CN101802595B - 检查装置 - Google Patents
检查装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101802595B CN101802595B CN2008801076848A CN200880107684A CN101802595B CN 101802595 B CN101802595 B CN 101802595B CN 2008801076848 A CN2008801076848 A CN 2008801076848A CN 200880107684 A CN200880107684 A CN 200880107684A CN 101802595 B CN101802595 B CN 101802595B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- inspection
- bag
- ray
- testing fixture
- company
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 160
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 84
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 51
- 238000012856 packing Methods 0.000 claims description 31
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 56
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 46
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 45
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 35
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 33
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 30
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 18
- 230000006870 function Effects 0.000 description 18
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 8
- 230000009471 action Effects 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 3
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 3
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 238000012550 audit Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3581—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3563—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing solids; Preparation of samples therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/645—Specific applications or type of materials quality control
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明提供一种检查装置。X射线检查装置(10)包括:X射线照射器(13)、X射线线阵传感器(14)、图像生成部(21a)、区域确定部(21b)、重量推定部(21c)和重量诊断部(21d),检查多个袋(N1、N2、…、N6)相连而成的连包品(M)。X射线照射器(13)对连包品(M)照射X射线。X射线线阵传感器(14)接收来自X射线照射器(13)的X射线。图像生成部(21a)根据X射线线阵传感器(14)接收的X射线生成X射线图像(P)。区域确定部(21b)从X射线图像(P)确定单包装区域(C1、C2、…、C6)。重量推定部(21c)对单包装区域(C1、C2、…、C6)推定重量值。重量值中即使一个在规定范围外时,重量诊断部(21d)将连包品(M)诊断为重量异常。
Description
技术领域
本发明涉及检查装置,特别涉及检查多个单包装相连而成的连包品的检查装置。
背景技术
在食品等商品的生产线上,为了使得不良品不被出货,可以利用重量检查装置或X射线检查装置对商品进行重量检查(例如,参照专利文献1、2)。另外,在商品的生产线上,可以利用X射线检查装置对商品是否有异物混入等进行检查(例如,参照专利文献3)。
专利文献1:日本特开2002-048623号公报
专利文献2:日本特开2002-296022号公报
专利文献3:日本特开2006-329906号公报
不过,对于连包品,存在通过上述的重量检查或X射线检查不能够正确地进行商品的良否判断的情况。此处,连包品是多个单包装相连而成的商品。
例如,考虑10个10.0g的单包装相连而成的连包品的整体重量的容许误差为±10%的情况。在此情况下,若整体重量处于90.0g~110.0g之间,则在重量检查中该连包品被作为正常商品对待。
但是,当9个单包装各自为10.5g而剩余的一个单包装为6.0g时,由于整体重量为100.5g,因此该连包品在现有的重量检查中被判断为正常。但是,对于6.0g的单包装,产生高达-40%的重量误差。对于即使只存在一个异常的单包装的连包品,也应当作为不良品对待,但在现有的重量检查装置中,不能检查出单包装级别的重量异常。另外,即使在现有的X射线检查装置中,虽然具有对整体的重量值的推定,但没有对单包装级别的重量异常的检查。
另外,当9个单包装各自为10.5g时,仅此整体就有94.5g,即使剩余的一个单包装为空袋,该连包品在重量检查中也会被判断为正常。对于即使只存在一个异常的单包装的连包品,也应当作为不良品(不合格品)对待,但在现有的重量检查装置中,即使存在空袋也难以检查出来。另外,在现有的X射线检查装置中,虽然能够检查出异物的存在,但不能检查出空袋的存在。因此,目前是通过手工作业来进行空袋的检查。
发明内容
本发明的目的在于,提供能够更准确地对连包品进行良否判断的检查装置。
根据本发明的第一方面的检查装置,其检查多个单包装相连而成的连包品,具备照射部、光接收部、生成部、确定部、推定部和重量诊断部。照射部向连包品照射检查波,该检查波为X射线或太赫兹波(terahertz wave)。光接收部接收来自照射部的检查波。生成部根据光接收部接收到的检查波生成检查图像。确定部根据检查图像确定单包装区域。单包装区域是指与单包装对应的区域。推定部对单包装区域推定重量值。重量诊断部在重量值中即使一个为规定范围之外时,将连包品诊断为重量异常。
该检查装置具备对连包品的每个单包装进行重量推定的功能。即,在该检查装置中,即使整体重量的误差在容许范围内,哪怕一个单包装的重量在容许范围之外,这时也能够将这样的连包品作为重量异常的不良品对待。由此,该检查装置能够更准确地对连包品进行良否判断。
根据本发明的第二方面的检查装置,是根据本发明的第一方面的检查装置,确定部将内容物区域识别为单包装区域。内容物区域是指与单包装的内容物对应的区域。
该检查装置对检查图像上的内容物区域进行重量推定。另外,所谓内容物区域,可以选定为内容物实际存在的区域,也可以选定为用于收纳内容物的区域(即,内容物能够存在的区域)。即,在该检查装置中,因为检查图像上的不可能存在内容物的区域(与连包品的密封部位对应的密封区域等)不作为重量推定的对象,所以,所推定的重量值为能够更准确地反映内容物的量的误差较小的重量值。
但是,对于在单包装的三个边实施密封的三边封合型等的连包品,不可能存在内容物的部位在单包装整体中所占的比例较大。因此,在这样的连包品的检查中,将不可能存在内容物的区域从重量推定的对象中排除,从降低误差的观点来看特别有用。
根据本发明的第三方面的检查装置,是根据本发明的第二方面的检查装置,确定部根据检查图像确定密封区域,将检查图像的密封区域以外的区域确定为内容物区域。所谓密封区域是指与连包品的密封部位对应的区域。
该检查装置,首先从检查图像中确定密封区域,接着从检查图像除去密封区域所剩余的区域中确定内容物区域。能够预知的是,检查波透过密封部位的情形与透过内容物可能不均匀的单包装的收纳空间的情形不同,透过密封部位时检查波的衰减程度大致恒定。即,一般而言,与利用透过单包装的收纳空间的检查波确定内容物区域相比,利用透过密封部位的检查波来确定密封区域更为可靠。于是,在该检查装置中,通过先确定密封区域,能够高精度地提取出内容物区域。
根据本发明的第四方面的检查装置,是根据本发明的第一至第三方面中任一方面的检查装置,确定部通过对检查图像实施图像处理来提取出单包装区域。
该检查装置,通过对拍摄连包品而得到的检查图像进行图像处理,能够提取出单包装区域。
根据本发明的第五方面的检查装置,是根据本发明的第一或第二方面的检查装置,确定部根据预先设定的参数从检查图像中确定单包装区域。
在该检查装置中,预先设定有用于确定单包装区域的参数。由此,能够容易地确定检查图像上的单包装区域。
根据本发明的第六方面的检查装置,是根据本发明的第一至第五方面中任一方面的检查装置,还具备异物检查部。异物检查部根据检查图像对连包品进行异物检查。
该检查装置,对每个单包装进行重量检查,并对连包品整体进行异物检查。通过像这样使用一个装置对连包品整体进行异物检查以及对各个单包装进行重量检查,能够使连包品的生产线节省空间,并能够削减用于构建生产线的成本。
根据本发明的第七方面的检查装置,是根据本发明的第六方面的检查装置,还具备综合诊断部。综合诊断部,在至少重量诊断部诊断连包品重量异常的情况下,或至少异物检查部诊断连包品中混入有异物的情况下,诊断连包品为异常。
该检查装置,在对各个单包装的重量检查和对连包品整体的异物检查中的至少一方中检查出异常时,诊断连包品为异常。由此,在该检查装置中,检查的处理负荷得到减轻。
根据本发明的第八方面的检查装置,是根据本发明的第一至第七方面中任一方面的检查装置,推定部在连包品被重量诊断部诊断为重量异常时,对未完成重量值的推定的单包装区域不进行重量推定。
在该检查装置中,即使一个单包装被检测出重量异常,对在检测出重量异常时还未完成的单包装区域的重量推定也不再进行,而直接结束重量检查。由此,重量检查的处理负荷得到减轻。
根据本发明的第九方面的检查装置,是根据本发明的第一至第八方面中任一方面的检查装置,重量诊断部根据重量值判断连包品中是否包含空袋。
该检查装置,在对某单包装区域推定到的重量值为零或为接近零的值的情况下,判断该连包品中包含空袋。由此,该检查装置能够将存在空袋的连包品作为不良品对待。
根据本发明的第十方面的检查装置,检查多个单包装相连而成的连包品,具备照射部、光接收部和空袋检查部。照射部向连包品照射检查波,该检查波为X射线或太赫兹波。光接收部接收来自照射部的检查波。空袋检查部根据光接收部的输出值,检查连包品中是否包含至少一个空袋。
该检查装置具备检查连包品中是否包含空袋的功能。即,在该检查装置中,即使整体重量的误差在容许范围内,即使只存在一个空袋,在此情况下,也能够将这样的连包品作为不良品对待。另外,在本申请中,“空”不仅指单包装中完全没有放入内容物的状态,还包括仅放入少量内容物的状态。由此,该检查装置能够更准确地对连包品进行良否判断。
根据本发明的第十一方面的检查装置,是根据本发明的第十方面的检查装置,空袋检查部根据明状态和暗状态中至少一方的出现图案进行空袋检查。明状态是指光接收部的输出值超过规定值的状态。暗状态是指光接收部的输出值低于规定值的状态。
该检查装置判断明状态和暗状态中至少一方的出现图案,根据该出现图案进行空袋检查。明状态对应于通过连包品到达光接收部的检查波量较多的状态,暗状态对应于通过连包品到达光接收部的检查波量较少的状态。即,明状态是指主要根据通过连包品的包装材料的检查波而判断得到的状态,暗状态是指主要根据通过连包品的内容物的检查波而判断得到的状态。即,在该检查装置中,通过判断明状态和暗状态中至少一方的出现图案,间接地判断连包品的内容物的堆块的出现图案,由此,能够进行空袋检查。
根据本发明的第十二方面的检查装置,是根据本发明的第十一方面的检查装置,空袋检查部根据第一次数进行空袋检查。第一次数是从明状态切换为暗状态的次数。
该检查装置判断从明状态切换为暗状态的次数,根据该次数进行空袋检查。即,在该检查装置中,通过判断从明状态切换为暗状态的次数,间接地判断连包品的内容物的堆块的个数,由此能够进行空袋检查。
根据本发明的第十三方面的检查装置,是根据本发明的第十一方面或第十二方面的检查装置,空袋检查部根据第二次数进行空袋检查。第二次数是从暗状态切换为明状态的次数。
该检查装置判断从暗状态切换为明状态的次数,根据该次数进行空袋检查。即,在该检查装置中,通过判断从暗状态切换为明状态的次数,间接地判断连包品的内容物的堆块的个数,由此能够进行空袋检查。
根据本发明的第十四方面的检查装置,是根据本发明的第十一方面的检查装置,空袋检查部根据明状态连续的间隔进行空袋检查。
该检查装置,判断明状态的间隔,根据该间隔进行空袋检查。即,在该检查装置中,通过判断明状态连续的间隔,间接地判断没有内容物的部位连续的间隔,由此能够进行空袋检查。
根据本发明的第十五方面的检查装置,是根据本发明的第十方面的检查装置,空袋检查部根据检查图像进行空袋检查,该检查图像是基于光接收部接收的检查波而生成的图像。
该检查装置通过对拍摄连包品而得到的检查图像进行图像处理来进行空袋检查。由此,在该检查装置中,能够有效地利用检查装置本来具有的功能进行空袋检查。
根据本发明的第十六方面的检查装置,是根据本发明的第十五方面的检查装置,空袋检查部从检查图像提取出内容物区域,根据内容物区域的个数进行空袋检查。内容物区域是指与单包装的内容物对应的区域。
该检查装置,从拍摄连包品而得到的检查图像提取出内容物区域,并判断该内容物区域的个数,由此能够根据该个数进行空袋检查。
根据本发明的第十七方面的检查装置,是根据本发明的第十五方面的检查装置,空袋检查部从检查图像提取出与单包装的内容物对应的内容物区域,根据内容物区域的间隔进行空袋检查。
该检查装置,从拍摄连包品而得到的检查图像中提取出内容物区域,并判断该检查图像上内容物区域出现的间隔,由此能够根据该间隔进行空袋检查。
根据本发明的第十八方面的检查装置,是根据本发明的第十五方面至第十七方面中任一方面所述的检查装置,还具备异物检查部。异物检查部根据检查图像进行异物的检查。
该检查装置进行空袋检查和异物检查。通过像这样用一个装置进行异物检查和空袋检查,能够使连包品的生产线节省空间,并能够削减用于构建生产线的成本。
根据本发明的第十九方面的检查装置,是根据本发明的第十八方面的检查装置,空袋检查部和异物检查部在检查中检测出异常时,不进行之后的检查。
在该检查装置中,例如,若在空袋检查中检测出空袋的存在,则直接结束在检测出空袋时还未完成的异物检查。另一方面,若在异物检查中检测出异物的存在,则直接结束在检测出异物时还未完成的空袋检查。由此,检查的处理负荷得到减轻。
发明的效果
利用本发明的检查装置,能够更准确地对连包品进行良否判断。
附图说明
图1是根据本发明的第一实施方式的X射线检查装置的外观立体图。
图2是X射线检查装置的屏蔽箱(shield box)内部的结构图。
图3是表示X射线检查的原理的示意图。
图4是X射线检查装置的前后的结构图。
图5是根据本发明的第一实施方式的控制计算机的方框图。
图6(a)是表示连包品的图。(b)是表示连包品的X射线图像的图。(c)是表示代表值的确定处理结果的图。(d)是表示真伪判定处理结果的图。
图7是根据本发明的第二实施方式的控制计算机的方框图。
图8(a)是表示连包品的图。(b)是表示连包品的X射线图像的图。(c)是表示连包品的二值化图像的图。
图9是根据本发明的第三实施方式的控制计算机的方框。
图10(a)是表示连包品的图。(b)是表示连包品的X射线图像的图。
图11是根据本发明的第四实施方式的控制计算机的方框。
图12(a)是表示连包品的图。(b)是表示连包品的X射线图像的图。(c)是表示代表值的确定处理结果的图。(d)是表示明暗的判定处理结果的图。
图13是根据本发明的第五实施方式的控制计算机的方框。
图14是表示连包品的二值化图像的图。
附图标记说明
10、110、210、310、410 X射线检查装置
13 X射线照射器(照射部)
14 X射线线阵传感器(光接收部)
20 控制计算机
21a、321a 图像生成部(生成部)
21b、121b、221b 区域确定部(确定部)
21c 重量推定部(推定部)
21d 重量诊断部
21e 异物检查部
21f 综合诊断部
321b、421b 空袋检查部
321c 异物检查部
321d 综合诊断部
C1、C2、……、C6 单包装区域
M 连包品
N1、N2、……、N6 袋(单包装)
P X射线图像
Q 二值化图像
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的第一、第二、第三、第四和第五实施方式的X射线检查装置10、110、210、310、410进行说明。
<第一实施方式>
图1表示根据本发明的第一实施方式的X射线检查装置10的外观。X射线检查装置10是安装在食品等商品G的生产线中进行商品G的品质检查的装置之一,通过对连续搬送来的商品G照射X射线而进行商品G的良否判断。
如图4所示,作为被检体的商品G被前级传送装置60运送至X射线检查装置10。在X射线检查装置10中,商品G被分类为良品和不良品。该X射线检查装置10的检查结果,被发送至配置在X射线检查装置10的下游侧的分选机构70。分选机构70,将在X射线检查装置10中被判断为良品的商品G向正规的线传送装置(line conveyor)80传送,将在X射线检查装置10中被判断为不良品的商品G向不良品蓄积传送装置90传送。
(X射线检查装置的结构)
如图1、图2和图5所示,X射线检查装置10主要由下述部件构成:屏蔽箱11、传送装置12、X射线照射器13、X射线线阵传感器14、带触摸面板功能的监视器30、和控制计算机20。
[屏蔽箱]
在屏蔽箱11的两侧面,形成有用于将商品G向屏蔽箱11的内外搬入搬出的开口11a。为了防止X射线向屏蔽箱11的外部泄漏,开口11a由屏蔽帘(ノレン)(未图示)遮住。该屏蔽帘由含有铅的橡胶形成,在商品G通过开口11a时被商品G推开。
而且,在屏蔽箱11内,收容有传送装置12、X射线照射器13、X射线线阵传感器14和控制计算机20等。另外,在屏蔽箱11的正面上部,除监视器30外,还配置有钥匙的插入口和电源开关等。
[传送装置]
传送装置12,在屏蔽箱11内搬送商品G,如图1所示,其被配置成使得贯通形成在屏蔽箱11两侧面的开口11a。于是,传送装置12,利用由传送装置电动机12a(参照图5)驱动的驱动辊,使环形带旋转,同时搬送载置在带上的商品G。
传送装置12的搬送速度,通过控制计算机20对传送装置电动机12a的变频器(inverter)的控制而被精密控制,使其成为操作者输入的设定速度。另外,在传送装置电动机12a上,安装有检测传送装置12的搬送速度并将其发送至控制计算机20的编码器12b(参照图5)。
[X射线照射器]
如图2所示,X射线照射器13配置在传送装置12的上方,向下方的X射线线阵传感器14在扇形的照射范围X内照射X射线。
[X射线线阵传感器]
如图3所示,X射线线阵传感器14配置在传送装置12的下方,主要由多个像素传感器14a构成。这些像素传感器14a,在与传送装置12的搬送方向正交的方向上呈一条直线地水平配置。另外,各像素传感器14a,检测透过商品G和传送装置12的X射线,输出X射线透视图像信号。X射线透视图像信号表示X射线的亮度(密度)。
[监视器]
监视器30是全点(full dot)显示的液晶显示器,显示催促操作者输入检查时必要的检查参数等的画面。另外,监视器30还具有触摸面板功能,接受来自操作者的检查参数等的输入。
[控制计算机]
如图5所示,控制计算机20装载有CPU(中央运算处理装置)21、ROM(只读存储器)22、RAM(随机存储器)23、HDD(硬盘)25和用于插入存储介质等的驱动器24。
CPU21执行存储在ROM22和HDD25中的各种程序。在HDD25中,保存有检查参数和检查结果。就检查参数而言,能够通过操作者使用监视器30的触摸功能进行输入而进行设定和变更。操作者能够进行设定,使得这些数据不仅被保存在HDD25中,还能够保存在插入驱动器24的存储介质中。
另外,控制计算机20还包括:控制在监视器30上的数据显示的显示控制电路(未图示);输送由操作者通过监视器30的触摸面板输入的键输入数据的键输入电路(未图示);和使得能够与打印机(未图示)等外部设备或LAN等网络连接的通信端口(未图示)等。
这样,控制计算机20的各部分21~25,通过地址总线、数据总线等总线相互连接。
另外,控制计算机20与传送装置电动机12a、编码器12b、光电传感器15、X射线照射器13、X射线线阵传感器14等连接。光电传感器15,是用于检测被检体(即商品G)通过扇形的X射线照射范围X(参照图2)的时刻的同步传感器,主要由夹着传送装置12而配置的一对光发射器和光接收器构成。
(利用控制计算机进行的商品的良否判断)
在控制计算机20的HDD25中,存储有包括图像生成模块、区域确定模块、重量推定模块、重量诊断模块、异物检查模块和综合诊断模块的检查程序。这样,控制计算机20的CPU21,通过读出并执行这些程度模块,而作为图像生成部21a、区域确定部21b、重量推定部21c、重量诊断部21d、异物检查部21e和综合诊断部21f(参照图5)动作。
图像生成部21a,根据从X射线线阵传感器14输出的X射线透视图像信号,生成商品G的X射线图像。
区域确定部21b、重量推定部21c和重量诊断部21d,担负仅在作为被检体的商品G是连包品的情况下应使用的重量检查功能,在作为被检体的商品G不是连包品的情况下由操作者设定为关闭。
另一方面,在该重量检查功能被设定为打开(on)时,区域确定部21b,从由图像生成部21a生成的拍摄连包品即商品G而得到的X射线图像,确定与连包品的单包装对应的单包装区域。重量推定部21c,通过对由区域确定部21b确定的各单包装区域实施图像处理,推定在各单包装中收纳的内容物的重量值。重量诊断部21d检查由重量推定部21c算出的重量值是否处于规定的范围内,即使在只存在一个偏离规定范围的重量值的情况下,也判断该商品G异常。
异物检查部21e,通过对由图像生成部21a生成的X射线图像实施图像处理,检查商品G中是否包含异物。而且,在包含有异物的情况下,判断该商品G异常。
综合诊断部21f,将由重量诊断部21d和异物检查部21e中至少一方检测出异常的商品G诊断为不良品,将均未检测出异常的商品G诊断为良品。另外,操作者通过追加新的检查模块,还能够对商品G进行其它的检查。这时,综合诊断部21f,仅将在所有检查中都被判断为正常的商品G诊断为良品。
综合诊断部21f的诊断结果,发送给分选机构70。然后,分选机构70根据该诊断结果,判断应当将商品G分配到正规的线传送装置80还是不良品蓄积传送装置90。
以下,对图像生成部21a、区域确定部21b、重量推定部21c、重量诊断部21d、异物检查部21e和综合诊断部21f的动作进行详细说明。
[图像生成部]
图像生成部21a,在商品G通过扇形的X射线的照射范围X(参照图2)时,以精细的时间间隔取得从X射线线阵传感器14的各像素传感器14a输出的X射线透视图像信号,根据取得的X射线透视图像信号生成商品G的X射线图像。其中,商品G通过扇形的X射线的照射范围X的时刻,根据来自光电传感器15的信号进行判断。即,图像生成部21a,将与从X射线线阵传感器14的各像素传感器14a得到的X射线的亮度相关的每个精细的时间间隔的数据,按时间序列排列成矩阵,由此,生成拍摄商品G而得到的X射线图像。
以下,以将图6(a)所示的连包品M作为被检体时为例进行说明。连包品M由6个袋N1、N2、……、N6依次连接而成,袋N1、N2、……、N6被制造成相互为相同形状。连包品M,通过传送装置12以袋N1为最前端,袋N6为最末尾进行搬送。各袋N1、N2、……、N6是所谓枕(pillow)形的袋。在各袋N1、N2、……、N6的传送装置12的搬送方向的两端,形成有横向密封部位S1,在各袋N1、N2、……、N6的与传送装置12的搬送面相对的面上形成有在搬送方向上延伸的纵向密封部位S2。即,连包品M整体是一个细长的袋,通过在其长度方向上以规定的间隔形成的横向密封部位S1,形成与各袋N1、N2、……、N6对应的多个空间。而且,在袋N1、N2、……、N6的内部空间,装填有内容物。另外,先行的袋的后方的横向密封部位S1和后续的袋的前方的横向密封部位S1被热密封而形成一体,其中央形成有能够分开两袋的在短边方向上的齿孔(ミシン目)。
图6(b)表示图6(a)所示的连包品M的X射线图像P。另外,为了使说明简单,在图6(a)~(d)中,仅表示连包品M整体中的袋N1~N4的部分。在X射线图像P上,表现得最暗的区域A1~A4分别表示袋N1~N4内的内容物,区域B1表示横向密封部位S1,区域B2表示纵向密封部位S2。表现得最亮的区域D表示连包品M的背景,表现得比区域B1、B2亮而比区域D暗的区域E,表示袋N1~N4中内容物没有进入的空隙部分。另外,虽然都是对相同层数的包装材料重叠的部位的拍摄,但相比于与未被密封的部位对应的区域E,与横向密封部位S1对应的区域B1在X射线图像P上拍摄得较暗,认为这是因为,横向密封部位S1与未被密封的部位相比,由于热收缩而密度变大。另外,在对密封部位S1、S2加工使变成有切口的形状的情况下,与不实施该加工的情况相比,密封部位S1、S2由于包装材料彼此重合,在X射线图像P上拍摄得更暗。
[区域确定部]
区域确定部21b,与图像生成部21a同样地,以精细的时间间隔从X射线线阵传感器14的各像素传感器14a取得X射线透视图像信号。然后,区域确定部21b,算出在相同的时刻从多个像素传感器14a分别输出的、与像素传感器14a的数目对应的X射线的浓度值的平均值,将算出的值作为该时刻的X射线的浓度值的代表值。然后,检查该代表值是否处于规定的范围内,当处于该范围内时为“真(TRUE)”,当未处于该范围内时为“假(FALSE)”。横向密封部位S1通过照射区域X时的代表值所能取的范围被设定为在该真伪判定处理中使用的代表值的范围。虽然内容物在连包品M的收纳空间内可能分配不均匀,但因为考虑到其不会与横向密封部位S1重合,所以能够预计透过横向密封部位S1的X射线的衰减程度大致恒定。于是,对于横向密封部位S1通过照射区域X时的代表值所可取的范围,能够预先高精度地设定。
区域确定部21b,在每次接收1组浓度值的数据集(在相同的时刻输出的像素传感器14a的数目相对应的X射线透视图像信号)时,重复这样的代表值的确定处理和真伪判定处理。这样,当“真”状态连续仅仅与横向密封部位S1的宽度对应的规定长度的情况下,检测出横向密封部位S1的存在。
图6(c)表示根据袋N1~N4通过X射线的照射范围X时的X射线透视图像信号所算出的代表值的时间序列数据。这时,真伪判定处理得到图6(d)所示的结果。
接着,区域确定部21b使由图像生成部21a生成的X射线图像P与真伪判定处理的结果重合,设X射线图像P上的与“假”对应的区域为单包装区域C1、C2、……、C6。单包装区域C1、C2、……、C6与对应于“真”的区域(包含区域B1)不同,是内容物可能存在的区域。
[重量推定部]
重量推定部21c,对由区域确定部21b确定的各单包装区域C1、C2、……、C6进行重量推定。该重量推定处理,利用在X射线的照射方向上越厚的物质在X射线图像P上拍摄得越暗这一性质,根据以下原理来进行。
设没有物质存在的区域所包含的像素的亮度为I0的情况下,在X射线图像P上拍摄厚度t的物质得到的像素的亮度I由以下的式(1)表示。
I/I0=e-μt……(1)
此处,μ是由X射线的能量和物质的种类而决定的线性吸收系数。若针对物质的厚度t来解式(1),则得到以下的式(2)。
t=-1/μ×ln(I/I0)……(2)
另外,内容物的微小部位的重量值与该微小部位的厚度成比例。这样,像素亮度为I的、内容物的微小部位的重量值m,使用适当的常数α,利用以下的式(3)近似地算出。
m=-αln(I/I0)……(3)
重量推定部21c,通过算出与构成各单包装区域C1、C2、……、C6的所有像素对应的重量值m并相加,从而推定各袋N1、N2、……、N6内的内容物整体的重量值。
[重量诊断部]
重量诊断部21d,检查各袋N1、N2、……、N6内的内容物整体的重量值是否处于规定的范围内。而且,当所有的重量值均处于该范围内时,诊断该连包品M为正常,而在重量值中任何一个不处于该范围内的情况下,诊断该连包品M为重量异常。
另外,重量诊断部21d的处理,迟于重量推定部21c的处理而并列地执行,且重量推定部21c的处理和重量诊断部21d的处理,均以单包装区域C1、C2、……、C6这个顺序来执行。于是,当重量诊断部21d检测出任一个袋N1、N2、……、N5重量异常时,诊断该连包品M为重量异常,并使在此时刻还未结束的重量推定部21c对剩余的单包装区域C2、C3、……、C6的重量推定处理立即结束。因为即使只包含一个重量异常的袋N1、N2、……、N6的连包品M,也不能出货,所以不管剩余的袋N2、N3、……、N6的重量值如何都能得出该连包品M重量异常的结论。
[异物检查部]
异物检查部21e,通过对由图像生成部21a生成的连包品M的X射线图像P进行二值化处理,检测在连包品M中所包含的异物。更具体而言,在连包品M的X射线图像P上存在表现得比预先设定的阈值更暗的区域的情况下,判断该连包品M中混入有异物,判断该连包品M为异常。
另外,也能够对X射线图像P设定掩模(mask)。例如,对与连包品M的横向密封部位S1对应的区域B1、和与背景对应的区域D设定掩模。
[综合诊断部]
重量诊断部21d和异物检查部21e,若判断连包品M为异常,则立即将表示该意思的信号向综合诊断部21f发送。综合诊断部21f,当从重量诊断部21d接收到该信号时,诊断连包品M为不良品,并立即使异物检查部21e的检查结束。另一方面,当从异物检查部21e接收到该信号时,诊断连包品M为不良品,并立即使重量诊断部21d的检查结束。因为不管是仅检测出异物的连包品M,还是仅检测出重量异常的袋N1、N2、……、N6的连包品M,均不能出货,所以不管其它检查结果如何都能得出该连包品M为不良品的结论。另外,综合诊断部21f,在从重量诊断部21d和异物检查部21e二者接收到表示没有检测出异常的意思的信号的情况下,诊断连包品M为良品。然后,综合诊断部21f将诊断结果向分选机构70发送。
(特征)
[1]
X射线检查装置10,具备从X射线图像P确定单包装区域C1、C2、……、C6,并对每个确定的单包装区域C1、C2、……、C6进行重量推定的功能,能够更准确地对连包品M进行良否判断。作为确定单包装区域C1、C2、……、C6的具体方法,采用根据从X射线线阵传感器14输出的X射线透视图像信号测定横向密封部位S1在X射线图像P上出现的时刻(timing)的方法。横向密封部位S1是构成相邻的袋N1、N2、……、N6间的边界的部位,因此通过确定在X射线图像P上出现的横向密封部位S1的位置,能够确定X射线图像P上单包装区域C1、C2、……、C6的位置。
[2]
X射线检查装置10能够进行重量检查和异物检查。通过像这样使用一个装置进行重量检查和异物检查,使连包品M的生产线节省空间,削减用于构建生产线的成本。
[3]
在X射线检查装置10中,虽然执行多种检查,但由综合诊断部21f进行管理,使得若在任一项检查中检测出异常,则立即使剩余的检查结束。由此,无用的处理被排除,X射线检查装置10的处理负荷得到减轻。
(变形例)
[1]
在第一实施方式的区域确定处理中,从浓度值的代表值的时间序列数据中确定与横向密封部位S1对应的数据,将其以外的数据作为与单包装区域C1、C2、……、C6对应的数据。不过,在其能够稳定的情况下,也可以不确定与横向密封部位S1对应的数据,而直接确定与单包装区域C1、C2、……、C6对应的数据。
[2]
第一实施方式的区域确定部21b所进行的代表值的确定处理,并不限定于上述方式,例如,也可以按以下的方法进行。
首先,区域确定部21b,根据1组浓度值的数据集(在相同的时刻从X射线线阵传感器14输出的像素传感器14a的数目相对应的X射线透视图像信号),制作浓度值的直方图。然后,在所有数据中,从浓度值较亮侧或较暗侧取出规定量(例如,整体的80%的量)的数据,以取出的数据为对象算出平均值,将该平均值作为代表值。另外,在从浓度值较亮侧取出规定量的数据的情况下,利用算出的代表值,容易确认在X射线图像P上拍摄得相对较亮的对象(背景、包装材料)的存在,而在从浓度值较暗侧取出规定量的数据的情况下,容易确认在X射线图像P上拍摄得相对较暗的对象(内容物)的存在。
[3]
第一实施方式的区域确定部21b所进行的代表值的确定处理,并不限定于上述方式,例如,也可以按以下的方法进行。
首先,区域确定部21b,根据1组浓度值的数据集(在相同的时刻从X射线线阵传感器14输出的像素传感器14a的数目相对应的X射线透视图像信号),制作浓度值的直方图,以该直方图中的峰值为代表值。
[4]
在第一实施方式的重量推定处理中,例如,通过预先设定应用于单包装区域C1、C2、……、C6的掩模图案,能够回避对与连包品M的背景对应的区域D的重量推定。这时,可望实现误差的降低和处理的简化。
<第二实施方式>
接着,对本发明的第二实施方式的X射线检查装置110进行说明。
如图7所示,第二实施方式的X射线检查装置110,与第一实施方式的X射线检查装置10相比较,不同之处仅在于区域确定部21b被置换为区域确定部121b,在其它方面均相同。即,X射线检查装置110,是将存储在X射线检查装置10的控制计算机20的HDD25中的区域确定模块置换为不同的模块而形成的装置。于是,以下仅对第二实施方式的区域确定处理进行详细说明,对于X射线检查装置110的其它结构和动作,因为与第一实施方式相同而省略说明。另外,与第一实施方式相同地,下面以连包品M作为被检体的情况为例进行说明。
[区域确定部]
首先,区域确定部121b,对由图像生成部21a生成的X射线图像P进行二值化处理,从X射线图像P确定表示连包品M的横向密封部位S1的区域B1。
在二值化处理中,检查与构成X射线图像P的各像素对应的X射线的浓度值是否处于规定的范围内。然后,根据该检查结果,对各像素分配“0”或“1”中的一个值。
图8(c)是对图8(b)所示的X射线图像P进行二值化处理后的二值化图像Q。在二值化图像Q上表现得较黑的区域G1是与横向密封部位S1对应的区域。
接着,区域确定部121b将X射线图像P与二值化图像Q重合,将在该X射线图像P上与区域G1重合的区域作为与横向密封部位S1对应的区域B1而提取出来。这样,将区域B1和区域B1所夹着的区域作为单包装区域C1、C2、……、C6。在第二实施方式中,被确定的单包装区域C1、C2、……、C6,是从在第一实施方式中确定的单包装区域C1、C2、……、C6中除去与连包品M的背景对应的区域D而得到的区域。
(特征)
X射线检查装置110,具备从X射线图像P确定单包装区域C1、C2、……、C6、并对每个确定的单包装区域C1、C2、……、C6进行重量推定的功能,能够更准确地对连包品M进行良否判断。作为确定单包装区域C1、C2、……、C6的具体方法,采用对X射线图像P进行图像处理的方法。
<变形例>
[1]
在第二实施方式的区域确定处理中,为了从X射线图像P提取出单包装区域C1、C2、……、C6,采用二值化处理。不过,也能够代替二值化处理而采用其它的图像处理,或除二值化处理之外,还采用其它的图像处理。
[2]
在第二实施方式的区域确定处理中,首先,从X射线图像P中提取出与横向密封部位S1对应的区域B1,从除去区域B1后剩余的区域中提取出单包装区域C1、C2、……、C6。不过,在其能够稳定的情况下,也可以不提取出区域B1而直接提取出与内容物对应的区域A1、A2、……、A6作为单包装区域C1、C2、……、C6。
<第三实施方式>
接着,对本发明的第三实施方式的X射线检查装置210进行说明。
如图9所示,第三实施方式的X射线检查装置210,与第一实施方式的X射线检查装置10相比较,不同之处仅在于区域确定部21b被置换为区域确定部221b,在其它方面均相同。即,X射线检查装置210,是将存储在X射线检查装置10的控制计算机20的HDD25中的区域确定模块置换为不同的模块而形成的装置。因此,以下仅对第三实施方式的区域确定处理进行详细说明,对于X射线检查装置210的其它结构和动作,因为与第一实施方式相同而省略说明。另外,下面与第一实施方式同样地,以连包品M作为被检体的情况为例进行说明。
[区域确定部]
在HDD25,预先存储有表示各袋N1、N2、……、N6的长度L1的值。长度L1是以传送装置12的搬送方向为基准的长度。区域确定部221b,参照HDD25所保持的长度L1,按长度L1在传送装置12的搬送方向上对由图像生成部21a生成的X射线图像P进行划分,设划分而得到的各区域为单包装区域C1、C2、……、C6(参照图10(b))。
(特征)
X射线检查装置110,具备从X射线图像P确定单包装区域C1、C2、……、C6、并对每个确定的单包装区域C1、C2、……、C6进行重量推定的功能,从而能够更准确地对连包品M进行良否判断。作为确定单包装区域C1、C2、……、C6的具体方法,采用根据预先存储在HDD25内的检查参数(各袋N1、N2、……、N6的长度L1)进行计算的方法。
(变形例)
[1]
在第三实施方式中,作为用于确定单包装区域C1、C2、……、C6的检查参数,在HDD25中存储有各袋N1、N2、……、N6的长度L1。不过,用于确定单包装区域C1、C2、……、C6的检查参数并不限定于此。例如,也可以预先存储连包品M所包含的袋N1、N2、……、N6的数目,将拍摄连包品M而得到的X射线图像P在连包品M的长度方向上平均地分割成袋N1、N2、……、N6的数目。另外,也可以预先存储各袋N1、N2、……、N6通过X射线的照射范围X的时刻,将基于在该时刻取得的X射线透视图像信号的X射线图像P上的区域作为单包装区域C1、C2、……、C6。
[2]
在第三实施方式的区域确定处理中,通过预先设定应用于X射线图像P的掩模图案(mask pattern),例如还能够使单包装区域C1、C2、……、C6中不包含与横向密封部位S1对应的区域B1和与连包品M的背景对应的区域D。在这种情况下,可望实现误差的降低和处理的简化。
<第四实施方式>
接着,对本发明的第四实施方式的X射线检查装置310进行说明。
如图11所示,第四实施方式的X射线检查装置310,与第一实施方式的X射线检查装置10相比较,不同之处仅在于:用图像生成部321a、空袋检查部321b、异物检查部321c和综合诊断部321d代替图像生成部21a、区域确定部21b、重量推定部21c、重量诊断部21d、异物检查部21e和综合诊断部21f,在其它方面均相同。即,X射线检查装置310,是将存储在X射线检查装置10的控制计算机20的HDD25中的检查程序置换为不同的程序而形成的装置。因此,以下仅详细说明第四实施方式的利用控制计算机20进行的商品良否判断处理,对于X射线检查装置310的其它结构和动作,因为与第一实施方式相同而省略说明。
(利用控制计算机进行的商品的良否判断)
在控制计算机20的HDD25中,存储有包括图像生成模块、空袋检查模块、异物检查模块和综合诊断模块的检查程序。这样,控制计算机20的CPU21,通过读出并执行这些程序模块,从而作为图像生成部321a、空袋检查部321b、异物检查部321c和综合诊断部321d(参照图11)动作。
图像生成部321a,根据从X射线线阵传感器14输出的X射线透视图像信号,生成商品G的X射线图像。
空袋检查部321b的空袋检查功能,是仅在成为被检体的商品G是连包品的情况下应当使用的功能,在不是连包品的情况下由操作者设定为关闭(off)。另一方面,在空袋检查功能被设定为打开(on)的情况下,空袋检查部321b检查连包品即商品G是否包含空袋。而且,在商品G中即使只存在一个空袋的情况下,也判断该商品G为异常。
异物检查部321c,检查商品G中是否包含异物。而且,在包含有异物的情况下,判断该商品G为异常。
综合诊断部321d,将由空袋检查部321b和异物检查部321c中的至少一方检测出异常的商品G诊断为不良品(不合格品),将任一方均没有检测出异常的商品G诊断为良品(合格品)。另外,操作者通过新追加检查模块,还能够对商品G进行其它的检查。在此情况下,综合诊断部321d,仅将在所有检查中均被判断为正常的商品G诊断为良品。
综合诊断部321d的诊断结果,被发送至分选机构70。然后,分选机构70根据该诊断结果,判断应当将商品G分配到正规的线传送装置80和不良品蓄积传送装置90中的哪一个。
以下,对图像生成部321a、空袋检查部321b、异物检查部321c和综合诊断部321d的动作进行详细说明。
[图像生成部]
图像生成部321a,在商品G通过扇形的X射线的照射范围X(参照图2)时,以精细的时间间隔取得从X射线线阵传感器14的各像素传感器14a输出的X射线透视图像信号,根据这些X射线透视图像信号生成商品G的X射线图像。另外,商品G通过扇形的X射线的照射范围X的时刻,根据来自光电传感器15的信号判断。即,图像生成部321a,将与从X射线线阵传感器14的各像素传感器14a得到的X射线的亮度相关的每个精细的时间间隔的数据,按时间序列排列成矩阵,由此生成拍摄商品G而得的X射线图像。
以下,以将图12(a)所示的连包品M作为被检体的情况为例进行说明。连包品M由6个袋N1、N2、……、N6依次连接而成,袋N1、N2、……、N6被制造成彼此为相同的形状。连包品M,以袋N1为最前端,袋N6为最末尾由传送装置12进行搬送。各袋N1、N2、……、N6是所谓枕型的袋。各袋N1、N2、……、N6在传送装置12的搬送方向上的两端,形成有横向密封部位S1,在各袋N1、N2、……、N6的与传送装置12的搬送面相对的面上,形成有在搬送方向上延伸的纵向密封部位S2。即,连包品M整体是一个细长的袋,通过在其长度方向上以规定的间隔形成的横向密封部位S1,形成与各袋N1、N2、……、N6对应的多个空间。而且,在袋N1、N2、……、N6的内部空间中,装填有内容物。另外,先行的袋的后方的横向密封部位S1和后续的袋的前方的横向密封部位S1被热密封而形成为一体,其中央形成有能够分开两袋的在短边方向上的线状孔眼(ミシン目)。
图12(b)表示图12(a)所示的连包品M的X射线图像P。另外,为了使说明简单,在图12(a)~(d)中,仅表示连包品M整体中的袋N1~N4的部分。在X射线图像P上,表现得最暗的区域A1,A2,A4分别表示袋N1,N2,N4内的内容物,区域B1表示横向密封部位S1,区域B2表示纵向密封部位S2。表现得最亮的区域D表示连包品M的背景,表现得比区域B1、B2亮而比区域D暗的区域E表示袋N1~N4中没有内容物的空隙部分。另外,尽管对包装材料重叠的部位同时拍摄了相同张数,但相比于与未被密封的部位对应的区域E,与横向密封部位S1对应的区域B1在X射线图像P上拍摄得较暗,认为这是因为横向密封部位S1与未被密封的部位相比,由于热收缩而密度变大。另外,在对密封部位S1、S2进行加工而使其变成有切口的形状的情况下,与未实施该加工的情况相比,密封部位S1、S2由于包装材料彼此重合,而在X射线图像P上拍摄得更暗。
[空袋检查部]
空袋检查部321b,与图像生成部321a同样地以精细的时间间隔从X射线线阵传感器14的各像素传感器14a取得X射线透视图像信号。然后,空袋检查部321b,算出在相同的时刻从多个像素传感器14a分别输出的像素传感器14a的数目相对应X射线的浓度值的平均值,将算出的值作为该时刻的X射线的浓度值的代表值。然后,将该代表值与阈值比较,设超过该阈值的状况为“明状态”,设低于该阈值的状况为“暗状态”。其中,作为用于明暗的判定处理的阈值,预先设定有能够对内容物通过时和非通过时高精度地进行区别的值。在每次接收1组浓度值的数据集(在相同的时刻输出的像素传感器14a的数目相对应的X射线透视图像信号)时,重复这样的代表值的确定处理和明暗的判定处理。
图12(c)表示根据袋N1~N4通过X射线的照射范围X时的X射线透视图像信号算出的代表值的时间序列数据。这种情形下,明暗的判定处理为图12(d)所示的结果。
接着,空袋检查部321b,在以连包品M整体为对象进行明暗的判定处理所得的结果的时间序列数据中,计数从明状态切换为暗状态的位置(图12(d)中,以黑色三角记号表示的位置)所出现的次数。从明状态切换为暗状态,意味着内容物的堆块的前端通过X射线的照射范围。即,从明状态切换为暗状态的次数,意味着内容物的堆块的数目。于是,在从明状态切换为暗状态的次数与连包品M中本来应当包含的袋数(在本例中为6个)不一致的情况下,能够判断连包品M中包含空袋。因此,空袋检查部321b在这些数目不一致的情况下,判断该连包品M为异常,在这些数目一致的情况下,判断该连包品M为正常。
[异物检查部]
异物检查部321c,通过对由图像生成部321a生成的连包品M的X射线图像P进行二值化处理,检测包含在连包品M中的异物。在该异物检查中,执行二值化处理。即,在连包品M的X射线图像P上存在表现得比预先设定的阈值更暗的区域的情况下,判断该连包品M中混入有异物,判断该连包品M为异常。
另外,也能够在X射线图像P上设定掩模(mask)。例如,对与连包品M的横向密封部位S1对应的区域B1、和与背景对应的区域D设定掩模。
[综合诊断部]
若空袋检查部321b和异物检查部321c均判断连包品M为异常,则立即将表示该意思的信号发送给综合诊断部321d。综合诊断部321d,当从空袋检查部321b接收到该信号时,诊断连包品M为不良品,并立即使异物检查部321c进行的检查结束。另一方面,当从异物检查部321c接收到该信号时,诊断连包品M为不良品,并立即使空袋检查部321b进行的检查结束。因为不论是仅检测出异物的连包品M,还是仅检测出空袋的连包品M,均不能出货,所以不管其它的检查结果如何都能做出该连包品M为不良品的结论。另外,综合诊断部321d,当从空袋检查部321b和异物检查部321c二者接收到表示没有检测出异常的意思的信号时,诊断连包品M为良品。然后,综合诊断部321d将诊断结果向分选机构70发送。
(特征)
[1]
X射线检查装置310,具备检查连包品M中是否包含空袋的功能,从而能够更准确地对连包品M进行良否判断。具体而言,根据以精细的时间间隔从X射线线阵传感器14的各像素传感器14a取得的X射线透视图像信号,判断从明状态切换为暗状态的次数,由此间接地判断连包品M的内容物的堆块的个数。即,根据在明暗的判断处理结果的时间序列数据上与明状态和暗状态对应的数据的出现图案,判断空袋的存在。
[2]
X射线检查装置310,能够进行空袋检查和异物检查。通过像这样由一个装置进行异物检查和空袋检查,使连包品M的生产线节省空间,并削减用于构建生产线的成本。
[3]
在X射线检查装置310中,虽然执行多种检查,但由综合诊断部321d进行管理,使得无论哪一项检查中检测出异常,则立即使剩余的检查结束。由此,无用的处理被排除,X射线检查装置310的处理负荷得到减轻。
(变形例)
[1]
在第四实施方式的空袋检查中,为了对连包品M中所包含的内容物的堆块的数目进行计数,对从明状态切换为暗状态的次数进行计数。不过,也可以对从暗状态切换为明状态的次数进行计算。从暗状态切换为明状态,意味着内容物的堆块的末端通过X射线的照射范围X。于是,从暗状态切换为明状态的次数,意味着连包品M中所包含的内容物的堆块的数目。
或者,也可以通过对从明状态切换为暗状态的次数和从暗状态切换为明状态的次数两者进行计数,来求取连包品M中所包含的内容物的堆块的数目。这是因为,从明状态切换为暗状态的次数和从暗状态切换为明状态的次数的合计值,也是确定对应于连包品M中所包含的内容物的堆块的数目(具体而言,通过除以2)的值,间接地意味着连包品M中所包含的内容物的堆块的数目。
[2]
在第四实施方式中,通过比较从明状态切换为暗状态的次数和连包品M本来应当包含的袋数,进行空袋检查。不过,也可以测量明状态的连续的间隔,在该间隔超过规定的阈值时判断该连包品M为异常,当低于该阈值时判断该连包品M为正常。
明状态主要是根据通过连包品M的包装材料的X射线而被判断的状态,而暗状态主要是根据通过连包品M的内容物的X射线而被判断的状态。即,对明状态连续的间隔进行测量,是指仅对没有内容物的包装材料的部分在搬送方向上连续的长度进行测量。因此,当该长度超过规定的阈值时,能够推定空袋的存在。
另外,就关于相同的连包品M的处理而言,优选在最初检测出该间隔的异常时使空袋检查结束。这是因为,在判明即使包含一个空袋的情况下,该连包品M不依赖于之后的处理结果地成为不良品。
其中,此处所说的间隔,可以是距离上的测量,也可以时间上的测量。
另外,也可以采用如下方式,即,当预先知道在明暗的判定处理结果的时间序列数据上与各袋N1、N2、……、N6相对应的部分时,测量与各袋N1、N2、……、N6对应的数据中所包含的暗状态连续的间隔,当该间隔低于规定的阈值(包括零)时判断该连包品M为异常,当超过该阈值时判断该连包品M正常。另外,预先知道在明暗的判定处理结果的时间序列数据上与各袋N1、N2、……、N6相对应的部分的情况是指:预先知道各袋N1、N2、……、N6的长度的情况,知道连包品M的全长和该连包品M中所包含的袋数的情况等。
这样,通过将明状态和暗状态中的至少一方的出现图案与预测的出现图案进行比较,能够判定空袋存在与否。
[3]
第四实施方式的空袋检查中的代表值的确定处理,并不限定于上述方法,例如也可以使用以下的方法进行。
首先,空袋检查部321b,根据1组浓度值的数据集(在相同的时刻从X射线线阵传感器14输出的像素传感器14a的数目相对应的X射线透视图像信号),制作浓度值的直方图。然后,在所有数据中,从浓度值较亮的一侧或较暗的一侧取出规定量(例如,整体的80%的量)的数据,以取出的数据为对象算出平均值,将该平均值作为代表值。其中,在从浓度值较亮的一侧取出规定量的数据的情况下,利用算出的代表值,容易确认在X射线图像P上拍摄得相对较亮的对象(背景、包装材料)的存在,而在从浓度值较暗的一侧取出规定量的数据的情况下,容易确认在X射线图像P上拍摄得相对较暗的对象(内容物)的存在。
该变形例也能够和上述变形例[1]、[2]进行组合。
[4]
第四实施方式的空袋检查中的代表值的确定处理,并不限定于上述方法,例如也可以使用以下的方法进行。
首先,空袋检查部321b,根据1组浓度值的数据集(在相同的时刻从X射线线阵传感器14输出的像素传感器14a的数目相对应的X射线透视图像信号),制作浓度值的直方图,将该直方图中的峰值作为代表值。
该变形例也能够和上述变形例[1]、[2]进行组合。
<第五实施方式>
接着,对本发明的第五实施方式的X射线检查装置410进行说明。
如图13所示,第五实施方式的X射线检查装置410,与第四实施方式的X射线检查装置310相比较,不同之处仅在于空袋检查部321b被置换为空袋检查部421b,在其它方面均相同。即,X射线检查装置410,是将存储在X射线检查装置310的控制计算机20的HDD25中的空袋检查模块置换为不同的模块而形成的装置。因此,以下仅对第五实施方式的空袋检查进行详细说明,对于X射线检查装置410的其它结构和动作,因为与第四实施方式相同而省略说明。另外,下面与第四实施方式同样地,以将连包品M作为被检体的情况为例进行说明。
[空袋检查部]
首先,空袋检查部421b,对由图像生成部321a生成的X射线图像P实施二值化处理,将X射线图像P上的区域区分为表示内容物的区域和表示内容物之外的区域。
在二值化处理中,将与构成X射线图像P的各像素对应的X射线的浓度值与规定的阈值进行比较。然后,根据这些值的大小关系,对各像素分配“0”或“1”中的一个值。另外,此处所谓的在二值化处理中使用的阈值,是与在异物检查的二值化处理中使用的阈值不同的值。
图14是对图12(b)所示的X射线图像P实施二值化处理后的二值化图像Q。在二值化图像Q上,表现得较黑的区域F1原则上与各袋N1、N2、……、N6内的内容物的堆块对应,表现得较白的区域F2原则上与仅存在包装材料的部分和连包品M的背景对应。
接着,空袋检查部421b对区域F1的个数进行计数。区域F1的个数意味着内容物的堆块的数目。这时,被作为计数的对象的是表现得较黑的所有区域中的、仅具有规定的范围内的面积的区域。这是为了不对拍摄异物等而得到的区域进行计数。然后,将计数得到的区域F1的个数与连包品M中本来所应当包含的袋数(本例中为6个)进行比较,在这些数目不一致的情况下,判断该连包品M为异常,当一致时,判断该连包品M为正常。
(特征)
X射线检查装置410,具备检查连包品M中是否包含空袋的功能,从而能够更准确地对连包品M进行良否判断。具体而言,通过对X射线图像P实施图像处理,判断连包品M的内容物的堆块的个数。由此,能够有效地利用异物检查部321c等原本具有的功能,同时进行空袋检查。
<变形例>
[1]
在第五实施方式的空袋检查中,采用二值化处理。不过,也能够代替二值化处理采用其它的图像处理,或除二值化处理之外,还采用其它的图像处理。
[2]
在第五实施方式中,通过比较在二值化图像Q上表现得较黑的区域F1的个数和连包品M中本来应当包含的袋数,进行空袋检查。不过,也可以测量多个区域F1间在搬送方向上的间隔,当该间隔超过规定的阈值时,判断该连包品M为异常,当低于该阈值时,判断该连包品M为正常。
测量多个区域F1在搬送方向上的间隔是指,测量内容物的堆块间在搬送方向上的距离。从而,当该距离超过规定的阈值时,能够推定空袋的存在。
另外,就对相同的连包品M的处理而言,优选在最初检测出该间隔的异常的时刻就使空袋检查结束。这是因为,在判明即使包含一个空袋的情况下,无论之后的处理结果如何,该连包品M都为不良品。
<其它的实施方式>
[1]
第一、第二和第三实施方式的重量检查,也能用于第一、第二和第三实施方式的说明中例示的连包品M以外的形态的连包品。例如,也能够用于被称为所谓条形袋(stripe bag)型的连包品。所谓条形袋是指,为了使得消费者能容易地将一个个袋取下而购入,形态为多个袋以规定的间隔粘附在带体细长的带(stripe)上的连包品。另外,袋N1、N2、……、N6不必是枕型的袋,也可以是例如褶裥(gasset)型的袋、压边(hem)型的袋。另外,也可以是纵向密封部位S2形成在连包品M的短边方向的端部的三边封合型的袋。
[2]
在第一、第二、第三、第四和第五实施方式中,各种检查通过控制计算机20的CPU21实现。不过,各种检查也可以通过其它的软件、硬件、或它们的任意的组合而实现。
另外,控制计算机20的处理,也可以在设置于X射线检查装置10、110、210、310、410主体之外的装置上执行。例如,也可以将各种数据通过网络从控制计算机20向其它计算机发送,在所述其它计算机上执行上述处理的全部或一部分。
[3]
在第一、第二、第三、第四和第五实施方式的异物检查中采用的图像处理的方式,并不限定于上述方式,例如,也可以代替二值化处理,执行痕量检测(trace detection)处理。
[4]
在第一、第二和第三实施方式的重量检查中采用的重量推定处理的方式,并不限定于上述方式,例如,也可以在上述处理中增加考虑X射线透过空气和包装材料时的衰减等的修正处理。
[5]
X射线检查装置10、110、210,也可以具有下述功能:当对某单包装区域C1、C2、……、C6推定得到的重量值为零或为接近于零的值时,判断该连包品M包含空袋,输出该意思。由此,该X射线检查装置能够将存在空袋的连包品作为不良品对待。
[6]
第四和第五实施方式的空袋检查,也能够应用于在第四和第五实施方式的说明中例示的连包品M以外的形态的连包品。例如,也能够用于被称为所谓条形袋(stripe bag)型的连包品。条形袋是指,为了使得消费者能容易地将一个个袋取下而购入,形态为多个袋以规定的间隔粘附在带体细长的带(stripe)上的连包品。另外,袋N1、N2、……、N6不必是枕型的袋,也可以是例如褶裥型的袋、压边型的袋。另外,也可以是纵向密封部位S2形成在连包品M的较短方向上的端部的三边封合型的袋。
[7]
在第一、第二、第三、第四和第五实施方式中控制计算机20执行的各种检查所涉及的处理,不仅能够应用于X射线检查装置,还能够应用于使用太赫兹波的检查装置。换言之,对透过商品的太赫兹波或基于它的检查图像,能够实施与上述实施方式相同的处理。
产业上的可利用性
本发明具有能够更正确地进行连包品的良否判断的效果,作为检查装置,特别是作为对多个单包装相连而成的连包品进行检查的检查装置非常有用。
Claims (6)
1.一种检查装置,其对多个单包装相连而成的连包品进行检查,该检查装置的特征在于,包括:
搬送部,沿着所述单包装的相连方向搬送所述连包品;
照射部,其向由所述搬送部搬送中的所述连包品照射检查波,该检查波为X射线或太赫兹波;
光接收部,其接收来自所述照射部的检查波,包含多个像素传感器;和
空袋检查部,其根据从所述光接收部依次输出的输出值,检查所述连包品中是否包含至少一个空袋,
所述空袋检查部,计算在相同的时刻从所述多个像素传感器分别输出的与所述像素传感器的数目相对应的检查波的浓度值的平均值并设定为代表值,根据所述代表值超过规定值的明状态、以及所述代表值低于所述规定值的暗状态中的至少一方的出现图案,判断在所述连包品是否包含空袋。
2.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于:
所述空袋检查部,根据从所述明状态切换为所述暗状态的第一次数进行所述检查。
3.如权利要求1或2所述的检查装置,其特征在于:
所述空袋检查部,根据从所述暗状态切换为所述明状态的第二次数进行所述检查。
4.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于:
所述明状态是指根据通过连包品的包装材料的检查波而被判断的状态,所述暗状态是指根据通过连包品的内容物的检查波而被判断的状态,
所述空袋检查部根据所述明状态连续的间隔即仅对没有内容物的包装材料的部分在搬送方向上连续的长度的测量来进行所述检查。
5.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于:
还包括根据基于所述光接收部接收到的检查波而生成的检查图像进行异物检查的异物检查部。
6.如权利要求1或5所述的检查装置,其特征在于:
所述空袋检查部和所述异物检查部在所述检查中检测出异常时,不进行此后的所述检查。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007249905 | 2007-09-26 | ||
JP2007-249905 | 2007-09-26 | ||
JP2007249899 | 2007-09-26 | ||
JP2007-249899 | 2007-09-26 | ||
PCT/JP2008/067110 WO2009041393A1 (ja) | 2007-09-26 | 2008-09-22 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101802595A CN101802595A (zh) | 2010-08-11 |
CN101802595B true CN101802595B (zh) | 2013-09-04 |
Family
ID=40511278
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2008801076848A Expired - Fee Related CN101802595B (zh) | 2007-09-26 | 2008-09-22 | 检查装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8483475B2 (zh) |
EP (1) | EP2194374B1 (zh) |
JP (1) | JP5789083B2 (zh) |
CN (1) | CN101802595B (zh) |
WO (1) | WO2009041393A1 (zh) |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5199633B2 (ja) * | 2007-10-02 | 2013-05-15 | アンリツ産機システム株式会社 | X線質量測定装置 |
JP5559471B2 (ja) * | 2008-11-11 | 2014-07-23 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法 |
US8369481B2 (en) * | 2009-06-08 | 2013-02-05 | Ishida Co., Ltd. | X-ray inspection device |
JP5654252B2 (ja) * | 2010-03-19 | 2015-01-14 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP5623197B2 (ja) * | 2010-09-03 | 2014-11-12 | アンリツ産機システム株式会社 | 計量装置 |
JP5805447B2 (ja) * | 2011-07-07 | 2015-11-04 | アンリツ産機システム株式会社 | X線質量測定装置 |
US9239286B2 (en) * | 2011-12-11 | 2016-01-19 | Tetechs Inc. | Methods and apparatus for identifying and sorting materials using terahertz waves |
JP5875878B2 (ja) * | 2012-01-25 | 2016-03-02 | 株式会社イシダ | 密度算出装置 |
EP3192486A3 (en) * | 2012-10-03 | 2017-09-13 | Yuyama Mfg. Co., Ltd. | Medicinal agent inspection system, winding device, feed device, and holder |
JP5720029B2 (ja) | 2012-10-17 | 2015-05-20 | 株式会社 システムスクエア | 包装体の検査装置 |
JP5864404B2 (ja) * | 2012-12-07 | 2016-02-17 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP6270319B2 (ja) * | 2013-02-18 | 2018-01-31 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP2014174082A (ja) * | 2013-03-12 | 2014-09-22 | Seiko Epson Corp | 標本検査装置 |
DE102013211501A1 (de) * | 2013-06-19 | 2014-12-24 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Gewichtsbestimmung von insbesondere pharmazeutischen Produkten mittels einer Röntgenstrahlungsquelle |
DE102013211526A1 (de) * | 2013-06-19 | 2014-12-24 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Gewichtsbestimmung insbesondere eines mit Produkt befüllten Behältnisses |
JP6466671B2 (ja) * | 2013-09-20 | 2019-02-06 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
JP6224434B2 (ja) * | 2013-09-26 | 2017-11-01 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP6225002B2 (ja) * | 2013-11-27 | 2017-11-01 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
JP6110512B2 (ja) * | 2013-12-03 | 2017-04-05 | 株式会社イシダ | 近赤外線検査装置 |
JP2015137858A (ja) * | 2014-01-20 | 2015-07-30 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
DE102014106509B4 (de) * | 2014-05-08 | 2016-12-29 | Wipotec Wiege- Und Positioniersysteme Gmbh | Verfahren zur Ermittlung des Nettogewichts eines in einem einzelnen Produktbereich befindlichen Produkts |
JP6318037B2 (ja) * | 2014-07-23 | 2018-04-25 | シブヤパッケージングシステム株式会社 | 包装袋の検査方法および包装袋の検査装置 |
JP6397690B2 (ja) * | 2014-08-11 | 2018-09-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | X線透過検査装置及び異物検出方法 |
CN104155321A (zh) * | 2014-09-09 | 2014-11-19 | 北京理工大学 | X射线舱机械手无损检测方法 |
JP6536110B2 (ja) * | 2015-03-20 | 2019-07-03 | セイコーエプソン株式会社 | ロボット制御装置、及び制御方法 |
NL2015144B1 (nl) * | 2015-07-10 | 2017-02-01 | Amiris B V | Inrichting en werkwijze voor het testen op micro-organismen in levensmiddelen die in verpakkingen gehouden zijn. |
US9883842B2 (en) * | 2015-10-29 | 2018-02-06 | ADANI Systems, Inc. | Portable X-ray mattress scanner |
US9709694B2 (en) * | 2015-10-29 | 2017-07-18 | ADANI Systems, Inc. | Portable X-ray mattress scanner |
JP6412076B2 (ja) * | 2016-09-15 | 2018-10-24 | アンリツインフィビス株式会社 | 物品検査装置 |
JP6785609B2 (ja) * | 2016-10-06 | 2020-11-18 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置及びx線検査方法 |
GB2560499B (en) * | 2017-03-06 | 2019-12-11 | Cheyney Design & Dev Ltd | Improvements in or relating to product scanning |
JP6717784B2 (ja) * | 2017-06-30 | 2020-07-08 | アンリツインフィビス株式会社 | 物品検査装置およびその校正方法 |
CN109540931B (zh) * | 2017-09-20 | 2023-05-23 | 世高株式会社 | X射线检查装置 |
DE102018105352A1 (de) | 2018-03-08 | 2019-09-12 | Deutsche Post Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Sendungen |
US10880451B2 (en) | 2018-06-08 | 2020-12-29 | Digimarc Corporation | Aggregating detectability metrics to determine signal robustness |
CN109031450B (zh) * | 2018-08-13 | 2020-09-01 | 青岛鼎喜冷食有限公司 | 一种食品加工检测系统 |
CN109990744B (zh) * | 2019-04-08 | 2020-09-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质 |
JP6763064B1 (ja) * | 2019-06-11 | 2020-09-30 | Ckd株式会社 | 検査装置及び包装体製造装置 |
JP6752941B1 (ja) * | 2019-06-17 | 2020-09-09 | Ckd株式会社 | 検査装置、包装体製造装置及び包装体製造方法 |
CA3147292A1 (en) * | 2019-08-22 | 2021-02-25 | John Bean Technologies Corporation | X-ray unit technology modules and automated application training |
EP4068994A1 (en) * | 2019-12-04 | 2022-10-12 | West Liberty Foods, L.L.C. | Automated food preparation and packaging systems, methods, and apparatus |
JP6917083B1 (ja) * | 2020-03-24 | 2021-08-11 | 株式会社 システムスクエア | 教師データ生成装置、検査装置及びプログラム |
US11673700B2 (en) * | 2021-06-22 | 2023-06-13 | Vmi Holland B.V. | Device and methods for packaging medicaments with fault detection |
JP7412794B2 (ja) | 2022-04-13 | 2024-01-15 | 公立大学法人大阪 | 蛍光x線分析装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1381716A (zh) * | 2001-04-17 | 2002-11-27 | 株式会社岛津制作所 | 辐射检查装置和辐射检查方法 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2764509B2 (ja) * | 1992-11-24 | 1998-06-11 | 株式会社ツムラ | 分包品の重量計量装置 |
