CN101171629B - 光头装置及光信息处理装置 - Google Patents

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Abstract

一种光头装置，具备分岔部，该分岔部将由光记录介质反射的光束分岔。分岔部，具有：第1干涉部分透过的第1主区域、第2干涉部分透过的第2主区域、以及第1干涉部分透过的比例低于第1主区域而且第2干涉部分透过的比例低于第2主区域的第1及第2子区域。分岔部，将被反射的光束，分岔成：透过第1主区域的第1主光束、透过第2主区域的第2主光束、透过第1子区域的第1子光束、以及透过第2子区域的第2子光束。分岔部还具备替换部，该替换部替换第1子光束的一部分与第2子光束的一部分。

Description

光头装置及光信息处理装置
技术领域
本发明涉及旨在进行数据的光学性的记录及/或再生的光头装置，及搭载该光头装置的光信息处理装置。
背景技术
近几年来，作为高密度·大容量的记录介质，被称作DVD(DigitalVersatile Disc)的高密度·大容量的光盘介质，已经被投付使用，作为能够记录动画之类的大量的信息的信息记录介质，正在广泛普及。在这种信息记录介质中，利用标记及空格记录信息。
在这里，参照图26，讲述现有技术的光头装置。图26是表示现有技术的光头装置300的图。
光头装置300，被进行信息的记录再生的光信息处理装置(未图示)搭载。在该光信息处理装置中，向光记录介质21照射3个光束后，检出跟踪误差信号(例如参照专利文献1)。
参照图26，半导体激光器等光源1，射出波长λ为405nm的直线偏振光的发散光束10。光源1射出的发散光束10，被用焦点距离f1为15mm的视准透镜11变换成平行光后，射入衍射晶格12。射入衍射晶格12的光束10，分岔成0次及±1次衍射光等3个光束。0次衍射光，是旨在记录/再生信息的主光束10a。±1次衍射光，是在为了检出跟踪误差(以下称作“TE”)信号的差动推挽(以下称作“DPP”)法中使用的两个子光束10b及10c。
为了避免由于子光束而进行不必要的记录，衍射晶格12中的0次衍射光10a和一个1次衍射光10b或10c的衍射效率之比，通常设定为10∶1～20∶1，在这里是20∶1。用衍射晶格12生成的3个光束10a～10c，透过偏振光束分裂器13和四分之一波长板14，变换成圆偏振光后，被用焦点距离f2为2mm的物镜15变换成收敛光束，透过光记录介质21的透明基板21a，聚光到信息记录层21c上。光记录介质21，具备2个信息记录层21b及21c。在图26中，被用物镜15聚光的光束10，在信息记录层21c上形成焦点。
使从光记录介质21的光的入射面到信息记录层21c的距离d2为100μm、信息记录层21b和信息记录层21c的间隔d1为25μm。另外，信息记录层21b及21c形成的轨道的周期tp(图27)是0.32μm。用缝隙16限制物镜15的开口，使其开口数为0.85。透明基板21a的厚度是0.1μm、折射率n是1.62。信息记录层21b及21c的等效性的反射率，分别是4～8％左右。在这里，所谓“等效性的反射率”，表示使射入光记录介质21的光束的光量为1时，光束被信息记录层21b或21c反射后，再次射入光记录介质21之际的光束的光量。信息记录层21c，吸收或反射射入的光束的光量的大部分；而信息记录层21b则为了让光束到达信息记录层21c，使射入的光束的约50％的光量透过，吸收或反射剩下的50％的光量。
图27是表示信息记录层21c上的光束和轨道的位置关系的图。在信息记录层21b及21c上，形成成为轨道的连续槽，信息被记录在槽上。轨道Tn-1、Tn及Tn+1的轨道间距tp是0.32μm。主光束10a在轨道Tn上聚光时，子光束10b在轨道Tn-1和轨道Tn之间聚光，子光束10c在轨道Tn和轨道Tn+1之间聚光。与主光束10a和子光束10b及10c的轨道正交的方向的间隔L是0.16μm。
信息记录层21c反射的光束10a～10c，透过物镜15、四分之一波长板14，变换成和往路相差90度的直线偏振光后，被用偏振光束分裂器13反射。用偏振光束分裂器13反射的光束10a～10c，透过焦点距离f3为30mm的聚光透镜25后，变换成收敛光，经过圆柱透镜26，射入光检出器30。光束10a～10c透过圆柱透镜26之际，被赋予。
图28是表示光检出器30和光束10a～10c的位置关系的图。光检出器30，具备8个受光部30a～30h，受光部30a～30d接收光束10a，受光部30e～30f接收光束10b，受光部30g～30h接收光束10c。受光部30a～30h，分别输出与接收的光量对应的电信号I30a～I30h(未图示)。聚焦误差(以下称作FE)信号，可以经过采用使用光检出器30输出的信号I30a～I30d的象散法的演算后获得。例如：经过(I30a+I30c)-(I30b+I30d)的演算后，可以获得FE信号。另外，TE信号可以经过采用DPP法的演算后获得。例如：经过(I30a+I30d)-(I30b+I30c)-C·{(I30e+I30g)-(I30f+I30h)}的演算后，可以获得TE信号。在这里，C是取决于衍射晶格12的0次衍射光和一个1次衍射光的衍射效率之比的系数。FE信号及TE信号，被经过放大到所需的电平及相位补偿后，供给旨在使物镜15动作的促动器31及32，进行聚焦控制及跟踪控制。另外，表示信息记录层21c记录的信息的再生信号(以下称作“RF信号”)，可以经过I30a+I30b+I30c+I30d的演算后获得。
专利文献1：日本国特开平3-005927号公报(第5～8页、第2图)
可是，使用具备多个信息记录层的光记录介质时，光束也被所需的信息记录层以外的信息记录层反射后，射入光检出器。光束40a～40c，是光束10a～10c被信息记录层21b反射后射入光检出器30的光束。这时，光束40a和光束10b互相重合，另外光束40a和光束10c互相重合，因此产生干涉引起的明暗的分布。该干涉引起的明暗的分布，随着光记录介质21的面摆动及透明基板21a的局部性的厚度不匀而变动，影响TE信号。光束10b及10c是子光束，光束40a是主光束。由于子光束10b及10c的光量小于主光束40a，所以光束40a和光束10b的干涉及光束40a和光束10c的干涉，成为明暗的变化最大的干涉。
图29是表示用示波器观察朝着与轨道正交方向扫描光束10a～10c时获得的采用DPP法计算出的TE信号时的样态的图。用上述那种现有技术的光头装置，检出TE信号时，TE信号的振幅和对称性出现很大的变动。使用该TE信号进行跟踪控制时，跟踪控制就不稳定，存在着难以可靠性高地记录及再生信息的课题。
发明内容
本发明就是针对上述情况研制的，其目的在于提供能够减少TE信号振幅的变动，可靠性高地记录及再生信息的光头装置及光信息处理装置。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、聚光部(该聚光部使所述光束在具有轨道的光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述被反射的光束，包含0次衍射光、+1次衍射光及-1次衍射光；所述被反射的光束，包含所述0次衍射光和所述+1次衍射光干涉的第1干涉部分和所述0次衍射光和所述-1次衍射光干涉的第2干涉部分；所述分岔部，具有所述第1干涉部分透过的第1主区域、所述第2干涉部分透过的第2主区域、所述第1干涉部分透过的比例低于所述第1主区域而且所述第2干涉部分透过的比例低于所述第2主区域的第1及第2子区域，被向所述被反射的光束的断面的所述第1及第2干涉部分的长度方向延伸的分割线，分成所述第1子区域和所述第2子区域；所述分岔部，将所述被反射的光束，分岔成透过所述第1主区域的第1主光束、透过所述第2主区域的第2主光束、透过所述第1子区域的第1子光束、透过所述第2子区域的第2子光束；所述分岔部，还具备替换部，该替换部替换所述第1子光束的一部分和所述第2子光束的一部分。
采用某种实施方式后，所述光检出部，具备第1受光部、第2受光部、第3受光部及第4受光部；所述第1主光束，射入所述第1受光部；所述第2主光束，射入所述第2受光部；所述第1子光束和所述替换的第2子光束的一部分，射入相同的所述第3受光部；所述第2子光束和所述替换的第1子光束的一部分，射入相同的所述第4受光部。
采用某种实施方式后，所述分割线，通过所述分岔部中的所述被反射光束的断面的中心部透过的位置。
采用某种实施方式后，所述分岔部，还具备所述被反射光束的断面的中心部透过的中央伪区域；所述分岔部，进而将所述被反射的光束，分岔成透过所述中央伪区域的伪光束；所述伪光束，不射入所述第1～第4受光部。
采用某种实施方式后，具备一对所述替换部；所述替换部的一个，位于所述第1主区域和所述中央伪区域之间；所述替换部的另一个，位于所述第2主区域和所述中央伪区域之间。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光信息处理装置，是具备上述光头装置和控制部(该控制部根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置)的光信息处理装置，所述第1主光束射入的所述第1受光部，输出与接收的光量对应的第1信号；所述第2主光束射入的所述第2受光部，输出与接收的光量对应的第2信号；所述第1子光束和所述替换的第2子光束的一部分射入的所述第3受光部，输出与接收的光量对应的第3信号；所述第2子光束和所述替换的第1子光束的一部分射入的所述第4受光部，输出与接收的光量对应的第4信号；所述光信息处理装置，进而具备生成部，该生成部生成跟踪误差信号；所述生成部，具备第1差动演算部(该第1差动演算部演算所述第1信号和所述第2信号之差，生成第1差动信号)、第2差动演算部(该第2差动演算部演算所述第3信号和所述第4信号之差，生成第2差动信号)、调整部(该调整部调整所述第1差动信号和所述第2差动信号中的至少一个的增益)、第3差动演算部(该第3差动演算部演算所述第1差动信号和所述第2差动信号之差，生成第3差动信号)。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、聚光部(该聚光部使所述光束在具有轨道的光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述被反射的光束，包含0次衍射光、+1次衍射光及-1次衍射光；所述被反射的光束，包含所述0次衍射光和所述+1次衍射光干涉的第1干涉部分和所述0次衍射光和所述-1次衍射光干涉的第2干涉部分；所述分岔部，具有所述第1干涉部分透过的第1主区域、所述第2干涉部分透过的第2主区域、所述第1干涉部分透过的比例低于所述第1主区域而且所述第2干涉部分透过的比例低于所述第2主区域的第1及第2子区域，被向所述被反射的光束的断面的所述第1及第2干涉部分的长度方向延伸的分割线，分成所述第1子区域和所述第2子区域；所述分岔部，还具备所述被反射光束的断面的中心部透过的中央伪区域；所述中央伪区域，被所述第1及第2主区域和所述第1及第2子区域包围；所述分岔部，将所述被反射的光束，分岔成透过所述第1主区域的第1主光束、透过所述第2主区域的第2主光束、透过所述第1子区域的第1子光束、透过所述第2子区域的第2子光束、透过所述中央伪区域的伪光束；所述光检出部，具备第1受光部、第2受光部、第3受光部及第4受光部；所述第1主光束，射入所述第1受光部；所述第2主光束，射入所述第2受光部；所述第1子光束，射入所述第3受光部；所述第2子光束，射入所述第4受光部；所述伪光束，不射入所述第1～第4受光部。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
采用某种实施方式后，所述第1主光束射入的所述第1受光部，输出与接收的光量对应的第1信号；所述第2主光束射入的所述第2受光部，输出与接收的光量对应的第2信号；所述第1子光束射入的所述第3受光部，输出与接收的光量对应的第3信号；所述第2子光束射入的所述第4受光部，输出与接收的光量对应的第4信号；所述装置，进而具备生成部，该生成部生成跟踪误差信号；所述生成部，具备第1差动演算部(该第1差动演算部演算所述第1信号和所述第2信号之差，生成第1差动信号)、第2差动演算部(该第2差动演算部演算所述第3信号和所述第4信号之差，生成第2差动信号)、调整部(该调整部调整所述第1差动信号和所述第2差动信号中的至少一个的增益)、第3差动演算部(该第3差动演算部演算所述第1差动信号和所述第2差动信号之差，生成第3差动信号)。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、衍射部(该衍射部根据所述光束，生成多个衍射光束)、聚光部(该聚光部使所述多个衍射光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的多个衍射光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的多个衍射光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述多个衍射光束，包含0次衍射光——主光束、1次以上的衍射光——第1及第2子光束；所述光头装置，被设置在所述光源和所述聚光部之间的光路上，还具备部分遮光部，该部分遮光板部遮挡所述主光束的一部分。
采用某种实施方式后，所述部分遮光部，对包含所述主光束的断面的中心部的部分进行遮光。
采用某种实施方式后，所述光记录介质，具备多个记录层；所述部分遮光部遮挡的所述主光束的一部分，是相当于使所述主光束的焦点与规定的记录层吻合时，用所述规定的记录层以外的记录层反射的所述主光束中射入所述光检出部的受光部的部分的部分。
采用某种实施方式后，所述部分遮光部，对将所述主光束的断面的中心部作为基准处于对称位置的2个部分进行遮光。
采用某种实施方式后，所述光记录介质，具备多个记录层；所述光检出部，具备第1受光部、将所述第1受光部作为基准对称配置的第2及第3受光部；所述部分遮光部遮挡的所述主光束的一部分，是相当于使所述主光束的焦点与规定的记录层吻合时，用所述规定的记录层以外的记录层反射的所述主光束中射入所述第2及第3受光部的部分的部分。
采用某种实施方式后，还具备视准透镜，该视准透镜设置在所述光源和所述部分遮光部之间的光路上，将光源射出的光束，变换成平行光束；所述部分遮光部，对所述平行光束的一部分进行遮光。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、
衍射部(该衍射部根据所述光束，生成多个衍射光束)、聚光部(该聚光部使所述多个衍射光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的多个衍射光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的多个衍射光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述多个衍射光束，包含0次衍射光——主光束、1次以上的衍射光——第1及第2子光束；所述衍射部，具备第1部分衍射部(该第1部分衍射部比所述第1及第2子光束多地生成所述主光束)和第2部分衍射部(该第2部分衍射部比所述主光束多地生成所述第1及第2子光束)。
采用某种实施方式后，具备一对所述第2部分衍射部，所述一对第2部分衍射部，将射入所述衍射部的光束的断面的中心部作为基准，处于对称的位置。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、衍射部(该衍射部根据所述光束，生成多个衍射光束)、聚光部(该聚光部使所述多个衍射光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的多个衍射光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的多个衍射光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述多个衍射光束，包含0次衍射光——主光束、1次以上的衍射光——第1及第2子光束；所述衍射部，具备第1部分衍射部(该第1部分衍射部比所述第1及第2子光束多地生成所述主光束)和第2部分衍射部(该第2部分衍射部比所述主光束多地生成所述第1及第2子光束)；所述第2部分衍射部，配置在射入所述衍射部的光束的断面的中心部透过的位置。
采用某种实施方式后，在所述第2部分衍射部中，没有设置衍射晶格。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光头装置，其特征在于：是被使用所述主光束及子光束生成跟踪误差信号的装置搭载的光头装置，所述光头装置，具备第1光源(该第1光源射出所述主光束)、第2光源(该第2光源射出所述子光束)、聚光部(该聚光部使所述主光束及所述子光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的所述主光束及所述子光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的所述主光束及所述子光束，输出与接收的光量对应的信号)；所述主光束和所述子光束，波长互不相同。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、衍射部(该衍射部根据所述光束，生成多个衍射光束)、聚光部(该聚光部使所述多个衍射光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的多个衍射光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的多个衍射光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述衍射部，具有衍射晶格；所述光头装置，还具备摇动部，该摇动部使所述衍射部向垂直于所述衍射晶格的槽延伸的方向的方向摇动。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、衍射部(该衍射部根据所述光束，生成多个衍射光束)、聚光部(该聚光部使所述多个衍射光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的多个衍射光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的多个衍射光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述光记录介质，具备多个记录层；使所述光源射出的光束的可干涉距离为L、两个记录层之间的距离为d、位于所述两个记录层之间的介质的折射率为n时，2·d·n＞L。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
采用本发明后，光头装置的分岔部，具备光束的第1干涉部分透过的第1主区域、第2干涉部分透过的第2主区域、第1干涉部分透过的比例低于第1主区域而且第2干涉部分透过的比例低于第2主区域的第1及第2子区域。分岔部，将光束分岔成透过第1主区域的第1主光束、透过第2主区域的第2主光束、透过第1子区域的第1子光束、透过第2子区域的第2子光束。分岔部，还具备替换部，该替换部替换第1子光束的一部分和第2子光束的一部分。替换第1子光束的一部分和第2子光束的一部分，射入光检出部后，能够减少跟踪误差信号的振幅变动。稳定地检出跟踪误差信号后，能够可靠性高地记录及再生信息。
另外，采用本发明后，光头装置具备遮挡主光束的一部分的部分遮光部。相当于用对准焦点的记录层以外的记录层反射的主光束中射入光检出部的受光部的部分的主光束的一部分，被部分遮光部遮挡。这样，能够减少跟踪误差信号的振幅变动。稳定地检出跟踪误差信号后，能够可靠性高地记录及再生信息。
附图说明
图1是表示采用本发明的第1实施方式的光信息处理装置的图。
图2是表示采用本发明的第1实施方式的光头装置的图。
图3A是表示采用本发明的第1实施方式的部分遮光板的图。
图3B是表示采用本发明的第1实施方式的光检出器和光束的关系的图。
图4是表示采用本发明的第1实施方式的光信息处理装置的图。
图5是表示采用本发明的第1实施方式的信号生成部的图。
图6A是表示采用本发明的第2实施方式的部分遮光板的图。
图6B是表示采用本发明的第2实施方式的光检出器和光束的关系的图。
图7A是表示采用本发明的第3实施方式的部分遮光板的图。
图7B是表示采用本发明的第3实施方式的光检出器和光束的关系的图。
图8是表示采用本发明的第4实施方式的光头装置的图。
图9是表示采用本发明的第4实施方式的衍射晶格的图。
图10A是表示采用本发明的第5实施方式的衍射晶格的图。
图10B是表示采用本发明的第5实施方式的光检出器和光束的关系的图。
图11是表示采用本发明的第6实施方式的光头装置的图。
图12是表示采用本发明的第6实施方式的光检出器和光束的关系的图。
图13是表示采用本发明的第7实施方式的光头装置的图。
图14是表示采用本发明的第8实施方式的光头装置的图。
图15A是表示采用本发明的第8实施方式的衍射晶格的图。
图15B是表示采用本发明的第8实施方式的光检出器和光束的关系的图。
图16是表示采用本发明的第9实施方式的光头装置的图。
图17是表示采用本发明的第10实施方式的光头装置的图。
图18是表示采用本发明的第10实施方式的全息照相元件的图。
图19是表示采用本发明的第10实施方式的光检出器和光束的关系以及信号生成部的图。
图20是表示射入采用本发明的第10实施方式的全息照相元件的光的分布的一个例子的图。
图21是表示采用本发明的第10实施方式的跟踪信号的偏置变动的一个例子。
