JP2002228429A - フィルムの評価方法及びスリットフィルムの品質管理方法 - Google Patents
フィルムの評価方法及びスリットフィルムの品質管理方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 CCDカメラにより検出された欠陥のフィルム
幅方向の位置を高精度で且つ簡便に特定できるフィルム
の評価方法、及びスリットフィルムを高い歩留まりで製
造できるスリットフィルムの品質管理方法を提供する。 【解決手段】 欠陥検出部におけるゲージのゲージライ
ンとCCD素子との位置関係に係る情報をコンピュータに
記録し、ゲージを除去した後欠陥検出部にフィルムを走
行させてCCDカメラにより欠陥を撮影する方法、及び上
記欠陥のフィルム幅方向の位置を特定した結果に基づい
てスリットフィルムの品質を管理する方法。
幅方向の位置を高精度で且つ簡便に特定できるフィルム
の評価方法、及びスリットフィルムを高い歩留まりで製
造できるスリットフィルムの品質管理方法を提供する。 【解決手段】 欠陥検出部におけるゲージのゲージライ
ンとCCD素子との位置関係に係る情報をコンピュータに
記録し、ゲージを除去した後欠陥検出部にフィルムを走
行させてCCDカメラにより欠陥を撮影する方法、及び上
記欠陥のフィルム幅方向の位置を特定した結果に基づい
てスリットフィルムの品質を管理する方法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、フィルムの評価方
法及びその評価結果に基づくスリットフィルムの品質管
理方法に関し、詳しくはフィルムに存在する欠陥の幅方
向の位置を高精度で且つ簡便に特定できるフィルムの評
価方法、及びその評価結果に基づいてスリットフィルム
の品質を管理する方法に関する。
法及びその評価結果に基づくスリットフィルムの品質管
理方法に関し、詳しくはフィルムに存在する欠陥の幅方
向の位置を高精度で且つ簡便に特定できるフィルムの評
価方法、及びその評価結果に基づいてスリットフィルム
の品質を管理する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】フィル
ムを製造する際、原料ポリマーに含まれる不純物、ガイ
ドローラーやキャスティングベルト上に付着した錆やゴ
ミ等の種々の原因により、フィルムにピンホール（穴）
や黒点（不純物）等の欠陥が生じることがある。フィル
ムに欠陥が存在すると電気絶縁材や各種隔膜として用い
る際に支障が生じることは言うまでもない。例えば、電
池用セパレーターとして用いられるポリオレフィン微多
孔膜に欠陥が存在した場合は、特に充放電を繰り返しな
がら長期にわたり使用される二次電池にとって、その性
能を低下させるだけではなく、発火等の事故を引起す可
能性もある。従って、二次電池の容量増加等の性能向上
に伴い、電池用セパレーターの欠陥に対する要求も厳し
くなってきている。
ムを製造する際、原料ポリマーに含まれる不純物、ガイ
ドローラーやキャスティングベルト上に付着した錆やゴ
ミ等の種々の原因により、フィルムにピンホール（穴）
や黒点（不純物）等の欠陥が生じることがある。フィル
ムに欠陥が存在すると電気絶縁材や各種隔膜として用い
る際に支障が生じることは言うまでもない。例えば、電
池用セパレーターとして用いられるポリオレフィン微多
孔膜に欠陥が存在した場合は、特に充放電を繰り返しな
がら長期にわたり使用される二次電池にとって、その性
能を低下させるだけではなく、発火等の事故を引起す可
能性もある。従って、二次電池の容量増加等の性能向上
に伴い、電池用セパレーターの欠陥に対する要求も厳し
くなってきている。
【０００３】従来、ポリオレフィン微多孔膜をスリット
することにより電池用セパレーターを製造する際の品質
管理においては、ポリオレフィン微多孔膜がスリット機
に導入される前にCCDカメラ（CCD；電荷結合素子）等の
受光部により光学的に欠陥を検知することにより欠陥を
含む製品の流出防止を図っている。しかし、スリット後
に円環状に巻き取ったリール巻電池用セパレーターは、
その巻き姿において高い寸法精度を必要とするため、ス
リット機を起動したら一定長さの電池用セパレーターが
巻き上がるまでスリット機を停止できない。このため、
スリット微多孔膜を巻き上げる途中でスリット機を停止
して欠陥のある個所を除去又はマーキング後、再びスリ
ット微多孔膜を繋いで巻くことができない。つまり、一
般的なフィルムのように、CCDカメラで欠陥を発見後直
ちにスリット機を停止して目視で欠陥を確認し、欠陥の
ある個所を除去又はマーキング後、スリット機を再起動
するということができない。従って、スリット前のポリ
オレフィン微多孔膜において欠陥を発見しても、ポリオ
レフィン微多孔膜幅方向における欠陥の位置特定が不正
確であり、更に欠陥のサイズが極めて小さい場合には目
視で確認することが不可能であるため、一定長さの電池
用セパレーターが巻き上がった後では欠陥を含むリール
巻電池用セパレーターを正確に特定できず、欠陥を含む
と推定されるリール巻電池用セパレーターを中心に広範
囲にわたる複数のリール巻電池用セパレーターを廃棄す
る必要があった。
することにより電池用セパレーターを製造する際の品質
管理においては、ポリオレフィン微多孔膜がスリット機
に導入される前にCCDカメラ（CCD；電荷結合素子）等の
受光部により光学的に欠陥を検知することにより欠陥を
含む製品の流出防止を図っている。しかし、スリット後
に円環状に巻き取ったリール巻電池用セパレーターは、
その巻き姿において高い寸法精度を必要とするため、ス
リット機を起動したら一定長さの電池用セパレーターが
巻き上がるまでスリット機を停止できない。このため、
スリット微多孔膜を巻き上げる途中でスリット機を停止
して欠陥のある個所を除去又はマーキング後、再びスリ
ット微多孔膜を繋いで巻くことができない。つまり、一
般的なフィルムのように、CCDカメラで欠陥を発見後直
ちにスリット機を停止して目視で欠陥を確認し、欠陥の
ある個所を除去又はマーキング後、スリット機を再起動
するということができない。従って、スリット前のポリ
オレフィン微多孔膜において欠陥を発見しても、ポリオ
レフィン微多孔膜幅方向における欠陥の位置特定が不正
確であり、更に欠陥のサイズが極めて小さい場合には目
視で確認することが不可能であるため、一定長さの電池
用セパレーターが巻き上がった後では欠陥を含むリール
巻電池用セパレーターを正確に特定できず、欠陥を含む
と推定されるリール巻電池用セパレーターを中心に広範
囲にわたる複数のリール巻電池用セパレーターを廃棄す
る必要があった。
【０００４】従って、本発明の目的は、上記従来技術の
欠点を解消し、CCDカメラにより検出された欠陥のフィ
ルム幅方向の位置を高精度で且つ簡便に特定できるフィ
ルムの評価方法、及びスリットフィルムを高い歩留まり
で製造できるスリットフィルムの品質管理方法を提供す
ることである。
欠点を解消し、CCDカメラにより検出された欠陥のフィ
ルム幅方向の位置を高精度で且つ簡便に特定できるフィ
ルムの評価方法、及びスリットフィルムを高い歩留まり
で製造できるスリットフィルムの品質管理方法を提供す
ることである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題に鑑み鋭意研究
の結果、本発明者らは、欠陥検出部におけるゲージのゲ
ージラインとCCD素子との位置関係に係る情報をコンピ
ュータに記録し、ゲージを除去した後欠陥検出部にフィ
ルムを走行させてCCDカメラを用いて欠陥を撮影するこ
とにより上記問題を解決できることを見出し、本発明に
想到した。
の結果、本発明者らは、欠陥検出部におけるゲージのゲ
ージラインとCCD素子との位置関係に係る情報をコンピ
ュータに記録し、ゲージを除去した後欠陥検出部にフィ
ルムを走行させてCCDカメラを用いて欠陥を撮影するこ
とにより上記問題を解決できることを見出し、本発明に
想到した。
【０００６】すなわち、本発明のフィルムの評価方法
は、(1) 上記フィルムの一方の面側に光源を配置すると
ともに、他方の面側にCCDカメラを配置することによ
り、上記フィルムの欠陥検出部を形成し、(2) 上記欠陥
検出部にゲージを設置し、そのゲージラインを所定位置
に固定したCCDカメラを用いて撮影し、上記ゲージライ
ンとCCD素子との位置関係に係る情報を上記コンピュー
タに記録し、(3) 上記ゲージを除去した後上記欠陥検出
部にフィルムを走行させ、上記CCDカメラを用いて欠陥
を撮影し、その情報を上記コンピュータに記録し、(4)
上記コンピュータに記録した 上記ゲージラインと上
記CCD素子との位置関係に係る情報及び 上記欠陥に係
る情報に基づいて、上記欠陥のフィルム幅方向の位置を
特定することを特徴とする。
は、(1) 上記フィルムの一方の面側に光源を配置すると
ともに、他方の面側にCCDカメラを配置することによ
り、上記フィルムの欠陥検出部を形成し、(2) 上記欠陥
検出部にゲージを設置し、そのゲージラインを所定位置
に固定したCCDカメラを用いて撮影し、上記ゲージライ
ンとCCD素子との位置関係に係る情報を上記コンピュー
タに記録し、(3) 上記ゲージを除去した後上記欠陥検出
部にフィルムを走行させ、上記CCDカメラを用いて欠陥
を撮影し、その情報を上記コンピュータに記録し、(4)
上記コンピュータに記録した 上記ゲージラインと上
記CCD素子との位置関係に係る情報及び 上記欠陥に係
る情報に基づいて、上記欠陥のフィルム幅方向の位置を
特定することを特徴とする。
【０００７】また、本発明のスリットフィルムの品質管
理方法は、(1) フィルムの一方の面側に光源を配置する
とともに、他方の面側にCCDカメラを配置することによ
り、上記フィルムの欠陥検出部を形成し、(2) 上記欠陥
検出部にゲージを設置し、そのゲージラインを所定位置
に固定したCCDカメラを用いて撮影し、上記ゲージライ
ンとCCD素子との位置関係に係る情報を上記コンピュー
タに記録し、(3) 上記ゲージを除去した後上記欠陥検出
部にフィルムを走行させ、上記CCDカメラを用いて欠陥
を撮影し、その情報を上記コンピュータに記録し、(4)
上記コンピュータに記録した 上記ゲージラインと上
記CCD素子との位置関係に係る情報及び 上記欠陥に係
る情報に基づいて、上記欠陥のフィルム幅方向の位置を
特定することにより得られた上記フィルムの欠陥の検出
結果に基づいて上記スリットフィルムの品質を管理する
ことを特徴とする。
理方法は、(1) フィルムの一方の面側に光源を配置する
とともに、他方の面側にCCDカメラを配置することによ
り、上記フィルムの欠陥検出部を形成し、(2) 上記欠陥
検出部にゲージを設置し、そのゲージラインを所定位置
に固定したCCDカメラを用いて撮影し、上記ゲージライ
ンとCCD素子との位置関係に係る情報を上記コンピュー
タに記録し、(3) 上記ゲージを除去した後上記欠陥検出
部にフィルムを走行させ、上記CCDカメラを用いて欠陥
を撮影し、その情報を上記コンピュータに記録し、(4)
上記コンピュータに記録した 上記ゲージラインと上
記CCD素子との位置関係に係る情報及び 上記欠陥に係
る情報に基づいて、上記欠陥のフィルム幅方向の位置を
特定することにより得られた上記フィルムの欠陥の検出
結果に基づいて上記スリットフィルムの品質を管理する
ことを特徴とする。
【０００８】また、本発明のフィルムの評価方法及びス
リットフィルムの品質管理方法は、測長装置を用いて検
出したフィルム長さに係る情報を上記コンピュータに記
録し、上記欠陥のフィルム長さ方向の位置を特定するこ
とも特徴とする。これにより上記欠陥のフィルム幅方向
及び長さ方向の位置を両方共特定することが可能とな
る。
リットフィルムの品質管理方法は、測長装置を用いて検
出したフィルム長さに係る情報を上記コンピュータに記
録し、上記欠陥のフィルム長さ方向の位置を特定するこ
とも特徴とする。これにより上記欠陥のフィルム幅方向
及び長さ方向の位置を両方共特定することが可能とな
る。
【０００９】本発明のフィルムの評価方法は、ポリオレ
フィン微多孔膜の欠陥検出に用いて、ポリオレフィン微
多孔膜をスリットすることにより電池用セパレーターを
製造する際の品質を管理することにより、廃棄する不良
製品又は不良な箇所を最小限にとどめることができる。
その結果、電池用セパレーターの歩留まりを高めること
ができる。
フィン微多孔膜の欠陥検出に用いて、ポリオレフィン微
多孔膜をスリットすることにより電池用セパレーターを
製造する際の品質を管理することにより、廃棄する不良
製品又は不良な箇所を最小限にとどめることができる。
その結果、電池用セパレーターの歩留まりを高めること
ができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明のフィルムの評価方法は、
欠陥検出部におけるゲージのゲージラインとCCD素子と
の位置関係に係る情報をコンピュータに記録し、ゲージ
を除去した後欠陥検出部にフィルムを走行させてCCDカ
メラにより欠陥を撮影することにより上記欠陥のフィル
ム幅方向の位置を特定する。また、本発明のスリットフ
ィルムの品質管理方法は、上記欠陥のフィルム幅方向の
位置を特定した結果に基づいて上記スリットフィルムの
品質を管理する。以下、本発明のフィルムの評価方法及
びスリットフィルムの品質管理方法を図面を参照して詳
細に説明する。
欠陥検出部におけるゲージのゲージラインとCCD素子と
の位置関係に係る情報をコンピュータに記録し、ゲージ
を除去した後欠陥検出部にフィルムを走行させてCCDカ
メラにより欠陥を撮影することにより上記欠陥のフィル
ム幅方向の位置を特定する。また、本発明のスリットフ
ィルムの品質管理方法は、上記欠陥のフィルム幅方向の
位置を特定した結果に基づいて上記スリットフィルムの
品質を管理する。以下、本発明のフィルムの評価方法及
びスリットフィルムの品質管理方法を図面を参照して詳
細に説明する。
【００１１】図１及び図２は、本発明のフィルム評価方
法を実施するための装置を示す概略側面図及び平面図で
ある。また図３はゲージの平面図である。
法を実施するための装置を示す概略側面図及び平面図で
ある。また図３はゲージの平面図である。
【００１２】図１は、CCDカメラを受光部として用いた
例を示す。フィルム１の欠陥は、欠陥検出部Dを通る際
に検出される。欠陥検出部Dは、フィルムの下面側に配
置された光源６と上面側に配置されたCCDカメラ５とに
挟まれ、フィルムが走行する部分である。CCDカメラ５
はコンピュータ７に接続されており、映像信号を記録で
きるようになっている。原反フィルムを巻いたリール８
から巻き戻されたフィルム１は、ガイドローラー９を経
て、欠陥検出部Dを通り、ガイドローラー10及び11を経
て、スリット機12にて走行方向にスリットされ、得られ
たスリットフィルム２は巻き取りリール13に巻き取られ
る。図２は、７本のスリットフィルム2A〜2Gを製造する
例を示す。
例を示す。フィルム１の欠陥は、欠陥検出部Dを通る際
に検出される。欠陥検出部Dは、フィルムの下面側に配
置された光源６と上面側に配置されたCCDカメラ５とに
挟まれ、フィルムが走行する部分である。CCDカメラ５
はコンピュータ７に接続されており、映像信号を記録で
きるようになっている。原反フィルムを巻いたリール８
から巻き戻されたフィルム１は、ガイドローラー９を経
て、欠陥検出部Dを通り、ガイドローラー10及び11を経
て、スリット機12にて走行方向にスリットされ、得られ
たスリットフィルム２は巻き取りリール13に巻き取られ
る。図２は、７本のスリットフィルム2A〜2Gを製造する
例を示す。
【００１３】(1) ゲージラインとCCD素子との位置関係
に係る情報を得る工程 図３に示すように、ゲージ３にはゲージライン31〜36が
設けてあり、これをCCDカメラ５を用いて撮影し、ゲー
ジライン31〜36とCCD素子との位置関係に係るデジタル
情報をコンピュータ７に記録する。
に係る情報を得る工程 図３に示すように、ゲージ３にはゲージライン31〜36が
設けてあり、これをCCDカメラ５を用いて撮影し、ゲー
ジライン31〜36とCCD素子との位置関係に係るデジタル
情報をコンピュータ７に記録する。
【００１４】(a) ゲージ 図２に示すように、ゲージ３は、欠陥検出部Dにおい
て、フィルム走行方向に対してゲージライン31〜36が平
行になるように設置されている。これにより、ゲージラ
イン31〜36とCCD素子との位置関係をコンピュータ７に
正確に記録することができ、またフィルムの欠陥の位置
を正確に特定できる。
て、フィルム走行方向に対してゲージライン31〜36が平
行になるように設置されている。これにより、ゲージラ
イン31〜36とCCD素子との位置関係をコンピュータ７に
正確に記録することができ、またフィルムの欠陥の位置
を正確に特定できる。
【００１５】ゲージライン31〜36により区切られる間隔
3a〜3gは、製品であるスリットフィルムの各々の幅と同
じにする。電池用セパレーターを製造する場合、一度の
スリット工程において、スリット機によってポリオレフ
ィン微多孔膜を５〜200mmの各種幅にスリットするが、
製品（電池用セパレーター）の幅は、製造計画に従って
上記５〜200mmの範囲内で適宜変更される。そのためス
リット機における刃組の間隔をそれに合わせて変更す
る。従って、ゲージラインにより区切られる間隔は、上
記刃組の間隔に合わせて適宜変更する。図３は、図２に
おけるスリットフィルム2A〜2Gのそれぞれの幅に合わせ
た間隔で（即ち、スリット機における刃組の間隔に合わ
せて）、ゲージライン31〜36を設定したゲージの例を示
す。
3a〜3gは、製品であるスリットフィルムの各々の幅と同
じにする。電池用セパレーターを製造する場合、一度の
スリット工程において、スリット機によってポリオレフ
ィン微多孔膜を５〜200mmの各種幅にスリットするが、
製品（電池用セパレーター）の幅は、製造計画に従って
上記５〜200mmの範囲内で適宜変更される。そのためス
リット機における刃組の間隔をそれに合わせて変更す
る。従って、ゲージラインにより区切られる間隔は、上
記刃組の間隔に合わせて適宜変更する。図３は、図２に
おけるスリットフィルム2A〜2Gのそれぞれの幅に合わせ
た間隔で（即ち、スリット機における刃組の間隔に合わ
せて）、ゲージライン31〜36を設定したゲージの例を示
す。
【００１６】ゲージ本体用の素材には特に限定はない
が、透明なものが好ましく、特にガラス及び各種プラス
チックのうち透明なものが好ましい。例えばポリスチレ
ン、ポリカーボネート、ポリメタクリル酸メチル等を挙
げることができる。
が、透明なものが好ましく、特にガラス及び各種プラス
チックのうち透明なものが好ましい。例えばポリスチレ
ン、ポリカーボネート、ポリメタクリル酸メチル等を挙
げることができる。
【００１７】ゲージの長手方向の長さはフィルム幅以上
であればよい。通常、ゲージの長手方向の長さは500〜2
000mm、幅は50〜200mmであるのが好ましい。
であればよい。通常、ゲージの長手方向の長さは500〜2
000mm、幅は50〜200mmであるのが好ましい。
【００１８】ゲージラインの色には特に限定はないが、
ゲージ本体の色に対してコントラストが大きく、ライン
を明確に示せることが、CCDカメラによりゲージライン
の画像を明確に認識できるため好ましい。またゲージラ
インの幅は、0.5〜５mmであるのが、CCDカメラにより画
像を明確に認識できるため好ましい。
ゲージ本体の色に対してコントラストが大きく、ライン
を明確に示せることが、CCDカメラによりゲージライン
の画像を明確に認識できるため好ましい。またゲージラ
インの幅は、0.5〜５mmであるのが、CCDカメラにより画
像を明確に認識できるため好ましい。
【００１９】ゲージ３へのゲージラインの設置方法とし
ては、例えば、ラインを記した着脱式の部品をゲージに
複数取り付ける方法、ラインを記したスライド式部品を
ゲージに複数設けてこれらをスライドさせる方法、容易
に消すことが可能な筆記具を用いてゲージに直接書き込
む方法、色付きテープをゲージに貼る方法等を挙げるこ
とができる。また各種ゲージライン間隔のパターンを固
定したゲージを複数用意しておき、適宜取り替えるのが
好ましい。またゲージ３は、ゲージ設置用の専用台（図
示せず）等を設けて、そこに着脱できるようにするのが
好ましい。
ては、例えば、ラインを記した着脱式の部品をゲージに
複数取り付ける方法、ラインを記したスライド式部品を
ゲージに複数設けてこれらをスライドさせる方法、容易
に消すことが可能な筆記具を用いてゲージに直接書き込
む方法、色付きテープをゲージに貼る方法等を挙げるこ
とができる。また各種ゲージライン間隔のパターンを固
定したゲージを複数用意しておき、適宜取り替えるのが
好ましい。またゲージ３は、ゲージ設置用の専用台（図
示せず）等を設けて、そこに着脱できるようにするのが
好ましい。
【００２０】(b) CCDカメラ ゲージライン31〜36をCCDカメラ５を用いて撮影する。
通常、フィルム１の欠陥検出においては、一台のCCDカ
メラ５でフィルムの幅方向全体にわたって撮影していれ
ば充分である。欠陥検出時のフィルム１の走行速度によ
り検出の解像度が異なるが、必要に応じて複数のCCDカ
メラをフィルムの幅方向及び／又は長さ方向に並べるこ
とにより、解像度を高めたり、広い視野の検出をした
り、二重検査したりすることも可能である。また撮影範
囲が少なくともフィルム１の幅以上となり、且つ解像度
が十分となるように、CCDカメラ５の視野及びCCDカメラ
５とフィルム１の距離を設定する。
通常、フィルム１の欠陥検出においては、一台のCCDカ
メラ５でフィルムの幅方向全体にわたって撮影していれ
ば充分である。欠陥検出時のフィルム１の走行速度によ
り検出の解像度が異なるが、必要に応じて複数のCCDカ
メラをフィルムの幅方向及び／又は長さ方向に並べるこ
とにより、解像度を高めたり、広い視野の検出をした
り、二重検査したりすることも可能である。また撮影範
囲が少なくともフィルム１の幅以上となり、且つ解像度
が十分となるように、CCDカメラ５の視野及びCCDカメラ
５とフィルム１の距離を設定する。
【００２１】(2) CCDカメラを用いたフィルムの欠陥の
検出工程 ゲージ３を除去した後、欠陥検出部Dにフィルム１を走
行させてCCDカメラ５により欠陥を検出し、その情報を
コンピュータ７に記録する。フィルム１に存在するピン
ホール、黒点等の欠陥は、フィルム１を透過した光をCC
Dカメラ５を用いて撮影することにより検出する。この
時ピンホール及び黒点は、映像信号上の観点から、それ
ぞれ明欠陥及び暗欠陥に対応づけられる。これらのデジ
タル情報をコンピュータ７に記録する。更に、測長装置
４で検出したデジタル情報をコンピュータ７に記録す
る。これにより、欠陥のフィルム幅方向及び長さ方向の
位置情報を同時に記録することができる。
検出工程 ゲージ３を除去した後、欠陥検出部Dにフィルム１を走
行させてCCDカメラ５により欠陥を検出し、その情報を
コンピュータ７に記録する。フィルム１に存在するピン
ホール、黒点等の欠陥は、フィルム１を透過した光をCC
Dカメラ５を用いて撮影することにより検出する。この
時ピンホール及び黒点は、映像信号上の観点から、それ
ぞれ明欠陥及び暗欠陥に対応づけられる。これらのデジ
タル情報をコンピュータ７に記録する。更に、測長装置
４で検出したデジタル情報をコンピュータ７に記録す
る。これにより、欠陥のフィルム幅方向及び長さ方向の
位置情報を同時に記録することができる。
【００２２】(a) 測長装置 フィルム長さを検出するための測長装置４は、ガイドロ
ーラー９の回転に伴い回転する検出部がガイドローラー
９と接触するように設置されており、更にコンピュータ
７に接続されている。測長装置４は、フィルムの走行速
度５〜100m/minの範囲でフィルム長さを検出できればよ
い。
ーラー９の回転に伴い回転する検出部がガイドローラー
９と接触するように設置されており、更にコンピュータ
７に接続されている。測長装置４は、フィルムの走行速
度５〜100m/minの範囲でフィルム長さを検出できればよ
い。
【００２３】(b) 光源 光源は特に限定されず、投影型液晶プロジェクタ、白熱
電球、蛍光灯、ハロゲンランプ等が利用可能である。
電球、蛍光灯、ハロゲンランプ等が利用可能である。
【００２４】(c) CCDカメラ CCDカメラ５の画素は列状に配置されても、面状に配置
されてもよい。フィルムのスリット時は、フィルムが連
続的に走行しているため、フィルムの走行方向に対して
実質的に切れ目無く評価を行う必要がある。そのためCC
Dカメラ５の画素は列状に配置され、それがフィルムの
幅方向に配列されているのが好ましい。
されてもよい。フィルムのスリット時は、フィルムが連
続的に走行しているため、フィルムの走行方向に対して
実質的に切れ目無く評価を行う必要がある。そのためCC
Dカメラ５の画素は列状に配置され、それがフィルムの
幅方向に配列されているのが好ましい。
【００２５】以上説明した光源６及びCCDカメラ５の設
定によれば、10μm〜500mmの欠陥を検出可能である。
定によれば、10μm〜500mmの欠陥を検出可能である。
【００２６】(d) フィルム 本発明は、ポリオレフィン微多孔膜をスリットして電池
用セパレーターを製造する時の欠陥検出に対して特に有
用であるが、本発明の実施に適用できるフィルムはポリ
オレフィン微多孔膜に限定されず、各種ポリエチレン、
各種ポリプロピレン、ポリエステル、ポリアミド、ポリ
塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、アラミド、ポリイミ
ド、ポリフェニレンサルファイド、セロファン、ポリテ
トラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデン等のいず
れのフィルムでもよい。また不織布、紙等にも適用でき
る。これらフィルム、不織布、紙等の厚みにも特に限定
はないが、５μm以上が好ましく、５〜1000μmのものが
より好ましい。
用セパレーターを製造する時の欠陥検出に対して特に有
用であるが、本発明の実施に適用できるフィルムはポリ
オレフィン微多孔膜に限定されず、各種ポリエチレン、
各種ポリプロピレン、ポリエステル、ポリアミド、ポリ
塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、アラミド、ポリイミ
ド、ポリフェニレンサルファイド、セロファン、ポリテ
トラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデン等のいず
れのフィルムでもよい。また不織布、紙等にも適用でき
る。これらフィルム、不織布、紙等の厚みにも特に限定
はないが、５μm以上が好ましく、５〜1000μmのものが
より好ましい。
【００２７】(3) コンピュータに記録した情報に基づい
て欠陥のフィルム幅方向の位置を特定する工程 コンピュータ７に記録した ゲージラインとCCD素子と
の位置関係に係る情報、及び 欠陥に係る情報に基づ
いて、上記欠陥のフィルム幅方向の位置を特定すること
ができる。また同時に、コンピュータ７に記録したフィ
ルム長さに係る情報に基づいて、上記欠陥のフィルム長
さ方向の位置を特定することができる。
て欠陥のフィルム幅方向の位置を特定する工程 コンピュータ７に記録した ゲージラインとCCD素子と
の位置関係に係る情報、及び 欠陥に係る情報に基づ
いて、上記欠陥のフィルム幅方向の位置を特定すること
ができる。また同時に、コンピュータ７に記録したフィ
ルム長さに係る情報に基づいて、上記欠陥のフィルム長
さ方向の位置を特定することができる。
【００２８】以上述べた方法により、ポリオレフィン微
多孔膜を始めとする各種フィルムに欠陥が検出された場
合には、電池用セパレーターの製造工程のようにスリッ
トの途中でスリット機を停止できない場合でも、欠陥を
含んだスリットフィルムを特定できるため、欠陥を含ん
だスリットフィルムのみを廃棄することができる。ま
た、一定長さのフィルムが巻き上がった後でも、欠陥位
置のみを廃棄し、スリットフィルムの切断箇所を繋いだ
後、再度巻き直して高い寸法精度のスリットフィルムに
戻すことができるため、廃棄を最小限に抑えることがで
きる。勿論、スリットの途中でスリット機が停止可能で
あれば、欠陥を発見後直ちにスリット機を停止して目視
で欠陥を確認し、欠陥の存在する部分がスリットフィル
ム（製品）に含まれないようにスリット機の刃組を変え
たり、欠陥のある個所を除去後再びスリットフィルムを
繋いだりした後、スリット機を再起動してもよい。その
結果、欠陥を含む製品をユーザーに出荷せずに済むと共
に、不良な製品の割合を小さくすることができる。更
に、欠陥が頻発したり周期的に発生した場合には、その
頻度から原因を推定したり、その周期から製造工程の対
応箇所を推定することで、早急に製造工程の対応箇所を
修正することが可能となる。その結果、欠陥を含む製品
を製造し続けるのを防ぐことができ、不良な製品の製造
を最小限にとどめ、歩留まりを高めることができる。
多孔膜を始めとする各種フィルムに欠陥が検出された場
合には、電池用セパレーターの製造工程のようにスリッ
トの途中でスリット機を停止できない場合でも、欠陥を
含んだスリットフィルムを特定できるため、欠陥を含ん
だスリットフィルムのみを廃棄することができる。ま
た、一定長さのフィルムが巻き上がった後でも、欠陥位
置のみを廃棄し、スリットフィルムの切断箇所を繋いだ
後、再度巻き直して高い寸法精度のスリットフィルムに
戻すことができるため、廃棄を最小限に抑えることがで
きる。勿論、スリットの途中でスリット機が停止可能で
あれば、欠陥を発見後直ちにスリット機を停止して目視
で欠陥を確認し、欠陥の存在する部分がスリットフィル
ム（製品）に含まれないようにスリット機の刃組を変え
たり、欠陥のある個所を除去後再びスリットフィルムを
繋いだりした後、スリット機を再起動してもよい。その
結果、欠陥を含む製品をユーザーに出荷せずに済むと共
に、不良な製品の割合を小さくすることができる。更
に、欠陥が頻発したり周期的に発生した場合には、その
頻度から原因を推定したり、その周期から製造工程の対
応箇所を推定することで、早急に製造工程の対応箇所を
修正することが可能となる。その結果、欠陥を含む製品
を製造し続けるのを防ぐことができ、不良な製品の製造
を最小限にとどめ、歩留まりを高めることができる。
【００２９】以上の通り、図面を参照して本発明のフィ
ルムの評価方法及びスリットフィルムの品質管理方法を
説明したが、本発明はそれに限定されず、その趣旨を変
更しない限り種々の変更を加えることができる。
ルムの評価方法及びスリットフィルムの品質管理方法を
説明したが、本発明はそれに限定されず、その趣旨を変
更しない限り種々の変更を加えることができる。
【００３０】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明の方法によ
り、フィルムに存在する欠陥のフィルム幅方向及び長さ
方向の位置を高精度で且つ簡便に特定できるため、電池
用セパレーターの製造において従来不可能だった欠陥が
含まれるリール巻電池用セパレーターのみの廃棄や欠陥
位置のみの廃棄が可能となり、収得率が飛躍的に向上す
る。その結果、不良製品の製造を最小限にとどめ、歩留
まりを高めることができる。また、欠陥の発生について
の詳細な原因調査及び対策が可能になり、欠陥の発生を
低下させることが出来る。
り、フィルムに存在する欠陥のフィルム幅方向及び長さ
方向の位置を高精度で且つ簡便に特定できるため、電池
用セパレーターの製造において従来不可能だった欠陥が
含まれるリール巻電池用セパレーターのみの廃棄や欠陥
位置のみの廃棄が可能となり、収得率が飛躍的に向上す
る。その結果、不良製品の製造を最小限にとどめ、歩留
まりを高めることができる。また、欠陥の発生について
の詳細な原因調査及び対策が可能になり、欠陥の発生を
低下させることが出来る。
【００３１】本発明のフィルムの評価方法は、スリット
用フィルムへの適用に限定されず、各種合成樹脂等のフ
ィルム、不織布、紙等の加工分野にも適用可能である。
用フィルムへの適用に限定されず、各種合成樹脂等のフ
ィルム、不織布、紙等の加工分野にも適用可能である。
【図１】 本発明のフィルムの評価方法を実施するため
の装置を示す概略側面図である。
の装置を示す概略側面図である。
【図２】 図１の装置の平面図である。
【図３】 ゲージの平面図である。
１・・・フィルム ２・・・スリットフィルム 2A、2B、2C、2D、2E、2F、2G・・・スリットフィルム ３・・・ゲージ 31、32、33、34、35、36・・・ゲージライン ４・・・測長装置 ５・・・CCDカメラ ６・・・光源 ７・・・コンピュータ ８・・・原反フィルム巻回用リール ９・・・ガイドローラー 10・・・ガイドローラー 11・・・ガイドローラー 12・・・スリット機 13・・・スリットフィルム巻回用リール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F065 AA49 CC02 FF04 FF67 GG02 GG03 JJ26 PP15 QQ31 UU03 2G051 AA41 AB02 AC21 CA04 CB02 DA06 5H021 BB20 CC02 CC08 EE02 EE03 EE04 EE10 EE12
Claims (6)
- 【請求項１】 フィルムの欠陥を検出することにより前
記フィルムを評価する方法において、(1) 前記フィルム
の一方の面側に光源を配置するとともに、他方の面側に
CCDカメラを配置することにより、前記フィルムの欠陥
検出部を形成し、(2) 前記欠陥検出部にゲージを設置
し、そのゲージラインを所定位置に固定したCCDカメラ
を用いて撮影し、前記ゲージラインとCCD素子との位置
関係に係る情報を前記コンピュータに記録し、(3) 前記
ゲージを除去した後前記欠陥検出部にフィルムを走行さ
せ、前記CCDカメラを用いて欠陥を撮影し、その情報を
前記コンピュータに記録し、(4) 前記コンピュータに記
録した 前記ゲージラインと前記CCD素子との位置関係
に係る情報及び 前記欠陥に係る情報に基づいて、前
記欠陥のフィルム幅方向の位置を特定することを特徴と
するフィルムの評価方法。 - 【請求項２】 フィルムの欠陥を検出することにより
前記フィルムを評価する方法において、(1) 前記フィル
ムの一方の面側に光源を配置するとともに、他方の面側
にCCDカメラを配置することにより、前記フィルムの欠
陥検出部を形成し、(2) 前記欠陥検出部にゲージを設置
し、そのゲージラインを所定位置に固定したCCDカメラ
を用いて撮影し、前記ゲージラインとCCD素子との位置
関係に係る情報を前記コンピュータに記録し、(3) 前記
ゲージを除去した後前記欠陥検出部にフィルムを走行さ
せ、前記CCDカメラを用いて欠陥を撮影し、その情報を
前記コンピュータに記録し、同時に測長装置を用いてフ
ィルム長さを検出し、その情報を前記コンピュータに記
録し、(4) 前記コンピュータに記録した 前記ゲージ
ラインと前記CCD素子との位置関係に係る情報及び 前
記欠陥に係る情報に基づいて、前記欠陥のフィルム幅方
向の位置を特定し、同時に前記コンピュータに記録した
フィルム長さに係る情報に基づいて、前記欠陥のフィル
ム長さ方向の位置を特定することを特徴とするフィルム
の評価方法。 - 【請求項３】 請求項１又は２に記載のフィルムの評価
方法において、前記フィルムがポリオレフィン微多孔膜
であることを特徴とするフィルムの評価方法。 - 【請求項４】 フィルムからスリットフィルムを製造す
る際に、前記フィルムの欠陥の検出結果に基づいて前記
スリットフィルムの品質を管理する方法において、(1)
前記フィルムの一方の面側に光源を配置するとともに、
他方の面側にCCDカメラを配置することにより、前記フ
ィルムの欠陥検出部を形成し、(2) 前記欠陥検出部にゲ
ージを設置し、そのゲージラインを所定位置に固定した
CCDカメラを用いて撮影し、前記ゲージラインとCCD素子
との位置関係に係る情報を前記コンピュータに記録し、
(3) 前記ゲージを除去した後前記欠陥検出部にフィルム
を走行させ、前記CCDカメラを用いて欠陥を撮影し、そ
の情報を前記コンピュータに記録し、(4) 前記コンピュ
ータに記録した 前記ゲージラインと前記CCD素子との
位置関係に係る情報及び 前記欠陥に係る情報に基づ
いて、前記欠陥のフィルム幅方向の位置を特定すること
により前記フィルムの欠陥の検出結果を得ることを特徴
とするスリットフィルムの品質管理方法。 - 【請求項５】 フィルムからスリットフィルムを製造す
る際に、前記フィルムの欠陥の検出結果に基づいて前記
スリットフィルムの品質を管理する方法において、(1)
前記フィルムの一方の面側に光源を配置するとともに、
他方の面側にCCDカメラを配置することにより、前記フ
ィルムの欠陥検出部を形成し、(2) 前記欠陥検出部にゲ
ージを設置し、そのゲージラインを所定位置に固定した
CCDカメラを用いて撮影し、前記ゲージラインとCCD素子
との位置関係に係る情報を前記コンピュータに記録し、
(3) 前記ゲージを除去した後前記欠陥検出部にフィルム
を走行させ、前記CCDカメラを用いて欠陥を撮影し、そ
の情報を前記コンピュータに記録し、同時に測長装置を
用いてフィルム長さを検出し、その情報を前記コンピュ
ータに記録し、(4) 前記コンピュータに記録した 前
記ゲージラインと前記CCD素子との位置関係に係る情報
及び 前記欠陥に係る情報に基づいて、前記欠陥のフ
ィルム幅方向の位置を特定し、同時に前記コンピュータ
に記録したフィルム長さに係る情報に基づいて、前記欠
陥のフィルム長さ方向の位置を特定することにより前記
フィルムの欠陥の検出結果を得ることを特徴とするスリ
ットフィルムの品質管理方法。 - 【請求項６】 請求項４又は５に記載のスリットフィル
ムの品質管理方法において、前記フィルムがポリオレフ
ィン微多孔膜であることを特徴とするスリットフィルム
の品質管理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001022073A JP2002228429A (ja) | 2001-01-30 | 2001-01-30 | フィルムの評価方法及びスリットフィルムの品質管理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001022073A JP2002228429A (ja) | 2001-01-30 | 2001-01-30 | フィルムの評価方法及びスリットフィルムの品質管理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002228429A true JP2002228429A (ja) | 2002-08-14 |
Family
ID=18887531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001022073A Pending JP2002228429A (ja) | 2001-01-30 | 2001-01-30 | フィルムの評価方法及びスリットフィルムの品質管理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002228429A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008170197A (ja) * | 2007-01-10 | 2008-07-24 | Toyama Sumitomo Denko Kk | 金属多孔体の異物検出装置およびその装置による異物検出工程を経た金属多孔体 |
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-
2001
- 2001-01-30 JP JP2001022073A patent/JP2002228429A/ja active Pending
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