-Oberflächenwellenfilters
unterscheidet. Das heißt,
daß die
Eingangsanschlüsse 62 jedes
der Filter 61 eines Leiter-Typs, die gemeinsam verbunden
sind, ein erstes Tor 71 bilden. Andererseits werden die
Ausgangsanschlüsse 63 jedes
der Filter 61 eines Leiter-Typs wie sie sind verwendet
und bilden ein zweites und drittes Tor des Antennenduplexers des
momentan bevorzugten Ausführungsbeispiels.
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Auf
diese Weise kann unter Verwendung eines Paars von Filtern eines
Leiter-Typs 61 und 61 ein Antennenduplexer aufgebaut
werden.
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Unter
Verwendung des obigen Antennenduplexers kann ferner eine Kommunikationsvorrichtung aufgebaut
werden, wobei ein Beispiel einer solchen Kommunikationsvorrichtung
in 15 gezeigt ist.
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Bei
einer Kommunikationsvorrichtung 81 des momentan bevorzugten
Ausführungsbeispiels
sind ein Antennenduplexer 70 und Sende- oder Empfangsschaltungen 82 und 83 vorgesehen.
Ein erstes Tor 71 des Antennenduplexers 70 ist
mit einer Antenne 84 verbunden, während Ausgangsanschlüsse 63, die
ein zweites und drittes Tor bilden, mit den Sende- oder Empfangsschaltungen 82 und 83 verbunden sind.
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Bei
diesem Antennenduplexer 70 ist das Paar von Filtern eines
Leiter-Typs 61 vorzugsweise derart aufgebaut, daß sich das
Durchlaßband
derselben voneinander unterscheidet, wobei aufgrund dessen die Antenne 84 als
eine Sendeantenne und eine Empfangsantenne verwendet werden kann.