图22是表示在现有技术的光头装置中的跟踪信号的偏置变动的一个例子。
图23是表示采用本发明的第11实施方式的全息照相元件的图。
图24是表示采用本发明的第11实施方式的光检出器和光束的关系的图。
图25是表示采用本发明的第11实施方式的跟踪信号的偏置变动的一个例子。
图26是表示现有技术的光头装置的图。
图27是表示光信息记录层上的轨道和光束的关系的图。
图28是表示现有技术的光检出器和光束的关系的图。
图29是表示现有技术的TE信号的样态的图。
符号说明
1、131、141、142、161光源
10、10a～10c、132、143、144光束
11视准透镜
12、61、121、133、151衍射晶格
13、63偏振光束分裂器
14四分之一波长板
15物镜
16缝隙
21光记录介质
21a透明基板
21b、21c信息记录层
25、64检出透镜
26、65圆柱透镜
30、73光检出器30
30a～30h受光部
40a～40c、72a～72c、93a～93c、104a～104c、123a～123c光束
50光头装置
51移送控制器
52电动机
53第1控制部
54放大器
55第2控制部55
56解调部
57输出部
58检出部
59系统控制部
62、91、101部分遮光板
66高频重叠元件
71、92、102、103遮光部
73、94a、105a、106a、124b、124c遮光区域
151衍射晶格
112、113高衍射效率部
122区域
152促动器152
171全息照相元件
171A、171B主区域
171B～171H子区域
172衍射光
175、176干涉区域
178分割线
200全息照相元件
200A、200B主区域
200B～200F子区域
172衍射光
200G中央区域
具体实施方式
下面，参照附图，讲述本发明的光头装置及光信息处理装置的实施方式。对于相同的构成要素，赋予相同的符号，不再赘述。
(第1实施方式)
下面，参照图1～推4，讲述本发明涉及的光头装置及光信息处理装置的第1实施方式。
首先，参照图1。图1是表示本实施方式的光信息处理装置100的图。光信息处理装置100，是光学性地向光记录介质21记录信息及/或再生来自光记录介质21的信息的记录再生装置、再生装置、记录装置、编辑装置等。光记录介质21，是光盘介质。
光信息处理装置100，具备：向光记录介质21照射光束的光头装置50，使光头装置50移动的移送控制器51，使光记录介质21旋转的电动机52，放大信号的放大器54，解调数据的解调部56，输出信号的输出部57，检出地址信号等的检出部58，控制光信息处理装置100的动作的第1及第2控制部53、55及系统控制部59。
光头装置50(也称作“光拾波器装置”)，向光记录介质21照射波长λ为405nm的光束，再生被光记录介质21记录的信息。移送控制器51，为了在光记录介质21的所需的位置记录或再生信息，而使光头装置50向光记录介质21的半径方向移动。电动机52驱动光记录介质21后，使其旋转。
第1控制部53，控制光头装置50、移送控制器51和电动机52。放大器54，放大光头装置50的输出信号。第2控制部55，根据放大器54的输出信号，生成对于光记录介质21记录再生信息时必要的聚焦误差(以下称作FE)信号及跟踪误差(以下称作TE)信号等伺服信号。第2控制部55，向第1控制部53输出生成的伺服信号。另外，被输入第2控制部55的信号，是模拟信号，但是第2控制部55将该模拟信号数字化(二值化)。第2控制部55生成的信号，向第1控制部53、解调部56、检出部58及系统控制部59输出。
解调部56，解析第2控制部55输出的数字信号，再构筑原来的影像数据及音乐数据等，再构筑后生成的再生信号，由输出部57输出。检出部58，从第2控制部55输出的信号中，检出地址信号等，向系统控制部59输出。
系统控制部59，根据从光记录介质21中读出的物理格式信息及光记录介质制造信息(光记录介质管理信息)，识别光记录介质，解读记录再生条件等，控制整个光信息处理装置100。
对于光记录介质21记录再生信息时，按照系统控制部59的指令，第1控制部53驱动移送控制器51。这样，移送控制器51使光头装置50移动到信息记录层21c所需的位置，光头装置50对于光记录介质21的信息记录层，记录再生信息。
下面，参照图2，详细讲述光头装置50的结构。图2是表示光头装置50的图。
光头装置50，具备光源1、视准透镜11、衍射部61、部分遮光板62、偏振光束分裂器63、四分之一波长板14物镜15、缝隙16、促动器31及32、检出透镜64、圆柱透镜65、光检出器30。
光源1，是半导体激光器等，射出波长λ为405nm的直线偏振光的发散光束10。光源1射出的发散光束10，被用焦点距离f1为15mm的视准透镜11变换成平行光后，射入衍射部61。射入具有衍射晶格的衍射部61的光束10，被分岔成0次及±1次衍射光等3个光束10a、10b及10c。0次衍射光，是旨在记录/再生信息的主光束10a。±1次衍射光，是在为了检出TE信号的差动推挽(以下称作“DPP”)法中使用的两个子光束10b及10c。子光束10b及10c，可以是1次以上的衍射光。
为了避免由于子光束而进行不必要的记录，衍射部61中的0次衍射光10a和一个1次衍射光10b或10c的衍射效率之比，通常设定为10∶1～20∶1，在这里是20∶1。用衍射部61生成的3个光束10a～10c，透过部分遮光板(部分遮光部)62时，一部分光束被遮光(详情后述)。
透过部分遮光板62的光束10a～10c，透过偏振光束分裂器63和四分之一波长板14，变换成圆偏振光后，被用焦点距离f2为2mm的物镜(聚光部)15变换成收敛光束，透过光记录介质21的透明基板21a，聚光到信息记录层21c上。光记录介质21，具备2个信息记录层21b及21c。在图2中，被用物镜15聚光的光束10，在信息记录层21c上形成焦点。此外，对于信息记录层21b记录再生信息时，光束10在信息记录层21b上形成焦点。
使从光记录介质21的光的入射面到信息记录层21c的距离d2为100μm、信息记录层21b和信息记录层21c的间隔d1为25μm。另外，信息记录层21b及21c形成的轨道的周期tp(图27)是0.32μm。用缝隙16限制物镜15的开口，使其开口数为0.85。透明基板21a的厚度是0.1μm、折射率n是1.62μm。信息记录层21b及21c的等效性的反射率，分别是4～8％左右。在这里，所谓“等效性的反射率”，表示使射入光记录介质21的光束的光量为1时，光束被信息记录层21b或21c反射后，再次射入光记录介质21之际的光束的光量。信息记录层21c，吸收或反射射入的光束的光量的大部分；而信息记录层21b则为了让光束到达信息记录层21c，使射入的光束的约50％的光量透过，吸收或反射剩下的50％的光量。
信息记录层21c反射的光束10a～10c，透过物镜15、四分之一波长板14，变换成和往路相差90度的直线偏振光后，被用偏振光束分裂器(分岔部)63反射。用偏振光束分裂器63反射的光束10a～10c，用焦点距离f3为50mm的检出透镜64变换成收敛光，经过圆柱透镜65，射入光检出器30。光束10a～10c透过圆柱透镜65之际，被赋予象散。光束10a～10c在信息记录层21b或21c上形成焦点时，光检出器30上的光束10，成为最小弥散圆。另外，光源1的驱动电流，被高频重叠元件66用频率为400MHz的高频调制，光源1射出的光束10，具有多个波长，从而减轻干涉引起的明暗的分布。光检出器30，输出与接收的光束10a～10c各自的光量对应的信号。
图3A是对一部分主光束10a进行遮光的部分遮光板62的正面图。部分遮光板62。设置在光源1和物镜15之间的光路上。在图2所示的例子中，设置在衍射部61和偏振光束分裂器63之间。光源1射出的光束10，在光源1和部分遮光板62之间的光路上设置的视准透镜11的作用下，变换成平行光束，被衍射部61分岔。部分遮光板62，对平行光束——主光束10a的一部分进行遮光。对平行光束进行遮光后，主光束10a和部分遮光板62的对位就变得容易。
参照图3A，虚线70表示将透过缝隙16时的主光束10a投影到部分遮光板62上的主光束10a的断面。遮光部71位于部分遮光板62的中央部，吸收要透过该部分的光线、即包含主光束10a的断面的中心部的部分后，进行遮光。
图3B是表示使光束10a～10c的焦点与所需的信息记录层21c吻合时射入光检出器30的光束10a～10c的图。这时，用信息记录层21b反射的主光束10a，作为光束72a，射入光检出器30。用信息记录层21b反射的子光束10B及10c，也射入光检出器30，但是为了使说明简洁而省略。
光束72a的中心附近的遮光区域73，是被部分遮光板62的遮光部71遮挡的部分。遮光区域73，与光检出器30具备的受光部30a～30h对位。相当于光束72a中的射入受光部30a～30h的部分(即遮光区域73)的部分，被部分遮光板62遮光。聚光到受光部30a～30h上的光束10B及10c，不与光束72a重叠，能够防止干涉。这样，能够减少TE信号的振幅变动。稳定地检出TE信号后，能够可靠性高地记录及再生信息。
在此，讲述上述那种部分遮光板62的设计的一个例子。使检出透镜64的焦点距离f3＝50mm，物镜15的焦点距离f2＝2mm，检出系统的倍率为25倍。信息记录层21b和信息记录层21c的间隔d1最小，为20μm，信息记录层21b及透明基板21a的折射率是1.60。这时，用信息记录层21b反射的光束72a，在光检出器30一侧的大约1.5mm后方形成焦点。由于物镜15的NA为0.85、焦点距离f2＝2mm，所以光束直径是。该直径的光束，在距检出透镜64(50+1.5)mm的位置聚光时，在距检出透镜64为50mm的光检出器30上，直径成为0.81mm。这样，图3B所示的光束72a的直径是0.81mm。使配置受光部30a～30h的区域的尺寸，为120μm×360μm。这时，对于直径是0.81mm的光束而言，只要形成大小为120μm×360μm以上的遮光区域73就行。由于透过部分遮光板62时的光束10a的断面(虚线70)的直径是3.4mm，所以遮光部71只要大小约为1.5mm×0.5mm以上就行。
光检出器30具备8个受光部30a～30h，受光部30a～30d接收主光束10a。受光部30e～30f接收子光束10b，受光部30g～30h接收子光束10c。受光部30a～30h，分别输出与接收的光量对应的电信号I30a～I30h(未图示)。使用光检出器30输出的信号I30a～I30d，可以获得TE信号。FE信号的检出方式是象散法，例如经过(I30a+I30c)-(I30b+I30d)的演算后，可以获得。另外，TE信号的检出方式是DPP法，例如经过(I30a+I30d)-(I30b+I30c)-C·{(I30e+I30g)-(I30f+I30h)}的演算后，可以获得。在这里，C是取决于衍射部61的0次衍射光和一个1次衍射光的衍射效率之比的系数。
FE信号及TE信号，被经过放大到所需的电平及相位补偿后，供给旨在使物镜15动作的促动器31及32，进行聚焦控制及跟踪控制。另外，表示信息记录层21c记录的信息的再生信号(以下称作“RF信号”)，可以经过I30a+I30b+I30c+I30d的演算后获得。
另外，采用相位差法检出TE信号时，只要比较信号I30a～I30d的输出时刻后生成就行。关于采用相位差法生成TE信号的方法，由于大多用于使用具备再生专用的信息记录层的光记录介质，已经广为人知，所以在这里不再赘述。
图4是表示生成TE信号的信号生成部55a的图。信号生成部55a可以设置在第2控制部55中。
受光部30a及30d输出的信号I30a及I30d，被用加法部80进行加法运算。受光部30b及30c输出的信号I30b及I30c，被用加法部81进行加法运算。加法部80和加法部81输出的信号，被输入差动演算部82后，进行差动演算。被差动演算的信号——信号{(I30a+I30d)-(I30b+I30c)}，是采用所谓推挽法检出的信号。采用单纯的推挽法检出TE信号时，与光记录介质21的偏心对应，使物镜15跟踪追随后，TE信号就产生与跟踪追随对应的偏置的变动。在信号生成部55a中，受光部30f及30h输出的信号I30f及I30h，被用加法部83进行加法运算。受光部30e及30g输出的信号I30e及I30g，被用加法部84进行加法运算。加法部83及84输出的信号，被输入差动演算部85后，进行差动演算。差动演算部85输出的信号，被输入可变增益放大部86，放大或缩小成所需的信号强度。这时的放大度是C。
可变增益放大部86输出的信号，具有和差动演算部82输出的信号所具有的与跟踪追随对应的偏置变动相同的变动。差动演算部87，输入差动演算部82输出的信号和可变增益放大部86输出的信号后，进行差动演算，从而减少差动演算部82输出的信号所具有的与跟踪追随对应的偏置变动。这样，差动演算部87输出的信号，成为即使跟踪追随也几乎没有偏置变动的TE信号。可是，在该状态下，信号强度也随着信息记录层21b及21c的反射率及照射光记录介质21的光束的强度的变化而变化，所以将差动演算部87输出的信号输入除法部88后，作为一定的振幅。受光部30a～30d输出的信号I30a～I30d，被用加法部89进行加法运算后，作为旨在进行除法运算的信号，输入除法部88。加法部89输出的信号，是与信息记录层21b及21c的反射率及照射光记录介质21的光束的强度成正比的信号。因此，除法部88输出的信号，成为所需的具有一定振幅的TE信号。
[0074]
光记录介质21，具备2个信息记录层21b及21c。将光束10a～10c的焦点对准信息记录层21c后，记录再生信息时，光束也被信息记录层21b反射，射入光检出器30。光束72a(图3B)，是光束10a被信息记录层21b反射后射入光检出器30的光束。由于光束10a～10c可以用信息记录层21c形成焦点，所以可以用信息记录层21b很大地散焦。因此，光束72a也在光检出器30上很大地散焦。光检出器30，接收主光束10a和子光束10b及10c两者。光头装置50具备部分遮光板62后，光束10b和光束72a不会重合，光束10c和光束72a不会重合。这样，不会产生用现有技术的光头装置所产生的干涉引起的明暗的分布。
图5是表示用示波器观察用本实施方式的光信息处理装置100获得的TE信号时的样态的图。TE信号的振幅TEpp及对称性都非常稳定，因此能够进行稳定的跟踪控制。
另外，在光头装置50中，在光束10a的往路上，配置着部分遮光板62。由于部分遮光板62遮挡一部分光束10a，所以使光束10a的能量产生某种程度的衰减。因此，为了获得S/N比高的稳定的再生信号，需要考虑能量的衰减后，使光源1射出高能量的光束10。在这里，分析假设在光束10a用信息记录层反射后的复路上配置部分遮光板62时的情况。在复路上配置部分遮光板62时，为了获得和不在复路上配置部分遮光板62时相同的S/N比的再生信号，需要向信息记录层照射比通常的情况高的能量的光束，有可能产生信息记录层记录的信息被消去的问题。可是，在本实施方式的光头装置50中，由于在光束10a的往路上配置着部分遮光板62，在部分遮光板62的作用下，能量衰减后的激光10a照射到信息记录层上，所以不会产生上述问题。
此外，以上列举了部分遮光板62的遮光部71吸收一部分主光束10a后进行遮光的例子。但是，遮光部71反射或衍射一部分主光束10a后进行遮光，也能获得同样的效果。
(第2实施方式)
接着，参照图6A～图6B，讲述本发明涉及的光头装置的第2实施方式。
图6A是表示本实施方式的部分遮光板91的图。部分遮光板91，取代部分遮光板62(图2)，被光头装置50搭载。使用部分遮光板91后，激光的遮光区域的位置即使偏移，也不会引起干涉。
部分遮光板91和部分遮光板62的不同之处是：沿着物镜15为了跟踪追随而移动的方向，扩大了遮光部92的宽度。
图6B是表示将光束10a～10c的焦点对准所需的信息记录层时射入光检出器30的光束10a～10c的图。这时，用信息记录层21b反射的主光束10a，作为光束93a射入光检出器30。用信息记录层21b反射的子光束10b及10c，也射入光检出器30。但为使说明简洁，不再赘述。
光束93a的中心附近的遮光区域94a，是被部分遮光板91的遮光部92遮挡的部分。如上所述，因为扩大了遮光部92的宽度，所以即使由于跟踪追随而使物镜15的位置偏移，受光部30a～30h也被收纳到遮光区域94a内。因为即使由于跟踪追随而使物镜15的位置偏移，光束93a也不和光束10b及10c重叠，所以能够防止干涉。
在这里，讲述上述那种部分遮光板91的一个设计例子。光学系统的条件，和第1实施方式讲述的例子相同。即使物镜在100μm的跟踪追随后移动也不会使光束93a和光束10b及10c重叠地设计。物镜移动100μm后，在光检出器30上的遮光部92的影子——遮光区域94a，就移动2倍的距离。因此，为了函盖±100μm的范围，所以可以使遮光部92的宽度增加400μm。这样，使遮光部92的横宽为0.9mm。纵方向的宽度，可以是和第1实施方式讲述的长度相同的1.5mm。
使用部分遮光板91后，即使物镜15由于跟踪追随等而移动后，也不会使光束93a和光束10b及10c重叠，不会引起干涉。因此，能够更大地设计可以稳定地获得跟踪信号的物镜15的移动范围。
此外，在这里列举了将物镜15的移动量定为±100μm的设计。但本发明并不局限于此，根据设计，将遮光部92的宽度扩大或者缩小，也能获得同样的效果。
(第3实施方式)
接着，参照图7A～图7B，讲述本发明涉及的光头装置的第3实施方式。
图7A是表示本实施方式的部分遮光板101的图。部分遮光板101，取代部分遮光板62(图2)，被光头装置50搭载。
部分遮光板101和部分遮光板62的不同之处是：在与接收子光束10b及10c的受光部对应的位置，设置2个遮光部102及103。另外，和遮光部92(图6A)同样，沿着物镜15为了跟踪追随而移动的方向，扩大了遮光部102及103的宽度。
参照图7A，虚线70表示将透过缝隙16时的主光束10a投影到部分遮光板62上的主光束10a的断面。遮光部102及103，对将主光束10a的断面的中心部作为基准处于对称位置的2个部分进行遮光。受光部30e～30f和受光部30g～30h，将受光部30a～30d作为基准，对称配置。
图7B是表示将光束10a～10c的焦点对准所需的信息记录层21c时射入光检出器30的光束10a～10c的图。这时，用信息记录层21b反射的主光束10a，作为光束104a射入光检出器30。用信息记录层21b反射的子光束10b及10c，也射入光检出器30。但为使说明简洁，不再赘述。
光束104a包含的遮光区域105a及106a，是被遮光部102及103遮挡的部分。遮光区域105a及106a，与受光部30e～30h对位。相当于光束104a中的射入受光部30e～30h的部分(即遮光区域105a及106a)的部分，被部分遮光板102及103遮光。聚光到受光部30e～30h上的光束10B及10c，不与光束104a重叠，能够防止干涉。这样，能够减少TE信号的振幅变动。稳定地检出TE信号后，能够可靠性高地记录及再生信息。
在此，讲述上述那种部分遮光板101的一个设计例子。光学系统的条件，和第1实施方式讲述的例子相同。即使物镜在100μm的跟踪追随后移动也不会使光束104a和光束10b及10c重叠地设计。接收子光束10b及10c的受光部10e～10h，位于受光部10a～10h的两端1/3。这样，使遮光部102的纵宽为0.5mm，遮光部103的纵宽为0.5mm，在它们之间隔开0.5mm的间隔，配置这2个遮光部。遮光部102及103的横向宽度，可以是第2实施方式讲述的的0.9mm。
使用部分遮光板101后，能够减小遮光部的合计面积，所以能够减少光量由于遮光而衰减对再生信号的影响。
(第4实施方式)
接着，参照图8～图9，讲述本发明涉及的光头装置的第4实施方式。
图8是表示本实施方式的光头装置110的图。光头装置110，取代光头装置50(图2)，被光信息处理装置100搭载。光头装置110，取代衍射部61及部分遮光板62，具备衍射部111。除此以外的构成要素，和光头装置50相同。
衍射部111，局部性地具有衍射效率高的区域，具有部分遮光部的功能。衍射部111，衍射射入的光束10后，生成光束10a、10b、10c。衍射效率高的一部分区域，将射入的光束10全部衍射成子光束10b及10c，从而对于主光束10a而言，具有和部分遮光部同样的功能。
图9是表示衍射部111的图。衍射部111，具备比子光束10b及10c还多地生成主光束10a的第1部分衍射部114和比子光束10b及10c还多地生成主光束10a的第2部分衍射部112及113。第2部分衍射部112及113，是衍射效率高的高衍射效率部。
具有高衍射效率部112及113的衍射晶格，与除此以外的区域(第1部分衍射部114)相比槽深，0次衍射光10a和一个1次衍射光10b或10c的衍射效率之比，为0∶1。第1部分衍射部114的衍射效率之比，和第1实施方式一样，是20∶1。
一对高衍射效率部112及113的衍射部111内配置位置和光束10a的位置关系，与一对遮光部102及103(图7A)的配置位置和主光束10a的位置关系同样。一对高衍射效率部112及113，将射入衍射部111的光束10的断面的中心部作为基准，被对称地设置。
高衍射效率部112及113的大小，采用和遮光部102及103同样的设计，是横宽0.9mm、纵宽0.5mm、间隔0.5mm。这样配置后，能够形成和遮光区域105a及106a(图7B)同样的遮光区域，所以在光检出器30的受光部30a～30h上不会引起干涉。这样，能够减少TE信号振幅的变动，可靠性高地记录及再生信息。
使用衍射部111后，能够使遮光部和衍射部一体化，所以能够使光头110小型化，能够进一步减少制造时的工序数量。
(第5实施方式)
接着，参照图10A～图10B，讲述本发明涉及的光头装置的第5实施方式。
图10A是表示本实施方式的衍射部121的图。衍射部121，取代衍射部111(图8)，被光头装置110搭载。衍射部121，防止发生起因于所需的信息记录层以外的信息记录层反射的子光束10b及10c的干涉。
图10A是衍射部121的正面图。衍射部121被取代衍射部111(图8)使用，但是也可以被取代衍射部61(图2)使用。
衍射部121的第1部分衍射部125中的主光束10a和一个子光束10b或10c的衍射效率之比，和衍射部61(图2)相同，例如是20∶1。
主光束10a，具备生成主光束的比率比第1部分衍射部125高的第2部分衍射部(低衍射效率部)122。例如：在低衍射效率部122中，没有形成衍射晶格的槽，这时的衍射效率之比约为1∶0。低衍射效率部122，配置在射入衍射部121的光束10的断面的中心部透过的位置。射入低衍射效率部122的激光10未被衍射，全部作为0次光——主光束10a输出。
图10B是表示使光束10a～10c的焦点与所需的信息记录层21c吻合时射入光检出器30的光束10a～10c的图。这时，用信息记录层21b反射的子光束10b及10c，作为光束123b及123c，射入光检出器30。用信息记录层21b反射的主光束10a，也射入光检出器30，但是为了使说明简洁而省略。
在光束123b的中心附近的遮光区域124b中，由于低衍射效率部122没有衍射晶格的槽，所以光遮挡。在光束123c的中心附近的遮光区域124c中，也由于低衍射效率部122没有衍射晶格的槽，所以光遮挡。遮光区域124b及124c的射入位置，由于将子光束10b及10c作为基准，所以在图10B中，上下方向偏移。因此，设置低衍射效率部122，以便将受光部10a～10h收纳到遮光区域124b及124c重叠的区域内(在图10B中用白框表示)。遮光区域124b及124c，即使物镜15的位置由于跟踪追随而，偏移也位于受光部30a～30h的范围内。因此，光束123b及123c不会和光束10a～10c重叠，不会引起干涉。这样，能够减少TE信号的振幅变动。稳定地检出TE信号，从而能够可靠性高地记录及再生信息。
在这里，讲述上述那种低衍射效率部122的一个设计例子。光学系统的条件，和第1实施方式讲述的例子相同。对于用信息记录层21b反射后射入光检出器30的主光束而言，光束123b及123c的光检出器30上的位置，偏移120μm。这样，遮光区域124b及124c的纵方向的必要长度，就成为360+120×2，是600μm。将它换算成衍射部121上后，就成为2.5mm。使横方向为0.9mm，以便物镜15能够为了跟踪追随而移动100μm。
使用低衍射效率部122后，能够防止发生起因于用所需的信息记录层以外的信息记录层反射的子光束10b及10c的干涉。低衍射效率部122，能够和第1～第3实施方式的光头装置组合，能够更加完全地抑制干涉引起的TE信号的变动。
此外，在低衍射效率部122中，作为衍射晶格，也可以形成较浅的槽。只要低衍射效率部122的衍射效率，低于第1部分衍射部125即可。
(第6实施方式)
接着，参照图11～图12，讲述本发明涉及的光头装置的第6实施方式。
图11是表示本实施方式的光头装置130的图。在光头装置130中，由不同的光源生成主光束和子光束。光头装置130，取代光头装置50(图2)，被光信息处理装置100搭载。光头装置130，取代衍射部61及部分遮光板62，具备光源131、衍射部133及光束分裂器134，除此以外的构成要素，和光头装置50相同。
光源1，作为主光束，射出光束10。光源131，作为子光束，射出光束132。光束10和光束132，波长互不相同。
光源131射出光束132，被用衍射部133衍射，输出2个子光束132b及132c。光束10和2个子光束，在光束分裂器134的作用下，大致朝着同一方向，通过视准透镜11、光束分裂器63，在物镜15的作用下，被聚光到光记录介质21上。这时，子光束132b及132c，被聚光到和图27所示的子光束10b及10c相同的位置。用光记录介质21反射及衍射的3个光束，再次通过物镜15，用光束分裂器63反射，用检出透镜64聚光，通过圆柱透镜65，射入光检出器30。
图12是表示使光束10、132b及132c的焦点与所需的信息记录层21c吻合时射入光检出器30的光束10、132b及132c的图。这时，用信息记录层21b反射的主光束10，作为光束40a，射入光检出器30。用信息记录层21b反射的子光束132b及132c，也射入光检出器30，但是为了使说明简洁而省略。光束40a和光束132b及132c虽然重叠，但是由于波长互不相同，所以不会引起干涉。这样，能够减少TE信号的振幅变动。稳定地检出TE信号，从而能够可靠性高地记录及再生信息。
在光头装置130中，因为不需要在光的往路上设置遮光部等，所以能够不影响信号再生地防止干涉，能够稳定地获得TE信号。
(第7实施方式)
接着，参照图13，讲述本发明涉及的光头装置的第7实施方式。
图11是表示本实施方式的光头装置140的图。在光头装置140中，由不同的光源生成主光束和子光束。光头装置140，取代光头装置50(图2)，被光信息处理装置100搭载。与光头装置130相比，光头装置140取代光源131和衍射部133，具备光源141及142和光束分裂器145，除此以外的构成要素，和光头装置130相同。
光源1，作为主光束，射出光束10。光源141及142，作为子光束，射出光束143及144。光束10、光束143和光束144，波长互不相同。
光源141及142射出光束143及144，在光束分裂器145的作用下，朝着同一方向。进而，光束10和光束143及光束144，在光束分裂器134的作用下，大致朝着同一方向。以后的光头装置140的动作，和光头装置130一样。
光束10、光束143和光束144，由于波长互不相同，所以不会在光检出器30上引起干涉。这样，能够减少TE信号的振幅变动。稳定地检出TE信号，从而能够可靠性高地记录及再生信息。
在光头装置140中，因为不需要在光的往路上设置遮光部等，所以能够不影响信号再生地防止干涉，能够稳定地获得TE信号。
(第8实施方式)
接着，参照图14、图15A及图15B，讲述本发明涉及的光头装置的第8实施方式。
图14是表示本实施方式的光头装置150的图。光头装置150，取代光头装置50(图2)，被光信息处理装置100搭载。光头装置150，取代衍射部61及部分遮光板62，具备衍射部131及促动器152，除此以外的构成要素，和光头装置50相同。促动器152，作为使衍射部151向垂直于衍射部151的衍射晶格的槽延伸的方向的方向摇动的摇动部发挥作用。使衍射部151摇动，从而在时间上将干涉条纹平均化。
图15A是衍射部151的正面图，表示出衍射部151的移动方向。衍射晶格的槽横向形成，纵向产生衍射光。移动方向153，是和衍射光产生的方向相同的方向(纵向)。
图12是表示使光束10、132b及132c的焦点与所需的信息记录层21c吻合时射入光检出器30的光束10、132b及132c的图。这时，用信息记录层21b反射的主光束10，作为光束40a，射入光检出器30。用信息记录层21b反射的子光束132b及132c，也射入光检出器30，但是为了使说明简洁而省略。光束40a和光束132b及132c虽然重叠，但是随着衍射晶格移动后，光束10b及10c的相位变化，干涉条纹随着时间而移动。因此，干涉条纹引起的信号的变动被平均化。
在这里，讲述上述那种衍射部151及促动器152的一个设计例子。光学系统的条件，和第1实施方式讲述的例子相同。使光记录介质21上的主光束和子光束的间隔为5μm、光束10a的波长为405nm后，衍射部151的衍射晶格的间距就成为162μm。如果使跟踪伺服的增益交点为5kHz，可以用5kHz将TE信号平均化，那么为了使干涉条纹的明暗反转，只要用0.2msec移动81μm即可。即只要用平均速度0.4m/sec使衍射部151摇动即可。
在光头装置150中，因为不需要在光的往路上设置遮光部等，所以能够不影响信号再生地防止干涉，能够稳定地获得TE信号。
(第9实施方式)
接着，参照图16，讲述本发明涉及的光头装置的第9实施方式。图16是表示本实施方式的光头装置160的图。光头装置160，取代光头装置50(图2)，被光信息处理装置100搭载。光头装置160，取代光源1，具备可干涉性低的光源161，还不具备部分遮光板62。光头装置160的除此以外的构成要素，和光头装置50相同。
光源161射出光束10，在用信息记录层21b反射时和用信息记录层21c反射时，通过只有距离2×d1×n不同的距离后，到达光检出器30。在这里，d1是信息记录层之间的距离，n是信息记录层之间的中间物质的折射率。为了不在光检出器30上引起干涉，光源161射出的光束10的可干涉距离L，只要短到不会因该距离差引起干涉的程度即可。就是说，只要2·d1·n＞L即可。可干涉距离L的长度，能够通过光源161的元件设计来设定。另外，可干涉距离L的长度，还能够通过调整与供给光源161的驱动电流重叠的高频电流来设定。
作为一个例子，使d1的最小距离为20μm、n为1.60后，可干涉距离L小于64μm即可。
在光头装置160中，因为不需要在光的往路上设置遮光部等，所以能够不影响信号再生地防止干涉，能够稳定地获得TE信号。
(第10实施方式)
接着，参照图17～图22，讲述本发明涉及的光头装置的第10实施方式。图17是表示本实施方式的光头装置170的图。光头装置170，取代光头装置50(图2)，被光信息处理装置100搭载。光头装置170，取代光检出器30，具备光检出器173，还进而具备全息照相元件171。光头装置170，不具备衍射部61及部分遮光板62。光头装置170的除此以外的构成要素，和光头装置50相同。光头装置170，采用1光束跟踪法，使检出的跟踪信号稳定。
光源1射出光束10，通过视准透镜11、偏振光束分裂器63，在物镜15的作用下，被聚光到光记录介质21上。用光记录介质21反射及衍射的光束10，再次通过物镜15，用光束分裂器63反射，射入全息照相元件(分岔部)171。光束10被全息照相元件171区域分割，一部分光束10被衍射，成为衍射光172。光束10和被衍射的光束172，用检出透镜64聚光后，射入光检出器173。
图18是全息照相元件171的正面图。用虚线表示射入全息照相元件171的光束10的断面。光束10，用信息记录层21的轨道反射时，被衍射，包含0次衍射光、+1次衍射光及-1次衍射光。光束10，包含0次衍射光和+1次衍射光干涉的第1干涉部分175和0次衍射光和-1次衍射光干涉的第2干涉部分176。
全息照相元件171，被分作多个区域。全息照相元件171，具有透过第1干涉部分175的第1主区域171A、透过第2干涉部分176的第2主区域171B、第1子区域171C及C171D、第2子区域171E及171F。
第1主区域171A和第2主区域171B，将全息照相元件171的中心部作为基准，对称配置。第1子区域171C及171D，包含替换部171G；第2子区域171E及171F，包含替换部171H。替换部171G及171H的详情后述。第1子区域171C及171D，被C字形地围住第1主区域171A的外周部地配置。第2子区域171E及171F，被C字形地围住第2主区域171B的外周部地配置。
第1及第2子区域171C～171F，是第1干涉部分175透过的比例低于第1主区域171A而且第2干涉部分176透过的比例低于第2主区域171B的区域。第1及第2干涉部分175及176，几乎不透过第1及第2子区域171C～171F。第1子区域171C及171D和第2子区域171E及171F，被分割线178分开。分割线178，沿着光束10的断面中的第1及第2干涉部分175及176的长度方向延伸，分割线178的延长线，通过光束10的断面的中心部透过的位置。分割线178延伸的方向，是和将光记录介质21上的轨道投影到全息照相元件171上时的轨道方向大致平行的方向。全息照相元件171，还具备光束10的断面的中心部透过的中央伪区域171I。
图19是表示光检出器173和生成TE信号的信号生成部b的图。信号生成部55b，可以被设置在第2控制部55(图1)中。参照图18及图19，全息照相元件171，衍射光束10后，分岔成第1及第2主光束172A及172B和第1及第2子光束172C～172F。第1主光束172A，是透过第1主区域171A的光束。第2主光束172B，是透过第2主区域171B的光束。第1子光束172C及172D，是透过第1子区域171C及171D的光束。第2子光束172E及172F，是透过第2子区域171E及171F的光束。透过中央伪区域171I的光束10，射入光检出器173受光部173a～173d。
全息照相元件171，还具备衍射光束10的替换部171G及171H，从而使第1子光束172C及172D的一部分和第2子光束172E及172F的一部分替换。替换部171G，配置在第1子区域171C及171D内。替换部171H，配置在第2子区域171E及171F内。替换部171G，配置在第1主区域171A和中央伪区域171I之间；替换部171H，配置在第2主区域171B和中央伪区域171I之间。
光检出器173，具备第1受光部173e、第2受光部173f、第3受光部173g及第4受光部173h。第1主光束172A，射入第1受光部173e。第2主光束172B，射入第2受光部173f。第1子光束172C及172D，和替换的第2子光束的一部分172H，射入相同的第3受光部173g。第2子光束172E及172F，和替换的第1子光束的一部分172G，射入相同的第4受光部173h。透过中央伪区域171I的伪光束——光束10，不射入第1～第4受光部173e～173h，而射入受光部173a～173d。
生成TE信号之际，在用同极性将接收光束172C、172D、172H后获得的信号相加的同时，还用同极性将接收光束172E、172FD、172G后获得的信号相加。这样，越过分割线178地替换接收第1子光束的一部分172G和第2子光束的一部分172H后，进行演算。
在这里，假设使用光检出器173单独接收区域171A～171I衍射的激光时获得的信号，分别为171AI～171II。经过与主区域对应的信号的差动演算171AI-171BI，可以获得轨道横断信号。另外，将与子区域对应的信号的差动演算，定为(171CI+171DI+171HI)-(171EI+171FI+171GI)。将常数k和与子区域对应的差动演算结果相乘，获得和与主区域对应的差动演算之差，从而取消物镜15由于跟踪追随而移动时产生的TE信号的偏置。因此，即使物镜15移动，也能获得稳定的TE信号。使物镜15移动时TE信号出现的的偏置成为最小地决定常数k。
参照图19，第1受光部173e，输出与接收的光量对应的第1信号173eI。第2受光部173f，输出与接收的光量对应的第1信号173fI。第3受光部173g，输出与接收的光量对应的第1信号173gI。第4受光部173h，输出与接收的光量对应的第1信号173hI。
差动演算部190，演算信号173eI和信号173fI之差后，输出差动信号190I。差动信号190I，是主要包含轨道横断成分的信号。差动信号190I，与光记录介质21的偏心对应，使物镜15跟踪追随后，就产生与跟踪追随对应的偏置的变动。
差动演算部191，演算信号173gI和信号173hI之差后，输出差动信号191I。差动信号191I，输入可变增益放大部192，调整差动信号191I的增益后，被放大或衰减成所需的信号强度。这时的放大度是k。可变增益放大部192输出的信号192I，具有和与差动信号190I的跟踪追随对应的偏置的变动相同的变动。此外，也可以对差动信号190I的增益，进行调整。
差动演算部193，演算差动信号190I和差动信号192I之差，减少差动信号190I具有的偏置变动。差动演算部193输出的差动信号193I，是即使跟踪追随也几乎没有偏置变动的信号。由于使差动信号193I原封不动，其信号强度就随着信息记录层21b及21c的反射率及照射光记录介质21的光束的强度的变化而变化，所以输入除法部194，使其成为一定的振幅。受光部173a～173d输出的信号173aI～173dI，被用加法部195进行加法运算。加法部195输出的加法信号195I，作为进行除法运算的信号，输入除法部194。加法信号195I，是与信息记录层21b及21c的反射率及照射光记录介质21的光束的强度成正比信号；除法部194输出的信号194I，成为具有所需的强度的信号。
利用上述特征，具有图20所示的那种纵向有强有弱的光量分布的光，进入全息照相元件171，即使物镜15的位置由于跟踪追随而移动时，TE信号也不容易产生偏置。这是因为物镜15移动后，光量的强弱分布，例如即使由主区域171A移动到子区域171C及C171D，也由于与透过替换部171G的光束对应的信号成为反极性，所以能够抑制TE信号发生偏置的缘故。此外，这种有强有弱的光量分布，由光学元件的加工痕迹及缝隙的边缘的衍射引起。例如：有强有弱的光量分布，由具有圆柱面及特立克面的光学元件(进行光束的强度分布补偿的修整器等)的加工痕迹及缝隙的边缘的衍射引起。在制造具有圆柱面及特立克面的光学元件时，对元件表面及金属模具面的加工不能够使用采用旋转运动的研磨，而需要进行采用使用2轴的运动的研磨，在轴上容易残留平行的加工痕迹。由于通过该加工痕迹的光的衍射的方向稍微偏移，所以产生纵纹或横纹的强度分布。在光路中配置这种光学元件时，光头装置搭载全息照相元件171后，能够抑制TE信号的偏置，能够获得稳定的跟踪信号。
图21是表示在搭载全息照相元件171的光头装置中，物镜15移动时的TE信号的偏置的变化的一个例子。图22是表示在现有技术的光头装置中，物镜15移动时的TE信号的偏置的变化的一个例子。
在现有技术的光头装置中，与透过区域171C、C171D、171G的光束对应的信号，被进行加法运算。另外，与透过区域171E、C171F、171H的光束对应的信号，被进行加法运算。因此，光量的强弱的分布移动时，不能够抑制该变动，TE信号的偏置急剧变化。
如图22所示，在现有技术的光头装置中，透镜移动100μm时，TE信号的偏置发生15％左右的变化。另一方面，如图21所示，在搭载全息照相元件171的光头装置中，透镜移动100μm时，TE信号的偏置被抑制成5％左右的变化。
这样，光头装置搭载全息照相元件171后，能够抑制采用1光束跟踪法的装置中产生的TE信号的偏置，能够稳定地获得跟踪信号。
此外，使光束10及172A～172H用检出透镜64聚光后，射入受光部173a～173h后，在能够进一步抑制正规的光束和杂散光的干涉的同时，还能够缩小光检出器173的受光面的面积。
(第11实施方式)
接着，参照图23～图25，讲述本发明涉及的光头装置的第11实施方式。
图23是表示本实施方式的全息照相元件200的图。全息照相元件200(图18)，被光信息处理装置170搭载。
图23是全息照相元件200的正面图。用虚线174表示射入全息照相元件200的光束10的断面。光束10，包含第1干涉部分175和第2干涉部分176。
全息照相元件200(分岔部)，不分为多个区域。全息照相元件200，具备第1干涉部分175透过的第1主区域200A、第2干涉部分176透过的第2主区域200B、第1子区域200C及C200D、第2子区域200E及C200F。
第1主区域200A和第2主区域200B，将全息照相元件200的中心部作为基准，对称配置。第1子区域200C及C200D，沿着光束10的断面中的第1及第2干涉部分175及176的长度方向，将第1主区域200A夹在其间地配置。第2子区域200E及C200F，沿着第1及第2干涉部分175及176的长度方向，将第2主区域200B夹在其间地配置。被C字形地围住第2主区域171B的外周部地配置。
第1及第2子区域200C～200F，是第1干涉部分175透过的比例低于第1主区域200A而且第2干涉部分176透过的比例低于第2主区域200B的区域。第1及第2干涉部分175及176，几乎不透过第1及第2子区域171C～171F。
第1子区域200C及200D和第2子区域200E及200F，被分割线203分开。分割线203，沿着光束10的断面中的第1及第2干涉部分175及176的长度方向延伸，分割线203的延长线，通过光束10的断面的中心部透过的位置。分割线203延伸的方向，是和将光记录介质21上的轨道投影到全息照相元件200上时的轨道方向大致平行的方向。全息照相元件200，还具备光束10的断面的中心部透过的中央伪区域200G。
中央伪区域200G，被分割线201及202和主区域200A及200B包围。分割线201及202，跨越主区域200A及200B地延伸。子区域200C～200F，被配置在分割线201及202的外侧。中央伪区域200G，位于包含全息照相元件200的中心部的位置，被子区域200C～200F和主区域200A及200B包围。
图24是表示光检出器173的图。参照图23及图24，全息照相元件200，衍射光束10后，分岔成第1及第2主光束204A及204B和第1及第2子光束204C～204F。第1主光束204A，是透过第1主区域200A的光束。第2主光束204B，是透过第2主区域200B的光束。第1子光束204C及200D，是透过第1子区域200C及200D的光束。第2子光束204E及204F，是透过第2子区域200E及200F的光束。透过中央伪区域200G的光束10，射入受光部173a～173d。
第1主光束204A，射入第1受光部173e。第2主光束204B，射入第2受光部173f。第1子光束204C及204D，射入第3受光部173g。第2子光束204E及204F，射入第4受光部173h。透过中央伪区域200G的伪光束——光束10，不射入第1～第4受光部173e～173h，而射入受光部173a～173d。
接着，讲述生成跟踪信号的方法。假设使用光检出器173单独接收区域200A～200G衍射的激光时获得的信号，分别为200AI～200GI。经过与主区域200A及200B对应的信号的差动演算200AI-200BI，可以获得轨道横断信号。另外，将与子区域对应的信号的差动演算，定为(200CI+200DI)-(200EI+200FI)。将常数k和与子区域对应的差动演算结果相乘，获得和与主区域对应的差动演算之差，从而取消物镜15由于跟踪追随而移动时产生的TE信号的偏置。因此，即使物镜15移动，也能获得稳定的TE信号。使物镜15移动时TE信号出现的偏置成为最小地决定常数k。
如参照图19讲述的那样，受光部173e～173h，各自输出与接收的光量对应的信号173aI～173hI。信号173aI～173hI的演算方法，和参照图19讲述的方法相同。
利用上述特征，具有图20所示的那种纵向有强有弱的光量分布的光，进入全息照相元件200，即使物镜15的位置由于跟踪追随而移动时，TE信号也不容易产生偏置。这是因为物镜15移动后，光量的强弱分布，例如即使由主区域200A移动到中央伪区域200G，也由于生成TE信号时不使用透过中央伪区域200G的光束，所以能够抑制跟踪信号发生偏置的缘故。
图25是表示在搭载全息照相元件200的光头装置中，物镜15移动时的TE信号的偏置的变化的一个例子。使用全息照相元件200后，透镜移动100μm时，也能够将TE信号的偏置抑制成3％左右的变化。
参照图23，和主区域200A及200B的每一个重叠的光束10的断面的横向长度，均为光束10的直径的30％。这样，中央伪区域200G的横向的狭窄的部分的宽度，就成为光束直径的40％的长度。如果使物镜15的NA为8.5、轨道间距为0.32μm、激光的波长为405nm后，干涉区域175及176的各横宽，就成为光束直径的25％。在这里，考虑到物镜15追随轨道的偏心而移动时的冗余量，使和主区域200A及200B的每一个重叠的光束10的断面的横向长度，均为光束10的直径的30％。另外，该比例还是正好能够抑制在光记录介质21的信息记录完毕的区域和未记录信息的区域的交界处发生的轨道信号的偏置的比例。和主区域200A及200B的每一个重叠的光束10的断面的横向长度，是(干涉区域的宽度)+0～5％为最佳。0～5％表示和光束直径之比。
这样，光头装置搭载全息照相元件200后，能够抑制采用1光束跟踪法的装置中产生的TE信号的偏置，能够稳定地获得跟踪信号。
此外，使光束10及204A～204F用检出透镜64聚光后，射入受光部173a～173h后，在能够进一步抑制正规的光束和杂散光的干涉的同时，还能够缩小光检出器173的受光面的面积。
如上所述，本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、聚光部(该聚光部使所述光束在具有轨道的光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述被反射的光束，包含0次衍射光、+1次衍射光及-1次衍射光；所述被反射的光束，包含所述0次衍射光和所述+1次衍射光干涉的第1干涉部分和所述0次衍射光和所述-1次衍射光干涉的第2干涉部分；所述分岔部，具有所述第1干涉部分透过的第1主区域、所述第2干涉部分透过的第2主区域、所述第1干涉部分透过的比例低于所述第1主区域而且所述第2干涉部分透过的比例低于所述第2主区域的第1及第2子区域，被向所述被反射的光束的断面的所述第1及第2干涉部分的长度方向延伸的分割线，分成所述第1子区域和所述第2子区域；所述分岔部，将所述被反射的光束，分岔成透过所述第1主区域的第1主光束、透过所述第2主区域的第2主光束、透过所述第1子区域的第1子光束、透过所述第2子区域的第2子光束；所述分岔部，还具备替换部，该替换部替换所述第1子光束的一部分和所述第2子光束的一部分。
采用某种实施方式后，所述光检出部，具备第1受光部、第2受光部、第3受光部及第4受光部；所述第1主光束，射入所述第1受光部；所述第2主光束，射入所述第2受光部；所述第1子光束和所述替换的第2子光束的一部分，射入相同的所述第3受光部；所述第2子光束和所述替换的第1子光束的一部分，射入相同的所述第4受光部。
采用某种实施方式后，所述分割线，通过所述分岔部中的所述被反射光束的断面的中心部透过的位置。
采用某种实施方式后，所述分岔部，还具备所述被反射光束的断面的中心部透过的中央伪区域；所述分岔部，进而将所述被反射的光束，分岔成透过所述中央伪区域的伪光束；所述伪光束，不射入所述第1～第4受光部。
采用某种实施方式后，具备一对所述替换部；所述替换部的一个，位于所述第1主区域和所述中央伪区域之间；所述替换部的另一个，位于所述第2主区域和所述中央伪区域之间。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光信息处理装置，是具备上述光头装置和控制部(该控制部根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置)的光信息处理装置，所述第1主光束射入的所述第1受光部，输出与接收的光量对应的第1信号；所述第2主光束射入的所述第2受光部，输出与接收的光量对应的第2信号；所述第1子光束和所述替换的第2子光束的一部分射入的所述第3受光部，输出与接收的光量对应的第3信号；所述第2子光束和所述替换的第1子光束的一部分射入的所述第4受光部，输出与接收的光量对应的第4信号；所述光信息处理装置，进而具备生成部，该生成部生成跟踪误差信号；所述生成部，具备第1差动演算部(该第1差动演算部演算所述第1信号和所述第2信号之差，生成第1差动信号)、第2差动演算部(该第2差动演算部演算所述第3信号和所述第4信号之差，生成第2差动信号)、调整部(该调整部调整所述第1差动信号和所述第2差动信号中的至少一个的增益)、第3差动演算部(该第3差动演算部演算所述第1差动信号和所述第2差动信号之差，生成第3差动信号)。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、聚光部(该聚光部使所述光束在具有轨道的光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述被反射的光束，包含0次衍射光、+1次衍射光及-1次衍射光；所述被反射的光束，包含所述0次衍射光和所述+1次衍射光干涉的第1干涉部分和所述0次衍射光和所述-1次衍射光干涉的第2干涉部分；所述分岔部，具有所述第1干涉部分透过的第1主区域、所述第2干涉部分透过的第2主区域、所述第1干涉部分透过的比例低于所述第1主区域而且所述第2干涉部分透过的比例低于所述第2主区域的第1及第2子区域，被向所述被反射的光束的断面的所述第1及第2干涉部分的长度方向延伸的分割线，分成所述第1子区域和所述第2子区域；所述分岔部，还具备所述被反射光束的断面的中心部透过的中央伪区域；所述中央伪区域，被所述第1及第2主区域和所述第1及第2子区域包围；所述分岔部，将所述被反射的光束，分岔成透过所述第1主区域的第1主光束、透过所述第2主区域的第2主光束、透过所述第1子区域的第1子光束、透过所述第2子区域的第2子光束、透过所述中央伪区域的伪光束；所述光检出部，具备第1受光部、第2受光部、第3受光部及第4受光部；所述第1主光束，射入所述第1受光部；所述第2主光束，射入所述第2受光部；所述第1子光束，射入所述第3受光部；所述第2子光束，射入所述第4受光部；所述伪光束，不射入所述第1～第4受光部。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
采用某种实施方式后，所述第1主光束射入的所述第1受光部，输出与接收的光量对应的第1信号；所述第2主光束射入的所述第2受光部，输出与接收的光量对应的第2信号；所述第1子光束射入的所述第3受光部，输出与接收的光量对应的第3信号；所述第2子光束射入的所述第4受光部，输出与接收的光量对应的第4信号；所述装置，进而具备生成部，该生成部生成跟踪误差信号；所述生成部，具备第1差动演算部(该第1差动演算部演算所述第1信号和所述第2信号之差，生成第1差动信号)、第2差动演算部(该第2差动演算部演算所述第3信号和所述第4信号之差，生成第2差动信号)、调整部(该调整部调整所述第1差动信号和所述第2差动信号中的至少一个的增益)、第3差动演算部(该第3差动演算部演算所述第1差动信号和所述第2差动信号之差，生成第3差动信号)。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、衍射部(该衍射部根据所述光束，生成多个衍射光束)、聚光部(该聚光部使所述多个衍射光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的多个衍射光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的多个衍射光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述多个衍射光束，包含0次衍射光——主光束、1次以上的衍射光——第1及第2子光束；所述光头装置，被设置在所述光源和所述聚光部之间的光路上，还具备部分遮光部，该部分遮光板部遮挡所述主光束的一部分。
采用某种实施方式后，所述部分遮光部，对包含所述主光束的断面的中心部的部分进行遮光。
采用某种实施方式后，所述光记录介质，具备多个记录层；所述部分遮光部遮挡的所述主光束的一部分，是相当于使所述主光束的焦点与规定的记录层吻合时，用所述规定的记录层以外的记录层反射的所述主光束中射入所述光检出部的受光部的部分的部分。
采用某种实施方式后，所述部分遮光部，对将所述主光束的断面的中心部作为基准处于对称位置的2个部分进行遮光。
采用某种实施方式后，所述光记录介质，具备多个记录层；所述光检出部，具备第1受光部、将所述第1受光部作为基准对称配置的第2及第3受光部；所述部分遮光部遮挡的所述主光束的一部分，是相当于使所述主光束的焦点与规定的记录层吻合时，用所述规定的记录层以外的记录层反射的所述主光束中射入所述第2及第3受光部的部分的部分。
采用某种实施方式后，还具备视准透镜，该视准透镜设置在所述光源和所述部分遮光部之间的光路上，将光源射出的光束，变换成平行光束；所述部分遮光部，对所述平行光束的一部分进行遮光。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、
衍射部(该衍射部根据所述光束，生成多个衍射光束)、聚光部(该聚光部使所述多个衍射光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的多个衍射光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的多个衍射光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述多个衍射光束，包含0次衍射光——主光束、1次以上的衍射光——第1及第2子光束；所述衍射部，具备第1部分衍射部(该第1部分衍射部比所述第1及第2子光束多地生成所述主光束)和第2部分衍射部(该第2部分衍射部比所述主光束多地生成所述第1及第2子光束)。
采用某种实施方式后，具备一对所述第2部分衍射部，所述一对第2部分衍射部，将射入所述衍射部的光束的断面的中心部作为基准，处于对称的位置。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、衍射部(该衍射部根据所述光束，生成多个衍射光束)、聚光部(该聚光部使所述多个衍射光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的多个衍射光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的多个衍射光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述多个衍射光束，包含0次衍射光——主光束、1次以上的衍射光——第1及第2子光束；所述衍射部，具备第1部分衍射部(该第1部分衍射部比所述第1及第2子光束多地生成所述主光束)和第2部分衍射部(该第2部分衍射部比所述主光束多地生成所述第1及第2子光束)；所述第2部分衍射部，配置在射入所述衍射部的光束的断面的中心部透过的位置。
采用某种实施方式后，在所述第2部分衍射部中，没有设置衍射晶格。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光头装置，其特征在于：是被使用所述主光束及子光束生成跟踪误差信号的装置搭载的光头装置，所述光头装置，具备第1光源(该第1光源射出所述主光束)、第2光源(该第2光源射出所述子光束)、聚光部(该聚光部使所述主光束及所述子光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的所述主光束及所述子光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的所述主光束及所述子光束，输出与接收的光量对应的信号)；所述主光束和所述子光束，波长互不相同。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、衍射部(该衍射部根据所述光束，生成多个衍射光束)、聚光部(该聚光部使所述多个衍射光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的多个衍射光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的多个衍射光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述衍射部，具有衍射晶格；所述光头装置，还具备摇动部，该摇动部使所述衍射部向垂直于所述衍射晶格的槽延伸的方向的方向摇动。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光头装置，其特征在于：是具备光源(该光源射出光束)、衍射部(该衍射部根据所述光束，生成多个衍射光束)、聚光部(该聚光部使所述多个衍射光束在光记录介质上聚光)、分岔部(该分岔部将用所述光记录介质反射的多个衍射光束分岔)、光检出部(该光检出部接收所述被分岔的多个衍射光束，输出与接收的光量对应的信号)的光头装置，所述光记录介质，具备多个记录层；使所述光源射出的光束的可干涉距离为L、两个记录层之间的距离为d、位于所述两个记录层之间的介质的折射率为n时，2·d·n＞L。
本发明的光信息处理装置，具备上述光头装置，和根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
本发明的光头装置及光信息处理装置，在旨在进行数据的光学性的记录及/或再生的技术领域中，特别有用。

Claims (10)

1.一种光头装置，具备：
光源，该光源射出光束；
聚光部，该聚光部使所述光束在具有轨道的光记录介质上聚光；
分岔部，该分岔部将由所述光记录介质反射的光束分岔；以及
光检出部，该光检出部接收所述被分岔的光束，输出与接收的光量对应的信号，
所述被反射的光束，包含0次衍射光、+1次衍射光及-1次衍射光；
所述被反射的光束，包含所述0次衍射光与所述+1次衍射光干涉的第1干涉部分、和所述0次衍射光与所述-1次衍射光干涉的第2干涉部分；
所述分岔部，具有：
所述第1干涉部分透过的第1主区域、
所述第2干涉部分透过的第2主区域、以及
所述第1干涉部分透过的比例低于所述第1主区域而且所述第2干涉部分透过的比例低于所述第2主区域的第1及第2子区域，
由向所述被反射的光束的断面的所述第1及第2干涉部分的长度方向延伸的分割线，将所述第1子区域与所述第2子区域分开；
所述分割线或所述分割线的延长线，通过所述被反射的光束的断面的中心部透过的位置，
所述第1子区域的一部分，配置在所述被反射的光束的断面的中心部透过的位置与所述第1主区域之间，
所述第2子区域的一部分，配置在所述被反射的光束的断面的中心部透过的位置与所述第2主区域之间，
所述分岔部，将所述被反射的光束，分岔成：
透过所述第1主区域的第1主光束、
透过所述第2主区域的第2主光束、
透过所述第1子区域的第1子光束、以及
透过所述第2子区域的第2子光束；
所述分岔部，还具备第1及第2替换部，该第1及第2替换部交换替换所述第1子光束的一部分与所述第2子光束的一部分，
所述第1替换部，配置在所述第1子区域中的所述被反射的光束的断面的中心部透过的位置与所述第1主区域之间，
所述第2替换部，配置在所述第2子区域中的所述被反射的光束的断面的中心部透过的位置与所述第2主区域之间。
2.如权利要求1所述的光头装置，其特征在于：所述光检出部，具备第1受光部、第2受光部、第3受光部及第4受光部；
所述第1主光束，射入所述第1受光部；
所述第2主光束，射入所述第2受光部；
所述第1子光束与所述替换的第2子光束的一部分，射入相同的所述第3受光部；
所述第2子光束和所述替换的第1子光束的一部分，射入相同的所述第4受光部。
3.如权利要求1所述的光头装置，其特征在于：所述分割线，通过所述分岔部中的所述被反射光束的断面的中心部透过的位置。
4.如权利要求2所述的光头装置，其特征在于：所述分岔部，还具备所述被反射光束的断面的中心部透过的中央伪区域；
所述分岔部，进而将所述被反射的光束，分岔成透过所述中央伪区域的伪光束；
所述伪光束，不射入所述第1～第4受光部。
5.如权利要求4所述的光头装置，其特征在于：具备一对所述替换部；
所述替换部的一个，位于所述第1主区域与所述中央伪区域之间；
所述替换部的另一个，位于所述第2主区域与所述中央伪区域之间。
6.一种光信息处理装置，具备：
权利要求1所述的光头装置；和
根据所述光检出部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
7.一种光信息处理装置，具备：
光头装置，该光头装置是权利要求2所述的光头装置；和
控制部，该控制部根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置，
射入所述第1主光束的所述第1受光部，输出与接收的光量对应的第1信号；
射入所述第2主光束的所述第2受光部，输出与接收的光量对应的第2信号；
射入所述第1子光束和所述替换的第2子光束的一部分的所述第3受光部，输出与接收的光量对应的第3信号；
射入所述第2子光束和所述替换的第1子光束的一部分的所述第4受光部，输出与接收的光量对应的第4信号；
所述光信息处理装置，进而具备生成部，该生成部生成跟踪误差信号；
所述生成部，具备：
第1差动演算部，该第1差动演算部演算所述第1信号与所述第2信号之差，生成第1差动信号；
第2差动演算部，该第2差动演算部演算所述第3信号与所述第4信号之差，生成第2差动信号；
调整部，该调整部调整所述第1差动信号和所述第2差动信号中的至少一个的增益；以及
第3差动演算部，该第3差动演算部演算所述第1差动信号与所述第2差动信号之差，生成第3差动信号。
8.一种光头装置，具备：
光源，该光源射出光束；
聚光部，该聚光部使所述光束在具有轨道的光记录介质上聚光；
分岔部，该分岔部将用所述光记录介质反射的光束分岔；以及
光检出部，该光检出部接收所述被分岔的光束，输出与接收的光量对应的信号，
所述被反射的光束，包含0次衍射光、+1次衍射光及-1次衍射光；
所述被反射的光束，包含所述0次衍射光与所述+1次衍射光干涉的第1干涉部分、和所述0次衍射光与所述-1次衍射光干涉的第2干涉部分；
所述分岔部，具有：
所述第1干涉部分透过的第1主区域、
所述第2干涉部分透过的第2主区域、以及
所述第1干涉部分透过的比例低于所述第1主区域而且所述第2干涉部分透过的比例低于所述第2主区域的第1及第2子区域，
由向所述被反射的光束的断面的所述第1及第2干涉部分的长度方向延伸的分割线，将所述第1子区域和所述第2子区域分开；
所述分岔部，还具备所述被反射光束的断面的中心部透过的中央伪区域；
所述中央伪区域，被所述第1及第2主区域和所述第1及第2子区域包围；
所述分岔部，将所述被反射的光束，分岔成：
透过所述第1主区域的第1主光束、
透过所述第2主区域的第2主光束、
透过所述第1子区域的第1子光束、
透过所述第2子区域的第2子光束、以及
透过所述中央伪区域的伪光束；
所述光检出部，具备第1受光部、第2受光部、第3受光部及第4受光部；
所述第1主光束，射入所述第1受光部；
所述第2主光束，射入所述第2受光部；
所述第1子光束，射入所述第3受光部；
所述第2子光束，射入所述第4受光部；
所述伪光束，不射入所述第1～第4受光部，而射入所述光检出部具有的其它多个受光部。
9.一种光信息处理装置，其特征在于，具备：
权利要求8所述的光头装置；和
根据所述受光部输出的信号，控制所述光头装置的控制部。
10.如权利要求9所述的信息处理装置，其特征在于：射入所述第1主光束的所述第1受光部，输出与接收的光量对应的第1信号；
射入所述第2主光束的所述第2受光部，输出与接收的光量对应的第2信号；
射入所述第1子光束的所述第3受光部，输出与接收的光量对应的第3信号；
射入所述第2子光束的所述第4受光部，输出与接收的光量对应的第4信号；
所述装置，进而具备生成部，该生成部生成跟踪误差信号；
所述生成部，具备：
第1差动演算部，该第1差动演算部演算所述第1信号与所述第2信号之差，生成第1差动信号；
第2差动演算部，该第2差动演算部演算所述第3信号与所述第4信号之差，生成第2差动信号；
调整部，该调整部调整所述第1差动信号和所述第2差动信号中的至少一个的增益；以及
第3差动演算部，该第3差动演算部演算所述第1差动信号与所述第2差动信号之差，生成第3差动信号。
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