CN106796183A - 膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体 - Google Patents

膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体 Download PDF

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Abstract

膜制造方法包括：缺陷信息取得工序，取得包含隔膜卷料(12b)的缺陷(D)的位置信息的缺陷信息；分切工序，将隔膜卷料(12b)分切而得到多个隔膜(12a)；以及判定工序，根据一个与缺陷(D)相关的缺陷信息，将实际含有缺陷(D)的隔膜(12a)以及与该隔膜(12a)邻接的其他隔膜(12a)判定为不合格隔膜。

Description

膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体
技术领域
本发明涉及膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体。
背景技术
已知具有光学膜的片状产品的缺陷检查装置(专利文献1)。该缺陷检查装置将从保护膜检查部得到的缺陷的信息与其位置信息、制造识别信息一起作为码数据(二维码、QR码(注册商标))而以规定间距形成在PVA膜卷料的一端面。
由此，在取得片状产品的缺陷的位置信息后，能够确定通过在分切工序中将片状产品沿长度方向切断而得到的多个膜中的哪个膜含有缺陷。由此，通过对具有缺陷的膜实施将具有缺陷的位置切除等适当的处置，能够制造不具有缺陷的膜。
在先技术文献
专利文献
专利文献1：日本公开专利公报特开2008-116437号公报(2008年5月22日公开)
发明内容
发明所要解决的课题
然而，在即使取得作为膜卷料的片状产品的缺陷的位置信息也无法在分切工序中在所希望的分切位置将膜卷料切断的情况下，无法准确地确定多个膜中的哪个膜含有缺陷，从而尽管是具有缺陷的不合格膜也判定为合格膜。其结果是，无法对不合格膜实施适当的处置，不合格膜有时会作为合格膜而流出。
本发明的目的在于，提供在通过将膜卷料切断而得到膜的情况下降低将具有缺陷的膜判定为合格膜的风险的膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体。
用于解决课题的方案
为了解决上述的课题，本发明所涉及的膜制造方法的特征在于，包括：缺陷信息取得工序，取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；分切工序，将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及判定工序，根据一个与所述缺陷相关的所述缺陷信息来进行分切后的膜的不合格判定，从而将实际含有所述缺陷的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。
根据上述的制造方法，通过进行分切后的膜的不合格判定，其结果是，不仅将实际含有缺陷的膜判定为不合格膜，还将与该膜邻接的其他膜也判定为不合格膜。由此，即使在由于在从所希望的分切位置偏移的位置处将膜卷料分切而使原本应当含有缺陷含的膜中不含有缺陷而与该膜邻接的其他膜中含有缺陷的情况下，也能够降低错误地将具有缺陷的膜判定为合格膜的风险。
在本发明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述缺陷信息取得工序中，取得将所述膜卷料的表面的区域划分为沿宽度方向排列的多个区域而成的各个分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息，在所述判定工序中，根据与具有所述缺陷的一个所述分割区域相关的所述缺陷信息，将包括具有所述缺陷的所述分割区域而得到的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。
根据上述的制造方法，取得膜卷料的各个分割区域的有无缺陷的信息，将与实际含有缺陷的膜邻接的其他膜判定为不合格膜。这样，根据与各分割区域的有无缺陷相关的简易的信息，将上述其他膜判定为不合格膜，因此能够降低错误地将具有缺陷的膜判定为合格膜的风险。
在本发明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述分切工序中，在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切，在所述判定工序中，将所述其他膜判定为不合格膜，所述其他膜包括隔着具有所述缺陷的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到。
在沿着具有缺陷的分割区域的边界线的分切线处将膜卷料分切的情况下，因分切位置偏移而在与原本应当含有缺陷的膜邻接的其他膜中容易含有缺陷。
根据上述的制造方法，在沿着分割区域的边界线的分切线处将膜卷料分切，将包括与具有缺陷的分割区域邻接的分割区域而得到的膜判定为不合格膜，因此能够将因分切位置的偏移而容易含有缺陷的膜适当地判定为不合格膜，能够降低错误地将具有缺陷的膜判定为合格膜的风险。
在本发明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述分切工序中，以与所述多个分割区域对应地得到各所述膜的方式，在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切，在所述判定工序中，将所述其他膜判定为不合格膜，所述其他膜包括隔着所述多个分割区域中的位于端部的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到，所述多个分割区域具有所述缺陷并且与各所述膜对应。
在以与一个分割区域对应地得到一个膜的方式将膜卷料分切的情况下，在与具有缺陷的分割区域对应的膜的两边邻接的膜中容易含有缺陷，需要将两边邻接的膜判定为不合格膜。
相对于此，根据上述的制造方法，以与多个分割区域对应地得到膜的方式将膜卷料分切，因此在与具有缺陷的分割区域对应的膜的两边邻接的膜中的、至少一方的膜中不易含有缺陷，无需将上述一方的膜判定为不合格膜。由此，能够减少尽管实际不含有缺陷但被判定为不合格膜的膜。
在本发明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述分切工序中，以与三个分割区域对应地得到各所述膜的方式，在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切，在所述判定工序中，将所述其他膜判定为不合格膜，所述其他膜包括隔着所述三个分割区域中的位于端部的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到，所述三个分割区域具有所述缺陷并且与各所述膜对应。
根据上述的制造方法，在与一个膜对应的三个分割区域中的、正中央的分割区域具有缺陷的情况下，在与上述三个分割区域对应的膜的两边邻接的膜中不易含有缺陷，无需将上述两边邻接的膜判定为不合格膜。由此，能够减少尽管实际不含有缺陷但被判定为不合格膜的膜。
在本发明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述分切工序中，在将所述分割区域裁开的分切线处将所述膜卷料分切，在所述判定工序中，将包括具有所述缺陷的所述分割区域被裁开而成的区域而得到的两个膜判定为不合格膜。
在将分割区域裁开的分切线处将膜卷料分切的情况下，包括具有缺陷的分割区域被裁开而成的区域而得到的两个膜中的任一方含有缺陷的可能性均高。根据上述的制造方法，能够将含有缺陷的可能性高的上述两个膜判定为不合格膜，能够降低错误地将具有缺陷的膜判定为合格膜的风险。
在本发明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述缺陷信息取得工序中，取得相互交替排列的第一分割区域和宽度比所述第一分割区域的宽度宽的第二分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息，在所述分切工序中，在将所述分割区域裁开的分切线处将所述膜卷料分切，在所述判定工序中，将包括具有所述缺陷的所述分割区域被裁开而成的区域而得到的两个膜判定为不合格膜。
在将包括具有缺陷的分割区域被裁开而成的区域而得到的两个膜判定为不合格膜的情况下，与将宽度宽的分割区域裁开的情况相比，在将宽度窄的分割区域裁开的情况下，在被裁开的分割区域中含有缺陷的可能性更低，因此能够减少尽管实际不含有缺陷但被判定为不合格膜的膜。
另外，为了解决上述的课题，本发明所涉及的膜制造方法的特征在于，包括：缺陷信息取得工序，取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；分切工序，将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及判定工序，根据所述缺陷信息而进行分切后的膜的不合格判定，在所述缺陷信息取得工序中，取得将所述膜卷料的表面的区域划分为沿宽度方向排列的多个区域而成的各个分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息，在所述判定工序中，在存在缺陷的所述分割区域与所述分切线不重叠的情况下，将包括该分割区域而得到的一个膜判定为不合格膜，在存在缺陷的所述分割区域或者其边界线与所述分切线重叠的情况下，将在该分切线处被裁开的两个膜判定为不合格膜。
根据上述的制造方法，在存在缺陷的上述分割区域或者其边界线与上述分切线重叠的情况下，将在该分切线处裁开的两个膜判定为不合格膜。在与具有缺陷的分割区域重叠的分切线处将膜卷料分切的情况下，因分切位置偏移而使与原本应当含有缺陷的膜邻接的其他膜中容易含有缺陷，通过将隔着分切线相互邻接的两个膜判定为不合格膜，从而即使在原本应当含有缺陷的膜中不含有缺陷而与该膜邻接的其他膜中含有缺陷的情况下，也能够降低错误地将具有缺陷的膜判定为合格膜的风险。
而且，根据上述的制造方法，在存在缺陷的上述分割区域与上述分切线不重叠的情况下，将包括该分割区域而得到的一个膜判定为不合格膜。在不将具有缺陷的分割区域在分切线处分切的情况下，即使在分切位置发生偏移的情况下，与原本应当含有缺陷的膜邻接的其他膜中含有缺陷的可能性也低。因此，通过包括分割区域而得到的一个膜判定为不合格膜，能够减少尽管实际不含有缺陷但被判定为不合格膜的膜。
在本发明所涉及的膜制造方法中，也可以包括缺陷信息记录工序，在该缺陷信息记录工序中，记录所述膜卷料的在长度方向上具有规定长度的各个单位区域的所述缺陷信息。
根据上述的制造方法，在单位区域中含有多个缺陷的情况下，作为各个单位区域的缺陷信息能够汇总地进行记录，能够简化制造工序。
在本发明所涉及的膜制造方法中，也可以在所述缺陷信息记录工序中，记录所述单位区域的各个所述分割区域的有无所述缺陷的信息。
根据上述的制造方法，能够将单位区域进一步划分为分割区域，作为各个分割区域的有无缺陷的信息汇总地进行记录，能够削减所记录的信息量。
本发明所涉及的膜制造方法也可以在所述缺陷信息记录工序中，根据所述单位区域的缺陷的个数来切换第一模式和第二模式，在所述第一模式下，记录从由所述单位区域的缺陷的个数的信息、各缺陷的位置信息、以及各缺陷的大小的信息构成的组中选出的至少任一个信息来作为所述缺陷信息，在所述第二模式下，记录所述单位区域的各个所述分割区域的有无所述缺陷的信息来作为所述缺陷信息。
根据上述的制造方法，能够根据缺陷的个数，切换记录详细的缺陷信息的第一模式、以及记录简易的信息的第二模式，在能够记录的信息量受限的情况下，能够在信息量的制约下记录适当的缺陷信息。
本发明所涉及的膜制造方法也可以包括缺陷标记施加工序，在该缺陷标记施加工序中，在实际含有缺陷的所述膜施加表示该缺陷的位置的第一标记，并且在所述其他膜的与所述第一标记对应的位置施加第二标记。
根据上述的制造方法，能够在之后的工序中，容易地检测不合格膜的缺陷的位置。
本发明所涉及的膜制造方法也可以包括卷料缺陷标记施加工序，在该卷料缺陷标记施加工序中，根据所述缺陷信息，在所述膜卷料的与实际含有缺陷的所述膜对应的位置施加表示所述缺陷的位置的第一标记，并且在所述膜卷料的与所述其他膜对应的位置、即从所述第一标记的位置沿宽度方向移动后的位置施加第二标记，在所述分切工序中，将施加有所述第一标记以及所述第二标记的所述膜卷料分切。
根据上述的制造方法，对分切前的膜卷料施加标记，因此与对分切后的膜施加标记的情况相比，能够在准确的位置施加标记。
本发明所涉及的膜制造方法也可以在所述卷料缺陷标记施加工序中，以不与所述分切线重叠的方式施加所述第一标记以及所述第二标记。
根据上述的制造方法，能够防止在分切工序中标记被切断而难以进行不合格膜的辨别的情况。
本发明所涉及的膜制造方法也可以包括缺陷切除工序，在该缺陷切除工序中，根据所述缺陷信息将所述不合格膜的一部分切除。
根据上述的制造方法，能够将不合格膜的缺陷切除从而作为合格的膜来利用。
另外，为了解决上述的课题，本发明所涉及的膜制造装置的特征在于，具备：缺陷信息取得部，其取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；分切部，其将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及判定部，其根据一个与所述缺陷相关的所述缺陷信息来进行分切后的膜的不合格判定，从而将实际含有所述缺陷的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。
另外，为了解决上述的课题，本发明所涉及的膜制造装置的特征在于，包括：缺陷信息取得部，其取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；分切部，其将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及判定部，其根据所述缺陷信息而进行分切后的膜的不合格判定，所述缺陷信息取得部取得将所述膜卷料的表面的区域划分为沿宽度方向排列的多个区域而成的各个分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息，在所述判定部中，在存在缺陷的所述分割区域与所述分切线不重叠的情况下，将包括该分割区域而得到的一个膜判定为不合格膜，在存在缺陷的所述分割区域或者其边界线与所述分切线重叠的情况下，将在该分切线处被裁开的两个膜判定为不合格膜。
另外，为了解决上述的课题，本发明所涉及的膜为与将具有缺陷的膜卷料的表面由沿着长度方向的边界线划分而成的各个区域对应地得到的多个膜中的一个膜，其特征在于，所述膜与隔着所述边界线同含有所述缺陷的区域邻接的区域对应地得到，在隔着所述边界线而与所述缺陷对置的位置施加标记。
另外，为了解决上述的课题，本发明所涉及的膜卷绕体的特征在于，所述膜卷绕体通过将所述膜卷绕成辊状而成。
这样，通过在与缺陷对应的位置施加有标记的状态下卷绕膜而形成膜卷绕体，从而膜的处理变得容易，并且能够在卷出膜时识别缺陷的位置。
发明效果
根据本发明，能够提供在通过将膜卷料切断而得到膜的情况下抑制具有缺陷的膜的流出的膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体。
附图说明
图1是示出实施方式1的锂离子二次电池的剖面结构的示意图。
图2是示出图1所示的锂离子二次电池的详细结构的示意图。
图3是示出图1所示的锂离子二次电池的另一结构的示意图。
图4是用于对上述隔膜卷料的缺陷打标方法的缺陷检测工序以及缺陷信息记录工序进行说明的示意图。
图5是用于对上述缺陷检测工序中的基材缺陷检查装置的结构进行说明的图。
图6是用于对上述缺陷检测工序中的涂敷缺陷检查装置的结构进行说明的图。
图7是用于对上述缺陷检测工序中的针孔缺陷检查装置的结构进行说明的图。
图8是示出对上述隔膜进行分切的分切装置的结构的示意图。
图9是示出图8所示的分切装置的切断装置的结构的放大图、侧视图、主视图。
图10是用于对上述隔膜的缺陷位置确定方法的读取工序、标记施加工序以及卷绕工序进行说明的示意图。
图11是用于对上述隔膜的缺陷位置确定方法的标记探测工序以及缺陷去除工序进行说明的示意图。
图12是用于对实施方式2所涉及的隔膜卷料的缺陷打标方法的缺陷检测工序以及缺陷信息记录工序进行说明的示意图。
图13是用于对上述隔膜的缺陷位置确定方法的读取工序、标记施加工序以及卷绕工序进行说明的示意图。
图14是用于对实施方式3所涉及的隔膜制造方法中记录缺陷码的位置进行说明的隔膜卷料的俯视图。
图15是例示含有缺陷的分割区域、分切线以及不合格隔膜之间的关系的图。
图16是用于对实施方式4所涉及的隔膜制造方法的读取工序、标记施加工序以及卷绕工序进行说明的示意图。
图17是示出在与缺陷对应的位置施加有标记的隔膜卷料或者隔膜的立体图。
具体实施方式
以下，对本发明的实施方式进行详细说明。
〔实施方式1〕
以下，作为本发明所涉及的膜的一例，对锂离子二次电池等电池用的隔膜以及耐热隔膜进行说明。另外，作为本发明所涉及的膜制造方法以及膜制造装置的一例，依次对隔膜制造方法以及隔膜制造装置进行说明。
<锂离子二次电池>
以锂离子二次电池为代表的非水电解液二次电池的能量密度高，因此当前作为在个人计算机、便携式电话、便携式信息终端等设备、机动车、航空器等移动体中使用的电池而被广泛使用，或者作为有助于电力的稳定供给的固定用电池而被广泛使用。
图1是示出锂离子二次电池1的剖面结构的示意图。如图1所示，锂离子二次电池1具备阴极11、隔膜12以及阳极13。在锂离子二次电池1的外部，在阴极11与阳极13之间连接外部设备2。而且，在锂离子二次电池1充电时电子向方向A移动，在放电时电子向方向B移动。
<隔膜>
隔膜12配置在锂离子二次电池1的正极即阴极11与其负极即阳极13之间，并被阴极11与阳极13夹持。隔膜12是将阴极11与阳极13之间分离且能够使它们之间的锂离子移动的多孔质膜。作为隔膜12的材料，例如包括聚乙烯、聚丙烯等聚烯烃。
图2是示出图1所示的锂离子二次电池1的详细结构的示意图，(a)示出通常的结构，(b)示出锂离子二次电池1升温后的情形，(c)示出锂离子二次电池1急剧地升温后的情形。
如图2的(a)所示，在隔膜12上设有许多孔P。通常，锂离子二次电池1的锂离子3能够经由孔P而往返。
在此，例如，有时由于锂离子二次电池1的过充电或外部设备的短路所引起的大电流等而导致锂离子二次电池1升温。在该情况下，如图2的(b)所示，隔膜12熔化或变得柔软而堵塞孔P。而且隔膜12收缩。由此，锂离子3的往返停止，因此上述的升温也停止。
但是，在锂离子二次电池1急剧地升温的情况下，隔膜12急剧地收缩。在该情况下，如图2的(c)所示，隔膜12有时破裂。然后，锂离子3从破裂的隔膜12漏出，因此锂离子3的往返不停止。因此，温度继续上升。
<耐热隔膜>
图3是示出图1所示的锂离子二次电池1的另一结构的示意图，(a)示出通常的结构，(b)示出锂离子二次电池1急剧地升温后的情形。
如图3的(a)所示，锂离子二次电池1还可以具备耐热层4。耐热层4与隔膜12形成耐热隔膜12a(隔膜)。耐热层4层叠在隔膜12的阴极11侧的单面上。另外，耐热层4也可以层叠在隔膜12的阳极13侧的单面上，还可以层叠在隔膜12的双面上。而且，在耐热层4也设有与孔P同样的孔。通常，锂离子3经由孔P和耐热层4的孔而往返。作为耐热层4的材料，例如包括全芳香族聚酰胺(芳族聚酰胺树脂)。
如图3的(b)所示，即便锂离子二次电池1急剧地升温而隔膜12熔化或变得柔软，由于耐热层4对隔膜12进行辅助，因此隔膜12的形状也得以维持。因此，停留在隔膜12熔化或变得柔软而堵塞孔P的状态。由此，由于锂离子3的往返停止，从而上述的过放电或过充电也停止。这样，隔膜12的破裂得以抑制。
<耐热隔膜卷料(隔膜卷料)的制造工序>
锂离子二次电池1的耐热隔膜12a的制造不受特别限定，能够利用公知的方法来进行。以下，假设隔膜12的材料主要包括聚乙烯的情况来进行说明。但是，在隔膜12包括其他材料的情况下，也能够通过同样的制造工序来制造耐热隔膜12a。
例如，能够举出在向热塑性树脂添加无机填充剂或增塑剂而进行膜成形之后，利用适当的溶剂将该无机填充剂以及该增塑剂去除的方法。例如，在隔膜12是由包含超高分子量聚乙烯的聚乙烯树脂形成的聚烯烃隔膜的情况下，能够通过以下所示的方法进行制造。
该方法包括如下工序：(1)将超高分子量聚乙烯与无机填充剂(例如碳酸钙、二氧化硅)或增塑剂(例如低分子量聚烯烃、液体石蜡)混制而获得聚乙烯树脂组合物的混制工序；(2)使用聚乙烯树脂组合物来成形膜的压延工序；(3)从通过工序(2)获得的膜中去除无机填充剂或增塑剂的去除工序；以及(4)将通过工序(3)获得的膜拉伸而获得隔膜12的拉伸工序。需要说明的是，也可以在所述工序(2)与(3)之间进行所述工序(4)。
通过去除工序，在膜中设置许多微孔。通过拉伸工序拉伸后的膜的微孔成为上述的孔P。由此，形成具有规定的厚度和透气度的聚乙烯微多孔膜、即隔膜12。
需要说明的是，在混制工序中，也可以对超高分子量聚乙烯100重量份、重量平均分子量在1万以下的低分子量聚烯烃5～200重量份以及无机填充剂100～400重量份进行混制。
然后，在涂敷工序中，在隔膜12的表面形成耐热层4。例如，在隔膜12上涂布芳族聚酰胺/NMP(N-甲基吡咯烷酮)溶液(涂敷液)，形成作为芳族聚酰胺耐热层的耐热层4。耐热层4可以仅设置在隔膜12的单面上，也可以设置在双面上。另外，作为耐热层4，也可以涂敷包含氧化铝/羧甲基纤维素等填料的混合液。
另外，在涂敷工序中，也可以在隔膜12的表面涂敷聚偏氟乙烯/二甲基乙酰胺溶液(涂敷液)(涂敷工序)并使其凝固(凝固工序)，由此在隔膜12的表面形成粘接层。粘接层可以仅设置在隔膜12的单面上，也可以设置在双面上。
在隔膜12上涂敷涂敷液的方法只要是能够均匀地湿涂的方法即可，没有特别的限制，可以采用以往公知的方法。例如，可以采用毛细管涂布法、旋涂法、挤出式涂布法、喷涂法、浸涂法、辊式涂布法、丝网印刷法、柔性印刷法、棒涂法、凹版涂布法、模涂布法等。耐热层4的厚度能够通过调节由涂敷湿膜的厚度、涂敷液中的粘结剂浓度与填料浓度之和表示的固体成分浓度、填料与粘结剂之比来进行控制。
需要说明的是，作为在涂敷时对隔膜12进行固定或者搬运的支承体，能够使用树脂制的膜、金属制的传送带、卷筒等。
如上所述，能够制造层叠有耐热层4的隔膜卷料12c，即耐热隔膜卷料12b(图4)。制造出的耐热隔膜卷料12b被卷绕于圆筒形状的芯53(图4)。需要说明的是，通过以上的制造方法制造出的对象并不限于耐热隔膜卷料12b。该制造方法也可以不包括涂敷工序。此时，制造出的对象是隔膜卷料12c。以下，主要以作为功能层而具有耐热层的耐热隔膜(膜)为例进行说明，但对不具有功能层的隔膜(膜)以及隔膜卷料(膜卷料)也能够进行同样的处理(工序)。
<缺陷检测工序>
在锂离子二次电池所使用的耐热隔膜的制造中，在形成隔膜卷料上涂敷耐热层而成的耐热隔膜卷料的涂敷工序中，当通过检查装置检测出缺陷时，利用标识器在具有该缺陷的卷料上画线后卷绕耐热隔膜卷料。然后，在接下来的分切工序中卷出耐热隔膜卷料。之后，当操作员在卷出的耐热隔膜卷料上目视检查到上述标识器画出的线后，操作员停止上述耐热隔膜卷料的卷出动作。接下来，操作员对与上述标识器画出的线对应的缺陷的耐热隔膜卷料的宽度方向的位置进行目视确认。接下来，通过切断装置沿长度方向对与上述标识器画出的线对应的耐热隔膜卷料的部分进行分切，从而形成多个耐热隔膜。之后，操作员在与上述标识器画出的线所对应的缺陷的宽度方向的位置相应的耐热隔膜的与缺陷对应的位置，以从该耐热隔膜露出的方式粘贴胶带。然后，以露出的方式粘贴有上述胶带的耐热隔膜由卷绕辊卷绕。
接下来，在重卷工序中，将卷绕于卷绕辊的上述耐热隔膜从卷绕辊重卷至重卷辊。之后，当操作员在重卷中途发现以从该耐热隔膜露出的方式粘贴的胶带时，停止重卷动作。然后，操作员沿宽度方向对与该胶带对应的缺陷所处的耐热隔膜的部位进行切断并去除。接下来，将卷绕辊侧的耐热隔膜与重卷辊侧的耐热隔膜接合。之后，重新进行重卷动作，从而将耐热隔膜全部重卷在重卷辊上。
然而，在耐热隔膜卷料上检测出缺陷时仅利用上述标识器画线，因此在接下来的分切工序中，若操作员目视检查到上述标识器，则操作员需要使上述耐热隔膜卷料的卷出动作停止并目视确认上述缺陷的宽度方向的位置。因此，为了确定将耐热隔膜卷料分切而成的多个耐热隔膜上的缺陷位置，需要花费大量的时间。
图4是用于对上述耐热隔膜卷料12b的缺陷打标方法的缺陷检测工序以及缺陷信息记录工序进行说明的示意图，图4的(a)是两工序的主视图，图4的(b)是两工序的俯视图。图5是用于上述缺陷检测工序中的基材缺陷检查装置55的结构进行说明的图。图6是用于对缺陷检测工序中的涂敷缺陷检查装置57的结构进行说明的图。图7是用于对缺陷检测工序中的针孔缺陷检查装置58的结构进行说明的图。
通过涂敷部54在隔膜卷料12c上涂敷耐热层而成的耐热隔膜卷料12b卷绕于芯53。通过配置在隔膜卷料12c的抽出工序与涂敷工序之间的基材缺陷检查装置55(缺陷检测部、隔膜制造装置)，实施对隔膜卷料12c的缺陷D进行检查的基材检查工序(缺陷检测工序)。对于基材缺陷检查装置55而言，光源55a与检测器55b隔着隔膜卷料12c而配置，通过检测器55b检测从光源55a向与隔膜卷料12c的表面、背面垂直的方向出射并透过隔膜卷料12c的透过光，从而对隔膜卷料12c中存在的缺陷D进行检查(确定缺陷D的位置)(缺陷检测工序)。上述隔膜卷料12c中存在的缺陷D包括涉及贯通孔(针孔)的缺陷、涉及膜厚不当的缺陷、以及涉及异物的缺陷。
通过配置在涂敷工序与基于芯53的卷绕工序之间的涂敷缺陷检查装置57(缺陷检测部、隔膜制造装置)，实施对涂敷于隔膜卷料12c的耐热层4的缺陷D进行检查的涂敷检查工序(缺陷检测工序)。涂敷缺陷检查装置57具有在耐热隔膜卷料12b的耐热层4侧配置的光源57a以及检测器57b。涂敷缺陷检查装置57利用检测器57b检测从光源57a出射并被耐热层4反射的反射光，从而对耐热层4中存在的缺陷D进行检测(确定缺陷D的位置)。上述耐热层4中存在的缺陷D包括涉及纹痕的缺陷、涉及剥离的缺陷、涉及排斥的缺陷、以及涉及表面不合格的缺陷。上述涉及排斥的缺陷是指，因异物、油分等而使涂敷液从隔膜卷料12c的表面被排开而局部地未形成耐热层4、或即使形成也成为非常薄的耐热层4的缺陷。上述涉及表面不合格的缺陷是指涉及耐热层4的膜厚不合格的缺陷。
通过配置在涂敷缺陷检查装置57与缺陷信息记录装置56之间的针孔缺陷检查装置58(缺陷检测部、隔膜制造装置)，实施对耐热隔膜卷料12b中产生的针孔形成的缺陷D进行检查的针孔检查工序(缺陷检测工序)。针孔缺陷检查装置58具有：光源58a，其配置在耐热隔膜卷料12b的隔膜卷料12c侧；狭缝58c，其使从光源58a朝向与耐热隔膜卷料12b的表面、背面垂直的方向出射的光通过；以及检测器58b，其根据穿过狭缝58c并透过耐热隔膜卷料12b的光对缺陷D进行检测(确定缺陷D的位置)。上述针孔形成的缺陷D具有几百μm至几mm的直径。
在针孔缺陷检查装置58与芯53之间配置有缺陷信息记录装置56。缺陷信息记录装置56通过二维码、QR码(注册商标)等码数据，将缺陷码DC记录在与缺陷D在耐热隔膜卷料12b的长度方向上的位置对应的耐热隔膜卷料12b的宽度方向的端部，所述缺陷码DC保存有由基材缺陷检查装置55、涂敷缺陷检查装置57、针孔缺陷检查装置58检测到的缺陷D的位置信息等缺陷信息。上述位置信息表示缺陷D在耐热隔膜卷料12b的长度方向以及宽度方向上的位置。上述位置信息也可以包括能够区分缺陷D的种类的信息。对于缺陷D的种类而言，例如为通过基材缺陷检查装置55检查的基材的结构上的缺陷、通过涂敷缺陷检查装置57检查的涉及涂敷的缺陷、以及通过针孔缺陷检查装置58检查的涉及穿孔的缺陷。
隔膜卷料12c、耐热隔膜卷料12b的膜张力通常为200N/m以下，优选为120N/m以下。在此，“膜张力”是指行进的膜的宽度方向的每单位长度被施加的行进方向的张力。例如若膜张力为200N/m，则对膜的1m的宽度施加有200N的力。若膜张力高于200N/m，则可能会在膜的行进方向上产生皱褶导致缺陷检查的精度降低。另外，膜张力通常为10N/m以上，优选为30N/m以上。若膜张力低于10N/m，则可能会产生膜的松弛、蛇行。在隔膜卷料12c、耐热隔膜卷料12b形成有孔P，其膜张力比光学膜等没有孔的膜的膜张力小。因此，隔膜卷料12c、耐热隔膜卷料12b具有比光学膜等没有孔的膜容易拉伸的物性。因此，若在与缺陷D在耐热隔膜卷料12b的长度方向上的位置对应的耐热隔膜卷料12b的宽度方向的端部记录缺陷码DC，则即使耐热隔膜卷料12b沿长度方向拉伸，缺陷D的长度方向的位置与缺陷码DC的长度方向的位置也不会实质上偏离。因此，即使耐热隔膜卷料12b沿长度方向拉伸，也能够容易地确定缺陷D的长度方向的位置。
在端部记录有缺陷码DC的耐热隔膜卷料12b卷绕于芯53。卷绕有耐热隔膜卷料12b的芯53被向接下来的分切工序搬运。
缺陷信息记录装置56(图4)将表示缺陷D的位置信息的缺陷码DC记录在与缺陷D在耐热隔膜卷料12b的长度方向上的位置对应的耐热隔膜卷料12b的宽度方向的端部。缺陷D与缺陷码DC之间的沿着长度方向的距离LMD例如优选为100mm以下，更优选为30mm以下。缺陷码DC与耐热隔膜卷料12b的宽度方向的端部之间的距离LTD例如优选为100mm以下，更优选为30mm以下。另外，耐热隔膜卷料12b的宽度方向的端部容易起伏，因此距离LTD优选为10mm以上。
<分切装置>
由耐热隔膜卷料12b(以下称作“隔膜卷料”)形成的耐热隔膜12a、或者由隔膜卷料12c形成的隔膜12(以下称作“隔膜”)优选形成为适于锂离子二次电池1等应用产品的宽度(以下称作“产品宽度”)。但是，为了提高生产性，隔膜卷料被制造成其宽度为产品宽度以上。并且，在被制造出后，隔膜卷料被切断(分切)成产品宽度而成为隔膜。
另外，“隔膜的宽度”是指与隔膜延伸的平面平行、且与隔膜的长度方向垂直的方向上的隔膜的长度。另外，分切是指将隔膜卷料沿着长度方向(制造时的膜的流动方向，MD：Machine direction)切断。切割是指将隔膜卷料或者隔膜沿横切方向(TD：transversedirection)切断。横切方向(TD)是指与隔膜的长度方向(MD)和厚度方向大致垂直的方向(宽度方向)。
图8是表示对隔膜卷料12b进行分切的分切装置6的结构的示意图，(a)表示整体结构，(b)表示对隔膜卷料12b进行分切前后的结构。
如图8的(a)所示，分切装置6具备被支承为能够旋转的圆柱形状的卷出辊61、辊62～65、以及多个卷绕辊69。在分切装置6中还设置有后述的切断装置7(图9)。
<分切前>
在分切装置6中，将卷绕有隔膜卷料12b的圆筒形状的芯53嵌入到卷出辊61。如图8的(a)所示，隔膜卷料12b从芯53向路线U或L卷出。被卷出的隔膜卷料12b经由辊63例如以100m/分钟钟的速度向辊64搬运。在搬运的工序中，隔膜卷料12b沿着长度方向被分切成多个隔膜12a。
<分切后>
如图8的(a)所示，多个隔膜12a的一部分分别向嵌入于多个卷绕辊69的各芯81(筒管)卷绕。需要说明的是，多个隔膜12a的另一部分分别向嵌入于多个卷绕辊69的各芯81(筒管)卷绕。另外，将卷绕成辊状的隔膜称为“隔膜卷绕体(膜卷绕体)”。
<切断装置>
图9是示出图8的(a)所示的分切装置6的切断装置7(分切部)的结构的图，(a)是切断装置7的侧视图，(b)是切断装置7的主视图。
如图9的(a)、(b)所示，切断装置7具备刀架71和刀72。刀架71固定于分切装置6所具备的框体等。并且，刀架71以刀72与被输送的隔膜卷料12b的位置关系固定的方式保持刀72。刀72通过研磨得锋利的边缘将隔膜卷料分切。
图10是用于对隔膜12a的缺陷位置确定方法的读取工序(缺陷信息取得工序)、判定工序、标记施加工序以及卷绕工序进行说明的示意图。隔膜卷料12b从芯53(图8)以恒定速度(例如，80m/分钟)卷出。读取部73(缺陷信息取得部)通过读取在隔膜卷料12b的宽度方向的端部记录的缺陷码DC，从而取得隔膜卷料12b的缺陷信息(缺陷信息取得工序)。然后，设置于分切装置6的多个切断装置7将隔膜卷料12b沿着长度方向切断而形成多个隔膜12a(分切工序)。
<缺陷去除工序>
接下来，判定装置75(判定部)根据读取部73读取到的缺陷码DC，将隔膜中的具有缺陷D的隔膜判定为不合格隔膜(不合格膜)(判定工序)。标记施加装置74在判定装置75判定为不合格隔膜的隔膜12a的与缺陷D对应的位置施加标记L(缺陷标记施加工序)。需要说明的是，在存在多个缺陷D时，判定装置75将多个隔膜12a判定为不合格隔膜。在此，作为优选的标记L，可以列举标签，作为优选的标记施加装置74，可以列举贴标机。
对于标记L而言，可以代替标签，而是通过笔绘出的标识，也可以是通过喷射器涂敷而成的标识。另外，标记L可以为通过对由树脂构成的隔膜12a进行加热而印出的热敏标签，另外，也可以利用激光在隔膜12a上开孔而形成标记L。
被切断装置7分切的多个隔膜12a分别卷绕于多个芯81(卷绕工序)。
然后，标记施加装置74将由缺陷码DC表示的缺陷D在隔膜卷料12b的长度方向上的位置信息作为缺陷码DC2，记录在卷绕有上述确定的一个隔膜12a的最外周部86以及/或者芯81上。
图11是用于对隔膜12a的缺陷位置确定方法的标记探测工序以及缺陷去除工序进行说明的示意图，图11的(a)是用于对标记探测工序进行说明的示意图，图11的(b)是用于对缺陷去除工序进行说明的示意图。首先，标记探测装置83读出记录于最外周部86以及/或者芯81的缺陷码DC2。然后，接收由标记探测装置83读出的信息，开始进行通过标记施加装置74粘贴有标记L的隔膜12a的从芯81向芯82的重卷动作。接下来，标记探测装置83根据由读出的缺陷码DC2表示的缺陷D在隔膜卷料12b的长度方向上的位置信息，在接近缺陷D的位置时，减慢隔膜12a的上述重卷动作的速度。
然后，通过标记探测装置83探测粘贴在与隔膜12a的缺陷D对应的位置的标记L(标记探测工序)。当通过标记探测装置83探测到标记L时，标记探测装置83停止隔膜12a的重卷动作。之后，缺陷去除装置84在与标记L对应的缺陷D的上游侧以及下游侧的隔膜12a的位置沿着宽度方向切断，从而将缺陷D从隔膜12a去除(缺陷去除工序)。也可以代替缺陷去除装置84，操作员通过手动作业实施该缺陷去除工序。然后，接合装置85将切断的隔膜12a接合(接合工序)。也可以代替接合装置85，操作员通过手动作业实施该接合工序。接下来，接合装置85重新开始隔膜12a的重卷动作。然后，隔膜12a的从芯81向芯82的重卷完成。在此，被分割成两部分的隔膜12a也可以不接合而分别重卷于不同的芯。换言之，将切断前的部分重卷于芯82，将切断后的部分重卷于芯82以外的芯即可。
〔实施方式2〕
在实施方式1中，示出了将隔膜卷料12b中存在的缺陷D的位置信息记录于隔膜卷料12b的端部的例子。然而，本发明不限于此。缺陷D的位置信息也可以记录于信息存储装置。
图12是用于对实施方式2所涉及的隔膜卷料12b的缺陷打标方法的缺陷检测工序以及缺陷信息记录工序进行说明的示意图。图13是用于对隔膜12a的缺陷位置确定方法的读取工序、标记粘贴工序以及卷绕工序进行说明的示意图。对已于实施方式1叙述的构成要素标注相同的附图标记。因此，不重复进行这些构成要素的详细说明。
缺陷信息记录装置56a(缺陷信息记录部、隔膜卷料制造装置)将位置信息记录于信息存储装置91，所述位置信息表示由基材缺陷检查装置55、涂敷缺陷检查装置57、针孔缺陷检查装置58检测到的隔膜卷料12c、12b中存在的缺陷D在长度方向以及宽度方向上的位置。然后，读取部73a从信息存储装置91读取缺陷D在长度方向以及宽度方向上的位置信息(读取工序)。
〔实施方式3〕
以下，根据图14～图15对本发明的另一实施方式进行说明。另外，为了便于说明，对于具有与在上述实施方式中说明的部件相同的功能的部件标注相同的附图标记，并省略其说明。
在实施方式1中，对缺陷信息记录装置56将缺陷码DC记录在与缺陷D在隔膜卷料12b的长度方向上的位置对应的位置的情况进行了说明，但由缺陷信息记录工序56进行的缺陷码DC的记录的方式不限于此。
以下，对本实施方式的由缺陷信息记录装置56进行的缺陷码DC的记录的方式进行说明。
<单位区域>
图14是用于对记录缺陷码DC的位置进行说明的隔膜卷料的俯视图。
如图14所示，本实施方式的缺陷信息记录装置56对隔膜卷料12b的在长度方向上具有规定长度的各个单位区域20，记录(形成)与各单位区域20中存在的缺陷D对应的缺陷码DC(缺陷信息记录工序)。
隔膜卷料12b的长度方向上的单位区域20的长度例如能够设定为250mm。
在图14中，例示了在隔膜卷料12b的长度方向上排列的六个单位区域20a～20f，与含有缺陷D的各单位区域20a、20b、20d、20f对应地记录有缺陷码DC。需要说明的是，在图14的例子中，缺陷信息记录装置56在如单位区域20c、20e那样不存在缺陷D的单位区域20未记录对应的缺陷码DC。
另外，缺陷信息记录装置56在如单位区域20a、20b那样存在多个缺陷D的单位区域20记录表示多个缺陷D的位置信息等的一个缺陷码DC。
这样，通过在各个单位区域20记录表示多个缺陷D的位置信息等的缺陷码DC，与针对一个缺陷D记录一个缺陷码DC的情况相比，能够减少所记录的缺陷码DC的数量，能够简化制造工序。
<缺陷码中录入的信息>
缺陷信息记录装置56记录缺陷码DC，该缺陷码DC录入有单位区域20中存在的缺陷D的个数的信息、缺陷D的种类、表示隔膜卷料12b的表面的缺陷D的位置的坐标、缺陷D的大小等详细信息。
然而，在单位区域20中存在多个缺陷D的情况下，无法将全部的缺陷D的详细信息录入到一个缺陷码DC。
于是，缺陷信息记录装置56也可以将单位区域20划分为沿着隔膜卷料12b的宽度方向排列的多个分割区域21，记录录入有各分割区域21的有无缺陷D等简易信息的缺陷码DC。
例如，如图14所例示那样，将含有三个缺陷D的单位区域20d划分为沿着隔膜卷料12b的宽度方向排列的分割区域21a～21d，记录录入有各分割区域21a～21d的有无缺陷D的信息的缺陷码DC。具体地说，记录如下缺陷码DC，该缺陷码DC中录入有在分割区域21a中不含有缺陷D、在分割区域21b中含有缺陷D、在分割区域21c中不含有缺陷D、在分割区域21d中不含有缺陷D的这样的简易信息。
由此，能够减少向缺陷码DC录入的信息的量。需要说明的是，图14所示的分割区域21仅是一例，沿着隔膜卷料12b的宽度方向排列的分割区域21的数量以及各分割区域21的宽度能够适当设定。
另外，缺陷信息记录装置56也可以根据单位区域20中存在的缺陷D的个数，切换记录录入有详细信息的缺陷码DC的第一模式、记录录入有简易信息的缺陷码DC的第二模式。
由此，在能够向缺陷码DC录入的信息量受限的情况下，能够在信息量的制约下记录录入有适当的信息的缺陷码DC。
<判定工序>
在实施方式1以及实施方式2中，对判定装置75(判定部)根据一个缺陷D确定一个不合格隔膜的方式进行了说明，但本实施方式的判定装置75进行的判定工序与实施方式1以及实施方式2的判定装置75进行的判定工序不同。
在本实施方式中，读取部73读取记录于隔膜卷料12b的缺陷码DC，分切装置6在沿着长度方向的分切线处将隔膜卷料12b分切，判定装置75根据一个缺陷D，将实际含有缺陷D的隔膜12a以及与该隔膜12a邻接的其他隔膜12a判定为不合格隔膜(不合格判定)。
然后，标记施加装置74在实际含有缺陷D的隔膜12a施加表示该缺陷D的位置的标记L1(第一标记)，并在与该隔膜12a邻接的其他隔膜12a的与标记L1对应的位置施加标记L2(第二标记)(缺陷标记施加工序)。
即，上述其他隔膜12a是与将隔膜卷料12b的表面在沿着长度方向的分切线(边界线)处划分而成的区域对应而得到的隔膜，在隔着分切线与缺陷D对置的位置施加标记L2。
由此，分切装置6在从所希望的分切位置偏移的位置将隔膜卷料12b分切，从而即使在原本应当含有缺陷D的隔膜12a中不含有缺陷D而在与该隔膜12a邻接的其他隔膜12a中含有缺陷D的情况下，该其他隔膜12a也被判定为不合格隔膜12a，从而能够抑制具有缺陷D的隔膜12a的流出。
另外，也可以在缺陷标记施加工序之后的工序中，使用标记确认装置，检查是否由标记施加装置74在适当的位置施加了标记L。
并且，在本实施方式中，读取部73读取录入有每个分割区域的有无缺陷的简易信息的缺陷码DC，判定装置75可以基于具有至少一个缺陷D的分割区域21，将包括具有缺陷D的分割区域21而得到的隔膜12a以及与该隔膜12a邻接的其他隔膜12a判定为不合格隔膜。
由此，能够根据与各分割区域21的有无缺陷D相关的简易的信息，将上述其他隔膜12a判定为不合格隔膜。
需要说明的是，之后，也可以如图11所示，缺陷去除装置84根据标记L1、L2将不合格隔膜的缺陷部分切除(缺陷切除工序)。
以下，参照附图更具体地进行说明。在以下的说明中，对在缺陷信息记录装置56记录录入有简易信息的缺陷码DC的情况下的、判定装置75进行的不合格隔膜的判定工序进行说明。
图15是例示含有缺陷的分割区域、分切线以及不合格隔膜之间的关系的图，(a)示出在一个分割区域与一个隔膜对应这样的分切线处将隔膜卷料分切的情况，(b)示出在两个分割区域与一个隔膜对应这样的分切线处将隔膜卷料分切的情况，(c)示出在三个分割区域与一个隔膜对应这样的分切线处将隔膜卷料分切的情况，(d)示出在将分割区域裁开的分切线处将隔膜卷料分切的情况。需要说明的是，在图15中省略缺陷码DC的图示。另外，图15中的叉号标记示出分割区域中含有的缺陷D在分切后的隔膜中可能存在的位置。
<一个分割区域与一个隔膜对应>
在图15的(a)的例子中，缺陷信息记录装置56记录如下缺陷码DC，该缺陷码DC录入具有与隔膜12a的宽度相等的宽度的各分割区域21a～21d的简易信息。读取部73读取上述缺陷码DC。分切装置6在沿着各分割区域21a～21d的边界线的分切线处将隔膜卷料12b分切，从而与各分割区域21a～21d对应地得到隔膜12aa～12ad。
这样，在沿着具有缺陷D的分割区域21的边界线的分切线处将隔膜卷料12b分切的情况下，容易因分切位置偏移而在与原本应当含有缺陷的隔膜12a邻接的其他隔膜12a中含有缺陷。
于是，本实施方式的判定装置75将包括具有缺陷D的分割区域21而得到的隔膜12a判定为不合格隔膜，并且将包括隔着具有缺陷D的分割区域21的边界线而邻接的分割区域21而得到的其他隔膜12a判定为不合格隔膜。
即，如图15的(a)所示，在分割区域21c中含有缺陷D的情况下，判定装置75将包括分割区域21c而得到的隔膜12ac判定为不合格隔膜，并且将包括隔着分割区域21c的边界线而邻接的分割区域21b而得到的隔膜12ab以及包括分割区域21d而得到的隔膜12ad判定为不合格隔膜。
根据包括本实施方式的判定工序的隔膜12a的制造方法，能够将因分切位置的偏移而容易含有缺陷的隔膜12a适当地判定为不合格隔膜。因此，能够降低错误地将具有缺陷的隔膜判定为合格隔膜的风险。
<两个分割区域与一个隔膜对应>
在图15的(b)的例子中，缺陷信息记录装置56记录如下的缺陷码DC，该缺陷码DC录入具有隔膜12a的宽度的1/2的宽度的各分割区域21aa～21db的简易信息。读取部73读取上述缺陷码DC。分切装置6在沿着各分割区域21aa～21db的边界线中的跳过一条的边界线的分切线处将隔膜卷料12b分切。由此，与分割区域21aa、21ab对应地得到隔膜12aa，与分割区域21ba、21bb对应地得到隔膜12ab，与分割区域21ca、21cb对应地得到隔膜12ac，与分割区域21da、21db对应地得到隔膜12ad。
本实施方式的判定装置75将包括具有缺陷D的分割区域21而得到的隔膜12a判定为不合格隔膜，并且将包括隔着具有缺陷D的分割区域21的边界线而邻接的分割区域21而得到的其他隔膜12a判定为不合格隔膜。
即，如图15的(b)所示，在分割区域21ca中含有缺陷D的情况下，判定装置75将包括分割区域21ca而得到的隔膜12ac判定为不合格隔膜，并且将包括隔着分割区域21ca的边界线而与分割区域21ca邻接的分割区域21bb而得到的其他隔膜12ab判定为不合格隔膜。
在如图15的(a)所示的例子那样，以与一个分割区域21对应地得到一个隔膜12a的方式将隔膜卷料12b分切的情况下，在与具有缺陷D的分割区域21对应的隔膜12a的两边邻接的隔膜12a中容易含有缺陷D，需要将两边邻接的隔膜12a判定为不合格隔膜。其结果是，相对于一个缺陷D而将三个隔膜12a判定为不合格隔膜。
相对于此，在图15的(b)所示的例子中，在包括具有缺陷D的分割区域21ca而得到的隔膜12ac的两边邻接的隔膜12ab、12ad中，一方的隔膜12ad中不易含有该缺陷D，无需将隔膜12ad判定为不合格隔膜12。由此，能够减少尽管实际不含有缺陷D但被判定为不合格隔膜12的隔膜12a。
<三个分割区域与一个隔膜对应>
在图15的(c)的例子中，缺陷信息记录装置56记录如下的缺陷码DC，该缺陷码DC录入具有隔膜12a的宽度的1/3的宽度的各分割区域21aa～21dc的简易信息。读取部73读取上述缺陷码DC。分切装置6在沿着各分割区域21aa～21dc的边界线中的跳过两条的边界线的分切线处将隔膜卷料12b分切。由此，与分割区域21aa、21ab、21ac对应地得到隔膜12aa，与分割区域21ba、21bb、21bc对应地得到隔膜12ab，与分割区域21ca、21cb、21cc对应地得到隔膜12ac，与分割区域21da、21db、21dc对应地得到隔膜12ad。
于是，本实施方式的判定装置75将包括具有缺陷D的分割区域21而得到的隔膜12a判定为不合格隔膜，并且将包括隔着具有缺陷D的分割区域21的边界线而邻接的分割区域21而得到的其他隔膜12a判定为不合格隔膜。
即，如图15的(c)所示，在分割区域21da中含有缺陷D的情况下，判定装置75将包括分割区域21da而得到的隔膜12ad判定为不合格隔膜，并且将包括隔着分割区域21da的边界线而与分割区域21da邻接的分割区域21cc而得到的其他隔膜12ac判定为不合格隔膜。换言之，在分割区域21da中不含有缺陷D的情况下，判定装置75将在与分割区域21da的边界线重叠的分切线处裁开的两个隔膜12ac、12ad判定为不合格隔膜。
在如图15的(b)所示的例子那样，以与两个分割区域21对应地得到一个隔膜12a的方式将隔膜卷料12b分切的情况下，在与具有缺陷D的分割区域21对应的隔膜12a邻接的隔膜12a中容易含有缺陷D，需要将邻接的隔膜12a判定为不合格隔膜。其结果是，相对于一个缺陷D而将两个隔膜12a判定为不合格隔膜。
相对于此，在图15的(c)所示的例子中，在与一个隔膜12a对应的三个分割区域21中的正中央的分割区域21中存在缺陷D的情况下，只需针对一个缺陷D而将一个隔膜12a判定为不合格隔膜即可。
即，如图15的(c)所示，在分割区域21ab中存在缺陷D的情况下，在与包括分割区域21ab而得到的隔膜12aa相邻的隔膜12ab中不易含有该缺陷D，无需将隔膜12ab判定为不合格隔膜12。由此，能够减少尽管实际不含有缺陷D但被判定为不合格隔膜12的隔膜12a。
<将分割区域裁开的分切线>
图15的(a)～(c)的例子是分切装置6在沿着各分割区域21的边界线的分切线处将隔膜卷料12b分切的例子，但分割区域21的边界线与分切线的位置关系不限于此。
在图15的(d)的例子中，缺陷信息记录装置56记录如下的缺陷码DC，该缺陷码DC录入交替排列的宽度窄的分割区域21aa、21ba、21ca、21da、21ea(第一分割区域)、以及宽度宽的分割区域21ab、21bb、21cb、21db(第二分割区域)的简易信息。读取部73读取上述缺陷码DC。分切装置6在将宽度窄的分割区域裁开的分切线处将隔膜卷料12b分切，从而与各宽度宽的分割区域和裁开的两个宽度窄的分割区域对应地得到各隔膜12aa～12ad。
在宽度窄的分割区域中含有缺陷D的情况下，包括具有缺陷D的分割区域被裁开而成的区域而得到的两个隔膜12a的任一方含有缺陷D的可能性均高。
于是，本实施方式的判定装置75将包括具有缺陷D分割区域被裁开而成的区域而得到的两个隔膜12a判定为不合格隔膜。换言之，判定装置75在与分切线重叠的分割区域中含有缺陷D的情况下，将与该分割区域重叠的两个隔膜12a判定为不合格隔膜。另外，在宽度宽的分割区域中不含有缺陷D的情况下，将包括该宽度宽的分割区域而得到的一个隔膜12a判定为不合格隔膜。
即，如图15的(d)所示那样，在分割区域21da中含有缺陷D的情况下，判定装置75将包括分割区域21da被裁开而成的区域而得到的两个隔膜12ac、12ad判定为不合格隔膜。换言之，在分割区域21da中含有缺陷D的情况下，判定装置75将在与分割区域21da重叠的分切线处裁开的两个隔膜12ac、12ad判定为不合格隔膜。另外，在分割区域21ab中不含有缺陷D的情况下，判定装置75将包括分割区域21ab而得到的一个隔膜12aa判定为不合格隔膜。
根据包括本实施方式的判定工序的隔膜12a的制造方法，能够将容易含有缺陷的隔膜12a适当地判定为不合格隔膜。因此，能够降低错误地将具有缺陷的隔膜判定为合格隔膜的风险。
另外，与在将宽度宽的分割区域裁开的分切线处将隔膜卷料12b分切的情况相比，在将宽度窄的分割区域裁开的分切线处将隔膜卷料12b分切的情况下，在被裁开的分割区域中含有缺陷的可能性低，因此能够减少尽管实际不含有缺陷但被判定为不合格隔膜的隔膜。
〔实施方式4〕
以下，根据图16～图17对本发明的另一实施方式进行说明。另外，为了便于说明，对于具有与在上述实施方式中说明的部件相同的功能的部件标注相同的附图标记，并省略其说明。
图16是用于对隔膜12a的缺陷位置确定方法的读取工序、标记施加工序以及卷绕工序进行说明的示意图。
实施方式3的制造方法是以分切工序、标记施加工序的顺序进行处理的制造方法，但上述各工序的顺序不限于此。
即，本实施方式的制造方法与实施方式3的制造方法的不同之处在于，以标记施加工序、分切工序的顺序进行处理。以下更详细地进行说明。
如图16所示，读取部73读取记录于隔膜卷料12b的缺陷码DC(缺陷信息取得工序)，判定装置75根据缺陷码DC，确定隔膜卷料12b中的在分切后成为不合格隔膜的部分(判定工序)，标记施加装置74对于隔膜卷料12b在成为不合格隔膜的部分施加标记L(卷料缺陷标记施加工序)。
在根据隔膜卷料12b上的缺陷D的位置信息而在分切后的隔膜12a上施加标记L的情况下，因分切工序中的隔膜12a的沿宽度方向的位置偏移的影响，有时隔膜卷料12b上的缺陷D的位置与分切后的隔膜12a上的缺陷D的位置不对应，从而有时对缺陷D施加的标记L的位置发生偏移。相对于此，通过根据隔膜卷料12b上的缺陷D的位置信息而在分切前对隔膜卷料12b施加标记L，能够在与缺陷D对应的准确的位置施加标记L。
需要说明的是，优选标记L1以及标记L2以不与分切线重叠的方式施加。由此，能够防止在分切工序中标记L1、L2被切断而难以进行不合格隔膜的辨别的情况。
图17是示出在与缺陷对应的位置施加有标记的隔膜卷料或者隔膜的立体图，(a)通过虚线图示原本的分切线，(b)通过虚线图示从原本的位置偏移后的分切线。
需要说明的是，图17例示了由缺陷信息记录装置56记录了如下缺陷码DC的隔膜卷料12b，该缺陷码DC录入有如15的(d)所示那样交替配置的宽度窄的分割区域、以及宽度宽的分割区域的简易信息。
如图17的(a)所示，在宽度窄的分割区域21ba中含有三个缺陷D的情况下，判定装置75将包括分割区域21ba被裁开而成的区域而得到的两个隔膜12ab、12aa判定为不合格隔膜。标记施加装置74在隔膜卷料12b中的、与被判定为不合格隔膜的隔膜12ab对应的部分施加标记L1，并在与被判定为不合格隔膜的隔膜12aa对应的部分施加标记L2。标记L1、L2被施加在对应的缺陷D的周围。
之后，分切装置6将施加有上述标记L1、L2的隔膜卷料12b分切。
需要说明的是，在如实施方式3的制造方法那样，以分切工序、标记施加工序的顺序进行处理的情况下，标记施加装置74对分切后的隔膜12ab施加标记L1，并且对隔膜12aa施加标记L2。在分切工序之前对隔膜卷料12b施加标记的情况下，存在标记在分切工序中被切断的风险，但通过对分切后的隔膜12ab、12aa施加标记L1、L2，能够避免这种风险。
如图17的(a)所示，在分切工序中将隔膜卷料12b在原本的分切线处分切的情况下，在隔膜12ab中含有缺陷D。然而，如图17的(b)所示，在将隔膜卷料12b在从原本的位置偏移后的分切线处分切的情况下，在隔膜12aa中含有缺陷D。
根据本实施方式的制造方法，不仅在与隔膜12ab对应的部分施加标记L1，还在与隔膜12aa对应的部分施加标记L2。另外，根据实施方式3的制造方法，对分切后的隔膜12ab施加标记L1，并且对隔膜12aa施加标记L2。
因此，即使在分切线从原本的位置发生偏移而在隔膜12aa中含有缺陷D的情况下，也能够抑制作为不合格隔膜的隔膜12aa的流出。
(本发明的其他方面)
为了解决上述的课题，本发明所涉及的隔膜卷料的制造方法的特征在于，包含：形成工序，形成隔膜卷料；缺陷检测工序，对通过所述形成工序形成的隔膜卷料中存在的缺陷进行检测；以及缺陷信息记录工序，记录包括所述缺陷在所述隔膜卷料的宽度方向上的位置信息的缺陷信息。在此，“隔膜卷料”是指被分切前的宽度大的隔膜。
根据该特征，由于记录包括所述缺陷在隔膜卷料的宽度方向上的位置信息的缺陷信息，因此根据所记录的该位置信息，能够容易地确定隔膜卷料中存在的缺陷。因此，能够容易地去除隔膜卷料中存在的缺陷。
在本发明所涉及的隔膜卷料的制造方法中，优选所述缺陷信息还包括所述缺陷在所述隔膜卷料的长度方向上的位置信息。在此，“隔膜卷料的长度方向”相当于在隔膜的制造工序中搬运制造对象物的方向。
根据上述结构，能够根据所述缺陷在长度方向上的位置信息，在从卷绕的隔膜卷料中卷出隔膜卷料时容易地发现上述缺陷。
在本发明所涉及的隔膜卷料的制造方法中，优选所述缺陷信息记录在与所述缺陷在所述隔膜卷料的长度方向上的位置对应的位置。
根据上述结构，能够根据记录有缺陷信息的位置，确定缺陷在隔膜卷料的长度方向上的位置。另外，在与所述缺陷在隔膜卷料的长度方向上的位置对应的位置记录有缺陷信息，因此即使隔膜卷料沿长度方向拉伸，缺陷与缺陷信息的长度方向的位置实质上也不会偏离。因此，即使隔膜卷料沿长度方向拉伸，也能够容易地确定缺陷的长度方向的位置。
为了解决上述的课题，本发明所涉及的隔膜的制造方法的特征在于，包含：形成工序，形成隔膜卷料；缺陷检测工序，对通过所述形成工序形成的隔膜卷料中存在的缺陷进行检测；缺陷信息记录工序，记录包括所述缺陷在所述隔膜卷料的宽度方向上的位置信息的缺陷信息；切断工序，将通过所述缺陷信息记录工序记录了所述位置信息的具有缺陷的隔膜卷料沿着所述卷料的长度方向切断，从而形成多个隔膜；读取工序，读取所述位置信息；以及标记施加工序，根据通过所述读取工序读取到的位置信息，对通过所述切断工序切断而成的多个隔膜中的至少一个施加用于确定所述缺陷的位置的标记。
根据该特征，根据通过读取工序读取到的位置信息，对通过切断工序切断而成的多个隔膜中的至少一个施加用于确定缺陷的位置的标记，因此能够容易地去除将隔膜卷料分切而成的多个隔膜中的包含该缺陷的隔膜的缺陷部位。
优选本发明所涉及的隔膜的制造方法包含：卷绕工序，对通过所述标记施加工序施加了用于确定缺陷的位置的标记后的多个隔膜中的至少一个进行卷绕；标记探测工序，一边对通过所述卷绕工序而被卷绕的多个隔膜中的至少一个进行重卷，一边探测所述标记；以及缺陷去除工序，根据通过所述标记探测工序进行的标记的探测来停止重卷动作，并将所述缺陷去除。
根据上述结构，由于在卷绕工序后去除缺陷，因此无需在卷绕工序中停止卷绕，从而作业效率提高。
在本发明所涉及的隔膜的制造方法中，所述缺陷去除工序优选在所述缺陷的长度方向的两侧的隔膜的位置处沿着宽度方向将所述隔膜切断从而将所述缺陷从所述隔膜去除，然后将切断后的所述隔膜接合。
根据上述结构，能够制造去除了隔膜卷料中存在的缺陷的隔膜。
在本发明所涉及的隔膜的制造方法中，所述缺陷信息记录工序优选将所述位置信息记录在所述隔膜卷料的宽度方向的端部。
根据上述结构，能够通过读取隔膜卷料的宽度方向的端部来识别缺陷部位。
在本发明所涉及的隔膜的制造方法中，所述缺陷信息记录工序也可以将所述位置信息记录于信息存储装置。
根据上述结构，能够通过读取记录于信息存储装置的信息来识别缺陷部位。
在本发明所涉及的隔膜的制造方法中，优选通过粘贴标签来进行所述标记施加工序。
为了解决上述的课题，本发明所涉及的隔膜卷料的特征在于，将自身的缺陷在宽度方向上的位置信息记录在宽度方向的端部。
为了解决上述的课题，本发明所涉及的隔膜卷料制造装置的特征在于，具备：形成部，其形成隔膜卷料；缺陷检测部，其对通过所述形成部形成的隔膜卷料中存在的缺陷进行检测；以及缺陷信息记录部，其记录包括所述缺陷在所述隔膜卷料的宽度方向上的位置信息的缺陷信息。
本发明并不限定于上述各实施方式，能够在技术方案所示的范围内进行各种变更，对于将在不同的实施方式中分别公开的技术手段适当组合而得到的实施方式也包含于本发明的技术范围内。
附图标记说明
4 耐热层
6 分切装置(分切部)
7 切断装置(切断机)
12 隔膜(膜)
12a 耐热隔膜、隔膜(膜)
12b 耐热隔膜卷料、隔膜卷料(膜卷料)
12c 隔膜卷料
54 涂敷部(膜卷料制造装置)
55 基材缺陷检查装置(缺陷检测部、膜卷料制造装置)
57 涂敷缺陷检查装置(缺陷检测部、膜卷料制造装置)
58 针孔缺陷检查装置(缺陷检测部、膜卷料制造装置)
56、56a 缺陷信息记录装置(缺陷信息记录部、膜卷料制造装置)
73 读取部
74 标记施加装置
75 判定装置(判定部)
81 芯
82 芯
83 标记探测装置
84 缺陷去除装置
85 接合装置
86 最外周部
91 信息存储装置
D 缺陷
DC、DC2 缺陷码
L 标记

Claims (19)

1.一种膜制造方法，其特征在于，包括：
缺陷信息取得工序，取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；
分切工序，将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及
判定工序，根据一个与所述缺陷相关的所述缺陷信息来进行分切后的膜的不合格判定，从而将实际含有所述缺陷的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。
2.根据权利要求1所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述缺陷信息取得工序中，取得将所述膜卷料的表面的区域划分为沿宽度方向排列的多个区域而成的各个分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息，
在所述判定工序中，根据与具有所述缺陷的一个所述分割区域相关的所述缺陷信息，将包括具有所述缺陷的所述分割区域而得到的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。
3.根据权利要求2所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述分切工序中，在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切，
在所述判定工序中，将所述其他膜判定为不合格膜，所述其他膜包括隔着具有所述缺陷的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到。
4.根据权利要求3所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述分切工序中，以与多个分割区域对应地得到各所述膜的方式，在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切，
在所述判定工序中，将所述其他膜判定为不合格膜，所述其他膜包括隔着所述多个分割区域中的位于端部的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到，所述多个分割区域具有所述缺陷并且与各所述膜对应。
5.根据权利要求4所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述分切工序中，以与三个分割区域对应地得到各所述膜的方式，在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切，
在所述判定工序中，将所述其他膜判定为不合格膜，所述其他膜包括隔着所述三个分割区域中的位于端部的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到，所述三个分割区域具有所述缺陷并且与各所述膜对应。
6.根据权利要求2所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述分切工序中，在将所述分割区域裁开的分切线处将所述膜卷料分切，
在所述判定工序中，将包括具有所述缺陷的所述分割区域被裁开而成的区域而得到的两个膜判定为不合格膜。
7.根据权利要求6所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述缺陷信息取得工序中，取得相互交替排列的第一分割区域和宽度比所述第一分割区域的宽度宽的第二分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息，
在所述分切工序中，在将所述第一分割区域裁开的分切线处将所述膜卷料分切，
在所述判定工序中，将包括具有所述缺陷的所述第一分割区域被裁开而成的区域而得到的两个膜判定为不合格膜。
8.一种膜制造方法，其特征在于，包括：
缺陷信息取得工序，取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；
分切工序，将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及
判定工序，根据所述缺陷信息而进行分切后的膜的不合格判定，
在所述缺陷信息取得工序中，取得将所述膜卷料的表面的区域划分为沿宽度方向排列的多个区域而成的各个分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息，
在所述判定工序中，在存在缺陷的所述分割区域与所述分切线不重叠的情况下，将包括该分割区域而得到的一个膜判定为不合格膜，在存在缺陷的所述分割区域或者其边界线与所述分切线重叠的情况下，将在该分切线处被裁开的两个膜判定为不合格膜。
9.根据权利要求2至8中任一项所述的膜制造方法，其特征在于，
所述膜制造方法包括缺陷信息记录工序，在该缺陷信息记录工序中，记录所述膜卷料的在长度方向上具有规定长度的各个单位区域的所述缺陷信息。
10.根据权利要求9所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述缺陷信息记录工序中，记录所述单位区域的各个所述分割区域的有无所述缺陷的信息。
11.根据权利要求10所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述缺陷信息记录工序中，根据所述单位区域的缺陷的个数来切换第一模式和第二模式，
在所述第一模式下，记录从由所述单位区域的缺陷的个数的信息、各缺陷的位置信息、以及各缺陷的大小的信息构成的组中选出的至少任一个信息来作为所述缺陷信息，
在所述第二模式下，记录所述单位区域的各个所述分割区域的有无所述缺陷的信息来作为所述缺陷信息。
12.根据权利要求1至11中任一项所述的膜制造方法，其特征在于，
所述膜制造方法包括缺陷标记施加工序，在该缺陷标记施加工序中，在实际含有缺陷的所述膜施加表示该缺陷的位置的第一标记，并且在所述其他膜的与所述第一标记对应的位置施加第二标记。
13.根据权利要求1至11中任一项所述的膜制造方法，其特征在于，
所述膜制造方法包括卷料缺陷标记施加工序，在该卷料缺陷标记施加工序中，根据所述缺陷信息，在所述膜卷料的与实际含有缺陷的所述膜对应的位置施加表示所述缺陷的位置的第一标记，并且在所述膜卷料的与所述其他膜对应的位置、即从所述第一标记的位置沿宽度方向移动后的位置施加第二标记，
在所述分切工序中，将施加有所述第一标记以及所述第二标记的所述膜卷料分切。
14.根据权利要求13所述的膜制造方法，其特征在于，
在所述卷料缺陷标记施加工序中，以不与所述分切线重叠的方式施加所述第一标记以及所述第二标记。
15.根据权利要求1至14中任一项所述的膜制造方法，其特征在于，
所述膜制造方法包括缺陷切除工序，在该缺陷切除工序中，根据所述缺陷信息将所述不合格膜的一部分切除。
16.一种膜制造装置，其特征在于，具备：
缺陷信息取得部，其取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；
分切部，其将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及
判定部，其根据一个与所述缺陷相关的所述缺陷信息来进行分切后的膜的不合格判定，从而将实际含有所述缺陷的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。
17.一种膜制造装置，其特征在于，包括：
缺陷信息取得部，其取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息；
分切部，其将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及
判定部，其根据所述缺陷信息而进行分切后的膜的不合格判定，
所述缺陷信息取得部取得将所述膜卷料的表面的区域划分为沿宽度方向排列的多个区域而成的各个分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息，
在所述判定部中，在存在缺陷的所述分割区域与所述分切线不重叠的情况下，将包括该分割区域而得到的一个膜判定为不合格膜，在存在缺陷的所述分割区域或者其边界线与所述分切线重叠的情况下，将在该分切线处被裁开的两个膜判定为不合格膜。
18.一种膜，其为与将具有缺陷的膜卷料的表面由沿着长度方向的边界线划分而成的各个区域对应地得到的多个膜中的一个膜，其特征在于，
所述膜与隔着所述边界线同含有所述缺陷的区域邻接的区域对应地得到，
在隔着所述边界线而与所述缺陷对置的位置施加有标记。
19.一种膜卷绕体，其通过将权利要求18所述的膜卷绕成辊状而成。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111788066A (zh) * 2018-07-08 2020-10-16 洛希亚有限公司 用于管理转化线上的卷带材料中的缺陷的装置和方法
CN111971152A (zh) * 2018-01-31 2020-11-20 埃尔波仁国际有限公司 带分割系统和方法

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106796184B (zh) * 2014-10-10 2019-11-19 住友化学株式会社 隔膜及隔膜卷料的制造方法、隔膜卷料及其制造装置
JP7014512B2 (ja) * 2015-12-22 2022-02-01 住友化学株式会社 電池用セパレータの製造方法及び電池用セパレータ製造装置
KR102248231B1 (ko) * 2016-01-18 2021-05-04 주식회사 엘지화학 이차전지용 분리막 코팅방법
JP6770855B2 (ja) * 2016-08-31 2020-10-21 住友化学株式会社 セパレータ捲回体、セパレータ捲回体の製造方法およびラベル検査方法
JP6933513B2 (ja) * 2016-11-30 2021-09-08 住友化学株式会社 欠陥検査装置、欠陥検査方法、セパレータ捲回体の製造方法、及びセパレータ捲回体
EP3339845A3 (en) * 2016-11-30 2018-09-12 Sumitomo Chemical Company, Ltd Defect inspection device, defect inspection method, method for producing separator roll, and separator roll
JP6930157B2 (ja) * 2017-03-16 2021-09-01 三菱ケミカル株式会社 フィルム検査システム及びフィルムの製造方法
CN111094953A (zh) * 2017-09-19 2020-05-01 柯尼卡美能达株式会社 非破坏检查方法
IT201700112283A1 (it) * 2017-10-06 2019-04-06 Italia Tech Alliance S R L Procedimento ed impianto per produrre bobine di prodotti sottili
JP6563469B2 (ja) * 2017-12-15 2019-08-21 本田技研工業株式会社 電極接合方法及び電極接合装置
JP7044583B2 (ja) 2018-02-22 2022-03-30 住友化学株式会社 フィルムの製造方法、フィルム捲回装置
CN109585937B (zh) * 2018-12-12 2021-04-20 江苏时代新能源科技有限公司 卷绕自动识别隔膜标签的方法
DE102019127454B4 (de) * 2019-03-29 2023-05-04 Windmöller & Hölscher Kg System zur verbesserten Einführung einer Trennvorrichtung sowie Blasfolienanlage sowie Verfahren zur Herstellung und Bereitstellung von zumindest zwei Folienbahnen aus Kunststoff in einer Blasfolienanlage
CN109967375B (zh) * 2019-04-18 2021-04-16 苏州方林科技股份有限公司 一种电池极耳检测设备
JP7277244B2 (ja) * 2019-04-25 2023-05-18 住友化学株式会社 スリットセパレータの製造方法およびスリットセパレータの製造装置
CN111180650A (zh) * 2020-01-06 2020-05-19 深圳市海目星激光智能装备股份有限公司 极耳成型方法及成型装置
CN114953764B (zh) * 2021-02-18 2023-08-22 恒美光电股份有限公司 一种偏光膜缺点汇整标记系统
EP4047675A1 (en) * 2021-02-23 2022-08-24 Siemens Aktiengesellschaft A cutting system, control method, controller in a li-ion battery winding machine and medium
KR20230000877A (ko) 2021-06-26 2023-01-03 주식회사 엘지에너지솔루션 분리막 통기도 검사장치 및 이를 이용한 분리막 통기도 검사방법
KR102450342B1 (ko) * 2021-08-10 2022-10-04 (주)피엔티 원단의 불량 부분 표시 장치
JP7288989B1 (ja) 2022-01-31 2023-06-08 日東電工株式会社 長尺光学フィルムの検査方法
EP4310040A1 (en) * 2022-07-20 2024-01-24 Siemens Aktiengesellschaft Method and system for computer-implemented tracking of production history of a continuous web
CN116730056B (zh) * 2023-08-15 2023-10-27 江苏铭丰电子材料科技有限公司 一种可测缺陷的铜箔收卷装置

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1873398A (zh) * 2005-06-01 2006-12-06 住友化学株式会社 层叠光学薄膜的制造方法
CN101925944A (zh) * 2008-01-29 2010-12-22 日东电工株式会社 光学显示组件的制造方法及光学显示组件的制造系统
CN101980797A (zh) * 2008-03-31 2011-02-23 住友化学株式会社 偏光薄膜的分类系统以及分类方法
CN101981438A (zh) * 2008-03-31 2011-02-23 住友化学株式会社 偏光薄膜的检查方法
CN102043280A (zh) * 2009-10-13 2011-05-04 日东电工株式会社 信息存储读出系统及制造该系统的方法和装置
CN102385087A (zh) * 2010-09-03 2012-03-21 日东电工株式会社 具有偏振膜的叠层体带材卷的制造方法
CN102385086A (zh) * 2010-09-03 2012-03-21 日东电工株式会社 具有偏振膜的光学膜叠层体卷的制造方法

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3806015A (en) 1973-05-04 1974-04-23 Eastman Kodak Co Detection of defects in a moving web of material
IT1257545B (it) 1992-06-15 1996-01-30 Olivetti & Co Spa Apparecchiatura facsimile con stampante a getto d'inchiostro.
JPH08101130A (ja) 1994-09-29 1996-04-16 Fuji Xerox Co Ltd 表面欠陥検査装置
US6219930B1 (en) 1998-02-27 2001-04-24 Randall M. McPherson Apparatus and method of use for calculating an estimate of damaged surface repair cost
JP2002228429A (ja) * 2001-01-30 2002-08-14 Tonen Chem Corp フィルムの評価方法及びスリットフィルムの品質管理方法
JP2002292853A (ja) * 2001-03-29 2002-10-09 Tomoegawa Paper Co Ltd マーキングシステム、マーキング方法およびマーキング装置
JP4343456B2 (ja) * 2001-04-03 2009-10-14 大日本印刷株式会社 シート状製品の欠陥マーキング方法および装置
CH696527A5 (fr) 2003-05-16 2007-07-31 Bobst Sa Procédé de contrôle de la qualité d'éléments plats et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé.
JP2006194721A (ja) 2005-01-13 2006-07-27 Nagase & Co Ltd 欠陥マーキング装置
US20060164647A1 (en) 2005-01-13 2006-07-27 Nagase & Co., Ltd. Apparatus for marking a defect
JP4552680B2 (ja) 2005-02-10 2010-09-29 Ｊｆｅスチール株式会社 金属帯の製造方法およびマーキング付き金属帯
JP2008082910A (ja) * 2006-09-28 2008-04-10 Nippon Paper Industries Co Ltd シート材加工における欠陥部指示方法及び欠陥部指示装置
JP5248052B2 (ja) * 2006-10-11 2013-07-31 日東電工株式会社 光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム
JP5228459B2 (ja) 2007-11-30 2013-07-03 ダックエンジニアリング株式会社 検査群データ管理システム
JP2010032346A (ja) 2008-07-29 2010-02-12 Panasonic Corp 二次電池用電極群の検査方法
JP2010244875A (ja) * 2009-04-07 2010-10-28 Panasonic Corp リチウム二次電池用セパレータ、およびそれを用いたリチウム二次電池
JP5519330B2 (ja) 2010-02-26 2014-06-11 日東電工株式会社 切断情報決定方法、並びに、これを用いた帯状偏光シートの製造方法、光学表示ユニットの製造方法、帯状偏光シート及び偏光シート原反
JP5569791B2 (ja) * 2010-04-14 2014-08-13 住友化学株式会社 光学フィルム作製用原反フィルム、および光学フィルムの製造方法
JP4691205B1 (ja) 2010-09-03 2011-06-01 日東電工株式会社 薄型高機能偏光膜を含む光学フィルム積層体の製造方法
JP5701679B2 (ja) 2010-09-03 2015-04-15 日東電工株式会社 矩形形状のパネルに偏光膜を有する光学フィルムを順次的に貼り付ける方法及び装置
JP5511730B2 (ja) 2010-09-03 2014-06-04 日東電工株式会社 光学的パネル組立体の連続的製造方法及び装置
JP5478553B2 (ja) 2010-09-03 2014-04-23 日東電工株式会社 連続ウェブ状光学フィルム積層体ロール及びその製造方法
JP5474869B2 (ja) 2010-09-03 2014-04-16 日東電工株式会社 偏光膜を有する積層体ストリップロールの製造方法
CN103459283B (zh) * 2011-03-30 2016-07-06 东丽株式会社 微孔塑料膜卷的制造方法
ES2400656B1 (es) 2011-06-28 2014-06-02 Airbus Operations, S.L. Procedimiento de marcado y reconocimiento de defectos en material prepreg
TWI557969B (zh) * 2011-10-21 2016-11-11 帝人股份有限公司 非水系蓄電池用分隔器及非水系蓄電池
CN202562855U (zh) * 2012-05-18 2012-11-28 山东正华隔膜技术有限公司 用于分切机上隔膜在线瑕疵检测装置
CN203450889U (zh) * 2013-08-06 2014-02-26 达尼特材料科技（芜湖）有限公司 多层隔膜复合机
CN103515562B (zh) * 2013-09-30 2016-02-03 长沙理工大学 一种新型锂离子电池隔膜及其制备方法
EP3074760A1 (en) 2013-11-26 2016-10-05 3M Innovative Properties Company Devices and methods for assessment of surfaces
CN106796184B (zh) 2014-10-10 2019-11-19 住友化学株式会社 隔膜及隔膜卷料的制造方法、隔膜卷料及其制造装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1873398A (zh) * 2005-06-01 2006-12-06 住友化学株式会社 层叠光学薄膜的制造方法
CN101925944A (zh) * 2008-01-29 2010-12-22 日东电工株式会社 光学显示组件的制造方法及光学显示组件的制造系统
CN101980797A (zh) * 2008-03-31 2011-02-23 住友化学株式会社 偏光薄膜的分类系统以及分类方法
CN101981438A (zh) * 2008-03-31 2011-02-23 住友化学株式会社 偏光薄膜的检查方法
CN102043280A (zh) * 2009-10-13 2011-05-04 日东电工株式会社 信息存储读出系统及制造该系统的方法和装置
CN102385087A (zh) * 2010-09-03 2012-03-21 日东电工株式会社 具有偏振膜的叠层体带材卷的制造方法
CN102385086A (zh) * 2010-09-03 2012-03-21 日东电工株式会社 具有偏振膜的光学膜叠层体卷的制造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111971152A (zh) * 2018-01-31 2020-11-20 埃尔波仁国际有限公司 带分割系统和方法
US11654591B2 (en) 2018-01-31 2023-05-23 Airborne International B.V. Tape sectioning system and method of sectioning tape
CN111788066A (zh) * 2018-07-08 2020-10-16 洛希亚有限公司 用于管理转化线上的卷带材料中的缺陷的装置和方法

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