CN103034084B - 电子照相设备 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种电子照相设备，其中即使该电子照相设备不具有电子照相感光构件用的加热器，也可以抑制图像浓度的不均匀。为此，在电子照相设备中配置电子照相感光构件以使得在圆筒轴方向上将电子照相感光构件等分成两个区域的情况下，两个区域中的感光构件特性的温度依赖性的绝对值不相同，并且在两个区域中将感光构件特性的温度依赖性的绝对值较小的区域定义为第一区域并将感光构件特性的温度依赖性的绝对值较大的区域定义为第二区域的情况下，在电子照相设备形成图像时，第一区域的表面温度的变化大于第二区域的表面温度的变化。
Description
技术领域
本发明涉及一种电子照相设备。
背景技术
电子照相设备被广泛地用于例如复印机、传真机和打印机。另外，作为用于电子照相设备的电子照相感光构件，其上具有由非晶硅形成的光导电层(感光层)的电子照相感光构件(非晶硅电子照相感光构件)是众所周知的。
图2是示出具有电子照相感光构件用的加热器的传统电子照相设备的例子的图。
在图2所示的电子照相设备中，电子照相感光构件2001具有安装在其内部的电子照相感光构件用的加热器2010，并且加热器控制电子照相感光构件2001的表面温度。
在图2中，朝向箭头的方向转动驱动的电子照相感光构件2001的表面由充电装置2002进行充电。电子照相感光构件2001的表面的充电电位由流过充电装置2002中的充电线2011的电流值来调整。随后，利用从图像曝光装置(未示出)发射的图像曝光光束2003照射电子照相感光构件2001的表面，并且在电子照相感光构件2001的表面上形成静电潜像。然后，电子照相感光构件2001的表面上所形成的静电潜像由从显影装置2004供给的调色剂进行显影，并且在电子照相感光构件2001的表面上形成调色剂图像。
之后，转印装置2005将电子照相感光构件2001的表面上所形成的调色剂图像转印至转印材料2006上。随后，将转印材料2006与电子照相感光构件2001的表面分离，然后定影装置(未示出)将转印至转印材料2006上的调色剂图像定影在转印材料2006上。
另一方面，没有转印至转印材料2006而残留在电子照相感光构件2001的表面上的调色剂由清洁装置2007中的清洁刮板2008去除。
随后，预曝光装置(未示出)利用预曝光光2009照射电子照相感光构件2001的表面，并且对电子照相感光构件2001的表面进行放电。
通过重复上述一系列处理来连续形成图像(图像输出)。
近年来，通过使用电子照相设备输出诸如照片和图片等的图像的机会增加，结果，使电子照相图像具有较高图像质量的需求增加。特别地，图像浓度的不均一(图像浓度的不均匀)可能容易被人眼辨别，因此降低图像浓度的不均匀的需求特别高。
导致图像浓度的不均匀的原因之一包括诸如电子照相感光构件的充电特性和灵敏度特性等的感光构件特性的不均一(不均匀)。在许多情况下，感光构件特性的不均匀是由于构成电子照相感光构件的膜的膜质量和膜厚度的不均一(不均匀)而导致的。
近年来，随着用于制造电子照相感光构件的方法的改善，构成电子照相感光构件的膜的膜质量和膜厚度的不均匀已日益降低，结果，图像浓度的不均匀也日益降低。
另外，日本特开平07-209930公开了以下技术：将多个加热单元配置在电子照相感光构件的内部，控制各加热单元的温度，从而抑制图像浓度的不均匀。
近年来，要求电子照相设备不仅能够形成高质量的图像，还从环境考虑的观点出发能够实现节省电力，并且期望不具有电子照相感光构件用的加热器的电子照相设备。
然而，存在如下情况：不具有诸如电子照相感光构件用的加热器等的用于控制电子照相感光构件的表面温度的单元的电子照相设备无法充分控制图像浓度的不均匀，并且在当前情况下，电子照相设备仍然具有改善的空间。
发明内容
本发明的目的是提供一种电子照相设备，其中即使该电子照相设备不具有诸如电子照相感光构件用的加热器等的用于控制电子照相感光构件的表面温度的单元，该电子照相设备也能够抑制图像浓度的不均匀。
本发明人对实现抑制不具有电子照相感光构件用的加热器的电子照相设备中的图像浓度的不均匀进行了研究，结果，发现导致图像浓度的不均匀的原因之一是：在形成图像(图像输出)时，在电子照相感光构件上发生表面温度的不均匀。
本发明提供的电子照相设备包括：圆筒状的电子照相感光构件，其具有由非晶硅形成的光导电层；充电装置，用于对电子照相感光构件的表面进行充电；以及图像曝光装置，用于利用图像曝光光束照射所述电子照相感光构件的表面，以在所述电子照相感光构件的表面上形成静电潜像，其中，所述电子照相设备不具有用于控制所述电子照相感光构件的表面温度的单元，所述电子照相感光构件具有感光构件特性根据表面温度而变化的感光构件特性的温度依赖性，在所述电子照相感光构件在圆筒轴方向上等分成两个区域的情况下，所述两个区域中所述感光构件特性的温度依赖性的绝对值不相同，以及在所述电子照相设备中，将所述电子照相感光构件配置成：在所述两个区域中将所述感光构件特性的温度依赖性的绝对值较小的区域定义为第一区域并且将所述感光构件特性的温度依赖性的绝对值较大的区域定义为第二区域的情况下，在所述电子照相设备形成图像时，所述第一区域的表面温度的变化大于所述第二区域的表面温度的变化。
本发明可以提供一种电子照相设备，其中即使该电子照相设备不具有诸如电子照相感光构件用的加热器等的用于控制电子照相感光构件的表面温度的单元，该电子照相设备也能够抑制图像浓度的不均匀。
通过以下参考附图对实施例的说明，本发明的其它特征将变得明显。
附图说明
图1是示出不具有电子照相感光构件用的加热器的电子照相设备的例子的图。
图2是示出具有电子照相感光构件用的加热器的传统电子照相设备的例子的图。
图3A和3B是各自示出充电装置周围的气流结构的例子的图。
图4A和4B是各自示出充电装置周围的气流结构的例子的图。
图5是示出沉积膜形成设备的例子的图。
图6A是示出电子照相感光构件的感光构件特性的温度依赖性的不均匀的例子的图。
图6B是示出重复图像形成(图像输出)时发生的电子照相感光构件的表面温度的不均匀的例子的图。
图6C是示出电子照相感光构件的感光构件特性的温度依赖性的不均匀的例子的图。
图6D是示出重复图像形成(图像输出)时发生的电子照相感光构件的表面温度的不均匀的例子的图。
图7是示出电子照相感光构件的例子的图。
图8A、8B、8C和8D是各自示出用于制造电子照相感光构件的设备中的气管的例子的图。
图9是示出用于测量电子照相感光构件的感光构件特性的设备的例子的图。
图10是示出电子照相感光构件的例子的图。
具体实施方式
现在将根据附图详细说明本发明的优选实施例。
如上所述，本发明的电子照相设备是不具有用于控制电子照相感光构件的表面温度的单元(例如，电子照相感光构件用的加热器等)的电子照相设备。用于本发明的电子照相设备的电子照相感光构件(以下也称为“根据本发明的电子照相感光构件”)具有感光构件特性根据表面温度而改变的感光构件特性的温度依赖性。另外，在根据本发明的电子照相感光构件中，当在圆筒轴方向(转动轴方向)上将电子照相感光构件等分成两个区域时，这两个区域中的感光构件特性的温度依赖性的绝对值并不相同。换句话说，根据本发明的电子照相感光构件的温度依赖性在电子照相感光构件的圆筒轴方向上存在不均匀(温度依赖性的不均匀)。
在本发明电子照相设备中，在电子照相设备中配置电子照相感光构件，以使得当将上述两个区域中感光构件特性的温度依赖性的绝对值较小的区域定义为第一区域并且将感光构件特性的温度依赖性的绝对值较大的区域定义为第二区域时，在电子照相设备中形成图像(图像输出)的情况下，第一区域的表面温度的变化变得比第二区域的表面温度的变化大。
关于上述结构为何能够抑制图像浓度的不均匀的原因，本发明人是按照方式进行考虑的。
导致图像浓度的不均匀的原因之一包括形成图像(图像输出)时所发生的电子照相感光构件的表面电位的不均匀。
当形成图像(图像输出)时，由于电子照相设备中的空气流动的不均匀的影响，在电子照相感光构件上容易发生表面温度的不均匀。在电子照相感光构件中，即使电子照相感光构件的充电条件和图像曝光条件恒定(均匀)，诸如电子照相感光构件的充电特性和灵敏度特性等的感光构件特性由于电子照相感光构件的表面的温度的不均匀(表面温度的不均匀)也变得不均匀，结果，在电子照相感光构件的表面的电位容易出现不均匀(表面电位的不均匀)。
具有诸如电子照相感光构件用的加热器等的用于控制电子照相感光构件的表面温度的单元的传统电子照相设备通过将电子照相感光构件的表面温度的分布控制得接近均匀分布来抑制电子照相感光构件的表面电位的不均匀。
然而，在从环境考虑的观点来看，在电子照相设备中不设置诸如电子照相感光构件用的加热器等的用于控制电子照相感光构件的表面温度的单元的情况下，该电子照相设备与具有用于控制电子照相感光构件的表面温度的单元的电子照相设备相比无法充分抑制表面电位的不均匀。
导致电子照相设备中的不均匀空气流动的原因之一包括被配置为与电子照相感光构件的圆筒轴方向近似平行的充电装置的周围的空气供给和排放的结构(以下也称为“气流结构”)。为了将充电装置周围所产生的臭氧产物排放至电子照相设备外部，通常安装有充电装置周围的气流结构。充电装置周围的气流结构例如包括用于将空气从充电装置的长边方向的一端侧供给至充电装置的空气供给装置和用于从充电装置的长边方向的一端侧排出充电装置中的空气的排气装置。
图3A和3B以及图4A和4B是各自示出充电装置周围的气流结构的例子的图。图3B是从E的方向观察的情况下的图3A所示的气流结构的图。图4B是从G的方向观察的情况下的图4A所示的气流结构的图。
在图3A和3B所示的气流结构中，在内部安装了充电线3005的充电装置3001的上侧设置空气供给管3002，并且将空气从外部经由灰尘过滤器3003和空气供给扇3004供给至充电装置3001。
这里，为了使充电装置3001中的空气流动接近均匀流动，可以在充电装置3001的下侧(图3A和3B中的F的方向)设置排气管(未示出)。
然而，电子照相感光构件位于充电装置3001的F的方向上，因此难以在此设置这种排气管。
因此，在普通电子照相设备中，从维护的容易性等的观点来看，其结构是如图4A和4B所示在内部安装了充电线4007的充电装置4001的一侧设置排气管4005的一般结构。为此，空气流动在排气管4005侧和排气管4005侧的相对侧变得不均匀。排气管4005侧的空气流动变得比相对侧的空气流动快。结果，在不具有用于控制电子照相感光构件的表面温度的单元的电子照相设备中，排气管4005侧的电子照相感光构件4006的表面温度变得低于相对侧，并且在电子照相感光构件4006中发生表面温度的不均匀。
同样，在图4A和4B所示的气流结构中，以与图3A和3B所示的气流结构相同的方式，在内部安装了充电线4007的充电装置4001的上侧设置空气供给管4002，并且将空气从外部经由灰尘过滤器4003和空气供给扇4004供给至充电装置4001。
此外，图4A所示的气流结构是利用空气供给扇4004引起充电装置4001中的空气流动的结构，但也可以是如下结构：通过代替空气供给扇而使用排气扇来引起与图4B所示的气流结构中的空气流动的方向相反的方向上的空气流动。在该情况下，以与上述说明相同的方式，在电子照相感光构件上发生表面温度的不均匀。
与此相对，在本发明的电子照相设备中，在电子照相设备中配置电子照相感光构件，以使得通过在圆筒轴方向上将电子照相感光构件等分成两个区域所形成的两个区域中、感光构件特性的温度依赖性的绝对值较小的区域(第一区域)的表面温度的变化比感光构件特性的温度依赖性的绝对值较大的区域(第二区域)的表面温度的变化大。
利用电子照相设备中的电子照相感光构件的上述配置，与在电子照相设备中配置电子照相感光构件以使得第二区域的表面温度的变化比第一区域的表面温度的变化大的情况相比，电子照相设备可以抑制形成图像(图像输出)时的电子照相感光构件的表面温度的不均匀，结果，可以抑制电子照相感光构件的表面电位的不均匀。
结果，电子照相设备可以抑制由形成图像(图像输出)时的电子照相感光构件的表面电位的不均匀所导致的图像浓度的不均匀。
此外，在本发明中，电子照相感光构件的感光构件特性是依赖于电子照相感光构件的表面温度的电子照相感光构件的特性，且意味着影响电子照相感光构件的表面电位的电子照相感光构件的特性，并且例如包括充电特性和灵敏度特性。
另外，在本发明中，感光构件特性的温度依赖性是由如下的表面电位的变化率[V/℃]所表示的参数，其中该表面电位的变化率是在调整了充电条件和图像曝光条件等并且将电子照相感光构件的表面电位设置为预定值之后改变电子照相感光构件的表面温度时所确定的。
如果电子照相感光构件的感光构件特性中的至少一个感光构件特性满足本发明的条件，则该电子照相设备包括在本发明的范围中，但是感光构件特性中充电特性和灵敏度特性中的至少一者可以满足本发明的条件。特别地，在电子照相设备是BAE系统(背景区域曝光，即利用调色剂来对电子照相感光构件的表面上未照射图像曝光光束的部位进行显影的电子照相系统)的电子照相设备的情况下，电子照相感光构件的充电特性可以进一步满足本发明的条件。另一方面，在电子照相设备是IAE系统(图像区域曝光，即利用调色剂来对电子照相感光构件的表面上照射了图像曝光光束的部位进行显影的电子照相系统)的电子照相设备的情况下，电子照相感光构件的灵敏度特性可以进一步满足本发明的条件。
另外，已经举例说明了充电装置的气流结构的例子作为电子照相感光构件的表面温度的不均匀的原因之一，但由于从维持的容易性等的观点来看，电子照相设备的结构相对于电子照相感光构件的表面而言通常并不均匀，因而电子照相感光构件的表面温度的不均匀的原因不限于气流结构。即使电子照相感光构件的表面温度的不均匀的原因是任意原因，也可以获得本发明的效果。
另外，在本发明中，电子照相感光构件的表面温度的不均匀和感光构件特性的温度依赖性的不均匀意味着电子照相感光构件的圆筒轴方向上的不均匀。
图1是示出不具有电子照相感光构件用的加热器的电子照相设备的例子的图。
图1所示的电子照相设备以以下方式形成电子照相图像。
在图1中，朝向箭头的方向转动驱动的电子照相感光构件1001的表面由充电装置1002进行充电。电子照相感光构件1001的表面的充电电位由流过充电装置1002中的充电线1011的电流值来调整。随后，利用从图像曝光装置(未示出)发射的图像曝光光束1003来照射电子照相感光构件1001的表面，并且在电子照相感光构件1001的表面上形成静电潜像。然后，电子照相感光构件1001的表面上所形成的静电潜像由从显影装置1004供给的调色剂进行显影，并且在电子照相感光构件1001的表面上形成调色剂图像。
之后，转印装置1005将电子照相感光构件1001的表面上所形成的调色剂图像转印至转印材料1006上。随后，将转印材料1006与电子照相感光构件1001的表面分离，然后，利用定影装置(未示出)将已转印至转印材料1006上的调色剂图像定影在转印材料1006上。
另一方面，没有转印至转印材料1006而残留在电子照相感光构件1001的表面上的调色剂由清洁装置1007中的清洁刮板1008去除。
随后，预曝光装置(未示出)利用预曝光光1009照射电子照相感光构件1001的表面，并且对电子照相感光构件1001的表面进行放电。
通过重复上述一系列处理来连续形成图像(图像输出)。
图5是示出制造由非晶硅形成的圆筒状电子照相感光构件所使用的、利用使用RF范围(13.56MHz)的高频电源的RF等离子CVD方法的沉积膜形成设备的例子的图。
图5所示的沉积膜形成设备主要包括反应容器5000和用于对反应容器5000的内部进行减压的排气装置5001。反应容器5000分别具有接地的圆筒状辅助基体5002、用于加热圆筒状基体5003的圆筒状基体用的加热器5004和安装在反应容器5000内部的气体导入管5005。反应容器5000的侧壁部主要由导电材料所制成的放电电极5006形成，并且放电电极5006通过绝缘体5007与反应容器5000的其它部分绝缘。13.56MHz的高频电源5009经由匹配箱5008连接至放电电极5006。
构成原料气体供给单元(未示出)的各圆筒经由原料气体导入阀5010连接至反应容器5000的内部的气体导入管5005。
反应容器5000具有排气管5011，并且可以利用排气装置5001经由主阀5013真空排气。
以下将说明通过使用图5所示的沉积膜形成设备来制造电子照相感光构件的方法的例子。
将具有使用车床等进行了镜面加工处理的表面的圆筒状基体5003安装在圆筒状辅助基体5002上，以包围反应容器5000内部的圆筒状基体用的加热器5004，并且在圆筒状基体5003上设置盖5014。
接着，打开主阀5013，并且对反应容器5000和气体导入管5005的内部进行排气。当真空计5012的读数达到预定压力(例如，1Pa)以下时，打开原料气体导入阀5010，并且经由气体导入管5005将加热用的惰性气体(例如，氩气)导入反应容器5000的内部。然后，对加热用的惰性气体的流量、主阀5013的开口量和排气装置5001的排气速度等进行调整，以使得反应容器5000的内部达到预定压力。
之后，操作温度控制器(未示出)以使得圆筒状基体用的加热器5004加热圆筒状基体5003，并且将圆筒状基体5003的温度控制为预定温度(例如，50℃~500℃)。当圆筒状基体5003的温度达到预定温度时，在惰性气体的导入逐渐停止的同时，将用于形成沉积膜的原料气体逐渐导入反应容器5000的内部。原料气体例如包括：包含诸如SiH4和Si2H6等的硅氢化合物气体以及诸如CH4和C2H6等的碳氢化合物气体的材料气体；以及诸如B2H6和PH3等的掺杂气体。当导入原料气体时，利用质量流控制器(未示出)来将原料气体的流量调整为预定流量。此时，操作者在观察真空计5012的同时，对主阀5013的开口量和排气装置5001的排气速度等进行调整，以将反应容器5000内部的压力维持在预定值。
在通过上述过程完成了用于形成沉积膜的准备之后，在圆筒状基体5003上形成沉积膜。在确认出反应容器5000的内部的压力稳定之后，将高频电源5009设置为预定电力，将高频电力供给至放电电极5006，并且在反应容器5000的内部生成高频辉光放电。此时，操作者调整匹配箱5008以使得反射电力最小，并且将通过从高频电力的入射电力减去反射电力所获得的有效值设置为预定值。该放电能量使已导入反应容器5000的内部的原料气体进行分解，并且在圆筒状基体5003上形成沉积膜。此外，在形成沉积膜期间，可以利用驱动装置(未示出)使圆筒状基体5003围绕其中心轴线以预定速度转动。在形成了具有预定厚度的沉积膜之后，高频电力的供给停止，并且停止原料气体向着反应容器5000内部的流入。通过根据需要来改变原料气体的类型和高频电力的条件等来顺次形成多个沉积膜。之后，一旦使得反应容器5000的内部成为高真空，则沉积膜的形成结束。
利用上述操作，可以制造电子照相感光构件。
图6A是示出通过上述制造方法制造的由非晶硅形成的电子照相感光构件中、圆筒轴方向上的感光构件特性(充电特性和灵敏度特性等)的温度依赖性的不均匀(温度依赖性的不均匀)的例子的图。温度依赖性的不均匀的形状在电子照相感光构件的圆筒轴方向上具有一些拐点，但是在圆筒轴方向整体地几乎是平缓改变的形状。在通过上述普通制造方法制造的由非晶硅形成的电子照相感光构件中，由于制造方法的性质，温度依赖性的不均匀通常示出为图6A所示的平缓形状，并且不会发生局部变化很大的不均匀。
因此，如图7所示，在圆筒轴方向上将电子照相感光构件7001等分成两个区域(区域H和区域I)，并且在区域H和区域I各自的范围中对电子照相感光构件的温度依赖性进行平均化的情况下，可以利用温度依赖性的平均值的绝对值来确定电子照相感光构件的温度依赖性的绝对值的大小关系。在本发明中，以这种方式确定了温度依赖性的绝对值的大小关系。
另外，图6B是示出电子照相设备(连续)形成图像(图像输出)的情况下所发生的电子照相感光构件的圆筒轴方向上的表面温度的不均匀(表面温度的不均匀)的例子的图。表面温度的不均匀的形状在电子照相感光构件的圆筒轴方向上具有一些拐点，但是在圆筒轴方向整体地几乎是平缓改变的形状。在具有普通结构的电子照相设备(连续)形成图像(图像输出)的情况下，电子照相设备中所发生的电子照相感光构件的表面温度的不均匀通常变成图6B所示的平缓形状，并且不会发生局部变化很大的不均匀。
因此，如图7所示，通过在圆筒轴方向上将电子照相感光构件7001等分成两个区域(区域H和区域I)并且在区域H和区域I各自的范围中对电子照相感光构件的表面温度进行平均化，可以确定电子照相感光构件的表面温度的变化的大小关系。在本发明中，以这种方式确定了表面温度的变化的大小关系。
另外，在本发明中，在电子照相感光构件的特定部位的感光构件特性的温度依赖性由α[V/℃]来表示并且该特定部位的表面温度的变化由ΔT[℃]来表示的情况下，作为α和ΔT的积的α·ΔT的值最大的部位中的α·ΔT的值和α·ΔT的值最小的部位中的α·ΔT的值之间的差Δ(α·ΔT)可以满足Δ(α·ΔT)和潜像对比电位Vc[V]之间的关系，其中，通过形成图像(图像输出)时的电子照相感光构件的表面上照射了图像曝光光束的部位中的电位和此时电子照相感光构件的表面上未照射图像曝光光束的部位中的电位之间的差来定义潜像对比电位Vc，所述关系由以下表达式表示。
Δ(α·ΔT)≤0.07·Vc
如果Δ(α·ΔT)是0.07·Vc以下，则将连续形成图像(图像输出)前后的图像浓度不均匀的变化控制得较小。因此，如果Δ(α·ΔT)是0.07·Vc以下，则即使在连续形成了图像(图像输出)之后，也容易地保持初始状态(连续形成图像(图像输出)之前)的抑制后的图像浓度的不均匀水平。
另外，在本发明中，在电子照相感光构件的感光构件特性的温度依赖性的程度从电子照相感光构件的圆筒轴方向的一端侧朝向另一端侧单调增大的情况下，电子照相设备形成图像(图像输出)时的电子照相感光构件的表面温度的变化的程度可以从电子照相感光构件的圆筒轴方向的一端侧朝向另一端侧单调减小。例如，如图6C或图6D所示，这里所述的单调增大或减小意味着值在圆筒轴方向整体地不存在拐点的情况下增大或减小。图6A或6B所示的具有拐点的形状的增大或减小并不相当于这里所定义的单调增大或减小。
此外，可以通过例如调整图5所示的沉积膜形成设备的气体导入管，来改变电子照相感光构件的感光构件特性的温度依赖性的不均匀的形状。
另外，例如可以通过在图4A和4B所示的气流结构中增强空气供给和排气从而减少温度变化的其它因素，来使得电子照相感光构件的表面温度的不均匀具有图6D所示的单调变化的形状。
以下将参考示例和比较例来进一步详细说明本发明，但本发明不应当局限于此。
示例1-1~1-5
使用车床对长度为358mm的由铝制成的圆筒体的表面(周面)进行镜面加工处理，并且制造长度为358mm和外径为80mm的总共5个圆筒状基体。
随后，在表1所示的条件下，使用如图5所示的沉积膜形成设备，分别在圆筒状基体上顺次形成电荷注入阻止层、第一光导电层、第二光导电层、中间层和表面层的沉积膜，从而制造总共5个电子照相感光构件。将这些电子照相感光构件称为示例1-1~1-5的电子照相感光构件。
表1
表1中的箭头表示将气体的流量控制为从左边的值向着右边的值增大或减小。
顺便来说，在本示例中，使用图8A所示的内部分布有气体吹出孔8001的气体管8002作为图5所示的气体管5005，并且如图8B所示，在反应容器8003的内部配置16个气体管8002。
另外，如图8A所示，气体管8002中的气体吹出孔8001的分布几乎是均匀的。
随后，通过使用图9所示的电子照相感光构件的感光构件特性的测量设备，利用以下所述的方法来测量所制造的各电子照相感光构件的充电特性(感光构件特性)的温度依赖性(αa)，并且确定电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的不均匀。在表2中示出上述结果以及后述的比较例1-1~1-5的结果。电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的不均匀的值由于制造的差异而在各个电子照相感光构件之间有所不同。
表2
顺便来说，各电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的不均匀的形状是图6A所示的部分地具有拐点的形状。
接着，将电子照相感光构件安装在由佳能株式会社制造并改造成不具有电子照相感光构件用加热器的结构的电子照相类型的复印机(商品名称：iR5075)中，并且在温度为15℃和相对湿度为50%的低温环境中，使用打印率为1%的A4测试图案来连续输出5000张图像。利用下述方法来测量连续图像输出前后的电子照相感光构件的表面温度的变化(ΔTa)，并且确定电子照相感光构件的表面温度的不均匀。在表3中示出上述结果。
表3
如从表3可以理解，电子照相感光构件的表面温度由于图像的连续输出而变化，并且在电子照相感光构件上发生表面温度的不均匀。
顺便来说，在本示例中，采用图4A和4B所示的气流结构。
另外，连续输出图像前后的电子照相感光构件的表面温度的不均匀的形状是图6D所示的不具有拐点且单调变化的形状。
随后，将所制造出的各电子照相感光构件分别安装在由佳能株式会社制造的上述电子照相类型的复印机(商品名称：iR5075)中。此时，将电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的绝对值较小的部分设置在连续输出图像前后的电子照相感光构件的表面温度的变化程度较大的一侧。另外，将电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的绝对值较大的部分设置在电子照相感光构件的表面温度的变化程度较小的一侧。顺便来说，从表2和表3来确定电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的大小关系和电子照相感光构件的表面温度的变化的大小关系。
根据各电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性(αa)的测量结果和连续输出5000张图像前后的电子照相感光构件的表面温度的变化(ΔTa)的测量结果，来计算各电子照相感光构件以上述位置关系安装在上述复印机的状态下的αa·ΔTa的最大值和最小值。在表4中示出最大值和最小值之间的差Δ(αa·ΔTa)。
表4
| Δ(αa·ΔTa) | |
| 示例1-1 | 22.2 |
| 示例1-2 | 15.4 |
| 示例1-3 | 19.6 |
| 示例1-4 | 14.8 |
| 示例1-5 | 17.8 |
接着，使用打印率为1%的A4测试图案，在温度为15℃和相对湿度为50%的低温环境下，连续输出5000张图像。
用于测量电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的
不均匀的方法
图9是示出电子照相感光构件的感光构件特性的测量设备的例子的图。在电子照相感光构件9001的周围，配置充电装置9002、利用图像曝光光束9003照射电子照相感光构件的图像曝光装置(未示出)、温度传感器(由基恩士株式会社制造，商品名称：IT2-01)9013以及利用预曝光光9009照射电子照相感光构件的预曝光装置(未示出)。此外，将电位传感器(表面电位计)(由TREK公司制造，商品名称：MODEL344)9012安装在图1中的显影装置1004的位置，来代替显影装置1004。此外，将电子照相感光构件用的加热器9010安装在电子照相感光构件9001的内部。
电子照相感光构件9001以箭头的方向转动，并且条件设置为预定条件的预曝光装置(未示出)利用预曝光光9009照射电子照相感光构件9001的表面。随后，利用温度传感器9013来监视电子照相感光构件9001的表面温度，并且对电子照相感光构件用的加热器9010进行控制以使得表面温度变成预定值(以下称为“T1”)。对流过充电装置9002中所安装的充电线9011的电流值进行调整，以使得表面温度是T1的状态下的电位传感器的暗部电位变成预定电位(以下称为“V1”)。这里，电位V1是针对电子照相感光构件的一周的值的平均值。
随后，对电子照相感光构件用的加热器9010进行控制，以使得电子照相感光构件9001的表面温度在不改变预曝光装置(未示出)和充电装置9002的条件的情况下变成预定值(以下称为“T2”)。对表面温度是T2的状态下的电位传感器9012的暗部电位进行测量(以下称为“V2”)。这里，电位V2是针对电子照相感光构件的一周的值的平均值。
将通过以下表达式所计算出的值确定为电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性。
电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性=(V1-V2)/(T1-T2)
顺便来说，在本示例中，将T1设置为25℃，将T2设置为40℃，以及将V1设置为500V。
电子照相感光构件的圆筒轴方向上的中心位置被确定为0mm，确定从该中心位置起朝向两个端部以20mm为间隔的总共15个点的测量位置，并且利用上述方法来测量各测量位置中电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性。
如图7所示，在圆筒轴方向上将电子照相感光构件等分成区域H和区域I这两个区域，对区域H和区域I各自的范围中充电特性的温度依赖性的测量值进行平均化，并且根据平均值的绝对值来确定电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的不均匀。这里，位置0mm处的测量值包含在区域H和区域I这两者中。
用于测量电子照相感光构件的表面温度的不均匀的方法
将电子照相感光构件的圆筒轴方向上的中心位置确定为0mm，确定从该中心位置起朝向两个端部以20mm为间隔的总共15个点的测量位置，在各测量位置处测量圆周方向上以90°为间隔的四个位置的表面温度，并且获得平均值。顺便来说，使用接触温度计(由安立计器株式会社制造，商品名称：HFT-51)来测量电子照相感光构件的表面温度。
如图10所示，在圆筒轴方向上将电子照相感光构件10001等分成两个区域，并且将充电装置的气流结构的排气侧的区域确定为区域J，而将另一侧的区域确定为区域K。在区域J和区域K各自的范围中对表面温度的测量值进行平均化，并且获得平均表面温度。这里，位置0mm处的测量值包含在区域J和区域K这两者中。
比较例1-1~1-5
将分别以与示例1-1~1-5相同的方式制造的总共5个电子照相感光构件(比较例1-1~1-5的电子照相感光构件)分别安装在由佳能株式会社制造并改造成不具有电子照相感光构件用加热器的结构的上述电子照相类型的复印机(商品名称：iR5075)中。此时，将电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的绝对值较大的部分设置在连续输出图像前后的电子照相感光构件的表面温度的变化程度较大的一侧。另外，将电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的绝对值较小的部分设置在电子照相感光构件的表面温度的变化程度较小的一侧。顺便来说，与示例1-1~1-5相同，从表2和表3来确定电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的大小关系和电子照相感光构件的表面温度的变化的大小关系。
接着，使用打印率为1%的A4测试图案，在温度为15℃和相对湿度为50%的低温环境下，连续输出5000张图像。
图像浓度的不均匀的评价
利用后面将说明的方法，在示例1-1~1-5和比较例1-1~1-5中连续输出5000张图像前后，对图像进行图像浓度测量，并且评价图像浓度的不均匀。
在表5中示出该结果。
图像浓度的不均匀的评价方法
将电子照相感光构件安装在由佳能株式会社制造并改造为不具有电子照相感光构件用加热器的结构的电子照相类型的复印机(商品名称：iR5075)中，并且输出像素密度为37.5%的半色调图像。
顺便来说，将形成图像(图像输出)时的未照射图像曝光光束的部分的电位设置为500V，将照射了图像曝光光束的部分的电位设置为120V，并且将潜像对比电位Vc设置为380V。
在所获取的图像中，将与电子照相感光构件的一周相对应的区域等分成180个块(在圆筒轴方向上等分成15个部分并且在圆周方向上等分成12个部分)。通过使用反射浓度计(分光浓度计)(由爱色丽有限公司制造，商品名称：504分光浓度计)来测量各块的图像浓度。
接着，使用打印率为1%的A4测试图案，在温度为15℃和相对湿度为50%的低温环境下连续输出5000张图像，然后输出半色调图像。利用上述方法测量所获取的图像中各块的图像浓度。
在各块中确定连续输出5000张图像前后的图像浓度之间的差。根据所获得的差的最大值(Max)和最小值(Min)来确定值Max-Min，并且使用该值Max-Min作为图像浓度的不均匀的指标。因此，该值越小，图像浓度的不均匀越小。
在所制造的各电子照相感光构件中，参考比较例将指标分成以下等级。在表5中示出上述结果。
A：相对于比较例小于40%。
B：相对于比较例为40%以上但小于95%。
C：相对于比较例为95%以上但小于105%，即相同水平。
D：相对于比较例为105%以上。
顺便来说，参考比较例1-1来评价示例1-1，参考比较例1-2来评价示例1-2，参考比较例1-3来评价示例1-3，参考比较例1-4来评价示例1-4，并且参考比较例1-5来评价示例1-5。
表5
| 图像浓度的不均匀 | |
| 示例1-1 | B |
| 示例1-2 | B |
| 示例1-3 | B |
| 示例1-4 | B |
| 示例1-5 | B |
根据表5的结果可以清楚看出，可以通过将电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的绝对值较小的部分安装在连续输出图像前后的电子照相感光构件的表面温度的变化程度较大的一侧并且将电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的绝对值较大的部分安装在其表面温度的变化程度较小的一侧，来控制图像浓度的不均匀。
示例2-1~2-5
使用车床对长度为358mm的由铝制成的圆筒体的表面(周面)进行镜面加工处理，并且制造长度为358mm和外径为108mm的总共5个圆筒状基体。
随后，利用与示例1-1~1-5相同的方法分别在圆筒状基体上顺次形成电荷注入阻止层、第一光导电层、第二光导电层、中间层和表面层的沉积膜，从而制造总共5个电子照相感光构件。将这些电子照相感光构件称为示例2-1~2-5的电子照相感光构件。
随后，通过使用图9所示的电子照相感光构件的感光构件特性的测量设备，利用下述方法来测量所制造的各电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性(αb)，并且确定电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的不均匀。在表6中示出上述结果以及后述的比较例2-1~2-5的结果。电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的不均匀的值由于制造的差异而在各个电子照相感光构件之间有所不同。
表6
顺便来说，各电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的不均匀的形状是图6A所示的部分地具有拐点的形状。
接着，将电子照相感光构件安装在由佳能株式会社制造并改造成不具有电子照相感光构件用加热器的结构的电子照相类型的复印机(商品名称：iR7105)中，并且利用与示例1相同的方法来测量连续输出5000张图像前后的电子照相感光构件的表面温度的变化(ΔTb)，并且确定电子照相感光构件的表面温度的不均匀。在表7中示出该结果。
表7
如从表7可以理解，应该理解为电子照相感光构件的表面温度由于图像的连续输出而变化，并且在电子照相感光构件上发生表面温度的不均匀。
顺便来说，在本示例中，采用图4A和4B所示的气流结构。
另外，连续输出图像前后的电子照相感光构件的表面温度的不均匀的形状是图6D所示的不具有拐点且单调变化的形状。
随后，将所制造的各电子照相感光构件分别安装在由佳能株式会社制造的上述电子照相类型的复印机(商品名称：iR7105)中。此时，将电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的绝对值较小的部分设置在连续输出图像前后的电子照相感光构件的表面温度的变化程度较大的一侧。另外，将电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的绝对值较大的部分设置在电子照相感光构件的表面温度的变化程度较小的一侧。顺便来说，从表6和表7来确定电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的大小关系和电子照相感光构件的表面温度的变化的大小关系。
根据各电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性(αb)的测量结果和连续输出5000张图像前后的电子照相感光构件的表面温度的变化(ΔTb)的测量结果，来计算各电子照相感光构件以上述位置关系安装在上述复印机的状态下的αb·ΔTb的最大值和最小值。在表8中示出最大值和最小值之间的差Δ(αb·ΔTb)。
表8
| Δ(αb·ΔTb) | |
| 示例2-1 | 12.3 |
| 示例2-2 | 9.3 |
| 示例2-3 | 9.5 |
| 示例2-4 | 12.6 |
| 示例2-5 | 9.8 |
接着，使用打印率为1%的A4测试图案，在温度为15℃和相对湿度为50%的低温环境下，连续输出5000张图像。
用于测量电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性
的不均匀的方法
使用图9所示的电子照相感光构件的感光构件特性的测量设备。
电子照相感光构件9001以箭头的方向转动，并且条件设置为预定条件的预曝光装置(未示出)利用预曝光光9009来照射电子照相感光构件9001的表面。随后，利用温度传感器9013来监视电子照相感光构件9001的表面温度，并且对电子照相感光构件用的加热器9010进行控制，以使得表面温度变成预定值(以下称为“T3”)。对流过充电装置9002中所安装的充电线9011的电流值进行调整，以使得表面温度是T3的状态下的电位传感器9012的暗部电位变成预定电位。随后，对图像曝光光束9003的光量进行调整，以使得电位传感器9012中的亮部电位变成预定电位(以下称为“V3”)。这里，电位V3是针对电子照相感光构件的一周的值的平均值。
随后，对电子照相感光构件用的加热器9010进行控制，以使得电子照相感光构件9001的表面温度在不改变预曝光装置(未示出)、充电装置9002和图像曝光装置(未示出)的条件的情况下变成预定值(以下称为“T4”)。对表面温度是T4的状态下的电位传感器9012中的亮部电位进行测量(以下称为“V4”)。这里，电位V4是针对电子照相感光构件的一周的值的平均值。
将通过以下表达式计算出的值确定为电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性。
电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性=(V3-V4)/(T3-T4)
顺便来说，在本示例中，将T3设置为25℃，将T4设置为40℃，并且将V3设置为100V。
将电子照相感光构件的圆筒轴方向上的中心位置确定为0mm，确定从该中心位置起朝向两个端部以20mm为间隔的总共15个点的测量位置，并且利用上述方法来测量各测量位置中电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性。
如图7所示，在圆筒轴方向上将电子照相感光构件等分成区域H和区域I这两个区域，对区域H和区域I各自的范围中的灵敏度特性的温度依赖性的测量值进行平均化，并且根据平均值的绝对值来确定电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的不均匀。这里，位置0mm处的测量值包含在区域H和区域I这两者中。
比较例2-1~2-5
将分别以与示例2-1~2-5相同的方式制造的总共5个电子照相感光构件(比较例2-1~2-5的电子照相感光构件)分别安装在由佳能株式会社制造并改造成不具有电子照相感光构件用加热器的结构的上述电子照相类型的复印机(商品名称：iR7105)中。此时，将电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的绝对值较大的部分设置在连续输出图像前后的电子照相感光构件的表面温度的变化程度较大的一侧。另外，将电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的绝对值较小的部分设置在电子照相感光构件的表面温度的变化程度较小的一侧。顺便来说，与示例2-1~2-5相同，从表6和表7来确定电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的大小关系和电子照相感光构件的表面温度的变化的大小关系。
接着，使用打印率为1%的A4测试图案，在温度为15℃和相对湿度为50%的低温环境下，连续输出5000张图像。
图像浓度的不均匀的评价
利用与示例1-1~1-5相同的方法，在示例2-1~2-5和比较例2-1~2-5中连续输出5000张图像前后，对图像进行图像浓度测量，并且评价图像浓度的不均匀。
在所制造的各电子照相感光构件中，参考比较例将评价结果分成以下等级。在表9中示出该结果。
A：相对于比较例小于40%。
B：相对于比较例为40%以上但小于95%。
C：相对于比较例为95%以上但小于105%，即相同水平。
D：相对于比较例为105%以上。
顺便来说，参考比较例2-1来评价示例2-1，参考比较例2-2来评价示例2-2，参考比较例2-3来评价示例2-3，参考比较例2-4来评价示例2-4，并且参考比较例2-5来评价示例2-5。
表9
| 图像浓度的不均匀 | |
| 示例2-1 | B |
| 示例2-2 | B |
| 示例2-3 | B |
| 示例2-4 | B |
| 示例2-5 | B |
根据表9的结果可以清楚看出，可以通过将电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的绝对值较小的部分安装在连续输出图像前后的电子照相感光构件的表面温度的变化程度较大的一侧并且将电子照相感光构件的灵敏度特性的温度依赖性的绝对值较大的部分安装在其表面温度的变化程度较小的一侧，来控制图像浓度的不均匀。
示例3-1~3-3
使用车床对长度为358mm的由铝制成的圆筒体的表面(周面)进行镜面加工处理，并且制造长度为358mm和外径为80mm的总共3个圆筒状基体。
随后，利用除了电子照相感光构件的数量以外与示例1-1~1-5相同的方法分别在圆筒状基体上顺次形成电荷注入阻止层、第一光导电层、第二光导电层、中间层和表面层的沉积膜，从而制造总共3个电子照相感光构件。这些电子照相感光构件应称为示例3-1~3-3的电子照相感光构件。
顺便来说，在本示例中，使用图8C所示的内部分布有气体吹出孔8001的气体管8002作为图5所示的气体管5005，并且如图8D所示，在反应容器8003的内部配置16个气体管8002。
另外，作为调整了所制造的电子照相感光构件的感光构件特性的温度依赖性的不均匀的结果，如图8C所示，存在于反应容器5000的上侧的气体管8002的气体吹出孔8001的分布是不均匀的。
随后，利用与示例1-1~1-5相同的方法来测量所制造的各电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性(αa)，并且确定电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的不均匀。在表10中示出上述结果以及后述的比较例3-1~3-3的结果。电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的不均匀的值由于制造的差异而在各个电子照相感光构件之间有所不同。
表10
顺便来说各电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的不均匀的形状是图6C所示不具有拐点且单调变化的形状。
另外，在本示例中，与示例1-1~1-5相同，采用图4A和4B所示的气流结构。
随后，将制造的各电子照相感光构件分别安装在由佳能株式会社制造并改造成不具有电子照相感光构件用加热器的结构的电子照相类型的复印机(商品名称：iR5075)中。此时将电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的绝对值较小的部分设置在连续输出图像前后的电子照相感光构件的表面温度的变化程度较大的一侧。另外将电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的绝对值较大的部分设置在电子照相感光构件的表面温度的变化程度较小的一侧。顺便来说，从表10和3来确定电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的大小关系和电子照相感光构件的表面温度的变化的大小关系。
与示例1-1~1-5相同，在各电子照相感光构件以上述位置关系安装在上述复印机的状态下，计算αa·ΔTa的最大值和最小值。在表11中示出最大值和最小值之间的差Δ(a·ΔTa)。
表11
| Δ(αa·ΔTa) | |
| 示例3-1 | 16.4 |
| 示例3-2 | 15.1 |
| 示例3-3 | 13.8 |
接着，使用打印率为1%的A4测试图案，在温度为15℃和相对湿度为50%的低温环境下，连续输出5000张图像。
比较例3-1~3-3
将分别以与示例3-1~3-3相同的方式制造的总共3个电子照相感光构件(比较例3-1~3-3的电子照相感光构件)分别安装在由佳能株式会社制造并改造成不具有电子照相感光构件用加热器的结构的上述电子照相类型的复印机(商品名称：iR5075)中。此时，将电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的绝对值较大的部分设置在连续输出图像前后的电子照相感光构件的表面温度的变化程度较大的一侧。另外，将电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的绝对值较小的部分设置在电子照相感光构件的表面温度的变化程度较小的一侧。顺便来说，与示例3-1~3-3相同，从表10和表3来确定电子照相感光构件的充电特性的温度依赖性的大小关系和电子照相感光构件的表面温度的变化的大小关系。
接着，使用打印率为1%的A4测试图案，在温度为15℃和相对湿度为50%的低温环境下，连续输出5000张图像。
图像浓度的不均匀的评价
利用与示例1-1~1-5相同的方法，在示例3-1~3-3和比较例3-1~3-3中连续输出5000张图像前后，对图像进行图像浓度测量，并且评价图像浓度的不均匀。
在所制造的各电子照相感光构件中，参考比较例将评价结果分成以下等级。在表12中示出该结果。
A：相对于比较例小于40%。
B：相对于比较例为40%以上但小于95%。
C：相对于比较例为95%以上但小于105%，即相同水平。
D：相对于比较例为105%以上。
此外，参考比较例3-1来评价示例3-1，参考比较例3-2来评价示例3-2，并且参考比较例3-3来评价示例3-3。
表12
| 图像浓度的不均匀 | |
| 示例3-1 | A |
| 示例3-2 | A |
| 示例3-3 | A |
如从表12的结果可以清楚看出，由于电子照相感光构件的感光构件特性(充电特性)的温度依赖性及其表面温度的变化在电子照相感光构件的圆筒轴方向(转动轴方向)上的单调增大或减小，可以获得本发明的更显著的效果。
尽管已经参考实施例说明了本发明，但是应该理解，本发明不限于所公开的实施例。所附权利要求书的范围符合最宽的解释，以包含所有这类修改、等同结构和功能。
Claims (6)
1.一种电子照相设备，包括：
圆筒状的电子照相感光构件，其具有由非晶硅形成的光导电层；
充电装置，用于对所述电子照相感光构件的表面进行充电；以及
图像曝光装置，用于利用图像曝光光束照射所述电子照相感光构件的表面，以在所述电子照相感光构件的表面上形成静电潜像，
其特征在于，所述电子照相设备不具有用于控制所述电子照相感光构件的表面温度的单元，
所述电子照相感光构件具有感光构件特性根据表面温度而变化的感光构件特性的温度依赖性，
在所述电子照相感光构件在圆筒轴方向上等分成两个区域的情况下，所述两个区域中所述感光构件特性的温度依赖性的绝对值不相同，以及
在所述电子照相设备中，将所述电子照相感光构件配置成：在所述两个区域中将所述感光构件特性的温度依赖性的绝对值较小的区域定义为第一区域并且将所述感光构件特性的温度依赖性的绝对值较大的区域定义为第二区域的情况下，在所述电子照相设备形成图像时，所述第一区域的表面温度的变化大于所述第二区域的表面温度的变化。
2.根据权利要求1所述的电子照相设备，其中，在所述电子照相感光构件的特定部位中的所述感光构件特性的温度依赖性由α来表示、并且所述特定部位的表面温度的变化由ΔT来表示的情况下，作为α和ΔT的积的α·ΔT的值最大的部位中的α·ΔT的值和α·ΔT的值最小的部位中的α·ΔT的值之间的差Δ(α·ΔT)能够满足Δ(α·ΔT)和潜像对比电位Vc之间的如下关系，其中，所述潜像对比电位Vc是通过形成图像时的所述电子照相感光构件的表面上照射了图像曝光光束的部位中的电位和此时所述电子照相感光构件的表面上未照射图像曝光光束的部位中的电位之间的差来定义的，并且所述关系由以下表达式来表示：
Δ(α·ΔT)≤0.07·Vc，
其中α的单位为V/℃，ΔT的单位为℃，Vc的单位为V。
3.根据权利要求1所述的电子照相设备，其中，所述电子照相感光构件的所述感光构件特性的温度依赖性的程度从所述电子照相感光构件的圆筒轴方向上的一端侧朝向另一端侧单调增大，并且所述电子照相设备形成图像时的所述电子照相感光构件的表面温度的变化程度从所述电子照相感光构件的圆筒轴方向上的一端侧朝向另一端侧单调减小。
4.根据权利要求1所述的电子照相设备，其中，
所述充电装置被配置为与所述电子照相感光构件的圆筒轴方向近似平行，以及
所述电子照相设备还包括：空气供给装置，用于将空气从所述充电装置的长边方向的一端侧供给至所述充电装置；或者排气装置，用于将所述充电装置中的空气从所述充电装置的长边方向的一端侧排出。
5.根据权利要求1所述的电子照相设备，其中，所述电子照相设备是背景区域曝光系统的电子照相设备，并且所述感光构件特性是所述电子照相感光构件的充电特性。
6.根据权利要求1所述的电子照相设备，其中，所述电子照相设备是图像区域曝光系统的电子照相设备，并且所述感光构件特性是所述电子照相感光构件的灵敏度特性。
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