CN1800926A - 阵列基片和具有该阵列基片的显示装置 - Google Patents

阵列基片和具有该阵列基片的显示装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种阵列基片和具有该阵列基片的显示装置，像素部包括栅极线、数据线、和电连接至栅极线和数据线的像素。栅极驱动电路电连接至栅极线的第一端部，并向栅极线提供栅极信号。第一检查电路电连接至栅极线的奇数栅极线并且检查连接至奇数栅极线的奇数像素。第二检查电路电连接至栅极线的偶数栅极线并检查连接至偶数栅极线的偶数像素。因此，可以容易地检查像素之间的电缺陷，从而改进对于阵列基片缺陷的可检查性。

Description

阵列基片和具有该阵列基片的显示装置
相关申请的交叉参考
本申请要求于2005年1月6日在韩国知识产权局提交的专利申请第2005-1223号的优先权，其全部内容结合于此作为参考。
技术领域
本发明涉及阵列基片和具有该阵列基片的显示装置。更具体地，本发明涉及具有改进的可检查性的阵列基片和具有该改进的阵列基片的显示装置。
背景技术
通常，液晶显示装置包括：液晶显示面板，用于在显示装置上显示图像；以及驱动单元，用于控制液晶显示面板。液晶显示面板通常包括下基片、面对下基片的上基片、以及夹置于下基片和上基片之间的液晶层。下基片包括多条栅极线、多条数据线、和多个像素。驱动单元包括栅极驱动器和数据驱动器。栅极驱动器电连接至栅极线，以顺序向栅极线输出栅极信号，而数据驱动器电连接至数据线，以顺序向数据线输出数据信号。
近来，一些液晶显示器采用通过薄膜工艺使栅极驱动器与像素基本上同时形成在下基片的端部的结构。然而，当下基片在形成栅极驱动器之后在下基片上被检查时，可能不能准确地检查缺陷的来源和位置。
发明内容
根据一个或多个实施例，本发明提供了一种具有改进的可检查性的阵列基片和一种具有该改进的阵列基片的显示装置。在本发明的一个方面中，阵列基片包括基片件、像素部、栅极驱动电路、第一检查电路、以及第二检查电路。像素部形成于基片件上，并包括多条栅极线、多条数据线、以及电连接至栅极线和数据线上的多个像素。栅极线包括奇数栅极线和偶数栅极线，而像素包括奇数像素和偶数像素。栅极驱动电路电连接至栅极线的第一端部并形成在邻近像素部的基片上，以向栅极线提供栅极信号。第一检查电路电连接至奇数栅极线，并检查连接至奇数栅极线上的奇数像素。第二检查电路电连接至偶数栅极线，并检查连接至偶数栅极线上的偶数像素。
在本发明的另一方面中，显示装置包括阵列基片和耦合至阵列基片的反向基片。阵列基片包括基片件、像素部、栅极驱动电路、第一检查电路、以及第二检查电路。像素部形成于基片件上，并包括多条栅极线、多条数据线、以及电连接至栅极线和数据线上的多个像素。栅极线包括奇数栅极线和偶数栅极线，而像素包括奇数像素和偶数像素。栅极驱动电路电连接至栅极线的第一端部并形成在邻近像素部的基片上，以向栅极线提供栅极信号。第一检查电路电连接至奇数栅极线，并检查连接至奇数栅极线上的奇数像素。第二检查电路电连接至偶数栅极线，并检查连接至偶数栅极线上的偶数像素。
如上所述，第一和第二检查电路分别检查奇数栅极线和偶数栅极线。因此，可以容易地检查像素之间的电缺陷，从而改进阵列基片缺陷的可检查性。
附图说明
通过以下结合附图的详细描述，本发明的上述和其他优点将变得显而易见，在附图中：
图1是示出根据本发明的示例性实施例的阵列基片的平面图；
图2是示出根据图1的示例性实施例的栅极驱动电路、检查电路、以及放电电路的电路图；
图3是根据图2的示例性实施例的检查电路的输入/输出波形图；
图4是示出根据本发明的另一示例性实施例的阵列基片的电路图；
图5是示出根据本发明的另一示例性实施例的阵列基片的平面图；
图6是示出根据图5的示例性实施例的栅极驱动电路、检查电路、以及放电电路的电路图；以及
图7是示出根据本发明的另一示例性实施例的显示装置的平面图。
具体实施方式
以下将参照附图更加全面地描述本发明，附图中示出了本发明的实施例。然而，本发明可以多种不同的形式来实现而并不局限于在此所述的实施例。相反地，提供这些实施例以使本公开更加详尽和全面，并使得本领域的技术人员全面地理解所要求的本发明的范围。在附图中，为了清楚起见，可以扩大层和区域的尺寸和相对尺寸。
应当理解，当提到元件或层“在”、“连接至”、或“耦合至”另一个元件或层上时，是指其直接在、连接至、或耦合至另一个元件，或可以存在居间元件或层。相反，当提到某个元件“直接在”、“直接连接至”、“直接耦合至”另一个元件或层时，则不存在居间元件或层。相同的标号始终指向相同的元件。如在此所使用的，术语“和/或”包括一个或多个相关的列出项目的任意或全部组合。
应当理解，尽管在此可能使用术语第一、第二等来描述不同元件、部件、区域、层、和/或部分，但是这些元件、部件、区域、层、和/或部分不局限于这些术语。这些术语仅仅用于将一个元件、部件、区域、层、或部分同其他区域、层、或部分相区分。因此，在不背离本发明宗旨的情况下，下文所述的第一元件、组件、区域、层、或部分可以称为第二元件、组件、区域、层、或部分。
为了便于说明，在此可能使用诸如“在...之下”、“在...下面”、“下面的”、“在...上面”、以及“上面的”等的空间关系术语，以描述如图中所述的一个元件或机构与另一元件或机构的关系。应当理解，除图中描述的方向外，空间关系术语将包括在使用或操作中的装置的不同方向。例如，如果翻转图中的装置，则被描述为在其他元件或机构“下面”或“之下”的元件将被定向为在其他元件或机构“上面”。因此，示例性术语“在...下面”包括在上面和在下面的方向。装置可以以其它方式定向(旋转90度或在其他方向)并且可被在此使用的空间关系描述相应地解释。
在此使用的术语仅用于描述特定实施例而不是限制本发明。正如在此使用的，单数形式的“一个”、“这个”也包括复数形式，除非文中有其它明确指示。应当进一步理解，当在本申请文件中使用术语“包括”和/或“包含”时，其指的是存在一定的特征、整数、步骤、操作、元件、和/或部件，但是并不排除存在或附加一个或多个其它特征、整数、步骤、操作、元件、部件、和/或其组合。
除非另有限定，在此使用的所有术语(包括技术和科技术语)具有本发明所属领域的普通技术人员通常理解的相同含义。还应当进一步理解，诸如在常用字典定义的那些术语，应当被解释为具有与其在相关技术的上下文中一致的含义，而不应解释为理想的或过度正式的含义，除非文中这样定义了。以下将结合附图详细解释本发明的实施例。
图1是示出根据本发明的示例性实施例的阵列基片的平面图。参照图1，阵列基片101包括基片件110、像素部120、栅极驱动电路130、检查电路140、以及放电电路150。基片110包括显示区域DA、第一外围区域PA1、以及第二外围区域PA2。像素部120形成在基片110的显示区域DA中。像素部120包括第一至第2n栅极线GL1至GL2n、第一至第m数据线DL1至DLm、以及多个像素113。第一至第2n栅极线GL1至GL2n在第一方向D1延伸，并大致彼此平行，并且第一至第m数据线DL1至DLm在第二方向D2延伸，并大致彼此平行。第一至第2n栅极线GL1至GL2n与第一至第m数据线DL1至DLm交叉并与其绝缘。每个像素113包括薄膜晶体管111和像素电极112。在本实施例中，薄膜晶体管111包括电连接至第一栅极线GL1的栅电极、电连接至第一数据线DL1的源电极、以及电连接至像素电极112的漏电极。
第一外围区域PA1邻近第一至第2n栅极线GL1至GL2n的第一端部EP1。栅极驱动电路130和检查电路140形成在第一外围区域PA1中。栅极驱动电路130电连接至第一至第2n栅极线GL1至GL2n的第一端部EP1。栅极驱动电路130在驱动阵列基片101的同时向第一至第2n栅极线GL1至GL2n顺序地输出栅极信号。因此，连接至第一至第2n栅极线GL1至GL2n的像素响应于栅极信号被依次导通。检查电路140电连接至第一至第2n栅极线GL1至GL2n的第一端部EP1。检查电路140在第一至第2n栅极线GL1至GL2n的奇数栅极线GL1至GL2n-1的第一检查操作期间，向奇数栅极线GL1至GL2n-1输出第一驱动电压。因此，电连接至奇数栅极线GL1至GL2n-1的奇数像素在第一检查期间响应于第一驱动电压被导通。检查电路140在第一至第2n栅极线GL1至GL2n的偶数栅极线GL2～GL2n的第二检查时间期间，向偶数栅极线GL2至GL2n输出第二驱动电压。因此，电连接至偶数栅极线GL2至GL2n的偶数像素在第二检查期间响应于第二驱动电压被导通。
第二外围区域PA2邻近第一至第2n栅极线GL1至GL2n的第二端部EP2。放电电路150形成在第二外围区域PA2中。放电电路150在第一检查期间向偶数栅极线GL2至GL2n输出第二驱动电压，从而断开偶数像素。相反地，放电电路150在第二检查期间向奇数栅极线GL1至GL2n-1输出第二驱动电压，从而断开奇数像素。
图2是示出根据图1的示例性实施例的栅极驱动电路、检查电路、以及放电电路的电路图，而图3是根据图2的示例性实施例的检查电路的输入/输出波形图。现在参照图2，栅极驱动电路130包括移位寄存器131、第一信号线SL1、第二信号线SL2、第三信号线SL3、以及第四信号线SL4。移位寄存器131包括串联连接的第一平台SRC1、第二平台SRC2、第三平台SRC3、和第四平台SRC4。第一平台SRC1、第二平台SRC2、第三平台SRC3、和第四平台SRC4是一对一关系，并分别电连接至第一栅极线GL1、第二栅极线GL2、第三栅极线GL3、以及第四栅极线GL4。
第一平台SRC1、第二平台SRC2、第三平台SRC3、和第四平台SRC4的每个均包括输入端IN、输出端OUT、第一时钟端CK1、第二时钟端CK2、功率电压端V1、以及控制端CT。输出端OUT电连接至相应的栅极线。输入端IN电连接至前一平台的输出端OUT，而控制端CT电连接至后续平台的输出端OUT。
第一信号线SL1接收开始信号STV，并电连接至第一平台SRC1的输入端IN。第二信号线SL2和第三信号线SL3分别接收第一时钟CKV和第二时钟CKVB。在本实施例中，第一时钟CKV和第二时钟CKVB具有彼此不同的相位。更特别地，第一时钟CKV和第二时钟CKVB具有彼此相反的相位。第二信号线SL2电连接至第一至第四平台SRC1至SRC4的奇数平台SRC1和SRC3的第一时钟端CK1以及第一至第四平台SRC1至SRC4的偶数平台SRC2和SRC4的第二时钟端CK2。第三信号线SL3电连接至第一至第四平台SRC1至SRC4的奇数平台SRC1和SRC3的第二时钟端CK2和第一至第四平台SRC1至SRC4的偶数平台SRC2和SRC4的第一时钟端CK1。第一驱动电压Von对应于逻辑高电压(例如，Vdd)，同时第二驱动电压Voff对应于逻辑低电压(例如，Vss)。第四信号线SL4接收第二驱动电压Voff并电连接至第一平台SRC1、第二平台SRC2、第三平台SRC3、和第四平台SRC4的功率电压端V1。通过这种方式，栅极驱动电路130包括连接至栅极线的多个平台，并且该多个平台串联连接，以顺序地向相应的栅极线输出栅极信号。
检查电路140包括第一开关装置IT1、第二开关装置IT2、第一检查线IL1、以及第二检查线IL2。第一和第二检查线IL1和IL2大致在垂直方向向第一至第四栅极线GL1至GL4延伸，并与第一至第四栅极线GL1至GL4绝缘。第一开关装置IT1电连接至第一检查线IL1，并且第二开关装置IT2电连接至第二检查线IL2。如图1所示，第一开关装置IT1电连接至第一至第四栅极线GL1至GL4的奇数栅极线GL1和GL3的第一端部EP1。如图1所示，第二开关装置IT2电连接至第一至第四栅极线GL1至GL4的偶数栅极线GL2和GL4的第一端部EP1。更特别地，第一开关装置IT1的栅电极和漏电极电连接至第一检查线IL1，并且第一开关装置IT1的源电极电连接至第一栅极线GL1或第三栅极线GL3。第二开关装置IT2的栅电极和漏电极电连接至第二检查线IL2，并且第二开关装置IT2的源电极电连接至第二栅极线GL2或第四栅极线GL4。
参照图2和图3，在奇数栅极线GL1和GL3被检查的第一检查(周期)FT期间，第一检查线IL1和第二检查线IL2分别接收第一驱动电压Von和第二驱动电压Voff。在第一检查FT期间，第一开关装置IT1(IT1-1)响应于来自第一检查线IL1的第一驱动电压Von，将第一驱动电压Von输出到奇数栅极线GL1和GL3上。因此，连接至奇数栅极线GL1和GL3的奇数像素响应于第一驱动电压Von被导通。如所示出的，第二开关装置IT2在第一检查时间FT期间响应于第二驱动电压Voff被断开。然后，在偶数栅极线GL2和GL4被检查的第二检查(周期)ST期间，第二检查线IL2和第一检查线IL1分别接收第一驱动电压Von和第二驱动电压Voff。在第二检查ST期间，第二开关装置IT2(IT2-1)响应于来自第二检查线IL2的第一驱动电压Von，向偶数栅极线GL2和GL4输出第一驱动电压Von。因此，连接至偶数栅极线GL2和GL4的偶数像素被导通。
在第二检查ST期间，第一开关装置IT1响应于第二驱动电压被断开。放电电路150包括放电线DCL、第一放电开关装置DT1、以及第二放电开关装置DT2。放电线DCL接收第二驱动电压Voff。第一放电开关装置DT1电连接至放电线DCL和奇数栅极线GL1和GL3，并且第二放电开关装置DT2电连接至放电线DCL和偶数栅极线GL2和GL4。更特别地，第一放电开关装置DT1的漏电极电连接至第一栅极线GL1或第三栅极线GL3，第一放电开关装置DT1(DT1-1)的栅电极电连接至下一平台的偶数栅极线GL2和GL4，并且第一放电开关装置DT1的源电极电连接至放电线DCL。
第二放电开关装置DT2的漏电极电连接至第二栅极线GL2或第四栅极线GL4，第二放电开关装置DT2的栅电极电连接至下一平台的奇数栅极线GL1和GL3，并且第二放电开关装置DT2的源电极电连接至放电线DCL。在第一检查FT和第二检查ST期间，向放电线DCL施加第二驱动电压Voff。第二放电开关装置DT2在第一检查FT期间响应于施加到奇数栅极线GL1和GL3的第一驱动电压Von向偶数栅极线GL2和GL4输出第二驱动电压Voff。因此，连接至偶数栅极线GL2和GL4的偶数像素响应于第二驱动电压Voff被断开。响应于施加到偶数栅极线GL2和GL4第一驱动电压Von，第一放电开关装置DT1在第二检查ST期间向奇数栅极线GL1和GL3输出第二驱动电压Voff。因此，连接至奇数栅极线GL1和GL3的奇数像素响应于第二驱动电压Voff被断开。
如上所述，由于在将栅极线GL1、GL2、GL3、和GL4分类为奇数栅极线GL1至GL2n-1和偶数栅极线GL2至GL2n之后，奇数栅极线GL1至GL2n-1和偶数栅极线GL2至GL2n在彼此不同的时间期间被检查，因此可以检查像素112和邻近像素之间的电缺陷。结果，阵列基片101可以被容易地和正确地检查。此外，检查电路140电连接至栅极线GL1至GL2n的第一端部EP1，使得阵列基片101可以减小通过第一端部EP1引起的施加到栅极线GL1至GL2n的静电势或电荷。因此，可以防止由于静电势引起的包括断路或短路的对栅极线GL1至GL2n的损坏。在本实施例中，栅极驱动电路130、检查电路140、以及放电电路150沿着形成在像素部120中的像素113形成。栅极驱动电路130、检查电路140、以及放电电路150包括非晶硅薄膜晶体管作为开关装置。
图4是示出根据本发明的另一示例性实施例的阵列基片的电路图。现在参照图4，根据本发明的另一示例性实施例的阵列基片进一步包括虚拟检查电路160。如图1所示，虚拟检查电路160电连接至栅极线GL1、GL2、GL3、和GL4的第二端部EP2，并包括第三检查线IL3、第四检查线IL4、和第三开关装置IT3。第三检查线IL3和第四检查线IL4大致在垂直方向向第一栅极线GL1、第二栅极线GL2、第三栅极线GL3、和第四栅极线GL4延伸，并与第一栅极线GL1、第二栅极线GL2、第三栅极线GL3、和第四栅极线GL4绝缘。第三开关装置IT3电连接至第三检查线IL3，并且第四开关装置IT4电连接至第四检查线IL4。如图1所示，第三开关装置IT3电连接至第一至第四栅极线GL1至GL4的奇数栅极线GL1和GL3的第二端部EP2。第四开关装置IT4电连接至第一至第四栅极线GL1至GL4的偶数栅极线GL2和GL4的第二端部EP2。更特别地，第三开关装置IT3(IT3-1)的栅电极和漏电极电连接至第三检查线IL3，并且源电极电连接至第一栅极线GL1或第三栅极线GL3。第四开关装置IT4(IT4-1)的栅电极和漏电极电连接至第四检查线IL4，并且源电极电连接至第二栅极线GL2或第四栅极线GL4。
虚拟检查电路160通过第一至第四栅极线GL1至GL4的第二端部EP2向像素部施加第一驱动电压Von或第二驱动电压Voff，以检查像素部的任何缺陷。虚拟检查电路160在检查电路140连接至栅极线GL1、GL2、GL3、和GL4第一端部EP1的情况下，检查栅极线GL1、GL2、GL3、和GL4的故障。即，由于虚拟检查电路160同样形成在阵列基片101上，阵列基片101可能产生冗余。
图5是示出根据本发明的另一示例性实施例的阵列基片的平面图，而图6是示出根据图5的示例性实施例的栅极驱动电路130、检查电路(141、142)、以及放电电路150的电路图。现在参照图5，阵列基片102包括基片110、像素部120、栅极驱动电路130、第一检查电路141、第二检查电路142、以及放电电路150。基片110包括显示区域DA、第一外围区域PA1、以及第二外围区域PA2。基片110包括形成在显示区域DA中的像素部120。像素部120包括第一至第2n栅极线GL1至GL2n、第一至第m数据线DL1至DLm、以及多个像素113。第一外围区域PA1邻近第一至第2n栅极线GL1至GL2n的第一端部EP1。栅极驱动电路130和第一检查电路141形成在第一外围区域PA1中。
第一检查电路141电连接至第一至第2n栅极线GL1至GL2n的奇数栅极线GL1至GL2n-1的第一端部EP1。如图6所示，第一检查电路141包括第一检查线IL1和第一开关装置IT1。第一检查线IL1在奇数栅极线GL1至GL2n-1被检查的第一检查期间，接收第一驱动电压。因此，连接至奇数栅极线GL1至GL2n-1的奇数像素在第一检查期间响应于第一驱动电压被导通。
第二外围区域PA2邻近第一至第2n栅极线GL1至GL2n的第二端部EP2。第二检查电路142和放电电路150形成在第二外围区域PA2中。第二检查电路142电连接至第一至第2n栅极线GL1至GL2n的偶数栅极线GL2至GL2n的第二端部电EP2。如图6所示，第二检查电路142包括第二检查线IL2和第二开关装置IT2。第二检查线IL2在检查偶数栅极线GL2至GL2n第二检查期间接收第一驱动电压。因此，连接至偶数栅极线GL2至GL2n的偶数电极在第二检查期间响应于第一驱动电压被导通。栅极驱动电路130、像素部120、检查电路(141、142)、以及放电电路150包括作为开关装置的非晶硅薄膜晶体管。
如上所述，用于栅极线GL1至GL2n的检查电路140可以被分类为用于奇数栅极线GL1至GL2n-1的第一检查电路141和用于偶数栅极线GL2至GL2n的第二检查电路142。此外，由于第一检查电路141和第二检查电路142分别形成在栅极线GL1至GL2n的两端，因此第一检查电路141和第二检查电路142可以彼此隔开。
图7是示出根据本发明的另一示例性实施例的显示装置的平面图。现在参照图7，显示装置400包括显示图像的显示面板350。显示面板350包括阵列基片101、面对阵列基片100的滤色器基片200、以及夹置在阵列基片101和滤色器基片200之间的液晶层(未示出)。滤色器基片200包括反向基片的一个实施例。即，反向基片是与阵列基片101相对并与其耦合的基片。阵列基片101进一步包括邻近第一至第m数据线DL1至DLm的端部的第三外围区域PA3。阵列基片101包括数据驱动电路300，其形成在第三外围区域PA3中以向第一至第m数据线DL1至DLm的每条提供数据信号。数据驱动电路300可以形成为集成电路芯片并安装在阵列基片101的外围区域PA3上。尽管没有在图7中示出，滤色器基片200包括具有红色、绿色、和蓝色像素的滤色器层以及面向形成在阵列基片101上的像素电极112的共电极。
根据阵列基片和显示装置，阵列基片包括分别检查奇数栅极线和偶数栅极线的第一检查电路和第二检查电路。因此，可以容易地检查像素之间的电缺陷，从而改进阵列基片的缺陷的可检查性。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (24)

1.一种阵列基片，包括：
基片件；
像素部，具有多条栅极线、多条数据线、以及电连接至所述栅极线和数据线的多个像素，所述像素部形成在所述基片件上，所述栅极线包括奇数栅极线和偶数栅极线，所述像素包括奇数像素和偶数像素；
栅极驱动电路，电连接至所述栅极线的第一端部，并形成在邻近所述像素部的所述基片件上，以向所述栅极线提供栅极信号；
第一检查电路，电连接至所述奇数栅极线，以检查连接至所述奇数栅极线上的奇数像素；以及
第二检查电路，电连接至所述偶数栅极线，以检查连接至所述偶数栅极线上的偶数像素。
2.根据权利要求1所述的阵列基片，其中，
所述第一检查电路包括：
第一开关装置，电连接至所述奇数栅极线上；以及第一检查线，被设计为在所述奇数栅极线被检查的第一检查操作期间向所述第一开关装置施加第一驱动电压，所述第一检查线电连接至所述第一开关装置上，以及所述第二检查电路包括：
第二开关装置，电连接至所述偶数栅极线上；以及
第二检查线，被设计为在所述偶数栅极线被检查的第二检查操作期间向所述第二开关装置施加所述第一驱动电压，所述第二检查线电连接至所述第二开关装置上。
3.根据权利要求2所述的阵列基片，其中，所述第一开关装置包括连接至所述第一检查线上的第一电极、连接至所述第一检查线上的第二电极、以及连接至所述奇数栅极线上的第三电极，并且所述第一开关装置在所述第一检查期间向所述奇数栅极线施加所述第一驱动电压。
4.根据权利要求2所述的阵列基片，其中，所述第二开关装置包括连接至所述第二检查线上的第一电极、连接至所述第二检查线上的第二电极、以及连接至所述偶数栅极线上的第三电极，并且所述第二开关装置在所述第二检查期间向所述偶数栅极线施加所述第一驱动电压。
5.根据权利要求2所述的阵列基片，其中，在所述第二检查期间向所述第一检查线施加第二驱动电压，并且所述第一开关装置响应于所述第二驱动电压被断开，并且在所述第一检查期间向所述第二检查线施加所述第二驱动电压并且所述第二开关装置响应于所述第二驱动电压被断开。
6.根据权利要求2所述的阵列基片，进一步包括电连接至所述栅极线上的放电电路，所述放电电路适用于使所述栅极线放电。
7.根据权利要求6所述的阵列基片，其中，所述放电电路包括：放电线，用于接收第二驱动电压；
第一放电开关装置，其第一电极连接至所述放电线上、第二电极连接至所述奇数栅极线上、并且第三电极连接至所述偶数栅极线上；以及
第二放电开关装置，其第一电极连接至所述放电线上、第二电极连接至所述偶数栅极线上、以及第三电极连接至所述奇数栅极线上。
8.根据权利要求7所述的阵列基片，其中，在所述第一检查和第二检查期间，向所述放电线施加所述第二驱动电压，所述第二放电开关装置在所述第一检查期间响应于施加到所述奇数栅极线上的所述第一驱动电压从所述放电线向所述偶数栅极线施加所述第二驱动电压，并且所述第一放电开关装置在所述第二检查期间响应于施加到所述偶数栅极线的所述第一驱动电压从所述放电线向所述奇数栅极线施加所述第二驱动电压。
9.根据权利要求1所述的阵列基片，其中，所述第一检查电路和第二检查电路设置于在所述像素部和所述栅极驱动电路之间的基片件上，并且电连接至所述奇数栅极线和所述偶数栅极线的第一端部。
10.根据权利要求9所述的阵列基片，进一步包括：第一虚拟检查电路，电连接至所述奇数栅极线的第二端部；以及
第二虚拟检查电路，电连接至所述偶数栅极线的第二端部。
11.根据权利要求10所述的阵列基片，其中，所述第一虚拟检查电路包括：
第三开关装置，其电连接至所述奇数栅极线上；以及
第三检查线，用于在所述奇数栅极线被检查的第一检查期间向所述第三开关装置施加第一驱动电压，所述第三检查线电连接至所述第三开关装置上，以及所述第二虚拟检查电路包括：
第四开关装置，电连接至所述偶数栅极线；以及
第四检查线，用于在所述偶数栅极线被检查的第二检查期间向所述第四开关装置施加所述第一驱动电压，所述第四检查线电连接至所述第四开关装置。
12.根据权利要求11所述的阵列基片，其中，所述第三开关装置包括连接至所述第三检查线上的第一电极、连接至所述第三检查线上的第二电极、以及电连接至所述奇数栅极线的第二端部上的第三电极，并且所述第三开关装置在所述第一检查期间向所述奇数栅极线施加所述第一驱动电压。
13.根据权利要求11所述的阵列基片，其中，所述第四开关装置包括连接至所述第四检查线上的第一电极、连接至所述第四检查线上的第二电极、以及电连接至所述偶数栅极线的第二端部上的第三电极，并且所述第四开关装置在所述第二检查期间向所述偶数栅极线施加所述第一驱动电压。
14.根据权利要求11所述的阵列基片，其中，在所述第二检查期间所述第一检查线接收第二驱动电压，并且所述第三开关装置响应于所述第二驱动电压被断开，并且在所述第一检查期间所述第二检查线接收所述第二驱动电压并且所述第四开关装置响应于所述第二驱动电压被断开。
15.根据权利要求9所述的阵列基片，其中，所述第一和第二检查电路减小了由所述栅极驱动电路引起的静电势。
16.根据权利要求1所述的阵列基片，其中，所述栅极驱动电路通过与所述像素相同的工艺与所述像素形成在所述基片件上。
17.根据权利要求1所述的阵列基片，其中，所述栅极驱动电路、所述像素部、以及所述第一和第二检查电路包括作为开关装置的非晶硅薄膜晶体管。
18.根据权利要求1所述的阵列基片，其中，所述第一检查电路设置在对应于在所述像素部和所述检查电路之间的区域的所述基片上，并电连接至所述奇数栅极线的第一端部上，并且所述第二检查电路电连接至所述偶数栅极线的第二端部上。
19.一种显示装置，包括：
阵列基片；以及
反向基片，其耦合至所述阵列基片上，
所述阵列基片包括：
基片件；
像素部，具有多条栅极线、多条数据线、以及电连接至所述栅极线和数据线的多个像素，所述像素部形成在所述基片件上，所述栅极线包括奇数栅极线和偶数栅极线，所述像素包括奇数像素和偶数像素；
栅极驱动电路，电连接至所述栅极线的第一端部上，并形成在邻近所述像素部的所述基片件上，以向所述栅极线提供栅极信号；
第一检查电路，电连接至所述奇数栅极线上，以检查连接至所述奇数栅极线上的奇数像素；以及第二检查电路，电连接至所述偶数栅极线上，以检查连接至所述偶数栅极线上的偶数像素。
20.根据权利要求19所述的显示装置，其中，所述第一检查电路包括：
第一开关装置，其电连接至所述奇数栅极线上；以及
第一检查线，被设计为在所述奇数栅极线被检查的第一检查操作期间向所述第一开关装置施加第一驱动电压，所述第一检查线电连接至所述第一开关装置上，以及所述第二检查电路包括：
第二开关装置，电连接至所述偶数栅极线；以及第二检查线，被设计为在所述偶数栅极线被检查的第二检查操作期间向所述第二开关装置施加所述第一驱动电压，所述第二检查线电连接至所述第二开关装置上。
21.根据权利要求20所述的显示装置，其中，所述第一开关装置包括连接至所述第一检查线上的第一电极、连接至所述第一检查线上的第二电极、以及电连接至所述奇数栅极线上的第三电极，所述第一开关装置在所述第一检查期间向所述奇数栅极线施加所述第一驱动电压。
22.根据权利要求20所述的显示装置，其中，所述第二开关装置包括连接至所述第二检查线上的第一电极、连接至所述第二检查线上的第二电极、以及电连接至所述偶数栅极线上的第三电极，所述第二开关装置在所述第二检查期间向所述偶数栅极线施加所述第一驱动电压。
23.根据权利要求20所述的显示装置，其中，在所述第二检查期间所述第一检查线接收第二驱动电压，并且所述第一开关装置响应于所述第二驱动电压被断开，并且在所述第一检查期间所述第二检查线接收所述第二驱动电压并且所述第二开关装置响应于所述第二驱动电压被断开。
24.根据权利要求19所述的显示装置，其中，所述栅极驱动电路包括电连接至所述栅极线上的多个平台，并且所述平台串联连接，以向相应的栅极线顺序地输入所述栅极信号。
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