US5585603A (en) * | 1993-12-23 | 1996-12-17 | Design Systems, Inc. | Method and system for weighing objects using X-rays |
JP2974612B2 (ja) * | 1996-06-17 | 1999-11-10 | シーケーディ株式会社 | 包装錠剤の製造方法、検査方法および検査装置 |
JP3779790B2 (ja) * | 1997-03-05 | 2006-05-31 | 株式会社常盤産業 | シール包装された包装体の検査方法 |
JP2920766B1 (ja) * | 1998-06-22 | 1999-07-19 | 株式会社岩黒製作所 | 薬剤の自動包装装置 |
JP2001058001A (ja) * | 1999-08-20 | 2001-03-06 | Takazono Sangyo Kk | 収容体内の薬剤等の検査装置 |
US6215845B1 (en) * | 1999-10-18 | 2001-04-10 | General Mills, Inc. | Detection of variable positionable missing components utilizing x-rays |
JP3332364B2 (ja) * | 2000-08-01 | 2002-10-07 | 株式会社イシダ | 重量検査装置 |
JP3875842B2 (ja) * | 2001-02-02 | 2007-01-31 | アンリツ産機システム株式会社 | X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法 |
JP2002296022A (ja) | 2001-03-29 | 2002-10-09 | Anritsu Corp | X線による質量測定方法及びx線質量測定装置 |
JP2003246307A (ja) | 2002-02-25 | 2003-09-02 | Omori Mach Co Ltd | ピロー包装機 |
JP2003291929A (ja) | 2002-04-02 | 2003-10-15 | Xiware Technology Kk | 分包シート検査方法及び装置 |
JP3943099B2 (ja) * | 2003-06-09 | 2007-07-11 | アンリツ産機システム株式会社 | X線検査装置 |
JP3860154B2 (ja) | 2003-09-12 | 2006-12-20 | アンリツ産機システム株式会社 | X線検査装置 |
JP3943072B2 (ja) * | 2003-10-27 | 2007-07-11 | アンリツ産機システム株式会社 | X線検査装置 |
JP2006308467A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-11-09 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
JP4585915B2 (ja) | 2005-05-30 | 2010-11-24 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
EP1950527B1 (en) * | 2005-11-16 | 2017-01-04 | ISHIDA CO., Ltd. | X-ray inspection device |
JP2007183200A (ja) | 2006-01-10 | 2007-07-19 | Ishida Co Ltd | X線検査装置及び物品検査装置 |
JP2007199044A (ja) * | 2006-01-24 | 2007-08-09 | Junichi Nishizawa | テラヘルツ波式計測装置及び方法 |
JP4519789B2 (ja) | 2006-03-01 | 2010-08-04 | アンリツ産機システム株式会社 | X線検査装置 |
EP2042855A4 (en) * | 2006-06-26 | 2014-10-01 | Toshiba Solutions Corp | SPECIMEN INSPECTION APPARATUS, AND SPECIMEN INSPECTION METHOD |
GB2453098B (en) * | 2007-07-16 | 2009-08-12 | Illinois Tool Works | Inspection apparatus and method using penetrating radiation |
GB0811742D0 (en) * | 2008-06-26 | 2008-07-30 | Glaxo Group Ltd | Method for analysis of a pharmaceutical sample |
-
2008
- 2008-09-22 CN CN2008801076848A patent/CN101802595B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-09-22 WO PCT/JP2008/067110 patent/WO2009041393A1/ja active Application Filing
- 2008-09-22 JP JP2009534321A patent/JP5789083B2/ja active Active
- 2008-09-22 EP EP08834624.2A patent/EP2194374B1/en active Active
- 2008-09-22 US US12/676,344 patent/US8483475B2/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1381716A (zh) * | 2001-04-17 | 2002-11-27 | 株式会社岛津制作所 | 辐射检查装置和辐射检查方法 |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
JP特开2002-296022A 2002.10.09 |
JP特开2003-291929A 2003.10.15 |
JP特开2005-127962A 2005.05.19 |
JP特开2007-183200A 2007.07.19 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2194374A1 (en) | 2010-06-09 |
US20100202694A1 (en) | 2010-08-12 |
JPWO2009041393A1 (ja) | 2011-01-27 |
US8483475B2 (en) | 2013-07-09 |
EP2194374A4 (en) | 2012-03-21 |
JP5789083B2 (ja) | 2015-10-07 |
WO2009041393A1 (ja) | 2009-04-02 |
CN101802595A (zh) | 2010-08-11 |
EP2194374B1 (en) | 2016-01-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101802595B (zh) | 检查装置 | |
JP6126230B2 (ja) | 検査装置 | |
US7477726B2 (en) | X-ray inspection apparatus | |
KR102387529B1 (ko) | 검사 장치 | |
CN104781656B (zh) | X射线检查装置 | |
JP6746142B2 (ja) | 光検査システム及び画像処理アルゴリズム設定方法 | |
JP5798420B2 (ja) | 重量推定装置 | |
JP6068060B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP2017009319A (ja) | 検査装置 | |
JP2015137858A (ja) | 検査装置 | |
JP6346753B2 (ja) | 包装体検査装置 | |
JP6224434B2 (ja) | X線検査装置 | |
CN101158654A (zh) | 成品包装箱缺件检测装置及其检测方法 | |
JP2009080031A (ja) | X線検査装置 | |
JP5875878B2 (ja) | 密度算出装置 | |
JP4081054B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP7126302B1 (ja) | 検査装置、検査方法、及びプログラム | |
WO2017159856A1 (ja) | X線検査装置 | |
JPWO2017159855A1 (ja) | X線検査装置 | |
KR20210065988A (ko) | 포장체의 제조 장치 및 포장체의 제조 방법 | |
JP6346831B2 (ja) | 検査装置 | |
JP6306352B2 (ja) | X線検査装置 | |
CN110392826A (zh) | X射线检查装置 | |
JP7250301B2 (ja) | 検査装置、検査システム、検査方法、検査プログラム及び記録媒体 | |
CN210596762U (zh) | 一种验针装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20130904 Termination date: 20210922 |
|
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |