CN101644790A - 衍射光栅、光拾取器和光盘装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种衍射光栅、光拾取器和光盘装置。当再现使记录层多层化了的光盘时，由于从再现层以外的记录层反射的杂散光和信号光在光检测器的受光面上重叠在两者之间发生干涉现象，结果不要的干扰成分漏入到各种检测信号和再现信号中。为此，本发明在光检测器前面或归路光路中配置具有特殊的光栅槽图案的衍射光栅。通过用这样的光学手段，将由信号光和杂散光的干涉引起的干扰成分平均化，能够良好地改善漏入的影响。

Description

衍射光栅、光拾取器和光盘装置

技术领域

本发明涉及具有预定光栅槽图案的衍射光栅，备有该衍射光栅的光拾取器和搭载了该光拾取器的光盘装置，特别是涉及对从具有多层的信号记录层的光学信息记录介质(以下为了简单起见，记为光盘。)再现信息信号或将信息信号记录在上述光盘中有效的光学手段。

背景技术

近年来，作为实现光盘记录容量的大容量化的手段，信号记录层的多层化技术正在急速地普及。这里所说的记录层的多层化是在同一光盘内以一定的层间隔δ叠层多个信号记录层，利用这样的记录层多层化的技术对由已有的单层的记录层构成的光盘能够大致倍增或其以上地增大它的记录容量。

可是，为了从这样的多层化了的光盘内的所希望的信号记录层高精度并且稳定地检测出信息信号和用于将激光稳定并且高精度地会聚在该记录层的预定的记录道上的聚焦和跟踪控制信号，需要用于良好地除去来自所希望的信号记录层以外的记录层的不要的反射光(以下为了简单起见将来自其它层的不要的反射光记为杂散光)的影响的技术手段。关于将除去这样的多层光盘的杂散光作为目的的光学手段，例如在下列专利文献1等中已经揭示了几种光学技术或装置。

[专利文献1]日本特开2005-203090号专利公报

发明内容

但是，用以上述专利文献等为代表的已有的杂散光除去手段，不能够得到对为了得到良好的再现信号或控制信号而足够的杂散光除去性能，并且不仅是杂散光而且重要的信息信号再现光的一部分也不能够用光检测器接收到杂散光，结果，相反地产生了再现的信息信号的品质恶化和光利用效率降低等的弊害。

根据以上状况，本发明的目的是提供良好地除去当多层光盘再现时引起再现的信息信号的品质恶化和光利用效率降低等的弊害的上述杂散光的影响，具有高可靠性的光拾取器和光盘装置。

为了达到上述目的，提供一种衍射光栅，该衍射光栅具有以预定的周期和槽深周期地配置的多个连续槽，其特征在于：该衍射光栅的光栅面分割成多个预定形状的微小区域，该各微小区域内的上述连续槽以在相互邻接的上述微小区域之间相位偏移预定量或随机地偏移的状态形成。

此外，提供一种光拾取器，具有半导体激光器光源、将从该半导体激光器光源发出的激光束会聚在光学信息记录介质内具有的预定记录层上的物镜、和分别独立地接受在上述记录层反射的上述主光束和副光束检测出预定信号的光检测器，其特征在于：在上述物镜和上述光检测器之间的光路中，配置了上述衍射光栅。

此外，提供一种光盘装置，其特征在于：该光盘装置具有上述光拾取器，并且具有由该光拾取器再现记录在以预定间隔设置在光学信息记录介质内的多个记录层中的信息信号或将上述信息信号记录在上述记录层中的功能。

根据本发明，能够提供具有高可靠性的光拾取器和光盘装置。

附图说明

图1是表示本发明的光拾取器的第1实施例的概略正面图。

图2是用于说明2层光盘中发生杂散光的机理的主要部分放大图。

图3是表示本发明的衍射光栅的光栅槽图案的第1实施例的概略平面图。

图4是表示本发明中的光检测器受光面上的检测光点和杂散光点的状态的概略平面图。

图5是表示本发明的衍射光栅的光栅槽图案的第2实施例的概略平面图。

图6是表示本发明的衍射光栅的光栅槽图案的第3实施例的概略平面图。

图7是表示本发明的光拾取器的第2实施例的概略正面图。

图8是放大显示本发明的光拾取器的第2实施例主要部分的概略正面图。

图9是表示在本发明的光拾取器的第2实施例中用的光检测器的受光面形状、配置图案和检测信号的运算电路的概略的平面图。

图10是表示搭载了本发明的光拾取器的光盘装置的概要的方框图。

其中：

1……半导体激光器光源，7……物镜，8……多层光盘，10……半透镜，20……衍射光栅，40、41、45……光检测器

具体实施方式

下面，说明用于实施本发明的具体结构。

[实施例1]

首先参照附图说明本发明的第1实施例中的光拾取器的结构。图1是表示作为本发明的第1实施例的光拾取器50的光学系统概略构成的图。在图1中，1是射出例如405nm波长带的激光束的半导体激光器光源。

从半导体激光器光源1射出的光束紧接着到达波长板2。这里波长板2是为了通过控制透过该波长板2接着入射到偏振光束分裂器3(以下，为了简单起见将该偏振光束分裂器记为PBS。)的光束100的偏振方向，使该光束100分离成在PBS3内的反射面反射而入射到准直透镜4的S偏振光成分的光束101和透过上述PBS3内的反射面入射到光量监视器用光检测器(以下，为了简单起见将该光检测器记为前监视器。)5的P偏振光成分的光束时的反射率和透射率具有所希望的比率而设置的。

下面在PBS3反射的光束101，由准直透镜4从发散光束变换成大致平行光束，进一步透过1/4波长板6变换成圆偏振光后，入射到物镜7。物镜7具有当405nm带的光束作为平行光入射时，会聚在如例如BD2层光盘等那样的叠层着多个信号记录层的多层光盘8内的预定的信号记录层上形成会聚光点102的功能。

此外，该物镜7被保持在致动器9中，成为通过将预定的物镜位置控制信息供给该致动器9，能够控制物镜7在光盘8的半径方向和与光盘面大致垂直的光轴方向中的位置的结构。

又，根据由上述前监视器5检测出的光量信号控制会聚在光盘8内的预定的信号记录层上的会聚光点102的照射光强度。

在光盘8内的上述信号记录层反射的光束沿与去路光束同样的光路在相反的方向行进，经过物镜7和1/4波长板6被变换到对于去路光束101的偏振光方向(S偏振光)正交的偏振光方向(P偏振光)后，由准直透镜4从平行光束变换成会聚光束再次到达PBS3。而且与去路不同，以约100％的透射率透过该PBS3，作为会聚光束103如图中所示地入射到对光轴倾斜约45°地设置的平板型的半透镜10上。

由该半透镜10以预定的光量比率，分离成透过该半透镜10经过检测透镜11会聚在光检测器40内的预定的受光面上形成检测光点104的光束、和在上述半透镜10反射而入射到衍射光栅30由该衍射光栅30将光束分割成2条后会聚在光检测器41内的受光面上形成检测光点105a和105b的光束。

其中从照射在光检测器40的各受光面(未图示)的检测光点104检测出的光电变换信号，例如用象散方式检测聚焦控制信号，用推挽方式检测跟踪控制信号，该各控制信号供给到致动器8进行物镜7的位置控制。

此外，因为上述象散方式和推挽方式，都是已经众所周知的控制信号检测方法，所以省略了进一步的详细说明。又本发明不限于用上述象散方式和推挽方式检测物镜7的位置控制信号，当然即便是其它任何位置控制信号检测方式也可以应用。

另一方面，从由照射在光检测器41上的检测光点105a和105b检测出的光电变换信号，再现记录在对象的信号记录层中的信息信号。而且将在后面详细地说明配置在光检测器41前的衍射光栅30的结构，功能及其效果。

在说明本发明的详细情况前，首先用图2说明当再现上述那样的多层光盘时发生的具体弊害。此外当说明时，作为最简单的例子举出在光盘内只叠层2层信号记录层的2层型光盘为例进行说明。

首先当从2层型光盘再现信息信号时，存在着图2(a)和(b)所示的2种情形。

即，能够分成如图2(a)所示，将在光盘8内相对于物镜7处于里头一侧的信号记录层80(以下一般将该记录层记为L0层。)作为再现对象层，将光束150会聚在L0层上的点P形成光点102的情形(以下将该情形记为情形(a)。)、和如图2(b)所示，将相对于物镜7处于面前一侧的信号记录层81(以下一般将该记录层记为L1层。)作为再现对象层，将光束150会聚在L1层上的点Q形成光点102的情形(以下将该情形记为情形(b)。)。

在无论哪种情形中，会聚在再现对象层上的预定位置(图2(a)和(b)中的P点或Q点)的光束150，在各再现对象层反射作为信号光束151在与去路相同的光路相反地行进再次到达物镜7。而且在透过物镜7后，沿着上述那样的归路光路，最终会聚在例如如图1所示的光检测器40和41内的各受光面上形成检测光点104和105a，105b。

另一方面，会聚光束150的一部分被不是再现对象层的另一方的信号记录层(在情形(a)中指的是L1层81，在情形(b)中指的是L0层80。为了简单起见，以下将不是这些再现对象层的信号记录层记为非再现对象层。)反射，作为杂散光束161与信号光束151相同到达物镜7。而且，在已有的光拾取器中，该杂散光束161也在透过物镜7后，沿与信号光束151相同的归路光路最终会聚在光检测器40和41内的各受光面上，以重叠在上述检测光点104和105a，105b上的方式，并且以与这些检测光点104和105a，105b比较很大地模糊的状态进行照射。(此外为了简单起见以下，将在从该非再现对象层反射的杂散光束会聚在光检测器的受光面上时形成的光点记为杂散光点。)

这样当再现2层光盘时，杂散光点分别重叠在照射在各受光面上的检测光点104和105a，105b上。而且在该各检测光点和杂散光点之间产生干涉现象，因此在各受光面上发生了本来不要的明暗的干涉条纹图案。而且由于光盘的上下移动和记录层间隔的变动等的原因上述干涉条纹图案产生不要的光量变动，由于该不要的光量变动在用各个受光面检测出的光电变换信号上重叠了不要的变动成分和噪声成分。而且发生由于该不要的变动成分和噪声成分，从各光电变换信号再现·检测出的信息信号和聚焦、跟踪各控制信号的信号品质显著恶化那样的大问题。

本发明揭示了为了除去或有效地减少由这样的检测光点和杂散光点的干涉现象引起的信息再现信号和各控制信号的信号品质的恶化的光学手段。

此外上述说明作为最简单的例子举出2层光盘进行了说明，但是当然关于3层以上的多层光盘也根据同样的机理发生检测光点和杂散光点的干涉现象，因此产生各种检测信号的品质恶化。而且在3层以上的高多层光盘中，因为成为发生杂散光点的原因的非再现对象层为2层以上，所以它的影响与2层光盘比较变得更大更复杂。

在本实施例中为了解决上述问题，在半透镜10和信息信号再现用的光检测器41之间的光路中配置着衍射光栅30。

该衍射光栅30具有与通常的衍射光栅明显不同的光栅槽图案。图3表示该光栅槽图案的一个实施例。如图3所示，该衍射光栅30形成具有预定宽度L的长方形状的微小区域31a，31b，31c，31d，……在纸面的水平方向(Y轴方向)并列的结构，在该各微小区域内沿纸面的垂直方向(Z轴方向)以周期d1周期地设置着微小的带状的光栅槽的凹部或凸部。(图中涂黑的部分与该光栅槽相当。)而且该光栅槽，如图中所示的那样按每个邻接的长方形状的微小区域使相位逐个偏移光栅槽周期的约1/2，即约d1/2地进行配置。此外该衍射光栅30，设定上述光栅槽的槽深和槽宽使得±1级衍射光的光量对入射光的光量分别成为约40～50％，原封不动地透过该衍射光栅30的0级光的光量成为大致0％。

当在光盘8反射的归路光束103入射到这样的衍射光栅30上时，由该衍射光栅30分割成在纸面的垂直方向(Z轴方向)上的+1级衍射光和-1级衍射光这样2条光束，如图4所示，这2条光束会聚在光检测器41的受光面上形成检测光点105a和105b。这时检测光点105a和105b的照射位置间隔S大致由衍射光栅30的光栅槽周期d1和该衍射光栅30与光检测器41的受光面之间的光学距离W决定，最好是从约数μm到数10μm。

另一方面，在检测光点105a，105b之外，来自上述的非再现对象层的杂散光束也入射到衍射光栅30分割成+1级衍射光和-1级衍射光这样2条光束。而且如图4内所示的杂散光点120a，120b那样，在比检测光点105a和105b很大地模糊的状态，并且以与该检测光点105a，105b重叠的方式照射在光检测器41的受光面上。

但是该杂散光点120a，120b，因为衍射光栅30如上述那样具有特殊的光栅槽图案，所以与用已有的一般的衍射光栅分离形成的光点不同，它的波面(相位面)成为周期地凹凸的形状，它的波面的凸部和凹部的相位差正好与约1/2波长份数相当。

当具有细小地周期地凹凸的波面形状的杂散光点120a，120b在分离预定距离S的状态与检测光光点105a和105b重叠时，即便产生干涉现象由该干涉现象生成的明部和暗部也分别成为非常细分化了的微小区域在光点内随机地混合在一起，结果这些局域的光量变动被平均化和平滑化了。

因此在从光检测器41输出的光电变换信号中，不包含由检测光点和杂散光点的干涉引起的光量变动成分，能够良好地仅提取从检测光光点105a和105b的全部光量变动检测出的再现信号。

此外需要图3的实施例中的长方形状的微小区域31a，31b，31c，31d，……的宽度L具有对入射到该衍射光栅30的光束103的光束截面直径充分小的值，具体地说最好是从约数10μm～100μm。

在图1所示的实施例中，将衍射光栅30配置在信息信号再现用的光检测器41前，但是当然本发明不限于此，例如也可以配置在PBS3和半透镜10之间的光路中。当这样做时，在上述那样的检测光点和杂散光点由干涉现象引起的光量变动的平均化效果，不仅在光检测器41而且也在光检测器40的受光面上发生，不仅对再现信息信号而且对聚焦控制信号和跟踪控制信号等的各种控制信号都能够良好地除去伴随与杂散光束的干涉的不要的变动成分和噪声成分。

这样作为衍射光栅30，通过例如如图3所示的那样分割成细小的长方形状的微小区域，在各微小区域内周期地并且以邻接的微小区域之间相位逐个偏移该光栅槽周期的约半周期的状态配置光栅槽，使由检测光点和杂散光点的干涉生成的不要的光量变动平滑化，结果，当在已有的光拾取器中再现多层光盘时能够良好地除去在各检测信号中出现的不要的变动成分和噪声成分。

此外在图3的实施例中，使光栅槽的周期的配置方向与长方形状的微小区域31a，31b，31c，31d，……的长度方向(图中的Z轴方向)一致，但是本发明不限于这样的结构，例如也可以沿纸面的水平方向(图中的Y轴方向)周期地配置光栅槽，或者即便是沿对纸面的水平方向(图中的Y轴方向)或垂直方向(图中的Z轴方向)以预定角度倾斜的斜方向周期地配置光栅槽那样的结构，也完全没有关系。

又，关于长方形状的微小区域31a，31b，31c，31d，……的宽度L，也完全不需要在全部的微小区域中L为一定的值，例如即便是按每个区域改变L值的结构也完全没有关系。

[实施例2]

图5是表示衍射光栅30的光栅槽图案的第2实施例。在本实施例中将光栅面分割成长方形状的微小区域31a，31b，31c，31d，……这点与图3所示的衍射光栅30的第1实施例同样，但是在本实施例中，配置在各微小区域内的光栅槽对纸面的水平方向(图5中的Y轴方向)或垂直方向(图5中的Z轴方向)，沿以预定角度倾斜的斜方向周期地配置，并且又在邻接的微小区域之间交替地改变该周期的配置方向这点与第1实施例不同。

当形成这样的光栅槽图案时，检测光点和杂散光点成为分别分离到纸面的水平方向(图4中的Y轴方向)和垂直方向(图4中的Z轴方向)的每4个光点，照射在光检测器41的受光面上。

当形成这样的结构时，由在各检测器受光面上的检测光点和杂散光点的干涉生成的光量变动区域与第1实施例比较更细分化，能够更彻底地进行光量变动的平均化，平滑化。结果，能够更良好地除去检测信号的不要的变动成分和噪声成分。

[实施例3]

图6表示关于衍射光栅30的光栅槽图案的第3实施例。在本实施例中与图3和图5中所示的实施例不同，不是长方形状的微小区域，而是分割成纸面的水平方向(图6中的Y轴方向)的宽度为L1，垂直方向(图6中的Z轴方向)的宽度L2的长方形或正方形(L1＝L2)的微小区域。

而且在每个各微小区域中以预定的光栅槽周期设置着凹凸的光栅槽，但是该光栅槽，它的相位在水平方向(图6中的Y轴方向)和垂直方向(图6中的Z轴方向)的各个方向邻接着的微小区域之间交替地偏移1/2周期大小地进行配置。

通过形成这样的光栅槽图案，通过该衍射光栅30后的±1级衍射光波面被形成为，与约1/2波长大小相当的凹凸状态二维地展开。(图3和图5所示的到此为止的实施例中，通过衍射光栅30后的±1级衍射光波面被形成为，与约1/2波长大小相当的凹凸状态在一维方向中展开。)

因此在各光检测器受光面上的由检测光点和杂散光点的干涉产生的光量变动区域，与第1和第2实施例比较更细分化，能够更彻底地进行光量变动的平均化，平滑化。结果，能够更良好地除去检测信号的不要的变动成分和噪声成分。

此外在上述第1到第3实施例中，衍射光栅30都是具有原封不动地通过该衍射光栅30的所谓的0级光束的光量大致成为零那样的衍射效率的光栅，但是当然本发明不限定于具有这样的功能的衍射光栅，即便0级光束的光量不为零也完全没有关系。但是在本发明中，最好是±1级衍射光束的光量相对于0级衍射光束的光量持有充分大的值。

[实施例4]

图7是表示作为本发明的第4实施例的光拾取器50的光学系统概略构成的图。在本图中，在与图1所示的本发明的第1实施例相同的构成部件上附加相同的标号。因为本实施例的从半导体激光器光源1到光盘8的去路的光学系统和在光盘8反射到PBS3的归路的光学系统与图1所示的本发明的第1实施例完全相同，所以省略对它的详细说明。

在光盘8反射到PBS3的归路光束，在透过PBS3后由检测透镜12变换成预定的检测光束103后，入射到信号检测用光学块20中。为了说明该光学块20的具体构成及其功能，在图8中揭载了只抽出该光学块20进行放大显示的图。下面参照该图8进行说明。

信号检测用光学块20，如图8所示，由复合棱镜21，衍射光栅30和具有多个受光面46的光检测器45构成。

其中在复合棱镜21内，并列地备有对入射光束的光轴倾斜约45°，并且具有分别以预定的反射率和透射率反射和透过入射光束的功能的半透镜面22和23，进一步与半透镜面并列地还配置着全反射面24。

又衍射光栅30具有与在上述的第1到第3实施例中详细说明了的衍射光栅完全相同的结构和功能。

进而在光检测器45内，作为受光面配置着从46a到46i的合计9个独立的受光面。此外在图9中揭载了表示该各受光面的概略形状和配置状态，并且表示运算电路框图的概略平面图。

经过检测透镜12的检测光束103首先入射到复合棱镜21内的半透镜面22，一部分光量的光束透过该半透镜面22入射到光检测器45内的4分割受光面46a，46b，46c，46d(请参照图9)形成检测光点104。

另一方面，在上述半透镜面22反射了的一部分检测光束103其次入射到半透镜面23，进一步它的一部分光量的光束在该半透镜面22反射到达衍射光栅30，这里如上述那样在分割成2条光束后会聚在光检测器45内的中央部分受光面46i上形成检测光点105a和105b。又这时杂散光点120a和120b在与上述检测光点105a和105b重叠的状态也照射在上述受光面46i上，但是因为具体的原理和机理等已经在第1到第3实施例中详细地说明了，所以这里省略对它们的说明。

又透过上述半透镜23的一部分光量的光束，在全反射面24反射后入射到光检测器45内的4分割受光面46e，46f，46g，46h(请参照图9)形成检测光点106。

此外在上述结构中，最好是从半透镜面22经过半透镜面23和衍射光栅30到达光检测器45的中央部分受光面46i的第2光路长度，是从半透镜面22透过半透镜面22到达光检测器45内的4分割受光面46a，46b，46c，46d的第1光路长度、和从半透镜面22经过半透镜面23和全反射面24到达光检测器45内的4分割受光面46e，46f，46g，46h的第3光路长度的大致中间的光路长度。

从光检测器45内的各受光面得到的光电变换信号，如图9所示用电流-电压变换电路块201对各信号的每一个进行电流-电压变换，进一步经过加法电路块203和减法电路块204施加预定的运算处理，检测出预定的控制信号和信息再现信号。

即通过以下那样的运算处理，首先用光点大小检测方法(Spot SizeDetection Method，以下为了简单起见记为SSD方式。)检测出聚焦控制信号(Focusing Error Signal(聚焦误差信号))以下为了简单起见记为FES。)，进一步用1光束差分推挽方法(1-Beam Differential Push-PullMethod以下为了简单起见记为1-Beam DPP方式。)检测出跟踪控制信号(Tracking Error Signal(跟踪误差信号)以下为了简单起见记为TES。)。

(1)

(2)

此外在上述公式中，Sa到Sh表示从受光面46a到46h的各个独立地得到的检测信号。又因为这些SSD方式和1-Beam DPP方式已经是众所周知的控制信号检测方式，所以省略进一步的详细说明。

又信息再现信号(Read Out Signal(读出信号))经过电流-电压变换电路201从由受光面46i得到的光电变换信号检测出，但是关于该检测信号，当然由于配置在受光面46i前的本发明的衍射光栅30的效果，能够良好地除去来自由多层光盘的非再现对象层的杂散光引起的不要的变动成分和噪声成分，这是不言而喻的。

本实施例的特征与图1所示的第1实施例不同，是将检测光学系统集约在1个系统中。即因为通过采用本实施例那样的信号检测用光学块20，不需要分别配置检测控制信号检测用的光检测器和信息信号再现用的光检测器，和用于将检测光束分割成2个方向的光学元件(图1的实施例中的半透镜10与它相当。)，所以对光拾取器的小型化，低成本化是极其有利的。

此外在图7到图9所示的实施例中，记载的是仅入射到信息信号再现用的受光面46i的检测光束通过本发明的衍射光栅30的结构，但是当然本发明不限定于这样的结构。例如在图8所示的实施例中，通过覆盖复合棱镜21的整个底面地配置衍射光栅30，即便对于入射到各控制信号检测用的受光面的各检测光束也能够使其通过衍射光栅30，即便对于从这些检测光束得到的各控制信号也能够良好地除去多层光盘的杂散光的影响。

当然，本发明不限定于图1所示的第1实施例和图7到图9所示的第4实施例的光拾取器结构。在本发明中，将在任意的光拾取器的检测光路中，通过配置具有上述那样的特殊的结构和功能的衍射光栅来良好地除去多层光盘的杂散光的影响作为目的，对光拾取器的光学系统结构不施加任何限制。

[实施例5]

下面在图10中表示搭载了本实施例中的光拾取器50的光盘装置的概略方框图。

由光拾取器50检测出的检测信号的一部分被传送到控制信号生成电路322或信息信号再现电路323。在控制信号生成电路322中，从用光拾取器50检测出的各检测信号生成聚焦控制信号和跟踪控制信号传送到控制电路324。

另一方面，在信息信号再现电路323中，从由光拾取器50得到的检测信号再现记录在光盘8中的信息信号，输出到再现信号输出端子。再现的信息信号的一部分被传送到控制电路324。

在控制电路324内内置有甄别光盘8是通常的单层光盘还是多层光盘，并且在多层光盘的情形中，判别现在的再现对象层是哪一层的多层光盘判别电路。根据从该多层光盘判别电路得到的再现对象层判别信号和用上述控制信号生成电路322生成的聚焦控制信号，跟踪控制信号等，生成物镜驱动信号和预定的光学部件驱动信号，传送到致动器驱动电路325。致动器驱动电路325，根据上述各信号驱动光拾取器50内的物镜致动器和其它需要的光学部件的致动器，进行物镜7的位置控制和再现层间的跳动。

又控制电路324也具有经过访问控制电路326进行光拾取器50的访问方向位置控制，并且经过主轴马达控制电路327控制主轴马达330的旋转的功能。进而控制电路324，通过驱动激光器点亮电路328，使搭载在光拾取器50中的半导体激光器1适当地点亮，实现在光盘装置中的记录再现工作。

这里，通过具有从光拾取器50输出的信号再现信息信号的信息信号再现单元和输出从信息信号再现单元输出的信号的输出单元可以构成光盘的再现装置。又，也可以通过具有输入信息信号的信息输入单元和从信息输入单元输入的信息生成记录在光盘中的信号，输出到光拾取器50的记录信号生成单元，构成光盘的记录装置。

Claims (6)

1.一种衍射光栅，该衍射光栅具有以预定的周期和槽深周期地配置的多个连续槽，其特征在于：

该衍射光栅的光栅面分割成多个预定形状的微小区域，该各微小区域内的所述连续槽以在相互邻接的所述微小区域之间相位偏移预定量或随机地偏移的状态形成。

2.一种衍射光栅，该衍射光栅由以预定的周期和槽深周期地配置的多个连续槽构成，其特征在于：

该衍射光栅的光栅面分割成多个预定形状的微小区域，该各微小区域内的所述连续槽以在相互邻接的所述微小区域之间相位逐个偏移所述周期的约1/2的状态形成。

3.根据权利要求1或2所述的衍射光栅，其特征在于：

所述微小区域是其各个具有预定宽度的长方形状的微小区域，并被配置得各长方形状的微小区域的长度方向大致平行。

4.根据权利要求1或2所述的衍射光栅，其特征在于：

所述微小区域是其各个具有预定面积的正方形或长方形的微小区域，该各微小区域配置成点阵状。

5.一种光拾取器，具有半导体激光器光源、将从该半导体激光器光源发出的激光束会聚在光学信息记录介质内具有的预定记录层上的物镜、和分别独立地接受在所述记录层反射的所述主光束和副光束检测出预定信号的光检测器，其特征在于：

在所述物镜和所述光检测器之间的光路中，配置了根据权利要求1到4中任何一项所述的衍射光栅。

6.一种光盘装置，其特征在于：

该光盘装置具有权利要求5所述的光拾取器，并且具有由该光拾取器再现记录在以预定间隔设置在光学信息记录介质内的多个记录层中的信息信号或将所述信息信号记录在所述记录层中的功能。

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