CN108389822A - 一种三维扇出型集成封装结构及其封装工艺 - Google Patents

一种三维扇出型集成封装结构及其封装工艺 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种三维扇出型集成封装结构，包括至少两层重新布线层，重新布线层为介电层，在介电层的两侧层面上有连接两侧进行互相配合并形成互联结构的金属连接结构，金属连接结构露出介电层作为金属触点，重新布线层的一侧设置塑封层，塑封层内塑封有芯片或无源被动元件，相邻的重新布线层之间通过金属导电柱连接。本发明还公开了此种三维扇出型集成封装结构的封装工艺。采用发明的设计方案，可以把尺寸大小各异的无源器件与裸晶片同时集成封装，大大提高了集成度，对于wifi，PA，PMU等类型的使用大量无源器件的应用尤为适合，同时，三维堆叠方式大大缩小了封装面积。

Description

一种三维扇出型集成封装结构及其封装工艺
技术领域
本发明涉及半导体封装技术领域，具体涉及一种三维扇出型集成封装结构及其封装工艺。
背景技术
随着电子装置设备的多功能化和小型化越来越高，需要集成封装在一起的芯片种类和数量也日益提高，例如wifi/PA/PMU等应用需要将具有不同功能的有源芯片(裸晶片，或已经封装好的芯片等)与无源被动元器件等其他器件组装到一起，实现具有一定功能的单个封装件，从而形成一个系统或者子系统。
目前广泛采用的扇出型封装是对已经塑封在一起的所有被动元件及裸晶片构成的塑封体上进行重新布线以达到元器件之间的互联封装，该类封装方法在应对数量较多且较复杂多样的芯片与无源被动器件的集成封装时存在诸如翘曲度控制难度较大,精度差,封装面积较大，可靠性不高等问题。
发明内容
发明目的：本发明的目的在于解决现有的电子装置设备封装要求能够集成不同功能的芯片，然而封装技术滞后，无法实现多功能，同时对于数量较多且较复杂多样的芯片与无源被动器件的集成封装时存在诸如翘曲度控制难度较大,精度差,封装面积较大，可靠性不高等问题。
技术方案：本发明采用以下技术方案：
一种三维扇出型集成封装结构，包括至少两层重新布线层，重新布线层为介电层，在介电层的两侧层面上有连接两侧进行互相配合并形成互联结构的金属连接结构，金属连接结构露出介电层作为金属触点，重新布线层的一侧设置塑封层，塑封层内塑封有芯片或无源被动元件，相邻的重新布线层之间通过金属导电柱连接。
进一步地，金属连接结构一端与介电层的平面平行，一端延伸出介电层，延伸出介电层的金属触点一侧设置塑封层。
进一步地，金属导电柱连接相邻两层介电层的对应金属触点。
进一步地，完成组装后的多层重新布线层，一侧为塑封层，一侧为介电层，介电层的金属触点位置涂覆锡球。
进一步地，塑封层中芯片或无源被动元件带有金属凸点的一侧朝向介电层，对应于介电层上延伸出介电层的金属触点完成连接。
进一步地，芯片或无源被动元件包含至少一个伪管芯。
进一步地，所述介电层为无机介电层或有机介电层。
一种如权利要求1所述的三维扇出型集成封装结构的封装工艺，包括以下步骤：
1)在临时载片表面粘附临时键合胶层；
2)在步骤1)得到的临时键合胶层表面用薄膜工艺制作第一层的重新布线层，该重新布线层为介电层，在介电层的两侧层面上有连接两侧进行互相配合并形成互联结构的金属连接结构；
用于对后续步骤中所要封装的芯片和被动元件形成互联并将所形成的管脚引出。
3)在第一层的重新布线层上制作一系列金属导电柱，金属导电柱与重新布线层形成电学互联；
金属导电柱可以用光刻加电镀的方法生成，也可以采用植入方式。
4)紧接着在第一层的重新布线层上贴附所需要封装的芯片和/或无源被动元件；
5)将贴附在载片第一层的重新布线层上的金属导电柱和芯片及无源被动元件进行整体塑封，形成第一层的塑封层，并减薄第一层的塑封层的厚度使金属导电柱露出，金金属导电柱的上表面与第一层的塑封层的上表面处于同一平面；
6)在第一层的塑封层上面继续制作第二层的重新布线层，结构和方法与制作第一层的重新布线层相同，金属导电柱与第二层的重新布线层上对应的金属触点形成电学互联；
7)然后在第二层的重新布线层上贴附更多的无源被动元件；
8)将贴附在第二层的重新布线层上的元件进行塑封，形成第二层的塑封层；
9)采用激光或热剥离的办法将临时载片与其上的封装体分离，从而使封装体的第一层的重新布线层裸露出来；
10)在封装体的第一层的重新线层上采用植球工艺完成焊接；
11)进行切割得到单独的封装体。
进一步地，所述步骤2)中重新布线层的制作包括以下步骤：
a)先在临时键合胶上沉积一薄层金属种子层；
b)紧接着涂覆一层光刻胶；
c)用光刻的方法在上形成多个凹槽，在凹槽的底部使金属种子层表面露出；
d)然后继续用电镀的方法在凹槽内形成金属连接结构；
e)用刻蚀的方法去除光刻胶以及位于光刻胶底部的金属种子层；
f)继续在其上覆盖一层介电层；
g)用光刻的方法在介电层上形成开口结构，使得前一步形成的金属连接结构的焊盘表面露出；
h)在介电层的两侧制作金属连接结构的金属触点。
进一步地，所述步骤3)中，金金属导电柱的上表面与第一层的塑封层的上表面处于同一平面。
进一步地，所述步骤9)中，两层塑封层和两层介电层共同构成封装体。
进一步地，所述的临时载片为透光的载片(如石英，玻璃等)或不透光载片(如金属，硅片，陶瓷等)。
进一步地，所述的临时键合胶层为热剥离胶，UV胶或激光解键合胶。
有益效果：本发明与现有技术相比：
1)可以把尺寸大小各异的无源器件与裸晶片同时集成封装，大大提高了集成度，对于 wifi，PA，PMU等类型的使用大量无源器件的应用尤为适合；
2)三维堆叠方式大大缩小了封装面积。
3)临时载片一直存在于制作塑封层和重新布线层的始终，从而可以大幅减小塑封过程中形成翘曲度提高布线层的制作精度和可靠性以及良率，尤其是当所要进行集成封装的芯片种类和大小规格比较多样的情况下，这一优势尤为明显。
附图说明
图1为本发明成品的结构示意图；
图2为本发明封装工艺步骤2)结束后的状态图；
图3为本发明封装工艺步骤3)结束后的状态图；
图4为本发明封装工艺步骤4)结束后的状态图；
图5为本发明封装工艺步骤5)结束后的状态图；
图6为本发明封装工艺步骤8)结束后的状态图；
图7为本发明封装体的结构示意图；
图8为本发明重新布线层制备步骤a)结束后的状态图；
图9为本发明重新布线层制备步骤b)结束后的状态图；
图10为本发明重新布线层制备步骤c)结束后的状态图；
图11为本发明重新布线层制备步骤d)结束后的状态图；
图12为本发明重新布线层制备步骤e)结束后的状态图；
图13为本发明重新布线层制备步骤g)结束后的状态图；
图14为本发明重新布线层制备完成后的状态图。
具体实施方式
下面结合具体实施案例和附图对本发明进一步描述。
实施例1
如附图1所示，一种集成型封装结构，包括两层重新布线层，重新布线层为介电层2，从上至下依次设置塑封层1、介电层2、塑封层1和介电层2，在介电层2的两侧层面上有连接两侧进行互相配合并形成互联结构的金属连接结构3，金属连接结构3一端与介电层2的平面平行，一端延伸出介电层2，延伸出介电层2的金属触点(未图示)一侧设置塑封层1，塑封层1内塑封有芯片4(包括裸晶片，已经封装的晶片等)或无源被动元件(未图示)，两层介电层2之间的塑封层1内还设有将两层介电层2对应金属触点进行连接的金属导电柱 5(可以用光刻加电镀的方法生成，也可以植入金属导电柱)，最下方的介电层2底部金属触点上涂覆锡球6。
采用了至少两层重新布线层/介电层的设计，并且在两层重新布线层直线设置塑封层，使得封装方式变为立体封装，并且通过金属导电柱以及金属连接结构的配合，能够将上下层重新布线层进行电学连接。
金属连接结构3一端与介电层2的平面平行，一端延伸出介电层2，延伸出介电层2的金属触点一侧设置塑封层1。金属连接结构3的材质可以是或包括铜，钛，锡等。
采用金属连接结构在介电层两侧不一样的结构设计，方便介电层两侧的区分，防止工艺过程产生误操作。
金属导电柱5连接相邻两层介电层2的对应金属触点。
塑封层1中芯片4或无源被动元件带有金属凸点的一侧朝向介电层2，对应于介电层2 上延伸出介电层2的金属触点完成连接。
芯片4或无源被动元件包含至少一个伪管芯。
伪管芯由具有适当热膨胀系数和体积大小的材质所组成，作用仅仅为用于调节和改善所封装的各个元器件和塑封材料之间由于热膨胀系数失配而引起的封装体的翘曲度。
介电层2可以是无机介电材料(硅氧化物，硅氮化物等)或有机介电材料(聚酰亚胺，树脂等)。
实施例2
一种集成型封装结构，包括三层重新布线层，重新布线层为介电层2，从上至下依次设置塑封层1、介电层2、塑封1层、介电层2、塑封层1和介电层2，在介电层2的两侧层面上有连接两侧进行互相配合并形成互联结构的金属连接结构3，金属连接结构3一端与介电层2的平面平行，一端延伸出介电层2，延伸出介电层2的金属触点(未图示)一侧设置塑封层1，塑封层1内塑封有芯片4(包括裸晶片，已经封装的晶片等)或无源被动元件(未图示)，相邻两层介电层2之间的塑封层1内还设有将两层介电层对应金属触点进行连接的金属导电柱5(可以用光刻加电镀的方法生成，也可以植入金属导电柱)，最下方的介电层2底部金属触点上涂覆锡球6。
采用了至少两层重新布线层/介电层的设计，并且在两层重新布线层直线设置塑封层，使得封装方式变为立体封装，并且通过金属导电柱以及金属连接结构的配合，能够将上下层重新布线层进行电学连接。
金属连接结构3一端与介电层2的平面平行，一端延伸出介电层2，延伸出介电层2的金属触点一侧设置塑封层1。金属连接结构的材质可以是或包括铜，钛，锡等。
采用金属连接结构在介电层两侧不一样的结构设计，方便介电层两侧的区分，防止工艺过程产生误操作。
金属导电柱5连接相邻两层介电层2的对应金属触点。
塑封层1中芯片4或无源被动元件带有金属凸点的一侧朝向介电层2，对应于介电层2 上延伸出介电层2的金属触点完成连接。
芯片4或无源被动元件包含至少一个伪管芯。
伪管芯由具有适当热膨胀系数和体积大小的材质所组成，作用仅仅为用于调节和改善所封装的各个元器件和塑封材料之间由于热膨胀系数失配而引起的封装体的翘曲度。
介电层2可以是无机介电材料(硅氧化物，硅氮化物等)或有机介电材料(聚酰亚胺，树脂等)。
实施例3
一种如权利要求1所述的三维扇出型集成封装结构的封装工艺，包括以下步骤：
1)在临时载片7表面粘附临时键合胶层8；
所述的临时载片为透光的载片(如石英，玻璃等)或不透光载片(如金属，硅片，陶瓷等)，临时键合胶层为热剥离胶，UV胶或激光解键合胶。
2)在步骤1)得到的临时键合胶层8表面用薄膜工艺制作第一层的重新布线层，该重新布线层为介电层2，在介电层2的两侧层面上有连接两侧进行互相配合并形成互联结构的金属连接结构3；
用于对后续步骤中所要封装的芯片和被动元件形成互联并将所形成的管脚引出。
重新布线层的制作具体包括以下步骤：
a)先在临时键合胶8上沉积一薄层金属种子层201；
b)紧接着涂覆一层光刻胶202；
c)用光刻的方法在上形成多个凹槽203，在凹槽203的底部使金属种子层201表面露出；
d)然后继续用电镀的方法在凹槽203内形成金属连接结构3；
e)用刻蚀的方法去除光刻胶202以及位于光刻胶底部的金属种子层201；
f)继续在其上覆盖一层介电层2；
g)用光刻的方法在介电层2上形成开口结构，使得前一步形成的金属连接结构3的焊盘表面露出；
h)在介电层2的两侧制作金属连接结构3的金属触点。
3)在第一层的重新布线层上制作一系列金属导电柱5，金属导电柱5与重新布线层形成电学互联，金属导电柱5的上表面与第一层的塑封层1的上表面处于同一平面；
金属导电柱可以用光刻加电镀的方法生成，也可以采用植入方式。
4)紧接着在第一层的重新布线层上贴附所需要封装的芯片4和/或无源被动元件；
5)将贴附在载片第一层的重新布线层上的金属导电柱5和芯片4及无源被动元件进行整体塑封，形成第一层的塑封层1，并减薄第一层的塑封层1的厚度使金属导电柱5露出，金金属导电柱5的上表面与第一层的塑封层1的上表面处于同一平面；
6)在第一层的塑封层1上面继续制作第二层的重新布线层，结构和方法与制作第一层的重新布线层相同，金属导电柱5与第二层的重新布线层上对应的金属触点形成电学互联；
7)然后在第二层的重新布线层上贴附更多的无源被动元件；
8)将贴附在第二层的重新布线层上的元件进行塑封，形成第二层的塑封层1；
9)两层塑封层1和两层介电层2共同构成封装体，采用激光或热剥离的办法将临时载片 7与其上的封装体分离，从而使封装体的第一层的重新布线层裸露出来；
10)在封装体的第一层的重新线层上采用植球工艺完成焊接；
11)进行切割得到单独的封装体。

Claims (12)

1.一种三维扇出型集成封装结构，其特征在于：包括至少两层重新布线层，重新布线层为介电层，在介电层的两侧层面上有连接两侧进行互相配合并形成互联结构的金属连接结构，金属连接结构露出介电层作为金属触点，重新布线层的一侧设置塑封层，塑封层内塑封有芯片或无源被动元件，相邻的重新布线层之间通过金属导电柱连接。
2.根据权利要求1所述的三维扇出型集成封装结构，其特征在于：金属连接结构一端与介电层的平面平行，一端延伸出介电层，延伸出介电层的金属触点一侧设置塑封层。
3.根据权利要求1所述的三维扇出型集成封装结构，其特征在于：金属导电柱连接相邻两层介电层的对应金属触点。
4.根据权利要求1所述的三维扇出型集成封装结构，其特征在于：完成组装后的多层重新布线层，一侧为塑封层，一侧为介电层，介电层的金属触点位置涂覆锡球。
5.根据权利要求1所述的集成型封装结构，其特征在于：包括两层重新布线层，从上至下依次设置塑封层、介电层、塑封层和介电层，在介电层的两侧层面上有连接两侧进行互相配合并形成互联结构的金属连接结构，金属连接结构一端与介电层的平面平行，一端延伸出介电层，延伸出介电层的金属触点一侧设置塑封层，塑封层内塑封有芯片或无源被动元件，两层介电层之间的塑封层内还设有将两层介电层对应金属触点进行连接的金属导电柱，最下方的介电层底部金属触点上涂覆锡球。
6.根据权利要求1或5所述的三维扇出型集成封装结构，其特征在于：塑封层中芯片或无源被动元件带有金属凸点的一侧朝向介电层，对应于介电层上延伸出介电层的金属触点完成连接。
7.根据权利要求1或5所述的三维扇出型集成封装结构，其特征在于：芯片或无源被动元件包含至少一个伪管芯。
8.根据权利要求1至5任意一项所述的三维扇出型集成封装结构，其特征在于：所述介电层为无机介电层或有机介电层。
9.一种如权利要求1所述的三维扇出型集成封装结构的封装工艺，其特征在于：包括以下步骤：
1)在临时载片表面粘附临时键合胶层；
2)在步骤1)得到的临时键合胶层表面用薄膜工艺制作第一层的重新布线层，该重新布线层为介电层，在介电层的两侧层面上有连接两侧进行互相配合并形成互联结构的金属连接结构；
3)在第一层的重新布线层上制作金属导电柱，金属导电柱与重新布线层形成电学互联；
4)紧接着在第一层的重新布线层上贴附所需要封装的芯片和/或无源被动元件；
5)将贴附在载片第一层的重新布线层上的金属导电柱和芯片及无源被动元件进行整体塑封，形成第一层的塑封层，并减薄第一层的塑封层的厚度使金属导电柱露出；
6)在第一层的塑封层上面继续制作第二层的重新布线层，结构和方法与制作第一层的重新布线层相同，金属导电柱与第二层的重新布线层上对应的金属触点形成电学互联；
7)然后在第二层的重新布线层上贴附更多的无源被动元件；
8)将贴附在第二层的重新布线层上的元件进行塑封，形成第二层的塑封层；
9)采用激光或热剥离的办法将临时载片与其上的封装体分离，从而使封装体的第一层的重新布线层裸露出来；
10)在封装体的第一层的重新线层上采用植球工艺完成焊接；
11)进行切割得到单独的封装体。
10.根据权利要求9所述的三维扇出型集成封装结构的封装工艺，其特征在于：所述步骤2)中重新布线层的制作包括以下步骤：
a)先在临时键合胶上沉积一薄层金属种子层；
b)紧接着涂覆一层光刻胶；
c)用光刻的方法在上形成多个凹槽，在凹槽的底部使金属种子层表面露出；
d)然后继续用电镀的方法在凹槽内形成金属连接结构；
e)用刻蚀的方法去除光刻胶以及位于光刻胶底部的金属种子层；
f)继续在其上覆盖一层介电层；
g)用光刻的方法在介电层上形成开口结构，使得前一步形成的金属连接结构的焊盘表面露出；
h)在介电层的两侧制作金属连接结构的金属触点。
11.根据权利要求9所述的三维扇出型集成封装结构的封装工艺，其特征在于：所述步骤3)中，金金属导电柱的上表面与第一层的塑封层的上表面处于同一平面。
12.根据权利要求9所述的三维扇出型集成封装结构的封装工艺，其特征在于：所述步骤9)中，两层塑封层和两层介电层共同构成封装体。
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