CN107688192B - 放射线测定装置 - Google Patents

放射线测定装置 Download PDF

Info

Publication number
CN107688192B
CN107688192B CN201710066179.4A CN201710066179A CN107688192B CN 107688192 B CN107688192 B CN 107688192B CN 201710066179 A CN201710066179 A CN 201710066179A CN 107688192 B CN107688192 B CN 107688192B
Authority
CN
China
Prior art keywords
count value
permissible range
actual count
noise
noise processed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201710066179.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN107688192A (zh
Inventor
江口和宏
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of CN107688192A publication Critical patent/CN107688192A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN107688192B publication Critical patent/CN107688192B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/02—Dosimeters
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/02—Dosimeters
    • G01T1/023—Scintillation dose-rate meters
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/185—Measuring radiation intensity with ionisation chamber arrangements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
    • G01T1/171—Compensation of dead-time counting losses
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/208—Circuits specially adapted for scintillation detectors, e.g. for the photo-multiplier section
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30—Nuclear fission reactors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

本发明获得可在宽范围内进行测定的放射线测定装置。放射线测定装置的运算单元每隔运算周期读取实际计数值(本次)和累计计数值(上次)，判断读取的该实际计数值(本次)是否在容许范围内，在判断为实际计数值(本次)在容许范围内的情况下，判断容许范围脱离次数是否为零，在判断为容许范围脱离次数为零的情况下，执行通常处理，在判断为实际计数值(本次)不在容许范围内的情况下，对容许范围脱离次数加上1，进一步判断相加后的该容许范围脱离次数是否为1，在判断为相加后的容许范围脱离次数为1的情况下，将累计计数值(上次)作为实际计数值刚要脱离容许范围之前的累计计数值进行存储，进一步执行第1噪声处理。

Description

放射线测定装置
技术领域
本发明涉及放射线测定装置，特别涉及通过检测从放射线检测器输出的电流信号来测定剂量率等的放射线测定装置。
背景技术
在核电站、核燃料再处理设施、放射线利用设施及这些设施周边等设置有用于测定空间的剂量率等的放射线测定装置(例如参照专利文献1～5)。放射线测定装置需要高精度地测定从通常的放射线水平到假定了事故的放射线水平为止的较宽测定范围。在放射线测定装置的放射线检测器中，为了覆盖微小且较宽范围的电流，例如使用电离室。若放射线作用于放射线检测器的电离室，则产生从10-14A(安培)量级到10-7A量级的微小且较宽范围的电流。
在这种测定微小电流的放射线测定装置中，电流测定单元(运算放大器)在反相输入端子与输出端子之间连接有电容器。对提供给放射线测定装置的电流测定单元的输入电流进行电荷积分，转换成电压。若在该电压成为固定的电压时，自动使其放电，则反复产生锯齿波状脉冲。放射线测定装置的测定部对设定时间内的锯齿波状脉冲的数量进行计数，求出计数值，在经过了设定时间的时刻，测定不足1个脉冲的锯齿波状脉冲的电压并求出电压值。放射线测定装置的测定部既基于该计数值又基于电压值，来测定微小电流(例如参照专利文献1)。
如上所述，这种放射线测定对微小电流进行处理。由于需要特别考虑噪声，因此，开发有包括噪声去除单元的放射线测定装置。放射线测定装置的噪声去除单元将以固定周期测定出的测定值按照时间序列进行排列，生成始终为最新的测定值列。噪声去除单元对于该测定值列，求出从最新追溯到过去的测定值在一定期间内的移动平均值。在最新的测定值异常的情况下，将其排除而进行移动平均。
作为测定值异常的代表性示例，举出有装置内的静电噪声电流。在电离室配置有提供高电压作为偏置电压的高电压线。该高电压线经由绝缘物与公共的0V接触。由于吸湿或温度上升等导致的绝缘下降，在0V接触部位的附近，电荷累积。绝缘物无法耐受该情况而产生放电，接着进行充电。在电离室中，隔开间隔重复该充放电。若条件缓和，则出现正常恢复的现象。
由于放电和充电的电荷抵消，因此，例如在锯齿波状脉冲的正侧以波峰单次重叠的形态发现噪声。该波峰对锯齿波状脉冲的基本形状不产生影响。因此，若锯齿波状脉冲的电压测定与噪声侵入的时刻不一致，则测定不受影响。在时刻一致的情况下，排除异常数据并进行测定(例如参照专利文献2)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本专利特开昭61-83967号公报
专利文献2：日本专利特开2006-98081号公报
专利文献3：日本专利特开2000-258537号公报
专利文献4：日本专利特开2003-28963号公报
专利文献5：日本专利特开2004-294193号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
放射线测定装置大多如以上那样构成。即，通过排除在基于电流信号的锯齿波电压的基本波形重叠有噪声电流所引起的电压突变后的测定数据，从而防止噪声所引起的指示变动。噪声继续期间由于排除包含噪声的测定数据，因此，之后产生消除噪声且用于移动平均的数据数量较少的期间。噪声继续期间的移动平均中，放射线的统计性变动变大，对测定精度产生影响。此外，在利用标准数据弥补漏测数据的情况下，在该未采集的数据从移动平均中消失之前，无法恢复到正确的测定。
本发明是为了解决上述那样的放射线测定装置中的问题而完成的，其目的在于获得在宽范围内消除了噪声对测定的实质影响的高可靠度的放射线测定装置。
解决技术问题的技术方案
本发明的放射线测定装置包括：放射线检测器，该放射线检测器在放射线入射时输出电流信号；第1转换单元，该第1转换单元将放射线检测器输出的电流信号转换成电压信号并基于该电压信号形成矩形波脉冲；第2转换单元，该第2转换单元对经第1转换单元转换后的电压信号进行采样并输出数字电压数据；计数单元，该计数单元对第1转换单元形成的矩形波脉冲进行计数；运算单元，该运算单元根据第2转换单元输出的数字电压数据和计数单元输出的矩形波脉冲的计数值来求出累计计数值，根据本次运算周期的累计计数值(本次)与上次运算周期的累计计数值(上次)之差求出实际计数值(本次)并存储；及显示单元，该显示单元显示运算单元运算得到的结果，运算单元每隔运算周期读取实际计数值(本次)和累计计数值(上次)，判断读取的该实际计数值(本次)是否在容许范围内，在判断为实际计数值(本次)在容许范围内的情况下，判断容许范围脱离次数是否为零，在判断为容许范围脱离次数为零的情况下，执行通常处理，在判断为实际计数值(本次)不在容许范围内的情况下，对容许范围脱离次数加上1，进一步判断相加后的该容许范围脱离次数是否为1，在判断为相加后的容许范围脱离次数为1的情况下，将累计计数值(上次)作为实际计数值刚要脱离容许范围之前的累计计数值进行存储，进一步执行第1噪声处理，在判断为相加后的容许范围脱离次数并非1的情况下，判断该容许范围脱离次数是否在容许次数内，在判断为容许范围脱离次数不在容许次数内的情况下，执行通常处理，在判断为容许范围脱离次数在容许次数内的情况下，执行第1噪声处理，通常处理包含如下处理：根据包含累计计数值(本次)的实际计数值数据列求出移动平均计数率(本次)，将求出的该移动平均计数率(本次)转换成工程值并输出，第1噪声处理包含将上次运算周期的工程值作为本次运算周期的工程值输出的处理。
此外，本发明的放射线测定装置中，运算单元在判断为容许范围脱离次数并非零的情况下，判断该容许范围脱离次数是否在容许次数内，在判断为容许范围脱离次数不在容许次数内的情况下，执行通常处理，进一步将容许范围脱离次数复位，在判断为容许范围脱离次数在容许次数内的情况下，从累计计数值(上次)减去紧接在第1噪声处理之前的运算周期的累计计数值，将其差分除以对容许范围脱离次数加上1后的数，求出第1平均实际计数值，判断求出的该第1平均实际计数值是否在容许范围内，在判断为第1平均实际计数值在容许范围内的情况下，执行第2噪声处理，进一步将容许范围脱离次数复位，第2噪声处理包含如下处理：将脱离容许范围的实际计数值利用第1平均实际计数值进行置换，基于置换后的实际计数值数据列，求出移动平均计数率(本次)，将求出的该移动平均计数率(本次)转换成工程值并输出。
此外，本发明的放射线测定装置中，运算单元在判断为第1平均实际计数值不在容许范围内的情况下，执行第3噪声处理，进一步将容许范围脱离次数复位，第3噪声处理包含如下处理：将实际计数值(本次)和处于容许范围内的最近的实际计数值进行平均，求出第2平均实际计数值，将脱离容许范围的实际计数值利用该第2平均实际计数值进行置换，基于置换后的实际计数值数据列，求出移动平均计数率(本次)，将求出的该移动平均计数率转换成工程值并输出。
发明效果
本发明的放射线测定装置包括：放射线检测器，该放射线检测器在放射线入射时输出电流信号；第1转换单元，该第1转换单元将放射线检测器输出的电流信号转换成电压信号并基于该电压信号形成矩形波脉冲；第2转换单元，该第2转换单元对经第1转换单元转换后的电压信号进行采样并输出数字电压数据；计数单元，该计数单元对第1转换单元形成的矩形波脉冲进行计数；运算单元，该运算单元根据第2转换单元输出的数字电压数据和计数单元输出的矩形波脉冲的计数值来求出累计计数值，根据本次运算周期的累计计数值(本次)与上次运算周期的累计计数值(上次)之差求出实际计数值(本次)并存储；及显示单元，该显示单元显示运算单元运算得到的结果，运算单元每隔运算周期读取实际计数值(本次)和累计计数值(上次)，判断读取的该实际计数值(本次)是否在容许范围内，在判断为实际计数值(本次)在容许范围内的情况下，判断容许范围脱离次数是否为零，在判断为容许范围脱离次数为零的情况下，执行通常处理，在判断为实际计数值(本次)不在容许范围内的情况下，对容许范围脱离次数加上1，进一步判断相加后的该容许范围脱离次数是否为1，在判断为相加后的容许范围脱离次数为1的情况下，将累计计数值(上次)作为实际计数值刚要脱离容许范围之前的累计计数值进行存储，进一步执行第1噪声处理，在判断为相加后的容许范围脱离次数并非1的情况下，判断该容许范围脱离次数是否在容许次数内，在判断为容许范围脱离次数不在容许次数内的情况下，执行通常处理，在判断为容许范围脱离次数在容许次数内的情况下，执行第1噪声处理，通常处理包含如下处理：根据包含累计计数值(本次)的实际计数值数据列求出移动平均计数率(本次)，将求出的该移动平均计数率(本次)转换成工程值并输出，第1噪声处理包含将上次运算周期的工程值作为本次运算周期的工程值输出的处理，从而可获得在宽范围内消除了噪声对测定的实质影响的高可靠性的放射线测定装置。
此外，本发明的放射线测定装置中，运算单元在判断为容许范围脱离次数并非零的情况下，判断该容许范围脱离次数是否在容许次数内，在判断为容许范围脱离次数不在容许次数内的情况下，执行通常处理，进一步将容许范围脱离次数复位，在判断为容许范围脱离次数在容许次数内的情况下，从累计计数值(上次)减去紧接在第1噪声处理之前的运算周期的累计计数值，将其差分除以对容许范围脱离次数加上1后的数，求出第1平均实际计数值，判断求出的该第1平均实际计数值是否在容许范围内，在判断为第1平均实际计数值在容许范围内的情况下，执行第2噪声处理，进一步将容许范围脱离次数复位，第2噪声处理包含如下处理：将脱离容许范围的实际计数值利用第1平均实际计数值进行置换，基于置换后的实际计数值数据列，求出移动平均计数率(本次)，将求出的该移动平均计数率(本次)转换成工程值并输出，从而基于紧接在噪声侵入之前和之后的累计计数值，求出平均实际计数值，对噪声侵入期间的实际计数值进行插值，将作为设定的数据数量的实际计数值的时间序列排列的数据列更新到最新，因此，可提供实质上没有漏测的高可靠性的放射线测定装置，并可防止因计算移动平均计数率所涉及的数据数量减少而导致的波动，获得稳定的精度。
此外，本发明的放射线测定装置中，运算单元在判断为第1平均实际计数值不在容许范围内的情况下，执行第3噪声处理，进一步将容许范围脱离次数复位，第3噪声处理包含如下处理：将实际计数值(本次)和处于容许范围内的最近的实际计数值进行平均，求出第2平均实际计数值，将脱离容许范围的实际计数值利用该第2平均实际计数值进行置换，基于置换后的实际计数值数据列，求出移动平均计数率(本次)，将求出的该移动平均计数率转换成工程值并输出，从而基于紧接在噪声侵入之前和之后的累计计数值，求出平均实际计数值，对噪声侵入期间的实际计数值进行插值，将作为设定的数据数量的实际计数值的时间序列排列的数据列更新到最新，因此，可提供实质上没有漏测的高可靠性的放射线测定装置，并可防止因计算移动平均计数率所涉及的数据数量减少而导致的波动，获得稳定的精度。
附图说明
图1是表示本发明实施方式的放射线测定装置的结构要素的图。
图2是用于说明本发明实施方式的放射线测定装置的动作的信号波形图，是表示从放射线检测器输出的电流信号的形状的图。
图3是用于说明本发明实施方式的放射线测定装置的动作的信号波形图，是示意性表示锯齿波状脉冲的波形的图。
图4是用于说明本发明实施方式的放射线测定装置的动作的信号波形图，是示意性表示脉冲波形的形状的图。
图5是表示与本发明实施方式的放射线测定装置的信号波形重叠的噪声的形状的图，是表示因自污染核素而产生的噪声的形状的图。
图6是表示与本发明实施方式的放射线测定装置的信号波形重叠的噪声的形状的图，是表示因静电而产生的噪声的形状的图。
图7是表示与本发明实施方式的放射线测定装置的信号波形重叠的噪声的形状的图，是表示因电磁感应而产生的噪声的形状的图。
图8是用于说明本发明实施方式1的放射线测定装置的动作的流程图。
图9是用于说明本发明实施方式的放射线测定装置的通常处理(D0)的动作的流程图。
图10是用于说明本发明实施方式的放射线测定装置的噪声处理(D1)的动作的流程图。
图11是用于说明本发明实施方式的放射线测定装置中求出第1平均实际计数值的动作的流程图。
图12是用于说明本发明实施方式的放射线测定装置的噪声处理(D2)的动作的流程图。
图13是用于说明本发明实施方式的放射线测定装置的噪声处理(D3)的动作的流程图。
图14是用于说明本发明实施方式2的放射线测定装置中的S061的动作的流程图。
图15是用于说明本发明实施方式2的放射线测定装置中的S141的动作的流程图。
图16是用于说明本发明实施方式2的放射线测定装置中的S151的动作的流程图。
图17是用于说明本发明实施方式3的放射线测定装置中的S142的动作的流程图。
图18是用于说明本发明实施方式3的放射线测定装置中的S152的动作的流程图。
图19是用于说明本发明实施方式4的放射线测定装置的动作的流程图。
具体实施方式
以下参照附图对本发明实施方式的放射线测定装置进行说明。另外，各图中，对相同或同样的结构部分标注相同标号，对应的各结构部的尺寸、比例尺分别独立。例如，在变更一部分结构后的剖视图之间，在图示未变更的同一结构部分时，同一结构部分的尺寸、比例尺有时也会不同。此外，放射线测定装置的结构实际上还包括多个构件，但为了简化说明，仅记载说明所需的部分，对其它部分进行省略。
实施方式1
图1是表示本申请实施方式的放射线测定装置100的结构的结构图。如该图所示，放射线测定装置100由放射线检测器1、电流/电压·频率转换单元2(第1转换单元)、计数单元3、模拟/数字转换单元4(第2转换单元)、运算单元5、显示单元6及偏置电源单元7等构成。放射线检测器1连接到电流/电压·频率转换单元2的电荷积分部21的输入侧。放射线检测器1将由入射的放射线生成的电流信号输出到电流/电压·频率转换单元2。
电流/电压·频率转换单元2具有电荷积分部21、电压比较部22、电荷放电部23及矩形波脉冲输出部24。电荷积分部21具有电容器211及运算放大器212。运算放大器212在反相输入端子与输出端子之间连接有电容器211。运算放大器212的输出侧连接到电压比较部22的输入侧及模拟/数字转换单元4的输入侧。电压比较部22的输出侧连接到电荷放电部23的输入侧及矩形波脉冲输出部24的输入侧。电荷放电部23具有恒流源231。矩形波脉冲输出部24的输出侧连接到计数单元3的输入侧。
计数单元3的输出侧连接到运算单元5。模拟/数字转换单元4的输出侧连接到运算单元5。偏置电源单元7从运算单元5接受指令，对放射线检测器1提供例如600～800V左右的高电压，以作为偏置电压。运算单元5具有工程值运算处理单元和噪声处理单元，这些功能通过由微处理器5a执行的程序来实现。工程值运算处理单元具有实际计数值计算部51、实际计数值存储器52、移动平均计数率计算部54及工程值转换部55。噪声处理单元具有噪声处理部53。
运算单元5与显示单元6连接。显示单元6显示从运算单元5输出的数据，并进行运算单元5的设定等操作。另外，上述电流/电压·频率转换单元2、计数单元3、模拟/数字转换单元4、运算单元5、显示单元6及偏置电源单元7例如收纳于一个箱体中。此外，放射线检测器1～偏置电源单元7也可以全部收纳于一个箱体中。
作为输出电流信号的放射线检测器1，采用电离室、NaI(TI)闪烁探测器、塑料闪烁体探测器等。以下，作为放射线检测器1，例如假设使用在球型铝容器中封入有加压后的氩气或氮气或它们的混合气体的电离室。电离室可测定以从背景剂量率水平为10-14A量级的电离电流到假设在设施周边测定核电站的事故时的剂量率水平为10-7A量级的电离电流为对象的剂量率。
若对放射线检测器1使用电离室，则可测定约7个十进位(decade)的较宽范围且能量特性良好(平坦)的剂量率。对于NaI(TI)闪烁探测器及塑料体闪烁探测器，由于构成探测器的光电倍增管的暗电流较大，达到10-9A量级，因此，适合测定可无视该暗电流的高剂量率区域的电流信号。以下将电离室作为放射线检测器1的代表，说明放射线测定装置100的动作。
电离室(放射线检测器1)在对于入射的放射线的剂量率响应中，输出与剂量率成比例的电流。电流/电压·频率转换单元2输入该电流信号，输出与电流成比例的重复频率的锯齿波状脉冲，在该锯齿波状脉冲的波峰向波谷反转的时刻输出矩形波脉冲。模拟/数字转换单元4对形成该锯齿波状脉冲的电压信号进行采样，输出电压值(数字转换数据)。计数单元3对矩形波脉冲输出部24输出的矩形波脉冲进行计数，输出计数值。该计数值在达到溢出之前，利用设定的值(复位设定值)进行复位。计数单元3在中间夹有复位的情况下，特别将该复位信息也一起输出到运算单元5。
图2至图4表示用于说明本申请实施方式的放射线测定装置100的动作的信号波形。参照该图，对电流/电压·频率转换单元2的动作进行说明。图2中，假设从放射线检测器1输出的电流信号(J)以间隔to(运算周期)呈台阶状变化的情况。电流信号(J)在时间T1到时间T2的期间表示电流J1。电流信号(J)在时间T2到时间T3的期间表示电流J2。电流信号(J)在时间T3到时间T4的期间及从时间T4到时间T5的期间表示电流J3。电流/电压·频率转换单元2的电荷积分部21输入放射线检测器1输出的、这样呈台阶状变化的电流信号(J)，作为电荷进行累积。
图3为了易于理解放射线测定装置100的动作，示意性表示从电荷积分部21输出的锯齿波状脉冲的波形。电荷积分部21输出与累积的电荷成比例的电压信号(Vx)。电压比较部22在该电压信号(Vx)达到设定值(Va)时，反转并发出触发信号。电荷放电部23以该触发信号为触发，从恒流源231使一定电流流过电容器211一定时间，使电容器211累积电流。
若电荷放电部23使累积的电荷放电，则电容器211的电压值从波峰下降到波谷。矩形波脉冲输出部24对应于上述触发信号，输出一定电压且一定时间宽度的矩形波脉冲。图4为了易于理解放射线测定装置100的动作，示意性表示从矩形波脉冲输出部24输出的矩形波脉冲的波形。矩形波脉冲输出部24在从时间T1到时间T2之间发出4个矩形波脉冲。矩形波脉冲输出部24在从时间T2到时间T3之间发出3个矩形波脉冲。达到时间T3以后，电压信号未达到设定值(Va)，因此，一次也未发出矩形波脉冲。
在电离室的情况下，从矩形波脉冲输出部24输出的矩形波脉冲的重复频率在背景水平下低至数cpm，分辨率较低。因此，若要利用电离室进行高精度的测定，则需要对数十分钟期间进行计数。因而，在实施方式的放射线测定装置100中，以下那样缩短测定时间。在放射线测定装置100的运算单元5中，实际计数值计算部51对于从模拟/数字转换单元4输入的电压值(数字转换后的电压数据)，将从电荷积分部21输出的锯齿波状脉冲的峰值电压与波谷电压的电压差视为1次计数。
实际计数值计算部51基于每隔运算周期采样的本次运算周期的电压值，求出不足1次计数的计数值c(本次)。对从计数单元3输入的计数值C(本次)加上计数值c(本次)，设本次运算周期的累计计数值(本次)＝{计数值C(本次)+计数值c(本次)}。从本次运算周期的累计计数值(本次)减去上次运算周期的累计计数值(上次)＝{计数值C(上次)+计数值c(上次)}，将其差[{计数值C(本次)+计数值c(本次)}－{计数值C(上次)+计数值c(上次)}]表述为实际计数值(本次)。
实际计数值(本次)存储于实际计数值存储器52，存放在实际计数值数据列的最新位置。运算单元5废弃实际计数值存储器52的最旧位置的实际计数值，将实际计数值数据列更新到最新。移动平均计数率计算部54根据更新到最新的实际计数值数据列，求出移动平均计数率(本次)。移动平均计数率(本次)通过将存放在实际计数值存储器52中的从最新追溯到过去依次设定的数据数量的实际计数值进行累计，并除以与这些数据对应的累计时间来求出。运算单元5通过这样将不足1次计数的非整数计数值并入到实际计数值，从而提高测定的分辨率，缩短测定时间。
工程值转换部55将移动平均计数率乘以工程值转换系数，输出工程值、例如输出剂量率(单位：nGy/h)。显示单元6显示所输出的工程值。另外，在执行通常处理(D0)的情况下，出现在中间夹有复位的情况。计数单元3在此情况下特别将该复位信息(复位设定值等)也一并输出。实际计数值计算部51在从计数单元3输入计数值和复位信息时，基于该复位信息，利用[{计数值C(本次)+复位设定值+计数值c(本次)}－{计数值C(上次)+计数值c(上次)}]，计算出本次运算周期的实际计数值(本次)。在下一运算周期，使实际计数值恢复到通常的[{计数值C(本次)+计数值c(本次)}－{计数值C(上次)+计数值c(上次)}]来计算。
接下来，参照图5至图7对锯齿波状脉冲的突变的形状和噪声的关系进行说明。这些图示出了与信号波形重叠的噪声的种类和形状。图5示出锯齿波状脉冲的倾斜因从天然核素释放的α射线而突变推高且不连续的情形。该α射线偶尔从电离室的内壁露出，或从制造工序中未去除而残留的天然核素释放出。在此情况下，锯齿波不会在被推高的状态而恢复原状。信号波形重叠有因α射线在电离室内生成的电荷所对应的电压而不连续地上升。之后，信号波形以上升点为起点，以原来的斜率推移。
实际计数值计算部51以固定周期获取模拟/数字转换单元4采样测定得到的锯齿波状脉冲的电压值。在时间A1，示出噪声前的正常状态的电压值。在时间A2及之后的时间A3，示出实际计数值计算部51获取噪声后的电压值的情况。时间A1及时间A3的信号波形示出在保持噪声所产生的电压变化的情况下，锯齿波状脉冲的倾斜正常恢复。
电离室例如利用高纯度的铝来制造。在电离室的内表面，天然核素有可能会少量地暴露。或者，在从电离室的清洁工序到电离气体的填充工序之间，空气中的氡气、钍射气或其子代核素残存或混入有极微量。因此，以极小的频度在信号波形中发现附图那样的突变。
图6表示因静电噪声而产生的锯齿波状脉冲的突变的形状。锯齿波状脉冲的倾斜中发现波峰型的突变，之后，锯齿波状脉冲示出恢复到原来的基本倾斜的情形。静电噪声在放射线检测器1、电荷积分部21、两者间的电流信号线中的任一方受到静电影响的情况下产生。电荷积分部21的电容器211中充电有噪声电荷，之后缓慢放电。
实际计数值计算部51在时间A1的时刻，读取噪声前的正常状态的电压值。实际计数值计算部51在时间A2的时刻，读取噪声电荷放电中的电压值。实际计数值计算部51在时间A3的时刻，读取位于时间A1的延长线的恢复到正常锯齿波状脉冲的电压值。
图7表示放射线测定装置受到电磁感应噪声的影响，从而锯齿波状脉冲与振动噪声重叠的情形。实际计数值计算部51在时间A1的时刻，读取噪声前的正常状态的电压值。实际计数值计算部51在时间A2的时刻，读取噪声电荷充电中的电压值。实际计数值计算部51在时间A3的时刻，读取位于时间A1的延长线的恢复到正常锯齿波状脉冲的电压值。
接着，利用图8的流程图对放射线测定装置100的动作进行说明。该图所示的流程图除了运算单元5(工程值运算处理单元)的通常处理之外，还说明了噪声处理部53(噪声处理单元)中的噪声处理的步骤。若放射线测定在S00开始，则噪声处理部53在S01，从实际计数值存储器52读取在本次运算周期获得的实际计数值(本次)，从实际计数值计算部51读取在上次运算周期获取的累计计数值(上次)。S02中，判定实际计数值(本次)是否在设定的容许范围(容许下限值：PL～容许上限值：PU)内。即，判定是否满足容许下限值(PL)≤实际计数值(本次)≤容许上限值(PU)。
若S02的判定为是，则前进至S03。S03中，判定是否满足Q＝0。此处，Q被称为容许范围脱离次数，表示实际计数值(本次)脱离容许范围的次数。若S03的判定为是，则前进至S04。S04中，执行通常处理(D0)。首先，在移动平均计数率计算部54中，求出本次运算周期的移动平均计数率(本次)并输出。此外，在工程值转换部55中，基于该移动平均计数率(本次)，求出工程值并输出。进一步地，在显示单元6中显示该工程值。该一连串的通常处理(D0)结束之后，返回至S01(参照图9)。
若S02的判定为否，则前进至S05。S05中，对实际计数值(本次)脱离容许范围的次数(Q)加上1，前进至S06。S06中，判定是否满足Q＝1。若S06的判定为是，则前进至S07。S07中，将累计计数值(上次)存储为实际计数值刚要脱离容许范围之前的累计计数值，前进至S09。若S06的判定为否，则前进至S08。S08中，判定Q相对于设定的容许次数(W)，是否满足Q≤W。
若S08的判定为是，则前进至S09。S09中，执行噪声处理(D1)。首先，在工程值转换部55中，将上次运算周期的工程值作为本次运算周期的工程值来输出。此外，在显示单元6中显示该输出的工程值。该一连串的噪声处理(第1噪声处理)结束之后，返回至S01(参照图10)。若S08的判定为否，则前进至S10。S10中，执行通常处理(D0)，返回至S01(参照图9)。
若S03的判定为否，则前进至S11。S11中，判定是否满足Q≤W。若S11的判定为是，则前进至S12。S12中，求出第1平均实际计数值，前进至S13(参照图11)。第1平均实际计数值通过从累计计数值(上次)减去实际计数值刚要脱离容许范围之前的累计计数值，将其差值除以Q+1来求出。Q+1相当于执行第1噪声处理后的次数。
S13中，判定该第1平均实际计数值是否在容许范围内。即，判定是否满足容许下限值(PL)≤第1平均实际计数值≤容许上限值(PU)。此处，第1平均实际计数值的容许下限值(PL)及容许上限值(PU)与实际计数值(本次)的容许下限值(PL)及容许上限值(PU)分别相同。
若S13的判定为是，则前进至S14(参照图12)。S14中，执行噪声处理(D2)。首先，在实际计数值存储器52中，将脱离容许范围的期间的实际计数值全部利用第1平均实际计数值进行置换。在移动平均计数率计算部54中，基于置换后的实际计数值数据列，求出移动平均计数率(本次)并输出。在工程值转换部55中，基于移动平均计数率(本次)，求出工程值并输出。在显示单元6中显示所求出的工程值。该一连串的噪声处理(第2噪声处理)结束之后，在S16中将容许范围脱离次数(Q)复位，返回至S01。
若S13的判定为否，则前进至S15(参照图13)。S15中，执行噪声处理(D3)。首先，求出对实际计数值(本次)和刚要脱离容许范围之前的实际计数值求平均而得的第2平均实际计数值。在实际计数值存储器52中，将脱离容许范围的期间的实际计数值全部利用第2平均实际计数值进行置换。在移动平均计数率计算部54中，基于置换后的实际计数值数据列，求出移动平均计数率(本次)并输出。在工程值转换部55中，基于移动平均计数率(本次)，求出工程值并输出。在显示单元6中显示所求出的工程值。该一连串的噪声处理(第3噪声处理)结束之后，在S16中将容许范围脱离次数(Q)复位，返回至S01。
若S11的判定为否，则前进至S17(参照图9)。S17中，执行通常处理(D0)，前进至S16。S16中，将容许范围脱离次数(Q)复位，返回至S01。另外，即使从容许下限值PL≤实际计数值(本次)≤容许上限值PU的状态起，累计计数值在下一运算周期恢复正常，在上次运算周期的累计计数值的影响下，实际计数值通常不会正常恢复。实际计数值的正常恢复要延迟1个运算周期。
其中，作为极少见的现象，在上次运算周期的累计计数值因噪声而朝某一方向摆动，本次运算周期的累计计数值朝相反方向摆动，且摆动幅度相等的情况下，实际计数值正常恢复，而没有1个运算周期的延迟。在此情况下，执行噪声处理(D2)或噪声处理(D3)，但没有实质影响。
噪声处理部53在测定对象的放射线以通常的背景状态为基准而显著变化时，检测为实际计数值从容许范围脱离。该从容许范围脱离的情况除因噪声而发生以外，还因放射线测定装置周边的氡气、钍射气的子代核素随着降雨或降雪增加而发生。此外，监视对象设施的事故也是同样的。上述情况为测定对象，因此，优选实时输出，使得尽可能地没有响应延迟或漏测。
上述情况引起的实际计数值从容许范围的脱离对于一般的瞬时性噪声而言持续时间较长。例如，在设运算周期为5秒的情况下，瞬时性噪声在2个运算周期以内平息。在第3个运算周期，累计计数值正常恢复，在第4个运算周期，实际计数值正常恢复。容许次数(W)为1以上的自然数。例如，若设定为W＝4，则响应的延迟为20秒。该程度的延迟在可充分容许的范围内。
另外，放射线检测器内的静电噪声及空中传送的电磁噪声等对噪声侵入前后的锯齿波状脉冲的斜率不产生影响。通过执行上述噪声处理(D2)，噪声侵入期间的实际计数值利用上述第1平均实际计数值进行置换，没有缺失的实际数据得以恢复。
此外，在放射线检测器1为电离室的情况下，因从电离室的内壁表面的天然核素释放的α射线而有突发的噪声电流流过。电荷积分部21的锯齿波输出突变上升而不连续。由于是极其罕见地产生的单次现象，因此，在下一运算周期，锯齿波的斜率正常恢复。该现象中产生的漏测最大为2个运算周期。通过执行上述噪声处理(D3)，该运算周期的实际计数值利用上述第2平均实际计数值进行置换，因此，对测定没有实质影响。
静电噪声为放射线测定装置受到影响的代表性电磁噪声中的一种。静电噪声中，侵入到电荷积分部21的输入中的正或负的噪声电流作为正或负的突变电压噪声与其输出信号的锯齿波状脉冲重叠。此外，静电噪声中，侵入到电荷积分部21的输入中的正负交替振动的噪声电流作为振动电压噪声与其输出信号的锯齿波状脉冲重叠。两者均将噪声侵入过程中的电流信号分量忠实地反映到噪声刚平息后的锯齿波状脉冲中。由于对作为电荷积分部21的输出信号的锯齿波脉冲的基本波形没有影响，因此，适用上述噪声处理(D2)。
此外，由于放射线检测器内的自污染放射性物质的α射线，使得锯齿波状脉冲的基本波形作为单次现象突变成台阶状。若去除该台阶状的突变，则自污染放射性物质对锯齿波状脉冲的基本波形(电荷积分部21的输出信号)没有影响，因此，适用上述噪声处理(D3)。在噪声处理(D3)中，基于紧接在噪声侵入之前和之后的累计计数值，求出第2平均实际计数值，对中间值进行插值。由于将具有所设定的数据数量的实际计数值的数据列(实际计数值的时间序列排列)更新到最新，因此，可获得没有漏测的高可靠性且高精度的放射线测定装置。
本发明的放射线测定装置包括：放射线检测器，该放射线检测器检测放射线并输出电流信号；电流/电压·频率转换单元，该电流/电压·频率转换单元将该电流信号的电荷进行累积并转换成电压信号，在该电压信号达到设定的电压水平时将累积的电荷放电并输出矩形波脉冲，重复电荷的累积和放电，从而输出与电流信号成比例的重复频率的锯齿波状脉冲；模拟/数字转换单元，该模拟/数字转换单元对形成所述锯齿波状脉冲的电压信号进行采样并输出电压值；计数单元，该计数单元对所述矩形波脉冲进行计数并输出计数值；及运算单元。
所述运算单元具有工程值运算处理单元和噪声处理单元，所述工程值运算处理单元每隔运算周期输入所述电压值及所述计数值，基于所述电压值求出小于1的计数值，对该小于1的计数值加上所述计数值以求出相加计数值，求出作为本次运算周期与上次运算周期的所述累计计数值之差的实际计数值，以将作为设定的数据数量的所述实际计数值的时间序列排列的数据列更新到最新的形式来获取本次运算周期的所述实际计数值，基于该数据列，求出移动平均计数率，将该移动平均计数率转换成工程值并输出。
所述噪声处理单元在本次运算周期的所述实际计数值在容许范围内的情况下，使所述工程值运算处理单元执行输出基于本次运算周期的所述移动平均计数率的工程值的通常处理。在脱离所述容许范围的情况下，执行输出刚要脱离所述容许范围之前的运算周期的工程值的一连串第1噪声处理。在连续执行所述第1噪声处理的次数在规定次数以内的情况下，继续所述第1噪声处理。若在该设定次数以内所述实际计数值恢复到容许范围，则从本次运算周期的所述累计计数值减去紧接在第1噪声处理之前的运算周期的所述累计计数值，将其差值除以执行第1噪声处理的次数(Q+1)，求出第1平均实际计数值。
在第1平均实际计数值在所述容许范围内的情况下，将所述实际计数值利用该第1平均实际计数值进行置换，求出所述移动平均计数率。进一步地，执行将该移动平均计数率转换成所述工程值并输出的第2噪声处理。将执行所述第1噪声处理的次数复位，结束一连串噪声处理。
在第1平均实际计数值脱离所述容许范围的情况下，将脱离了容许范围的实际计数值(本次)利用紧接在实际计数值(本次)之前且处于所述容许范围内的第2平均实际计数值分别进行置换，求出所述移动平均计数率。执行将该移动平均计数率转换成所述工程值并输出的第3噪声处理。将执行所述第1噪声处理的次数复位，结束一连串噪声处理。在所述设定次数以内所述实际计数值没有恢复到容许范围的情况下，跳过噪声处理而执行通常处理。若所述实际计数值恢复到容许范围内，则将执行第1噪声处理的次数复位，并将噪声处理的跳过复位。
因此，本发明的放射线测定装置的特征在于，包括：放射线检测器，该放射线检测器在放射线入射时输出电流信号；第1转换单元，该第1转换单元将放射线检测器输出的电流信号转换成电压信号并基于该电压信号形成矩形波脉冲；第2转换单元，该第2转换单元对经第1转换单元转换后的电压信号进行采样并输出数字电压数据；计数单元，该计数单元对第1转换单元形成的矩形波脉冲进行计数；运算单元，该运算单元根据第2转换单元输出的数字电压数据和计数单元输出的矩形波脉冲的计数值来求出累计计数值，根据本次运算周期的累计计数值(本次)与上次运算周期的累计计数值(上次)之差求出实际计数值(本次)并存储；及显示单元，该显示单元显示运算单元运算得到的结果，运算单元每隔运算周期读取实际计数值(本次)和累计计数值(上次)，判断读取的该实际计数值(本次)是否在容许范围内，在判断为实际计数值(本次)在容许范围内的情况下，判断容许范围脱离次数是否为零，在判断为容许范围脱离次数为零的情况下，执行通常处理，在判断为实际计数值(本次)不在容许范围内的情况下，对容许范围脱离次数加上1，进一步判断相加后的该容许范围脱离次数是否为1，在判断为相加后的容许范围脱离次数为1的情况下，将累计计数值(上次)作为实际计数值刚要脱离容许范围之前的累计计数值进行存储，进一步执行第1噪声处理，在判断为相加后的容许范围脱离次数并非1的情况下，判断该容许范围脱离次数是否在容许次数内，在判断为容许范围脱离次数不在容许次数内的情况下，执行通常处理，在判断为容许范围脱离次数在容许次数内的情况下，执行第1噪声处理，通常处理包含如下处理：根据包含累计计数值(本次)的实际计数值数据列求出移动平均计数率(本次)，将求出的该移动平均计数率(本次)转换成工程值并输出，第1噪声处理包含将上次运算周期的工程值作为本次运算周期的工程值输出的处理。
此外，本发明的放射线测定装置中，其特征在于，运算单元在判断为容许范围脱离次数并非零的情况下，判断该容许范围脱离次数是否在容许次数内，在判断为容许范围脱离次数不在容许次数内的情况下，执行通常处理，进一步将容许范围脱离次数复位，在判断为容许范围脱离次数在容许次数内的情况下，从累计计数值(上次)减去紧接在第1噪声处理之前的运算周期的累计计数值，将其差分除以对容许范围脱离次数加上1后的数，求出第1平均实际计数值，判断求出的该第1平均实际计数值是否在容许范围内，在判断为第1平均实际计数值在容许范围内的情况下，执行第2噪声处理，进一步将容许范围脱离次数复位，第2噪声处理包含如下处理：将脱离容许范围的实际计数值利用第1平均实际计数值进行置换，基于置换后的实际计数值数据列，求出移动平均计数率(本次)，将求出的该移动平均计数率(本次)转换成工程值并输出。
此外，本发明的放射线测定装置中，其特征在于，运算单元在判断为第1平均实际计数值不在容许范围内的情况下，执行第3噪声处理，进一步将容许范围脱离次数复位，第3噪声处理包含如下处理：将实际计数值(本次)和处于容许范围内的最近的实际计数值进行平均，求出第2平均实际计数值，将脱离容许范围的实际计数值利用该第2平均实际计数值进行置换，基于置换后的实际计数值数据列，求出移动平均计数率(本次)，将求出的该移动平均计数率转换成工程值并输出。
实施方式2
基于图8、图14、图15及图16对实施方式2的放射线测定装置100进行说明。实施方式2的放射线测定装置100基本按照图8所示的流程图进行动作。实施方式2中，如图14的流程图那样，在实施方式1的图8的流程图的S06与S07之间追加S061的处理。在S06的判定为是的情况下，在S061中预先存储“Q＝1”及“年月日时刻”。同样，如图15的流程图那样，在图8的流程图的S14与S16之间追加S141的处理。S141中，预先存储“D2结束”和“年月日时刻”。
此外，如图16的流程图那样，在图8的流程图的S15与S16之间追加S151的处理。S151中，预先存储“D3结束”和“年月日时刻”。通过从显示单元6发出请求，将这些存储的内容显示于显示单元6。在放射线检测器1为电离室的情况下，根据噪声的侵入期间，可推定是电气噪声还是自污染α射线噪声。
在放射线测定装置的定期检查时，根据需要，计划接地线连接部位的接触电阻等噪声原因调查。可将这些信息用作为用于有效进行噪声原因调查的维修信息。上述噪声处理单元分别存储开始上述第1噪声处理的年月日时刻、执行上述第2噪声处理的年月日时刻、执行上述第3噪声处理的年月日时刻，上述工程值运算处理单元通过请求来显示这些年月日时刻。
实施方式3
基于图8、图17及图18对实施方式3的放射线测定装置100进行说明。实施方式3的放射线测定装置100基本按照图8所示的流程图进行动作。另外，实施方式3中，如图17的流程图那样，在实施方式2的图15的流程图的S141与S16之间追加S142。S142中，对噪声处理(D2)的次数进行累计，存储D2处理的累计次数。同样，如图18的流程图那样，在图16的流程图的S151与S16之间追加S152。S152中，对噪声处理(D3)的次数进行累计，存储D3处理的累计次数。
通过从显示单元6发出请求，将这些存储的内容显示于显示单元6。通过提供与放射线测定装置的状态有关的信息，进一步提高维修性。上述噪声处理单元的特征在于，分别存储执行上述第2噪声处理的累计次数及执行上述第3噪声处理的累计次数，上述工程值运算处理单元通过请求来显示该累计次数。
实施方式4
基于图8及图19对实施方式4的放射线测定装置100进行说明。另外，实施方式4中，如图19的流程图那样，在实施方式1的S01与S02之间追加S011。S011中，判定是否满足实际计数值(本次)≥噪声处理跳过切换计数值。若S011的判定为否，则判断为低放射线状态，前进至S02。若S011的判定为是，则判断为高放射线状态，前进至S04。S04中，执行通常处理(D0)，返回至S01。因此，噪声处理单元在本次运算周期的实际计数值超过设定的值(噪声处理跳过切换计数值)时，跳过所有的噪声处理。
在不期待噪声处理的高放射线状态下，锯齿波状脉冲的重复频率变高。锯齿波的倾斜变急，产生可无视基于电压值(数字转换后的电压数据)的不足1次计数的计数值c(本次)的状态。在高放射线状态下，通过跳过噪声处理，模拟/数字转换单元4可避免读取电荷积分部21的输出(锯齿波状脉冲的电压)的时刻诱发噪声处理功能的误动作的风险。其结果是，在测定范围的上限内，可获得可靠性较高的放射线测定装置。
另外，本发明可以在该发明的范围内将实施方式自由地进行组合，或对各实施方式进行适当地变形、省略。
工业上的实用性
如上所述，本发明的放射线测定装置对基于来自放射线检测器的电流信号的锯齿波电压的基本波形重叠有噪声电流所引起的电压突变后的测定数据执行第1～第3噪声处理，从而抑制噪声电流所引起的指示变动，可用作为设置于核电站、核燃料再处理设施、放射线利用设施及这些设施周边等的用于测定空间的剂量率等的放射线测定装置。
标号说明
1放射线检测器、2电流/电压·频率转换单元、21电荷积分部、211电容器、212运算放大器、22电压比较部、23电荷放电部、231恒流源、24矩形波脉冲输出部、3计数单元、4模拟/数字转换单元、5运算单元、5a微处理器、51实际计数值计算部、52实际计数值存储器、53噪声处理部、54移动平均计数率计算部、55工程值转换部、6显示单元、7偏置电源单元、100放射线测定装置、PL容许下限值、PU容许上限值。

Claims (8)

1.一种放射线测定装置，其特征在于，包括：
放射线检测器，该放射线检测器在放射线入射时输出电流信号；
第1转换单元，该第1转换单元将所述放射线检测器输出的电流信号转换成电压信号并基于该电压信号形成矩形波脉冲；
第2转换单元，该第2转换单元对经所述第1转换单元转换后的电压信号进行采样并输出数字电压数据；
计数单元，该计数单元对所述第1转换单元形成的矩形波脉冲进行计数；
运算单元，该运算单元根据所述第2转换单元输出的数字电压数据和所述计数单元输出的矩形波脉冲的计数值来求出累计计数值，根据本次运算周期的本次累计计数值与上次运算周期的上次累计计数值之差求出本次实际计数值并存储；及
显示单元，该显示单元显示所述运算单元运算得到的结果，
所述运算单元每隔运算周期读取本次实际计数值和上次累计计数值，判断读取的该本次实际计数值是否在容许范围内，
在判断为本次实际计数值在容许范围内的情况下，判断容许范围脱离次数是否为零，
在判断为容许范围脱离次数为零的情况下，执行通常处理，
在判断为本次实际计数值不在容许范围内的情况下，对容许范围脱离次数加上1，进一步判断相加后的该容许范围脱离次数是否为1，
在判断为相加后的容许范围脱离次数为1的情况下，将上次累计计数值作为实际计数值刚要脱离容许范围之前的累计计数值进行存储，进一步执行第1噪声处理，
在判断为相加后的容许范围脱离次数并非1的情况下，判断该容许范围脱离次数是否在容许次数内，
在判断为容许范围脱离次数不在容许次数内的情况下，执行所述通常处理，
在判断为容许范围脱离次数在容许次数内的情况下，执行所述第1噪声处理，
所述通常处理包含如下处理：根据包含本次累计计数值的实际计数值数据列求出本次移动平均计数率，将求出的该本次移动平均计数率转换成工程值并输出，
所述第1噪声处理包含将上次运算周期的工程值作为本次运算周期的工程值输出的处理。
2.如权利要求1所述的放射线测定装置，其特征在于，
所述运算单元在判断为容许范围脱离次数并非零的情况下，判断该容许范围脱离次数是否在容许次数内，在判断为容许范围脱离次数不在容许次数内的情况下，执行所述通常处理，进一步将容许范围脱离次数复位，在判断为容许范围脱离次数在容许次数内的情况下，从上次累计计数值减去紧接在第1噪声处理之前的运算周期的累计计数值，将其差分除以对容许范围脱离次数加上1后的数，求出第1平均实际计数值，判断求出的该第1平均实际计数值是否在容许范围内，在判断为第1平均实际计数值在容许范围内的情况下，执行第2噪声处理，进一步将容许范围脱离次数复位，
所述第2噪声处理包含如下处理：将脱离容许范围的实际计数值利用第1平均实际计数值进行置换，基于置换后的实际计数值数据列，求出本次移动平均计数率，将求出的该本次移动平均计数率转换成工程值并输出。
3.如权利要求2所述的放射线测定装置，其特征在于，
所述运算单元在判断为第1平均实际计数值不在容许范围内的情况下，执行第3噪声处理，进一步将容许范围脱离次数复位，
所述第3噪声处理包含如下处理：将本次实际计数值和处于容许范围内的最近的实际计数值进行平均，求出第2平均实际计数值，将脱离容许范围的实际计数值利用该第2平均实际计数值进行置换，基于置换后的实际计数值数据列，求出本次移动平均计数率，将求出的该本次移动平均计数率转换成工程值并输出。
4.如权利要求3所述的放射线测定装置，其特征在于，
所述运算单元在执行所述第1噪声处理时，存储该第1噪声处理的开始时刻，
在执行所述第2噪声处理时，存储执行该第2噪声处理的时刻，在执行所述第3噪声处理时，存储执行该第3噪声处理的时刻。
5.如权利要求4所述的放射线测定装置，其特征在于，
所述显示单元显示第1噪声处理的开始时刻、执行第2噪声处理的时刻及执行第3噪声处理的时刻。
6.如权利要求3所述的放射线测定装置，其特征在于，
所述运算单元在执行所述第2噪声处理时，存储执行该第2噪声处理的累计次数，
在执行所述第3噪声处理时，存储执行该第3噪声处理的累计次数。
7.如权利要求6所述的放射线测定装置，其特征在于，
所述显示单元显示执行第2噪声处理的累计次数及执行第3噪声处理的累计次数。
8.如权利要求3所述的放射线测定装置，其特征在于，
所述运算单元在本次实际计数值超过设定的值的情况下，跳过第1噪声处理、第2噪声处理及第3噪声处理。
CN201710066179.4A 2016-08-05 2017-02-06 放射线测定装置 Active CN107688192B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016154200A JP6628701B2 (ja) 2016-08-05 2016-08-05 放射線測定装置
JP2016-154200 2016-08-05

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN107688192A CN107688192A (zh) 2018-02-13
CN107688192B true CN107688192B (zh) 2019-08-13

Family

ID=61069334

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710066179.4A Active CN107688192B (zh) 2016-08-05 2017-02-06 放射线测定装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11041964B2 (zh)
JP (1) JP6628701B2 (zh)
CN (1) CN107688192B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110196446B (zh) * 2019-05-23 2022-11-11 福州智元仪器设备有限公司 一种高能粒子探测单元脉冲频率的快速平滑方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6183967A (ja) * 1984-09-29 1986-04-28 Toshiba Corp 微小電流測定装置
JP2000258537A (ja) * 1999-03-11 2000-09-22 Mitsubishi Electric Corp 信号検出装置
JP2003028963A (ja) * 2001-07-18 2003-01-29 Mitsubishi Electric Corp パルス信号検出装置
JP2004294193A (ja) * 2003-03-26 2004-10-21 Toshiba Corp 放射線出力監視装置
JP2006098081A (ja) * 2004-09-28 2006-04-13 Aloka Co Ltd 放射線測定器

Family Cites Families (77)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2630959C2 (de) * 1976-07-07 1986-04-30 Heliowatt Werke Elektrizitäts- Gesellschaft mbH, 1000 Berlin Kilowattstundenzähler mit statischem Meßwerk
JPS5329787A (en) * 1976-08-31 1978-03-20 Kagaku Gijutsucho Hoshasen Igaku Sogo Kenkyusho Measuring device for radiation
US4281382A (en) * 1977-12-21 1981-07-28 Medtronic, Inc. Radiation signal processing system
US4301367A (en) * 1980-01-21 1981-11-17 Hsu Sam S Radiation dosimeter
US4381450A (en) * 1981-01-22 1983-04-26 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Pulsed radiation dosimetry apparatus
US4591984A (en) * 1981-08-10 1986-05-27 Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha Radiation measuring device
US4880981A (en) * 1988-03-11 1989-11-14 Bicron Corporation Low level radiation measurement device
JPH079456B2 (ja) * 1988-10-07 1995-02-01 三菱電機株式会社 放射線測定装置
JPH03122588A (ja) * 1989-10-05 1991-05-24 Hitachi Medical Corp 放射線検出器，データ収集装置およびこれを用いる放射線ｃｔ装置
JP2951674B2 (ja) * 1989-12-26 1999-09-20 株式会社日立製作所 放射線監視方法及びその装置
US5650616A (en) * 1992-04-14 1997-07-22 Olympus Optical Co., Ltd. Apparatus and method for analyzing surface
US5477050A (en) * 1994-06-16 1995-12-19 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Radiation sensor dosimetry circuit
JP3517329B2 (ja) * 1997-02-24 2004-04-12 三菱電機株式会社 ディジタル計数率計
JP3517331B2 (ja) * 1997-04-07 2004-04-12 三菱電機株式会社 ディジタル計数率計
US6163029A (en) * 1997-09-22 2000-12-19 Kabushiki Kaisha Toshiba Radiation detector, radiation detecting method and X-ray diagnosing apparatus with same radiation detector
JP3936107B2 (ja) * 1998-09-21 2007-06-27 株式会社東芝 原子炉起動監視装置および炉内出力監視方法
US6229377B1 (en) * 1999-06-22 2001-05-08 Bechtel Bwxt Idaho, Llc Dual amplitude pulse generator for radiation detectors
JP3879352B2 (ja) * 2000-02-03 2007-02-14 三菱電機株式会社 放射線監視システム
JP3247987B2 (ja) * 2000-03-27 2002-01-21 忠男 趙 放射線測定警報システム
JP4031618B2 (ja) * 2001-02-28 2008-01-09 安西メディカル株式会社 放射線源検出装置
DE10211387B4 (de) * 2001-03-15 2020-03-26 Omron Corp. Strahlungsimpulse verwendender Sensor
JP4417972B2 (ja) * 2001-03-28 2010-02-17 株式会社東芝 放射線測定装置
JP3958069B2 (ja) * 2001-03-28 2007-08-15 株式会社東芝 放射線測定装置
JP3750924B2 (ja) * 2001-08-13 2006-03-01 三菱電機株式会社 放射線モニタ
US7053377B2 (en) * 2003-04-10 2006-05-30 Capintec, Inc. Portable solid-state remote dosimeter
JP2004333326A (ja) * 2003-05-08 2004-11-25 Nippon Kankyo Chosa Kenkyusho:Kk 放射線測定器および放射線測定方法
US8384004B1 (en) * 2004-10-22 2013-02-26 Lawrence Livermore National Security Real-time multi-mode neutron multiplicity counter
JP5148053B2 (ja) * 2005-07-11 2013-02-20 株式会社東芝 パルス計数計とそれを用いた原子炉出力監視装置ならびにパルス計数方法
JP2007071760A (ja) * 2005-09-08 2007-03-22 Mitsubishi Electric Corp 放射線測定装置
JP4731330B2 (ja) * 2006-01-05 2011-07-20 三菱電機株式会社 放射線モニタ
JP5340524B2 (ja) * 2006-03-23 2013-11-13 浜松ホトニクス株式会社 放射線検出器及び放射線検出方法
JP4795272B2 (ja) * 2007-03-01 2011-10-19 三菱電機株式会社 放射線測定装置
US8587949B2 (en) * 2007-03-27 2013-11-19 Electro Industries/Gauge Tech Electronic meter having user-interface and central processing functionality on a single printed circuit board
JP4912983B2 (ja) * 2007-08-24 2012-04-11 株式会社東芝 放射線モニタ及びその動作確認方法
US8869388B2 (en) * 2008-07-22 2014-10-28 Shimadzu Corporation Method of manufacturing radiation tomography apparatus
US8704186B2 (en) * 2009-11-17 2014-04-22 Lawrence Livermore National Security, Llc Active noise canceling system for mechanically cooled germanium radiation detectors
JP5588238B2 (ja) * 2009-11-30 2014-09-10 株式会社東芝 半導体放射線検出器
JP5419670B2 (ja) * 2009-12-14 2014-02-19 三菱電機株式会社 放射線測定装置及びその診断方法
JP5373711B2 (ja) * 2010-07-02 2013-12-18 三菱電機株式会社 放射線監視装置
US9057789B2 (en) * 2010-09-02 2015-06-16 Hitachi, Ltd. Radiation measuring device
NZ588050A (en) * 2010-09-17 2013-03-28 Ind Res Ltd Recording dose information about ionizing radiation absored and stored in a dosimeter
GB201019521D0 (en) * 2010-11-18 2010-12-29 Durham Scient Crystals Ltd Radiation detection
US8866094B2 (en) * 2010-12-09 2014-10-21 Rigaku Corporation Radiation detector
JP5542767B2 (ja) * 2011-09-27 2014-07-09 三菱電機株式会社 放射線モニタ
JP5743844B2 (ja) * 2011-10-18 2015-07-01 三菱電機株式会社 放射線モニタ
WO2013073071A1 (ja) * 2011-11-15 2013-05-23 富士電機株式会社 パルス処理装置および放射線分析装置
JP5755116B2 (ja) * 2011-11-28 2015-07-29 三菱電機株式会社 放射線測定装置
US20150017092A1 (en) * 2012-03-15 2015-01-15 The Regents Of The University Of California Devices and methods for determining sensitivity to radiation
JP5868256B2 (ja) * 2012-04-26 2016-02-24 三菱電機株式会社 線量率測定装置
JP5773949B2 (ja) * 2012-06-06 2015-09-02 三菱電機株式会社 放射線監視装置
JP5931690B2 (ja) * 2012-10-22 2016-06-08 三菱電機株式会社 放射線測定装置
JP6076062B2 (ja) * 2012-12-05 2017-02-08 三菱電機株式会社 放射線モニタ
US9658155B2 (en) * 2012-12-17 2017-05-23 Patrick K Brady System and method for identifying materials using a THz spectral fingerprint in a media with high water content
JP6005513B2 (ja) * 2012-12-28 2016-10-12 株式会社東芝 ディジタル計数率計測装置およびそれを用いた放射線モニタシステム
JP5986524B2 (ja) * 2013-02-28 2016-09-06 キヤノン株式会社 放射線撮像装置および放射線撮像システム
JP6124663B2 (ja) * 2013-04-19 2017-05-10 三菱電機株式会社 線量率測定装置
JP6159144B2 (ja) * 2013-05-10 2017-07-05 株式会社堀場製作所 パルス波高検出装置、放射線検出装置、放射線分析装置、及びパルス波高検出方法
JP6066835B2 (ja) * 2013-05-31 2017-01-25 三菱電機株式会社 放射線測定装置
US9720101B2 (en) * 2013-06-27 2017-08-01 Globalfoundries Inc. Method of consumer/producer raw material selection
JP6214031B2 (ja) * 2013-07-19 2017-10-18 国立研究開発法人理化学研究所 放射線検出器のための信号データ処理方法、信号データ処理装置、および放射線検出システム
US9759819B2 (en) * 2013-08-08 2017-09-12 Mitsubishi Electric Corporation Radiation measurement device
CN105593701B (zh) * 2013-09-25 2019-05-17 模拟技术公司 混合光子计数数据采集系统
US9678216B2 (en) * 2013-10-17 2017-06-13 Hempishere GNSS, Inc. Short range position sensing device and method of use
JP6531108B2 (ja) * 2013-10-23 2019-06-12 ナノヴィジョン・テクノロジー・（ベイジン）・カンパニー・リミテッド 光子計数に基づく放射線結像システム、方法、及びそのデバイス
JP6080778B2 (ja) * 2014-01-14 2017-02-15 三菱電機株式会社 放射線監視装置
JP6414830B2 (ja) * 2014-02-28 2018-10-31 株式会社ＡＮＳｅｅＮ 波形弁別装置、波形弁別方法及び波形弁別プログラム
JP6072977B2 (ja) * 2014-03-28 2017-02-01 三菱電機株式会社 放射線モニタ
EP3153887A4 (en) * 2014-06-09 2018-02-28 Mitsubishi Electric Corporation Radiation measurement device
US9612290B2 (en) * 2014-10-15 2017-04-04 NDSL, Inc. Reducing or avoiding noise in measured signals of a tested battery cell(s) in a battery power system used to determine state of health (SOH)
WO2016063391A1 (ja) * 2014-10-23 2016-04-28 三菱電機株式会社 線量率測定装置
JP6308934B2 (ja) * 2014-12-15 2018-04-11 三菱電機株式会社 放射線測定装置
JP6516320B2 (ja) * 2015-01-20 2019-05-22 株式会社日立ハイテクサイエンス 放射線分析装置
WO2016170566A1 (ja) * 2015-04-20 2016-10-27 三菱電機株式会社 放射線測定装置
JP6572025B2 (ja) * 2015-07-02 2019-09-04 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及びその制御方法
WO2017187972A1 (ja) * 2016-04-28 2017-11-02 株式会社堀場製作所 放射線検出装置及び放射線検出用信号処理装置
JP6196709B1 (ja) * 2016-06-30 2017-09-13 東芝電力放射線テクノサービス株式会社 放射線測定装置、方法及びプログラム
US10422896B1 (en) * 2016-10-24 2019-09-24 Triad National Security, Llc High count rate thermal neutron detectors and electronics

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6183967A (ja) * 1984-09-29 1986-04-28 Toshiba Corp 微小電流測定装置
JP2000258537A (ja) * 1999-03-11 2000-09-22 Mitsubishi Electric Corp 信号検出装置
JP2003028963A (ja) * 2001-07-18 2003-01-29 Mitsubishi Electric Corp パルス信号検出装置
JP2004294193A (ja) * 2003-03-26 2004-10-21 Toshiba Corp 放射線出力監視装置
JP2006098081A (ja) * 2004-09-28 2006-04-13 Aloka Co Ltd 放射線測定器

Also Published As

Publication number Publication date
US20180038965A1 (en) 2018-02-08
CN107688192A (zh) 2018-02-13
JP6628701B2 (ja) 2020-01-15
JP2018021857A (ja) 2018-02-08
US11041964B2 (en) 2021-06-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106656390B (zh) 用于测量光子时间信息的装置及方法
CN104067097B (zh) 高分辨率温度测量
CN107076861B (zh) 剂量率测定装置
JP2010281703A (ja) 広域中性子束監視システムおよび検出器特性評価装置
JP2007183118A (ja) 放射線モニタ
CN107688192B (zh) 放射线测定装置
CN108333617A (zh) 一种海水中放射性物质检测的快速寻峰方法
US4103166A (en) Method and apparatus for monitoring the output of a neutron detector
CN107450092B (zh) 用于测量光子信息的装置
US20140151556A1 (en) Device and method for estimating the concentration of gas radon
CN104316950A (zh) 一种辐射剂量率低功耗探测与宽量程刻度方法及装置
US4441024A (en) Wide range radioactive gas concentration detector
CN1005652B (zh) 自选量程高压数字兆欧表
CN103580654A (zh) 反应堆周期信号发生器及其实现方法和使用方法
JP2006126124A (ja) 放射性ダストモニタ
CN113311470B (zh) 一种电离辐射测量装置及其测量方法
US2927246A (en) Counting circuit
JP6416039B2 (ja) 放射線検出装置
CN102636805B (zh) 半导体探测器γ/X射线电荷收集效率的测量方法及系统
Kondrasovs et al. An adaptive smoother for counting measurements
CN105181080A (zh) 一种基于tdc芯片技术的数字化电容式物位计
Brown et al. EXPERIMENTAL PERSONNEL RADIATION DOSIMETERS
Chauvenet et al. A general dead-time correction method based on live-time stamping. Application to the measurement of short-lived radionuclides
JPH0345143Y2 (zh)
Roesch et al. METHOD FOR MEASURING RADIATION

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant